JP6899477B2 - フレキシブルoledデバイス、その製造方法及び支持基板 - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title description 47
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 28
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 35
- MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N tantalum nitride Chemical compound [Ta]#N MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 30
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 29
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 25
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 12
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 5
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 claims description 5
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 claims description 5
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 claims description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 122
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 112
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 58
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 58
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 42
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 27
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 17
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 16
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 16
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 11
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 11
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 10
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 6
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 6
- -1 Tantalum nitrides Chemical class 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 4
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 description 3
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 3
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 3
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 3
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 3
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 2
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 2
- 239000002932 luster Substances 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 229920005575 poly(amic acid) Polymers 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910019043 CoSn Inorganic materials 0.000 description 1
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052769 Ytterbium Inorganic materials 0.000 description 1
- WTSZEAJEVDVRML-UHFFFAOYSA-N [O--].[O--].[O--].[O--].[V+5].[Y+3] Chemical compound [O--].[O--].[O--].[O--].[V+5].[Y+3] WTSZEAJEVDVRML-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002313 adhesive film Substances 0.000 description 1
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000032798 delamination Effects 0.000 description 1
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N neodymium atom Chemical compound [Nd] QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006552 photochemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 1
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 1
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 1
- NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N ytterbium Chemical compound [Yb] NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Description
ース層はタンタル窒化物の多結晶体から形成されている。
図1A及び図1Bを参照する。本実施形態におけるフレキシブルOLEDデバイスの製造方法では、まず、図1A及び図1Bに例示される積層構造体100を用意する。図1A
は、積層構造体100の平面図であり、図1Bは、図1Aに示される積層構造体100のB−B線断面図である。図1A及び図1Bには、参考のため、互いに直交するX軸、Y軸、及びZ軸を有するXYZ座標系が示されている。
品の形態において、個々のフレキシブルOLEDデバイスの「フレキシブル基板」として機能する。これに対して、樹脂膜30の中間領域30iは、最終製品を構成する要素ではない。
図2A及び図2Bを参照して、本開示の実施形態における支持基板の製造方法を説明する。図2A及び図2Bは、本開示の実施形態における支持基板200の製造方法を示す工程断面図である。
0〜115sccm、アルゴンガス流量は例えば15〜25sccmであり得る。スパッタリング中にベース10を加熱する必要はない。このようなスパッタリング法は、化学的気相成長法に比べて低いコストでリリース層12の形成を可能にする。なお、反応性スパッタリング法によってタンタル窒化物を堆積させる場合、ガス流量や基板温度を調整することにより、タンタル窒化物の堆積膜中の残留内部応力を小さくすることができる。一般に、高融点金属の堆積膜中には比較的大きな残留内部応力が発生しやすい。リリース層の残留内部応力が大きくなると、支持基板に反りが発生し、剥離工程が適切に実行できなくなる可能性がある。タンタル窒化物からリリース層を形成することにより、高融点金属から形成したリリース層を用いた場合に比べて、支持基板の反りが低減され、より歩留りよく剥離を行うことが可能になる。
80%以上、または85%以上に設定され得る。一方、トップエミッション型のフレキシブルディスプレイの場合には透過率の影響は受けない。
本開示の実施形態では、薄膜トランジスタを形成する工程において、例えば350℃以上の熱処理を行うため、この熱処理によって劣化しない材料から樹脂膜30は形成される。
樹脂膜30の表面30x上にパーティクルまたは凸部などの研磨対象(ターゲット)が存在する場合、研磨装置によってターゲットを研磨し平坦化してもよい。パーティクルなどの異物の検出は、例えばイメージセンサによって取得した画像を処理することによって可能である。研磨処理後、樹脂膜30の表面30xに対する平坦化処理を行ってもよい。平坦化処理は、平坦性を向上させる膜(平坦化膜)を樹脂膜30の表面30xに形成する工程を含む。平坦化膜は樹脂から形成されている必要はない。
次に、樹脂膜30上にガスバリア膜(不図示)を形成してもよい。ガスバリア膜は、種々の構造を有し得る。ガスバリア膜の例は、シリコン酸化膜またはシリコン窒化膜などの膜である。ガスバリア膜の他の例は、有機材料層及び無機材料層が積層された多層膜であり得る。このガスバリア膜は、機能層領域20を覆う後述のガスバリア膜から区別するため、「下層ガスバリア膜」と呼んでもよい。また、機能層領域20を覆うガスバリア膜は、「上層ガスバリア膜」と呼ぶことができる。
次に、TFT層20A及びOLED層20Bなどを含む機能層領域20、ならびに上層ガスバリア膜40を形成する工程を説明する。
上記の機能層領域20を形成した後、図3Cに示されるように、機能層領域20の全体をガスバリア膜(上層ガスバリア膜)40によって覆う。上層ガスバリア膜40の典型例は、無機材料層と有機材料層とが積層された多層膜である。なお、上層ガスバリア膜40と機能層領域20との間、または上層ガスバリア膜40の更に上層に、粘着膜、タッチスクリーンを構成する他の機能層、偏光膜などの要素が配置されていてもよい。上層ガスバリア膜40の形成は、薄膜封止(Thin Film Encapsulation:TFE)技術によって行う
ことができる。封止信頼性の観点から、薄膜封止構造のWVTR(Water Vapor Transmission Rate)は、典型的には1×10-4g/m2/day以下であることが求められている。本開示の実施形態によれば、この基準を達成している。上層ガスバリア膜40の厚さは例えば1.5μm以下である。
次に図3Dを参照する。図3Dに示されるように、積層構造体100の上面に保護シート50を張り付ける。保護シート50は、例えばポリエチレンテレフタレート(PET)やポリ塩化ビニル(PVC)などの材料から形成され得る。前述したように、保護シート50の典型例は、離型剤の塗布層を表面に有するラミネート構造を有している。保護シート50の厚さは、例えば50μm以上150μm以下であり得る。
本実施形態のフレキシブルOLEDデバイスの製造方法では、積層構造体100を用意する工程を実行した後、樹脂膜30の中間領域30iと複数のフレキシブル基板領域30dのそれぞれとを分割する工程を行う。分割を行う工程は、LLO工程の前に行う必要はなく、LLO工程の後に行ってもよい。
LEDデバイスと各OLEDデバイスを支持するベース部分とを備える部分積層構造に分割してもよい。
図7Aは、不図示の製造装置(剥離装置)におけるステージ212が積層構造体100を支持する直前の状態を模式的に示す図である。本実施形態におけるステージ212は、吸着のための多数の孔を表面に有する吸着ステージである。吸着ステージの構成は、この例に限定されず、積層構造体を支持する静電チャックまたは他の固定装置を備えていてもよい。積層構造体100は、積層構造体100の第2の表面100bがステージ212の表面212Sに対向するように配置され、ステージ212に密着している。
ッテルビウム(Yb)がドープされたYVO4をレーザ発振媒体として使用する場合は、
レーザ発振媒体から放射されるレーザ光(基本波)の波長が約1000nmであるため、波長変換素子によって340〜360nmの波長を有するレーザ光(第3次高調波)に変換してから使用され得る。
れ得る。ラインビーム状の剥離光216は、ベース10を横切るサイズ、すなわちベース
の1辺の長さを超えるライン長さ(長軸寸法、図8BのY軸方向サイズ)を有する。ライン長さは、例えば750mm以上であり得る。一方、剥離光216のライン幅(短軸寸法、図8BのX軸方向サイズ))は、例えば0.2mm程度であり得る。これらの寸法は、樹脂膜30とベース10との界面における照射領域のサイズである。剥離光216は、パルス状または連続波として照射され得る。パルス状の照射は、例えば毎秒200回程度の周波数で行われ得る。
図9Aは、剥離光の照射後、積層構造体100がステージ212に接触している状態を記載している。この状態を維持したまま、ステージ212からベース10までの距離を拡大する。このとき、本実施形態におけるステージ212は積層構造体100のOLEDデバイス部分を吸着している。
ス層12の表面が有する凹凸パターンに整合した凹凸を有している。この凹凸は、可視光を拡散反射する形状及びサイズを有している。OLEDデバイス1000は、フレキシブル基板領域30dの裏面に接着されたサポートフィルムを更に備えていてもよい。樹脂膜30が例えば5〜20μm程度の厚さを有している場合、サポートフィルムの貼付が行われ得る。樹脂膜30の裏面における凹凸の存在は、サポートフィルムに対する接着面積を増加させ、アンカー効果を高めるため、フレキシブル基板領域30dとサポートフィルムとの接着強度を向上させる。
Claims (6)
- ベースと、フレキシブルフィルムと、前記フレキシブルフィルムと前記ベースとの 間に位置して前記ベースに固着しているリリース層とを備える積層構造体を用意する 工程、及び
前記ベースを透過する紫外線で前記リリース層を照射して前記リリース層から前記 フレキシブルフィルムを剥離する工程と、
を含み、
前記フレキシブルフィルムは、前記紫外線を透過する合成樹脂膜であり、
前記リリース層はタンタル窒化物の多結晶体から形成され、かつ、前記リリース層 の表面は、凹凸パターンを有しており、
前記フレキシブルフィルムの裏面に、前記リリース層の前記表面が有する前記凹凸 パターンを転写し、前記凹凸パターンは、可視光を拡散反射する形状及びサイズを有 している、パターンの転写方法。 - 前記タンタル窒化物に含まれる窒素のモル比率は、前記タンタル窒化物に含まれる タンタルのモル比率よりも高い、請求項1に記載の転写方法。
- 前記リリース層の厚さは、50nm以上500nm以下である、請求項1または2 に記載の転写方法。
- 前記紫外線の波長は、300nm以上360nm以下である、請求項1から3のい ずれかに記載の転写方法。
- 前記フレキシブルフィルムの厚さは、5μm以上20μm以下である、請求項1か ら4のいずれかに記載の転写方法。
- 前記積層構造体を用意する工程は、
窒素含有ガス雰囲気中でタンタルターゲットをスパッタすることによって前記ベー ス上に前記タンタル窒化物の多結晶体を形成する工程と、
前記タンタル窒化物の多結晶体上に前記フレキシブルフィルムを形成する工程と、
を含む、請求項1から5のいずれかに記載の転写方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020165334A JP6899477B2 (ja) | 2019-07-26 | 2020-09-30 | フレキシブルoledデバイス、その製造方法及び支持基板 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019137684A JP6772348B2 (ja) | 2019-07-26 | 2019-07-26 | フレキシブルoledデバイス、その製造方法及び支持基板 |
JP2020165334A JP6899477B2 (ja) | 2019-07-26 | 2020-09-30 | フレキシブルoledデバイス、その製造方法及び支持基板 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019137684A Division JP6772348B2 (ja) | 2019-07-26 | 2019-07-26 | フレキシブルoledデバイス、その製造方法及び支持基板 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021012886A JP2021012886A (ja) | 2021-02-04 |
JP6899477B2 true JP6899477B2 (ja) | 2021-07-07 |
Family
ID=74227791
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020165334A Active JP6899477B2 (ja) | 2019-07-26 | 2020-09-30 | フレキシブルoledデバイス、その製造方法及び支持基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6899477B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022145162A (ja) | 2021-03-19 | 2022-10-03 | 株式会社片岡製作所 | レーザ処理装置、レーザ処理方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61220292A (ja) * | 1985-03-26 | 1986-09-30 | ホ−ヤ株式会社 | 薄膜el素子とその製造方法 |
JPH08174831A (ja) * | 1994-12-27 | 1996-07-09 | Canon Inc | 発熱抵抗体、該発熱抵抗体を備えたインクジェット記録ヘッド用基体、該基体を備えたインクジェット記録ヘッド、及び該インクジェット記録ヘッドを備えたインクジェット記録装置 |
JP4527068B2 (ja) * | 2001-07-16 | 2010-08-18 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 剥離方法、半導体装置の作製方法、及び電子書籍の作製方法 |
JP4689249B2 (ja) * | 2003-11-28 | 2011-05-25 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置の作製方法 |
US9887384B2 (en) * | 2013-07-16 | 2018-02-06 | Sharp Kabushiki Kaisha | Method for producing flexible display device, and flexible display device |
TW201943069A (zh) * | 2013-09-06 | 2019-11-01 | 日商半導體能源研究所股份有限公司 | 發光裝置以及發光裝置的製造方法 |
JP2017128083A (ja) * | 2016-01-22 | 2017-07-27 | 大日本印刷株式会社 | 積層体の製造方法、表示装置の製造方法および積層体 |
-
2020
- 2020-09-30 JP JP2020165334A patent/JP6899477B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2021012886A (ja) | 2021-02-04 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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