JP7149752B2 - Slab photographing device, slab photographing method and program - Google Patents

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Description

本発明は、鋳片を評価するために当該鋳片から採取した鋳片サンプルの撮影を行う鋳片撮影装置及び鋳片撮影方法、並びに、当該鋳片撮影方法をコンピュータに実行させるためのプログラムに関するものである。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to a slab imaging apparatus and slab imaging method for imaging a slab sample taken from the slab for evaluation of the slab, and a program for causing a computer to execute the slab imaging method. It is.

従来から、鋳片を評価するために当該鋳片から採取した鋳片サンプルの断面をエッチング処理して偏析を顕在化し、エッチング処理が施された鋳片サンプルの断面を撮影して得られた撮影画像を用いて、鋳片の内部品質を評価する技術が提案されている。例えば、特許文献1には、鋳片サンプルの断面を撮影手段であるラインセンサカメラで撮影する際に、ラインセンサカメラと鋳片サンプルの断面(撮影面)とを一定の距離で平行に保って走査するために、ラインセンサカメラを含む撮影機構の位置調整を行う構成が開示されている。 Conventionally, in order to evaluate the slab, a cross section of a slab sample taken from the slab is etched to reveal segregation, and a photograph obtained by photographing the cross section of the slab sample that has been subjected to the etching treatment. Techniques for evaluating the internal quality of cast slabs using images have been proposed. For example, in Patent Document 1, when the cross section of a slab sample is photographed with a line sensor camera as a photographing means, the line sensor camera and the cross section (photographing surface) of the slab sample are kept parallel at a constant distance. Arrangements are disclosed for aligning an imaging mechanism, including a line sensor camera, for scanning.

特開2014-174045号公報JP 2014-174045 A

鋳片サンプルの断面(撮影面)を撮影するカメラとしては、通常、特許文献1のようにラインセンサカメラが用いられるが、ラインセンサカメラではオートフォーカス機能を搭載することが難しく、固定焦点となる。そのため、ラインセンサカメラと鋳片サンプルの撮影面とを相対的に移動させて走査するときに、ラインセンサカメラと鋳片サンプルの撮影面とは一定の距離で平行に保たれるようにする必要がある。 As a camera for photographing the cross section (photographing surface) of a slab sample, a line sensor camera is usually used as in Patent Document 1, but it is difficult to install an autofocus function in the line sensor camera, and the focus is fixed. . Therefore, when the line sensor camera and the imaging surface of the slab sample are relatively moved and scanned, it is necessary to keep the line sensor camera and the imaging surface of the slab sample parallel at a constant distance. There is

図1は、鋳片サンプル210を説明するための図である。
図1に示すように、連続鋳造で製造された鋳片200を鋳造方向に対して直角に板状に切断して鋳片サンプル210を採取し、その鋳片サンプル210の一方の断面である第1面211を撮影面とする場合を考える。この場合、鋳片サンプル210の第1面211を上向きにし、その上方でラインセンサカメラを水平方向に移動させることにより走査する。
FIG. 1 is a diagram for explaining a slab sample 210. FIG.
As shown in FIG. 1, a slab sample 210 is obtained by cutting a slab 200 produced by continuous casting into a plate-like shape perpendicular to the casting direction. Consider the case where the first plane 211 is used as the photographing plane. In this case, the first surface 211 of the slab sample 210 faces upward, and scanning is performed by horizontally moving the line sensor camera above it.

この際、鋳片サンプル210は、鋳片200からガスカット等により採取されるため、その断面には粗い凹凸が存在する。ここで、撮影面となる第1面211は、一般的に平面に機械加工した後で腐食液によりエッチングが施されるため、比較的平坦度の高い面となる。しかしながら、鋳片サンプル210における第1面211とは反対側の他方の断面である第2面212は、ガスカット等をしたままとするのが通常である。そのため、鋳片サンプル210の第2面212を床等に載置すると、撮影面である第1面211が水平から傾いてしまい、ラインセンサカメラと鋳片サンプル210の第1面211とが平行にならないことがある。なお、鋳片サンプル210において第1面211に加えて第2面212も平面に機械加工することが考えられるが、その加工の手間や費用が膨大なものとなってしまうため、大量の鋳片200を評価する製鉄業では適用が困難である。 At this time, since the slab sample 210 is collected from the slab 200 by gas cutting or the like, its cross section has rough irregularities. Here, the first surface 211, which serves as the imaging surface, is generally machined flat and then etched with an etchant, so that the first surface 211 has a relatively high degree of flatness. However, the second surface 212, which is the other cross section of the slab sample 210 on the side opposite to the first surface 211, is usually left as it is after gas cutting or the like. Therefore, when the second surface 212 of the slab sample 210 is placed on the floor or the like, the first surface 211, which is the photographing surface, is tilted from the horizontal, and the line sensor camera and the first surface 211 of the slab sample 210 are parallel. may not be It is conceivable to machine the second surface 212 of the slab sample 210 in addition to the first surface 211 into a flat surface. It is difficult to apply in the steel industry that evaluates 200.

また、鋳片サンプル210を採取するときの厚みtが一定でない、例えば前回採取した鋳片サンプル210の厚みと、今回採取した鋳片サンプル210の厚みとに差があることもありえる。このように鋳片サンプル210を採取するときの厚みtが一定でないと、例えばラインセンサカメラの高さ位置が固定されている場合、ラインセンサカメラと鋳片サンプル210の撮影面である第1面211との距離もばらついてしまう。 In addition, the thickness t of the slab sample 210 may not be constant. If the thickness t is not constant when the slab sample 210 is collected in this way, for example, if the height position of the line sensor camera is fixed, the line sensor camera and the slab sample 210 are photographed on the first surface. The distance to 211 also varies.

この点を考慮して、特許文献1では、撮影手段であるラインセンサカメラと鋳片サンプル210の撮影面との距離を一定に保つために、鋳片サンプル210の撮影面の複数の位置に位置決め具を設置し、位置決め具を設置した状態でラインセンサカメラを含む撮影機構と機械的に接続されている支柱を床に固定して、撮影機構の位置調整を行うようにしている。 In consideration of this point, in Patent Document 1, in order to keep the distance between the line sensor camera, which is an imaging means, and the imaging surface of the slab sample 210 constant, the slab sample 210 is positioned at a plurality of positions on the imaging surface of the slab sample 210. With the positioning tool installed, a post mechanically connected to the photographing mechanism including the line sensor camera is fixed to the floor to adjust the position of the photographing mechanism.

