JP7105167B2 - Analysis equipment - Google Patents

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Description

本発明は、分析装置及び位置決め方法に関する。 The present invention relates to an analysis device and positioning method.

試料中の成分を分析する分析装置として、たとえば、特許文献1に示されるように、試料をチップ内のキャピラリーで電気泳動させ、この試料に照射した光の透過光や反射光を測定して、成分分析を行う装置がある。 As an analysis device for analyzing the components in a sample, for example, as shown in Patent Document 1, the sample is electrophoresed in a capillary in a chip, and the transmitted light and the reflected light of the light irradiated to this sample are measured. There is equipment for component analysis.

特開2012-093350号公報JP 2012-093350 A

このような分析装置では、試料に光を照射する照射部材を分析用具の挿入孔に挿入し、照射部材の先端を挿入孔の底部に接触させることが望まれる。そして、照射部材を分析用具に接触させる際には、照射部材や分析用具の破損を抑制することが求められる。 In such an analyzer, it is desired that an irradiation member for irradiating a sample with light is inserted into the insertion hole of the analysis tool, and the tip of the irradiation member is brought into contact with the bottom of the insertion hole. When bringing the irradiation member into contact with the analysis tool, it is required to suppress damage to the irradiation member and the analysis tool.

本発明の目的は、分析用具の挿入孔に照射部材を挿入する際の照射部材や分析用具の破損を抑制することである。 An object of the present invention is to suppress damage to the irradiation member and analysis tool when inserting the irradiation member into the insertion hole of the analysis tool.

第一態様では、試料を含む分析用具が導入される導入部と、前記導入部において前記分析用具が設置される設置部と、前記分析用具に形成された挿入孔に挿入されて前記挿入孔の底部に接触し、前記試料に光を照射する照射部材と、前記照射部材とは別体で前記分析用具を押圧して前記設置部に設置された前記分析用具を前記設置部との間で挟み込み、且つ、所定位置に保持する押圧部材と、前記設置部に設置された前記分析用具の前記試料に前記照射部材から照射された光により前記試料の成分を測定する測定部材と、を有する。 In the first aspect, an introduction part into which an analysis tool containing a sample is introduced, an installation part in which the analysis tool is installed in the introduction part, and an insertion hole formed in the analysis tool and inserted into the insertion hole and an irradiating member that is in contact with the bottom portion and irradiates the sample with light, and an irradiating member that is separate from the irradiating member and presses the analysis tool installed in the installation section to sandwich the analysis instrument installed in the installation section. and a pressing member that is held at a predetermined position, and a measuring member that measures the components of the sample with the light emitted from the irradiating member to the sample on the analytical tool installed in the installation section.

照射部材を分析用具の挿入孔に挿入し、挿入孔の底部に接触させることで、照射部材と試料との距離を近くして一定に維持できるので、試料への光の照射が安定する。また、設置部に設置された分析用具を押圧装置で押圧して設置部との間で挟み込み、且つ所定位置に保持するので、分析用具の位置も安定する。 By inserting the irradiating member into the insertion hole of the analysis tool and bringing it into contact with the bottom of the insertion hole, the distance between the irradiating member and the sample can be shortened and maintained constant, so that the light irradiation to the sample is stabilized. In addition, since the analysis tool set on the installation section is pressed by the pressing device to be sandwiched with the installation section and held at a predetermined position, the position of the analysis tool is also stabilized.

照射部材と押圧部材とは別体である。したがって、たとえば照射部材が挿通孔の底部に接触した状態で、押圧部材が分析用具に対し接近しても、照射部材が過度に挿通孔に押込まれることはなく、照射部材や分析用具の損傷を抑制できる。 The irradiation member and the pressing member are separate bodies. Therefore, even if the pressing member approaches the analysis tool while the irradiation member is in contact with the bottom of the insertion hole, the irradiation member will not be pushed excessively into the insertion hole, and damage to the irradiation member and the analysis tool will not occur. can be suppressed.

そして、導入部に導入され設置部に設置された分析用具の試料に照射部材から照射された光により、測定部材が試料の成分を測定する。 Then, the measurement member measures the components of the sample by the light emitted from the irradiation member to the sample of the analysis tool introduced into the introduction section and installed in the installation section.

第二態様では、第一態様において、前記照射部材を前記挿入孔に挿入した状態で、前記押圧部材により前記分析用具を押圧する。
すなわち、照射部材を挿入孔に挿入した状態を実現した後、分析用具を押圧部材で押圧して、所定位置に保持できる。
第三態様では、第一又は第二態様において、前記押圧部材による前記分析用具の押圧方向と、前記照射部材の前記分析用具への接近方向とが同方向である。
In a second aspect, in the first aspect, the analysis tool is pressed by the pressing member while the irradiation member is inserted into the insertion hole.
That is, after realizing the state in which the irradiation member is inserted into the insertion hole, the analysis tool can be pressed by the pressing member and held at a predetermined position.
In the third aspect, in the first or second aspect, the direction in which the pressing member presses the analysis tool and the direction in which the irradiation member approaches the analysis tool are the same.

これにより、押圧部材が分析用具を押圧する際の移動領域と、照射部材が挿入孔に挿入される際の移動領域を重ねる、あるいは接近させる構造を実現でき、分析装置の小型化に寄与できる。 As a result, it is possible to realize a structure in which the moving region when the pressing member presses the analysis tool and the moving region when the irradiation member is inserted into the insertion hole overlap or approach each other, which contributes to the miniaturization of the analyzer.

第四態様では、第三態様において、前記照射部材が、前記押圧部材に進退可能に保持された突出部と、前記突出部の前記分析用具への突出量を一定範囲に制限する制限部材と、前記突出部を前記押圧部材からの突出方向に付勢する付勢部材と、を有する。 In a fourth aspect, in the third aspect, the irradiating member includes: a projecting portion held by the pressing member so as to be able to move forward and backward; and an urging member that urges the projecting portion in a projecting direction from the pressing member.

照射部材は押圧部材に進退可能に保持された突出部を有するので、この突出部を、分析用具の挿入孔に進出させて挿入できる。突出部の突出量は制限部材によって一定範囲に制限されるので、突出部の過度の突出を抑制できる。突出部は、付勢部材によって突出方向に付勢されるので、押圧部材から突出した状態を維持でき、確実に挿入孔の底部に接触させることができる。 Since the irradiating member has a protruding portion that is held by the pressing member so as to be able to move back and forth, the protruding portion can be advanced and inserted into the insertion hole of the analysis tool. Since the amount of protrusion of the protrusion is limited to a certain range by the restricting member, excessive protrusion of the protrusion can be suppressed. Since the projecting portion is biased in the projecting direction by the biasing member, the projecting portion can be maintained in a state of being projected from the pressing member, and can be reliably brought into contact with the bottom portion of the insertion hole.

第五態様では、第四態様において、前記突出部の突出長の最大値が前記挿入孔の深さよりも長い。 According to a fifth aspect, in the fourth aspect, the maximum value of the protrusion length of the protrusion is longer than the depth of the insertion hole.

これにより、突出部の先端を挿入孔の底部に確実に接触させることができる構造が実現される。 As a result, a structure is realized in which the tip of the protrusion can be reliably brought into contact with the bottom of the insertion hole.

第六態様では、第五態様において、前記押圧部材は、前記分析用具と対向し挿通孔が形成された対向壁を備え、前記突出部が、前記挿通孔に挿通されている。 In a sixth aspect, according to the fifth aspect, the pressing member has a facing wall facing the analytical tool and having an insertion hole formed therein, and the projecting portion is inserted through the insertion hole.

挿通孔に突出部が挿通されるので、突出部の横方向(挿入孔への挿入方向と直交する方向)への照射部材の位置ズレを抑制できる。 Since the protrusion is inserted through the insertion hole, it is possible to suppress positional displacement of the irradiation member in the lateral direction of the protrusion (the direction orthogonal to the direction of insertion into the insertion hole).

第七態様では、第六態様において、前記制限部材が、前記突出部の前記押圧部材からの突出する側と反対側で前記突出部に取り付けられ前記挿通孔の孔径よりも広い制限板と、前記突出部の進退方向の両側で前記制限板と対向する一対の対向部材と、を有する。 In a seventh aspect according to the sixth aspect, the restricting member is attached to the protruding portion on the side opposite to the protruding side of the protruding portion from the pressing member and is wider than the hole diameter of the insertion hole; and a pair of opposing members that face the restricting plate on both sides of the protruding portion in the advancing/retreating direction.

したがって、制限板の移動範囲は、一対の対向部材の間となる。そして、この範囲で、突出部の移動範囲も確実に制限することができ、突出部が押圧部材から過度に突出することを抑制できる。 Therefore, the movement range of the restricting plate is between the pair of facing members. Then, the moving range of the projecting portion can be reliably limited within this range, and excessive projection of the projecting portion from the pressing member can be suppressed.

第八態様では、第七態様において、前記対向壁が前記対向部材の一方を兼ねている。 In an eighth aspect, in the seventh aspect, the facing wall also serves as one of the facing members.

対向部材の一方を対向壁が兼ねるので、一対の対向部材のそれぞれと対向壁とが別部材である構造と比較して、部品点数を少なくすることができる。 Since the opposing wall also serves as one of the opposing members, the number of parts can be reduced compared to a structure in which each of the pair of opposing members and the opposing wall are separate members.

第九態様では、第一~第八のいずれか1つの態様において、前記分析用具を前記所定位置に位置決めする位置決め部材、を有し、前記押圧部材が、前記位置決め部材で位置決めされた前記分析用具を保持する。 In a ninth aspect, according to any one of the first to eighth aspects, the analysis tool has a positioning member that positions the analysis tool at the predetermined position, and the pressing member is positioned by the positioning member. hold.

分析用具が位置決め部材によって位置決めされ、さらに、位置決めされた分析用具を押圧部材が保持するので、分析用具を正確な位置で保持できる。そして、正確な位置にある分析用具の挿入孔に照射部材を挿入するので、たとえば、照射部材が挿入孔以外の部位に接触することを抑制できる。 Since the analysis tool is positioned by the positioning member and the pressing member holds the positioned analysis tool, the analysis tool can be held at an accurate position. Since the irradiating member is inserted into the insertion hole of the analysis tool at the correct position, for example, it is possible to prevent the irradiating member from contacting a part other than the insertion hole.

第十態様では、第一~第九のいずれか1つの態様において、前記分析用具が、前記試料が泳動するキャピラリーを備えたチップと、液体槽を備え前記チップに重ねられるカートリッジと、を含み、前記押圧部材が、前記分析用具を前記チップと前記カートリッジとの重ね合わせ方向に押圧して前記設置部との間で挟み込み前記チップと前記カートリッジとを嵌合させる。 In a tenth aspect, in any one of the first to ninth aspects, the analysis tool includes a chip having a capillary in which the sample migrates, and a cartridge having a liquid reservoir and superimposed on the chip, The pressing member presses the analytical instrument in the direction in which the chip and the cartridge are superimposed, sandwiches the analytical instrument with the installation portion, and fits the chip and the cartridge together.

このように、カートリッジがチップに重ねられる構造の分析用具に対し、重ね合わせ方向に押圧することで、確実に嵌合させることができる。 In this manner, by pressing the cartridge in the stacking direction with respect to the analysis tool having a structure in which the cartridge is stacked on the chip, the cartridge can be securely fitted.

第十一態様では、試料を含む分析用具が導入される導入部と、前記導入部において前記分析用具が設置される設置部と、前記分析用具に形成された挿入孔に挿入されて前記挿入孔の底部から所定の位置で、前記試料に光を照射する照射部材と、前記照射部材とは別体で前記分析用具を押圧して前記設置部に設置された前記分析用具を前記設置部との間で挟み込み、且つ、所定位置に保持する押圧部材と、前記設置部に設置された前記分析用具の前記試料に前記照射部材から照射された光により前記試料の成分を測定する測定部材と、を有する。 In the eleventh aspect, an introduction part into which an analysis tool containing a sample is introduced, an installation part in which the analysis tool is installed in the introduction part, and an insertion hole formed in the analysis tool are inserted into the insertion hole. an irradiating member that irradiates the sample with light at a predetermined position from the bottom of the apparatus; A pressing member that is sandwiched between and held at a predetermined position, and a measuring member that measures the components of the sample by the light irradiated from the irradiation member to the sample of the analysis tool installed in the installation section. have.

照射部材を分析用具の挿入孔に挿入し、挿入孔の底部から所定の位置とすることで、照射部材と試料との距離を一定に維持できるので、試料への光の照射が安定する。また、設置部に設置された分析用具を押圧装置で押圧して設置部との間で挟み込み、且つ所定位置に保持するので、分析用具の位置も安定する。 By inserting the irradiating member into the insertion hole of the analysis tool and positioning it at a predetermined position from the bottom of the insertion hole, the distance between the irradiating member and the sample can be kept constant, so the irradiation of the sample with light is stable. In addition, since the analysis tool set on the installation section is pressed by the pressing device to be sandwiched with the installation section and held at a predetermined position, the position of the analysis tool is also stabilized.

照射部材と押圧部材とは別体である。したがって、たとえば照射部材が挿通孔の底部から所定の位置にある状態で、押圧部材が分析用具に対し接近しても、照射部材が過度に挿通孔に押込まれることはなく、照射部材や分析用具の損傷を抑制できる。 The irradiation member and the pressing member are separate bodies. Therefore, even if the pressing member approaches the analysis tool while the irradiation member is at a predetermined position from the bottom of the insertion hole, the irradiation member is not excessively pushed into the insertion hole. Tool damage can be suppressed.

そして、導入部に導入され設置部に設置された分析用具の試料に照射部材から照射された光により、測定部材が試料の成分を測定する。 Then, the measurement member measures the components of the sample by the light emitted from the irradiation member to the sample of the analysis tool introduced into the introduction section and installed in the installation section.

第十二態様では、第十一態様において、前記照射部材を前記挿入孔に挿入した状態で、前記押圧部材により前記分析用具を押圧する。
すなわち、照射部材を挿入孔に挿入した状態を実現した後、分析用具を押圧部材で押圧して、所定位置に保持できる。
第十三態様では、第十一又は第十二態様において、前記押圧部材による前記分析用具の押圧方向と、前記照射部材の前記分析用具への接近方向とが同方向である。
In a twelfth aspect, in the eleventh aspect, the analysis tool is pressed by the pressing member while the irradiation member is inserted into the insertion hole.
That is, after realizing the state in which the irradiation member is inserted into the insertion hole, the analysis tool can be pressed by the pressing member and held at a predetermined position.
In the thirteenth aspect, in the eleventh or twelfth aspect, the direction in which the pressing member presses the analysis tool and the direction in which the irradiation member approaches the analysis tool are the same.

これにより、押圧部材が分析用具を押圧する際の移動領域と、照射部材が挿入孔に挿入される際の移動領域を重ねる、あるいは接近させる構造を実現でき、分析装置の小型化に寄与できる。 As a result, it is possible to realize a structure in which the moving region when the pressing member presses the analysis tool and the moving region when the irradiation member is inserted into the insertion hole overlap or approach each other, which contributes to miniaturization of the analyzer.

第十四態様では、第十三態様において、前記照射部材が、前記押圧部材に進退可能に保持された突出部と、前記突出部の前記分析用具への突出量を一定範囲に制限する制限部材と、前記突出部を前記押圧部材からの突出方向に付勢する付勢部材と、を有し、前記制限部材の前記分析用具への接近方向の移動を制限するための制限壁を有し、前記制限壁が前記制限部材を前記所定位置で規制することによって、前記照射部材が前記挿入孔の底部から前記所定の位置で固定される。 In a fourteenth aspect, in the thirteenth aspect, the irradiating member comprises a projecting portion movably held by the pressing member, and a limiting member for limiting the amount of projection of the projecting portion toward the analysis tool within a certain range. and an urging member that urges the projecting portion in the projecting direction from the pressing member, and a restriction wall for restricting the movement of the restriction member in the direction of approaching the analysis tool, The restricting wall restricts the restricting member at the predetermined position, whereby the irradiation member is fixed at the predetermined position from the bottom of the insertion hole.

照射部材は押圧部材に進退可能に保持された突出部を有するので、この突出部を、分析用具の挿入孔に進出させて挿入できる。突出部の突出量は制限部材によって一定範囲に制限されるので、突出部の過度の突出を抑制できる。突出部は、付勢部材によって突出方向に付勢されるので、押圧部材から突出した状態を維持でき、確実に挿入孔の底部から所定の位置に維持できる。 Since the irradiating member has a protruding portion that is held by the pressing member so as to be able to move back and forth, the protruding portion can be advanced and inserted into the insertion hole of the analysis tool. Since the amount of protrusion of the protrusion is limited to a certain range by the restricting member, excessive protrusion of the protrusion can be suppressed. Since the projecting portion is biased in the projecting direction by the biasing member, it can be maintained in a state of being projected from the pressing member, and can be reliably maintained at a predetermined position from the bottom of the insertion hole.

制限部材の分析用具への移動は、制限壁によって所定位置で規制されるので、この移動を確実に制限することが可能である。 Movement of the restricting member to the analysis tool is restricted at a predetermined position by the restricting wall, so it is possible to reliably restrict this movement.

第十五態様では、第十四態様において、前記照射部材が前記挿入孔の底部に接触する。 In a fifteenth aspect, in the fourteenth aspect, the irradiation member contacts the bottom of the insertion hole.

これにより、照射部材と試料との距離を近くして一定に維持できる。 As a result, the distance between the irradiation member and the sample can be shortened and kept constant.

本発明では、分析用具の挿入孔に照射部材を挿入する際の照射部材や分析用具の破損を抑制できる。 According to the present invention, it is possible to suppress damage to the irradiation member and analysis tool when inserting the irradiation member into the insertion hole of the analysis tool.

図1は第一実施形態の分析装置の外観を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing the appearance of the analyzer of the first embodiment. 図2は分析装置での分析に用いられる分析用具を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing an analysis tool used for analysis by the analyzer. 図3は図2に示す分析用具を示す分解斜視図である。3 is an exploded perspective view showing the analysis tool shown in FIG. 2. FIG. 図4は図2に示す分析用具の4-4線断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view of the analysis tool shown in FIG. 2 taken along line 4-4. 図5は第一実施形態の分析装置の内部において導入部及びその近傍を示す正面図である。FIG. 5 is a front view showing the introduction section and its vicinity inside the analyzer of the first embodiment. 図6は第一実施形態の分析装置の内部において導入部及びその近傍を示す平面図である。FIG. 6 is a plan view showing the introduction section and its vicinity inside the analyzer of the first embodiment. 図7は第一実施形態の分析装置の内部において導入部及びその近傍を示す正面図である。FIG. 7 is a front view showing the introduction section and its vicinity inside the analyzer of the first embodiment. 図8は第一実施形態の分析装置の内部において導入部及びその近傍を示す平面図である。FIG. 8 is a plan view showing the introduction section and its vicinity inside the analyzer of the first embodiment. 図9は第一実施形態の分析装置の内部において導入部及びその近傍を示す斜視図である。FIG. 9 is a perspective view showing the introduction section and its vicinity inside the analyzer of the first embodiment. 図10は第一実施形態の分析装置の押圧部材を示す斜視図である。FIG. 10 is a perspective view showing a pressing member of the analyzer of the first embodiment. 図11は第一実施形態の分析装置において穿孔ピンで封止膜を穿孔した状態を示す断面図である。FIG. 11 is a cross-sectional view showing a state in which the sealing membrane is pierced with a piercing pin in the analyzer of the first embodiment. 図12は第一実施形態の分析装置の内部において導入部及びその近傍を分析用具が傾斜した状態で示す正面図である。FIG. 12 is a front view showing the introduction part and its vicinity inside the analyzer of the first embodiment in a state where the analysis tool is inclined. 図13は第一実施形態の分析装置の内部において導入部及びその近傍を分析用具が傾斜した状態で示す側面図である。FIG. 13 is a side view showing the introduction part and its vicinity inside the analyzer of the first embodiment in a state in which the analysis tool is inclined. 図14は第一実施形態の分析装置の内部において照射部材を分析用具に挿入する状態を示す正面図である。FIG. 14 is a front view showing a state in which an irradiation member is inserted into an analysis tool inside the analysis apparatus of the first embodiment. 図15は第一実施形態の分析装置の内部において照射部材を分析用具に挿入した状態を示す正面図である。FIG. 15 is a front view showing a state in which the irradiation member is inserted into the analysis tool inside the analysis apparatus of the first embodiment. 図16は第一実施形態の分析装置の内部において押圧部材で分析用具を押圧した状態を示す正面図である。FIG. 16 is a front view showing a state in which the analysis tool is pressed by the pressing member inside the analyzer of the first embodiment. 図17は分析装置における試料分析の途中の状態を示す分析用具の状態図である。FIG. 17 is a state diagram of the analysis tool showing a state in the middle of sample analysis in the analyzer. 図18は分析装置における試料分析の途中の状態を示す分析用具の状態図である。FIG. 18 is a state diagram of the analysis tool showing a state in the middle of sample analysis in the analyzer. 図19は分析装置における試料分析の途中の状態を示す分析用具の状態図である。FIG. 19 is a state diagram of an analysis tool showing a state in the middle of sample analysis in the analyzer. 図20は第一実施形態の分析装置の内部において給電プローブを分析用具に挿入した状態を示す正面図である。FIG. 20 is a front view showing a state in which the power feeding probe is inserted into the analysis tool inside the analysis apparatus of the first embodiment. 図21は第一実施形態の分析装置の内部において給電プローブを分析用具に挿入した状態を示す平面図である。FIG. 21 is a plan view showing a state in which the power feeding probe is inserted into the analysis tool inside the analysis apparatus of the first embodiment. 図22は分析装置における試料分析の途中の状態を示す分析用具の状態図である。FIG. 22 is a state diagram of the analysis tool showing a state in the middle of sample analysis in the analyzer. 図23は第二実施形態の分析装置において穿孔ピンで封止膜を穿孔した状態を示す断面図である。FIG. 23 is a cross-sectional view showing a state in which the sealing membrane is pierced with a piercing pin in the analyzer of the second embodiment. 図24は第三実施形態の分析装置において穿孔ピンで封止膜を穿孔した状態を示す断面図である。FIG. 24 is a cross-sectional view showing a state in which the sealing membrane is pierced with a piercing pin in the analyzer of the third embodiment. 図25は第四実施形態の分析装置において穿孔ピンで封止膜を穿孔した状態を示す断面図である。FIG. 25 is a cross-sectional view showing a state in which the sealing membrane is pierced with a piercing pin in the analyzer of the fourth embodiment. 図26は参考例の分析装置において穿孔ピンで封止膜を穿孔した状態を示す断面図である。FIG. 26 is a cross-sectional view showing a state in which the sealing membrane is pierced with a piercing pin in the analyzer of the reference example. 図27は第五実施形態の分析装置の内部において照射部材を分析用具に挿入する状態を示す正面図である。FIG. 27 is a front view showing a state in which an irradiation member is inserted into an analysis tool inside the analysis apparatus of the fifth embodiment. 図28は第五実施形態の分析装置の内部において照射部材を分析用具に挿入した状態を示す正面図である。FIG. 28 is a front view showing a state in which the irradiation member is inserted into the analysis tool inside the analysis apparatus of the fifth embodiment. 図29は第五実施形態の分析装置の内部において押圧部材で分析用具を押圧した状態を示す正面図である。FIG. 29 is a front view showing a state in which an analysis tool is pressed by a pressing member inside the analyzer of the fifth embodiment.

[第一実施形態]
第一実施形態の分析装置について、以下、図面を参照して説明する。本実施形態の分析装置は、たとえば、血液に含まれる糖化ヘモグロビンの量を分析する装置である。血液は、試料の一例であり、検体と称されることもある。糖化ヘモグロビンは、分析装置による分析対象の一例である。
[First embodiment]
The analyzer of the first embodiment will be described below with reference to the drawings. The analysis device of this embodiment is, for example, a device that analyzes the amount of glycated hemoglobin contained in blood. Blood is an example of a sample and is sometimes referred to as a specimen. Glycated hemoglobin is an example of an object to be analyzed by an analyzer.

<分析装置の外観構成>
図1に示すように、分析装置102は筐体104を有する。本実施形態では、筐体104は、略直方体の箱状に形成されている。以下では、分析装置102における上下方向、幅方向、及び奥行方向を、それぞれ矢印U、矢印W、矢印Dで示す。矢印W方向、矢印D方向、及び矢印W方向と矢印D方向を合成した方向は、いずれも水平方向である。また、分析装置102の奥行方向の奥側及び手前側をそれぞれ矢印DA、矢印DBで示す。
<Appearance configuration of analyzer>
As shown in FIG. 1, analyzer 102 has housing 104 . In this embodiment, the housing 104 is formed in a substantially rectangular parallelepiped box shape. Below, the vertical direction, the width direction, and the depth direction of the analyzer 102 are indicated by arrows U, W, and D, respectively. The direction of arrow W, the direction of arrow D, and the direction obtained by combining the direction of arrow W and the direction of arrow D are all horizontal directions. Further, the back side and front side in the depth direction of the analyzer 102 are indicated by arrows DA and DB, respectively.

筐体104には、図示しないタッチパネルが設けられている。分析作業の作業者は、タッチパネルに表示された情報を参照しながら、タッチパネルに接触することで、分析装置102を操作することができる。 The housing 104 is provided with a touch panel (not shown). An analysis worker can operate the analysis device 102 by touching the touch panel while referring to the information displayed on the touch panel.

また、筐体104には、図示しないプリンターが設けられている。分析装置102は、試料を分析した結果をプリンターで印刷することが可能である。 Further, the housing 104 is provided with a printer (not shown). The analysis device 102 can print the results of analyzing the sample with a printer.

筐体104の手前面108には、開閉蓋114が設けられている。開閉蓋114は、開閉機構116によって手前側に移動した突出位置(二点鎖線で示す)と、奥側へ移動して手前面108と面一になった収容位置(実線で示す)との間をスライド可能である。開閉蓋114が突出位置にある状態で、開閉蓋114と共にトレー118が筐体104の手前側に露出する。このトレーに、検体(試料)を含む分析用具42を載置することができる。 An opening/closing lid 114 is provided on the front surface 108 of the housing 104 . The opening/closing lid 114 is positioned between a projecting position (indicated by a chain double-dashed line) moved forward by the opening/closing mechanism 116 and a retracted position (indicated by a solid line) where it is flush with the front surface 108 after being moved to the rear side. can be slid. The tray 118 is exposed to the front side of the housing 104 together with the opening/closing lid 114 when the opening/closing lid 114 is in the projecting position. An analysis tool 42 containing a specimen (sample) can be placed on this tray.

<分析用具の構成>
図2~図4に示すように、本実施形態の分析用具42は、一例として、チップ44とカートリッジ46とを有する構造である。チップ44の上にカートリッジ46が重ね合わされた状態で、矢印D1側を奥側にして分析装置102のトレー118にセットされる。分析用具42においても、便宜的に、分析装置102のトレー118にセットされた状態での上下方向、幅方向、及び奥行方向を、それぞれ矢印U、矢印W、矢印Dで示す。また、分析用具42の奥前側及び手前側をそれぞれ矢印D1、矢印D2で示す。
<Configuration of analysis tool>
As shown in FIGS. 2 to 4, the analysis tool 42 of this embodiment has a structure including a chip 44 and a cartridge 46, as an example. With the cartridge 46 overlaid on the chip 44, the chip 44 is set in the tray 118 of the analyzer 102 with the arrow D1 facing the back. For the analysis tool 42 as well, the vertical direction, width direction, and depth direction of the analysis tool 42 set on the tray 118 of the analysis device 102 are indicated by arrows U, W, and D, respectively, for convenience. Further, the front side and the front side of the analysis tool 42 are indicated by arrows D1 and D2, respectively.

チップ44は、平面視(矢印A1方向視)で同一の外形である2枚の板材(上板44A及び下板44B)を貼り合わせて形成されている。チップ44は、板材44A、44Bが貼り合わされた状態で、板状の部材である。チップ44が水平方向に置かれた状態で、チップ44の板厚方向は鉛直方向と一致する。そして、カートリッジ46は、チップ44に対し鉛直方向、すなわちチップ44の板厚方向に重ねられる。 The chip 44 is formed by bonding together two plate members (an upper plate 44A and a lower plate 44B) having the same outer shape when viewed from above (as viewed in the direction of the arrow A1). The chip 44 is a plate-shaped member in which the plate members 44A and 44B are bonded together. With the chip 44 placed horizontally, the thickness direction of the chip 44 coincides with the vertical direction. The cartridge 46 is stacked on the chip 44 in the vertical direction, that is, in the thickness direction of the chip 44 .

チップ44には、複数の流路48が形成されている。 A plurality of channels 48 are formed in the chip 44 .

流路48のそれぞれの断面形状や、チップ44を平面視したときの形状は限定されず、1箇所又は複数個所で曲がっていてもよいし、直線状であってもよい。 The cross-sectional shape of each of the flow paths 48 and the shape of the chip 44 when viewed from above are not limited, and may be curved at one or more locations, or may be linear.

これら流路48の流路断面積は、後述するポンプ172(図11参照)によって液体が加圧されると、加圧された液体がこれらの流路48を流れる程度に設定されている。 The flow channel cross-sectional areas of these flow channels 48 are set to such an extent that the pressurized liquid flows through these flow channels 48 when the liquid is pressurized by a pump 172 (see FIG. 11), which will be described later.

流路48の端部には、カートリッジ46に向かって突出する凸部50が形成されている。凸部50は、後述するように、底面膜58を穿孔する穿孔突起の一例である。 A projection 50 projecting toward the cartridge 46 is formed at the end of the flow path 48 . The convex portion 50 is an example of a piercing projection that pierces the bottom film 58, as will be described later.

カートリッジ46には、複数の液体槽52が形成されている。 A plurality of liquid reservoirs 52 are formed in the cartridge 46 .

これらの液体槽52は、カートリッジ46の上部に形成された凹み部分であり、上面は封止膜54で封止されている。本実施形態では、図4にも示すように、複数の液体槽52を、1枚の封止膜54で封止しているが、液体槽52ごとに、封止膜54が分離されていてもよい。封止膜54 の材質は、液体槽52内において封止されている液体が気化等せず封止され、後述する分析装置に備えられた穿孔部材によって穿孔されればよく、例えばPETを含む多層構造のラミネートフィルムが挙げられる。 These liquid reservoirs 52 are recessed portions formed in the upper portion of the cartridge 46 and the upper surface thereof is sealed with a sealing film 54 . In this embodiment, as shown in FIG. 4, a plurality of liquid tanks 52 are sealed with a single sealing film 54. However, the sealing film 54 is separated for each liquid tank 52. good too. The sealing film 54 may be made of any material as long as the liquid sealed in the liquid tank 52 is sealed without vaporization and is perforated by a perforating member provided in an analysis apparatus to be described later. structural laminate films.

液体槽52の下部には、チップ44の流路と連通する連通部56が形成されている。複数の液体槽52の一部には、たとえば、希釈液や泳動液等の液体LAが封入されている。液体が封入された液体槽52の連通部56の下部は底面膜58で封止されている。 A communication portion 56 that communicates with the flow path of the chip 44 is formed in the lower portion of the liquid tank 52 . Some of the plurality of liquid tanks 52 are filled with a liquid LA such as a diluent or an electrophoretic liquid. A lower portion of the communication portion 56 of the liquid tank 52 in which the liquid is sealed is sealed with a bottom film 58 .

なお、チップ44の流路48において、後述するキャピラリー68よりも液体の流れの上流側にフィルタを設けてもよい。このフィルタにより、液体以外の異物が除去されて、キャピラリー68には流れない構造が実現できる。 In addition, in the flow path 48 of the chip 44, a filter may be provided on the upstream side of the liquid flow from the capillary 68, which will be described later. This filter removes foreign matter other than the liquid and realizes a structure that does not flow into the capillary 68 .

複数の液体槽52のうち、特定の2つの連通部56に対応する流路48の間には、キャピラリー68が形成されている。キャピラリー68の流路断面積は、流路48に存在している液体が毛細管現象で流れるように設定されている。したがって、キャピラリー68の流路断面積は、流路48のいずれの流路断面積よりも小さい。そして、キャピラリー68の両側の連通部56には電極62が設けられている。 Capillaries 68 are formed between the channels 48 corresponding to two specific communication portions 56 among the plurality of liquid reservoirs 52 . The channel cross-sectional area of the capillary 68 is set so that the liquid existing in the channel 48 flows by capillarity. Therefore, the channel cross-sectional area of capillary 68 is smaller than the channel cross-sectional area of any of channels 48 . Electrodes 62 are provided in the communicating portions 56 on both sides of the capillary 68 .

カートリッジ46の一側面46Aには、図21に示すように、電極62のそれぞれに対応する側面孔64が形成されている。側面孔64は分析用具42における2つの側面の一方(一側面46A)から電極62に達する孔である。後述するように、分析装置102の給電プローブ194(給電部材の一例)をカートリッジ46の側面孔64に挿入し、電極62に接触させることで、2つの電極62の間に電圧を印加することが可能である。 Side holes 64 corresponding to the electrodes 62 are formed in one side surface 46A of the cartridge 46, as shown in FIG. A side hole 64 is a hole that reaches the electrode 62 from one of the two sides (one side 46A) of the analysis tool 42 . As will be described later, a voltage can be applied between the two electrodes 62 by inserting a power supply probe 194 (an example of a power supply member) of the analyzer 102 into the side hole 64 of the cartridge 46 and bringing it into contact with the electrodes 62 . It is possible.

なお、カートリッジ46における一側面46A及び他側面46Bは、分析用具42における一側面42A及び他側面42Bと同じである。 The one side 46A and the other side 46B of the cartridge 46 are the same as the one side 42A and the other side 42B of the analytical tool 42, respectively.

本実施形態では、キャピラリー68は、下板44Bに形成された溝部を、上板44Aが覆う構造である。したがって、実質的には、キャピラリー68は、チップ44において下板44Bに形成されている。 In this embodiment, the capillary 68 has a structure in which a groove formed in the lower plate 44B is covered with the upper plate 44A. Therefore, in effect, the capillaries 68 are formed in the bottom plate 44B of the tip 44. As shown in FIG.

分析用具42(カートリッジ46及びチップ44)には、キャピラリー68の中間位置に、上面側から挿入孔70が形成されている。本実施形態では、チップ44の上板44Aにも挿入孔70の一部が形成されている。 The analytical tool 42 (cartridge 46 and chip 44) has an insertion hole 70 formed at an intermediate position of the capillary 68 from the top side. In this embodiment, the upper plate 44A of the chip 44 is also partially formed with the insertion hole 70 .

挿入孔70には、分析装置102の照射部材176(図4参照)が挿入される。この照射部材176は、キャピラリー68内を電気泳動する試料に、先端の照射部176Aから光を照射する部材である。照射部材176の照射部176Aは挿入孔70の底部70Bに接触される。 An irradiation member 176 (see FIG. 4) of the analysis device 102 is inserted into the insertion hole 70 . The irradiation member 176 is a member that irradiates a sample electrophoresed in the capillary 68 with light from an irradiation section 176A at the tip. The irradiation portion 176A of the irradiation member 176 is in contact with the bottom portion 70B of the insertion hole 70. As shown in FIG.

図3に示すように、チップ44には、分析用具42の他側面42Bと同じ側に、平面視で二等辺三角形状の切込72が形成されている。切込72は凹部71の一例である。切込72は、分析用具42の導入方向(奥側、矢印D1方向)に対し傾斜する2つの傾斜面72A、72Bを有している。切込72には、後述する位置決めピン140Aが嵌合される。そして、位置決めピン140Aに、傾斜面72A、72Bが接触する。 As shown in FIG. 3, the chip 44 is formed with an isosceles triangular cut 72 in plan view on the same side as the other side surface 42B of the analysis tool 42 . The notch 72 is an example of the recess 71 . The notch 72 has two inclined surfaces 72A and 72B that are inclined with respect to the introduction direction of the analysis tool 42 (back side, arrow D1 direction). A positioning pin 140A, which will be described later, is fitted into the notch 72 . Then, the inclined surfaces 72A and 72B come into contact with the positioning pin 140A.

また、チップ44には、切込72とは異なる位置にも、凹部71として切込73が形成されている。この切込73は、切込72と異なり、平面視で略台形状又は長方形状であり、後述する位置決めピン140Bが嵌合される。そして、位置決めピン140Bに奥面71Dが接触する。 A notch 73 is also formed as a concave portion 71 at a position different from the notch 72 in the chip 44 . Unlike the cut 72, the cut 73 has a substantially trapezoidal or rectangular shape in a plan view, and is fitted with a positioning pin 140B, which will be described later. Then, the inner surface 71D comes into contact with the positioning pin 140B.

凹部71としては、上記した切込72及び切込73の構成以外にも、3つ以上の切込を備えていてもよく、またその形状も切込72または切込73の形状に限られない。いずれにおいても分析装置の位置決めピン等の接触部材と接触または嵌合され、分析用具を位置決め可能な組み合わせとなっていれば形状は問わない。 The concave portion 71 may have three or more cuts in addition to the configuration of the cuts 72 and 73 described above, and its shape is not limited to the shape of the cuts 72 or 73. . In any case, any shape can be used as long as it can contact or fit with a contact member such as a positioning pin of the analyzer and can position the analysis tool.

なお、カートリッジ46の他側面46Bには、位置決めピン140A、140Bとの接触を避けるための逃げ部46C(図9参照)が形成されている。 The other side surface 46B of the cartridge 46 is formed with an escape portion 46C (see FIG. 9) for avoiding contact with the positioning pins 140A and 140B.

分析用具42は、チップ44の上方に、カートリッジ46が装着され、この状態で、カートリッジ46に形成された爪部74がチップ44に係合されて、チップ44とカートリッジ46とが一体化される。そして、一体化された状態で、チップ44とカートリッジ46とを相対的に接近させることで、カートリッジ46とチップ44とを嵌合させることができる。チップ44とカートリッジ46との一体化状態、及び嵌合状態では、分析用具42は略直方体の外形を成す。また、チップ44とカートリッジ46との嵌合状態では、キャピラリー68内を電気泳動する試料の成分の分析が可能である。 The analysis tool 42 has the cartridge 46 mounted above the chip 44, and in this state, the claw portion 74 formed on the cartridge 46 is engaged with the chip 44, and the chip 44 and the cartridge 46 are integrated. . By bringing the chip 44 and the cartridge 46 relatively close to each other in the integrated state, the cartridge 46 and the chip 44 can be fitted. When the chip 44 and the cartridge 46 are integrated and fitted together, the analytical tool 42 has a substantially rectangular parallelepiped shape. In addition, when the chip 44 and the cartridge 46 are fitted together, it is possible to analyze the components of the sample electrophoresed in the capillary 68 .

チップ44とカートリッジ46との嵌合作業は、分析作業者が行ってもよいが、後述するように、分析装置102においても行われる。嵌合状態では、底面膜58に対応する一にある凸部50によって底面膜58が穿孔される。この凸部50が液体槽52の底面を成す底面膜58を穿孔する穿孔突起の一例であるが、底面膜58を開封可能な形状であれば、任意の形状を取りうる。 The operation of fitting the chip 44 and the cartridge 46 may be performed by an analysis operator, but is also performed in the analysis device 102 as will be described later. In the mated state, the bottom membrane 58 is perforated by the protrusion 50 on the corresponding side of the bottom membrane 58 . The convex portion 50 is an example of a perforating protrusion that perforates the bottom film 58 that forms the bottom surface of the liquid tank 52, but any shape can be employed as long as the bottom film 58 can be opened.

上述のとおり、分析用具42としてチップ44とカートリッジ46とからなる一例を示したが、後述する分析装置102が備える押込部材128に一側面が押込まれ、且つ、押込部材128によって押込まれた後、この一側面と反対側の他側面が接触部材に接触する構成を備える形状であればどのような形状でもよい。例えば直方体状に関わらず、小判型円柱状、任意の側面が階段形状の円柱状などが挙げられる。また、分析用具42の内部には泳動液及び試料が導入されるキャピラリーを含み、試料の電気泳動がなされる構成が好ましいが、本発明の分析装置102に導入可能で、また位置決め及び測定可能な試料を含んだ分析用具であれば、どのようなものであっても良い。例えば電気泳動法に使われる分析用具に関わらず、電気化学測定法、比色測定法、免疫学的測定法等に用いられる分析用具が挙げられる。いずれにおいても測定装置における分析用具の位置決めが要求される場合に利用できる。 As described above, an example consisting of the chip 44 and the cartridge 46 is shown as the analysis tool 42, but one side is pushed into the pushing member 128 provided in the analysis device 102 described later, and after being pushed by the pushing member 128, Any shape may be used as long as it has a configuration in which the other side surface on the opposite side of the one side surface contacts the contact member. For example, regardless of the shape of a rectangular parallelepiped, it may be an oval columnar shape, a columnar shape having a stepped side surface, or the like. In addition, it is preferable that the analysis tool 42 includes a capillary into which the electrophoretic solution and the sample are introduced, and the sample is electrophoresed. Any analysis tool containing a sample may be used. For example, analysis tools used for electrochemical assays, colorimetric assays, immunological assays, etc. can be mentioned, regardless of the analytical tools used for electrophoresis. In either case, it can be used when the positioning of the analysis tool in the measuring device is required.

<分析装置の内部構成>
図5~図8に示すように、分析装置102の筐体104(図1参照)の内部には、トレー118が収容された位置に、導入部120が設けられている。トレー118が筐体104内に退避する(奥側へ移動する)ことで、トレー118に載せられた分析用具42が導入部120に導入される。導入部120は、キャピラリー68において試料を電気泳動させるための電極62を備えた分析用具42が導入される部位である。
<Internal configuration of analyzer>
As shown in FIGS. 5 to 8, an introduction section 120 is provided inside the housing 104 (see FIG. 1) of the analyzer 102 at a position where the tray 118 is accommodated. The analysis tool 42 placed on the tray 118 is introduced into the introduction section 120 by retracting the tray 118 into the housing 104 (moving to the back side). The introduction part 120 is a part into which the analysis tool 42 having the electrode 62 for electrophoresis of the sample is introduced in the capillary 68 .

導入部120は、設置部122と、この設置部122の上方の押圧部材124及び測定部材126を有している。測定部材126は、後述するように、導入部120に分析用具42が導入された状態で、この分析用具42に含まれる試料の成分を測定する部材である。より具体的には、本実施形態では、分析用具42のキャピラリー68を泳動する試料に照射された光を用いて、試料の成分を測定する部材である。一例として、図4に示すように、測定部材126は、吸光度センサ186と、この吸光度センサ186のデータに基づいて試料の成分の種類や量を特定する測定部190とを含んでいる。 The introduction section 120 has an installation section 122 and a pressing member 124 and a measurement member 126 above the installation section 122 . As will be described later, the measuring member 126 is a member that measures the components of the sample contained in the analytical tool 42 while the analytical tool 42 is introduced into the introduction section 120 . More specifically, in the present embodiment, it is a member that measures the components of a sample using light that illuminates the sample migrating in the capillary 68 of the analysis tool 42 . As an example, as shown in FIG. 4, the measurement member 126 includes an absorbance sensor 186 and a measurement unit 190 that identifies the type and amount of sample components based on data from the absorbance sensor 186 .

設置部122は、分析装置102を奥行方向(矢印D方向)に見て、所定の高さにある一般部122Aと、この一般部122Aの幅方向の中央部で上方に突出する台座部122Bと、を有している。分析用具42は、設置部122において、台座部122Bに設置される。台座部122Bに分析用具42が設置された状態で、分析用具42の上面42T及び流路48は水平となる。 The installation portion 122 includes a general portion 122A at a predetermined height when the analyzer 102 is viewed in the depth direction (direction of arrow D), and a base portion 122B protruding upward from the central portion in the width direction of the general portion 122A. ,have. The analysis tool 42 is installed on the pedestal portion 122B in the installation portion 122 . With the analysis tool 42 installed on the pedestal portion 122B, the upper surface 42T of the analysis tool 42 and the channel 48 are horizontal.

図5及び図7に示すように、導入部120には、押込部材128が設けられている。 As shown in FIGS. 5 and 7, the introduction portion 120 is provided with a pushing member 128 .

押込部材128には、図示しない保持機構によって、押込ロッド134が保持されている。押込ロッド134は、分析用具42の一側面46Aに向かって進退可能とされている。押込ロッド134の先端部は、分析用具42の一側面46Aに接触して押込む押込部134Pである。 A pushing rod 134 is held on the pushing member 128 by a holding mechanism (not shown). The pushing rod 134 can move forward and backward toward one side surface 46A of the analysis tool 42 . The tip of the pushing rod 134 is a pushing portion 134P that contacts and pushes one side surface 46A of the analysis tool 42. As shown in FIG.

押込ロッド134には図示ない押込バネが装着されている。そして、同じく図示しない押込モータによって、この押込バネを介して押込ロッド134が矢印P1方向に押され、先端の押込部134Pが分析用具42の一側面46Aに接触する。この状態でさらに押込ロッド134が分析用具42に向かって移動し、分析用具42を矢印P1方向に押す。ただし、後述するように、分析用具42のチップ44が位置決めピン140A、140Bに接触し、分析用具42の矢印P1方向の移動が阻止された状態では、押込バネが圧縮されることで、押込ロッド134が過度に分析用具42を押込むことが抑制される。押込部材の具体的構成は上記に関わらず、分析用具42の一側面46Aに接触し、分析用具42を矢印P1方向に押込むことが可能な構成であれば、どのような構成でもよい。 A pushing spring (not shown) is attached to the pushing rod 134 . Then, the pushing rod 134 is pushed in the direction of the arrow P1 via this pushing spring by a pushing motor (not shown), and the push-in portion 134P at the tip comes into contact with one side surface 46A of the analysis tool 42. As shown in FIG. In this state, the pushing rod 134 moves further toward the analysis tool 42 and pushes the analysis tool 42 in the arrow P1 direction. However, as will be described later, when the tip 44 of the analysis tool 42 is in contact with the positioning pins 140A and 140B and the movement of the analysis tool 42 in the direction of the arrow P1 is blocked, the push spring is compressed and the push rod 134 is suppressed from pushing the analysis tool 42 excessively. Regardless of the above, the specific configuration of the pushing member may be any configuration as long as it can contact one side surface 46A of the analysis tool 42 and push the analysis tool 42 in the direction of the arrow P1.

分析用具42に対し、チップ44の切込72が形成された側(他側面42B側)、すなわち押込ロッド134の反対側には、1本又は複数本の位置決めピン(本実施形態では奥行方向に間隙をあけて2本の位置決めピン140A、140B)が立設されている。位置決めピン140A、140Bは、凸部の一例であり、接触部材の一例でもある。さらに、押込部材128と接触部材(位置決めピン140A、140B)とで、分析用具42を所定位置に位置決めする位置決め部材の一例を構成している。 One or more positioning pins (in this embodiment, in the depth direction) are provided on the side of the analysis tool 42 where the notch 72 of the tip 44 is formed (the other side surface 42B side), that is, on the opposite side of the push rod 134 . Two positioning pins 140A and 140B) are erected with a gap therebetween. The positioning pins 140A and 140B are examples of convex portions and also examples of contact members. Furthermore, the pushing member 128 and the contact members (positioning pins 140A and 140B) constitute an example of a positioning member for positioning the analysis tool 42 at a predetermined position.

図9にも示すように、位置決めピン140A、140Bはいずれも、円柱状に形成されており、先端部(上端部)は円錐状である。また、位置決めピン140A、140Bの高さは、台座部122Bに載置された分析用具42の下板44Bには達するが、上板44Aには達しない高さである。さらに、位置決めピン140A、140Bが位置する上板44Aの近傍は、下板44Bより小さく成形されており、寸法誤差によって位置決めピンが高い場合であっても、上板44Aには達しないようにしている。 As also shown in FIG. 9, each of the positioning pins 140A and 140B is formed in a cylindrical shape and has a conical tip (upper end). Further, the height of the positioning pins 140A and 140B reaches the lower plate 44B of the analysis tool 42 placed on the pedestal 122B, but does not reach the upper plate 44A. Furthermore, the vicinity of the upper plate 44A where the positioning pins 140A and 140B are located is formed smaller than the lower plate 44B so that even if the positioning pins are high due to dimensional errors, they do not reach the upper plate 44A. there is

手前側の位置決めピン140Aは、奥行方向(矢印D方向)では、チップ44の切込72が形成された位置にある。これに対し、奥側の位置決めピン140Bは、奥行方向(矢印D方向)では、切込72よりも奥側において、凹部71が形成された位置にある。 The positioning pin 140A on the front side is located at the position where the notch 72 of the tip 44 is formed in the depth direction (direction of arrow D). On the other hand, the positioning pin 140B on the back side is located at the position where the recess 71 is formed on the back side of the notch 72 in the depth direction (direction of arrow D).

位置決めピン140A、140Bの幅方向(矢印W方向)の位置は、図6に示すように、導入部120に分析用具42が単に導入された状態では、この分析用具42と非接触の位置である。そして、押込ロッド134によって分析用具42が矢印P1方向に押されることで、チップ44の下板44Bが位置決めピン140A、140Bに接触し、分析用具42が幅方向(矢印W方向)に位置決めされる。 Positions of the positioning pins 140A and 140B in the width direction (direction of arrow W) are, as shown in FIG. . When the analysis tool 42 is pushed in the direction of the arrow P1 by the push rod 134, the lower plate 44B of the chip 44 comes into contact with the positioning pins 140A and 140B, and the analysis tool 42 is positioned in the width direction (direction of the arrow W). .

ここで、切込72の2つの傾斜面72A、72Bのいずれかが位置決めピン140Aに接触した場合は、分析用具42が奥行方向(矢印D方向)にも移動する。そして、図8に示すように、傾斜面72A、72Bの両方が位置決めピン140Aに接触する位置へと位置決めされる。 Here, when either of the two inclined surfaces 72A and 72B of the notch 72 contacts the positioning pin 140A, the analysis tool 42 also moves in the depth direction (arrow D direction). Then, as shown in FIG. 8, both of the inclined surfaces 72A and 72B are positioned to contact the positioning pin 140A.

接触部材及び凸部の構成は上記に限られず、分析用具42が矢印P1方向に押込まれて移動すると、分析用具42の凹部71が形成された側(他側面42B側)に接触し、幅方向(矢印W方向)に位置決めされる構成であれば、どのような構成でもよい。特に、接触部材及び凸部の構成は、分析用具の形状に応じて形成可能であるが、好ましくは接触部材は凸部である。接触部材が凸部であると、凸状の部分(突出した部分)に分析用具が確実に接触する構造を実現できる。凸部としての接触部材は、さらに好ましくは分析用具が設置される設置部から突出するピン(位置決めピン140A、140Bはその一例)である。凸部がピンである構造では、簡素な構造で凸部を構成できる。 The configuration of the contact member and the protrusions is not limited to the above, and when the analysis tool 42 is pushed in the direction of the arrow P1 and moves, it contacts the side of the analysis tool 42 on which the recess 71 is formed (the other side surface 42B side), and moves in the width direction. Any configuration may be used as long as it is configured to be positioned in the direction of arrow W. In particular, the configuration of the contact member and the convex portion can be formed according to the shape of the analytical instrument, but preferably the contact member is the convex portion. When the contact member is a convex portion, it is possible to achieve a structure in which the analysis tool reliably contacts the convex portion (protruding portion). More preferably, the contact member as the convex portion is a pin (positioning pins 140A and 140B are examples) protruding from the installation portion where the analysis tool is installed. In the structure in which the protrusion is a pin, the protrusion can be configured with a simple structure.

設置部122の上方には、図10にも示すように、押圧部材124が設けられている。押圧部材124は、導入部120に導入された分析用具42の上面と対向する対向壁142を有している。対向壁142は、上下駆動機構144によって上下動するようになっている。 A pressing member 124 is provided above the installation portion 122, as also shown in FIG. The pressing member 124 has a facing wall 142 that faces the upper surface of the analysis tool 42 introduced into the introducing section 120 . The opposing wall 142 is vertically moved by a vertical drive mechanism 144 .

本実施形態では、上下駆動機構144は、制御装置146によって駆動制御される昇降モータ148を有している。そして、昇降モータ148の駆動力が、図示しないバネを介して対向壁142に作用し、対向壁142が昇降するようになっている。 In this embodiment, the vertical drive mechanism 144 has an elevation motor 148 that is driven and controlled by a control device 146 . The driving force of the elevation motor 148 acts on the opposing wall 142 via a spring (not shown), and the opposing wall 142 is raised and lowered.

昇降モータ148の駆動によって、バネを介して対向壁142が下降し、対向壁142が分析用具42の上面42Tに接触する。この接触後に、さらに昇降モータ148が駆動されても、図示しないバネが圧縮され、対向壁142は、それ以上は下降しない構造である。これにより、過度に対向壁142が分析用具42を押圧しない構造が実現されている。 By driving the elevating motor 148 , the opposing wall 142 descends via the spring, and the opposing wall 142 contacts the upper surface 42T of the analysis tool 42 . After this contact, even if the lifting motor 148 is further driven, the spring (not shown) is compressed and the opposing wall 142 does not move down further. This realizes a structure in which the opposing wall 142 does not excessively press the analysis tool 42 .

対向壁142は、所定の剛性を有する壁本体160と、この壁本体160の下面に貼着される密着シート162とを有している。密着シート162は、壁本体160及び分析用具42のカートリッジ46よりも低弾性であり、外力に対し弾性変形しやすい。 The opposing wall 142 has a wall body 160 having a predetermined rigidity and an adhesive sheet 162 attached to the bottom surface of the wall body 160 . The adhesion sheet 162 has lower elasticity than the wall body 160 and the cartridge 46 of the analysis tool 42, and is easily elastically deformed by an external force.

すなわち、対向壁142が分析用具42に向かって押込まれた状態で、壁本体160やカートリッジ46よりも、密着シート162が厚み方向(上下方向)に弾性的に圧縮される。これにより、図16に示すように、密着シート162は、対向壁142が降下すると分析用具42の上面42Tに密着する。対向壁142は、密着部の一例でもある。 That is, in a state in which the facing wall 142 is pushed toward the analysis tool 42 , the contact sheet 162 is elastically compressed in the thickness direction (vertical direction) rather than the wall body 160 and the cartridge 46 . Thereby, as shown in FIG. 16, the contact sheet 162 is brought into close contact with the upper surface 42T of the analysis tool 42 when the opposing wall 142 is lowered. The opposing wall 142 is also an example of the contact portion.

特に、本実施形態の分析用具42は複数の液体槽52を有しているが、これら複数の液体槽52に対応して1つの密着シート162が分析用具42の上面42Tに密着する。そして、対向壁142と設置部122との間で分析用具42を高さ方向、すなわちチップ44とカートリッジ46との重ね合せ方向に押圧して挟み込むことができる。 In particular, the analysis tool 42 of this embodiment has a plurality of liquid reservoirs 52, and one adhesive sheet 162 is brought into close contact with the upper surface 42T of the analysis tool 42 corresponding to the plurality of liquid reservoirs 52. FIG. Then, the analysis instrument 42 can be sandwiched between the opposing wall 142 and the installation portion 122 by being pressed in the height direction, that is, in the overlapping direction of the chip 44 and the cartridge 46 .

壁本体160には、液体槽52のそれぞれに対応して、複数(本実施形態では液体槽52と同数)の穿孔ピン164が設けられている。穿孔ピン164は穿孔部材の一例である。穿孔ピン164はいずれも、密着シート162よりも下方に突出している。対向壁142が下降することで、穿孔ピン164により、対応する液体槽52において封止膜54を穿孔することができる。 The wall body 160 is provided with a plurality of perforation pins 164 (the same number as the liquid tanks 52 in this embodiment) corresponding to each of the liquid tanks 52 . The piercing pin 164 is an example of a piercing member. All of the perforation pins 164 protrude below the contact sheet 162 . By lowering the opposing wall 142 , the perforation pin 164 can perforate the sealing film 54 in the corresponding liquid reservoir 52 .

押圧部材124によって分析用具42を押圧し、密着シート162が分析用具42の上面42Tと密着した状態で、それぞれの穿孔ピン164の下端は、図11に示すように、封止膜54よりも下側、すなわち、対応する液体槽52の内部に位置している。そして、穿孔ピン164によって形成された孔部HPと穿孔ピン164の間に隙間GPが生じている。 When the pressing member 124 presses the analysis tool 42 and the contact sheet 162 is in close contact with the upper surface 42T of the analysis tool 42, the lower end of each perforation pin 164 is below the sealing film 54 as shown in FIG. side, i.e. inside the corresponding liquid reservoir 52 . A gap GP is generated between the hole HP formed by the punch pin 164 and the punch pin 164 .

図10に示すように、複数の液体槽52のうち、たとえば、あらかじめ液体が封入された液体槽52に対応する穿孔ピン164(図10の例では穿孔ピン164A、164Eであるが、これらに限定されない)の先端には、曲がり部165が形成されている。曲がり部165では、押圧部材124の押圧方向(下方向)と交差する方向(図10の例では略直角)に穿孔ピン164が曲がっている。このような曲がり部165が形成された穿孔ピン164では、曲がり部165が形成されていない穿孔ピン164と比較して、より大きく封止膜54を穿孔することができ、孔部HPと穿孔ピン164の間に生じる隙間GPも、より大きくなる。 As shown in FIG. 10, among the plurality of liquid tanks 52, for example, perforation pins 164 (in the example of FIG. 10, perforation pins 164A and 164E) corresponding to liquid tanks 52 in which liquid is sealed in advance, but are limited to these. ) is formed with a bent portion 165 at its tip. At the bent portion 165 , the punch pin 164 is bent in a direction (substantially right angle in the example of FIG. 10 ) intersecting the pressing direction (downward) of the pressing member 124 . The perforation pin 164 formed with such a bent portion 165 can perforate the sealing film 54 to a larger extent than the perforation pin 164 without the bent portion 165 formed therein. The gap GP occurring between 164 also becomes larger.

対向壁142(密着シート162及び壁本体160)には、穿孔ピン164のそれぞれを取り囲む形状で、上側に凹む形状の空間凹部166が形成されている。すなわち、密着部の一例である対向壁142に、空間凹部166が形成されている。空間凹部166は、穿孔ピン164の周囲で対向壁142を部分的に液体槽52のそれぞれから離間する方向に凹ませた部分である。このような空間凹部166があることで、液体槽52のそれぞれと対向壁142との間に密閉空間168が形成される。このように分析装置102の空間凹部166ならびに分析用具42の上面を利用して、穿孔部材による穿孔部位の周囲で分析用具42との間に密閉空間168を形成するための構成が密閉部材となる。もちろん、分析装置102ならびに分析用具42の形状に応じて、密閉空間の形状や形成方法、及び密閉部材の形状は適宜変更することができる。 The facing wall 142 (the adhesion sheet 162 and the wall body 160) is formed with a spatial recess 166 that surrounds each of the punch pins 164 and that is recessed upward. That is, a space concave portion 166 is formed in the opposing wall 142, which is an example of the contact portion. The space recess 166 is a part of the opposed wall 142 around the piercing pin 164 that is partially recessed in a direction away from each of the liquid reservoirs 52 . Due to the presence of such spatial recesses 166 , sealed spaces 168 are formed between each of the liquid reservoirs 52 and the opposing wall 142 . A sealing member is a configuration for forming a closed space 168 between the analysis tool 42 and the perforation site by the perforation member by using the space recess 166 of the analysis device 102 and the upper surface of the analysis tool 42 in this way. . Of course, depending on the shape of the analysis device 102 and the analysis tool 42, the shape and formation method of the sealed space and the shape of the sealing member can be changed as appropriate.

対向壁142には、空間凹部166のそれぞれに対応して、気体導入部材の一例として、気体導入管170が設けられている。気体導入管170の下端は密閉空間168に対して流体が出入りする気体出入口170Aである。本実施形態では、複数の気体導入管170のいずれにおいても、その下端位置、すなわち気体出入口170Aの位置は、空間凹部166の上面166Tと同じ位置であり、空間凹部166に気体導入管170の気体出入口170Aが突出することなく密閉空間168に位置する構造である。 The facing wall 142 is provided with a gas introduction pipe 170 as an example of a gas introduction member corresponding to each of the space recesses 166 . The lower end of the gas introduction pipe 170 is a gas inlet/outlet 170A through which fluid enters and exits the closed space 168 . In the present embodiment, the lower end position of any of the plurality of gas introduction pipes 170, that is, the position of the gas inlet/outlet port 170A, is the same position as the upper surface 166T of the recessed space 166. It is a structure in which the doorway 170A is located in the sealed space 168 without protruding.

気体導入管170には、ポンプ172が接続されている。ポンプ172の駆動により、密閉空間168に空気を送出したり、密閉空間168から空気を吸引したりすることが可能である。なお、複数の気体導入管170に対し分岐管を介してポンプ172を共通で1つ設けることが可能であり、この場合は、図示しないバルブにより、空気の流路を任意の気体導入管170に切り替える構造を採り得る。 A pump 172 is connected to the gas introduction pipe 170 . By driving the pump 172 , it is possible to send air to the closed space 168 or suck air from the closed space 168 . In addition, it is possible to provide one common pump 172 for a plurality of gas introduction pipes 170 via a branch pipe. A switching structure can be adopted.

図11に示すように、気体導入管170と穿孔ピン164とは、水平方向(奥行方向と幅方向の少なくとも一方向)にずれている。すなわち、気体導入管170の気体出入口170Aは、封止膜54の膜面に沿って、穿孔ピン164による穿孔部位(孔部HP)からずれた位置にある。 As shown in FIG. 11, the gas introduction pipe 170 and the perforation pin 164 are displaced in the horizontal direction (at least one of the depth direction and the width direction). That is, the gas inlet/outlet port 170A of the gas introduction pipe 170 is located along the film surface of the sealing film 54 at a position displaced from the perforation portion (hole portion HP) by the perforation pin 164 .

上述の穿孔ピン164は穿孔部材の一例である。穿孔部材としては、分析用具42における液体槽52の上面の封止膜54を穿孔することが可能であれば、どのような形状であってもよい。また上述の気体導入管170も気体導入部材の一例であって、密閉空間に気体を導入するのであればどのような形状であってもよい。ただし、本実施形態では、穿孔部材と、気体導入部材とは、別体の部材である。いずれであっても、分析用具42の液体槽52に気体を導入する気体導入部材に対して、液体槽52の液体が付着することを抑制できる形状であり、さらに気体出入口に、液体槽52の液体が流入することを抑制できる形状である。 The piercing pin 164 described above is an example of a piercing member. The piercing member may have any shape as long as it can pierce the sealing film 54 on the upper surface of the liquid reservoir 52 in the analysis tool 42 . The gas introduction pipe 170 described above is also an example of the gas introduction member, and may have any shape as long as it introduces the gas into the closed space. However, in this embodiment, the perforating member and the gas introducing member are separate members. In either case, the shape is such that the liquid in the liquid tank 52 can be prevented from adhering to the gas introduction member that introduces the gas into the liquid tank 52 of the analysis tool 42. It has a shape that can suppress the inflow of liquid.

図10に示すように、対向壁142には挿通孔174が形成されている。挿通孔174には照射部材176が挿通されている。照射部材176には、図示しない発光部からの光が、たとえば光ファイバー等によって導かれる。照射部材176は、この光を、先端の照射部176Aから照射する部材である。実質的に、照射部材176を光ファイバーの一部として構成してもよい。なお、所定の波長域の光を出射するLEDチップ、光学フィルタ、レンズ等を備え、また、発光部は、スリットを備えるなどの形状であってもよい。 As shown in FIG. 10, an insertion hole 174 is formed in the facing wall 142 . An irradiation member 176 is inserted through the insertion hole 174 . Light from a light emitting unit (not shown) is guided to the irradiation member 176 by, for example, an optical fiber. The irradiating member 176 is a member that irradiates the light from an irradiating section 176A at the tip. Substantially, the illumination member 176 may be constructed as part of an optical fiber. It should be noted that an LED chip, an optical filter, a lens, or the like that emits light in a predetermined wavelength range may be provided, and the light emitting portion may have a shape such as a slit.

照射部材176は、挿通孔174に挿通されているので、対向壁142に対して、水平方向へのズレが抑制されている。 Since the irradiation member 176 is inserted through the insertion hole 174 , displacement in the horizontal direction with respect to the opposing wall 142 is suppressed.

挿通孔174の位置は、導入部120において所定位置に位置決めされた分析用具42の挿入孔70に対応する位置である。また、照射部材176の外径は、挿通孔174の内径よりも小さい。これにより、挿入孔70に照射部材176が挿入可能な構造となっている。照射部材176の下側部分は、密着シート162よりも下側に突出する突出部176Tである。 The position of the insertion hole 174 is a position corresponding to the insertion hole 70 of the analysis tool 42 positioned at a predetermined position in the introduction portion 120 . Also, the outer diameter of the irradiation member 176 is smaller than the inner diameter of the insertion hole 174 . Thereby, the structure is such that the irradiation member 176 can be inserted into the insertion hole 70 . A lower portion of the irradiation member 176 is a protruding portion 176T that protrudes below the contact sheet 162 .

照射部材176の上部、すなわち、押圧部材124から突出する側と反対側には、挿通孔174よりも幅広の制限板178が取り付けられている。制限板178が突出部の分析用具への突出量を一定範囲に制限する制限部材の一例であるが、制限する機能を有していれば任意の形状を取りうる。また、対向壁142からは、上方に向けて1本又は複数本の支柱180が立設され、支柱180は制限板178を貫通している。 A restriction plate 178 wider than the insertion hole 174 is attached to the upper portion of the irradiation member 176 , that is, the side opposite to the side protruding from the pressing member 124 . The restriction plate 178 is an example of a restriction member that restricts the amount of projection of the projecting portion toward the analysis tool within a certain range, but it can take any shape as long as it has a restriction function. Also, one or a plurality of struts 180 are erected upward from the facing wall 142 , and the struts 180 pass through the restricting plate 178 .

支柱180の先端には、支柱180よりも幅広の対向板182が形成されている。対向壁142と対向板182の間に制限板178が位置しており、制限板178は、支柱180によって案内されつつ上下移動可能であるが、この上下方向の移動範囲は、対向壁142と対向板182の間に制限されている。これにより、突出部176Tの突出範囲(対向壁142から突出する突出長)も所定範囲に制限することができ、突出部176Tが過度に対向壁142から突出することを抑制できる。対向壁142と対向板182とは対になっており、突出部176Tの進退方向の両側で制限板178と対向している。すなわち、対向壁142と対向板182とは一対の対向部材の一例である。そして、対向壁142が、対向部材の一部を兼ねている。これにより、対向壁142を、対向部材とは別体の部材とした構造と比較して、部品点数が少なくされている。 A facing plate 182 wider than the support 180 is formed at the tip of the support 180 . A restricting plate 178 is positioned between the opposing wall 142 and the opposing plate 182 , and the restricting plate 178 can move vertically while being guided by the strut 180 . Confined between plates 182 . As a result, the projecting range of the projecting portion 176T (the projecting length projecting from the opposing wall 142) can also be limited to a predetermined range, and excessive projecting of the projecting portion 176T from the opposing wall 142 can be suppressed. The opposing wall 142 and the opposing plate 182 are paired and face the restricting plate 178 on both sides of the projecting portion 176T in the advancing/retreating direction. That is, the opposing wall 142 and the opposing plate 182 are an example of a pair of opposing members. The facing wall 142 also serves as part of the facing member. As a result, the number of parts is reduced compared to a structure in which the facing wall 142 is a separate member from the facing member.

制限板178と対向板182の間にはバネ184が介在されている。このバネ184の付勢力で、制限板178を介して照射部材176が下方に付勢される。この付勢力を付与するバネ184が、突出部176Tを押圧部材124からの突出方向に付勢する付勢部材の一例である。このような付勢する機能を有していれば、付勢部材は任意の形状を採り得る。これにより、照射部材176の突出部176Tが、所定の突出長で対向壁142から突出した状態を維持できる。また、突出部176Tの下方への移動範囲は、図14及び図15に示すように、制限板178が対向壁142に接触することで所定範囲に制限される。 A spring 184 is interposed between the restricting plate 178 and the opposing plate 182 . The urging force of the spring 184 urges the irradiation member 176 downward via the restricting plate 178 . The spring 184 that applies this biasing force is an example of a biasing member that biases the projecting portion 176T in the projecting direction from the pressing member 124 . As long as it has such an urging function, the urging member can take any shape. As a result, the protruding portion 176T of the irradiation member 176 can maintain a state of protruding from the opposing wall 142 with a predetermined protruding length. 14 and 15, the downward movement range of the projecting portion 176T is limited to a predetermined range by the contact of the limiting plate 178 with the opposing wall 142. As shown in FIGS.

図14に示すように、制限板178が対向壁142に接触している状態で、突出部176Tの突出長TLの最大値は、挿入孔70の深さSDよりも長い。 As shown in FIG. 14, when the limit plate 178 is in contact with the opposing wall 142, the maximum protrusion length TL of the protrusion 176T is longer than the depth SD of the insertion hole .

したがって、対向壁142が降下し、照射部材176が挿入孔70に挿入されると、先端の照射部176Aが、挿入孔70の底部70Bに接触する。このように、照射部176Aが底部70Bに接触するまでは、照射部材176及び制限板178は、対向壁142との位置関係を一定に保って降下する。 Therefore, when the opposing wall 142 is lowered and the irradiation member 176 is inserted into the insertion hole 70 , the irradiation portion 176A at the tip comes into contact with the bottom portion 70B of the insertion hole 70 . In this manner, the irradiation member 176 and the restricting plate 178 descend while maintaining a constant positional relationship with the opposing wall 142 until the irradiation section 176A contacts the bottom section 70B.

この状態で、さらに対向壁142が下方へ移動しようとしても、制限板178と対向板182の間には隙間があるので、この隙間を少なくするようにして(バネ184を押し縮めながら)対向壁142が下方へ移動するが、照射部材176は下方へ移動しない(図16参照)。 In this state, even if the opposing wall 142 tries to move further downward, since there is a gap between the restricting plate 178 and the opposing plate 182, the opposing wall 142 is moved by reducing the gap (while compressing the spring 184). 142 moves downward, but the irradiation member 176 does not move downward (see FIG. 16).

本実施形態では、押圧部材124による分析用具42の押圧方向(対向壁142が分析用具42に接近する方向)と、照射部材176の分析用具42への接近方向とが同方向である。押圧部材124の移動軌跡と、照射部材の移動軌跡とが部分的に重なっているので、これらの移動軌跡が重ならずに分離している構造と比較して、省スペースでこれら部材を配置できる。 In this embodiment, the direction in which the pressing member 124 presses the analysis tool 42 (the direction in which the opposing wall 142 approaches the analysis tool 42) and the direction in which the irradiation member 176 approaches the analysis tool 42 are the same. Since the movement trajectory of the pressing member 124 and the movement trajectory of the irradiation member partially overlap, these members can be arranged in a space-saving manner compared to a structure in which these movement trajectories are separated without overlapping. .

導入部120には、所定位置にセットされた分析用具42における挿入孔70の下方位置に、吸光度センサ186が設けられている。キャピラリー68内を電気泳動する試料に照射部材176から光が照射され、試料を透過した透過光に基づき、測定部材126によって測定を行う。例えば、吸光度センサ186は、この透過光に基づき吸光度を検知する。また例えば、測定部材は、例えば、フォトダイオード、フォトIC等を備える。 The introduction part 120 is provided with an absorbance sensor 186 at a position below the insertion hole 70 in the analysis tool 42 set at a predetermined position. The sample electrophoresing in the capillary 68 is irradiated with light from the irradiation member 176, and measurement is performed by the measurement member 126 based on the transmitted light that has passed through the sample. For example, the absorbance sensor 186 detects absorbance based on this transmitted light. Further, for example, the measurement member includes, for example, a photodiode, a photo IC, and the like.

図10に示すように、対向壁142には、さらに、傾斜検知部の一例として、複数の傾斜検知ロッド188が取り付けられている。傾斜検知部は、導入部120に導入された分析用具42の、すなわち水平方向に対する傾斜(具体的には、傾斜しているか否か)を検知する部材である。この傾斜の検知には、図12に示すように、幅方向での傾斜している場合と、図13に示すように、奥行方向で傾斜している場合の両方が可能である。傾斜検知ロッド188のそれぞれは、対向壁142に対し上下動可能に保持されている。 As shown in FIG. 10, the opposing wall 142 is further provided with a plurality of tilt detection rods 188 as an example of a tilt detection section. The tilt detection unit is a member that detects the tilt of the analysis tool 42 introduced into the introduction unit 120, that is, the tilt with respect to the horizontal direction (specifically, whether it is tilted or not). This inclination can be detected both in the width direction as shown in FIG. 12 and in the depth direction as shown in FIG. Each of the tilt detection rods 188 is held vertically movably with respect to the opposing wall 142 .

