JP7151333B2 - 流体分離用炭素膜モジュール - Google Patents
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Description
〔流体分離用炭素膜〕
本発明の流体分離用炭素膜モジュール(以下、単に「炭素膜モジュール」ということがある)においては、炭素原子比率が63原子%以上90原子%以下である炭素膜を用いる。炭素原子比率63原子%未満である炭素膜は、メカニズムは明確ではないが、後述するポッティング樹脂と炭素膜との界面が有機化合物に侵され、リークが発生して安定した分離性能を発揮することが困難となる。炭素原子比率は高いほど有機化合物に対する耐性に優れる傾向にあるため、65原子%以上が好ましく、67原子%以上がより好ましい。一方、炭素原子比率が90原子%を超える炭素膜は靭性が低く、後述するポッティング樹脂が硬化する過程での変形に追随できないため、製造段階での欠陥や剥離の発生頻度が大きくなる。さらに、炭素原子比率85原子%以下である炭素膜は表面に酸素等を含む極性基を多量に含む傾向にあるため、本発明のポッティング樹脂との接着性が高くなるため好ましく、80原子%以下であるとより好ましい。炭素原子比率は、X線光電子分光分析(XPS)によって算出される全原子に対する炭素原子の比率を意味する。本発明においては、炭素膜表面に有機高分子等炭素以外の物質がコートされたものを用いることもできるが、その場合、炭素原子比率の測定は、コート層を剥離した後の炭素部分をXPSにより測定した数値とする。
ただし共連続多孔構造の構造周期が大きくて小角散乱が観測できない場合がある。その場合はX線コンピュータ断層撮影(X線CT)によって構造周期を得る。具体的には、X線CTによって撮影した三次元画像をフーリエ変換した後に、その二次元スペクトルの円環平均を取り、一次元スペクトルを得る。その一次元スペクトルにおけるピークトップの位置に対応する特性波長を求め、その逆数より構造周期を算出する。なお上記の構造周期の解析に際して、後述する緻密層については構造周期が上記の範囲外となるため解析に影響はなく、上記式で算出される構造周期をもって共連続多孔構造の構造周期とする。
本発明の炭素膜モジュールは、前述の炭素膜が複数本ポッティング樹脂により固定されてなる。(本明細書においては、複数本の炭素膜がポッティング樹脂により固定されて一体化された構造を含むものを「炭素膜モジュール」と表記し、さらにケーシング等に収納されたもの等もこれに含まれるものとする。また、本発明におけるポッティング樹脂は後述するように熱硬化性のエポキシ樹脂であるが、慣例に従い、流動性を有する硬化前樹脂および硬化樹脂の両者とも「ポッティング樹脂」あるいは「エポキシ樹脂」と記述する。)ポッティングによる固定部分は、炭素膜の一端のみでも両端でも構わないが、両端を固定することが好ましい。一般的には、複数の炭素膜を並列に束ね、その両端を2箇所でポッティング樹脂により固定することが好ましいが、炭素膜をU字型に折り曲げた状態で炭素膜の両端を1箇所でポッティング樹脂により固定することもできる。
本発明に好適に用いられる炭素膜の製造方法は特に限定されないが、一例として、炭化可能樹脂と消失樹脂とを相溶させて樹脂混合物とする工程(工程1)と、相溶した状態の樹脂混合物を相分離させ、固定化する工程(工程2)と、加熱焼成により炭化する工程(工程3)とを有する製造方法により製造することができる。
工程1は、炭化可能樹脂10~90重量%と、消失樹脂90~10重量%と相溶させ、樹脂混合物とする工程である。
工程2は、工程1において相溶させた状態の樹脂混合物を紡糸し、相分離させて微細構造を形成し、固定化する工程である。前述の共連続多孔構造を有する炭素膜を得る場合、微細構造として共連続相分離構造を形成させる。
工程2において得られた炭素膜の前駆体は、炭化工程(工程3)に供される前、または炭化工程と同時、またはその両方で消失樹脂の除去処理を行うことが好ましい。除去処理の方法は特に限定されない。具体的には、酸、アルカリ、酵素を用いて消失樹脂を化学的に分解、低分子量化して除去する方法や、消失樹脂を溶解する溶媒により溶解除去する方法、電子線、ガンマ線、紫外線、赤外線などの放射線や熱を用いて消失樹脂を分解除去する方法などが挙げられる。
工程2において得られた炭素膜の前駆体は、炭化工程(工程3)に供される前に不融化処理を行うことが好ましい。不融化処理の方法は特に限定されず、公知の方法を用いることができる。具体的な方法としては、酸素存在下で加熱することで酸化架橋を起こす方法、電子線、ガンマ線などの高エネルギー線を照射して架橋構造を形成する方法、反応性基を持つ物質を含浸、混合して架橋構造を形成する方法などが挙げられ、中でも酸素存在下で加熱することで酸化架橋を起こす方法は、プロセスが簡便であり製造コストを低く抑えることが可能である点から好ましい。これらの手法は単独もしくは組み合わせて使用してもよく、それぞれを同時に使用しても別々に使用してもよい。
工程3は、工程2において得られた炭素膜の前駆体、あるいは必要に応じて消失樹脂の除去および/または不融化処理に供された前駆体を焼成し、炭化して炭素膜を得る工程である。
本発明の炭素膜モジュールは、複数の炭素膜を配置し、炭素膜の一端または両端の炭素膜の間隙部分に、前述の(a)ビスフェノール型エポキシ化合物と、(b)脂環式アミンおよび芳香族アミンから選択される硬化剤とを含む組成物を充填(ポッティング)し、その後硬化することで製造することができる。ポッティングの方法は特に限定されないが、遠心力を利用して炭素膜間に浸透させる遠心ポッティング法と、流動状態のポッティング樹脂を定量ポンプやヘッドにより送液し炭素膜に浸透させる静置ポッティング法が挙げられる。
(炭素原子比率)
炭素原子比率は、XPS装置(Quantera SXM (PHI社製))を用いて、励起X線 monochromatic Al Kα1,2線(1486.6 eV)、X線径100 μm、光電子脱出角度45°(試料表面に対する検出器の傾き)として測定した。得られたデータを、スムージング 9-point smoothing、横軸補正 C1s メインピークを284.6 eV として解析し、炭素原子比率を原子%として算出した。
炭素膜を液体窒素中で充分に冷却後、ピンセットで割断して形成した断面の共連続多孔構造を有する多孔部を走査型電子顕微鏡で表面観察し、炭素骨格の枝部と細孔部(空隙部)がそれぞれ連続しつつ三次元的に規則的に絡み合った構造が見られた場合、共連続多孔構造を有していると判定した。
炭素膜を試料プレートに挟み、CuKα線光源から得られたX線源から散乱角度10度未満の情報が得られるように、光源、試料および二次元検出器の位置を調整した。二次元検出器から得られた画像データ(輝度情報)から、ビームストッパーの影響を受けている中心部分を除外して、ビーム中心から動径を設け、角度1°毎に360°の輝度値を合算して散乱強度分布曲線を得た。得られた曲線においてピークを持つ位置の散乱角度2θより、連続構造部分の構造周期を下記の式によって得た。
また構造周期が1μm以上であり、X線散乱のピークが観測されない場合には、X線顕微鏡で0.3°ステップ、180°以上の範囲で連続回転像を撮影し、CT像を得た。得られたCT像に対してフーリエ変換を実施し、その二次元スペクトルの円環平均を取り、一次元スペクトルを得た。その一次元スペクトルにおけるピークトップの位置に対応する特性波長を求め、その逆数より構造周期を得た。
50℃雰囲気において、二酸化炭素とメタンの混合ガスにトルエン蒸気を250ppm含ませて炭素膜モジュールに導入して、二酸化炭素とメタンとの分離評価を実施した。リークが観察されないものは、最大100時間評価を実施し、開始時と終了時の分離係数の比を分離係数保持率とした。