しかしながら、特許文献1に記載の構成では、鋳片サンプル210の撮影面の複数の位置に位置決め具を設置するものであるため、例えば撮影面に疵がついたり撮影面に異物が付着したりすることが懸念され、その結果、鋳片200の内部品質の評価に資する適切な撮影画像を取得することが難しい。 However, in the configuration described in Patent Document 1, positioning tools are installed at a plurality of positions on the imaging surface of the slab sample 210, so the imaging surface may be scratched or foreign matter may adhere to the imaging surface. As a result, it is difficult to acquire an appropriate captured image that contributes to the evaluation of the internal quality of the cast slab 200 .

さらに、特許文献1に記載の構成では、鋳片サンプル210の撮影面を基準としてラインセンサカメラを含む撮影機構の位置調整を行うものであるため、鋳片サンプル210が変わるごとに撮影機構の位置調整も行われることになる。撮影機構には、カメラ等の精密な光学機器が含まれているため、鋳片サンプル210が変わるごとに撮影機構の位置調整が行われると、撮影機構に含まれる光学機器が振動等の外乱を受け、それにより光軸等がずれてしまう可能性がある。その結果、数多くの鋳片サンプル210を撮影した場合、撮影画像の品質が低下してしまい、鋳片200の内部品質の評価を安定して継続的に実施することが困難となってしまう。 Furthermore, in the configuration described in Patent Document 1, the position of the photographing mechanism including the line sensor camera is adjusted based on the photographing surface of the slab sample 210, so the position of the photographing mechanism is adjusted each time the slab sample 210 changes. Adjustments will also be made. Since the photographing mechanism includes precision optical equipment such as a camera, if the position of the photographing mechanism is adjusted each time the cast slab sample 210 changes, the optical equipment included in the photographing mechanism will not be subject to disturbance such as vibration. There is a possibility that the optical axis, etc., may be shifted due to this. As a result, when a large number of slab samples 210 are photographed, the quality of the photographed images deteriorates, making it difficult to stably and continuously evaluate the internal quality of the slab 200 .

本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、鋳片の内部品質の評価に資する適切な撮影画像を取得することができる仕組みを提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such problems, and an object of the present invention is to provide a mechanism capable of acquiring an appropriate photographed image that contributes to the evaluation of the internal quality of a cast slab.

本発明の鋳片撮影装置は、鋳片を評価するために当該鋳片から採取した鋳片サンプルの撮影を行う鋳片撮影装置であって、前記鋳片サンプルの第1面を撮影する撮影手段と、前記撮影手段の合焦面を照明する照明手段と、前記鋳片サンプルの前記第1面の裏面である第2面を、前記第2面における3点以上の複数の点を支持する複数の支持部材を用いて支持する支持手段と、前記第2面の前記複数の点に対応する前記第1面の複数の点の位置を測定することにより、前記第1面の位置を測定する位置測定手段と、前記位置測定手段による前記第1面の前記複数の点における位置の測定結果に基づいて、前記第1面が前記合焦面に配置されるように前記支持手段を駆動制御する制御手段と、を有し、前記制御手段は、前記駆動制御として、前記位置測定手段の測定結果を用いて、前記第1面の前記複数の点の中から前記合焦面との距離が最も短い基準点を抽出し、前記第2面の前記複数の点のうちの前記基準点に対応する対応点を除く他の点を支持する前記支持部材を駆動させて、前記合焦面に対して前記第1面を平行にする第1の駆動制御と、前記位置測定手段の測定結果を用いて、前記第2面の前記対応点および前記他の点を支持する前記複数の支持部材を駆動させて、前記合焦面に対して前記第1面を一致させる第2の駆動制御と、を行う。
また、本発明は、上述した鋳片撮影装置による鋳片撮影方法、及び、当該鋳片撮影方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを含む。
A slab photographing apparatus of the present invention is a slab photographing apparatus for photographing a slab sample taken from a slab for evaluation of the slab, and is photographing means for photographing a first surface of the slab sample. illuminating means for illuminating the focal plane of the photographing means; and a plurality of supporting points of three or more points on the second surface, which is the back surface of the first surface of the cast slab sample. and a position for measuring the position of the first surface by measuring the positions of the plurality of points on the first surface corresponding to the plurality of points on the second surface. and control to drive and control the support means so that the first surface is arranged on the in-focus plane based on the measurement results of the positions of the plurality of points on the first surface by the position measurement means. wherein the control means uses the measurement result of the position measuring means as the driving control to determine the shortest distance from the focal plane among the plurality of points on the first surface. A reference point is extracted, and the support member that supports other points of the plurality of points on the second plane excluding the corresponding point corresponding to the reference point is driven to move the focal plane to the focal plane. driving the plurality of support members that support the corresponding points and the other points on the second surface using a first drive control that makes the first surface parallel and the measurement result of the position measuring means; and a second drive control for matching the first plane with the in-focus plane.
Further, the present invention includes a cast piece photographing method using the cast piece photographing apparatus described above, and a program for causing a computer to execute the cast piece photographing method.

本発明によれば、鋳片の内部品質の評価に資する適切な撮影画像を取得することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the suitable photography image which contributes to evaluation of the internal quality of a slab can be acquired.

鋳片サンプルを説明するための図である。It is a figure for demonstrating a slab sample. 本発明の実施形態に係る鋳片撮影装置の概略構成の一例を示す図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a figure which shows an example of schematic structure of the cast piece imaging device which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る鋳片撮影装置による鋳片撮影方法の処理手順の一例を示すフローチャートである。4 is a flow chart showing an example of a processing procedure of a cast piece photographing method by the cast piece photographing apparatus according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係る鋳片撮影装置による鋳片撮影方法の処理手順の一例を示す模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of a processing procedure of a cast piece photographing method using the cast piece photographing apparatus according to the embodiment of the present invention;

以下に、図面を参照しながら、本発明を実施するための形態(実施形態)について説明する。 EMBODIMENT OF THE INVENTION Below, the form (embodiment) for implementing this invention is demonstrated, referring drawings.

図2は、本発明の実施形態に係る鋳片撮影装置100の概略構成の一例を示す図である。この鋳片撮影装置100は、図1に示す鋳片200を評価するために当該鋳片200から採取した鋳片サンプル210の撮影を行う装置である。また、図2に示す鋳片サンプル210において、図1に示す構成と同様の構成については同じ符号を付している。即ち、鋳片サンプル210の第1面211は、エッチング処理が施された断面であって鋳片撮影装置100で撮影を行う撮影面に相当する断面であり、鋳片サンプル210の第2面212は、第1面211の裏面である他方の断面である。 FIG. 2 is a diagram showing an example of a schematic configuration of the cast piece photographing apparatus 100 according to the embodiment of the present invention. This slab photographing apparatus 100 is an apparatus for photographing a slab sample 210 taken from the slab 200 shown in FIG. 1 in order to evaluate the slab 200 . In the slab sample 210 shown in FIG. 2, the same reference numerals are assigned to the same configurations as those shown in FIG. That is, the first surface 211 of the slab sample 210 is a cross section subjected to etching treatment and is a cross section corresponding to the photographing surface to be photographed by the slab photographing apparatus 100, and the second surface 212 of the slab sample 210. is the other cross section, which is the back surface of the first surface 211 .