傾斜検知ロッド188の下端の位置は、図5及び図7に示すように、導入部120に導入された分析用具42が傾斜していない状態では分析用具42に接触しない位置である。しかし、図12及び図13に示すように、分析用具42が傾斜していると傾斜検知ロッド188の下端が接触するように、所定の位置に設定されている。そして、分析用具42に傾斜検知ロッド188が接触した状態でさらに対向壁142が降下すると、傾斜検知ロッド188が対向壁142に対し相対的に上方に移動する。制御装置146は、傾斜検知ロッド188のこのような上方移動を検知すると、分析用具42が傾斜していると判断し、所定の処理を行うことが可能である。 As shown in FIGS. 5 and 7, the position of the lower end of the tilt detection rod 188 is a position where the analysis tool 42 introduced into the introduction section 120 does not come into contact with the analysis tool 42 when it is not tilted. However, as shown in FIGS. 12 and 13, it is set at a predetermined position so that the lower end of the tilt detection rod 188 comes into contact when the analysis tool 42 is tilted. When the facing wall 142 is further lowered while the tilt detecting rod 188 is in contact with the analysis tool 42 , the tilt detecting rod 188 moves upward relative to the facing wall 142 . Upon detecting such upward movement of the tilt detection rod 188, the control device 146 can determine that the analysis tool 42 is tilted and perform a predetermined process.

図5~8に示すように、導入部120には、分析用具42の複数の側面孔64のそれぞれ対応する給電プローブ194が突出されている。給電プローブ194は、制御装置146により制御される図示しないモータの駆動力で、分析用具42の一側面46Aに対し前進したり後退したりする。 As shown in FIGS. 5 to 8, feeding probes 194 corresponding to the side holes 64 of the analysis tool 42 are projected from the introduction portion 120 . The power supply probe 194 advances or retreats with respect to one side surface 46A of the analysis tool 42 by the driving force of a motor (not shown) controlled by the control device 146 .

給電プローブ194は給電部材の一例である。複数の給電プローブ194のそれぞれは、分析用具42の一側面46Aに対し前進し、対応する側面孔64に挿入されて、電極62に接触する。 The power supply probe 194 is an example of a power supply member. Each of the plurality of power supply probes 194 is advanced with respect to one side surface 46A of the analysis tool 42, inserted into the corresponding side hole 64, and contacts the electrode 62. As shown in FIG.

給電プローブ194は、導入部120において所定位置に保持された分析用具42の側方に位置しており、側方以外には存在していない。したがって、給電プローブ194を避けた位置に、各種の部材を配置可能な構造が実現されている。たとえば、押圧部材124は分析用具42の上方に配置されており、押圧部材124と給電プローブ194との干渉が抑制されている。また、設置部122は、分析用具42の下方に配置されており、給電プローブ194が設置部122と干渉することも抑制されている。なお、給電部材としては、電極62に給電できれば、形状は特に限定されない。 The power supply probe 194 is positioned to the side of the analytical instrument 42 held at a predetermined position in the introduction section 120, and does not exist other than to the side. Therefore, a structure is realized in which various members can be arranged at positions avoiding the feeding probe 194 . For example, the pressing member 124 is arranged above the analysis tool 42, and interference between the pressing member 124 and the power feeding probe 194 is suppressed. Moreover, the installation section 122 is arranged below the analysis tool 42 , and interference between the power supply probe 194 and the installation section 122 is also suppressed. The shape of the power supply member is not particularly limited as long as power can be supplied to the electrode 62 .

次に、本実施形態の分析装置102の作用、及び分析用具42における試料の成分を分析する方法について説明する。 Next, the operation of the analysis device 102 of this embodiment and the method of analyzing the components of the sample in the analysis tool 42 will be described.

まず、分析用具42の流路48の一部に、試料(本実施形態では血液)を充填しておく。 First, a part of the flow channel 48 of the analysis tool 42 is filled with a sample (blood in this embodiment).

分析装置102のタッチパネルから所定の入力操作を行うことで、図1に二点鎖線で示すように、開閉蓋114が手前側に移動し、トレー118が露出する。 By performing a predetermined input operation on the touch panel of the analyzer 102, the opening/closing lid 114 is moved forward and the tray 118 is exposed, as indicated by the two-dot chain line in FIG.

このトレー118に、試料が含まされた分析用具42を載せた状態で、トレー118及び開閉蓋114を押して(あるいは分析装置102の図示しないタッチパネルから所定の操作を行って)、トレー118を奥側に移動させる。これにより、図5に示すように、分析用具42が導入部120に導入される。そして、分析用具42は、設置部122の台座部122Bに設置される。 With the analysis tool 42 containing the sample placed on the tray 118, the tray 118 and the opening/closing lid 114 are pushed (or a predetermined operation is performed from the touch panel (not shown) of the analysis device 102) to move the tray 118 to the back side. move to As a result, the analysis tool 42 is introduced into the introduction section 120 as shown in FIG. Then, the analysis tool 42 is installed on the pedestal portion 122B of the installation portion 122 .

分析装置102は、傾斜検知部を有している。したがって、この状態で、分析装置102は、この傾斜検知部により、分析用具42の傾斜検知を行う。具体的には、制御装置146が昇降モータ148を駆動し、押圧部材124の対向壁142を所定位置まで降下させる。 The analyzer 102 has a tilt detector. Therefore, in this state, the analyzer 102 detects the inclination of the analysis tool 42 by means of this inclination detector. Specifically, the control device 146 drives the elevation motor 148 to lower the opposing wall 142 of the pressing member 124 to a predetermined position.

このとき、図12又は図13に示すように、分析用具42が傾斜していると、複数の傾斜検知ロッド188の一部が分析用具42に接触する。この場合は、制御装置146は、昇降モータ148の駆動を停止すると共に、分析用具42が傾斜していることに対応する所定の処理を行う。ここでいう「所定の処理」は、たとえば、試料の成分分析を一時的に停止すると共に、分析用具42の傾斜を作業者に報知する等の処理を含む。 At this time, as shown in FIG. 12 or FIG. 13 , if the analysis tool 42 is tilted, part of the plurality of tilt detection rods 188 will come into contact with the analysis tool 42 . In this case, the control device 146 stops driving the lifting motor 148 and performs predetermined processing corresponding to the tilting of the analysis tool 42 . The "predetermined process" referred to here includes, for example, a process of temporarily stopping the component analysis of the sample and notifying the operator of the inclination of the analysis tool 42, and the like.

傾斜検知ロッド188は複数設けられているので、分析用具42の傾斜方向や、傾斜量(傾斜角度)によって傾斜検知の精度が低下することを抑制できる。 Since a plurality of tilt detection rods 188 are provided, it is possible to suppress deterioration in tilt detection accuracy due to the tilt direction and tilt amount (tilt angle) of the analysis tool 42 .

なお、分析用具42の傾斜を検知する傾斜検知部の構造は、上記したものに限定されない。たとえば、分析用具42に対し複数個所から光を照射して傾斜を検知する構造であってもよい。 Note that the structure of the tilt detection unit that detects the tilt of the analysis tool 42 is not limited to the one described above. For example, a structure may be employed in which the tilt is detected by irradiating the analysis tool 42 with light from a plurality of positions.

分析用具42が傾斜していない(傾斜が許容範囲内である場合を含む)場合は、制御装置146は、分析用具42に対する位置決めを行う(位置決め方向を実行する)。なお、この状態で、図6に示すように、分析用具42の切込72と位置決めピン140Aとは非接触であり、凹部71と位置決めピン140Bも非接触である。 When the analysis tool 42 is not tilted (including when the tilt is within the allowable range), the controller 146 positions the analysis tool 42 (executes the positioning direction). In this state, as shown in FIG. 6, the notch 72 of the analysis tool 42 and the positioning pin 140A are out of contact, and the recess 71 and the positioning pin 140B are also out of contact.

制御装置146は、図示しない押込モータを駆動し、押込ロッド134によって、分析用具42の一側面46Aを押し込む。これにより、図7及び図8に示すように、分析用具42のチップ44が位置決めピン140A、140Bに接触するので、分析用具42が所定位置に位置決めされる。 The controller 146 drives a pushing motor (not shown), and pushes one side 46A of the analysis tool 42 with the pushing rod 134 . As a result, as shown in FIGS. 7 and 8, the tip 44 of the analysis tool 42 contacts the positioning pins 140A and 140B, so that the analysis tool 42 is positioned at a predetermined position.

特に、本実施形態では、位置決めピン140Aの高さが、チップ44の下板44Bには達するが上板44Aには達しない高さである。そして、チップ44の下板44Bが位置決めピン140A、140Bに接触することで分析用具42が位置決めされる。チップ44の下板44Bにはキャピラリー68が形成されているので、実質的に、このキャピラリー68を正確に位置決めすることができる。 In particular, in this embodiment, the height of the positioning pin 140A reaches the lower plate 44B of the chip 44 but does not reach the upper plate 44A. The analysis tool 42 is positioned by contacting the lower plate 44B of the chip 44 with the positioning pins 140A and 140B. Since the capillaries 68 are formed in the lower plate 44B of the chip 44, the capillaries 68 can be substantially positioned accurately.

チップ44には、切込72が形成されている。分析用具42が位置決めピン140Aに向かって接近し、位置決めピン140Aに傾斜面72A及び傾斜面72Bのいずれか一方が接触し、さらに分析用具42が押込まれると、分析用具42は奥行方向(矢印D方向)にも移動する。そして、図8に示すように、傾斜面72Aと傾斜面72Bの両方が位置決めピン140Aに接触する位置で分析用具42が位置決めされる。すなわち、分析用具42は、幅方向(矢印W方向)だけでなく、奥行方向(矢印D方向:導入部120への導入方向)にも位置決めされる。 A notch 72 is formed in the chip 44 . When the analysis tool 42 approaches toward the positioning pin 140A, one of the inclined surfaces 72A and 72B contacts the positioning pin 140A, and the analysis tool 42 is further pushed in, the analysis tool 42 moves in the depth direction (arrow D direction). Then, as shown in FIG. 8, the analysis tool 42 is positioned at a position where both the inclined surface 72A and the inclined surface 72B contact the positioning pin 140A. That is, the analysis tool 42 is positioned not only in the width direction (direction of arrow W) but also in the direction of depth (direction of arrow D: introduction direction to introduction portion 120).

この状態で、位置決めピン140Aが切込72に嵌合し、位置決めピン140Bが切欠73に嵌合するので、分析用具42は位置決めされた状態で、奥行方向へ位置ズレすることが抑制される。 In this state, the positioning pin 140A is fitted in the notch 72, and the positioning pin 140B is fitted in the notch 73, so that the analysis tool 42 is prevented from shifting in the depth direction while being positioned.

次に、制御装置146は、昇降モータ148を駆動し、対向壁142を下降させる。これにより、図14に示すように、照射部材176も下降し、分析用具42に接近する。分析用具42は既に所定位置に位置決めされており、挿入孔70も位置決めされているので、照射部材176は分析用具42の上面42Tに接触することなく、挿入孔70に挿入される。 Next, the control device 146 drives the elevation motor 148 to lower the opposing wall 142 . Thereby, as shown in FIG. 14, the irradiation member 176 also descends and approaches the analysis tool 42 . Since the analysis tool 42 is already positioned at a predetermined position and the insertion hole 70 is also positioned, the irradiation member 176 is inserted into the insertion hole 70 without contacting the upper surface 42T of the analysis tool 42 .

そして、図15に示すように、照射部材176の下端の照射部176Aが、挿入孔70の底部70Bに接触する。この状態で、図16に示すように、さらに昇降モータ148が駆動されても照射部材176及び制限板178は降下しないので、照射部材176の照射部176Aが底部70Bに強く押されて損傷を受けることを抑制できる。 Then, as shown in FIG. 15 , the irradiation portion 176A at the lower end of the irradiation member 176 contacts the bottom portion 70B of the insertion hole 70 . In this state, as shown in FIG. 16, even if the elevation motor 148 is further driven, the irradiation member 176 and the limiting plate 178 do not descend, so the irradiation portion 176A of the irradiation member 176 is strongly pushed by the bottom portion 70B and damaged. can be suppressed.

また、対向壁142の降下により、複数の穿孔ピン164のそれぞれが、対応する液体槽52の封止膜54を穿孔する。そして、密着シート162が分析用具42の上面42Tに密着する。 In addition, due to the descent of the opposing wall 142 , each of the plurality of perforation pins 164 perforates the sealing film 54 of the corresponding liquid reservoir 52 . Then, the contact sheet 162 is brought into contact with the upper surface 42T of the analysis tool 42. As shown in FIG.

この状態で、図11に示すように、複数の液体槽52のそれぞれには、穿孔ピン164による穿孔箇所の周囲において、分析用具42との間に密閉空間168が形成される。密着シート162は、分析用具42の上面42Tに面接触した状態で密着するので、たとえば密着部材が線状に接触する構造と比較して、密閉空間168をより確実に密閉状態に維持できる。 In this state, as shown in FIG. 11 , a closed space 168 is formed between each of the plurality of liquid reservoirs 52 and the analysis tool 42 around the perforated portion by the perforation pin 164 . Since the contact sheet 162 is in surface contact with the upper surface 42T of the analysis tool 42, the closed space 168 can be more reliably maintained in a sealed state, compared to a structure in which the contact member linearly contacts.

また、この状態で、分析用具42は、分析用具42が設置される設置部122と押圧部材124との間で上下に挟み込まれるので、カートリッジ46とチップ44とが嵌合される。そして、図17に示すように、凸部50がそれぞれ対応する底面膜58を穿孔するので、穿孔された底面膜58を有する液体槽52からは、液体が下方へ流出可能となる。ただし、カートリッジ46とチップ44とは上下方向に密着されているので、底面膜58が穿孔された液体槽52から液体がカートリッジ46とチップ44の隙間へ漏れ出すことは抑制される。 In this state, the analytical instrument 42 is vertically sandwiched between the installation portion 122 on which the analytical instrument 42 is installed and the pressing member 124, so that the cartridge 46 and the chip 44 are fitted. Then, as shown in FIG. 17, the projections 50 perforate the corresponding bottom film 58, so that the liquid can flow downward from the liquid tank 52 having the perforated bottom film 58. As shown in FIG. However, since the cartridge 46 and the chip 44 are in close contact with each other in the vertical direction, leakage of liquid from the liquid tank 52 in which the bottom membrane 58 is perforated into the gap between the cartridge 46 and the chip 44 is suppressed.

