JP7075865B2 - 光学分析装置、光学分析方法、及び光学分析システム - Google Patents

光学分析装置、光学分析方法、及び光学分析システム Download PDF

Info

Publication number
JP7075865B2
JP7075865B2 JP2018195776A JP2018195776A JP7075865B2 JP 7075865 B2 JP7075865 B2 JP 7075865B2 JP 2018195776 A JP2018195776 A JP 2018195776A JP 2018195776 A JP2018195776 A JP 2018195776A JP 7075865 B2 JP7075865 B2 JP 7075865B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light receiving
unit
liquid sample
ultrasonic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018195776A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2020063980A (ja
Inventor
駿介 河野
琢也 神林
利光 野口
彰紘 野島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2018195776A priority Critical patent/JP7075865B2/ja
Priority to US16/654,743 priority patent/US11099128B2/en
Publication of JP2020063980A publication Critical patent/JP2020063980A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7075865B2 publication Critical patent/JP7075865B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/359Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using near infrared light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/49Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
    • G01N21/51Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3577Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing liquids, e.g. polluted water
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/1717Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with a modulation of one or more physical properties of the sample during the optical investigation, e.g. electro-reflectance
    • G01N2021/1729Piezomodulation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
    • G01N21/3518Devices using gas filter correlation techniques; Devices using gas pressure modulation techniques
    • G01N2021/3527Devices using gas filter correlation techniques; Devices using gas pressure modulation techniques and using one filter cell as attenuator

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)