本実施形態に係る鋳片撮影装置100は、図2に示すように、撮影機構110と、支持機構120と、位置測定部130と、処理・制御部140と、入力部150と、表示部160を有して構成されている。また、図2には、鉛直方向をZ方向とし、当該鉛直方向と直交する水平方向に敷設されている2本のレールの敷設方向をY方向とし、当該2本のレールに沿って撮影機構110を移動(走査)する方向をX方向としたXYZ座標系を示している。 As shown in FIG. 2, the cast piece imaging apparatus 100 according to the present embodiment includes an imaging mechanism 110, a support mechanism 120, a position measuring section 130, a processing/controlling section 140, an input section 150, and a display section 160. is configured with Also, in FIG. 2, the vertical direction is the Z direction, and the laying direction of two rails laid in the horizontal direction perpendicular to the vertical direction is the Y direction. An XYZ coordinate system in which the direction of moving (scanning) is the X direction.

まず、撮影機構110について説明を行う。
撮影機構110は、処理・制御部140の制御に基づいて、図2に示すX方向において例えば紙面右側から紙面左側に移動しながら、エッチング処理が施された鋳片サンプル210の第1面211を撮影するための機構である。なお、本実施形態では、鋳片サンプル210を固定し静止させた状態で撮影機構110を移動させることによって、鋳片サンプル210の第1面211を撮影する形態を示すが、本発明においては、この形態に限定されるものではない。例えば、撮影機構110を固定し静止させた状態で鋳片サンプル210を移動させることによって、鋳片サンプル210の第1面211を撮影する形態も、本発明に適用可能である。この撮影機構110は、図2に示すように、撮影部111と、照明部112とを含み構成されている。
First, the imaging mechanism 110 will be described.
Under the control of the processing/control unit 140, the imaging mechanism 110 moves, for example, from the right side of the paper surface to the left side of the paper surface in the X direction shown in FIG. It is a mechanism for shooting. In this embodiment, the first surface 211 of the slab sample 210 is photographed by moving the imaging mechanism 110 while the slab sample 210 is fixed and stationary. It is not limited to this form. For example, a configuration in which the first surface 211 of the slab sample 210 is photographed by moving the slab sample 210 with the imaging mechanism 110 fixed and stationary is also applicable to the present invention. The photographing mechanism 110 includes a photographing section 111 and an illumination section 112 as shown in FIG.

撮影部111は、処理・制御部140の制御に基づいて、エッチング処理が施された鋳片サンプル210の第1面211を撮影する構成部である。ここで、本実施形態においては、撮影部111は、例えばラインセンサカメラである。また、図2には、撮影機構110が図2に示す位置にある場合の撮影部111の合焦位置1111の一例と、撮影機構110がX方向に敷設されているレールに沿って移動(走査)した場合の撮影部111の合焦面1112の一例を図示している。この場合、撮影部111の合焦面1112は、Y方向に敷設された2本のレールを撮影機構110がX方向に移動するため、撮影部111の合焦位置1111をX方向に広げた領域であってXY面と平行な面として構成される。 The photographing unit 111 is a component that photographs the first surface 211 of the etched slab sample 210 under the control of the processing/control unit 140 . Here, in this embodiment, the imaging unit 111 is, for example, a line sensor camera. FIG. 2 also shows an example of a focus position 1111 of the imaging unit 111 when the imaging mechanism 110 is at the position shown in FIG. ), an example of the in-focus plane 1112 of the image capturing unit 111 is shown. In this case, since the imaging mechanism 110 moves in the X direction on two rails laid in the Y direction, the focal plane 1112 of the imaging unit 111 is an area in which the in-focus position 1111 of the imaging unit 111 is expanded in the X direction. and is configured as a plane parallel to the XY plane.

照明部112は、処理・制御部140の制御に基づいて、撮影部111の合焦位置1111を少なくとも含む領域(合焦面1112の一部或いは全部)を照明する構成部である。この照明部112としては、例えばLEDを搭載した棒状の照明装置を用いることができる。なお、図2に示す例では、Y方向に伸びた棒状の照明部112を図示している。 The illumination unit 112 is a component that illuminates an area (part or all of the in-focus plane 1112 ) including at least the focus position 1111 of the imaging unit 111 under the control of the processing/control unit 140 . As the illumination unit 112, for example, a rod-shaped illumination device equipped with an LED can be used. In addition, in the example shown in FIG. 2, a bar-shaped illumination unit 112 extending in the Y direction is illustrated.

続いて、支持機構120について説明を行う。
支持機構120は、処理・制御部140の制御に基づいて、鋳片サンプル210の撮影面である第1面211の裏面である第2面212を支持する機構である。この支持機構120は、第2面212における複数の点2121~2124をそれぞれ支持する複数の支持部材121~124を含み構成されている。具体的に、図2に示す例では、支持部材121は第2面212の点2121で当接して第2面212を支持し、支持部材122は第2面212の点2122で当接して第2面212を支持し、支持部材123は第2面212の点2123で当接して第2面212を支持し、支持部材124は第2面212の点2124で当接して第2面212を支持している。この複数の支持部材121~124は、例えばZ方向において昇降可能に構成されたジャッキで構成されており、また、処理・制御部140の制御によってそれぞれが独立して昇降可能に構成されている。また、この形態を採用する場合、例えば、支持機構120は、複数の支持部材121~124のそれぞれに対応して各支持部材を昇降させるためのモーター等を含み得る。
Next, the support mechanism 120 will be described.
The support mechanism 120 is a mechanism that supports the second surface 212 that is the rear surface of the first surface 211 that is the imaging surface of the cast piece sample 210 under the control of the processing/control unit 140 . The support mechanism 120 includes a plurality of support members 121-124 that support a plurality of points 2121-2124 on the second surface 212, respectively. Specifically, in the example shown in FIG. 2, the support member 121 abuts on the second surface 212 at a point 2121 to support the second surface 212, and the support member 122 abuts on the second surface 212 at a point 2122 to support the second surface. The support member 123 abuts the second surface 212 at a point 2123 to support the second surface 212 , and the support member 124 abuts the second surface 212 at a point 2124 to support the second surface 212 . Support. The plurality of support members 121 to 124 are configured by, for example, jacks that can be raised and lowered in the Z direction, and are configured to be independently raised and lowered under the control of the processing/control section 140 . Further, when this form is adopted, for example, the support mechanism 120 may include a motor or the like for lifting and lowering each of the support members 121 to 124 corresponding to each of the support members 121 to 124 .

