JP2016201337A - The light-emitting device - Google Patents

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照泰 辻岡
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To inhibit deterioration in luminance of a light emitting device and the occurrence of thermal anomaly in the light emitting device.SOLUTION: A light emitting device comprises: light emitting element rows 21-24 in each of which a plurality of light emitting elements are connected in series; a voltage control part 43 for applying the same voltage Vo to each of the light emitting element rows 21-24; current sources 61-64 connected in series to respective light emitting element rows 21-24, for supplying a constant current to the light emitting element rows 21-24; AD converters 81-84 for detecting voltages of connection terminals 51-54, respectively; and a control part 85 for calculating a loss W which is a total value of losses occurring in the current sources 61-64. The control part 85 stops driving of the light emitting element row where the voltage of the connection terminal is largest out of the light emitting element rows 21-24 in the case where the calculated loss W is equal to or greater than a preset anomaly determination loss W0.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、複数の発光素子を発光させる発光装置に関する。 The present invention relates to a light emitting device for emitting a plurality of light emitting elements.

従来、複数の発光素子が直列に接続された複数の発光素子列を発光させる発光装置において、発光素子列を構成する複数の発光素子のうち1個の発光素子でショートが発生しているか否かを判断する技術が知られている(例えば、特許文献1を参照)。 Conventionally, in the light emitting device in which a plurality of light emitting elements emit a plurality of light emitting element arrays connected in series, whether short in one light emitting device among the plurality of light emitting elements constituting the light emitting element row occurs determining a technology for is known (for example, see Patent Document 1). 発光素子列における1個の発光素子のショートを検出することにより、発光装置において輝度ムラが発生するのを抑制することが可能となる。 By detecting the shorting of one light-emitting element in the light emitting element array, luminance unevenness in the light emitting device it is possible to suppress occurrence.

特開2011−181378号公報 JP 2011-181378 JP

発光素子列でショートが発生すると回路損失が増加し、発光装置で熱異常となる可能性があるため、ショートが発生している発光素子列の駆動を停止させることにより、発光装置で熱異常となる可能性を低減することができる。 If a short occurs in the light emitting element rows increased circuit losses, there is a possibility that the thermal anomaly in light emitting device, by stopping the driving of the light-emitting element array short circuit occurs, a thermal anomaly in the light emitting device the potential to be capable of reducing. しかし、発光素子列の駆動を停止させると発光装置の輝度の低下が懸念される。 However, reduction of the luminance of the light emitting device and stops the driving of the light-emitting element array is concerned.

本発明は、こうした問題に鑑みてなされたものであり、発光装置の輝度の低下と発光装置における熱異常の発生とを抑制する技術を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such problems, and an object thereof is to provide a technique for suppressing the generation of thermal anomalies in reducing the light-emitting device of the luminance of the light emitting device.

上記目的を達成するためになされた第1発明の発光装置は、複数の発光素子列と、駆動手段と、複数の電流源と、電圧検出手段と、損失算出手段と、第1駆動停止手段とを備える。 The light emitting device of the first invention which has been made in order to achieve the above object, a plurality of light emitting element rows, a drive means, a plurality of current sources, voltage detection means, a loss calculation unit, a first drive stop means equipped with a.

複数の発光素子列は、複数の発光素子が直列に接続される。 A plurality of light emitting element array, a plurality of light emitting elements are connected in series. 駆動手段は、複数の発光素子列のそれぞれに対して同一の駆動電圧を印加する。 Driving means applies a same driving voltage to each of the plurality of light emitting element rows.
複数の電流源は、複数の発光素子列のそれぞれに直列に接続されて、複数の発光素子列に定電流を供給する。 A plurality of current source is connected in series to each of the plurality of light emitting element rows, and supplies a constant current to the plurality of light emitting element rows.

電圧検出手段は、複数の発光素子列のそれぞれについて、直列に接続されている電流源との接続点における電圧を検出する。 Voltage detecting means for each of a plurality of light emitting element rows, to detect the voltage at the connection point between the current source connected in series.
損失算出手段は、複数の電流源で発生する損失の合計値である総損失を算出する。 Loss calculation means calculates the total loss is the sum of the loss generated in the plurality of current sources.

第1駆動停止手段は、損失算出手段により算出された総損失が予め設定された異常判定損失以上である場合に、複数の発光素子列のうち、接続点での電圧が最も大きい発光素子列の駆動を停止する。 First drive stop means, when the total loss calculated by the loss calculation unit is preset abnormality determining loss above, among the plurality of light emitting element rows, the voltage at the connection point of the largest light-emitting element array to stop the drive.

このように構成された第1発明の発光装置は、総損失が異常判定損失以上である場合に、少なくとも1つの発光素子列の駆動を停止することにより、総損失が異常判定損失以上となる状態が維持されるのを抑制し、発光装置における熱異常の発生を抑制することができる。 State light-emitting device of the first present invention configured as described above, if the total loss is abnormality determination loss or, as a by stopping the driving of the at least one light emitting element row, the total loss abnormality determining loss or There can be suppressed from being maintained, to suppress the generation of thermal anomalies in a light emitting apparatus.

換言すると、総損失が異常判定損失以上になるまでは、発光素子列の駆動が停止されない。 In other words, until the total loss is equal to or greater than the abnormality determination loss, the driving of the light emitting element rows is not stopped. 例えば、発光素子列を構成する複数の発光素子のうちの1個の発光素子でショートが発生したとしても、総損失が異常判定損失未満である場合には、ショートが発生している発光素子列の駆動が停止されない。 For example, even as a short occurs in one light emitting element of the plurality of light emitting elements constituting the light-emitting element array, when the total loss is smaller than the abnormality determination loss, the light emitting element rows short circuit occurs drive of it is not stopped. このため、第1発明の発光装置は、発光装置の輝度の低下を抑制することができる。 Therefore, the light emitting device of the first invention, it is possible to suppress a decrease in luminance of the light emitting device.

以上より、第1発明の発光装置は、発光装置の輝度の低下と発光装置における熱異常の発生とを抑制することができる。 Thus, the light emitting device of the first invention, it is possible to suppress the occurrence of thermal anomalies in reducing the light-emitting device of the luminance of the light emitting device.
上記目的を達成するためになされた第2発明は、複数の発光素子が直列に接続された複数の発光素子列を発光させる発光装置であって、駆動手段と、複数の電流源と、ショート判断手段と、増加手段と、温度検出手段と、第2駆動停止手段とを備える。 The second invention has been made in order to achieve the above object, a light-emitting device to emit light a plurality of light emitting element arrays in which a plurality of light emitting elements are connected in series, a drive unit, a plurality of current sources, short decision and means, and increasing means, a temperature detector, and a second drive stop means.

駆動手段は、複数の発光素子列のそれぞれに対して同一の駆動電圧を印加する。 Driving means applies a same driving voltage to each of the plurality of light emitting element rows. 複数の電流源は、複数の発光素子列のそれぞれに直列に接続されて、複数の発光素子列に定電流を供給する。 A plurality of current source is connected in series to each of the plurality of light emitting element rows, and supplies a constant current to the plurality of light emitting element rows.

ショート判断手段は、複数の発光素子列のそれぞれについて、直列に接続されている電流源との接続点における電圧が、予め設定されたショート検出電圧以上であるか否かを判断する。 Short determination means, for each of a plurality of light emitting element rows, the voltage at the connection point between the current source connected in series, to determine whether a short-circuit detection voltage higher than a preset.

増加手段は、接続点での電圧がショート検出電圧以上である発光素子列が存在するとショート判断手段が判断した場合に、ショート検出電圧を増加させる。 Increasing means, when the voltage at node determines a short determination means when there is the light-emitting element array is short detection voltage or increase the short-circuit detection voltage.
温度検出手段は、当該発光装置内の温度を検出する。 Temperature detecting means detects the temperature in the light-emitting device. 第2駆動停止手段は、温度検出手段により検出された温度が予め設定された異常判定温度以上である場合に、接続点での電圧がショート検出電圧以上である発光素子列の駆動を停止する。 Second drive stop means, when the temperature detected by the temperature detecting means is a preset abnormality determining temperature or above, the voltage at the connection point to stop the driving of the light emitting element rows is short detection voltage or more.

このように構成された第2発明の発光装置は、当該発光装置内の温度が異常判定温度以上である場合に、少なくとも1つの発光素子列の駆動を停止することにより、当該発光装置内の温度が異常判定温度以上となる状態が維持されるのを抑制し、発光装置における熱異常の発生を抑制することができる。 Such light-emitting device of the second invention thus constructed, when the temperature inside the light-emitting device is abnormal determination temperature above, by stopping the driving of the at least one light emitting element row, the temperature inside the light-emitting device it can be inhibited from condition to be abnormality determination temperature or higher is maintained, to suppress the generation of thermal anomalies in a light emitting apparatus.

換言すると、当該発光装置内の温度が異常判定温度以上になるまでは、発光素子列の駆動が停止されない。 In other words, to a temperature in the light-emitting device it is more than the abnormality judgment temperature, the driving of the light emitting element rows is not stopped. 発光素子列を構成する発光素子でショートが発生した(すなわち、接続点での電圧がショート検出電圧以上である)場合であっても、当該発光装置内の温度が異常判定温度未満である場合には、ショートが発生している発光素子列の駆動が停止されない。 Short light-emitting element constituting the light-emitting element array is generated (i.e., the voltage at the connection point of the short detection voltage higher) even if, when the temperature inside the light-emitting device is less than the abnormality judgment temperature the driving of the light-emitting element array short circuit occurs can not be stopped. このため、第2発明の発光装置は、発光装置の輝度の低下を抑制することができる。 Therefore, the light emitting device of the second invention, it is possible to suppress a decrease in luminance of the light emitting device.

以上より、第2発明の発光装置は、発光装置の輝度の低下と発光装置における熱異常の発生とを抑制することができる。 Thus, the light emitting device of the second invention, it is possible to suppress the occurrence of thermal anomalies in reducing the light-emitting device of the luminance of the light emitting device.

