JP7131617B2 - 照明条件を設定する方法、装置、システム及びプログラム並びに記憶媒体 - Google Patents
照明条件を設定する方法、装置、システム及びプログラム並びに記憶媒体 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7131617B2 JP7131617B2 JP2020543616A JP2020543616A JP7131617B2 JP 7131617 B2 JP7131617 B2 JP 7131617B2 JP 2020543616 A JP2020543616 A JP 2020543616A JP 2020543616 A JP2020543616 A JP 2020543616A JP 7131617 B2 JP7131617 B2 JP 7131617B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- parameters
- lighting
- illumination
- inspection
- machine learning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 81
- 238000003860 storage Methods 0.000 title claims description 13
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 134
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 79
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 53
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 claims description 49
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 27
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 12
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 28
- 238000012549 training Methods 0.000 description 18
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 14
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 12
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 9
- 238000013461 design Methods 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000013135 deep learning Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 238000013527 convolutional neural network Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 238000013528 artificial neural network Methods 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000008451 emotion Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 241000282412 Homo Species 0.000 description 1
- 230000002547 anomalous effect Effects 0.000 description 1
- 238000013473 artificial intelligence Methods 0.000 description 1
- 230000003416 augmentation Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000001815 facial effect Effects 0.000 description 1
- 238000013100 final test Methods 0.000 description 1
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 description 1
- 230000003936 working memory Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/418—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
- G05B19/41875—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by quality surveillance of production
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06N—COMPUTING ARRANGEMENTS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
- G06N3/00—Computing arrangements based on biological models
- G06N3/02—Neural networks
- G06N3/04—Architecture, e.g. interconnection topology
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06N—COMPUTING ARRANGEMENTS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
- G06N3/00—Computing arrangements based on biological models
- G06N3/02—Neural networks
- G06N3/08—Learning methods
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
- G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/10—Image acquisition
- G06V10/12—Details of acquisition arrangements; Constructional details thereof
- G06V10/14—Optical characteristics of the device performing the acquisition or on the illumination arrangements
- G06V10/141—Control of illumination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N2021/845—Objects on a conveyor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
- G01N2201/129—Using chemometrical methods
- G01N2201/1296—Using chemometrical methods using neural networks
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/20—Special algorithmic details
- G06T2207/20081—Training; Learning
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/20—Special algorithmic details
- G06T2207/20084—Artificial neural networks [ANN]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Computational Linguistics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
Description
これにより、全てのワークが全ての結像条件で撮像され、その画像は記憶部144に記憶される。保存されたM×N個の画像を
2:ベルトコンベヤー
4:ワーク
6:イメージングビュー
8:上位層ネットワーク
10:PLC
12:データベース装置
100:欠陥検査装置
102:カメラ
104:ディスプレイ
106:キーボード
108:マウス
110:プロセッサ
112:メインメモリ
114:カメラインターフェース
116:入力インターフェース
118:ディスプレイインターフェース
120:通信インターフェース
122:内部バス
130:メモリ
132:画像処理プログラム
134:OS
136:学習器パラメータ
138:撮像画像
140:照明パラメータ
141:撮像部
142:設定部
143:検査部
144:記憶部
1431:学習器
Claims (8)
- 検査モジュールは、対象を検査するために使用する機械学習モデルを含み、前記機械学習モデルは、画像を含む学習データを使用することによって生成される方法において、前記対象が撮像される際の照明条件を規定する照明パラメータを変更できる光源によって前記対象を照明し、複数の照明パラメータでイメージセンサによって前記対象を撮像し、前記複数の照明パラメータに対応する撮像画像を取得し、前記対象は既知のラベルデータを 有することと、
