JP7035122B2 - 光干渉断層撮像装置、及び、その調整方法 - Google Patents

Description

本発明は、光干渉断層撮像装置、及び、その調整方法に関し、特に、入射された光束を受光部へ位置合わせする光学系を有する光干渉断層撮像装置、及び、その調整方法に関する。

現在、光干渉断層撮像法（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ、以下、ＯＣＴという。）を用いる撮像装置（以下、ＯＣＴ装置という。）が開発されている。ＯＣＴ装置は、物体へ光を照射し、照射光の波長に応じて物体の異なる深さから戻ってくる反射光と参照光とを干渉させる。ＯＣＴ装置は、干渉光の強度の時間波形（以下、干渉スペクトルという。）に含まれる周波数成分を分析することによって物体の断層に関する情報、具体的には断層像を得ることができる。ＯＣＴ装置は、例えば眼科用の撮像装置として眼底検査等に用いられる。

検査時に被検者の身体的負担を低減するため、測定速度を向上させたＯＣＴ装置として、波長掃引光源を用いたＯＣＴ装置（Ｓｗｅｐｔ Ｓｏｕｒｃｅ ＯＣＴ装置、以下、ＳＳ－ＯＣＴ装置という。）が盛んに開発されている。特許文献１は、ＳＳ－ＯＣＴ装置の一例を開示しており、波長掃引光源として、ファイバーリング共振器及び波長選択フィルタを用いた光源を例示している。

波長掃引光源は、ＳＤ－ＯＣＴ（Ｓｐｅｃｔｒａｌ Ｄｏｍａｉｎ ＯＣＴ装置）に用いられている広帯域な波長帯域を有する低コヒーレンス光源と比較して、波長が時間と共に変動する動的な特徴を有している。そのため、一般的にノイズが多い光源であることが知られている。そのため、ＳＳ－ＯＣＴ装置では干渉光の受光感度を向上させるために、干渉信号を差動検出することが一般的である。

差動検出を行うための干渉光学系において、参照光路の構成の方法として、直接戻る光をサーキュレータによって方向付けるものと、２つの光ファイバを用いて光路を構成するものが知られている。サーキュレータは、広帯域な波長に対し特性を安定させるのが困難であり、かつ、高価であるため、参照光学系の光ファイバの入射端と出射端を別にして参照光を取り出すことが一般的である。

光ファイバのコアは比較的小さい直径であり、光束を出射側光ファイバへ効率的に結合させるためには、光束と出射側光ファイバの位置合わせ（アライメント）を高精度で行わなければならない。特許文献２は、光束を光ファイバへ効率的に結合させるため、出射側光ファイバへ光束を集光させるための焦点距離の絶対値の小さいレンズ要素（以下、強パワレンズ）とそれよりも焦点距離の絶対値が大きい弱レンズ要素（以下、弱パワレンズ）を平行光束路内に配し、弱パワレンズを位置調整することで、光ファイバ出射端に対し、光束を高精度アライメントする方法を開示している。

特開２０１２－１１５５７８号公報 特開２００５－２２２０４９号公報

しかしながら、特許文献２に記載される弱パワレンズをＳＳ－ＯＣＴ装置の参照光学系にそのまま適用すると、光束が弱パワレンズ構成面の頂点近傍を通過することで、多重反射光により干渉信号に非干渉成分（ノイズ成分）が生じ、画質が低下する。また、アライメント後にＳＳ－ＯＣＴ装置が使用される際、環境温度変化に対し、光学構成要素の移動による光束と出射側光ファイバの位置ずれにより、光量損失が生じ、効率的な結合効率の維持が課題となる。

そこで本発明は、装置の環境変化による光学構成要素に起因する結合効率の低下を低減する。

上記目的を達成するため、本発明の光干渉断層撮像装置の調整方法は、入射された光束を受光部へ位置合わせする光学系を有する光干渉断層撮像装置の調整方法において、前記光束を集光するための強パワレンズと前記受光部との前記光束の光軸の方向の距離を変更することにより、前記受光部に前記光束の集光部分の位置合わせを行う位置合わせ工程と、前記受光部と前記強パワレンズの間に配置された弱パワレンズを前記光軸に交差する方向に移動することにより、前記受光部に対する前記集光部分の位置を調整する調整工程とを有することを特徴とする。

本発明によれば、装置の環境変化による光学構成要素に起因する結合効率の低下を低減することが出来る。

本発明に係るＳＳ－ＯＣＴ装置の構成図を示す。 本発明に係るＳＳ－ＯＣＴ装置の参照光学系の構成図を示す。 本発明に係る弱パワレンズと光束の位置関係を示す。 本発明に係るＳＳ－ＯＣＴ装置の光量調整光学系の構成図を示す。

以下、図１乃至４を用いて、本発明の実施例によるＳＳ－ＯＣＴ装置（波長掃引型光干渉断層撮像装置）を説明する。尚、本発明によるＳＳ－ＯＣＴ装置を、被検体の眼底を検査するために用いられるＯＣＴ装置として説明するが、本発明によるＳＳ－ＯＣＴ装置は、眼底検査以外の用途に用いられることができ、例えば臓器等の任意の物体の検査等に用いても良い。

なお、以下の実施例で説明する形状、或いは構成要素の相対的な位置等は任意であり、本発明が適用される装置の構成又は様々な条件に応じて変更できる。また、図面において、同一であるか又は機能的に類似している要素を示すために図面間で同じ参照符号を用いる。

（第一の実施例）
図１は、本発明の第一の実施例に係るＳＳ－ＯＣＴ装置（波長掃引型光干渉断層撮像装置）の構成図である。ＳＳ－ＯＣＴ装置１には、光源部１０と、光量調整光学系２０と、干渉系３０と、測定光学系４０と、参照光学系５０と、検出部６０と、情報取得部７０と、表示部８０とから構成されている。

光源部１０は、光を出射する。光量調整光学系２０は、光源部１０からの光の光量を調整する。干渉系３０は、光量調整された光を照射光と参照光に分割し、被検体Ｅｒからの反射光と参照光を合波して干渉光を生成する。測定光学系４０は、被検体Ｅｒに照射光を照射し、被検体Ｅｒからの反射光を干渉系３０へ出射する。参照光学系５０は、参照光の光路長を調整して出射する。検出部６０は、干渉光を検出する。情報取得部７０は、被検体Ｅｒである眼の眼底情報を取得する。表示部８０は、取得した情報、画像等を表示する。

光源部１０には、出射される光の波長を掃引する波長掃引光源１００と、波長掃引光源１００からの光を光ファイバで伝播し、光量調整光学系２０に入射する光とクロック信号生成部１０２に入射する光に分岐する光ファイバカプラ１０１を有している。クロック生成部１０２は、入射した光源からの光に基づいてクロック信号を生成し、検出部６０に送る。尚、波長掃引光源１００としては、出射される光の波長を掃引することが出来る光源であれば、任意の光源を用いることが出来る。そのため、波長掃引光源１００は、例えば、特許文献１に記載されるファイバーリング共振器、及び、波長選択フィルタを用いた光源であっても良いし、その他の波長掃引レーザ等であっても良い。また、光ファイバカプラ１０１はビームスプリッタ等を用いても良い。以降の構成で挙げられる光ファイバカプラに関しても同様である。

光量調整光学系２０は、光ファイバカプラ光源部１０から出射され、光ファイバで伝播された光を光ファイバカプラ２００により、干渉系３０に入射する光と光量測定部２０１に入射する光に分岐する。光量測定部２０１に入射され測定された光の光量を用いて、被検体Ｅｒに照射される照射光が適切になるよう光量調整を行う。詳細は、図４を用いて後述する。

干渉系３０には、光ファイバカプラ３００、３０１が設けられている。光ファイバカプラ３００は、光ファイバを介して光ファイバカプラ２００、３０１、測定光学系４０、及び参照光学系５０に接続されている。光ファイバカプラ３００は、光量調整光学系２０から出射され、光ファイバで伝播された光を、測定光学系４０へ入射する照射光と参照光学系５０へ入射する参照光に分岐する。照射光は、測定光学系４０を経由して被検体Ｅｒに照射される。被検体Ｅｒによって反射された反射光は測定光学系４０、及び、光ファイバカプラ３００を経由して、光ファイバカプラ３０１へ入射する。一方、参照光は、参照光学系５０を経由し、光ファイバカプラ３０１に入射する。光ファイバカプラ３０１にて、反射光と参照光は干渉し、干渉光となるとともに、一方の位相が反転された位相の異なる２つの光に分岐して検出部６０へ入射する。

測定光学系４０には、レンズ４００、４０１、スキャナ４０２、４０３、及び対物レンズ４０４が設けられている。干渉系３０より光ファイバを伝播して測定光学系４０に入射した照射光は、レンズ４００により平行化される。レンズ４０１は、照射光を被検体Ｅｒに焦点合わせするためのものであり、不図示の駆動部により、光軸方向に移動可能である。この焦点合わせによって、被検体Ｅｒからの反射光は同時に光ファイバ先端（フェルール）にスポット状に結像される。スキャナ４０２、及びスキャナ４０３は、それぞれ回転軸が互いに直交するよう配置されたガルバノミラーであり、照射光を被検体Ｅｒ上で走査することが出来る。スキャナ４０２はＸ方向の走査を行い、スキャナ４０３はＹ方向の走査を行う。被検体Ｅｒに対向して配置された対物レンズを透過して、被検眼Ｅｒに照射光が照射される。被検体Ｅｒに照射された照射光は、眼底において後方散乱光として反射される。眼底からの反射光は測定光学系４０を経由して干渉系３０へ入射する。

参照光学系５０は、図２を用いて後述する。

検出部６０には、検出器６００とＡ／Ｄ変換器６０１が設けられている。検出器６００は、干渉系３０より入射され、光ファイバで伝播された２つの干渉光をそれぞれ検出するとともに、検出した干渉光に基づく干渉信号をＡ／Ｄ変換器６０１に送る。Ａ／Ｄ変換器６０１にはクロック生成部１０２が接続されており、クロック生成部１０２より送られるクロック信号に同期して、干渉信号をサンプリングし、デジタル信号に変換する。デジタル信号に変換された干渉信号は、情報取得部７０に送られる。

情報取得部７０は、検出部６０から受け取ったデジタル信号に対してフーリエ変換などの周波数分析を行い、眼底の情報を得る。また、情報取得部７０は、検出器６００で検出した位相の異なる２つの干渉光に基づく２つの干渉信号の差を取ることで、干渉信号の差動を検出し、干渉信号における眼底情報の信号成分対非干渉成分の信号の比（Ｓ／Ｎ比）を向上することが出来る。情報取得部７０は、得られた眼底の情報を表示部８０に送る。尚、情報取得部７０は、ＣＰＵやＭＰＵなどを備えた任意の情報処理部としてＳＳ－ＯＣＴ装置１内に構成しても良いし、汎用コンピュータを用いて構成しても良い。

表示部８０は受け取った情報を断層像として表示する。尚、表示部８０は、ＳＳ－ＯＣＴ装置１に備え付けられたモニタであっても良いし、ＳＳ－ＯＣＴ装置１に接続された個別のモニタであっても良い。

上記の一連の動作により、ＳＳ－ＯＣＴ装置１は、被検体Ｅｒのある１点における深さ方向の断層に関する情報を取得することが出来る。このように、被検体Ｅｒの深さ（Ｚ）方向の断層情報を取得することをＡスキャンと呼ぶ。このＡスキャンを被検体Ｅｒの横断方向（Ｘ方向）に走査することで、２次元の断層情報を取得することが出来る。この走査をＢスキャンと呼ぶ。Ａスキャン、Ｂスキャンいずれの走査方向とも直交する方向（Ｙ方向）に被検体Ｅｒを走査することで、３次元の断層情報を取得することが出来る。この走査をＣスキャンと呼ぶ。特に、３次元断層情報を取得する際に被検体Ｅｒ眼底面内を２次元ラスタ走査する場合、高速に走査が行われる方向をＢスキャン、相対的に低速で走査が行われる方向をＣスキャンと呼ぶ。Ｂスキャン、及び、Ｃスキャンは上述したスキャナ４０２、４０３により行われる。

図２は、本発明の第一の実施例に係るＳＳ－ＯＣＴ装置の参照光学系５０の構成図を示す。参照光学系５０には、参照光学系５０に入射した参照光を平行化するコリメータレンズ５０２と、光量調整部５１と、ミラー５０３、５０４と、分散補償ガラス５０５と、光路長調整部５２と、集光部５３と、偏光コントローラ５０７が設けられている。

干渉系３０より出射された参照光は、光ファイバ５００により参照光学系５０に伝播され、フェルール（入射側の光ファイバ端）５０１より参照光学系５０に入射される。

光量調整部５２は、透過率可変型ＮＤフィルタ５１０（Ｎｅｕｔｒａｌ Ｄｅｎｓｉｔｙ）と透過率可変型ＮＤフィルタ５１０を回動させるモータ５１１と、モータ５１１と透過率可変型ＮＤフィルタ５１０を接続するシャフト５１２と、透過率可変型ＮＤフィルタ５１０の押え部材５１３で構成される。図２に示すように透過率可変型ＮＤフィルタに入射した参照光は屈折し、ミラー５０３へと透過する。一方、ＮＤフィルタにより生じる多重反射光は、透過率可変型ＮＤフィルタ５１０の入射面が、光軸に垂直な平面に対し傾斜しているため、参照光より偏心して透過しようとするが、押え部材５１３により遮蔽される。検出部６０にて検出される干渉光の干渉強度が適切になるようモータ５１１が駆動され、参照光の光量を調整する。尚、光量調整部はモータに接続された遮蔽板でも良い。

ミラー５０３、５０４により、参照光学系５０内にける参照光の経路をコの字にすることで、効率的に光路長を稼ぐことができ、装置の小型化に有効である。ただし、本発明はこれに限定されず参照光の経路は１直線でも良いし、Ｌ字状、又は、Ｓ字状でも良い。

分散補償ガラス５０５により、参照光の分散を、被検体Ｅｒからの反射光の分散に対応するように補償される。

光路長調整部５２は、プリズム型のレトロリフレクタ５２０が設けられ、不図示のモータにより、図２の矢印方向にレトロリフレクタ５２０を移動可能である。これにより、照射光、及び、測定光が経由する測定光学系４０の光路長、及び、被検体Ｅｒの眼軸長に応じて、参照光学系５０の光路長を調整することが出来る。レトロリフレクタ５２０の入射面が光軸に垂直な平面に対し、傾斜していることで、レトロリフレクタ５２０の正反射光が波長掃引光源１００への戻り光となるのを回避するとともに、多重反射光が結合されるのを回避することが出来る。

光路長調整部５２を経由し、ミラー５０３、５０４で折り返された参照光は、強パワレンズ５３０、及び、弱パワレンズ５３１により構成された集光レンズユニット５３にて、集光され、フェルール（出射側の光ファイバ端）５３２のコアにスポット状に結像される。その後、参照光は、偏光コントローラ５０７にて、測定光に応じて偏光を調整され、光ファイバ５０８を伝播して、干渉系３０へ入射される。

このような参照光学系において、光束を効率的に結合させるため、集光部５３では以下のような調整手段、及び、手順が取られる。本実施例で用いる「弱パワレンズ」、及び、「強パワレンズ」は、レンズの相対的屈折力の強さを表す。すなわち強パワレンズに対して、弱パワレンズの方が焦点距離の絶対値が大きい。

まず、強パワレンズ５３０とフェルール５３２のＸＹＺ３方向のアライメントが行われる。例えば、強パワレンズ５３０の光軸中心に対し、フェルール５３２を光軸に垂直方向の平面の２（ＸＹ）方向をアライメントし、フェルール５３２に対し、強パワレンズ５３０の焦点距離が適切になるよう光軸（Ｚ）方向をアライメントする。このとき、弱パワレンズ５３１は、強パワレンズ５３０とフェルール５３２の間において、弱パワレンズ５３１の光軸中心近傍領域が、強パワレンズ５３０とフェルール５３２の光軸中心近傍領域と重ならないよう（変位状態で）に仮固定されている。強パワレンズ５３０とフェルール５３２のＸＹＺアライメントが完了した後、強パワレンズ５３０とフェルール５３２は、保持部材に対し、恒久的に取り付けられる。光学構成要素の既知の恒久的な取り付け方としては、レーザ溶接、紫外線又は熱で硬化する接着剤、半田付けなどが挙げられるが、これらどの方法においても、その取り付け過程にて光学構成要素の移動が生じる可能性がある。そこで、その後、仮固定しておいた弱パワレンズ５３１をＸＹ方向に移動（変位）させることで、これら光学構成要素の移動により生じる結合効率の損失を補償することが出来る。この時、弱パワレンズの調整により集光レンズユニットの総合焦点距離にも若干の変動が起こりうるが、結合効率に大きな変動は与えない。結果、光束とフェルール５３２の高精度なアライメントが実現される。尚、弱パワレンズ５３１の恒久的な取り付けの際にも、弱パワレンズ５３１の移動が生じることがあり得る。しかしながら、弱パワレンズ５３１はレンズのパワーが小さいため、強パワレンズ５３０、及び、フェルール５３２といったその他光学構成要素に比べ、結合効率に対する影響を無視出来る。強パワレンズ５０２の焦点距離の絶対値と、強パワレンズ５３０と弱パワレンズ５３１の複合焦点距離の絶対値が一致していることが望ましく、２つの焦点距離が一致している場合、フェルール５０１及びフェルール５３２は同一の部材を使用することが出来る。

フェルール５３２はＴＥＣ（Ｔｈｅｒｍａｌｌｙ－ｄｉｆｆｕｓｅｄ Ｅｘｐａｎｄｅｄ Ｃｏｒｅ）加工を施し、コア径を大きくすることにより、フェルール５３２に対する光束のＸＹ方向のずれ許容量を大きくすることが出来る。尚、本実施例中におけるＴＥＣ加工とは、熱処理等により、ファイバのコア径を実質的に拡大させる加工を指す。これにより、ＳＳ－ＯＣＴ装置の使用される環境温度の変化に対して、上記結合効率の維持が可能となる。さらに望ましい構成としては、上記の入射出の光学構成要素の焦点距離を一致させた上、フェルール５０１に対してもＴＥＣ加工を施す構成である。また、フェルール５０１、強パワレンズ５０２と、フェルール５３２、弱パワレンズ５３１、強パワレンズ５３０は同一の保持部材で保持されることで、環境温度の変化に対して、入射側と出射側の相対的な位置ずれ量を低減できる。

図３は、弱パワレンズ５３１と光束の位置関係を示す。弱パワレンズ５３１の光学中心近傍領域Ｄに対し、弱パワレンズ５３１上における光束の径ωは距離Ｒ離間している。光束の中心は強パワレンズ５３０とフェルール５３２の光軸と一致している。弱パワレンズ５３１のＸＹ方向の調整により、光束が移動しうる径Ａと、弱パワレンズ５３１の光学中心近傍領域Ｄが重ならないようにＲを決定する必要がある。弱パワレンズ５３１により生じる多重反射光の光強度を、光束中心の光強度の１％以下に抑えるために必要な距離は、ωの半径の１．５倍に弱パワレンズ５３１のＸＹ方向の調整範囲の片側分を足した数値以上であれば良い。尚、参照光学系５０では、弱パワレンズ５３１に起因する多重反射光による画質の低下を、強パワレンズ５３０とフェルール５３２の光軸に対し、弱パワレンズ５３１の光軸を偏心させることで回避している。更に、強パワレンズ５３０とフェルール５３２の光軸に垂直な平面に対し、弱パワレンズ５３１の光軸に垂直な平面を傾斜させても良い。

（第二の実施例）
次に、本発明の第二の実施例である光量調整光学系２０では傾斜（偏向）させた場合について説明する。

図４は、ＳＳ－ＯＣＴ装置の光源直後に配置される光量調整光学系に本発明を適用した第二の実施形態の構成図である。光量調整光学系２０は、上述の光ファイバカプラ２００、光量測定部２０１に加え、光量調整光学系２０に入射した光を平行化する強パワレンズ２０４と、光量調整部２１と、集光部２２が設けられている。

光源部１０より出射された光は光ファイバ２０２により光量調整光学系２０に伝播され、フェルール（入射端）２０３より光量調整光学系５０に入射される。光量調整部２１を経由し、強パワレンズ２２０、及び、弱パワレンズ２２１により集光され、フェルール２２２のコアにスポット状に結像された光は、光ファイバ２０５を伝播して、光ファイバカプラ２００へ入射される。光量調整部２１は、参照光学系５０における光量調整部５１と同様の構成であるため、説明を省略する。

集光部２２は、参照光学系５０の集光部５３と基本的な構成は同様であるが、弱パワレンズ２２１の配置状態が異なる。集光部５３の弱パワレンズ５３１が、弱パワレンズ５３１の光軸中心近傍領域と、強パワレンズ５３０とフェルール５３２の光軸中心近傍領域と重ならないよう配置されていた。それに対し、集光部２２の弱パワレンズ２２１は、弱パワレンズ２２１の光軸に垂直な平面が、強パワレンズ２２０とフェルール２２２の光軸に垂直な平面に対し、傾斜している。本構成においても、強パワレンズ２２０とフェルール２２２のＸＹＺ３方向のアライメント時点で、弱パワレンズ２２１は傾斜した状態（偏向状態）にて仮固定されている。強パワレンズ２２０とフェルール２２２の恒久的な取り付け後、弱パワレンズ２２１をＸＹ方向に調整し、取り付けによる結合効率の損失を補償する。弱パワレンズ２２１が傾斜（偏向）していることで、弱パワレンズ２２１の多重反射光はフェルール２２２に結像されず、ＳＳ－ＯＣＴ装置の画質低下を回避出来る。

上記の説明は、参照光学系５０、光量調整光学系２０ともに、出射側（集光部）に弱パワレンズを配置する構成で説明したが、弱パワレンズは入射側に配置しても同様の効果を得ることが出来る。

上記のような構成にすることで、弱パワレンズの多重反射光によるＳＳ－ＯＣＴ装置の画質低下を回避出来る。さらに、光ファイバと、他の光学構成要素（強パワレンズなど）を保持部材に恒久的に取り付けるステップの後にも、出射側光ファイバに至るまでの光学構成要素の高精度なアライメント状態を最適に維持することが可能となる。

Claims (12)

1. 入射された光束を受光部へ位置合わせする光学系を有する光干渉断層撮像装置の調整方法において、
   前記光束を集光するための強パワレンズと前記受光部との前記光束の光軸の方向の距離を変更することにより、前記受光部に前記光束の集光部分の位置合わせを行う位置合わせ工程と、
   前記受光部と前記強パワレンズの間に配置された弱パワレンズを前記光軸に交差する方向に移動することにより、前記受光部に対する前記集光部分の位置を調整する調整工程とを有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の調整方法。
2. 前記弱パワレンズが、前記光軸に対して垂直方向に変位した状態で配置されていることを特徴とする請求項１に記載の光干渉断層撮像装置の調整方法。
3. 前記弱パワレンズが、前記光軸に対して偏向した状態で配置されていることを特徴とする請求項１に記載の光干渉断層撮像装置の調整方法。
4. 参照光学系により光路長が変更された光束を、干渉系の受光部である光ファイバ端へ入射させることを特徴とする請求項１に記載の光干渉断層撮像装置の調整方法。
5. 前記光学系が、前記光束の光量を調整する調整光学系を構成する光学系であり、前記調整光学系により光量が調整された光束を、干渉系の前記受光部へ入射させるための光学系であることを特徴とする請求項１に記載の光干渉断層撮像装置の調整方法。
6. 前記強パワレンズを介した前記光束が、前記弱パワレンズの光軸中心を介さずに前記受光部に集光されることを特徴とする請求項１又は２に記載の光干渉断層撮像装置の調整方法。
7. 前記強パワレンズを介した前記光束が、前記弱パワレンズの光軸中心に斜め方向から入射して前記受光部に集光されることを特徴とする請求項１又は３に記載の光干渉断層撮像装置の調整方法。
8. 前記位置合わせ工程における位置合わせは、前記強パワレンズと前記受光部との間に前記弱パワレンズを配置した状態で行われることを特徴とする請求項１乃至７の何れか１項に記載の光干渉断層撮像装置の調整方法。
9. 入射された光束を受光部へ位置合わせする光学系を有する光干渉断層撮像装置において、
   前記光束を集光するための強パワレンズと前記受光部との前記光束の光軸の方向の距離を変更することにより、前記受光部に前記光束の集光部分の位置合わせを行う位置合わせ手段と、
   前記受光部と前記強パワレンズの間に配置された弱パワレンズを前記光軸に交差する方向に移動することにより、前記受光部に対する前記集光部分の位置を調整する調整手段とを有することを特徴とする光干渉断層撮像装置。
10. 入射された光束を受光部へ位置合わせする光学系を有する光干渉断層撮像装置において、
    前記光束を集光するための強パワレンズと、
    前記光受光部と前記強パワレンズの間に配置された弱パワレンズとを有し、
    前記強パワレンズと前記受光部との前記光束の光軸の方向の距離を変更するができることにより、前記受光部に前記光束の集光部分の位置合わせを行い、
    前記弱パワレンズを前記光軸に交差する方向に移動することができることにより、前記受光部に対する前記集光部分の位置を調整することを特徴とする光干渉断層撮像装置。
11. 前記弱パワレンズが、前記光軸に対して垂直方向に変位した状態で配置されていることを特徴とする請求項１０に記載の光干渉断層撮像装置。
12. 前記弱パワレンズが、前記光軸に対して偏向した状態で配置されていることを特徴とする請求項１０に記載の光干渉断層撮像装置。

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