第1実施形態の表示装置1の構成を示す回路図である。 Is a circuit diagram showing the display of the device 1 the configuration of the first embodiment. 第1実施形態の異常検出処理を示すフローチャートである。 Is a flowchart illustrating an abnormality detection process of the first embodiment. 異常ケースC1,C2,C3を説明する図である。 It is a diagram illustrating an abnormal case C1, C2, C3. 第2実施形態の表示装置1の構成を示す回路図である。 It is a circuit diagram showing a configuration of a display device 1 of the second embodiment. 第2実施形態の異常検出処理を示すフローチャートである。 Is a flowchart illustrating an abnormality detection process of the second embodiment. 第3実施形態の表示装置1の構成を示す回路図である。 Is a circuit diagram showing the display of the device 1 structure of the third embodiment. 電圧設定回路110の構成を示す回路図である。 It is a circuit diagram showing a structure of a voltage setting circuit 110. 第3実施形態の異常検出処理を示すフローチャートである。 Is a flowchart illustrating an abnormality detection process in the third embodiment. 第4実施形態の表示装置1の構成を示す回路図である。 The fourth is a circuit diagram showing a configuration of a display device 1 of the embodiment. 第4実施形態の異常検出処理を示すフローチャートである。 Is a flowchart illustrating an abnormality detection process of the fourth embodiment. 第5実施形態の表示装置1の構成を示す回路図である。 Is a circuit diagram showing the display of the device 1 structure of the fifth embodiment. 第5実施形態の異常検出処理を示すフローチャートである。 Is a flowchart showing an abnormality detecting process of the fifth embodiment. 第6実施形態の表示装置1の構成を示す回路図である。 Is a circuit diagram showing the display of the device 1 structure of the sixth embodiment. 第6実施形態の異常検出処理を示すフローチャートである。 Is a flowchart illustrating an abnormality detection process in the sixth embodiment.

(第1実施形態) (First Embodiment)
以下に本発明の第1実施形態を図面とともに説明する。 The first embodiment of the present invention will be described in conjunction with the accompanying drawings.
本実施形態の表示装置1は、図1に示すように、表示装置1の表示画面を構成する液晶パネル2と、液晶パネル2の背面側から液晶パネル2に向けて光を照射する発光装置3とを備える。 Display device 1 of this embodiment, as shown in FIG. 1, the liquid crystal panel 2 constituting the display screen of the display device 1, the light emitting device 3 for irradiating light toward the liquid crystal panel 2 from the rear side of the liquid crystal panel 2 provided with a door.

液晶パネル2は、二次元格子状に配列された複数の液晶素子を備える。 The liquid crystal panel 2 includes a plurality of liquid crystal elements arranged in a two-dimensional lattice. 液晶パネル2は、複数の液晶素子を用いて、発光装置3から照射された光を部分的に遮ったり透過させたりすることによって画像を表示する。 The liquid crystal panel 2, using a plurality of liquid crystal elements, for displaying an image by or partially by blocking or transmitting light emitted from the light emitting device 3.

発光装置3は、発光素子アレイ11、昇圧回路12および駆動部13を備える。 The light emitting device 3 includes a light emitting element array 11, the booster circuit 12 and the driver 13.
発光素子アレイ11は、複数(本実施形態では4つ)の発光素子列21,22,23,24を備える。 The light emitting element array 11 includes a light emitting element array 21, 22, 23, 24 of a plurality (four in this embodiment). 発光素子列21〜24は、互いに直列に接続された複数(本実施形態では5つ)の発光素子を、予め設定された列方向D1に沿って予め設定された配置間隔毎に配置することにより構成されている。 Emitting element rows 21 to 24, by disposing the light-emitting element of the plurality connected in series with each other (five in this embodiment), for each predetermined arrangement intervals along the column direction D1, which is set in advance It is configured.

昇圧回路12は、インダクタ31、ダイオード32およびコンデンサ33を備える。 Booster circuit 12 includes an inductor 31, a diode 32 and a capacitor 33. インダクタ31は、一端に入力電圧Viが印加されるとともに、他端が駆動部13のスイッチ素子75(後述)に接続される。 The inductor 31, with the input voltage Vi is applied to one end and the other end connected to the switch element 75 of the driving unit 13 (described later). ダイオード32は、カソードがコンデンサ33の一端に接続されるとともに、アノードがインダクタ31の他端に接続される。 Diode 32, together with the cathode connected to one end of the capacitor 33 and an anode connected to the other end of the inductor 31. コンデンサ33は、一端が上述のようにダイオード32のカソードに接続されるとともに、他端が接地される。 Capacitor 33 has one end connected to the cathode of the diode 32 as described above, the other end is grounded.

このように構成された昇圧回路12では、スイッチ素子75がオフ状態であれば、ダイオード32とコンデンサ33との接続点To(以下、電圧出力部Toという)に、ダイオード32を介して入力電圧Viが印加されており、電圧出力部の電圧は入力電圧Viと等しくなっている。 In the thus configured booster circuit 12, if the switch element 75 is in the OFF state, the connection point To of the diode 32 and a capacitor 33 (hereinafter, referred to as voltage output unit To), the input via the diode 32 voltage Vi There are applied, the voltage of the voltage output portion is equal to the input voltage Vi. そしてスイッチ素子75がオン状態になると、インダクタ31へ通電が行われ、インダクタ31にエネルギーが蓄積される。 When the switching element 75 is turned on, energizing the inductor 31 is made, energy is stored in the inductor 31. その後、スイッチ素子75がオフ状態になると、インダクタ31に蓄積されたエネルギーがダイオード32を介して電圧出力部To側に放出されることにより、電圧出力部Toに入力電圧Viより高い電圧Voを発生させることができる。 Then, generating the switch element 75 is turned off, by the energy stored in the inductor 31 is discharged through the diode 32 to the voltage output unit To the side, a higher voltage Vo than the input voltage Vi to the voltage output unit To it can be.

つまり昇圧回路12は、駆動部13から出力されるPWM信号に従ってスイッチ素子75がオン状態/オフ状態を繰り返すことにより、入力電圧Viの昇圧を行う。 That booster circuit 12, by the switch element 75 is repeatedly turned on / off in accordance with the PWM signal output from the driving unit 13 to boost the input voltage Vi.
そして、電圧出力部Toは、発光素子列21,22,23,24におけるアノード側の端部に接続される。 The voltage output unit To is connected to an end of the anode side of the light emitting element array 21, 22, 23 and 24.

駆動部13は、接続端子群41、電流源群42、電圧制御部43および異常検出部44を備える。 Drive unit 13 includes connection terminals 41, current source group 42, the voltage control unit 43 and the abnormality detecting unit 44.
接続端子群41は、接続端子51,52,53,54,55を備える。 Connection terminal group 41 is provided with a connection terminal 51 to 55. 接続端子51,52,53,54はそれぞれ、発光素子列21,22,23,24におけるカソード側の端部に接続される。 Each connection terminal 51, 52, 53 and 54, is connected to an end of the cathode side of the light emitting element array 21, 22, 23 and 24. 接続端子55は、インダクタ31の他端に接続される。 Connection terminal 55 is connected to the other end of the inductor 31.

電流源群42は、電流源61,62,63,64を備える。 Current source group 42 includes a current source 61, 62, 63 and 64. 電流源61,62,63,64はそれぞれ、一端が接続端子51,52,53,54に接続されるとともに、他端が接地される。 Each current source 61, 62, one end is connected to the connection terminals 51, 52, 53 and 54, the other end is grounded.

電圧制御部43は、誤差増幅器71、発振器72、PWMコンパレータ73、駆動回路74およびスイッチ素子75を備える。 Voltage control unit 43 includes an error amplifier 71, oscillator 72, PWM comparator 73, driver circuit 74 and the switch element 75.
誤差増幅器71は、4つの反転入力端子(−端子)と、1つの非反転入力端子(+端子)と、1つの出力端子とを備える。 The error amplifier 71, four inverted input terminal - equipped with (terminal), and one non-inverting input terminal (+ terminal), and one output terminal. 4つの反転入力端子はそれぞれ、接続端子51,52,53,54に接続される。 Each of the four inverting input terminal is connected to the connection terminal 51, 52, 53 and 54. 非反転入力端子には基準電圧Vxが入力される。 The non-inverting input terminal the reference voltage Vx is input.

誤差増幅器71は、4つの反転入力端子に印加された電圧のうち、最も低い電圧と基準電圧Vxとの差に応じた誤差電圧Veを生成して、出力端子から誤差電圧Veを出力する。 The error amplifier 71, among the four inverting input terminal to the voltage applied, and generates an error voltage Ve corresponding to the difference between the lowest voltage and the reference voltage Vx, and outputs the error voltage Ve from the output terminal.

発振器72は、一定周期の鋸波を出力する。 Oscillator 72 outputs a sawtooth wave having a constant period.
PWMコンパレータ73は、誤差増幅器71からの誤差電圧Veと、発振器72からの鋸波とが入力される。 PWM comparator 73, the error voltage Ve from the error amplifier 71, and a sawtooth wave from the oscillator 72 is input. そしてPWMコンパレータ73は、誤差電圧Veと鋸波の振幅を比較することにより、誤差電圧Veに応じたデューティ比のPWM信号を出力する。 The PWM comparator 73, by comparing the amplitude of the error voltage Ve and the sawtooth wave, and outputs a PWM signal having a duty ratio corresponding to the error voltage Ve.

駆動回路74は、PWMコンパレータ73出力されたPWM信号に従って、スイッチ素子75をスイッチング駆動する。 Drive circuit 74, according to the PWM comparator 73 outputs PWM signal, for switching drive the switching element 75.
スイッチ素子75は、一端が接続端子55に接続されるとともに、他端が接地される。 Switching element 75 has one end connected to the connection terminal 55, the other end is grounded. そしてスイッチ素子75は、駆動回路74から入力される駆動信号に基づいて、一端と他端とが電気的に導通した導通状態と、一端と他端とが電気的に導通していない非導通状態との何れかの状態になるように駆動される。 The switching element 75, on the basis of a drive signal input from the drive circuit 74, a non-conductive state and conductive state, one end and the other end is electrically conductive, and the one end and the other end is not electrically connected It is driven to be either state of the.

異常検出部44は、AD変換器81,82,83,84と、制御部85とを備える。 Abnormality detecting section 44 includes an AD converter 81 to 84, and a control unit 85.
AD変換器81,82,83,84はそれぞれ、接続端子51,52,53,54に接続されている。 AD converters 81, 82, 83, 84 are respectively connected to the connection terminals 51, 52, 53 and 54. そしてAD変換器81,82,83,84は、入力されるアナログの信号をデジタルデータに変換して、制御部85へ出力する。 The AD converter 81, 82, 83, 84 converts the signal of the analog input into digital data and outputs to the control unit 85.

制御部85は、CPU、ROM、RAM、I/O及びこれらの構成を接続するバスラインなどを備える周知のマイクロコンピュータを中心に構成されており、電流源群42を制御する。 Control unit 85 controls CPU, ROM, RAM, is configured around a known microcomputer including a like I / O and a bus line connecting these components, the current source group 42. そして制御部85は、ROMが記憶するプログラムに基づく処理をCPUが実行することにより、異常検出処理(後述)を実行する。 The control unit 85, by the processing based on a program ROM stores the CPU executes, executes the abnormality detection process (described later).

