JP6893920B2 - 高いコンピュータ断層撮影ピッチでの画像再構成のためのシステムおよび方法 - Google Patents
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Description
本出願は、その内容全体が参照により本明細書に組み込まれる、2015年10月19日に出願された米国特許出願第14/886,883号に対する優先権を主張する。
105 走査経路
110 スキャナ
120 トランスポートシステム
122 トンネル
123 トラバースの速度(vo)
124 コンベヤベルト、コンベヤ
130 オブジェクト
140 コンピューティングデバイス
142 視覚ディスプレイデバイス、ディスプレイ
144 入力デバイス
145 処理ユニット、構成可能またはプログラム可能プロセッサ、プロセッサ
150 X線ソース、ソース
160 検知器、検知器のアレイ
170 ワイヤもしくはケーブル
240 ガントリー
245 内側ボア
300 ボクセル
301 ピクセル
400 点
410 点λ2
412 点λ1
420 piライン
423 方向
425 piセグメント
532 点
552 円錐ビーム、ビーム
601 第1のモード
602 第2のモード
740 ガントリー
741 金属箔、コーティングされた要素
742 金属箔、コーティングされた要素
743 金属箔、コーティングされた要素
745 開口または中央ボア
750 X線ソース
760 検知器アレイ
822 検査領域
850 X線ソースターゲット、ターゲット
850a アーム
851 電子ソース
852 高エネルギー電子ビーム、eビーム、扇ビーム、電子ビーム、走査電子ビーム、電子のビーム
855 X線ソースロケーション、ロケーション
860 検知器アレイ
860a アーム、検知器アーム
860b アーム、検知器アーム
860c 検知器アーム
870 角度、回転角度
950 X線ソース、ソース
951 X線ソース、ソース
952 X線ソース、ソース
953 X線ソース、ソース
960 検知器アレイ、検知器
961 検知器
1000 画像再構成
1102' 追加の構成可能またはプログラム可能プロセッサ、プロセッサ
1104 関連コア
1104' 関連コア
1105 測定データ
1106 メモリ
1107 再構成された容積データ、再構成されたデータ
1108 マルチポイントタッチインターフェース
1110 ポインティングデバイス
1112 ネットワークインターフェース
1114 仮想機械
1116 オペレーティングシステム
1120 ネットワークデバイス
1122 グラフィカルユーザインターフェース
1123 直接再構成実行可能コード
1124 ストレージ、記憶デバイス
1125 反復再構成実行可能コード
1126 データベース
1128 マイクロフォン
1130 アンテナ
1132 画像キャプチャデバイス
1200 分散型システム、システム
1205 ネットワーク
1210 ユーザインターフェース端末、インターフェース端末
1220 リモートインターフェース端末、インターフェース端末
1230 サーバ
1240 データベース
1300 画像再構成
1400 画像再構成モジュール
1402 ワイヤードまたはワイヤレス接続
1410 画像化デバイス
Claims (15)
- 画像化システムであって、
前記画像化システムにオブジェクトを搬送するためのコンベヤを含むトランスポートシステムと、
前記オブジェクトの少なくとも一部分を照射するために、前記オブジェクトの搬送の方向に対する螺旋走査経路上の前記コンベヤの周りの少なくとも180°の軌道に沿った複数の点において、X線放射のビームを放出するように構成されたX線ソースと、
前記X線放射と前記オブジェクトの前記一部分との相互作用を示す測定データを検知するための検知器アレイであって、前記螺旋走査経路に沿って前記測定データを検知するように、前記X線ソースに対して配置された検知器アレイと、
中央処理装置を有する処理ユニットと
を含み、前記処理ユニットが、
第1のモードまたは第2のモードのうちの1つで前記画像化システムを動作させることであって、
前記第1のモードで、前記トランスポートシステムが、完全なpiラインカバレージには十分である測定データを前記検知器アレイに検知させるために前記螺旋走査経路に対して第1の速度で縦方向に前記オブジェクトを搬送し、
前記第2のモードで、前記トランスポートシステムが、前記ビームの前記螺旋走査経路に対する前記オブジェクトのトラバースの第2の速度に起因して完全なpiラインカバレージには不十分である測定データを前記検知器アレイに検知させるために前記螺旋走査経路に対して前記第2の速度で縦方向に前記オブジェクトを搬送する、前記動作させることと、
前記オブジェクトの容積を表す再構成された容積データを、前記再構成された容積データを導出するために前記測定データに反復再構成方法の少なくとも1つの反復を適用することによって計算することと
を行うようにプログラム可能である、画像化システム。 - 前記処理ユニットは、前記再構成された容積データに基づいて前記オブジェクトの前記容積の容積画像を導出するようにさらにプログラム可能であり、前記容積画像は、前記オブジェクトの前記容積の3次元モデルまたは前記オブジェクトの前記容積の2次元投影を含む、請求項1に記載の画像化システム。
- 前記再構成された容積データは、質量密度データもしくは原子番号データまたは両方を含む、請求項1に記載の画像化システム。
- 前記X線ソースは、回転ガントリーに結合された円錐ビームX線ソースを含む、請求項1に記載の画像化システム。
- 前記回転ガントリーは、前記オブジェクトの搬送の前記方向の周りの少なくとも180°の角度まで前記X線ソースを回転させるように構成される、請求項4に記載の画像化システム。
- 前記X線ソースは、前記オブジェクトの搬送の前記方向の周りの少なくとも180°の軌道に沿った複数の点に配置された複数のX線ターゲットを連続的に照射するように構成された走査電子ビームを含む、請求項1に記載の画像化システム。
- 前記X線ソースは、前記オブジェクトの搬送の前記方向の周りの少なくとも180°の軌道に沿った複数の点に配置された複数のX線ターゲットを照射するように構成された複数の固定電子ビームを含む、請求項1に記載の画像化システム。
- 前記処理ユニットは、
前記測定データに適用されたフィルタ逆投影再構成または他の直接技法からの出力を使用して、反復再構成を初期化することと、
前記初期化された反復再構成に基づいて少なくとも1つの反復を実行することと
を行うようにプログラム可能である、請求項1に記載の画像化システム。 - 前記オブジェクトを通るpiラインは、軸方向における1ピッチ内の前記螺旋走査経路に沿った2つの異なる点をつなぎ、前記測定データは、完全なpiラインカバレージには不十分である、請求項1に記載の画像化システム。
- 前記第2のモードにおける前記螺旋走査経路に対する搬送の前記第2の速度は、前記第1のモードにおける前記螺旋走査経路に対する搬送の前記第1の速度より大きい、請求項1に記載の画像化システム。
- 円錐ビーム放射パターンからオブジェクトの容積の画像を再構成するための方法であって、
請求項1から10のいずれか一項に記載の画像化システムを動作させるステップと、
少なくとも1つの前記処理ユニットを使用して、前記再構成された容積データに基づいて前記オブジェクトの前記容積の容積画像を計算するステップと
を含む、方法。 - 前記オブジェクトを通るpiラインは、軸方向における1ピッチ内の前記螺旋走査経路に沿った2つの異なる点をつなぎ、前記測定データは、完全なpiラインカバレージには不十分である、請求項11に記載の方法。
- 前記計算するステップは、
初期化された反復再構成を提供するために、前記測定データに適用されたフィルタ逆投影再構成または他の直接技法からの出力を使用して、前記反復再構成方法を初期化するステップと、
前記初期化された反復再構成に基づいて少なくとも1つの反復を実行するステップと
を含む、請求項11に記載の方法。 - 前記処理ユニットは、前記第1のモードまたは前記第2のモードのいずれかで前記オブジェクトを画像化するように前記画像化システムを動作させる、請求項1に記載の画像化システム。
- 前記オブジェクトは、前記画像化システム内で単一レベルの検査を受ける、請求項1に記載の画像化システム。
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