分析用具42は、押圧部材124に押圧されて、設置部122と押圧部材124との間に保持されるので、分析用具42の位置ズレが抑制される。本実施形態では、位置決め部材によって分析用具42が位置決めされているので、押圧部材124が分析用具42を押圧することで、分析用具42を位置決めされた状態に維持できる。 Since the analysis tool 42 is pressed by the pressing member 124 and held between the installation portion 122 and the pressing member 124, positional displacement of the analysis tool 42 is suppressed. In this embodiment, since the analysis tool 42 is positioned by the positioning member, the analysis tool 42 can be maintained in a positioned state by pressing the analysis tool 42 with the pressing member 124 .

また、カートリッジ46とチップ44との嵌合に大きな力を要する構造であっても、分析用具42を設置部122と押圧部材124とで挟み込んで押圧するので、カートリッジ46とチップ44とを確実に嵌合させることができる。しかも、照射部材176を挿入孔70に挿入した状態を実現した状態を維持しつつ、押圧部材124によって分析用具42を押圧できる。 Moreover, even with a structure that requires a large force to fit the cartridge 46 and the chip 44, since the analytical instrument 42 is sandwiched between the installation portion 122 and the pressing member 124 and pressed, the cartridge 46 and the chip 44 can be securely attached. can be mated. Moreover, the analyzing tool 42 can be pressed by the pressing member 124 while maintaining the state in which the irradiation member 176 is inserted into the insertion hole 70 .

ここで、制御装置146はポンプ172(図11参照)を駆動し、所定のタイミングで、特定の液体槽52に対する気体の供給及び吸引を行う。穿孔ピン164による穿孔箇所では、穿孔ピン164と封止膜54との間に隙間GPが生じているので、密閉空間168と、対応する液体槽52との間で、この隙間GPを通る空気の移動が可能である。 Here, the controller 146 drives the pump 172 (see FIG. 11) to supply and suck the gas to and from the specific liquid tank 52 at predetermined timings. Since a gap GP is generated between the perforation pin 164 and the sealing film 54 at the perforation location by the perforation pin 164, the air passing through the gap GP between the sealed space 168 and the corresponding liquid tank 52 is prevented. It is possible to move.

一例として、まず、図17に示すように、1つの液体槽52(図17では左側の液体槽52)への空気の導入(加圧)等を行う。これにより、試料が液体LAで希釈されて攪拌され、特定の流路48を通じて、他の液体槽52へ送られる。 As an example, first, as shown in FIG. 17, air is introduced (pressurized) into one liquid tank 52 (left liquid tank 52 in FIG. 17). As a result, the sample is diluted with liquid LA, stirred, and sent to another liquid tank 52 through a specific flow path 48 .

また、図18に示すように、上記とは異なる液体槽(図18では右側の液体槽52)への空気の導入(加圧)等を行う。これにより、該当する液体槽52の液体LAが、この液体槽52と繋がっている流路48に充填される。そして、図19に示すように、キャピラリー68に、毛細管現象により、液体が充填される。 Further, as shown in FIG. 18, air is introduced (pressurized) into a different liquid tank (liquid tank 52 on the right side in FIG. 18). As a result, the liquid LA in the corresponding liquid tank 52 is filled in the channel 48 connected to this liquid tank 52 . Then, as shown in FIG. 19, the capillary 68 is filled with liquid by capillary action.

このように、封止膜54を穿孔する穿孔ピン164と、密閉空間168に気体(流体)を導入する気体導入管170とは別々の部材である。そして、それぞれの気体導入管170の下端の気体出入口170Aは、対応する密閉空間168の内部に位置している。したがって、液体槽52の液体が気体導入管170の内部に浸入することが抑制される。たとえば、前回の試料の分析時に希釈試料が気体導入管170の内部に残留してしまうことが抑制され、この残留した希釈試料が次回の分析時の希釈試料と混ざるといった事態も抑制される。 Thus, the perforation pin 164 that perforates the sealing film 54 and the gas introduction pipe 170 that introduces gas (fluid) into the sealed space 168 are separate members. A gas inlet/outlet port 170A at the lower end of each gas introduction pipe 170 is positioned inside the corresponding sealed space 168 . Therefore, the liquid in the liquid tank 52 is suppressed from entering the inside of the gas introduction pipe 170 . For example, it is possible to prevent the diluted sample from remaining inside the gas introduction tube 170 during the previous sample analysis, and to prevent the remaining diluted sample from being mixed with the diluted sample during the next analysis.

また、本実施形態では、穿孔ピン164による穿孔部位に対し、気体出入口170Aは、封止膜54の膜面に沿って穿孔部位からずれた位置にある。したがって、液体槽52の液体が、穿孔ピン164と封止膜54の隙間を通って密閉空間168に達しても、この液体が気体出入口170Aに流入することを抑制できる。 Further, in the present embodiment, the gas inlet/outlet port 170A is positioned along the film surface of the sealing film 54 at a position offset from the perforated portion by the perforating pin 164 . Therefore, even if the liquid in the liquid tank 52 reaches the closed space 168 through the gap between the perforation pin 164 and the sealing film 54, the liquid can be prevented from flowing into the gas inlet/outlet 170A.

さらに、たとえば穿孔ピン164による封止膜54の穿孔によって、封止膜54を構成している部材の一部が破片となった場合であっても、気体出入口170Aは穿孔部位から離れているので、この破片が気体出入口170Aに混入することを抑制できる。 Furthermore, even if a part of the member constituting the sealing film 54 is broken by the perforation of the sealing film 54 by the perforating pin 164, the gas inlet/outlet port 170A is separated from the perforated portion. , the debris can be prevented from entering the gas inlet/outlet 170A.

次に、制御装置146は、図示しない押込モータを駆動し、図20及び図21に示すように、給電プローブ194を分析用具42の一側面46Aに接近させる。給電プローブ194は、それぞれ対応する側面孔64に挿入され、電極62に接触される。この段階で、分析用具42は奥行方向に位置決めされている。すなわち、給電プローブ194が分析用具42に接近する方向と交差する(図21の例では直交する)方向で分析用具42が位置決めされているので、給電プローブ194の先端が分析用具42の一側面46Aに当たることはなく、確実に側面孔64に挿入される。 Next, the control device 146 drives a pushing motor (not shown) to bring the power supply probe 194 closer to one side surface 46A of the analysis tool 42 as shown in FIGS. 20 and 21 . The power supply probes 194 are inserted into the corresponding side holes 64 and come into contact with the electrodes 62 . At this stage, the analysis tool 42 is positioned in the depth direction. That is, since the analysis tool 42 is positioned in a direction that intersects (perpendicularly in the example of FIG. 21) the direction in which the power supply probe 194 approaches the analysis tool 42, the tip of the power supply probe 194 touches one side surface 46A of the analysis tool 42. It is securely inserted into the side hole 64 without contacting the .

この状態で、制御装置146は、図22に示すように、給電プローブ194から、電極62の間に所定の電圧を印加する。これにより、キャピラリー68において試料の成分が電気泳動される。また、このとき、制御装置146は、照射部材176の照射部176Aから光を照射する。そして、電気泳動されている希釈試料の吸光度を吸光度センサ186で検出し、試料の成分を測定する。 In this state, the controller 146 applies a predetermined voltage between the electrodes 62 from the power supply probe 194, as shown in FIG. Thereby, the components of the sample are electrophoresed in the capillary 68 . Also, at this time, the control device 146 irradiates light from the irradiation section 176A of the irradiation member 176 . Then, the absorbance of the electrophoresed diluted sample is detected by the absorbance sensor 186 to measure the components of the sample.

このとき、照射部材176の照射部176Aは、挿入孔70の底部70Bに接触している。すなわち、照射部176Aは、キャピラリー68との距離が近い位置で、且つこの距離が一定に維持される状態である。したがって、キャピラリー68内を電気泳動される試料に対し、安定的に光を照射できる。 At this time, the irradiation portion 176A of the irradiation member 176 is in contact with the bottom portion 70B of the insertion hole 70 . That is, the irradiation section 176A is in a position close to the capillary 68, and the distance is kept constant. Therefore, the sample electrophoresed in the capillary 68 can be stably irradiated with light.

また、押圧部材124の対向壁142と設置部122との間で分析用具42を挟み込み、所定位置で保持しているので、分析用具42の位置が安定する。分析用具42のチップ44にはキャピラリー68が形成されているので、キャピラリー68の位置も安定する。したがって、試料の成分分析をより正確に行うことができる。 In addition, since the analysis tool 42 is sandwiched between the facing wall 142 of the pressing member 124 and the installation portion 122 and held at a predetermined position, the position of the analysis tool 42 is stabilized. Since the capillary 68 is formed in the chip 44 of the analysis tool 42, the position of the capillary 68 is also stable. Therefore, the component analysis of the sample can be performed more accurately.

試料の成分分析が終了した後、制御装置146は、給電プローブ194を退避させて側面孔64から抜くと共に、対向壁142を上昇させて、分析装置102の押圧を解除し、さらに、照射部材176を挿入孔70から抜く。さらに、押込ロッド134を退避させて、分析装置102から離間させる。 After the component analysis of the sample is completed, the control device 146 retracts the power supply probe 194 and pulls it out of the side hole 64, raises the opposing wall 142 to release the pressure of the analysis device 102, and furthermore, the irradiation member 176 is pulled out from the insertion hole 70. Furthermore, the pushing rod 134 is retracted and separated from the analyzer 102 .

そして、開閉蓋114及びトレー118を手前側に移動させて、分析用具42を取り出し可能とする。分析終了後の分析用具42は廃棄可能である。 Then, the opening/closing lid 114 and the tray 118 are moved forward to make it possible to take out the analysis tool 42 . The analysis tool 42 after the analysis is finished can be discarded.

本実施形態では、分析用具42に、測定対象である試料と、測定に必要となる液体(希釈液LA及び泳動液LB)が収容されてパッケージ化されている。分析装置102には、測定に必要な液体をあらかじめセットしておく必要がなく、また、これらの液体を一時的に貯留する貯留部や、測定部位に送るポンプ等が不要である。したがって、分析装置102として、構造の簡素化や小型化を図ることができる。 In this embodiment, the analysis tool 42 contains and packages a sample to be measured and liquids required for measurement (diluent LA and electrophoretic liquid LB). The analyzer 102 does not need to set liquids necessary for measurement in advance, and does not require a reservoir for temporarily storing these liquids, a pump for sending them to the measurement site, or the like. Therefore, the analysis device 102 can be simplified in structure and miniaturized.

上記では、接触部材の一例として、棒状の位置決めピン140A、140Bを挙げているが、接触部材としては、このような棒状のピンに限定されず、たとえば、板状の部材であってもよい。接触部材として棒状のピンを用いると、板状の部材と比較して、より狭いスペースであっても接触部材を配置できる。棒状のピンを複数設けることで、1つのみ設ける構成と比較して、ピンに接触した分析用具42の回転を抑制でき、安定的に位置決めできる。 Although the rod-shaped positioning pins 140A and 140B are mentioned above as an example of the contact member, the contact member is not limited to such rod-shaped pins, and may be, for example, a plate-shaped member. Using a rod-shaped pin as the contact member allows the contact member to be arranged even in a narrower space than a plate-shaped member. By providing a plurality of rod-shaped pins, rotation of the analysis tool 42 in contact with the pins can be suppressed and stable positioning can be achieved, compared to a configuration in which only one pin is provided.

[第二~第五実施形態、参考例]
次に、第二~第五実施形態及び参考例について説明する。以下の各実施形態及び参考例において、分析装置の全体的構成は第一実施形態と同様であるので、詳細な説明を省略する。また、第一実施形態と同様の要素、部材等については同一符号を付して、詳細な説明を省略する。
[Second to fifth embodiments, reference examples]
Next, second to fifth embodiments and reference examples will be described. In each of the following embodiments and reference examples, the overall configuration of the analyzer is the same as in the first embodiment, so detailed description is omitted. Elements, members, and the like that are the same as in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

図23に示す第二実施形態の分析装置202では、気体導入管170の下端部分が、空間凹部166の上面106よりも下方に突出しており、突出部170Bが構成されている。気体導入管170の下端部分は、気体出入口170Aを含む先端部分でもある。 In the analyzer 202 of the second embodiment shown in FIG. 23, the lower end portion of the gas introduction pipe 170 protrudes below the upper surface 106 of the space recess 166 to form a protruding portion 170B. The lower end portion of gas introduction pipe 170 is also the tip portion including gas inlet/outlet port 170A.

第二実施形態では、このように気体導入管170の下端部分が突出している。したがって、密閉空間168内に流入した液体が上面106に沿って気体導入管170に向かって移動しても、気体導入管170の管自体によって液体を堰き止めることで、気体出入口170Aにこの液体が流入することを抑制できる。 In the second embodiment, the lower end portion of the gas introduction pipe 170 protrudes in this way. Therefore, even if the liquid that has flowed into the closed space 168 moves along the upper surface 106 toward the gas introduction pipe 170, the gas introduction pipe 170 itself dams up the liquid, so that the liquid does not flow into the gas inlet/outlet port 170A. Inflow can be suppressed.

図24に示す第三実施形態の分析装置302では、空間凹部166の上面106から下方へ延出される壁部材196が形成されている。壁部材196は、穿孔ピン164と気体導入管170の間に位置している。また、壁部材196の下端の位置は、封止膜54には接触せず、封止膜54との間に隙間が生じる位置である。 In the analyzer 302 of the third embodiment shown in FIG. 24, a wall member 196 extending downward from the upper surface 106 of the spatial recess 166 is formed. A wall member 196 is positioned between the piercing pin 164 and the gas introduction tube 170 . Moreover, the position of the lower end of the wall member 196 is a position that does not contact the sealing film 54 and creates a gap with the sealing film 54 .

第三実施形態では、このような壁部材196を有しているので、密閉空間168内に流入した液体が上面106に沿って気体導入管170に向かって移動しても、壁部材196によって液体を堰き止めることができる。これにより、気体出入口170Aにこの液体が流入することを抑制できる。壁部材196としては、このように、穿孔部材(一例としての穿孔ピン164)と気体導入部材(一例としての気体導入管170)との間に位置していれば、形状は限定されない。すなわち、壁部材の形状によらず、密閉空間168内で、液体が上面106に沿って気体導入管170に向かう移動を堰き止めることができる。 Since the third embodiment has the wall member 196 as described above, even if the liquid flowing into the closed space 168 moves along the upper surface 106 toward the gas introduction pipe 170, the wall member 196 prevents the liquid from flowing. can be blocked. This can prevent the liquid from flowing into the gas inlet/outlet 170A. The shape of the wall member 196 is not limited as long as it is positioned between the perforating member (the perforating pin 164 as an example) and the gas introducing member (the gas introducing pipe 170 as an example). That is, regardless of the shape of the wall member, movement of the liquid along the upper surface 106 toward the gas introduction pipe 170 can be blocked in the closed space 168 .