次に、制御部85のCPUが実行する異常検出処理の手順を説明する。 Next, a procedure of abnormality detection processing by the CPU of the control unit 85 executes. 異常検出処理は、制御部85が起動した直後に開始される処理である。 Abnormality detecting process control unit 85 is started immediately after launching.
この異常検出処理が実行されると、制御部85は、図2に示すように、まずS10にて、損失計算を行う。 When the abnormality detection process is executed, the control unit 85, as shown in FIG. 2, first at S10, performs loss calculations. 具体的には、損失Wを下式(1)により算出する。 Specifically, it calculates the loss W by the following equation (1). なお、下式(1)において、I1,I2,I3,I4はそれぞれ、発光素子列21,22,23,24に流れる電流の値であり、電流源61,62,63,64の回路定数で決まる値である。 Note that in the following equation (1), I1, I2, I3, I4, respectively, a value of a current flowing through the light emitting element rows 21, 22, 23, the circuit constants of the current source 61, 62, 63, 64 is a determined value. また、V1,V2,V3,V4はそれぞれ、接続端子51,52,53,54における電圧の値である。 Further, V1, V2, V3, V4, respectively, is the value of the voltage at the connection terminals 51, 52, 53, 54.

W = I1×V1+I2×V2+I3×V3+I4×V4 ・・・(1) W = I1 × V1 + I2 × V2 + I3 × V3 + I4 × V4 ··· (1)
但し、式(1)による計算は、発光素子列21,22,23,24のうち駆動している発光素子列に対して行う。 However, calculation according to formula (1) is performed on the light emitting element rows are driven out of the light emitting element array 21, 22, 23 and 24. すなわち、式(1)による計算は、後述のS30で行われる異常処理において駆動を停止させられた発光素子列を除外して行われる。 That is, the computation according to equation (1) is carried out by excluding light emitting element row which is to stop the drive in the abnormality processing performed in S30 will be described later.

そしてS20にて、S10で算出した損失Wが、予め設定された異常判定損失W0より小さいか否かを判断する。 Then, in S20, the calculated loss W in S10 it is determined whether a preset abnormality determining loss W0 smaller. ここで、損失Wが異常判定損失W0より小さい場合には(S20:YES)、S10に移行する。 Here, if loss W abnormality determination loss W0 smaller (S20: YES), the process proceeds to S10.

一方、損失Wが異常判定損失W0以上である場合には(S20:NO)、S30にて異常処理を行う。 On the other hand, if loss W is abnormality determining loss W0 or more (S20: NO), the abnormality processing at S30. 具体的には、発光素子列21,22,23,24のうち、接続端子の電圧値が最も大きいものの駆動を停止する。 Specifically, of the light emitting element rows 21, 22, 23, 24, stops the driving of one voltage value of the connection terminals is the largest. 例えば、接続端子51,52,53,54のうち接続端子54の電圧値が最大である場合には、電流源64による電流供給を停止することにより、発光素子列24の駆動を停止する。 For example, the voltage value of the connection terminals 54 of the connection terminals 51, 52, 53 and 54 when a maximum, by stopping the current supply by the current source 64 stops driving the light emitting element array 24.

そして、S30の処理が終了すると、S10に移行する。 Then, the processing of S30, when finished, the routine proceeds to S10.
このように構成された発光装置3は、4個の発光素子列21,22,23,24と、電圧制御部43と、4個の電流源61,62,63,64と、AD変換器81,82,83,84と、制御部85とを備える。 The light emitting device 3 configured as described above, the four light emitting element rows 21, 22, 23, a voltage control unit 43, and four current sources 61, 62, 63, 64, AD converter 81 includes a 82 83, and a control unit 85.

4個の発光素子列21〜24は、複数の発光素子が直列に接続される。 Four light emitting element rows 21 through 24, a plurality of light emitting elements are connected in series.
電圧制御部43は、4個の発光素子列21〜24のそれぞれに対して同一の電圧Voを印加する。 Voltage control unit 43 applies the same voltage Vo for each of the four light emitting element rows 21 to 24.

4個の電流源61〜64は、4個の発光素子列21〜24のそれぞれに直列に接続されて、4個の発光素子列21〜24に定電流を供給する。 Four current sources 61 to 64, four are connected in series to each light emitting element row 21 to 24, it supplies a constant current to the four light emitting element rows 21 to 24.
AD変換器81〜84は、4個の発光素子列21,22,23,24のそれぞれについて、直列に接続されている電流源との接続点である接続端子51,52,53,54における電圧を検出する。 AD converters 81 to 84, for each of the four light emitting element rows 21, 22, 23, the voltage at the connection terminals 51, 52, 53, and 54 is a connection point between the current source connected in series to detect.

制御部85は、4個の電流源61〜64で発生する損失の合計値である損失Wを算出する(S10)。 Control unit 85 calculates a loss W is the sum of the loss generated by the four current sources 61 to 64 (S10).
制御部85は、算出された損失Wが予め設定された異常判定損失W0以上である場合に、4個の発光素子列21〜24のうち、接続端子での電圧が最も大きい発光素子列の駆動を停止する(S20,S30)。 Control unit 85, when the calculated loss W is preset abnormality determining loss W0 above, among the four light emitting element rows 21 to 24, the drive voltage at connection terminals of the greatest light-emitting element array the stops (S20, S30).

このように構成された発光装置3は、損失Wが異常判定損失W0以上である場合に、少なくとも1つの発光素子列の駆動を停止することにより、損失Wが異常判定損失W0以上となる状態が維持されるのを抑制し、発光装置3における熱異常の発生を抑制することができる。 Emitting device 3 thus configured, when loss W is abnormality determining loss W0 above, by stopping the driving of the at least one light emitting element row, the state in which loss W becomes abnormal determination loss W0 or suppressed from being maintained, the occurrence of thermal anomalies in a light emitting apparatus 3 can be suppressed.

換言すると、損失Wが異常判定損失W0以上になるまでは、発光素子列21〜24の駆動が停止されない。 In other words, until loss W is equal to or greater than the abnormality determination loss W0, the driving of the light emitting element rows 21 to 24 is not stopped.
例えば、発光素子列21〜24を構成する複数の発光素子のうちの1個の発光素子でショートが発生したとしても、損失Wが異常判定損失W0未満である場合には、ショートが発生している発光素子列21〜24の駆動が停止されない。 For example, even as a short occurs in one light emitting element of the plurality of light emitting elements constituting the light emitting element rows 21 to 24, when the loss W is less than the abnormality judgment loss W0 is a short occurs driving the light emitting element rows 21 to 24 there are not stopped.

ここで、発光素子列21〜24について、接続端子51〜54の電圧とショート検出電圧とを比較することにより、熱異常を抑制する方法を説明する。 Here, the light emitting element rows 21 to 24, by comparing the voltage and short-circuit detection voltage of the connection terminals 51 to 54 will be described a method of suppressing the thermal anomalies.
例えば、ショートが発生した発光素子の個数が3個の場合には熱異常とならないとする。 For example, when the number of light-emitting elements short circuit occurs is three is a not a thermal anomalies. この場合には、図3に示すように、3個の発光素子列でそれぞれ1個の発光素子でショートが発生する状況(図3の異常ケースC1を参照)を考慮し、ショート検出電圧は、1つの発光素子列における1個の発光素子でショートが発生したときの電圧よりも高く、2個の発光素子でショートが発生したときの電圧よりも低くなるように設定される。 In this case, as shown in FIG. 3, considering three situations short in the light-emitting element array in one light-emitting element respectively occurs (see abnormal case C1 in FIG. 3), the short detection voltage, higher than the voltage at which the short circuit occurs in one of the light-emitting element in one light emitting element row, is set to be lower than the voltage at which the short circuit occurs in the two light emitting elements.

このため、1つの発光素子列における2個の発光素子でショートが発生する状況(図3の異常ケースC2を参照)では、この発光素子列(図3では発光素子列24)に対応する接続端子の電圧がショート検出電圧を超えるために、この発光素子列(図3では発光素子列24)の駆動が停止される。 Therefore, in one light emitting element situation a short circuit occurs in two light emitting elements in the column (see abnormal case C2 in Figure 3), the connection terminal corresponding to the light-emitting element array (light-emitting element array 24 in FIG. 3) for voltage exceeds the short-circuit detection voltage, the driving of the light emitting element rows (light emitting element array 24 in FIG. 3) is stopped. これにより、熱異常が発生しない状況であるにも関わらず、1個の発光素子列分の発光が行われなくなり、発光装置の輝度が低下してしまう。 Thus, despite the thermal anomaly is the situation does not occur, light emission of one light-emitting element array content is not performed, the luminance of the light emitting device is decreased.

これに対して、本実施形態の発光装置3は、1つの発光素子列における2個の発光素子でショートが発生する状況であっても、損失Wが異常判定損失W0未満である場合には、ショートが発生している発光素子列21〜24の駆動が停止されない。 In contrast, when the light emitting device 3 of this embodiment, even in a situation where short by two light-emitting elements in one light emitting element row occurs, loss W is less than the abnormality judgment loss W0 is driving the light emitting element rows 21 to 24 that short circuit occurs can not be stopped. このため、発光装置3は、発光装置3の輝度の低下を抑制することができる。 Therefore, the light emitting device 3, it is possible to suppress a decrease in luminance of the light emitting device 3.

以上より、発光装置3は、発光装置3の輝度の低下と発光装置3における熱異常の発生とを抑制することができる。 Thus, the light emitting device 3 can suppress the generation of thermal anomalies in reducing the light emitting device 3 of the luminance of the light emitting device 3.
以上説明した実施形態において、電圧制御部43は本発明における駆動手段、AD変換器81〜84は本発明における電圧検出手段、S10の処理は本発明における損失算出手段、S20,S30の処理は本発明における第1駆動停止手段である。 In the embodiment described above, the driving means in the present invention is a voltage control unit 43, the voltage detecting means in the AD converter 81 to 84 present invention, loss calculation means in the present invention the process of S10, S20, the process step S30 is present a first drive stop means in the invention.

(第2実施形態) (Second Embodiment)
以下に本発明の第2実施形態を図面とともに説明する。 A second embodiment of the present invention will be described in conjunction with the accompanying drawings. なお第2実施形態では、第1実施形態と異なる部分を説明する。 Note that, in the second embodiment will be described the portions different from the first embodiment.

第2実施形態の表示装置1は、図4に示すように、温度検出回路90が追加された点が第1実施形態と異なる。 Display device 1 of the second embodiment, as shown in FIG. 4, that the temperature detection circuit 90 is added is different from the first embodiment.
温度検出回路90は、駆動部13の温度を検出し、その検出結果を示す温度検出信号を制御部85へ出力する。 Temperature detecting circuit 90 detects the temperature of the drive unit 13, and outputs a temperature detection signal indicating the detection result to the control unit 85.