続いて、位置測定部130について説明を行う。
位置測定部130は、処理・制御部140の制御に基づいて、鋳片サンプル210の撮影面である第1面211のZ方向の位置を測定する構成部である。図2に示す例では、第2面212の複数の点2121~2124に対応する第1面211の複数の点2111~2114の位置を測定する複数の位置測定部130-1~130-4を設ける形態を示している。具体的に、位置測定部130-1は、第2面212の点2121に対応する第1面211の2111の位置を測定する測定部であり、位置測定部130-2は、第2面212の点2122に対応する第1面211の点2112の位置を測定する測定部であり、位置測定部130-3は、第2面212の点2123に対応する第1面211の点2113の位置を測定する測定部であり、位置測定部130-4は、第2面212の点2124に対応する第1面211の点2114の位置を測定する測定部である。また、これらの複数の位置測定部130-1~130-4は、例えばレーザ変位計で構成されている。
Next, the position measuring section 130 will be described.
The position measuring unit 130 is a component that measures the position in the Z direction of the first surface 211 , which is the imaging surface of the slab sample 210 , under the control of the processing/control unit 140 . In the example shown in FIG. 2, a plurality of position measurement units 130-1 to 130-4 for measuring the positions of a plurality of points 2111 to 2114 on the first surface 211 corresponding to the plurality of points 2121 to 2124 on the second surface 212 are provided. The form to provide is shown. Specifically, position measuring unit 130-1 is a measuring unit that measures the position of 2111 on first surface 211 corresponding to point 2121 on second surface 212, and position measuring unit 130-2 measures the position of second surface 212. , and the position measuring unit 130-3 measures the position of the point 2113 on the first surface 211 corresponding to the point 2123 on the second surface 212. The position measuring unit 130-4 is a measuring unit that measures the position of the point 2114 on the first surface 211 corresponding to the point 2124 on the second surface 212. As shown in FIG. In addition, these multiple position measuring units 130-1 to 130-4 are composed of, for example, laser displacement gauges.

続いて、処理・制御部140について説明を行う。
処理・制御部140は、例えば入力部150から入力された入力情報に基づいて、鋳片撮影装置100の各構成部を制御して鋳片撮影装置100の動作を統括的に制御するとともに、各種の処理を行う。この処理・制御部140は、図2に示すように、支持機構制御部141と、撮影機構制御部142とを含み構成されている。
Next, the processing/control unit 140 will be described.
The processing/control unit 140 controls each component of the cast piece photographing apparatus 100 based on the input information input from the input unit 150, for example, and comprehensively controls the operation of the cast piece photographing apparatus 100. process. The processing/control section 140 includes a support mechanism control section 141 and a photographing mechanism control section 142, as shown in FIG.

支持機構制御部141は、位置測定部130の測定結果に基づいて、鋳片サンプル210の撮影面である第1面211が撮影部111の合焦面1112に配置されるように支持機構120を駆動制御する構成部である。具体的に、支持機構制御部141は、複数の位置測定部130-1~130-4による第1面211の複数の点2111~2114における位置の測定結果を用いて、複数の支持部材121~124のそれぞれに対して上述した駆動制御を行う。 The support mechanism control unit 141 controls the support mechanism 120 so that the first surface 211 , which is the imaging surface of the cast piece sample 210 , is arranged on the focusing surface 1112 of the imaging unit 111 based on the measurement result of the position measurement unit 130 . This is a configuration unit for drive control. Specifically, the support mechanism control unit 141 uses the position measurement results of the plurality of points 2111 to 2114 on the first surface 211 by the plurality of position measurement units 130-1 to 130-4 to determine the positions of the plurality of support members 121 to 2114. 124 are subjected to the drive control described above.

撮影機構制御部142は、支持機構制御部141の制御によって鋳片サンプル210の第1面211が撮影部111の合焦面1112に配置された後に、鋳片サンプル210に対して撮影部111及び照明部112を含む撮影機構110を走査して、撮影部111に鋳片サンプル210の第1面211の撮影を行わせる撮影制御を行う。 After the first surface 211 of the slab sample 210 is placed on the focal plane 1112 of the imaging unit 111 under the control of the support mechanism control unit 141 , the imaging mechanism control unit 142 controls the imaging unit 111 and the slab sample 210 . The photographing mechanism 110 including the illumination unit 112 is scanned, and photographing control is performed to cause the photographing unit 111 to photograph the first surface 211 of the slab sample 210 .

続いて、入力部150について説明を行う。
入力部150は、例えば、ユーザにより操作入力された入力情報を処理・制御部140に入力する構成部である。
Next, the input section 150 will be described.
The input unit 150 is, for example, a component that inputs input information that is input by a user to the processing/control unit 140 .

続いて、表示部160について説明を行う。
表示部160は、処理・制御部140の制御に基づいて、各種の情報や各種のデータ等を表示する構成部である。
Next, the display unit 160 will be described.
The display unit 160 is a component that displays various information, various data, etc. under the control of the processing/control unit 140 .

次に、図2に示す鋳片撮影装置100による鋳片撮影方法の処理手順を説明する。
図3は、本発明の実施形態に係る鋳片撮影装置100による鋳片撮影方法の処理手順の一例を示すフローチャートである。また、図4は、本発明の実施形態に係る鋳片撮影装置100による鋳片撮影方法の処理手順の一例を示す模式図である。この図4において、図2に示す構成と同様の構成については同じ符号を付している。以下、図3に示すフローチャートの処理手順について、図2及び図4を用いながら説明を行う。
Next, the processing procedure of the cast piece photographing method by the cast piece photographing apparatus 100 shown in FIG. 2 will be described.
FIG. 3 is a flow chart showing an example of the processing procedure of the cast piece photographing method by the cast piece photographing apparatus 100 according to the embodiment of the present invention. Moreover, FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of the processing procedure of the cast piece photographing method by the cast piece photographing apparatus 100 according to the embodiment of the present invention. In FIG. 4, the same reference numerals are assigned to the same configurations as those shown in FIG. The processing procedure of the flowchart shown in FIG. 3 will be described below with reference to FIGS. 2 and 4. FIG.

