JP7000940B2 - 形状測定装置、形状測定方法及びプログラム - Google Patents

形状測定装置、形状測定方法及びプログラム Download PDF

Info

Publication number
JP7000940B2
JP7000940B2 JP2018054347A JP2018054347A JP7000940B2 JP 7000940 B2 JP7000940 B2 JP 7000940B2 JP 2018054347 A JP2018054347 A JP 2018054347A JP 2018054347 A JP2018054347 A JP 2018054347A JP 7000940 B2 JP7000940 B2 JP 7000940B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frame
feature point
distance image
coordinate system
distance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018054347A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2019168251A (ja
Inventor
崇 日昔
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JVCKenwood Corp
Original Assignee
JVCKenwood Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by JVCKenwood Corp filed Critical JVCKenwood Corp
Priority to JP2018054347A priority Critical patent/JP7000940B2/ja
Priority to US16/296,185 priority patent/US11080875B2/en
Publication of JP2019168251A publication Critical patent/JP2019168251A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7000940B2 publication Critical patent/JP7000940B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は形状測定装置、形状測定方法及びプログラムに関する。
画像情報から物体の3次元形状を取得する形状測定装置が知られている。例えば、測定対象の物体をステージや回転台に固定し、複数台の測定装置を使用して異なる視点から取得した画像データを組み合わせる手法が一般的に知られている(特許文献1)。
特開2005-189203号公報
しかし、上述の形状測定装置は、複数台の測定装置が必要であるため、装置の規模が大きくなってしまう問題がある。また、測定対象の物体の姿勢がステージや回転台によって制限されてしまい、物体に形状によっては形状の測定が困難な場合がある。
本発明は、上記に鑑みて成されたものであり、物体の3次元形状を効率的に測定することができる形状測定装置、形状測定方法及びプログラムを提供することを目的とする。
本発明の一態様である形状測定装置は、対象物の2次元画像を複数のフレームにわたって取得する撮像部と、前記対象物の距離画像を前記複数のフレームにわたって取得する距離画像センサ部と、複数のフレームのそれぞれの前記距離画像から前記対象物の特徴点を検出し、前記対象物に対して設定した座標系に検出した前記特徴点を書き込む処理装置と、を有するものである。
本発明の一態様である形状測定方法は、対象物の2次元画像を複数のフレームにわたって取得し、前記対象物の距離画像を前記複数のフレームにわたって取得し、複数のフレームのそれぞれの前記距離画像から前記対象物の特徴点を検出し、前記対象物に対して設定した座標系に、検出した前記特徴点を書き込むものである。
本発明の一態様である形状測定方法は、対象物の2次元画像を複数のフレームにわたって取得する処理と、前記対象物の距離画像を前記複数のフレームにわたって取得する処理と、複数のフレームのそれぞれの前記距離画像から前記対象物の特徴点を検出する処理と、前記対象物に対して設定した座標系に、検出した前記特徴点を書き込む処理と、をコンピュータに実行させる、ものである。
本発明によれば、物体の3次元形状を効率的に測定することができる形状測定装置、形状測定方法及びプログラムを提供することができる。
実施の形態1にかかる形状測定装置の構成を模式的に示す図である。 実施の形態1にかかる処理部の構成を模式的に示す図である。 実施の形態1における対象物の保持例を示す図である。 第1フレームにおける対象物の特徴点を示す図である。 第2フレームにおける対象物の特徴点を示す図である。 対象物に設定される座標系を示す図である。 実施の形態1にかかる形状測定装置の動作示すフローチャートである。 実施の形態1にかかる特徴点検出を示すフローチャートである。 距離画像の分割を模式的に示す図である。 特徴点候補の抽出を示すフローチャートである。 注目領域と周辺領域とを模式的に示す図である。 特徴点検出を示すフローチャートである。 実施の形態2にかかる処理部の構成を模式的に示す図である。 実施の形態2にかかる形状測定装置の動作を示すフローチャートである。 移動検知処理を示すフローチャートである。 実施の形態3にかかる処理部の構成を模式的に示す。 実施の形態3にかかる形状測定装置の動作を示すフローチャートである。 モデル分割処理を示すフローチャートである。 X軸に垂直な断面での分割処理を示すフローチャートである。 Y軸に垂直な断面での分割処理を示すフローチャートである。 Z軸に垂直な断面での分割処理を示すフローチャートである。 分割前の3次元モデルの例を示す図である。 分割後の3次元モデルの例を示す図である。 3次元モデルの頭部を置換した例を示す。
実施の形態1
実施の形態1にかかる形状測定装置について説明する。図1は、実施の形態1にかかる形状測定装置100の構成を模式的に示す図である。形状測定装置100は、撮像部1、距離画像センサ部2、操作部3、表示部4及び処理装置5を有する。
撮像部1は、形状測定の対象となる物体(以下、対象物10と称する)の2次元画像を取得する装置であり、例えばカメラとして構成される。
距離画像センサ部2は、距離画像センサ部2と対象物10との間の距離を示す距離画像を取得する。ここで、距離画像は、画素の2次元平面上での座標と、その座標における距離と、を含む3次元の点群データとして取得される。したがって、以下では、点群データを構成するデータ要素を点と称するものとする。距離画像センサ部2としては、例えばTOF(Time of Flight)カメラや赤外線センサを用いてもよい。
操作部3は、形状測定装置100に与えるコマンドや設定パラメータなどの入力に用いられる。操作部3としては、キーボード、タッチパネル、マウスなどの各種の入力用機器を用いることができる。
表示部4は、形状測定装置100での測定結果や設定情報などを表示する。表示部4としては、液晶ディスプレイやタッチパネルなど、各種の表示機器を用いることができる。
処理装置5は、撮像部1で取得された2次元画像と距離画像センサ部2で取得された距離画像とから、対象物10の形状を検出可能に構成される。処理装置5は、コンピュータなどのハードウェア資源を用いて構成される。
処理装置5は、画像インターフェイス(I/F)11、制御I/F12、表示I/F13、通信I/F14、処理部15、RAM(Random Access Memory)16、ROM(Read only Memory)17、記憶部18及びバス19を有する。
撮像部1で取得された2次元画像は、画像I/F11及びバス19を介して、例えばRAM16に格納される。距離画像センサ部2で取得された距離情報は、画像I/F11及びバス19を介して、例えばRAM16に格納される。
操作部3からは、コマンド等の入力情報が、制御I/F12及びバス19を介して、例えば処理部15へ与えられる。
処理部15は、形状測定装置100での形状測定動作を制御し、形状測定にかかる演算処理を行う。処理部15からは、測定結果などの表示情報が、表示I/F13及びバス19を介して、表示部4へ出力される。処理部15は、通信I/F14及びバス19を介して、外部のネットワーク1000と双方向通信が可能である。処理部15の構成及び処理については後述する。
ROM17は、処理部15が用いる情報が格納される。例えば、ROM17は、処理部15の処理に用いるパラメータや、処理部15が実行するプログラムなどが格納される。
記憶部18は、形状測定装置100での形状測定の結果や、測定処理完了後の画像データなどが格納される。RAM16の容量に余裕がない場合、記憶部18はRAM16に書き込まれるべき情報をRAM16に代わって格納してもよい。記憶部18は、ハードディスクなどの各種に記憶媒体を用いることができる。
図2に、実施の形態1にかかる処理部15の構成を模式的に示す。処理部15は、制御部15A、表示処理部15B、ユーザーインターフェイス(UI:User Interface)部15C、通信部15D、画像取得部15E、認識処理部15F、特徴点検出部15G及びモデル生成部15Hを有する。
制御部15Aは、表示処理部15B、UI部15C、通信部15D、画像取得部15E、認識処理部15F、特徴点検出部15G及びモデル生成部15Hの動作を制御する。
表示処理部15Bは、表示I/F13を介して、表示すべき情報を表示部4へ出力する。
UI部15Cは、制御I/F12を介して、操作部3からコマンド等の入力情報を受け取り、制御部15Aへ転送する。
通信部15Dは、通信I/F14を介して、外部のネットワーク1000との間で通信を行う。
画像取得部15Eは、撮像部1が取得した2次元画像を逐次読み込むことができる。画像取得部15Eは、撮像部1が取得してRAM16又は記憶部18に格納された2次元画像を、RAM16又は記憶部18から読み込んでもよい。画像取得部15Eは、距離画像センサ部2が取得した距離画像を逐次読み込むことができる。画像取得部15Eは、距離画像センサ部2が取得してRAM16又は記憶部18に格納された距離画像を、RAM16又は記憶部18から読み込んでもよい。
認識処理部15Fは、読み込んだ2次元画像と距離画像から、対象物10に対応する領域を検出する。
特徴点検出部15Gは、認識処理部15Fで処理後の距離画像から、対象物10の画像から特徴点を検出する。特徴点検出部15Gは、検出した特徴点を、例えばRAM16へ書き込む。
本実施の形態にかかる形状測定装置100は、対象物10を回転させながら複数のフレームにわたって2次元画像と距離画像とを取得し、各フレームについて対象物10の特徴点を検出する。そして、異なるフレーム間で特徴点をパターンマッチングし、新たに検出された特徴点を逐次追加する。これにより、複数のフレームを用いて対象物10の3次元形状を特定するための特徴点を検出できる。
また、本実施の形態にかかる形状測定装置100は、対象物10に設定した座標系を用いて特徴点を保存する。そのため、フレーム間における対象物10の移動を検出し、その移動に対象物10の座標系を追随させる。よって、対象物10の姿勢が変化しても、対象物10に設定した座標系は対象物10の姿勢の変化に追随することができる。
本実施の形態では、対象物10は、ユーザの手や保持部材などによって保持される。図3に、実施の形態1における対象物10の保持例を示す。図3に示すように、対象物10は、例えばユーザの親指F1と人差し指F2とに挟まれ保持される。ユーザが、対象物10を持ち替えて対象物10を移動、回転させて2次元画像及び距離画像を取得することで、複数のフレームにわたって2次元画像及び距離画像が得られる。
ここで、特徴点の検出と座標系について説明する。図4に、第1フレームにおける対象物10の特徴点を示す。図5に、第1フレームよりも後のタイミングで取得された第2フレームにおける対象物10の特徴点を示す。なお、第1フレームと第2フレームとは連続したフレームでも連続していなフレームでもよく、連続していない場合は第1フレームと第2フレームとの間に所定のフレーム数を挟むようにしてもよい。
第1フレームと第2フレームとの間の特徴点の対応付けは、例えば両フレームの特徴点をパターンマッチングすることで可能である。なお、第1フレームと第2フレームとで、画像内の対象物10の大きさが変化し、対象物10が移動したとしても、画像を比較することで特徴点の移動や距離の変化を考慮したパターンマッチングを行うことが可能である。
すなわち、本実施の形態では、複数フレームの画像について、1フレームずつ順に特徴点を抽出する。この際、隣接するフレーム間で、前のフレーム(第1フレーム)までに検出した特徴点と、後のフレーム(第2のフレーム)で新たに検出した特徴点とを比較し、パターンマッチングを行うことで、同一の特徴点を検出することができる。
図4では、特徴点を白丸と黒丸とで示している。白丸は、第1フレームの2次元画像には存在するが、第2フレームの2次元画像には存在しない特徴点CP1を示している。黒丸は、第1フレームの2次元画像及び第2フレームの2次元画像の両方に存在する特徴点CP2を示している。
図5では、特徴点を黒丸と四角形とで示している。四角形は、第1フレームの2次元画像には存在しないが、第2フレームの2次元画像には存在する特徴点CP3を示している。
図4の第1フレームと図5の第2フレームとの間で対象物10の姿勢が変化すると、特徴点CP2は見えているが、特徴点CP1は隠れてしまい、特徴点CP3が新たに現れる。なお、上述したように、特徴点CP2はパターンマッチングにより特定される。第1フレームで検出された既知の特徴点CP1及びCP2に、第2フレームで新たに検出された特徴点CP3を対象物10に設定した座標系に書き加えることで、特徴点を蓄積することができる。
図6は、対象物10に設定される座標系を示す図である。第1のタイミングで取得された2次元画像及び距離画像(第1フレーム)において、2つの特徴点A1及びB1が存在するものとする。そして、第2のタイミングで取得された2次元画像及び距離画像(第2フレーム)においては、特徴点A2が第1フレームの特徴点A1に対応し、特徴点B2が第1フレームの特徴点B1に対応するものとする。
第1フレームの対象物10に対して第2フレームの対象物10がある回転軸を中心に角度θだけ回転している場合、回転軸となる直線を対象物10の座標系のz軸(第1の軸とも称する)として設定する。特徴点A1(第1の特徴点とも称する)と特徴点A2(第2の特徴点とも称する)とが属する平面とz軸とが交わる点を直交する条件で原点Oとして設定する。対象物10の座標系と距離センサ部2が測定する座標の関係であるが、z軸は特徴点A1,A2、B1、B2の測定系の座標で一義的に決定できる。すなわち、特徴点A1、A2から等距離にある点の集合が作る面と、特徴点B1,B2から等距離にある点の集合が作る面が重なった部分は直線になるが、その直線がz軸になる。したがって、特徴点が2つ、フレームが2つあれば、z軸は決定できる。
本実施の形態では、3次元円筒座標系を用いる。すなわち、原点から特徴点A1へ向かう方向に動径座標を設定し、z軸回りの回転方向に回転座標を設定する。原点Oから特徴点A1及びA2までの距離をRとすると、特徴点A1の座標は(R,0,0)となり、特徴点A2の座標は(R,θ,0)となる。これに合わせて、第2フレームにおいては、対象物10に対する座標系もz軸に対してθだけ回転させ、対象物10の動きに追随させる。この結果、特徴点A2は座標(R、0、0)となり、第1フレームにおける特徴点A1の座標と同じになるから、同じ特徴点に対しては同じ座標を維持できる。第2フレーム以降においても同様に対象物10に対する座標系は対象物10の動きに合わせて追随し、各特徴点の座標を維持する。
3次元直交座標系を用いる場合には、原点Oと特徴点A1とを通る線x軸(第2の軸とも称する)とする。平面PLにおいてx軸と直交する線をy軸(第3の軸とも称する)とする。なお、最初の基準となる特徴点は任意である。
上述したように、第2フレームには、第1フレームに存在する既知の特徴点とは異なる新たな特徴点が検出され得る。複数のフレームについて特徴点の検出を行うことで、新たな特徴点が追加され、対象物10の3次元形状を取得するのに必要な数の特徴点を蓄積することが可能となる。
第1フレームの距離画像には存在するが、第2フレームの距離画像では隠れてしまって検出されなかった既知の特徴点も存在しうる。この場合、既知の特徴点を第2フレーム上の特徴点に換算することで、既知の特徴点の情報と新たに検出された特徴点とを、同一の座標空間上で対応付けて保存することができる。
次いで、実施の形態1にかかる形状測定装置100の形状測定について説明する。図7は、実施の形態1にかかる形状測定装置100の動作示すフローチャートである。
ステップS1
処理部15は、RAM16に格納された2次元画像から、1フレーム分の2次元画像を読み込む。ここで、取得された2次元画像をIMGとする。また、処理部15は、RAM16に格納された距離画像から、画像IMGに対応する距離画像DISを読み込む。ここで、読み込んだ2次元画像の横方向をX方向、縦方向をY方向と定義する。距離画像は、X-Y平面に対して垂直なZ方向の対象物10までの距離を示すものとする。
ステップS2
読み込んだ2次元画像と距離画像とを用いて1フレーム分の特徴点を検出し、RAM16に保存する。
ステップS3
形状測定に用いる複数のフレームのうち、読み出されていないフレームが有るかを判定する。読み込まれていないフレームが有る場合、ステップS1に戻る。
ステップS4
読み込まれていないフレームが無い場合、保存した特徴点に基づいて、3次元モデルを生成する。3次元モデルは、ステップS1~S3で不要な点を除いた距離画像に同じフレームの2次元画像の情報(画素の輝度、色など)を対応づけることで生成することができる。