また、第2実施形態の表示装置1は、異常検出処理が変更された点が第1実施形態と異なる。 The display device 1 of the second embodiment in that the abnormality detection processing is changed is different from the first embodiment.
第2実施形態の異常検出処理が実行されると、制御部85は、図5に示すように、まずS110にて、温度検出回路90から入力された温度検出信号に基づいて、駆動部13の温度を算出する。 When the abnormality detection processing of the second embodiment is executed, the control unit 85, as shown in FIG. 5, first in S110, based on the temperature detection signal input from the temperature detection circuit 90, the driving unit 13 to calculate the temperature.

そしてS120にて、S110で算出された温度に基づいて、異常判定損失W0を設定する。 Then, in S120, based on the temperature calculated in S110, it sets the abnormality determination loss W0. 具体的には、温度と異常判定損失W0との間の対応関係が予め設定された設定テーブルを参照して、異常判定損失W0を設定する。 Specifically, with reference to the setting table correspondence between the temperature and the abnormality determination loss W0 is set in advance, it sets an abnormality determination loss W0. なお、設定テーブルは、制御部85に予め記憶されている。 The setting table is stored in advance in the control unit 85.

次にS130にて、S10と同様にして、損失Wを算出する。 Next, in S130, in the same manner as S10, calculates the loss W. そしてS140にて、S130で算出した損失Wが、S120で設定された異常判定損失W0より小さいか否かを判断する。 Then, in S140, the loss W calculated in S130 it is determined whether the abnormality determination loss W0 is smaller than or not set in S120. ここで、損失Wが異常判定損失W0より小さい場合には(S140:YES)、S110に移行する。 Here, if loss W abnormality determination loss W0 smaller (S140: YES), the process proceeds to S110.

一方、損失Wが異常判定損失W0以上である場合には(S140:NO)、S150にて、S30と同様にして、異常処理を行い、S110に移行する。 On the other hand, if loss W is abnormality determining loss W0 or more (S140: NO), in S150, in the same manner as in S30, it performs abnormality processing proceeds to S110.
このように構成された発光装置3は、発光装置3内の温度を検出する温度検出回路90を備える。 The light emitting device 3 configured as described above, includes a temperature detecting circuit 90 for detecting the temperature of the light emitting device 3. そして、発光装置3の制御部85は、温度検出回路90より検出された温度に基づいて、異常判定損失W0を設定する(S120)。 Then, the control unit 85 of the light emitting device 3, based on the temperature detected from the temperature detection circuit 90, sets the abnormality determination loss W0 (S120).

これにより、第2実施形態の発光装置3は、発光装置3内の温度に応じて、熱異常にならない適切な異常判定損失W0を設定することができる。 Thus, the light emitting device 3 of the second embodiment, depending on the temperature of the light emitting device 3, it is possible to set the thermal anomalies in becoming not appropriate abnormality determination loss W0.
例えば、発光装置3内の温度Td1では、ショートが発生した発光素子の個数が3個の場合には熱異常とならないとする。 For example, the temperature Td1 of the light emitting device 3, when the number of light-emitting elements short circuit occurs is three is a not a thermal anomalies. この場合には、図3に示すように、1つの発光素子列における4個の発光素子でショートが発生する状況(図3の異常ケースC3を参照)で、この発光素子列(図3では発光素子列24)の駆動が停止される。 In this case, as shown in FIG. 3, in one light emitting element situation a short circuit occurs in four light emitting elements in the column (see abnormal case C3 in FIG. 3), the light-emitting element array (in FIG. 3 emission driving the element array 24) is stopped.

一方、発光装置3内の温度Td2では、ショートが発生した発光素子の個数が4個の場合には熱異常とならないとする。 On the other hand, the temperature Td2 of the light emitting device 3, when the number of the light emitting element a short circuit has occurred in 4 pieces and not a thermal anomalies. この場合には、温度Td2に応じて適切な異常判定損失W0が設定される。 In this case, appropriate abnormality determination loss W0 in accordance with the temperature Td2 is set. このため、1つの発光素子列における4個の発光素子でショートが発生しても、この発光素子列(図3では発光素子列24)の駆動が継続される。 Therefore, short in four light emitting elements in one light emitting element arrays be generated, the driving of the light emitting element rows (light emitting element array 24 in FIG. 3) is continued.

このため、第2実施形態の発光装置3は、発光装置3の輝度の低下と発光装置3における熱異常の発生とを更に抑制することができる。 Therefore, the light emitting device 3 of the second embodiment, it is possible to further suppress the heat generation abnormality in lowering the light-emitting device 3 of the luminance of the light emitting device 3.
以上説明した実施形態において、温度検出回路90は本発明における温度検出手段、S120の処理は本発明における第1設定手段である。 In the embodiment described above, the temperature detecting means in the temperature detection circuit 90 according to the present invention, the processing of S120 is first setting means in the present invention.

(第3実施形態) (Third Embodiment)
以下に本発明の第3実施形態を図面とともに説明する。 A third embodiment of the present invention will be described in conjunction with the accompanying drawings. なお第2実施形態では、第1実施形態と異なる部分を説明する。 Note that, in the second embodiment will be described the portions different from the first embodiment.

第3実施形態の表示装置1は、図6に示すように、異常検出部44の構成が変更された点と、温度検出回路90および電圧設定回路110が追加された点が第1実施形態と異なる。 Display device 1 of the third embodiment, as shown in FIG. 6, and that configuration is changed in the abnormality detecting section 44, that the temperature detection circuit 90 and a voltage setting circuit 110 has been added in the first embodiment different.

異常検出部44は、AD変換器81,82,83,84の代わりに、コンパレータ101,102,103,104を備える。 Abnormality detection unit 44, instead of the AD converter 81, 82, 83, 84 comprises a comparator 101, 102, 103, 104.
コンパレータ101,102,103,104はそれぞれ、非反転入力端子(+端子)に接続端子51,52,53,54が接続され、反転入力端子(−端子)にショート検出電圧Vsが印加される。 Each comparator 101, 102 has a non-inverting input terminal connected to the (+ terminal) terminal 51, 52, 53, and 54 are connected, an inverting input terminal (- terminal) to short-circuit detection voltage Vs is applied.

そして、コンパレータ101,102,103,104は、非反転入力端子の電圧が反転入力端子の電圧未満である場合には、ローレベルの信号を制御部85へ出力し、非反転入力端子の電圧が反転入力端子の電圧以上である場合に、ハイレベルの信号を制御部85へ出力する。 The comparator 101, 102, 103, 104 when the voltage at the non-inverting input terminal is less than the voltage at the inverting input terminal, and outputs a low level signal to the control unit 85, the voltage at the non-inverting input terminal If it is inverted voltage of the input terminal or to output a high level signal to the control unit 85.

温度検出回路90は、駆動部13の温度を検出し、その検出結果を示す温度検出信号を制御部85へ出力する。 Temperature detecting circuit 90 detects the temperature of the drive unit 13, and outputs a temperature detection signal indicating the detection result to the control unit 85.
電圧設定回路110は、図7に示すように、トランジスタ111,112と抵抗113,114,115とを備える。 Voltage setting circuit 110, as shown in FIG. 7, comprises the transistors 111 and 112 and resistors 113, 114 and 115.

トランジスタ111,112は、NPN型のトランジスタであり、エミッタ、ベースおよびコレクタを有する。 Transistors 111 and 112 is an NPN transistor having an emitter, a base and a collector.
トランジスタ111,112のエミッタは、接地される。 The emitter of transistor 111 and 112, is grounded. トランジスタ111,112のコレクタはそれぞれ、抵抗114,115の一端に接続される。 Each collector of the transistors 111 and 112 is connected to one end of the resistor 114 and 115. トランジスタ111,112のベースはそれぞれ制御部85に接続される。 The base of transistor 111 is connected to the control unit 85, respectively. 抵抗113は、一端に電圧Vccが印加されるとともに、他端が抵抗114,115の他端に接続される。 Resistor 113, along with the voltage Vcc is applied to one end and the other end connected to the other end of the resistor 114 and 115.

制御部85は、トランジスタ111,112のそれぞれに対して、トランジスタ111,112のオン・オフを制御するトランジスタ制御信号を出力する。 Control unit 85, for each of the transistors 111 and 112, and outputs a transistor control signal for controlling the on-off of transistors 111 and 112. 具体的には、トランジスタ制御信号をローレベルにすると、トランジスタ111,112がオフ状態となり、トランジスタ制御信号をハイレベルにすると、トランジスタ111,112がオン状態となる。 Specifically, when the transistor control signal to the low level, transistors 111 and 112 is turned off, when the transistor control signal to the high level, transistors 111 and 112 are turned on.

このため、制御部85が、トランジスタ111とトランジスタ112に対してそれぞれハイレベルとローレベルのトランジスタ制御信号を出力した場合には、抵抗113と抵抗114とトランジスタ111に電流が流れる一方、抵抗115とトランジスタ112には電流が流れない。 Therefore, the control unit 85, when the output transistor control signal of high level and low level respectively transistor 111 and the transistor 112, while the current flows in the resistor 113 resistor 114 and transistor 111, a resistor 115 no current flows through the transistor 112. これにより、抵抗113と抵抗114,115との接続点Pcにおけるショート検出電圧Vsは、下式(2)に示す値となる。 Thus, the short detection voltage Vs at the connection point Pc between the resistor 113 and the resistor 114 and 115 has a value shown in the following equation (2). なお、下式(2)において、R0,R1はそれぞれ、抵抗113,114の抵抗値である。 Note that in the following equation (2), R0, R1 is the resistance value of each resistor 113 and 114.

Vs = Vcc×R0/(R0+R1) ・・・(2) Vs = Vcc × R0 / (R0 + R1) ··· (2)
式(2)で算出されるショート検出電圧Vsの値は、発光素子列21〜24を構成する5個の発光素子でショートが発生していないときにおける接続端子51〜54の電圧よりも高くなるように設定される。 The value of short-circuit detection voltage Vs which is calculated by the equation (2) is higher than the voltage of the connection terminals 51 to 54 at the time when the short in five light emitting elements constituting the light emitting element row 21 to 24 has not occurred It is set to be. さらに、式(2)で算出されるショート検出電圧Vsの値は、発光素子列21〜24を構成する5個の発光素子のうち1個の発光素子でショートが発生したときにおける接続端子51〜54の電圧よりも低くなるように設定される。 Furthermore, the value of the short-circuit detection voltage Vs which is calculated by the equation (2) is connected at the time when short circuit occurs in one light emitting element of the five light emitting elements constituting the light emitting element array 21 through 24 pin 51 to It is set to be lower than the voltage of 54.

また制御部85が、トランジスタ111とトランジスタ112に対してハイレベルのトランジスタ制御信号を出力した場合には、抵抗113と抵抗114とトランジスタ111に電流が流れ、抵抗113と抵抗115とトランジスタ112に電流が流れる。 The control unit 85, when the output transistor control signal of a high level for transistor 111 and the transistor 112, current flows through the resistor 113 resistor 114 and transistor 111, current and resistor 113 resistor 115 and transistor 112 It flows. これにより、接続点Pcにおけるショート検出電圧Vsは、下式(3)に示す値となる。 Thus, the short detection voltage Vs at the connection point Pc is a value expressed by the following equations (3). なお、下式(3)において、R2は、抵抗115の抵抗値である。 Note that in the following equation (3), R2 is the resistance of resistor 115.

Vs = Vcc×R0/{R0+R1×R2/(R1+R2)} ・・・(3) Vs = Vcc × R0 / {R0 + R1 × R2 / (R1 + R2)} ··· (3)
式(3)で算出されるショート検出電圧Vsの値は、発光素子列21〜24を構成する5個の発光素子のうち1個の発光素子でショートが発生したときにおける接続端子51〜54の電圧よりも高くなるように設定される。 Wherein the value of the short-circuit detection voltage Vs calculated in (3), the connection terminals 51 to 54 at the time when short circuit occurs in one light emitting element of the five light emitting elements constituting the light emitting element rows 21 to 24 It is set to be higher than the voltage. さらに、式(3)で算出されるショート検出電圧Vsの値は、発光素子列21〜24を構成する5個の発光素子のうち2個の発光素子でショートが発生したときにおける接続端子51〜54の電圧よりも低くなるように設定される。 Furthermore, the value of the short-circuit detection voltage Vs which is calculated by the equation (3) is connected at the time when short circuit occurs in the two light emitting elements among the five light emitting elements constituting the light emitting element array 21 through 24 pin 51 to It is set to be lower than the voltage of 54.

また、第3実施形態の表示装置1は、異常検出処理が変更された点が第1実施形態と異なる。 The display device 1 of the third embodiment in that the abnormality detection processing is changed is different from the first embodiment.
第3実施形態の異常検出処理が実行されると、制御部85は、図8に示すように、まずS210にて、ショート検出電圧Vsを初期値に設定する。 When the abnormality detection processing of the third embodiment is executed, the control unit 85, as shown in FIG. 8, first at S210, it sets the short detection voltage Vs to the initial value. 具体的には、トランジスタ111に対するトランジスタ制御信号をハイレベルにするとともに、トランジスタ112に対するトランジスタ制御信号をローレベルにする。 Specifically, with the transistor control signal for the transistor 111 to the high level, the transistor control signal for the transistor 112 to a low level.

次にS220にて、S110と同様にして、温度検出回路90から入力された温度検出信号に基づいて、駆動部13の温度Tを算出する。 Next, in S220, in the same manner as in S110, based on the temperature detection signal input from the temperature detection circuit 90, calculates the temperature T of the driving unit 13.
そしてS230にて、S220で算出された温度Tが予め設定された異常判定温度Tmaxより小さいか否かを判断する。 Then, in S230, the temperature T calculated in S220 it is determined whether the preset abnormality determination temperature Tmax smaller. ここで、温度Tが異常判定温度Tmaxより小さい場合には(S230:YES)、S240にて、ショートを検出したか否かを判断する。 Here, if the temperature T is abnormality determination temperature Tmax smaller (S230: YES), in S240, it is determined whether it has detected a short circuit. 具体的には、コンパレータ101〜104から出力された信号の少なくとも1つがハイレベルである場合に、ショートを検出したと判断し、コンパレータ101〜104から出力された信号が全てローレベルである場合に、ショートを検出していないと判断する。 More specifically, when at least one high level of the signal output from the comparator 101 to 104, determines that it has detected a short circuit, when all the signals output from the comparator 101 to 104 is at a low level , it is determined not to detect a short circuit.

ここで、ショートを検出していない場合には(S240:NO)、S220に移行する。 Here, if you have not detected a short (S240: NO), the process proceeds to S220. 一方、ショートを検出した場合には(S240:YES)、S250にて、ショート検出電圧Vsを変更し、S220に移行する。 On the other hand, when detecting a short circuit (S240: YES), in S250, to change the short detection voltage Vs, the process proceeds to S220. 具体的には、トランジスタ111,112に対するトランジスタ制御信号をハイレベルにする。 Specifically, the transistor control signals for the transistors 111 and 112 to a high level. 但し、トランジスタ111,112に対するトランジスタ制御信号が既にハイレベルである場合には、トランジスタ制御信号に関する処理を行わずに、S220に移行する。 However, when the transistor control signals for the transistors 111 and 112 is already high level, without processing related to transistor control signal, the process proceeds to S220.

またS230にて、温度Tが異常判定温度Tmax以上である場合には(S230:NO)、S260にて、異常処理を行う。 Also at S230, when the temperature T is abnormality determination temperature Tmax or higher (S230: NO), in S260, the abnormality processing. 具体的には、発光素子列21,22,23,24のうち、コンパレータから出力される信号がハイレベルであるものの駆動を停止する。 Specifically, of the light emitting element rows 21, 22, 23 and 24, the signal output from the comparator stops driving of those at a high level. 例えば、コンパレータ101,102,103,104のうちコンパレータ103から出力される信号がハイレベルである場合には、電流源63による電流供給を停止することにより、発光素子列23の駆動を停止する。 For example, if the signal output from the comparator 103 of the comparator 101, 102, 103, and 104 is at a high level, by stopping the current supply by the current source 63 stops driving the light emitting element array 23.

そして、S260の処理が終了すると、S220に移行する。 Then, the processing of S260 is Upon completion, the process proceeds to S220.
このように構成された発光装置3は、複数の発光素子が直列に接続された4個の発光素子列21,22,23,24を発光させる。 The light emitting device 3 configured as described above, a plurality of light emitting elements emit four light emitting element rows 21, 22, 23 and 24 connected in series. そして発光装置3は、電圧制御部43と、4個の電流源61,62,63,64と、コンパレータ101,102,103,104および電圧設定回路110と、温度検出回路90と、制御部85とを備える。 The light emitting device 3 includes a voltage control unit 43, and four current sources 61, 62, a comparator 101, 102, 103, 104 and the voltage setting circuit 110, a temperature detection circuit 90, the control unit 85 provided with a door.

電圧制御部43は、4個の発光素子列21〜24のそれぞれに対して同一の電圧Voを印加する。 Voltage control unit 43 applies the same voltage Vo for each of the four light emitting element rows 21 to 24.
4個の電流源61〜64は、4個の発光素子列21〜24のそれぞれに直列に接続されて、4個の発光素子列21〜24に定電流を供給する。 Four current sources 61 to 64, four are connected in series to each light emitting element row 21 to 24, it supplies a constant current to the four light emitting element rows 21 to 24.

コンパレータ101〜104および電圧設定回路110は、4個の発光素子列21〜24のそれぞれについて、直列に接続されている電流源との接続点である接続端子51〜54における電圧が、予め設定されたショート検出電圧Vs以上であるか否かを判断する。 Comparator 101 to 104 and the voltage setting circuit 110, for each of the four light emitting element rows 21 to 24, the voltage at the connection terminals 51 to 54 which is a connection point between the current source connected in series, are set in advance determining whether a short-circuit detection voltage Vs or higher was.

制御部85は、接続端子51〜54での電圧がショート検出電圧Vs以上である発光素子列が存在すると判断した場合に、ショート検出電圧Vsを増加させる(S250)。 Control unit 85, when the voltage at the connection terminals 51 to 54 determines that there is a light-emitting element array is short detection voltage Vs or more, to increase the short-circuit detection voltage Vs (S250).
温度検出回路90は、発光装置3内の温度を検出する。 Temperature detecting circuit 90 detects the temperature of the light emitting device 3.

制御部85は、温度検出回路90により検出された温度Tが予め設定された異常判定温度Tmax以上である場合に、接続端子での電圧がショート検出電圧Vs以上である発光素子列の駆動を停止する(S230,S260)。 Control unit 85, when the temperature T detected by the temperature detection circuit 90 is preset abnormality determination temperature Tmax or more, stops the driving of the light-emitting element array voltage at the connection terminal is short-circuit detection voltage Vs or higher to (S230, S260).

このように構成された発光装置3は、発光装置3内の温度Tが異常判定温度Tmax以上である場合に、少なくとも1つの発光素子列の駆動を停止することにより、発光装置3内の温度Tが異常判定温度Tmax以上となる状態が維持されるのを抑制し、発光装置3における熱異常の発生を抑制することができる。 Emitting device 3 thus configured, when the temperature T of the light emitting device 3 is abnormal determination temperature Tmax or more, by stopping the driving of the at least one light emitting element row, the temperature T of the light emitting device 3 it can abnormality determination temperature suppresses the Tmax or become state is maintained, to suppress the generation of thermal anomalies in a light emitting apparatus 3.

換言すると、発光装置3内の温度Tが異常判定温度Tmax以上になるまでは、発光素子列21〜24の駆動が停止されない。 In other words, until the temperature T of the light emitting device 3 is equal to or greater than the abnormality determination temperature Tmax, the driving of the light emitting element rows 21 to 24 is not stopped. 発光素子列21〜24を構成する発光素子でショートが発生した(すなわち、接続端子51〜54での電圧がショート検出電圧Vs以上である)場合であっても、発光装置3内の温度Tが異常判定温度Tmax未満である場合には、ショートが発生している発光素子列の駆動が停止されない。 Short light-emitting elements constituting the light emitting element array 21 to 24 is generated (i.e., the voltage at the connection terminals 51 to 54 is short detection voltage Vs or higher) even when the temperature T of the light emitting device 3 If it is less than the abnormality judgment temperature Tmax, the driving of the light emitting element array short circuit occurs can not be stopped. このため、発光装置3は、発光装置3の輝度の低下を抑制することができる。 Therefore, the light emitting device 3, it is possible to suppress a decrease in luminance of the light emitting device 3.

以上より、発光装置3は、発光装置3の輝度の低下と発光装置3における熱異常の発生とを抑制することができる。 Thus, the light emitting device 3 can suppress the generation of thermal anomalies in reducing the light emitting device 3 of the luminance of the light emitting device 3.
以上説明した実施形態において、コンパレータ101〜104および電圧設定回路110は本発明におけるショート判断手段、S250の処理は本発明における増加手段、温度検出回路90は本発明における温度検出手段、S230,S260の処理は本発明における第2駆動停止手段である。 In the embodiment described above, the short judgment means in the comparator 101 to 104 and the voltage setting circuit 110 according to the present invention, increasing means in the present invention the process of S250, the temperature detecting means in the temperature detection circuit 90 according to the present invention, S230, S260 of process is a second drive stop means in the present invention.

