JP7109937B2 - automatic analyzer - Google Patents

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  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

本発明の実施形態は、自動分析装置に関する。 Embodiments of the present invention relate to automated analyzers.

自動分析装置は、試料容器に収容される試料に含まれる、生化学検査項目、及び免疫検査項目等の検査項目に関する成分を測定するための装置である。自動分析装置では、試料容器に収容される試料は、サンプル分注プローブにより、反応管へ分注される。また、反応管へは、試薬分注プローブにより、試薬庫に収容される試薬が分注される。反応管において試料と試薬とは混合され、試料と試薬との混合液における所定の成分が光学的に測定される。このとき、自動分析装置では、測定の精度を保つために、用いられる試料及び試薬の量は厳密である必要がある。 An automatic analyzer is an apparatus for measuring components related to test items such as biochemical test items and immunological test items contained in a sample contained in a sample container. In an automatic analyzer, a sample contained in a sample container is dispensed into reaction tubes by a sample dispensing probe. In addition, the reagent stored in the reagent storage is dispensed into the reaction tube by the reagent dispensing probe. The sample and the reagent are mixed in the reaction tube, and a predetermined component in the mixed liquid of the sample and the reagent is optically measured. At this time, in order to maintain the accuracy of measurement, the amount of sample and reagent used must be precise in the automatic analyzer.

ところで、自動分析装置に対しては、1回の分析に用いる被検試料の量、例えば採血される血液の量を低減し、被検試料を提供する患者等の負担を軽減したいというニーズがある。また、1回の分析に用いる試薬の量を低減し、試薬コストの削減、及び、排水及び廃棄物等による環境汚染の軽減を実現したいというニーズがある。これらのニーズに応じて、近年自動分析装置で用いられる試料及び試薬の微量化が進んでいる。 By the way, there is a need for automatic analyzers to reduce the amount of test samples used in one analysis, for example, the amount of collected blood, and to reduce the burden on patients who provide test samples. . In addition, there is a need to reduce the amount of reagents used for one analysis, reduce reagent costs, and reduce environmental pollution caused by wastewater, waste, and the like. In response to these needs, in recent years, miniaturization of samples and reagents used in automatic analyzers has progressed.

上記試料及び試薬を吸引し、吐出する機構を構成するプローブ、及びチューブ等の部品、並びに、試料及び試薬を吸引し、吐出する際に用いられる圧力伝達媒体は、温度変化により膨張又は収縮するため、吸引し、吐出される試料及び試薬の量に誤差が生じる場合がある。特に、吸引、吐出動作中の圧力伝達媒体の体積変動は液量コントロールに影響を与える。この誤差を校正するために、温度センサ及び加熱ヒータ等を新たに設けてプローブ内を洗浄する圧力伝達媒体としての純水等の温度を制御する方法が提案されている。 Parts such as probes and tubes that make up the mechanism for aspirating and discharging the sample and reagent, and the pressure transmission medium used for aspirating and discharging the sample and reagent expand or contract due to changes in temperature. , there may be errors in the amount of sample and reagents aspirated and dispensed. In particular, volume fluctuations of the pressure transmission medium during suction and discharge operations affect liquid volume control. In order to calibrate this error, a method has been proposed in which a temperature sensor, a heater, and the like are newly provided to control the temperature of pure water or the like used as a pressure transmission medium for cleaning the inside of the probe.

特開2008-203009号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-203009

しかしながら、従来の自動分析装置においては、センシング及び計算等の能動的な温度制御が必要になり、装置構成を複雑化させるとともに、温度センサの誤差や、フィードバック制御の適正化不足等の要因によって装置内の大気の環境温度と純水等の温度との間に乖離が生じるおそれがある。 However, conventional automatic analyzers require active temperature control such as sensing and calculation, which complicates the configuration of the device. A discrepancy may occur between the environmental temperature of the internal atmosphere and the temperature of pure water or the like.

実施形態の目的は、従来に比して簡易且つ安価な構成で分注精度の低下を防ぐことにある。 An object of the embodiment is to prevent deterioration of dispensing accuracy with a simpler and cheaper configuration than the conventional one.

実施形態に係る自動分析装置は、液体タンク、第1のポンプ、分注プローブ、及び熱交換器を具備する。液体タンクは、第1の液体を貯留する。第1のポンプは、前記液体タンクから供給された前記第1の液体を加圧し、送出する。分注プローブは、前記第1のポンプから送出された前記第1の液体を圧力伝達媒体として用いる。熱交換器は、前記液体タンクと前記開閉弁とを接続する第2の流路の少なくとも一部において当該自動分析装置内の大気と前記第1の液体との間で熱交換を行う。 An automated analyzer according to an embodiment comprises a liquid tank, a first pump, a dispensing probe, and a heat exchanger. The liquid tank stores the first liquid. A first pump pressurizes and delivers the first liquid supplied from the liquid tank. The dispensing probe uses the first liquid delivered from the first pump as a pressure transmission medium. The heat exchanger exchanges heat between the atmosphere in the automatic analyzer and the first liquid in at least part of a second flow path connecting the liquid tank and the on-off valve.

図1は、実施形態に係る自動分析装置の機能構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing the functional configuration of the automatic analyzer according to the embodiment. 図2は、図1に示される分析機構の構成を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the analysis mechanism shown in FIG. 1; 図3は、図1に示される分析機構の構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing the configuration of the analysis mechanism shown in FIG. 1; 図4Aは、図2に示されるサンプル分注ユニットの構成を示すブロック図である。4A is a block diagram showing the configuration of the sample pipetting unit shown in FIG. 2. FIG. 図4Bは、図4Aに示される熱交換器の構成を示す図である。FIG. 4B is a diagram showing the configuration of the heat exchanger shown in FIG. 4A. 図5は、図2に示されるサンプル分注プローブ及びサンプル分注ユニットの各構成要素のうち断熱構造とする範囲を具体的に説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for specifically explaining the range of each component of the sample pipetting probe and the sample pipetting unit shown in FIG. 2 that has a heat insulating structure. 図6は、図4Aに示されるサンプル分注プローブ及びサンプル分注ユニットの内部の温度変化を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing temperature changes inside the sample pipetting probe and the sample pipetting unit shown in FIG. 4A. 図7は、他の実施形態に係る熱交換器の構成を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing the configuration of a heat exchanger according to another embodiment.

以下、実施の形態について、図面を参照して説明する。 Embodiments will be described below with reference to the drawings.

図1は、本実施形態に係る自動分析装置1の機能構成を示すブロック図である。図1に示される自動分析装置1は、分析機構2、解析回路3、駆動機構4、入力インタフェース5、ディスプレイ6、メモリ7、及び制御回路8を具備する。 FIG. 1 is a block diagram showing the functional configuration of an automatic analyzer 1 according to this embodiment. An automatic analyzer 1 shown in FIG.

分析機構2は、標準試料又は被検試料等の試料と、この試料に設定された各検査項目で用いられる試薬とを混合する。分析機構2は、試料と試薬との混合液を測定し、例えば吸光度で表される標準データ、及び被検データを生成する。 The analysis mechanism 2 mixes a sample, such as a standard sample or a test sample, with reagents used for each inspection item set for this sample. The analysis mechanism 2 measures a mixture of a sample and a reagent, and generates standard data and test data represented by, for example, absorbance.

解析回路3は、分析機構2により生成された標準データ、被検データに基づいて検量データ及び分析データ等を解析するプロセッサである。解析回路3は、メモリ7から動作プログラムを読み出し、動作プログラムに従って検量データ及び分析データ等を生成する。例えば、解析回路3は、標準データと、標準試料に予め設定された標準値との関係を示す検量データを生成する。また、解析回路3は、被検データと、この被検データに対応する検査項目の検量データとに基づいて、濃度値及び酵素の活性値として表される分析データを生成する。解析回路3は生成した検量データ及び分析データ等を制御回路8へ出力する。 The analysis circuit 3 is a processor that analyzes calibration data, analysis data, etc. based on the standard data and test data generated by the analysis mechanism 2 . The analysis circuit 3 reads an operation program from the memory 7 and generates calibration data, analysis data, etc. according to the operation program. For example, the analysis circuit 3 generates calibration data indicating the relationship between the standard data and standard values preset in the standard sample. Further, the analysis circuit 3 generates analysis data expressed as concentration values and enzyme activity values based on test data and calibration data of test items corresponding to the test data. The analysis circuit 3 outputs the generated calibration data, analysis data, etc. to the control circuit 8 .

駆動機構4は、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。駆動機構4は、制御回路8の制御に従い、分析機構2を駆動させる。 The drive mechanism 4 is implemented by gears, stepping motors, belt conveyors, lead screws, and the like. The drive mechanism 4 drives the analysis mechanism 2 under the control of the control circuit 8 .

入力インタフェース5は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。入力インタフェース5は、例えば、操作者から検査を行う検査対象の試料を識別する試料ID、この試料IDに対する検査項目、及び各検査項目の分析パラメータを受け付ける。入力インタフェース5は、制御回路8に接続され、操作者から入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路8へ出力する。なお、本明細書の各実施形態において入力インタフェース5はマウス及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置1とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路8へ出力する電気信号の処理回路も入力インタフェース5の例に含まれる。 The input interface 5 is implemented by, for example, a mouse, a keyboard, and a touch pad through which instructions are input by touching an operation surface. The input interface 5 receives, for example, a sample ID identifying a sample to be inspected, inspection items corresponding to this sample ID, and analysis parameters of each inspection item from an operator. The input interface 5 is connected to the control circuit 8 , converts an operation instruction input by an operator into an electrical signal, and outputs the electrical signal to the control circuit 8 . It should be noted that the input interface 5 in each embodiment of this specification is not limited to having physical operation parts such as a mouse and a keyboard. For example, an electrical signal processing circuit that receives an electrical signal corresponding to an operation instruction input from an external input device provided separately from the automatic analyzer 1 and outputs this electrical signal to the control circuit 8 is also an input interface. 5 examples.

ディスプレイ6は、例えばCRT(Cathdode-Ray Tube)ディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機EL(Electroluminescence)ディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等を含む。また、ディスプレイ6は、制御回路8に接続され、制御回路8から供給される信号を外部へ表示する。ディスプレイ6は、例えば制御回路8から供給される検量データ及び分析データを表示する。 The display 6 includes, for example, a CRT (Cathode-Ray Tube) display, a liquid crystal display, an organic EL (Electroluminescence) display, a plasma display, and the like. Also, the display 6 is connected to the control circuit 8 and displays a signal supplied from the control circuit 8 to the outside. The display 6 displays calibration data and analytical data supplied from the control circuit 8, for example.

メモリ7は、磁気的若しくは光学的記録媒体又は半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等を含む。メモリ7は、解析回路3で実行される動作プログラム、及び制御回路8で実行される動作プログラムを記憶する。メモリ7は、解析回路3により生成される検量データを検査項目毎に記憶する。メモリ7は、解析回路3により生成される分析データを被検試料毎に記憶する。 The memory 7 includes a processor-readable recording medium such as a magnetic or optical recording medium or a semiconductor memory. The memory 7 stores an operation program executed by the analysis circuit 3 and an operation program executed by the control circuit 8 . The memory 7 stores calibration data generated by the analysis circuit 3 for each inspection item. The memory 7 stores the analysis data generated by the analysis circuit 3 for each test sample.

制御回路8は、自動分析装置1の中枢として機能するプロセッサである。制御回路8は、メモリ7に記憶されている動作プログラムを実行することで、この動作プログラムに対応する機能を実現する。制御回路8は、例えば図1に示されるシステム制御機能81を備える。 The control circuit 8 is a processor that functions as the core of the automatic analyzer 1 . The control circuit 8 executes the operation program stored in the memory 7 to implement functions corresponding to the operation program. The control circuit 8 comprises, for example, a system control function 81 shown in FIG.

