JP7035122B2 - 光干渉断層撮像装置、及び、その調整方法 - Google Patents
光干渉断層撮像装置、及び、その調整方法 Download PDFInfo
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Description
図1は、本発明の第一の実施例に係るSS-OCT装置(波長掃引型光干渉断層撮像装置)の構成図である。SS-OCT装置1には、光源部10と、光量調整光学系20と、干渉系30と、測定光学系40と、参照光学系50と、検出部60と、情報取得部70と、表示部80とから構成されている。
次に、本発明の第二の実施例である光量調整光学系20では傾斜(偏向)させた場合について説明する。
Claims (12)
- 入射された光束を受光部へ位置合わせする光学系を有する光干渉断層撮像装置の調整方法において、
前記光束を集光するための強パワレンズと前記受光部との前記光束の光軸の方向の距離を変更することにより、前記受光部に前記光束の集光部分の位置合わせを行う位置合わせ工程と、
前記受光部と前記強パワレンズの間に配置された弱パワレンズを前記光軸に交差する方向に移動することにより、前記受光部に対する前記集光部分の位置を調整する調整工程とを有することを特徴とする光干渉断層撮像装置の調整方法。 - 前記弱パワレンズが、前記光軸に対して垂直方向に変位した状態で配置されていることを特徴とする請求項1に記載の光干渉断層撮像装置の調整方法。
- 前記弱パワレンズが、前記光軸に対して偏向した状態で配置されていることを特徴とする請求項1に記載の光干渉断層撮像装置の調整方法。
- 参照光学系により光路長が変更された光束を、干渉系の受光部である光ファイバ端へ入射させることを特徴とする請求項1に記載の光干渉断層撮像装置の調整方法。
- 前記光学系が、前記光束の光量を調整する調整光学系を構成する光学系であり、前記調整光学系により光量が調整された光束を、干渉系の前記受光部へ入射させるための光学系であることを特徴とする請求項1に記載の光干渉断層撮像装置の調整方法。
- 前記強パワレンズを介した前記光束が、前記弱パワレンズの光軸中心を介さずに前記受光部に集光されることを特徴とする請求項1又は2に記載の光干渉断層撮像装置の調整方法。
- 前記強パワレンズを介した前記光束が、前記弱パワレンズの光軸中心に斜め方向から入射して前記受光部に集光されることを特徴とする請求項1又は3に記載の光干渉断層撮像装置の調整方法。
- 前記位置合わせ工程における位置合わせは、前記強パワレンズと前記受光部との間に前記弱パワレンズを配置した状態で行われることを特徴とする請求項1乃至7の何れか1項に記載の光干渉断層撮像装置の調整方法。
- 入射された光束を受光部へ位置合わせする光学系を有する光干渉断層撮像装置において、
前記光束を集光するための強パワレンズと前記受光部との前記光束の光軸の方向の距離を変更することにより、前記受光部に前記光束の集光部分の位置合わせを行う位置合わせ手段と、
前記受光部と前記強パワレンズの間に配置された弱パワレンズを前記光軸に交差する方向に移動することにより、前記受光部に対する前記集光部分の位置を調整する調整手段とを有することを特徴とする光干渉断層撮像装置。 - 入射された光束を受光部へ位置合わせする光学系を有する光干渉断層撮像装置において、
前記光束を集光するための強パワレンズと、
前記光受光部と前記強パワレンズの間に配置された弱パワレンズとを有し、
前記強パワレンズと前記受光部との前記光束の光軸の方向の距離を変更するができることにより、前記受光部に前記光束の集光部分の位置合わせを行い、
前記弱パワレンズを前記光軸に交差する方向に移動することができることにより、前記受光部に対する前記集光部分の位置を調整することを特徴とする光干渉断層撮像装置。 - 前記弱パワレンズが、前記光軸に対して垂直方向に変位した状態で配置されていることを特徴とする請求項10に記載の光干渉断層撮像装置。
- 前記弱パワレンズが、前記光軸に対して偏向した状態で配置されていることを特徴とする請求項10に記載の光干渉断層撮像装置。
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