JP7133995B2 - 眼科装置、及びその制御方法 - Google Patents

眼科装置、及びその制御方法 Download PDF

Info

Publication number
JP7133995B2
JP7133995B2 JP2018113323A JP2018113323A JP7133995B2 JP 7133995 B2 JP7133995 B2 JP 7133995B2 JP 2018113323 A JP2018113323 A JP 2018113323A JP 2018113323 A JP2018113323 A JP 2018113323A JP 7133995 B2 JP7133995 B2 JP 7133995B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
eye
light
inspected
objective lens
optical system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018113323A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019213751A (ja
Inventor
健史 林
陽子 多々良
俊一 森嶋
美智子 中西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP2018113323A priority Critical patent/JP7133995B2/ja
Publication of JP2019213751A publication Critical patent/JP2019213751A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7133995B2 publication Critical patent/JP7133995B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Description

この発明は、眼科装置、及びその制御方法に関する。
被検眼に対して複数の検査や測定を実行可能な眼科装置が知られている。被検眼に対する検査や測定には、自覚検査や他覚測定がある。自覚検査は、被検者からの応答に基づいて結果を得るものである。他覚測定は、被検者からの応答を参照することなく、主として物理的な手法を用いて被検眼に関する情報を取得するものである。
例えば、特許文献１には、自覚検査や他覚測定が可能な眼科装置が開示されている。この眼科装置は、他覚測定として、被検眼の屈折力測定やケラト測定や光コヒーレンストモグラフィを用いた撮影や計測を行うことができる。
このような眼科装置を用いた複数の検査や測定では、最適な作動距離が互いに異なる。従って、１つの検査又は測定に最適になるように眼科装置の作動距離を設定すると、別の検査や測定の範囲が狭くなったり、測定の精度が低下したりする。例えば、屈折力測定に最適になるように眼科装置の作動距離を設定した場合、光コヒーレンストモグラフィ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｅｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：以下、ＯＣＴ）計測におけるスキャン範囲が狭くなる。例えば、ＯＣＴ計測に最適になるように眼科装置の作動距離を設定した場合、器械近視の影響を受けやすくなる。それにより、対物レンズの径を大きくする必要がある。ところが、対物レンズの径を大きくすると、ケラト測定に用いる測定パターンの投射が難しくなり、角膜形状を高精度に測定することができなくなる。
検査や測定の種別に応じて、眼科装置の作動距離を変更することが可能な眼科装置が提案されている。例えば、特許文献２及び特許文献３には、屈折力・角膜形状測定部と眼圧測定部とが上下方向に積層配置された測定ユニットを含む眼科装置が開示されている。この眼科装置では、測定ユニットを上下方向に移動し、屈折力・角膜形状測定部に対して眼圧測定部を作動距離方向に移動させることで、屈折力・角膜形状測定及び眼圧測定のそれぞれに最適な作動距離を設定することができる。例えば、特許文献４には、屈折力測定部と眼圧測定部とを含む検眼ユニットがベースに対して回転軸回りに回転可能に設けられた眼科装置が開示されている。この眼科装置では、検眼ユニットを回転することで屈折力測定及び眼圧測定のそれぞれに最適な作動距離で測定を行うことができる。
特開２０１７－１３６２１５号公報 特許第４３４９９３４号明細書 特許第４８７９６３２号明細書 特許第６０１６４４５号明細書
しかしながら、従来の眼科装置では、複数の測定部が積層配置されたり、検眼ユニットの回転機構が必要になったりするため、装置の大型化を招く。
本発明は、このような事情を鑑みてなされたものであり、その目的は、簡素な構成で、それぞれに最適な作動距離で複数の検査や測定を実行可能な眼科装置、及びその制御方法を提供することにある。
いくつかの実施形態の第１態様は、対物レンズと、前記対物レンズを介して被検眼に光を投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する屈折力測定光学系と、光スキャナーを有し、光源からの光を前記光スキャナーにより偏向し、前記光スキャナーにより偏向された光を前記対物レンズを介して前記被検眼に投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する検査光学系と、前記対物レンズの光軸方向に前記対物レンズと前記屈折力測定光学系と前記検査光学系とを移動する移動機構と、前記屈折力測定光学系を用いた屈折力測定を行うとき前記被検眼に対する作動距離が第１作動距離になり、前記検査光学系を用いた検査を行うとき前記作動距離が第２作動距離になるように前記移動機構を制御する制御部と、を含む眼科装置である。
いくつかの実施形態の第２態様は、第１態様において、前記被検眼の前眼部からの光をリレーするリレーレンズと、前記リレーレンズを経由した光を受光する撮像素子とを含む前眼部観察系を含み、前記制御部は、前記屈折力測定を行うとき前記前眼部観察系の光軸上の第１レンズ位置に前記リレーレンズを移動し、前記検査を行うとき前記前眼部観察系の光軸上の第２レンズ位置に前記リレーレンズを移動する。
いくつかの実施形態の第３態様は、第１態様又は第２態様において、前記被検眼に固視標を投影する固視投影系を含み、前記制御部は、前記屈折力測定を行うとき第１固視標を前記被検眼に投影し、前記検査を行うとき前記第１固視標より視角が狭い第２固視標を前記被検眼に投影するように前記固視投影系を制御する。
いくつかの実施形態の第４態様では、第３態様において、前記第２固視標は、ドット視標又はクロス視標である。
いくつかの実施形態の第５態様は、第１態様～第４態様のいずれかにおいて、前記対物レンズの光軸上の前記被検眼の第１配置位置に対して、当該光軸に対して第１角度をなす方向からアライメント光を照射し、前記被検眼からの戻り光を受光する第１アライメント系と、前記対物レンズの光軸上の前記被検眼の第２配置位置に対して、前記光軸に対して第２角度をなす方向からアライメント光を照射し、前記被検眼からの戻り光を受光する第２アライメント系と、を含み、前記制御部は、前記屈折力測定を行うとき前記第１アライメント系により得られた受光結果に基づいて前記移動機構を制御し、前記検査を行うとき前記第２アライメント系により得られた受光結果に基づいて前記移動機構を制御する。
いくつかの実施形態の第６態様は、第１態様～第４態様のいずれかにおいて、前記対物レンズの光軸上の前記被検眼の２以上の配置位置のそれぞれに対して、当該光軸に対して変更可能な角度をなす方向からアライメント光を照射し、前記被検眼からの戻り光を受光するアライメント系と、前記角度を変更する角度変更機構と、を含み、前記制御部は、前記屈折力測定を行うとき前記角度変更機構により第１照射角度に変更された状態で前記アライメント系により得られた受光結果に基づいて前記移動機構を制御し、前記検査を行うとき前記角度変更機構により第２照射角度に変更された状態で前記アライメント系により得られた受光結果に基づいて前記移動機構を制御する。
いくつかの実施形態の第７態様は、第１態様～第６態様のいずれかにおいて、前記対物レンズの外縁側から前記被検眼の角膜において前記対物レンズの光軸を中心に円弧状又は円周状の測定パターンを前記被検眼に投射し、前記対物レンズを介して前記被検眼の角膜からの戻り光を検出する角膜形状測定光学系を含み、前記角膜形状測定光学系は、ケラト光源と、前記ケラト光源と前記被検眼との間に配置され、前記対物レンズの光軸を中心に円弧状又は円周状に形成され前記ケラト光源からの光を透過する透光部が形成されたケラト板と、を含み、前記対物レンズの光軸に対する前記測定パターンに基づく像の高さをｈとし、前記被検眼の角膜曲率半径をＲとし、前記対物レンズの光軸から前記透光部までの長さをＨとしたとき、前記制御部は、前記第１作動距離が（（Ｈ－ｈ）／ｔａｎ（２×ｓｉｎ－１（ｈ／Ｒ））－（Ｒ－√（Ｒ2－ｈ2）））になるように前記移動機構を制御する。
いくつかの実施形態の第８態様では、第７態様において、前記測定パターンに基づく像の高さは、１．５ミリメートルである。
いくつかの実施形態の第９態様では、第７態様又は第８態様において、前記被検眼の瞳孔から眼底までの距離をＬｅとし、角膜前面から瞳孔までの距離をＬａとし、前記ケラト板の前面から前記対物レンズの主面までの距離をＬｋとし、前記光スキャナーによるスキャン範囲をＳＡ四方とし、前記スキャン範囲をスキャンするための前記対物レンズにおけるスキャン径をＤとしたとき、前記制御部は、前記第２作動距離が（（Ｌｅ×Ｄ）／ＳＡ－（Ｌａ＋Ｌｋ））になるように前記移動機構を制御する。
いくつかの実施形態の第１０態様では、第９態様において、前記スキャン範囲は、前記被検眼の眼底における（６×√２）ミリメートル四方の範囲である。
いくつかの実施形態の第１１態様では、第１態様～第１０態様のいずれかにおいて、前記検査光学系は、ＯＣＴ光源からの光を参照光と測定光とに分割し、前記測定光を前記光スキャナーにより偏向し、前記偏向された測定光を前記被検眼に投射し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出するＯＣＴ光学系を含む。
いくつかの実施形態の第１２態様では、第１態様～第１１態様のいずれかにおいて、前記検査光学系は、ＳＬＯ光源からの光を前記光スキャナーにより偏向し、前記偏向された光を前記被検眼に投射し、前記被検眼からの戻り光を受光するＳＬＯ光学系を含む。
いくつかの実施形態の第１３態様は、対物レンズと、前記対物レンズを介して被検眼に光を投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する屈折力測定光学系と、光スキャナーを有し、光源からの光を前記光スキャナーにより偏向し、前記光スキャナーにより偏向された光を前記対物レンズを介して前記被検眼に投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する検査光学系と、前記対物レンズの光軸方向に前記対物レンズと前記屈折力測定光学系と前記検査光学系とを移動する移動機構と、前記移動機構を制御する制御部と、を含む眼科装置の制御方法であって、前記制御部が前記被検眼に対する作動距離が第１作動距離になるように前記移動機構を制御する第１制御ステップと、前記第１制御ステップにおいて作動距離が前記第１作動距離に設定された状態において、前記屈折力測定光学系を用いた屈折力測定を実行する第１計測ステップと、前記制御部が前記被検眼に対する作動距離が第２作動距離になるように前記移動機構を制御する第２制御ステップと、前記第２制御ステップにおいて作動距離が前記第２作動距離に設定された状態において、前記検査光学系を用いた検査を実行する第２計測ステップと、を含む。
いくつかの実施形態の第１４態様では、第１３態様において、前記眼科装置は、前記被検眼の前眼部からの光をリレーするリレーレンズと、前記リレーレンズを経由した光を受光する撮像素子とを含む前眼部観察系を含み、前記第１制御ステップでは、更に、前記前眼部観察系の光軸上の第１レンズ位置に前記リレーレンズを移動し、前記第２制御ステップでは、更に、前記前眼部観察系の光軸上の第２レンズ位置に前記リレーレンズを移動する。
いくつかの実施形態の第１５態様では、第１３態様又は第１４態様において、前記眼科装置は、前記被検眼に固視標を投影する固視投影系を含み、前記第１制御ステップでは、更に、第１固視標を前記被検眼に投影するように前記固視投影系を制御し、前記第２制御ステップでは、更に、前記第１固視標より視角が狭い第２固視標を前記被検眼に投影するように前記固視投影系を制御する。
いくつかの実施形態の第１６態様では、第１３態様～第１５態様のいずれかにおいて、前記眼科装置は、前記対物レンズの光軸上の前記被検眼の第１配置位置に対して、当該光軸に対して第１角度をなす方向からアライメント光を照射し、前記被検眼からの戻り光を受光する第１アライメント系と、前記対物レンズの光軸上の前記被検眼の第２配置位置に対して、前記光軸に対して第２角度をなす方向からアライメント光を照射し、前記被検眼からの戻り光を受光する第２アライメント系と、を含み、前記第１制御ステップでは、前記第１アライメント系により得られた受光結果に基づいて前記移動機構を制御し、前記第２制御ステップでは、前記第２アライメント系により得られた受光結果に基づいて前記移動機構を制御する。
本発明によれば、簡素な構成で、それぞれに最適な作動距離で複数の検査や測定を実行可能な眼科装置、及びその制御方法を提供することが可能になる。
実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置の処理系の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例のフローを示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例のフローを示す概略図である。 実施形態の変形例に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。 実施形態の変形例に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。 実施形態の変形例に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。 実施形態の変形例に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。 実施形態の変形例に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。 実施形態の変形例に係る眼科装置の処理系の構成例を示す概略図である。 実施形態の変形例に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。 実施形態の変形例に係る眼科装置の処理系の構成例を示す概略図である。 実施形態の変形例に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。 実施形態の変形例に係る眼科装置の処理系の構成例を示す概略図である。 実施形態の変形例に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。
この発明に係る眼科装置、及びその制御方法の実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。
実施形態に係る眼科装置は、対物レンズを共用化しつつ、複数の検査や測定を実行可能である。複数の検査や測定を実行可能な眼科装置において、検査や測定の種別に対応した複数の光学系で対物レンズを共用化することで装置の小型化や低コスト化を図ることができる。
実施形態に係る眼科装置は、屈折力測定（レフ測定）と、スキャン計測とを実行可能である。スキャン計測は、計測用の光を偏向し、偏向された光を被検眼に投射し、被検眼からの戻り光を検出することにより計測結果を得る。スキャン計測には、光コヒーレンストモグラフィを用いた計測や撮影、ＳＬＯ（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）光学系を用いた計測や撮影などがある。以下では、実施形態に係る眼科装置が、スキャン計測として、前眼部や眼底に対してＯＣＴを実行する場合について説明する。
以下、実施形態では、スウェプトソースタイプのＯＣＴの手法を用いる場合について特に詳しく説明するが、他のタイプ（例えば、スペクトラルドメインタイプ、タイムドメインタイプ）のＯＣＴを用いる眼科装置に対して、実施形態に係る構成を適用することも可能である。
いくつかの実施形態に係る眼科装置は、更に、自覚検査を行うための自覚検査光学系や、その他の他覚測定を行うための他覚測定系を含む。
自覚検査は、被検者からの応答を利用して情報を取得する測定手法である。自覚検査には、遠用検査、近用検査、コントラスト検査、グレア検査等の自覚屈折測定や、視野検査などがある。
他覚測定は、被検者からの応答を参照することなく、主に物理的な手法を用いて被検眼に関する情報を取得する測定手法である。他覚測定には、被検眼の特性を取得するための測定と、被検眼の画像を取得するための撮影とが含まれる。その他の他覚測定には、眼圧測定、眼底撮影等がある。
以下、眼底共役位置は、アライメントが完了した状態での被検眼の眼底と光学的に略共役な位置であり、被検眼の眼底と光学的に共役な位置又はその近傍を意味するものとする。同様に、瞳孔共役位置は、アライメントが完了した状態での被検眼の瞳孔と光学的に略共役な位置であり、被検眼の瞳孔と光学的に共役な位置又はその近傍を意味するものとする。
以下、作動距離は、被検眼から眼科装置の先端までの距離であるものとする。眼科装置の先端には、例えば、対物レンズの物体側のレンズ面、又はケラト板等の装置本体（筐体）の一部などがある。いくつかの実施形態では、作動距離は、対物レンズの光軸における距離である。
＜光学系の構成＞
図１及び図２に、実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す。実施形態に係る眼科装置１０００は、被検眼Ｅを観察するための光学系と、被検眼Ｅを検査するための光学系と、これらの光学系の光路を波長分離するダイクロイックミラーとを含む。被検眼Ｅを観察するための光学系として、前眼部観察系５が設けられている。被検眼Ｅを検査するための光学系としてＯＣＴ光学系やレフ測定光学系（屈折力測定光学系）が設けられている。
眼科装置１０００は、Ｚアライメント系１、ＸＹアライメント系２、ケラト測定系３、固視投影系４、前眼部観察系５、レフ測定投射系６、レフ測定受光系７、及びＯＣＴ光学系８を含む。以下では、例えば、前眼部観察系５が９４０ｎｍ～１０００ｎｍの光を用い、レフ測定光学系（レフ測定投射系６、レフ測定受光系７）が８３０ｎｍ～８８０ｎｍの光を用い、固視投影系４が４００ｎｍ～７００ｎｍの光を用い、ＯＣＴ光学系８が１０００ｎｍ～１１００ｎｍの光を用いるものとする。
（前眼部観察系５）
前眼部観察系５は、被検眼Ｅの前眼部を動画撮影する。前眼部観察系５を経由する光学系において、撮像素子５９の撮像面は瞳孔共役位置に配置されている。前眼部照明光源５０は、被検眼Ｅの前眼部に照明光（例えば、赤外光）を照射する。被検眼Ｅの前眼部により反射された光は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックミラー５２を透過し、絞り（テレセン絞り）５３に形成された孔部を通過し、ハーフミラー２３を透過し、リレーレンズ５５及び５６を通過し、ダイクロイックミラー７６を透過する。ダイクロイックミラー５２は、レフ測定光学系の光路と前眼部観察系５の光路とを合成（分離）する。ダイクロイックミラー５２は、これらの光路を合成する光路合成面が対物レンズ５１の光軸に対して傾斜して配置される。実施形態において、リレーレンズ５６は、前眼部観察系５の光軸（又はリレーレンズ５６の光軸）に沿って移動可能である。ダイクロイックミラー７６を透過した光は、結像レンズ５８により撮像素子５９（エリアセンサー）の撮像面に結像される。撮像素子５９は、所定のレートで撮像及び信号出力を行う。撮像素子５９の出力（映像信号）は、後述の処理部９に入力される。処理部９は、この映像信号に基づく前眼部像Ｅ´を後述の表示部１０の表示画面１０ａに表示させる。前眼部像Ｅ´は、例えば赤外動画像である。
（Ｚアライメント系１）
Ｚアライメント系１は、Ｚアライメント系１Ａと、Ｚアライメント系１Ｂとを含む。対物レンズ５１の光軸方向のアライメントには、Ｚアライメント系１Ａ及び１Ｂのいずれかが用いられる。Ｚアライメント系１Ａは、レフ測定前の対物レンズ５１（前眼部観察系５等の光学系）の光軸方向（前後方向、Ｚ方向、作動距離方向）のアライメントに用いられる。Ｚアライメント系１Ｂは、ＯＣＴ計測前の対物レンズ５１の光軸方向のアライメントに用いられる。
Ｚアライメント系１Ａは、対物レンズ５１の光軸上の第１配置位置の被検眼Ｅに対して光軸に対して第１角度をなす方向からアライメント光を照射し、被検眼Ｅにおいて正反射された光（戻り光）を受光するように構成される。Ｚアライメント系１Ｂは、対物レンズ５１の光軸上における、第１配置位置より眼科装置１０００から遠い第２配置位置の被検眼Ｅに対して第２角度をなす方向からアライメント光を照射し、被検眼Ｅにおいて正反射された光を受光するように構成される。この実施形態では、第１角度は第２角度と略等しい。
Ｚアライメント系１Ａは、対物レンズ５１の光軸方向におけるアライメントを行うための光（赤外光）を被検眼Ｅに投射する。Ｚアライメント光源１１Ａから出力された光は、第１配置位置の被検眼Ｅの角膜Ｃｒに投射され、角膜Ｃｒにより反射され、結像レンズ１２Ａによりラインセンサー１３Ａのセンサー面に結像される。角膜頂点の位置が前眼部観察系５の光軸方向（対物レンズ５１の光軸方向）に変化すると、ラインセンサー１３Ａのセンサー面における光の投射位置が変化する。処理部９は、レフ測定の前にラインセンサー１３Ａのセンサー面における光の投射位置に基づいて被検眼Ｅの角膜頂点の位置を求め、これに基づき光学系を移動させる機構を制御してＺアライメントを実行する。
Ｚアライメント系１Ｂは、Ｚアライメント系１Ａと同様の構成を有している。すなわち、Ｚアライメント光源１１Ｂから出力された光は、第２配置位置の被検眼Ｅの角膜Ｃｒに投射され、角膜Ｃｒにより反射され、結像レンズ１２Ｂによりラインセンサー１３Ｂのセンサー面に結像される。処理部９は、ＯＣＴ計測の前にラインセンサー１３Ｂのセンサー面における光の投射位置に基づいて被検眼Ｅの角膜頂点の位置を求め、これに基づき光学系を移動させる機構を制御してＺアライメントを実行する。
（ＸＹアライメント系２）
ＸＹアライメント系２は、前眼部観察系５の光軸に直交する方向（左右方向（Ｘ方向）、上下方向（Ｙ方向））のアライメントを行うための光（赤外光）を被検眼Ｅに照射する。ＸＹアライメント系２は、ハーフミラー２３により前眼部観察系５の光路から分岐された光路に設けられたＸＹアライメント光源２１とコリメータレンズ２２とを含む。ＸＹアライメント光源２１から出力された光は、コリメータレンズ２２を通過し、ハーフミラー２３により反射され、前眼部観察系５を通じて被検眼Ｅに投射される。被検眼Ｅの角膜Ｃｒによる反射光は、前眼部観察系５を通じて撮像素子５９に導かれる。
この反射光に基づく像（輝点像）Ｂｒは前眼部像Ｅ´に含まれる。処理部９は、輝点像Ｂｒを含む前眼部像Ｅ´とアライメントマークＡＬとを表示部の表示画面に表示させる。手動でＸＹアライメントを行う場合、ユーザは、アライメントマークＡＬ内に輝点像Ｂｒを誘導するように光学系の移動操作を行う。自動でアライメントを行う場合、処理部９は、アライメントマークＡＬに対する輝点像Ｂｒの変位がキャンセルされるように、光学系を移動させる機構を制御する。
（ケラト測定系３）
ケラト測定系３は、被検眼Ｅの角膜Ｃｒの形状を測定するためのリング状光束（赤外光）を角膜Ｃｒに投射する。ケラト板３１は、対物レンズ５１と被検眼Ｅとの間に配置されている。ケラト板３１の背面側（対物レンズ５１側）にはケラトリング光源３２が設けられている。ケラト板３１には、対物レンズ５１の光軸を中心とする円周上に沿ってケラトリング光源３２からの光を透過するケラトパターン（透過部）が形成されている。なお、ケラトパターンは、対物レンズ５１の光軸を中心とする円弧状（円周の一部）に形成されていてもよい。ケラトリング光源３２からの光でケラト板３１を照明することにより、被検眼Ｅの角膜Ｃｒにリング状光束（円弧状又は円周状の測定パターン）が投射される。被検眼Ｅの角膜Ｃｒからの反射光（ケラトリング像）は撮像素子５９により前眼部像Ｅ´とともに検出される。処理部９は、このケラトリング像を基に公知の演算を行うことで、角膜Ｃｒの形状を表す角膜形状パラメータを算出する。
（レフ測定投射系６、レフ測定受光系７）
レフ測定光学系は、屈折力測定に用いられるレフ測定投射系６及びレフ測定受光系７を含む。レフ測定投射系６は、屈折力測定用の光束（例えば、リング状光束）（赤外光）を眼底Ｅｆに投射する。レフ測定受光系７は、この光束の被検眼Ｅからの戻り光を受光する。レフ測定投射系６は、レフ測定受光系７の光路に設けられた孔開きプリズム６５によって分岐された光路に設けられる。孔開きプリズム６５に形成されている孔部は、瞳孔共役位置に配置される。レフ測定受光系７を経由する光学系において、撮像素子５９の撮像面は眼底共役位置に配置される。
いくつかの実施形態では、レフ測定光源６１は、高輝度光源であるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ Ｄｉｏｄｅ）光源である。レフ測定光源６１は、光軸方向に移動可能である。レフ測定光源６１は、眼底共役位置に配置される。レフ測定光源６１から出力された光は、リレーレンズ６２を通過し、円錐プリズム６３の円錐面に入射する。円錐面に入射した光は偏向され、円錐プリズム６３の底面から出射する。円錐プリズム６３の底面から出射した光は、リング絞り６４にリング状に形成された透光部を通過する。リング絞り６４の透光部を通過した光（リング状光束）は、孔開きプリズム６５の孔部の周囲に形成された反射面により反射され、ロータリープリズム６６を通過し、ダイクロイックミラー６７により反射される。ダイクロイックミラー６７により反射された光は、ダイクロイックミラー５２により反射され、対物レンズ５１を通過し、被検眼Ｅに投射される。ロータリープリズム６６は、眼底Ｅｆの血管や疾患部位に対するリング状光束の光量分布を平均化や光源に起因するスペックルノイズの低減のために用いられる。
眼底Ｅｆに投射されたリング状光束の戻り光は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックミラー５２及びダイクロイックミラー６７により反射される。ダイクロイックミラー６７により反射された戻り光は、ロータリープリズム６６を通過し、孔開きプリズム６５の孔部を通過し、リレーレンズ７１を通過し、反射ミラー７２により反射され、リレーレンズ７３及び合焦レンズ７４を通過する。合焦レンズ７４は、レフ測定受光系７の光軸に沿って移動可能である。合焦レンズ７４を通過した光は、反射ミラー７５により反射され、ダイクロイックミラー７６により反射され、結像レンズ５８により撮像素子５９の撮像面に結像される。処理部９は、撮像素子５９からの出力を基に公知の演算を行うことで被検眼Ｅの屈折力値を算出する。例えば、屈折力値は、球面度数、乱視度数及び乱視軸角度、又は等価球面度数を含む。
（固視投影系４）
ダイクロイックミラー６７によりレフ測定光学系の光路から波長分離された光路に、後述のＯＣＴ光学系８が設けられる。ダイクロイックミラー８３によりＯＣＴ光学系８の光路から分岐された光路に固視投影系４が設けられる。
固視投影系４は、固視標を被検眼Ｅに呈示する。固視投影系４の光路には、固視ユニット４０が配置されている。固視ユニット４０は、後述の処理部９からの制御を受け、固視投影系４の光路に沿って移動可能である。固視ユニット４０は、液晶パネル４１を含む。ダイクロイックミラー８３と固視ユニット４０との間に、リレーレンズ４２が配置されている。
処理部９による制御を受けた液晶パネル４１は、固視標を表すパターンを表示する。液晶パネル４１の画面上におけるパターンの表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更できる。被検眼Ｅの固視位置としては、眼底Ｅｆの黄斑部を中心とする画像を取得するための位置や、視神経乳頭を中心とする画像を取得するための位置や、黄斑部と視神経乳頭との間の眼底中心を中心とする画像を取得するための位置などがある。固視標を表すパターンの表示位置を任意に変更することが可能である。
液晶パネル４１からの光は、リレーレンズ４２を通過し、ダイクロイックミラー８３を透過し、リレーレンズ８２を通過し、反射ミラー８１により反射され、ダイクロイックミラー６７を透過し、ダイクロイックミラー５２により反射される。ダイクロイックミラー５２により反射された光は、対物レンズ５１を通過して眼底Ｅｆに投射される。いくつかの実施形態では、液晶パネル４１及びリレーレンズ４２のそれぞれは、独立に光軸方向に移動可能である。
（ＯＣＴ光学系８）
ＯＣＴ光学系８は、ＯＣＴ計測を行うための光学系である。ＯＣＴ計測よりも前に実施されたレフ測定結果に基づいて、光ファイバーｆ１の端面が撮影部位（眼底Ｅｆ又は前眼部）と光学系に共役となるように合焦レンズ８７の位置が調整される。
ＯＣＴ光学系８は、ダイクロイックミラー６７によりレフ測定光学系の光路から波長分離された光路に設けられる。上記の固視投影系４の光路は、ダイクロイックミラー８３によりＯＣＴ光学系８の光路に結合される。それにより、ＯＣＴ光学系８及び固視投影系４のそれぞれの光軸を同軸で結合することができる。
ＯＣＴ光学系８は、ＯＣＴユニット１００を含む。図２に示すように、ＯＣＴユニット１００において、ＯＣＴ光源１０１は、一般的なスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様に、出射光の波長を掃引（走査）可能な波長掃引型（波長走査型）光源を含んで構成される。波長掃引型光源は、共振器を含むレーザー光源を含んで構成される。ＯＣＴ光源１０１は、人眼では視認できない近赤外の波長帯において、出力波長を時間的に変化させる。
図２に例示するように、ＯＣＴユニット１００には、スウェプトソースＯＣＴを実行するための光学系が設けられている。この光学系は、干渉光学系を含む。この干渉光学系は、波長可変光源（波長掃引型光源）からの光を測定光と参照光とに分割する機能と、被検眼Ｅからの測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光とを重ね合わせて干渉光を生成する機能と、この干渉光を検出する機能とを備える。干渉光学系により得られた干渉光の検出結果（検出信号）は、干渉光のスペクトルを示す信号であり、処理部９に送られる。
ＯＣＴ光源１０１は、例えば、出射光の波長（１０００ｎｍ～１１００ｎｍの波長範囲）を高速で変化させる近赤外波長可変レーザーを含む。ＯＣＴ光源１０１から出力された光Ｌ０は、光ファイバー１０２により偏波コントローラ１０３に導かれてその偏光状態が調整される。偏光状態が調整された光Ｌ０は、光ファイバー１０４によりファイバーカプラー１０５に導かれて測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。
参照光ＬＲは、光ファイバー１１０によりコリメータ１１１に導かれて平行光束に変換され、光路長補正部材１１２及び分散補償部材１１３を経由し、コーナーキューブ１１４に導かれる。光路長補正部材１１２は、参照光ＬＲの光路長と測定光ＬＳの光路長とを合わせるよう作用する。分散補償部材１１３は、参照光ＬＲと測定光ＬＳとの間の分散特性を合わせるよう作用する。コーナーキューブ１１４は、参照光ＬＲの入射方向に移動可能であり、それにより参照光ＬＲの光路長が変更される。
コーナーキューブ１１４を経由した参照光ＬＲは、分散補償部材１１３及び光路長補正部材１１２を経由し、コリメータ１１６によって平行光束から集束光束に変換され、光ファイバー１１７に入射する。光ファイバー１１７に入射した参照光ＬＲは、偏波コントローラ１１８に導かれてその偏光状態が調整され、光ファイバー１１９によりアッテネータ１２０に導かれて光量が調整され、光ファイバー１２１によりファイバーカプラー１２２に導かれる。
一方、ファイバーカプラー１０５により生成された測定光ＬＳは、光ファイバーｆ１により導かれてコリメータレンズユニット８９により平行光束に変換され、光スキャナー８８、合焦レンズ８７、リレーレンズ８５、及び反射ミラー８４を経由し、ダイクロイックミラー８３により反射される。
光スキャナー８８は、測定光ＬＳを１次元的又は２次元的に偏向する。光スキャナー８８は、例えば、第１ガルバノミラーと、第２ガルバノミラーとを含む。第１ガルバノミラーは、ＯＣＴ光学系８の光軸に直交する水平方向に撮影部位（眼底Ｅｆ又は前眼部）をスキャンするように測定光ＬＳを偏向する。第２ガルバノミラーは、ＯＣＴ光学系８の光軸に直交する垂直方向に撮影部位をスキャンするように、第１ガルバノミラーにより偏向された測定光ＬＳを偏向する。このような光スキャナー８８による測定光ＬＳの走査態様としては、例えば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋スキャンなどがある。
ダイクロイックミラー８３により反射された測定光ＬＳは、リレーレンズ８２を通過し、反射ミラー８１により反射され、ダイクロイックミラー６７を透過し、ダイクロイックミラー５２により反射され、対物レンズ５１により屈折されて被検眼Ｅに入射する。測定光ＬＳは、被検眼Ｅの様々な深さ位置において散乱・反射される。被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバーカプラー１０５に導かれ、光ファイバー１２８を経由してファイバーカプラー１２２に到達する。
ファイバーカプラー１２２は、光ファイバー１２８を介して入射された測定光ＬＳと、光ファイバー１２１を介して入射された参照光ＬＲとを合成して（干渉させて）干渉光を生成する。ファイバーカプラー１２２は、所定の分岐比（例えば１：１）で干渉光を分岐することにより、一対の干渉光ＬＣを生成する。一対の干渉光ＬＣは、それぞれ光ファイバー１２３及び１２４を通じて検出器１２５に導かれる。
検出器１２５は、例えばバランスドフォトダイオードである。バランスドフォトダイオードは、一対の干渉光ＬＣをそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを含み、これらフォトディテクタにより得られた一対の検出結果の差分を出力する。検出器１２５は、この出力（検出信号）をＤＡＱ（Ｄａｔａ Ａｃｑｕｉｓｉｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）１３０に送る。
ＤＡＱ１３０には、ＯＣＴ光源１０１からクロックＫＣが供給される。クロックＫＣは、ＯＣＴ光源１０１において、波長可変光源により所定の波長範囲内で掃引される各波長の出力タイミングに同期して生成される。ＯＣＴ光源１０１は、例えば、各出力波長の光Ｌ０を分岐することにより得られた２つの分岐光の一方を光学的に遅延させた後、これらの合成光を検出した結果に基づいてクロックＫＣを生成する。ＤＡＱ１３０は、検出器１２５から入力される検出信号をクロックＫＣに基づきサンプリングする。ＤＡＱ１３０は、検出器１２５からの検出信号のサンプリング結果を処理部９の演算処理部２２０に送られる。演算処理部２２０は、例えば一連の波長走査毎に（Ａライン毎に）、サンプリングデータに基づくスペクトル分布にフーリエ変換等を施すことにより、各Ａラインにおける反射強度プロファイルを形成する。更に、演算処理部２２０は、各Ａラインの反射強度プロファイルを画像化することにより画像データを形成する。
本例では、参照光ＬＲの光路（参照光路、参照アーム）の長さを変更するためのコーナーキューブ１１４が設けられているが、これら以外の光学部材を用いて、測定光路長と参照光路長との差を変更することも可能である。
処理部９は、レフ測定光学系を用いて得られた測定結果から屈折力値を算出し、算出された屈折力値に基づいて、眼底Ｅｆとレフ測定光源６１と撮像素子５９とが共役となる位置に、レフ測定光源６１及び合焦レンズ７４それぞれを光軸方向に移動させる。いくつかの実施形態では、処理部９は、合焦レンズ７４の移動に連動してＯＣＴ光学系８の合焦レンズ８７をその光軸方向に移動させる。いくつかの実施形態では、処理部９は、レフ測定光源６１及び合焦レンズ７４の移動に連動して液晶パネル４１（固視ユニット４０）をその光軸方向に移動させる。
実施形態に係る眼科装置１０００は、少なくともレフ測定光学系及びＯＣＴ光学系８において対物レンズを共用化しつつ、レフ測定光学系を用いたレフ測定（屈折力測定）とＯＣＴ光学系８を用いたＯＣＴ計測とで作動距離を変更することが可能である。それにより、ＯＣＴ光学系８によるスキャン範囲を確保しつつ、簡素な構成で、高精度なレフ測定結果と高精度なＯＣＴ計測結果とを取得することができる。
［レフ測定を行うときの作動距離］
実施形態に係る眼科装置１０００では、レフ測定を行うときに器械近視の影響を受けないように作動距離（第１作動距離）が設定される。眼科装置１０００がケラト測定系３を含む場合、この作動距離は、角膜形状解析に有用なケラト測定結果の取得が可能な作動距離であることが望ましい。
図３に、実施形態に係るレフ測定を行うときの作動距離の説明図を示す。図３は、図１の光学系の一部を拡大した図である。図３において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
ケラト測定系３は、作動距離が変化しても高さが変化しないケラトリング像を取得できるようにテレセントリックな光学である。ケラト測定系３により角膜Ｃｒに光を投射したとき、角膜が凸面鏡として作用し、主として角膜Ｃｒの前面で反射された像が現れる。
被検眼Ｅの角膜Ｃｒの曲率半径をＲとし、対物レンズ５１の光軸に対するケラトリング像の高さをｈとし、光軸に対するリング状光束の投影角をαとする。ケラトリング光源３２からのリング状光束の入射位置にリングパターン（測定パターン）が配置されるためには、角膜Ｃｒの曲率中心と当該入射位置とを結ぶ線が光軸となす角をβとすると、以下の式が成立する。
ｈ＝Ｒ×ｓｉｎ（β） ・・・（１）
β＝α／２ ・・・（２）
ケラト板３１に形成されたケラトパターンの半径をＨとし、ケラト板３１から被検眼Ｅ（角膜頂点）までの距離を作動距離ＷＤｒｅｆとし、リング状光束の入射位置と角膜頂点との距離Δｄ（＝Ｒ－√（Ｒ2－ｈ2））を考慮すると、以下の式が成立する。
Ｈ＝（ＷＤｒｅｆ＋（Ｒ－√（Ｒ2－ｈ2）））×ｔａｎ（α）＋ｈ ・・・（３）
以上より、実施形態に係る眼科装置１０００では、レフ測定を行うとき、以下の式（４）に示す作動距離ＷＤｒｅｆに設定される。式（４）は、式（３）に式（１）及び式（２）を代入することにより得られる。
ＷＤｒｅｆ＝（（Ｈ－ｈ）／ｔａｎ（２×ｓｉｎ－１（ｈ／Ｒ））－（Ｒ－√（Ｒ2－ｈ2））） ・・・（４）
いくつかの実施形態では、曲率半径Ｒには、模型眼等の既知のデータが用いられる。なお、対物レンズ５１の有効径Ｄは、ケラトリングパターン半径Ｈから決定することができる。
例えば、角膜形状解析に有用な角膜Ｃｒ上のφ３のエリアの角膜形状を測定するために、ｈ＝１．５ミリメートルである。
以上のように、レフ測定を行うとき、式（４）に示す作動距離ＷＤｒｅｆを設定することにより、作動距離を長くして器械近視の影響を低減しつつ、ケラト板３１のサイズの大型化を防ぐことができる。それにより、簡素な構成で、高精度なレフ測定結果やケラト測定結果の取得可能な眼科装置を提供することができる。