30gのポリサイエンス社製ポリアクリロニトリル(MW15万)と30gのシグマ・アルドリッチ社製ポリビニルピロリドン(MW4万)、および、溶媒として300gの和光純薬工業製ジメチルスルホキシド(DMSO)をセパラブルフラスコに投入し、加熱、攪拌および還流を行いながら均一かつ透明な溶液を調製した。
炭化温度を550℃とした以外は実施例1と同様に炭素膜を作製したところ、得られた炭素膜の多孔部には共連続多孔構造が形成されており、構造周期は280nmであった。また炭素原子比率は65.3%であった。実施例1と同様に炭素膜モジュールを作製してガス分離評価を実施したところ、100時間後にもリークが発生せず、分離係数の保持率は97.1%であった。
炭化温度を900℃とした以外は実施例1と同様に炭素膜を作製したところ、得られた炭素膜の多孔部には共連続多孔構造が形成されており、構造周期は265nmであった。また炭素原子比率は84.4%であった。実施例1と同様に炭素膜モジュールを作製してガス分離評価を実施したところ、100時間後にもリークが発生せず、分離係数の保持率は94.1%であった。
ポッティング樹脂として、ビスフェノールA型エポキシ化合物(三菱化学株式会社製、JER828)と脂肪族鎖状アミン系硬化剤(和光純薬工業株式会社製、ジエチレントリアミン)を質量比が100:41となるように混合したものを用いたこと以外は実施例1と同様に炭素膜モジュールを作製した。ガス分離評価を実施したところ、15時間後にリークが発生した。
炭化温度を1200℃とした以外は実施例1と同様に炭素膜を作製したところ、得られた炭素膜の多孔部には共連続多孔構造が形成されており、構造周期は251nmであった。また炭素原子比率は92.3%であった。ガス分離評価を実施したところ、60時間後にリークが発生した。
炭化温度を400℃とした以外は、実施例1と同様に炭素膜を作製したところ、得られた炭素膜の多孔部には共連続多孔構造が形成されており、構造周期は277nmであった。また炭素原子比率は61.2%であった。実施例1と同様に炭素膜モジュールを作製してガス分離評価を実施したところ、50時間後にリークが発生した。
Claims (10)
- 複数本の流体分離用炭素膜がポッティング樹脂により固定されてなる流体分離用炭素膜モジュールであって、前記流体分離用炭素膜の炭素原子比率が63原子%以上90原子%以下であり、前記ポッティング樹脂が、(a)ビスフェノール型エポキシ化合物と、(b)ビス(4-アミノシクロヘキシル)メタンとを含む組成物を硬化させてなる樹脂である流体分離用炭素膜モジュール。
- 前記流体分離用炭素膜の外表面における全原子に対する酸素原子の比率が0.1~25原子%である、請求項1に記載の流体分離用炭素膜モジュール。
- 前記流体分離用炭素膜の断面における全原子に対する窒素原子の比率が0.1~30原子%である、請求項1または2に記載の流体分離用炭素膜モジュール。
- 前記流体分離用炭素膜が、多孔質構造を有する多孔部の外周に緻密層が形成された繊維状炭素膜である、請求項1~3のいずれかに記載の流体分離用炭素膜モジュール。
- 前記多孔質構造が三次元網目構造である、請求項4に記載の流体分離用炭素膜モジュール。
- 前記三次元網目構造が共連続多孔構造である、請求項5に記載の流体分離用炭素膜モジュール。
- 前記共連続多孔構造の構造周期が50~10,000nmである、請求項6に記載の流体分離用炭素膜モジュール。
- 気体分離用である、請求項1~7のいずれかに記載の流体分離用炭素膜モジュール。
- 二酸化炭素分離用である、請求項8に記載の流体分離用炭素膜モジュール。
- 天然ガスの原ガスから二酸化炭素を分離する用途に用いられる、請求項9に記載の流体分離用炭素膜モジュール。
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