(第4実施形態) (Fourth Embodiment)
以下に本発明の第4実施形態を図面とともに説明する。 A fourth embodiment of the present invention will be described in conjunction with the accompanying drawings. なお第4実施形態では、第1実施形態と異なる部分を説明する。 Note that, in the fourth embodiment will be described the portions different from the first embodiment.

第4実施形態の表示装置1は、図9に示すように、表示装置1の外部から制御部85へイベント信号が入力可能に構成されている点が第1実施形態と異なる。 Display device 1 of the fourth embodiment, as shown in FIG. 9, the point that an event signal to the control unit 85 from the outside of the display device 1 is configured to be input differs from the first embodiment.
また、第4実施形態の表示装置1は、異常検出処理が変更された点が第1実施形態と異なる。 The display device 1 of the fourth embodiment in that the abnormality detection processing is changed is different from the first embodiment. そして、第4実施形態の表示装置1は、図10に示すように、S310,S320の処理が追加された点が第1実施形態と異なる。 The display device 1 of the fourth embodiment, as shown in FIG. 10, S310, that the processing of S320 is added is different from the first embodiment.

すなわち、S10の処理が終了すると、S310にて、検査モードであるか否かを判断する。 That is, the process in S10 is completed, in S310, it is determined whether an inspection mode. 具体的には、イベント信号が入力された場合には、検査モードであると判断し、イベント信号が入力されていない場合には、通常モードであると判断する。 Specifically, when an event signal is input, it is determined that the test mode, when the event signal is not input, it is determined that the normal mode.

ここで、検査モードでない場合には(S310:NO)、S20に移行する。 Here, if not the inspection mode (S310: NO), the process proceeds to S20. 一方、検査モードである場合には(S310:YES)、S320にて、ショート判定処理を実行し、S20に移行する。 On the other hand, if an inspection mode (S310: YES), in S320, and executes the short determination process proceeds to S20.

S320では、具体的には、まず、AD変換器81,82,83,84から入力されるデジタルデータの値(すなわち、接続端子51,52,53,54の電圧値)が、予め設定された検査モード異常判定電圧以上であるか否かを判断する。 In S320, specifically, first, the value of the digital data input from the AD converter 81, 82, 83, 84 (i.e., the voltage value of the connection terminals 51, 52, 53, 54) has been set in advance determining whether a test mode abnormality determination voltage or more. 検査モード異常判定電圧は、発光素子列21〜24を構成する5個の発光素子のうち1個の発光素子でショートが発生したときにおける接続端子51〜54の電圧よりも低くなるように設定される。 Test mode abnormality determination voltage is set to be lower than the voltage of the connection terminals 51 to 54 at the time when the short in one light emitting element of the five light emitting elements constituting the light emitting element array 21 to 24 is generated that.

なお、表示装置1を製造する製造工場において、表示装置1を検査する検査工程などで検査するときの検査温度は一定であることが多い。 In the production plant for manufacturing the display device 1, the inspection temperature when inspecting the like inspection process for inspecting the display device 1 is often constant. そして、検査温度が特定できれば、1個の発光素子の順方向電圧Vfのバラツキも特定することが可能である。 Then, if a particular inspection temperature, also the variation of the forward voltage Vf of one light-emitting element can be identified. このため、検査モード異常判定電圧は、検査温度における順方向電圧Vfのバラツキを考慮して、順方向電圧Vfがばらついても1個の発光素子のショートを検出することができる値に設定される。 Thus, test mode abnormality determination voltage is set in consideration of variations in the forward voltage Vf at the test temperature, a value which can detect a short circuit of one of the light emitting element even variations in the forward voltage Vf .

そしてS320では、AD変換器81,82,83,84から入力されるデジタルデータの値の全てが検査モード異常判定電圧未満である場合に、ショート異常が発生していないと判断する。 Then, in S320, when all values ​​of the digital data input from the AD converter 81, 82, 83 and 84 is less than the test mode abnormality determination voltage, it is determined that the short circuit abnormality has not occurred. 一方、AD変換器81,82,83,84から入力されるデジタルデータの値のうち少なくとも1つが検査モード異常判定電圧以上である場合に、ショート異常が発生したと判断する。 On the other hand, at least one of the values ​​of the digital data input from the AD converter 81, 82, 83 and 84 in the case where the inspection mode abnormality determination voltage higher, it is determined that short circuit abnormality occurs.

このように構成された発光装置3では、制御部85が、検査モードであるか否かを判断する(S310)。 In the light emitting device 3 thus configured, the control unit 85 determines whether a test mode (S310). そして制御部85が、検査モードであると判断した場合に、接続端子51,52,53,54の電圧が予め設定された検査モード異常判定電圧以上であるか否かを判断する(S320)。 The control unit 85, when it is determined that the inspection mode, the voltage of the connection terminals 51, 52, 53 determines whether a preset test mode abnormality determination voltage higher (S320). これにより、発光装置3は、検査モードにすることにより、接続端子51,52,53,54の電圧と検査モード異常判定電圧とに基づいて発光素子列21,22,23,24のショート判定を行うことができる。 Thus, the light emitting device 3, by the test mode, the short determination of the light emitting element rows 21, 22, 23 and 24 based on the voltage of the connection terminals 51, 52, 53, 54 and the inspection mode abnormality determination voltage It can be carried out.

以上説明した実施形態において、S310の処理は本発明における検査モード判断手段、S320の処理は本発明における第1検査手段である。 In the embodiment described above, the inspection mode determining unit in the present invention is the processing of S310, the processing of S320 is first inspection means in the present invention.
(第5実施形態) (Fifth Embodiment)
以下に本発明の第5実施形態を図面とともに説明する。 The fifth embodiment of the present invention will be described in conjunction with the accompanying drawings. なお第4実施形態では、第2実施形態と異なる部分を説明する。 In yet a fourth embodiment, illustrating the parts different from the second embodiment.

第5実施形態の表示装置1は、図11に示すように、表示装置1の外部から制御部85へイベント信号が入力可能に構成されている点が第2実施形態と異なる。 Display device 1 of the fifth embodiment, as shown in FIG. 11, the point that an event signal to the control unit 85 from the outside of the display device 1 is configured to be input differs from the second embodiment.
また、第5実施形態の表示装置1は、異常検出処理が変更された点が第2実施形態と異なる。 The display device 1 of the fifth embodiment in that the abnormality detection processing is changed is different from the second embodiment. そして、第5実施形態の表示装置1は、図12に示すように、S410,S420の処理が追加された点が第1実施形態と異なる。 The display device 1 of the fifth embodiment, as shown in FIG. 12, S410, that the processing of S420 is added is different from the first embodiment.

すなわち、S130の処理が終了すると、S410にて、S310と同様にして、検査モードであるか否かを判断する。 That is, the process in S130 is finished, in S410, in the same manner as in S310, it is determined whether an inspection mode. ここで、検査モードでない場合には(S410:NO)、S140に移行する。 Here, if not the inspection mode (S410: NO), the process proceeds to S140. 一方、検査モードである場合には(S410:YES)、S420にて、ショート判定処理を実行し、S140に移行する。 On the other hand, if an inspection mode (S410: YES), in S420, and executes the short determination process, the process proceeds to S140.

S420では、具体的には、まず、S110で算出された温度に基づいて、検査モード異常判定電圧を設定する。 In S420, specifically, first, based on the temperature calculated in S110, it sets the test mode abnormality judgment voltage. 具体的には、温度と検査モード異常判定電圧との間の対応関係が予め設定された検査モード用設定テーブルを参照して、検査モード異常判定電圧を設定する。 Specifically, with reference to the test mode setting table corresponding relationship is preset between the inspection mode abnormality determination voltage and temperature, to set the check mode abnormality judgment voltage. なお、検査モード用設定テーブルは、制御部85に予め記憶されている。 Incidentally, for the test mode setting table it is previously stored in the control unit 85.

なお検査モード異常判定電圧は、S110で算出される温度(すなわち、駆動部13の温度)における順方向電圧Vfのバラツキを考慮して、順方向電圧Vfがばらついても1個の発光素子のショートを検出することができる値に設定される。 Incidentally test mode abnormality determination voltage, temperature calculated in S110 (i.e., the temperature of the drive unit 13) in consideration of the variation in the forward voltage Vf in a short of one of the light emitting element even variations in the forward voltage Vf it is set to a value which can be detected.

そしてS420では、AD変換器81,82,83,84から入力されるデジタルデータの値の全てが検査モード異常判定電圧未満である場合に、ショート異常が発生していないと判断する。 Then, in S420, when all values ​​of the digital data input from the AD converter 81, 82, 83 and 84 is less than the test mode abnormality determination voltage, it is determined that the short circuit abnormality has not occurred. 一方、AD変換器81,82,83,84から入力されるデジタルデータの値のうち少なくとも1つが検査モード異常判定電圧以上である場合に、ショート異常が発生したと判断する。 On the other hand, at least one of the values ​​of the digital data input from the AD converter 81, 82, 83 and 84 in the case where the inspection mode abnormality determination voltage higher, it is determined that short circuit abnormality occurs.

このように構成された発光装置3では、制御部85が、検査モードであるか否かを判断する(S410)。 In the light emitting device 3 thus configured, the control unit 85 determines whether a test mode (S410). そして制御部85が、検査モードであると判断した場合に、接続端子51,52,53,54の電圧が予め設定された検査モード異常判定電圧以上であるか否かを判断する(S420)。 The control unit 85, when it is determined that the inspection mode, the voltage of the connection terminals 51, 52, 53 determines whether a preset test mode abnormality determination voltage higher (S420). これにより、発光装置3は、検査モードにすることにより、接続端子51,52,53,54の電圧と検査モード異常判定電圧とに基づいて発光素子列21,22,23,24のショート判定を行うことができる。 Thus, the light emitting device 3, by the test mode, the short determination of the light emitting element rows 21, 22, 23 and 24 based on the voltage of the connection terminals 51, 52, 53, 54 and the inspection mode abnormality determination voltage It can be carried out.

また制御部85は、温度検出回路90より検出された温度に基づいて、検査モード異常判定電圧を設定する(S420)。 The control unit 85, based on the temperature detected by the temperature detection circuit 90, sets the test mode abnormality determination voltage (S420). これにより、発光装置3は、発光装置3内の温度に応じて適切な検査モード異常判定電圧を設定することができる。 Thus, the light emitting device 3 is able to set the appropriate test mode abnormality determination voltage according to the temperature of the light emitting device 3.

以上説明した実施形態において、S410の処理は本発明における検査モード判断手段、S420の処理は本発明における第1検査手段および第2設定手段である。 In the embodiment described above, the inspection mode determining unit in the present invention is the processing of S410, the processing of S420 is first inspection means and the second setting means in the present invention.
(第6実施形態) (Sixth Embodiment)
以下に本発明の第6実施形態を図面とともに説明する。 A sixth embodiment of the present invention will be described in conjunction with the accompanying drawings. なお第6実施形態では、第3実施形態と異なる部分を説明する。 Note that, in the sixth embodiment, illustrating the parts different from the third embodiment.

第6実施形態の表示装置1は、図13に示すように、表示装置1の外部から制御部85へイベント信号が入力可能に構成されている点が第3実施形態と異なる。 Display device 1 of the sixth embodiment, as shown in FIG. 13, the point that an event signal to the control unit 85 from the outside of the display device 1 is configured to be input differs from the third embodiment.
また、第6実施形態の表示装置1は、電圧設定回路110の機能が変更された点が第3実施形態と異なる。 The display device 1 of the sixth embodiment in that a function of the voltage setting circuit 110 is changed differs from the third embodiment.

第6実施形態の電圧設定回路110は、制御部85からショート検出電圧指示信号が入力されると、ショート検出電圧指示信号が示す値のショート検出電圧Vsを出力する。 Sixth embodiment of a voltage setting circuit 110, the short detection voltage instruction signal from the control unit 85, and outputs a short-circuit detection voltage Vs of the value indicated by the short-circuit detection voltage instruction signal.
また、第6実施形態の表示装置1は、異常検出処理が変更された点が第3実施形態と異なる。 The display device 1 of the sixth embodiment in that the abnormality detection processing is changed is different from that in the third embodiment. そして、第6実施形態の表示装置1は、図14に示すように、S510,S520の処理が追加された点が第1実施形態と異なる。 The display device 1 of the sixth embodiment, as shown in FIG. 14, S510, that the processing of S520 is added is different from the first embodiment.

すなわち、S230の処理が終了すると、S510にて、S310と同様にして、検査モードであるか否かを判断する。 That is, when the process of S230 is finished, in S510, in the same manner as in S310, it is determined whether an inspection mode. ここで、検査モードでない場合には(S510:NO)、S240に移行する。 Here, if not the inspection mode (S510: NO), the process advances to the step S240. 一方、検査モードである場合には(S510:YES)、S520にて、ショート判定処理を実行し、S220に移行する。 On the other hand, if an inspection mode (S510: YES), in S520, and executes the short determination process, the process proceeds to S220.

S520では、具体的には、まず、S220で算出された温度に基づいて、検査モード用ショート検出電圧Vstを設定する。 In S520, specifically, first, based on the temperature calculated in S220, sets the short detection voltage Vst inspection mode. 具体的には、温度と検査モード用ショート検出電圧Vstとの間の対応関係が予め設定された検査モード用設定テーブルを参照して、検査モード用ショート検出電圧Vstを設定する。 Specifically, with reference to the test mode setting table corresponding relationship is preset between the temperature and the test mode for short detection voltage Vst, set the short detection voltage Vst inspection mode. なお、検査モード用設定テーブルは、制御部85に予め記憶されている。 Incidentally, for the test mode setting table it is previously stored in the control unit 85.

なお、検査モード用ショート検出電圧Vstは、S220で算出される温度(すなわち、駆動部13の温度)における順方向電圧Vfのバラツキを考慮して、順方向電圧Vfがばらついても1個の発光素子のショートを検出することができる値に設定される。 Incidentally, the short detection voltage Vst inspection mode, temperature calculated in S220 (i.e., the temperature of the drive unit 13) in consideration of the variation in the forward voltage Vf in, even if variations in the forward voltage Vf 1 single emission it is set to a value which can detect a short circuit of the element.

次にS520では、設定された検査モード用ショート検出電圧Vstの値を示すショート検出電圧指示信号を電圧設定回路110へ出力する。 Next, in S520, and it outputs a short-circuit detection voltage indicating signal indicating the set value of the test mode for short detection voltage Vst to the voltage setting circuit 110. その後にS520では、コンパレータ101〜104から出力された信号が全てローレベルである場合に、ショート異常が発生していないと判断する。 In subsequent S520, when all the signals output from the comparator 101 to 104 is at a low level, it is determined that the short circuit abnormality has not occurred. 一方、コンパレータ101〜104から出力された信号の少なくとも1つがハイレベルである場合に、ショート異常が発生したと判断する。 Meanwhile, at least one of the signal output from the comparator 101 to 104 but when a high level, it is determined that the short circuit abnormality occurs.

なお、第6実施形態の異常検出処理におけるS210では、初期値を示すショート検出電圧指示信号を出力する。 In S210 in the abnormality detecting process of the sixth embodiment, and outputs a short-circuit detection voltage indicating signal indicating the initial value. またS250では、予め設定された電圧増加方法に基づいて決定されたショート検出電圧Vsを示すショート検出電圧指示信号を出力することにより、ショート検出電圧Vsを変更する。 Further, in S250, by outputting a short-circuit detection voltage indicating signal indicating the short-circuit detection voltage Vs which is determined based on a preset voltage increase process, to change the short-circuit detection voltage Vs.

このように構成された発光装置3では、制御部85が、検査モードであるか否かを判断する(S510)。 In the light emitting device 3 thus configured, the control unit 85 determines whether a test mode (S510). そして制御部85が、検査モードであると判断した場合に、接続端子51,52,53,54の電圧が予め設定された検査モード用ショート検出電圧以上であるか否かを判断する(S520)。 The control unit 85, when it is determined that the inspection mode, the voltage of the connection terminals 51, 52, 53 determines whether a preset test mode for short detection voltage higher (S520) . これにより、発光装置3は、検査モードにすることにより、接続端子51,52,53,54の電圧と検査モード用ショート検出電圧とに基づいて発光素子列21,22,23,24のショート判定を行うことができる。 Thus, the light emitting device 3, by the test mode, the short determination of the light emitting element rows 21, 22, 23 and 24 based on the voltage and the test mode short detection voltage of the connecting terminal 51, 52, 53, 54 It can be performed.

以上説明した実施形態において、S510の処理は本発明における検査モード判断手段、S520の処理は本発明における第2検査手段である。 In the embodiment described above, the inspection mode determining unit in the present invention is the processing of S510, the processing of S520 is the second inspection means in the present invention.
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の技術的範囲に属する限り種々の形態を採ることができる。 Having described an embodiment of the present invention, the present invention is not limited to the above embodiment, it can take various forms within the technical scope of the present invention.

例えば上記第2実施形態では、温度検出回路90により検出された温度情報を取得するものを示したが、表示装置1の外部から通信等により温度情報を取得するようにしてもよい。 For example in the second embodiment, although the one that obtains the temperature information detected by the temperature detection circuit 90, may be acquired temperature information by communication or the like from the outside of the display device 1.

また上記第2実施形態では、温度と異常判定損失W0との間の対応関係が予め設定された設定テーブルを参照して異常判定損失W0を設定するものを示したが、例えば下式(4), (5), (6)に示すように、換算式を用いて異常判定損失W0を設定するようにしてもよい。 Also in the second embodiment, although the one that sets the abnormality determination loss W0 with reference to the setting table correspondence between the temperature and the abnormality determination loss W0 is set in advance, for example, the following formula (4) , (5), may be set abnormality determination loss W0 using as shown, conversion equation (6). なお、下式(4), (5), (6)は、駆動部13がICである場合に適用可能であり、TjmaxはICのジャンクション定格、Taは周囲温度、θjaはIC熱抵抗である。 Incidentally, the following equation (4), (5), (6) can be applied when the drive unit 13 is IC, Tjmax Junction rating IC, Ta is the ambient temperature, ja is the IC thermal resistance .

Tjmax > Ta+θja×W0 ・・・(4) Tjmax> Ta + θja × W0 ··· (4)
W0 < (Tjmax−Ta)/θja ・・・(5) W0 <(Tjmax-Ta) / θja ··· (5)
W0 = 安全率×(Tjmax−Ta)/θja ・・・(6) W0 = safety factor × (Tjmax-Ta) / θja ··· (6)
また上記第3実施形態では、S260の処理が終了するとS220に移行するものを示した。 Also in the third embodiment, showing what process S260 shifts to S220 when completed. しかし、S260の異常処理を行ってから、発光装置3内の温度Tが異常判定温度Tmax未満になるまでに時間がかかることが予想される場合は、S260の処理が終了した後に、予め設定された待機時間が経過した後にS220に移行するようにしてもよい。 However, after performing the abnormality process in S260, when the temperature T of the light emitting device 3 is expected to take a long time to less than the abnormality determination temperature Tmax, after the process of S260 is completed, it is set in advance it may proceed to S220 after waiting time has elapsed.

また上記第4実施形態では、検査モード異常判定電圧が予め設定されたものを示した。 The aforementioned fourth embodiment, showing what test mode abnormality determination voltage is set in advance. しかし、検査温度における順方向電圧Vfの値、表示装置1の製造ラインにおける発光素子列21〜24の1列全体での順方向電圧Vfのバラツキの保証値等を制御部85に記憶させておき、これら記憶した値に基づいて検査モード異常判定電圧を計算するようにしてもよい。 However, the value of the forward voltage Vf at the test temperature, may be stored in the control unit 85 to forward voltage variation of the guaranteed value of Vf or the like in the entire one row of light emitting element arrays 21 to 24 in the production line of the display device 1 , may be calculated test mode abnormality judgment voltage based on these stored value.

また上記第5実施形態では、温度と検査モード異常判定電圧との間の対応関係が予め設定された検査モード用設定テーブルを参照して、検査モード異常判定電圧を設定するものを示した。 In the above fifth embodiment, with reference to the test mode setting table corresponding relationship is preset between the inspection mode abnormality determination voltage and temperature, showed that setting the test mode abnormality judgment voltage. しかし、温度に応じた順方向電圧Vfの値、表示装置1の製造ラインにおける発光素子列21〜24の1列全体での順方向電圧Vfのバラツキの保証値等を制御部85に記憶させておき、これら記憶した値に基づいて検査モード異常判定電圧を計算するようにしてもよい。 However, the value of the forward voltage Vf corresponding to the temperature, and stored in the control unit 85 to forward voltage variation of the guaranteed value of Vf or the like in the entire one row of light emitting element arrays 21 to 24 in the production line of the display device 1 Place, may be calculated test mode abnormality judgment voltage based on these stored value. なお、順方向電圧Vfの値と、1列全体での順方向電圧Vfのバラツキの保証値等は、温度との関係が設定されたテーブルを用いて設定してもよいし、理論式を用いて設定してもよい。 Incidentally, the value of the forward voltage Vf, such variations of the guaranteed value of the forward voltage Vf across one row may be set using a table relationship between the temperature is set, using the theoretical formula it may be set Te.

また上記第6実施形態では、温度と検査モード用ショート検出電圧Vstとの間の対応関係が予め設定された検査モード用設定テーブルを参照して、検査モード用ショート検出電圧Vstを設定するものを示した。 In the above sixth embodiment, with reference to the test mode setting table corresponding relationship is preset between the temperature and the test mode for short detection voltage Vst, those for setting the short detection voltage Vst inspection mode Indicated. しかし、温度に応じた順方向電圧Vfの値、表示装置1の製造ラインにおける発光素子列21〜24の1列全体での順方向電圧Vfのバラツキの保証値等を制御部85に記憶させておき、これら記憶した値に基づいて検査モード用ショート検出電圧Vstを計算するようにしてもよい。 However, the value of the forward voltage Vf corresponding to the temperature, and stored in the control unit 85 to forward voltage variation of the guaranteed value of Vf or the like in the entire one row of light emitting element arrays 21 to 24 in the production line of the display device 1 Place, may be calculated the short detection voltage Vst inspection mode based on these stored value.

また上記実施形態では、発光素子アレイ11に駆動電圧を印加するために昇圧回路12を用いるものを示した。 In the above embodiment, it is showing a one using a booster circuit 12 for applying a driving voltage to the light emitting element array 11. しかし、発光素子アレイ11に駆動電圧を印加するために、昇圧回路12のように昇圧タイプのDC/DCコンバータではなく、降圧タイプまたは昇降圧タイプのDC/DCコンバータを用いるようにしてもよい。 However, in order to apply a driving voltage to the light emitting element array 11, rather than the step-up type DC / DC converter as the step-up circuit 12, it may be used DC / DC converter of a step-down type or buck type.

また、上記実施形態における1つの構成要素が有する機能を複数の構成要素として分散させたり、複数の構成要素が有する機能を1つの構成要素に統合させたりしてもよい。 Further, it may be or is integrated or dispersing a function of one component as a plurality of components, the function of a plurality of components having the one component in the embodiment. また、上記実施形態の構成の少なくとも一部を、同様の機能を有する公知の構成に置き換えてもよい。 Further, at least part of the configuration of the above embodiment may be replaced with a known structure having the same function. また、上記実施形態の構成の一部を省略してもよい。 It is also possible to omit a part of the configuration of the above embodiment. また、上記実施形態の構成の少なくとも一部を、他の上記実施形態の構成に対して付加または置換してもよい。 Further, at least part of the configuration of the above embodiment, may be added or substituted for construction of the other of the above embodiments. なお、特許請求の範囲に記載した文言のみによって特定される技術思想に含まれるあらゆる態様が本発明の実施形態である。 Incidentally, any aspects to be within the technical idea specified by only language as set forth in the appended claims is an embodiment of the present invention.

3…発光装置、21,22,23,24…発光素子列、43…電圧制御部、44…異常検出部、61,62, 63,64…電流源、81,82,83,84…AD変換器、85…制御部、90…温度検出回路、101,102,103,104…コンパレータ、110…電圧設定回路 3 ... light emitting device, 21, 22, 23, 24 ... light-emitting element array 43 ... voltage control unit, 44 ... abnormality detecting unit, 61 and 62, 63, 64 ... current source, 81, 82, 83, 84 ... AD converter vessel, 85 ... controller, 90 ... temperature detection circuit, 101, 102, 103, 104 ... comparator, 110 ... voltage setting circuit

Claims (7)

  1. 複数の発光素子が直列に接続された複数の発光素子列(21,22,23,24)と、 A plurality of light emitting element arrays in which a plurality of light emitting elements are connected in series with the (21, 22, 23, 24),
    複数の前記発光素子列のそれぞれに対して同一の駆動電圧を印加する駆動手段(43)と、 Driving means for applying a same drive voltage to each of the plurality of the light emitting element array (43),
    複数の前記発光素子列のそれぞれに直列に接続されて、複数の前記発光素子列に定電流を供給する複数の電流源(61,62, 63,64)と、 Are connected in series to each of the plurality of the light emitting element array, a plurality of current source for supplying a constant current to the plurality of light emitting element rows and (61, 62, 63, 64),
    複数の前記発光素子列のそれぞれについて、直列に接続されている前記電流源との接続点における電圧を検出する電圧検出手段(81,82,83,84)と、 For each of a plurality of said light emitting element array, a voltage detecting means for detecting a voltage at the connection point between the current source connected in series (81, 82, 83, 84),
    複数の前記電流源で発生する損失の合計値である総損失を算出する損失算出手段(S10)と、 Loss calculation means for calculating the total loss is the sum of the loss generated in the plurality of current source (S10),
    前記損失算出手段により算出された前記総損失が予め設定された異常判定損失以上である場合に、複数の前記発光素子列のうち、前記接続点での電圧が最も大きい前記発光素子列の駆動を停止する第1駆動停止手段(S20,S30)とを備える ことを特徴とする発光装置(3)。 If the total loss calculated by the loss calculation unit is preset abnormality determining loss above, among the plurality of the light emitting element array, the driving of the greatest light emitting element arrays voltage at the connection point the light emitting device characterized in that it comprises a first drive stop means for stopping (S20, S30) (3).
  2. 当該発光装置内の温度を検出する温度検出手段(90)と、 Temperature detection means for detecting the temperature in the light-emitting device (90),
    前記温度検出手段により検出された前記温度に基づいて、前記異常判定損失を設定する第1設定手段(S120)とを備える ことを特徴とする請求項1に記載の発光装置。 The temperature based on the detected the temperature by the detecting means, the abnormality determination loss first setting means for setting a (S120) and the light-emitting device according to claim 1, characterized in that it comprises a.
  3. 検査モードであるか否かを判断する検査モード判断手段(S310)と、 Inspection mode determining means for determining whether a test mode (S310),
    前記検査モードであると前記検査モード判断手段が判断した場合に、複数の前記接続点のそれぞれについて、前記接続点の電圧が予め設定された検査モード異常判定電圧以上であるか否かを判断する第1検査手段(S320)とを備える ことを特徴とする請求項1に記載の発光装置。 If it is determined that the inspection mode determining means to be the test mode, for each of the plurality of the connection point, the voltage at the node to determine whether a predetermined test mode abnormality determination voltage or the light emitting device according to claim 1, characterized in that it comprises a first checking means (S320).
  4. 検査モードであるか否かを判断する検査モード判断手段(S410)と、 Inspection mode determining means for determining whether a test mode (S410),
    前記検査モードであると前記検査モード判断手段が判断した場合に、複数の前記接続点のそれぞれについて、前記接続点の電圧が予め設定された検査モード異常判定電圧以上であるか否かを判断する第1検査手段(S420)と、 If it is determined that the inspection mode determining means to be the test mode, for each of the plurality of the connection point, the voltage at the node to determine whether a predetermined test mode abnormality determination voltage or a first inspection means (S420),
    前記温度検出手段により検出された前記温度に基づいて、前記検査モード異常判定電圧を設定する第2設定手段(S420)とを備える ことを特徴とする請求項2に記載の発光装置。 The temperature based on the detected the temperature by the detecting means, the light emitting device according to claim 2, characterized in that it comprises a second setting means (S420) for setting the test mode abnormality judgment voltage.
  5. 前記損失算出手段は、 The loss calculation means,
    前記電流源が供給する電流に対して、対応する前記接続点での電圧を乗ずることにより、 With respect to the current source for supplying current, by multiplying the voltage at the connection point corresponding,
    前記電流源で発生する前記損失を算出する ことを特徴とする請求項1〜請求項4の何れか1項に記載の発光装置。 The light emitting device according to any one of claims 1 to 4, characterized in that to calculate the loss generated by the current source.
  6. 複数の発光素子が直列に接続された複数の発光素子列(21,22,23,24)を発光させる発光装置(3)であって、 A light-emitting device in which a plurality of light emitting elements emit a plurality of light emitting element rows are connected in series (21, 22, 23, 24) (3),
    複数の前記発光素子列のそれぞれに対して同一の駆動電圧を印加する駆動手段(43)と、 Driving means for applying a same drive voltage to each of the plurality of the light emitting element array (43),
    複数の前記発光素子列のそれぞれに直列に接続されて、複数の前記発光素子列に定電流を供給する複数の電流源(61,62, 63,64)と、 Are connected in series to each of the plurality of the light emitting element array, a plurality of current source for supplying a constant current to the plurality of light emitting element rows and (61, 62, 63, 64),
    複数の前記発光素子列のそれぞれについて、直列に接続されている前記電流源との接続点における電圧が、予め設定されたショート検出電圧以上であるか否かを判断するショート判断手段(101,102,103,104, 110)と、 For each of a plurality of said light emitting element array, short determining means (101, 102 voltage at the connection point between the current source connected in series, to determine whether a short-circuit detection voltage higher than a preset , 103, 104, 110 and),
    前記接続点での電圧が前記ショート検出電圧以上である前記発光素子列が存在すると前記ショート判断手段が判断した場合に、前記ショート検出電圧を増加させる増加手段と、 If the voltage at the connection point has determined that the short determining means and the short detection voltage higher than a light emitting element array is present, and increasing means for increasing the short detection voltage,
    当該発光装置内の温度を検出する温度検出手段(90)と、 Temperature detection means for detecting the temperature in the light-emitting device (90),
    前記温度検出手段により検出された前記温度が予め設定された異常判定温度以上である場合に、前記接続点での電圧が前記ショート検出電圧以上である前記発光素子列の駆動を停止する第2駆動停止手段(S230,S260)とを備える ことを特徴とする発光装置。 If the temperature detected by said temperature detecting means is a preset abnormality determining temperature or above, the second drive to stop driving of the light emitting element column voltage is that the short detection voltage or more at the connection point stopping means (S230, S260) a light-emitting device, characterized in that it comprises a.
  7. 検査モードであるか否かを判断する検査モード判断手段(S510)と、 Inspection mode determining means for determining whether a test mode (S510),
    前記検査モードであると前記検査モード判断手段が判断した場合に、複数の前記接続点のそれぞれについて、前記接続点の電圧が予め設定された検査モード用ショート検出電圧以上であるか否かを判断する第2検査手段(S520)とを備える ことを特徴とする請求項6に記載の発光装置。 If it is determined that the inspection mode determining means to be the test mode, for each of the plurality of the connection point, determines whether the voltage of the connection point is preset test mode for short detection voltage higher the light emitting device according to claim 6, characterized in that it comprises a second inspection means (S520) for.
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