まず、図3のフローチャートの処理を開始する前に、ユーザは、図2に示すように、支持機構120における複数の支持部材121~124上に、鋳片サンプル210の第2面212を載置する。これにより、図2に示すように、支持部材121が第2面212の点2121で当接して第2面212を支持し、支持部材122が第2面212の点2122で当接して第2面212を支持し、支持部材123が第2面212の点2123で当接して第2面212を支持し、支持部材124が第2面212の点2124で当接して第2面212を支持しているものとする。 First, before starting the processing of the flow chart of FIG. 3, the user places the second surface 212 of the slab sample 210 on the plurality of support members 121 to 124 of the support mechanism 120 as shown in FIG. do. As a result, as shown in FIG. 2, the support member 121 abuts on the second surface 212 at a point 2121 to support the second surface 212 , and the support member 122 abuts on the second surface 212 at a point 2122 to support the second surface 212 . The surface 212 is supported, the support member 123 abuts on the second surface 212 at a point 2123 to support the second surface 212, and the support member 124 abuts on the second surface 212 at a point 2124 to support the second surface 212. It is assumed that

そして、図3のステップS101において、処理・制御部140(具体的に、支持機構制御部141)は、例えば入力部150から入力された入力情報に基づいて、撮影部111の合焦面1112の位置を設定する。ここで、本実施形態においては、撮影部111の合焦面1112は上述したようにXY面と平行な面であるため、撮影部111の合焦面1112の位置として例えばZ方向の高さを示すZ座標値を設定する。 Then, in step S101 of FIG. 3, the processing/control unit 140 (specifically, the support mechanism control unit 141) adjusts the focal plane 1112 of the imaging unit 111 based on the input information input from the input unit 150, for example. Set position. Here, in the present embodiment, the focal plane 1112 of the imaging unit 111 is a plane parallel to the XY plane as described above. Set the Z coordinate value to indicate.

この際、図3のステップS101において設定した撮影部111の合焦面1112の位置と、現時点において支持機構120によって第2面212が支持されている鋳片サンプル210の位置との関係は、図4(a)に示す位置の関係にあるものとする。具体的に、図4(a)では、Z方向の高さに関して、鋳片サンプル210の第1面211の位置が、撮影部111の合焦面1112の位置よりも低い位置(即ち、Z方向の高さを示すZ座標値が小さい値)となっている。また、図4(a)では、Z方向の高さに関して、鋳片サンプル210の第1面211における点2114の位置が、鋳片サンプル210の第1面211における他の点2111~2113の位置よりも高い位置にある場合を示しており(即ち、点2114のZ座標値が、点2111~2113のZ座標値よりも大きい値である場合を示しており)、このため、撮影部111の合焦面1112に対して鋳片サンプル210の第1面211が平行ではなく傾いて配置されている。 At this time, the relationship between the position of the focal plane 1112 of the imaging unit 111 set in step S101 of FIG. 4(a). Specifically, in FIG. 4A, the position of the first surface 211 of the slab sample 210 is lower than the position of the focal plane 1112 of the imaging unit 111 with respect to the height in the Z direction (that is, the Z direction is a small value). Further, in FIG. 4A, the position of point 2114 on first surface 211 of slab sample 210 is the position of other points 2111 to 2113 on first surface 211 of slab sample 210 with respect to the height in the Z direction. (that is, the Z-coordinate value of the point 2114 is higher than the Z-coordinate values of the points 2111 to 2113). The first surface 211 of the slab sample 210 is not parallel to the focal plane 1112 but is tilted.

続いて、図3のステップS102において、複数の位置測定部130-1~130-4は、鋳片サンプル210の第2面212の複数の点2121~2124に対応する第1面211の複数の点2111~2114の位置を測定する。図4(a)に示す例では、位置測定部130-1は、図4(a)に示す第1面211の点2111の位置を測定し、位置測定部130-2は、図4(a)に示す第1面211の点2112の位置を測定し、位置測定部130-3は、図4(a)に示す第1面211の点2113の位置を測定し、位置測定部130-4は、図4(a)に示す第1面211の点2114の位置を測定する。この際、位置測定部130-1~130-4は、それぞれ、図4(a)に示す第1面211の点2111~2114の位置として、例えばZ方向の高さを示すZ座標値を測定する。 Subsequently, in step S102 of FIG. 3, the plurality of position measuring units 130-1 to 130-4 measure the plurality of points 2121 to 2124 on the first surface 211 corresponding to the plurality of points 2121 to 2124 on the second surface 212 of the slab sample 210. The positions of points 2111-2114 are measured. In the example shown in FIG. 4(a), the position measuring unit 130-1 measures the position of the point 2111 on the first surface 211 shown in FIG. 4(a), and the position measuring unit 130-2 measures the ), the position measuring unit 130-3 measures the position of the point 2113 on the first surface 211 shown in FIG. 4A, and the position measuring unit 130-4 measures the position of the point 2114 on the first surface 211 shown in FIG. 4(a). At this time, the position measurement units 130-1 to 130-4 measure, for example, Z coordinate values indicating heights in the Z direction as the positions of points 2111 to 2114 on the first surface 211 shown in FIG. 4(a). do.

続いて、図3のステップS103において、支持機構制御部141は、図3のステップS102において位置測定部130-1~130-4で得られた測定結果を用いて、第1面211の複数の点2111~2114の中から、撮影部111の合焦面1112との距離が最も短い点を基準点として抽出する。図4(a)に示す例では、上述したように点2114のZ座標値が点2111~2113のZ座標値よりも大きい値であるため、点2114は、撮影部111の合焦面1112との距離が最も短い距離dとなり、基準点として抽出される。 Subsequently, in step S103 of FIG. 3, the support mechanism control unit 141 uses the measurement results obtained by the position measurement units 130-1 to 130-4 in step S102 of FIG. Among the points 2111 to 2114, the point with the shortest distance to the in-focus plane 1112 of the photographing unit 111 is extracted as a reference point. In the example shown in FIG. 4A, the Z coordinate value of the point 2114 is larger than the Z coordinate values of the points 2111 to 2113 as described above. becomes the shortest distance d, and is extracted as a reference point.

続いて、図3のステップS104において、支持機構制御部141は、鋳片サンプル210の第2面212の複数の点2121~2124のうちの基準点に対応する対応点を除く他の点を支持する支持部材を駆動させて、撮影部111の合焦面1112に対して第1面211を平行にする駆動制御(第1の駆動制御)を行う。図4(b)に示す例では、支持機構制御部141は、第2面212の複数の点2121~2124のうちの基準点2114に対応する対応点2124を除く他の点2121~2123を支持する支持部材121~123を駆動させて、撮影部111の合焦面1112に対して第1面211を平行にする駆動制御を行う。これにより、図4(b)に示す例では、撮影部111の合焦面1112と鋳片サンプル210の第1面211との距離がdとなる。なお、「撮影部111の合焦面1112に対して第1面211を平行にする」との記載において「平行」には、わずかなバラつき(傾き)があっても実質的に平行と見なせるものが含まれるものとする。 Subsequently, in step S104 of FIG. 3, the support mechanism control unit 141 supports the points other than the corresponding points corresponding to the reference points among the plurality of points 2121 to 2124 on the second surface 212 of the slab sample 210. By driving the supporting member, driving control (first driving control) is performed to make the first plane 211 parallel to the in-focus plane 1112 of the photographing unit 111 . In the example shown in FIG. 4B, the support mechanism control unit 141 supports points 2121 to 2123 other than the corresponding point 2124 corresponding to the reference point 2114 among the plurality of points 2121 to 2124 on the second surface 212. The supporting members 121 to 123 are driven to make the first plane 211 parallel to the in-focus plane 1112 of the photographing unit 111 . As a result, in the example shown in FIG. 4B, the distance between the focal plane 1112 of the imaging unit 111 and the first surface 211 of the slab sample 210 is d. It should be noted that in the description of ``making the first surface 211 parallel to the focusing surface 1112 of the imaging unit 111'', ``parallel'' means that even if there is a slight variation (inclination), it can be regarded as being substantially parallel. shall be included.

続いて、図3のステップS105において、支持機構制御部141は、図3のステップS102において位置測定部130-1~130-4で得られた測定結果を用いて、鋳片サンプル210の第2面212の、上述した対応点及び他の点の全ての点2121~2124を支持する全ての支持部材121~124を駆動させて、撮影部111の合焦面1112に対して鋳片サンプル210の第1面211を一致させる駆動制御(第2の駆動制御)を行う。図4(c)に示す例では、支持機構制御部141は、鋳片サンプル210の第2面212の全ての点2121~2124を支持する全ての支持部材121~124をZ方向に距離dだけ上昇させて、撮影部111の合焦面1112に対して鋳片サンプル210の第1面211を一致させる駆動制御を行う。 Subsequently, in step S105 of FIG. 3, the support mechanism control unit 141 uses the measurement results obtained by the position measurement units 130-1 to 130-4 in step S102 of FIG. By driving all supporting members 121 to 124 that support all points 2121 to 2124 of the above-described corresponding points and other points on the surface 212, the cast slab sample 210 is positioned with respect to the focal plane 1112 of the photographing unit 111. Drive control (second drive control) for matching the first surfaces 211 is performed. In the example shown in FIG. 4(c), the support mechanism control unit 141 moves all the support members 121 to 124 that support all the points 2121 to 2124 on the second surface 212 of the slab sample 210 by a distance d in the Z direction. Drive control is performed so that the first surface 211 of the slab sample 210 is raised and aligned with the focal plane 1112 of the photographing unit 111 .

続いて、図3のステップS106において、撮影機構制御部142は、撮影部111の合焦面1112に第1面211が配置された鋳片サンプル210に対して撮影部111及び照明部112を含む撮影機構110を走査して(例えば、鋳片サンプル210に対して撮影機構110を、図2に示すX方向において鋳片サンプル210の紙面右側から紙面左側に向かう方向に走査して)、撮影部111に鋳片サンプル210の第1面211の撮影を行わせる撮影制御を行う。 Subsequently, in step S106 of FIG. 3, the photographing mechanism control unit 142 includes the photographing unit 111 and the illumination unit 112 for the cast piece sample 210 in which the first surface 211 is arranged on the focal plane 1112 of the photographing unit 111. The imaging mechanism 110 is scanned (for example, the imaging mechanism 110 is scanned with respect to the slab sample 210 in the X direction shown in FIG. 2 from the right side of the slab sample 210 to the left side of the paper surface), and the imaging unit 111 performs photographing control for photographing the first surface 211 of the slab sample 210 .

続いて、図3のステップS107において、処理・制御部140は、撮影機構制御部142の撮影制御によって得られた第1面211の撮影画像を表示部160に表示する制御を行う。なお、この際、処理・制御部140は、撮影画像を解析して得られた鋳片200の内部品質の評価結果を、当該撮影画像とともに表示部160に表示する制御を行う形態も採り得る。 Subsequently, in step S<b>107 in FIG. 3 , the processing/control unit 140 controls the display unit 160 to display the photographed image of the first surface 211 obtained by the photographing control of the photographing mechanism control unit 142 . At this time, the processing/control unit 140 can also adopt a form of performing control to display the evaluation result of the internal quality of the cast slab 200 obtained by analyzing the photographed image on the display unit 160 together with the photographed image.

そして、その後、図3に示すフローチャートの処理を終了する。 After that, the processing of the flow chart shown in FIG. 3 ends.

以上説明した本実施形態に係る鋳片撮影装置100では、鋳片サンプル210において撮影部111が撮影する第1面211の裏面である第2面212を支持する支持機構120と、鋳片サンプル210の第1面211の位置を測定する位置測定部130と、位置測定部130の測定結果に基づいて、第1面211が撮影部111の合焦面1112に配置されるように支持機構120を駆動制御する支持機構制御部141を具備している。
このように、本実施形態では、撮影部111が撮影する鋳片サンプル210の第1面211とは異なる第2面212を支持する支持機構120を駆動制御して、撮影面である第1面211を撮影部111の合焦面1112に配置するようにしたので、例えば特許文献1に記載の構成で生じ得る撮影面に疵がついたり撮影面に異物が付着したりすることを回避することができ、その結果、鋳片200の内部品質の評価に資する適切な撮影画像を取得することができる。さらに、本実施形態では、撮影機構110ではなく支持機構120を駆動制御して、撮影面である第1面211を撮影部111の合焦面1112に配置するようにしたので、例えば特許文献1に記載の構成で生じ得る撮影機構110に含まれる光学機器の光軸等が鋳片サンプル210が変わるごとに変更されることを回避することができ、その結果、鋳片200の内部品質の評価に資する適切な撮影画像を、安定して継続的に取得することも可能となる。
In the slab photographing apparatus 100 according to the present embodiment described above, the support mechanism 120 that supports the second surface 212 that is the back surface of the first surface 211 photographed by the photographing unit 111 in the slab sample 210, and the slab sample 210 and the support mechanism 120 is adjusted so that the first surface 211 is placed on the in-focus plane 1112 of the photographing unit 111 based on the measurement result of the position measuring unit 130 . A support mechanism control unit 141 for drive control is provided.
As described above, in the present embodiment, the support mechanism 120 that supports the second surface 212 different from the first surface 211 of the slab sample 210 photographed by the photographing unit 111 is controlled to drive the first surface, which is the photographing surface. 211 is arranged on the in-focus plane 1112 of the photographing unit 111, it is possible to avoid damage to the photographing surface or adhesion of foreign matter to the photographing surface that may occur in the configuration described in Patent Document 1, for example. As a result, it is possible to obtain an appropriate photographed image that contributes to the evaluation of the internal quality of the cast slab 200 . Furthermore, in this embodiment, the support mechanism 120 is driven and controlled instead of the imaging mechanism 110 so that the first plane 211, which is the imaging plane, is arranged on the in-focus plane 1112 of the imaging unit 111. It is possible to avoid changing the optical axis of the optical equipment included in the imaging mechanism 110 every time the cast slab sample 210 changes. It is also possible to stably and continuously acquire an appropriate photographed image that contributes to

(その他の実施形態)
上述した本発明の実施形態では、図2及び図4に示す、第2面212の複数の点2121~2124のそれぞれに対応する第1面211の複数の点2111~2114として、第2面212の複数の点2121~2124とX方向の座標及びY方向の座標が同じでZ方向の座標のみが異なる形態を例示したが、本発明においては、この形態に限定されるものではない。支持機構制御部141による支持部材121~124のそれぞれの駆動制御をより高精度に行うという観点では、上述した図2及び図4に示す対応関係を有する第1面211の複数の点2111~2114の位置を位置測定部130-1~130-4で測定する形態がより好適であるが、本発明においては、支持部材121~124がそれぞれ支持する第2面212の複数の点2121~2124と、位置測定部130が位置を測定する第1面211の複数の点2111~2114とが、1対1で対応関係を図れる形態であれば、X方向の座標及びY方向の座標が同じで無くても適用可能である。
(Other embodiments)
In the above-described embodiment of the present invention, the points 2111 to 2114 on the first surface 211 corresponding to the points 2121 to 2124 on the second surface 212 shown in FIGS. Although the coordinates in the X direction and the coordinates in the Y direction are the same as those of the plurality of points 2121 to 2124 in , but the coordinates in the Z direction are different, the present invention is not limited to this form. From the viewpoint of performing the drive control of each of the support members 121 to 124 by the support mechanism control unit 141 with higher accuracy, the plurality of points 2111 to 2114 on the first surface 211 having the correspondence relationships shown in FIGS. Although it is more preferable to measure the position of the position by the position measuring units 130-1 to 130-4, in the present invention, a plurality of points 2121 to 2124 on the second surface 212 supported by the support members 121 to 124, respectively, and If the plurality of points 2111 to 2114 on the first surface 211 whose positions are to be measured by the position measuring unit 130 can establish a one-to-one correspondence, the coordinates in the X direction and the coordinates in the Y direction will not be the same. is also applicable.

また、上述した本発明の実施形態では、支持機構120が第2面212の4つの点2121~2124で鋳片サンプル210を支持し、位置測定部130が第1面211の4つの点2111~2114で第1面211の位置を測定する例を示したが、本発明においては、この形態に限定されるものではない。面を支持する及び面を測定するという観点からは、支持機構120が第2面212の3つの点2121~2123で鋳片サンプル210を支持し、位置測定部130が第1面211の3つの点2111~2113で第1面211の位置を測定する形態も、本発明に含まれる。即ち、本発明においては、支持機構120が第2面212の3点以上の複数の点で鋳片サンプル210を支持し、位置測定部130が第1面211の3点以上の複数の点で第1面211の位置を測定する形態であれば、適用可能である。 Further, in the embodiment of the present invention described above, the support mechanism 120 supports the slab sample 210 at the four points 2121 to 2124 on the second surface 212, and the position measuring unit 130 supports the four points 2111 to 2124 on the first surface 211. Although an example of measuring the position of the first surface 211 at 2114 has been shown, the present invention is not limited to this form. From the viewpoint of supporting and measuring the surface, the support mechanism 120 supports the cast slab sample 210 at three points 2121 to 2123 on the second surface 212, and the position measurement unit 130 at three points on the first surface 211. A form of measuring the position of the first surface 211 at the points 2111-2113 is also included in the present invention. That is, in the present invention, the support mechanism 120 supports the slab sample 210 at three or more points on the second surface 212, and the position measurement unit 130 supports three or more points on the first surface 211. Any form that measures the position of the first surface 211 is applicable.

また、上述した本発明の実施形態では、図2において説明を簡単にするために、支持部材121~124が直接鋳片サンプル210の第2面212を支持する形態を示したが、本発明においては、この形態に限定されるものではない。例えば、支持部材121~124と鋳片サンプル210の第2面212との間に、鋳片サンプル210を受ける金属や木材等の受け台を設けて、支持部材121~124が当該受け台を介して間接的に鋳片サンプル210の第2面212を支持する形態も、本発明に適用可能である。 In the above-described embodiment of the present invention, FIG. 2 shows a mode in which the support members 121 to 124 directly support the second surface 212 of the cast slab sample 210 for the sake of simplicity of explanation. is not limited to this form. For example, between the support members 121 to 124 and the second surface 212 of the slab sample 210, a cradle made of metal, wood, or the like for receiving the slab sample 210 is provided, and the support members 121 to 124 are placed through the cradle. A configuration in which the second surface 212 of the slab sample 210 is indirectly supported by the slab sample 210 is also applicable to the present invention.

また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。
即ち、上述した本発明の実施形態に係る鋳片撮影装置100の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。このプログラム及び当該プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体は、本発明に含まれる。
The present invention is also realized by executing the following processing.
That is, the software (program) that realizes the functions of the cast piece photographing apparatus 100 according to the embodiment of the present invention described above is supplied to a system or apparatus via a network or various storage media, and the computer of the system or apparatus (or CPU, MPU, etc.) reads and executes the program. This program and a computer-readable recording medium storing the program are included in the present invention.

なお、上述した本発明の実施形態は、本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。即ち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。 It should be noted that the above-described embodiments of the present invention merely show specific examples for carrying out the present invention, and the technical scope of the present invention should not be construed to be limited by these. . That is, the present invention can be embodied in various forms without departing from its technical concept or main features.

100:鋳片撮影装置、110:撮影機構、111:撮影部、1111:撮影部の合焦位置、1112:撮影部の合焦面、112:照明部、120:支持機構、121~124:支持部材、130-1~130-4:位置測定部、140:処理・制御部、141:支持機構制御部、142:撮影機構制御部、150:入力部、160:表示部、210:鋳片サンプル、211:鋳片サンプル210の第1面、2111~2114:第1面の点、212:鋳片サンプル210の第2面、2121~2124:第2面の点 100: cast piece imaging device, 110: imaging mechanism, 111: imaging unit, 1111: focus position of imaging unit, 1112: focal plane of imaging unit, 112: illumination unit, 120: support mechanism, 121 to 124: support Members, 130-1 to 130-4: Position measurement unit, 140: Processing/control unit, 141: Support mechanism control unit, 142: Shooting mechanism control unit, 150: Input unit, 160: Display unit, 210: Cast slab sample , 211: first surface of slab sample 210, 2111 to 2114: points on first surface, 212: second surface of slab sample 210, 2121 to 2124: points on second surface

Claims (4)

鋳片を評価するために当該鋳片から採取した鋳片サンプルの撮影を行う鋳片撮影装置であって、
前記鋳片サンプルの第1面を撮影する撮影手段と、
前記撮影手段の合焦面を照明する照明手段と、
前記鋳片サンプルの前記第1面の裏面である第2面を、前記第2面における3点以上の複数の点を支持する複数の支持部材を用いて支持する支持手段と、
前記第2面の前記複数の点に対応する前記第1面の複数の点の位置を測定することにより、前記第1面の位置を測定する位置測定手段と、
前記位置測定手段による前記第1面の前記複数の点における位置の測定結果に基づいて、前記第1面が前記合焦面に配置されるように前記支持手段を駆動制御する制御手段と、
を有し、
前記制御手段は、前記駆動制御として、
前記位置測定手段の測定結果を用いて、前記第1面の前記複数の点の中から前記合焦面との距離が最も短い基準点を抽出し、前記第2面の前記複数の点のうちの前記基準点に対応する対応点を除く他の点を支持する前記支持部材を駆動させて、前記合焦面に対して前記第1面を平行にする第1の駆動制御と、
前記位置測定手段の測定結果を用いて、前記第2面の前記対応点および前記他の点を支持する前記複数の支持部材を駆動させて、前記合焦面に対して前記第1面を一致させる第2の駆動制御と、
を行う、鋳片撮影装置。
A slab photographing device for photographing a slab sample taken from the slab in order to evaluate the slab,
a photographing means for photographing the first surface of the slab sample;
illumination means for illuminating the in-focus plane of the photographing means;
a support means for supporting a second surface, which is the back surface of the first surface, of the cast slab sample using a plurality of support members that support a plurality of points of three or more points on the second surface ;
position measuring means for measuring the position of the first surface by measuring positions of a plurality of points on the first surface corresponding to the plurality of points on the second surface ;
control means for driving and controlling the support means so that the first surface is arranged on the focal plane based on the measurement results of the positions of the plurality of points on the first surface by the position measurement means;
has
The control means, as the drive control,
A reference point having the shortest distance from the in-focus plane is extracted from the plurality of points on the first surface using the measurement result of the position measuring means, and one of the plurality of points on the second surface is a first drive control that drives the support member that supports other points other than the corresponding point corresponding to the reference point of to make the first plane parallel to the focal plane;
Using the measurement result of the position measuring means, the plurality of support members that support the corresponding points and the other points on the second surface are driven to match the first surface with the focal plane. a second drive control that causes
A cast piece photographing device.
前記制御手段は、さらに、前記鋳片サンプルに対して前記撮影手段および前記照明手段を含む撮影機構を走査して、前記撮影手段に前記第1面の撮影を行わせる撮影制御を行う、請求項1に記載の鋳片撮影装置。 The control means further performs photographing control for causing the photographing means to photograph the first surface by scanning the photographing mechanism including the photographing means and the illumination means with respect to the cast slab sample. Item 1. A cast slab photographing apparatus according to Item 1. 鋳片を評価するために当該鋳片から採取した鋳片サンプルの撮影を行う鋳片撮影装置による鋳片撮影方法であって
記鋳片サンプルの第1面を撮影する撮影手段と、前記撮影手段の合焦面を照明する照明手段と、前記鋳片サンプルの前記第1面の裏面である第2面を、前記第2面における3点以上の複数の点を支持する複数の支持部材を用いて支持する支持手段と、を備えた前記鋳片撮影装置を用い
前記第2面の前記複数の点に対応する前記第1面の複数の点の位置を測定することにより、前記第1面の位置を測定する位置測定ステップと、
前記位置測定ステップによる前記第1面の前記複数の点における位置の測定結果に基づいて、前記第1面が前記合焦面に配置されるように前記支持手段を駆動制御する制御ステップと、
を有し、
前記制御ステップは、前記駆動制御として、
前記位置測定ステップの測定結果を用いて、前記第1面の前記複数の点の中から前記合焦面との距離が最も短い基準点を抽出し、前記第2面の前記複数の点のうちの前記基準点に対応する対応点を除く他の点を支持する前記支持部材を駆動させて、前記合焦面に対して前記第1面を平行にする第1の駆動制御ステップと、
記位置測定ステップの測定結果を用いて、前記第2面の前記対応点および前記他の点を支持する前記複数の支持部材を駆動させて、前記合焦面に対して前記第1面を一致させる第2の駆動制御ステップと、
を行う、鋳片撮影方法。
A slab photographing method using a slab photographing device for photographing a slab sample taken from the slab for evaluation of the slab ,
photographing means for photographing the first surface of the slab sample; illumination means for illuminating the focal plane of the photographing means ; Supporting means for supporting a plurality of points of three or more points on two surfaces using a plurality of supporting members ,
a position measuring step of measuring the position of the first surface by measuring the positions of a plurality of points of the first surface corresponding to the plurality of points of the second surface ;
a control step of driving and controlling the support means so that the first surface is positioned on the focal plane based on the position measurement results of the plurality of points on the first surface obtained by the position measurement step;
has
The control step includes, as the drive control,
Extracting a reference point having the shortest distance from the in-focus plane from among the plurality of points on the first surface using the measurement result of the position measurement step, a first drive control step of driving the support member supporting other points excluding corresponding points corresponding to the reference points of to make the first plane parallel to the focal plane;
Using the measurement result of the position measuring step, the plurality of supporting members that support the corresponding points and the other points on the second surface are driven to move the first surface with respect to the focal plane. a matching second drive control step;
A cast piece photographing method.
請求項に記載の鋳片撮影方法における各ステップをコンピュータに実行させるためのプログラム。 A program for causing a computer to execute each step in the cast piece photographing method according to claim 3 .
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