［ＯＣＴ計測を行うときの作動距離］
実施形態に係る眼科装置１０００では、ＯＣＴ計測を行うときに少なくとも標準データを用いた解析に有用なスキャン範囲をスキャンできるように作動距離（第２作動距離）が設定される。標準データは、多数の正常眼の測定データと当該測定データの被測定者の情報から統計的に導出され、正常眼データ（ノーマティブデータ）などと呼ばれる。ＯＣＴ計測を行うときに設定される作動距離は、上記の標準データの導出に用いられた測定データが取得されたときのスキャン範囲（又は当該スキャン範囲より広い範囲）をスキャン可能な作動距離であってよい。
図４に、実施形態に係るＯＣＴ計測を行うときの作動距離の説明図を示す。図４は、図１の光学系の一部を拡大した図である。図４において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
所望のスキャン範囲のデータを網羅なく取得するために、光スキャナー８８はＸ方向及びＹ方向それぞれの方向に測定光ＬＳを偏向する。眼底Ｅｆにおけるスキャン範囲をＲＡ×ＲＡの範囲とすると、光スキャナー８８は各方向に少なくともＲＡ×√２（＝ＳＡ）だけ偏向する必要がある。
ここで、光スキャナー８８が被検眼Ｅの瞳孔と光学的に略共役になるように配置される。作動距離をＷＤｏｃｔとし、角膜前面から瞳孔までの距離をＬａとし、瞳孔から眼底までの距離をＬｅとし、ケラト板３１（被検眼Ｅの側の面）から対物レンズ５１の主面までの距離をＬｋとする。瞳孔を頂点とし底辺が対物レンズ５１の半径とする三角形と、瞳孔を頂点とし底辺が眼底Ｅｆにおけるスキャン範囲ＳＡ／２とする三角形との相似の関係から、スキャン範囲ＳＡは、以下の式を満たす。
ＳＡ＝Ｌｅ×Ｄ／（ＷＤｏｃｔ＋Ｌａ＋Ｌｋ） ・・・（５）
以上より、実施形態に係る眼科装置１０００では、ＯＣＴ計測を行うとき、以下の式（６）に示す作動距離ＷＤｏｃｔに設定される。
ＷＤｏｃｔ＝（Ｌｅ×Ｄ）／ＳＡ－（Ｌａ＋Ｌｋ） ・・・（６）
例えば、対物レンズ５１の有効径Ｄは、対物レンズ５１においてスキャン範囲ＳＡのスキャンに必要なスキャン範囲の径（スキャン径）として、ケラトリングパターン半径Ｈから決定される。いくつかの実施形態では、距離Ｌｅ、Ｌａには、標準的な眼のデータ、若しくは模型眼等の既知のデータが用いられる。いくつかの実施形態では、距離Ｌｋは、眼科装置１において既知のデータである。いくつかの実施形態では、距離Ｌｋは略零である。
これにより、ＯＣＴ計測で得られた結果を既存の標準データと比較し、既存の標準データを活用してＯＣＴ計測結果に対して有用な判断を補助することができるようになる。
例えば、標準データを用いた解析に必要なスキャン範囲をスキャンするために、スキャン範囲ＳＡは（６×√２）ミリメートル、（９×√２）ミリメートル、又は（１２×√２）ミリメートルである。
いくつかの実施形態では、眼科装置１０００は、複数のスキャン範囲から選択されたスキャン範囲に対応した作動距離を設定し、設定された作動距離でＯＣＴ計測を実行可能である。スキャン範囲に対応した作動距離は、式（６）に従ってその都度算出されてもよいし、あらかじめ求められてもよい。
以上のように、ＯＣＴ計測を行うとき、式（６）に示す作動距離ＷＤｏｃｔを設定することにより、標準データを用いた解析に有用なスキャン結果を取得することができる。それにより、簡素な構成で、既存の標準データを活用してＯＣＴ計測結果に対して有用な判断を補助することが可能な眼科装置を提供することができる。
以上説明したように、眼科装置１０００は、レフ測定を行うときに作動距離ＷＤｒｅｆとなるように被検眼Ｅに対して光学系をＺ方向に相対的に移動し、ＯＣＴ計測を行うときに作動距離ＷＤｏｃｔとなるように被検眼Ｅに対して光学系をＺ方向に相対的に移動する。このとき、眼科装置１０００では、レフ測定とＯＣＴ計測との切り替えに伴い、固視投影系４及び前眼部観察系５が制御されることが望ましい。
固視投影系４では、レフ測定を行うときにレフ測定用の視標（例えば、風景チャート）を被検眼Ｅに投影し、ＯＣＴ計測を行うときにレフ測定用の視標より視角が狭い視標（例えば、ドット視標又はクロス視標）を被検眼Ｅに投影するように切り替えられる。前眼部観察系５では、レフ測定を行うときにレフ測定用の光軸上の位置（第１レンズ位置）にリレーレンズ５６が移動され、ＯＣＴ計測を行うときにＯＣＴ計測用の光軸上の位置（第２レンズ位置）にリレーレンズ５６が移動される。
＜処理系の構成＞
眼科装置１０００の処理系の構成について説明する。眼科装置１０００の処理系の機能的構成の例を図５に示す。図５は、眼科装置１０００の処理系の機能ブロック図の一例を表す。
処理部９は、眼科装置１０００の各部を制御する。また、処理部９は、各種演算処理を実行可能である。処理部９は、プロセッサを含む。プロセッサの機能は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（Ｓｉｍｐｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ））等の回路により実現される。処理部９は、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。
処理部９は、制御部２１０と、演算処理部２２０とを含む。また、眼科装置１０００は、移動機構２００と、表示部２７０と、操作部２８０と、通信部２９０とを含む。
移動機構２００は、Ｚアライメント系１（Ｚアライメント系１Ａ、１Ｂ）、ＸＹアライメント系２、ケラト測定系３、固視投影系４、前眼部観察系５、レフ測定投射系６、レフ測定受光系７及びＯＣＴ光学系８等の光学系が収納されたヘッド部を前後左右方向に移動させるための機構である。例えば、移動機構２００には、ヘッド部を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。アクチュエータは、例えばパルスモータにより構成される。伝達機構は、例えば歯車の組み合わせやラック・アンド・ピニオンなどによって構成される。制御部２１０（主制御部２１１）は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構２００に対する制御を行う。
（制御部２１０）
制御部２１０は、プロセッサを含み、眼科装置の各部を制御する。制御部２１０は、主制御部２１１と、記憶部２１２とを含む。記憶部２１２には、眼科装置を制御するためのコンピュータプログラムがあらかじめ格納される。コンピュータプログラムには、光源制御用プログラム、検出器制御用プログラム、光スキャナー制御用プログラム、光学系制御用プログラム、演算処理用プログラム及びユーザインターフェイス用プログラムなどが含まれる。このようなコンピュータプログラムに従って主制御部２１１が動作することにより、制御部２１０は制御処理を実行する。
主制御部２１１は、測定制御部として眼科装置の各種制御を行う。Ｚアライメント系１Ａに対する制御には、Ｚアライメント光源１１Ａの制御、ラインセンサー１３Ａの制御などがある。Ｚアライメント系１Ｂに対する制御には、Ｚアライメント光源１１Ｂの制御、ラインセンサー１３Ｂの制御などがある。Ｚアライメント光源１１Ａ、１１Ｂの制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。ラインセンサー１３Ａ、１３Ｂの制御には、検出素子の露光調整やゲイン調整や検出レート調整などがある。それにより、Ｚアライメント光源１１Ａ、１１Ｂの点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。主制御部２１１は、ラインセンサー１３Ａにより検出された信号を取り込み、取り込まれた信号に基づいてラインセンサー１３Ａに対する光の投影位置を特定する。主制御部２１１は、ラインセンサー１３Ｂにより検出された信号を取り込み、取り込まれた信号に基づいてラインセンサー１３Ｂに対する光の投影位置を特定する。主制御部２１１は、レフ測定を行うときＺアライメント系１Ａにより特定された投影位置を用いて被検眼Ｅの角膜頂点の位置を求め、これに基づき移動機構２００を制御してヘッド部を前後方向に移動させる（Ｚアライメント）。主制御部２１１は、ＯＣＴ計測を行うときＺアライメント系１Ｂにより特定された投影位置を用いて被検眼Ｅの角膜頂点の位置を求め、これに基づき移動機構２００を制御してヘッド部を前後方向に移動させる。
ＸＹアライメント系２に対する制御には、ＸＹアライメント光源２１の制御などがある。ＸＹアライメント光源２１の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。それにより、ＸＹアライメント光源２１の点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。主制御部２１１は、撮像素子５９により検出された信号を取り込み、取り込まれた信号に基づいてＸＹアライメント光源２１からの光の戻り光に基づく輝点像の位置を特定する。主制御部２１１は、所定の目標位置（例えば、アライメントマークＡＬの中心位置）に対する輝点像Ｂｒの位置との変位がキャンセルされるように移動機構２００を制御してヘッド部を左右上下方向に移動させる（ＸＹアライメント）。
ケラト測定系３に対する制御には、ケラトリング光源３２の制御などがある。ケラトリング光源３２の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。それにより、ケラトリング光源３２の点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。主制御部２１１は、撮像素子５９により検出されたケラトリング像に対する公知の演算を演算処理部２２０に実行させる。それにより、被検眼Ｅの角膜形状パラメータが求められる。
固視投影系４に対する制御には、液晶パネル４１の制御や固視ユニット４０の移動制御などがある。液晶パネル４１の制御には、固視標の表示のオン・オフや、検査や測定の種別に応じた固視標の切り替えや、固視標の表示位置の切り替えなどがある。
図６Ａに、実施形態の第１呈示例に係る固視標の説明図を示す。図６Ａは、第１呈示例に係る固視標を模式的に表したものである。
主制御部２１１は、レフ測定を行うときに図６Ａに示す固視標ＦＴ１を液晶パネル４１に表示させ、ＯＣＴ計測を行うときに図６Ａに示す固視標ＦＴ２又は固視標ＦＴ３を液晶パネル４１に表示させる。固視標ＦＴ１は、風景チャートである。固視標ＦＴ２は、固視標ＦＴ１より視角が小さい輝点（ドット視標）である。固視標ＦＴ３は、固視標ＦＴ１より視角が小さいクロス視標である。第１呈示例において、主制御部２１１は、検査モード（測定モード）に応じて固視標ＦＴ１と固視標ＦＴ２とを切り替えて表示させる。また、主制御部２１１は、検査モードに応じて固視標ＦＴ１と固視標ＦＴ３とを切り替えて表示させることが可能である。
この実施形態に係る検査モードには、例えば、レフ測定モード、ＯＣＴ計測モード、レフ測定を行ってからＯＣＴ計測に自動的に移行するモードなどがある。
このように検査モードに応じて液晶パネル４１に表示される固視標を変更することにより、レフ測定では被検眼に視力調節させないように固視標を呈示させ、ＯＣＴ計測では計測部位等に応じて被検眼における所望の部位を所定の計測位置に配置させるように固視標を呈示させることができる。
図６Ｂに、実施形態の第２呈示例に係る固視標の説明図を示す。図６Ｂは、第２呈示例に係る固視標を模式的に表したものである。
主制御部２１１は、レフ測定を行うときに図６Ｂに示す固視標ＦＴ４を液晶パネル４１に表示させ、ＯＣＴ計測を行うときに固視標ＦＴ４に重畳するように図６Ｂに示す固視標ＢＰ１を液晶パネル４１に表示させる。固視標ＦＴ４は、図６Ａに示す固視標ＦＴ１と同様の風景チャートである。固視標ＢＰ１は、固視標ＦＴ４より視角が小さい輝点（ドット視標）である。第２呈示例において、主制御部２１１は、検査モード（測定モード）に応じて固視標ＦＴ４上に固視標ＢＰ１を表示させる。主制御部２１１は、固視標ＢＰ１を点滅させたり、固視標ＢＰ１の表示位置を移動したりすることが可能である。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測を行うとき、固視標ＦＴ４の一部の輝度を上げたり、固視標ＦＴ４の一部の輝度を周期的に上下させたりする。いくつかの実施形態では、固視標ＢＰ１に代えて、図６Ａに示す固視標ＦＴ３が呈示される。
第２呈示例においても、第１呈示例と同様に、レフ測定では被検眼に視力調節させないように固視標を呈示させ、ＯＣＴ計測では計測部位等に応じて被検眼における所望の部位を所定の計測位置に配置させるように固視標を呈示させることができる。
図５において、例えば、固視投影系４には、液晶パネル４１（又は固視ユニット４０）を光軸方向に移動する移動機構が設けられる。この移動機構には、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部２１１は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構に対する制御を行い、少なくとも液晶パネル４１を光軸方向に移動させる。それにより、液晶パネル４１と眼底Ｅｆとが光学的に共役となるように液晶パネル４１の位置が調整される。
前眼部観察系５に対する制御には、前眼部照明光源５０の制御、リレーレンズ５６を移動するレンズ移動機構５６Ｄの制御、撮像素子５９の制御などがある。前眼部照明光源５０の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。それにより、前眼部照明光源５０の点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。レンズ移動機構５６Ｄには、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部２１１は、検査モード（測定モード）に応じてアクチュエータに対して制御信号を送ることによりレンズ移動機構５６Ｄに対する制御を行い、リレーレンズ５６を光軸方向に移動させる。例えば、記憶部２１２には、検査モードに関連付けてリレーレンズ５６の光軸上の位置に対応する情報があらかじめ記憶されている。主制御部２１１は、記憶部２１２に記憶された情報を参照して、検査モードに対応した光軸上の位置にリレーレンズ５６を移動させる。それにより、検査モードに応じて作動距離が変更された場合でも、前眼部からの信号を撮像素子５９の撮像面に結像させることが可能になり、レフ測定時やＯＣＴ計測時でもピントが合った前眼部像を観察することができるようになる。撮像素子５９の制御には、撮像素子５９の露光調整やゲイン調整や検出レート調整などがある。主制御部２１１は、撮像素子５９により検出された信号を取り込み、取り込まれた信号に基づく画像の形成等の処理を演算処理部２２０に実行させる。
レフ測定投射系６に対する制御には、レフ測定光源６１の制御、ロータリープリズム６６の制御などがある。レフ測定光源６１の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整などがある。それにより、レフ測定光源６１の点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。例えば、レフ測定投射系６は、レフ測定光源６１を光軸方向に移動する移動機構を含む。この移動機構には、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部２１１は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構に対する制御を行い、レフ測定光源６１を光軸方向に移動させる。ロータリープリズム６６の制御には、ロータリープリズム６６の回転制御などがある。例えば、ロータリープリズム６６を回転させる回転機構が設けられており、主制御部２１１は、この回転機構を制御することによりロータリープリズム６６を回転させる。
レフ測定受光系７に対する制御には、合焦レンズ７４の制御などがある。合焦レンズ７４の制御には、合焦レンズ７４の光軸方向への移動制御などがある。例えば、レフ測定受光系７は、合焦レンズ７４を光軸方向に移動する移動機構を含む。この移動機構には、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部２１１は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構に対する制御を行い、合焦レンズ７４を光軸方向に移動させる。主制御部２１１は、レフ測定光源６１と眼底Ｅｆと撮像素子５９とが光学的に共役となるように、例えば被検眼Ｅの屈折力に応じてレフ測定光源６１及び合焦レンズ７４をそれぞれ光軸方向に移動させることが可能である。
ＯＣＴ光学系８に対する制御には、ＯＣＴ光源１０１の制御、光スキャナー８８の制御、合焦レンズ８７の制御、コーナーキューブ１１４の制御、検出器１２５の制御、ＤＡＱ１３０の制御などがある。ＯＣＴ光源１０１の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。光スキャナー８８の制御には、第１ガルバノミラーによる走査位置や走査範囲や走査速度の制御、第２ガルバノミラーによる走査位置や走査範囲や走査速度の制御などがある。
合焦レンズ８７の制御には、合焦レンズ８７の光軸方向への移動制御、撮影部位に対応した合焦基準位置への合焦レンズ８７の移動制御、撮影部位に対応した移動範囲（合焦範囲）内での移動制御などがある。例えば、ＯＣＴ光学系８は、合焦レンズ８７を光軸方向に移動する移動機構を含む。この移動機構には、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部２１１は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構に対する制御を行い、合焦レンズ８７を光軸方向に移動させる。いくつかの実施形態では、眼科装置には、合焦レンズ７４及び８７を保持する保持部材と、保持部材を駆動する駆動部が設けられる。主制御部２１１は、駆動部を制御することにより合焦レンズ７４及び８７の移動制御を行う。主制御部２１１は、例えば、合焦レンズ７４の移動に連動して合焦レンズ８７を移動させた後、干渉信号の強度に基づいて合焦レンズ８７だけを移動させるようにしてもよい。
コーナーキューブ１１４の制御には、コーナーキューブ１１４の光路に沿った移動制御などがある。例えば、ＯＣＴ光学系８は、コーナーキューブ１１４を光路に沿った方向に移動する移動機構を含む。この移動機構には、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部２１１は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構に対する制御を行い、コーナーキューブ１１４を光路に沿った方向に移動させる。検出器１２５の制御には、検出素子の露光調整やゲイン調整や検出レート調整などがある。主制御部２１１は、検出器１２５により検出された信号をＤＡＱ１３０によりサンプリングし、サンプリングされた信号に基づく画像の形成等の処理を演算処理部２２０（画像形成部２２２）に実行させる。
また、主制御部２１１は、記憶部２１２にデータを書き込む処理や、記憶部２１２からデータを読み出す処理を行う。
（記憶部２１２）
記憶部２１２は、各種のデータを記憶する。記憶部２１２に記憶されるデータとしては、例えば他覚測定の測定結果、断層像の画像データ、眼底像の画像データ、主制御部２１１により参照される制御情報（例えば、リレーレンズ５６のレンズ位置情報）、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。また、記憶部２１２には、眼科装置を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。
（演算処理部２２０）
演算処理部２２０は、眼屈折力算出部２２１と、画像形成部２２２と、データ処理部２２３とを含む。
眼屈折力算出部２２１は、レフ測定投射系６により眼底Ｅｆに投影されたリング状光束（リング状の測定パターン）の戻り光を撮像素子５９が受光することにより得られたリング像（パターン像）を解析する。例えば、眼屈折力算出部２２１は、得られたリング像が描出された画像における輝度分布からリング像の重心位置を求め、この重心位置から放射状に延びる複数の走査方向に沿った輝度分布を求め、この輝度分布からリング像を特定する。続いて、眼屈折力算出部２２１は、特定されたリング像の近似楕円を求め、この近似楕円の長径及び短径を公知の式に代入することによって球面度数、乱視度数及び乱視軸角度を求める。或いは、眼屈折力算出部２２１は、基準パターンに対するリング像の変形及び変位に基づいて眼屈折力のパラメータを求めることができる。
また、眼屈折力算出部２２１は、前眼部観察系５により取得されたケラトリング像に基づいて、角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。例えば、眼屈折力算出部２２１は、ケラトリング像を解析することにより角膜前面の強主経線や弱主経線の角膜曲率半径を算出し、角膜曲率半径に基づいて上記パラメータを算出する。
画像形成部２２２は、検出器１１５により検出された信号に基づいて、眼底Ｅｆの断層像の画像データを形成する。すなわち、画像形成部２２２は、干渉光学系による干渉光ＬＣの検出結果に基づいて被検眼Ｅの画像データを形成する。この処理には、従来のスペクトラルドメインタイプのＯＣＴと同様に、フィルター処理、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。このようにして取得される画像データは、複数のＡライン（被検眼Ｅ内における各測定光ＬＳの経路）における反射強度プロファイルを画像化することにより形成された一群の画像データを含むデータセットである。
画質を向上させるために、同じパターンでのスキャンを複数回繰り返して収集された複数のデータセットを重ね合わせる（加算平均する）ことができる。
データ処理部２２３は、画像形成部２２２により形成された断層像に対して各種のデータ処理（画像処理）や解析処理を施す。例えば、データ処理部２２３は、画像の輝度補正や分散補正等の補正処理を実行する。また、データ処理部２２３は、前眼部観察系５を用い得られた画像（前眼部像等）に対して各種の画像処理や解析処理を施す。
データ処理部２２３は、断層像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行することにより、被検眼Ｅのボリュームデータ（ボクセルデータ）を形成することができる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部２２３は、このボリュームデータに対してレンダリング処理を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像を形成する。
（表示部２７０、操作部２８０）
表示部２７０は、ユーザインターフェイス部として、制御部２１０による制御を受けて情報を表示する。表示部２７０は、図１などに示す表示部１０を含む。
操作部２８０は、ユーザインターフェイス部として、眼科装置を操作するために使用される。操作部２８０は、眼科装置に設けられた各種のハードウェアキー（ジョイスティック、ボタン、スイッチなど）を含む。また、操作部２８０は、タッチパネル式の表示画面１０ａに表示される各種のソフトウェアキー（ボタン、アイコン、メニューなど）を含んでもよい。
表示部２７０及び操作部２８０の少なくとも一部が一体的に構成されていてもよい。その典型例として、タッチパネル式の表示画面１０ａがある。
（通信部２９０）
通信部２９０は、図示しない外部装置と通信するための機能を有する。通信部２９０は、外部装置との接続形態に応じた通信インターフェイスを備える。外部装置の例として、レンズの光学特性を測定するための眼鏡レンズ測定装置がある。眼鏡レンズ測定装置は、被検者が装用する眼鏡レンズの度数などを測定し、この測定データを眼科装置１０００に入力する。また、外部装置は、任意の眼科装置、記録媒体から情報を読み取る装置（リーダ）や、記録媒体に情報を書き込む装置（ライタ）などでもよい。更に、外部装置は、病院情報システム（ＨＩＳ）サーバ、ＤＩＣＯＭ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｉｍａｇｉｎｇ ａｎｄ ＣＯｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ ｉｎ Ｍｅｄｉｃｉｎｅ）サーバ、医師端末、モバイル端末、個人端末、クラウドサーバなどでもよい。通信部２９０は、例えば処理部９に設けられていてもよい。
レフ測定投射系６及びレフ測定受光系７は、実施形態に係る「屈折力測定光学系」の一例である。ＯＣＴ光学系８は、実施形態に係る「検査光学系」の一例である。作動距離ＷＤｒｅｆは、実施形態に係る「第１作動距離」の一例である。作動距離ＷＤｏｃｔは、実施形態に係る「第２作動距離」の一例である。Ｚアライメント系１Ａは、実施形態に係る「第１アライメント系」の一例である。Ｚアライメント系１Ｂは、実施形態に係る「第２アライメント系」の一例である。ケラト測定系３は、実施形態に係る「角膜形状測定光学系」の一例である。ケラトリング光源３２は、実施形態に係る「ケラト光源」の一例である。
＜動作例＞
実施形態に係る眼科装置１０００の動作について説明する。
図７に、眼科装置１０００の動作の一例を示す。図７は、レフ測定後にＯＣＴ計測を実行する場合の眼科装置１０００の動作例のフロー図を表す。記憶部２１２には、図７に示す処理を実現するためのコンピュータプログラムが記憶されている。主制御部２１１は、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、図７に示す処理を実行する。
（Ｓ１：レンズ移動）
図示しない顔受け部に被検者の顔が固定された状態で、検者が操作部２８０に対して所定の操作を行ったとき、主制御部２１１は、レンズ移動機構５６Ｄを制御することにより、前眼部観察系５の光軸におけるレフ測定用のレンズ位置にリレーレンズ５６を移動させる。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、記憶部２１２にあらかじめ記憶された制御情報を参照して、ステップＳ１の前に設定されたレフ測定モードに関連付けて記憶されたレンズ位置情報に基づいてレンズ移動機構５６Ｄを制御する。
（Ｓ２：アライメント）
続いて、主制御部２１１は、アライメントを実行する。ステップＳ２では、Ｚアライメント系１Ａを用いたＺアライメントが行われる。
具体的には、主制御部２１１は、Ｚアライメント光源１１ＡやＸＹアライメント光源２１を点灯させる。また、主制御部２１１は、前眼部照明光源５０を点灯させる。処理部９は、撮像素子５９の撮像面上の前眼部像の撮像信号を取得し、表示部２７０に前眼部像を表示させる。その後、図１に示す光学系が被検眼Ｅの検査位置に移動される。検査位置とは、被検眼Ｅの検査を十分な精度内で行うことが可能な位置である。前述のアライメント（Ｚアライメント系１Ａ及びＸＹアライメント系２と前眼部観察系５とによるアライメント）を介して被検眼Ｅが検査位置に配置される。光学系の移動は、ユーザによる操作若しくは指示又は制御部２１０による指示にしたがって、制御部２１０によって実行される。すなわち、被検眼Ｅの検査位置への光学系の移動と、他覚測定を行うための準備とが行われる。また、このアライメントはレフ測定（屈折力測定）が終わるまで随時行われる。
また、主制御部２１１は、レフ測定光源６１と、合焦レンズ７４と、液晶パネル４１をそれぞれの光軸に沿って原点の位置（例えば、０Ｄに相当する位置）に移動させる。
（Ｓ３：ケラト測定）
次に、主制御部２１１は、図６Ａに示す固視標ＦＴ１（風景チャート）を液晶パネル４１に表示させる。
その後、主制御部２１１は、ケラトリング光源３２を点灯させる。ケラトリング光源３２から光が出力されると、被検眼Ｅの角膜Ｃｒに角膜形状測定用のリング状光束が投射される。眼屈折力算出部２２１は、撮像素子５９によって取得された像に対して演算処理を施すことにより、角膜曲率半径を算出し、算出された角膜曲率半径から角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。制御部２１０では、算出された角膜屈折力などが記憶部２１２に記憶される。主制御部２１１からの指示、又は操作部２８０に対するユーザの操作若しくは指示により、眼科装置１０００の動作はステップＳ４に移行する。なお、ケラト測定は、次のレフ測定でリング像を取得するときに同時に、又は連続的に実行されてもよい。
（Ｓ４：屈折力測定）
続いて、主制御部２１１は、屈折力測定を実行させる。
レフ測定では、主制御部２１１は、前述のようにレフ測定のためのリング状の測定パターン光束を被検眼Ｅに投射させる。被検眼Ｅからの測定パターン光束の戻り光に基づくリング像が撮像素子５９の撮像面に結像される。主制御部２１１は、撮像素子５９により検出された眼底Ｅｆからの戻り光に基づくリング像を取得できたか否かを判定する。例えば、主制御部２１１は、撮像素子５９により検出された戻り光に基づく像のエッジの位置（画素）を検出し、像の幅（外径と内径との差）が所定値以上であるか否かを判定する。或いは、主制御部２１１は、所定の高さ（リング径）以上の点（像）に基づいてリングを形成できるか否かを判定することにより、リング像を取得できたか否かを判定してもよい。
リング像を取得できたと判定されたとき、眼屈折力算出部２２１は、被検眼Ｅに投射された測定パターン光束の戻り光に基づくリング像を公知の手法で解析し、仮の球面度数Ｓ及び仮の乱視度数Ｃを求める。主制御部２１１は、求められた仮の球面度数Ｓ及び乱視度数Ｃに基づき、レフ測定光源６１、合焦レンズ７４、及び液晶パネル４１を等価球面度数（Ｓ＋Ｃ／２）の位置（仮の遠点に相当する位置）へ移動させる。この後もう一度リング像を取得し、解析し、仮の球面度数Ｓ及び仮の乱視度数Ｃを求め、一度目の測定で移動した位置から移動して微調整する。主制御部２１１は、その位置から液晶パネル４１を更に雲霧位置に移動させた後、本測定としてレフ測定投射系６及びレフ測定受光系７を制御することによりリング像を再び取得させる。主制御部２１１は、前述と同様に得られたリング像の解析結果と合焦レンズ７４の移動量から球面度数、乱視度数及び乱視軸角度を眼屈折力算出部２２１に算出させる。
また、眼屈折力算出部２２１は、求められた球面度数及び乱視度数から被検眼Ｅの遠点に相当する位置（本測定により得られた遠点に相当する位置）を求める。主制御部２１１は、求められた遠点に相当する位置に液晶パネル４１を移動させる。制御部２１０では、合焦レンズ７４の位置や算出された球面度数などが記憶部２１２に記憶される。主制御部２１１からの指示、又は操作部２８０に対するユーザの操作若しくは指示により、眼科装置１０００の動作はステップＳ５に移行する。
リング像を取得できないと判定されたとき、主制御部２１１は、強度屈折異常眼である可能性を考慮して、レフ測定光源６１及び合焦レンズ７４をあらかじめ設定したステップでマイナス度数側（例えば－１０Ｄ）、プラス度数側（例えば＋１０Ｄ）へ移動させる。主制御部２１１は、レフ測定受光系７を制御することにより各位置でリング像を検出させる。それでもリング像を取得できないと判定されたとき、主制御部２１１は、所定の測定エラー処理を実行する。このとき、眼科装置１０００の動作はステップＳ５に移行してもよい。制御部２１０では、レフ測定結果が得られなかったことを示す情報が記憶部２１２に記憶される。
ＯＣＴ光学系８の合焦レンズ８７は、レフ測定光源６１や合焦レンズ７４の移動に連動して光軸方向に移動される。
（Ｓ５：ＯＣＴ計測？）
続いて、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測を実行するか否かを判定する。例えば、主制御部２１１は、操作部２８０に対して所定の操作が行われたか否かを判定することにより、ＯＣＴ計測を実行するか否かを判定する。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、ステップＳ１の前に設定された検査モードに基づいて、ＯＣＴ計測を実行するか否かを判定する。
ＯＣＴ計測を実行すると判定されたとき（Ｓ５：Ｙ）、眼科装置１０００の動作はステップＳ６に移行する。ＯＣＴ計測を実行しないと判定されたとき（Ｓ５：Ｎ）、眼科装置１０００の動作は終了である（エンド）。
（Ｓ６：レンズ移動）
ステップＳ５においてＯＣＴ計測を実行すると判定されたとき（Ｓ５：Ｙ）、主制御部２１１は、レンズ移動機構５６Ｄを制御することにより、前眼部観察系５の光軸におけるＯＣＴ計測用のレンズ位置にリレーレンズ５６を移動させる。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、記憶部２１２にあらかじめ記憶された制御情報を参照して、ステップＳ１の前に設定された検査モードに関連付けて記憶されたレンズ位置情報に基づいてレンズ移動機構５６Ｄを制御する。
（Ｓ７：固視標切り替え）
次に、主制御部２１１は、図６Ａに示すドット視標又はクロス視標を液晶パネル４１に表示させる。これにより、固視標ＦＴ２又は固視標ＦＴ３が被検眼Ｅに呈示される。
（Ｓ８：アライメント）
続いて、主制御部２１１は、アライメントを実行する。ステップＳ８では、Ｚアライメント系１Ｂを用いたＺアライメントが行われる。
具体的には、主制御部２１１は、Ｚアライメント光源１１ＢやＸＹアライメント光源２１を点灯させる。また、主制御部２１１は、前眼部照明光源５０を点灯させる。処理部９は、撮像素子５９の撮像面上の前眼部像の撮像信号を取得し、表示部２７０に前眼部像を表示させる。その後、図１に示す光学系が被検眼Ｅの検査位置に移動される。検査位置とは、被検眼Ｅの検査を十分な精度内で行うことが可能な位置である。前述のアライメント（Ｚアライメント系１Ｂ及びＸＹアライメント系２と前眼部観察系５とによるアライメント）を介して被検眼Ｅが検査位置に配置される。光学系の移動は、ユーザによる操作若しくは指示又は制御部２１０による指示にしたがって、制御部２１０によって実行される。すなわち、被検眼Ｅの検査位置への光学系の移動と、他覚測定を行うための準備とが行われる。また、このアライメントはＯＣＴ計測が終わるまで随時行われる。
（Ｓ９：ＯＣＴ計測）
次に、主制御部２１１は、ＯＣＴ光学系８を制御することによりＯＣＴ計測を実行させる。
具体的には、主制御部２１１は、ＯＣＴ光源１０１を点灯させ、光スキャナー８８を制御することにより眼底Ｅｆの所定の部位を測定光ＬＳでスキャンさせる。例えば、測定光ＬＳのスキャンにより得られた検出信号は画像形成部２２２に送られる。画像形成部２２２は、得られた検出信号から眼底Ｅｆの断層像を形成する。以上で、眼科装置１０００の動作は、終了となる（エンド）。
図７は、レフ測定前にＯＣＴ計測のスキャン範囲があらかじめ決められている場合の動作例を表すが、実施形態に係る眼科装置１０００の動作は図７に示すフローに限定されるものではない。いくつかの実施形態では、眼科装置１０００は、ＯＣＴ計測における測定光ＬＳのスキャン範囲を指定可能であり、指定されたスキャン範囲に対応した作動距離に設定することができる。いくつかの実施形態では、眼科装置１０００は、複数のスキャン範囲の中から選択されたスキャン範囲に対応した作動距離に設定することができる。
図８に、眼科装置１０００の動作の他の例を示す。図８は、図７と同様に、レフ測定後にＯＣＴ計測を実行する場合の眼科装置１０００の動作例のフロー図を表す。記憶部２１２には、図８に示す処理を実現するためのコンピュータプログラムが記憶されている。主制御部２１１は、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、図８に示す処理を実行する。
（Ｓ２１：スキャン範囲を指定）
主制御部２１１は、ＯＣＴ計測における測定光ＬＳのスキャン範囲の指定を受け付ける。主制御部２１１は、操作部２８０を用いた所定の操作により指定されたスキャン範囲を受け付ける。いくつかの実施形態では、スキャン範囲の指定は、操作部２８０に対する直接的な数値又はスキャン範囲に対応した情報の入力により行われる。いくつかの実施形態では、スキャン範囲の指定は、あらかじめ決められた複数のスキャン範囲から操作部２８０を用いて１つのスキャン範囲を選択することにより行われる。
例えば、ステップＳ２１において、主制御部２１１は、指定されたスキャン範囲に対応する作動距離を特定する。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、指定されたスキャン範囲を式（６）に代入することによりＯＣＴ計測用の作動距離を特定する。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、複数のスキャン範囲についてあらかじめ算出された複数の作動距離から、指定されたスキャン範囲に対応した作動距離を特定する。
（Ｓ２２：レンズ移動）
図示しない顔受け部に被検者の顔が固定された状態で、検者が操作部２８０に対して所定の操作を行ったとき、主制御部２１１は、ステップＳ１と同様に、レンズ移動機構５６Ｄを制御することにより、前眼部観察系５の光軸におけるレフ測定用のレンズ位置にリレーレンズ５６を移動させる。
（Ｓ２３：アライメント）
続いて、主制御部２１１は、ステップＳ２と同様に、Ｚアライメント系１Ａを用いたアライメントを実行する。
（Ｓ２４：ケラト測定）
次に、主制御部２１１は、ステップＳ３と同様に、図６Ａに示す固視標ＦＴ１（風景チャート）を液晶パネル４１に表示させる。
その後、主制御部２１１は、ステップＳ３と同様に、ケラト測定系３を制御することにより、ケラト測定を実行させる。
（Ｓ２５：屈折力測定）
続いて、主制御部２１１は、ステップＳ４と同様に、屈折力測定を実行させる。
（Ｓ２６：レンズ移動）
続いて、主制御部２１１は、レンズ移動機構５６Ｄを制御することにより、前眼部観察系５の光軸におけるＯＣＴ計測用のレンズ位置にリレーレンズ５６を移動させる。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、記憶部２１２にあらかじめ記憶された制御情報を参照して、複数の作動距離に関連付けて複数のレンズ位置があらかじめ記憶されたレンズ位置情報に基づいてレンズ移動機構５６Ｄを制御する。
（Ｓ２７：固視標切り替え）
次に、主制御部２１１は、ステップＳ７と同様に、図６Ａに示すドット視標又はクロス視標を液晶パネル４１に表示させる。
（Ｓ２８：アライメント）
続いて、主制御部２１１は、ステップＳ８と同様に、Ｚアライメント系１Ｂを用いたＺアライメントが行われる。このとき、主制御部２１１は、ステップＳ２１において特定された作動距離となるように被検眼Ｅに対して光学系を相対的に移動する。また、このアライメントはＯＣＴ計測が終わるまで随時行われる。
（Ｓ２９：ＯＣＴ計測）
次に、主制御部２１１は、ステップＳ９と同様に、ＯＣＴ光学系８を制御することによりＯＣＴ計測を実行させる。以上で、眼科装置１０００の動作は、終了となる（エンド）。
以上説明したように、レフ測定光学系とＯＣＴ光学系８とで対物レンズ５１を共用しつつ、レフ測定とＯＣＴ計測といにおいて作動距離を切り替えるようにしたので、簡素な構成で、高精度なレフ測定結果と高精度なＯＣＴ計測結果とが取得可能な眼科装置を提供することができる。
特に、レフ測定を行うときに式（４）に示す作動距離に設定するようにしたので、器械近視の影響を低減するように作動距離を長くしつつ、ケラト板３１のサイズの大型化を防ぐことができる。それにより、簡素な構成で、高精度なレフ測定結果やケラト測定結果の取得可能な眼科装置を提供することができる。
