JP7118141B2 - 光送信モジュールの調整検査システム、光送信モジュールの調整検査方法、および光送信モジュールの製造方法 - Google Patents
光送信モジュールの調整検査システム、光送信モジュールの調整検査方法、および光送信モジュールの製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7118141B2 JP7118141B2 JP2020518222A JP2020518222A JP7118141B2 JP 7118141 B2 JP7118141 B2 JP 7118141B2 JP 2020518222 A JP2020518222 A JP 2020518222A JP 2020518222 A JP2020518222 A JP 2020518222A JP 7118141 B2 JP7118141 B2 JP 7118141B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transmission module
- optical transmission
- optical
- light
- dynamic characteristic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/50—Transmitters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
図1から図4は、実施の形態1による光送信モジュールの調整検査システムの構成を示すブロック図である。図1は全体構成を示し、図1の全体構成のうち、図2は計算機100の詳細構成を、図3は光送信モジュール200を含む調整・検査対象の詳細構成を、図4は測定系の詳細構成を示している。ここで、光送信モジュール200は、電界吸収型変調器と分布帰還型半導体レーザーを集積した電界吸収型変調器集積型半導体レーザーを基本構成とするものを想定している。
図11は、実施の形態2による光送信モジュールの調整検査システムの計算機の構成を示すブロック図であり、実施の形態1の図2に相当するブロック図である。光送信モジュールの調整検査システムの全体構成は図1と同じである。本実施の形態2による光送信モジュールの調整検査システムでは、実施の形態1にアイパターン近似関数演算部107および動特性測定条件更新部118が追加されている。アイパターン近似関数演算部107では、伝送波形データを用いてカーブフィッティングを行い、アイパターン近似関数のパラメータを求める。動特性測定条件更新部118では、動特性データと検査規格の差異を減少させるように、動特性測定条件を更新する。
Claims (12)
- 半導体レーザーが搭載され変調された光を出力する光送信モジュールを動作させる動作条件を調整し、当該光送信モジュールが出力する光の強度、光の波長、および光の伝送特性を含む光出力特性を検査する光送信モジュールの調整検査システムであって、
前記光送信モジュールが出力する光の強度を測定する光パワーメータと、
前記光送信モジュールが出力する光の波長を測定する光波長計と、
前記光送信モジュールが出力する変調された光の伝送特性データを取得する光オシロスコープと、
前記光送信モジュールを動作させるための、電流および温度を含む動作パラメータの動作条件を設定し、設定された動作条件で前記光送信モジュールを動作させたときの、前記光出力特性を前記光パワーメータ、前記光波長計および前記光オシロスコープから取得して測定する計算機とを備え、
前記計算機は、
光出力を変調しないときの前記光送信モジュールの前記光出力特性のうちの前記光の強度および前記光の波長の特性である静特性を測定する静特性測定部と、
測定された前記静特性に基づいて、前記動作パラメータを変数として、前記光の強度を近似する光出力強度近似関数を求める光出力強度近似関数演算部と、
測定された前記静特性に基づいて、前記動作パラメータを変数として、前記光の波長を近似する波長近似関数を求める波長近似関数演算部と、
前記光出力特性のうち前記光の強度および前記光の波長の特性を評価するための、前記光出力強度近似関数および前記波長近似関数を用いた、前記動作パラメータを変数とする評価関数の値と、この評価関数に対応して目標として設定された目標値との残差を求めて、最適化計算により前記残差が最小となる前記動作パラメータの値を求め、求めた動作パラメータの値を、光出力を変調したときの前記光送信モジュールの前記光出力特性のうちの前記光の強度および前記光の波長の特性に加えて前記光の伝送特性を含む特性である動特性を測定するための動特性測定条件として出力する最適化演算部と、
前記動特性測定条件により前記動特性を測定する動特性測定部と、
を備えたことを特徴とする光送信モジュールの調整検査システム。 - 調整検査対象の光送信モジュールを駆動する駆動電源と、
前記光送信モジュールに搭載された半導体レーザーの温度を制御する温度制御装置と、をさらに備え、
前記計算機は、前記駆動電源および前記温度制御装置に対して前記光送信モジュールを動作させるための動作パラメータの動作条件を設定することを特徴とする請求項1に記載の光送信モジュールの調整検査システム。 - 前記目標値は、前記光出力特性のうちの前記光の強度および前記光の波長の特性が満足すべき特性として設定された検査規格に基づいて設定されることを特徴とする請求項1または2に記載の光送信モジュールの調整検査システム。
- 前記動特性測定部において測定された前記動特性が、満足すべき動特性として設定された動特性の検査規格を満たしているかどうかを判定し、判定結果を出力するとともに、前記動特性の検査規格を満たしている場合は、当該動特性測定条件を、前記光送信モジュールを動作させる動作条件として出力する検査規格判定部を備えたことを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の光送信モジュールの調整検査システム。
- 前記検査規格判定部において前記光送信モジュールが前記動特性の検査規格を満たしていないと判定した場合に、更新された動特性測定条件を求める動特性測定条件更新部を備え、
この動特性測定条件更新部は、
前記動特性を測定した結果のうち、前記伝送特性データのうちの伝送波形データであるアイパターンを近似するアイパターン近似関数を求めるアイパターン近似関数演算部と、
前回の前記動特性測定条件を初期値として、前記光出力特性のうち前記光の強度および前記光の波長の特性を評価するための、前記光出力強度近似関数および前記波長近似関数を用いた、前記動作パラメータを変数とする評価関数の値に加えて、前記伝送特性を評価するための、前記アイパターン近似関数を用いたアイパターン評価値を含む動特性データと、この動特性に対応して満足すべき特性として設定された目標値との残差を求めて、当該残差が最小となる前記動作パラメータの値を探索し、探索した結果の動作パラメータの値を動特性測定条件として出力する測定条件更新部とを備え、
前記動特性測定部では、前記動特性測定条件更新部において出力された動特性測定条件により前記動特性を測定し、さらに前記検査規格判定部の動作を実行することを特徴とする請求項4に記載の光送信モジュールの調整検査システム。 - 前記光送信モジュールは、前記光出力の変調を行う電界吸収型変調器を備え、前記動作パラメータは、前記半導体レーザーの電流と温度、および前記電界吸収型変調器への印加電圧であることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の光送信モジュールの調整検査システム。
- 半導体レーザーが搭載され変調された光を出力する光送信モジュールを動作させるための、電流および温度を含む動作パラメータの動作条件を調整し、当該光送信モジュールが出力する光の強度、光の波長、および光の伝送特性を含む光出力特性を検査する光送信モジュールの調整検査方法であって、
調整検査対象の光送信モジュールを変調しないで動作させたときの前記光出力特性のうちの前記光の強度および前記光の波長の特性である静特性を測定する静特性測定プロセスと、
測定された前記静特性に基づいて、前記動作パラメータを変数として、光出力の強度を近似する光出力強度近似関数を求める光出力強度近似関数演算プロセスと、
測定された前記静特性に基づいて、前記動作パラメータを変数として、光出力の波長を近似する波長近似関数を求める波長近似関数演算プロセスと、
前記光出力特性のうち前記光の強度および前記光の波長を評価するための、前記光出力強度近似関数および前記波長近似関数を用いた、前記動作パラメータを変数とする評価関数の値と、この評価関数に対応して目標として設定された目標値との残差を求めて、最適化計算により前記残差が最小となる前記動作パラメータを求め、求めた動作パラメータを、前記光送信モジュールの光出力を変調して動作させたときの、前記光出力特性のうちの前記光の強度および前記光の波長の特性に加えて前記光の伝送特性を含む特性である動特性を測定するための動作条件である動特性測定条件として出力する最適化演算プロセスと、
前記動特性測定条件により前記動特性を測定する動特性測定プロセスと
を備えたことを特徴とする光送信モジュールの調整検査方法。 - 前記目標値は、前記光出力特性のうちの前記光の強度および前記光の波長の特性が満足すべき特性として設定された検査規格に基づいて設定されることを特徴とする請求項7に記載の光送信モジュールの調整検査方法。
- 前記動特性測定プロセスにおいて測定された動特性が、満足すべき動特性として設定された動特性の検査規格を満たしているかどうかを判定し、判定結果を出力するとともに、前記動特性の検査規格を満たしている場合は、当該動特性測定条件を、前記光送信モジュールを動作させる動作条件として出力する検査規格判定プロセスを備えたことを特徴とする請求項7または8に記載の光送信モジュールの調整検査方法。
- 前記検査規格判定プロセスにおいて前記光送信モジュールが前記動特性の検査規格を満たしていないと判定した場合に実行する動特性測定条件更新プロセスを備え、
この動特性測定条件更新プロセスは、
前記動特性を測定した結果のうち、伝送波形データであるアイパターンを近似するアイパターン近似関数を求めるアイパターン近似関数演算プロセスと、
前回の前記動特性測定条件を初期値として、前記光出力特性のうち前記光の強度および前記光の波長の特性を評価するための、前記光出力強度近似関数、および前記波長近似関数を用いた、前記動作パラメータを変数とする評価関数の値に加えて、前記光の伝送特性を評価するための、前記アイパターン近似関数を用いた前記アイパターンの評価値を含む動特性のデータと、この動特性に対応して満足すべき特性として設定された目標値との残差を求めて、当該残差が最小となる動特性測定条件を探索する測定条件更新プロセスとを備え、
前記動特性測定プロセスでは、前記動特性測定条件更新プロセスにおいて探索された動特性測定条件により前記動特性を測定し、前記検査規格判定プロセスを実行することを特徴とする請求項9に記載の光送信モジュールの調整検査方法。 - 前記調整検査対象の光送信モジュールは、光出力の変調を行う電界吸収型変調器を備え、前記動作パラメータは、前記半導体レーザーの電流と温度、および前記電界吸収型変調器への印加電圧であることを特徴とする請求項7から10のいずれか1項に記載の光送信モジュールの調整検査方法。
- 光送信モジュールの製造方法であって、
請求項7から11のいずれか1項の光送信モジュールの調整検査方法により、製造する光送信モジュールの調整検査を行うプロセスを有することを特徴とする光送信モジュールの製造方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018090319 | 2018-05-09 | ||
JP2018090319 | 2018-05-09 | ||
PCT/JP2019/016566 WO2019216150A1 (ja) | 2018-05-09 | 2019-04-18 | 光送信モジュールの調整検査システム、光送信モジュールの調整検査方法、および光送信モジュールの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2019216150A1 JPWO2019216150A1 (ja) | 2021-01-14 |
JP7118141B2 true JP7118141B2 (ja) | 2022-08-15 |
Family
ID=68468075
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020518222A Active JP7118141B2 (ja) | 2018-05-09 | 2019-04-18 | 光送信モジュールの調整検査システム、光送信モジュールの調整検査方法、および光送信モジュールの製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7118141B2 (ja) |
WO (1) | WO2019216150A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11790033B2 (en) | 2020-09-16 | 2023-10-17 | International Business Machines Corporation | Accelerated Quasi-Newton methods on analog crossbar hardware |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002152139A (ja) | 2000-11-15 | 2002-05-24 | Hitachi Ltd | 光送信機 |
JP2003163639A (ja) | 2001-11-27 | 2003-06-06 | Hitachi Ltd | 光送信機 |
JP2003224326A (ja) | 2002-01-30 | 2003-08-08 | Ntt Electornics Corp | レーザダイオード制御用半導体集積回路および光送信モジュールならびに光出力設定方法 |
US20030174746A1 (en) | 2002-03-16 | 2003-09-18 | Roberto Lano | System for controlling power, wavelength and extinction ratio in optical sources, and computer program product therefor |
US20050111502A1 (en) | 2003-11-20 | 2005-05-26 | Jyung-Chan Lee | Method for automatically revising wavelength of electro-absorption modulator integrated laser diode |
WO2006048944A1 (ja) | 2004-11-08 | 2006-05-11 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | 光送信機および光通信システム |
US20060182157A1 (en) | 2005-02-15 | 2006-08-17 | Lucent Technologies, Inc. | Laser wavelength control arrangement and method |
WO2006098094A1 (ja) | 2005-03-16 | 2006-09-21 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | 光通信用光源部及びその波長監視制御方法 |
WO2008111223A1 (ja) | 2007-03-15 | 2008-09-18 | Fujitsu Limited | 光送信器 |
US20150318919A1 (en) | 2014-05-01 | 2015-11-05 | Mellanox Technologies Denmark Aps | Method of calculating transmitter and dispersion penalty for predicting optical data link and signal quality |
-
2019
- 2019-04-18 JP JP2020518222A patent/JP7118141B2/ja active Active
- 2019-04-18 WO PCT/JP2019/016566 patent/WO2019216150A1/ja active Application Filing
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002152139A (ja) | 2000-11-15 | 2002-05-24 | Hitachi Ltd | 光送信機 |
JP2003163639A (ja) | 2001-11-27 | 2003-06-06 | Hitachi Ltd | 光送信機 |
JP2003224326A (ja) | 2002-01-30 | 2003-08-08 | Ntt Electornics Corp | レーザダイオード制御用半導体集積回路および光送信モジュールならびに光出力設定方法 |
US20030174746A1 (en) | 2002-03-16 | 2003-09-18 | Roberto Lano | System for controlling power, wavelength and extinction ratio in optical sources, and computer program product therefor |
US20050111502A1 (en) | 2003-11-20 | 2005-05-26 | Jyung-Chan Lee | Method for automatically revising wavelength of electro-absorption modulator integrated laser diode |
WO2006048944A1 (ja) | 2004-11-08 | 2006-05-11 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | 光送信機および光通信システム |
US20060182157A1 (en) | 2005-02-15 | 2006-08-17 | Lucent Technologies, Inc. | Laser wavelength control arrangement and method |
WO2006098094A1 (ja) | 2005-03-16 | 2006-09-21 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | 光通信用光源部及びその波長監視制御方法 |
WO2008111223A1 (ja) | 2007-03-15 | 2008-09-18 | Fujitsu Limited | 光送信器 |
US20150318919A1 (en) | 2014-05-01 | 2015-11-05 | Mellanox Technologies Denmark Aps | Method of calculating transmitter and dispersion penalty for predicting optical data link and signal quality |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2019216150A1 (ja) | 2021-01-14 |
WO2019216150A1 (ja) | 2019-11-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA2496661C (en) | Light source control system | |
US11546055B2 (en) | Optical transceiver loopback eye scans | |
Bogaerts et al. | Design challenges in silicon photonics | |
CN101933256B (zh) | 光网络中的时延测量 | |
US20100220952A1 (en) | Monitoring of a laser source with front and rear output photodetectors to determine frontal laser power and power changes over laser lifetime | |
CN106233107B (zh) | 波形测量装置和脉冲光生成装置 | |
JP7118141B2 (ja) | 光送信モジュールの調整検査システム、光送信モジュールの調整検査方法、および光送信モジュールの製造方法 | |
KR102444723B1 (ko) | 하이브리드 자동 테스팅 장비를 사용하는 광학-전기 디바이스 | |
US10637566B2 (en) | Test equipment and process of evaluating optical modules | |
Latkowski et al. | Open standards for automation of testing of photonic integrated circuits | |
CN110057544A (zh) | 一种光电转换模块频率响应自动测量装置及方法 | |
Perez-Arancibia et al. | Observer-based intensity-feedback control for laser beam pointing and tracking | |
CN108535878A (zh) | 稳定量子光源的方法及稳定量子光源 | |
US20170059793A1 (en) | Method for aligning electro-optic device with optical fiber array with optical grating couplers | |
US20240063601A1 (en) | Multiple optoelectronic devices with thermal compensation | |
CN109477935A (zh) | 用于在处理分束光信号的设备中获得光测量的方法和装置 | |
Latkowski et al. | Test methods and processes in manufacturing chain of photonic integrated circuits | |
WO2021050526A1 (en) | Simultaneous measurements of gradients in optical networks | |
Rossetto | Programmable Integrated Photonic Circuits: automatic testing and calibration techniques | |
JP2015114373A (ja) | 多値光強度変調器 | |
Wang et al. | Design and compact modeling of silicon-photonic coupling-based ring modulators for optical interconnects | |
Slouka et al. | Laser diode PWM control and its consequences on optical characteristics | |
EP4249894A2 (en) | Optical measurement system with multiple launch sites | |
Wang | Modeling, Simulation, and Optimization of Variation-Aware Runtime-Reconfigurable Optical Interconnects | |
CN116840151A (zh) | 具有多个发射位点的光学测量系统 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200526 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200526 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210531 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210720 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210826 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220201 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220308 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220705 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220802 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 7118141 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |