JP6894593B2 - 差動測定による磁石の位置の追跡方法 - Google Patents
差動測定による磁石の位置の追跡方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6894593B2 JP6894593B2 JP2018518630A JP2018518630A JP6894593B2 JP 6894593 B2 JP6894593 B2 JP 6894593B2 JP 2018518630 A JP2018518630 A JP 2018518630A JP 2018518630 A JP2018518630 A JP 2018518630A JP 6894593 B2 JP6894593 B2 JP 6894593B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- time
- magnet
- ref
- measurement time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 122
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims description 192
- 239000013598 vector Substances 0.000 claims description 139
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 70
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 17
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 13
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 11
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 3
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 22
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 10
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
- 239000010454 slate Substances 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 239000003302 ferromagnetic material Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000012804 iterative process Methods 0.000 description 1
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 1
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 1
- 230000008707 rearrangement Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 238000010200 validation analysis Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S5/00—Position-fixing by co-ordinating two or more direction or position line determinations; Position-fixing by co-ordinating two or more distance determinations
- G01S5/16—Position-fixing by co-ordinating two or more direction or position line determinations; Position-fixing by co-ordinating two or more distance determinations using electromagnetic waves other than radio waves
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/046—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by electromagnetic means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/0206—Three-component magnetometers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
a)各磁力計により、基準時間において基準磁場を測定し
b)上記基準時間において上記磁石に対して基準位置を割り当て、
c)上記基準時間の後の測定時間に各磁力計が上記磁石により生じた磁場を測定し、
d)磁力計ごとに、ステップc)において測定された磁場とステップa)において測定された基準磁場との差を示す差動磁場を算出し、
e)各差動磁場および上記基準位置の推定に基づいて、上記測定時間における上記磁石の位置を推定し、そして、
f)測定時間をインクリメントさせている間は、ステップe)で取得した推定値に基づいて、ステップc)からステップe)を反復する。
i)上記測定時間と上記基準時間の間における磁石の動きを決定するステップであって、それらの各時間において、上記時間における上記磁力計により測定される上記磁場の係数に依存する重み付け要素により、各磁力計の位置が重み付けされるステップ。
