JP6902480B2 - 電子タバコのヴェポライザの試験装置および試験方法 - Google Patents

Description

本発明は、電子タバコの試験の分野に関し、さらに具体的には、電子タバコのヴェポライザの性能を評価するための試験に関する。

電子タバコのヴェポライザは、蒸発対象の液体を保持する充填材料を備えたチャンバを形成する液体ホルダと、加熱エレメントと、加熱エレメントに電力を供給するため加熱エレメントに接続された電気的端子と、蒸気出力部とを含み、これらにより、ヴェポライザは、加熱エレメント中の電気的端子に電流が流れると蒸気出力部から出てくる蒸気を生成することになる。作動中、電子タバコの中では、ユーザが電子タバコを通して空気を吸い込むことによって生成される空気流が検出される。流れの検出が、電池から加熱エレメントの電気的端子への電力の供給をトリガし、その結果として熱が上昇し、ヴェポライザの中の液体の一部を蒸発させる。次いで、ヴェポライザの蒸気出力部から出てくる蒸気は、ユーザによって吸い込まれた空気と混じる。

この蒸発の効果は電子タバコが機能するに重要なので、電子タバコの製造では、ヴェポライザの適切な機能性が試験で確認されて、品質が保証される必要がある。試験でヴェポライザの不具合が示されれば、ヴェポライザ、おそらくはヴェポライザを含むアセンブリは、廃棄または欠陥分析のため、不合格とされ生産ラインから除去されることになる。

電子タバコ製造産業における高い生産性の必要性を踏まえて、人間の介在なしに、特に手作業の介在なしに、適切な試験を自動的に行う必要がある。

しかして、かかる要求を満たす装置および方法の提供が必要とされている。

電子タバコのヴェポライザを試験するための、改良された、または少なくとも代わりとなる装置および方法を提供することが望まれよう。また、電子タバコのヴェポライザの連続的な試験を可能にするような装置および方法の提供も望ましいであろう。さらに、少数の部品を要する簡単な構造を有するような装置の提供が望まれよう。また、信頼できる結果を生成するような装置および方法を提供することも望まれよう。

これらの懸案事項の１つ以上をよりうまく取り扱うために、本発明の第１の態様において、電子タバコのヴェポライザを試験するための試験装置が提供される。各ヴェポライザは、加熱エレメントと、加熱エレメントに電力を供給するため加熱エレメントに接続された電気的端子とを含む。本試験装置は、各々が１つのヴェポライザを保持するための複数の保持ユニットを備える保持構造部であって、この保持構造部は移動可能であり、これにより保持ユニットは保持ユニットの軌道に沿って移動される、該保持構造部と、複数の電気接触部材を備える接触構造部であって、各接触部材は、それぞれの保持ユニットに関連付けられており該関連する保持ユニット中のヴェポライザの少なくとも１つの電気的端子に電気接触するように構成される、該接触構造部と、各接触部材に電力を伝導するように構成された供給構造部と、加熱エレメントの電気抵抗および／またはインダクタンスを表す少なくとも１つの電気量を測定するように構成された測定部と、を含む。

加熱エレメントは、電力が加熱エレメントに供給されたとき、ヴェポライザ中の液体が蒸発するための熱を生成するため電気抵抗性のある材料で製造される。加熱エレメントは、いろいろな形状を取ってよい。或る実施形態において、加熱エレメントはワイヤを含む。このワイヤは、コイルまたはらせんに巻かれていてよい。このワイヤは、電気絶縁性のコーティングを含んでよい。このワイヤはマンドレルに搭載されていてよい。加熱エレメントは、シリーズにまたはパラレルに電気的に接続された各種のワイヤを含んでいてよい。

加熱エレメントは、追加されたまたは置き換えられたストリップ片を含んでよい。このストリップ片は、コイルまたはらせんに巻かれていてよい。このストリップ片は、電気絶縁性のコーティングを含んでよい。このストリップ片は、マンドレルに搭載されていてよい。加熱エレメントは、シリーズにまたはパラレルに電気的に接続された各種のワイヤを含んでいてよい。

本明細書では、電気抵抗はオーム単位で測定され、インダクタンスはヘンリー単位で測定される。

本試験装置によって、電子タバコのヴェポライザを試験することができ、具体的には加熱エレメントの適切な構成および機能性を試験することができる。加熱エレメントの適切な構成および機能性によって、ヴェポライザに電力が供給されたとき、ヴェポライザが或る量の蒸気を生成することが可能なことを高程度の確実さで予期することができる。

さらに、本試験装置を使って、ヴェポライザのアセンブリの一部であるヴェポライザと電子タバコの別の部分とを試験することができ、ほぼ組み上がり前の電子タバコの一部であるヴェポライザでさえも、加熱エレメントに接続された電気的端子が利用可能であって、ブリッジしているエレメントの電気特性がわかっており試験を行う際に考慮に入れられる場合は別としてこれら端子が加熱エレメント自体または別の電気回路もしくは回路エレメントによって別途にブリッジされていなければ、本試験装置によって試験することが可能である。

なお、試験対象のヴェポライザは、望ましくは、少なくとも、加熱エレメントと、加熱エレメントに接続された電気的端子とを含んでいる必要がある。通常、ヴェポライザの部分である、蒸発対象の液体を保持するためのフィルタ材料などの他のエレメントは、本試験装置が本開示の試験を行うことをまだ可能にしておくために、（まだ）ヴェポライザの部分として構成する必要はない。他方で、フィルタ材料、またはフィルタ材料と蒸発対象の液体など、前記他のエレメントがヴェポライザ中に存在していても、試験のために加熱エレメントの電気的端子が使えるならば、本試験装置はそれでも本開示の試験を行うことが可能である。言い換えれば、加熱エレメントおよび電気的端子がヴェポライザ上またはヴェポライザ中に備えられてさえいれば、本試験装置は、ヴェポライザの組み立てのいろいろな段階に配備することが可能である。

本試験装置中で、ヴェポライザは、各ヴェポライザに対する時間経緯の中での空間的位置および方向についての良好な予測可能性を得るため、各ユニットが１つのヴェポライザを所定の位置および方向に保持するように構成された複数の保持ユニットを有する、可動の保持構造部の中に自動的に搬送される。これは、ヴェポライザを外部の構造体に接触させる必要のある試験の自動的な実行を容易にする。

保持ユニットは各種の形状に構成することが可能である。一例として、保持ユニットは、ヴェポライザによって変形されると弾力性材料によって及ぼされる締付力を通した摩擦によってヴェポライザを収容するための凹部を有する該弾性材料を含むことが可能である。あるいは、保持ユニットは、剛体性材料が変形されるとヴェポライザに及ぼされる締付力を通した摩擦によって、ヴェポライザを収容するための凹部を有する該剛性材料で作製することも可能である。別の例として、保持ユニットは、ヴェポライザと係合するグリッパ部分を有するグリッパを含むこともできよう。

保持構造部は、保持ユニットの軌道に沿って移動または搬送される保持ユニットを含む。この保持構造部は、いろいろな構成を有してよい。保持構造部の構成は、保持ユニットの軌道に応じて決めればよい。一例として、保持ユニットの軌道が直線軌道である場合、保持構造部は、保持ユニットとともに設けられたベルトまたは類似物を含むことができる。ベルトは、２つ以上のローラーの円周周りを、２つのローラーの間でベルト部分が直線軌道を進むようにして走らせればよい。別の例として、保持ユニットの軌道が曲線軌道である場合、保持構造部は、保持ユニットとともに設けられたベルトまたは類似物を含むことができ、ベルトは２つ以上のローラーの円周周りを走行する。２つのローラーの間でベルトが曲線の軌道に沿って進むように、２つのローラーの間でベルトを曲線のガイドに沿って導けばよい。さらに好適な例として、保持ユニットの軌道を環状にすることができ、保持構造部は、円形のリングまたはプレートなど、保持ユニットを支え、保持ユニットの軌道に沿ってそれらを回転移動させる回転体を含むことが可能である。

本発明による試験装置の或る実施形態では、本試験装置は、ヴェポライザが保持ユニットの軌道の少なくとも部分に沿って搬送されるように、保持ユニットの軌道に沿った受け取り場所で、ヴェポライザを、保持構造部の保持ユニットの中に置き入れるように構成された供給ユニットと、保持ユニットの軌道に沿った放出場所で、保持ユニットからヴェポライザを取り出すように構成された放出ユニットとをさらに含む。放出場所は、保持ユニットの軌道に沿った、受け取り場所の下流にある。

保持構造部の動きは一定速度でも可変速度でもよい。可変速度はゼロ速度から最大速度の間で変えることが可能である。この動きは断続的であってよい。この速度は、試験対象の特定のヴェポライザに応じて、および／または保持ユニットの軌道に沿ったヴェポライザの位置に応じて調節可能にすればよい。

本発明の試験装置では、接触構造部には複数の電気接触部材が設けられる。各接触部材は、ヴェポライザの１つ以上のそれぞれの電気的端子と接触するための１つ以上の電気コンタクトを有することができ、これら電気的端子はヴェポライザの加熱エレメントにつながれている。各接触部材は、それぞれの保持ユニットに関連付けられており、接触部材は関連する保持ユニットの中のヴェポライザの１つ以上の電気的端子に電気接触するように構成される。

ヴェポライザは、加熱エレメントの電気的端子の１つとして機能しヴェポライザが関連保持ユニットに保持されているときに試験装置との電気的集合コンタクトを備える、封入体を有することができる。このとき、別の電気的端子は、電圧が印加されまたは電流が供給されたとき加熱エレメントに電力を供給するため、接触部材の電気接触によって、ヴェポライザの電気的端子に接触している接触部材の電気コンタクトに接触されることが可能である。

上記に換えて、ヴェポライザは、ヴェポライザの封入体から電気絶縁された２つ以上の専用の電気的端子を有してもよい。加えて、この封入体を電気絶縁材料で作製してもよい。ヴェポライザの電気的端子は、電圧が印加されまたは電流が供給されたとき加熱エレメントに電力を供給するため、接触部材の対応する電気コンタクトによって、ヴェポライザの電気的端子に接触している接触部材の電気コンタクトに接触されることが可能である。

電力は、供給構造部によって、接触構造部の各接触部材に伝導することが可能である。いくつかの実施形態において電源も供給構造部に固定されこれと一緒に移動することが可能なので、供給構造部は、以下に限らないが、特に接触構造部が保持構造部と同期して移動し電源が固定されているとき、電源と各接触部材との間の電気的接続を提供する。

本試験装置の測定部は、ヴェポライザの加熱エレメントの電気抵抗および／またはインダクタンスを表す少なくとも１つの電気量を測定するように構成される。この少なくとも１つの電気量は、（所定電流における）電圧もしくは（所定電圧における）電流、または（両方が事前設定されていない場合は）電圧と電流との組み合わせ、あるいは、ＡＣの場合は電圧および／または電流の周波数、もしくはＡＣの場合は電圧と電流との間の位相シフト、またはＤＣの場合は電圧もしくは電流の時定数とすることが可能で、これにより、該少なくとも１つの電気量が測定されたとき、電気量を受信し少なくとも１つの電気量を抵抗および／またはインダクタンスあるいは抵抗および／またはインダクタンスを表す少なくとも１つの値に変換するように構成された測定部において、加熱エレメントの電気抵抗および／またはインダクタンスが算定できる。上記を受けて、本発明の試験装置の或る実施形態において、この測定部は、電気抵抗を算定するために、加熱エレメントの電気的端子に所定のＤＣ電圧を印加しながら、加熱エレメントを流れるＤＣ電流を測定するように、または所定のＤＣ電流を供給して加熱エレメントに流しながら、加熱エレメントの電気的端子でＤＣ電圧を測定するように、または加熱エレメントの電気的端子でＤＣ電圧を測定し、かつ加熱エレメントを流れるＤＣ電流を測定するように、または加熱エレメントの電気的端子に所定のＡＣ電圧を印加しながら、加熱エレメントを流れるＡＣ電流を測定するように、または所定のＡＣ電流を供給して加熱エレメントに流しながら、加熱エレメントの電気的端子でＡＣ電圧を測定するように、または加熱エレメントの電気的端子でＡＣ電圧を測定し、かつ加熱エレメントを流れるＡＣ電流を測定するように、構成される。ＡＣ電圧またはＡＣ電流の場合、測定部は、電気インダクタンスまたは電気インピーダンスを算定するために、ＡＣ電圧またはＡＣ電流の電気周波数を測定するようにさらに構成することが可能である。ＡＣ電圧とＡＣ電流との場合、測定部は、電気インダクタンスまたは電気インピーダンスを算定するために、ＡＣ電圧とＡＣ電流との間の電気位相シフトを測定するようにさらに構成することが可能である。ＤＣ電圧またはＤＣ電流の場合、測定部は、電気インダクタンスおよび／または電気インピーダンスを算定するために、ＤＣ電圧またはＤＣ電流の電気時定数を測定するようにさらに構成することが可能である。

本発明の試験装置の或る実施形態において、この測定部は、測定量を所定の範囲と比較し、測定量が範囲を外れている場合、不合格信号を出力するようにさらに構成される。

なお、加熱エレメント製造工程における生産ばらつき、加熱エレメントとその電気的端子との間の電気的接続の生産ばらつき、および他の要因に起因して、加熱エレメントの電気抵抗および／またはインダクタンス、具体的には測定部によって測定されたこれらに関連する電気量は或る範囲で変動し得る。この範囲内であれば、加熱エレメントは、対応するヴェポライザにおいてまたはヴェポライザを包含する電子タバコにおいて適切に機能するため受容可能な品質であると見なされる。この範囲外であれは、加熱エレメントは、対応するヴェポライザにおいてまたはヴェポライザを包含する電子タバコにおいて適切に機能するため受容可能な品質ではないと見なされる。後者の場合、測定部は不合格信号を出力することができる。

加熱エレメントの電気的端子に所定のＤＣ電圧が印加され、加熱エレメントがそのままで関連付けられた電気的端子に接続されると加熱エレメント中にＤＣ電流が流れることになる。オームの法則によれば所定の電圧において加熱エレメント中を流れる電流とその抵抗の間には直接的な関係があるので、電流の測定は、加熱エレメントの電気抵抗を表す値を提供する。電流が高いほど抵抗は低く、電流が低いほど抵抗は高い。電流が所定の範囲より高い場合、これは、例えば、加熱エレメントの一部分の短絡を、あるいは何らかの未知のエレメントまたは製造エラーによる電気的端子へのブリッジさえも示し得る。電流が所定の範囲より低い場合、これは、例えば、電気的端子の１つ以上と加熱エレメントとの間の相対的に高い境界抵抗を、あるいは、例えば、電気的端子と加熱エレメントとの間の接続の破断もしくは不在、または加熱エレメント中の破損に起因する電気的端子の間の電気的不通さえも示し得る。

同様に、加熱エレメントの電気的端子に所定のＤＣ電流が供給され、加熱エレメントがそのままで関連付けられた電気的端子に接続されると、加熱エレメントの両端にＤＣ電圧が生起されることになる。オームの法則によれば所定の電流において加熱エレメントの電気的端子をまたぐ電圧とその抵抗の間には直接的な関係があるので、電気的端子で電圧の測定は加熱エレメントの電気抵抗を表す値を提供する。電圧が高いほど抵抗は高く、電圧が低いほど抵抗は低い。電圧が所定の範囲より低い場合、これは、例えば、加熱エレメントの一部の短絡を、あるいは何らかの未知のエレメントまたは製造エラーによる電気的端子へのブリッジさえも示し得る。電圧が所定の範囲より高い場合、これは、例えば、電気的端子の１つ以上と加熱エレメントとの間の相対的に高い境界抵抗を、あるいは、例えば、電気的端子と加熱エレメントとの間のほぼ破断した接続、または加熱エレメント中のほぼ破損に起因する電気的端子の間の電気的なほぼ不通さえも示し得る。

同様な検討事項は、試験のため、ＤＣ電圧またはＤＣ電流の代わりにＡＣ電圧またはＡＣ電流が使われる場合にも適用される。一部の場合では、関連するＤＣまたはＡＣ電流を測定する際に、ヴェポライザの電気的端子に印加されるＤＣまたはＡＣ電圧がそれぞれ、事前設定されていない。別の場合において、関連するＤＣまたはＡＣ電圧を測定する際に、ヴェポライザの電気的端子に供給されるＤＣまたはＡＣ電流が事前設定されていない。これらの全ての場合においては、電圧および電流の両方が測定されることになり、一緒に採取された両方の電気量が、加熱エレメントの電気抵抗および／またはインダクタンスを表す。

誘導成分を測定する必要があり、抵抗を表す少なくとも１つの電気量の測定においてＡＣ電圧とＡＣ電流とを使うことが可能な場合、特に当該周波数が事前設定されていないおよび／または未知の場合、誘導成分は周波数の変化とともに変わるので、当該ＡＣ電圧またはＡＣ電流の電気周波数も同じく測定されてよい。上記に換えてまたは加えて、加熱エレメントの誘導成分の示度を得るために、ＡＣ電圧とＡＣ電流との間の位相シフトを測定してもよい。

抵抗および／またはインダクタンスを表す少なくとも１つの電気量を測定するのにＤＣ電圧およびＤＣ電流が使われる場合、抵抗成分および誘導成分がこの時定数を決定するので、ＤＣ電圧またはＤＣ電流の電気時定数も測定されてよい。

例えば、加熱エレメントが巻き線を含む場合、所定の範囲内のインダクタンスを有する、加熱エレメントの巻き線の望ましい空間的構成を検証するために、インダクタンスを測定することが可能である。

このインダクタンスは、場合により加熱エレメントの抵抗の測定の前または後に測定することができ、あるいは測定部の中で加熱エレメントの抵抗とインダクタンスとを組み合わせて行うことも可能である。

本発明による試験装置の或る実施形態において、測定部は、測定量がその所定範囲を外れたときに不合格信号が出されたとき排出デバイスを作動するようにさらに構成される。この排出デバイスは、要求品質を欠く懸念のある生産工程からの加熱エレメントを含むヴェポライザを除去するように作動される。該排出デバイスは、試験装置の放出ユニット中に含めるか、またはヴェポライザの放出経路中のさらに下流に配置すればよい。

本発明の試験装置の或る実施形態において、供給構造部は、複数のスリップ電気接触であって、各スリップコンタクトはそれぞれの接触部材に関連付けられて電気的に接続されており、供給構造部が接触構造部と同期して動くようになされている、該スリップ電気コンタクトと、スリップコンタクトに電気接触して電力供給するように構成された少なくとも１つの電力端子であって、スリップコンタクトは該電力端子に対して移動するようになされる、該電力端子と、を含む。

スリップコンタクトの使用は、加熱エレメントの電気抵抗および／またはインダクタンスを表す少なくとも１つの電気量を測定するため、電力端子から接触部材に、それによりその接触部材に関連する保持ユニット中に保持されているヴェポライザの加熱エレメントに、正確に機械的に事前設定された期間でまたは正確に機械的に事前設定された期間内で電力を供給することを可能にする。

本発明の試験装置の或る実施形態において、電力端子は固定され、例えば、移動可能な保持構造部および接触構造部に対して固定されている。固定電力端子は、ほとんどメンテナンスおよび消耗部品の取り換えを必要としない単純な構造を有することが可能である。

この少なくとも１つの電力端子は、該電力端子が接触部材の少なくとも１つのスリップ電気コンタクトに電気接触している期間中に、関連する保持ユニットの接触部材または接触部材群に、電流もしくは所定電流または電圧もしくは所定電圧を供給するために使用が可能である。同じ期間中、ヴェポライザの加熱エレメントの電気的端子は、関連付けられた接触部材に電気接触している。しかして、加熱エレメントの電気的端子への電圧または電流の印加の時間は、スリップ電気コンタクトの寸法と、関連する電力端子に対するスリップ電気コンタクトの動きの速度とによって設計することができる。電源を測定部の一部とすることによってまたは別個の電源によって、測定部により電圧を印加し、電流を供給することが可能である。

本発明の試験装置の或る実施形態において、各接触部材は、接触部材が関連する保持ユニット中のヴェポライザの少なくとも１つの電気的端子に電気的且つ機械的に接触している第１の位置と、接触部材が関連する保持ユニット中のヴェポライザの電気的端子に接触していない第２の位置との間で変位されるように構成される。

例えば、ヴェポライザを保持ユニットの中に置き入れるため十分なスペースを設け、異なった位置の間で変位可能な接触部材を使用することが望まれることになろう。これらの位置の一方、ここでは第２の位置と言う、においては、ヴェポライザを保持ユニットの中に置き入れるための妨げのない通路が設けられるが、但し接触部材と加熱エレメントの電気的端子の少なくとも１つのとの間の接触は確保されておらず、一方、ヴェポライザが保持ユニット中に保持されたときに取ることが意図されている、これらの位置の他方、ここでは第１の位置と言う、においては、前記通路は妨げられるが、接触部材と加熱エレメントの電気的端子の少なくとも１つのとの間の接触は確保される。

本発明の試験装置の或る実施形態において、各接触部材はカム軌道フォロアを含み、接触構造部の動きを受けて、接触部材は、接触部材のカム軌道フォロアに係合するカム軌道によって、第１の位置と第２の位置とにおよびそれらの間で位置付けられ、カム軌道フォロアは、カム軌道の部分に沿って動きながらカム軌道に対して移動する。

このカム軌道は、接触部材の第１の位置と第２の位置との間の動きの時間および幅を制御するための簡単で信頼できる構造を提供する。

本発明による試験装置の或る実施形態において、カム軌道は固定され、例えば、移動可能な接触構造部に対して固定される。固定カム軌道は、ほとんどメンテナンスおよび消耗部品の取り換えを必要としない単純な構造を有することが可能である。

本発明による試験装置の或る実施形態において、保持ユニットは円形構造体を形成し、保持構造部は回転移動が可能で、これにより保持ユニットは回転方向に移動する。

したがって、試験されるヴェポライザは、保持ユニットの軌道に沿った受け取り場所で保持構造部の保持ユニットに供給することができ、それに続いて、試験実施のため、保持ユニットの軌道の少なくとも部分に沿って回転方向に搬送される。回転式の保持構造部は比較的に簡単な構造とすることが可能で、回転方向に駆動するため、回転電気モータなどの単純な駆動体を必要とする。

本発明による試験装置の或る実施形態において、接触構造部は、保持構造部と一緒に移動、具体的にはこれと一緒に回転方向に動くため保持構造部に固定される。

本発明による試験装置の或る実施形態において、スリップコンタクトは、一緒に移動、具体的には一緒に回転方向に移動するため、保持構造部または接触構造部に固定される。

本発明は、第２の態様において、電子タバコのためのヴェポライザを試験する方法を提供し、各ヴェポライザは、加熱エレメントと、加熱エレメントに電力を供給するため加熱エレメントに接続された電気的端子とを含む。本方法は、加熱エレメントに電力を供給するステップと、加熱エレメントの電気抵抗および／またはインダクタンスを表す少なくとも１つの電気量を測定するステップと、測定量を所定の範囲と比較し、測定量が範囲を外れている場合はそのヴェポライザを不合格にするステップとを含む。

上記で説明したように、加熱エレメントの（電気）端子に電力を供給するステップは、加熱エレメントの電気的端子を電気接触部材に接触させることによって行うことができる。

本発明の試験方法のある実施形態において、測定するステップは、加熱エレメントの電気的端子に所定のＤＣ電圧を供給しながら、加熱エレメントを流れるＤＣ電流を測定するステップ、または所定のＤＣ電流を供給して加熱エレメントに流しながら、加熱エレメントの電気的端子でＤＣ電圧を測定するステップ、または加熱エレメントの電気的端子でＤＣ電圧を測定し、かつ加熱エレメントを流れるＤＣ電流を測定するステップ、または加熱エレメントの電気的端子に所定のＡＣ電圧を供給しながら、加熱エレメントを流れるＡＣ電流を測定するステップ、または所定のＡＣ電流を供給して加熱エレメントに流しながら、加熱エレメントの電気的端子でＡＣ電圧を測定するステップ、または加熱エレメントの電気的端子でＡＣ電圧を測定し、かつ加熱エレメントを流れるＡＣ電流を測定するステップ、を含む。本測定ステップは、ＡＣ電圧またはＡＣ電流の周波数を測定するステップをさらに含むことができる。

本発明のこれらのおよび他の態様は、以下の詳細な説明を参照し添付の図面と併せ検討することによって、これらをよりよく理解しより容易に認識できよう。図中の同様な参照符号は同様な部品を指す。

供給ユニットおよび放出ユニットを含めた本発明による試験装置の或る実施形態の上面図を概略的に示し、この試験装置は複数のヴェポライザを担持している。 図１の試験装置の実施形態の斜視図を概略的に示す。 本発明による試験装置の或る実施形態の、図２に示されたＩＩＩの方向から見た側面図を部分図で概略的に示し、この試験装置は複数のヴェポライザを担持している。 図３の試験装置の実施形態の、部分的に切り取られた斜視図をこれも部分図で概略的に示し、図４の左側部分の保持構造部の保持ユニット中にはヴェポライザが収容されておらず、図４の右側部分の保持構造部の保持ユニット中にはヴェポライザが収容されている。 図３の試験装置の供給構造部の異なった実施形態の斜視図を概略的に示す。 図４の試験装置の供給構造部の異なった実施形態の斜視図を概略的に示す。 加熱エレメントに対する第１の型の電気的端子を有する第１の型のヴェポライザの長手方向断面を概略的に示し、同時に接触部材の電気接触が加熱エレメントの電気的端子に電気接触するのも示している。 加熱エレメントに対する第２の型の電気的端子を有する第２の型のヴェポライザの、部分的に断面図による斜視図を概略的に示し、同時に接触部材の電気接触が加熱エレメントの電気的端子に電気接触するのも示している。

以降で、本発明による試験装置の（部分の）諸実施形態を説明する。本試験装置は、電子タバコのヴェポライザを試験するために構築され調整される。また、ヴェポライザを含む電子タバコまたはその部分を、本発明による試験装置の或る実施形態で試験することができる。かかるヴェポライザ、または、ヴェポライザを含むが電力源（例えば電池）を除いた電子タバコの部分、を試験するための試験装置の諸実施形態を説明することとする。

当業者なら周知のように、それぞれのヴェポライザは、加熱エレメントと、加熱エレメントに電力を供給するため加熱エレメントに接続された電気的端子とを含む。電子タバコの使用において、蒸発対象の液体はヴェポライザのチャンバ中の充填材料に保持され、また加熱エレメントも前記チャンバ中に配置される。ヴェポライザは蒸気出力部を有し、これにより、ヴェポライザは、加熱エレメント中の電気的端子を電流が流れると蒸気出力部から出てくる蒸気を生成することになる。ヴェポライザ中で生成された蒸気が蒸気出力部で空気と混ざるように、例えば、充填材料を備えたチャンバを通して、ヴェポライザに空気を流すことができる。

ヴェポライザは、いくつかの図面中に示されるとき細長で円筒形状の物体として示されているが、但し、実際上はこれらは少し異なった形状を有してもよい。

図６ａおよび図６ｂはそれぞれ２つの型のヴェポライザを示す。図６ａに示された第１の型のヴェポライザは、加熱エレメントに対する第１の型の電気的端子を有し、他方、図６ｂに示された第２の型のヴェポライザは、加熱エレメントに対する第２の型の電気的端子を有する。

図６ａは、基本的には円筒形状の導電性封入体６０４を含むヴェポライザ６０１の一部を示す。封入体６０４中には、軸方向長さの部分沿いに内部ネジ山を有する導電性の第１の挿入体６０６が設けられる。第１の挿入体６０６は封入体６０４に電気接触している。第１の挿入体６０６の軸方向の一端には穴が設けられその中には第２の電気絶縁性挿入体６０８が配置されている。第２の挿入体６０８の環状つばは第１の挿入体６０６の端面上に載っている。第２の挿入体の中には、スルーホールを有する第３の導電性挿入体６１０が配置されている。

加熱エレメント６１２は、封入体６０４内に配置される。加熱エレメント６１２は、部分的にコイルに巻かれた導電性ワイヤで作製され、第１の電気絶縁性外皮６１４中に第１の端子、および第２の電気絶縁性外皮６１６中に第２の端子を有する。加熱エレメント６１２のワイヤの第１の端子は、第１の挿入体６０６に電気的に接続される。加熱エレメント６１２のワイヤの第２の端子は、第３の挿入体６１０に電気的に接続される。第１の外皮６１４は、加熱エレメント６１２のワイヤが第３の挿入体６１０と接触するのを防止し、他方、第２の外皮６１６は、加熱エレメント６１２のワイヤが封入体６０４または第１の挿入体６０６と接触するのを防止する。

図６ａ中に点線で概略的に示されているように、第１の電気コンタクト６２０は、封入体６０４（これは加熱エレメント６１２の第１の電気的端子として機能する）と接触することが可能で、第２の電気コンタクト６２２は、第３の挿入体６１０（これは加熱エレメント６１２の第２の電気的端子として機能する）と接触することが可能である。第１の電気コンタクト６２０および第２の電気コンタクト６２２は異なる形状を有してもよい。第１の電気コンタクト６２０は、試験装置の接続集合（ｍａｓｓ）と電気的に接続してその上に支持することができ（例えば、図３および４中の集合接続５１を参照）あるいは試験装置の接触部材上に支持することができる。第２の電気コンタクト６２２は、試験装置の接触部材上に支えることができる。

第１のおよび第２の電気コンタクト６２０、６２２を通して加熱エレメント６１２の両端に電圧を印加することが可能で、これにより、第１の電気コンタクト６２０から第１の挿入体６０６に流れて加熱エレメント６１２の第１の端子へ、そして加熱エレメント６１２の第２の端子から第３の挿入体６１０を介し第２の電気コンタクト６２２へと、加熱エレメント６１２中を流れる電流がもたらされることになる。また、第１のおよび第２の電気コンタクト６２０、６２２は、加熱エレメント６１２中を流れる電流を供給するために用いることも可能で、これにより、加熱エレメント６１２の両端に電圧がもたらされることになる。

図６ｂは、基本的には円筒形状で、導電性のまたはできれば絶縁性の封入体６３４を含む、ヴェポライザ６３０の部分を示す。封入体６３４の中には、相互に機械的に連結された内部円筒形状部分６３６ａおよび外部円筒形状部分６３６ｂを有する、電気絶縁性の支持体６３６が設けられる。この外部部分６３６ｂは、封入体６３４の内壁に取り付けられる。この内部部分６３６ａには導電性円筒体６３８が設けられる。内部部分６３６ａには導電性リング６４０がさらに設けられる。内部部分６３６ａには、スルーホールが備えられる。

封入体６３４の内部に加熱エレメント６４２が配置される。加熱エレメント６４２は、部分的にコイルに巻かれた導電性のワイヤで作製され、第１の電気絶縁性外皮６４４中の第１の端子および第２の電気絶縁性外皮６４６中の第２の端子を有する。加熱エレメント６４２のワイヤの第１の端子は円筒体６３８に電気的に接続される。加熱エレメント６４２のワイヤの第２の端子はリング６４０に電気的に接続される。第１の外皮６４４は、加熱エレメント６４２のワイヤがリング６４０および／または封入体６３４と接触するのを防止し、他方、第２の外皮６４６は、加熱エレメント６４２のワイヤが円筒体６３８および／または封入体６３４と接触するのを防止する。

図６ｂ中に点線で概略的に示されているように、第１の電気コンタクト６５０または６５２は、円筒体６３８（これは加熱エレメント６４２の第１の電気的端子として機能する）に接触が可能で、第２の電気コンタクト６５４はリング６４０（これは加熱エレメント６４２の第２の電気的端子として機能する）に接触することが可能である。第１の電気コンタクト６５０、６５２と第２の電気コンタクト６５４とは相異なる形状を有してよい。第１の電気コンタクト６５０、６５２は、試験装置の接続集合（ｍａｓｓ）と電気的に接続しその上に支持することができ（例えば、図３および４中の集合接続５１を参照）あるいは試験装置の接触部材上に支持することができる。第２の電気コンタクト６５４は、試験装置の接触部材上に支持することができる。

第１のおよび第２の電気コンタクト６５０、６５２、６５４を通して、加熱エレメント６４２の両端に電圧を印加することが可能で、これにより、第１の電気コンタクト６５０、６５２から円筒体６３８に流れて加熱エレメント６４２の第１の端子へ、そして加熱エレメント６４２の第２の端子からリング６４０を介し第２の電気コンタクト６５４へと、加熱エレメント６４２中を流れる電流がもたらされることになる。また、第１のおよび第２の電気コンタクト６５０、６５２、６５４は、加熱エレメント６４２中を流れる電流を供給するために用いることも可能で、これにより、加熱エレメント６４２の両端に電圧がもたらされることになる。

図１、図２、図３、および図４は、試験装置１の様々な態様を示す。試験装置１は、各種の部品を搭載するためのフレームプレート２を有してよい。供給ユニット４は、ヴェポライザ６を保持ユニット８の中に入れて置き、ヴェポライザ６が保持ユニットの軌道の少なくとも部分に沿って搬送されるように、保持構造部１２の保持ユニットの軌道に沿った受け取り場所で、ヴェポライザ６を保持構造部１２の保持ユニット１０の中に置き入れる。放出ユニット１４は、保持構造部１２の保持ユニットの軌道上に位置する放出場所で、保持ユニット１０からヴェポライザ６を取り出し、そのヴェポライザを保持ユニット１６中に取り入れる。搬送ユニット１８は、さらなる搬送のため、ヴェポライザ６を放出ユニット１４の保持ユニット１６から搬送ユニット１８の保持ユニット２０の中に移す。

供給ユニット４、保持構造部１２、放出ユニット１４、および搬送ユニット１８は、各々、それぞれの保持ユニット８、１０、１６、および２０を形成する凹部を備えた周辺表面を有するそれぞれの回転ホイール５、１３、１５、１９を含む。図示の実施形態において、保持ユニット８、１０、１６、および２０は、ヴェポライザ６を締め付けて係合する。他の実施形態では、他の型の保持ユニットを用い、例えば吸引などによる、能動的な機械的グリッパによりヴェポライザ６を係合することも可能である。保持ユニット８、１０、１６、および２０は、それぞれガイド２１、２３、２５と一緒に、搬送の通路に沿ってヴェポライザ６をしっかり固定する。供給ユニット４、保持構造部１２、放出ユニット１４、および搬送ユニット１８の回転ホイール５、１３、１５、１９は、その周りをそれぞれ矢印３０、３２、３４、３６の方向に回転するように構成された中心軸２２、２４、２６、２８を含む。回転ホイール５、１３、１５、１９の１つ以上は、駆動部（図示せず）によって駆動されるか、および／または、同期して回転するために、ギアによって他のホイールの１つ以上に機械的に連結され（図示せず）、これにより、ヴェポライザ６は、それぞれの保持ユニットが相互に面する点で、保持ユニット８から保持ユニット１０に、保持ユニット１０から保持ユニット１６に、保持ユニット１６から保持ユニット２０に移動させることができる。回転ホイール５、１３、１５、１９の回転は、可変のまたは一定の速度で連続的にすることももしくは断続的にすることも可能である。

図３および図４を詳しく参照すると、試験装置１は、複数の電気接触部材８２を備えた、基本的にはリング形状の接触構造部８０をさらに含み、各接触部材８２は、保持構造部１２のそれぞれの保持ユニット１０に関連付けられ、関連する保持ユニット１０中のヴェポライザ６の少なくとも１つの電気的端子に接触するように構成される。図示の実施形態では、接触構造部８０は、同期して回転方向に動くように、保持構造部１２に固定されている。

各接触部材８２は、接触部材が、関連する保持ユニット１０中のヴェポライザ６の少なくとも１つの電気的端子に接触している第１の位置と、接触部材８２が、関連する保持ユニット１０中のヴェポライザ６の電気的端子に接触していない第２の位置との間を変位するように構成される。具体的には、各接触部材８２はカム軌道フォロア８４を含み、接触構造部８０の動きを受けて、接触部材８２は、カム軌道部分８７中の固定カム軌道８６によって、第１の位置と第２の位置とにおよびそれらの間で、具体的には、その第１の位置から第２の位置に、またその第２の位置から第１の位置に位置合わせされる。カム軌道８６は、接触部材８２のカム軌道フォロア８４と係合し、カム軌道フォロア８４はカム軌道８６に対して移動し、接触部材８２は、接触構造部８０中に設けられたチャネル８１中をスライドする。

図３中に具体的に示されているように、カム軌道８６は、接触部材８２のカム軌道フォロア８４のその第１の位置への変位によって、該部材を、関連する保持ユニット１０中に保持されたヴェポライザ６の少なくとも１つの電気的端子に接触させる断面部Ａを含む。カム軌道８６の断面部Ｂにおいて、接触部材８２は、そのカム軌道フォロア８４の変位によって、その第２の位置に移動され、関連する保持ユニット１０中に保持されたヴェポライザ６の電気的端子との接触はなくなる。

試験装置１中に、図５ａに示された第１の供給構造部９０ａ、または図５ｂに示された第２の供給構造部９０ｂを含めることが可能である。これらの供給構造部は、同じ動作原理に基づいて他の形態に具現化することが可能な基本的な別形例を表す。

図３、４、および図５ａの実施形態を参照すると、試験装置１の中に、基本的にはリング形状の第１の供給構造部９０ａを設けることが可能である。第１の供給構造部９０ａは、接触構造部８０と同期して動くように、具体的には同期して回転するようにされる。このためには、スルーホール８９を通るボルト（図示せず）によって、第１の供給構造部９０ａを接触構造部８０に固定すればよい。

第１の供給構造部９０ａには、その外部側面に電気絶縁体９１に搭載された複数のスリップ電気コンタクト９２が設けられる。各スリップコンタクト９２は、第１の供給構造部９０ａの電気絶縁体９１中に搭載された関連する導電性ピン９４を通して導電性ワイヤ１０２に電気的に接続され、かかる電気的接続が、図５ａ中に点線によって象徴的に示されている。図では、スリップコンタクト９２ａはピン９４ａに電気的に接続され、スリップコンタクト９２ｂはピン９４ｂに電気的に接続されている。第１の供給構造部９０ａの外周沿いに見られるように、スリップコンタクト９２は１つおきに、それぞれ、第１の供給構造部９０ａの外部側面のより低い部分とより高い部分とに配置されている。

スリップコンタクト９２を第１の供給構造部９０ａのより低い部分とより高い部分とに交互配置する代わりに、別の形に具現化し、同じ動作原理に基づいて、スリップコンタクト９２を、絶縁体９１の外周に沿って列に配置することも可能である。

図３、図４、および図５ｂの実施形態を参照すると、試験装置１の中に、基本的にはリング形状の第２の供給構造部９０ｂを設けることが可能である。第２の供給構造部９０ｂは、接触構造部８０と同期して動くように、具体的には同期して回転するようにされる。このためには、スルーホール８９を通るボルト（図示せず）によって、第２の供給構造部９０ｂを接触構造部８０に固定すればよい。

これらの外部側面で、第２の供給構造部９０ｂには、電気絶縁体９１に搭載された複数のスリップ電気コンタクト９３が設けられる。各スリップコンタクト９３は、第２の供給構造部９０ｂの電気絶縁体９１上に搭載された関連する電気絶縁性ピン９５を介して導電性ワイヤ１０２に電気的に接続され、かかる電気的接続が、図５ｂ中に点線によって象徴的に示されている。図示のように、スリップコンタクト９３ａはスリップコンタクト９３ｂの上方に配置されており、スリップコンタクト９３ａ、９３ｂは、関連するピン９５ａを介してそれぞれ導電性ワイヤ１０２ａ、１０２ｂに電気的に接続されている。スリップコンタクト９３ｃはスリップコンタクト９３ｄの上方に配置されており、スリップコンタクト９３ｃ、９３ｄは、関連するピン９５ｂを介してそれぞれ導電性ワイヤ１０２ｃ、１０２ｄに電気的に接続されている。スリップコンタクト９３は、第２の供給構造部９０ｂの外周沿いに２つの行に配置されており、１つの行は、第２の供給構造部９０ｂの外部側面のより高い部分に、１つの行はより低い部分にある。

図３および図４に示されるように、２つの固定電力端子９６ａ、９６ｂは、それぞれ、第１の供給構造部９０ａまたは第２の供給構造部９０ｂの使用に応じて、スリップコンタクト９２、９３に電気接触して電力を供給するように配置され構成される。電力端子９６ａ、９６ｂは、各々、導電性アーム９８および導電性パッド１００を含む。アーム９８は、第１の供給構造部９０ａまたは第２の供給構造部９０ｂに向けて、具体的には、それぞれスリップ電気コンタクト９２または９３を備える、第１の供給構造部９０ａまたは第２の供給構造部９０ｂの外部側面に向けて、例えばばね付勢などで付勢される。第１の供給構造部９０ａまたは第２の供給構造部９０ｂの回転を受けて、電力端子９６ａのパッド１００は、第１の供給構造部９０ａまたは第２の供給構造部９０ｂの外部側面のより高い部分中の、異なるスリップコンタクト９２または９３それぞれに接触することになり、一方、電力端子９６ｂのパッド１００は、第１の供給構造部９０ａまたは第２の供給構造部９０ｂの外部側面のより低い部分中の、異なるスリップコンタクト９２または９３それぞれに接触することになる。

試験装置１が、第１の供給構造部９０ａを含む場合、各スリップコンタクト９２は、関連するピン９４およびフレキシブルワイヤ１０２を介して、関連する接触部材８２の電気コンタクト６２２（図６ａ）などの電気コンタクトに電気的に接続される。

試験装置１が、第２の供給構造部９０ｂを含む場合、スリップコンタクト９３ａ、９３ｂのペアおよびスリップコンタクト９３ｃ、９３ｄのペアなど、上下に配置されたスリップコンタクト９３のペアが、電気コンタクト６２０、６２２（図６ａ）、または電気コンタクト６５０、６５４（図６ｂ）、または電気コンタクト６５２、６５４（図６ｂ）など、関連する接触部材８２の電気コンタクトに、フレキシブルワイヤ１０２のペアを通して電気的に接続される。

試験装置１が、第１の供給構造部９０ａを含む場合、電力端子９６ａ、９６ｂの場所、具体的にはそのパッド１００の場所は、接触部材８２が、そのカム軌道フォロア８４がその第１の位置に変位することによって、関連する保持ユニット１０中に保持されたヴェポライザ６の電気的端子に接触したとき、電力端子９６ａ、９６ｂが、ピン９４と、順繰りに保持ユニット１０に関連付けられた関連接触部材８２に接続されたフレキシブルワイヤ１０２と、に関連付けられたスリップコンタクト９２に機械的に且つ電気的に接続するように選択される。

第１の供給構造部９０ａは、それが、接触部材８２の電気コンタクト６２２（図６ａ）、または電気コンタクト６５４（図６ｂ）などの電気コンタクトに対し事足りる場合、ヴェポライザ６の加熱エレメントの第３の挿入体６１０（図６ａ）またはリング６４０（図６ｂ）など、１つの電気的端子だけと電気接触するために使用されるようになされ、封入体６０４（図６ａ）または円筒体６３８（図６ｂ）など、加熱エレメントのその他の電気的端子は、試験装置１の導通接続集合（ｍａｓｓ）と電気接触している、電気コンタクト６２０（図６ａ）または電気コンタクト６５０もしくは６５２（図６ｂ）などの電気コンタクトによって電気接触される。

試験装置１が、第２の供給構造部９０ｂを含む場合、電力端子９６ａ、９６ｂの場所、具体的にはそのパッド１００の場所は、接触部材８２が、そのカム軌道フォロア８４がその第１の位置に変位することによって、関連する保持ユニット１０中に保持されたヴェポライザ６の２つの電気的端子に接触したとき、電力端子９６ａ、９６ｂの各々が、ピン９５と、順繰りに保持ユニット１０に関連付けられた関連接触部材８２の電気コンタクトに接続されたフレキシブルワイヤ１０２と、に関連付けられたスリップコンタクト９３に機械的に且つ電気的に接続するように選択される。

第２の供給構造部９０ｂは、接触部材８２の電気コンタクト６２０、６２２（図６ａ）、または電気コンタクト６５０、６５４（図６ｂ）、または電気コンタクト６５２、６５４（図６ｂ）などの電気コンタクトが、ヴェポライザ６の加熱エレメントの第３の挿入体６１０と封入体６０４（図６ａ）、または円筒体６３８とリング６４０（図６ｂ）など、２つの電気的端子に接触するときに使われるようになされる。

図３は、それぞれ第１のライン１１２および第２のライン１１４によって測定部１１０に接続されている電力端子９６ａ、９６ｂを図示している。測定部１１０は、試験装置１の接続集合（ｍａｓｓ）への、第３のライン１１６による電気的接続５１をさらに含む。測定部１１０は、電源１１１もさらに含む。

試験装置１が、第１の供給構造部９０ａを含む場合、電源１１１は、電力端子９６ａへの第１のライン１１２と試験装置１の接続集合（ｍａｓｓ）への第３のライン１１６との間にＤＣもしくはＡＣ電圧または所定のＤＣもしくはＡＣ電圧を印加し、かつ電力端子９６ｂへの第２のライン１１４と試験装置１の接続集合（ｍａｓｓ）への第３のライン１１６との間に同じＤＣもしくはＡＣ電圧または同じ所定のＤＣもしくはＡＣ電圧を印加するように構成することができる。第１の供給構造部９０ａの回転を受けて、順番に、電力端子９６ａ（のパッド１００）が、第１の供給構造部９０ａの外部側面のより高い部分にある、スリップコンタクト９２ａなどのスリップコンタクト９２に電力供給し、電力端子９６ｂ（のパッド１００）が、第１の供給構造部９０ａの外部側面のより低い部分にある、スリップコンタクト９２ｂなどのスリップコンタクト９２に電力供給することになる。電源１１１は、接触部材８２がヴェポライザ６の加熱エレメントの電気的端子に電気接触したときに、第１のライン１１２と第３のライン１１６との間および第２のライン１１４と第３のライン１１６との間にＤＣまたはＡＣ電圧を印加する代わりに、第１のラインと第３のライン１１２、１１６を通して、および第２のラインと第３のライン１１４、１１６を通して、ＤＣもしくはＡＣ電流または所定のＤＣもしくはＡＣ電流を供給するように構成することもでき、一方、加熱エレメントの他方の電気的端子は試験装置１の接続集合（ｍａｓｓ）に電気接触される。

試験装置１が、第２の供給構造部９０ｂを含む場合、電源１１１は、ＤＣもしくはＡＣ電圧または所定のＤＣもしくはＡＣ電圧を、試験装置１の電力端子９６ａへの第１のライン１１２と、電力端子９６ｂへの第２のライン１１４との間に印加するように構成することができる。第１の供給構造部９０ａの回転を受けて、電力端子９６ａ、９６ｂ（のパッド１００）は、スリップコンタクト９３ａ、９３ｂ、またはスリップコンタクト９３ｃ、９３ｄなど、相互に上下に配置されたスリップコンタクト９３の引き続くペアに電力を供給することになる。電源１１１は、接触部材８２の電気コンタクトがヴェポライザ６の加熱エレメントの電気的端子に接触したときに、第１のライン１１２と第２のライン１１４との間にＤＣもしくはＡＣ電圧を印加する代わりに、第１のラインと第２のライン１１２、１１４とを通して、ＤＣもしくはＡＣ電流または所定のＤＣもしくはＡＣ電流を供給するように構成することができる。

なお、電源１１１は、測定部１１０中に含める代わりに測定部１１０の外部に置くことも可能であるが、前述と同様な機能を遂行する。測定部１１０は、（おそらくは所定の）ＤＣもしくはＡＣ電圧を印加するため、または（おそらくは所定の）ＤＣもしくはＡＣ電流を印加するため、電源１１１の設定を制御するように適合され構成することができる。

測定部１１０は、電力端子９６ａ、９６ｂが、ヴェポライザ６を保持する保持ユニット１０に関連付けられた接触部材８２に関連するスリップコンタクト９２またはスリップコンタクト９３に接触したとき、試験されているヴェポライザ６の加熱エレメントの電気抵抗および／またはインダクタンスを表す少なくとも１つの電気量を測定するようになされる。

測定部１１０は、測定量を所定の範囲と比較し、測定量が範囲を外れる場合に不合格信号Ｒを出力するように構成された比較ユニット１１８を含む。この不合格信号Ｒは、所定場所における関連ヴェポライザ６の排出を制御するため、試験装置の制御デバイスに供給することができる。

次に、試験装置１の動作をさらに詳しく記述し説明することとする。

作動中、ヴェポライザ６は、ヴェポライザ６が保持ユニットの軌道の少なくとも一部に沿って搬送されるように、保持構造部１２の保持ユニットの軌道に沿った受け取り場所で供給ユニット４によって保持ユニット１０に供給される。保持構造部１２の回転の方向３２を考慮して、この受け取り場所は、カム軌道８６の断面部Ａの上流部のカム軌道８６の断面Ｂに関連付けられる。

保持ユニット１０に保持された試験対象の各ヴェポライザ６に対し、関連する接触部材８２のカム軌道フォロア８４が、カム軌道８６の断面部Ａの外側の断面部Ｂ中にあるとき、ヴェポライザ６は電力供給がされず、したがってヴェポライザの加熱エレメントに電流は流れない。

保持ユニット１０に保持された各ヴェポライザ６に対し、関連する接触部材８２のカム軌道フォロア８４がカム軌道８６の断面部Ａに入ると、接触部材８２が、カム軌道８６中で変位されるカム軌道フォロア８４によって、ヴェポライザ６に向かって変位される。かかる変位によって、接触部材８２は、ヴェポライザ６の加熱エレメントの少なくとも１つの電気的端子に機械的且つ電気的に接触する。前述のように、試験装置１中の第１の供給構造部９０ａの場合、ヴェポライザ６の加熱エレメントの他方の電気的端子は、接続集合（ｍａｓｓ）に電気的に接続された保持ユニット１０の部分に機械的且つ電気的に接触することが可能である。試験装置１中の第２の供給構造部９０ｂの場合、接続集合（ｍａｓｓ）への接続は不要であり、ヴェポライザ６の加熱エレメントの両方の電気的端子は、接触部材８２の一電気コンタクトに機械的且つ電気的に接触すればよい。

次に、保持ユニット１０中に保持された各ヴェポライザ６に対し、ピン９４もしくは９５とワイヤ（群）１０２とを通してヴェポライザ６の加熱エレメントの電気的端子（群）に機械的且つ電気的に接触された、スリップコンタクト９２（第１の供給構造部９０ａの場合）またはスリップコンタクト９３（第２の供給構造部９０ｂの場合）が、電力端子９６ａ、９６ｂの１つまたは両方を通し、電源１１１によって、最長で、電力端子（群）９６ａ、９６ｂのパッド（群）１００がスリップコンタクト９２またはスリップコンタクト９３に接触している時間のうちに、またはそれより短い期間で電力供給される。こうして、接触部材８２の電気コンタクト（群）は、ヴェポライザ６の加熱エレメントの電気的端子（群）に電力を供給する。

ヴェポライザ６の加熱エレメントの電気的端子のこの電力供給の過程で、電源１１１は、加熱エレメントの電気的端子に所定のＤＣまたはＡＣ電圧を印加することができ、このとき、測定部１１０は、加熱エレメントを流れるＤＣまたはＡＣ電流それぞれを測定する。ここでは、このＤＣまたはＡＣ電流が、加熱エレメントの電気抵抗および／またはインダクタンスを表す電気量である。

上記に換えて、電源１１１が加熱エレメントを流れる所定のＤＣまたはＡＣ電流を供給してもよく、このとき、測定部１１０は、加熱エレメントの電気的端子でのＤＣまたはＡＣ電圧それぞれを測定する。ここでは、このＤＣまたはＡＣ電圧が、加熱エレメントの電気抵抗および／またはインダクタンスを表す電気量である。

また、電源１１１は、事前設定されていないＤＣまたはＡＣ電圧を加熱エレメントの電気的端子に印加してもよく、このとき、測定部１１０は、それぞれに対し、加熱エレメントを流れるＤＣまたはＡＣ電流を測定する。ここでは、電圧の電流による除算が、加熱エレメントの電気抵抗および／またはインダクタンスを表す電気量を提供する。

また、電源１１１は、事前設定されていないＤＣまたはＡＣ電流を加熱エレメントの電気的端子に供給してもよく、このとき、測定部１１０は、加熱エレメントの電気的端子でのＤＣまたはＡＣ電圧それぞれを測定する。ここでは、電圧の電流による除算が、加熱エレメントの電気抵抗および／またはインダクタンスを表す電気量を提供する。

ヴェポライザ６の加熱エレメントが十分に機能していれば、ヴェポライザ６の加熱エレメントの電気的端子への電力供給は、測定部１１０による、加熱エレメントの電気抵抗および／またはインダクタンスを表す電気量の測定を駆動する。測定部１１０の比較ユニット１１８は、測定量を所定の範囲と比較し、測定量が範囲を外れる場合に不合格信号Ｒを出力する。

ヴェポライザ６の加熱エレメントに、例えば、破断した加熱エレメント、または電気的端子と加熱エレメントとの間の接続損傷、または別の製造不良、または加熱エレメントの変形などの理由による不具合がある場合にも、電気的端子への電力供給は所定範囲内の測定量をもたらさず、不合格信号Ｒが出力される。

この測定量は、特にＤＣ条件の下で、だが比較的低周波のＡＣ条件の下でも、電気抵抗を表すことが可能である。また、この測定量は、特に高周波のＡＣ条件の下で、インダクタンスを表すことが可能である。また、必要に応じ、抵抗性および誘導成分を含むインダクタまたはインピーダンスを算定するために、ＡＣ電圧もしくはＡＣ電流の周波数、および／またはＡＣ電圧とＡＣ電流との間の位相シフト、および／またはＤＣ電圧もしくはＤＣ電流の時定数を測定することもできる。

実際の測定において、ヴェポライザ６の加熱エレメントは、試験装置１中で４５ｍＡの所定ＤＣ電流を用い２５０ｍｓより短い試験時間で試験することが可能である。測定部は、サンプリング周波数、具体的には５０Ｈｚのサンプリング周波数を有することが可能で、これにより、この試験期間の間に複数の試験を行うことができ、試験結果を平均して試験の信頼性を向上することができる。或る測定量として、約３．６〜３．８Ωの受容可能な加熱エレメントのインピーダンスに対し、０．１６〜０．１７Ｖの電圧範囲を算定することができる。

ヴェポライザ６の加熱エレメントの試験後、関連接触部材８２のカム軌道フォロア８４は、カム軌道８６の断面部Ａからカム軌道８６の断面部Ｂに移動し、これにより、接触部材８２は、そのカム軌道フォロア８４がカム軌道８６中で変位されることによって、ヴェポライザ６の電気的端子（群）から離れるように変位される。試験されたヴェポライザ６は、保持ユニットの軌道の放出場所で、保持ユニット１０から取り出される。

上記で詳細に説明したように、電子タバコのヴェポライザを試験するための試験装置を開示する。各ヴェポライザは、加熱エレメントと、加熱エレメントに電力を供給するため加熱エレメントに接続された電気的端子とを含む。本試験装置は、各々が１つのヴェポライザを保持する複数の保持ユニットを備える保持構造部を含む。これら保持ユニットは、保持ユニットの軌道に沿って移動可能である。接触構造部には複数の電気接触部材が備えられている。各接触部材は、それぞれの保持ユニットに関連付けられており、関連する保持ユニット中のヴェポライザの少なくとも１つの電気的端子と電気接触する。供給構造部は、各接触部材に電力を伝導する。測定部は、加熱エレメントの電気抵抗および／またはインダクタンスを表す少なくとも１つの電気量を測定し、測定量を所定の範囲と比較し、測定量が範囲を外れる場合は、不合格信号を出力する。

必要に応じて、本発明の詳細な実施形態を本明細書に開示しているが、但し当然のことながら、開示された実施形態は、単に本発明の例示であって、これらは様々な形態に具現化することができる。したがって、本明細書に開示された具体的な構造的および機能的細部は、限定として解釈されるべきではなく、単に、特許請求の範囲のベースとして、また、任意の適切に展開された構造体に、実際に本発明を多様に用いるため、当業者を教示するためのベースとして解釈されるべきものである。さらに、本明細書で使われる用語および語句は、限定を意図したものでなく、本発明の理解し易い説明を提供するためのものである。

本明細書で使われる用語「或る（ａ／ａｎ）」は、１または１より多い、として定義される。本明細書で使われる用語、複数（ｐｌｕｒａｌｉｔｙ）は、２または２より多い、として定義される。本明細書で使われる用語、別の（ａｎｏｔｈｅｒ）は、少なくとも第２ののまたはそれより多くの、として定義される。本明細書で使われる用語、含むおよび／または有する（ｉｎｃｌｕｄｉｎｇ ａｎｄ／ｏｒ ｈａｖｉｎｇ）は、包含する（ｃｏｍｐｒｉｓｉｎｇ）（すなわち、他の要素またはステップを排除しないオープン言語）、として定義される。特許請求の範囲中のどの参照符号も、本発明の特許請求の範囲を限定するものと解釈されるべきではない。

特定の諸手段が相互に異なる従属請求項に記載されているという単なる事実は、利益を得るためにこれらの諸手段の組み合わせを使用することができない、ということを示唆するものではない。

Claims (11)

1. 電子タバコのヴェポライザを試験するための試験装置であって、各ヴェポライザは、加熱エレメントと、前記加熱エレメントに電力を供給するため前記加熱エレメントに接続された電気的端子とを含み、前記試験装置は、
   各々が１つのヴェポライザを保持するための複数の保持ユニットを備える保持構造部であって、前記保持構造部は移動可能であり、これにより前記保持ユニットは保持ユニットの軌道に沿って移動される、保持構造部と、
   複数の電気接触部材を備える接触構造部であって、各接触部材は、それぞれの保持ユニットに関連付けられていて前記関連する保持ユニット中のヴェポライザの少なくとも１つの電気的端子に電気接触するように構成される、接触構造部と、
   各接触部材に電力を伝導するように構成された供給構造部と、
   前記加熱エレメントの電気抵抗および／またはインダクタンスを表す少なくとも１つの電気量を測定するように構成された測定部と、
   を含み、
   前記供給構造部は、
   複数のスリップ電気コンタクトであって、各スリップコンタクトは、それぞれの接触部材に関連付けられて電気的に接続されており、前記供給構造部が前記接触構造部と同期して動くようになされている、スリップ電気コンタクトと、
   スリップコンタクトに電気接触して電力供給するように構成された少なくとも１つの電力端子であって、前記スリップコンタクトは前記電力端子に対して移動するようになされる、前記電力端子と、
   を含む、試験装置。
2. 前記測定部は、
   前記加熱エレメントの前記電気的端子に所定のＤＣ電圧を印加しながら、前記加熱エレメントを流れるＤＣ電流を測定するように、または
   前記加熱エレメントを流れる所定のＤＣ電流を供給しながら、前記加熱エレメントの前記電気的端子でＤＣ電圧を測定するように、または
   前記加熱エレメントの前記電気的端子でＤＣ電圧を測定し、かつ前記加熱エレメントを流れるＤＣ電流を測定するように、または
   前記加熱エレメントの前記電気的端子に所定のＡＣ電圧を印加しながら、前記加熱エレメントを流れるＡＣ電流を測定するように、または
   前記加熱エレメントを流れる所定のＡＣ電流を供給しながら、前記加熱エレメントの前記電気的端子でＡＣ電圧を測定するように、または
   前記加熱エレメントの前記電気的端子でＡＣ電圧を測定し、かつ前記加熱エレメントを流れるＡＣ電流を測定するように、
   構成される、請求項１に記載の試験装置。
3. 前記測定部は、
   前記ＡＣ電圧または前記ＡＣ電流の周波数、および／または
   前記ＡＣ電圧と前記ＡＣ電流と間の位相シフト、および／または
   前記ＤＣ電流または前記ＤＣ電圧の時定数、
   を測定するようにさらに構成される、請求項２に記載の試験装置。
4. 前記測定部は、
   測定量を所定の範囲と比較し、前記測定量が前記範囲を外れている場合、不合格信号を出力する、
   ようにさらに構成される、請求項１〜３のいずれか一項に記載の試験装置。
5. 前記電力端子は固定される、請求項１に記載の試験装置。
6. 各接触部材は、前記接触部材が、前記関連する保持ユニット中のヴェポライザの少なくとも１つの電気的端子に接触している第１の位置と、前記接触部材が、前記関連する保持ユニット中の前記ヴェポライザの電気的端子に接触していない第２の位置との間を変位するように構成される、請求項１〜５のいずれか一項に記載の試験装置。
7. 各接触部材はカム軌道フォロアを含み、前記接触構造部の動きを受けて、前記接触部材は、前記接触部材の前記カム軌道フォロアに係合するカム軌道によって、前記第１の位置と前記第２の位置とにおよびそれらの間で位置付けられ、前記カム軌道フォロアは、前記カム軌道の部分に沿って動きながら前記カム軌道に対して移動する、請求項６に記載の試験装置。
8. 前記カム軌道は固定される、請求項７に記載の試験装置。
9. 前記保持ユニットは円形構造体を形成し、前記保持構造部は回転移動が可能で、これにより前記保持ユニットは回転方向に移動する、請求項１〜８のいずれか一項に記載の試験装置。
10. 前記接触構造部は、前記保持構造部とともに回転して移動するために前記保持構造部に固定される、請求項９に記載の試験装置。
11. 前記ヴェポライザが保持ユニットの軌道の少なくとも部分に沿って搬送されるように、前記保持ユニットの軌道に沿った受け取り場所で、前記ヴェポライザを前記保持構造部の前記保持ユニットの中に置き入れるように構成された供給ユニットと、
    前記保持ユニットの軌道に沿った放出場所で、前記保持ユニットから前記ヴェポライザを取り出すように構成された放出ユニットと、
    をさらに含む、請求項１〜１０のいずれか一項に記載の試験装置。

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