図25に示す第四実施形態の分析装置402では、第二実施形態の構造(気体導入管170の下端部分に、突出部170Bが構成されている)と、第三実施形態の構造(壁部材196が形成されている)とを併せ持つ構造である。したがって、第四実施形態では、密閉空間168内に流入した液体が気体出入口170Aに流入することを、より確実に抑制できる。 In the analysis device 402 of the fourth embodiment shown in FIG. 25, the structure of the second embodiment (the protrusion 170B is configured at the lower end portion of the gas introduction pipe 170) and the structure of the third embodiment (the wall member 196 is formed). Therefore, in the fourth embodiment, it is possible to more reliably prevent the liquid that has flowed into the sealed space 168 from flowing into the gas inlet/outlet port 170A.

図26には、参考例の分析装置502が部分的に示される。図26に示す構造では、気体導入管170が穿孔ピン164を兼ねており、気体導入管170の先端で封止膜54に穿孔できる。また、気体導入管170の側面には、封止膜54よりも上側、すなわち密閉空間168の内部に位置するように気体出入口170Aが形成されている。 FIG. 26 partially shows the analysis device 502 of the reference example. In the structure shown in FIG. 26 , the gas introduction pipe 170 also serves as the perforation pin 164 , and the tip of the gas introduction pipe 170 can perforate the sealing film 54 . A gas inlet/outlet 170A is formed on the side surface of the gas introduction pipe 170 so as to be positioned above the sealing film 54, that is, inside the sealed space 168. As shown in FIG.

参考例の構造であっても、気体出入口170Aは液体槽52には位置していないので、気体出入口170Aに、液体槽52の液体が流入することを抑制できる。 Even in the structure of the reference example, since the gas inlet/outlet 170A is not located in the liquid tank 52, it is possible to suppress the liquid in the liquid tank 52 from flowing into the gas inlet/outlet 170A.

上記した第一実施形態~第四実施形態及び参考例では、照明部材176の先端部分である照射部176Aが挿入孔70の底部70Bに接触し、分析用具42への照明部材176の接近(降下)が制限される構造である。これに対し、分析用具42への照明部材176の接近を制限する構造をさらに有していてもよい。 In the first to fourth embodiments and the reference example described above, the irradiation portion 176A, which is the tip portion of the illumination member 176, contacts the bottom portion 70B of the insertion hole 70, and the illumination member 176 approaches (falls) to the analysis tool 42. ) is a restricted structure. On the other hand, it may further have a structure for restricting the access of the illumination member 176 to the analysis tool 42 .

図27~図29には、上記した観点から、分析用具42への照明部材176の接近を制限する構造をさらに有する第五実施形態の分析装置502が部分的に示されている。 27 to 29 partially show an analysis device 502 according to a fifth embodiment, which further has a structure for restricting access of the illumination member 176 to the analysis tool 42 from the viewpoint described above.

第五実施形態の分析装置502では、制限板178に、対向壁142よりも側方へはみ出すはみ出し部178Dが設けられている。はみ出し部178Dは、たとえば、制限壁178を全体的に大型に(幅広に)形成することで構成されていてもよいし、制限板178を部分的に棒状に突出させて形成されていてもよい。 In the analyzer 502 of the fifth embodiment, the restriction plate 178 is provided with a protruding portion 178D that protrudes laterally beyond the opposing wall 142 . For example, the protruding portion 178D may be configured by forming the restriction wall 178 to be large (wide) as a whole, or may be formed by partially protruding the restriction plate 178 in a bar shape. .

分析装置502の筐体104(第一実施形態として示す図1参照)内には、制限壁504が設けられている。制限壁504は、図28に示すように制限板178が対向壁142と共に降下し所定の高さ位置になった状態ではみ出し部178Dが接触するように、所定の位置に設けられている。この状態で、照明部材176の照射部176Aが挿入孔70の底部70Bから所定の位置にあり、はみ出し部178Dが制限壁504に接触するので、制限板178はそれ以上は降下しない。 A limiting wall 504 is provided in the housing 104 (see FIG. 1 showing the first embodiment) of the analysis device 502 . The limiting wall 504 is provided at a predetermined position so that the protruding portion 178D comes into contact with the limiting plate 178 together with the opposing wall 142 when it reaches a predetermined height position as shown in FIG. In this state, the irradiation portion 176A of the lighting member 176 is at a predetermined position from the bottom portion 70B of the insertion hole 70, and the protruding portion 178D contacts the limiting wall 504, so the limiting plate 178 does not descend further.

このような構造の第五実施形態では、照明部材176の照射部176Aが挿入孔70の底部70Bから所定の位置にある状態で、制限板178が降下することを物理的に制限できる。そして、この状態で、キャピラリー68内を電気泳動する試料に照射部176Aから光を照射できる。 In the fifth embodiment having such a structure, it is possible to physically restrict the lowering of the limiting plate 178 while the irradiation portion 176A of the lighting member 176 is at a predetermined position from the bottom portion 70B of the insertion hole 70 . In this state, the sample electrophoresing in the capillary 68 can be irradiated with light from the irradiation section 176A.

第五実施形態の構造は、たとえば、分析用具42の個体差により底部70Bの高さ位置に違いが生じている場合に効果的に採り得る構造である。 The structure of the fifth embodiment is a structure that can be effectively adopted, for example, when the height position of the bottom portion 70B varies due to individual differences in the analysis tools 42. FIG.

第五実施形態において、照射部176Aは底部70Bに接触していてもよいし、非接触でもよい。照射部176Aが底部70Bに接触している構造では、底部70Bに対する照射部176Aの位置が安定する。また、バネ184の付勢力を、分析用具42と制限壁504とに分散させて作用させることができる。これに対し、照射部176Aが底部70Bに対し非接触であれば、バネ184の付勢力を、分析用具42には作用させない構造を実現できる。 In the fifth embodiment, the irradiation section 176A may or may not be in contact with the bottom section 70B. In the structure in which the irradiation section 176A is in contact with the bottom section 70B, the position of the irradiation section 176A with respect to the bottom section 70B is stable. In addition, the biasing force of the spring 184 can be applied to the analytical instrument 42 and the restricting wall 504 in a distributed manner. On the other hand, if the irradiation section 176A is not in contact with the bottom section 70B, a structure can be realized in which the biasing force of the spring 184 is not applied to the analysis tool 42. FIG.

照射部176Aが底部70Bに接触する場合の照明部材176の動作としては、制限板178が対向壁142と共に降下し、照射部176Aの底部70Bへの接触と、はみ出し部178Dの制限壁504への接触が略同時である。ただし、実質的には、まず照射部176Aが底部70Bに接触し、底部70Bの位置における分析用具42の僅かな変形(分析には影響しない程度)が生じつつ、はみ出し部178Dが制限壁504に接触する動作順序を採り得る。これとは逆に、まず、はみ出し部178Dが制限壁504に接触し、制限壁504が変形しつつ、照射部176Aが底部70Bに接触する動作でもよい。 When the illumination portion 176A contacts the bottom portion 70B, the illumination member 176 operates as follows. The contacts are substantially simultaneous. However, substantially, first, the irradiation section 176A comes into contact with the bottom section 70B, and while the analysis tool 42 is slightly deformed at the position of the bottom section 70B (to the extent that it does not affect the analysis), the protruding section 178D is brought into contact with the restriction wall 504. A contacting operation order can be adopted. Conversely, the protrusion 178D may first come into contact with the limiting wall 504, and while the limiting wall 504 is deformed, the irradiation section 176A may come into contact with the bottom 70B.

照射部176Aが底部70Bに対し非接触である場合の照明部材176の動作としては、照射部176Aが底部70Bに接触する前にはみ出し部178Dが制限壁504に接触する。すなわち、この段階で照明部材176の降下を停止すれば、はみ出し部178Dが制限壁504に支持されて、それ以降の降下を制限されるので、照射部176Aが底部70Bに接触しない状態を維持できる。 As for the operation of the illumination member 176 when the irradiation portion 176A is not in contact with the bottom portion 70B, the protruding portion 178D contacts the limiting wall 504 before the irradiation portion 176A contacts the bottom portion 70B. That is, if the descent of the lighting member 176 is stopped at this stage, the protruding portion 178D is supported by the limiting wall 504, and the subsequent descent is limited, so that the state where the illuminating portion 176A does not come into contact with the bottom portion 70B can be maintained. .

42 分析用具
44 チップ
44A 上板
44B 下板
46 カートリッジ
46A 一側面
46B 他側面
50A、50B、50C、50D、50E、50F 凸部
52 液体槽
54 封止膜
58 底面膜
62 電極
64 側面孔
66 底面膜
68 キャピラリー
70 挿入孔
70B 底部
72 切込
72A、72B 傾斜面
102 分析装置
120 導入部
122 設置部
124 押圧部材
126 測定部材
128 押込部材
134 押込ロッド
140A、140B 位置決めピン
142 対向壁
144 上下駆動機構
146 制御装置
162 密着シート
164 穿孔ピン
165 曲がり部
166 空間凹部
166T 上面
168 密閉空間
170 気体導入管
170A 気体出入口
170B 突出部
174 挿通孔
176 照射部材
176A 照射部
176T 突出部
186 吸光度センサ
188 傾斜検知ロッド
192 押込モータ
194 給電プローブ
196 壁部材
202 分析装置
302 分析装置
402 分析装置
502 分析装置
504 制限壁
42 Analysis tool 44 Chip 44A Upper plate 44B Lower plate 46 Cartridge 46A One side 46B Other side 50A, 50B, 50C, 50D, 50E, 50F Projection 52 Liquid tank 54 Sealing film 58 Bottom film 62 Electrode 64 Side hole 66 Bottom film 68 capillary 70 insertion hole 70B bottom 72 notch 72A, 72B inclined surface 102 analyzer 120 introduction part 122 installation part 124 pressing member 126 measuring member 128 pushing member 134 pushing rods 140A, 140B positioning pin 142 facing wall 144 vertical drive mechanism 146 control Device 162 Adhesive sheet 164 Perforated pin 165 Bent portion 166 Spatial recess 166T Upper surface 168 Sealed space 170 Gas introduction pipe 170A Gas inlet/outlet 170B Projection 174 Insertion hole 176 Irradiation member 176A Irradiation unit 176T Projection 186 Absorbance sensor 188 Tilt detection rod 192 Push motor 194 feeding probe 196 wall member 202 analyzer 302 analyzer 402 analyzer 502 analyzer 504 limiting wall

Claims (8)

試料を含む分析用具が載置される設置部と、
前記設置部に載置された前記分析用具に対し下方に移動することにより前記分析用具の上面に接触するように前記設置部の上方に設けられ、上面から下面まで挿通孔が設けられた対向壁と、
前記対向壁の上方に設けられ、前記対向壁と共に動く対向板と、
上方に移動して前記対向壁から離れるように前記対向壁と前記対向板の間に設けられた制限板と、
前記制限板から下方に向けて前記制限板に取り付けられ、前記対向壁の前記挿通孔に挿通されて前記対向壁から下方に突出し、 前記試料に光を照射する照射する照射部材と、
前記対向壁から突出している前記照射部材の先端が前記分析用具と接触するように、且つ、前記対向壁の下面が前記分析用具と接触して前記分析用具を下方に押圧するように、前記対向壁を下方に移動させる駆動機構と、
前記設置部に設置された前記分析用具の前記試料に前記照射部材から照射された光により前記試料の成分を測定する測定部材と、
を有する分析装置。
the analytical tool containing the samplebe placedan installation section;
A facing wall provided above the installation section so as to come into contact with the upper surface of the analysis instrument by moving downward with respect to the analysis instrument placed on the installation section, and provided with an insertion hole from the upper surface to the lower surface. When,
an opposing plate provided above the opposing wall and moving together with the opposing wall;
a limiting plate provided between the facing wall and the facing plate so as to move upward and away from the facing wall;
attached to the restricting plate downward from the restricting plate, inserted through the insertion hole of the opposing wall, and protruding downward from the opposing wall; an irradiating member that irradiates the sample with light;
The facing wall is configured such that the tip of the irradiation member protruding from the facing wall contacts the analysis tool, and the lower surface of the facing wall contacts the analysis tool and presses the analysis tool downward. a drive mechanism for moving the wall downward;
a measurement member for measuring the components of the sample by means of the light emitted from the irradiation member to the sample of the analysis tool installed in the installation section;
analyzer.
前記照射部材を前記分析用具に形成された挿入孔に挿入した状態で、前記対向壁により前記分析用具を押圧する請求項1に記載の分析装置。 2. The analysis apparatus according to claim 1, wherein the analysis tool is pressed by the opposing wall while the irradiation member is inserted into an insertion hole formed in the analysis tool. 前記対向壁による前記分析用具の押圧方向と、前記照射部材の前記分析用具への接近方向とが同方向である請求項1又は請求項2に記載の分析装置。 3. The analysis apparatus according to claim 1, wherein the direction in which said analysis tool is pressed by said opposing wall and the direction in which said irradiation member approaches said analysis tool are the same. 前記制限板と前記対向板との間に介在され、前記制限板を下方に 付勢する付勢部材
を有する請求項3に記載の分析装置。
It is interposed between the restricting plate and the opposing plate and allows the restricting plate to move downward. biasing member to bias,
The analyzer according to claim 3, comprising:
前記照射部材のうち前記対向壁から下方に突出する部分である突出部の突出長の最大値が前記挿入孔の深さよりも長い請求項2に記載の分析装置。 3. The analyzer according to claim 2 , wherein a maximum value of a projection length of a projecting portion, which is a portion of the irradiation member that projects downward from the facing wall, is longer than the depth of the insertion hole. 前記制限板は 前記挿通孔の孔径よりも広い請求項1に記載の分析装置。 The restriction plate wider than the hole diameter of the insertion holeClaim 1The analyzer described in . 前記分析用具を所定位置に位置決めする位置決め部材、
を有し、
前記対向壁が、前記位置決め部材で位置決めされた前記分析用具を押圧する請求項1~請求項6のいずれか1項に記載の分析装置。
a positioning member for positioning the analysis tool at a predetermined position ;
has
The analysis apparatus according to any one of claims 1 to 6 , wherein the facing wall presses the analysis tool positioned by the positioning member.
前記分析用具が、前記試料が泳動するキャピラリーを備えたチップと、液体槽を備え前記チップに重ねられるカートリッジと、を含み、
前記対向壁が、前記分析用具を前記チップと前記カートリッジとの重ね合わせ方向に押圧して前記設置部との間で挟み込み前記チップと前記カートリッジとを嵌合させる請求項1~請求項7のいずれか1項に記載の分析装置。
The analysis tool comprises a chip having a capillary in which the sample migrates, and a cartridge having a liquid reservoir and superimposed on the chip,
8. The opposing wall presses the analysis instrument in the direction in which the chip and the cartridge are superimposed, sandwiches the analysis instrument between the mounting portion and the chip, and fits the chip and the cartridge together. or the analysis device according to item 1.
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