JP7012353B2 - 標準装置および計測機器 - Google Patents
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Description
校正の基準となる一定量の計測対象を生成する生成手段と、
標準装置として使用する前に、生成手段により生成され計測された計測対象の量を基準量として記憶する記憶手段と、
標準装置を計測機器に設けられた挿入口に挿入することにより該計測機器に接続し、該計測機器に対して計測対象の出力と基準量の読み出しを可能にする接続手段と
を含む、標準装置が提供される。
図3は、カードデバイス20の第1の構成例を示した図である。カードデバイス20は、校正の基準となる電圧を生成するために生成手段を備える。生成手段は、基準となる電圧を生成する基準電圧源21を含む。基準電圧源21は、周囲の温度変化を受けにくく、一定の電圧を安定して出力する。基準電圧源21は、カードデバイス20がスロット12に挿入され、装着された場合、DMM10のスイッチ14へ電圧を出力する。
図4は、カードデバイス20の第2の構成例を示した図である。カードデバイス20は、生成手段、記憶手段、接続手段を備えるが、安定して一定の電圧を出力するために、生成手段の部分(標準部分)を温度制御することが望ましい。この温度制御を実現するために、カードデバイス20は、基準電圧源21を収納し、熱の出入りを抑制する断熱層23と、断熱層23内の温度を検知する検知手段としての温度センサ24と、断熱層23内を加熱する加熱手段としてのヒータ25とをさらに備える。
図6は、カードデバイス20の第3の構成例を示した図である。カードデバイス20は、先に説明した第2の構成例と同様、基準電圧源21、マイコン22、断熱層23、温度センサ24、ヒータ25を含むが、さらにDC電圧測定器27、AC/DC変換器28、基準抵抗器29、発振器30を含んで構成される。基準電圧源21、マイコン22、断熱層23、温度センサ24、ヒータ25については既に説明したので、ここではその説明を省略する。
カードデバイス20の接続方法について説明する。図7は、DMM10へのカードデバイス20の接続例を示す。
図8は、カードデバイス20の流通について説明する図である。カードデバイス20は、カードメーカ40により製造され、出荷時に出力電圧が実測され、実測された電圧が基準電圧として記憶される。カードデバイス20は、1枚ずつ異なる個体識別番号が付与され、個体識別番号も記憶される。また、カードデバイス20は、パッケージ等に有効期限が記載される。
11…表示部
12…スロット
13…入力端子
14…スイッチ
15…入力変換部
16…アンプ
17…ADC
18…校正部
20…カードデバイス
21…基準電圧源
22…マイコン
23…断熱層
24…温度センサ
25…ヒータ
26…レギュレータ
27…DC電圧測定器
28…AD/DC変換器
29…基準抵抗器
30…発振器
40…カードメーカ
41…ユーザ
42…回収ボックス
Claims (9)
- 計測機器の校正に使用される標準装置であって、
校正の基準となる一定量の計測対象を生成する生成手段と、
事前に前記生成手段により生成され計測された計測対象の量を基準量として記憶するマイクロコンピュータと、
前記標準装置を前記計測機器に設けられた挿入口に挿入することにより該計測機器に接続し、該計測機器からの電源の供給および該計測機器に対して計測対象の出力を行うための複数の端子と
を含み、
前記マイクロコンピュータは、前記標準装置が前記計測機器に接続され、該計測機器から校正を行うための前記基準量の読み出し要求を受けて、該計測機器へ該基準量を提供する、標準装置。 - 前記生成手段は、計測対象として電圧を生成する基準電圧源を含み、
前記標準装置は、
前記生成手段により生成された電圧を計測する電圧計測手段を含み、
前記マイクロコンピュータは、前記基準量としての基準電圧の電圧情報と、前記電圧計測手段により計測された電圧とを用い、前記基準電圧源の校正を行う、
請求項1に記載の標準装置。 - 前記生成手段は、計測対象として直流電圧を生成し、
前記標準装置は、
前記生成手段により生成された直流電圧から交流電圧を発生させる交流電圧発生手段と、
前記交流電圧発生手段により発生された交流電圧を直流電圧に変換する電圧変換手段と
を含み、
前記マイクロコンピュータは、前記電圧変換手段により変換された直流電圧と、前記電圧情報とを用い、前記交流電圧発生手段の校正を行う、
請求項2に記載の標準装置。 - GPS衛星からの電波を受信する受信手段を含み、
前記マイクロコンピュータは、前記受信手段により受信された電波と、前記交流電圧発生手段により発生された交流電圧とを用い、前記交流電圧の周波数の校正を行う、
請求項3に記載の標準装置。 - 前記生成手段は、校正の基準となる抵抗値を有する基準抵抗器を含み、
前記マイクロコンピュータは、事前に前記交流電圧発生手段により発生された交流電圧を前記基準抵抗器に印加し、得られた抵抗値を基準抵抗値として記憶し、
前記標準装置は、前記交流電圧発生手段により発生された交流電圧を、前記基準抵抗器を介して前記端子から出力し、
前記マイクロコンピュータは、前記基準量としての前記基準抵抗値の読み出し要求を受けて、該基準抵抗値を提供する、請求項3または4に記載の標準装置。 - 前記マイクロコンピュータは、前記計測機器が計測した計測対象の量を含む校正結果の履歴を記憶し、前記履歴に基づき、前記生成手段が前記一定量の計測対象を生成しているか否かを診断する、請求項2~5のいずれか1項に記載の標準装置。
- 前記生成手段を収納し、熱の出入りを抑制する断熱層と、
前記断熱層内の温度を検知する検知手段と、
前記断熱層内を加熱する加熱手段と
を含む、請求項1~6のいずれか1項に記載の標準装置。 - 前記標準装置は、カード型のデバイスである、請求項1~7のいずれか1項に記載の標準装置。
- 請求項1~8のいずれか1項に記載の標準装置を挿着する計測機器であって、
前記標準装置を挿入可能な挿入口と、
入力端子と前記挿入口に挿入された前記標準装置とのいずれかと接続するために、接続を切り替える切替手段と
を含み、
前記標準装置から出力される校正の基準となる一定量の計測対象を計測し、前記標準装置から事前に記憶された基準量を読み出し、計測した計測対象の量と前記基準量とを用いて校正を行う、計測機器。
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JP2018007244A JP7012353B2 (ja) | 2018-01-19 | 2018-01-19 | 標準装置および計測機器 |
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JP2018007244A JP7012353B2 (ja) | 2018-01-19 | 2018-01-19 | 標準装置および計測機器 |
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JP2019124660A JP2019124660A (ja) | 2019-07-25 |
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- 2018-01-19 JP JP2018007244A patent/JP7012353B2/ja active Active
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