JP7109700B2 - Control device - Google Patents
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Description
本開示は、前照灯の制御装置に関する。 The present disclosure relates to a headlamp control device.
従来、互いに直列に接続された複数個の発光ダイオード(以下「LED」という。)が前照灯の光源に用いられている。複数個のLEDを含むグループ(以下「LED群」という。)は、複数個のセグメントに分割されている。複数個のセグメントは、互いに独立して点灯自在である。すなわち、複数個のセグメントは、個別に点灯自在である。これにより、複数種類の配光が実現される。具体的には、例えば、ロービーム用の配光及びハイビーム用の配光が実現される。また、例えば、いわゆる「配光可変型前照灯」用の配光が実現される。また、例えば、いわゆる「連鎖式方向指示器」用の配光が実現される。 2. Description of the Related Art Conventionally, a plurality of light emitting diodes (hereinafter referred to as "LEDs") connected in series are used as a light source for a headlamp. A group including a plurality of LEDs (hereinafter referred to as "LED group") is divided into a plurality of segments. A plurality of segments can be lit independently of each other. That is, a plurality of segments can be lit individually. As a result, multiple types of light distribution are realized. Specifically, for example, light distribution for low beam and light distribution for high beam are realized. Also, for example, a light distribution for a so-called "variable light distribution headlamp" is realized. Also, for example, a light distribution for a so-called "link indicator" is realized.
かかる前照灯において、個々のセグメントにおける故障を検出する技術が開発されている。例えば、特許文献1には、複数個のセグメントに対応する複数個の電圧検出器を用いて、個々のセグメントにおける故障を検出する技術が開示されている。
In such headlamps, techniques have been developed to detect faults in individual segments. For example,
特許文献1記載の技術においては、前照灯の点灯装置に複数個の電圧検出器が設けられる。これにより、点灯装置の回路規模が大きくなる。換言すれば、点灯装置の回路規模を小さくすることが困難であるという問題があった。
In the technique described in
本開示は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、個々のセグメントにおける故障を検出するにあたり、点灯装置の回路規模を低減することを目的とする。 The present disclosure has been made to solve the above-described problems, and aims to reduce the circuit scale of a lighting device when detecting failures in individual segments.
本開示に係る制御装置は、複数個のセグメントを含むLED群を有する前照灯の制御装置であって、個々のセグメントに対応する電圧推定値を演算する電圧推定部と、電源回路によるLED群に対する電流供給タイミングをセグメント毎に異なるシフト量にてシフトするシフト処理を実行するシフト処理部と、シフト処理に応じて、電源回路の出力電圧を検出する電圧検出器を用いて個々のセグメントに対応する電圧検出値を順次演算する電圧検出部と、個々の電圧検出値を対応する電圧推定値と比較することにより個々のセグメントにおける故障の有無を判断する故障検出処理を実行する故障検出部とを備え、前照灯が点灯を開始したとき、前記シフト処理及び前記故障検出処理が実行されるものである。 A control device according to the present disclosure is a control device for a headlight having an LED group including a plurality of segments, and includes a voltage estimating unit that calculates a voltage estimation value corresponding to each segment, and a power supply circuit for the LED group. corresponding to each segment using a shift processing unit that shifts the current supply timing for each segment by a different amount of shift, and a voltage detector that detects the output voltage of the power supply circuit according to the shift processing. and a fault detection section for executing fault detection processing for judging the presence or absence of a fault in each segment by comparing each detected voltage value with the corresponding estimated voltage value. The shift processing and the failure detection processing are executed when the headlights start lighting .
本開示によれば、上記のように構成したので、個々のセグメントにおける故障を検出するにあたり、点灯装置における電圧検出器の個数を低減することができる。この結果、点灯装置の回路規模を低減することができる。 According to the present disclosure, since it is configured as described above, it is possible to reduce the number of voltage detectors in the lighting device when detecting failures in individual segments. As a result, the circuit scale of the lighting device can be reduced.
以下、この開示をより詳細に説明するために、この開示を実施するための形態について、添付の図面に従って説明する。 Hereinafter, in order to describe this disclosure in more detail, embodiments for implementing this disclosure will be described with reference to the accompanying drawings.
実施の形態1.
図1は、実施の形態1に係る制御装置を含む前照灯の要部を示す説明図である。図1を参照して、実施の形態1に係る制御装置を含む前照灯について説明する。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a main part of a headlamp including a control device according to
前照灯100は、車両(不図示)に設けられている。前照灯100の光源は、LED群1により構成されている。LED群1は、複数個のセグメントSGに分割されている。個々のセグメントSGは、1個のLED2又は互いに直列に接続された複数個のLED2を含むものである。以下、LED群1が3個のセグメントSG_1,SG_2,SG_3に分割されている場合の例を中心に説明する。セグメントSG_1は、例えば、互いに直列に接続された8個のLED2を含むものである。セグメントSG_2は、例えば、互いに直列に接続された3個のLED2を含むものである。セグメントSG_3は、例えば、1個のLED2を含むものである。
The
前照灯100は、LED群1用の点灯装置200を有している。点灯装置200は、電源回路3を含むものである。電源回路3は、例えば、DC/DCコンバータにより構成されている。電源回路3は、定電流制御によりLED群1に電流を供給するものである。すなわち、電源回路3は、LED群1に所定の電流を供給するものである。
The
点灯装置200は、スイッチ回路群4を含むものである。スイッチ回路群4は、複数個のセグメントSGに対応する複数個のスイッチ回路5を含むものである。以下、3個のセグメントSG_1,SG_2,SG_3に対応する3個のスイッチ回路5_1,5_2,5_3がスイッチ回路群4に含まれる場合の例を中心に説明する。
The
点灯装置200は、駆動回路6を含むものである。駆動回路6は、複数個のスイッチ回路5のうちの選択された1個以上のスイッチ回路5をPWM(Pulse Width Modulation)制御により駆動するものである。すなわち、駆動回路6は、複数個のスイッチ回路5を互いに独立して駆動自在なものである。換言すれば、駆動回路6は、複数個のスイッチ回路5を個別に駆動自在なものである。
The
個々のスイッチ回路5の状態がオン状態であるときは、対応するセグメントSGがバイパスされることにより、対応するセグメントSGに上記所定の電流が流れない。これにより、対応するセグメントSGの状態が消灯状態となる。他方、個々のスイッチ回路5の状態がオフ状態であるときは、対応するセグメントSGがバイパスされないことにより、対応するセグメントSGに上記制定の電流が流れる。これにより、対応するセグメントSGの状態が点灯状態となる。 When each switch circuit 5 is in the ON state, the corresponding segment SG is bypassed so that the predetermined current does not flow through the corresponding segment SG. As a result, the state of the corresponding segment SG is turned off. On the other hand, when each switch circuit 5 is in the OFF state, the corresponding segment SG is not bypassed, so that the above defined current flows through the corresponding segment SG. As a result, the state of the corresponding segment SG is turned on.