Description

本発明は、光学分析装置、光学分析方法、及び光学分析システムに関する。
細胞の培養や化学合成等の処理を行う反応槽における反応の進行状況を把握するために、反応槽中の液体サンプルに含まれる成分を光学分析する方法が知られている。
例えば、特許文献1には「試料の分離調節のために必要な情報を近赤外線分析装置で測定することで、迅速で効率的にキシレン異性質体分離及び異性化工程を調節及び最適化させる方法及びその装置」が記載されている。
光学分析によれば、液体サンプルを非破壊、非侵襲、即時的に分析可能であるため、分析後のサンプルが再利用可能であり、また分析に要する作業時間を短縮することができる。
ところで、細胞培養液等の液体サンプルは、液体サンプル中に溶解している溶液成分と、溶解していない散乱体成分からなる。例えば、細胞培養液では、溶解している糖類等が溶液成分に相当し、溶解していない細胞等が散乱体成分に相当する。溶液成分及び散乱体成分は、いずれも光学分析が可能であり、液体サンプルの反応の進行状態を表す指標となるため、溶液成分及び散乱体成分の両方を速やかに分析できることが望ましい。
そして従来、液体サンプルの溶液成分を分析するには、液体サンプルを通過した光を用いる方法が知られており、散乱体成分を分析するには、液体サンプル(に含まれる散乱体)にて散乱した光を用いる方法が知られている。
特開平11-310541号公報
上述したように、液体サンプルの溶液成分及び散乱体成分のそれぞれを分析する方法は知られているが、1つの光学分析装置にて液体サンプルの溶液成分及び散乱体成分を速やかに分析することができなかった。
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、液体サンプルの溶液成分及び散乱体成分をより速やかに分析できるようにすることを目的とする。
本願は、上記課題の少なくとも一部を解決する手段を複数含んでいるが、その例を挙げるならば、以下のとおりである。上記課題を解決すべく、本発明の一態様に係る光学分析装置は、液体サンプルに対して光を照射する光源部と、前記光源部から照射され、前記液体サンプルを透過した透過光を受光する第1受光部と、前記光源部から照射され、前記液体サンプルの中の散乱体によって散乱された散乱光を受光する第2受光部と、前記液体サンプルに対して超音波を照射する超音波照射部と、前記超音波照射部から照射され、前記液体サンプルを伝搬した前記超音波を反射する反射板と、前記光源部、前記第1受光部、前記第2受光部、及び前記超音波照射部を制御する制御部と、を備えることを特徴とする。
本発明によれば、液体サンプルの溶液成分及び散乱体成分をより速やかに分析することができる。
上記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
本発明に係る第1の実施形態である光学分析装置10の概要を説明するための図である。 光学分析装置10の構成例を示す図である。 光学分析装置10にて超音波が照射されていない場合を示す図である。 光学分析装置10による分析処理の一例を説明するフローチャートである。 光学分析装置10による分析処理の他の一例を説明するフローチャートである。 本発明に係る第2の実施形態である光学分析システム30の概要を説明するための図である。 光学分析システム30における光学分析装置40の構成例を示す図である。 光学分析装置40にて超音波が照射されていない場合を示す図である。 液体サンプルの流速と決定係数との関係を示す図である。 受光される光の波数と吸光度との関係を示す図である。 本発明に係る第3の実施形態である光学分析装置50の構成例を示す図である。 光学分析装置50による分析処理の一例を説明するフローチャートである。 光学分析装置50による分析処理の他の一例を説明するフローチャートである。
以下に説明する各実施の形態においては便宜上その必要があるときは、複数のセクションまたは実施の形態に分割して説明するが、特に明示した場合を除き、それらはお互いに無関係なものではなく、一方は他方の一部または全部の変形例、詳細、補足説明等の関係にある。また、各実施の形態において、要素の数等(個数、数値、量、範囲等を含む)に言及する場合、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でもよい。
さらに、各実施の形態において、その構成要素(要素ステップ等も含む)は、特に明示した場合および原理的に明らかに必須であると考えられる場合等を除き、必ずしも必須のものではないことは言うまでもない。同様に、各実施の形態において、構成要素等の形状、位置関係等に言及するときは特に明示した場合および原理的に明らかにそうではないと考えられる場合等を除き、実質的にその形状等に近似または類似するもの等を含むものとする。このことは、上記数値および範囲についても同様である。また、各実施の形態を説明するための全図において、同一の部材には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
以下、本発明に係る実施の形態について図面を用いて説明する。
<本発明に係る第1の実施形態である光学分析装置>
図1は、本発明に係る第1の実施形態である光学分析装置10の概要を説明するための図である。
光学分析装置10は、細胞の培養や化学合成等の処理を行っている反応槽1から採取した液体サンプルを分析対象とし、計測セル14(図2)に収容された液体サンプルに対して所定波長の光を照射し、液体サンプルを透過した光や液体サンプルの中の散乱体によって散乱した光の光学分析(例えば、スペクトル解析)を行うことにより、液体サンプルの溶液成分や散乱体成分を計測するものである。なお、光学分析は、スペクトル解析に限らず、他の手法を採用してもよい。
液体サンプルは、例えば、細胞、微生物、菌類等の培養液や、化学合成等の処理を行う液体原料、油滴を含む乳濁液等を想定するが、これらに限定するものではなく、散乱体を含む溶液を液体サンプルとすることができる。
<光学分析装置10の構成例>
次に、図2は、光学分析装置10の構成例を示している。光学分析装置10は、光源部11、第1受光部12、第2受光部13、計測セル14、超音波照射部15、反射板16、及び制御部20を備える。なお、XYZ座標系については図示するとおりであり、以降の図面においても同様である。
光源部11は、例えば、ビーム発生装置、レーザ発生装置、LED(light emitting diode)等からなる。ただし、所定波長の光を照射できるものであれば他の装置を採用してもよい。光源部11は、制御部20からの制御に従い、計測セル14に収容された液体サンプルに対して所定波長の光(例えば、赤外光、近赤外光、可視光、紫外光、X線等)を照射する。
第1受光部12及び第2受光部13は、例えば、光電子増倍管、Siフォトダイオード、InGaAsフォトダイオード、PbS光導電素子等からなる。ただし、受光強度に応じた信号を出力できるものであれば、他の装置を採用してもよい。
第1受光部12は、計測セル14を挟んで光源部11と対向する位置に配置されている。第1受光部12は、制御部20からの制御に従い、光源部11から照射され、計測セル14の中の液体サンプルを透過した光(以下、透過光と称する)を受光し、受光結果を制御部20に出力する。
第2受光部13は、計測セル14が有する2面のYZ面のうち、光源部11に近い方のYZ面よりも光源部11側に設置されている。第2受光部13は、制御部20からの制御に従い、光源部11から照射され、計測セル14に収容された液体サンプルに含まれる散乱体によって散乱した光(以下、散乱光と称する)を受光し、受光結果を制御部20に出力する。
計測セル14は、液体サンプルを保持するための直方体の容器であり、光源部11からの光を透過する材料、例えば、石英ガラスやアクリル等の物質から形成される。計測セル14が有する2面のXY面のうち、上側のXY面には、液体サンプルを導入するための導入口17が設けられている。なお、計測セル14の全体を箱等に入れて外光を遮光し、光源部11が光を照射する位置と、第1受光部12が透過光を受光する位置と、第2受光部13が反射光を受光する位置とにだけ光を通すための開口を当該箱に形成するようにしてもよい。
超音波照射部15は、例えば、PZT等の圧電セラミックス素子、P(VDF-TrFE)素子、ZnO素子等からなる。ただし、超音波を照射できるものであれば、他の素子を採用してもよい。超音波照射部15は、計測セル14が有する2面のXZ面のうちの一方の外側(内側でもよい)に接着されている。超音波照射部15は、制御部20からの制御に従い、計測セル14に収容された液体サンプルに対してY軸方向に超音波を照射する。
反射板16は、超音波を反射する金属板等からなる。反射板16は、計測セル14が有する2面のXZ面のうちの超音波照射部15が接着されていない方のXZ面の外側(内側でもよい)に接着されている。反射板16は、超音波照射部15から照射された超音波をY軸方向に反射する。
制御部20は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、メモリ、通信インターフェース、ハードディスク、ディスプレイ等を備えるコンピュータからなる。制御部20は、光源部11、第1受光部12、第2受光部、及び超音波照射部15を制御する。
また、制御部20は、第1受光部12から入力される透過光の受光結果に基づき、液体サンプルの溶液成分を分析する。また、制御部20は、第2受光部13から入力される散乱光の受光結果に基づき、液体サンプルの散乱体成分を分析する。さらに、制御部20は、分析結果をハードディスク等の記憶装置に保存したり、ディスプレイに表示したり、外部の装置に出力したりする。なお、制御部20にて、液体サンプルの溶液成分や散乱体成分を分析せず、第1受光部12から入力される透過光の受光結果、及び第2受光部13から入力される散乱光の受光結果を外部の装置(例えば、ネットワーク上のサーバ等)に送信して分析させるようにしてもよい。
なお、図2は、光学分析装置10にて超音波照射部15から超音波が照射されている場合を示している。この場合、計測セル14に収容された液体サンプルには、超音波照射部15からの超音波と、それが反射板16にて反射した超音波とが互いに干渉して定在波が生じ、Y軸に垂直な等間隔で複数のXZ面にはその節が出現する。そして、定在波の節には音響放射力によって液体サンプルの中の散乱体18が凝集した状態となる。
超音波の定在波の節の間隔は、超音波の周波数や液体サンプル中の音速等に依存する。例えば、液体サンプル中の音速が1500m/s、超音波の周波数が1MHzである場合、節の間隔は超音波の半波長である0.75mmとなり、超音波照射部15と反射板16の間隔はその整数倍である必要がある。ただし、定在波が形成される条件は、計測セル14、超音波照射部15、反射板16等の物性値や、制御部20と超音波照射部15とを繋ぐ信号ケーブルのインピーダンス等にも依存する。そのため、光学分析を行い前に予め実験を行い、照射する超音波の周波数の微調整等を行い、目視等によって定在波の形成を確認し、超音波の照射条件を決定することが望ましい。超音波の照射により散乱体18が凝集すると、液体サンプルの中に散乱体18の数が少ない透明領域が形成され、光源部11から照射された光の多くが、液体サンプルをX軸方向に透過し、第1受光部12に到達できるようになる。
次に、図3は、光学分析装置10にて超音波照射部15から超音波が照射されていない場合を示している。この場合、計測セル14の中の液体サンプルには定在波が生じないので、液体サンプル内の散乱体18は凝集せずに分散している状態となる。したがって、光源部11からの光の多くは、分散した散乱体18にて散乱(反射)し、その散乱光は第2受光部13に到達することができる。
<光学分析装置10による分析処理>
次に、図4は、光学分析装置10による分析処理の一例(以下、第1の分析処理と称する)を説明するフローチャートである。この第1の分析処理は、例えばユーザからの所定の操作に応じて開始される。
はじめに、ユーザが反応槽1から液体サンプルを採取し、液体サンプルを導入口17から計測セル14に導入する(ステップS1)。なお、反応槽1から採取した液体サンプルには散乱体が含まれており、散乱体は時間の経過に伴って溶液サンプル中に均等に分散するものとする。
次に、光源部11が、制御部20からの制御に従い、計測セル14に収容された液体サンプルに対して所定波長の光の照射を開始する。そして、第2受光部13が、制御部20からの制御に従い、光源部11から照射され、計測セル14の中の液体サンプルにて反射した散乱光の受光を開始し、受光結果を制御部20に出力する(ステップS2)。
次に、制御部20が、第2受光部13からの受光結果に基づき、第2受光部13における散乱光の受光量が、予め行った実験に基づいて定めた所定の第2閾値以上であるか否かを判定する(ステップS3)。ここで、制御部20が、散乱光の受光量が所定の第2閾値未満であると判定した場合(ステップS3でNO)、液体サンプルの中の散乱体が十分に分散していない状態であるので、散乱光の受光量が所定の第2閾値以上であると判定できるまで第2受光部13からの受光結果の監視を継続する。その後、制御部20が、散乱光の受光量が所定の第2閾値以上であると判定した場合(ステップS3でYES)、処理はステップS4に進められる。
次に、制御部20が、第2受光部13からの散乱光の受光結果に基づき、液体サンプルの散乱体成分を分析し、分析結果をハードディスク等に保存したり、ディスプレイに表示したり、外部の装置に出力したりする(ステップS4)。なお、制御部20が、受光結果を外部の装置に出力するようにしてもよい。
次に、超音波照射部15が、制御部20からの制御に従い、計測セル14の中の液体サンプルに対して超音波の照射を開始する(ステップS5)。これにより、計測セル14の中の液体サンプルには、超音波の定在波が発生し、その節には散乱体18が凝集し始める。
次に、第1受光部12が、制御部20からの制御に従い、光源部11から照射され、計測セル14に収容された液体サンプルを透過した透過光の受光を開始し、受光結果を制御部20に出力する。そして、制御部20が、第1受光部12からの受光結果に基づき、第1受光部12における透過光の受光量が、予め行った実験に基づいて定めた所定の第1閾値以上であるか否かを判定する(ステップS6)。
ここで、制御部20が、透過光の受光量が所定の第1閾値未満であると判定した場合(ステップS6でNO)、液体サンプルの中の散乱体は十分に凝集していない状態であるので、液体サンプルの中の散乱体がより凝集し易くなるように、超音波照射部15が、制御部20からの制御に従い、超音波の照射条件(例えば、出力強度や周波数等)を変更する(ステップS7)。この後、処理はステップS6に戻り、制御部20が透過光の受光量が所定の第1閾値以上であると判定するまで、ステップS6,S7が繰り返される。そして、制御部20が、透過光の受光量が所定の第1閾値以上であると判定した場合(ステップS6でYES)、処理はステップS8に進められる。
次に、制御部20が、第1受光部12からの透過光の受光結果に基づき、液体サンプルの溶液成分を分析し、分析結果をハードディスク等に保存したり、ディスプレイに表示したり、外部の装置に出力したりする(ステップS8)。なお、制御部20が、受光結果を外部の装置に出力するようにしてもよい。
以上で、光学分析装置10による第1の分析処理は終了される。第1の分析処理によれば、液体サンプルの散乱体成分及び溶液成分を連続的に速やかに分析することができる。また、散乱光や透過光の受光量が所定の閾値以上となってから分析を行うので、より精度の高い光学分析ができる。さらに、1台の光学分析装置10によって液体サンプルの散乱体成分及び溶液成分の両方を分析できるので、2台の光学分析装置を用いる場合に比べて、装置の規模や、各構成要素の必要数を半分に減らすことができる。
次に、図5は、光学分析装置10による分析処理の他の一例(以下、第2の分析処理と称する)を説明するフローチャートである。この第2の分析処理は、例えばユーザからの所定の操作に応じて開始される。
はじめに、ユーザが反応槽1から液体サンプルを採取し、液体サンプルを導入口17から計測セル14に導入する(ステップS11)。なお、反応槽1から採取した液体サンプルには散乱体が含まれており、散乱体は時間の経過に伴って溶液サンプル中に均等に分散するものとする。
次に、超音波照射部15が、制御部20からの制御に従い、計測セル14に収容された液体サンプルに対して超音波の照射を開始する。これにより、計測セル14の中の液体サンプルには、超音波の定在波が発生し、その節には散乱体18が凝集し始める。これと同時に、光源部11が、制御部20からの制御に従い、計測セル14に収容された液体サンプルに対して所定波長の光の照射を開始する。そして、第1受光部12が、制御部20からの制御に従い、光源部11から照射され、計測セル14の中の液体サンプルを透過した透過光の受光を開始し、受光結果を制御部20に出力する(ステップS12)。
次に、制御部20が、第1受光部12からの受光結果に基づき、第1受光部12における透過光の受光量が、予め行った実験に基づいて定めた所定の第1閾値以上であるか否かを判定する(ステップS13)。
ここで、制御部20が、透過光の受光量が所定の第1閾値未満であると判定した場合(ステップS13でNO)、液体サンプルの中の散乱体は十分に凝集していない状態であるので、液体サンプルの中の散乱体がより凝集し易くなるように、超音波照射部15が、制御部20からの制御に従い、超音波の照射条件(例えば、出力強度や周波数等)を変更する(ステップS14)。この後、処理はステップS13に戻り、制御部20が、透過光の受光量が所定の第1閾値以上であると判定するまで、ステップS13,S14が繰り返される。そして、制御部20が、透過光の受光量が所定の第1閾値以上であると判定した場合(ステップS13でYES)、処理はステップS15に進められる。
次に、制御部20が、第1受光部12からの透過光の受光結果に基づき、液体サンプルの溶液成分を分析し、分析結果をハードディスク等に保存したり、ディスプレイに表示したり、外部の装置に出力したりする(ステップS15)。なお、制御部20が、受光結果を外部の装置に出力するようにしてもよい。
次に、超音波照射部15が、制御部20からの制御に従い、超音波の照射を停止する(ステップS16)。これにより、計測セル14に収容された液体サンプルにおける超音波の定在波が消えて、液体サンプルの中で散乱体18が分散し始める。
次に、第2受光部13が、制御部20からの制御に従い、光源部11から照射され、計測セル14の中の液体サンプルの散乱体によって散乱した散乱光の受光を開始し、受光結果を制御部20に出力する。そして、制御部20が、第2受光部13からの受光結果に基づき、第2受光部13における散乱光の受光量が、予め行った実験に基づいて定めた所定の第2閾値以上であるか否かを判定する(ステップS17)。
ここで、制御部20が、散乱光の受光量が所定の第2閾値未満であると判定した場合(ステップS17でNO)、液体サンプルの中の散乱体は十分に分散していない状態であるので、散乱光の受光量が所定の第2閾値以上であると判定できるまで第2受光部13からの受光結果の監視を継続する。その後、制御部20が散乱光の受光量が所定の第2閾値以上であると判定した場合(ステップS17でYES)、処理はステップS18に進められる。
次に、制御部20が、第2受光部13からの散乱光の受光結果に基づき、液体サンプルの散乱体成分を分析し、分析結果をハードディスク等に保存したり、ディスプレイに表示したり、外部の装置に出力したりする(ステップS18)。なお、制御部20が、受光結果を外部の装置に出力するようにしてもよい。
以上で、光学分析装置10による第2の分析処理は終了される。第2の分析処理によれば、液体サンプルの散乱体成分及び溶液成分を連続的に速やかに分析することができる。また、1台の光学分析装置10によって液体サンプルの散乱体成分及び溶液成分の両方を分析できるので、2台の光学分析装置を用いる場合に比べて、装置の規模や、各構成要素の必要数を半分に減らすことができる。
なお、第1及び第2の分析処理を比較した場合、第1の分析処理の方が、サンプル液体における散乱体が十分に分散するまでの待機時間(図4のステップS3、図5のステップS17)が短くなる。よって、第1の分析処理は、第2の分析処理よりも、短時間で一連の分析処理を終了することができる。
<本発明に係る第2の実施形態である光学分析システム>
次に、図6は、本発明に係る第2の実施形態である光学分析システム30の概要を説明するための図である。
光学分析システム30は、細胞の培養や化学合成等の処理を行う反応槽31と光学分析装置40とが配管33及びポンプ34を介して接続されている。よって、光学分析装置10(図2)が停まっている状態の液体サンプルを分析対象としていたのに対し、光学分析システム30は、ポンプ34によって循環されている状態の液体サンプルを分析対象とする。
そして、光学分析装置40は光学分析装置10(図2)と同様に、液体サンプルの溶液成分や散乱体成分を計測する。したがって、光学分析システム30は、流速を止めることが望ましくない液体サンプルを分析する場合に用いて好適である。ただし、光学分析装置40にて分析処理を行う間、ポンプ34を停止して液体サンプルの循環を停止するようにしてもよい。また、光学分析装置40にて分析処理を行った後、ポンプ34を停止して液体サンプルの循環を停止するようにしてもよい。
<光学分析装置40の構成例>
次に、図7は、光学分析装置40の構成例を示している。光学分析装置40は、光学分析装置10(図2)から導入口17をなくし、導入口41及び排出口42を追加したものである。なお、光学分析装置40の構成要素のうち、光学分析装置10の構成要素と共通するものについては同一の符号を付し、その説明を適宜省略する。
光学分析装置40は、導入口41及び配管33を介して反応槽31の流出口32(図6)に接続されている。また、光学分析装置40は、排出口42、配管33、及びポンプ34を介して反応槽31の流入口35(図6)に接続されている。よって、ポンプ34が駆動されることにより、光学分析装置40には、所定の流速を有する液体サンプルが導入口41から導入され、排出口42から排出される。
配管33の材料は、耐熱性、耐圧性、機械的な強度が高く、洗浄、滅菌等が容易であり、反応槽31の中の物質に対して非侵襲であるものが望ましい。
なお、図7は、光学分析装置40にて超音波照射部15から超音波が照射されている場合を示しており、計測セル14に収容された液体サンプルには定在波が発生し、その節には散乱体18が凝集した状態となる。
次に、図8は、光学分析装置40にて超音波照射部15から超音波が照射されていない場合を示しており、計測セル14に収容された液体サンプルは散乱体18が分散した状態となる。
<光学分析システム30による分析処理>
光学分析システム30による分析処理については、ポンプ34によって液体サンプルを循環させること以外、上述した第1の分析処理(図4)、または第2の分析処理(図5)と同様に実行することができる。
よって、光学分析システム30による分析処理によれば、液体サンプルの散乱体成分及び溶液成分を連続的に速やかに分析することができる。また、1台の光学分析装置10によって液体サンプルの散乱体成分及び溶液成分の両方を分析できるので、2台の光学分析装置を用いる場合に比べて、装置の規模や、各構成要素の必要数を半分に減らすことができる。
また、光学分析システム30の場合、液体サンプルを採取する手間を省くことができるともに、採取の際に発生し得るコンタミネーション(異物混入等)を抑止することができる。
ただし、液体サンプルを循環させる流速が速過ぎると散乱体が凝集できず液体サンプルに透明領域が形成されないので、溶液成分の正確な分析を行うことができない。よって、適切な流速となるようにポンプ34の駆動を調整する必要がある。
次に、図9は、液体サンプルの流速と、第1受光部12による受光結果に基づく溶液成分の分析精度との関係の一例を表す図である。同図の横軸は液体サンプルの流速を表し、縦軸は決定係数R(validation)を表している。
決定係数Rは、分析精度を表す指標値の一種として予測値と真値との相関係数を0以上1以下の値として表している。一般的に、決定係数Rが0.85以上である場合には分析精度が高いと判断することができる。
同図の例は、液体サンプルの溶媒を純水、溶質をグルコース(濃度:0~100[mm/L]とし、散乱体に直径3[μm]のポリスチレン粒子(濃度は1.7×10[個/ml])を採用した。また、光源部11からの照射光は近赤外光、照射光が液体サンプルを透過する距離(光路長)は1[mm]、超音波の周波数は2.02[MHz]とし、液体サンプルの流速を0~3[mm/s]の範囲で変化させている。
同図に白丸で示すように、超音波を照射していない場合は流速に拘わらず、液体サンプルの中で散乱体が分散しており、照射光を透過させ難くしているため、決定係数Rが0.85未満(0.3以下)となり、精度の高い溶液成分の分析が不可能であることが分かる。また、同図に黒丸で示すように、超音波を照射している場合、流速0~2.5[mm/s]の範囲では散乱体が凝集して液体サンプルの中に透明領域を形成し、照射光を透過させ易くしているため、決定係数Rが0.85以上となり、流速2.5[mm/s]までは精度の高い溶液成分の分析が可能であることが分かる。
したがって、ポンプ34による液体サンプルの循環は流速2.5[mm/s]程度までに留めることが望ましい。
次に、図10は、第1受光部12及び第2受光部13にて受光される光のスペクトルの一例を表す図である。同図の横軸は液体サンプルの波数を表し、縦軸は吸収度を表している。
同図の例は、図9と同様の液体サンプルを用いて、液体サンプルの流速が0[mm/s]である場合を示している。
同図に示す破線は、超音波照射部15が超音波を照射しており、超音波の定在波によって散乱体が凝集して照射光が透過し易いときの第1受光部12によって受光される透過光のスペクトルを表している。同図に示す実線は、超音波照射部15が超音波の照射を停止しており、超音波の定在波が存在せず、散乱体が分散して照射光が反射され易いときの第2受光部13によって受光される散乱光のスペクトルを表している。
破線と実線を比較して明らかなように、透過光のスペクトルと散乱光のスペクトルとは明確に形状が異なるので、それぞれから異なる成分の情報、すなわち、溶液成分の情報と散乱体成分の情報とを得られることが分かる。
<本発明に係る第3の実施形態である光学分析装置>
次に、図11は、本発明に係る第3の実施形態である光学分析装置50の構成例を示している。
光学分析装置50は、光学分析装置10(図2)の第1受光部12及び第2受光部13の一方(同図の場合、第1受光部12)が他方(同図の場合、第2受光部13)を兼ねるように可動式とし、その一方を移動させるための移動部51を追加し、他方を省略したものである。移動部51は、例えば、モータ、レール、ベルト、ギア等の機械構造により実現できる。移動部51は、制御部20からの制御に従い、第1受光部12及び第2受光部13の一方を、元の位置から、他方があった位置まで移動させ、また元の位置まで戻すことができる。
なお、光学分析装置50の構成要素のうち、光学分析装置10の構成要素と共通するものについては同一の符号を付し、その説明を適宜省略する。
<光学分析装置50による分析処理>
次に、図12は、光学分析装置50による分析処理の一例(以下、第1の分析処理と称する)を説明するフローチャートである。光学分析装置50による第1の分析処理は、光学分析装置10(図2)による第1の分析処理(図4)におけるステップS1とステップS2との間にステップS21を追加するとともに、ステップS4とステップS5との間にステップS22を追加したものである。よって、光学分析装置50による第1の分析処理におけるステップS21,S22以外の各ステップについては、光学分析装置10(図2)による第1の分析処理(図4)と同様なのでその説明は適宜省略する。
はじめに、ユーザによってステップS1が行われた後、移動部51が、制御部20からの制御に従い、第1受光部12を、散乱光を受光できる位置(光学分析装置10(図2)にて第2受光部13があった位置)に移動させる(ステップS21)。なお、既に第1受光部12を、散乱光を受光できる位置に移動されている場合、ステップS21は省略することができる。
次に、ステップS2~S4が行われて、液体サンプルの散乱体成分が分析され、分析結果が保存されたり、ディスプレイに表示されたり、外部の装置に出力されたりする。
次に、移動部51が、制御部20からの制御に従い、第1受光部12を、透過光を受光できる元の位置(光学分析装置10(図2)にて第1受光部12があった位置)に移動させる(ステップS22)。
次に、ステップS5~S8が行われて、液体サンプルの溶液成分が分析され、分析結果が保存されたり、ディスプレイに表示されたり、外部の装置に出力されたりする。
以上で、光学分析装置50による第1の分析処理は終了される。第1の分析処理によれば、液体サンプルの散乱体成分及び溶液成分を連続的に速やかに分析することができる。また、散乱光や透過光の受光量が所定の閾値以上となってから分析を行うので、より精度の高い光学分析ができる。さらに、光学分析装置10に比べて、受光部の数を1台に減らすことができる。
次に、図13は、光学分析装置50による分析処理の一例(以下、第2の分析処理と称する)を説明するフローチャートである。光学分析装置50による第2の分析処理は、光学分析装置10(図2)による第2の分析処理(図5)におけるステップS11とステップS12との間にステップS31を追加し、ステップS16とステップS17との間にステップS32を追加したものである。よって、光学分析装置50による第2の分析処理におけるステップS31以外の各ステップについては、光学分析装置10(図2)による第2の分析処理(図5)と同様なのでその説明は適宜省略する。
はじめに、ユーザによってステップS11が行われた後、移動部51が、制御部20からの制御に従い、第1受光部12を、透過光を受光できる位置(光学分析装置10(図2)にて第1受光部12があった位置)に移動させる(ステップS31)。なお、既に第1受光部12を、透過光を受光できる位置に移動されている場合、ステップS31は省略することができる。
次に、ステップS12~S16が実行されて、液体サンプルの溶液成分が分析され、分析結果が保存されたり、ディスプレイに表示されたり、外部の装置に出力されたりする。そして、超音波の照射が停止される。
次に、移動部51が、制御部20からの制御に従い、第1受光部12を、散乱光を受光できる位置(光学分析装置10(図2)にて第2受光部13があった位置)に移動させる(ステップS31)。
次に、ステップS17,S18が行われて、液体サンプルの散乱体成分が分析され、分析結果が保存されたり、ディスプレイに表示されたり、外部の装置に出力されたりする。
以上で、光学分析装置50による第2の分析処理は終了される。第2の分析処理によれば、液体サンプルの散乱体成分及び溶液成分を連続的に速やかに分析することができる。また、散乱光や透過光の受光量が所定の閾値以上となってから分析を行うので、より精度の高い光学分析ができる。さらに、光学分析装置10に比べて、受光部の数を半減させることができる。
なお、光学分析装置50においても、光学分析装置10と同様に、第1の分析処理の方が第2の分析処理よりも、短時間で一連の処理を終了することができる。
また、光学分析装置10による第1の分析処理と光学分析装置50による第1の分析処理とを比較した場合、光学分析装置10の方が第1受光部12の移動時間が必要ない分だけ、光学分析装置50よりも短時間で一連の処理を終了することができる。
<変形例>
光学分析装置40(図7)において、光学分析装置50(図11)と同様に、第1受光部12を移動させるための移動部51を追加し、第2受光部13を省略してもよい。
なお、本発明は、上述した各実施の形態に限定されるものではなく、様々な変形が可能である。例えば、上述した各実施の形態は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施の形態の構成の一部を他の実施の形態の構成に置き換えたり、追加したりすることが可能である。
また、上記の各構成、機能、処理部、処理手段等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等によりハードウェアで実現してもよい。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリや、ハードディスク、SSD(Solid State Drive)等の記録装置、または、ICカード、SDカード、DVD等の記録媒体に置くことができる。
また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
10・・・光学分析装置、11・・・光源部、12・・・第1受光部、13・・・第2受光部、14・・・計測セル、15・・・超音波照射部、16・・・反射板、17・・・導入口、18・・・散乱体、20・・・制御部、30・・・光学分析システム、31・・・反応槽、32・・・流出口、33・・・配管、34・・・ポンプ、35・・・流入口、40・・・光学分析装置、41・・・導入口、42・・・排出口、50・・・光学分析装置、51・・・移動部

Claims (12)

  1. 液体サンプルに対して光を照射する光源部と、
    前記光源部から照射され、前記液体サンプルを透過した透過光を受光する第1受光部と、
    前記光源部から照射され、前記液体サンプルの中の散乱体によって散乱された散乱光を受光する第2受光部と、
    前記液体サンプルに対して超音波を照射する超音波照射部と、
    前記超音波照射部から照射され、前記液体サンプルを伝搬した前記超音波を反射する反射板と、
    前記光源部、前記第1受光部、前記第2受光部、及び前記超音波照射部を制御する制御部と、を備え
    前記光源部による前記光の照射方向と、前記超音波照射部による前記超音波の照射方向とは直交し、
    前記制御部は、
    前記超音波照射部から前記超音波を照射させていない状態で前記第2受光部から前記散乱光の受光結果を取得し、
    前記超音波照射部から前記超音波を照射させている状態で前記第1受光部から前記透過光の受光結果を取得する
    ことを特徴とする光学分析装置。
  2. 請求項に記載の光学分析装置であって、
    前記制御部は、前記超音波照射部から前記超音波を照射させていない状態で前記第2受光部から取得した前記散乱光の受光結果が表す受光強度が所定の第2閾値未満である場合、前記散乱光の受光結果が表す受光強度が前記所定の第2閾値以上となるまで待機する
    ことを特徴とする光学分析装置。
  3. 請求項に記載の光学分析装置であって、
    前記制御部は、前記超音波照射部から前記超音波を照射させていない状態で前記第2受光部から取得した前記散乱光の受光結果が表す受光強度が所定の第2閾値未満である場合、前記散乱光の受光結果が表す受光強度が前記所定の第2閾値以上となるまで待機し、前記散乱光の受光結果が表す受光強度が前記所定の第2閾値以上となった状態の受光結果に基づいて、前記液体サンプルの散乱体成分を分析する
    ことを特徴とする光学分析装置。
  4. 請求項に記載の光学分析装置であって、
    前記制御部は、前記超音波照射部から前記超音波を照射させている状態で前記第1受光部から取得した前記透過光の受光結果が表す受光強度が所定の第1閾値未満である場合、前記透過光の受光結果が表す受光強度が前記所定の第1閾値以上となるように、前記超音波照射部による前記超音波の照射条件を変更する
    ことを特徴とする光学分析装置。
  5. 請求項に記載の光学分析装置であって、
    前記制御部は、前記超音波照射部から前記超音波を照射させている状態で前記第1受光部から取得した前記透過光の受光結果が表す受光強度が所定の第1閾値未満である場合、前記透過光の受光結果が表す受光強度が前記所定の第1閾値以上となるように、前記超音波照射部による前記超音波の照射条件を変更し、前記透過光の受光結果が表す受光強度が前記所定の第1閾値以上となった状態の受光結果に基づいて、前記液体サンプルの溶液成分を分析する
    ことを特徴とする光学分析装置。
  6. 請求項に記載の光学分析装置であって、
    前記制御部は、
    前記超音波照射部から前記超音波を照射させていない状態で前記第2受光部から前記散乱光の受光結果を取得した後、
    前記超音波照射部から前記超音波の照射を開始させた状態で前記第1受光部から前記透過光の受光結果を取得する
    ことを特徴とする光学分析装置。
  7. 請求項に記載の光学分析装置であって、
    前記制御部は、
    前記超音波照射部から前記超音波を照射させた状態で前記第1受光部から前記透過光の受光結果を取得した後、
    前記超音波照射部から前記超音波の照射を停止させた状態で前記第2受光部から前記散乱光の受光結果を取得する
    ことを特徴とする光学分析装置。
  8. 請求項1に記載の光学分析装置であって、
    前記第1受光部及び前記第2受光部の一方は他方を兼ね、
    前記一方の位置を移動させる移動部を、備える
    ことを特徴とする光学分析装置。
  9. 請求項1に記載の光学分析装置であって、
    前記液体サンプルが収容される計測セルを、備え、
    前記計測セルは、
    前記液体サンプルを導入する導入口と、
    前記液体サンプルを排出する排出口と、を有する
    ことを特徴とする光学分析装置。
  10. 光学分析方法であって、
    液体サンプルに対して光を照射する光照射ステップと、
    前記液体サンプルに対して超音波を照射する超音波照射ステップと、
    前記超音波が照射されている状態で照射された前記光が前記液体サンプルを透過した透過光を受光する第1受光ステップと、
    前記超音波が照射されていない状態で照射された前記光が前記液体サンプルの中の散乱体によって散乱された散乱光を受光する第2受光ステップと、
    み、
    前記光照射ステップにおける前記光の照射方向と、前記超音波照射ステップにおける前記超音波の照射方向とは直交する
    ことを特徴とする光学分析方法。
  11. 請求項10に記載の光学分析方法であって、
    前記液体サンプルが蓄積される反応槽と、前記液体サンプルが収容される計測セルとの間で前記液体サンプルを循環させる循環ステップを、
    含むことを特徴とする光学分析方法。
  12. 液体サンプルが蓄積される反応槽と、
    配管を介して前記液体サンプルが循環可能に前記反応槽と接続された光学分析装置と、
    を備え、
    前記光学分析装置は、
    液体サンプルに対して光を照射する光源部と、
    前記光源部から照射され、前記液体サンプルを透過した透過光を受光する第1受光部と、
    前記光源部から照射され、前記液体サンプルの中の散乱体によって散乱された散乱光を受光する第2受光部と、
    前記液体サンプルに対して超音波を照射する超音波照射部と、
    前記超音波照射部から照射され、前記液体サンプルを伝搬した前記超音波を反射する反射板と、
    前記光源部、前記第1受光部、前記第2受光部、及び前記超音波照射部を制御する制御部と、を有し、
    前記光源部による前記光の照射方向と、前記超音波照射部による前記超音波の照射方向とは直交し、
    前記制御部は、
    前記超音波照射部から前記超音波を照射させていない状態で前記第2受光部から前記散乱光の受光結果を取得し、
    前記超音波照射部から前記超音波を照射させている状態で前記第1受光部から前記透過光の受光結果を取得し、
    前記反応槽は、
    前記液体サンプルを前記配管を介して前記光学分析装置に供給する流出口と、
    前記光学分析装置から排出される前記液体サンプルが前記配管を介して流入される流入口と、を有する
    ことを特徴とする光学分析システム。
JP2018195776A 2018-10-17 2018-10-17 光学分析装置、光学分析方法、及び光学分析システム Active JP7075865B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018195776A JP7075865B2 (ja) 2018-10-17 2018-10-17 光学分析装置、光学分析方法、及び光学分析システム
US16/654,743 US11099128B2 (en) 2018-10-17 2019-10-16 Optical analysis device, optical analysis method, and optical analysis

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018195776A JP7075865B2 (ja) 2018-10-17 2018-10-17 光学分析装置、光学分析方法、及び光学分析システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020063980A JP2020063980A (ja) 2020-04-23
JP7075865B2 true JP7075865B2 (ja) 2022-05-26

Family

ID=70279148

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018195776A Active JP7075865B2 (ja) 2018-10-17 2018-10-17 光学分析装置、光学分析方法、及び光学分析システム

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11099128B2 (ja)
JP (1) JP7075865B2 (ja)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000199744A (ja) 1999-01-06 2000-07-18 Hitachi Ltd 分析装置および分析方法
JP2010223756A (ja) 2009-03-24 2010-10-07 Fujifilm Corp 凝集反応を利用した測定装置および測定方法
JP2015051008A (ja) 2012-03-30 2015-03-19 公益財団法人神奈川科学技術アカデミー イメージングセルソーター
JP2017129532A (ja) 2016-01-22 2017-07-27 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及びその散乱光測定光学系評価用標準液
WO2018034343A1 (ja) 2016-08-19 2018-02-22 国立大学法人香川大学 光学特性測定装置及び光学特性測定方法
JP2018096891A (ja) 2016-12-15 2018-06-21 株式会社日立製作所 光分析システム、及び光分析方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61226641A (ja) * 1985-03-30 1986-10-08 Shizuoka Pref Gov 懸濁状バルブの叩解程度測定方法
KR100277721B1 (ko) 1998-03-24 2001-01-15 남창우 근적외선분석시스템을이용한자이렌이성질체분리및이성화공정의조절및최적화방법및그장치
EP1998161A1 (en) * 2007-05-29 2008-12-03 The Technical University of Denmark (DTU) Acoustic resonator cell for spectroscopic analysis of a compound in a fluid

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000199744A (ja) 1999-01-06 2000-07-18 Hitachi Ltd 分析装置および分析方法
JP2010223756A (ja) 2009-03-24 2010-10-07 Fujifilm Corp 凝集反応を利用した測定装置および測定方法
JP2015051008A (ja) 2012-03-30 2015-03-19 公益財団法人神奈川科学技術アカデミー イメージングセルソーター
JP2017129532A (ja) 2016-01-22 2017-07-27 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置及びその散乱光測定光学系評価用標準液
WO2018034343A1 (ja) 2016-08-19 2018-02-22 国立大学法人香川大学 光学特性測定装置及び光学特性測定方法
JP2018096891A (ja) 2016-12-15 2018-06-21 株式会社日立製作所 光分析システム、及び光分析方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20200124526A1 (en) 2020-04-23
JP2020063980A (ja) 2020-04-23
US11099128B2 (en) 2021-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5350810B2 (ja) 自動分析装置及び自動分析方法
JP5740264B2 (ja) 自動分析装置及び分析方法
CN104198388B (zh) 一种基于复合光谱测量的在线水质监测装置
JP5948173B2 (ja) 自動分析装置及び自動分析方法
JP6567873B2 (ja) 自動分析装置
JP5216051B2 (ja) 自動分析装置および自動分析方法
JP7232696B2 (ja) 光分析方法および光分析システム
EP2988111B1 (en) Analyzer and automatic analyzer
Kalb et al. Line-focused optical excitation of parallel acoustic focused sample streams for high volumetric and analytical rate flow cytometry
JP2008008794A (ja) 分析装置
JP6705739B2 (ja) 光分析システム、及び光分析方法
Koç et al. History of spectroscopy and modern micromachined disposable Si ATR-IR spectroscopy
US8139210B2 (en) Real-time monitoring apparatus for biochemical reaction
JP7075865B2 (ja) 光学分析装置、光学分析方法、及び光学分析システム
JP2014137319A (ja) 自動分析装置
JP3944660B2 (ja) 化学分析装置
JP7017472B2 (ja) 分析セル、及び分析ユニット
Schwarz et al. Investigations on the capability of the statistical extinction method for the determination of mean particle sizes in concentrated particle systems
JP2011064702A (ja) 検体の光情報認識装置およびその認識方法
JP6031552B2 (ja) 自動分析装置及び分析方法
RU2371703C1 (ru) Фотометр
EP4134670A1 (en) A hematology analyzer comprising a single hardware module and integrated workflow
KR20180082233A (ko) 유동 유체 내의 나노입자 거동 예측 방법 및 장치
JP6657016B2 (ja) 自動分析装置
Robertson Methods of in-situ monitoring of suspension polymerisation for process understanding and optimisation

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210427

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220308

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220413

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220510

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220516

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7075865

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151