システム制御機能81は、入力インタフェース5から入力される入力情報に基づき、自動分析装置1における各部を統括して制御する機能である。システム制御機能81が実行されると、制御回路8は、入力情報に基づき、駆動機構4を介し、分析機構2を構成する各要素の動作を制御する。また、制御回路8は、入力情報に基づき、分析機構2を構成する各要素の動作を直接制御する。 The system control function 81 is a function that controls all the parts in the automatic analyzer 1 based on input information input from the input interface 5 . When the system control function 81 is executed, the control circuit 8 controls the operation of each element constituting the analysis mechanism 2 via the drive mechanism 4 based on the input information. Also, the control circuit 8 directly controls the operation of each element constituting the analysis mechanism 2 based on the input information.

図2及び図3は、図1に示される分析機構2の構成の一例を示す模式図である。図2及び図3に示される分析機構2は、反応ディスク201、及び試薬庫202を備える。 2 and 3 are schematic diagrams showing an example of the configuration of the analysis mechanism 2 shown in FIG. 1. FIG. The analysis mechanism 2 shown in FIGS. 2 and 3 has a reaction disk 201 and a reagent storage 202 .

反応ディスク201内には、恒温水で満たされた恒温槽2012が設けられている。恒温槽2012は円周形状を有している。反応ディスク201は、恒温槽2012により、複数の反応管2011を保持する。反応ディスク201は、駆動機構4によって既定の時間間隔で回動と停止とが交互に繰り返される。反応管2011は、例えば、ガラスにより形成される。 A constant temperature bath 2012 filled with constant temperature water is provided in the reaction disk 201 . The constant temperature bath 2012 has a circular shape. The reaction disk 201 holds a plurality of reaction tubes 2011 with a constant temperature bath 2012 . The reaction disk 201 is alternately rotated and stopped at predetermined time intervals by the driving mechanism 4 . The reaction tube 2011 is made of glass, for example.

試薬庫202は、試薬が収容されている試薬容器を複数保持する試薬庫の一例であり、この実施形態では、反応ディスク201の内側に配置される。試薬庫202は、試薬容器ラックにより、円周状に複数の試薬容器を保持する。図2及び図3に示される試薬庫202内の外円2021は、試薬庫202内で円周状に配列される試薬容器のうち、外側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。試薬庫202内の内円2022は、試薬庫202内で円周状に配列される試薬容器のうち、内側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。 The reagent storage 202 is an example of a reagent storage that holds a plurality of reagent containers containing reagents, and is arranged inside the reaction disk 201 in this embodiment. The reagent storage 202 retains a plurality of reagent containers in a circular shape with a reagent container rack. The outer circle 2021 in the reagent storage 202 shown in FIGS. 2 and 3 indicates the positions of the openings of the reagent containers arranged on the outer circumference of the reagent containers arranged in the circumference in the reagent storage 202. represents An inner circle 2022 in the reagent storage 202 represents the positions of the openings of the reagent containers arranged on the inner circumference among the reagent containers arranged in the circumference in the reagent storage 202 .

試薬庫202に保持されている試薬容器は、反応管2011に分注される試薬を収容している。開口部が外円2021に沿って配置される試薬容器101は、各検査項目に対応する第1試薬を収容している。第1試薬は、検査項目毎に使われるものが決められている。開口部が内円2022に沿って配置される試薬容器101は、各検査項目に対応する第2試薬を収容している。第2試薬は、第1試薬同様に検査項目毎に使われるものが決められている。試薬容器ラックは、駆動機構4によって試薬庫202の中心を回転中心として回動される。 A reagent container held in the reagent storage 202 contains a reagent to be dispensed into the reaction tube 2011 . A reagent container 101 whose opening is arranged along the outer circle 2021 contains a first reagent corresponding to each test item. The first reagent to be used is determined for each test item. A reagent container 101 whose opening is arranged along the inner circle 2022 contains a second reagent corresponding to each test item. As with the first reagent, the second reagent to be used is determined for each inspection item. The reagent container rack is rotated around the center of the reagent storage 202 by the driving mechanism 4 .

また、図2及び図3に示される分析機構2は、ラック投入ユニット230、ラック移動ユニット240、ラック回収ユニット250、及びSTATラック投入レーン260を備える。
ラック投入ユニット230は、投入レーン231を備える。投入レーン231には、サンプルラック102が投入される。サンプルラック102は、試料を収容する試料容器100を複数保持している。サンプルラック102の両端の側面には、ラック移動ユニット240に設けられる搬送アーム241によりピックアップ可能な形状、例えば1対の溝が形成される。また、サンプルラック102には、サンプルラック102の有無を識別するためのRFID(Radio Frequency IDentification)チップ(無線タグ)が取り付けられている。
2 and 3 also includes a rack loading unit 230, a rack moving unit 240, a rack collection unit 250, and a STAT rack loading lane 260. FIG.
The rack loading unit 230 includes loading lanes 231 . The sample rack 102 is loaded into the loading lane 231 . The sample rack 102 holds a plurality of sample containers 100 containing samples. On both side surfaces of the sample rack 102 , a shape that can be picked up by the transfer arm 241 provided on the rack moving unit 240 , for example, a pair of grooves is formed. Further, the sample rack 102 is attached with an RFID (Radio Frequency IDentification) chip (wireless tag) for identifying the presence or absence of the sample rack 102 .

試料容器100には、標準試料又は被検試料等の試料が収容される。試料容器100には、試料容器100に収容される試料の識別情報等が記載される光学式マークが印刷されたラベルが貼付されている。光学式マークは、試料容器100に関する情報、及び試料の識別情報等を符号化したマーク、例えば、バーコード、1次元コード、及び2次元コード等である。 A sample container 100 contains a sample such as a standard sample or a test sample. The sample container 100 is attached with a label printed with an optical mark on which identification information of the sample contained in the sample container 100 is described. The optical mark is a mark that encodes information about the sample container 100, sample identification information, and the like, such as a bar code, a one-dimensional code, a two-dimensional code, and the like.

サンプルラック102は、投入レーン231へ投入される。投入レーン231へ投入されるサンプルラック102は、駆動機構4により駆動され、ラック移動ユニット240へ移動可能な投入位置へ移動される。このとき、投入レーン231におけるサンプルラック102の移動は、例えば、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。 The sample rack 102 is loaded into the loading lane 231 . The sample rack 102 loaded into the loading lane 231 is driven by the drive mechanism 4 and moved to the loading position where it can be moved to the rack moving unit 240 . At this time, the movement of the sample rack 102 in the loading lane 231 is achieved by, for example, a belt conveyor, a lead screw, and the like.

ラック移動ユニット240は、搬送アーム241、搬送レール242、サンプリングレーン243、バッファレーン244、及びリーダ245を備える。 The rack moving unit 240 includes a transport arm 241 , transport rails 242 , sampling lanes 243 , buffer lanes 244 and readers 245 .

搬送アーム241は、例えば、1対の爪を上下動自在に有する。搬送アーム241は、サンプルラック102に形成される1対の溝に爪を差し込んだ状態で、フォークリフトがそのフォークで荷物を抱えて運ぶように、サンプルラック102を搬送する。 The transport arm 241 has, for example, a pair of claws that can move up and down. The transport arm 241 transports the sample rack 102 with its claws inserted into a pair of grooves formed in the sample rack 102, like a forklift carrying a load with its forks.

搬送アーム241は、駆動機構4によって駆動され、サンプルラック102を搬送する。例えば、搬送アーム241は、投入レーン231における投入位置に載置されているサンプルラック102を抱えた後、搬送レール242上を移動する。これにより、搬送アーム241は、抱えたサンプルラック102をサンプリングレーン243へ搬送する。搬送レール242は、サンプリングレーン243と、バッファレーン244との間に設けられ、搬送アーム241が移動する際のガイドの役割を担う。また、搬送アーム241は、サンプリングレーン243における、ラック回収ユニット250へ移動可能な搬出位置に位置するサンプルラック102を抱えた後、搬送レール242上を移動する。これにより、搬送アーム241は、抱えたサンプルラック102をバッファレーン244又はラック回収ユニット250へ搬送する。 The transport arm 241 is driven by the driving mechanism 4 and transports the sample rack 102 . For example, the transport arm 241 moves on the transport rail 242 after holding the sample rack 102 placed at the loading position on the loading lane 231 . As a result, the transport arm 241 transports the sample rack 102 it holds to the sampling lane 243 . The transport rail 242 is provided between the sampling lane 243 and the buffer lane 244 and serves as a guide when the transport arm 241 moves. In addition, the transport arm 241 moves on the transport rail 242 after holding the sample rack 102 positioned at the unloading position in the sampling lane 243 so that it can be moved to the rack collection unit 250 . As a result, the transport arm 241 transports the sample rack 102 it holds to the buffer lane 244 or the rack recovery unit 250 .

また、搬送アーム241は、バッファレーン244上に載置されたサンプルラック102を、ラック回収ユニット250へ搬送する。また、搬送アーム241は、バッファレーン244上に載置されたサンプルラック102を、STATラック投入レーン260へ搬送する。また、搬送アーム241は、STATラック投入レーン260上に載置された緊急検体が収容されたサンプルラック102を、バッファレーン244へ搬送する。 Also, the transport arm 241 transports the sample rack 102 placed on the buffer lane 244 to the rack recovery unit 250 . Also, the transport arm 241 transports the sample rack 102 placed on the buffer lane 244 to the STAT rack loading lane 260 . Also, the transport arm 241 transports the sample rack 102 containing the urgent sample placed on the STAT rack loading lane 260 to the buffer lane 244 .

サンプリングレーン243は、分注対象となる試料容器100が保持される複数のサンプルラックを、サンプル分注プローブ205が試料を吸引する位置であるサンプル吸引位置P1の下へ搬送するためのレーンである。サンプリングレーン243は、駆動機構4により、投入レーン231における投入位置から搬入されたサンプルラック102を移動させる。例えば、サンプリングレーン243は、サンプルラック102に保持される試料容器100各々の開口を、サンプル吸引位置P1の下へ移動させる。また、サンプリングレーン243は、サンプルラック102に保持される全ての試料容器100に収容される試料の分注が正常に終了すると、サンプルラック102を、サンプル吸引位置P1の下から、ラック回収ユニット250へ移動可能な搬出位置へ移動させる。サンプリングレーン243におけるサンプルラック102の移動は、例えば、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。 The sampling lane 243 is a lane for transporting a plurality of sample racks holding sample containers 100 to be dispensed to below the sample aspiration position P1 where the sample dispensing probe 205 aspirates the sample. . The sampling lane 243 moves the sample rack 102 carried in from the loading position in the loading lane 231 by the drive mechanism 4 . For example, sampling lane 243 moves the opening of each sample container 100 held in sample rack 102 below sample aspiration position P1. In addition, the sampling lane 243 moves the sample rack 102 from below the sample suction position P1 to the rack collection unit 250 when the dispensing of the samples contained in all the sample containers 100 held in the sample rack 102 is normally completed. to the unloading position where it can be moved to Movement of the sample rack 102 in the sampling lane 243 is realized by, for example, a belt conveyor, a lead screw, and the like.

バッファレーン244は、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を一時的に滞留させるための滞留エリアである。 The buffer lane 244 is a retention area for temporarily retaining the sample rack 102 holding the sample container 100 containing the sample in which a predetermined error has occurred.

リーダ245は、例えばサンプル吸引位置P1の近傍に設けられる。リーダ245は、制御回路8からのID読取開始の指示を契機として、読取りを開始する。リーダ245は、分注対象となる試料容器100が光学式マークを読取り可能な位置に到達すると、当該試料容器100に付された光学式マークから試料の識別情報を読み取る。リーダ245は、読取った試料の識別情報を制御回路8に供給する。なお、リーダ245は、RFID等を利用した他のセンサで代替してもよい。 The reader 245 is provided near the sample suction position P1, for example. The reader 245 starts reading in response to an ID reading start instruction from the control circuit 8 . When the sample container 100 to be dispensed reaches a position where the optical mark can be read, the reader 245 reads the sample identification information from the optical mark attached to the sample container 100 . The reader 245 supplies the read sample identification information to the control circuit 8 . Note that the reader 245 may be replaced with another sensor using RFID or the like.

ラック回収ユニット250は、第1回収レーン251、及び第2回収レーン252を有する。第1回収レーン251及び第2回収レーン252は、例えば測定が正常に終了した試料容器100が保持されるサンプルラック102の回収先の役割を有する。第1回収レーン251及び第2回収レーン252は、駆動機構4により駆動され、ラック移動ユニット240から搬送アーム241により搬送されたサンプルラック102を、取り出し位置へ移動させる。 The rack collection unit 250 has a first collection lane 251 and a second collection lane 252 . The first collection lane 251 and the second collection lane 252 serve as collection destinations for the sample rack 102 that holds the sample container 100 for which the measurement has been normally completed, for example. The first collection lane 251 and the second collection lane 252 are driven by the driving mechanism 4 to move the sample rack 102 transported by the transport arm 241 from the rack moving unit 240 to the take-out position.

STATラック投入レーン260は、緊急で測定する必要のある試料を収容する試料容器100が保持されるサンプルラック102を投入するためのレーンである。 A STAT rack loading lane 260 is a lane for loading a sample rack 102 holding a sample container 100 containing a sample urgently required to be measured.

また、図2及び図3に示される分析機構2は、サンプル分注アーム204、サンプル分注プローブ205、サンプル分注ユニット207、洗浄プール208、第1試薬分注アーム210、第1試薬分注プローブ211、第1試薬分注ユニット213、洗浄プール214、第2試薬分注アーム216、第2試薬分注プローブ217、第2試薬分注ユニット219、洗浄プール220、第1撹拌ユニット222、及び第2撹拌ユニット223を備える。 2 and 3 includes a sample pipetting arm 204, a sample pipetting probe 205, a sample pipetting unit 207, a washing pool 208, a first reagent pipetting arm 210, a first reagent pipetting probe 211, first reagent dispensing unit 213, washing pool 214, second reagent dispensing arm 216, second reagent dispensing probe 217, second reagent dispensing unit 219, washing pool 220, first stirring unit 222, and A second stirring unit 223 is provided.

サンプル分注アーム204は、反応ディスク201とサンプリングレーン243との間に、鉛直方向には上下動自在に水平方向には回動自在に設けられている。サンプル分注アーム204は、一端にサンプル分注プローブ205を保持する。サンプル分注アーム204は、駆動機構4によって回動される。サンプル分注アーム204が回動に伴って、サンプル分注プローブ205は、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、サンプル分注プローブ205が試料容器100から試料を吸引する位置である、サンプル吸引位置P1が設定されている。サンプル吸引位置P1は、サンプリングレーン243上に位置するように予め設定されている。また、当該回動軌道上のサンプル吸引位置P1とは異なった位置には、サンプル分注プローブ205が吸引した試料を反応管2011へ吐出するサンプル吐出位置P2が設定されている。サンプル分注プローブ205の回動軌跡は、サンプリングレーン243上に載置されるサンプルラック102に保持されている試料容器100の移動軌跡、反応ディスク201に保持されている反応管2011の移動軌跡それぞれと交差している。それぞれの移動軌跡との交差点が、サンプル吸引位置P1、サンプル吐出位置P2である。 The sample dispensing arm 204 is provided between the reaction disk 201 and the sampling lane 243 so as to be vertically movable and horizontally rotatable. A sample dispensing arm 204 holds a sample dispensing probe 205 at one end. The sample dispensing arm 204 is rotated by the driving mechanism 4 . As the sample-dispensing arm 204 rotates, the sample-dispensing probe 205 rotates along an arc-shaped rotation track. A sample aspiration position P<b>1 is set on this rotational orbit, where the sample dispensing probe 205 aspirates the sample from the sample container 100 . The sample suction position P1 is set in advance so as to be positioned above the sampling lane 243 . Further, a sample ejection position P2 is set at a position different from the sample aspiration position P1 on the rotational track, at which the sample aspirated by the sample pipetting probe 205 is ejected into the reaction tube 2011 . The rotation trajectory of the sample pipetting probe 205 is the movement trajectory of the sample container 100 held in the sample rack 102 placed on the sampling lane 243, and the movement trajectory of the reaction tube 2011 held in the reaction disk 201. intersects with The points of intersection with the movement trajectories are the sample suction position P1 and the sample discharge position P2.

サンプル分注プローブ205は、駆動機構4によって駆動され、サンプル吸引位置P1、及びサンプル吐出位置P2において上下方向に移動する。また、サンプル分注プローブ205は、制御回路8の制御に従い、サンプル吸引位置P1に位置する試料容器100から試料を吸引する。また、サンプル分注プローブ205は、制御回路8の制御に従い、吸引した試料を、サンプル吐出位置P2に位置する反応管2011へ吐出する。 The sample pipetting probe 205 is driven by the driving mechanism 4 and moves vertically at the sample suction position P1 and the sample discharge position P2. Also, the sample dispensing probe 205 aspirates the sample from the sample container 100 located at the sample aspirating position P1 under the control of the control circuit 8 . Also, the sample pipetting probe 205 discharges the sucked sample into the reaction tube 2011 positioned at the sample discharging position P2 under the control of the control circuit 8 .

次に、本実施形態に係るサンプル分注ユニット207について説明する。本実施形態に係るサンプル分注ユニット207は、従来の自動分析装置が有する構成に加えて、後述する熱交換器2076を有する。図4Aは、サンプル分注ユニット207の構成例を示す模式図である。図4Aに示されるサンプル分注ユニット207は、第1のチューブ2071、シリンジポンプ2072、第2のチューブ2073、開閉弁2074、第3のチューブ2075、熱交換器2076、液体供給ポンプ2077、及びタンク2078を有する。なお、シリンジポンプ2072は、特許請求の範囲に記載の第1のポンプの一例である。また、液体供給ポンプ2077は、特許請求の範囲に記載の第2のポンプの一例である。 Next, the sample dispensing unit 207 according to this embodiment will be described. The sample dispensing unit 207 according to the present embodiment has a heat exchanger 2076, which will be described later, in addition to the configuration of a conventional automatic analyzer. FIG. 4A is a schematic diagram showing a configuration example of the sample pipetting unit 207. FIG. The sample dispensing unit 207 shown in FIG. 4A includes a first tube 2071, a syringe pump 2072, a second tube 2073, an on-off valve 2074, a third tube 2075, a heat exchanger 2076, a liquid supply pump 2077, and a tank. 2078. In addition, the syringe pump 2072 is an example of the first pump described in the claims. Also, the liquid supply pump 2077 is an example of the second pump described in the claims.

第1のチューブ2071は、一端がサンプル分注プローブ205に接続される弾性体である。シリンジポンプ2072は、シリンジ20721、及びプランジャ20722を有する。シリンジ20721は、第1のチューブ2071のサンプル分注プローブ205が接続される一端とは異なる他端部に接続される。プランジャ20722は、シリンジ20721の下端部に設けられる開口に嵌合する。タンク2078は、サンプル分注プローブ205、第1のチューブ2071、及びシリンジポンプ2072の各内部に充填される圧力伝達媒体を貯留する。圧力伝達媒体は、例えば、純水等の液体である。タンク2078は、自動分析装置1の外部と接続されており、タンク2078に貯留される圧力伝達媒体は、自動分析装置1の外部から補充される。タンク2078に貯留される液体(純水等)は、自動分析装置1の内部で圧力伝達媒体として用いられるだけでなく、例えばサンプル分注プローブ205の内壁を洗浄する洗浄水等の他の用途においても多量に消費されるため、使用した量に応じて液体を随時外部から補充する必要がある。なお、圧力伝達媒体は、純水に限られず、例えば圧力に対して非弾性的であり、分注対象(試料等)の物性を変化させない液体であればどのようなものであっても良い。 The first tube 2071 is an elastic body with one end connected to the sample dispensing probe 205 . The syringe pump 2072 has a syringe 20721 and a plunger 20722 . The syringe 20721 is connected to the other end of the first tube 2071 different from the end to which the sample dispensing probe 205 is connected. The plunger 20722 fits into an opening provided at the lower end of the syringe 20721 . The tank 2078 stores the pressure transmission medium filled inside each of the sample pipetting probe 205 , the first tube 2071 and the syringe pump 2072 . The pressure transmission medium is, for example, a liquid such as pure water. The tank 2078 is connected to the outside of the automatic analyzer 1 , and the pressure transmission medium stored in the tank 2078 is replenished from the outside of the automatic analyzer 1 . The liquid (pure water, etc.) stored in the tank 2078 is not only used as a pressure transmission medium inside the automatic analyzer 1, but also used for other purposes such as washing water for washing the inner wall of the sample pipetting probe 205. Since a large amount of liquid is also consumed, it is necessary to replenish the liquid from the outside as needed according to the amount used. Note that the pressure transmission medium is not limited to pure water, and may be, for example, any liquid that is inelastic to pressure and does not change the physical properties of the object to be dispensed (sample, etc.).

液体供給ポンプ2077は、タンク2078に貯留された圧力伝達媒体を吸引し、吸引した圧力伝達媒体を、熱交換器2076、第3のチューブ2075、開閉弁2074、第2のチューブ2073、シリンジポンプ2072、及び第1のチューブ2071を経由してサンプル分注プローブ205内に供給する。 The liquid supply pump 2077 sucks the pressure transmission medium stored in the tank 2078 and pumps the sucked pressure transmission medium through the heat exchanger 2076, the third tube 2075, the on-off valve 2074, the second tube 2073, and the syringe pump 2072. , and the first tube 2071 into the sample dispensing probe 205 .

開閉弁2074は、シリンジポンプ2072と液体供給ポンプ2077との間を連通する流路を開閉する。これにより、タンク2078からシリンジポンプ2072へ流れる圧力伝達媒体の供給を制御することができる。開閉弁2074は、例えば電磁弁である。 The on-off valve 2074 opens and closes a flow path communicating between the syringe pump 2072 and the liquid supply pump 2077 . Thereby, the supply of pressure transmission medium flowing from the tank 2078 to the syringe pump 2072 can be controlled. The on-off valve 2074 is, for example, an electromagnetic valve.

熱交換器2076は、液体供給ポンプ2077と開閉弁2074との間に設けられる。熱交換器2076は、液体供給ポンプ2077と開閉弁2074とを接続する流路の少なくとも一部において、当該流路を流れる圧力伝達媒体と自動分析装置1の装置内の大気との間で熱交換を行う。装置内とは、例えば分析機構2を構成する各要素が収容される筐体内又は筐体の近傍を表す。より具体的には、サンプル分注プローブ205の内部、及び外部近傍、並びに、サンプル分注ユニット207を構成する各要素の内部、及び外部近傍を表す。熱交換器2076は、例えば、流路を熱交換に十分な長さに最適化したステンレスパイプ(SUSパイプ)である。 A heat exchanger 2076 is provided between the liquid supply pump 2077 and the on-off valve 2074 . The heat exchanger 2076 exchanges heat between the pressure transmission medium flowing through the flow path and the atmosphere in the automatic analyzer 1 in at least part of the flow path connecting the liquid supply pump 2077 and the on-off valve 2074. I do. The term "inside the apparatus" refers to, for example, the inside or the vicinity of a housing in which each element constituting the analysis mechanism 2 is accommodated. More specifically, it represents the inside and the vicinity of the outside of the sample pipetting probe 205 and the inside and the outside of each element constituting the sample pipetting unit 207 . The heat exchanger 2076 is, for example, a stainless steel pipe (SUS pipe) whose passage is optimized to have a length sufficient for heat exchange.

熱交換器2076において熱交換が行われることにより、熱交換器2076を通過する圧力伝達媒体の温度は、装置内の大気の温度、すなわち環境温度に近づく。 Due to the heat exchange in the heat exchanger 2076, the temperature of the pressure transfer medium passing through the heat exchanger 2076 approaches the temperature of the atmosphere in the device, ie the ambient temperature.

図4Bは、図4Aに示される熱交換器2076の構成の例を示す図である。図4Bによれば、熱交換器2076は、形状が「S字」に蛇行した同じ長さの流路を構成する2つのチューブ20761、及びチューブ20762を有する。チューブ20761、及びチューブ20762は、液体供給ポンプ2077に接続される入力端、及び第3のチューブ2075に接続される出力端にそれぞれ接続すればよく、簡易に設置可能である。チューブの形状が「S字」に蛇行していることにより、流路を長く取り、圧力伝達媒体と装置内の大気との間で熱交換を行う表面積を拡げることができる。また、流路を2つのチューブ20761及びチューブ20762に分割しているため、1本のチューブで構成した場合に比べ圧力伝達媒体と装置内の大気との間で熱交換を行う表面積を拡げることができる。このため、圧力伝達媒体が熱交換器2076を通過する間に、圧力伝達媒体の温度を装置内の大気の温度へより近づけることが可能となる。 FIG. 4B is a diagram showing an example configuration of the heat exchanger 2076 shown in FIG. 4A. According to FIG. 4B, the heat exchanger 2076 has two tubes 20761 and 20762 that form a meandering "S" shaped flow path of equal length. The tubes 20761 and 20762 can be easily installed by connecting the input end connected to the liquid supply pump 2077 and the output end connected to the third tube 2075, respectively. The serpentine "S" shape of the tube provides a longer flow path and a greater surface area for heat exchange between the pressure transfer medium and the atmosphere within the apparatus. In addition, since the flow path is divided into two tubes 20761 and 20762, the surface area for heat exchange between the pressure transmission medium and the atmosphere in the device can be expanded compared to the case where it is configured with one tube. can. This allows the temperature of the pressure transfer medium to be brought closer to the temperature of the atmosphere in the apparatus while the pressure transfer medium passes through the heat exchanger 2076 .

試料を分注する際、シリンジポンプ2072と液体供給ポンプ2077との間の流路は、制御回路8により制御される開閉弁2074により閉鎖される。このとき、シリンジポンプ2072は、液体供給ポンプ2077から供給された圧力伝達媒体を減圧、又は加圧することにより、当該圧力伝達媒体を受入、又は送出する。この圧力伝達媒体を介し、サンプル分注プローブ205は、サンプル吸引位置P2で試料容器100内の試料を吸引、又は吐出する。具体的には、駆動機構4がプランジャ20722を矢印L1方向へ吸引駆動することにより、サンプル分注プローブ205は、サンプル吸引位置P2で試料容器100内の試料を吸引する。また、駆動機構4がプランジャ20722を矢印L2方向へ吐出駆動することにより、サンプル分注プローブ205は、サンプル吐出位置P2に位置する反応管2011内へ試料を吐出する。 When dispensing the sample, the channel between the syringe pump 2072 and the liquid supply pump 2077 is closed by the on-off valve 2074 controlled by the control circuit 8 . At this time, the syringe pump 2072 receives or delivers the pressure transmission medium supplied from the liquid supply pump 2077 by decompressing or pressurizing the pressure transmission medium. Via this pressure transmission medium, the sample pipetting probe 205 aspirates or discharges the sample in the sample container 100 at the sample aspirating position P2. Specifically, the drive mechanism 4 sucks the plunger 20722 in the direction of the arrow L1, so that the sample pipetting probe 205 sucks the sample in the sample container 100 at the sample sucking position P2. Further, the drive mechanism 4 drives the plunger 20722 to discharge in the direction of the arrow L2, so that the sample pipetting probe 205 discharges the sample into the reaction tube 2011 positioned at the sample discharge position P2.

同一試料の分注が終了したとき、又は試料の分注が異常であると判定されたとき、シリンジポンプ2072と液体供給ポンプ2077との間の流路は、制御回路8により制御される開閉弁2074により開放される。液体供給ポンプ2077は、駆動機構4により駆動され、サンプル分注プローブ205内へ圧力伝達媒体を供給する。 When the dispensing of the same sample is completed or when it is determined that the dispensing of the sample is abnormal, the flow path between the syringe pump 2072 and the liquid supply pump 2077 is closed by the opening/closing valve controlled by the control circuit 8. 2074 to open. The liquid supply pump 2077 is driven by the driving mechanism 4 to supply pressure transmission medium into the sample pipetting probe 205 .

洗浄プール208は、サンプルプローブ洗浄位置P3に配置されている。洗浄プール208では、例えば同一試料の分注終了毎に、サンプル分注プローブ205の試料と接触した下端部の内壁及び外壁の洗浄が行われる。 A wash pool 208 is located at the sample probe wash position P3. In the cleaning pool 208, the inner wall and outer wall of the lower end portion of the sample dispensing probe 205 that is in contact with the sample are cleaned, for example, each time dispensing of the same sample is completed.

第1試薬分注アーム210は、反応ディスク201とサンプリングレーン243との間に、鉛直方向には上下動自在に水平方向には回動自在に設けられている。第1試薬分注アーム210は、一端に第1試薬分注プローブ211を保持する。第1試薬分注アーム210は、駆動機構4によって回動される。第1試薬分注アーム210が回動されることにより、第1試薬分注プローブ211は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第1試薬分注プローブ211が、試薬庫202の外円2021上に配置される試薬容器から各検査項目に対応する第1試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した第1試薬を反応管2011へ吐出する第1試薬吐出位置P4とが設定されている。第1試薬分注プローブ211の回動軌跡は、試薬庫202の外円2021上に配置される試薬容器(の試薬吸引口)の移動軌跡、反応ディスク201に保持されている反応管2011の移動軌跡それぞれと交差している。それぞれの移動軌跡との交差点が、試薬吸引位置、第1試薬吐出位置P4である。 The first reagent dispensing arm 210 is provided between the reaction disk 201 and the sampling lane 243 so as to be vertically movable and horizontally rotatable. First reagent dispensing arm 210 holds first reagent dispensing probe 211 at one end. The first reagent dispensing arm 210 is rotated by the driving mechanism 4 . By rotating the first reagent-dispensing arm 210, the first reagent-dispensing probe 211 is rotated along an arc-shaped rotation track. On this rotational orbit, the first reagent dispensing probe 211 aspirates the first reagent corresponding to each test item from the reagent container arranged on the outer circle 2021 of the reagent storage 202, and the aspirating position. A first reagent ejection position P4 is set for ejecting the first reagent into the reaction tube 2011 . The rotation trajectory of the first reagent dispensing probe 211 is the movement trajectory of (the reagent suction port of) the reagent container arranged on the outer circle 2021 of the reagent storage 202, and the movement of the reaction tube 2011 held in the reaction disk 201. intersect each trajectory. The intersection with each movement locus is the reagent aspirating position and the first reagent discharging position P4.

第1試薬分注プローブ211は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、及び第1試薬吐出位置P4において上下方向に移動する。また、第1試薬分注プローブ211は、制御回路8の制御に従い、回動軌道上の試薬吸引位置に位置する試薬容器101から第1試薬を吸引する。また、第1試薬分注プローブ211は、制御回路8の制御に従い、吸引した第1試薬を、第1試薬吐出位置P4に位置する反応管2011へ吐出する。 The first reagent dispensing probe 211 is driven by the driving mechanism 4 and moves vertically at the reagent aspirating position on the rotation track and the first reagent discharging position P4. Also, the first reagent dispensing probe 211 aspirates the first reagent from the reagent container 101 located at the reagent aspirating position on the rotation track under the control of the control circuit 8 . Also, the first reagent dispensing probe 211 discharges the sucked first reagent into the reaction tube 2011 positioned at the first reagent discharge position P4 under the control of the control circuit 8 .

第1試薬分注ユニット213の構成及び機能については、サンプル分注ユニット207と同様である。 The configuration and functions of the first reagent dispensing unit 213 are the same as those of the sample dispensing unit 207 .

洗浄プール214は、第1試薬プローブ洗浄位置P5に配置されている。洗浄プール214では、例えば同一試料の分注終了毎に、第1試薬分注プローブ211の試薬と接触した下端部の内壁の洗浄が行われる。 The washing pool 214 is located at the first reagent probe washing position P5. In the cleaning pool 214, the inner wall of the lower end portion of the first reagent dispensing probe 211 in contact with the reagent is washed, for example, each time dispensing of the same sample is completed.

第2試薬分注アーム216は、試薬庫202とラック投入ユニット230との間に、鉛直方向には上下動自在に水平方向には回動自在に設けられている。第2試薬分注アーム216は、一端に第2試薬分注プローブ217を保持する。第2試薬分注アーム216は、駆動機構4によって回動される。第2試薬分注アーム216が回動されることにより、第2試薬分注プローブ217は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第2試薬分注プローブ217が、試薬庫202の内円2022上に配置される試薬容器101から各検査項目に対応する第2試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した第2試薬を反応管2011へ吐出する第2試薬吐出位置P6とが設定されている。第2試薬分注プローブ217の回動軌跡は、試薬庫202の内円2022上に配置される試薬容器(の試薬吸引口)の移動軌跡、反応ディスク201に保持されている反応管2011の移動軌跡それぞれと交差している。それぞれの移動軌跡との交差点が、試薬吸引位置、第2試薬吐出位置P6である。 The second reagent dispensing arm 216 is provided between the reagent storage 202 and the rack loading unit 230 so as to be vertically movable and horizontally rotatable. A second reagent dispensing arm 216 holds a second reagent dispensing probe 217 at one end. The second reagent dispensing arm 216 is rotated by the drive mechanism 4 . As the second reagent dispensing arm 216 rotates, the second reagent dispensing probe 217 rotates along an arc-shaped rotation track. On this rotational orbit, the second reagent dispensing probe 217 aspirates a second reagent corresponding to each test item from the reagent container 101 arranged on the inner circle 2022 of the reagent storage 202, and a reagent aspirating position; A second reagent discharge position P6 for discharging the sucked second reagent into the reaction tube 2011 is set. The rotation trajectory of the second reagent dispensing probe 217 is the movement trajectory of (the reagent suction port of) the reagent container arranged on the inner circle 2022 of the reagent storage 202, and the movement of the reaction tube 2011 held in the reaction disk 201. intersect each trajectory. The intersection with each movement locus is the reagent aspirating position and the second reagent discharging position P6.

第2試薬分注プローブ217は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、及び第2試薬吐出位置P6において上下方向に移動する。また、第2試薬分注プローブ217は、制御回路8の制御に従い、回動軌道上の試薬吸引位置に位置する試薬容器101から第2試薬を吸引する。また、第2試薬分注プローブ217は、制御回路8の制御に従い、吸引した第2試薬を、第2試薬吐出位置P6に位置する反応管2011へ吐出する。 The second reagent dispensing probe 217 is driven by the driving mechanism 4 and moves vertically at the reagent aspirating position on the rotation track and the second reagent discharging position P6. In addition, the second reagent dispensing probe 217 aspirates the second reagent from the reagent container 101 located at the reagent aspirating position on the rotation track under the control of the control circuit 8 . Also, the second reagent dispensing probe 217 discharges the sucked second reagent into the reaction tube 2011 positioned at the second reagent discharging position P6 under the control of the control circuit 8 .

第2試薬分注ユニット219の構成及び機能については、サンプル分注ユニット207と同様である。 The configuration and function of the second reagent dispensing unit 219 are the same as those of the sample dispensing unit 207 .

洗浄プール220は、第2試薬プローブ洗浄位置P7に配置されている。洗浄プール220では、例えば同一試料の分注終了毎に、第2試薬分注プローブ217の試薬と接触した下端部の内壁及び外壁の洗浄が行われる。 The washing pool 220 is arranged at the second reagent probe washing position P7. In the cleaning pool 220, for example, the inner wall and outer wall of the lower end portion of the second reagent dispensing probe 217 in contact with the reagent are washed each time dispensing of the same sample is completed.

第1撹拌ユニット222、及び第2撹拌ユニット223は、撹拌アーム、及び撹拌子をそれぞれ有する。撹拌アームは、先端近傍に、回動可能、かつ、上下動可能に撹拌子を支持する。第1撹拌ユニット222は、制御回路8の制御に従い、反応ディスク201における撹拌位置に位置する反応管2011へ撹拌子を移動させ、撹拌子により反応管2011内で試料及び第1試薬を混合した混合液、すなわち第1薬分注後の反応管2011内の混合液を撹拌する。第2撹拌ユニット223は、制御回路8の制御に従い、反応ディスク201における撹拌位置に位置する反応管2011へ撹拌子を移動させ、撹拌子により反応管2011内で試料、第1試薬、及び第2試薬を混合した混合液、すなわち第2試薬分注後の反応管2011内の混合液を撹拌する。 The 1st stirring unit 222 and the 2nd stirring unit 223 have a stirring arm and a stirrer, respectively. The stirring arm supports a stirrer near the tip so as to be rotatable and vertically movable. The first stirring unit 222 moves the stirrer to the reaction tube 2011 located at the stirring position in the reaction disk 201 under the control of the control circuit 8, and mixes the sample and the first reagent in the reaction tube 2011 by the stirrer. The liquid, that is, the mixed liquid in the reaction tube 2011 after dispensing the first medicine is stirred. Under the control of the control circuit 8, the second stirring unit 223 moves the stirrer to the reaction tube 2011 located at the stirring position on the reaction disk 201, and stirs the sample, the first reagent, and the second reagent in the reaction tube 2011 by the stirrer. The mixed solution in which the reagents are mixed, that is, the mixed solution in the reaction tube 2011 after the second reagent is dispensed is stirred.

また、図2及び図3に示される分析機構2は、測光ユニット224、洗浄ユニット225、及び電解質測定ユニット226を備える。
測光ユニット224は、反応管2011内に吐出された試料及び試薬の混合液等に光を照射し、当該混合液等を通過した光を光学的に測定する。測光ユニット224は、光源、及び光検出器を有する。測光ユニット224は、制御回路8の制御に従い、光源から反応管2011へ光を照射する。光検出器は、反応管2011内の標準試料と試薬との混合液、又は被検試料と試薬との混合液を通過した光を検出する。光検出器は、検出した光の強度に基づいて例えば吸光度で表される標準データ又は被検データを生成する。測光ユニット224は、生成した標準データ及び被検データを、解析回路3へ出力する。
The analysis mechanism 2 shown in FIGS. 2 and 3 also includes a photometry unit 224 , a cleaning unit 225 and an electrolyte measurement unit 226 .
The photometry unit 224 irradiates the mixed liquid of the sample and the reagent discharged into the reaction tube 2011 with light, and optically measures the light passing through the mixed liquid. The photometric unit 224 has a light source and a photodetector. The photometry unit 224 irradiates the reaction tube 2011 with light from the light source under the control of the control circuit 8 . The photodetector detects light that has passed through the mixed liquid of the standard sample and the reagent in the reaction tube 2011 or the mixed liquid of the test sample and the reagent. The photodetector generates standard or test data, for example expressed in absorbance, based on the intensity of the detected light. The photometry unit 224 outputs the generated standard data and test data to the analysis circuit 3 .

洗浄ユニット225は、廃液ノズル、洗浄ノズル、及び乾燥ノズルを備える。洗浄ユニット225は、廃液ノズルにより、反応管洗浄位置に位置する反応管2011内の混合液を廃液として吸引する。洗浄ユニット225は、洗浄ノズルにより、反応管洗浄位置に位置する反応管2011へ洗浄液を吐出し、反応管2011を洗浄する。洗浄ユニット225は、乾燥ノズルにより、反応管2011へ乾燥空気を供給することで、洗浄液により洗浄された反応管2011を乾燥させる。 The cleaning unit 225 includes a waste liquid nozzle, a cleaning nozzle, and a drying nozzle. The washing unit 225 sucks the liquid mixture in the reaction tube 2011 positioned at the reaction tube washing position as a waste liquid by the waste liquid nozzle. The cleaning unit 225 cleans the reaction tube 2011 by discharging the cleaning liquid to the reaction tube 2011 located at the reaction tube cleaning position through the cleaning nozzle. The cleaning unit 225 dries the reaction tube 2011 cleaned with the cleaning liquid by supplying dry air to the reaction tube 2011 through the drying nozzle.

電解質測定ユニット226は、反応管2011内の混合液中に存在する特定電解質の測定を行う。電解質測定ユニット226は、例えば特定電解質から発生するイオン濃度を測定する。 The electrolyte measurement unit 226 measures a specific electrolyte present in the liquid mixture inside the reaction tube 2011 . The electrolyte measurement unit 226 measures, for example, ion concentration generated from a specific electrolyte.

図1に示される分析機構2では、例えば熱交換器2076の第3のチューブ2075に接続される一端からサンプル分注プローブ205の先端までの、圧力伝達媒体が流れる流路のうち少なくとも一部を断熱材で覆うことが好ましい。これにより、熱交換器2076による熱交換により大気の温度に近づいた圧力伝達媒体は、温度変化することなくサンプル分注プローブ205の先端付近まで到達することができる。図5は、図2に示されるサンプル分注プローブ205及びサンプル分注ユニット207の各構成要素のうち断熱構造とする範囲を具体的に説明するための図である。 In the analysis mechanism 2 shown in FIG. 1, for example, at least part of the flow path through which the pressure transmission medium flows, from one end connected to the third tube 2075 of the heat exchanger 2076 to the tip of the sample dispensing probe 205 is It is preferable to cover with heat insulating material. As a result, the pressure transmission medium whose temperature has approached the atmospheric temperature due to heat exchange by the heat exchanger 2076 can reach the vicinity of the tip of the sample pipetting probe 205 without temperature change. FIG. 5 is a diagram for specifically explaining the range of each component of the sample pipetting probe 205 and the sample pipetting unit 207 shown in FIG. 2 that has a heat insulating structure.

図5において、サンプル分注プローブ205の先端から開閉弁2074までの範囲R1の流路近傍は、温度変化によって分注精度に与える影響が特に強い領域である。このため、本実施形態では、範囲R1の少なくとも一部の流路を断熱材で覆う。例えば、第1のチューブ2071及び第2のチューブ2073を、断熱材20711及び断熱材20731でそれぞれ覆う。このとき、開閉弁2074と熱交換器2076との間の距離、すなわち第3のチューブ2075の長さはできるだけ短いことが望ましい。 In FIG. 5, the vicinity of the channel in range R1 from the tip of the sample pipetting probe 205 to the on-off valve 2074 is a region where temperature changes have a particularly strong effect on pipetting accuracy. For this reason, in the present embodiment, at least part of the flow path in range R1 is covered with a heat insulating material. For example, the first tube 2071 and the second tube 2073 are covered with thermal insulation 20711 and thermal insulation 20731, respectively. At this time, it is desirable that the distance between the on-off valve 2074 and the heat exchanger 2076, that is, the length of the third tube 2075 is as short as possible.

なお、例えば、第3のチューブ2075の長さが大きく、圧力伝達媒体が第3のチューブ2075の中を流れる間に、第3のチューブ2075の内外で圧力伝達媒体と大気との間に温度差が生じてしまうような場合には、サンプル分注プローブ205の先端から熱交換器2076の第3のチューブ2075に接続される一端までの範囲R2の少なくとも一部の流路を断熱材で覆ってもよい。例えば、第1のチューブ2071、第2のチューブ2073、及び第3のチューブ2075を、断熱材20711、断熱材20731、及び断熱材20751でそれぞれ覆う。 It should be noted that, for example, the length of the third tube 2075 is large, and while the pressure transmission medium flows through the third tube 2075, the temperature difference between the pressure transmission medium and the atmosphere inside and outside the third tube 2075 may increase. In such a case, at least part of the range R2 from the tip of the sample pipetting probe 205 to one end connected to the third tube 2075 of the heat exchanger 2076 should be covered with a heat insulating material. good too. For example, first tube 2071, second tube 2073, and third tube 2075 are covered with insulation 20711, insulation 20731, and insulation 20751, respectively.

また、断熱材の消費をなるべく抑えたいときは、サンプル分注プローブ205の先端からシリンジポンプ2072の第1のチューブ2071に接続される一端までの範囲R3の少なくとも一部の流路を断熱材で覆ってもよい。例えば、第1のチューブ2071を、断熱材20711で覆う。 In addition, when it is desired to suppress the consumption of heat insulating material as much as possible, at least part of the range R3 from the tip of the sample pipetting probe 205 to the end connected to the first tube 2071 of the syringe pump 2072 is covered with heat insulating material. You can cover it. For example, the first tube 2071 is covered with heat insulating material 20711 .

次に、本実施形態に係る自動分析装置1が備える熱交換器2076の特性及び配置について説明する。 Next, the characteristics and arrangement of the heat exchanger 2076 included in the automatic analyzer 1 according to this embodiment will be described.

まず、熱交換器2076の特性について説明する。図4Aに示される熱交換器2076は、液体供給ポンプ2077から供給される圧力伝達媒体(液体)の温度が装置内の大気の温度より低い場合、熱交換器2076内を流れる圧力伝達媒体の温度を上げる機能を有する。また、熱交換器2076は、液体供給ポンプ2077から供給される圧力伝達媒体の温度が装置内の大気の温度より高い場合、熱交換器2076内を流れる圧力伝達媒体の温度を下げる機能を有する。また、熱交換器2076は、専用の温度調整機構による制御をすることなく、物質間での熱伝導により、熱交換を行うことができる。 First, the characteristics of heat exchanger 2076 will be described. The heat exchanger 2076 shown in FIG. 4A is such that when the temperature of the pressure transfer medium (liquid) supplied from the liquid supply pump 2077 is lower than the temperature of the atmosphere in the apparatus, the temperature of the pressure transfer medium flowing through the heat exchanger 2076 has the function of raising Further, the heat exchanger 2076 has a function of lowering the temperature of the pressure transmission medium flowing inside the heat exchanger 2076 when the temperature of the pressure transmission medium supplied from the liquid supply pump 2077 is higher than the temperature of the atmosphere inside the apparatus. In addition, the heat exchanger 2076 can exchange heat through heat conduction between substances without being controlled by a dedicated temperature adjustment mechanism.

次に、熱交換器2076の配置について説明する。一般的に、サンプル分注プローブ205の先端から開閉弁2074までの範囲は、この範囲に充填される圧力伝達媒体の温度勾配(温度の変化率)が急である場合、分注精度に与える影響が特に強い。このため、サンプル分注プローブ205の先端から開閉弁2074までの範囲は、温度勾配が急でない、すなわち緩やかであることが望ましい。そこで、タンク2078から供給される圧力伝達媒体が開閉弁2074に到達するまで流路のうちいずれかの箇所に熱交換器2076を配置する。これにより、タンク2078からみて開閉弁2074の手前までに、圧力伝達媒体の温度を装置内の大気の温度に近づけることができる。この結果、少なくとも一部が断熱材で覆われているサンプル分注プローブ205の先端から開閉弁2074までの範囲の温度勾配を緩やかにすることが可能となる。 Next, the arrangement of heat exchanger 2076 will be described. In general, the range from the tip of the sample pipetting probe 205 to the on-off valve 2074 has a steep temperature gradient (temperature change rate) of the pressure transmission medium filled in this range. is particularly strong. Therefore, it is desirable that the temperature gradient in the range from the tip of the sample pipetting probe 205 to the on-off valve 2074 is not steep, that is, is gentle. Therefore, the heat exchanger 2076 is arranged in any part of the flow path until the pressure transmission medium supplied from the tank 2078 reaches the on-off valve 2074 . As a result, the temperature of the pressure transmission medium can be brought close to the temperature of the atmosphere in the apparatus before the on-off valve 2074 when viewed from the tank 2078 . As a result, the temperature gradient in the range from the tip of the sample pipetting probe 205, at least partially covered with a heat insulating material, to the on-off valve 2074 can be moderated.

また、タンク2078と開閉弁2074との間に設けられる液体供給ポンプ2077は、稼働率が高いためある程度大きい熱を保持している。一方、開閉弁2074は、比較的稼働率が低く発熱が許容できる。このため、開閉弁2074と液体供給ポンプ2077との間の流路に、熱交換器2076を配置することが好適である。 Also, the liquid supply pump 2077 provided between the tank 2078 and the on-off valve 2074 retains a certain amount of heat because of its high operating rate. On the other hand, the on-off valve 2074 has a relatively low operation rate and can tolerate heat generation. Therefore, it is preferable to dispose the heat exchanger 2076 in the channel between the on-off valve 2074 and the liquid supply pump 2077 .

さらに、熱交換器2076は、開閉弁2074と液体供給ポンプ2077とを接続する流路のうち開閉弁2074近傍に配置されることが好適である。すなわち、図5に示される範囲R1に含まれる流路の近傍に配置されることが好適である。これにより、熱交換器2076は、温度変化によって分注精度に与える影響が特に強い領域に対し、熱交換による温度均一化の作用をより直接的に与えることが可能となる。 Furthermore, the heat exchanger 2076 is preferably arranged in the vicinity of the on-off valve 2074 in the channel connecting the on-off valve 2074 and the liquid supply pump 2077 . That is, it is preferable to arrange it in the vicinity of the flow path included in the range R1 shown in FIG. As a result, the heat exchanger 2076 can more directly apply temperature equalization by heat exchange to regions in which temperature changes have a particularly strong effect on dispensing accuracy.

以上のように構成された自動分析装置1において、例えばサンプル分注プローブ205の内壁の洗浄の際に、洗浄プール208から供給される圧力伝達媒体がサンプル分注プローブ205の先端に到達するまでの、圧力伝達媒体の温度変化について図4Aを用いて説明する。以下の説明では、自動分析装置1の外部からタンク2078に補充される圧力伝達媒体の温度は、自動分析装置1の装置内の大気の温度より低いものとする。例えば、自動分析装置1の外部からタンク2078に補充される圧力伝達媒体の温度は、自動分析装置1の装置内の大気の温度より10度程度低い。これは、自動分析装置1の装置内の大気は、装置内の熱源により装置外部よりも高温であり、装置外部からタンク2078に液体が供給されると相対的にタンク2078内の液体の温度が低くなるためである。特に、圧力伝達媒体として、消費量の多い純水等の液体を用いると、タンク2078には装置外部から随時液体が供給されることとなり、タンク2078内の液体の温度は装置内の大気の温度に対して低温となる頻度が高くなる。 In the automatic analyzer 1 configured as described above, for example, when the inner wall of the sample pipetting probe 205 is washed, the pressure transmission medium supplied from the washing pool 208 reaches the tip of the sample pipetting probe 205. , the temperature change of the pressure transmission medium will be described with reference to FIG. 4A. In the following explanation, it is assumed that the temperature of the pressure transmission medium replenished in the tank 2078 from the outside of the automatic analyzer 1 is lower than the temperature of the air inside the automatic analyzer 1 . For example, the temperature of the pressure transmission medium replenished in the tank 2078 from the outside of the automatic analyzer 1 is about 10 degrees lower than the temperature of the air inside the automatic analyzer 1 . This is because the air inside the automatic analyzer 1 has a higher temperature than the outside of the apparatus due to the heat source inside the apparatus, and when the liquid is supplied to the tank 2078 from the outside of the apparatus, the temperature of the liquid inside the tank 2078 rises relatively. This is because the In particular, if a liquid such as pure water, which consumes a large amount, is used as the pressure transmission medium, the liquid will be supplied to the tank 2078 from the outside of the apparatus at any time, and the temperature of the liquid in the tank 2078 will be the temperature of the atmosphere inside the apparatus. The frequency of low temperatures increases relative to

図4Aにおいて、液体供給ポンプ2077は、タンク2078に貯留された圧力伝達媒体を吸引し、吸引した圧力伝達媒体を、熱交換器2076に供給する。熱交換器2076に供給された圧力伝達媒体は、熱交換器2076を通過する間に、装置内の大気と熱交換する。これにより、圧力伝達媒体の温度は、上昇し、装置内の大気の温度に近づく。 In FIG. 4A , the liquid supply pump 2077 sucks the pressure transmission medium stored in the tank 2078 and supplies the sucked pressure transmission medium to the heat exchanger 2076 . The pressure transfer medium supplied to the heat exchanger 2076 exchanges heat with the atmosphere within the apparatus while passing through the heat exchanger 2076 . This causes the temperature of the pressure transmission medium to rise and approach the temperature of the atmosphere within the device.

熱交換器2076を通過することにより装置内の大気の温度に近づいた圧力伝達媒体は、第3のチューブ2075、開閉弁2074、第2のチューブ2073、シリンジポンプ2072、及び第1のチューブ2071を経由し、サンプル分注プローブ205の先端に到達する。このとき、サンプル分注プローブ205の先端から開閉弁2074までの範囲は少なくとも一部が断熱材で覆われている。よって、圧力伝達媒体は、装置内の大気の温度と略同じ温度で、温度変化することなく範囲R1に係る流路を通過することができる。すなわち、サンプル分注プローブ205の内壁の洗浄の際、及びサンプル分注プローブ205を用いた分注の際等、サンプル分注プローブ205の先端から開閉弁2074までの範囲の圧力伝達媒体が流れる流路の内外の温度を常に均一に保つことができる。 The pressure transmission medium that has approached the temperature of the atmosphere in the apparatus by passing through the heat exchanger 2076 passes through the third tube 2075, the on-off valve 2074, the second tube 2073, the syringe pump 2072, and the first tube 2071. , and reaches the tip of the sample pipetting probe 205 . At this time, at least a portion of the range from the tip of the sample pipetting probe 205 to the on-off valve 2074 is covered with a heat insulating material. Therefore, the pressure transmission medium can pass through the flow path related to the range R1 at approximately the same temperature as the atmospheric temperature in the apparatus without temperature change. That is, when cleaning the inner wall of the sample pipetting probe 205, when pipetting using the sample pipetting probe 205, etc., the flow of the pressure transmission medium in the range from the tip of the sample pipetting probe 205 to the on-off valve 2074 The temperature inside and outside the path can always be kept uniform.

この結果、サンプル分注プローブ205の先端から開閉弁2074までの範囲の流路において、流路を構成する部品及び流路内を流れる圧力伝達媒体の体積の膨張又は収縮は発生しない。したがって、洗浄直後に試料を分注した場合でも、分注される試料の量に誤差は発生しないため、分注精度の低下を防ぐことができる。 As a result, in the channel from the tip of the sample pipetting probe 205 to the on-off valve 2074, the components forming the channel and the pressure transmission medium flowing in the channel do not expand or contract in volume. Therefore, even when the sample is dispensed immediately after washing, there is no error in the amount of the sample to be dispensed, thereby preventing deterioration in dispensing accuracy.

なお、熱交換器2076を用いることにより、自動分析装置1の外部からタンク2078に補充される圧力伝達媒体の温度が装置内の温度より高い場合でも、圧力伝達媒体の温度を装置内の大気の温度に近づけることが可能である。例えば、装置外部の液体流路や液体貯留施設が太陽熱を受ける環境下である場合や、装置外部の他の熱源の影響を受ける場合もあり、タンク2078に補充される圧力伝達媒体の温度が装置内の温度よりも高いケースが生じうる。 By using the heat exchanger 2076, even if the temperature of the pressure transmission medium replenished in the tank 2078 from the outside of the automatic analyzer 1 is higher than the temperature inside the apparatus, the temperature of the pressure transmission medium can be adjusted to that of the atmosphere inside the apparatus. temperature can be approached. For example, when the liquid flow path or liquid storage facility outside the device is in an environment where it receives solar heat, or when it is affected by another heat source outside the device, the temperature of the pressure transmission medium replenished in the tank 2078 may increase. A case can occur where the temperature is higher than the internal temperature.

次に、サンプル分注プローブの内壁を洗浄する際の、従来の自動分析装置、及び本実施形態に係る自動分析装置1それぞれについての装置内の温度変化について説明する。以下の説明では、自動分析装置1の外部からタンク2078に補充される圧力伝達媒体の温度は、自動分析装置1の装置内の温度より低いものとする。図6は、図4Aに示されるサンプル分注プローブ205及びサンプル分注ユニット207の内部の温度変化を示す図である。図6において、グラフG1は、本実施形態に係る熱交換器2076及び断熱材を用いなかった場合の、サンプル分注プローブ205及びサンプル分注ユニット207の内部温度変化を表す。グラフG2は、本実施形態に係るサンプル分注プローブ205及びサンプル分注ユニット207の内部温度変化を表す。図6において、横軸は時点t、サンプル分注プローブ205及びサンプル分注ユニット207内部の温度Tを表す。 Next, temperature changes in the conventional automatic analyzer and the automatic analyzer 1 according to the present embodiment when cleaning the inner wall of the sample pipetting probe will be described. In the following explanation, it is assumed that the temperature of the pressure transmission medium replenished in the tank 2078 from the outside of the automatic analyzer 1 is lower than the temperature inside the automatic analyzer 1 . FIG. 6 is a diagram showing temperature changes inside the sample pipetting probe 205 and the sample pipetting unit 207 shown in FIG. 4A. In FIG. 6, a graph G1 represents internal temperature changes of the sample pipetting probe 205 and the sample pipetting unit 207 when the heat exchanger 2076 and heat insulating material according to this embodiment are not used. A graph G2 represents internal temperature changes of the sample pipetting probe 205 and the sample pipetting unit 207 according to this embodiment. In FIG. 6, the horizontal axis represents time t and temperature T inside the sample pipetting probe 205 and sample pipetting unit 207 .

図6に示されるグラフG1では、洗浄動作開始前の温度Tは、装置内の大気の温度と略同じT=T1である。ここで、洗浄動作が開始されると、タンク2078から図2に示されるサンプル分注プローブ205及びサンプル分注ユニット207の内部に圧力伝達媒体(純水等)が流入するため、図6に示される時点t=t1からt=t2にかけて、温度TはT=T1からT=T2(<T1)に低下する。その後、時点t=t2において洗浄動作が終了すると、時点t=t2からt=t3にかけて、温度TはT=T2から上昇して元の温度であるT=T1に戻る。 In the graph G1 shown in FIG. 6, the temperature T before the start of the cleaning operation is T=T1, which is substantially the same as the temperature of the air inside the apparatus. Here, when the cleaning operation is started, the pressure transmission medium (pure water or the like) flows from the tank 2078 into the sample pipetting probe 205 and the sample pipetting unit 207 shown in FIG. From time t=t1 to t=t2, the temperature T decreases from T=T1 to T=T2 (<T1). Thereafter, when the cleaning operation ends at time t=t2, the temperature T rises from T=T2 and returns to the original temperature T=T1 from time t=t2 to t=t3.

この場合、図6に示される時点t=t2からt=t3の間に、サンプル分注プローブ205及びサンプル分注ユニット207内部の流路を構成する部品及び流路内に充填された圧力伝達媒体は温度上昇の影響により膨張する。よって、時点t=t2からt=t3の間、特に温度の勾配が急である時点t=t2の直後に試料の分注を行うと、分注される試料の量に誤差が発生し、分注精度が低下する。 In this case, from time t=t2 to t=t3 shown in FIG. expands due to the effect of temperature rise. Therefore, if the sample is dispensed from time t=t2 to t=t3, especially immediately after time t=t2 where the temperature gradient is steep, an error will occur in the amount of sample dispensed, resulting in an error in the amount of sample dispensed. NOTE Accuracy is reduced.

なお、自動分析装置1の外部からタンク2078に補充される圧力伝達媒体の温度が装置内の温度より高い場合でも、温度の勾配が急である期間(温度が急降下する期間)が発生するため、当該期間に試料の分注を行うと、分注される試料の量に誤差が発生し、分注精度が低下する。 Even when the temperature of the pressure transmission medium replenished in the tank 2078 from the outside of the automatic analyzer 1 is higher than the temperature inside the device, a period during which the temperature gradient is steep (a period during which the temperature drops rapidly) occurs. If the sample is dispensed during this period, an error will occur in the amount of the sample to be dispensed, and the dispensing accuracy will decrease.

一方、図6に示されるグラフG2では、本実施形態に係る自動分析装置1が有する熱交換器2076が熱交換を行うことにより、サンプル分注プローブ205の洗浄動作の前後で温度Tは、自動分析装置1の外部からタンク2078に補充される圧力伝達媒体の温度にかかわらず、例えば略T=T1のままであり、温度の勾配(変化率)が急な時間帯はなくなる。このため、サイクルタイムが短く設定されており、洗浄直後に微量の試料を分注しなければならない場合、すなわち1回の分注に用いられる試料の量が微量である場合でも、分注精度の低下を防止することができる。微量とは、例えば1μl程度の量を示す。 On the other hand, in the graph G2 shown in FIG. 6, the temperature T before and after the cleaning operation of the sample pipetting probe 205 is automatically changed by heat exchange by the heat exchanger 2076 of the automatic analyzer 1 according to the present embodiment. Regardless of the temperature of the pressure transmission medium replenished in the tank 2078 from the outside of the analyzer 1, the temperature remains approximately T=T1, for example, and there is no period of time in which the temperature gradient (rate of change) is steep. Therefore, even if the cycle time is set short and a very small amount of sample must be dispensed immediately after washing, that is, even if the amount of sample used for one dispensing is very small, the dispensing accuracy can be improved. A decrease can be prevented. A minute amount indicates an amount of about 1 μl, for example.

上記実施形態によれば、熱交換器2076は、タンク2078から供給された圧力伝達媒体(液体)が開閉弁2074に到達するまでの流路中に設けられる。熱交換器2076は、上記流路中の少なくとも一部において自動分析装置1の装置内の大気と圧力伝達媒体との間で熱交換を行う。 According to the above-described embodiment, the heat exchanger 2076 is provided in the flow path until the pressure transmission medium (liquid) supplied from the tank 2078 reaches the on-off valve 2074 . The heat exchanger 2076 exchanges heat between the atmosphere in the automatic analyzer 1 and the pressure transmission medium in at least part of the flow path.

これにより、タンク2078から供給された圧力伝達媒体の温度は、熱交換器2076において装置内の大気の温度に近づく。よって、サンプル分注プローブ205の先端から開閉弁2074までの範囲の圧力伝達媒体が流れる流路の内外の温度を常に均一に保つことができる。すなわち、サンプル分注プローブ205の内壁の洗浄前後において、サンプル分注プローブ205の先端から開閉弁2074までの範囲の流路において、流路を構成する部品及び流路内を流れる圧力伝達媒体の体積の膨張又は収縮の発生を抑止することができる。したがって、洗浄直後に試料を分注した場合でも、分注される試料の量に誤差は発生しない。 As a result, the temperature of the pressure transfer medium supplied from the tank 2078 approaches the temperature of the atmosphere in the apparatus at the heat exchanger 2076 . Therefore, the temperature inside and outside the channel through which the pressure transmission medium flows in the range from the tip of the sample pipetting probe 205 to the on-off valve 2074 can always be kept uniform. That is, before and after washing the inner wall of the sample pipetting probe 205, in the channel from the tip of the sample pipetting probe 205 to the on-off valve 2074, the volume of the components constituting the channel and the pressure transmission medium flowing in the channel It is possible to suppress the occurrence of expansion or contraction of the. Therefore, even if the sample is dispensed immediately after washing, there is no error in the amount of the dispensed sample.

また、本実施形態に係る熱交換器2076は、制御回路8で制御することなく、熱交換を行うことができる。このため、圧力伝達媒体の加熱に用いるヒータ等を設けて能動的に温度制御を行う場合に比べて、設置コスト、及び運用コストを抑えることができる。また、熱交換器2076は、ステンレスパイプ等の簡易な構造のもので足りるため、ヒータ等に比べて設置規模等を小さく抑えることできる。また、熱交換器2076は、自身が熱量を発生させるものではないため、ヒータ等を設ける場合に比べて装置内部の温度上昇を抑えることができる。 Also, the heat exchanger 2076 according to this embodiment can perform heat exchange without being controlled by the control circuit 8 . Therefore, the installation cost and operation cost can be reduced compared to the case where a heater or the like used for heating the pressure transmission medium is provided to actively control the temperature. In addition, since the heat exchanger 2076 can have a simple structure such as a stainless steel pipe, the scale of installation can be reduced compared to a heater or the like. In addition, since the heat exchanger 2076 itself does not generate heat, it is possible to suppress the temperature rise inside the apparatus compared to the case where a heater or the like is provided.

また、熱交換器2076は、2つの物質間で熱交換を行うものであるため、タンク2078に貯留された圧力伝達媒体の温度が装置内の大気の温度に比べて高い場合でも低い場合でも、当該圧力伝達媒体の温度を装置内の大気の温度に近づけることが可能である。一方、ヒータを用いる場合は、タンク2078に貯留された圧力伝達媒体の温度が装置内の大気の温度に比べて低い場合にしか対応できない。 In addition, since the heat exchanger 2076 exchanges heat between two substances, regardless of whether the temperature of the pressure transmission medium stored in the tank 2078 is higher or lower than the temperature of the atmosphere in the apparatus, It is possible to bring the temperature of the pressure transmission medium closer to the temperature of the atmosphere in the device. On the other hand, the use of a heater can only be used when the temperature of the pressure transmission medium stored in the tank 2078 is lower than the temperature of the air inside the apparatus.

また、熱交換器2076は、タンク2078と開閉弁2074との間に設けられるため、断熱が必要な範囲を熱交換器2076の出口からサンプル分注プローブ205の先端までの流路に限定できる。すなわち、タンク2078から熱交換器2076までの流路は断熱材で覆う必要がない。よって、断熱材に関するコストを抑えることができる。 Also, since the heat exchanger 2076 is provided between the tank 2078 and the on-off valve 2074 , the range requiring heat insulation can be limited to the flow path from the outlet of the heat exchanger 2076 to the tip of the sample dispensing probe 205 . That is, the flow path from tank 2078 to heat exchanger 2076 does not need to be covered with heat insulating material. Therefore, the cost related to the heat insulating material can be suppressed.

したがって、従来に比して簡易且つ安価な構成で分注精度の低下を防ぐことが可能となる。 Therefore, it is possible to prevent a decrease in dispensing accuracy with a simpler and cheaper configuration than the conventional one.

なお、第1試薬分注ユニット213、及び第2試薬分注ユニット219がそれぞれ有する熱交換器により、試薬の分注精度の低下を防ぎつつ、1回の分析に用いる試薬の量を低減することができる。このため、試薬コストの削減を実現することが可能となる。 The heat exchangers of the first reagent dispensing unit 213 and the second reagent dispensing unit 219 can reduce the amount of reagents used for one analysis while preventing deterioration of reagent dispensing accuracy. can be done. Therefore, it is possible to reduce the reagent cost.

なお、圧力伝達媒体として、純水等を用いる本実施の形態において、熱交換器2076は、ステンレス材質のパイプを用いることが最も好ましい。ステンレスパイプは、表面に不動態皮膜が形成されるため、純水等にパイプを構成する材料が溶出することを防止することができる。パイプを構成する材料が溶出した純水等を用いて、検体や試薬の希釈、プローブや反応管の洗浄等を行うと、溶出した成分が分析結果に影響を及ぼすおそれがあるためである。 In this embodiment, which uses pure water or the like as a pressure transmission medium, it is most preferable to use a pipe made of stainless steel as the heat exchanger 2076 . Since a passivation film is formed on the surface of the stainless steel pipe, it is possible to prevent the material constituting the pipe from eluting into pure water or the like. This is because, if the sample or reagent is diluted or the probe or reaction tube is washed using pure water or the like in which the materials constituting the pipe are eluted, the eluted components may affect the analysis results.

[他の実施形態]
なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態では、熱交換器2076は、ステンレスパイプを例として説明したがこれに限定されない。例えば、熱交換器2076は、表面に不動態皮膜を形成しやすいアルミニウムパイプや、熱伝導性に優れた銅パイプ等で構成されたものであってもよい。また、熱交換器2076は、ステンレスパイプ等に伝熱面拡大のためのフィンを取り付けたもの等、熱交換効率を更に高めるための機能が付加されたものであってもよい。
[Other embodiments]
In addition, this invention is not limited to the said embodiment. In the above embodiment, the heat exchanger 2076 is described as being a stainless steel pipe, but it is not limited to this. For example, the heat exchanger 2076 may be made of an aluminum pipe that easily forms a passive film on its surface, or a copper pipe that has excellent thermal conductivity. Also, the heat exchanger 2076 may be a stainless steel pipe or the like with fins attached to expand the heat transfer surface, or the like, to which a function for further increasing the heat exchange efficiency may be added.

また、熱交換器2076は、物質間で熱交換を行うことが可能なものであればどのような形態や構造のものであってもよい。熱交換器2076は、例えば二重管型熱交換器、プレート型熱交換器、シェルアンドチューブ型熱交換器、クロスフィン型熱交換器、又はコンパクト熱交換器等であってもよい。 Also, the heat exchanger 2076 may have any form or structure as long as it is capable of exchanging heat between substances. Heat exchanger 2076 may be, for example, a double tube heat exchanger, a plate heat exchanger, a shell and tube heat exchanger, a cross-fin heat exchanger, a compact heat exchanger, or the like.

図7は、他の実施形態に係る熱交換器2076Aの構成の例を示す図である。熱交換器2076Aは、熱交換器2076と同じ材質のものを用いることができる。図7によれば、熱交換器2076Aは、螺旋(へリックス)状の立体構造を有する。また、熱交換器2076Aは、同じ長さの流路を構成する2つのチューブ20761A、及びチューブ20762Aを有する。熱交換器2076Aは、チューブの螺旋状の立体構造を有することにより、例えば図4Bに示される熱交換器2076と比して、例えば装置内において同一の占有体積の下で流路をより長く取ることができる。また、熱交換器2076Aは、流路を長く取ることにより圧力伝達媒体と装置内の大気との間で熱交換を行う表面積を拡げることができる。すなわち、熱交換器を通過する圧力伝達媒体を当該熱交換器内部により長時間滞留させることができる。このため、圧力伝達媒体が熱交換器2076Aを通過する間に、圧力伝達媒体の温度を装置内の大気の温度へより近づけることが可能となる。 FIG. 7 is a diagram showing an example of the configuration of a heat exchanger 2076A according to another embodiment. The same material as the heat exchanger 2076 can be used for the heat exchanger 2076A. According to FIG. 7, the heat exchanger 2076A has a helical three-dimensional structure. Also, the heat exchanger 2076A has two tubes 20761A and 20762A that form flow paths of the same length. The heat exchanger 2076A has a helical configuration of the tubes, so that it takes up a longer flow path under the same occupied volume, for example, in the device compared to the heat exchanger 2076 shown in FIG. be able to. In addition, the heat exchanger 2076A can increase the surface area for heat exchange between the pressure transmission medium and the atmosphere in the apparatus by lengthening the flow path. That is, the pressure transmission medium passing through the heat exchanger can be retained inside the heat exchanger for a longer time. This allows the temperature of the pressure transfer medium to be brought closer to the temperature of the atmosphere in the device while the pressure transfer medium passes through the heat exchanger 2076A.

また、熱交換器2076Aは、例えば図4Bに示される熱交換器2076と比して、流路を長く取る構成上チューブの直径を小さくしている。通常、液体供給ポンプ2077の流量が同程度である場合、熱交換器が有するチューブの直径が大きければ大きい程、チューブ内部に供給すべき圧力伝達媒体以外、例えば気泡などによる隙間ができ、圧力伝達媒体とパイプの接触面積を低下させ熱交換効率を低下させてしまう恐れがある。他の実施形態に係る熱交換器2076Aによれば、液体供給ポンプ2077の流量が同程度である場合、図4Aに示される熱交換器2076と比して、熱交換器内部に隙間なく圧力伝達媒体を充填させることができる。これにより、気泡が熱交換器内部に残留することを抑えることが可能となる。 In addition, the heat exchanger 2076A has tubes with a smaller diameter in order to provide a longer flow path than, for example, the heat exchanger 2076 shown in FIG. 4B. Generally, when the flow rate of the liquid supply pump 2077 is about the same, the larger the diameter of the tube that the heat exchanger has, the more gaps are formed inside the tube due to other than the pressure transmission medium to be supplied, such as air bubbles. There is a risk that the contact area between the medium and the pipe will be reduced and the heat exchange efficiency will be reduced. According to the heat exchanger 2076A according to another embodiment, when the flow rate of the liquid supply pump 2077 is about the same, the pressure is transmitted without gaps inside the heat exchanger as compared with the heat exchanger 2076 shown in FIG. 4A. It can be filled with media. This makes it possible to suppress the air bubbles from remaining inside the heat exchanger.

また、上記実施形態においては、図4Aに示されるサンプル分注プローブ及びサンプル分注ユニットの各構成要素のうち、少なくとも一部を断熱材で覆っていたがこれに限定されない。例えば、図4Aに示されるサンプル分注プローブ及びサンプル分注ユニットの各構成要素そのものの少なくとも一部を断熱材で構成してもよい。 Moreover, in the above-described embodiment, at least a part of each component of the sample pipetting probe and the sample pipetting unit shown in FIG. 4A is covered with a heat insulating material, but the present invention is not limited to this. For example, at least a portion of each component of the sample pipetting probe and sample pipetting unit shown in FIG. 4A may be made of heat insulating material.

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(central processing unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて1つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図1における複数の構成要素を1つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。 The term "processor" used in the above description is, for example, a CPU (central processing unit), a GPU (Graphics Processing Unit), or an application specific integrated circuit (ASIC), a programmable logic device (e.g., Circuits such as Simple Programmable Logic Device (SPLD), Complex Programmable Logic Device (CPLD), and Field Programmable Gate Array (FPGA)). The processor realizes its functions by reading and executing the programs stored in the memory circuit. Note that each processor of the present embodiment is not limited to being configured as a single circuit for each processor, and may be configured as one processor by combining a plurality of independent circuits to realize its function. good. Furthermore, a plurality of components in FIG. 1 may be integrated into one processor to realize its functions.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。 While several embodiments of the invention have been described, these embodiments have been presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and modifications can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the scope of the invention described in the claims and equivalents thereof.

1…自動分析装置、2…分析機構、3…解析回路、4…駆動機構、5…入力インタフェース、6…ディスプレイ、7…メモリ、8…制御回路、81…システム制御機能、100…試料容器、101…試薬容器、102…サンプルラック、201…反応ディスク、202…試薬庫、204…サンプル分注アーム、205…サンプル分注プローブ、207…サンプル分注ユニット、208…洗浄プール、210…第1試薬分注アーム、211…第1試薬分注プローブ、213…第1試薬分注ユニット、214…洗浄プール、216…第2試薬分注アーム、217…第2試薬分注プローブ、219…第2試薬分注ユニット、220…洗浄プール、222…第1撹拌ユニット、223…第2撹拌ユニット、224…測光ユニット、225…洗浄ユニット、226…電解質測定ユニット、230…ラック投入ユニット、231…投入レーン、240…ラック移動ユニット、241…搬送アーム、242…搬送レール、243…サンプリングレーン、244…バッファレーン、245…リーダ、250…ラック回収ユニット、251…第1回収レーン、252…第2回収レーン、260…ラック投入レーン、2011…反応管、2012…恒温槽、2021…外円、2022…内円、2071…第1のチューブ、2072…シリンジポンプ、2073…第2のチューブ、2074…開閉弁、2075…第3のチューブ、2076…熱交換器、2077…液体供給ポンプ、2078…タンク、20721…シリンジ、20722…プランジャ、P1…サンプル吸引位置、P2…サンプル吐出位置、P3…サンプルプローブ洗浄位置、P4…第1試薬吐出位置、P5…第1試薬プローブ洗浄位置、P6…第2試薬吐出位置、P7…第2試薬プローブ洗浄位置。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Automatic analyzer, 2... Analysis mechanism, 3... Analysis circuit, 4... Drive mechanism, 5... Input interface, 6... Display, 7... Memory, 8... Control circuit, 81... System control function, 100... Sample container, DESCRIPTION OF SYMBOLS 101... Reagent container, 102... Sample rack, 201... Reaction disk, 202... Reagent storage, 204... Sample dispensing arm, 205... Sample dispensing probe, 207... Sample dispensing unit, 208... Washing pool, 210... First Reagent dispensing arm 211 First reagent dispensing probe 213 First reagent dispensing unit 214 Cleaning pool 216 Second reagent dispensing arm 217 Second reagent dispensing probe 219 Second Reagent dispensing unit 220 Washing pool 222 First stirring unit 223 Second stirring unit 224 Photometry unit 225 Washing unit 226 Electrolyte measurement unit 230 Rack input unit 231 Input lane , 240... Rack moving unit, 241... Transfer arm, 242... Transfer rail, 243... Sampling lane, 244... Buffer lane, 245... Reader, 250... Rack recovery unit, 251... First recovery lane, 252... Second recovery lane , 260... Rack input lane, 2011... Reaction tube, 2012... Constant temperature bath, 2021... Outer circle, 2022... Inner circle, 2071... First tube, 2072... Syringe pump, 2073... Second tube, 2074... On-off valve , 2075...Third tube 2076...Heat exchanger 2077...Liquid supply pump 2078...Tank 20721...Syringe 20722...Plunger P1...Sample suction position P2...Sample discharge position P3...Sample probe washing position , P4... First reagent ejection position, P5... First reagent probe washing position, P6... Second reagent ejection position, P7... Second reagent probe washing position.

Claims (10)

第1の液体を貯留する液体タンクと、
前記液体タンクから供給された前記第1の液体を加圧し、送出する第1のポンプと、
前記第1のポンプから送出された前記第1の液体を圧力伝達媒体として用いる分注プローブと、
前記第1のポンプと前記液体タンクとを接続する第1の流路の少なくとも一部において自装置内の大気と前記第1の液体との間で熱交換を行う熱交換器と、
前記第1のポンプと前記液体タンクとの間に設けられ、前記液体タンクから前記第1のポンプへの前記第1の液体の供給を制御する開閉弁と
を具備し、
前記熱交換器は、前記液体タンクと前記開閉弁との間に配置され、
前記分注プローブから前記開閉弁までの流路の少なくとも一部が断熱構造である、自動分析装置。
a liquid tank that stores the first liquid;
a first pump that pressurizes and delivers the first liquid supplied from the liquid tank;
a dispensing probe that uses the first liquid delivered from the first pump as a pressure transmission medium;
a heat exchanger that exchanges heat between the atmosphere in the device and the first liquid in at least part of a first flow path that connects the first pump and the liquid tank;
an on-off valve provided between the first pump and the liquid tank for controlling supply of the first liquid from the liquid tank to the first pump;
and
The heat exchanger is arranged between the liquid tank and the on-off valve,
An automatic analyzer , wherein at least part of a channel from the dispensing probe to the on-off valve has a heat-insulating structure .
前記断熱構造は、前記分注プローブと前記第1のポンプとを接続する第2の流路の少なくとも一部である請求項1に記載の自動分析装置。 2. The automatic analyzer according to claim 1, wherein said heat insulating structure is at least part of a second flow path connecting said dispensing probe and said first pump. 前記断熱構造は、前記第1の流路のうち前記第1のポンプと前記開閉弁とを接続する流路の少なくとも一部である請求項に記載の自動分析装置。 2. The automatic analyzer according to claim 1 , wherein said heat insulating structure is at least part of a channel connecting said first pump and said on-off valve in said first channel. 前記断熱構造は、前記第1の流路のうち前記開閉弁と前記熱交換器とを接続する流路の少なくとも一部である請求項に記載の自動分析装置。 2. The automatic analyzer according to claim 1 , wherein said heat insulating structure is at least part of a channel connecting said on-off valve and said heat exchanger in said first channel. 前記開閉弁と前記液体タンクとの間に設けられ、前記液体タンクから前記開閉弁へ前記第1の液体を供給する第2のポンプをさらに備える請求項に記載の自動分析装置。 2. The automatic analyzer according to claim 1 , further comprising a second pump provided between said on-off valve and said liquid tank for supplying said first liquid from said liquid tank to said on-off valve. 前記熱交換器は、前記第1の流路の一部であって、前記開閉弁と前記第2のポンプとを接続する流路のうち前記開閉弁近傍に配置されている請求項に記載の自動分析装置。 6. The heat exchanger according to claim 5 , wherein the heat exchanger is part of the first flow path and is arranged in the vicinity of the on-off valve in the flow path connecting the on-off valve and the second pump. automatic analyzer. 前記第1の液体は、当該自動分析装置の外部から前記液体タンクに補充される請求項1乃至のうちいずれかに記載の自動分析装置。 7. The automatic analyzer according to any one of claims 1 to 6 , wherein said first liquid is replenished in said liquid tank from the outside of said automatic analyzer. 前記第1の液体は、純水である請求項1乃至のうちいずれかに記載の自動分析装置。 The automatic analyzer according to any one of claims 1 to 7 , wherein said first liquid is pure water. 前記熱交換器はステンレスパイプである請求項1乃至のうちいずれかに記載の自動分析装置。 9. The automatic analyzer according to any one of claims 1 to 8 , wherein said heat exchanger is a stainless steel pipe. 前記熱交換器は螺旋状のチューブを有する請求項1乃至のうちいずれかに記載の自動分析装置。 10. The automatic analyzer according to any one of claims 1 to 9 , wherein said heat exchanger has a spiral tube.
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