ii)サブステップi)において決定される動きと、上記測定時間において上記磁石の位置と上記基準位置との推定値を用いて算出される動きとを比較するステップ。
ステップb)において、任意の位置、または基準時間における磁石の位置の推定は上記基準位置に割り当てられること。
ステップe)は、各測定時間における磁石の位置の推定と別に、この時間における方向の推定を含むこと。
ステップe)はまた、上記測定時間における上記磁石の磁気モーメントの成分の推定を含むこと。
上記磁石の磁場の係数が予め設定された値または設定範囲に対応するように、これらの成分に対して条件が置かれてもよい。
このステップでは、各磁力計10iが基準磁場と呼ばれる磁場Bi(tref)を測定する。この測定は基準時間trefに行われる。従来技術と異なり、この磁石15は、少なくとも1の磁力計、そして好ましくは全ての磁力計に対して顕著な磁場を生成するように、基準位置に配置される。さらに、上記基準時間において、この磁石の基準磁気モーメントと称されるこの磁気モーメントがmref(tref)と表される。
このステップにおいて、基準系R内の磁石15の座標に対応している、rref(tref)と表される基準位置が割り当てられる。この基準位置に関する演繹的なもの(アプリオリ)が利用可能でないときは、例えば予め設定された位置など、任意に定義することができる。
ステップ100からステップ110において、サンプリング時間の周期に離散化された時間であるステップ120は、ステップ100から110の間に考慮される基準時間trefに応じて時間をインクリメントする。以下のステップは繰り返して行われ、ランクnの各繰り返しは測定時間または現在時間と称される時間tnに関連づけられている。
各磁力計10iは、ステップ130で測定された磁場Bi(tn)とステップ100で測定基準磁場Bi(tref)との差を示す差動磁場ΔBi(tn)の演算を行う。各磁力計に対して、軸ごとに基準時間と現在時間との座標を減算することによって、この差が演算される。当該磁力計の全ての差動磁場ΔBi(tn)を有する差分測定値ΔB(tn)のベクトルが形成される。この例において、32個の3軸磁力計がこの配列に含まれており、ベクトルΔB(tn)は96項を含んでおり、各項は、磁力計10iにより取得された1軸毎の異なる磁場を示している。異なる測定の利点は、これらが周囲磁場および各磁力計10iのオフセット信号を除外することが可能なことである。つまり、以下の式により表される。
であり、
である。よって、この差分測定値ΔBi(tn)は、周囲磁場および各検出器のオフセット信号に依存していない。以下に、この基準時間の更新について説明する。
・磁石の向きθ(tn)を決定することができることに基づく、現在時刻tnにおける磁石の位置r(tn)の推定と、その磁気モーメントm(tn)の推定。
・基準時間における磁石の向きθref(tn)を決定することができることに基づく、現在時間tnにおける磁石rref(tn)の基準位置の推定と、基準磁気モーメントmref(tn)の推定。第1の反復では、磁石の基準位置rref(tref)は、基準時間に磁石に割り当てられた位置に対応し、これは既知であるか、または任意に決定される。
・現在時間tnおよび基準時間trefにおけるこのホルダに関連づけられている基準系RのX、Y、Z軸に沿った磁石の座標の推定。
・それぞれの時間における、基準系RのX、Y、Z軸に対応した磁石の磁気モーメントの座標mx、my、mzの推定。
先行繰り返しにおいて得られた状態ベクトルx(tn−1)を知ることにより状態ベクトルx(tn)が推定される。この推定は、
ここで、
・F(tn)は予測行列であり、先行状態n−1から現在の状態nに関連する。この例において、12×12サイズの単位行列
・Tは転置演算子である。
・Q(tn)は、12×12サイズのプロセスのノイズ共分散行列である。
・G(tn−1)は、誤差の共分散行列である。それは、先行繰り返しから生じる。第1の繰り返し(n=1)において、G(tn−1)は対角行列に初期化される。
イノベーションベクトルy(tn)は以下の式を用いて決定される。
・ΔB(tn)はステップ140で確立された96×1サイズの差分測定値のベクトルである。
・hは、直接モデルを表す関数であり、状態ベクトルの項を差分測定値のベクトルΔB(tn)の項に関連づける。h(x(tn|tn−1))は96×1サイズのベクトルである。h(x(tn|tn−1))は、各磁力計に対する、時間tnにおける差動磁場の推定を表している。ベクトルh(x(tn|tn−1))の各項は、ある軸に沿った、磁力計10iにおける差動磁場の推定を表している。ベクトルΔB(tn)のように、このベクトルの項の数は、当該磁力計10iの数に各磁力計の測定軸の数を掛けた数に等しい。
・H(tn)は測定値と状態ベクトルとを関連づける行列であり、この行列の各項Hu,v(tn)は、
・R(tn)は96×96サイズの、行列のノイズの共分散行列である。
状態ベクトルx(tn)は、予測x(tn|tn−1)、イノベーションy(tn)、およびゲインL(tn)に基づいて、式(6)を用いて更新される。
・例えば、上述の角度θx、θy、θzの1つ以上の傾きのような、磁石の向きθ決定することができるということに基づく、現在時間(tn)における磁石の位置r(tn)および磁気モーメントm(tn)の推定。
・各現在時間tnにおいて更新される、磁石の基準位置rref(tn)および基準磁気モーメントmref(tn)の推定。
したがって、基準磁場Bi(tref)の測定中にこの位置を正確に推定する必要はない。
ステップ160において、時間は1単位インクリメントされ(tn=tn+1)、繰り返し処理はステップ130に戻り、サブステップ154で推定されたx(tn−1)とG(tn−1)の推定値に基づいて、再開する。
・磁石の位置はr(tn)=r1である。この時間における磁気モーメントがm1であり、そして、基準時間における位置および磁気モーメントはそれぞれr2およびm2である。
・あるいは、磁石の位置はr(tn)=r2である。この時間における磁気モーメントが−m2であり、そして、基準時間における位置および磁気モーメントはそれぞれr1および−m1である。
このサブステップは、時間tnにこのグループの各磁力計によって測定される差動磁場ΔBi(tn)に基づいて、磁力計10iのグループを選択する処理を含む。そして、このステップはまた、以下の式を用いて測定される時間の基準系Rにおける磁石のいわゆる重心位置b(tn)を推定する処理を含む。
・ki(tn)は、時間tnに磁力計10 iに割り当てられた重み付け項である。例えばki(tn)は、以下の式により示される。
・riはこのホルダの基準系Rにおける磁力計10iの座標を示している。
は、前の段落で定義されたような、上記基準時間における瞬時差動磁場のノルムである。tref±q´は、実質的に基準時間trefに対応するように、基準時間trefの前後に1回以上反復される時間である。指数q´は、好ましくは1〜10の整数であり、例えば1に等しい。
重心b(tref)と(tn)との間、および位置rref(tn)とr(tn)との間の動きとして示される2つのベクトルvb(tn)とvr(tn)の座標がそれぞれ決定される。
予め決定された2つのベクトルvb(tn)とvr(tn)とを比較することにより、状態ベクトルx(tn)が検証される。例えば、これらのベクトルのスカラー積によって比較を行うことができる。このスカラー積はベクトルvb(tn)とvr(tn)それぞれのノルムの積によって正規化されてもよい。そして正規化された指標ind(tn)が取得され、この値により、反復において推定された状態ベクトルx(tn)が検証されたか否かを決定する。
の場合には、状態ベクトルは更新されず、新たな反復が実行される。ind(tn)<−0.7の場合には、状態ベクトルは無効であって、以下に示すように、時間tnにおける磁石の基準位置rref(tn)と位置r(tn)の推定を反転可能であることを示す値のように修正されてもよい。一般に、この比較は、2つの動きベクトルvb(tn)とvr(tn)とのそれぞれの方向を比較する指標ind(tn)を決定することを目的とし、状態ベクトルx(tn)はこれらの方向が充分に近いことが考慮されていることを検証される。
指標が少なくとも以下に示すものと等しくなるように他のオプションを確立する。
・ベクトルr(tn)−b(tn)のノルムに加えられたベクトルrref(tn)−b(tref)のノルム。
・ベクトルr(tn)−b(tref)のノルムに加えられたベクトルrref(tn)−b(tn)のノルム。
から決定されるものであって、その強さが予め設定された閾値より高く、および/または低い磁場を測定する磁力計のグループを選択することを有する。これにより、(磁場の強さが高過ぎるために)飽和していると考えられる磁力計、および/または、(磁場の強さが低すぎるために)その測定が顕著ではないと考えられる磁力計を排除することを可能とする。選択の閾値は、事前に設定されていてもよい。選択に続くステップ140および150において、イノベーションベクトルy(tn)および行列H(tn)、R(tn)、K(tn)、S(tn)の差分ベクトルΔB(tn)の次元は、選択された磁力計の数に適合される。反復nにおいて選択される磁力計の数は、様々な反復の間で変化してもよい。
一実施形態によれば、ステップ150において、この方法は、測定時間tnにおいて、地球の磁場、あるいは全ての磁力計に一様に磁場を生成する別の原因の磁場による周囲磁場が考慮される。この場は、ステップ152において、平均差動磁場を表すベクトル
を決定することにより考慮される。このベクトルを取得するために、全ての磁力計10iに対して以下の計算が行われる。
・時間tnにおいて各ベクトルBi(tn)の平均として表され、任意に重み付けされている、ベクトル
・時間trefにおいて各ベクトルBi(tref)の平均として表され、任意に重み付けされている、ベクトル
と称されるベクトルは、決定される。これは、ステップ140で確立された差分測定値のベクトルΔB(tn)と同じサイズであって、例えば、測定軸の数が乗算された当該磁力計の数と等しいサイズである。この例において、このサイズは32×3=96である。再配置された平均差動磁場ベクトル
はベクトル
の項を当該磁力計の数だけ連結することにより得られる。このベクトル
は96×1サイズである。
が決定される。この平均の各項は同じ測定軸に対応してサブステップ152で決定されたベクトルh(x(tn|tn−1))の項の平均である。3軸磁力計であることを考慮する場合には、ベクトルh(x(tn|tn−1))の、それぞれの測定軸に対応している項は、平均化される。上述のようにベクトル
の決定に関して、この平均は重み付けされてもよい。この場合、ベクトル
および
は同じ重み付け係数を用いて決定される。各測定軸に対して推定された平均差動磁場を表すベクトル
が取得され、このベクトルのサイズは、当該測定軸の数(この例では3×1である)と等しい。そして、推定された平均差動磁場を表すものである、再配置されたベクトル
が決定される。丁度ベクトル
のように、ベクトル
はベクトル
の項を当該磁力計10iの数と同じ回数連結して得られる。この例において、ベクトル
のサイズは96×1である。
・イノベーションベクトルy(tn,j)およびイノベーションの共分散行列S(tn,j)(ステップ252)
・ゲイン行列K(tn,j)(ステップ253)
・中間状態ベクトルx(tn,j)および関連する共益分散行列G(tn,j)の推定(ステップ254)であって、このベクトルおよび行列は以下の反復において用いられる(ステップ255そしてステップ251)
および
が推定され、基準時間(tref,j)および(tref,j+1)に対してもそれぞれ推定される。周囲磁場は、センサの環境およびセンサのドリフトによる磁場(BenvおよびBi offset)が以下の式によって定義されることを意味する:
および
の推定に基づいて、新たな基準j´を定義することができる。
Claims (19)
- 磁石(15)の位置(r(tn))を推定する方法であって、前記磁石は複数の磁力計(10i)を有する磁力計の配列に対して移動し、各磁力計は前記磁石により生じる少なくとも1の測定軸(xi,yi,zi)に沿った磁場(Bi)を測定可能であって、以下に示すステップ、すなわち、
a)各磁力計により、基準時間(tref,tref,j)において基準磁場(Bi(tref),Bi(tref,j))を測定し、
b)前記基準時間において前記磁石に対して基準位置(rref(tref),rref(tref,j))を割り当て、前記基準位置は任意の位置または前記基準時間における前記磁石の前記位置の推定であって、
c)前記基準時間の後の測定時間(tn)に各磁力計(10i)が前記磁石により生じた磁場(Bi(tn))を測定し、
d)磁力計(10i)ごとに、ステップc)において測定された磁場(Bi(tn))とステップa)において測定された基準磁場(Bi(tref),Bi(tref,j))との差を示す差動磁場(ΔBi(tn),ΔBi,j(tn))を算出し、
e)各差動磁場(ΔBi(tn),ΔBi,j(tn))および前記基準位置(rref(tref),rref(tref,j),rref(tn−1),rref(tn−1,j))の推定に基づいて、前記測定時間における前記磁石の位置(r(tn))を推定し、前記推定は再帰的推定器によって実行され、前記磁石の前記基準位置は1回目の反復においては、前記基準時間において前記磁石に割り当てられた位置であって、そして、
f)測定時間をインクリメントさせている間は、ステップe)で取得した推定値に基づいて、ステップc)からステップe)を反復する、
ステップを含む方法。 - 請求項1に記載の方法であって、
ステップe)において、前記磁石の前記位置(r(tn))を、前記測定時間(tn)の前の時間(tn−1,tref)における前記磁石の推定値と、前記測定時間(tn)の前の時間(tn−1,tref)に算出された前記基準位置の推定値と、に基づいて推定し、
さらにステップe)が、前記測定時間(tn)において基準位置(rref(tn),rref(tn,j))の推定値を更新するステップを備える方法。 - 請求項1または2に記載の方法であって、
ステップe)の後に、対応した前記測定時間における前記磁石の位置(r(tn),r(tn,j))および基準位置(rref(tn),rref(tn,j))の推定値を検証するステップe´)を含み、
このステップは以下のサブステップを含むものであって、前記サブステップは、
i)前記測定時間(tn)と前記基準時間(tref,tref,j)の間における前記磁石の動き(Vb(tn))を決定するステップであって、それらの各時間において、前記測定時間および前記基準時間のそれぞれにおける前記磁力計(10i)により測定される磁場(Bi(tn))および基準磁場(Bi(tref))の係数に依存する重み付け要素(ki(tn),ki(tref))により、各磁力計(ri)の位置が重み付けされるステップと、
ii)サブステップi)において決定される前記動きと、前記測定時間(tn)において前記磁石の位置(r(tn))と前記基準位置(rref(tn),rref(tn,j))との推定値を用いて算出される動き(Vr(tn))とを比較するステップである方法。 - 請求項3に記載の方法であって、
前記サブステップi)は、各磁力計に対して瞬時差動磁場(ΔBi´(tn),ΔBi´(tref))を決定するステップであって、前記瞬時差動磁場が第1時間における前記磁場(Bi(tn))および基準磁場(Bi(tref))と第2時間における磁場(Bi(tn−q),Bi(tref±q´))との変化を示し、
前記第2時間が前記第1時間に隣接し、前記決定がこれらの各時間において瞬時差動磁場(ΔBi´(tn),ΔBi´(tref))を取得するように前記測定時間(tn)と基準時間(tref)とに応じた第1時間が考慮されつつ連続して実行されるステップを備え、
前記測定時間および前記基準時間における前記瞬時差動磁場(ΔBi´(tn),ΔBi´(tref))のそれぞれの前記係数に基づいて前記測定時間および前記基準時間において各重みづけ要素(ki(tn),ki(tref))を決定する方法。 - 請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法であって、
複数の基準位置(j)が取得されるように、ステップa)およびb)が繰り返され、各基準位置は、
基準時間(tref,j)と、
前記基準時間において前記磁石に割り当てられた基準位置(rref(tref,j))と、
前記基準時間における各磁力計(10i)によって測定される磁場(Bi(tref,j)と、に関連し、さらに、
ステップd)は、少なくとも1の基準磁場(B i(tref,j))からの少なくとも1の差動磁場(ΔBi,j(tn))の算出処理を含む方法。 - 請求項5に記載の方法であって、
前記基準位置に拘わらず、ステップd)およびe)において、各測定時間(t n )に、検証指標(V j (t n ))に応じて、各基準位置(j)に前記検証指標(Vj(tn))が関連付けられる、方法。 - 請求項5または6に記載の方法であって、
ステップa)およびステップb)が予め設定された数(J)に対応した回数実行される方法。 - 請求項5〜7のいずれか一項に記載の方法であって、
ステップd)が、各磁力計(10i)に対してステップc)で測定される磁場(Bi(tn))と各基準磁場(Bi(tref,j))との差をそれぞれ示す、複数の差動磁場(ΔBi,j(tn))を算出するステップを備えている方法。 - 請求項8に記載の方法であって、
ステップe)は、中間推定値と呼ばれる、前記測定時間(tn)における前記磁石の位置(r(tn,j))の複数の推定値を有し、
各中間推定値は、1つずつ異なる基準位置(j)に基づいており、前記測定時間における前記磁石の位置(r(tn))はこれら中間推定値(r(tn,j))に応じて決定され、そして、
ステップe)はさらに、
前記測定時間(tn)における各基準位置(rref(tn,j))の前記推定値を更新するステップを備える方法。 - 請求項9に記載の方法であって、
ステップe)において、前記測定時間(tn)における前記磁石の位置(r(tn))は、
前記中間推定値(r(tn,j))の平均から推定され、
そして/または、複数の中間推定値(r(tn,j))から最も遠いか、または予め設定された距離を超えた位置の基準位置である前記基準位置(j)が考慮され、
または、検証指標(Vi(tn))に依存して選択された基準位置に基づいて、各基準位置(j)が検証指標(Vi(tn))に関連づき、
または各基準位置が連続して考慮されることにより、推定される方法。 - 請求項1〜10のいずれか一項に記載の方法であって、
ステップe)は、各測定時間における前記磁石の位置(r(tn))の推定と別に、前記測定時間における前記磁石の方向(θ(tn))の推定を含む方法。 - 請求項1〜11のいずれか一項に記載の方法であって、
ステップe)はさらに、前記測定時間(tn)における前記磁石の磁気モーメントの成分の推定を含む方法。 - 請求項1〜14のうちいずれか一項に記載の方法であって、
ステップe)は拡張カルマンフィルタを用いて実行される方法。 - 請求項1〜15のうちいずれか一項に記載の方法であって、
ステップe)は前記測定時間(tn)に関連する状態ベクトル(xn)を決定する処理を含み、
この状態ベクトルは前記測定時間に先行する時間における状態ベクトルによって決定され、
前記測定時間に先行する時間は基準時間(t ref )または先行反復に対応した時間(t n−1 )であって、
前記状態ベクトルは前記測定時間における前記磁石の位置を含む方法。 - 請求項1〜16のうちいずれか一項に記載の方法であって、
ステップe)は、前記測定時間に先行する時間に関連する状態ベクトルに基づいて、前記測定時間における前記状態ベクトルを推定し、ステップd)で決定された前記差動磁場(ΔBi(tn),ΔBi,j(tn))に基づいて、前記測定時間における前記状態ベクトルを更新する方法。 - 可動する磁石(15)の位置を特定する装置であって、
前記磁石は磁力計配列(10i)に関連して動くことが可能であり、
各磁力計は様々な測定時間(tn)に前記磁石が少なくとも1の測定軸(xi,yi,zi)に沿って生成した磁場(Bi(tn),Bi(tref))の測定値を出力することが可能であり、
前記装置は、各測定時間において、各磁力計が出力した測定値を受け取ることが可能であって、各測定時間において前記磁石の位置r(tn)を推定するために、請求項1〜17のいずれか一項の方法を実行することが可能なプロセッサを含む。 - マイクロプロセッサにより実行可能な命令であって、磁力計の配列により出力される測定値に基づいて、請求項1〜17のいずれか一項に記載の方法にかかるステップb)〜e)を実行するための命令を含むデータ記憶メディア。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR1559642 | 2015-10-09 | ||
FR1559642A FR3042290B1 (fr) | 2015-10-09 | 2015-10-09 | Procede de suivi d’une position d’un aimant par mesure differentielle |
PCT/FR2016/052591 WO2017060644A1 (fr) | 2015-10-09 | 2016-10-07 | Procédé de suivi d'une position d'un aimant par mesure différentielle |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018535482A JP2018535482A (ja) | 2018-11-29 |
JP6894593B2 true JP6894593B2 (ja) | 2021-06-30 |
Family
ID=54783857
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018518630A Active JP6894593B2 (ja) | 2015-10-09 | 2016-10-07 | 差動測定による磁石の位置の追跡方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10585166B2 (ja) |
EP (1) | EP3360031B1 (ja) |
JP (1) | JP6894593B2 (ja) |
CN (1) | CN108351735B (ja) |
FR (1) | FR3042290B1 (ja) |
HK (1) | HK1258479B (ja) |
WO (1) | WO2017060644A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR3067139B1 (fr) * | 2017-05-31 | 2019-09-27 | ISKn | Procede de suivi d’un aimant par un reseau de magnetometres, comportant une phase d’identification de la presence de l’aimant et d’un perturbateur magnetique |
FR3067138B1 (fr) * | 2017-05-31 | 2019-07-26 | ISKn | Procede d’estimation de la position d’un aimant comportant une phase d’identification d’un perturbateur magnetique |
FR3069329B1 (fr) * | 2017-07-21 | 2019-08-23 | Sysnav | Procede et dispositif de mesure du champ magnetique par des magnetometres |
US11790144B2 (en) * | 2018-10-13 | 2023-10-17 | Elloveo, Inc. | Fast, efficient real-time electro-magnetic systems simulator that dynamically accepts user input |
US20200408633A1 (en) * | 2019-06-25 | 2020-12-31 | Machinesense, Llc | Systems and methods for measuring structural element deflections |
CN109975879B (zh) * | 2019-03-29 | 2020-06-26 | 中国科学院电子学研究所 | 一种基于磁传感器阵列的磁偶极子目标跟踪方法 |
FR3114413B1 (fr) * | 2020-09-21 | 2023-06-09 | Advanced Magnetic Interaction Ami | Procédé et dispositif de suivi d’une extrémite d’un ustensile comportant une recalibration d’une distance entre l’extrémité et un objet magnétique solidaire de l’ustensile |
DE102021109859B4 (de) * | 2021-04-19 | 2024-01-18 | Infineon Technologies Ag | Sensor-Systeme, Verfahren zum Bestimmen einer Position eines Magnetsystems, eine Bedieneinheit und ein Computerprogramm |
EP4390635A1 (en) * | 2022-12-22 | 2024-06-26 | Advanced Magnetic Interaction, AMI | Peripheral comprising magnetometers |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6263230B1 (en) * | 1997-05-08 | 2001-07-17 | Lucent Medical Systems, Inc. | System and method to determine the location and orientation of an indwelling medical device |
US20100114517A1 (en) * | 2007-04-02 | 2010-05-06 | Nxp, B.V. | Method and system for orientation sensing |
DE102007036984A1 (de) * | 2007-07-06 | 2009-01-08 | Austriamicrosystems Ag | Messverfahren, Sensoranordnung und Messsystem |
FR2988872B1 (fr) * | 2012-03-29 | 2014-03-28 | Commissariat Energie Atomique | Ecran avec localisation d'objet magnetique |
FR2988862B1 (fr) * | 2012-03-29 | 2014-03-28 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif de localisation d'un objet magnetique |
FR3015049B1 (fr) * | 2013-12-16 | 2015-12-25 | Commissariat Energie Atomique | Procede de localisation d'objets magnetiques mobiles presentes devant un reseau de magnetometres |
CN103900613B (zh) * | 2014-03-31 | 2016-08-17 | 哈尔滨工程大学 | 一种基于磁力计n阶距检测的mems系统误差估计方法 |
-
2015
- 2015-10-09 FR FR1559642A patent/FR3042290B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2016
- 2016-10-07 JP JP2018518630A patent/JP6894593B2/ja active Active
- 2016-10-07 WO PCT/FR2016/052591 patent/WO2017060644A1/fr active Application Filing
- 2016-10-07 EP EP16791654.3A patent/EP3360031B1/fr active Active
- 2016-10-07 US US15/766,443 patent/US10585166B2/en active Active
- 2016-10-07 CN CN201680064960.1A patent/CN108351735B/zh active Active
-
2019
- 2019-01-17 HK HK19100820.5A patent/HK1258479B/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018535482A (ja) | 2018-11-29 |
US10585166B2 (en) | 2020-03-10 |
CN108351735B (zh) | 2021-05-07 |
FR3042290A1 (fr) | 2017-04-14 |
CN108351735A (zh) | 2018-07-31 |
EP3360031B1 (fr) | 2019-09-04 |
US20180313933A1 (en) | 2018-11-01 |
WO2017060644A1 (fr) | 2017-04-13 |
HK1258479B (zh) | 2020-07-17 |
EP3360031A1 (fr) | 2018-08-15 |
FR3042290B1 (fr) | 2018-10-12 |
HK1258479A1 (zh) | 2019-11-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6894593B2 (ja) | 差動測定による磁石の位置の追跡方法 | |
CN110133582B (zh) | 补偿电磁跟踪系统中的畸变 | |
CN103153790B (zh) | 使用运动传感器和附接至装置的磁力计的测量数据估计该装置在重力参照系中的偏航角的设备和方法 | |
CN103941309B (zh) | 地磁传感器校准设备及其方法 | |
CN102822626B (zh) | 校准在移动装置上的传感器测量 | |
US9042716B2 (en) | Method and apparatus for determining linear position using multiple magnetic field sensors | |
US11486958B2 (en) | Method and apparatus for reducing magnetic tracking error | |
US10209078B2 (en) | Local perturbation rejection using time shifting | |
CN108426571B (zh) | 一种电子罗盘本地实时校准方法及装置 | |
KR101485142B1 (ko) | 자체 보정 멀티-자기력계 플랫폼을 위한 시스템 및 방법 | |
JP2020527769A (ja) | 磁石の存在および磁気擾乱の存在を識別する段階を備える、磁力計のアレイを用いて磁石を追跡する方法 | |
KR20140025319A (ko) | 근 자기장의 동적 추적 및 보상을 위한 장치 및 방법 | |
KR101698682B1 (ko) | 지자기 센서의 출력값을 보정하는 방법 및 장치 | |
US10393824B2 (en) | Techniques for magnetometer calibration using selected measurements over time | |
JP7177095B2 (ja) | 磁気擾乱を識別するための段階を有する磁石の位置を推定する方法 | |
US11016602B2 (en) | Method for locating at least one movable magnetic object and associated system | |
JP6097500B2 (ja) | 磁気測定データ校正装置及び方位角計測装置 | |
KR20110056185A (ko) | 리 대수 및 칼만 필터를 이용한 자세 추정 방법 및 장치 | |
Motwani et al. | User agnostic error compensation for magnetic sensor in handheld device | |
CN111078489A (zh) | 电子装置及其姿态校正方法 | |
Norman | Intelligent Body Monitoring |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180606 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190911 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200916 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200929 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20201222 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20210226 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210326 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210420 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210514 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6894593 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |