JP7017100B2 - 粒子画像解析装置及び粒子画像解析方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の一実施形態に係る粒子画像解析装置1の構成を示した概略図である。この粒子画像解析装置1は、液体試料を撮像することにより得られた撮像画像中に含まれる粒子の画像を解析するための装置である。粒子画像解析装置1には、光源部2、フローセル3、撮像部4、フィールドレンズ5、コンデンサレンズ6、対物レンズ7及び投影レンズ8などが備えられている。
図2Aは、液体試料を撮像することにより得られる撮像画像10の一例を示した概略図である。撮像画像10中には、図2Aのように複数の粒子11の画像が含まれる場合もあれば、粒子11の画像が1つだけ含まれる場合や、粒子11の画像が含まれない場合もある。
Imin+(Ib-Imin)×a ・・・(1)
図4は、粒子画像解析装置1の電気的構成を示したブロック図である。この粒子画像解析装置1は、上述した撮像部4などの他に、制御部20及び記憶部30などを備えている。
図5は、粒子画像解析時の制御部20による処理の流れを示したフローチャートである。粒子画像解析時には、まず、撮像部4で液体試料が撮像されることにより、撮像画像10が取得される(ステップS101:撮像画像取得ステップ)。
以上の実施形態では、明視野照明により液体試料中の粒子11が照明される場合について説明した。しかし、このような構成に限らず、暗視野照明により液体試料中の粒子11が照明されるような構成であってもよい。暗視野照明により液体試料中の粒子11を照明する場合、粒子領域13における各画素の輝度は、粒子領域13以外の領域における各画素の輝度よりも高くなる。このような暗視野照明の場合には、第2閾値が第1閾値よりも高い値に設定される。
Imax-(Imax-Ib)×a ・・・(2)
2 光源部
3 フローセル
4 撮像部
10 撮像画像
11 粒子
12 周辺画像
13 粒子領域
14 境界
15 グラデーション領域
16 非粒子領域
17 境界
20 制御部
21 粒子画像特定処理部
22 周辺画像抽出処理部
23 粒子領域特定処理部
30 記憶部
31 基準値記憶部
32 周辺画像記憶部
Claims (8)
- 流れる液体試料中の粒子を測定する際に、当該液体試料を撮像することにより得られた撮像画像中に含まれる粒子の画像を解析する粒子画像解析装置であって、
前記撮像画像の各画素の輝度を第1閾値と比較することにより、当該撮像画像中に含まれる粒子の画像を特定する粒子画像特定処理部と、
前記粒子画像特定処理部により特定された1つの粒子の画像を含む当該粒子の周辺画像を前記撮像画像から抽出する周辺画像抽出処理部と、
前記周辺画像抽出処理部により抽出された前記周辺画像の各画素の輝度を第2閾値と比較することにより、当該周辺画像中の粒子領域を特定する粒子領域特定処理部とを備え、
前記第2閾値は、前記周辺画像の各画素のうち輝度が最も低い画素又は最も高い画素の輝度と、前記周辺画像の粒子以外の領域における各画素の輝度の基準値とに基づいて算出されることを特徴とする粒子画像解析装置。 - 前記周辺画像は、前記粒子領域における各画素の輝度が、当該粒子領域以外の領域における各画素の輝度よりも低い画像であり、
前記周辺画像の各画素のうち輝度が最も低い画素の輝度をIminとし、前記周辺画像の粒子以外の領域における各画素の輝度の基準値をIbとした場合に、前記第2閾値は、
Imin+(Ib-Imin)×a
で表される(aは係数)ことを特徴とする請求項1に記載の粒子画像解析装置。 - 前記周辺画像は、前記粒子領域における各画素の輝度が、当該粒子領域以外の領域における各画素の輝度よりも高い画像であり、
前記周辺画像の各画素のうち輝度が最も高い画素の輝度をImaxとし、前記周辺画像の粒子以外の領域における各画素の輝度の基準値をIbとした場合に、前記第2閾値は、
Imax-(Imax-Ib)×a
で表される(aは係数)ことを特徴とする請求項1に記載の粒子画像解析装置。 - 前記aの値が、0.01~0.8であることを特徴とする請求項2又は3に記載の粒子画像解析装置。
- 流れる液体試料中の粒子を測定する際に、当該液体試料を撮像することにより得られた撮像画像中に含まれる粒子の画像を解析する粒子画像解析方法であって、
前記撮像画像の各画素の輝度を第1閾値と比較することにより、当該撮像画像中に含まれる粒子の画像を特定する粒子画像特定ステップと、
前記粒子画像特定ステップにより特定された1つの粒子の画像を含む当該粒子の周辺画像を前記撮像画像から抽出する周辺画像抽出ステップと、
前記周辺画像抽出ステップにより抽出された前記周辺画像の各画素の輝度を第2閾値と比較することにより、当該周辺画像中の粒子領域を特定する粒子領域特定ステップとを含み、
前記第2閾値は、前記周辺画像の各画素のうち輝度が最も低い画素又は最も高い画素の輝度と、前記周辺画像の粒子以外の領域における各画素の輝度の基準値とに基づいて算出されることを特徴とする粒子画像解析方法。 - 前記周辺画像は、前記粒子領域における各画素の輝度が、当該粒子領域以外の領域における各画素の輝度よりも低い画像であり、
前記周辺画像の各画素のうち輝度が最も低い画素の輝度をIminとし、前記周辺画像の粒子以外の領域における各画素の輝度の基準値をIbとした場合に、前記第2閾値は、
Imin+(Ib-Imin)×a
で表される(aは係数)ことを特徴とする請求項5に記載の粒子画像解析方法。 - 前記周辺画像は、前記粒子領域における各画素の輝度が、当該粒子領域以外の領域における各画素の輝度よりも高い画像であり、
前記周辺画像の各画素のうち輝度が最も高い画素の輝度をImaxとし、前記周辺画像の粒子以外の領域における各画素の輝度の基準値をIbとした場合に、前記第2閾値は、
Imax-(Imax-Ib)×a
で表される(aは係数)ことを特徴とする請求項5に記載の粒子画像解析方法。 - 前記aの値が、0.01~0.8であることを特徴とする請求項6又は7に記載の粒子画像解析方法。
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