次いで、ステップS2にかかる特徴点検出について説明する。図8は、実施の形態1にかかる特徴点検出を示すフローチャートである。ステップS2では、1フレーム分の2次元画像と距離画像とを用いて、特徴点検出を行う。
ステップS21
対象物10を保持しているユーザの指などが距離画像に写り込んでいるため、指等についても形状測定装置は特徴点を検出してしまう。そのため、指等の特徴点をデータから除去する必要がある。ステップS21では、これらの不要なデータが削除される。
認識処理部15Fは、距離画像DISを参照し、距離画像DISが示す距離が所定の値よりも大きな点を距離画像DISから削除する。これにより、対象物10の背景などに起因する雑音データが除外される。また、認識処理部15Fは、距離画像DISから対象物10を保持している部材やユーザの手などのデータを削除する。これは、例えば記憶部18に予め対象物10を保持している部材やユーザの手など形状や色の情報を記憶しておき、認識処理部15Fがこの情報を参照することで実現することができる。例えば、ユーザが特定の色の手袋を着用している場合、当該手袋の色の画素を2次元画像IMGから削除してもよい。
または、持ち方を変えて対象物の同じ面について複数回測定を行う方法もとり得る。これによれば、特徴点を、検出回数が少ない特徴点と検出回数が多い特徴点とに選別することができる。この場合、検出回数が少ない特徴点は対象物10を保持している指などの保持体であると判断できる。なぜならば、持ち方を変化させると、同じ特徴点が同じ座標に現れる可能性は少ないためである。したがって、持ち方を変化させながら複数回測定を行い、それぞれの特徴点が検出された回数をカウントすることで、不必要な特徴点を削除することができる。
ステップS22
特徴点検出部15Gは、距離画像DISを複数の領域RAに分割する。図9に、距離画像DISの分割を模式的に示す。図9に示すように、距離画像DISは、例えば複数の領域RAに分割される。この例では、距離画像DISは、例えば複数の矩形領域に分割される。
ステップS23
特徴点検出部15Gは、分割された領域から、注目領域TAを選択する。
ステップS24
特徴点検出部15Gは、選択された領域に、距離画像の距離情報が対応づけられた点が存在するかを判定する。
ステップS25
特徴点検出部15Gは、選択された領域に距離画像の距離情報が対応づけられた点が存在する場合、選択された領域から特徴点候補を抽出する。以下、ステップS25にかかる特徴点候補の抽出について具体的に説明する。図10に、ステップS25にかかる特徴点候補の抽出を示すフローチャートである。
ステップS251
選択された領域に距離画像の距離情報が対応づけられた2点が存在する場合、特徴点検出部15Gは、選択された領域を、隣接する2点の組p1~pm(注目領域の場合には第1の組とも称し、周辺領域の場合には第2の組とも称する)を全通り生成する。
ステップS252
特徴点検出部15Gは、2点の組p1~pmの各組について、一方の点の距離と他方の点の距離との距離差を計算する。
ステップS253
特徴点検出部15Gは、2点の組p1~pmの距離差の平均値を計算する。
ステップS254
特徴点検出部15Gは、算出した平均値よりも大きな距離差を有する2点の組を、特徴点候補として、例えばRAM16に保存する。
図8に戻り、ステップS26以降について説明する。
ステップS26
特徴点検出部15Gは、注目領域に隣接する周辺領域のうち、未選択の周辺領域が存在するかを判定する。図11に、注目領域TAと周辺領域CA1~CA8とを模式的に示す。
ステップS27
未選択の周辺領域が存在する場合、特徴点検出部15Gは、未選択の周辺領域から1つの周辺領域を選択し、ステップS24へ戻る。これにより、ステップS25において、選択された周辺領域内の特徴点候補が抽出される。
ステップS28
未選択の周辺領域が存在しない場合、すなわち、全ての周辺領域が選択済みの場合、特徴点検出部15Gは、注目領域TA及び周辺領域の特徴点候補から、特徴点を検出する。以下、ステップS28にかかる特徴点の検出について具体的に説明する。図12に、ステップS28にかかる特徴点検出を示すフローチャートである。
ステップS281
注目領域の特徴点候補に含まれる点のそれぞれと、周辺領域の特徴点候補に含まれる点のそれぞれと、の組み合わせ(第3の組とも称する)を全通り生成する。
ステップS282
各組み合わせに含まれる2点の距離差を計算する。
ステップS283
計算した全ての組み合わせの距離差の平均値を計算する。
ステップS284
算出した平均値よりも大きな距離差を有する組み合わせに含まれる注目矩形領域の特徴点候補を、特徴点として検出する。検出された特徴点は、例えばRAM16に保存される。
図8に戻り、ステップS29について説明する。
ステップS29
特徴点検出部15Gは、複数の領域のうちで、注目領域として選択されていない領域が存在するかを判定する。
注目領域TAとして選択されていない領域が存在する場合、ステップS23に戻り、別の注目領域を選択して特徴点の検出が続行される。
注目領域として選択されていない領域が存在しない場合、すなわち、複数の領域の全てが注目領域として選択済みの場合、特徴点検出を終了する。
以上、本構成によれば、対象物上に設定した座標系を用いて、対象物の3次元形状を特定するための特徴点を検出することができる。フレーム間における対象物10の移動に応じて対象物上に設定した座標系を追随させることができるので、対象物が移動しても、既知の特徴点と新たに検出された特徴点との位置関係を正確に反映させて特徴点を保存することができる。
これにより、対象物がステージや回転テーブルなどに固定されず、ユーザの手によって保持されて比較的複雑な移動をする場合でも、正確に特徴点を検出できる。また、専用のステージや回転テーブルが必要なく、より容易かる効率的に対象物の形状を測定することが可能となる。なお、ここでは各組の2点間の距離差から平均値を計算し比較しているが、予め所定値を決めておき、その所定値と比較するようにしてもよい。
実施の形態2
実施の形態1では、複数のフレームの2次元画像と距離画像とを用いた対象物の形状測定について説明した。しかし、第1フレームと第2フレームとの間での対象物10の移動が小さい場合、両方のフレームにおいて、ほぼ同じ位置で同じ特徴点を検出してしまい、新たな特徴点が少数しか得られない、又は、新たな特徴点が1つも得られないことがあり得る。この場合、第2フレームについて特徴点検出を行っても、検出処理に要するリソースに対する特徴点の蓄積効果が小さくなってしまう。そのため、本実施の形態では、第1フレームと第2フレームとの間で新たな特徴点検出を効率的に行うことができる程度に対象物10が移動した場合に、選択的に特徴点検出を行うことが望ましい。
実施の形態2にかかる形状測定装置について説明する。実施の形態2にかかる形状測定装置は、実施の形態1にかかる形状測定装置100の処理装置5の処理部15を処理部25に置換した構成を有する。図13に、実施の形態2にかかる処理部25の構成を模式的に示す。処理部25は、処理部15に、移動検知部25Aを追加した構成を有する。
移動検知部25Aは、前のフレーム(第1フレーム)の距離画像と、後のフレーム(第2フレーム)の距離画像との差分を算出し、差分に応じて後のフレーム(第2フレーム)の特徴点検出を行う。
図14は、実施の形態2にかかる形状測定装置の動作を示すフローチャートである。図14に示すように、移動検知処理(ステップS5)が、ステップS1とステップS2との間に挿入される。
移動検知処理(ステップS5)について説明する。図15は、移動検知処理(ステップS5)を示すフローチャートである。
ステップS51
移動検知部25Aは、1つ前に読み込んだフレーム(第1フレーム)が存在するかを判定する。1つ前に読み込んだフレーム(第1フレーム)が存在しない場合、距離画像の比較はできないので、移動検知部25Aは移動検知処置を終了し、ステップS3へ進む。
ステップS52
移動検知部25Aは、1つ前に読み込んだ(第1フレーム)フレームが存在する場合、RAM16から1つ前に読み込んだ(第1フレーム)フレームの距離画像とステップS1で読み込んだ後のフレーム(第2フレーム)の距離画像と、を読み込む。
ステップS53
移動検知部25Aは、1つ前に読み込んだ(第1フレーム)フレームの距離画像と、ステップS1で読み込んだ後のフレーム(第2フレーム)の距離画像と、の差分を算出する。
ステップS54
移動検知部25Aは、算出した差分が所定値よりも大きいかを判定する。算出した差分が所定値よりも小さい場合、特徴点検出(ステップS2)をスキップし、ステップS3に進む。算出した差分が所定値よりも小さい場合、特徴点検出(ステップS2)へ進む。なお、算出した差分が所定値と一致する場合、ステップS2へ進むものとしてもよいし、ステップS3へ進むものとしてもよい。
以上より、対象物に有意な移動がない場合には、特徴点検出をスキップすることができる。これにより、不要な処理を行わずに済み、複数フレームの特徴点検出処理の全体的な処理時間を短くすることができる。
実施の形態3
次いで、実施の形態3にかかる形状測定装置について説明する。実施の形態2及び3では、検出した特徴点の基づいた3次元モデルの生成について説明した。本実施の形態にかかる形状測定装置は、生成した3次元モデルを自動的に複数に部位に分割する機能を有するものとして構成される。
実施の形態3にかかる形状測定装置について説明する。実施の形態3にかかる形状測定装置は、実施の形態1にかかる形状測定装置100の処理装置5の処理部15を処理部35に置換した構成を有する。図16に、実施の形態3にかかる処理部35の構成を模式的に示す。処理部35は、処理部15に、分割処理部35Aを追加した構成を有する。
分割処理部35Aは、ステップS4で生成された3次元モデルを分割する処理を行う。分割処理部35Aは、モデル分割部35Bとモデル再構築部35Cとを有する。モデル分割部35Bは、3次元モデルの断面を参照し、断面が所定値よりも小さくなる位置で3次元モデルを分割する。モデル再構築部35Cは、モデル分割部35Bにより分割された部位の集合として、3次元モデルを再構築する。
図17は、実施の形態3にかかる形状測定装置の動作を示すフローチャートである。図17に示すように、モデル分割(ステップS6)とモデル再構築(ステップS7)とが、3次元モデル生成(ステップS4)の後に追加される。ステップS1~S4については、実施の形態1と同様であるので説明を省略する。
ステップS6
上述したように、モデル分割部35Bは、3次元モデルの断面を参照し、断面が所定値よりも小さくなる位置で3次元モデルを分割する。以下、ステップS6について説明する。図18は、ステップS6での処理を示すフローチャートである。
ステップS61
モデル分割部35Bは、RAM16から、3次元モデルを読み込む。
ステップS62
モデル分割部35Bは、読み込んだ3次元モデルを、仮想的な3次元直交座標系に展開する。
ステップS63
モデル分割部35Bは、3次元モデルをX軸に垂直な面で分割する処理を行う。以下、ステップS63について説明する。図19は、ステップS63での処理を示すフローチャートである。
ステップS631
X軸に所定のピッチだけ離隔した3次元モデルの複数の断面を複数取得する。例えば、X座標が最小の断面からX座標が最大の断面へ向けて、複数の断面を所得する。取得した断面の数をN(Nは、3以上の整数)である場合、1番目~N番目の断面CS1~CSNが取得される。
ステップS632
取得した複数の断面から隣接する2つの断面の組を順に選択する。ここでは、断面CSiと断面CS(i+1)とを選択する。ここで、iは、3以上N以下の整数である。なお、iの初期値は1である。
ステップS633
断面CSiと断面CS(i+1)との間での3次元モデルの断面積の差ΔCSを計算する。
ステップS634
算出した3次元モデルの断面積の差ΔCSが所定値THよりも大きいか(ΔCS>TH
)を判定する。断面積の差ΔCSが所定値THよりも小さければ、ステップS636へ進む。
ステップS635
算出した3次元モデルの断面積の差ΔCSが所定値THよりも大きい場合、断面積が小さい方の断面にて3次元モデルを分割する。
ステップS636
取得した複数の断面のうちで未選択の断面が有るかを判定する。具体的には、i=Nであるか否かを判定する。未選択の断面の組がない場合(i=N)、3次元モデルの分割を終了する。
ステップS637
未選択の断面の組が有る場合(i<N)、選択する断面を変更する必要がある。ここでは、iを1だけインクリメントして、ステップS632へ戻る。
ステップS64
モデル分割部35Bは、3次元モデルをY軸に垂直な面で分解する処理を行う。以下、ステップS64について説明する。図20は、ステップS64での処理を示すフローチャートである。
ステップS641~S648は、X軸がY軸に変わったことを除き、図19のステップS631~638と同様であるので。詳細な説明を省略する。
ステップS65
モデル分割部35Bは、3次元モデルをZ軸に垂直な面で分解する処理を行う。以下、ステップS65について説明する。図21は、ステップS65での処理を示すフローチャートである。
ステップS651~S658は、X軸がZ軸に変わったことを除き、図19のステップS631~638と同様であるので。詳細な説明を省略する。
以上の処理により、各軸に対して垂直な断面の面積が大きく変化する位置、すなわちくびれる位置で、3次元モデルを分割することができる。
図17に戻り、ステップS7について説明する。
ステップS7
モデル再構築部35Cは、ステップS6で分割された3次元モデルを連結し、分割された部位の集合体として3次元モデルを再構築する。
以上、本実施の形態にかかる形状測定装置によれば、ステップS64~S66で設定する所定値に応じて、3次元モデルを複数の部位に自動的に分割することができる。なお、ステップS64~S66で用いる所定値は同じであってもよいし、異なっていてもよい。
ここで、3次元モデルの分割の例について説明する。図22に、分割前の3次元モデルの一例を示す。図23に、分割後の3次元モデルの例を示す。図22の分割前の人型玩具の3次元モデル301は、本実施の形態にかかるモデル分割により、図23に示すように、頭部302、右腕部303、左腕部304、胴体部305及び脚部306に分割されている、なお、図23では、3次元モデルが分割されていることを明らかにするため、頭部302、右腕部303、左腕部304、胴体部305及び脚部306をそれぞれ離隔させて表示している。
3次元モデルを分割することで、分割された各部位を独立して取り扱うことができるため、特定の部位の変更や置換を容易に行うことが可能となる。図24に、図22の3次元モデルの頭部を置換した例を示す。この例では、3次元モデル301の頭部302は、別の頭部307に置換されることで、3次元モデル308となっている。このように、頭部などの一部の部位を置換して、分割されたモデルを再構築することで、3次元モデルの設計を容易に変更することが可能となる。したがって、モデルの設計作業を効率的に行うことができる。
なお、モデル分割(ステップS6)は、1回だけでなく、複数回繰り返して行ってもよい。例えば、1回目のモデル分割された各部位に、ステップS634、S644及びS654で用いる所定値THを1回目のモデル分割よりも小さな値を設定して再度モデル分割してもよい。これにより、各部位を更に小さな複数の部位に分割することができる。」
分割対象の3次元モデルは、実施の形態1又は2で生成された3次元モデルだけでなく、任意の3次元モデルであってもよい。
その他の実施の形態
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、図17の形状測定装置の動作において、図14のステップS5にかかる移動検知処理を挿入してもよい。
上述の実施の形態では、本発明をハードウェアの構成として説明したが、本発明は、これに限定されるものではない。本発明は、例えば処理装置に含まれる処理部の制御を、CPU(Central Processing Unit)にコンピュータプログラムを実行させることにより実現することも可能である。
プログラムは、様々なタイプの非一時的なコンピュータ可読媒体(non-transitory computer readable medium)を用いて格納され、コンピュータに供給することができる。非一時的なコンピュータ可読媒体は、様々なタイプの実体のある記録媒体(tangible storage medium)を含む。非一時的なコンピュータ可読媒体の例は、磁気記録媒体(例えばフレキシブルディスク、磁気テープ、ハードディスクドライブ)、光磁気記録媒体(例えば光磁気ディスク)、CD-ROM(Read Only Memory)、CD-R、CD-R/W、半導体メモリ(例えば、マスクROM、PROM(Programmable ROM)、EPROM(Erasable PROM)、フラッシュROM、RAM(random access memory))を含む。また、プログラムは、様々なタイプの一時的なコンピュータ可読媒体(transitory computer readable medium)によってコンピュータに供給されてもよい。一時的なコンピュータ可読媒体の例は、電気信号、光信号、及び電磁波を含む。一時的なコンピュータ可読媒体は、電線及び光ファイバ等の有線通信路、又は無線通信路を介して、プログラムをコンピュータに供給できる。
1 撮像部
2 距離画像センサ部
3 操作部
4 表示部
5~7 処理装置
10 対象物
11 画像I/F
12 制御I/F
13 表示I/F
14 通信I/F
15、25、35 処理部
15A 制御部
15B 表示処理部
15C UI部
15D 通信部
15E 画像取得部
15F 認識処理部
15G 特徴点検出部
16 RAM
17 ROM
18 記憶部
19 バス
25A 移動検知部
35A 分割処理部
35B モデル分割部
35C モデル再構築部
100 形状測定装置
301、308 3次元モデル
302、307 頭部
303 右腕部
304 左腕部
305 胴体部
306 脚部
1000 ネットワーク
F1 親指
F2 人差し指
A1、A2、B1、B2、CP1~CP3 特徴点
IMG 2次元画像

Claims (5)

  1. 対象物の2次元画像を複数のフレームにわたって取得する撮像部と、
    前記対象物の距離画像を前記複数のフレームにわたって取得する距離画像センサ部と、
    複数のフレームのそれぞれの前記距離画像から前記対象物の特徴点を検出し、前記対象物に対して設定した座標系に検出した前記特徴点を書き込む処理装置と、を備え、
    前記処理装置は、
    前記複数のフレームに含まれる第1フレームと前記第1フレームと異なる第2フレームとの間での前記対象物の回転を検出し、前記回転の回転軸を前記座標系の第1の軸として設定し、
    前記第1フレームの前記距離画像に存在する第1の特徴点と、前記第2フレームの前記距離画像で前記第1の特徴点に対応する第2の特徴点と、が属する平面を前記座標系に設定し、
    前記平面が前記第1の軸と交わる点を前記座標系の原点として設定し、
    前記原点から前記第1の特徴点へ向かう方向の動径座標を前記座標系に設定し、
    前記第1の軸まわりの回転角方向の回転座標を前記座標系に設定し、
    前記処理装置は、
    前記距離画像を読み込む画像取得部と、
    前記距離画像を参照し、前記対象物までの距離が所定値よりも大きな点を削除する処理を行う認識処理部と、
    前記認識処理部で処理された前記距離画像から前記特徴点を検出する特徴点検出部と、
    前記第1フレームの前記距離画像と前記第2フレームの前記距離画像との差分を計算し、前記差分が所定値よりも大きな場合に前記対象物の移動を検知する移動検知部を更に備え、
    前記特徴点検出部は、前記移動検知部が前記対象物の移動を検知した場合に、前記第2フレームの前記距離画像から特徴点を検出する、
    形状測定装置。
  2. 前記処理装置は、
    前記複数のフレームに含まれる第1フレームと第2フレームとの間での前記対象物の回転を検出し、前記回転の回転軸を前記座標系の第1の軸として設定し、
    前記第1フレームの前記距離画像に存在する第1の特徴点と、前記第1フレームと異なる第2フレームの前記距離画像で前記第1の特徴点に対応する第2の特徴点と、が属する平面を設定し、
    前記平面が前記第1の軸と交わる点を前記座標系の原点として設定し、
    前記原点と前記第1の特徴点とを通る線を前記座標系の第2の軸として設定し、
    前記平面上で前記第2の軸に直交する線を前記座標系の第3の軸として設定する、
    請求項1に記載の形状測定装置。
  3. 前記特徴点検出部は、
    前記認識処理部で処理された前記距離画像を複数の領域に分割し、
    前記複数の領域から注目領域を選択し、
    前記注目領域の点から、隣接する2点からなる第1の組を全通り生成し、
    一方の点にかかる前記対象物までの距離と他方の点にかかる前記対象物までの距離との差が所定の演算値または所定値よりも大きい前記第1の組を、特徴点候補として抽出し、
    前記注目領域の周辺の前記領域の点と隣接する点とからなる第2の組を全通り生成し、
    一方の点にかかる前記対象物までの距離と他方の点にかかる前記対象物までの距離との差が所定の演算値または所定値よりも大きい前記第2の組を、特徴点候補として抽出し、
    前記特徴点候補として抽出された前記第1の組に含まれる点のそれぞれと、前記特徴点候補として抽出された前記第2の組に含まれる点のそれぞれとからなる第3の組を全通り生成し、
    一方の点にかかる前記対象物までの距離と他方の点にかかる前記対象物までの距離との差が所定の演算値または所定値よりも大きい前記第3の組に含まれる前記第1の組の点を、特徴点として検出する、
    請求項に記載の形状測定装置。
  4. 対象物の2次元画像を複数のフレームにわたって取得し、
    前記対象物の距離画像を前記複数のフレームにわたって取得し、
    前記複数のフレームに含まれる第1フレームと前記第1フレームと異なる第2フレームとの間での前記対象物の回転を検出し、前記回転の回転軸を座標系の第1の軸として設定し、
    前記第1フレームの前記距離画像に存在する第1の特徴点と、前記第2フレームの前記距離画像で前記第1の特徴点に対応する第2の特徴点と、が属する平面を前記座標系に設定し、
    前記平面が前記第1の軸と交わる点を前記座標系の原点として設定し、
    前記原点から前記第1の特徴点へ向かう方向の動径座標を前記座標系に設定し、
    前記第1の軸まわりの回転角方向の回転座標を前記座標系に設定し、
    前記複数のフレームのそれぞれの前記距離画像を読み込み、
    前記複数のフレームのそれぞれの前記距離画像を参照し、前記対象物までの距離が所定値よりも大きな点を削除する処理を行い、
    前記削除する処理がされた前記複数のフレームに前記第1フレームの距離画像と、前記第2フレームの距離画像との差分を計算し、前記差分が所定値よりも大きな場合に前記対象物の移動を検知し、
    前記対象物の移動を検知した場合に、前記第2フレームの前記距離画像から特徴点を検出し、
    前記対象物に対して設定した前記座標系に、検出した前記特徴点を書き込む、
    形状測定方法。
  5. 対象物の2次元画像を複数のフレームにわたって取得する処理と
    前記対象物の距離画像を前記複数のフレームにわたって取得する処理と、
    前記複数のフレームに含まれる第1フレームと前記第1フレームと異なる第2フレームとの間での前記対象物の回転を検出し、前記回転の回転軸を座標系の第1の軸として設定する処理と、
    前記第1フレームの前記距離画像に存在する第1の特徴点と、前記第2フレームの前記距離画像で前記第1の特徴点に対応する第2の特徴点と、が属する平面を前記座標系に設定する処理と、
    前記平面が前記第1の軸と交わる点を前記座標系の原点として設定する処理と、
    前記原点から前記第1の特徴点へ向かう方向の動径座標を前記座標系に設定する処理と、
    前記第1の軸まわりの回転角方向の回転座標を前記座標系に設定する処理と、
    前記複数のフレームのそれぞれの前記距離画像を読み込む処理と、
    前記複数のフレームのそれぞれの前記距離画像を参照し、前記対象物までの距離が所定値よりも大きな点を削除する処理と、
    前記削除する処理がされた前記複数のフレームに前記第1フレームの距離画像と、前記第2フレームの距離画像との差分を計算し、前記差分が所定値よりも大きな場合に前記対象物の移動を検知する処理と、
    前記対象物の移動を検知した場合に、前記第2フレームの前記距離画像から特徴点を検出する処理と、
    前記対象物に対して設定した前記座標系に、検出した前記特徴点を書き込む処理と、をコンピュータに実行させる、
    形状測定プログラム。
JP2018054347A 2018-03-22 2018-03-22 形状測定装置、形状測定方法及びプログラム Active JP7000940B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018054347A JP7000940B2 (ja) 2018-03-22 2018-03-22 形状測定装置、形状測定方法及びプログラム
US16/296,185 US11080875B2 (en) 2018-03-22 2019-03-07 Shape measuring apparatus, shape measuring method, non-transitory computer readable medium storing program

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018054347A JP7000940B2 (ja) 2018-03-22 2018-03-22 形状測定装置、形状測定方法及びプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019168251A JP2019168251A (ja) 2019-10-03
JP7000940B2 true JP7000940B2 (ja) 2022-01-19

Family

ID=68107185

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018054347A Active JP7000940B2 (ja) 2018-03-22 2018-03-22 形状測定装置、形状測定方法及びプログラム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7000940B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023189601A1 (ja) * 2022-03-29 2023-10-05 ソニーグループ株式会社 情報処理装置、記録媒体及び情報処理方法

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011013121A (ja) 2009-07-02 2011-01-20 Sobal Kk 3次元形状測定装置、3次元形状測定方法
JP2011133273A (ja) 2009-12-22 2011-07-07 Canon Inc 推定装置及びその制御方法、プログラム
WO2012073381A1 (ja) 2010-12-03 2012-06-07 富士通株式会社 生体認証装置及び生体認証方法
JP2012185665A (ja) 2011-03-04 2012-09-27 Fuji Heavy Ind Ltd 車外監視装置
WO2013021767A1 (ja) 2011-08-10 2013-02-14 富士フイルム株式会社 動体検出装置及び方法
JP2013530757A (ja) 2010-06-22 2013-08-01 スリーディー システムズ インコーポレーテッド 開窓、限定された柔軟性及びモジュール構成を有する特注の装具、ギプス及び用具並びに設計及び製作の方法
JP2014240800A (ja) 2013-06-12 2014-12-25 株式会社ブリヂストン 検査補助装置
US20150022640A1 (en) 2013-07-22 2015-01-22 Hexagon Technology Center Gmbh Method and system for volume determination using a structure from motion algorithm
JP2015192443A (ja) 2014-03-31 2015-11-02 株式会社ニコン 画像生成装置、画像検索装置、画像生成プログラム、及び画像検索プログラム
JP2016218920A (ja) 2015-05-25 2016-12-22 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム
JP2017084307A (ja) 2015-10-30 2017-05-18 キヤノン株式会社 情報処理装置、その制御方法、プログラム、及び記憶媒体
JP2017150893A (ja) 2016-02-23 2017-08-31 ソニー株式会社 測距モジュール、測距システム、および、測距モジュールの制御方法

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011013121A (ja) 2009-07-02 2011-01-20 Sobal Kk 3次元形状測定装置、3次元形状測定方法
JP2011133273A (ja) 2009-12-22 2011-07-07 Canon Inc 推定装置及びその制御方法、プログラム
JP2013530757A (ja) 2010-06-22 2013-08-01 スリーディー システムズ インコーポレーテッド 開窓、限定された柔軟性及びモジュール構成を有する特注の装具、ギプス及び用具並びに設計及び製作の方法
WO2012073381A1 (ja) 2010-12-03 2012-06-07 富士通株式会社 生体認証装置及び生体認証方法
JP2012185665A (ja) 2011-03-04 2012-09-27 Fuji Heavy Ind Ltd 車外監視装置
WO2013021767A1 (ja) 2011-08-10 2013-02-14 富士フイルム株式会社 動体検出装置及び方法
JP2014240800A (ja) 2013-06-12 2014-12-25 株式会社ブリヂストン 検査補助装置
US20150022640A1 (en) 2013-07-22 2015-01-22 Hexagon Technology Center Gmbh Method and system for volume determination using a structure from motion algorithm
JP2015192443A (ja) 2014-03-31 2015-11-02 株式会社ニコン 画像生成装置、画像検索装置、画像生成プログラム、及び画像検索プログラム
JP2016218920A (ja) 2015-05-25 2016-12-22 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム
JP2017084307A (ja) 2015-10-30 2017-05-18 キヤノン株式会社 情報処理装置、その制御方法、プログラム、及び記憶媒体
JP2017150893A (ja) 2016-02-23 2017-08-31 ソニー株式会社 測距モジュール、測距システム、および、測距モジュールの制御方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2019168251A (ja) 2019-10-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9767563B2 (en) Image processing apparatus and method for obtaining position and orientation of imaging apparatus
JP6320051B2 (ja) 三次元形状計測装置、三次元形状計測方法
US10643347B2 (en) Device for measuring position and orientation of imaging apparatus and method therefor
JP5631025B2 (ja) 情報処理装置、その処理方法及びプログラム
US9646425B2 (en) Inspection program editing environment with editing environment automatically globally responsive to editing operations in any of its portions
US8854362B1 (en) Systems and methods for collecting data
US9952586B2 (en) Inspection program editing environment with simulation status and control continually responsive to selection operations
KR101032446B1 (ko) 영상의 정점 검출 장치 및 방법
Karaszewski et al. Assessment of next-best-view algorithms performance with various 3D scanners and manipulator
US9933256B2 (en) Inspection program editing environment including real-time feedback related to throughput
JP2023525535A (ja) 3次元画像内の表面特徴を識別する方法及び装置
JP2019190969A (ja) 画像処理装置、画像処理方法
EP3309750A1 (en) Image processing apparatus and image processing method
JP7000940B2 (ja) 形状測定装置、形状測定方法及びプログラム
CN109773777A (zh) 把持方法、把持系统以及存储介质
JP7000941B2 (ja) 処理装置、3次元モデルの分割方法及びプログラム
US11093730B2 (en) Measurement system and measurement method
CN115393172B (zh) 基于gpu实时提取光条纹中心的方法及设备
US11080875B2 (en) Shape measuring apparatus, shape measuring method, non-transitory computer readable medium storing program
JP2012160063A (ja) 球体の検出方法
JP7020636B2 (ja) 光干渉断層撮影スキャン制御
JP2015114762A (ja) 手指動作検出装置、手指動作検出方法、手指動作検出プログラム、及び仮想物体処理システム
JP2018049498A (ja) 画像処理装置、操作検出方法、コンピュータプログラム、及び記憶媒体
JP2018077168A (ja) シミュレーション装置、シミュレーション方法およびシミュレーションプログラム
Chen et al. A 3-D point clouds scanning and registration methodology for automatic object digitization

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200831

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210721

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210803

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210928

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20211124

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20211207

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7000940

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150