JP6987488B2 - 輪郭を有する構造体の検査用のレーザー超音波システム及び方法 - Google Patents
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Description
レーザー超音波試験システムで構造体を超音波走査するステップであって、前記構造体にナノ構造体のアレイが設けられ、前記ナノ構造体が所定の配向を有し、前記ナノ構造体が前記構造体の走査される表面の上に配置される、ステップと、前記構造体が所定の基準に合致しているかどうかを決定するステップと、を備える方法。
前記ナノ構造体のアレイを用いて、前記レーザー超音波試験システムからの入射エネルギーを前記構造体内に向けるステップを更に備える項1に記載の方法。
前記ナノ構造体のアレイがナノチューブコーティングを備え、前記方法が、前記ナノチューブコーティングを用いて、前記レーザー超音波試験システムからの入射エネルギーを前記構造体内に向けるステップを更に備える項1に記載の方法。
前記ナノチューブコーティングが、前記構造体の走査される表面に実質的に垂直に配置されたナノチューブを含む、項3に記載の方法。
前記レーザー超音波試験システムが前記構造体に発生させた熱を放散させるステップを更に備える項1に記載の方法。
前記レーザー超音波試験システムが低パワーファイバーベースレーザーシステムである、項1に記載の方法。
前記ナノ構造体のアレイで走査される表面を覆うステップを更に備える項1に記載の方法。
構造体の少なくとも部分の上にナノチューブアレイを配置するステップと、前記ナノチューブアレイを用いて、レーザー超音波試験システムの入射エネルギーを前記構造体内に向けて、前記構造体の走査を行うステップと、前記構造体が所定の基準に合致しているかどうかを決定するステップとを備える方法。
前記ナノチューブアレイが前記構造体の部分に実質的に垂直に配置されたナノチューブを含む、項8に記載の方法。
前記ナノチューブアレイがキャリアの上に配置され、前記キャリアが前記構造体の部分に取り付けられる、項8に記載の方法。
前記レーザー超音波試験システムが低パワーファイバーベースレーザーシステムである、項8に記載の方法。
前記ナノチューブアレイを用いて、前記レーザー超音波試験システムが前記構造体に発生させた熱を放散させるステップを更に備える項8に記載の方法。
評価される構造体の表面上にナノ構造体のアレイを、前記ナノ構造体のアレイが所定の配向を有するようにして、発生させるように構成されたナノ構造体発生モジュールと、前記ナノ構造体のアレイの所定の配向によって決められる所定の方向において前記ナノ構造体のアレイを介して前記評価される構造体内に入射エネルギーを向けるように構成された超音波試験システムと、を備える非破壊評価システム。
前記超音波試験システムがレーザー超音波試験システムを備える、項13に記載の非破壊評価システム。
前記超音波試験システムが低パワーファイバーベースレーザーシステムを備える、項14に記載の非破壊評価システム。
前記ナノ構造体発生モジュールが、前記ナノ構造体のアレイが前記表面に実質的に垂直に配置されるように、前記ナノ構造体のアレイを発生させるように構成されている、項13に記載の非破壊評価システム。
前記ナノ構造体のアレイがナノチューブを備える、項13に記載の非破壊評価システム。
101 ナノ構造体発生モジュール
110 構造体
120 ナノ構造体のアレイ
Claims (9)
- レーザー超音波試験システム(100)を用いて構造体(110)を超音波走査するステップであって、前記構造体(110)にナノ構造体のアレイ(120)が提供され、前記ナノ構造体が所定の配向を有し、前記ナノ構造体が前記構造体(110)の走査表面(111)の上に配置され、前記ナノ構造体が前記表面(111)に垂直に配置される、ステップと、
前記構造体(110)が所定の基準に合致しているかどうかを決定するステップとを備える方法。 - 前記ナノ構造体のアレイ(120)を用いて、前記レーザー超音波試験システム(100)からの入射エネルギーを前記構造体(110)の中に向けるステップをさらに備える請求項1に記載の方法。
- 前記ナノ構造体のアレイ(120)がナノチューブコーティングを備え、前記方法が前記ナノチューブコーティングを用いて前記レーザー超音波試験システム(100)からの入射エネルギーを前記構造体(110)の中に向けるステップを備える、請求項1又は2に記載の方法。
- 前記レーザー超音波試験システム(100)が前記構造体(110)に発生させた熱を放散させるステップを更に備える請求項1から3のいずれか一項に記載の方法。
- 前記ナノ構造体のアレイ(120)で前記走査表面(111)を覆うステップを更に備える請求項1から4のいずれか一項に記載の方法。
- 評価される構造体(110)の表面(111)の上にナノ構造体のアレイ(120)を、前記ナノ構造体のアレイ(120)が所定の配向を有するように、発生させるように構成されたナノ構造体発生モジュール(101)と、
前記ナノ構造体のアレイ(120)の所定の配向によって決められる所定の向きにおいて、前記ナノ構造体のアレイ(120)を介して、前記評価される構造体(110)の中に入射エネルギー(300)を向けるように構成された超音波試験システムと、を備え、
前記ナノ構造体発生モジュール(101)が、前記ナノ構造体のアレイ(120)のナノ構造体が前記表面(111)に垂直に配置されるようにして、前記ナノ構造体のアレイ(120)を発生させるように構成されている、非破壊評価システム。 - 前記超音波試験システムがレーザー超音波試験システム(100)を備える、請求項6に記載の非破壊評価システム。
- 前記超音波試験システムが低パワーファイバーベースレーザーシステムを備える、請求項7に記載の非破壊評価システム。
- 前記ナノ構造体のアレイ(120)がナノチューブを備える、請求項6から8のいずれか一項に記載の非破壊評価システム。
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