これにより、複数種類の配光が実現される。具体的には、例えば、ロービーム用の配光に対応する1個以上のセグメントSGがLED群1に含まれている。当該1個以上のセグメントSGが点灯することにより、ロービーム用の配光が実現される。また、例えば、ハイビーム用の配光に対応する1個以上のセグメントSGがLED群1に含まれている。当該1個以上のセグメントSGが点灯することにより、ハイビーム用の配光が実現される。
As a result, multiple types of light distribution are realized. Specifically, for example, the
点灯装置200は、制御装置300を含むものである。制御装置300は、電子制御ユニット(以下「ECU」という。)400と通信自在である。ECU400は、車両内に設けられており、かつ、前照灯100外に設けられている。ECU400は、制御装置300に対する上位のECUである。
The
ECU400は、前照灯100用の点灯指示信号S1を制御装置300に送信するものである。制御装置300は、当該送信された点灯指示信号S1を受信するものである。点灯指示信号S1は、例えば、上記複数種類の配光のうちの選択された1種類の配光による前照灯100の点灯を指示する信号である。換言すれば、点灯指示信号S1は、例えば、複数個のセグメントSGのうちの選択された1個以上のセグメントSGの点灯を指示する信号である。
ECU 400 transmits a lighting instruction signal S<b>1 for
制御装置300は、点灯指示信号S1の内容に応じて、上記定電流制御を実現するための制御信号(以下「第1制御信号」という。)S2を電源回路3に出力するものである。すなわち、制御装置300は、点灯指示信号S1が示す配光にて点灯の対象となるLED2の個数に応じて、上記定電流制御を実現するための第1制御信号S2を電源回路3に出力する。換言すれば、制御装置300は、第1制御信号S2を電源回路3に出力することにより、電源回路3を制御するものである。
The
制御装置300は、点灯指示信号S1の内容に応じて、上記PWM制御を実現するための制御信号(以下「第2制御信号」という。)S3を駆動回路6に出力するものである。すなわち、制御装置300は、点灯指示信号S1が示す配光にて点灯の対象となるセグメントSGに応じて、上記PWM制御を実現するための第2制御信号S3を駆動回路6に出力する。換言すれば、制御装置300は、第2制御信号S3を駆動回路6に出力することにより、駆動回路6を制御するものである。
The
これにより、点灯指示信号S1の内容に応じたLED群1の点灯が実現される。すなわち、ECU400により指示された配光による前照灯100の点灯が実現される。
As a result, lighting of the
このように、制御装置300は、ECU400による指示に応じて前照灯100を点灯する制御(以下「点灯制御」という。)を実行する動作モード(以下「通常点灯モード」という。)を有している。通常点灯モードにおける制御装置300による電源回路3及び駆動回路6の制御には、公知の種々の技術を用いることができる。これらの技術についての詳細な説明は省略する。
Thus,
これに加えて、制御装置300は、個々のセグメントSGにおける故障を検出する動作モード(以下「故障検出モード」という。)を有している。以下、図1~図7を参照して、故障検出モードについて説明する。
In addition to this, the
図1に示す如く、点灯装置200は、電圧検出器7を含むものである。図2に示す如く、制御装置300は、電圧推定部11、シフト処理部12、電圧検出部13及び故障検出部14を含むものである。
As shown in FIG. 1,
電圧検出器7は、電源回路3の出力電圧V1を継続的に検出するものである。
A
電圧推定部11は、個々のセグメントSGに対応する電圧の推定値(以下「電圧推定値」という。)V2を演算する処理(以下「電圧推定処理」という。)を実行するものである。電圧推定値V2は、個々のセグメントSGの電圧特性を示す情報(以下「特性情報」という。)に基づき演算される。特性情報は、例えば、電圧推定部11に予め記憶されている。図3は、特性情報に対応する特性表の例を示している。
The
シフト処理部12は、電源回路3によるLED群1に対する電流供給タイミングをセグメントSG毎に異なるシフト量δにてシフトする処理(以下「シフト処理」という。)を実行するものである。シフト処理は、上記PWM制御における制御周期ΔTをセグメントSG毎に異なるずらし量δにてずらすことにより実現される。または、シフト処理は、上記PWM制御におけるデューティ比DRをセグメントSG毎に異なる低下量δにて一時的に低下させることにより実現される。すなわち、シフト処理には、第2制御信号S3が用いられる。
The
シフト処理は、前照灯100が点灯を開始したタイミング(以下「第1タイミング」ということがある。)又は前照灯100に対する点灯指示の内容が変化したタイミング(以下「第2タイミング」ということがある。)のうちの少なくも一方のタイミングにて実行される。すなわち、第2タイミングは、前照灯100の点灯中に点灯指示信号S1の内容が変化したタイミングである。換言すれば、第2タイミングは、前照灯100の点灯中にECU400により指示される配光が変化したタイミングである。
The shift process is performed at the timing when the
電圧検出部13は、シフト処理に応じて、個々のセグメントSGに対応する電圧の検出値(以下「電圧検出値」という。)V3を順次演算する処理(以下「電圧検出処理」という。)を実行するものである。電圧検出値V3は、電圧検出器7により検出された出力電圧V1を用いて演算される。
The
故障検出部14は、個々の電圧検出値V3を対応する電圧推定値V2と比較することにより個々のセグメントSGにおける故障の有無を判断する処理(以下「故障検出処理」という。)を実行するものである。これにより、個々のセグメントSGにおける故障が検出される。
The
制御装置300は、個々のセグメントSGについて、当該セグメントSGに故障があると判断された場合、当該セグメントSGを示す情報(以下「故障セグメント情報」という。)を記憶する。すなわち、故障セグメント情報は、故障中のセグメントSGを示す情報である。制御装置300は、故障セグメント情報に対応する信号(以下「故障通知信号」という。)S4をECU400に送信する。ECU400は、当該送信された故障通知信号S4を受信する。
For each segment SG, when it is determined that the segment SG has a failure, the
これに対して、ECU400は、例えば、前照灯100の消灯を指示する点灯指示信号S1を制御装置300に送信する。かかる点灯指示信号S1は、例えば、全てのセグメントSGが故障中である場合に送信される。または、ECU400は、例えば、故障中のセグメントSGの消灯を指示する点灯指示信号S1を制御装置300に送信する。かかる点灯指示信号S1は、例えば、一部のセグメントSGのみが故障中である場合に送信される。また、ECU400は、例えば、前照灯100の故障により故障中のセグメントSGに対応する配光が実現できないことを車両の運転者に通知する制御を実行する。
In response to this, the
ここで、図4~図7の各々を参照して、電圧推定処理、シフト処理、電圧検出処理及び故障検出処理の具体例について説明する。なお、時刻t0以降における点灯指示信号S1は、全てのセグメントSG_1,SG_2,SG_3の点灯を指示しているものとする。また、いずれのセグメントSGにおいても故障が発生していないものとする。換言すれば、全てのセグメントSGが正常であるものとする。 Specific examples of voltage estimation processing, shift processing, voltage detection processing, and failure detection processing will now be described with reference to FIGS. It is assumed that the lighting instruction signal S1 after time t0 instructs lighting of all the segments SG_1, SG_2, and SG_3. It is also assumed that no failure has occurred in any segment SG. In other words, assume that all segments SG are normal.
〈第1具体例(図4参照)〉
第1具体例においては、セグメントSG_1に対応するデューティ比DR_1が100%に設定されており、かつ、セグメントSG_2に対応するデューティ比DR_2が100%に設定されており、かつ、セグメントSG_3に対応するデューティ比DR_3が100%に設定されている。第1具体例におけるシフト処理は、制御周期ΔTをセグメントSG毎に異なるずらし量δにてずらすものである。図中、ΔT_1、ΔT_2及びΔT_3の各々は、PWMの1周期に対応している。<First specific example (see FIG. 4)>
In the first specific example, the duty ratio DR_1 corresponding to the segment SG_1 is set to 100%, the duty ratio DR_2 corresponding to the segment SG_2 is set to 100%, and the duty ratio DR_2 corresponding to the segment SG_3 is set to 100%. Duty ratio DR_3 is set to 100%. The shift processing in the first specific example shifts the control cycle ΔT by a different shift amount δ for each segment SG. In the figure, each of ΔT_1, ΔT_2 and ΔT_3 corresponds to one cycle of PWM.
電圧推定部11は、特性情報に基づき、セグメントSG_1に対応する電圧推定値V2_1、セグメントSG_2に対応する電圧推定値V2_2、及びセグメントSG_3に対応する電圧推定値V2_3を演算する。
The
時刻t0は、第1タイミング又は第2タイミングに対応している。時刻t0にて、シフト処理が開始される。すなわち、シフト処理部12は、セグメントSG_1に対応する制御周期ΔT_1をずらし量δ_1にてずらす処理を実行する(δ_1=0)。また、シフト処理部12は、セグメントSG_2に対応する制御周期ΔT_2をずらし量δ_2にてずらす処理を実行する(δ_2>δ_1)。また、シフト処理部12は、セグメントSG_3に対応する制御周期ΔT_3をずらし量δ_3にてずらす処理を実行する(δ_3>δ_2)。
Time t0 corresponds to the first timing or the second timing. At time t0, shift processing is started. That is, the
時刻t1においては、スイッチ回路5_1の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_2,5_3の状態がオン状態である。そこで、電圧検出部13は、当該時刻t1にて電圧検出器7により検出された出力電圧V1_1を用いて、セグメントSG_1に対応する電圧検出値V3_1を演算する。すなわち、電圧検出値V3_1は、以下の式(1)により演算される。
At time t1, the switch circuit 5_1 is in the OFF state, and the switch circuits 5_2 and 5_3 are in the ON state. Therefore, the
V3_1=V1_1 (1) V3_1=V1_1 (1)
時刻t2においては、スイッチ回路5_1,5_2の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_3の状態がオン状態である。そこで、電圧検出部13は、上記時刻t1にて電圧検出器7により検出された出力電圧V1_1及び当該時刻t2にて電圧検出器7により検出された出力電圧V1_2を用いて、セグメントSG_2に対応する電圧検出値V3_2を演算する。すなわち、電圧検出値V3_2は、以下の式(2)により演算される。
At time t2, switch circuits 5_1 and 5_2 are off, and switch circuit 5_3 is on. Therefore, the
V3_2=V1_2-V1_1 (2) V3_2=V1_2-V1_1 (2)
時刻t3においては、スイッチ回路5_1,5_2,5_3の状態がオフ状態である。そこで、電圧検出部13は、上記時刻t2にて電圧検出器7により検出された出力電圧V1_2及び当該時刻t3にて電圧検出器7により検出された出力電圧V1_3を用いて、セグメントSG_3に対応する電圧検出値V3_3を演算する。すなわち、電圧検出値V3_3は、以下の式(3)により演算される。
At time t3, switch circuits 5_1, 5_2, and 5_3 are off. Therefore, the
V3_3=V1_3-V1_2 (3) V3_3=V1_3-V1_2 (3)
このようにして、電圧検出値V3_1、電圧検出値V3_2及び電圧検出値V3_3が順次演算される。 In this manner, the voltage detection value V3_1, the voltage detection value V3_2, and the voltage detection value V3_3 are sequentially calculated.
故障検出部14は、上記演算された電圧検出値V3_1と上記演算された電圧推定値V2_1との差分値ΔV_1を演算する。故障検出部14は、当該演算された差分値ΔV_1が所定の範囲(以下「基準範囲」という。)Vth内の値であるか否かを判断する。当該演算された差分値ΔV_1が基準範囲Vth内の値である場合、故障検出部14は、セグメントSG_1における故障がないと判断する。そうでない場合、故障検出部14は、セグメントSG_1における故障があると判断する。
The
また、故障検出部14は、上記演算された電圧検出値V3_2と上記演算された電圧推定値V2_2との差分値ΔV_2を演算する。故障検出部14は、当該演算された差分値ΔV_2が基準範囲Vth内の値であるか否かを判断する。当該演算された差分値ΔV_2が基準範囲Vth内の値である場合、故障検出部14は、セグメントSG_2における故障がないと判断する。そうでない場合、故障検出部14は、セグメントSG_2における故障があると判断する。
Further, the
また、故障検出部14は、上記演算された電圧検出値V3_3と上記演算された電圧推定値V2_3との差分値ΔV_3を演算する。故障検出部14は、当該演算された差分値ΔV_3が基準範囲Vth内の値であるか否かを判断する。当該演算された差分値ΔV_3が基準範囲Vth内の値である場合、故障検出部14は、セグメントSG_3における故障がないと判断する。そうでない場合、故障検出部14は、セグメントSG_3における故障があると判断する。
Further, the
このようにして、セグメントSG_1,SG_2,SG_3の各々における故障の有無が判断される。 Thus, it is determined whether there is a failure in each of the segments SG_1, SG_2, and SG_3.
〈第2具体例(図5参照)〉
第2具体例においては、デューティ比DR_1が100%に設定されており、かつ、デューティ比DR_2が100%に設定されており、かつ、デューティ比DR_3が100%に設定されている。第2具体例におけるシフト処理は、デューティ比DRをセグメントSG毎に異なる低下量δにて一時的に低下させるものである。図中、ΔTは、PWMの1周期に対応している。<Second specific example (see FIG. 5)>
In the second specific example, the duty ratio DR_1 is set to 100%, the duty ratio DR_2 is set to 100%, and the duty ratio DR_3 is set to 100%. The shift process in the second specific example temporarily lowers the duty ratio DR by a different amount of reduction δ for each segment SG. In the figure, ΔT corresponds to one cycle of PWM.
第2具体例における電圧推定処理は、第1具体例における電圧推定処理と同様である。このため、再度の説明は省略する。 The voltage estimation process in the second specific example is the same as the voltage estimation process in the first specific example. Therefore, repetitive description is omitted.
時刻t0にて、シフト処理が開始される。すなわち、シフト処理部12は、デューティ比DR_1を低下量δ_1にて一時的に低下させる処理を実行する(δ_1=0)。また、シフト処理部12は、デューティ比DR_2を低下量δ_2にて一時的に低下させる処理を実行する(δ_2>δ_1)。また、シフト処理部12は、デューティ比DR_3を低下量δ_3にて一時的に低下させる処理を実行する(δ_3>δ_2)。
At time t0, shift processing is started. That is, the
これにより、デューティ比DR_2は、上記設定された値(すなわち100%)よりも低い値(例えば80%)に一時的に低下する。また、デューティ比DR_3は、上記設定された値(すなわち100%)よりも低い値(例えば60%)に一時的に低下する。 As a result, the duty ratio DR_2 temporarily drops to a value (eg, 80%) lower than the set value (ie, 100%). Also, the duty ratio DR_3 temporarily decreases to a value (eg, 60%) lower than the set value (ie, 100%).
この結果、時刻t1においては、スイッチ回路5_1の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_2,5_3の状態がオン状態である。また、時刻t2においては、スイッチ回路5_1,5_2の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_3の状態がオン状態である。また、時刻t3においては、スイッチ回路5_1,5_2,5_3の状態がオフ状態である。 As a result, at time t1, the switch circuit 5_1 is in the OFF state, and the switch circuits 5_2 and 5_3 are in the ON state. At time t2, the switch circuits 5_1 and 5_2 are in the OFF state, and the switch circuit 5_3 is in the ON state. At time t3, the switch circuits 5_1, 5_2, and 5_3 are in the off state.
そこで、電圧検出部13は、第1具体例における電圧検出処理と同様の電圧検出処理を実行する。これにより、電圧検出値V3_1、電圧検出値V3_2及び電圧検出値V3_3が順次演算される。
Therefore, the
第2具体例における故障検出処理は、第1具体例における故障検出処理と同様である。このため、再度の説明は省略する。 The failure detection process in the second specific example is the same as the failure detection process in the first specific example. Therefore, repetitive description is omitted.
〈第3具体例(図6参照)〉
第3具体例においては、デューティ比DR_1が80%に設定されており、かつ、デューティ比DR_2が70%に設定されており、かつ、デューティ比DR_3が60%に設定されている。第3具体例におけるシフト処理は、制御周期ΔTをセグメントSG毎に異なるずらし量δにてずらすものである。図中、ΔT_1、ΔT_2及びΔT_3の各々は、PWMの1周期に対応している。<Third specific example (see FIG. 6)>
In the third specific example, the duty ratio DR_1 is set to 80%, the duty ratio DR_2 is set to 70%, and the duty ratio DR_3 is set to 60%. The shift processing in the third specific example shifts the control cycle ΔT by a different shift amount δ for each segment SG. In the figure, each of ΔT_1, ΔT_2 and ΔT_3 corresponds to one cycle of PWM.
第3具体例における電圧推定処理は、第1具体例における電圧推定処理と同様である。このため、再度の説明は省略する。 The voltage estimation process in the third specific example is the same as the voltage estimation process in the first specific example. Therefore, repetitive description is omitted.
時刻t0にて、シフト処理が開始される。すなわち、シフト処理部12は、制御周期ΔT_1をずらし量δ_1にてずらす処理を実行する(δ_1=0)。また、シフト処理部12は、制御周期ΔT_2をずらし量δ_2にてずらす処理を実行する(δ_2>δ_1)。また、シフト処理部12は、制御周期ΔT_3をずらし量δ_3にてずらす処理を実行する(δ_3>δ_2)。
At time t0, shift processing is started. That is, the
この結果、時刻t1においては、スイッチ回路5_1の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_2,5_3の状態がオン状態である。また、時刻t2においては、スイッチ回路5_1,5_2の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_3の状態がオン状態である。また、時刻t3においては、スイッチ回路5_1,5_2,5_3の状態がオフ状態である。 As a result, at time t1, the switch circuit 5_1 is in the OFF state, and the switch circuits 5_2 and 5_3 are in the ON state. At time t2, the switch circuits 5_1 and 5_2 are in the OFF state, and the switch circuit 5_3 is in the ON state. At time t3, the switch circuits 5_1, 5_2, and 5_3 are in the off state.
そこで、電圧検出部13は、第1具体例における電圧検出処理と同様の電圧検出処理を実行する。これにより、電圧検出値V3_1、電圧検出値V3_2及び電圧検出値V3_3が順次演算される。
Therefore, the
第3具体例における故障検出処理は、第1具体例における故障検出処理と同様である。このため、再度の説明は省略する。 The failure detection process in the third specific example is the same as the failure detection process in the first specific example. Therefore, repetitive description is omitted.
〈第4具体例(図7参照)〉
第4具体例においては、デューティ比DR_1が80%に設定されており、かつ、デューティ比DR_2が70%に設定されており、かつ、デューティ比DR_3が60%に設定されている。第4具体例におけるシフト処理は、デューティ比DRをセグメントSG毎に異なる低下量δにて一時的に低下させるものである。図中、ΔTは、PWMの1周期に対応している。<Fourth specific example (see FIG. 7)>
In the fourth specific example, the duty ratio DR_1 is set at 80%, the duty ratio DR_2 is set at 70%, and the duty ratio DR_3 is set at 60%. The shift process in the fourth specific example temporarily lowers the duty ratio DR by a different amount of reduction δ for each segment SG. In the figure, ΔT corresponds to one cycle of PWM.
第4具体例における電圧推定処理は、第1具体例における電圧推定処理と同様である。このため、再度の説明は省略する。 The voltage estimation process in the fourth specific example is the same as the voltage estimation process in the first specific example. Therefore, repetitive description is omitted.
時刻t0にて、シフト処理が開始される。すなわち、シフト処理部12は、デューティ比DR_1を低下量δ_1にて一時的に低下させる処理を実行する(δ_1=0)。また、シフト処理部12は、デューティ比DR_2を低下量δ_2にて一時的に低下させる処理を実行する(δ_2>δ_1)。また、シフト処理部12は、デューティ比DR_3を低下量δ_3にて一時的に低下させる処理を実行する(δ_3>δ_2)。
At time t0, shift processing is started. That is, the
これにより、デューティ比DR_2は、上記設定された値(すなわち70%)よりも低い値(例えば50%)に一時的に低下する。また、デューティ比DR_3は、上記設定された値(すなわち60%)よりも低い値(例えば20%)に一時的に低下する。 As a result, the duty ratio DR_2 temporarily decreases to a value (eg, 50%) lower than the set value (eg, 70%). Also, the duty ratio DR_3 temporarily decreases to a value (eg, 20%) lower than the set value (ie, 60%).
この結果、時刻t1においては、スイッチ回路5_1の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_2,5_3の状態がオン状態である。また、時刻t2においては、スイッチ回路5_1,5_2の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_3の状態がオン状態である。また、時刻t3においては、スイッチ回路5_1,5_2,5_3の状態がオフ状態である。 As a result, at time t1, the switch circuit 5_1 is in the OFF state, and the switch circuits 5_2 and 5_3 are in the ON state. At time t2, the switch circuits 5_1 and 5_2 are in the OFF state, and the switch circuit 5_3 is in the ON state. At time t3, the switch circuits 5_1, 5_2, and 5_3 are in the off state.
そこで、電圧検出部13は、第1具体例における電圧検出処理と同様の電圧検出処理を実行する。これにより、電圧検出値V3_1、電圧検出値V3_2及び電圧検出値V3_3が順次演算される。
Therefore, the
第4具体例における故障検出処理は、第1具体例における故障検出処理と同様である。このため、再度の説明は省略する。 The failure detection process in the fourth specific example is the same as the failure detection process in the first specific example. Therefore, repetitive description is omitted.
なお、第2具体例及び第4具体例においては、シフト処理が実行されることにより、デューティ比DR_2,DR_3が一時的に低下する。換言すれば、点灯するべきセグメントSG_1,SG_2,SG_3のうちの一部のセグメントSG_2,SG_3が一時的に点灯しないことにより、前照灯100の明るさが一時的に低下する。これに対して、シフト量δ_1,δ_2,δ_3の各々は、十分に小さい値に設定されている。これにより、かかる明るさの低下が人間に知覚されるのを回避することができる。
Note that in the second specific example and the fourth specific example, the duty ratios DR_2 and DR_3 are temporarily lowered by executing the shift process. In other words, some of the segments SG_1, SG_2, and SG_3 that should be lit are temporarily not lit, so that the brightness of the
以下、制御装置300が有する複数個の機能(電圧推定部11の機能、シフト処理部12の機能、電圧検出部13の機能及び故障検出部14の機能を含む。)を総称して単に「複数個の機能」ということがある。また、かかる複数個の機能に「F」の符号を用いることがある。
Hereinafter, the plurality of functions of the control device 300 (including the functions of the
次に、図8~図10を参照して、制御装置300の要部のハードウェア構成について説明する。
Next, the hardware configuration of main parts of the
図8に示す如く、制御装置300は、プロセッサ21及びメモリ22を有している。メモリ22には、複数個の機能Fに対応するプログラムが記憶されている。プロセッサ21は、メモリ22に記憶されているプログラムを読み出して実行する。これにより、複数個の機能Fが実現される。
As shown in FIG. 8, the
または、図9に示す如く、制御装置300は、処理回路23を有している。処理回路23は、複数個の機能Fに対応する処理を実行する。これにより、複数個の機能Fが実現される。
Alternatively, the
または、図10に示す如く、制御装置300は、プロセッサ21、メモリ22及び処理回路23を有している。メモリ22には、複数個の機能Fのうちの一部の機能に対応するプログラムが記憶されている。プロセッサ21は、メモリ22に記憶されているプログラムを読み出して実行する。これにより、かかる一部の機能が実現される。また、処理回路23は、複数個の機能Fのうちの残余の機能に対応する処理を実行する。これにより、かかる残余の機能が実現される。
Alternatively, as shown in FIG. 10, the
プロセッサ21は、1個以上のプロセッサにより構成されている。個々のプロセッサは、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、マイクロプロセッサ、マイクロコントローラ又はDSP(Digital Signal Processor)を用いたものである。
The
メモリ22は、1個以上の不揮発性メモリにより構成されている。または、メモリ22は、1個以上の不揮発性メモリ及び1個以上の揮発性メモリにより構成されている。すなわち、メモリ22は、1個以上のメモリにより構成されている。個々のメモリは、例えば、半導体メモリ又は磁気ディスクを用いたものである。より具体的には、個々の揮発性メモリは、例えば、RAM(Random Access Memory)を用いたものである。また、個々の不揮発性メモリは、例えば、ROM(Read Only Memory)、フラッシュメモリ、EPROM(Erasable Programmable Read Only Memory)、EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory)、ソリッドステートドライブ又はハードディスクドライブを用いたものである。
The
処理回路23は、1個以上のデジタル回路により構成されている。または、処理回路23は、1個以上のデジタル回路及び1個以上のアナログ回路により構成されている。すなわち、処理回路23は、1個以上の処理回路により構成されている。個々の処理回路は、例えば、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、PLD(Programmable Logic Device)、FPGA(Field Programmable Gate Array)、SoC(System on a Chip)又はシステムLSI(Large Scale Integration)を用いたものである。
The
ここで、プロセッサ21が複数個のプロセッサにより構成されているとき、複数個の機能Fと複数個のプロセッサとの対応関係は任意である。すなわち、複数個のプロセッサの各々は、複数個の機能Fのうちの対応する1個以上の機能に対応するプログラムを読み出して実行するものであっても良い。プロセッサ21は、個々の機能Fに対応する専用のプロセッサを含むものであっても良い。
Here, when the
また、メモリ22が複数個のメモリにより構成されているとき、複数個の機能Fと複数個のメモリとの対応関係は任意である。すなわち、複数個のメモリの各々は、複数個の機能Fのうちの対応する1個以上の機能に対応するプログラムを記憶するものであっても良い。メモリ22は、個々の機能Fに対応する専用のメモリを含むものであっても良い。
Moreover, when the
また、処理回路23が複数個の処理回路により構成されているとき、複数個の機能Fと複数個の処理回路との対応関係は任意である。すなわち、複数個の処理回路の各々は、複数個の機能Fのうちの対応する1個以上の機能に対応する処理を実行するものであっても良い。処理回路23は、個々の機能Fに対応する専用の処理回路を含むものであっても良い。
Further, when the
次に、図11に示すフローチャートを参照して、制御装置300の動作について、故障検出モードにおける動作を中心に説明する。すなわち、図11に示す処理は、第1タイミング又は第2タイミングにて開始される。
Next, with reference to the flowchart shown in FIG. 11, the operation of the
点灯指示信号S1が2個以上のセグメントSGの点灯を示している場合(ステップST1“YES”)、シフト処理部12は、シフト処理を開始する(ステップST2)。これにより、図4~図7を参照して説明したように、当該2個以上のセグメントSGが順次点灯を開始する。このとき、以下のステップST3~ST5の処理が実行されるとともに、以下のステップST6の処理が適宜実行される。
When the lighting instruction signal S1 indicates lighting of two or more segments SG (step ST1 "YES"), the
すなわち、当該2個以上のセグメントSGのうちの第1のセグメントSGについて、電圧推定部11が電圧推定値V2を演算して(ステップST3)、電圧検出部13が電圧検出値V3を演算して(ステップST4)、故障検出部14が故障の有無を判断する(ステップST5)。故障があると判断された場合(ステップST5“NO”)、故障セグメント情報が記憶される(ステップST6)。
That is, for the first segment SG among the two or more segments SG, the
これらの処理がループすることにより(ステップST7“NO”)、当該2個以上のセグメントSGのうちの全てのセグメントSGについて、電圧推定処理、電圧検出処理及び故障検出処理が実行される。 By looping these processes (step ST7 "NO"), the voltage estimation process, the voltage detection process, and the failure detection process are executed for all the segments SG among the two or more segments SG.
当該全てのセグメントSGに対する故障検出処理が終了した時点において(ステップST7“YES”)、少なくとも1個のセグメントSGを示す故障セグメント情報が記憶されている場合(ステップST8“YES”)、制御装置300は、故障通知信号S4をECU400に送信する(ステップST9)。そうでない場合(ステップST8“NO”)、制御装置300は、故障検出モードから通常点灯モードに移行する(ステップST10)。
When failure detection processing for all segments SG is completed (step ST7 "YES"), if failure segment information indicating at least one segment SG is stored (step ST8 "YES"),
なお、点灯指示信号S1が1個のセグメントSGのみの点灯を示している場合(ステップST1“NO”)、シフト処理は不要である。このため、ステップST2の処理はスキップされる。これにより、当該1個のセグメントSGが点灯を開始する。電圧推定処理(ステップST3)、電流推定処理(ステップST4)及び故障検出処理(ステップST5)は、ループすることなく1回のみ実行される。 If the lighting instruction signal S1 indicates lighting of only one segment SG (step ST1 "NO"), the shift process is unnecessary. Therefore, the process of step ST2 is skipped. This causes the one segment SG to start lighting. The voltage estimation process (step ST3), the current estimation process (step ST4) and the failure detection process (step ST5) are executed only once without looping.
次に、制御装置300を用いることによる効果について説明する。
Next, the effects of using the
従来の制御装置は、個々のセグメントに対応する電圧検出値を演算するにあたり、複数個のセグメントに対応する複数個の電圧検出器を用いるものであった。図1におけるP_1,P_2,P_3は、複数個の電圧検出器が設けられる位置に相当する位置の例を示している。複数個の電圧検出器が設けられることにより、点灯装置の回路規模が大きくなる問題があった。 A conventional control device uses a plurality of voltage detectors corresponding to a plurality of segments when calculating voltage detection values corresponding to individual segments. P_1, P_2, and P_3 in FIG. 1 indicate examples of positions corresponding to positions where a plurality of voltage detectors are provided. There is a problem that the circuit scale of the lighting device becomes large due to the provision of the plurality of voltage detectors.
これに対して、シフト処理が実行されることにより、電圧検出部13は、1個の電圧検出器7を用いて個々のセグメントSGに対応する電圧検出値V3を演算することができる。すなわち、制御装置300を用いることにより、点灯装置200における電圧検出器7の個数を低減することができる。この結果、点灯装置200の回路規模を小さくすることができる。
On the other hand, by performing the shift process, the
次に、図12を参照して、制御装置300の変形例について説明する。
Next, a modification of the
通常、個々のセグメントSGの電圧特性は、電流依存性を有している。そこで、図12に示す如く、点灯装置200においては、個々のセグメントSGに流れる電流が検出されて、当該検出された電流を示す値(以下「電流検出値」という。)Iが制御装置300に入力されるものであっても良い。電圧推定部11は、当該入力された電流検出値Iを用いて、個々のセグメントSGの電流-電圧特性を含む特性情報に基づき、電圧推定値V2を演算するものであっても良い。これにより、電圧推定値V2をより精度良く演算することができる。この結果、個々のセグメントSGにおける故障の有無をより精度良く判断することができる。
Normally, the voltage characteristic of each segment SG has current dependency. Therefore, as shown in FIG. 12, in the
また、通常、個々のセグメントSGの電圧特性は、温度依存性を有している。そこで、図12に示す如く、温度検出器8により前照灯100における温度が検出されて、当該検出された温度を示す値(以下「温度検出値」という。)Tが制御装置300に入力されるものであっても良い。温度検出器8は、例えば、サーミスタにより構成されている。電圧推定部11は、当該入力された温度検出値Tを用いて、個々のセグメントSGの温度-電圧特性を含む特性情報に基づき電圧推定値V2を演算するものであっても良い。これにより、電圧推定値V2をより精度良く演算することができる。この結果、個々のセグメントSGにおける故障の有無をより精度良く判断することができる。
Moreover, the voltage characteristic of each segment SG usually has temperature dependence. Therefore, as shown in FIG. 12, the temperature of the
以上のように、実施の形態1に係る制御装置300は、複数個のセグメントSGを含むLED群1を有する前照灯100の制御装置300であって、個々のセグメントSGに対応する電圧推定値V2を演算する電圧推定部11と、電源回路3によるLED群1に対する電流供給タイミングをセグメントSG毎に異なるシフト量δにてシフトするシフト処理を実行するシフト処理部12と、シフト処理に応じて、電源回路3の出力電圧V1を検出する電圧検出器7を用いて個々のセグメントSGに対応する電圧検出値V3を順次演算する電圧検出部13と、個々の電圧検出値V3を対応する電圧推定値V2と比較することにより個々のセグメントSGにおける故障の有無を判断する故障検出処理を実行する故障検出部14と、を備える。これにより、個々のセグメントSGにおける故障を検出するにあたり、点灯装置200における電圧検出器7の個数を低減することができる。この結果、点灯装置200の回路規模を低減することができる。
As described above, the
また、シフト処理は、個々のセグメントSGに対応する制御周期ΔTについて、制御周期ΔTをセグメントSG毎に異なるずらし量δにてずらすことにより実現される。これにより、デューティ比DRを低下させることなくシフト処理を実現することができる。この結果、例えば、全てのセグメントSGに対応するデューティ比DRを100%に維持しつつ、シフト処理を実現することができる。 Further, the shift processing is realized by shifting the control period ΔT corresponding to each segment SG by a different shift amount δ for each segment SG. As a result, shift processing can be realized without lowering the duty ratio DR. As a result, for example, the shift process can be realized while maintaining the duty ratio DR corresponding to all segments SG at 100%.
また、シフト処理は、個々のセグメントSGに対応するデューティ比DRについて、デューティ比DRをセグメントSG毎に異なる低下量δにて低下させることにより実現される。このとき、個々の低下量δは、十分に小さい値に設定されている。これにより、デューティ比DRの低下による明るさの低下を人間に知覚させることなく、シフト処理を実現することができる。 Further, the shift process is realized by decreasing the duty ratio DR corresponding to each segment SG by a different decrease amount δ for each segment SG. At this time, each decrease amount δ is set to a sufficiently small value. As a result, the shift processing can be realized without making a human perceive a decrease in brightness due to a decrease in the duty ratio DR.
また、前照灯100が点灯を開始したとき、シフト処理及び故障検出処理が実行される。これにより、第1タイミングにて個々のセグメントSGにおける故障を検出することができる。
Further, when the
また、前照灯100に対する点灯指示の内容が変化したとき、シフト処理及び故障検出処理が実行される。これにより、第2タイミングにて個々のセグメントSGにおける故障を検出することができる。
Also, when the content of the lighting instruction for the
また、電圧推定部11は、個々のセグメントに対応する電流検出値Iを用いて電圧推定値V2を演算する。これにより、電圧推定値V2を精度良く演算することができる。この結果、個々のセグメントSGにおける故障の有無を精度良く判断することができる。
Also, the
また、電圧推定部11は、温度検出値Tを用いて電圧推定値V2を演算する。これにより、電圧推定値V2を精度良く演算することができる。この結果、個々のセグメントSGにおける故障の有無を精度良く判断することができる。
Also, the
実施の形態2.
シフト処理及び故障検出処理などが実行されるタイミングは、第1タイミング及び第2タイミングに限定されるものではない。実施の形態2においては、制御装置300の変形例であって、シフト処理及び故障検出処理などが他のタイミングにて実行される変形例について説明する。
Timings at which shift processing, failure detection processing, and the like are executed are not limited to the first timing and the second timing. In
すなわち、シフト処理及び故障検出処理などは、第1タイミング又は第2タイミングのうちの少なくとも一方のタイミングにて実行されるのに加えて、以下のようなタイミング(以下「第3タイミング」ということがある。)にて実行されるものであっても良い。換言すれば、シフト処理及び故障検出処理などは、第1タイミング、第2タイミング又は第3タイミングのうちの少なくとも一つのタイミングにて実行されるものであっても良い。 That is, the shift processing, the failure detection processing, and the like are executed at at least one of the first timing and the second timing, and the following timing (hereinafter referred to as "third timing"): ) may be executed. In other words, the shift process, the failure detection process, and the like may be executed at least one of the first timing, the second timing, and the third timing.
第3タイミングは、ECU400による前照灯100に対する点灯指示の内容(すなわち点灯指示信号S1の内容)が変化していないにもかかわらず、電圧検出器7により検出される出力電圧V1が変化したタイミングである。制御装置300は、第3タイミングにて通常点灯モードから故障検出モードに移行する機能を有している。これにより、シフト処理及び故障検出処理などが実行される。
The third timing is the timing at which the output voltage V1 detected by the
ここで、図13~図16の各々を参照して、第3タイミングにおける電圧推定処理、シフト処理、電圧検出処理及び故障検出処理の具体例について説明する。なお、時刻t0以降における点灯指示信号S1は、全てのセグメントSG_1,SG_2,SG_3の点灯を指示しているものとする。 Here, specific examples of the voltage estimation process, the shift process, the voltage detection process, and the failure detection process at the third timing will be described with reference to FIGS. 13 to 16. FIG. It is assumed that the lighting instruction signal S1 after time t0 instructs lighting of all the segments SG_1, SG_2, and SG_3.
〈第5具体例(図13参照)〉
時刻t0は、第1タイミング又は第2タイミングに対応している。第1タイミング又は第2タイミングにて、実施の形態1にて図4を参照して説明したものと同様の電圧推定処理、シフト処理、電圧検出処理及び故障検出処理が実行される。故障検出処理によりいずれのセグメントSGにも故障がないと判断されて、制御装置300が故障検出モードから通常点灯モードに移行する。その後、制御装置300は、電圧検出器7により検出される出力電圧V1を監視する。<Fifth specific example (see FIG. 13)>
Time t0 corresponds to the first timing or the second timing. At the first timing or the second timing, voltage estimation processing, shift processing, voltage detection processing, and failure detection processing similar to those described with reference to FIG. 4 in the first embodiment are executed. It is determined by the failure detection process that there is no failure in any of the segments SG, and the
その後、時刻t4にて、セグメントSG_3の故障が発生することにより、出力電圧V1が低下したものとする。これに対して、時刻t5にて、制御装置300が通常点灯モードから故障検出モードに移行したものとする。これにより、第3タイミングにおける電圧推定処理、シフト処理、電圧検出処理及び故障検出処理が実行される。
After that, at time t4, it is assumed that the output voltage V1 has decreased due to the failure of the segment SG_3. On the other hand, at time t5, it is assumed that the
すなわち、電圧推定部11は、特性情報に基づき、セグメントSG_1に対応する電圧推定値V2_1、セグメントSG_2に対応する電圧推定値V2_2、及びセグメントSG_3に対応する電圧推定値V2_3を演算する。
That is, the
時刻t5にて、シフト処理が開始される。すなわち、シフト処理部12は、セグメントSG_1に対応する制御周期ΔT_1をずらし量δ_1にてずらす処理を実行する(δ_1=0)。また、シフト処理部12は、セグメントSG_2に対応する制御周期ΔT_2をずらし量δ_2にてずらす処理を実行する(δ_2>δ_1)。また、シフト処理部12は、セグメントSG_3に対応する制御周期ΔT_3をずらし量δ_3にてずらす処理を実行する(δ_3>δ_2)。
At time t5, shift processing is started. That is, the
時刻t6においては、スイッチ回路5_1の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_2,5_3の状態がオン状態である。そこで、電圧検出部13は、当該時刻t6にて電圧検出器7により検出された出力電圧V1_1を用いて、セグメントSG_1に対応する電圧検出値V3_1を演算する。電圧検出値V3_1は、上記式(1)により演算される。
At time t6, the switch circuit 5_1 is in the off state, and the switch circuits 5_2 and 5_3 are in the on state. Therefore, the
時刻t7においては、スイッチ回路5_1,5_2の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_3の状態がオン状態である。そこで、電圧検出部13は、上記時刻t6にて電圧検出器7により検出された出力電圧V1_1及び当該時刻t7にて電圧検出器7により検出された出力電圧V1_2を用いて、セグメントSG_2に対応する電圧検出値V3_2を演算する。電圧検出値V3_2は、上記式(2)により演算される。
At time t7, switch circuits 5_1 and 5_2 are off, and switch circuit 5_3 is on. Therefore, the
時刻t8においては、スイッチ回路5_1,5_2,5_3の状態がオフ状態である。そこで、電圧検出部13は、上記時刻t7にて電圧検出器7により検出された出力電圧V1_2及び当該時刻t8にて電圧検出器7により検出された出力電圧V1_3を用いて、セグメントSG_3に対応する電圧検出値V3_3を演算する。電圧検出値V3_3は、上記式(3)により演算される。
At time t8, switch circuits 5_1, 5_2, and 5_3 are off. Therefore, the
このようにして、電圧検出値V3_1、電圧検出値V3_2及び電圧検出値V3_3が順次演算される。 In this manner, the voltage detection value V3_1, the voltage detection value V3_2, and the voltage detection value V3_3 are sequentially calculated.
次いで、故障検出部14が故障検出処理を実行する。故障検出処理においては、差分値ΔV_1が基準範囲Vth内の値であることにより、セグメントSG_1における故障がないと判断される。また、差分値ΔV_2が基準範囲Vth内の値であることにより、セグメントSG_2における故障がないと判断される。他方、差分値ΔV_3が基準範囲Vth外の値であることにより、セグメントSG_3における故障があると判断される。
Next, the
このようにして、セグメントSG_1,SG_2,SG_3の各々における故障の有無が判断される。 Thus, it is determined whether there is a failure in each of the segments SG_1, SG_2, and SG_3.
〈第6具体例(図14参照)〉
時刻t0は、第1タイミング又は第2タイミングに対応している。第1タイミング又は第2タイミングにて、実施の形態1にて図5を参照して説明したものと同様の電圧推定処理、シフト処理、電圧検出処理及び故障検出処理が実行される。故障検出処理によりいずれのセグメントSGにも故障がないと判断されて、制御装置300が故障検出モードから通常点灯モードに移行する。その後、制御装置300は、電圧検出器7により検出される出力電圧V1を監視する。<Sixth example (see FIG. 14)>
Time t0 corresponds to the first timing or the second timing. At the first timing or the second timing, voltage estimation processing, shift processing, voltage detection processing, and failure detection processing similar to those described with reference to FIG. 5 in the first embodiment are executed. It is determined by the failure detection process that there is no failure in any of the segments SG, and the
その後、時刻t4にて、セグメントSG_3の故障が発生することにより、出力電圧V1が低下したものとする。これに対して、時刻t5にて、制御装置300が通常点灯モードから故障検出モードに移行したものとする。これにより、第3タイミングにおける電圧推定処理、シフト処理、電圧検出処理及び故障検出処理が実行される。
After that, at time t4, it is assumed that the output voltage V1 has decreased due to the failure of the segment SG_3. On the other hand, at time t5, it is assumed that the
第6具体例における電圧推定処理は、第5具体例における電圧推定処理と同様である。このため、再度の説明は省略する。 The voltage estimation process in the sixth specific example is the same as the voltage estimation process in the fifth specific example. Therefore, repetitive description is omitted.
時刻t5にて、シフト処理が開始される。すなわち、シフト処理部12は、デューティ比DR_1を低下量δ_1にて一時的に低下させる処理を実行する(δ_1=0)。また、シフト処理部12は、デューティ比DR_2を低下量δ_2にて一時的に低下させる処理を実行する(δ_2>δ_1)。また、シフト処理部12は、デューティ比DR_3を低下量δ_3にて一時的に低下させる処理を実行する(δ_3>δ_2)。
At time t5, shift processing is started. That is, the
これにより、デューティ比DR_2は、設定された値(すなわち100%)よりも低い値(例えば80%)に一時的に低下する。また、デューティ比DR_3は、設定された値(すなわち100%)よりも低い値(例えば60%)に一時的に低下する。 As a result, the duty ratio DR_2 temporarily drops to a value (eg, 80%) lower than the set value (ie, 100%). Also, the duty ratio DR_3 temporarily decreases to a value (eg, 60%) lower than the set value (ie, 100%).
この結果、時刻t6においては、スイッチ回路5_1の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_2,5_3の状態がオン状態である。また、時刻t7においては、スイッチ回路5_1,5_2の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_3の状態がオン状態である。また、時刻t8においては、スイッチ回路5_1,5_2,5_3の状態がオフ状態である。 As a result, at time t6, the switch circuit 5_1 is in the OFF state, and the switch circuits 5_2 and 5_3 are in the ON state. At time t7, the switch circuits 5_1 and 5_2 are in the OFF state, and the switch circuit 5_3 is in the ON state. At time t8, the switch circuits 5_1, 5_2, and 5_3 are in the OFF state.
そこで、電圧検出部13は、第5具体例における電圧検出処理と同様の電圧検出処理を実行する。これにより、電圧検出値V3_1、電圧検出値V3_2及び電圧検出値V3_3が順次演算される。
Therefore, the
第6具体例における故障検出処理は、第5具体例における故障検出処理と同様である。このため、再度の説明は省略する。 The failure detection process in the sixth specific example is the same as the failure detection process in the fifth specific example. Therefore, repetitive description is omitted.
〈第7具体例(図15参照)〉
時刻t0は、第1タイミング又は第2タイミングに対応している。第1タイミング又は第2タイミングにて、実施の形態1にて図6を参照して説明したものと同様の電圧推定処理、シフト処理、電圧検出処理及び故障検出処理が実行される。故障検出処理によりいずれのセグメントSGにも故障がないと判断されて、制御装置300が故障検出モードから通常点灯モードに移行する。その後、制御装置300は、電圧検出器7により検出される出力電圧V1を監視する。<Seventh example (see FIG. 15)>
Time t0 corresponds to the first timing or the second timing. At the first timing or the second timing, voltage estimation processing, shift processing, voltage detection processing, and failure detection processing similar to those described with reference to FIG. 6 in the first embodiment are executed. It is determined by the failure detection process that there is no failure in any of the segments SG, and the
その後、時刻t4にて、セグメントSG_3の故障が発生することにより、出力電圧V1が低下したものとする。これに対して、時刻t5にて、制御装置300が通常点灯モードから故障検出モードに移行したものとする。これにより、第3タイミングにおける電圧推定処理、シフト処理、電圧検出処理及び故障検出処理が実行される。
After that, at time t4, it is assumed that the output voltage V1 has decreased due to the failure of the segment SG_3. On the other hand, at time t5, it is assumed that the
第7具体例における電圧推定処理は、第5具体例における電圧推定処理と同様である。このため、再度の説明は省略する。 The voltage estimation process in the seventh specific example is the same as the voltage estimation process in the fifth specific example. Therefore, repetitive description is omitted.
時刻t5にて、シフト処理が開始される。すなわち、シフト処理部12は、制御周期ΔT_1をずらし量δ_1にてずらす処理を実行する(δ_1=0)。また、シフト処理部12は、制御周期ΔT_2をずらし量δ_2にてずらす処理を実行する(δ_2>δ_1)。また、シフト処理部12は、制御周期ΔT_3をずらし量δ_3にてずらす処理を実行する(δ_3>δ_2)。
At time t5, shift processing is started. That is, the
この結果、時刻t6においては、スイッチ回路5_1の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_2,5_3の状態がオン状態である。また、時刻t7においては、スイッチ回路5_1,5_2の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_3の状態がオン状態である。また、時刻t8においては、スイッチ回路5_1,5_2,5_3の状態がオフ状態である。 As a result, at time t6, the switch circuit 5_1 is in the OFF state, and the switch circuits 5_2 and 5_3 are in the ON state. At time t7, the switch circuits 5_1 and 5_2 are in the OFF state, and the switch circuit 5_3 is in the ON state. At time t8, the switch circuits 5_1, 5_2, and 5_3 are in the OFF state.
そこで、電圧検出部13は、第5具体例における電圧検出処理と同様の電圧検出処理を実行する。これにより、電圧検出値V3_1、電圧検出値V3_2及び電圧検出値V3_3が順次演算される。
Therefore, the
第7具体例における故障検出処理は、第5具体例における故障検出処理と同様である。このため、再度の説明は省略する。 The fault detection process in the seventh specific example is the same as the fault detection process in the fifth specific example. Therefore, repetitive description is omitted.
〈第8具体例(図16参照)〉
時刻t0は、第1タイミング又は第2タイミングに対応している。第1タイミング又は第2タイミングにて、実施の形態1にて図7を参照して説明したものと同様の電圧推定処理、シフト処理、電圧検出処理及び故障検出処理が実行される。故障検出処理によりいずれのセグメントSGにも故障がないと判断されて、制御装置300が故障検出モードから通常点灯モードに移行する。その後、制御装置300は、電圧検出器7により検出される出力電圧V1を監視する。<Eighth example (see FIG. 16)>
Time t0 corresponds to the first timing or the second timing. At the first timing or the second timing, voltage estimation processing, shift processing, voltage detection processing, and failure detection processing similar to those described with reference to FIG. 7 in the first embodiment are executed. It is determined by the failure detection process that there is no failure in any of the segments SG, and the
その後、時刻t4にて、セグメントSG_3の故障が発生することにより、出力電圧V1が低下したものとする。これに対して、時刻t5にて、制御装置300が通常点灯モードから故障検出モードに移行したものとする。これにより、第3タイミングにおける電圧推定処理、シフト処理、電圧検出処理及び故障検出処理が実行される。
After that, at time t4, it is assumed that the output voltage V1 has decreased due to the failure of the segment SG_3. On the other hand, at time t5, it is assumed that the
第8具体例における電圧推定処理は、第5具体例における電圧推定処理と同様である。このため、再度の説明は省略する。 The voltage estimation process in the eighth specific example is the same as the voltage estimation process in the fifth specific example. Therefore, repetitive description is omitted.
時刻t5にて、シフト処理が開始される。すなわち、シフト処理部12は、デューティ比DR_1を低下量δ_1にて一時的に低下させる処理を実行する(δ_1=0)。また、シフト処理部12は、デューティ比DR_2を低下量δ_2にて一時的に低下させる処理を実行する(δ_2>δ_1)。また、シフト処理部12は、デューティ比DR_3を低下量δ_3にて一時的に低下させる処理を実行する(δ_3>δ_2)。
At time t5, shift processing is started. That is, the
これにより、デューティ比DR_2は、設定された値(すなわち70%)よりも低い値(例えば50%)に一時的に低下する。また、デューティ比DR_3は、設定された値(すなわち60%)よりも低い値(例えば20%)に一時的に低下する。 As a result, the duty ratio DR_2 temporarily drops to a value (eg, 50%) lower than the set value (ie, 70%). Also, the duty ratio DR_3 temporarily decreases to a value (eg, 20%) lower than the set value (ie, 60%).
この結果、時刻t6においては、スイッチ回路5_1の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_2,5_3の状態がオン状態である。また、時刻t7においては、スイッチ回路5_1,5_2の状態がオフ状態であり、かつ、スイッチ回路5_3の状態がオン状態である。また、時刻t8においては、スイッチ回路5_1,5_2,5_3の状態がオフ状態である。 As a result, at time t6, the switch circuit 5_1 is in the OFF state, and the switch circuits 5_2 and 5_3 are in the ON state. At time t7, the switch circuits 5_1 and 5_2 are in the OFF state, and the switch circuit 5_3 is in the ON state. At time t8, the switch circuits 5_1, 5_2, and 5_3 are in the OFF state.
そこで、電圧検出部13は、第5具体例における電圧検出処理と同様の電圧検出処理を実行する。これにより、電圧検出値V3_1、電圧検出値V3_2及び電圧検出値V3_3が順次演算される。
Therefore, the
第8具体例における故障検出処理は、第5具体例における故障検出処理と同様である。このため、再度の説明は省略する。 The fault detection process in the eighth specific example is the same as the fault detection process in the fifth specific example. Therefore, repetitive description is omitted.
なお、第6具体例及び第8具体例においては、第3タイミングにおけるシフト処理が実行されることにより、点灯するべきセグメントSG_1,SG_2,SG_3のうちの故障していないセグメントSG_1,SG_2のうちの一部のセグメントSG_2が一時的に消灯する。これにより、前照灯100の明るさが一時的に低下する。これに対して、実施の形態1にて説明したとおり、シフト量δ_1,δ_2,δ_3の各々は、十分に小さい値に設定されている。これにより、かかる明るさの低下が人間に知覚されるのを回避することができる。
In the sixth specific example and the eighth specific example, by executing the shift process at the third timing, the non-failed segments SG_1 and SG_2 among the segments SG_1, SG_2 and SG_3 to be lit are turned on. Some segments SG_2 are temporarily turned off. As a result, the brightness of the
次に、図17に示すフローチャートを参照して、制御装置300の動作について、通常点灯モードにおける動作を中心に説明する。すなわち、図17に示す処理は、制御装置300が故障検出モードから通常点灯モードに移行したときに開始される。
Next, with reference to the flowchart shown in FIG. 17, the operation of the
まず、制御装置300は、電圧検出器7により検出される出力電圧V1の監視を開始する(ステップST21)。また、制御装置300は、ECU400による点灯指示の内容に応じた点灯制御を開始する(ステップST22)。
First,
点灯指示の内容が変化したとき(ステップST23“YES”)、制御装置300の処理は、ステップST22に戻る。点灯指示の内容が変化していないにもかかわらず(ステップST23“NO”)、出力電圧V1が変化したとき(ステップST24“YES”)、制御装置300は、通常点灯モードから故障検出モードに移行する(ステップST25)。これにより、図11に示す処理が開始される。
When the content of the lighting instruction has changed ("YES" in step ST23), the process of
以上のように、実施の形態2に係る制御装置300においては、前照灯100に対する点灯指示の内容が変化していない場合において、電源回路3の出力電圧V1が変化したとき、シフト処理及び故障検出処理が実行される。これにより、第3タイミングにて個々のセグメントSGにおける故障を検出することができる。
As described above, in the
また、シフト処理が実行されることにより、対応するセグメントSGが一時的に消灯する。このとき、個々のシフト量δが十分に小さい値に設定されていることにより、前照灯100の明るさの低下が人間に知覚されるのを回避することができる。
Also, the corresponding segment SG is temporarily turned off by executing the shift process. At this time, since each shift amount δ is set to a sufficiently small value, it is possible to avoid a decrease in brightness of the
なお、本願開示はその開示の範囲内において、各実施の形態の自由な組み合わせ、あるいは各実施の形態の任意の構成要素の変形、もしくは各実施の形態において任意の構成要素の省略が可能である。 In addition, within the scope of the disclosure of the present application, it is possible to freely combine each embodiment, modify any component of each embodiment, or omit any component in each embodiment. .
本開示に係る制御装置は、前照灯に用いることができる。 A control device according to the present disclosure can be used for a headlamp.
1 LED群、2 LED、3 電源回路、4 スイッチ回路群、5 スイッチ回路、6 駆動回路、7 電圧検出器、8 温度検出器、11 電圧推定部、12 シフト処理部、13 電圧検出部、14 故障検出部、21 プロセッサ、22 メモリ、23 処理回路、100 前照灯、200 点灯装置、300 制御装置、400 ECU。
1
Claims (8)
個々の前記セグメントに対応する電圧推定値を演算する電圧推定部と、
電源回路による前記LED群に対する電流供給タイミングを前記セグメント毎に異なるシフト量にてシフトするシフト処理を実行するシフト処理部と、
前記シフト処理に応じて、前記電源回路の出力電圧を検出する電圧検出器を用いて個々の前記セグメントに対応する電圧検出値を順次演算する電圧検出部と、
個々の前記電圧検出値を対応する前記電圧推定値と比較することにより個々の前記セグメントにおける故障の有無を判断する故障検出処理を実行する故障検出部とを備え、
前記前照灯が点灯を開始したとき、前記シフト処理及び前記故障検出処理が実行されることを特徴とする制御装置。 A control device for a headlamp having an LED group including a plurality of segments, comprising:
a voltage estimator that calculates a voltage estimate corresponding to each segment;
a shift processing unit that performs shift processing for shifting the current supply timing to the LED group by the power supply circuit by a shift amount that differs for each segment;
a voltage detection unit that sequentially calculates voltage detection values corresponding to the individual segments using a voltage detector that detects the output voltage of the power supply circuit in accordance with the shift processing;
a failure detection unit that performs failure detection processing for determining whether or not there is a failure in each of the segments by comparing each of the detected voltage values with the corresponding estimated voltage value;
The control device, wherein the shift processing and the failure detection processing are executed when the headlamp starts lighting.
個々の前記セグメントに対応する電圧推定値を演算する電圧推定部と、
電源回路による前記LED群に対する電流供給タイミングを前記セグメント毎に異なるシフト量にてシフトするシフト処理を実行するシフト処理部と、
前記シフト処理に応じて、前記電源回路の出力電圧を検出する電圧検出器を用いて個々の前記セグメントに対応する電圧検出値を順次演算する電圧検出部と、
個々の前記電圧検出値を対応する前記電圧推定値と比較することにより個々の前記セグメントにおける故障の有無を判断する故障検出処理を実行する故障検出部とを備え、
前記前照灯に対する点灯指示の内容が変化したとき、前記シフト処理及び前記故障検出処理が実行されることを特徴とする制御装置。 A control device for a headlamp having an LED group including a plurality of segments, comprising:
a voltage estimator that calculates a voltage estimate corresponding to each segment;
a shift processing unit that performs shift processing for shifting the current supply timing to the LED group by the power supply circuit by a shift amount that differs for each of the segments;
a voltage detection unit that sequentially calculates voltage detection values corresponding to the individual segments using a voltage detector that detects the output voltage of the power supply circuit in accordance with the shift processing;
a failure detection unit that performs a failure detection process for determining whether or not there is a failure in each of the segments by comparing each of the detected voltage values with the corresponding estimated voltage value;
The control device, wherein the shift processing and the failure detection processing are executed when the content of the lighting instruction for the headlamp is changed.
個々の前記セグメントに対応する電圧推定値を演算する電圧推定部と、
電源回路による前記LED群に対する電流供給タイミングを前記セグメント毎に異なるシフト量にてシフトするシフト処理を実行するシフト処理部と、
前記シフト処理に応じて、前記電源回路の出力電圧を検出する電圧検出器を用いて個々の前記セグメントに対応する電圧検出値を順次演算する電圧検出部と、
個々の前記電圧検出値を対応する前記電圧推定値と比較することにより個々の前記セグメントにおける故障の有無を判断する故障検出処理を実行する故障検出部とを備え、
前記前照灯に対する点灯指示の内容が変化していない場合において、前記電源回路の出力電圧が変化したとき、前記シフト処理及び前記故障検出処理が実行されることを特徴とする制御装置。 A control device for a headlamp having an LED group including a plurality of segments, comprising:
a voltage estimator that calculates a voltage estimate corresponding to each segment;
a shift processing unit that performs shift processing for shifting the current supply timing to the LED group by the power supply circuit by a shift amount that differs for each of the segments;
a voltage detection unit that sequentially calculates voltage detection values corresponding to the individual segments using a voltage detector that detects the output voltage of the power supply circuit in accordance with the shift processing;
a failure detection unit that performs a failure detection process for determining whether or not there is a failure in each of the segments by comparing each of the detected voltage values with the corresponding estimated voltage value;
The control device according to claim 1, wherein the shift processing and the failure detection processing are executed when the output voltage of the power supply circuit changes when the content of the lighting instruction for the headlamp has not changed.
個々の前記セグメントに対応する電圧推定値を演算する電圧推定部と、
電源回路による前記LED群に対する電流供給タイミングを前記セグメント毎に異なるシフト量にてシフトするシフト処理を実行するシフト処理部と、
前記シフト処理に応じて、前記電源回路の出力電圧を検出する電圧検出器を用いて個々の前記セグメントに対応する電圧検出値を順次演算する電圧検出部と、
個々の前記電圧検出値を対応する前記電圧推定値と比較することにより個々の前記セグメントにおける故障の有無を判断する故障検出処理を実行する故障検出部とを備え、
前記電圧推定部は、個々の前記セグメントに対応する電流検出値を用いて前記電圧推定値を演算することを特徴とする制御装置。 A control device for a headlamp having an LED group including a plurality of segments, comprising:
a voltage estimator that calculates a voltage estimate corresponding to each segment;
a shift processing unit that performs shift processing for shifting the current supply timing to the LED group by the power supply circuit by a shift amount that differs for each segment;
a voltage detection unit that sequentially calculates voltage detection values corresponding to the individual segments using a voltage detector that detects the output voltage of the power supply circuit in accordance with the shift processing;
a failure detection unit that performs a failure detection process for determining whether or not there is a failure in each of the segments by comparing each of the detected voltage values with the corresponding estimated voltage value;
The control device, wherein the voltage estimator calculates the voltage estimated value using current detection values corresponding to the individual segments.
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