また、ＯＣＴ計測を行うときに式（６）に示す作動距離に設定するようにしたので、標準データを用いた解析に有用なスキャン結果を取得することができる。それにより、簡素な構成で、既存の標準データを活用してＯＣＴ計測結果に対して有用な判断を補助することが可能な眼科装置を提供することができる。
なお、実施形態では、光スキャナーを有する検査光学系としてＯＣＴ光学系を例に説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。いくつかの実施形態に係る検査光学系は、ＳＬＯ光学系を含む。ＳＬＯ光学系は、光スキャナーにより光で眼底Ｅｆをスキャンし、その戻り光を受光デバイスで検出するための光学系である。いくつかの実施形態において、ＳＬＯ光学系は、共焦点光学系を用いたレーザー走査により眼底Ｅｆの正面画像を得る。ＳＬＯ光学系は、光スキャナーと、ＳＬＯ光源からの光を光スキャナーで偏向し偏向された光を被検眼Ｅに投射するＳＬＯ投射系と、その戻り光を受光するＳＬＯ受光系とを含む。
この場合でも、標準データを用いた解析に有用なスキャン結果を取得することができる。それにより、簡素な構成で、既存の標準データを活用してＳＬＯ計測結果に対して有用な判断を補助することが可能な眼科装置を提供することができる。
［変形例］
実施形態に係る眼科装置１０００の構成は、上記の実施形態で説明した構成に限定されるものではない。以下、実施形態の変形例に係る眼科装置の構成について、実施形態との相違点を中心に説明する。
〔第１変形例〕
上記の実施形態では、液晶パネル４１に表示される固視標を切り替えることにより検査等に適した固視標を被検眼Ｅに呈示していたが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。
図９に、実施形態の第１変形例に係る固視投影系４の構成例を示す。図９において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
固視投影系４に設けられた固視ユニット４０には、液晶パネル４１に代えて、照明用光源４５ａと、視標チャート４６ａと、固視光源４７ａとが設けられている。照明用光源４５ａからダイクロイックミラー８３に向けて、固視光源４７ａ、視標チャート４６ａ、及びリレーレンズ４２の順序で配置される。視標チャート４６ａは、照明用光源４５ａと被検眼Ｅとの間に配置され、固視標ＦＴ１、ＦＴ４などの風景チャートが表された透過型の視標チャートである。いくつかの実施形態において、視標チャート４６ａは、風景チャートが印刷された透過性のフィルムである。いくつかの実施形態において、固視光源４７ａは、所定の発光サイズを有する点光源である。
主制御部２１１は、レフ測定を行うとき照明用光源４５ａを点灯させ、照明用光源４５ａからの光で視標チャート４６ａを照明することにより風景チャート（第１固視標）を被検眼Ｅに投影させる。また、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測を行うとき固視光源４７ａを点灯させることにより輝点（ドット視標）（第２固視標）を被検眼Ｅに投影させる。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、レフ測定を行うとき固視光源４７ａを消灯させ、ＯＣＴ計測を行うとき照明用光源４５ａを消灯させる。それにより、レフ測定を行うときに風景チャートが被検眼Ｅに呈示され、ＯＣＴ計測を行うときに輝点が被検眼Ｅに呈示される。
いくつかの実施形態では、ＯＣＴ計測を行うとき固視光源４７ａを点滅させる。いくつかの実施形態では、複数の固視光源４７ａが設けられ、主制御部２１１が複数の固視光源４７ａを選択的に点灯させることにより、輝点の投影位置を変更したり、移動させたりする。いくつかの実施形態では、主制御部２１１が複数の固視光源４７ａの一部又は全部を点灯させることにより、輝点のサイズを変更したりすることができる。
〔第２変形例〕
図１０に、実施形態の第２変形例に係る固視投影系４の構成例を示す。図１０において、図１又は図９と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
固視投影系４に設けられた固視ユニット４０には、液晶パネル４１に代えて、照明用光源４５ａと、ハーフミラー４８ｂ、視標チャート４６ａと、固視光源４７ａと、リレーレンズ４９ｂとが設けられている。ハーフミラー４８ｂは、照明用光源４５ａからの光の光路と固視光源４７ａからの光の光路とを結合する。照明用光源４５ａからダイクロイックミラー８３に向けて、ハーフミラー４８ｂ、視標チャート４６ａ、及びリレーレンズ４２の順序で配置される。固視光源４７ａからダイクロイックミラー８３に向けて、リレーレンズ４９ｂ、ハーフミラー４８ｂ、視標チャート４６ａ、及びリレーレンズ４２の順序で配置される。視標チャート４６ａは、ハーフミラー４８ｂにより結合された光路に配置され、固視標ＦＴ１、ＦＴ４などの風景チャートが表された透過型の視標チャートである。視標チャート４６ａは、リレーレンズ４９ｂの焦点位置に配置されている。
照明用光源４５ａからの光は、ハーフミラー４８ｂを透過し、視標チャート４６ａを透過し、リレーレンズ４２を通過し、ダイクロイックミラー８３に導かれる。固視光源４７ａからの光は、リレーレンズ４９ｂを通過し、ハーフミラー４８ｂにより反射され、視標チャート４６ａを透過し、リレーレンズ４２を通過し、ダイクロイックミラー８３に導かれる。
主制御部２１１は、レフ測定を行うとき照明用光源４５ａを点灯させ、照明用光源４５ａからの光で視標チャート４６ａを照明することにより風景チャート（第１固視標）を被検眼Ｅに投影させる。また、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測を行うとき固視光源４７ａを点灯させることにより輝点（ドット視標）（第２固視標）を被検眼Ｅに投影させる。このとき、固視光源４７ａからの光は、視標チャート４６ａの所定位置に集光され、輝点となる。
いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、レフ測定を行うとき固視光源４７ａを消灯させ、ＯＣＴ計測を行うとき照明用光源４５ａを消灯させる。それにより、レフ測定を行うときに風景チャートが被検眼Ｅに呈示され、ＯＣＴ計測を行うときに輝点が被検眼Ｅに呈示される。
以上説明したように、風景チャートが表された透過型の視標チャート４６ａを設け、検査モードに応じて照明用光源４５ａ及び固視光源４７ａを制御することにより、レフ測定では被検眼に視力調節させないように固視標を呈示させ、ＯＣＴ計測では計測部位等に応じて被検眼における所望の部位を所定の計測位置に配置させるように固視標を呈示させることができる。
〔第３変形例〕
上記の実施形態又はその変形例では、レフ測定時とＯＣＴ計測時において１つの視標チャートを用いて固視標を投影する場合について説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。
図１１に、実施形態の第３変形例に係る固視投影系４の構成例を示す。図１１において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
固視投影系４は、風景チャートを被検眼Ｅに投影するための第１固視投影系と、風景チャートより視角が小さい輝点（ドット視標、クロス視標）等を被検眼Ｅに投影するための第２固視投影系とを含む。第１固視投影系の光路と第２固視投影系の光路とは、ハーフミラー４９ｃにより結合される。第１固視投影系は、照明用光源４５ｃと、透過型の視標チャート４６ｃとを含む。第２固視投影系は、照明用光源４７ｃと、透過型の視標チャート４８ｃとを含む。
視標チャート４６ｃは、照明用光源４５ｃと被検眼Ｅとの間に配置され、固視標ＦＴ１、ＦＴ４などの風景チャートが表された透過型の視標チャートである。いくつかの実施形態において、視標チャート４６ｃは、風景チャートが印刷された透過性のフィルムである。視標チャート４８ｃは、照明用光源４７ｃと被検眼Ｅとの間に配置され、固視標ＦＴ２、ＦＴ３などのドット視標やクロス視標が表された透過型の視標チャートである。いくつかの実施形態において、視標チャート４８ｃは、ドット視標やクロス視標が印刷された透過性のフィルムである。
主制御部２１１は、第１固視投影系及び第２固視投影系を制御することにより風景チャート及び輝点（ドット視標、クロス視標）の少なくとも一方を被検眼Ｅに投影させる。具体的には、主制御部２１１は、レフ測定を行うとき照明用光源４５ｃを点灯させ、照明用光源４５ｃからの光で視標チャート４６ｃを照明することにより風景チャート（第１固視標）を被検眼Ｅに投影させる。また、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測を行うとき照明用光源４７ｃを点灯させ、照明用光源４７ｃからの光で視標チャート４８ｃを照明することにより輝点（ドット視標、クロス視標）又はクロス視標（第２固視標）を被検眼Ｅに投影させる。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、レフ測定を行うとき照明用光源４７ｃを消灯させ、ＯＣＴ計測を行うとき照明用光源４５ｃを消灯させる。それにより、レフ測定を行うときに風景チャートが被検眼Ｅに呈示され、ＯＣＴ計測を行うときに輝点が被検眼Ｅに呈示される。いくつかの実施形態では、ＯＣＴ計測を行うとき照明用光源４７ｃを点滅させる。
〔第４変形例〕
図１２に、実施形態の第４変形例に係る固視投影系４の構成例を示す。図１２において、図１又は図１１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
固視投影系４は、図１１と同様に、風景チャートを被検眼Ｅに投影するための第１固視投影系と、風景チャートより視角が小さい輝点等を被検眼Ｅに投影するための第２固視投影系とを含む。第１固視投影系の光路と第２固視投影系の光路とは、クイックリターンミラー４９ｄにより切り替えられる。すなわち、クイックリターンミラー４９ｄは、第１固視投影系及び第２固視投影系を選択的に固視投影系の光路に配置させる。
主制御部２１１は、レフ測定を行うとき第１固視投影系が固視投影系４の光路に配置されるようにクイックリターンミラー４９ｄを制御し、照明用光源４５ｃを点灯させ、照明用光源４５ｃからの光で視標チャート４６ｃを照明することにより風景チャート（第１固視標）を被検眼Ｅに投影させる。また、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測を行うとき第２固視投影系が固視投影系４の光路に配置されるようにクイックリターンミラー４９ｄを制御し、照明用光源４７ｃを点灯させ、照明用光源４７ｃからの光で視標チャート４８ｃを照明することにより輝点（ドット視標、クロス視標）（第２固視標）を被検眼Ｅに投影させる。
いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、レフ測定を行うとき照明用光源４７ｃを消灯させ、ＯＣＴ計測を行うとき照明用光源４５ｃを消灯させる。それにより、レフ測定を行うときに風景チャートが被検眼Ｅに呈示され、ＯＣＴ計測を行うときに輝点が被検眼Ｅに呈示される。いくつかの実施形態では、ＯＣＴ計測を行うとき照明用光源４７ｃを点滅させる。
〔第５変形例〕
第４変形例に係る切替機構としてのクイックリターンミラー４９ｄに代えて、第１固視投影系及び第２固視投影系を移動する移動機構が設けられてもよい。移動機構は、第１固視投影系及び第２固視投影系を移動することにより、固視投影系４の光路に第１固視投影系及び第２固視投影系を選択的に配置させる。
例えば、主制御部２１１は、移動機構を制御することにより第１固視投影系及び第２固視投影系を選択的に固視投影系４の光路に配置させる。すなわち、レフ測定用の照明用光源及び視標チャートと、ＯＣＴ計測用の照明光源及び視標チャートとを選択的に固視投影系４の光路に配置させる。主制御部２１１は、レフ測定を行うとき第１固視投影系が固視投影系４の光路に配置されるように移動機構を制御し、照明用光源４５ｃを点灯させ、照明用光源４５ｃからの光で視標チャート４６ｃを照明することにより風景チャート（第１固視標）を被検眼Ｅに投影させる。また、主制御部２１１は、ＯＣＴ計測を行うとき第２固視投影系が固視投影系４の光路に配置されるように移動機構を制御し、照明用光源４７ｃを点灯させ、照明用光源４７ｃからの光で視標チャート４８ｃを照明することにより輝点（ドット視標）又はクロス視標（第２固視標）を被検眼Ｅに投影させる。
いくつかの実施形態では、移動機構は、固視投影系４の光路に対して交差する方向に第１固視投影系及び第２固視投影系を移動することにより、固視投影系４の光路に第１固視投影系及び第２固視投影系を選択的に配置させる。
以上説明したように、風景チャートが表された透過型の視標チャート４６ｃと、ドット視標やクロス視標が表された透過型の視標チャート４８ｃとを設け、検査モードに応じて照明用光源４５ａ及び４７ｃを制御することにより、レフ測定では被検眼に視力調節させないように固視標を呈示させ、ＯＣＴ計測では計測部位等に応じて被検眼における所望の部位を所定の計測位置に配置させるように固視標を呈示させることができる。
〔第６変形例〕
上記の実施形態又はその変形例では、レフ測定用のＺアライメント系１ＡとＯＣＴ計測用のＺアライメント系１Ｂとが設けられていたが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。
図１３に、実施形態の第６変形例に係る眼科装置の光学系の構成例を示す。図１３において、図１と同一部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
第６変形例に係る眼科装置１０００ａの構成が実施形態に係る眼科装置１０００の構成と異なる点は、Ｚアライメント系１Ａ及び１Ｂに代えて、Ｚアライメント系１ａが設けられている点である。Ｚアライメント系１ａは、対物レンズ５１の光軸上の被検眼Ｅの２以上の配置位置のそれぞれに対して、当該光軸に対して変更可能な角度をなす方向からアライメント光を照射し、被検眼Ｅからの戻り光を受光する。図示しない角度変更機構は、対物レンズ５１の光軸に対するアライメント光の照射角度及び被検眼Ｅからの戻り光の反射方向の少なくとも一方を変更する。いくつかの実施形態では、角度変更機構は、主制御部２１１ａ（制御部２１０ａ）からの制御を受け、上記の照射角度及び反射方向を変更することができる（図１３）。いくつかの実施形態では、角度変更機構は、第１配置位置（又は第２配置位置）に対して照射されるアライメント光の光軸上の所定の位置を中心に照射角度を変更し、当該アライメント光の戻り光の光軸上の所定の位置を中心に反射方向を変更する。
図１４に、実施形態の第６変形例に係る眼科装置の処理系の構成例を示す。図１４において、図５と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
図１４に示す処理系の構成が図５に示す処理系の構成と異なる点は、Ｚアライメント系１Ａ、１Ｂに代えてＺアライメント系１ａが設けられている点と、処理部９に代えて処理部９ａが設けられている点である。Ｚアライメント系１ａは、アライメント光源１１と、結像レンズ１２と、ラインセンサー１３とを含む。Ｚアライメント系１ａは、Ｚアライメント系１Ａ又はＺアライメント系１Ｂと同様に動作する。
処理部９ａが処理部９と異なる点は、制御部２１０に代えて制御部２１０ａが設けられている点である。制御部２１０ａは、主制御部２１１ａと、記憶部２１２ａとを含む。記憶部２１２ａは、記憶部２１２に対して、後述の角度変更機構１４を制御するためのプログラムや制御情報が記憶されている点が異なる。主制御部２１１ａは、記憶部２１２ａの記憶情報に基づいて、実施形態と同様に眼科装置１０００ａの各部を制御することができる。
角度変更機構１４は、対物レンズ５１の光軸上の被検眼の配置位置とアライメント光源１１とを結ぶアライメント光の照射光軸と対物レンズ５１の光軸とのなす角度を変更する。また、角度変更機構１４は、対物レンズ５１の光軸上の配置位置とラインセンサー１３とを結ぶアライメント光の反射光軸と対物レンズ５１の光軸とのなす角度を変更する。
主制御部２１１ａは、レフ測定を行うとき角度変更機構１４により第１照射角度に変更された状態でＺアライメント系１ａにより得られた受光結果に基づいて移動機構２００を制御する。これにより、対物レンズ５１の光軸上の第１配置位置の被検眼Ｅに対してＺ方向のアライメントを行うことができる。
また、主制御部２１１ａは、ＯＣＴ計測を行うとき角度変更機構１４により第２照射角度に変更された状態でＺアライメント系１ａにより得られた受光結果に基づいて移動機構２００を制御する。これにより、対物レンズ５１の光軸上の第１配置位置と異なる第２配置位置の被検眼Ｅに対してＺ方向のアライメントを行うことができる。
第６変形例に係る眼科装置１０００ａの動作は実施形態に係る眼科装置１０００の動作と同様であるため、詳細な説明を省略する。
第６変形例によれば、実施形態に比べてＺアライメント系の構成を簡素化することができるようになる。
〔第７変形例〕
図１５に、実施形態の第７変形例に係る眼科装置の光学系の構成例を示す。図１５において、図１と同一部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
第７変形例に係る眼科装置１０００ｂの構成が実施形態に係る眼科装置１０００の構成と異なる点は、Ｚアライメント系１Ａ及び１Ｂに代えて、前眼部カメラ１５Ａ及び１５Ｂが設けられている点である。前眼部カメラ１５Ａ及び１５Ｂは、被検眼Ｅの前眼部を撮影する。前眼部カメラ１５Ａ及び１５Ｂは、例えば、所定のフレームレートで動画撮影を行うビデオカメラである。前眼部カメラ１５Ａ及び１５Ｂは、前眼部を異なる方向から実質的に同時に撮影する。
前眼部カメラの個数は２以上の任意の個数であってよいが、異なる２方向から実質的に同時に前眼部を撮影可能な構成であればよい。また、１つの前眼部カメラが前眼部観察系５における撮像素子５９であってもよい。
「実質的に同時」とは、２以上の前眼部カメラによる撮影において、眼球運動を無視できる程度の撮影タイミングのズレを許容することを示す。それにより、被検眼Ｅが同じ位置（向き）にあるときの画像を２以上の前眼部カメラによって取得することができる。
図１６に、実施形態の第７変形例に係る眼科装置の処理系の構成例を示す。図１６において、図５と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
図１６に示す処理系の構成が図５に示す処理系の構成と異なる点は、Ｚアライメント系１Ａ、１Ｂに代えて前眼部カメラ１５Ａ、１５Ｂが設けられている点と、処理部９に代えて処理部９ｂが設けられている点と、演算処理部２２０に代えて演算処理部２２０ｂが設けられている点である。
処理部９ｂが処理部９と異なる点は、制御部２１０に代えて制御部２１０ｂが設けられている点である。制御部２１０ａは、主制御部２１１ｂと、記憶部２１２ｂとを含む。記憶部２１２ｂは、記憶部２１２に対して、前眼部カメラ１５Ａ及び１５Ｂを用いたＺアライメントを実行するためのプログラムや制御情報が記憶されている点が異なる。主制御部２１１ｂは、記憶部２１２ｂの記憶情報に基づいて、実施形態と同様に眼科装置１０００ｂの各部を制御することができる。
演算処理部２２０ｂは、演算処理部２２０に対し、データ処理部２２３に代えてデータ処理部２２３ｂが設けられている。データ処理部２２３ｂは、特開２０１３－２４８３７６号公報に開示されているように、前眼部カメラ１５Ａ及び１５Ｂにより実質的に同時に得られた２つの撮影画像のそれぞれを解析することにより、前眼部の特徴部位に相当する特徴位置を特定する。前眼部の特徴部位は、例えば瞳孔中心である。更に、データ処理部２２３ｂは、特定された特徴位置に基づいて被検眼Ｅの位置を特定する。本例では、瞳孔中心の位置が被検眼Ｅの位置を近似している。なお、被検眼Ｅにおける角膜頂点と瞳孔との間の距離、又は、標準的な眼（模型眼、平均値等）における角膜頂点と瞳孔との間の距離を利用することで、角膜頂点の位置を被検眼Ｅの位置として求めることができる。
主制御部２１１ｂは、データ処理部２２３ｂにより特定された前眼部の特徴部位の位置に基づいて、Ｚアライメントを実行する。
第７変形例に係る眼科装置１０００ｂの動作は実施形態に係る眼科装置１０００の動作と同様であるため、詳細な説明を省略する。
第７変形例によれば、Ｚアライメント系の構成を省略することができるので、眼科装置の構成を簡素化することができるようになる。
〔第８変形例〕
第６変形例では、角度変更機構によりアライメント光の照射角度及び戻り光の反射方向を変更する場合について説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。
図１７に、実施形態の第８変形例に係る眼科装置の光学系の構成例を示す。図１７において、図１３と同一部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
第８変形例に係る眼科装置１０００ｄの構成が第６変形例に係る眼科装置１０００ａの構成と異なる点は、Ｚアライメント系１ａに代えてＺアライメント系１ｃが設けられている点と、Ｚアライメント系１ｃが対物レンズ５１の光軸方向に移動可能に構成されている点である。Ｚアライメント系１ｃの構成は、Ｚアライメント系１ａと同様に、アライメント光源１１と、結像レンズ１２と、ラインセンサー１３とを含む。Ｚアライメント系１ｃは、アライメント光源１１、結像レンズ１２、及びラインセンサー１３の光学的な位置関係が維持されたまま、対物レンズ５１の光軸方向に一体的に移動するように構成される。
図１８に、実施形態の第８変形例に係る眼科装置の処理系の構成例を示す。図１８において、図１４と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
図１８に示す処理系の構成が図１４に示す処理系の構成と異なる点は、角度変更機構１４に代えて移動機構１４ｃが設けられている点と、処理部９ａに代えて処理部９ｃが設けられている点である。Ｚアライメント系１ｃは、Ｚアライメント系１ａと同様に動作する。
処理部９ｃが処理部９ａと異なる点は、制御部２１０ａに代えて制御部２１０ｃが設けられている点である。制御部２１０ｃは、主制御部２１１ｃと、記憶部２１２ｃとを含む。記憶部２１２ｃは、記憶部２１２ａに対して、後述の移動機構１４ｃを制御するためのプログラムや制御情報が記憶されている点が異なる。主制御部２１１ｃは、記憶部２１２ｃの記憶情報に基づいて、第６変形例と同様に眼科装置１０００ｃの各部を制御することができる。
移動機構１４ｃは、Ｚアライメント系１ｃを対物レンズ５１の光軸方向に移動する。上記のように、移動機構１４ｃは、アライメント光源１１、結像レンズ１２、及びラインセンサー１３の光学的な位置関係を維持したまま、Ｚアライメント系１ｃを移動する。
主制御部２１１ｃは、レフ測定を行うとき対物レンズ５１の光軸上の第１配置位置にアライメント光が照射される第１位置にＺアライメント系１ｃを移動させ、ＯＣＴ計測を行うとき対物レンズ５１の光軸上の第２配置位置にアライメント光が照射される第２位置にＺアライメント系１ｃを移動させる。
例えば、記憶部２１２ｃは、動作モードに対してＺアライメント系１ｃの移動情報があらかじめ関連付けられた制御情報を記憶する。制御情報には、動作モードとしてレフ測定が指定されたときに対物レンズ５１の光軸上の第１位置に移動させるための移動情報と、動作モードとしてＯＣＴ計測が指定されたときに対物レンズ５１の光軸上の第２位置に移動させるための移動情報とが含まれる。主制御部２１１ｃは、記憶部２１２ｃに記憶された制御情報に基づいて、上記のようにＺアライメント系１ｃを制御することが可能である。
主制御部２１１ｃは、レフ測定を行うとき移動機構１４ｃにより第１位置に移動されたＺアライメント系１ｃにより得られた受光結果に基づいて移動機構２００を制御する。これにより、対物レンズ５１の光軸上の第１配置位置の被検眼Ｅに対してＺ方向のアライメントを行うことができる。
また、主制御部２１１ａは、ＯＣＴ計測を行うとき移動機構１４ｃにより第２位置に移動されたＺアライメント系１ｃにより得られた受光結果に基づいて移動機構２００を制御する。これにより、対物レンズ５１の光軸上の第１配置位置と異なる第２配置位置の被検眼Ｅに対してＺ方向のアライメントを行うことができる。
第８変形例に係る眼科装置１０００ｃの動作は第６変形例に係る眼科装置１０００ａの動作と同様であるため、詳細な説明を省略する。
第８変形例によれば、第６変形例と同様にＺアライメント系の構成を簡素化することができるようになる。
〔第９変形例〕
上記の実施形態又はその変形例では、アライメント光源やラインセンサーを移動させたり、アライメント光の照射角度等を変更したりする場合について説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。
図１９に、実施形態の第９変形例に係る眼科装置の光学系の構成例を示す。図１９において、図１と同一部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。
第９変形例に係る眼科装置１０００ｄの構成が実施形態に係る眼科装置１０００の構成と異なる点は、Ｚアライメント系１Ａ及び１Ｂに代えて、Ｚアライメント系１ｄが設けられている点である。Ｚアライメント系１ｄは、アライメント光源１１ｄと、結像レンズ１２と、ラインセンサー１３とを含む。アライメント光源１１ｄは、配光角が広い光源である。アライメント光源１１ｄは、対物レンズ５１の光軸上の第１配置位置及び第２配置位置に対して光を照射可能な配光角を有する。
主制御部２１１は、レフ測定を行うとき第１配置位置に配置された被検眼Ｅに対してアライメント光源１１ｄによりアライメント光を照射させ、被検眼Ｅからの戻り光の受光結果に基づいて移動機構２００を制御する。これにより、対物レンズ５１の光軸上の第１配置位置の被検眼Ｅに対してＺ方向のアライメントを行うことができる。
また、主制御部２１１ａは、ＯＣＴ計測を行うとき第２配置位置に配置された被検眼Ｅに対してアライメント光源１１ｄによりアライメント光を照射させ、被検眼Ｅからの戻り光の受光結果に基づいて移動機構２００を制御する。これにより、対物レンズ５１の光軸上の第１配置位置と異なる第２配置位置の被検眼Ｅに対してＺ方向のアライメントを行うことができる。
第９変形例に係る眼科装置１０００ｄの動作は実施形態に係る眼科装置１０００の動作と同様であるため、詳細な説明を省略する。
以上のように、第９変形例によれば、レフ測定を行う場合やＯＣＴ計測を行う場合であっても、被検眼Ｅに対してアライメント光を照射し、その戻り光を結像レンズ１２を介してラインセンサー１３により受光することができる。それにより、実施形態より眼科装置の構成を簡素化することができる。
［作用・効果］
実施形態に係る眼科装置、及びその制御方法の作用及び効果について説明する。
いくつかの実施形態に係る眼科装置（１０００、１０００ａ～１０００ｄ）は、対物レンズ（５１）と、屈折力測定光学系（レフ測定投射系６、レフ測定受光系７）と、検査光学系（ＯＣＴ光学系８、ＳＬＯ光学系）と、移動機構（２００）と、制御部（２１０、２１０ａ～２１０ｃ、主制御部２１１、主制御部２１１ａ～２１１ｃ））、を含む。屈折力測定光学系は、対物レンズを介して被検眼（Ｅ）に光を投射し、被検眼からの戻り光を検出する。検査光学系は、光スキャナー（８８）を有し、光源からの光を光スキャナーにより偏向し、光スキャナーにより偏向された光を対物レンズを介して被検眼に投射し、被検眼からの戻り光を検出する。移動機構は、対物レンズの光軸方向に対物レンズと屈折力測定光学系と検査光学系とを移動する。制御部は、屈折力測定光学系を用いた屈折力測定（レフ測定）を行うとき被検眼に対する作動距離が第１作動距離（ＷＤｒｅｆ）になり、検査光学系を用いた検査を行うとき作動距離が第２作動距離（ＷＤｏｃｔ）になるように移動機構を制御する。
このような構成によれば、少なくとも屈折力測定光学系及び検査光学系において対物レンズを共用化しつつ、屈折力測定と検査光学系を用いた検査とで作動距離を変更するようにしたので、簡素な構成で、高精度な屈折力測定結果と検査光学系を用いた高精度な検査結果とを取得することができる。
いくつかの実施形態に係る眼科装置は、被検眼の前眼部からの光をリレーするリレーレンズ（５６）と、リレーレンズを経由した光を受光する撮像素子（５）とを含む前眼部観察系（５）を含む。制御部は、屈折力測定を行うとき前眼部観察系の光軸上の第１レンズ位置にリレーレンズを移動し、検査（検査光学系を用いた検査）を行うとき前眼部観察系の光軸上の第２レンズ位置にリレーレンズを移動する。
このような構成によれば、屈折力測定や検査光学系を用いた検査に応じて作動距離が変更された場合でも、前眼部からの信号を撮像素子の撮像面に結像させることが可能になり、屈折力測定時や検査光学系を用いた検査時でもピントが合った前眼部像を観察することができるようになる。
いくつかの実施形態に係る眼科装置は、被検眼に固視標を投影する固視投影系（４）を含む。制御部は、屈折力測定を行うとき第１固視標（ＦＴ１）を被検眼に投影し、検査（検査光学系を用いた検査）を行うとき第１固視標より視角が狭い第２固視標（ＦＴ２、ＦＴ３）を被検眼に投影するように固視投影系を制御する。
このような構成によれば、屈折力測定や検査光学系を用いた検査に応じて視角が異なる固視標を被検眼に呈示するようにしたので、屈折力測定では被検眼に視力調節させないように固視標を呈示させ、検査光学系を用いた検査では被検眼における所望の部位を所定の検査置に配置させるように固視標を呈示させることができる。
いくつかの実施形態に係る眼科装置では、第２固視標は、ドット視標（ＦＴ２）又はクロス視標（ＦＴ３）である。
このような構成によれば、簡素な構成で第２固視標に対し被検眼を確実に注視させることが可能になる。
いくつかの実施形態に係る眼科装置は、第１アライメント系（Ｚアライメント系１Ａ）と、第２アライメント系（Ｚアライメント系１Ｂ）とを含む。第１アライメント系は、対物レンズの光軸上の被検眼の第１配置位置に対して、当該光軸に対して第１角度をなす方向からアライメント光を照射し、被検眼からの戻り光を受光する。第２アライメント系は、対物レンズの光軸上の被検眼の第２配置位置に対して、光軸に対して第２角度をなす方向からアライメント光を照射し、被検眼からの戻り光を受光する。制御部は、屈折力測定を行うとき第１アライメント系により得られた受光結果に基づいて移動機構を制御し、検査（検査光学系を用いた検査）を行うとき第２アライメント系により得られた受光結果に基づいて移動機構を制御する。
このような構成例によれば、屈折力測定及び検査光学系を用いた検査に対応したアライメント系を設けるようにしたので、屈折力測定及び検査光学系を用いた検査のそれぞれにおいて高精度にアライメントを行うことができる。
いくつかの実施形態に係る眼科装置は、アライメント系（Ｚアライメント系１ａ）と、角度変更機構（１４）とを含む。アライメント系は、対物レンズの光軸上の被検眼の２以上の配置位置のそれぞれに対して、当該光軸に対して変更可能な角度をなす方向からアライメント光を照射し、被検眼からの戻り光を受光する。角度変更機構は、上記の角度を変更する。制御部は、屈折力測定を行うとき角度変更機構により第１照射角度に変更された状態でアライメント系により得られた受光結果に基づいて移動機構を制御し、検査（検査光学系を用いた検査）を行うとき角度変更機構により第２照射角度に変更された状態でアライメント系により得られた受光結果に基づいて移動機構を制御する。
このような構成によれば、角度変更機構を設けたので、、屈折力測定及び検査光学系を用いた検査に応じて照射角度を変更することで、簡素な構成で、屈折力測定及び検査光学系を用いた検査のそれぞれにおいて高精度にアライメントを行うことができる。
いくつかの実施形態に係る眼科装置は、角膜形状測定光学系（ケラト測定系３）を含む。角膜形状測定光学系は、対物レンズの外縁側から被検眼の角膜において対物レンズの光軸を中心に円弧状又は円周状の測定パターンを被検眼に投射し、対物レンズを介して被検眼の角膜からの戻り光を検出する。角膜形状測定光学系は、ケラト光源（ケラトリング光源３２）と、ケラト光源と被検眼との間に配置され、対物レンズの光軸を中心に円弧状又は円周状に形成されケラト光源からの光を透過する透光部が形成されたケラト板（３１）と、を含む。対物レンズの光軸に対する測定パターンに基づく像の高さをｈとし、被検眼の角膜曲率半径をＲとし、対物レンズの光軸から前記透光部までの長さをＨとしたとき、制御部は、第１作動距離が（（Ｈ－ｈ）／ｔａｎ（２×ｓｉｎ－１（ｈ／Ｒ））－（Ｒ－√（Ｒ2－ｈ2）））になるように移動機構を制御する。
このような構成によれば、作動距離を長くして器械近視の影響を低減しつつ、ケラト板のサイズの大型化を防ぐことができる。それにより、簡素な構成で、高精度な屈折力測定結果やケラト測定結果の取得可能な眼科装置を提供することができる。
いくつかの実施形態に係る眼科装置では、測定パターンに基づく像の高さは、１．５ミリメートルである。
このような構成によれば、角膜における３ミリメートルの形状測定が可能になるので、角膜形状解析に有用な角膜形状測定が可能になる。
いくつかの実施形態に係る眼科装置では、被検眼の瞳孔から眼底までの距離をＬｅとし、角膜前面から瞳孔までの距離をＬａとし、ケラト板の前面から対物レンズの主面までの距離をＬｋとし、光スキャナーによるスキャン範囲をＳＡ四方とし、スキャン範囲をスキャンするための対物レンズにおけるスキャン径をＤとしたとき、制御部は、第２作動距離が（（Ｌｅ×Ｄ）／ＳＡ－（Ｌａ＋Ｌｋ））になるように移動機構を制御する。
このような構成によれば、ＳＡ四方の領域をスキャンすることができるため、ＳＡ四方の領域をスキャンして得られた既存の標準データと比較し、既存の標準データを活用して検査結果に対して有用な判断を補助することができるようになる
いくつかの実施形態に係る眼科装置では、スキャン範囲は、被検眼の眼底における（６×√２）ミリメートル四方の範囲である。
このような構成によれば、被検眼の眼底において一般的に取得される既存の標準データを活用して検査結果に対して有用な判断を補助することができるようになる
いくつかの実施形態に係る眼科装置では、検査光学系は、ＯＣＴ光源（１０１）からの光（Ｌ０）を参照光（ＬＲ）と測定光（ＬＳ）とに分割し、測定光を光スキャナーにより偏向し、偏向された測定光を被検眼に投射し、被検眼からの測定光の戻り光と参照光との干渉光（ＬＣ）を検出するＯＣＴ光学系（８）を含む。
このような構成によれば、眼底における所望のスキャン範囲をスキャンして有用な断層解析結果の取得が可能な眼科装置を提供することができるようになる。
いくつかの実施形態に係る眼科装置では、検査光学系は、ＳＬＯ光源からの光を光スキャナーにより偏向し、偏向された光を被検眼に投射し、被検眼からの戻り光を受光するＳＬＯ光学系を含む。
このような構成によれば、眼底における所望のスキャン範囲をスキャンして有用な眼底画像の解析結果の取得が可能な眼科装置を提供することができるようになる。
いくつかの実施形態は、対物レンズ（５１）と、対物レンズを介して被検眼（Ｅ）に光を投射し、被検眼からの戻り光を検出する屈折力測定光学系（レフ測定投射系６、レフ測定受光系７）と、光スキャナー（８８）を有し、光源からの光を光スキャナーにより偏向し、光スキャナーにより偏向された光を対物レンズを介して被検眼に投射し、被検眼からの戻り光を検出する検査光学系（ＯＣＴ光学系８、ＳＬＯ光学系）と、対物レンズの光軸方向に対物レンズと屈折力測定光学系と検査光学系とを移動する移動機構（２００）と、移動機構を制御する制御部（２１０、２１０ａ～２１０ｃ、主制御部２１１、主制御部２１１ａ～２１１ｃ））と、を含む眼科装置（１０００、１０００ａ～１０００ｄ）の制御方法である。眼科装置の制御方法は、制御部が被検眼に対する作動距離が第１作動距離（ＷＤｒｅｆ）になるように移動機構を制御する第１制御ステップと、第１制御ステップにおいて作動距離が第１作動距離に設定された状態において、屈折力測定光学系を用いた屈折力測定（レフ測定）を実行する第１計測ステップと、制御部が被検眼に対する作動距離が第２作動距離（ＷＤｏｃｔ）になるように移動機構を制御する第２制御ステップと、第２制御ステップにおいて作動距離が第２作動距離に設定された状態において、検査光学系を用いた検査（ＯＣＴ計測）を実行する第２計測ステップと、を含む。
このような制御によれば、少なくとも屈折力測定光学系及び検査光学系において対物レンズが共用化された眼科装置において、屈折力測定と検査光学系を用いた検査とで作動距離を変更し、高精度な屈折力測定結果と検査光学系を用いた高精度な検査結果とを取得することができるようになる。
いくつかの実施形態に係る眼科装置の制御方法では、眼科装置は、被検眼の前眼部からの光をリレーするリレーレンズ（５６）と、リレーレンズを経由した光を受光する撮像素子（５９）とを含む前眼部観察系（５）を含み、第１制御ステップでは、更に、前眼部観察系の光軸上の第１レンズ位置にリレーレンズを移動し、第２制御ステップでは、更に、前眼部観察系の光軸上の第２レンズ位置にリレーレンズを移動する。
このような制御によれば、折力測定や検査光学系を用いた検査に応じて作動距離が変更された場合でも、前眼部からの信号を撮像素子の撮像面に結像させることが可能になり、屈折力測定時や検査光学系を用いた検査時でもピントが合った前眼部像を観察することができるようになる。
いくつかの実施形態に係る眼科装置の制御方法では、眼科装置は、被検眼に固視標を投影する固視投影系（４）を含み、第１制御ステップでは、更に、第１固視標（ＦＴ１）を被検眼に投影するように固視投影系を制御し、第２制御ステップでは、更に、第１固視標より視角が狭い第２固視標（ＦＴ２、ＦＴ３）を被検眼に投影するように固視投影系を制御する。
このような制御によれば、屈折力測定では被検眼に視力調節させないように固視標を呈示させ、検査光学系を用いた検査では被検眼における所望の部位を所定の検査置に配置させるように固視標を呈示させることができる。
いくつかの実施形態に係る眼科装置の制御方法では、眼科装置は、対物レンズの光軸上の被検眼の第１配置位置に対して、当該光軸に対して第１角度をなす方向からアライメント光を照射し、被検眼からの戻り光を受光する第１アライメント系（Ｚアライメント系１Ａ）と、対物レンズの光軸上の被検眼の第２配置位置に対して、光軸に対して第２角度をなす方向からアライメント光を照射し、被検眼からの戻り光を受光する第２アライメント系（Ｚアライメント系１Ｂ）と、を含み、第１制御ステップでは、第１アライメント系により得られた受光結果に基づいて移動機構を制御し、第２制御ステップでは、第２アライメント系により得られた受光結果に基づいて移動機構を制御する。
このような制御によれば、屈折力測定及び検査光学系を用いた検査のそれぞれにおいて高精度にアライメントを行うことができる。
＜その他＞
以上に示された実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。
また、上記の実施形態では、眼科装置１０００が眼底Ｅｆに対してＯＣＴを実行する場合について説明したが，実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。例えば、眼底Ｅｆと前眼部に対してＯＣＴを実行する眼科装置に対して本発明を適用することが可能である。
１、１Ａ、１Ｂ、１ａ～１ｄ Ｚアライメント系
２ ＸＹアライメント系
３ ケラト測定系
４ 固視投影系
５ 前眼部観察系
６ レフ測定投射系
７ レフ測定受光系
８ ＯＣＴ光学系
９、９ａ、９ｂ 処理部
１４ 角度変更機構
３１ ケラト板
３２ ケラトリング光源
５１ 対物レンズ
８８ 光スキャナー
１４ｃ、２００ 移動機構
２１０、２１０ａ～２１０ｃ 制御部
２１１、２１１ａ～２１０ｃ 主制御部
１０００、１０００ａ～１０００ｄ 眼科装置

Claims (14)

  1. 対物レンズと、
    前記対物レンズを介して被検眼に光を投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する屈折力測定光学系と、
    光スキャナーを有し、光源からの光を前記光スキャナーにより偏向し、前記光スキャナーにより偏向された光を前記対物レンズを介して前記被検眼に投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する検査光学系と、
    前記対物レンズの光軸方向に前記対物レンズと前記屈折力測定光学系と前記検査光学系とを移動する移動機構と、
    前記屈折力測定光学系を用いた屈折力測定を行うとき前記被検眼に対する作動距離が第１作動距離になり、前記検査光学系を用いた検査を行うとき前記作動距離が第２作動距離になるように前記移動機構を制御する制御部と、
    前記被検眼の前眼部からの光をリレーするリレーレンズと、前記リレーレンズを経由した光を受光する撮像素子とを含む前眼部観察系と、
    を含み、
    前記制御部は、前記屈折力測定を行うとき前記前眼部観察系の光軸上の第１レンズ位置に前記リレーレンズを移動し、前記検査を行うとき前記前眼部観察系の光軸上の第２レンズ位置に前記リレーレンズを移動する、眼科装置。
  2. 前記被検眼に固視標を投影する固視投影系を含み、
    前記制御部は、前記屈折力測定を行うとき第１固視標を前記被検眼に投影し、前記検査を行うとき前記第１固視標より視角が狭い第２固視標を前記被検眼に投影するように前記固視投影系を制御する
    ことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
  3. 前記第２固視標は、ドット視標又はクロス視標である
    ことを特徴とする請求項２に記載の眼科装置。
  4. 対物レンズと、
    前記対物レンズを介して被検眼に光を投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する屈折力測定光学系と、
    光スキャナーを有し、光源からの光を前記光スキャナーにより偏向し、前記光スキャナーにより偏向された光を前記対物レンズを介して前記被検眼に投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する検査光学系と、
    前記対物レンズの光軸方向に前記対物レンズと前記屈折力測定光学系と前記検査光学系とを移動する移動機構と、
    前記屈折力測定光学系を用いた屈折力測定を行うとき前記被検眼に対する作動距離が第１作動距離になり、前記検査光学系を用いた検査を行うとき前記作動距離が第２作動距離になるように前記移動機構を制御する制御部と、
    前記対物レンズの光軸上の前記被検眼の第１配置位置に対して、当該光軸に対して第１角度をなす方向からアライメント光を照射し、前記被検眼からの戻り光を受光する第１アライメント系と、
    前記対物レンズの光軸上の前記被検眼の第２配置位置に対して、前記光軸に対して第２角度をなす方向からアライメント光を照射し、前記被検眼からの戻り光を受光する第２アライメント系と、
    を含み、
    前記制御部は、前記屈折力測定を行うとき前記第１アライメント系により得られた受光結果に基づいて前記移動機構を制御し、前記検査を行うとき前記第２アライメント系により得られた受光結果に基づいて前記移動機構を制御する、眼科装置。
  5. 対物レンズと、
    前記対物レンズを介して被検眼に光を投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する屈折力測定光学系と、
    光スキャナーを有し、光源からの光を前記光スキャナーにより偏向し、前記光スキャナーにより偏向された光を前記対物レンズを介して前記被検眼に投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する検査光学系と、
    前記対物レンズの光軸方向に前記対物レンズと前記屈折力測定光学系と前記検査光学系とを移動する移動機構と、
    前記屈折力測定光学系を用いた屈折力測定を行うとき前記被検眼に対する作動距離が第１作動距離になり、前記検査光学系を用いた検査を行うとき前記作動距離が第２作動距離になるように前記移動機構を制御する制御部と、
    前記対物レンズの光軸上の前記被検眼の２以上の配置位置のそれぞれに対して、当該光軸に対して変更可能な角度をなす方向からアライメント光を照射し、前記被検眼からの戻り光を受光するアライメント系と、
    前記角度を変更する角度変更機構と、
    を含み、
    前記制御部は、前記屈折力測定を行うとき前記角度変更機構により第１照射角度に変更された状態で前記アライメント系により得られた受光結果に基づいて前記移動機構を制御し、前記検査を行うとき前記角度変更機構により第２照射角度に変更された状態で前記アライメント系により得られた受光結果に基づいて前記移動機構を制御する、眼科装置。
  6. 対物レンズと、
    前記対物レンズを介して被検眼に光を投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する屈折力測定光学系と、
    光スキャナーを有し、光源からの光を前記光スキャナーにより偏向し、前記光スキャナーにより偏向された光を前記対物レンズを介して前記被検眼に投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する検査光学系と、
    前記対物レンズの光軸方向に前記対物レンズと前記屈折力測定光学系と前記検査光学系とを移動する移動機構と、
    前記屈折力測定光学系を用いた屈折力測定を行うとき前記被検眼に対する作動距離が第１作動距離になり、前記検査光学系を用いた検査を行うとき前記作動距離が第２作動距離になるように前記移動機構を制御する制御部と、
    前記対物レンズの外縁側から前記被検眼の角膜において前記対物レンズの光軸を中心に円弧状又は円周状の測定パターンを前記被検眼に投射し、前記対物レンズを介して前記被検眼の角膜からの戻り光を検出する角膜形状測定光学系と、
    を含み、
    前記角膜形状測定光学系は、
    ケラト光源と、
    前記ケラト光源と前記被検眼との間に配置され、前記対物レンズの光軸を中心に円弧状又は円周状に形成され前記ケラト光源からの光を透過する透光部が形成されたケラト板と、
    を含み、
    前記対物レンズの光軸に対する前記測定パターンに基づく像の高さをｈとし、前記被検眼の角膜曲率半径をＲとし、前記対物レンズの光軸から前記透光部までの長さをＨとしたとき、
    前記制御部は、前記第１作動距離が（（Ｈ－ｈ）／ｔａｎ（２×ｓｉｎ－１（ｈ／Ｒ））－（Ｒ－√（Ｒ2－ｈ2）））になるように前記移動機構を制御する、眼科装置。
  7. 前記測定パターンに基づく像の高さは、１．５ミリメートルである
    ことを特徴とする請求項６に記載の眼科装置。
  8. 前記被検眼の瞳孔から眼底までの距離をＬｅとし、角膜前面から瞳孔までの距離をＬａとし、前記ケラト板の前面から前記対物レンズの主面までの距離をＬｋとし、前記光スキャナーによるスキャン範囲をＳＡ四方とし、前記スキャン範囲をスキャンするための前記対物レンズにおけるスキャン径をＤとしたとき、前記制御部は、前記第２作動距離が（（Ｌｅ×Ｄ）／ＳＡ－（Ｌａ＋Ｌｋ））になるように前記移動機構を制御する
    ことを特徴とする請求項６又は請求項７に記載の眼科装置。
  9. 前記スキャン範囲は、前記被検眼の眼底における（６×√２）ミリメートル四方の範囲である
    ことを特徴とする請求項８に記載の眼科装置。
  10. 前記検査光学系は、ＯＣＴ光源からの光を参照光と測定光とに分割し、前記測定光を前記光スキャナーにより偏向し、前記偏向された測定光を前記被検眼に投射し、前記被検眼からの前記測定光の戻り光と前記参照光との干渉光を検出するＯＣＴ光学系を含む
    ことを特徴とする請求項１～請求項９のいずれか一項に記載の眼科装置。
  11. 前記検査光学系は、ＳＬＯ光源からの光を前記光スキャナーにより偏向し、前記偏向された光を前記被検眼に投射し、前記被検眼からの戻り光を受光するＳＬＯ光学系を含む
    ことを特徴とする請求項１～請求項１０のいずれか一項に記載の眼科装置。
  12. 対物レンズと、
    前記対物レンズを介して被検眼に光を投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する屈折力測定光学系と、
    光スキャナーを有し、光源からの光を前記光スキャナーにより偏向し、前記光スキャナーにより偏向された光を前記対物レンズを介して前記被検眼に投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する検査光学系と、
    前記対物レンズの光軸方向に前記対物レンズと前記屈折力測定光学系と前記検査光学系とを移動する移動機構と、
    前記移動機構を制御する制御部と、
    前記被検眼の前眼部からの光をリレーするリレーレンズと、前記リレーレンズを経由した光を受光する撮像素子とを含む前眼部観察系と、
    を含む眼科装置の制御方法であって、
    前記制御部が前記被検眼に対する作動距離が第１作動距離になるように前記移動機構を制御する第１制御ステップと、
    前記第１制御ステップにおいて作動距離が前記第１作動距離に設定された状態において、前記屈折力測定光学系を用いた屈折力測定を実行する第１計測ステップと、
    前記制御部が前記被検眼に対する作動距離が第２作動距離になるように前記移動機構を制御する第２制御ステップと、
    前記第２制御ステップにおいて作動距離が前記第２作動距離に設定された状態において、前記検査光学系を用いた検査を実行する第２計測ステップと、
    を含み、
    前記第１制御ステップでは、更に、前記前眼部観察系の光軸上の第１レンズ位置に前記リレーレンズを移動し、
    前記第２制御ステップでは、更に、前記前眼部観察系の光軸上の第２レンズ位置に前記リレーレンズを移動する、眼科装置の制御方法。
  13. 前記眼科装置は、前記被検眼に固視標を投影する固視投影系を含み、
    前記第１制御ステップでは、更に、第１固視標を前記被検眼に投影するように前記固視投影系を制御し、
    前記第２制御ステップでは、更に、前記第１固視標より視角が狭い第２固視標を前記被検眼に投影するように前記固視投影系を制御する
    ことを特徴とする請求項１２に記載の眼科装置の制御方法。
  14. 対物レンズと、
    前記対物レンズを介して被検眼に光を投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する屈折力測定光学系と、
    光スキャナーを有し、光源からの光を前記光スキャナーにより偏向し、前記光スキャナーにより偏向された光を前記対物レンズを介して前記被検眼に投射し、前記被検眼からの戻り光を検出する検査光学系と、
    前記対物レンズの光軸方向に前記対物レンズと前記屈折力測定光学系と前記検査光学系とを移動する移動機構と、
    前記移動機構を制御する制御部と、
    前記対物レンズの光軸上の前記被検眼の第１配置位置に対して、当該光軸に対して第１角度をなす方向からアライメント光を照射し、前記被検眼からの戻り光を受光する第１アライメント系と、
    前記対物レンズの光軸上の前記被検眼の第２配置位置に対して、前記光軸に対して第２角度をなす方向からアライメント光を照射し、前記被検眼からの戻り光を受光する第２アライメント系と、
    を含む眼科装置の制御方法であって、
    前記制御部が前記被検眼に対する作動距離が第１作動距離になるように前記移動機構を制御する第１制御ステップと、
    前記第１制御ステップにおいて作動距離が前記第１作動距離に設定された状態において、前記屈折力測定光学系を用いた屈折力測定を実行する第１計測ステップと、
    前記制御部が前記被検眼に対する作動距離が第２作動距離になるように前記移動機構を制御する第２制御ステップと、
    前記第２制御ステップにおいて作動距離が前記第２作動距離に設定された状態において、前記検査光学系を用いた検査を実行する第２計測ステップと、
    を含み、
    前記第１制御ステップでは、前記第１アライメント系により得られた受光結果に基づいて前記移動機構を制御し、
    前記第２制御ステップでは、前記第２アライメント系により得られた受光結果に基づいて前記移動機構を制御する、眼科装置の制御方法。
JP2018113323A 2018-06-14 2018-06-14 眼科装置、及びその制御方法 Active JP7133995B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018113323A JP7133995B2 (ja) 2018-06-14 2018-06-14 眼科装置、及びその制御方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018113323A JP7133995B2 (ja) 2018-06-14 2018-06-14 眼科装置、及びその制御方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019213751A JP2019213751A (ja) 2019-12-19
JP7133995B2 true JP7133995B2 (ja) 2022-09-09

Family

ID=68918150

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018113323A Active JP7133995B2 (ja) 2018-06-14 2018-06-14 眼科装置、及びその制御方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7133995B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7412170B2 (ja) * 2019-12-27 2024-01-12 株式会社トプコン 眼科装置、その評価方法、プログラム、及び記録媒体

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009153569A (ja) 2007-12-25 2009-07-16 Topcon Corp 眼科装置
JP2009189624A (ja) 2008-02-15 2009-08-27 Topcon Corp 眼科装置
JP2012147976A (ja) 2011-01-20 2012-08-09 Canon Inc 光断層画像撮像方法および光断層画像撮像装置
JP2017080136A (ja) 2015-10-29 2017-05-18 株式会社トプコン 眼科装置
JP2018042689A (ja) 2016-09-13 2018-03-22 株式会社トプコン 手持ち型検査装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5985641A (ja) * 1982-11-06 1984-05-17 株式会社トプコン 屈折度測定装置
JPH0191833A (ja) * 1987-09-30 1989-04-11 Canon Inc 眼科装置
JPH0856902A (ja) * 1994-08-22 1996-03-05 Riyuushiyou Sangyo Kk 作動距離算出システムを有する眼屈折度測定装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009153569A (ja) 2007-12-25 2009-07-16 Topcon Corp 眼科装置
JP2009189624A (ja) 2008-02-15 2009-08-27 Topcon Corp 眼科装置
JP2012147976A (ja) 2011-01-20 2012-08-09 Canon Inc 光断層画像撮像方法および光断層画像撮像装置
JP2017080136A (ja) 2015-10-29 2017-05-18 株式会社トプコン 眼科装置
JP2018042689A (ja) 2016-09-13 2018-03-22 株式会社トプコン 手持ち型検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2019213751A (ja) 2019-12-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7304780B2 (ja) 眼科装置
JP6685144B2 (ja) 眼科装置及び眼科検査システム
JP6616704B2 (ja) 眼科装置及び眼科検査システム
CN110811536B (zh) 眼科装置及其控制方法
JP7186587B2 (ja) 眼科装置
JP7394948B2 (ja) 眼科装置
JP2025188181A (ja) 眼科装置
JP7660618B2 (ja) 眼科装置、及びその制御方法
US20230218167A1 (en) Ophthalmic apparatus
JP6833081B2 (ja) 眼科装置及び眼科検査システム
JP7164328B2 (ja) 眼科装置、及び眼科装置の制御方法
JP7292072B2 (ja) 眼科装置
JP7133995B2 (ja) 眼科装置、及びその制御方法
JP7281877B2 (ja) 眼科装置
JP7106320B2 (ja) 眼科装置、及び眼科装置の制御方法
JP7116572B2 (ja) 眼科装置、及び眼科情報処理プログラム
JP7244211B2 (ja) 眼科装置、及び眼科装置の制御方法
JP7201855B2 (ja) 眼科装置、及び眼科情報処理プログラム
JP7103814B2 (ja) 眼科装置
JP7103813B2 (ja) 眼科装置
JP7030577B2 (ja) 眼科装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210603

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220512

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220517

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220609

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220809

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220830

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7133995

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250