JP6941377B2 - 導通検査装置 - Google Patents
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Description
図1は、本実施形態にかかる導通検査装置20の使用状況を示す概念図である。図2は、図1のA−A断面図である。図3は、本実施形態にかかる導通検査装置20の回路図である。図1乃至図3に基づいて、本実施形態にかかる導通検査装置20の構成が説明される。
本実施形態にかかる導通検査装置20が用いられる場合の導通検査装置20の検査手順が説明される。
本実施形態にかかる導通検査装置20によれば、実施のために必要な部品の制約が少ない導通検査装置20を提供できる。
30…接触電極
32…筐体兼用電極
34…固定バンド
36…導通検出回路
70…抵抗器
72…動作部
74…供給部
90…板状部
92…固定部
94…電線
96…凹部
100…ボタン型電池
110…手
130…指先
132…手首
136…爪
Claims (5)
- 一方の電極と、
他方の電極と、
前記一方の電極および前記他方の電極に接続され、前記一方の電極と前記他方の電極との間が導通していることを検出する導通検出回路とを備える導通検査装置であって、
前記導通検出回路が、
前記一方の電極に接続され、前記一方の電極と前記他方の電極との間が導通すると前記一方の電極を介して前記他方の電極に接続される抵抗器と、
電力が供給されると前記一方の電極と前記他方の電極との間が導通していることを示す所定の動作を開始する動作部と、
前記抵抗器に電力が供給されている間に前記抵抗器にかかる電圧の大きさの絶対値がゼロよりも大きい所定の大きさ以上となると前記動作部に前記電力を供給する供給部とを有しており、
前記供給部が、ゲートとソースとドレインとを有し、前記一方の電極に前記抵抗器と並列に前記ゲートが接続され、前記ソースおよび前記ドレインの一方に前記抵抗器が接続される電界効果トランジスタを有しており、
前記動作部が、前記電界効果トランジスタのうち前記ソースおよび前記ドレインの他方に接続され、
前記他方の電極が、前記電界効果トランジスタを介さずに前記動作部に接続されることを特徴とする導通検査装置。 - 前記抵抗器の抵抗値が5500オーム以上であることを特徴とする請求項1に記載の導通検査装置。
- 前記一方の電極が、
板状部と、
前記板状部の少なくとも一端がヒトの指先から突出するように前記板状部を前記ヒトの手に固定するための固定部とを有していることを特徴とする請求項2に記載の導通検査装置。 - 前記板状部のうち前記一端に連なる部分は、前記一端が前記ヒトの指先から突出するように固定される際の前記一端の突出方向に対し直交する方向において凹部を形成するように反っており、
前記固定部が、前記一端が前記ヒトの指先から突出すると共に、前記板状部のうち前記一端に連なる部分が形成する前記凹部が前記ヒトの指先に接するように、前記板状部を前記ヒトの手に固定することを特徴とする請求項3に記載の導通検査装置。 - 前記電界効果トランジスタがMOSFETであることを特徴とする請求項1に記載の導通検査装置。
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