JP6900280B2 - 光干渉断層撮影装置、画像処理装置、画像処理方法、及びプログラム - Google Patents
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Description
測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光との干渉光を用いて、前記被検眼の断層像を取得する干渉光学系と、
前記断層像の取得時間に関する情報または前記断層像の撮影画角に関する情報を用いて、前記被検眼の第1の断層像とは異なる時間に取得された前記被検眼の第2の断層像において前記第1の断層像に対応する位置を探索する探索範囲を決定する決定手段と、
前記決定された探索範囲に関する情報を用いて、前記第1の断層像及び前記第2の断層像の位置合わせを行う位置合わせ手段と、を有する。
次に、第1の実施形態について図1を用いて説明する。図1は、本実施形態に係る光干渉断層撮影装置の概略構成を示す図である。図1において、100は光干渉部(干渉光学系)であり、以下に説明する各構成を含む。101は、近赤外光を発光する低コヒーレンス光源である。光源101から発光した光は、光ファイバ102aを伝搬し、光分岐部103で測定光と参照光に分岐される。光分岐部103により分岐された測定光は、光ファイバ102bに入射され、走査光学系200に導かれる。一方、光分岐部103により分岐された参照光は、光ファイバ102cに入射され、反射ミラー113へ導かれる。また、光ファイバ102cに入射した参照光はファイバ端から射出され、コリメート光学系111を介して、分散補償光学系112に入射し、反射ミラー113へと導かれる。反射ミラー113で反射した参照光は、光路を逆にたどり再び光ファイバ102cに入射する。分散補償光学系112は、走査光学系200及び被測定物体である被検眼Eにおける光学系の分散を補正するものである。反射ミラー113は、図示しない光路長制御部114によって光軸方向に駆動可能なように構成されており、参照光の光路長を、測定光の光路長に対して相対的に変化させることができる。一方、光ファイバ102bに入射した測定光はファイバ端より射出される。これらの光源101、光路長制御部114は図示しない制御部130の制御下で制御される。次に、走査光学系200について説明する。走査光学系200は被検眼Eに対して相対的に移動可能なように構成された光学系である。走査光学系の図示しない駆動制御部205は、被検眼Eの眼軸に対して前後上下左右方向に走査光学系200を駆動可能なように構成され、被検眼Eに対して走査光学系200をアライメントすることができる。そして、光ファイバ102bのファイバ端より射出した光は、光学系202により略平行化され、走査部203へ入射する。走査部203は、ミラー面を回転可能なガルバノミラーを2つ有し、一方は水平方向に光を偏向し、他方は垂直方向に光を偏向し、駆動制御部205の制御下で入射した光を偏向する。これにより、走査部203は、紙面内の主走査方向と紙面垂直方向の副走査方向の2方向に、被検眼Eの眼底Er上で測定光を走査することができる。走査部203により走査された光は、レンズ204を経由して被検眼Eの眼底Er上に、照明スポットを形成する。走査部203により面内偏向をうけると各照明スポットは被検眼Eの眼底Er上を移動(走査)する。この照明スポット位置における反射光が光路を逆にたどり光ファイバ102bに入射して、光分岐部103まで戻ることになる。
第二の実施形態は、OCTA画像の生成をより高速化するため、Aスキャン数NoAや撮影画角Abに基づいてテンプレート画像の探索範囲を設定する点のみが第一の実施形態と異なる。そのため、同一の内容については説明を省略する。まず、位置合わせ部303は、選定された二枚の断層像のうち一方の断層像を図5に示すように複数(n個)の縦長の短冊領域S(n)に分割し、それらを複数のテンプレート画像として設定する。次に、探索範囲設定部305は、Aスキャン数NoAに基づき、各テンプレート画像の探索範囲を決定する。なお、本実施形態では各テンプレート画像に対して断層像上で縦方向の位置合わせのみを行うため、縦方向の探索範囲Syのみを求める。ここで、横方向の位置合わせを省略している理由は、多くの光干渉断層撮影装置ではトラッキングによる走査位置の補正がなされているため、横方向の位置ずれが少ないためである。また、本実施形態は図6に示すように個々の短冊領域S(n)をそれぞれ縦方向に位置合わせすることにより、疑似的に傾きの位置ずれを補正することができる。そのため、傾きの位置合わせも省略することができる。本実施形態の光干渉断層撮影装置では、以下の式(3)により短冊状の各テンプレート画像の縦方向の探索範囲Syを求める。ここで、αとβは定数である。
以上、実施形態を詳述したが、本発明は、例えば、システム、装置、方法、プログラムもしくは記憶媒体等としての実施態様をとることが可能である。具体的には、複数の機器から構成されるシステムに適用してもよいし、また、一つの機器からなる装置に適用してもよい。
Claims (14)
- 測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光との干渉光を用いて、前記被検眼の断層像を取得する干渉光学系と、
前記断層像の取得時間に関する情報または前記断層像の撮影画角に関する情報を用いて、前記被検眼の第1の断層像とは異なる時間に取得された前記被検眼の第2の断層像において前記第1の断層像に対応する位置を探索する探索範囲を決定する決定手段と、
前記決定された探索範囲に関する情報を用いて、前記第1の断層像及び前記第2の断層像の位置合わせを行う位置合わせ手段と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮影装置。 - 前記断層像の取得時間に関する情報は、異なる時間に取得された前記被検眼の複数の断層像の取得時間間隔であり、
前記決定手段は、前記取得時間間隔の長い方が大きいように前記探索範囲を決定することを特徴とする請求項1に記載の光干渉断層撮影装置。 - 前記被検眼に対して前記測定光を走査する走査手段を更に有し、
前記取得時間間隔は、前記走査手段の往復走査における往路と復路とのそれぞれで前記断層像を取得する場合には、1枚の断層像を取得する取得時間であることを特徴とする請求項2に記載の光干渉断層撮影装置。 - 前記被検眼に対して前記測定光を走査する走査手段を更に有し、
前記取得時間間隔は、前記走査手段の往復走査における往路では断層像を取得するが復路では断層像を取得しない場合には、連続する2つの断層像の取得時間間隔であり、前記走査手段による1の主走査の終了時から次の主走査の開始時までの前記走査手段の移動時間を含むことを特徴とする請求項2に記載の光干渉断層撮影装置。 - 前記断層像の取得時間に関する情報は、1枚の断層像のAスキャンデータの数であり、前記決定手段は、前記Aスキャンデータの数の多い方が大きいように前記探索範囲を決定することを特徴とする請求項1または2に記載の光干渉断層撮影装置。
- 前記断層像の取得時間に関する情報は、前記干渉光を検出する検出手段の読み出し速度と波長掃引光源の波長掃引速度とのうちいずれかの速度であり、
前記決定手段は、前記速度の遅い方が大きいように前記探索範囲を決定することを特徴とする請求項1または2に記載の光干渉断層撮影装置。 - 前記被検眼に対して前記測定光を走査する走査手段を更に有し、
前記断層像の取得時間に関する情報は、前記走査手段の走査速度及び走査角度であることを特徴とする請求項1または2に記載の光干渉断層撮影装置。 - 前記位置合わせ手段は、前記第2の断層像において設定された前記被検眼の深さ方向に長い複数の領域毎に、前記被検眼の深さ方向における前記第1の断層像及び前記第2の断層像の位置ずれを補正することにより、前記第1の断層像及び前記第2の断層像の位置合わせを行うことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の光干渉断層撮影装置。
- 前記位置合わせが行われた第1の断層像及び第2の断層像を用いてモーションコントラストデータを生成する生成手段を更に有することを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の光干渉断層撮影装置。
- 前記位置合わせ手段は、前記決定された探索範囲に関する情報及び前記第1の断層像と前記第2の断層像との間の脱相関値を用いて、前記第1の断層像及び前記第2の断層像の位置合わせを行い、
前記生成手段は、前記位置合わせに用いられた脱相関値を用いて前記モーションコントラストデータを生成することを特徴とする請求項9に記載の光干渉断層撮影装置。 - 前記位置合わせ手段は、前記決定された探索範囲に関する情報を用いて、前記測定光が略同一位置で繰り返し走査されるように制御して得た前記第1の断層像と前記第2の断層像との間の位置合わせを行うことを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の光干渉断層撮影装置。
- 測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光との干渉光を用いて取得された前記被検眼の断層像の取得時間に関する情報または前記断層像の撮影画角に関する情報を用いて、前記被検眼の第1の断層像とは異なる時間に取得された前記被検眼の第2の断層像において前記第1の断層像に対応する位置を探索する探索範囲を決定する決定手段と、
前記決定された探索範囲に関する情報を用いて、前記第1の断層像及び前記第2の断層像の位置合わせを行う位置合わせ手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。 - 測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する参照光との干渉光を用いて取得された前記被検眼の断層像の取得時間に関する情報または前記断層像の撮影画角に関する情報を用いて、前記被検眼の第1の断層像とは異なる時間に取得された前記被検眼の第2の断層像において前記第1の断層像に対応する位置を探索する探索範囲を決定する工程と、
前記決定された探索範囲に関する情報を用いて、前記第1の断層像及び前記第2の断層像の位置合わせを行う工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。 - 請求項13に記載の画像処理方法に記載の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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