JP6951498B2 - Exposure equipment, exposure method and article manufacturing method - Google Patents

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Description

本発明は、露光装置、露光方法および物品製造方法に関する。 The present invention relates to an exposure apparatus, an exposure method, and an article manufacturing method.

半導体デバイス等の物品の製造において、原版(レチクル又はマスク)を照明光学系で照明し、投影光学系を介して原版のパターンを基板に投影し基板を露光する露光装置が使用される。投影光学系の結像特性は、露光光の照射によって変動するため、露光装置では、光学素子の姿勢および位置の制御によって結像特性が補正されうる。光学素子の姿勢および位置の制御によって補正が可能な収差成分は限られており、非点収差などの非回転対象な結像特性は補正することができない。特許文献1には、投影光学系の瞳面近傍に配置される光学部材の温度を調整する調整機構によって該光学部材の温度分布を変更し、該投影光学系の光学特性を調整することが記載されている。 In the manufacture of articles such as semiconductor devices, an exposure apparatus is used in which an original plate (reticle or mask) is illuminated by an illumination optical system, and a pattern of the original plate is projected onto a substrate via a projection optical system to expose the substrate. Since the imaging characteristics of the projection optical system vary depending on the irradiation of the exposure light, the imaging characteristics can be corrected by controlling the posture and position of the optical element in the exposure apparatus. Aberration components that can be corrected by controlling the posture and position of the optical element are limited, and non-rotational imaging characteristics such as astigmatism cannot be corrected. Patent Document 1 describes that the temperature distribution of the optical member is changed by an adjusting mechanism for adjusting the temperature of the optical member arranged near the pupil surface of the projection optical system to adjust the optical characteristics of the projection optical system. Has been done.

特許第5266641号公報Japanese Patent No. 5266641

特許文献1には、露光動作が実施される期間中に調整機構によって投影光学系の結像特性を調整することが記載されているに過ぎず、露光動作が実施されない期間中に調整機構によって結像特性の調整を行うことは記載されていない。露光動作が実施されない期間において調整機構による調整を停止すると、露光動作を再開した際に大きな補正残差が発生する可能性がある。これは、露光動作の終了後の結像特性の時間的な変化と調整機構による調整の終了後の結像特性の時間的な変化とが異なるためである。 Patent Document 1 merely describes that the imaging characteristics of the projection optical system are adjusted by the adjusting mechanism during the period when the exposure operation is performed, and is connected by the adjusting mechanism during the period when the exposure operation is not performed. There is no mention of adjusting the image characteristics. If the adjustment by the adjusting mechanism is stopped during the period when the exposure operation is not performed, a large correction residual may occur when the exposure operation is restarted. This is because the temporal change in the imaging characteristics after the end of the exposure operation and the temporal change in the imaging characteristics after the adjustment by the adjustment mechanism are different.

本発明は、上記の課題認識を契機としてなされたものであり、露光動作を停止した後に露光動作を再開した場合にも投影光学系の収差を高い精度で補正するために有利な技術を提供することを目的とする。 The present invention has been made with the above-mentioned problem recognition as an opportunity, and provides an advantageous technique for correcting the aberration of the projection optical system with high accuracy even when the exposure operation is restarted after the exposure operation is stopped. The purpose is.

本発明の1つの側面は、投影光学系を介して基板を露光する露光動作を行う露光装置に係り、前記露光装置は、前記投影光学系の光学素子の温度分布を制御する温度調整部を備え、前記露光動作が実施される第1期間において、前記露光動作が実施されることによる前記投影光学系の収差の変化が低減されるように前記温度調整部が動作し、前記第1期間に続く、露光動作が実施されない第2期間において、露光動作が実施されないことによる前記収差の変化が低減されるように前記温度調整部が動作する。One aspect of the present invention relates to an exposure device that performs an exposure operation for exposing a substrate via a projection optical system, and the exposure device includes a temperature adjusting unit that controls a temperature distribution of optical elements of the projection optical system. In the first period in which the exposure operation is performed, the temperature adjusting unit operates so as to reduce the change in aberration of the projection optical system due to the exposure operation, following the first period. In the second period in which the exposure operation is not performed, the temperature adjusting unit operates so as to reduce the change in the aberration due to the non-exposure operation being performed.

本発明によれば、露光動作を停止した後に露光動作を再開した場合にも投影光学系の収差を高い精度で補正するために有利な技術が提供される。 According to the present invention, there is provided an advantageous technique for correcting the aberration of the projection optical system with high accuracy even when the exposure operation is restarted after the exposure operation is stopped.

第1実施形態の露光装置の構成を模式的に示す図。The figure which shows typically the structure of the exposure apparatus of 1st Embodiment. 第1実施形態の露光装置における光学素子および温度調整部の構成例を示す図。The figure which shows the structural example of the optical element and the temperature adjustment part in the exposure apparatus of 1st Embodiment. 温度調整部によって加熱されたレンズの温度分布を例示する図。The figure which illustrates the temperature distribution of the lens heated by a temperature control part. 走査露光装置の投影光学系のレンズを通過する光束の分布を例示する図。The figure which illustrates the distribution of the light flux passing through the lens of the projection optical system of a scanning exposure apparatus. 非点収差の変化の時間的特性を例示する図。The figure which illustrates the temporal characteristic of the change of astigmatism. 第1実施形態の露光装置における投影光学系の収差の補正を例示する図。The figure which illustrates the correction of the aberration of the projection optical system in the exposure apparatus of 1st Embodiment. 第1実施形態の露光装置における投影光学系の収差の補正の一例を示す図。The figure which shows an example of the correction of the aberration of the projection optical system in the exposure apparatus of 1st Embodiment. 第2実施形態の露光装置における投影光学系の収差の補正を例示する図。The figure which illustrates the correction of the aberration of the projection optical system in the exposure apparatus of 2nd Embodiment. 第3実施形態の露光装置における投影光学系の収差の補正を例示する図。The figure which illustrates the correction of the aberration of the projection optical system in the exposure apparatus of 3rd Embodiment. 第3実施形態の露光装置における非点収差以外の収差成分を例示する図。The figure which illustrates the aberration component other than astigmatism in the exposure apparatus of 3rd Embodiment. 第4実施形態における加熱素子の構成および配置を例示する図。The figure which illustrates the structure and arrangement of the heating element in 4th Embodiment.

以下、添付図面を参照して実施形態を詳しく説明する。なお、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。実施形態には複数の特徴が記載されているが、これらの複数の特徴の全てが発明に必須のものとは限らず、また、複数の特徴は任意に組み合わせられてもよい。さらに、添付図面においては、同一若しくは同様の構成に同一の参照番号を付し、重複した説明は省略する。 Hereinafter, embodiments will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The following embodiments do not limit the invention according to the claims. Although a plurality of features are described in the embodiment, not all of the plurality of features are essential to the invention, and the plurality of features may be arbitrarily combined. Further, in the attached drawings, the same or similar configurations are given the same reference numbers, and duplicate explanations are omitted.

図1には、第1実施形態の露光装置EXPの構成が模式的に示されている。露光装置EXPは、概略的には、投影光学系107を介して基板110を露光する露光動作を行う。明細書および図面では、図1に示されるように、基板110が配置される面と平行な面をXY平面とするXYZ座標系において方向を示す。露光装置EXPは、光源102、照明光学系104、投影光学系107および制御部100を備えている。露光動作において、照明光学系104は、光源102からの光(露光光)で原版106を照明し、投影光学系107によって原版106のパターンを基板110に投影し、これにより基板110を露光する。露光装置EXPは、原版106および基板110を静止させた状態で基板110を露光する露光装置として構成されてもよいし、原版106および基板110を走査しながら基板110を露光する露光装置として構成されてもよい。一般的に、基板110は、複数のショット領域を有し、各ショット領域に対して露光動作がなされうる。 FIG. 1 schematically shows the configuration of the exposure apparatus EXP of the first embodiment. The exposure apparatus EXP roughly performs an exposure operation for exposing the substrate 110 via the projection optical system 107. In the specification and the drawings, as shown in FIG. 1, the direction is shown in the XYZ coordinate system in which the plane parallel to the plane on which the substrate 110 is arranged is the XY plane. The exposure apparatus EXP includes a light source 102, an illumination optical system 104, a projection optical system 107, and a control unit 100. In the exposure operation, the illumination optical system 104 illuminates the original plate 106 with the light (exposure light) from the light source 102, and the projection optical system 107 projects the pattern of the original plate 106 onto the substrate 110, thereby exposing the substrate 110. The exposure apparatus EXP may be configured as an exposure apparatus that exposes the substrate 110 with the original plate 106 and the substrate 110 stationary, or may be configured as an exposure apparatus that exposes the substrate 110 while scanning the original plate 106 and the substrate 110. You may. Generally, the substrate 110 has a plurality of shot regions, and an exposure operation can be performed on each shot region.

光源102は、例えば、エキシマレーザーを含みうるが、他の発光デバイスを含んでもよい。該エキシマレーザーは、例えば、波長が248nmまたは193nmの波長の光を発生しうるが、他の波長の光を発生してもよい。投影光学系107は、光学素子109と、光学素子109の温度分布を制御する温度調整部108とを含みうる。温度調整部108は、光学素子109に熱エネルギーを与えることによって光学素子109の屈折率分布および/または面形状を変化させ、これにより投影光学系107の光学特性の変化を低減させうる。温度調整部108が光学素子109に与える熱エネルギーは、正および負のエネルギーを含みうる。光学素子109に対して正のエネルギーを与えることは、光学素子109を加熱することを意味し、光学素子109に対して負のエネルギーを与えることは、光学素子109を冷却することを意味する。 The light source 102 may include, for example, an excimer laser, but may include other light emitting devices. The excimer laser may, for example, generate light having a wavelength of 248 nm or 193 nm, but may generate light of other wavelengths. The projection optical system 107 may include an optical element 109 and a temperature adjusting unit 108 that controls the temperature distribution of the optical element 109. The temperature adjusting unit 108 can change the refractive index distribution and / or the surface shape of the optical element 109 by applying thermal energy to the optical element 109, thereby reducing the change in the optical characteristics of the projection optical system 107. The thermal energy given to the optical element 109 by the temperature adjusting unit 108 may include positive and negative energies. Giving positive energy to the optical element 109 means heating the optical element 109, and giving negative energy to the optical element 109 means cooling the optical element 109.

温度調整部108は、光学素子109と密着するように配置されてもよく、この場合、温度調整部108と光学素子109との間の熱エネルギーの伝達が効率的である。あるいは、温度調整部108は、光学素子109に対して離間して配置されてもよく、当該構成は、温度調整部108によって光学素子109に機械的な力が加えられない点や、温度調整部108によって光学素子109に傷等の損傷が与えられない点で有利である。 The temperature adjusting unit 108 may be arranged so as to be in close contact with the optical element 109, and in this case, the transfer of thermal energy between the temperature adjusting unit 108 and the optical element 109 is efficient. Alternatively, the temperature adjusting unit 108 may be arranged at a distance from the optical element 109, and the configuration is such that the temperature adjusting unit 108 does not apply a mechanical force to the optical element 109 or the temperature adjusting unit 108. It is advantageous in that the optical element 109 is not damaged such as scratches by the 108.

温度調整部108は、温度調整部108が基板110に対する光の照射を妨げないように、光学素子109の有効径(光路)の外側に配置されることが好ましい。例えば、温度調整部108は、光学素子109としてのレンズのコバ部、該レンズの表面または裏面に配置されうる。あるいは、温度調整部108は、投影光学系107の光学性能に影響を与えない範囲で、有効径の内側に配置されてもよい。このような配置の例としては、例えば、細い電熱線を有効径内に配置する例や、高い光透過率を有する伝熱素子を有効径内に配置する例を挙げることができる。 The temperature adjusting unit 108 is preferably arranged outside the effective diameter (optical path) of the optical element 109 so that the temperature adjusting unit 108 does not interfere with the irradiation of the substrate 110 with light. For example, the temperature adjusting unit 108 may be arranged on the edge portion of the lens as the optical element 109, or on the front surface or the back surface of the lens. Alternatively, the temperature adjusting unit 108 may be arranged inside the effective diameter as long as it does not affect the optical performance of the projection optical system 107. Examples of such an arrangement include an example in which a thin heating wire is arranged within the effective diameter and an example in which a heat transfer element having a high light transmittance is arranged within the effective diameter.

光学素子109の外周側に温度調整部108を配置する場合、光学素子109は、投影光学系107の瞳面またはその近傍に配置されることが好ましいが、温度調整部108は、投影光学系107の瞳面から離隔した配置されてもよい。温度調整部108は、投影光学系107の光学素子109の温度分布を制御する第1温度制御部と、投影光学系107の光学素子109の温度分布を制御する第2温度制御部とを含む複数の温度制御部を含みうる。第1温度制御部は、露光動作が実施される第1期間において、露光動作が実施されることによる投影光学系107の光学特性の変化が低減されるように動作しうる。第2温度制御部は、第1期間に続く、露光動作が実施されない第2期間において、露光動作が実施されないことによる投影光学系107の光学特性変化が低減されるように動作しうる。あるいは、露光動作が実施される第1期間において、露光動作が実施されることによる投影光学系107の光学特性の変化が低減されるように第1温度制御部と第2温度制御部との少なくとも一方が動作しうる。また、第1期間に続く、露光動作が実施されない第2期間において、露光動作が実施されないことによる投影光学系107の光学特性変化が低減されるように第1温度制御部と第2温度制御部との少なくとも一方が動作しうる。複数の温度制御部(第1温度制御部、第2温度制御部)は、光学素子109に与える熱エネルギーの量および継続時間が個別に制御され、これにより光学素子109の温度分布を制御しうる。複数の温度制御部(第1温度制御部、第2温度制御部)は、制御部100によって制御されうる。第1温度制御部によって温度分布が制御される光学素子109と第2温度制御部によって温度分布が制御される光学素子109とは、互いに同じであってもよいし、互いに異なってもよい。 When the temperature adjusting unit 108 is arranged on the outer peripheral side of the optical element 109, the optical element 109 is preferably arranged on or near the pupil surface of the projection optical system 107, but the temperature adjusting unit 108 is arranged on the projection optical system 107. It may be arranged away from the pupil surface of the. A plurality of temperature adjusting units 108 include a first temperature control unit that controls the temperature distribution of the optical element 109 of the projection optical system 107, and a second temperature control unit that controls the temperature distribution of the optical element 109 of the projection optical system 107. It may include a temperature control unit of. The first temperature control unit may operate so as to reduce the change in the optical characteristics of the projection optical system 107 due to the exposure operation during the first period in which the exposure operation is performed. The second temperature control unit may operate so as to reduce the change in the optical characteristics of the projection optical system 107 due to the non-exposure operation in the second period following the first period in which the exposure operation is not performed. Alternatively, at least in the first temperature control unit and the second temperature control unit so that the change in the optical characteristics of the projection optical system 107 due to the exposure operation is reduced in the first period in which the exposure operation is performed. One can work. Further, in the second period following the first period, in which the exposure operation is not performed, the first temperature control unit and the second temperature control unit are reduced so that the change in the optical characteristics of the projection optical system 107 due to the non-exposure operation is not performed. At least one of and can work. The plurality of temperature control units (first temperature control unit, second temperature control unit) individually control the amount and duration of the thermal energy given to the optical element 109, whereby the temperature distribution of the optical element 109 can be controlled. .. The plurality of temperature control units (first temperature control unit, second temperature control unit) can be controlled by the control unit 100. The optical element 109 whose temperature distribution is controlled by the first temperature control unit and the optical element 109 whose temperature distribution is controlled by the second temperature control unit may be the same as each other or may be different from each other.

温度調整部108は、露光動作を実施している期間および露光動作を実施していない期間において、時々刻々と変化する投影光学系107の光学特性に同期させて光学素子109に与える熱エネルギーを変化させうる。ここで、温度調整部108の制御のために必要な情報は、投影光学系107の像面(基板110が配置される面)におい投影光学系107の光学特性を測定し、その結果に基づいて生成されうる。あるいは、温度調整部108の制御のために必要な情報は、測定等を通じて予め決定されてもよい。温度調整部108が光学素子109に与える熱エネルギーの制御は、例えば、温度調整部108が電熱線を含む場合、電熱線に印加する電流値の制御によって実現されてうる。あるいは、温度調整部108が光学素子109に与える熱エネルギーの制御は、例えば、光学素子109と温度調整部108との物理的な距離または熱的な距離の制御によって実現されてもよい。 The temperature adjusting unit 108 changes the thermal energy given to the optical element 109 in synchronization with the optical characteristics of the projection optical system 107, which changes from moment to moment, during the period in which the exposure operation is performed and the period in which the exposure operation is not performed. I can let you. Here, the information necessary for controlling the temperature adjusting unit 108 is based on the measurement of the optical characteristics of the projection optical system 107 on the image plane (the surface on which the substrate 110 is arranged) of the projection optical system 107. Can be generated. Alternatively, the information necessary for controlling the temperature adjusting unit 108 may be determined in advance through measurement or the like. The control of the thermal energy given to the optical element 109 by the temperature adjusting unit 108 can be realized, for example, by controlling the current value applied to the heating wire when the temperature adjusting unit 108 includes the heating wire. Alternatively, the control of the thermal energy given to the optical element 109 by the temperature adjusting unit 108 may be realized by, for example, controlling the physical distance or the thermal distance between the optical element 109 and the temperature adjusting unit 108.

制御部100は、光源102、照明光学系104、投影光学系107および温度調整部108を制御しうる。より具体的には、制御部100は、露光動作を制御する他、第1期間および第2期間において温度調整部108を制御するように構成されうる。制御部100は、例えば、FPGA(Field Programmable Gate Arrayの略。)などのPLD(Programmable Logic Deviceの略。)、又は、ASIC(Application Specific Integrated Circuitの略。)、又は、プログラムが組み込まれた汎用又は専用のコンピュータ、又は、これらの全部または一部の組み合わせによって構成されうる。 The control unit 100 can control the light source 102, the illumination optical system 104, the projection optical system 107, and the temperature control unit 108. More specifically, the control unit 100 may be configured to control the temperature adjusting unit 108 in the first period and the second period in addition to controlling the exposure operation. The control unit 100 is, for example, a PLD (abbreviation for Programmable Logic Device) such as FPGA (abbreviation for Field Programmable Gate Array), or an ASIC (application specific specialized integrated circuit) or an abbreviation for an ASIC (application specific integrated circuit) integrated circuit. Alternatively, it may be composed of a dedicated computer or a combination of all or a part thereof.

図2には、第1実施形態の露光装置EXPにおける光学素子109および温度調整部108の構成例が示されている。光学素子109は、レンズ201を含みうる。温度調整部108は、加熱素子204a、204bで構成される第1温度制御部204と、加熱素子203a、203bで構成される第2温度制御部203と含みうる。加熱素子204a、204b、203a、203bは、それぞれレンズ201の円周の1/4の円弧に相当する円弧形状を有しうる。加熱素子204a、204b、203a、203bは、例えば、電熱線を含むフレキシブルケーブルで構成され、該電熱線に電流が印加されることによって熱を発生し、レンズ201に温度分布を形成しうる。 FIG. 2 shows a configuration example of the optical element 109 and the temperature adjusting unit 108 in the exposure apparatus EXP of the first embodiment. The optical element 109 may include a lens 201. The temperature adjusting unit 108 may include a first temperature control unit 204 composed of heating elements 204a and 204b and a second temperature control unit 203 composed of heating elements 203a and 203b. The heating elements 204a, 204b, 203a, and 203b may each have an arc shape corresponding to an arc of 1/4 of the circumference of the lens 201. The heating elements 204a, 204b, 203a, and 203b are composed of, for example, a flexible cable including a heating wire, and heat is generated by applying an electric current to the heating wire, which can form a temperature distribution on the lens 201.

加熱素子204a、204b、203a、203bは、例えば、レンズ201の平面部に対して10〜100μm離隔して配置されうる。加熱素子204a、204b、203a、203bが発生する熱は、加熱素子204a、204b、203a、203bとレンズ201との間の媒体205を経由してレンズ201に伝達されうる。媒体205は、例えば、空気または窒素等の気体でありうる。加熱素子204a、204b、203a、203bは、レンズ201と媒体205を介して直接に対面する必要ない。加熱素子204a、204b、203a、203bは、例えば、高い熱伝導性を有する金属で電熱線を挟んだ構造を有してもよい。 The heating elements 204a, 204b, 203a, 203b may be arranged, for example, at a distance of 10 to 100 μm with respect to the flat surface portion of the lens 201. The heat generated by the heating elements 204a, 204b, 203a, 203b can be transferred to the lens 201 via the medium 205 between the heating elements 204a, 204b, 203a, 203b and the lens 201. The medium 205 can be, for example, a gas such as air or nitrogen. The heating elements 204a, 204b, 203a, 203b do not need to directly face each other via the lens 201 and the medium 205. The heating elements 204a, 204b, 203a, and 203b may have, for example, a structure in which a heating wire is sandwiched between metals having high thermal conductivity.

図2(b)の例では、加熱素子204a、204b、203a、203bがレンズ201の平面部の上(照明光学系104の側)に配置されている。しかしながら、加熱素子204a、204b、203a、203bは、レンズ201の下(基板110の側)またはレンズ201のコバ部に配置されてもよい。レンズ201は、加熱素子204a、204b、203a、203bによって加熱される被加熱面206を有しうる。被加熱面206は、平面であってもよいし、曲面であってもよい。被加熱面206は、例えば、粗面化された面(すりガラス状の面)でありうる。 In the example of FIG. 2B, the heating elements 204a, 204b, 203a, and 203b are arranged on the flat surface portion of the lens 201 (on the side of the illumination optical system 104). However, the heating elements 204a, 204b, 203a, and 203b may be arranged under the lens 201 (on the side of the substrate 110) or on the edge portion of the lens 201. The lens 201 may have a surface 206 to be heated that is heated by the heating elements 204a, 204b, 203a, 203b. The surface to be heated 206 may be a flat surface or a curved surface. The surface to be heated 206 can be, for example, a roughened surface (ground glass-like surface).

図3(a)には、第2温度制御部204によって加熱されたレンズ201の温度分布が例示されている。このとき、基板110の表面において、非点収差が正の方向に発生する。図3(b)には、第1温度制御部203によって加熱されたレンズ201の温度分布が例示されている。図3(b)の温度分布は、図3(a)の温度分布に対して逆位相の温度分布である。図3(b)の温度分布により、基板110の表面において、非点収差が負の方向に発生する。このように、第1温度制御部204および第2温度制御部203によるレンズ201の加熱によって、正および負の非点収差を発生させることができる。このような構成は、ペルチェ素子のような素子を使用して加熱と冷却との組み合わせによって正および負の非点収差を発生する構成と比べると、温度調整部108の構成を単純化することができる点で有利である。 FIG. 3A illustrates the temperature distribution of the lens 201 heated by the second temperature control unit 204. At this time, astigmatism occurs in the positive direction on the surface of the substrate 110. FIG. 3B illustrates the temperature distribution of the lens 201 heated by the first temperature control unit 203. The temperature distribution in FIG. 3 (b) is a temperature distribution having a phase opposite to the temperature distribution in FIG. 3 (a). Due to the temperature distribution of FIG. 3B, astigmatism occurs in the negative direction on the surface of the substrate 110. In this way, positive and negative astigmatism can be generated by heating the lens 201 by the first temperature control unit 204 and the second temperature control unit 203. Such a configuration can simplify the configuration of the temperature adjusting unit 108 as compared with a configuration in which a positive and negative astigmatism is generated by a combination of heating and cooling using an element such as a Pelche element. It is advantageous in that it can be done.

ここで、X方向に長いスリット状の光束(露光光)に対して原版106および基板110を走査する走査露光装置に露光装置EXPを適用した場合、露光動作時に投影光学系107を通過する光束の強度分布は、図4の斜線部401に示されるようなりうる。この場合、光束を吸収することによって生じるレンズ201(光学素子109)の温度分布は、X方向とY方向とで異なり、これが投影光学系107の大きな非点収差を発生させる原因となりうる。そこで、この非点収差が低減されるように、第1温度制御部204によってレンズ201に温度分布が与えられうる。第1温度制御部204が発生させる投影光学系107の非点収差とレンズ201が光束を吸収することによって発生する投影光学系107の非点収差とは、符号が逆である。したがって、レンズ201が光束を吸収することによって発生する投影光学系107の非点収差は、第1温度制御部204が発生させる投影光学系107の非点収差によって低減されうる。なお、以下では、特に言及しない限り、「非点収差」は投影光学系107の非点収差を意味するものとする。 Here, when the exposure apparatus EXP is applied to a scanning exposure apparatus that scans the original plate 106 and the substrate 110 with respect to a slit-shaped luminous flux (exposure light) long in the X direction, the luminous flux passing through the projection optical system 107 during the exposure operation is applied. The intensity distribution can be as shown in the shaded area 401 of FIG. In this case, the temperature distribution of the lens 201 (optical element 109) caused by absorbing the luminous flux differs between the X direction and the Y direction, which may cause a large astigmatism of the projection optical system 107. Therefore, a temperature distribution can be given to the lens 201 by the first temperature control unit 204 so that this astigmatism is reduced. The astigmatism of the projection optical system 107 generated by the first temperature control unit 204 and the astigmatism of the projection optical system 107 generated by the lens 201 absorbing the luminous flux are opposite in sign. Therefore, the astigmatism of the projection optical system 107 generated by the lens 201 absorbing the luminous flux can be reduced by the astigmatism of the projection optical system 107 generated by the first temperature control unit 204. In the following, unless otherwise specified, "astigmatism" means astigmatism of the projection optical system 107.

第1温度制御部204によって発生させる非点収差の変化(時間的な変化特性)が、レンズ201が光束を吸収することによって発生する非点収差の変化(時間的な変化特性)と異なる場合がある。この場合、第1温度制御部204の電熱線に供給する電流を制御することによって第1温度制御部204による非点収差の変化を制御し、レンズ201が光束を吸収することによって発生する非点収差をより高い精度で相殺することができる。 The change in astigmatism (temporal change characteristic) generated by the first temperature control unit 204 may be different from the change in astigmatism (temporal change characteristic) generated by the lens 201 absorbing the luminous flux. be. In this case, the change in astigmatism by the first temperature control unit 204 is controlled by controlling the current supplied to the heating wire of the first temperature control unit 204, and the astigmatism generated by the lens 201 absorbing the luminous flux. The aberration can be canceled with higher accuracy.

図5には、非点収差の変化の時間的特性が例示されている。図5において、「露光時」は、露光動作を含む第1期間を示し、「非露光時」は、第1期間に続く期間であり、かつ露光動作が実施されない期間である第2期間を示す。第1の例において、第1期間は、1枚の基板に対する最初の露光動作の開始から該1枚の基板に対する最後の露光動作の終了までの期間でありうる。第2期間は、1枚の基板に対する最後の露光動作の終了時に開始する期間でありうる。第2期間は、例えば、1枚の基板に対する最後の露光動作の終了から次の基板に対する最初の露光動作の開始までの期間である。ここで、該次の基板は、該1枚の基板と同一ロットにおける基板である場合もあるし、次のロットの最初の基板である場合もある。最後に実施された露光動作の後、予め定められた時間が経過した後は、第2期間を終了させ、温度調整部108の動作を停止させることができる。第1の例は、ある基板の1つのショット領域と該基板の次のショット領域との間における収差の変化を無視可能な場合に適している。第2の例において、第1期間は、基板の各ショット領域に対して露光動作が実行される期間であり、第2期間は、ある基板の1つのショット領域に対する露光動作の終了から該基板の次のショット領域に対する露光動作の開始までの期間を含みうる。第2の例は、ある基板の1つのショット領域と該基板の次のショット領域との間における収差の変化を考慮すべき場合に適している。第3の例示において、第1期間は、第1ロットにおける1枚目の基板に対する最初の露光動作の開始から、該第1ロットの最後の基板に対する最後の露光動作の終了までの期間でありうる。第2期間は、第1ロットの最後の基板に対する最後の露光動作の終了から、該第1ロットに続く第2ロットにおける1枚目の基板に対する最初の露光動作の開始までの期間でありうる。第1の例、第2の例および第3の例は、露光動作を大雑把に捉えるかどうかの違いを有するが、両者は、共通の思想として理解されうる。 FIG. 5 illustrates the temporal characteristics of changes in astigmatism. In FIG. 5, "at the time of exposure" indicates a first period including an exposure operation, and "at the time of non-exposure" indicates a second period which is a period following the first period and a period during which the exposure operation is not performed. .. In the first example, the first period can be the period from the start of the first exposure operation on one substrate to the end of the last exposure operation on the one substrate. The second period can be a period that begins at the end of the final exposure operation on a single substrate. The second period is, for example, a period from the end of the last exposure operation on one substrate to the start of the first exposure operation on the next substrate. Here, the next substrate may be a substrate in the same lot as the one substrate, or may be the first substrate in the next lot. After a predetermined time has elapsed after the last exposure operation, the second period can be ended and the operation of the temperature adjusting unit 108 can be stopped. The first example is suitable when the change in aberration between one shot region of a substrate and the next shot region of the substrate is negligible. In the second example, the first period is the period during which the exposure operation is executed for each shot area of the substrate, and the second period is the period from the end of the exposure operation for one shot area of the substrate to the substrate. It may include the period until the start of the exposure operation for the next shot area. The second example is suitable when the change in aberration between one shot region of a substrate and the next shot region of the substrate should be considered. In the third embodiment, the first period may be a period from the start of the first exposure operation on the first substrate in the first lot to the end of the last exposure operation on the last substrate in the first lot. .. The second period can be a period from the end of the last exposure operation on the last substrate of the first lot to the start of the first exposure operation on the first substrate in the second lot following the first lot. The first example, the second example, and the third example have a difference in whether or not the exposure operation is roughly grasped, but both can be understood as a common idea.

図5において、曲線501aは、第1期間において、レンズ201が光束を吸収することによって発生する非点収差の変化を例示している。第1温度制御部204によるレンズ201の加熱によって、曲線501aの符号を逆にした曲線で変化する非点収差を発生することが、レンズ201が光束を吸収することによって発生する非点収差を低減あるいは相殺する方法として理想的である。しかし、第1温度制御部204によってレンズ201を一定温度で加熱し続けた場合、それによって発生する非点収差は、曲線502aとして例示されるように、曲線501aよりも遅い時定数で変化することが多い。そのため、曲線501aで示される非点収差を完全に補正(相殺)することはできず、曲線503aで示されるような補正残差が生じうる。 In FIG. 5, the curve 501a illustrates the change in astigmatism caused by the lens 201 absorbing the luminous flux in the first period. The heating of the lens 201 by the first temperature control unit 204 causes astigmatism that changes in a curve in which the sign of the curve 501a is reversed, which reduces the astigmatism that occurs when the lens 201 absorbs the luminous flux. Alternatively, it is an ideal way to offset. However, when the lens 201 is continuously heated at a constant temperature by the first temperature control unit 204, the astigmatism generated thereby changes with a time constant slower than that of the curve 501a, as illustrated by the curve 502a. There are many. Therefore, the astigmatism shown by the curve 501a cannot be completely corrected (offset), and a correction residual as shown by the curve 503a can occur.

同様の現象は、第2期間にも発生しうる。第2期間は露光動作が実施されないので、光束がレンズ201を通過しない。したがって、第2期間では、光束の吸収によるレンズ201の温度変化は起こらないが、レンズ201からの放熱によってレンズ201が変形し、これによって非点収差が時間的に変化する。曲線501bは、光束の吸収によって発生した熱がレンズ201から放出(放熱)されることによって発生する非点収差の変化を例示している。曲線501aにおける時定数と曲線501bにおける時定数とは同様でありうる。 A similar phenomenon can occur in the second period. Since the exposure operation is not performed in the second period, the luminous flux does not pass through the lens 201. Therefore, in the second period, the temperature of the lens 201 does not change due to the absorption of the luminous flux, but the lens 201 is deformed by the heat radiation from the lens 201, which causes the astigmatism to change with time. Curve 501b exemplifies a change in astigmatism generated by releasing (heat radiating) heat generated by absorption of a luminous flux from lens 201. The time constant on the curve 501a and the time constant on the curve 501b can be similar.

第1期間から第2期間に移行すると同時に第1温度制御部204によるレンズ201の加熱を停止すると、第1期間において第1温度制御部204によってレンズ201に与えられた熱が第2期間においてレンズ201から放出(放熱)される。それに伴って非点収差が曲線502bのように変化しうる。曲線501bと曲線502bとの間には、曲線501aと曲線502aとの間に存在するような時間的な変化特性の差が存在する。したがって、第2期間においても、曲線503bで示されるような補正残差が生じうる。 When the heating of the lens 201 by the first temperature control unit 204 is stopped at the same time as the transition from the first period to the second period, the heat given to the lens 201 by the first temperature control unit 204 in the first period is applied to the lens in the second period. It is emitted (heat radiated) from 201. Astigmatism can change accordingly as in curve 502b. Between the curve 501b and the curve 502b, there is a difference in temporal change characteristics such as that exists between the curve 501a and the curve 502a. Therefore, even in the second period, a correction residual as shown by the curve 503b can occur.

曲線501a、501b、502a、502bは、一般的には、式1に示されるような1次遅れ系、または、式2で示されるような2次遅れ系で表現されうる。ただし、これらの曲線は、他のモデルにしたがって表現されてもよい。 Curves 501a, 501b, 502a, 502b can generally be represented by a first-order lag system as shown in Equation 1 or a second-order lag system as shown in Equation 2. However, these curves may be represented according to other models.

Figure 0006951498
・・・式1
Figure 0006951498
・ ・ ・ Equation 1

ここで、φ(t)は、時刻tにおける発生収差量、Aは、時刻tから与えらえる加熱量に関する量、Gは、発生収差量に関する係数、Kは、発生収差量の時定数に関する係数である。 Here, φ (t) is the amount of generated aberration at time t, A is the amount related to the amount of heating given from time t, G is the coefficient related to the amount of generated aberration, and K is the coefficient related to the time constant of the amount of generated aberration. Is.

Figure 0006951498
・・・式2
Figure 0006951498
・ ・ ・ Equation 2

ここで、φ(t)は、時刻tにおける発生収差量、τ1、τ2は、2次遅れを表現する時定数に関する係数、Aは、時刻tから与えらえる加熱量に関する量、Gは、発生収差量に関する係数、Kは、発生収差量の時定数に関する係数である。 Here, φ (t) is the amount of generated aberration at time t, τ 1 and τ 2 are coefficients related to the time constant expressing the second-order delay, A is the amount related to the amount of heating given from time t, and G is. , Coefficient related to the amount of generated aberration, K is a coefficient related to the time constant of the amount of generated aberration.

このような時間的な変化特性の違いによる補正残差を低減するために、第1温度制御部204および第2温度制御部203がレンズ201に与える熱エネルギーが制御部100によって制御されうる。この方法について図6を参照しながら説明する。この方法では、第1温度制御部204、第2温度制御部203がレンズ201に与える熱エネルギーは、それぞれ第1期間、第2期間の開始時からの経過時間に応じた指令値に従って制御されうる。図6(a)には、第1温度制御部204の加熱素子204a、204bに印加される電流601、および、第2温度制御部203の加熱素子203a、203bに印加される電流602が例示されている。制御部100は、第1期間の開始時からの経過時間に応じた指令値として電流601に相当する指令値を第1温度制御部204に供給するように構成されうる。また、制御部100は、第2期間の開始時からの経過時間に応じた指令値として電流602に相当する指令値を第2温度制御部203に供給するように構成されうる。図6(b)には、光束の吸収によって発生する非点収差603の変化が例示されている。また、図6(b)には、第1温度制御部204の加熱素子204a、204bおよび第2温度制御部203の加熱素子203a、203bに印加される電流による加熱によって発生する非点収差604の変化が例示されている。また、図6(c)には、補正残差605の変化が例示されている。 In order to reduce the correction residual due to such a difference in the temporal change characteristic, the thermal energy given to the lens 201 by the first temperature control unit 204 and the second temperature control unit 203 can be controlled by the control unit 100. This method will be described with reference to FIG. In this method, the thermal energy given to the lens 201 by the first temperature control unit 204 and the second temperature control unit 203 can be controlled according to the command values according to the elapsed time from the start of the first period and the second period, respectively. .. FIG. 6A illustrates the current 601 applied to the heating elements 204a and 204b of the first temperature control unit 204 and the current 602 applied to the heating elements 203a and 203b of the second temperature control unit 203. ing. The control unit 100 may be configured to supply the first temperature control unit 204 with a command value corresponding to the current 601 as a command value according to the elapsed time from the start of the first period. Further, the control unit 100 may be configured to supply the second temperature control unit 203 with a command value corresponding to the current 602 as a command value according to the elapsed time from the start of the second period. FIG. 6B illustrates the change in astigmatism 603 caused by the absorption of the luminous flux. Further, FIG. 6B shows astigmatism 604 generated by heating by the current applied to the heating elements 204a and 204b of the first temperature control unit 204 and the heating elements 203a and 203b of the second temperature control unit 203. Changes are illustrated. Further, FIG. 6 (c) illustrates a change in the correction residual 605.

この例では、第1期間では、第1温度制御部204の加熱素子204a、204bに電流が印加され、第2温度制御部203の加熱素子203a、203bには電流が印加されない。一方、第2期間では、第1温度制御部204の加熱素子204a、204bには電流が印加されず、第2温度制御部203の加熱素子203a、203bには電流が印加される。一例において、露光動作が実施される第1期間では、制御部100は、第1温度制御部204の加熱素子204a、204bに印加される電流を第1期間の開始時からの経過時間に応じて所定値から徐々に減少させうる。これによって、光束の吸収によって発生する非点収差603の変化に対して、第1温度制御部204の加熱素子204a、204bに印加される電流による加熱によって発生する非点収差604の変化を追従させることができる。 In this example, in the first period, a current is applied to the heating elements 204a and 204b of the first temperature control unit 204, and no current is applied to the heating elements 203a and 203b of the second temperature control unit 203. On the other hand, in the second period, no current is applied to the heating elements 204a and 204b of the first temperature control unit 204, and a current is applied to the heating elements 203a and 203b of the second temperature control unit 203. In one example, in the first period in which the exposure operation is performed, the control unit 100 applies the current applied to the heating elements 204a and 204b of the first temperature control unit 204 according to the elapsed time from the start of the first period. It can be gradually reduced from a predetermined value. As a result, the change in astigmatism 604 generated by heating by the current applied to the heating elements 204a and 204b of the first temperature control unit 204 is made to follow the change in astigmatism 603 generated by the absorption of the luminous flux. be able to.

一例において、露光動作が実施されない第2時間では、制御部100は、第1温度制御部204による加熱を停止し、第2温度制御部203の加熱素子203a、203bに印加される電流を第2期間の開始時からの経過時間に応じて所定値から徐々に減少させうる。これによって、光束の吸収によって発生している非点収差603の変化に対して、第1温度制御部204の加熱素子204a、204bに印加される電流による加熱によって発生する非点収差604の変化を追従させることができる。結果として、露光動作が実施される第1期間においても、露光動作が実施されない第2期間においても、レンズ201の温度分布によって発生する非点収差を基板の露光に問題がないレベルにまで低減することができる。 In one example, in the second time when the exposure operation is not performed, the control unit 100 stops the heating by the first temperature control unit 204 and applies the current applied to the heating elements 203a and 203b of the second temperature control unit 203 to the second. It can be gradually decreased from a predetermined value according to the elapsed time from the start of the period. As a result, the change in astigmatism 604 caused by heating by the current applied to the heating elements 204a and 204b of the first temperature control unit 204 is changed with respect to the change in astigmatism 603 generated by the absorption of the luminous flux. It can be made to follow. As a result, astigmatism generated by the temperature distribution of the lens 201 is reduced to a level at which there is no problem in exposing the substrate in both the first period in which the exposure operation is performed and the second period in which the exposure operation is not performed. be able to.

ここで、一般的には、第1温度制御部203および第2温度制御部204を用いてレンズ201の温度分布を均一にする必要はない。これは、補正対象は、レンズ201の非点収差ではなく、投影光学系107の非点収差(投影光学系107を構成する全ての光学素子が光束を吸収することによって生じる投影光学系107の総合的な収差)であるからである。したがって、投影光学系107の総合的な非点収差が補正ない低減されるように、第1温度制御部204および第2温度制御部203によってレンズ201に必要な温度分布を発生させればよい。 Here, in general, it is not necessary to use the first temperature control unit 203 and the second temperature control unit 204 to make the temperature distribution of the lens 201 uniform. This is because the correction target is not the astigmatism of the lens 201, but the astigmatism of the projection optical system 107 (the total of the projection optical system 107 caused by all the optical elements constituting the projection optical system 107 absorbing the light beam). This is because it is an optical aberration). Therefore, the temperature distribution required for the lens 201 may be generated by the first temperature control unit 204 and the second temperature control unit 203 so that the overall astigmatism of the projection optical system 107 is reduced without correction.

第1温度制御部204(204a、204b)に印加される電流601および第2温度制御部203(203a、203b)に印加される電流602のプロファイル(時間的な変化)は、該電流値と非点収差の実測値との関係を取得する試験に基づいて決定されうる。あるいは、電流601および電流602のプロファイルは、加熱されているレンズ201の温度分布に基づいて決定されてもよい。あるいは、電流601および電流602のプロファイルは、予め取得したパラメータに基づいてなされてもよい。 The profile (temporal change) of the current 601 applied to the first temperature control unit 204 (204a, 204b) and the current 602 applied to the second temperature control unit 203 (203a, 203b) is different from the current value. It can be determined based on a test to obtain the relationship with the measured value of astigmatism. Alternatively, the profiles of current 601 and current 602 may be determined based on the temperature distribution of the heated lens 201. Alternatively, the profiles of current 601 and current 602 may be made based on pre-acquired parameters.

予めパラメータを取得する方法としては、例えば、投影光学系107を組み立てた後に、温度制御部204、203でレンズ201を加熱しているときの投影光学系107の収差の時間的変化を実測し、その結果に基づいてパラメータを決定する方法がある。この方法によれば、レンズ201の周辺の光学素子および投影光学系107の鏡筒への熱伝達や熱輻射によって生じる収差変化も含めてパラメータを決定することができるので、電流のプロファイルをより高い精度で決定することができる。よって、この方法は、第1温度制御部204および第2温度制御部203によって温度分布が制御されるレンズ201を単体で測定してパラメータを決定する方法よりも優れている。更に、投影光学系107を露光装置EXPに組み込んだ後に投影光学系107の収差を測定してパラメータを決定してもよいし、既に決定されたパラメータを更新してもよい。 As a method of acquiring parameters in advance, for example, after assembling the projection optical system 107, the temporal change of the aberration of the projection optical system 107 when the lens 201 is heated by the temperature control units 204 and 203 is actually measured. There is a method of determining the parameters based on the result. According to this method, the parameters can be determined including the aberration change caused by the heat transfer and heat radiation of the optical element around the lens 201 and the projection optical system 107 to the lens barrel, so that the current profile is higher. It can be determined with accuracy. Therefore, this method is superior to the method of determining the parameters by measuring the lens 201 whose temperature distribution is controlled by the first temperature control unit 204 and the second temperature control unit 203 alone. Further, after incorporating the projection optical system 107 into the exposure apparatus EXP, the aberration of the projection optical system 107 may be measured to determine the parameter, or the already determined parameter may be updated.

電流値の決定と印加を行うタイミングは、一定の時間間隔であってもよいし、一定でない時間間隔であってもよい。時間間隔は、例えば0.1〜10秒であることが望ましく、1〜5秒であることが更に望ましい。また、ロットの先頭などで、予め電流値のプロファイルを決定し、それに従ってロットの処理中における電流値を制御してもよい。温度調整部108によるレンズ201の温度分布の制御によって非点収差以外の収差成分が新たに生じることがある。この場合、新たに生じた収差成分を、投影光学系107を構成する光学素子のシフトおよび/またはチルトなどの駆動や、光源102が発生する光の波長の変更などによって低減することができる。 The timing of determining and applying the current value may be a constant time interval or a non-constant time interval. The time interval is preferably, for example, 0.1 to 10 seconds, and more preferably 1 to 5 seconds. Further, the current value profile may be determined in advance at the beginning of the lot or the like, and the current value during the processing of the lot may be controlled accordingly. Aberration components other than astigmatism may be newly generated by controlling the temperature distribution of the lens 201 by the temperature adjusting unit 108. In this case, the newly generated aberration component can be reduced by driving the optical elements constituting the projection optical system 107 such as shifting and / or tilting, or changing the wavelength of the light generated by the light source 102.

以下、図7および図8を参照しながら第2実施形態を説明する。第2実施形態として言及しない事項は、第1実施形態に従いうる。図7は、第2実施形態に対する比較対象として示された図である。図7(a)には、第1実施形態に従って第1期間に第1温度制御部204の加熱素子204a、204bに印加される電流値701と、第2期間に第2温度制御部203の加熱素子203a、203bに印加される電流値702とが例示されている。図7(b)には、光束の吸収によって発生する非点収差703の変化が例示されている。また、図7(b)には、第1温度制御部204の加熱素子204a、204bおよび第2温度制御部203の加熱素子203a、203bに印加される電流値701、702による加熱によって発生する非点収差704の変化が例示されている。また、図7(b)には、補正残差705の変化が例示されている。なお、非点収差704は、電流値701、702による加熱によって発生する実際の非点収差に−1を乗じたものであるが、これは見やすさを考慮したものに過ぎない。図7(b)に例示されるように、かなり大きな補正残差705が存在する。補正残差705の大きさは、光束の吸収によって生じる非点収差(曲線501)と第1温度制御部204によって発生させる非点収差(曲線502)のモデル(例えば、1次遅れ系または2次遅れ系)との差異、該モデルの時定数の大きさ等に依存しうる。特に非点収差(曲線502)の2次遅れの傾向が強いと、補正残差705が発生しやすい。これは、例えば、レンズ201の形状や、第1温度制御部204および第2温度制御部203の配置に依存しうる。 Hereinafter, the second embodiment will be described with reference to FIGS. 7 and 8. Matters not mentioned as the second embodiment may follow the first embodiment. FIG. 7 is a diagram shown as a comparison target with respect to the second embodiment. FIG. 7A shows the current values 701 applied to the heating elements 204a and 204b of the first temperature control unit 204 in the first period and the heating of the second temperature control unit 203 in the second period according to the first embodiment. The current value 702 applied to the elements 203a and 203b is exemplified. FIG. 7B illustrates the change in astigmatism 703 caused by the absorption of the luminous flux. Further, in FIG. 7B, non-astigmatism generated by heating by the current values 701 and 702 applied to the heating elements 204a and 204b of the first temperature control unit 204 and the heating elements 203a and 203b of the second temperature control unit 203. Changes in astigmatism 704 are illustrated. Further, FIG. 7B illustrates a change in the correction residual 705. The astigmatism 704 is the actual astigmatism generated by heating with the current values 701 and 702 multiplied by -1, but this is only for the sake of visibility. As illustrated in FIG. 7B, there is a fairly large correction residual 705. The magnitude of the correction residual 705 is a model (for example, first-order lag system or second-order) of astigmatism (curve 501) generated by absorption of light flux and astigmatism (curve 502) generated by the first temperature control unit 204. It may depend on the difference from the delay system), the magnitude of the time constant of the model, and the like. In particular, when the tendency of the second-order delay of astigmatism (curve 502) is strong, the correction residual 705 is likely to occur. This may depend on, for example, the shape of the lens 201 and the arrangement of the first temperature control unit 204 and the second temperature control unit 203.

第2実施形態では、第1期間において、投影光学系107の光学特性の変化が低減されるように第1温度制御部204および第2温度制御部203が動作しうる。また、第2実施形態では、第2期間においても、投影光学系107の光学特性の変化が低減されるように第1温度制御部204および第2温度制御部203が動作しうる。図8には、第2実施形態における第1温度制御部204および第2温度制御部203の動作が例示されている。図8(a)には、第1温度制御部204の加熱素子204a、204bに印加される電流801、および、第2温度制御部203の加熱素子203a、203bに印加される電流に−1を乗じた電流802が例示されている。なお、電流802は、第2温度制御部203の加熱素子203a、203bに印加される電流に−1を乗じたものであるが、これは見やすさを考慮したものに過ぎない。図8(b)には、光束の吸収によって発生する非点収差803の変化が例示されている。また、図8(b)には、第1温度制御部204の加熱素子204a、204bおよび第2温度制御部203の加熱素子203a、203bに印加される電流による加熱によって発生する非点収差に−1を乗じた非点収差804の変化が例示されている。また、図8(b)には、補正残差805の変化が例示されている。第1期間および第2期間の双方において第1温度制御部204および第2温度制御部203を動作させることによって非点収差が高い精度で低減されることが分かる。 In the second embodiment, in the first period, the first temperature control unit 204 and the second temperature control unit 203 can operate so that the change in the optical characteristics of the projection optical system 107 is reduced. Further, in the second embodiment, the first temperature control unit 204 and the second temperature control unit 203 can operate so that the change in the optical characteristics of the projection optical system 107 is reduced even in the second period. FIG. 8 illustrates the operations of the first temperature control unit 204 and the second temperature control unit 203 in the second embodiment. In FIG. 8A, -1 is added to the currents 801 applied to the heating elements 204a and 204b of the first temperature control unit 204 and the currents applied to the heating elements 203a and 203b of the second temperature control unit 203. The multiplied current 802 is exemplified. The current 802 is obtained by multiplying the current applied to the heating elements 203a and 203b of the second temperature control unit 203 by -1, but this is only for the sake of visibility. FIG. 8B illustrates the change in astigmatism 803 caused by the absorption of the luminous flux. Further, FIG. 8B shows astigmatism caused by heating by the current applied to the heating elements 204a and 204b of the first temperature control unit 204 and the heating elements 203a and 203b of the second temperature control unit 203. A change in astigmatism 804 multiplied by 1 is illustrated. Further, FIG. 8B illustrates a change in the correction residual 805. It can be seen that astigmatism is reduced with high accuracy by operating the first temperature control unit 204 and the second temperature control unit 203 in both the first period and the second period.

以下、図9および図10を参照しながら第3実施形態を説明する。第3実施形態として言及しない事項は、第1、第2実施形態に従いうる。第2実施形態では、第1および第2期間を含む期間内のほぼ全体において第1温度制御部204および第2温度制御部203の少なくとも一方が動作し、レンズ201が加熱されうる。レンズ201の加熱によって、非点収差以外の複数の収差成分が発生しうる。これらの複数の収差成分のうち高次の収差成分は、その発生を予測することができても、補正することは困難である。特に、非点収差のように第1温度制御部204、第2温度制御部203がそれぞれ発生可能な収差が異符号である収差成分とは異なり、第1温度制御部204、第2温度制御部203がそれぞれ発生可能な収差が同符号である収差成分を低減することは難しい。そのため、上記のような複数の収差成分は、レンズ201を加熱する限りは発生するし、それを補正することは難しい。 Hereinafter, the third embodiment will be described with reference to FIGS. 9 and 10. Matters not mentioned as the third embodiment may follow the first and second embodiments. In the second embodiment, at least one of the first temperature control unit 204 and the second temperature control unit 203 operates in almost the entire period including the first and second periods, and the lens 201 can be heated. By heating the lens 201, a plurality of aberration components other than astigmatism may be generated. Of these plurality of aberration components, higher-order aberration components are difficult to correct even if their occurrence can be predicted. In particular, unlike the aberration components in which the aberrations that can be generated by the first temperature control unit 204 and the second temperature control unit 203 have different signs, such as astigmatism, the first temperature control unit 204 and the second temperature control unit 204 are different. It is difficult to reduce the aberration components in which the aberrations that can be generated by 203 have the same sign. Therefore, a plurality of aberration components as described above are generated as long as the lens 201 is heated, and it is difficult to correct them.

そこで、第3実施形態では、制御部100は、第1期間および第2期間において、所定範囲内での収差(非点収差)該収差の変化を許容しつつ、該収差が該所定値を超えないように、第1温度制御部204および第2温度制御部203を動作させる。これにより、レンズ201の加熱による補正が困難な収差の発生が抑えられる。 Therefore, in the third embodiment, the control unit 100 allows the aberration (astigmatism) to change within a predetermined range in the first period and the second period, and the aberration exceeds the predetermined value. The first temperature control unit 204 and the second temperature control unit 203 are operated so as not to be present. As a result, the occurrence of aberration that is difficult to correct due to heating of the lens 201 can be suppressed.

図9には、第3実施形態における第1温度制御部204および第2温度制御部203の動作が例示されている。図9(a)には、第1温度制御部204の加熱素子204a、204bに印加される電流901、および、第2温度制御部203の加熱素子203a、203bに印加される電流902が例示されている。図9(b)には、光束の吸収によって発生する非点収差903の変化が例示されている。また、図9(b)には、第1温度制御部204の加熱素子204a、204bおよび第2温度制御部203の加熱素子203a、203bに印加される電流による加熱によって発生する非点収差に−1を乗じた非点収差904の変化が例示されている。また、図9(c)には、補正残差905の変化が例示されている。第3実施形態では、制御部100は、補正残差905が所定範囲907から外れないように、上限906aおよび下限906bで定められる範囲を超える場合に温度調整部108を動作させる。これにより、非点収差を所定範囲907に収めながら、レンズ201の加熱による他の収差成分の発生を抑えることができる。 FIG. 9 illustrates the operations of the first temperature control unit 204 and the second temperature control unit 203 in the third embodiment. FIG. 9A exemplifies the current 901 applied to the heating elements 204a and 204b of the first temperature control unit 204 and the current 902 applied to the heating elements 203a and 203b of the second temperature control unit 203. ing. FIG. 9B illustrates the change in astigmatism 903 caused by the absorption of the luminous flux. Further, FIG. 9B shows astigmatism caused by heating by the current applied to the heating elements 204a and 204b of the first temperature control unit 204 and the heating elements 203a and 203b of the second temperature control unit 203. A change in astigmatism 904 multiplied by 1 is illustrated. Further, FIG. 9C illustrates the change in the correction residual 905. In the third embodiment, the control unit 100 operates the temperature adjusting unit 108 when the correction residual 905 exceeds the range defined by the upper limit 906a and the lower limit 906b so as not to deviate from the predetermined range 907. As a result, it is possible to suppress the generation of other aberration components due to heating of the lens 201 while keeping the astigmatism within the predetermined range 907.

ここで、レンズ201の加熱によって発生する非点収差以外の収差成分で、かつ補正が困難なものの一つとして、ゼルニケ多項式のZ17項の収差を挙げることができる。図10には、第2実施形態においてレンズ201の加熱によって発生するZ17項1001と、第3実施形態においてレンズ201の加熱によって発生するZ17項の発生量1002とが例示されている。第3実施形態では、レンズ201の加熱によって発生するZ17項の発生量が第2実施形態の1/3に低減されている。このように、第3実施形態では、所定範囲内の非点収差の補正残差を許容することで、温度調整部108によるレンズ201の加熱を減らし、結果として、補正が困難な収差成分の発生を抑止することができる。なお、この手法は、非点収差の補正精度と、非点収差以外の収差成分の発生のトレードオフを決める手法である。したがって、非点収差を許容する所定範囲は、補正精度が像性能に与える影響と、非点収差以外の収差成分が像性能に与える影響とのバランスを考慮して決定されうる。また、第3実施形態では、補正が困難な収差成分としてZ17項を挙げたが、これに限らず、例えばZ16項などの高次の0θ成分を考慮してもよいし、補正が容易な低次の0θ成分などを考慮してもよい。 Here, as one of the aberration components other than the astigmatism generated by heating the lens 201 and which is difficult to correct, the aberration of the Z17 term of the Zernike polynomial can be mentioned. FIG. 10 illustrates Z17 term 1001 generated by heating the lens 201 in the second embodiment and Z17 term 1002 generated by heating the lens 201 in the third embodiment. In the third embodiment, the amount of Z17 term generated by heating the lens 201 is reduced to one-third of that of the second embodiment. As described above, in the third embodiment, by allowing the correction residual of astigmatism within a predetermined range, the heating of the lens 201 by the temperature adjusting unit 108 is reduced, and as a result, an aberration component that is difficult to correct is generated. Can be deterred. This method is a method for determining a trade-off between the correction accuracy of astigmatism and the generation of aberration components other than astigmatism. Therefore, the predetermined range in which astigmatism is allowed can be determined in consideration of the balance between the influence of the correction accuracy on the image performance and the influence of the aberration component other than the astigmatism on the image performance. Further, in the third embodiment, the Z17 term is mentioned as an aberration component that is difficult to correct, but the present invention is not limited to this, and a higher-order 0θ component such as the Z16 term may be considered, and the low is easy to correct. The following 0θ component and the like may be considered.

第1乃至第3実施形態では、温度調整部108は、レンズ201の円周の4分の1の長さに相当する加熱素子によって構成され、正負の非点収差が発生される。しかし、これは一例にすぎず、補正をすべき収差成分に応じて、加熱素子の形状および個数が選択されうる。図11には、レンズの円周の8分の1の長さを有する8個の加熱素子1101〜1108で温度調整部108が構成される例が示されている。第1温度制御部を加熱素子1102、1104、1106、1108で構成し、第2温度制御部を加熱素子1101、1103、1105、1107で構成することができる。これによって、4θの収差成分と正と負の方向に発生させることができるため、第1乃至第3実施形態の手法で、4θの収差成分を補正することができる。更に、円周方向の6分の1の長さの6個の加熱素子を配置して3θの収差成分を同様の手法で補正することや、円周方向の10分の1の長さの10個の加熱素子を配置して5θの収差成分を補正することができる。つまり、補正すべき収差成分に応じて、加熱素子の個数および配置を選択することができる。これにより、例えば、ゼルニケ多項式におけるNθ成分(Nは自然数)の少なくとも1つを低減することができる。 In the first to third embodiments, the temperature adjusting unit 108 is composed of a heating element corresponding to a quarter length of the circumference of the lens 201, and positive and negative astigmatism is generated. However, this is only an example, and the shape and number of heating elements can be selected according to the aberration component to be corrected. FIG. 11 shows an example in which the temperature adjusting unit 108 is composed of eight heating elements 1101 to 1108 having a length of one-eighth of the circumference of the lens. The first temperature control unit can be composed of heating elements 1102, 1104, 1106, and 1108, and the second temperature control unit can be composed of heating elements 1101, 1103, 1105, and 1107. As a result, the aberration component of 4θ can be generated in the positive and negative directions, so that the aberration component of 4θ can be corrected by the methods of the first to third embodiments. Further, six heating elements having a length of 1/6 in the circumferential direction are arranged to correct the aberration component of 3θ by the same method, and 10 of the length of 1/10 in the circumferential direction. By arranging the individual heating elements, the aberration component of 5θ can be corrected. That is, the number and arrangement of the heating elements can be selected according to the aberration component to be corrected. Thereby, for example, at least one of the Nθ components (N is a natural number) in the Zernike polynomial can be reduced.

次に、上記の第1乃至第4実施形態に代表される露光装置を利用して物品(半導体IC素子、液晶表示素子、MEMS等)を製造する物品製造方法を説明する。物品製造方法は、上記のような露光装置によって基板を露光する露光工程と、該露光工程で露光された基板を現像する現像工程と、該現像工程で現像された基板を処理する処理工程とを含み、該処理工程で処理された基板から物品を得ることができる。該処理工程は、例えば、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージング等が含まれうる。物品製造方法によれば、従来よりも高品位の物品を製造することができる。 Next, an article manufacturing method for manufacturing an article (semiconductor IC element, liquid crystal display element, MEMS, etc.) using the exposure apparatus represented by the first to fourth embodiments will be described. The article manufacturing method includes an exposure step of exposing a substrate by an exposure apparatus as described above, a development step of developing a substrate exposed in the exposure step, and a processing step of processing the substrate developed in the development step. The article can be obtained from the substrate including and processed in the processing step. The processing step may include, for example, etching, resist stripping, dicing, bonding, packaging and the like. According to the article manufacturing method, it is possible to manufacture an article of higher quality than before.

発明は上記実施形態に制限されるものではなく、発明の精神及び範囲から離脱することなく、様々な変更及び変形が可能である。従って、発明の範囲を公にするために請求項を添付する。 The invention is not limited to the above embodiments, and various modifications and modifications can be made without departing from the spirit and scope of the invention. Therefore, a claim is attached to make the scope of the invention public.

EXP:露光装置、108:温度調整部、109:光学素子、201:レンズ、204:第1温度制御部、203:第2温度制御部 EXP: Exposure device, 108: Temperature control unit, 109: Optical element, 201: Lens, 204: First temperature control unit, 203: Second temperature control unit

Claims (35)

投影光学系を介して基板を露光する露光動作を行う露光装置であって、
前記投影光学系の光学素子の温度分布を制御する温度調整部を備え、
前記露光動作が実施される第1期間において、前記露光動作が実施されることによる前記投影光学系の収差の変化が低減されるように前記温度調整部が動作し、
前記第1期間に続く、露光動作が実施されない第2期間において、露光動作が実施されないことによる前記収差の変化が低減されるように前記温度調整部が動作する、
ことを特徴とする露光装置。
An exposure apparatus that performs an exposure operation that exposes a substrate via a projection optical system.
A temperature control unit for controlling the temperature distribution of the optical elements of the projection optical system is provided.
In the first period in which the exposure operation is performed, the temperature adjusting unit operates so as to reduce the change in the aberration of the projection optical system due to the exposure operation.
Following the first period, the second period in which the exposure operation is not performed, the change in the aberration due to exposure light operation is not performed to the temperature adjusting unit operate as reduced,
An exposure apparatus characterized in that.
前記第1期間に前記温度調整部によって前記光学素子に与えられる温度分布と前記第2期間に前記温度調整部によって前記光学素子に与えられる温度分布とが逆位相である、
ことを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
The temperature distribution given to the optical element by the temperature adjusting unit in the first period and the temperature distribution given to the optical element by the temperature adjusting unit in the second period are in opposite phase.
The exposure apparatus according to claim 1.
前記第1期間において、前記温度調整部は、前記第1期間の開始時からの経過時間に応じた指令値に従って前記光学素子の温度分布を制御し、
前記第2期間において、前記温度調整部は、前記第2期間の開始時からの経過時間に応じた指令値に従って前記光学素子の温度分布を制御する、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の露光装置。
In the first period, the temperature adjusting unit controls the temperature distribution of the optical element according to a command value according to the elapsed time from the start of the first period.
In the second period, the temperature adjusting unit controls the temperature distribution of the optical element according to a command value according to the elapsed time from the start of the second period.
The exposure apparatus according to claim 1 or 2.
前記温度調整部は、前記温度調整部によって温度分布が制御される前記光学素子の有効径の外側に配置されている、
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の露光装置。
The temperature adjusting unit is arranged outside the effective diameter of the optical element whose temperature distribution is controlled by the temperature adjusting unit.
The exposure apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the exposure apparatus is characterized by the above.
前記温度調整部は、前記収差としてゼルニケ多項式におけるNθ成分(Nは自然数)の少なくとも1つを低減する、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の露光装置。
The temperature regulator reduces at least one of the Nθ components (N is a natural number) in the Zernike polynomial as the aberration.
The exposure apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the exposure apparatus is characterized by the above.
前記温度調整部は、前記収差として非点収差を低減する、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の露光装置。
The temperature adjusting unit reduces astigmatism as the aberration.
The exposure apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the exposure apparatus is characterized by the above.
前記第1期間は、1枚の基板に対する最初の前記露光動作の開始から前記1枚の基板に対する最後の前記露光動作の終了までの期間である、
ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の露光装置。
The first period is a period from the start of the first exposure operation on one substrate to the end of the last exposure operation on the one substrate.
The exposure apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein the exposure apparatus is characterized in that.
前記第2期間は、前記1枚の基板に対する前記最後の前記露光動作の終了時に開始する期間である、
ことを特徴とする請求項7に記載の露光装置。
The second period is a period that starts at the end of the last exposure operation on the one substrate.
The exposure apparatus according to claim 7.
前記第1期間は、第1ロットにおける1枚目の基板に対する最初の露光動作の開始から、前記第1ロットの最後の基板に対する最後の露光動作の終了までの期間である、
ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の露光装置。
The first period is a period from the start of the first exposure operation on the first substrate in the first lot to the end of the last exposure operation on the last substrate in the first lot.
The exposure apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein the exposure apparatus is characterized in that.
前記第2期間は、前記第1ロットの最後の基板に対する最後の露光動作の終了から、前記第1ロットに続く第2ロットにおける1枚目の基板に対する最初の露光動作の開始までの期間である、
ことを特徴とする請求項9に記載の露光装置。
The second period is a period from the end of the last exposure operation on the last substrate of the first lot to the start of the first exposure operation on the first substrate in the second lot following the first lot. ,
The exposure apparatus according to claim 9.
前記第1期間は、基板における1つのショット領域に対する露光動作の開始から前記1つのショット領域に対する前記露光動作の終了までの期間である、
ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の露光装置。
The first period is a period from the start of the exposure operation for one shot region on the substrate to the end of the exposure operation for the one shot region.
The exposure apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein the exposure apparatus is characterized in that.
前記第2期間は、前記基板における前記1つのショット領域に対する前記露光動作の終了から、前記1つのショット領域に続くショット領域に対する露光動作の開始までの期間である、
ことを特徴とする請求項11に記載の露光装置。
The second period is a period from the end of the exposure operation on the one shot region on the substrate to the start of the exposure operation on the shot region following the one shot region.
The exposure apparatus according to claim 11.
前記温度調整部は、互いに異なる位置に配置された第1温度制御部及び第2温度制御部を含むことを特徴とする請求項1乃至12のいずれか1項に記載の露光装置。 The exposure apparatus according to any one of claims 1 to 12, wherein the temperature adjusting unit includes a first temperature control unit and a second temperature control unit arranged at different positions from each other. 前記第1期間において、前記第1温度制御部は、前記収差の変化が低減されるように熱を発生し、
前記第2期間において、前記第2温度制御部は、前記収差の変化が低減されるように熱を発生する、
ことを特徴とする請求項13に記載の露光装置。
In the first period, the first temperature control unit generates heat so as to reduce the change in the aberration.
In the second period, the second temperature control unit generates heat so that the change in the aberration is reduced.
The exposure apparatus according to claim 13.
前記第1期間において、前記収差の変化が低減されるように前記第1温度制御部および前記第2温度制御部が動作し、
前記第2期間において、前記収差の変化が低減されるように前記第1温度制御部および前記第2温度制御部が動作する、
ことを特徴とする請求項13に記載の露光装置。
In the first period, the first temperature control unit and the second temperature control unit operate so as to reduce the change in the aberration.
In the second period, the first temperature control unit and the second temperature control unit operate so that the change in the aberration is reduced.
The exposure apparatus according to claim 13.
前記第1期間および前記第2期間において、所定範囲内での前記収差の変化を許容しつつ、前記収差が前記所定範囲から外れないように、前記第1温度制御部および前記第2温度制御部が動作する、
ことを特徴とする請求項15に記載の露光装置。
In the first period and the second period, the first temperature control unit and the second temperature control unit are allowed to change the aberration within a predetermined range so that the aberration does not deviate from the predetermined range. Works,
The exposure apparatus according to claim 15.
投影光学系を介して基板を露光する露光動作を行う露光方法であって、
前記露光動作が実施される第1期間において、前記露光動作が実施されることによる前記投影光学系の収差の変化が低減されるように、温度調整部によって前記投影光学系の光学素子の温度分布を制御する第1工程と、
前記第1期間に続く、露光動作が実施されない第2期間において、露光動作が実施されないことによる前記収差の変化が低減されるように、前記温度調整部によって前記投影光学系の光学素子の温度分布を制御する第2工程と、
を含むことを特徴とする露光方法。
It is an exposure method that performs an exposure operation that exposes a substrate via a projection optical system.
In the first period in which the exposure operation is performed, the temperature distribution of the optical element of the projection optical system is reduced by the temperature adjusting unit so that the change in the aberration of the projection optical system due to the exposure operation is performed. The first step to control and
Following the first period, the second period in which the exposure operation is not performed, so that the change of the aberration due to exposure light operation is not performed is reduced, the optical elements of the projection optical system by the temperature adjustment unit The second step of controlling the temperature distribution and
An exposure method comprising.
前記第1工程において前記温度調整部によって前記光学素子に与えられる温度分布と前記第2工程において前記温度調整部によって前記光学素子に与えられる温度分布とが逆位相である、
ことを特徴とする請求項17に記載の露光方法。
The temperature distribution given to the optical element by the temperature adjusting unit in the first step and the temperature distribution given to the optical element by the temperature adjusting unit in the second step are in opposite phase.
The exposure method according to claim 17, wherein the exposure method is characterized by the above.
前記第1工程において、前記第1期間の開始時からの経過時間に応じた指令値に従って前記温度調整部が制御され、
前記第2工程において、前記第2期間の開始時からの経過時間に応じた指令値に従って前記温度調整部が制御される、
ことを特徴とする請求項17または18に記載の露光方法。
In the first step, the temperature adjusting unit is controlled according to a command value according to the elapsed time from the start of the first period.
In the second step, the temperature adjusting unit is controlled according to a command value according to the elapsed time from the start of the second period.
The exposure method according to claim 17 or 18.
前記温度調整部は、前記温度調整部によって温度分布が制御される前記光学素子の有効径の外側に配置されている、
ことを特徴とする請求項17乃至19のいずれか1項に記載の露光方法。
The temperature adjusting unit is arranged outside the effective diameter of the optical element whose temperature distribution is controlled by the temperature adjusting unit.
The exposure method according to any one of claims 17 to 19, wherein the exposure method is characterized by the above.
前記温度調整部は、前記収差としてゼルニケ多項式におけるNθ成分(Nは自然数)の少なくとも1つを低減する、
ことを特徴とする請求項17乃至20のいずれか1項に記載の露光方法。
The temperature regulator reduces at least one of the Nθ components (N is a natural number) in the Zernike polynomial as the aberration.
The exposure method according to any one of claims 17 to 20, wherein the exposure method is characterized by the above.
前記温度調整部は、前記収差として非点収差を低減する、
ことを特徴とする請求項17乃至20のいずれか1項に記載の露光方法。
The temperature adjusting unit reduces astigmatism as the aberration.
The exposure method according to any one of claims 17 to 20, wherein the exposure method is characterized by the above.
前記第1期間は、1枚の基板に対する最初の前記露光動作の開始から前記1枚の基板に対する最後の前記露光動作の終了までの期間である、
ことを特徴とする請求項17乃至22のいずれか1項に記載の露光方法。
The first period is a period from the start of the first exposure operation on one substrate to the end of the last exposure operation on the one substrate.
The exposure method according to any one of claims 17 to 22, wherein the exposure method is characterized by that.
前記第2期間は、前記1枚の基板に対する前記最後の前記露光動作の終了時に開始する期間である、
ことを特徴とする請求項23に記載の露光方法。
The second period is a period that starts at the end of the last exposure operation on the one substrate.
The exposure method according to claim 23.
前記第1期間は、第1ロットにおける1枚目の基板に対する最初の露光動作の開始から、前記第1ロットの最後の基板に対する最後の露光動作の終了までの期間である、
ことを特徴とする請求項17乃至22のいずれか1項に記載の露光方法。
The first period is a period from the start of the first exposure operation on the first substrate in the first lot to the end of the last exposure operation on the last substrate in the first lot.
The exposure method according to any one of claims 17 to 22, wherein the exposure method is characterized by that.
前記第2期間は、前記第1ロットの最後の基板に対する最後の露光動作の終了から、前記第1ロットに続く第2ロットにおける1枚目の基板に対する最初の露光動作の開始までの期間である、
ことを特徴とする請求項25に記載の露光方法。
The second period is a period from the end of the last exposure operation on the last substrate of the first lot to the start of the first exposure operation on the first substrate in the second lot following the first lot. ,
The exposure method according to claim 25.
前記第1期間は、基板における1つのショット領域に対する露光動作の開始から前記1つのショット領域に対する前記露光動作の終了までの期間である、ことを特徴とする請求項17乃至22のいずれか1項に記載の露光方法。 The first period is any one of claims 17 to 22, wherein the first period is a period from the start of the exposure operation for one shot region on the substrate to the end of the exposure operation for the one shot region. The exposure method described in 1. 前記第2期間は、前記基板における前記1つのショット領域に対する前記露光動作の終了から、前記1つのショット領域に続くショット領域に対する露光動作の開始までの期間である、
ことを特徴とする請求項27に記載の露光方法。
The second period is a period from the end of the exposure operation on the one shot region on the substrate to the start of the exposure operation on the shot region following the one shot region.
The exposure method according to claim 27.
前記温度調整部は、互いに異なる位置に配置された第1温度制御部及び第2温度制御部を含むことを特徴とする請求項17乃至28のいずれか1項に記載の露光方法。 The exposure method according to any one of claims 17 to 28, wherein the temperature adjusting unit includes a first temperature control unit and a second temperature control unit arranged at different positions from each other. 前記第1工程において、前記収差の変化が低減されるように前記第1温度制御部が熱を発生し、
前記第2工程において、前記収差の変化が低減されるように前記第2温度制御部が熱を発生する、
ことを特徴とする請求項29に記載の露光方法。
In the first step, the first temperature control unit generates heat so that the change in the aberration is reduced.
In the second step, the second temperature control unit generates heat so that the change in the aberration is reduced.
29. The exposure method according to claim 29.
前記第1工程において、前記収差の変化が低減されるように前記第1温度制御部および前記第2温度制御部が制御され、
前記第2工程において、前記収差の変化が低減されるように前記第1温度制御部および前記第2温度制御部が制御される、
ことを特徴とする請求項29に記載の露光方法。
In the first step, the first temperature control unit and the second temperature control unit are controlled so that the change in the aberration is reduced.
In the second step, the first temperature control unit and the second temperature control unit are controlled so that the change in the aberration is reduced.
29. The exposure method according to claim 29.
前記第1工程および前記第2工程において、所定範囲内での前記収差の変化を許容しつつ、前記収差が前記所定範囲から外れないように、前記第1温度制御部および前記第2温度制御部が制御される、
ことを特徴とする請求項31に記載の露光方法。
In the first step and the second step, the first temperature control unit and the second temperature control unit are allowed to change the aberration within a predetermined range so that the aberration does not deviate from the predetermined range. Is controlled,
31. The exposure method according to claim 31.
投影光学系を介して基板を露光する露光工程を含み、
露光された基板から物品を得る物品の製造方法であって、
前記露光工程において、露光動作が実施されることによる前記投影光学系の収差の変化が低減されるように、前記投影光学系の光学素子の温度分布を制御し、
前記露光工程に続く、露光動作が実施されない期間において、露光動作が実施されないことによる前記収差の変化が低減されるように、前記投影光学系の光学素子の温度分布を制御することを特徴とする物品の製造方法。
Includes an exposure process that exposes the substrate through projection optics
A method of manufacturing an article in which an article is obtained from an exposed substrate.
In the exposure step, the temperature distribution of the optical element of the projection optical system is controlled so that the change in the aberration of the projection optical system due to the exposure operation being performed is reduced.
Subsequent to the exposing step, in the period during which the exposure operation is not performed, so that the change of the aberration due to exposure light operation is not performed is reduced, characterized by controlling the temperature distribution of the optical elements of the projection optical system The manufacturing method of the article.
物品製造方法であって、
請求項1乃至16のいずれか1項に記載の露光装置によって基板を露光する露光工程と、
前記露光工程で露光された前記基板を現像する現像工程と、
前記現像工程で現像された前記基板を処理する処理工程と、を含み、
前記処理工程で処理された前記基板から物品を得ることを特徴とする物品製造方法。
It is an article manufacturing method
An exposure step of exposing a substrate by the exposure apparatus according to any one of claims 1 to 16.
A developing step of developing the substrate exposed in the exposure step and a development step of developing the substrate.
Including a processing step of processing the substrate developed in the developing step.
A method for producing an article, which comprises obtaining an article from the substrate processed in the processing step.
物品製造方法であって、
請求項17乃至32のいずれか1項に記載の露光方法によって基板を露光する露光工程と、
前記露光工程で露光された前記基板を現像する現像工程と、
前記現像工程で現像された前記基板を処理する処理工程と、を含み、
前記処理工程で処理された前記基板から物品を得ることを特徴とする物品製造方法。
It is an article manufacturing method
An exposure step of exposing a substrate by the exposure method according to any one of claims 17 to 32.
A developing step of developing the substrate exposed in the exposure step and a development step of developing the substrate.
Including a processing step of processing the substrate developed in the developing step.
A method for producing an article, which comprises obtaining an article from the substrate processed in the processing step.
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