前記対象の前記複数の照明パラメータに対応する前記撮像画像の一部または全て及び対応する前記ラベルデータを前記機械学習モデルの学習に適用し、前記機械学習モデルの推定結果と前記対象の前記ラベルデータの比較結果に基づいて、前記照明パラメータ及び検査アルゴリズムパラメータの両方を同時に最適化することで、前記機械学習モデルの前記照明条件と前記検査アルゴリズムパラメータの両方を同時に設定することと、
を含み、
前記検査モジュールを使用して前記対象を検査する際の前記照明条件の設定は、
前記比較結果を表す損失関数を最小化する、損失関数の変数である前記照明パラメータ を選択することを含み、
前記選択は、所定の数値範囲の前記照明パラメータについて、前記損失関数の損失平均を最 小化する前記照明パラメータを選択することを含む、
ことを特徴とする対象を検査する際の照明条件を設定する方法。 - 前記照明パラメータは、光源の発光位置と発光強度を含む、請求項1に記載の方法。
- 検査モジュールは、対象を検査するために使用する機械学習モデルを含み、前記機械学習モデルは、画像を含む学習データを使用することによって生成される装置において、
前記対象に関する撮像画像を取得する取得ユニットであって、前記対象が撮像される際の前記照明条件を規定する照明パラメータを変更することができる光源によって照明し、複数の照明パラメータでイメージセンサによって前記対象を撮像し、前記複数の照明パラメータに対応する前記撮像画像を取得し、前記対象は既知のラベルデータを有する取得ユニットと、
前記対象の前記複数の照明パラメータに対応する前記撮像画像の一部または全て及び対応する前記ラベルデータを機械学習モデルの学習に適用し、前記機械学習モデルの推定結果と前記対象の前記ラベルデータの比較結果に基づいて、前記照明パラメータ及び検査アルゴリズムパラメータの両方を同時に最適化することで、前記機械学習モデルの前記照明条件と前記検査アルゴリズムパラメータの両方を設定する設定ユニットと、
を含み、
前記照明条件の設定において、前記設定ユニットは、
前記比較結果を表す損失関数を最小化する、損失関数の変数である前記照明パラメータを選択し、
前記選択は、所定の数値範囲の前記照明パラメータについて、前記損失関数の損失平均を最小化する前記照明パラメータを選択することを含む、ことを特徴とする対象を検査する際の照明条件を設定する装置。 - 前記照明条件を設定するとき、最適な照明条件を見つけるために既に学習を実行した機械学習モデルに適用される前記撮像画像の数は、前記機械学習モデルの学習に適用される前記撮像画像の数よりも少ない、請求項3に記載の装置。
- 前記照明パラメータは、光源の発光位置と発光強度を含む、請求項3に記載の装置。
- 請求項1または2に記載の方法を実行する処理部を備えることを特徴とする、対象を検査する際の照明条件を設定するシステム。
- 実行されると、請求項1または2に記載の方法を実行することを特徴とするプログラム。
- プログラムを記憶し、前記プログラムが実行されると、請求項1または2に記載の方法を実行することを特徴とする、記憶媒体。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/IB2018/051413 WO2019171124A1 (en) | 2018-03-06 | 2018-03-06 | Method, device, system and program for setting lighting condition and storage medium |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021515885A JP2021515885A (ja) | 2021-06-24 |
JP7131617B2 true JP7131617B2 (ja) | 2022-09-06 |
Family
ID=62186499
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020543616A Active JP7131617B2 (ja) | 2018-03-06 | 2018-03-06 | 照明条件を設定する方法、装置、システム及びプログラム並びに記憶媒体 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11631230B2 (ja) |
EP (1) | EP3762795B1 (ja) |
JP (1) | JP7131617B2 (ja) |
CN (1) | CN111712769B (ja) |
WO (1) | WO2019171124A1 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7006567B2 (ja) * | 2018-11-09 | 2022-01-24 | オムロン株式会社 | 撮影方法及び撮影装置 |
DE102019209152A1 (de) * | 2019-06-25 | 2020-12-31 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum sicheren Identifizieren von Objekten in Videobildern |
DE102019132830A1 (de) * | 2019-12-03 | 2021-06-10 | Krones Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von umgefallenen und/oder beschädigten Behältern in einem Behältermassenstrom |
CN115398228A (zh) * | 2020-03-31 | 2022-11-25 | 杰富意钢铁株式会社 | 金属组织的拍摄条件确定方法、金属组织的拍摄方法、金属组织的相分类方法、金属组织的拍摄条件确定装置、金属组织的拍摄装置、金属组织的相分类装置、金属材料的材料特性预测方法及金属材料的材料特性预测装置 |
JP2023521270A (ja) * | 2020-05-20 | 2023-05-24 | グーグル エルエルシー | 多様なポートレートから照明を学習すること |
CN112883842B (zh) * | 2021-02-02 | 2022-12-16 | 四川省机械研究设计院(集团)有限公司 | 基于零件与光源相互匹配的摩托车发动机装配方法与系统 |
EP4102425A1 (de) * | 2021-06-10 | 2022-12-14 | Siemens Aktiengesellschaft | Computerimplementierte datenstruktur, verfahren, inspektionsvorrichtung und system zum übermitteln eines modells für maschinelles lernen |
CN113670935A (zh) * | 2021-08-25 | 2021-11-19 | 武汉中导光电设备有限公司 | 一种半导体晶圆缺陷检测设备及检测方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001343336A (ja) | 2000-05-31 | 2001-12-14 | Nidek Co Ltd | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 |
JP2004191112A (ja) | 2002-12-10 | 2004-07-08 | Ricoh Co Ltd | 欠陥検査方法 |
JP2012189390A (ja) | 2011-03-09 | 2012-10-04 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 毛髪検出装置 |
WO2015188275A1 (en) | 2014-06-10 | 2015-12-17 | Sightline Innovation Inc. | System and method for network based application development and implementation |
JP2017122580A (ja) | 2014-04-08 | 2017-07-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 検査装置及び検査条件決定方法 |
CN107576618A (zh) | 2017-07-20 | 2018-01-12 | 华南理工大学 | 基于深度卷积神经网络的水稻穗瘟检测方法及系统 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IL177689A0 (en) | 2005-08-26 | 2006-12-31 | Camtek Ltd | Method and system for automatic defect detection of articles in visual inspection machines |
US9020237B2 (en) * | 2010-06-07 | 2015-04-28 | Hitachi High-Technologies Corporation | Method for optimizing observed image classification criterion and image classification apparatus |
EP2887055B1 (en) | 2013-12-17 | 2016-05-11 | CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement | Method and apparatus for detection of visible defects |
CN103868935A (zh) * | 2014-02-14 | 2014-06-18 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 基于计算机视觉的烟支外观质量检测方法 |
JP6632288B2 (ja) * | 2014-12-12 | 2020-01-22 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、プログラム |
JP2017049974A (ja) | 2015-09-04 | 2017-03-09 | キヤノン株式会社 | 識別器生成装置、良否判定方法、およびプログラム |
US20170069075A1 (en) * | 2015-09-04 | 2017-03-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Classifier generation apparatus, defective/non-defective determination method, and program |
EP3762794A1 (en) * | 2018-03-05 | 2021-01-13 | Omron Corporation | Method, device, system and program for setting lighting condition and storage medium |
-
2018
- 2018-03-06 WO PCT/IB2018/051413 patent/WO2019171124A1/en unknown
- 2018-03-06 EP EP18725294.5A patent/EP3762795B1/en active Active
- 2018-03-06 CN CN201880089417.6A patent/CN111712769B/zh active Active
- 2018-03-06 JP JP2020543616A patent/JP7131617B2/ja active Active
- 2018-03-06 US US16/970,376 patent/US11631230B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001343336A (ja) | 2000-05-31 | 2001-12-14 | Nidek Co Ltd | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 |
JP2004191112A (ja) | 2002-12-10 | 2004-07-08 | Ricoh Co Ltd | 欠陥検査方法 |
JP2012189390A (ja) | 2011-03-09 | 2012-10-04 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 毛髪検出装置 |
JP2017122580A (ja) | 2014-04-08 | 2017-07-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 検査装置及び検査条件決定方法 |
WO2015188275A1 (en) | 2014-06-10 | 2015-12-17 | Sightline Innovation Inc. | System and method for network based application development and implementation |
CN107576618A (zh) | 2017-07-20 | 2018-01-12 | 华南理工大学 | 基于深度卷积神经网络的水稻穗瘟检测方法及系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3762795A1 (en) | 2021-01-13 |
US11631230B2 (en) | 2023-04-18 |
EP3762795B1 (en) | 2024-05-01 |
CN111712769B (zh) | 2023-08-01 |
US20200410270A1 (en) | 2020-12-31 |
JP2021515885A (ja) | 2021-06-24 |
CN111712769A (zh) | 2020-09-25 |
WO2019171124A1 (en) | 2019-09-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7131617B2 (ja) | 照明条件を設定する方法、装置、システム及びプログラム並びに記憶媒体 | |
JP7028333B2 (ja) | 照明条件の設定方法、装置、システム及びプログラム並びに記憶媒体 | |
WO2021000524A1 (zh) | 孔位保护门检测方法、装置、计算机设备和存储介质 | |
US11024019B2 (en) | Image-based maintenance prediction and detection of operating errors | |
CN112567428B (zh) | 摄影方法及摄影装置 | |
KR20140031201A (ko) | 웨브 기반 재료 내의 불균일성의 검출 시스템 | |
US20200402221A1 (en) | Inspection system, image discrimination system, discrimination system, discriminator generation system, and learning data generation device | |
JP2017107541A (ja) | 情報処理装置、情報処理方法、プログラムおよび検査システム | |
KR102141302B1 (ko) | 회귀 딥러닝 모델 기반의 영상 객체 검출 방법 및 영상처리장치 | |
CN111065915B (zh) | 优化对目标物体外部检查的设备及其方法 | |
JP7164028B2 (ja) | 学習システム、データ生成装置、データ生成方法、及びデータ生成プログラム | |
WO2023084543A1 (en) | System and method for leveraging neural network based hybrid feature extraction model for grain quality analysis | |
JP2020198092A (ja) | 教師なし異常検出及び高次元センサデータの多数決投票による原因説明のための方法及びシステム | |
CN116453438B (zh) | 一种显示屏参数检测方法、装置、设备及存储介质 | |
CN111492198A (zh) | 物体形状测量装置和方法以及程序 | |
US20230033187A1 (en) | Systems and methods for acquiring and inspecting lens images of ophthalmic lenses | |
JP2021143884A (ja) | 検査装置、検査方法、プログラム、学習装置、学習方法、および学習済みデータセット | |
JPWO2020071234A1 (ja) | 画像処理装置、画像処理方法、外観検査システムおよびコンピュータプログラム | |
CN114972152A (zh) | 自动光学检测方法、自动光学检测系统及记录媒体 | |
JP2023145412A (ja) | 欠陥検出方法及びシステム | |
JP7206892B2 (ja) | 画像検査装置、画像検査のための学習方法および画像検査プログラム | |
Khwakhali et al. | Fabric defect detection using gray level co-occurence matrix and local binary pattern | |
WO2024080087A1 (ja) | 検査条件決定システム | |
US20220172453A1 (en) | Information processing system for determining inspection settings for object based on identification information thereof | |
US20240071057A1 (en) | Microscopy System and Method for Testing a Sensitivity of an Image Processing Model |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201104 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20201104 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20211026 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211223 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220510 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220704 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220726 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220808 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7131617 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |