JP7131288B2 - Analyzer and analysis system - Google Patents

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Description

この発明は、分析装置および分析システムに関する。 The present invention relates to an analysis device and an analysis system.

分析装置で得られた各種データを管理および処理する分析システムが、国際公開第2017/098599号(特許文献1)に記載されている。特許文献1に記載の分析システムでは、分析装置において得られた測定データおよび当該測定データを解析処理して得られた処理結果データは、分析装置に接続されるサーバ上に構築されたデータベースに登録される。分析システムでは、さらに、分析装置へのユーザのログイン・ログアウトやファイルに関する各種操作についての情報も操作ログ情報としてデータベースに登録される。操作ログ情報には、ユーザにより実行された操作の内容、操作が行なわれた日時、操作が行なわれた装置を特定するためのID、および操作を行なった担当者を特定するためのIDなどが含まれる。 An analysis system that manages and processes various data obtained by an analysis device is described in International Publication No. 2017/098599 (Patent Document 1). In the analysis system described in Patent Document 1, measurement data obtained by the analysis device and processing result data obtained by analyzing the measurement data are registered in a database constructed on a server connected to the analysis device. be done. In the analysis system, information on user's login/logout to the analysis device and various operations related to files is also registered in the database as operation log information. The operation log information includes details of the operation executed by the user, the date and time when the operation was performed, an ID for identifying the device on which the operation was performed, an ID for identifying the person in charge who performed the operation, and the like. included.

国際公開第2017/098599号WO2017/098599

特許文献1に記載された分析システムによれば、例えば、データベースに保存されているデータファイルに基づいた試験結果を提出する際には、このデータファイルに関連する操作ログ情報をデータベースから抽出して監査証跡を作成することができる。 According to the analysis system described in Patent Document 1, for example, when submitting test results based on a data file stored in a database, operation log information related to this data file is extracted from the database. Can create an audit trail.

しかしながら、分析中に分析装置に異常が発生した場合には、データベースに蓄積されているデータファイルや操作ログ情報を参照しても、異常発生時における分析装置の内部状態を知ることができないため、異常解析に多大な労力が必要となることが懸念される。 However, if an abnormality occurs in the analyzer during analysis, the internal state of the analyzer at the time of the abnormality cannot be known even by referring to the data files and operation log information accumulated in the database. It is feared that a great deal of labor will be required for anomaly analysis.

この発明はこのような問題点を解決するためになされたものであって、この発明の目的は、分析装置で収集されたデータを管理および処理する分析システムにおいて、データを管理および処理するユーザの利便性を向上させることである。 SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such problems, and an object of the present invention is to provide an analysis system for managing and processing data collected by an analysis device, in which a user who manages and processes data is provided. It is to improve convenience.

この発明のある局面によれば、分析装置は、試料の分析を行なう装置本体と、装置本体の動作を制御する情報処理装置とを備える。情報処理装置は、装置本体の内部動作を示す動作ログを収集するように構成される。動作ログでは、情報処理装置により発行された動作命令を示す情報と、動作命令に応答して装置本体が実行した動作内容を示す情報とが一対一に対応付けられている。 According to one aspect of the present invention, an analysis device includes a device body that analyzes a sample, and an information processing device that controls the operation of the device body. The information processing device is configured to collect operation logs indicating internal operations of the device body. In the operation log, information indicating operation commands issued by the information processing apparatus and information indicating details of operations executed by the apparatus body in response to the operation instructions are associated one-to-one.

上記分析装置によれば、装置本体の内部動作を示す動作ログを収集することで、収集された動作ログに基づいて分析装置の内部状態を知ることができる。これによると、例えば異常が発生したときの分析装置の内部状態を把握できるため、異常解析を効率的に行なうことが可能となる。また、動作ログにおいて、動作命令を示す情報とこの動作命令に応答した動作内容を示す情報とが一対一に対応付けられていることにより、異常解析の担当者は、動作命令と実際の動作内容とを容易に照らし合わせることができるため、動作命令に違背した誤った動作を検出しやすくなる。この結果、データを管理および処理するユーザの利便性を向上させることができる。 According to the analyzer, by collecting the operation log indicating the internal operation of the apparatus main body, it is possible to know the internal state of the analyzer based on the collected operation log. According to this, it is possible to grasp the internal state of the analyzer when, for example, an abnormality occurs, so that it is possible to efficiently analyze the abnormality. In addition, in the operation log, the information indicating the operation command and the information indicating the operation content in response to this operation command are associated one-to-one. can be easily collated, it becomes easy to detect an erroneous operation that violates the operation instruction. As a result, it is possible to improve convenience for the user who manages and processes data.

上記分析装置において好ましくは、動作ログにおいて、動作命令を示す情報には当該情報が動作命令に関することを示すタグが付され、動作内容を示す情報には当該情報が動作内容に関することを示すタグが付されている。 In the above analysis apparatus, preferably, in the action log, information indicating an action command is tagged to indicate that the information is related to the action command, and information indicating the content of the action is tagged to indicate that the information is related to the content of the action. attached.

これによると、動作命令を示す情報と動作内容を示す情報とを容易に識別することができるため、ユーザの利便性を向上させることができる。 According to this, it is possible to easily distinguish between the information indicating the action command and the information indicating the content of the action, so that the user's convenience can be improved.

上記分析装置において好ましくは、動作ログは、装置本体の動作の目的を示す情報をさらに含む。これによると、ユーザは、動作命令および動作内容がどのフェーズの動作を示すものかを容易に認識することができる。 Preferably, in the analysis device described above, the operation log further includes information indicating the purpose of the operation of the device main body. According to this, the user can easily recognize which phase of the operation the operation command and the operation content indicate.

上記分析装置において好ましくは、動作ログは、装置本体の動作に基づいて情報処理装置が導出した結果を示す情報をさらに含む。これによると、ユーザは、動作命令に応答した動作内容と、この動作内容に基づいた結果とを容易に認識することができる。 Preferably, in the analysis device described above, the operation log further includes information indicating a result derived by the information processing device based on the operation of the device main body. According to this, the user can easily recognize the action content in response to the action instruction and the result based on this action content.

この発明の別の局面によれば、分析システムは、上記分析装置と、上記分析装置と通信接続されるサーバとを備える。分析装置は、収集した動作ログをサーバへ送信するように構成される。サーバは、動作ログを保存するための記憶部を有する。 According to another aspect of the present invention, an analysis system includes the above analysis device and a server communicatively connected to the above analysis device. The analysis device is configured to send the collected operational logs to the server. The server has a storage unit for saving operation logs.

上記分析システムによれば、サーバでは、記憶部に保存されている動作ログに基づいて、分析装置の内部状態を知ることができるため、分析装置の動作解析を効率的に行なうことができる。 According to the above analysis system, the server can know the internal state of the analyzer based on the operation log stored in the storage unit, so that the operation of the analyzer can be efficiently analyzed.

上記分析システムにおいて好ましくは、分析装置は、分析装置の異常が検知されたときの動作ログをサーバへ送信するように構成される。これによると、記憶部に保存された動作ログを用いて、分析装置の異常解析を効率的に行なうことができる。 In the analysis system described above, the analysis device is preferably configured to transmit an operation log to the server when an abnormality of the analysis device is detected. According to this, the operation log saved in the storage unit can be used to efficiently analyze the abnormality of the analyzer.

上記分析システムにおいて好ましくは、上記分析装置は、動作ログを定期的にサーバへ送信するように構成される。記憶部に保存された動作ログを用いて、分析装置の異常予兆の有無が診断される。これによると、記憶部に保存されている動作ログを用いて、分析装置の異常予兆を検知することができる。 Preferably, in the analysis system, the analysis device is configured to periodically transmit the operation log to the server. Using the operation log saved in the storage unit, the presence or absence of an anomaly sign of the analyzer is diagnosed. According to this, it is possible to detect an anomaly sign of the analyzer using the operation log saved in the storage unit.

上記分析システムにおいて好ましくは、分析装置は、動作ログを定期的にサーバへ送信するように構成される。記憶部に保存された動作ログを用いて、分析装置の分析精度を保証するための校正が実行される。これによると、記憶部に保存されている動作ログを用いて、分析装置の校正を適当に実行することができる。 Preferably, in the above analysis system, the analysis device is configured to periodically transmit the operation log to the server. Using the operation log saved in the storage unit, calibration is performed to ensure the analysis accuracy of the analyzer. According to this, the operation log saved in the storage unit can be used to properly calibrate the analyzer.

この発明によれば、分析装置で収集されたデータを管理および処理する分析システムにおいて、データを管理および処理するユーザの利便性を向上させることができる。 According to the present invention, in an analysis system that manages and processes data collected by an analysis device, it is possible to improve convenience for users who manage and process data.

本実施の形態に従う分析システムの構成例を説明する概略図である。1 is a schematic diagram illustrating a configuration example of an analysis system according to this embodiment; FIG. 図1に示した分析装置の構成例を概略的に示す図である。FIG. 2 is a diagram schematically showing a configuration example of the analysis device shown in FIG. 1; 情報処理装置の構成を概略的に示す図である。1 is a diagram schematically showing the configuration of an information processing device; FIG. サーバの構成を概略的に示す図である。It is a figure which shows the structure of a server roughly. 自動電圧調整を実行するときの処理手順を説明するためのフローチャートである。4 is a flowchart for explaining a processing procedure when executing automatic voltage adjustment; 電圧調整実行設定画面の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a voltage adjustment execution setting screen. 最適化結果画面の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of an optimization result screen. 最適化結果画面の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of an optimization result screen. データベースの構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of a database. 動作ログの第1構成例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a first configuration example of an operation log; 動作ログの第2構成例を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing a second configuration example of an operation log; 動作ログの第3構成例を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing a third configuration example of an operation log; 自動電圧調整および異常予兆診断を実行するときの処理手順を説明するためのフローチャートである。4 is a flowchart for explaining a processing procedure when executing automatic voltage adjustment and abnormality predictive diagnosis; 高周波電圧値と信号強度との関係の実測結果を示す図である。It is a figure which shows the measurement result of the relationship between a high frequency voltage value and signal strength. 図14の実測結果に基づく質量電荷比と高周波電圧値との関係を示す図である。15 is a diagram showing the relationship between the mass-to-charge ratio and the high-frequency voltage value based on the actual measurement results of FIG. 14; FIG. 自動電圧調整および分析装置の校正を実行するときの処理手順を説明するためのフローチャートである。4 is a flow chart for explaining a processing procedure when performing automatic voltage adjustment and calibration of the analyzer;

以下に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。なお、以下では図中の同一または相当部分には同一符号を付してその説明は原則的に繰返さないものとする。 BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Below, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the following description, the same reference numerals are given to the same or corresponding parts in the drawings, and the description thereof will not be repeated in principle.

図1は、本実施の形態に従う分析システムの構成例を説明する概略図である。
図1を参照して、本実施の形態に従う分析システム100は、試料の分析を行なうシステムであり、N台(Nは整数)の分析装置AD1~ADNと、サーバ4と、データベース5とを備える。
FIG. 1 is a schematic diagram illustrating a configuration example of an analysis system according to this embodiment.
Referring to FIG. 1, analysis system 100 according to the present embodiment is a system for analyzing a sample, and includes N units (N is an integer) of analysis devices AD1 to ADN, server 4, and database 5. .

分析装置AD1~ADNの各々は、試料の分析を行なう装置である。以下の説明では、分析装置AD1~ADNを分析装置ADとも総称する。本実施の形態では、分析装置ADとして、液体クロマトグラフ質量分析装置(LC/MS)を例示する。 Each of analyzers AD1-ADN is an apparatus for analyzing a sample. In the following description, the analyzers AD1 to ADN are also collectively referred to as analyzers AD. In this embodiment, a liquid chromatograph mass spectrometer (LC/MS) is exemplified as the analysis device AD.

分析装置ADは、装置本体1および情報処理装置2を有する。装置本体1は試料の測定を行なう。情報処理装置2は、装置本体1における測定を制御するとともに、装置本体1による測定データの定量分析を行なう。情報処理装置2は、通信網の代表例であるインターネット3に接続されている。これにより、分析装置AD1~ADNの各々の情報処理装置2は、インターネット3を介して相互に通信可能に接続される。 The analyzer AD has an apparatus main body 1 and an information processing device 2 . The device main body 1 measures a sample. The information processing device 2 controls measurement in the device body 1 and performs quantitative analysis of data measured by the device body 1 . The information processing device 2 is connected to the Internet 3, which is a representative example of a communication network. As a result, the information processing devices 2 of the analysis devices AD1 to ADN are connected via the Internet 3 so as to be able to communicate with each other.

さらに、分析システム100では、サーバ4がインターネット3に接続されている。したがって、分析装置ADの情報処理装置2は、インターネット3を経由して、サーバ4との間で双方向にデータを送受信することができる。 Furthermore, in analysis system 100 , server 4 is connected to Internet 3 . Therefore, the information processing device 2 of the analysis device AD can bidirectionally transmit and receive data to and from the server 4 via the Internet 3 .

サーバ4は、主として、分析システム100が運用されるN台の分析装置ADを管理するためのサーバである。サーバ4は、N台の分析装置ADとの間で通信することにより、N台の分析装置ADに関する情報を収集するとともに管理する。サーバ4は、例えば、分析システム100を管理する管理センターに設置されたクラウドサーバである。 The server 4 is mainly a server for managing the N analyzers AD in which the analysis system 100 is operated. The server 4 collects and manages information about the N analyzers AD by communicating with the N analyzers AD. The server 4 is, for example, a cloud server installed in a management center that manages the analysis system 100 .

サーバ4にはデータベース5が接続されている。データベース5は、サーバ4と分析装置ADとの間で遣り取りされるデータを保存するための記憶部である。図1の例では、メモリとサーバ4に外付けされたデータベース5で構成しているが、サーバ4に記憶部を内蔵する構成としてもよい。データベース5は「記憶部」の一実施例に対応する。 A database 5 is connected to the server 4 . The database 5 is a storage unit for storing data exchanged between the server 4 and the analyzer AD. In the example of FIG. 1, the memory and the database 5 externally attached to the server 4 are used, but the server 4 may have a built-in storage unit. The database 5 corresponds to one embodiment of "storage".

図2は、図1に示した分析装置ADの構成例を概略的に示す図である。
図2を参照して、分析装置ADは、液体クロマトグラフ質量分析装置(LC/MS)である。装置本体1は、液体クロマトグラフ(LC)部1Aと、質量分析(MS)部1Bとを備える。
FIG. 2 is a diagram schematically showing a configuration example of the analyzer AD shown in FIG.
Referring to FIG. 2, analyzer AD is a liquid chromatograph mass spectrometer (LC/MS). The device main body 1 includes a liquid chromatograph (LC) section 1A and a mass spectrometry (MS) section 1B.

LC部1Aは、移動相容器30、送液ポンプ31、インジェクタ32、カラム33、バルブ34、および調整用試料導入部35を含む。送液ポンプ31は、移動相容器30に貯留されている移動相を吸引し、一定流量でインジェクタ32を通してカラム33へと送給する。インジェクタ32により試料が注入されると、移動相の流れに乗って試料はカラム33へと導入され、カラム33を通過する間に試料中の各種成分は分離されて、時間的にずれてカラム33の出口から溶出する。カラム33の出口には流路切替用のバルブ34が設けられており、通常の分析時には、カラム33からの溶出液がバルブ34を経てMS部1Bに導入される。 The LC section 1A includes a mobile phase container 30, a liquid transfer pump 31, an injector 32, a column 33, a valve 34, and an adjustment sample introduction section . The liquid-sending pump 31 sucks the mobile phase stored in the mobile-phase container 30 and sends it to the column 33 through the injector 32 at a constant flow rate. When the sample is injected by the injector 32, the sample is introduced into the column 33 along with the flow of the mobile phase. eluted from the outlet of A valve 34 for channel switching is provided at the outlet of the column 33, and the eluate from the column 33 is introduced into the MS section 1B through the valve 34 during normal analysis.

バルブ34の他方には、調整用試料導入部35が接続されており、後述する自動調整(オートチューニング)の実行時において、バルブ34が切り替えられて調整用試料導入部35からの試料液がMS部1Bに導入される。ただし、調整用試料の導入方法はこれに限らず、例えばインジェクタ32により調整用試料を移動相中に注入し、カラム33で成分を分離させてもよい。また、インジェクタ32で調整用試料が注入された移動相がカラム33を迂回して流れる迂回流路を設け、この迂回流路を経た移動相がMS部1Bに導入されるようにしてもよい。 An adjustment sample introduction section 35 is connected to the other side of the valve 34, and when automatic adjustment (auto-tuning) to be described later is executed, the valve 34 is switched and the sample liquid from the adjustment sample introduction section 35 is introduced into MS. Introduced in Part 1B. However, the method of introducing the sample for adjustment is not limited to this. Alternatively, a detour channel may be provided through which the mobile phase into which the adjustment sample is injected by the injector 32 bypasses the column 33, and the mobile phase may be introduced into the MS unit 1B through this detour channel.

MS部1Bは、略大気圧雰囲気であるイオン化室40と、図示しない高性能の真空ポンプにより真空排気される高真空雰囲気である分析室48との間に、第1中間真空室43および第2中間真空室46の2室が設けられた多段差動排気系の構成である。イオン化室40と第1中間真空室43との間は細径の脱溶媒管42で連通し、第1中間真空室43と第2中間真空室46との間はスキマー45の頂部に設けられた極小径の通過孔(オリフィス)を通して連通している。 The MS section 1B has a first intermediate vacuum chamber 43 and a second vacuum chamber 43 between an ionization chamber 40 having a substantially atmospheric pressure atmosphere and an analysis chamber 48 having a high vacuum atmosphere evacuated by a high-performance vacuum pump (not shown). It is a configuration of a multi-stage differential pumping system in which two intermediate vacuum chambers 46 are provided. The ionization chamber 40 and the first intermediate vacuum chamber 43 are communicated with each other by a solvent removal pipe 42 having a small diameter, and the first intermediate vacuum chamber 43 and the second intermediate vacuum chamber 46 are connected at the top of the skimmer 45. It communicates through a very small diameter passage hole (orifice).

MS部1Bでは、試料成分を含む溶出液はエレクトロスプレイ部41において電荷を付与されながら略大気圧雰囲気にあるイオン化室40中に噴霧され、それにより試料成分がイオン化される。なお、エレクトロスプレイイオン化法でなく、大気圧化学イオン化法など他の大気圧イオン化法を用いてイオン化を行なってもよい。イオン化室40で生成されたイオンや未だ完全に溶媒が気化していない微細液滴が差圧によって脱溶媒管42中に引き込まれ、加熱された脱溶媒管42中を通過する間にさらに微細液滴からの溶媒の気化が進んでイオンが発生する。 In the MS section 1B, the eluate containing the sample components is sprayed into the ionization chamber 40 which is in a substantially atmospheric pressure atmosphere while being charged in the electrospray section 41, thereby ionizing the sample components. Note that ionization may be performed using other atmospheric pressure ionization methods such as the atmospheric pressure chemical ionization method, instead of the electrospray ionization method. Ions generated in the ionization chamber 40 and fine droplets in which the solvent has not yet completely evaporated are drawn into the desolvation pipe 42 by the differential pressure, and while passing through the heated desolvation pipe 42, further fine liquid droplets are formed. Evaporation of the solvent from the droplets proceeds and ions are generated.

第1中間真空室43内には、イオン光軸Cに直交する面内でイオン光軸Cを取り囲む4枚の電極板が、イオン光軸C方向に複数配列されて成る第1イオンガイド44が設けられている。イオンはこの第1イオンガイド44で収束されてオリフィスを通過し、第2中間真空室46に入る。第2中間真空室46内にはイオン光軸Cを取り囲むように配置された8本のロッド電極から成る第2イオンガイド47が設けられ、イオンは第2イオンガイド47により収束されて分析室48に送り込まれる。分析室48内には、4本のロッド電極からなる四重極質量フィルタ50とその前段にあってイオン光軸C方向に短い4本のロッド電極から成るプリロッド電極49とが配設されている。各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンのみ四重極質量フィルタ50を通り抜けてイオン検出器51に到達する。 In the first intermediate vacuum chamber 43, there is a first ion guide 44 in which a plurality of four electrode plates surrounding the ion optical axis C in a plane perpendicular to the ion optical axis C are arranged in the direction of the ion optical axis C. is provided. Ions are focused by this first ion guide 44, pass through the orifice, and enter the second intermediate vacuum chamber 46. FIG. A second ion guide 47 consisting of eight rod electrodes arranged so as to surround the ion optical axis C is provided in the second intermediate vacuum chamber 46 . sent to. In the analysis chamber 48, a quadrupole mass filter 50 consisting of four rod electrodes and a pre-rod electrode 49 consisting of four short rod electrodes in the direction of the ion optical axis C and located in front of the filter 50 are arranged. . Only ions having a specific mass-to-charge ratio among various ions pass through the quadrupole mass filter 50 and reach the ion detector 51 .

情報処理装置2は、演算処理部であるCPU(Central Processing Unit)を主体として構成される。情報処理装置2は、例えばパーソナルコンピュータなどを利用することができる。情報処理装置2は、データ処理部60、分析制御部62および中央制御部64を有する。イオン検出器51による検出信号はデータ処理部60に入力され、例えばマススペクトル、マスクロマトグラム、トータルイオンクロマトグラムの作成などの各種のデータ処理が実行される。分析制御部62は、中央制御部64からの指示に基づいてLC/MS分析を実行するために、後述する電源部52~56などを含めてLC部1AおよびMS部1Bの各部の動作を制御する。中央制御部64には、ユーザインターフェースとしての入力部22、ディスプレイ24が接続されている。中央制御部64は、入力部22によるオペレータの操作を受けて分析のための各種の指令を分析制御部62またはデータ処理部60に出力する。また、中央制御部64は、マススペクトルなどの分析結果をディスプレイ24に出力する。なお、情報処理装置2において、中央制御部64、分析制御部62およびデータ処理部60の大部分は、所定の制御/処理ソフトウェアを搭載したパーソナルコンピュータにより具現化することができる。 The information processing device 2 is mainly composed of a CPU (Central Processing Unit), which is an arithmetic processing unit. The information processing device 2 can use, for example, a personal computer. The information processing device 2 has a data processing section 60 , an analysis control section 62 and a central control section 64 . A signal detected by the ion detector 51 is input to the data processing unit 60, and various data processing such as creation of mass spectrum, mass chromatogram, and total ion chromatogram is executed. The analysis control unit 62 controls the operation of each unit of the LC unit 1A and the MS unit 1B, including power supply units 52 to 56 described later, in order to perform LC/MS analysis based on instructions from the central control unit 64. do. The central control unit 64 is connected to the input unit 22 and the display 24 as a user interface. The central control unit 64 outputs various commands for analysis to the analysis control unit 62 or the data processing unit 60 in response to the operator's operation through the input unit 22 . Also, the central control unit 64 outputs analysis results such as mass spectra to the display 24 . In the information processing apparatus 2, most of the central control unit 64, the analysis control unit 62 and the data processing unit 60 can be realized by a personal computer loaded with predetermined control/processing software.

四重極質量フィルタ50の各ロッド電極には、第5電源部56から高周波電圧と直流電圧とを重畳した電圧に、さらに所定の直流バイアス電圧が加算された電圧V5が印加される。この高周波電圧と直流電圧とに応じて通り抜け得る質量電荷比が決まる。 A voltage V5 obtained by adding a predetermined DC bias voltage to a voltage obtained by superimposing a high frequency voltage and a DC voltage is applied to each rod electrode of the quadrupole mass filter 50 from the fifth power supply unit 56 . The mass-to-charge ratio that can pass through is determined according to the high-frequency voltage and the DC voltage.

また、脱溶媒管42には第1電源部52から所定の直流バイアス電圧V1が印加される。第1イオンガイド44には第2電源部53から所定の高周波電圧に直流バイアス電圧を加算した電圧V2が印加される。第2イオンガイド47には第3電源部54から所定の高周波電圧に直流バイアス電圧を加算した電圧V3が印加される。また、プリロッド電極49には、第4電源部55から高周波電圧と直流電圧とを重畳した電圧に、さらに所定の直流バイアス電圧が加算された電圧V4が印加される。なお、実際にはそれ以外にスキマー45などにも直流バイアス電圧が印加されるが、記載が煩雑になるのを避けるため、ここでは代表的なもののみ記載している。 A predetermined DC bias voltage V1 is applied to the desolvation tube 42 from the first power supply section 52 . A voltage V2 obtained by adding a DC bias voltage to a predetermined high frequency voltage is applied to the first ion guide 44 from the second power supply unit 53 . A voltage V3 obtained by adding a DC bias voltage to a predetermined high frequency voltage is applied to the second ion guide 47 from the third power supply unit 54 . Further, to the pre-rod electrode 49, a voltage V4 obtained by adding a predetermined DC bias voltage to a voltage obtained by superimposing a high-frequency voltage and a DC voltage is applied from the fourth power supply unit 55. FIG. In practice, a DC bias voltage is also applied to the skimmer 45 and the like, but only typical ones are described here in order to avoid complication of description.

図3は、情報処理装置2の構成を概略的に示す図である。
図3を参照して、情報処理装置2は、装置全体を制御するためのCPU10と、プログラムおよびデータを格納する記憶部とを備えており、プログラムに従って動作するように構成される。記憶部は、ROM(Read Only Memory)12、RAM(Random Access Memory)14およびHDD(Hard Disk Drive)18を含む。
FIG. 3 is a diagram schematically showing the configuration of the information processing device 2. As shown in FIG.
Referring to FIG. 3, information processing apparatus 2 includes a CPU 10 for controlling the entire apparatus and a storage section for storing programs and data, and is configured to operate according to programs. The storage unit includes ROM (Read Only Memory) 12 , RAM (Random Access Memory) 14 and HDD (Hard Disk Drive) 18 .

ROM12は、CPU10にて実行されるプログラムを格納することができる。RAM14は、CPU10におけるプログラムの実行中に利用されるデータを一時的に格納することができ、作業領域として利用される一時的なデータメモリとして機能することができる。HDD18は、不揮発性の記憶装置であり、装置本体1による測定データおよび、情報処理装置2による分析結果など情報処理装置2で生成された情報を格納することができる。HDD18に加えて、あるいは、HDD18に代えて、フラッシュメモリなどの半導体記憶装置を採用してもよい。 The ROM 12 can store programs executed by the CPU 10 . The RAM 14 can temporarily store data used during program execution in the CPU 10, and can function as a temporary data memory used as a work area. The HDD 18 is a non-volatile storage device, and can store information generated by the information processing device 2 such as measurement data by the device main body 1 and analysis results by the information processing device 2 . In addition to the HDD 18 or instead of the HDD 18, a semiconductor memory device such as a flash memory may be employed.

情報処理装置2は、さらに、通信インターフェイス20、I/O(Input/Output)インターフェイス16、入力部22およびディスプレイ24を含む。通信インターフェイス20は、情報処理装置2が装置本体1およびサーバ4を含む外部機器と通信するためのインターフェイスである。 The information processing device 2 further includes a communication interface 20 , an I/O (Input/Output) interface 16 , an input section 22 and a display 24 . The communication interface 20 is an interface for the information processing device 2 to communicate with external devices including the device body 1 and the server 4 .

I/Oインターフェイス16は、情報処理装置2への入力または情報処理装置2からの出力のインターフェイスである。図3に示すように、I/Oインターフェイス16は、入力部22およびディスプレイ24に接続される。 The I/O interface 16 is an interface for input to the information processing device 2 or output from the information processing device 2 . As shown in FIG. 3, I/O interface 16 is connected to input 22 and display 24 .

入力部22は、測定者からの情報処理装置2に対する指示を含む入力を受け付ける。入力部22は、キーボード、マウスおよび、ディスプレイ24の表示画面と一体的に構成されたタッチパネルなどを含み、試料の測定条件などを受け付ける。 The input unit 22 receives input including instructions to the information processing device 2 from the subject. The input unit 22 includes a keyboard, a mouse, a touch panel integrated with the display screen of the display 24, and the like, and receives sample measurement conditions and the like.

ディスプレイ24は、測定条件を設定する際に、例えば測定条件の入力画面および装置本体1による測定データなどを表示することができる。 The display 24 can display, for example, a measurement condition input screen and measurement data by the device main body 1 when setting the measurement conditions.

図4は、サーバ4の構成を概略的に示す図である。
図4を参照して、サーバ4は、装置全体を制御するためのCPU68と、プログラムおよびデータを格納する記憶部とを備えており、プログラムに従って動作するように構成される。記憶部は、ROM72、RAM74、HDD78およびデータベース5を含む。
FIG. 4 is a diagram schematically showing the configuration of the server 4. As shown in FIG.
Referring to FIG. 4, server 4 includes a CPU 68 for controlling the entire device and a storage section for storing programs and data, and is configured to operate according to programs. The storage unit includes ROM 72 , RAM 74 , HDD 78 and database 5 .

ROM72は、CPU68にて実行されるプログラムを格納することができる。RAM74は、CPU68におけるプログラムの実行中に利用されるデータを一時的に格納することができ、作業領域として利用される一時的なデータメモリとして機能することができる。HDD78およびデータベース5は、不揮発性の記憶装置であり、情報処理装置2から送信された情報を格納することができる。 The ROM 72 can store programs executed by the CPU 68 . The RAM 74 can temporarily store data used during program execution in the CPU 68, and can function as a temporary data memory used as a work area. The HDD 78 and the database 5 are nonvolatile storage devices, and can store information transmitted from the information processing device 2 .

情報処理装置2は、さらに、通信インターフェイス75およびI/Oインターフェイス76を含む。通信インターフェイス75は、サーバ4が情報処理装置2を含む外部機器と通信するためのインターフェイスである。 Information processing device 2 further includes communication interface 75 and I/O interface 76 . The communication interface 75 is an interface for the server 4 to communicate with external devices including the information processing device 2 .

I/Oインターフェイス76は、サーバ4への入力またはサーバ4からの出力のインターフェイスである。I/Oインターフェイス76はデータベース5に接続される。データベース5は、サーバ4および情報処理装置2の間で送受信されるデータを蓄積するためのメモリである。 I/O interface 76 is an interface for input to or output from server 4 . I/O interface 76 is connected to database 5 . The database 5 is a memory for accumulating data transmitted and received between the server 4 and the information processing device 2 .

サーバ4は一般的なコンピュータに相当する機能を有して構成することができる。サーバ4は表示部および入力部をさらに含んでもよい。 The server 4 can be configured to have functions equivalent to those of a general computer. Server 4 may further include a display unit and an input unit.

<自動調整機能>
再び図2を参照して、分析装置ADである液体クロマトグラフ質量分析装置においては、質量電荷比の校正および質量分解能・分析感度の調整などを行なうために多くのパラメータが存在する。上記パラメータには、イオン化インターフェイス部、イオンガイド、四重極質量フィルタ50、イオントラップおよびイオン検出器51の各々への印加電圧などが含まれる。
<Automatic adjustment function>
Referring to FIG. 2 again, the liquid chromatograph mass spectrometer, which is the analyzer AD, has many parameters for calibrating the mass-to-charge ratio and adjusting the mass resolution and analytical sensitivity. The parameters include voltages applied to each of the ionization interface, ion guide, quadrupole mass filter 50, ion trap and ion detector 51, and the like.

質量電荷比の校正および装置調整では、一般的に、成分および濃度が既知である標準試料を質量分析することによりマススペクトルを取得しながら、そのスペクトルに現れているピークが適切な位置に来るように、かつ、ピーク強度ができるだけ高くかつ半値幅が狭くなるように、各種パラメータを最適な値に調整する。近年では、このような各種パラメータの調整を自動的に行なう自動調整機能(オートチューニング)が装置に備わっていることが多い。例えばひと月に一度程度の頻度で自動調整を定期的に実行することにより、質量分解能および分析感度を常に高いレベルに保つことができる。 Calibration of the mass-to-charge ratio and adjustment of the instrument generally involves obtaining a mass spectrum by performing mass spectrometry on a standard sample with known components and concentrations, while ensuring that the peaks appearing in the spectrum are positioned appropriately. In addition, various parameters are adjusted to optimum values so that the peak intensity is as high as possible and the half-value width is as narrow as possible. In recent years, many apparatuses are provided with an automatic adjustment function (auto-tuning) for automatically adjusting such various parameters. For example, by performing automatic adjustment periodically, such as once a month, it is possible to maintain high levels of mass resolution and analytical sensitivity at all times.

ここで、液体クロマトグラフ質量分析装置において、高い質量分解能および分析感度を実現するためには、イオン化室40内(または脱溶媒管42、第1中間真空室43)で生成されたイオンのうち、分析対象であるイオンが出来るだけ高い効率で四重極質量フィルタ50に導入されることが必要である。そのためには、上述した各イオン輸送光学素子におけるイオン通過効率をそれぞれ最大にする必要がある。 Here, in order to achieve high mass resolution and analytical sensitivity in the liquid chromatograph mass spectrometer, among the ions generated in the ionization chamber 40 (or the desolvation tube 42, the first intermediate vacuum chamber 43), It is necessary that the ions to be analyzed are introduced into the quadrupole mass filter 50 with as high an efficiency as possible. For this purpose, it is necessary to maximize the ion passage efficiency in each of the ion transport optical elements described above.

その一例として、イオン化室40から第2中間真空室46に入射するまでのイオンの輸送効率に着目すると、イオンの輸送効率を出来るだけ高くするためには、第1電源部52から脱溶媒管42に印加される直流バイアス電圧V1と第2電源部53から第2イオンガイド47に印加される直流バイアス電圧V2とを、通過するイオンの質量電荷比に応じて適切に設定することが重要となる。そのため、自動調整機能の一環として、各箇所への印加電圧の調整を自動的に行なう自動電圧調整が実行される。以下、自動電圧調整を実行するときの分析装置ADの動作について説明する。 As an example, focusing on the transport efficiency of ions from the ionization chamber 40 to the second intermediate vacuum chamber 46, in order to maximize the transport efficiency of the ions, It is important to appropriately set the DC bias voltage V1 applied to and the DC bias voltage V2 applied from the second power supply unit 53 to the second ion guide 47 according to the mass-to-charge ratio of passing ions. . Therefore, as part of the automatic adjustment function, automatic voltage adjustment is performed to automatically adjust the voltage applied to each location. The operation of the analyzer AD when performing automatic voltage adjustment will be described below.

図5は、自動電圧調整を実行するときの処理手順を説明するためのフローチャートである。 FIG. 5 is a flowchart for explaining a processing procedure when executing automatic voltage adjustment.

図5を参照して、まず、ステップS01にて、オペレータは、入力部22により所定操作を行ない、SIM(選択イオンモニタリング)測定の分析条件と電圧調整実行条件とを設定する。SIM測定分析条件とは、例えば、SIM測定の対象となる1または複数の質量電荷比(m/z値)、装置各部の温度などである。 Referring to FIG. 5, first, in step S01, the operator performs a predetermined operation using the input unit 22 to set analysis conditions for SIM (selective ion monitoring) measurement and voltage adjustment execution conditions. SIM measurement analysis conditions include, for example, one or more mass-to-charge ratios (m/z values) to be subjected to SIM measurement, the temperature of each part of the device, and the like.

電圧調整実行条件を設定するために、オペレータは、入力部22で所定操作を行ない、図6に示す設定画面70をディスプレイ24の表示画面に表示する。オペレータは、入力部22により、電圧最適化を行なう対象(イオン輸送光学系)の種類、電圧値の調整範囲と電圧ステップ数、最適値を判断するために使用するデータの種類などを設定する。図6の例では、最適化の対象はQアレイ(第1イオンガイド44)へ印加される直流電圧であり、電圧値の調整範囲は0~80[V]であり、電圧ステップ数は5であり、最適値の計算にはクロマトグラムピークの高さまたは面積を使用する。 In order to set the voltage adjustment execution condition, the operator performs a predetermined operation on the input unit 22 to display the setting screen 70 shown in FIG. The operator uses the input unit 22 to set the type of voltage optimization target (ion transport optical system), the voltage value adjustment range and voltage step number, the type of data used to determine the optimum value, and the like. In the example of FIG. 6, the optimization target is the DC voltage applied to the Q array (first ion guide 44), the voltage value adjustment range is 0 to 80 [V], and the number of voltage steps is 5. Yes, use the height or area of the chromatogram peak to calculate the optimal value.

図6の設定画面70において必要な条件およびパラメータを設定した後、オペレータが「開始」ボタン71をクリック操作すると、中央制御部64は、ステップS02にて、電圧最適化のための電圧調整動作を開始する。最初に、ステップS03により、ステップS01で設定された各種条件およびパラメータに基づいて、分析を実行するための分析メソッドファイルを作成する。次に、ステップS04により、分析制御部62は、作成された分析メソッドファイルに従って、実際の測定を実行する。 After setting the necessary conditions and parameters on the setting screen 70 of FIG. 6, when the operator clicks the "start" button 71, the central control unit 64 performs a voltage adjustment operation for voltage optimization in step S02. Start. First, in step S03, an analysis method file for executing analysis is created based on the various conditions and parameters set in step S01. Next, in step S04, the analysis control section 62 performs actual measurement according to the created analysis method file.

ここで、第2イオンガイド47へ印加する直流電圧を0~50[V]の範囲で10[V]ステップで変化させる場合を想定する。SIM測定の対象のm/z値がM1,M2,M3の3つであるとする。 Here, it is assumed that the DC voltage applied to the second ion guide 47 is changed in steps of 10 [V] within the range of 0 to 50 [V]. Assume that there are three m/z values M1, M2, and M3 for SIM measurement.

この場合、最初に、m/z=M1に対し、V1=0,10,20,30,40,50[V]の順に変化させ、調整用試料導入部35に用意された調整用試料に対する測定を実行する。あるいは、印加電圧をV1=0に固定した状態で、m/z=M1,M2,M3の順番に変更して測定を行ない、その測定終了後に、V1=10[V]に変更して同様の測定を繰り返すようにしてもよい。いずれにおいても、設定されたすべてのm/z値と印加電圧との組み合わせについて、同一の調整用試料に対する測定を実行すればよい。 In this case, first, m/z=M1 is changed in the order of V1=0, 10, 20, 30, 40, 50 [V], and the adjustment sample prepared in the adjustment sample introduction part 35 is measured. to run. Alternatively, while the applied voltage is fixed at V1=0, m/z is changed in the order of M1, M2, and M3 to perform measurement, and after the measurement is completed, V1 is changed to 10 [V] and similar Measurements may be repeated. In any case, the same adjustment sample may be measured for all combinations of m/z values and applied voltages that have been set.

調整用試料は、調整用試料導入部35から移動相に乗ってMS部1Bに導入される。調整用試料は、分析装置ADの製造メーカなどが用意した標準試料であり、既知の成分を既知の濃度を含む。ただし、調整用試料は分析装置ADのユーザが用意した目的試料(通常は成分が既知である試料)であってもよい。 The adjustment sample is introduced into the MS section 1B from the adjustment sample introduction section 35 along with the mobile phase. The sample for adjustment is a standard sample prepared by the manufacturer of the analyzer AD or the like, and contains known components and known concentrations. However, the sample for adjustment may be a target sample prepared by the user of the analyzer AD (normally, a sample whose components are known).

ステップS04における調整用試料の測定中、データ処理部60は、ステップS05により、分析装置ADの内部動作についてのログ(以下、「動作ログ」とも称する)を収集する。データ処理部60は、収集した動作ログを情報処理装置2内部のHDD40(図2参照)に保存する。本願明細書において「動作ログ」は、分析条件および/または動作条件に基づいて分析装置ADの内部(情報処理装置2)で発行された動作命令を示す情報と、この動作命令に応答して実際に分析装置AD(装置本体1)が行なった動作内容を示す情報とを含んでいる。HDD40に保存された動作ログは、後述するように、自動電圧調整の実行中に異常が検知された場合において異常解析に用いることができる。 During the measurement of the adjustment sample in step S04, the data processing unit 60 collects a log of the internal operation of the analyzer AD (hereinafter also referred to as "operation log") in step S05. The data processing unit 60 saves the collected operation log in the HDD 40 (see FIG. 2) inside the information processing apparatus 2 . In the specification of the present application, the "operation log" means information indicating an operation command issued inside the analysis device AD (information processing device 2) based on analysis conditions and/or operation conditions, and an actual log in response to this operation command. contains information indicating the contents of the operation performed by the analyzer AD (apparatus main body 1). The operation log saved in the HDD 40 can be used for abnormality analysis when an abnormality is detected during execution of automatic voltage adjustment, as will be described later.

データ処理部60は、イオン検出器51からの検出信号に基づいて、着目するm/z値における信号強度の時間的変化を示すクロマトグラムを作成する。次に、データ処理部60は、作成したクロマトグラムおけるピークを検出し、例えばピークの面積を計算する。各m/z値および各印加電圧についてクロマトグラムが作成され、ピークの面積値が得られる。データ処理部60は、ステップS06にて、同一のm/z値に対して印加電圧を変化させたときに得られる面積値を比較し、面積値が最大となる印加電圧を、最適電圧値と定めることができる。 Based on the detection signal from the ion detector 51, the data processing unit 60 creates a chromatogram showing the temporal change in signal intensity at the m/z value of interest. Next, the data processing unit 60 detects peaks in the created chromatogram and calculates, for example, peak areas. A chromatogram is generated for each m/z value and each applied voltage and the peak area values are obtained. In step S06, the data processing unit 60 compares the area values obtained when the applied voltage is changed with respect to the same m/z value, and determines the applied voltage that maximizes the area value as the optimum voltage value. can be determined.

次に、ステップS07にて、データ処理部60は、図7に示す最適化結果画面80をディスプレイ24の表示画面に表示する。最適化結果画面80は、信号強度と印加電圧との関係を示すグラフ81を含む。グラフ81の縦軸はピーク面積値であり、横軸は電圧値である。最適化結果画面80には、各電圧値に対して得られたクロマトグラム82も含まれる。また、自動的に定められた最適電圧値83(図7の例では40.0V)も含まれる。 Next, in step S<b>07 , the data processing unit 60 displays the optimization result screen 80 shown in FIG. 7 on the display screen of the display 24 . The optimization result screen 80 includes a graph 81 showing the relationship between signal strength and applied voltage. The vertical axis of the graph 81 is the peak area value, and the horizontal axis is the voltage value. The optimization results screen 80 also includes the chromatograms 82 obtained for each voltage value. Also included is an automatically determined optimal voltage value 83 (40.0 V in the example of FIG. 7).

オペレータは、ステップS08にて、図7の最適化結果画面80でグラフ81およびクロマトグラム82の形状などを確認し、最適電圧値83が適当であるか否かを判定する。図7の例では、グラフ81のカーブは、最適電圧値40Vをピークとして低電圧側および高電圧側に面積値が裾状に広がっている。また、クロマトグラム82の波形の形状は乱れがなく、電圧値によらず比較的相似している。これらのことから、最適電圧値が適当であると判断できる。最適電圧値が適当であれば(S08のYES判定時)、オペレータが最適化結果画面80に含まれる「メソッドに適用」ボタン84をクリック操作すると、ステップS09にて、中央制御部64はこの操作を受けて最適電圧値を確定し、これをSIM測定の分析条件に反映させる。 In step S08, the operator checks the shape of the graph 81 and the chromatogram 82 on the optimization result screen 80 of FIG. 7, and determines whether or not the optimum voltage value 83 is appropriate. In the example of FIG. 7, the curve of the graph 81 peaks at the optimum voltage value of 40 V, and the area value spreads to the low voltage side and the high voltage side in a skirt shape. Also, the waveforms of the chromatogram 82 have no disturbance and are relatively similar regardless of the voltage value. From these facts, it can be determined that the optimum voltage value is appropriate. If the optimum voltage value is appropriate (when determined as YES in S08), when the operator clicks the "apply to method" button 84 included in the optimization result screen 80, the central control unit 64 performs this operation in step S09. is received, the optimum voltage value is determined, and this is reflected in the analysis conditions for SIM measurement.

これに対して、最適電圧値が適当でない場合(S08のNO判定時)、オペレータが最適化結果画面80に含まれる「非適用」ボタン85をクリック操作する。例えば、図8に示すように、最適化結果画面80に示されたグラフ81において、2つのピークが存在している場合、または、ピークの面積値が、標準試料に対する想定値から大きくずれている場合には、最適電圧値が適当でないと判定する。あるいは、各電圧値に対して得られたクロマトグラム82のうち少なくとも1つにおいて波形の形状が歪んでいる場合には、最適電圧値が適当でないと判定する。このように最適電圧値が適当でない場合には、装置本体1の内部で何らかの異常が発生している可能性があると検知することができる。 On the other hand, if the optimum voltage value is not appropriate (NO determination in S08), the operator clicks the "non-apply" button 85 included in the optimization result screen 80. FIG. For example, as shown in FIG. 8, in the graph 81 shown on the optimization result screen 80, if there are two peaks, or if the peak area value deviates significantly from the assumed value for the standard sample If so, it is determined that the optimum voltage value is not appropriate. Alternatively, if the shape of the waveform is distorted in at least one of the chromatograms 82 obtained for each voltage value, it is determined that the optimum voltage value is not appropriate. If the optimum voltage value is not appropriate as described above, it can be detected that there is a possibility that some kind of abnormality has occurred inside the apparatus main body 1 .

なお、ステップS08における最適電圧値が適当か否かの判定は、オペレータが行なう構成に代えて、情報処理装置2が行なう構成としてもよい。これによると、オペレータの負担を軽減できるとともに、オペレータの経験や熟練度などの影響を受けずに適切に判定することができる。中央制御部64は、最適電圧値が適当であると判定した場合には、自動的に最適電圧値を確定し、これをSIM測定の分析条件に反映させる。一方、最適電圧値が適当でないと判定した場合には、中央制御部64は、自動電圧調整が正常に実行できないこと、および、装置本体1に異常発生の可能性があることを、ディスプレイ24の表示画面その他の報知手段を用いてオペレータに知らせることができる。 The determination of whether or not the optimum voltage value is appropriate in step S08 may be performed by the information processing apparatus 2 instead of being performed by the operator. According to this, the burden on the operator can be reduced, and the determination can be made appropriately without being affected by the operator's experience, skill level, or the like. When the central control unit 64 determines that the optimum voltage value is appropriate, it automatically determines the optimum voltage value and reflects it in the analysis conditions for SIM measurement. On the other hand, when it is determined that the optimum voltage value is not appropriate, the central control unit 64 displays on the display 24 that the automatic voltage adjustment cannot be performed normally and that there is a possibility that an abnormality has occurred in the apparatus body 1. The operator can be notified using a display screen or other notification means.

最適電圧値が適当でない場合(S08のNO判定時)、ステップS10にて、中央制御部64はこの操作を受けて、HDD40に保存されている動作ログを、インターネット3を経由してサーバ4へ送信する。具体的には、HDD40に保存されている動作ログのうち、今回の自動電圧調整に関連する動作ログが抽出されてサーバ4へ送信される。 If the optimum voltage value is not appropriate (NO determination in S08), in step S10, the central control unit 64 receives this operation and sends the operation log saved in the HDD 40 to the server 4 via the Internet 3. Send. Specifically, among the operation logs stored in HDD 40 , an operation log related to the current automatic voltage adjustment is extracted and transmitted to server 4 .

サーバ4は、ステップS21にて、インターネット3を経由して分析装置ADの情報処理装置2から送信された動作ログを受信すると、受信した動作ログをデータベース5に格納する。図9にデータベース5の構成例を示す。図9を参照して、データベース5には、サーバ4に通信接続されるN台の分析装置AD1~ADN(図1参照)の各々の動作ログが保存されている。動作ログは、分析装置ADごとに1つのファイルに格納されている。各ファイルに格納されている動作ログは、対応する分析装置ADにおいて異常が検知されたときの分析装置ADの内部動作を示している。 When the server 4 receives the operation log transmitted from the information processing device 2 of the analysis device AD via the Internet 3 in step S21, the server 4 stores the received operation log in the database 5. FIG. FIG. 9 shows a configuration example of the database 5. As shown in FIG. 9, database 5 stores operation logs of each of N analyzers AD1 to ADN (see FIG. 1) communicatively connected to server 4. FIG. The operation log is stored in one file for each analyzer AD. The operation log stored in each file indicates the internal operation of the analysis device AD when an abnormality is detected in the corresponding analysis device AD.

分析システム100を管理する管理センター(例えば、分析装置ADの装置メーカ等によって運営されるサポートセンター)では、異常が検知された分析装置ADに対応する動作ログをデータベース5から読み出し、この読み出した動作ログを用いて、分析装置ADの異常を解析することができる。 A management center that manages the analysis system 100 (for example, a support center operated by a device manufacturer of the analyzer AD) reads the operation log corresponding to the analyzer AD in which an abnormality has been detected from the database 5, and reads the read operation. The log can be used to analyze anomalies in the analyzer AD.

上述したように、動作ログは、情報処理装置2で発行された動作命令と、この動作命令に応答して実際に装置本体1が行なった動作内容を示す情報とを含んでいる。したがって、動作命令と実際の動作内容とを照らし合わせることにより、動作命令に違背した誤った動作を検出することができる。そして、検出された誤動作の内容から、誤動作を引き起こした故障箇所、当該故障箇所の故障の内容、および故障の原因などを特定することが可能となる。 As described above, the operation log includes the operation command issued by the information processing device 2 and the information indicating the details of the operation actually performed by the device body 1 in response to this operation command. Therefore, by comparing the action command with the actual action content, an erroneous action violating the action command can be detected. Then, it is possible to identify the location of the malfunction that caused the malfunction, the content of the failure at the location of the malfunction, the cause of the failure, and the like from the content of the detected malfunction.

図5に戻って、サーバ4は、ステップS22にて、動作ログを用いて分析装置ADの異常解析が行なわれると、ステップS23に進み、異常解析の結果を、インターネット3を経由して分析装置ADの情報処理装置2に送信する。情報処理装置2は、ステップS11にて、サーバ4から送信される異常解析結果を受け付けると、受け付けた異常解析結果をディスプレイ24の表示画面に表示する。オペレータまたは分析装置ADのユーザは、異常解析結果に基づいて、故障箇所の修理または部品交換を依頼するなどの対応をとることができる。サーバ4は「解析部」の一実施例に対応する。 Returning to FIG. 5, in step S22, when the server 4 analyzes the abnormality of the analyzer AD using the operation log, the process proceeds to step S23 to transmit the result of the abnormality analysis to the analyzer AD via the Internet 3. It is transmitted to the information processing device 2 of AD. In step S<b>11 , when the information processing apparatus 2 receives the abnormality analysis result transmitted from the server 4 , the received abnormality analysis result is displayed on the display screen of the display 24 . The operator or the user of the analysis device AD can take measures such as requesting repair of the failure location or replacement of parts based on the result of the abnormality analysis. The server 4 corresponds to one embodiment of the "analyzer".

なお、上述した実施の形態では、データベース5に蓄積されている動作ログを用いて異常解析が行なわれる構成について説明したが、情報処理装置2のHDD40に蓄積されている動作ログを読み出して異常解析を行なう構成とすることも可能である。 In the above-described embodiment, the configuration in which the operation log accumulated in the database 5 is used for abnormality analysis has been described. It is also possible to configure to perform

<動作ログ>
次に、図10から図12を用いて、動作ログの構成例を説明する。
<Operation log>
Next, a configuration example of an operation log will be described with reference to FIGS. 10 to 12. FIG.

(構成例1)
図10は、動作ログの第1構成例を示す図である。図10を参照して、第1構成例では、動作ログは、テキストファイルの形式を有している。動作ログは、情報処理装置2で発行された動作命令(Command)と、この動作命令に応答して装置本体1が実際に行なった動作内容(Response)とを含む。図7の例では、動作命令を示す文字列200,202と、動作内容を示す文字列201,203とが示されている。
(Configuration example 1)
FIG. 10 is a diagram showing a first configuration example of an operation log. Referring to FIG. 10, in the first configuration example, the operation log has a text file format. The operation log includes an operation instruction (Command) issued by the information processing apparatus 2 and the operation content (Response) actually performed by the apparatus body 1 in response to this operation instruction. In the example of FIG. 7, character strings 200 and 202 indicating action commands and character strings 201 and 203 indicating action details are shown.

これらの文字列は時系列に並べられている。文字列200~203は、複数のコードで表現されたメッセージ部分110を有している。図10の例では、複数のコードの各々は、数桁の数字で構成されている。動作命令を示す文字列200,202において、各コードは、動作命令の出力先、動作命令の内容などの情報を表している。動作内容を示す文字列201,203において、各コードは、動作の内容などの情報を表している。 These strings are arranged in chronological order. Strings 200-203 have a message portion 110 expressed in multiple codes. In the example of FIG. 10, each of the multiple codes is composed of several digits. In the character strings 200 and 202 indicating action commands, each code represents information such as the output destination of the action command and the content of the action command. In the character strings 201 and 203 indicating the action content, each code represents information such as action content.

上述した電圧調整動作の場合、動作命令を示す文字列200,202には、SIM測定の分析条件や電圧調整実行条件(例えば、電圧値の調整範囲と電圧ステップ数を示す情報)が含まれる。動作内容を示す文字列201,203には、実際の印加電圧値およびイオン検出器51の検出信号などが含まれる。文字列201,203には、さらに、各電圧値に対して得られたクロマトグラムが含まれる。 In the case of the voltage adjustment operation described above, the character strings 200 and 202 indicating the operation command include SIM measurement analysis conditions and voltage adjustment execution conditions (for example, information indicating the adjustment range of the voltage value and the number of voltage steps). The character strings 201 and 203 indicating the operation content include the actual applied voltage value, the detection signal of the ion detector 51, and the like. Strings 201, 203 also contain the chromatograms obtained for each voltage value.

図10に示すように、動作ログにおいて、動作命令を示す文字列200と、この動作命令に応答した動作内容を示す文字列201とは、一対一に対応付けられている。また、動作命令を示す文字列202と、この動作命令に応答した動作内容を示す文字列204とは、一対一に対応付けられている。このように動作命令を示す文字列とその動作命令に応答した動作内容を示す文字列とを一組として記憶することで、異常解析の担当者は、動作命令と実際の動作内容とを容易に照らし合わせることができるため、動作命令に違背した誤った動作を検出しやすくなる。その結果、異常解析を効率的に行なうことが可能となる。 As shown in FIG. 10, in the action log, a character string 200 indicating an action command and a character string 201 indicating action contents in response to the action command are associated one-to-one. Also, the character string 202 indicating the action command and the character string 204 indicating the content of the action in response to the action command are associated one-to-one. By storing a set of character strings indicating operation instructions and character strings indicating operation details in response to the operation instructions in this way, the person in charge of anomaly analysis can easily identify the operation instructions and the actual operation details. Since it can be collated, it becomes easy to detect an erroneous operation that violates the operation instruction. As a result, it becomes possible to efficiently perform abnormality analysis.

なお、動作命令を示す文字列200,202の先頭部分には[Command]というタグ101が付され、動作を示す文字列201,203の先頭部分には[Response]というタグ101が付されている。各文字列にタグ101を付けることで、動作命令を示す情報と動作内容を示す情報とを容易に識別することができる。 Note that the character strings 200 and 202 indicating action commands are tagged with a tag 101 of [Command], and the character strings 201 and 203 indicating actions are tagged with a tag 101 of [Response]. . By attaching a tag 101 to each character string, it is possible to easily distinguish between the information indicating the action command and the information indicating the content of the action.

(構成例2)
図11は、動作ログの第2構成例を示す図である。図11を参照して、第2構成例は、図7に示した第1構成例と比較して、分析装置AD(装置本体1)の動作の目的を示す文字列204を付加したものである。
(Configuration example 2)
FIG. 11 is a diagram showing a second configuration example of the operation log. Referring to FIG. 11, the second configuration example is different from the first configuration example shown in FIG. 7 in that a character string 204 indicating the purpose of the operation of the analyzer AD (apparatus main body 1) is added. .

分析装置ADの自動調整機能では、上述した電圧調整動作の他に、各部の感度調整および分解能調整などが所定の手順に従って順番に実行される。そのため、動作ログにおいても、自動調整機能のどの段階(フェーズ)を実行しているかを明確にすることが必要となる。図8の例では、文字列204は、自動調整のフェーズ(Phase)を示すメッセージ部分112を有している。これによると、どのような調整を目的として分析装置ADを動作させたのかが明確になる。 In the automatic adjustment function of the analyzer AD, in addition to the voltage adjustment operation described above, the sensitivity adjustment and resolution adjustment of each section are sequentially performed according to a predetermined procedure. Therefore, even in the operation log, it is necessary to clarify which phase of the automatic adjustment function is being executed. In the example of FIG. 8, the character string 204 has a message portion 112 indicating the phase of automatic adjustment. According to this, it becomes clear for what kind of adjustment the analyzer AD is operated.

また、文字列204の先頭部分には[Phase]というタグ102が付されている。タグ102を付けることで、異常解析の担当者はフェーズを示す文字列であることを容易に認識することができる。 A tag 102 of [Phase] is attached to the beginning of the character string 204 . By attaching the tag 102, the person in charge of anomaly analysis can easily recognize that the character string indicates the phase.

(構成例3)
図12は、動作ログの第3構成例を示す図である。図12を参照して、第3構成例は、図8に示した第2構成例と比較して、装置本体1の動作に基づいて情報処理装置2により導出された結果(Result)を示す文字列205をさらに付加したものである。
(Configuration example 3)
FIG. 12 is a diagram showing a third configuration example of the operation log. Referring to FIG. 12, in the third configuration example, compared with the second configuration example shown in FIG. Column 205 is added.

上述した電圧調整動作の場合、文字列205には、データ処理部60によって設定された最適電圧値を示す情報が含まれる。図示は省略するが、文字列205には、調整フェーズごとに、設定された各種パラメータを示す情報を含めることができる。これによると、動作命令に応答した動作と、この動作に基づいて設定されたパラメータとが対応付けて示されているため、異常解析の担当者は異常解析をより効率的に行なうことができる。 In the voltage adjustment operation described above, the character string 205 includes information indicating the optimum voltage value set by the data processing unit 60 . Although illustration is omitted, the character string 205 can include information indicating various parameters set for each adjustment phase. According to this, the operation in response to the operation command and the parameters set based on this operation are shown in association with each other, so that the person in charge of abnormality analysis can perform the abnormality analysis more efficiently.

また、文字列205の先頭部分には[Result]というタグ103が付されている。タグ103を付けることで、解析担当者は、結果を示す文字列であることを容易に認識することができる。 A tag 103 of [Result] is added to the beginning of the character string 205 . By attaching the tag 103, the person in charge of analysis can easily recognize that the character string indicates the result.

<動作ログの活用例>
上述した実施の形態では、動作ログを分析装置ADの異常解析に用いる構成について説明したが、以下に説明するように、分析装置ADの異常予兆診断、および分析装置ADの分析精度保証などにも動作ログを活用することができる。
<Example of using operation log>
In the above-described embodiment, the configuration in which the operation log is used for abnormality analysis of the analyzer AD has been described. Operation logs can be utilized.

(1)異常予兆診断
分析装置ADの異常予兆診断では、自動調整時において収集される動作ログを用いて、分析装置ADの異常予兆の有無を診断する。本実施の形態では、分析装置ADが正常に稼働しているときに収集された動作ログを基準の動作ログとして記憶しておき、新たに収集された動作ログと基準の動作ログとに基づいて、分析装置ADの異常の予兆の有無を診断するものとする。
(1) Abnormality predictor diagnosis In the abnormality predictor diagnosis of the analyzer AD, the presence or absence of an abnormality predictor of the analyzer AD is diagnosed using the operation log collected during automatic adjustment. In the present embodiment, an operation log collected when the analyzer AD is operating normally is stored as a reference operation log, and based on the newly collected operation log and the reference operation log, , the presence or absence of a sign of abnormality in the analyzer AD.

図13は、自動電圧調整および異常予兆診断を実行するときの処理手順を説明するためのフローチャートである。図13に示すフローチャートは、図5に示すフローチャートと比較して、動作ログを送信する処理(ステップS10)のタイミング、およびサーバ4が異常予兆診断処理(ステップS22A)を実行する点が異なる。 FIG. 13 is a flowchart for explaining a processing procedure when executing automatic voltage adjustment and abnormality predictive diagnosis. The flowchart shown in FIG. 13 differs from the flowchart shown in FIG. 5 in that the timing of the operation log transmission process (step S10) and the server 4 executing the abnormality predictor diagnosis process (step S22A).

具体的には、図13を参照して、分析装置ADは、図5と同じステップS01~S06の処理を実行することによって電圧調整動作を実行し、かつ、電圧調整動作の実行中の動作ログを収集し、収集した動作ログを情報処理装置2内部のHDD40(図2参照)に保存する。 Specifically, referring to FIG. 13, analyzer AD executes the voltage adjustment operation by executing the same steps S01 to S06 as in FIG. are collected, and the collected operation logs are stored in the HDD 40 (see FIG. 2) inside the information processing apparatus 2 .

分析装置ADは、ステップS06にて最適電圧値を決定すると、ステップS10に進み、HDD40に保存されている動作ログを、インターネット3を経由してサーバ4へ送信する。具体的には、HDD40に保存されている動作ログのうち、今回の自動電圧調整に関連する動作ログが抽出されてサーバ4へ送信される。 After determining the optimum voltage value in step S<b>06 , the analyzer AD proceeds to step S<b>10 and transmits the operation log stored in the HDD 40 to the server 4 via the Internet 3 . Specifically, among the operation logs stored in HDD 40 , an operation log related to the current automatic voltage adjustment is extracted and transmitted to server 4 .

図13のフローチャートでは、電圧調整動作が実行される毎に、そのときの動作ログがサーバ4へ送信される。これによると、例えばひと月に一度程度の頻度で定期的に自動電圧調整が実行される場合、動作ログも定期的にサーバ4へ送信されることになる。 In the flowchart of FIG. 13, the operation log at that time is transmitted to the server 4 each time the voltage adjustment operation is performed. According to this, when the automatic voltage adjustment is periodically executed, for example, once a month, the operation log is also periodically transmitted to the server 4 .

サーバ4では、ステップS21にて、インターネット3を経由して分析装置ADの情報処理装置2から送信された動作ログを受信すると、受信した動作ログをデータベース5に格納する(図9参照)。 When the server 4 receives the operation log transmitted from the information processing device 2 of the analysis device AD via the Internet 3 in step S21, the received operation log is stored in the database 5 (see FIG. 9).

ステップS22Aにて、分析システム100を管理する管理センターでは、分析装置ADに対応する動作ログをデータベース5から読み出し、この読み出した動作ログを用いて、分析装置ADの異常予兆診断を実行することができる。具体的には、分析担当者は、予めデータベース5に記憶されている基準の動作ログと、今回新たに取得された動作ログとの間で、同じ動作命令(Command)に応答して実行された動作(Response)の内容を比較する。これら2つの動作ログの間で動作内容が一致している場合、異常予兆が無いと診断することができる。 In step S22A, the management center that manages the analysis system 100 reads out the operation log corresponding to the analysis device AD from the database 5, and uses the read operation log to execute the abnormality predictive diagnosis of the analysis device AD. can. Specifically, the person in charge of analysis can compare the reference operation log stored in advance in the database 5 and the operation log newly acquired this time to the same operation command (Command) executed in response to the operation log. Compare the contents of the action (Response). If the operation contents match between these two operation logs, it can be diagnosed that there is no sign of abnormality.

一方、動作内容が一致していない場合には、異常予兆が有りと診断することができる。例えば、基準の動作ログと今回の動作ログとの間で、ある電圧値に対して得られたクロマトグラム形状を比較する。基準の動作ログでは見られないクロマトグラムの波形の乱れが、今回の動作ログにおいて出現している場合には、異常予兆が有りと診断することができる。 On the other hand, if the operation contents do not match, it can be diagnosed that there is an anomaly sign. For example, the chromatogram shapes obtained for a certain voltage value are compared between the reference operation log and the current operation log. If a disturbance in the chromatogram waveform that is not seen in the reference operation log appears in the current operation log, it can be diagnosed that there is an anomaly sign.

分析装置ADに発生する異常は、主に、分析装置ADの使用を重ねることで試料が各部の表面に付着する、表面が酸化する、物理的配置にずれが生じるなどの要因によって劣化が生じることによって起こり得る。上述した異常予兆診断を行なうことによって、異常を予兆の段階で早期に検知することができる。そして、ステップS23Aにて、異常予兆が検知されたことをサーバ4から分析装置ADのユーザに知らせることにより、劣化している部品の交換などを推奨することができる。この結果、分析装置ADにおける異常の発生を未然に防止することができる。サーバ4は「診断部」の一実施例に対応する。 Anomalies that occur in the analyzer AD are mainly caused by factors such as the sample adhering to the surface of each part due to repeated use of the analyzer AD, the surface being oxidized, and the physical arrangement being deviated. can occur due to By performing the above-described abnormality predictive diagnosis, an abnormality can be detected early at the symptom stage. Then, in step S23A, the server 4 notifies the user of the analysis device AD of the detection of the sign of abnormality, thereby recommending replacement of deteriorated parts. As a result, it is possible to prevent an abnormality from occurring in the analyzer AD. The server 4 corresponds to one embodiment of a "diagnostic unit".

なお、上述した実施の形態では、1つの分析装置ADについて予め記憶されている基準の動作ログと新たに収集された動作ログとを比較した結果に基づいて異常予兆の有無を診断する構成について説明したが、サーバ4に通信接続されている複数の分析装置ADにおいてそれぞれ収集された複数の動作ログを互いに比較することで、異常予兆の有無を診断する構成とすることができる。 In the above-described embodiment, a configuration for diagnosing the presence or absence of an anomaly sign based on the result of comparing a reference operation log stored in advance for one analyzer AD and a newly collected operation log will be described. However, by comparing a plurality of operation logs respectively collected in a plurality of analysis devices AD connected to the server 4, it is possible to diagnose the presence or absence of an anomaly sign.

(2)分析精度保証
分析装置ADの分析精度保証では、自動調整時において収集される動作ログを用いて、分析装置ADの分析精度を保証するための校正を実行する。
(2) Assurance of Analysis Accuracy In the analysis accuracy assurance of the analyzer AD, the operation log collected during automatic adjustment is used to perform calibration for assuring the analysis accuracy of the analyzer AD.

図14は、第1イオンガイド44(図2参照)へ印加される高周波電圧の電圧値とイオン検出器51で検出される信号強度(ここでは規格化されたイオン強度)との関係を、複数の質量電荷比において実測した結果を示す図である。図15は、図14の実測結果に基づいて得られた、質量電荷比と最適電圧値(最大イオン強度を与える電圧値)との関係を示す図である。 FIG. 14 shows the relationship between the voltage value of the high-frequency voltage applied to the first ion guide 44 (see FIG. 2) and the signal intensity (here, normalized ion intensity) detected by the ion detector 51. is a diagram showing the results of actual measurements at the mass-to-charge ratio of . FIG. 15 is a diagram showing the relationship between the mass-to-charge ratio and the optimum voltage value (the voltage value that gives the maximum ion intensity) obtained based on the actual measurement results of FIG.

図14を参照して、高周波電圧の電圧値の変化に対する信号強度の変化は略山型のピークを示すが、質量電荷比が大きいほど最適電圧値は高くなり、また、ピークの幅は質量電荷比が大きいほど広くなっていることが分かる。 Referring to FIG. 14, the change in signal intensity with respect to the change in the voltage value of the high-frequency voltage shows a substantially mountain-shaped peak. It can be seen that the larger the ratio, the wider the area.

また、図15の結果から、質量電荷比と最適電圧値とは比例関係を有することが分かる。図15では質量電荷比と最適電圧値との関係が直線で近似されている。図15中に示した直線を表す関係式は、初期的には分析装置ADの装置メーカが実測結果に基づいて算出することができる。なお、関係式を示すデータの代わりに、質量電荷比と最適電圧値との関係を示すテーブルを作成してもよい。 Also, from the results of FIG. 15, it can be seen that there is a proportional relationship between the mass-to-charge ratio and the optimum voltage value. In FIG. 15, the relationship between the mass-to-charge ratio and the optimum voltage value is approximated by a straight line. The relational expression representing the straight line shown in FIG. 15 can be initially calculated by the manufacturer of the analyzer AD based on the actual measurement results. A table showing the relationship between the mass-to-charge ratio and the optimum voltage value may be created instead of the data showing the relational expression.

しかしながら、例えば第1イオンガイド44の汚れを除去する等の目的で分析装置ADの分解および再組立が行なわれた場合や、第1イオンガイド44が新品に交換された場合などには、電極板の配置等がわずかに変化するために、上記関係式が変化する可能性がある。そのような場合のために、定期的に上記関係式を新たに求めるための処理が実行される。この処理に、自動調整時に収集される動作ログが用いられる。 However, for example, when the analysis device AD is disassembled and reassembled for the purpose of removing dirt from the first ion guide 44, or when the first ion guide 44 is replaced with a new one, the electrode plate The above relational expression may change due to a slight change in the arrangement of . For such a case, a process for newly obtaining the above relational expression is periodically executed. An operation log collected during automatic adjustment is used for this process.

具体的には、第1イオンガイド44へ印加される高周波電圧の電圧値が変化するごとに、データ処理部60は、複数の質量電荷比において信号強度データを取得し、取得した信号強度データに基づいて信号強度が最大となる電圧値を最適電圧値として算出する。データ処理部60は、実測結果に基づいて得られた質量電荷比と最適電圧値との関係を、動作ログとして収集してHDD40に保存する。情報処理装置2は、HDD40に保存されている動作ログを、インターネット3を経由してサーバ4へ送信する。 Specifically, every time the voltage value of the high-frequency voltage applied to the first ion guide 44 changes, the data processing unit 60 acquires signal intensity data at a plurality of mass-to-charge ratios, and uses the acquired signal intensity data as The voltage value at which the signal intensity is maximized is calculated as the optimum voltage value. The data processing unit 60 collects the relationship between the mass-to-charge ratio and the optimum voltage value obtained based on the actual measurement results as an operation log and stores it in the HDD 40 . The information processing device 2 transmits the operation log stored in the HDD 40 to the server 4 via the Internet 3 .

サーバ4は、インターネット3を経由して分析装置ADの情報処理装置2から送信された動作ログを受信すると、受信した動作ログをデータベース5に格納する(図9参照)。分析システム100を管理する管理センターでは、分析装置ADに対応する動作ログをデータベース5から読み出し、この読み出した動作ログを用いて関係式を算出する。 When the server 4 receives the operation log transmitted from the information processing device 2 of the analysis device AD via the Internet 3, the received operation log is stored in the database 5 (see FIG. 9). The management center that manages the analysis system 100 reads the operation log corresponding to the analysis device AD from the database 5 and calculates the relational expression using this read operation log.

関係式を算出するにあたり、サーバ4は、動作ログに含まれる質量電荷比と最適電圧値とが比例関係を有しているか否かを判定する。質量電荷比と最適電圧値との関係を示す複数の測定点に、図15の直線から大きく外れて存在している測定点が含まれている場合がある。この要因としては、図14に示す信号強度のピークの形状が山型から崩れたことで、最適電圧値が正しく検出されなかったことが考えられる。このような測定点を用いると、正しい関係式を得ることができなくなることが懸念される。 In calculating the relational expression, the server 4 determines whether or not the mass-to-charge ratio and the optimum voltage value included in the operation log have a proportional relationship. A plurality of measurement points indicating the relationship between the mass-to-charge ratio and the optimum voltage value may include measurement points that are greatly deviated from the straight line in FIG. As a factor for this, it is conceivable that the shape of the peak of the signal intensity shown in FIG. 14 was broken from the mountain shape, and the optimum voltage value was not detected correctly. If such measurement points are used, there is a concern that a correct relational expression cannot be obtained.

そこで、サーバ4では、動作ログから得られる複数の測定点から適当でない測定点を除外して関係式を算出することとする。このようにすると、正しい関係式を得ることができるため、分析装置ADの分析精度を保証することができる。 Therefore, the server 4 calculates the relational expression by excluding inappropriate measurement points from the plurality of measurement points obtained from the operation log. By doing so, a correct relational expression can be obtained, so that the analysis accuracy of the analyzer AD can be guaranteed.

図16は、自動電圧調整および分析装置の校正を実行するときの処理手順を説明するためのフローチャートである。図16に示すフローチャートは、図5に示すフローチャートと比較して、動作ログを送信する処理(ステップS10)のタイミング、およびサーバ4が分析装置ADの関係式(またはテーブル)を作成する処理(ステップS22B)を実行する点が異なる。 FIG. 16 is a flow chart for explaining a processing procedure when executing automatic voltage adjustment and calibration of the analyzer. The flowchart shown in FIG. 16 differs from the flowchart shown in FIG. 5 in that the timing of the operation log transmission process (step S10) and the process of the server 4 creating the relational expression (or table) of the analyzer AD (step S22B) is executed.

具体的には、図16を参照して、分析装置ADは、図5と同じステップS01~S06の処理を実行することによって電圧調整動作を実行し、かつ、電圧調整動作の実行中の動作ログを収集し、収集した動作ログを情報処理装置2内部のHDD40(図2参照)に保存する。 Specifically, referring to FIG. 16, analyzer AD executes the voltage adjustment operation by executing the same steps S01 to S06 as in FIG. are collected, and the collected operation logs are stored in the HDD 40 (see FIG. 2) inside the information processing apparatus 2 .

分析装置ADは、ステップS05にて動作ログを収集してHDD40に保存すると、ステップS10に進み、HDD40に保存されている動作ログを、インターネット3を経由してサーバ4へ送信する。 After collecting the operation log and storing it in the HDD 40 in step S<b>05 , the analysis apparatus AD proceeds to step S<b>10 and transmits the operation log stored in the HDD 40 to the server 4 via the Internet 3 .

図16のフローチャートでは、ステップS22Bにて、電圧調整動作が実行される毎に送信される動作ログを用いて分析装置ADの校正が実行される。具体的には、サーバ4は、ステップS21にて、インターネット3を経由して分析装置ADの情報処理装置2から送信された動作ログを受信すると、受信した動作ログをデータベース5に格納する(図9参照)。 In the flowchart of FIG. 16, in step S22B, the analyzer AD is calibrated using the operation log transmitted each time the voltage adjustment operation is performed. Specifically, when the server 4 receives the operation log transmitted from the information processing device 2 of the analysis device AD via the Internet 3 in step S21, the server 4 stores the received operation log in the database 5 (Fig. 9).

サーバ4は、ステップS22Bにて、分析装置ADに対応する動作ログをデータベース5から読み出し、この読み出した動作ログを用いて、質量電荷比と最適電圧値との関係を示す関係式またはテーブルを作成する。このとき、サーバ4は、動作ログから得られる複数の測定点から適当でない測定点を除外して関係式またはテーブルを算出する。サーバ4は、ステップS23Bにより、作成された関係式またはテーブルを分析装置ADに送信する。分析装置ADは、ステップS11Bにて関係式またはテーブルを受信すると、HDD40に保存する。 In step S22B, the server 4 reads the operation log corresponding to the analyzer AD from the database 5, and uses this read operation log to create a relational expression or table indicating the relationship between the mass-to-charge ratio and the optimum voltage value. do. At this time, the server 4 calculates a relational expression or table by excluding inappropriate measurement points from the plurality of measurement points obtained from the operation log. Server 4 transmits the created relational expression or table to analysis device AD in step S23B. When the analysis device AD receives the relational expression or table in step S11B, it stores it in the HDD 40 .

なお、本実施の形態では、分析装置として液体クロマトグラフ質量分析装置を例示して説明したが、分析装置は液体クロマトグラフ質量分析装置以外であっても、試料の分析を行なう装置であって、サーバとの間でデータを遣り取りする機能を有する分析装置を適用することが可能である。 In the present embodiment, a liquid chromatograph mass spectrometer has been exemplified as an analysis device, but the analysis device is a device that analyzes a sample even if it is not a liquid chromatograph mass spectrometer, It is possible to apply an analysis device having a function of exchanging data with a server.

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。 It should be considered that the embodiments disclosed this time are illustrative in all respects and not restrictive. The scope of the present invention is indicated by the scope of the claims rather than the above description, and is intended to include all modifications within the meaning and range of equivalents of the scope of the claims.

1 装置本体、2 情報処理装置、3 インターネット、4 サーバ、5 データベース、10,68 CPU、12,72 ROM、14,74 RAM、16,76 I/Oインターフェイス、20,75 通信インターフェイス、22 入力部、24 ディスプレイ、30 移動相容器、31 液ポンプ、32 インジェクタ、33 カラム、34 バルブ、35 調整用試料導入部、40 イオン化室、42 脱溶媒管、44 第1イオンガイド、45 スキマー、46 第2中間真空室、47 第2イオンガイド、48 分析室、49 プリロッド電極、50 質量フィルタ、52 第1電源部、53 第2電源部、54 第3電源部、55 第4電源部、56 第5電源部、60 データ処理部、62 分析制御部、64 中央制御部、70 設定画面、71,84,85 ボタン、80 最適化結果画面、81 グラフ、82 クロマトグラム、100 分析システム、101,102,103 タグ、110,112 メッセージ部分、200~205 文字列、AD,AD1~ADN 分析装置。 1 device body, 2 information processing device, 3 Internet, 4 server, 5 database, 10, 68 CPU, 12, 72 ROM, 14, 74 RAM, 16, 76 I/O interface, 20, 75 communication interface, 22 input unit , 24 display, 30 mobile phase container, 31 liquid pump, 32 injector, 33 column, 34 valve, 35 adjustment sample introduction part, 40 ionization chamber, 42 desolvation tube, 44 first ion guide, 45 skimmer, 46 second second Intermediate vacuum chamber 47 Second ion guide 48 Analysis chamber 49 Pre-rod electrode 50 Mass filter 52 First power supply unit 53 Second power supply unit 54 Third power supply unit 55 Fourth power supply unit 56 Fifth power supply Section 60 Data Processing Section 62 Analysis Control Section 64 Central Control Section 70 Setting Screen 71, 84, 85 Buttons 80 Optimization Result Screen 81 Graph 82 Chromatogram 100 Analysis System 101, 102, 103 Tag, 110, 112 Message part, 200-205 String, AD, AD1-ADN Analyzer.

Claims (11)

試料の分析を行なう装置本体と、
前記装置本体の動作を制御する情報処理装置とを備え、
前記情報処理装置は、前記装置本体の内部動作を示す動作ログを収集するように構成され、
前記動作ログでは、分析条件および/または動作条件に基づいて前記情報処理装置により発行された動作命令を示す情報と、前記動作命令に応答して前記装置本体が実行した動作内容を示す情報とが一対一に対応付けられており、
前記動作ログは、前記装置本体の動作の目的を示す情報をさらに含む、分析装置。
a device body for analyzing a sample;
An information processing device that controls the operation of the device main body,
The information processing device is configured to collect operation logs indicating internal operations of the device main body,
The operation log contains information indicating an operation instruction issued by the information processing apparatus based on analysis conditions and/or operation conditions, and information indicating operation details executed by the apparatus main body in response to the operation instruction. are associated one-to-one ,
The analysis device , wherein the operation log further includes information indicating the purpose of the operation of the device main body .
前記動作ログにおいて、前記動作命令を示す情報には当該情報が前記動作命令に関することを示すタグが付され、前記動作内容を示す情報には当該情報が前記動作内容に関することを示すタグが付されている、請求項1に記載の分析装置。 In the action log, the information indicating the action command is tagged to indicate that the information relates to the action command, and the information indicating the content of the action is tagged to indicate that the information relates to the content of the action. 2. The analytical device of claim 1, wherein 前記動作ログは、前記装置本体の動作に基づいて前記情報処理装置が導出した結果を示す情報をさらに含む、請求項1または2に記載の分析装置。 3. The analysis device according to claim 1, wherein said operation log further includes information indicating a result derived by said information processing device based on the operation of said device main body. 試料の分析を行なう装置本体と、
前記装置本体の動作を制御する情報処理装置とを備え、
前記情報処理装置は、前記装置本体の内部動作を示す動作ログを収集するように構成され、
前記動作ログでは、分析条件および/または動作条件に基づいて前記情報処理装置により発行された動作命令を示す情報と、前記動作命令に応答して前記装置本体が実行した動作内容を示す情報とが一対一に対応付けられており、
前記動作ログは、前記装置本体の動作に基づいて前記情報処理装置が導出した結果を示す情報をさらに含む、分析装置。
a device body for analyzing a sample;
An information processing device that controls the operation of the device main body,
The information processing device is configured to collect operation logs indicating internal operations of the device main body,
The operation log contains information indicating an operation instruction issued by the information processing apparatus based on analysis conditions and/or operation conditions, and information indicating operation details executed by the apparatus main body in response to the operation instruction. are associated one-to-one,
The analysis device, wherein the operation log further includes information indicating a result derived by the information processing device based on the operation of the device main body.
請求項1から4のいずれか1項に記載の分析装置と、
前記分析装置と通信接続されるサーバとを備え、
前記分析装置は、収集した前記動作ログを前記サーバへ送信するように構成され、
前記サーバは、前記動作ログを保存するための記憶部を有する、分析システム。
The analyzer according to any one of claims 1 to 4;
A server connected for communication with the analysis device,
The analysis device is configured to transmit the collected operation log to the server;
The analysis system, wherein the server has a storage unit for storing the operation log.
前記分析装置は、前記分析装置の異常が検知されたときの前記動作ログを前記サーバへ送信するように構成され、
前記記憶部に保存された前記動作ログを用いて、前記分析装置の異常解析が実行される、請求項5に記載の分析システム。
The analysis device is configured to transmit to the server the operation log when an abnormality of the analysis device is detected,
6. The analysis system according to claim 5, wherein an abnormality analysis of said analysis device is performed using said operation log saved in said storage unit.
前記分析装置は、前記動作ログを定期的に前記サーバへ送信するように構成され、
前記記憶部に保存された前記動作ログを用いて、前記分析装置の異常予兆の有無が診断される、請求項5に記載の分析システム。
The analysis device is configured to periodically transmit the operation log to the server;
6. The analysis system according to claim 5, wherein the operation log stored in the storage unit is used to diagnose whether or not there is an anomaly sign of the analysis device.
前記分析装置は、前記動作ログを定期的に前記サーバへ送信するように構成され、
前記記憶部に保存された前記動作ログを用いて、前記分析装置の分析精度を保証するための校正が実行される、請求項5に記載の分析システム。
The analysis device is configured to periodically transmit the operation log to the server;
6. The analysis system according to claim 5, wherein the operation log stored in the storage unit is used to perform calibration for ensuring analysis accuracy of the analysis device.
分析装置と、
前記分析装置の異常解析を実行するための解析部とを備え、
前記分析装置は、
試料の分析を行なう装置本体と、
前記装置本体の動作を制御する情報処理装置とを含み、
前記情報処理装置は、前記装置本体の内部動作を示す動作ログを収集するように構成され、
前記動作ログでは、分析条件および/または動作条件に基づいて前記情報処理装置により発行された動作命令を示す情報と、前記動作命令に応答して前記装置本体が実行した動作内容を示す情報とが一対一に対応付けられており、
前記動作ログは、前記装置本体の動作の目的を示す情報および前記装置本体の動作に基づいて前記情報処理装置が導出した結果を示す情報の少なくとも一方をさらに含み、
前記解析部は、前記分析装置の異常が検知されたときの前記動作ログに基づいて、前記分析装置の異常解析を実行する、分析システム。
an analyzer;
an analysis unit for executing abnormality analysis of the analysis device,
The analysis device is
a device body for analyzing a sample;
an information processing device that controls the operation of the device main body,
The information processing device is configured to collect operation logs indicating internal operations of the device main body,
The operation log contains information indicating an operation instruction issued by the information processing apparatus based on analysis conditions and/or operation conditions, and information indicating operation details executed by the apparatus main body in response to the operation instruction. are associated one-to-one,
The operation log further includes at least one of information indicating the purpose of the operation of the device main body and information indicating the result derived by the information processing device based on the operation of the device main body,
The analysis system according to claim 1, wherein the analysis unit analyzes the abnormality of the analysis device based on the operation log when the abnormality of the analysis device is detected.
分析装置と、
前記分析装置の異常予兆を診断するための診断部とを備え、
前記分析装置は、
試料の分析を行なう装置本体と、
前記装置本体の動作を制御する情報処理装置とを含み、
前記情報処理装置は、前記装置本体の内部動作を示す動作ログを収集するように構成され、
前記動作ログでは、分析条件および/または動作条件に基づいて前記情報処理装置により発行された動作命令を示す情報と、前記動作命令に応答して前記装置本体が実行した動作内容を示す情報とが一対一に対応付けられており、
前記動作ログは、前記装置本体の動作の目的を示す情報および前記装置本体の動作に基づいて前記情報処理装置が導出した結果を示す情報の少なくとも一方をさらに含み、
前記診断部は、前記動作ログに基づいて、前記分析装置の異常予兆の有無を診断する、分析システム。
an analyzer;
a diagnostic unit for diagnosing an abnormality sign of the analyzer,
The analysis device is
a device body for analyzing a sample;
an information processing device that controls the operation of the device main body,
The information processing device is configured to collect operation logs indicating internal operations of the device main body,
The operation log contains information indicating an operation instruction issued by the information processing apparatus based on analysis conditions and/or operation conditions, and information indicating operation details executed by the apparatus main body in response to the operation instruction. are associated one-to-one,
The operation log further includes at least one of information indicating the purpose of the operation of the device main body and information indicating the result derived by the information processing device based on the operation of the device main body,
The analysis system, wherein the diagnosis unit diagnoses whether or not there is a sign of abnormality in the analysis device based on the operation log.
分析装置と、
前記分析装置と通信接続されるサーバとを備え、
前記分析装置は、
試料の分析を行なう装置本体と、
前記装置本体の動作を制御する情報処理装置とを含み、
前記情報処理装置は、前記装置本体の内部動作を示す動作ログを収集するように構成され、
前記動作ログでは、分析条件および/または動作条件に基づいて前記情報処理装置により発行された動作命令を示す情報と、前記動作命令に応答して前記装置本体が実行した動作内容を示す情報とが一対一に対応付けられており、
前記分析装置は、収集した前記動作ログを定期的に前記サーバへ送信するように構成され、
前記サーバは、前記動作ログを保存するための記憶部を有し、
前記記憶部に保存された前記動作ログを用いて、前記分析装置の分析精度を保証するための校正が実行される、分析システム。
an analyzer;
A server connected for communication with the analysis device,
The analysis device is
a device body for analyzing a sample;
an information processing device that controls the operation of the device main body,
The information processing device is configured to collect operation logs indicating internal operations of the device main body,
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The server has a storage unit for saving the operation log,
An analysis system in which calibration for ensuring analysis accuracy of the analysis device is performed using the operation log saved in the storage unit.
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