JP6892007B2 - 検出装置、温度分布測定装置および検出装置の製造方法 - Google Patents

検出装置、温度分布測定装置および検出装置の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6892007B2
JP6892007B2 JP2020506011A JP2020506011A JP6892007B2 JP 6892007 B2 JP6892007 B2 JP 6892007B2 JP 2020506011 A JP2020506011 A JP 2020506011A JP 2020506011 A JP2020506011 A JP 2020506011A JP 6892007 B2 JP6892007 B2 JP 6892007B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
superheater
panel
detection device
tube
laid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2020506011A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2019176000A1 (ja
Inventor
宇野 和史
和史 宇野
丈夫 笠嶋
丈夫 笠嶋
孝祐 有岡
孝祐 有岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Publication of JPWO2019176000A1 publication Critical patent/JPWO2019176000A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6892007B2 publication Critical patent/JP6892007B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K11/00Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
    • G01K11/32Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres
    • G01K11/3206Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres at discrete locations in the fibre, e.g. using Bragg scattering
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K11/00Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
    • G01K11/32Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F22STEAM GENERATION
    • F22BMETHODS OF STEAM GENERATION; STEAM BOILERS
    • F22B37/00Component parts or details of steam boilers
    • F22B37/02Component parts or details of steam boilers applicable to more than one kind or type of steam boiler
    • F22B37/38Determining or indicating operating conditions in steam boilers, e.g. monitoring direction or rate of water flow through water tubes
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F28HEAT EXCHANGE IN GENERAL
    • F28FDETAILS OF HEAT-EXCHANGE AND HEAT-TRANSFER APPARATUS, OF GENERAL APPLICATION
    • F28F27/00Control arrangements or safety devices specially adapted for heat-exchange or heat-transfer apparatus
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K1/00Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
    • G01K1/02Means for indicating or recording specially adapted for thermometers
    • G01K1/026Means for indicating or recording specially adapted for thermometers arrangements for monitoring a plurality of temperatures, e.g. by multiplexing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K1/00Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
    • G01K1/14Supports; Fastening devices; Arrangements for mounting thermometers in particular locations
    • G01K1/143Supports; Fastening devices; Arrangements for mounting thermometers in particular locations for measuring surface temperatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K11/00Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
    • G01K11/32Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres
    • G01K11/322Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres using Brillouin scattering
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K11/00Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
    • G01K11/32Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres
    • G01K11/324Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres using Raman scattering

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Description

本件は、検出装置、温度分布測定装置および検出装置の製造方法に関する。
発電用ボイラでは、多数の過熱器管が火炉によって過熱されている。この過熱器管の温度を測定する技術が求められている。そこで、光ファイバを用いて各過熱器管の温度を測定する技術が開示されている(例えば、特許文献1参照)。
国際公開第2016/027763号
しかしながら、光ファイバは、曲げ半径を小さくすると破断するおそれがある。また、自重により過熱器管との密着性が得られないと良好な温度測定精度が得られないおそれがある。上記技術では、これらの課題については検討されていない。
本件は上記課題に鑑みなされたものであり、光ファイバの破断を抑制しつつ良好な温度測定精度が得られる検出装置、温度分布測定装置および検出装置の製造方法を提供することを目的とする。
1つの態様では、検出装置は、内部を蒸気が流動する複数本の過熱器管が列をなして互いに平行に直線状に延びる第1区間と、前記複数本の過熱器管が前記第1区間から2組に分れるように湾曲して管寄せの側面に放射状に接続される第2区間とを備えるパネルが、前記管寄せの延在方向に複数設けられ、各パネルにおいて前記複数本の過熱器管が列をなす方向が前記管寄せの延在方向と交差している場合において、前記複数のパネルのうち一のパネルにおいて前記第1区間の前記過熱器管に沿って敷設された第1部分と、前記一のパネルに隣接する他のパネルに向かって延在する第2部分と、前記他のパネルにおいて前記第1区間の前記過熱器管に沿って敷設された第3部分とを有する光ファイバを備え、記第1部分が敷設された前記過熱器管において前記第1部分が前記他のパネルと反対側に位置しかつ前記第3部分が敷設された前記過熱器管において前記第3部分が前記一のパネルと反対側に位置し、湾曲している前記過熱器官の外壁面のうち、外側の湾曲面に接するように前記光ファイバが敷設されている
1つの態様では、上記検出装置と、前記光ファイバに光を入射する光源と、前記光ファイバからの後方散乱光に基づいて前記光ファイバの各測定点の温度を測定する温度測定部と、を備える。
1つの態様では、検出装置の製造方法は、内部を蒸気が流動する複数本の過熱器管が列をなして互いに平行に直線状に延びる第1区間と、前記複数本の過熱器管が前記第1区間から2組に分れるように湾曲して管寄せの側面に放射状に接続される第2区間とを備えるパネルが、前記管寄せの延在方向に複数設けられ、各パネルにおいて前記複数本の過熱器管が列をなす方向が前記管寄せの延在方向と交差している場合において、前記複数のパネルのうち一のパネルにおいて前記第1区間の前記過熱器管に沿って光ファイバの第1部分を敷設し、前記光ファイバの第2部分を前記一のパネルに隣接する他のパネルに向かって延在させ、前記光ファイバの第3部分を前記他のパネルにおいて前記第1区間の前記過熱器管に沿って敷設し、記第1部分が敷設された前記過熱器管において前記第1部分が前記他のパネルと反対側に位置しかつ前記第3部分が敷設された前記過熱器管において前記第3部分が前記一のパネルと反対側に位置し、湾曲している前記過熱器官の外壁面のうち、外側の湾曲面に接するように前記光ファイバが敷設された状態とする。1つの態様では、検出装置は、内部を蒸気が流動する複数本の過熱器管が列をなして互いに平行に直線状に延びる第1区間と、前記複数本の過熱器管が前記第1区間から2組に分れるように湾曲して管寄せの側面に放射状に接続される第2区間とを備えるパネルが、前記管寄せの延在方向に複数設けられ、各パネルにおいて前記複数本の過熱器管が列をなす方向が前記管寄せの延在方向と交差している場合において、前記複数のパネルのうち一のパネルにおいて前記第1区間の前記過熱器管に沿って敷設された第1部分と、前記一のパネルに隣接する他のパネルに向かって延在する第2部分と、前記他のパネルにおいて前記第1区間の前記過熱器管に沿って敷設された第3部分とを有する光ファイバを備え、前記第1部分および前記第3部分がそれぞれが敷設された前記過熱器管の間に位置するか、前記第1部分が敷設された前記過熱器管において前記第1部分が前記他のパネルと反対側に位置しかつ前記第3部分が敷設された前記過熱器管において前記第3部分が前記一のパネルと反対側に位置するか、のいずれかであり、前記管寄せは、間仕切りされた空間の内部に配置されており、前記検出装置は、前記空間の外部に位置し前記空間の内部に導入される導入部と、いずれかの過熱器管に沿って敷設され前記空間から外部に引き出された引出部と、を備え、前記導入部と前記引出部とは、前記空間の外部において互いに結束されている。
光ファイバの破断を抑制しつつ良好な温度測定精度が得られる。
(a)は実施形態に係る温度分布測定装置の全体構成を表す概略図であり、(b)は制御部のハードウェア構成を説明するためのブロック図である。 (a)は検出装置の全体構成を表す概略図であり、(b)は(a)のA−A線断面図である。 後方散乱光の成分を表す図である。 (a)は、レーザによる光パルス発光後の経過時間と、ストークス成分およびアンチストークス成分の光強度との関係を例示する図であり、(b)は(a)の検出結果および式(1)を用いて算出した温度である。 室温約24℃時に光ファイバの一部区間を約55℃のお湯に浸漬した場合の応答例を示す。 図5および式(2)から得られる結果を例示する図である。 発電用ボイラの概略断面図である。 ペントハウス内における過熱器管の拡大図である。 (a)および(b)は検出装置の敷設を例示する図である。 集約区間および拡大区間を例示する図である。 出口管寄せに接続される過熱器管の接続態様を例示する模式的な斜視図である。 各パネルの同一位置の過熱器管に対する検出装置の敷設態様(比較形態)を例示する図である。 実施形態に係る検出装置の敷設構造を例示する図である。 (a)は検出装置の敷設構造の斜視図であり、(b)は検出装置をパネル方向から見た図である。 (a)および(b)は検出装置がパネル方向の手前側と奥側とに交互に敷設される場合を例示する図である。 (a)および(b)は検出装置が過熱器管のベンド部で曲げ方向に対して外接する場合を例示する図である。 過熱器管に対する検出装置の敷設例を説明するための図である。 測定温度を例示する図である。 (a)は検出装置が過熱器管のベンド部で過熱器管の曲げ方向に対して外接するように敷設されている場合を例示する図であり、(b)は検出装置が過熱器管のベンド部で過熱器管の曲げ方向に対して内接するように敷設されている場合を例示する図である。 (a)は図19(a)の例での温度測定結果を例示する図であり、(b)は図19(b)の例での温度測定結果を例示する図である。 約700℃での加熱実験結果を例示する図である。 (a)は隣接列との接続構成を例示する図であり、(b)は構造体に対して結束される構造を例示する図である。 検出装置の製造方法を表すフローチャートを例示する図である。
以下、図面を参照しつつ、実施形態について説明する。
(実施形態)
図1(a)は、温度分布測定装置100の全体構成を表す概略図である。図1(a)で例示するように、温度分布測定装置100は、測定機10、制御部20、検出装置30などを備える。測定機10は、レーザ11、ビームスプリッタ12、光スイッチ13、フィルタ14、複数の検出器15a,15bなどを備える。制御部20は、指示部21、温度測定部22、補正部23などを備える。
図1(b)は、制御部20のハードウェア構成を説明するためのブロック図である。図1(b)で例示するように、制御部20は、CPU101、RAM102、記憶装置103、インタフェース104などを備える。これらの各機器は、バスなどによって接続されている。CPU(Central Processing Unit)101は、中央演算処理装置である。CPU101は、1以上のコアを含む。RAM(Random Access Memory)102は、CPU101が実行するプログラム、CPU101が処理するデータなどを一時的に記憶する揮発性メモリである。記憶装置103は、不揮発性記憶装置である。記憶装置103として、例えば、ROM(Read Only Memory)、フラッシュメモリなどのソリッド・ステート・ドライブ(SSD)、ハードディスクドライブに駆動されるハードディスクなどを用いることができる。CPU101が記憶装置103に記憶されている温度測定プログラムを実行することによって、制御部20に指示部21、温度測定部22および補正部23が実現される。なお、指示部21、温度測定部22および補正部23は、専用の回路などのハードウェアであってもよい。
レーザ11は、半導体レーザなどの光源であり、指示部21の指示に従って所定の波長範囲のレーザ光を出射する。本実施形態においては、レーザ11は、所定の時間間隔で光パルス(レーザパルス)を出射する。レーザ11が出射した光パルスは、ビームスプリッタ12を通過して光スイッチ13に入射される。光スイッチ13は、入射された光パルスの出射先(チャネル)を切り替えるスイッチである。ダブルエンド方式では、光スイッチ13は、指示部21の指示に従って、検出装置30の第1端および第2端に一定周期で交互に光パルスを入射する。シングルエンド方式では、光スイッチ13は、指示部21の指示に従って、検出装置30の第1端または第2端のいずれか一方に光パルスを入射する。検出装置30は、光ファイバを備え、温度測定対象の所定の経路に沿って配置されている。
図2(a)は、検出装置30の全体構成を表す概略図である。図2(b)は、図2(a)のA−A線断面図であり、検出装置30の断面図である。図2(a)および図2(b)で例示するように、検出装置30は、光ファイバ40、セラミックス編組50、金属管60、ジョイント61などを備える。なお、図2(a)では、部分的に、金属管60内のセラミックス編組50が描かれ、セラミックス編組50内の光ファイバ40が描かれている。
光ファイバ40は、線状の光ファイバガラス41を同心円状に被覆材42が覆う構造を有している。光ファイバガラス41は、コア41aを同心円状にクラッド41bが覆うガラス構造物である。被覆材42は、特に限定されるものではないが、カーボン、有機物などである。本実施形態においては、被覆材42は、一例として、光ファイバガラス41を同心円状に覆うカーボン層42aと、カーボン層42aを同心円状に覆うポリイミド層42bとを備えている。カーボン層42aの厚さは、例えば100nm以下である。ポリイミド層42bの厚さは、例えば30μm以下である。被覆材42は、光ファイバガラス41よりも柔軟性および伸縮性が高いため、光ファイバガラス41を被覆材42で覆うことで、光ファイバ40の耐曲げ性が向上する。それにより、光ファイバ40の断線を抑制することができる。
セラミックス編組50は、光ファイバ40を周方向に被覆する構造を有している。セラミックス編組50は、耐熱性のセラミックス系繊維を組紐状に編組したものである。セラミックス系繊維として、例えば、SiO成分を60mass%以上含むガラス繊維(高珪酸ガラス繊維)、アルミナ繊維等を用いることができる。また、セラミックス系繊維は、上記ガラス繊維、アルミナ繊維等のセラミックス材料に有機材料が加えられた複合材料であってもよい。
金属管60は、セラミックス編組50を周方向に覆う構造を有している。金属管60は、例えば、可撓性を有する可撓管である。例えば、金属管60は、金属螺旋管、金属編組などである。金属管60は、緻密でなくてもよいため、通気性、通液性などを有していてもよい。金属管60は、ジョイント61によって複数の金属管が長さ方向に接続された構造を有していてもよい。
検出装置30に入射した光パルスは、検出装置30内の光ファイバ40を伝搬する。光パルスは、伝搬方向に進行する前方散乱光および帰還方向に進行する後方散乱光(戻り光)を生成しながら徐々に減衰して光ファイバ40内を伝搬する。後方散乱光は、光スイッチ13を通過してビームスプリッタ12に再度入射する。ビームスプリッタ12に入射した後方散乱光は、フィルタ14に対して出射される。フィルタ14は、WDMカプラなどであり、後方散乱光を長波長成分(後述するストークス成分)と短波長成分(後述するアンチストークス成分)とを抽出する。検出器15a,15bは、受光素子である。検出器15aは、後方散乱光の短波長成分の受光強度を電気信号に変換して温度測定部22に送信する。検出器15bは、後方散乱光の長波長成分の受光強度を電気信号に変換して温度測定部22に送信する。温度測定部22は、ストークス成分およびアンチストークス成分を用いて、検出装置30の延伸方向の温度分布を測定する。補正部23は、温度測定部22が測定した温度分布を補正する。
図3は、後方散乱光の成分を表す図である。図3で例示するように、後方散乱光は、大きく3種類に分類される。これら3種類の光は、光強度の高い順かつ入射光波長に近い順に、OTDR(光パルス試験器)などに使用されるレイリー散乱光、歪測定などに使用されるブリルアン散乱光、温度測定などに使用されるラマン散乱光である。ラマン散乱光は、温度に応じて変化する光ファイバ40内の格子振動と光との干渉で生成される。強めあう干渉によりアンチストークス成分と呼ばれる短波長成分が生成され、弱めあう干渉によりストークス成分とよばれる長波長成分が生成される。
図4(a)は、レーザ11による光パルス発光後の経過時間と、ストークス成分(長波長成分)およびアンチストークス成分(短波長成分)の光強度との関係を例示する図である。経過時間は、検出装置30における伝搬距離(光ファイバ40における位置)に対応している。図4(a)で例示するように、ストークス成分およびアンチストークス成分の光強度は、両方とも経過時間とともに低減する。これは、光パルスが前方散乱光および後方散乱光を生成しながら徐々に減衰して光ファイバ40内を伝搬することに起因する。
図4(a)で例示するように、アンチストークス成分の光強度は検出装置30において高温になる位置では、ストークス成分と比較してより強くなり、低温になる位置では、ストークス成分と比較してより弱くなる。したがって、両成分を検出器15a,15bで検出し、両成分の特性差を利用することによって、検出装置30内の各位置の温度を検出することができる。なお、図4(a)において、極大を示す領域は、図1(a)においてドライヤなどで検出装置30を意図的に加熱した領域である。また、極小を示す領域は、図1(a)において冷水などで検出装置30を意図的に冷却した領域である。
本実施形態においては、温度測定部22は、経過時間ごとにストークス成分とアンチストークス成分とから温度を測定する。それにより、検出装置30内における各位置の温度を測定することができる。温度測定部22は、例えば、下記式(1)に従って温度を算出することによって、検出装置30内の各位置の温度を測定する。光量は、光強度に対応している。2つの成分の比を用いることで微弱な成分の差が強調され、実用的な値を得ることができる。なお、ゲインおよびオフセットは、検出装置30の光ファイバ40の仕様に依存するため、予め較正しておけばよい。
温度=ゲイン/{オフセット−2×ln(アンチストークス光量/ストークス光量}} (1)
図4(b)は、図4(a)の検出結果および上記式(1)を用いて算出した温度である。図4(b)の横軸は、経過時間を基に算出した検出装置30内の位置である。図4(b)で例示するように、ストークス成分およびアンチストークス成分を検出することによって、検出装置30内の各位置の温度を測定することができる。レーザ11は、例えば一定周期で光パルスを検出装置30に入射する。空間分解能は、光パルスのパルス幅が狭いほど向上する。他方、パルス幅が狭いほど光量が小さく(=暗く)なるので、その分パルスの尖塔値を高くする必要が生じ、上記式のゲインが非線形となる応答に変わる。
光スイッチ13からの検出装置30への入射位置が第1端または第2端で固定されていれば、上記式(1)での温度測定が可能である。本実施形態のように入射位置を一定周期で第1端と第2端とで切り替える場合には、アンチストークス光量とストークス光量とを各検出装置30の位置で平均化(平均値の算出)すればよい。この切替による方式は、「ループ式測定」や、「ダブルエンド測定」や、「デュアルエンド測定」などと呼ばれる。
続いて、検出装置30における温度測定対象区間長と、ラマン散乱光から得られる測定温度との関係を例示する。図5は、室温約24℃時に光ファイバの一部区間を約55℃のお湯に浸漬した場合の応答例を示す。0.5mから10.5mまで浸漬長を長くしていく場合に、約2m以上で、ピーク温度がお湯と同じ55℃となる。したがって、正確な温度を測定するためには、温度測定対象区間を長くすることが好ましい。
正確な湯温から正確な室温を差し引いた温度を検出装置30への印加温度とすると、測定系の感度は下記式(2)で定義される。
感度=(お湯浸漬位置のピーク温度−浸漬位置前後の光ファイバで測定した室温)/印加温度×100(%) (2)
図5および上記式(2)から得られる結果を図6に示す。図6で例示するように、わずかにオーバーシュートが見られる。これは、システムのインパルス応答がガウシアンではなく、sinc関数に近い負の成分および高次のピークを持つ波形のためである。感度100%となる、もしくはみなせる最小長さを最小加熱長と称する。
図5および図6の結果から、同じ温度で同じ長さの2つの対象物に対して、最小加熱長(例えば2m)よりも短く、異なる長さ(例えば、片方は1m、片方は1.5)を敷設すると、異なる温度として検出されることが分かる。したがって、温度測定対象に敷設する検出装置30の長さとしては、以下の条件が求められている。
・最小加熱長以上の長さ
・最小加熱長以上の敷設が困難な場合では、略同じ長さ
続いて、温度分布測定装置100による温度測定対象について説明する。温度分布測定装置100は、内部を蒸気が流動する過熱器管を温度測定対象とする。過熱器管は、例えば、発電用ボイラの過熱器管である。発電用ボイラは、主として火力発電所で用いられており、過熱器管を火炉で加熱して内部を高圧で流れる蒸気を過熱蒸気にして管寄せに集合させてタービンに送る役割を有している。
図7は、発電用ボイラ200の概略断面図である。図7で例示するように、発電用ボイラ200は、火炉201内に複数本の過熱器管202が配置された構造を有している。過熱器管202内では、蒸気が流動している。複数本の過熱器管202の一端は、火炉201の天井203を貫通してペントハウス204内の入口管寄せ205に接続されている。複数本の過熱器管202の他端は、天井203を貫通してペントハウス204内の出口管寄せ206に接続されている。
火炉201とペントハウス204とは、天井203によって間仕切りされている。それにより、入口管寄せ205および出口管寄せ206は、火炉201の火および熱で直接加熱されないようになっている。ペントハウス204は、天井203の上部において間仕切りされた空間である。蒸気は、入口管寄せ205から過熱器管202内に導入され、火炉201によって過熱され、出口管寄せ206に回収される。
火炉201内においては、過熱器管202が火炉201の火および熱で加熱される。ペントハウス204内においては、過熱器管202は、火炉201の熱は伝搬されるが、火で直接加熱されることはない。したがって、ペントハウス204内の過熱器管202が温度測定対象に適している。そこで、温度分布測定装置100による温度測定対象は、ペントハウス204内の過熱器管202とする。入口管寄せ205および出口管寄せ206は、例えば有底有蓋の円筒形状を有し、互いに平行に延びている。
図8は、ペントハウス204内における過熱器管202の拡大図である。一例として、図8の例では、14本の過熱器管202の一端が入口管寄せ205に接続され、他端が出口管寄せ206に接続されている。ペントハウス204内において入口管寄せ205に接続される各過熱器管202は、専有面積、密閉度、燃焼効率などの理由により、同一平面を構成するように列をなし、互いに平行に近接して鉛直方向に天井203を貫通している。各過熱器管202は、上方で2組に互いに離れるように拡がる。どの過熱器管202についても略同一の圧力損失を持たせるために、各過熱器管202は、入口管寄せ205の側面に対して放射状に接続される。この場合の放射形状は、入口管寄せ205の軸方向に見た場合の形状である。複数の過熱器管202のうち何本かは管が途中から分岐するように見えている。これは、紙面奥行き方向にずれていて、重なっているためである。
ペントハウス204内において出口管寄せ206に接続される各過熱器管202も、専有面積、密閉度、燃焼効率などの理由により、同一平面を構成するように列をなし、互いに平行に近接して鉛直方向に天井203を貫通している。各過熱器管202は、上方で2組に互いに離れるように拡がる。どの過熱器管202についても略同一の圧力損失を持たせるために、各過熱器管202は、入口管寄せ205の側面に対して放射状に接続される。この場合の放射形状は、入口管寄せ205の軸方向に見た場合の形状である。複数の過熱器管202のうち何本かは管が途中から分岐するように見える。これは、紙面奥行き方向にずれていて、重なっているためである。
上述したように、温度測定対象に敷設する検出装置30の長さは、最小加熱長以上の長さであることが望まれる。そこで、図9(a)で例示するように、ベンド区間も含めて過熱器管202に沿って検出装置30を敷設することが考えられる。この場合、十分な長さを確保することができるため、過熱器管202に接触する検出装置30の長さが最小加熱長以上となる。
上述したように、検出装置30は、光ファイバ40が金属管60によって覆われた(外装された)構造を有している。このような検出装置30を過熱器管202にステンレスワイヤ207で部分的に結束して過熱器管202と密着することで、輻射、熱伝達、および熱伝導を用いて過熱器管202の温度を測定することができる。しかしながら、過熱器管202がベンドしている場合、金属管60が柔軟であるため、金属管60が過熱器管202よりも相対的に下方に位置する場合は、自重で垂れてしまう。この場合、過熱器管202と検出装置30とが離間し、離間した部分の過熱器管202の温度と金属管60の温度とに差が生じ、温度測定精度が低下してしまう。そこで、温度測定精度を向上させるためには、ステンレスワイヤ207での結束点を増やすことになる。この場合、検出装置30の敷設作業時間が大幅に増大してしまう。以上のことから、検出装置30をベンド部が多い箇所へ敷設することは好適ではない。
そこで、本実施形態においては、図9(b)で例示するように、上下方向に直線状に延びる過熱器管202に沿って検出装置30を敷設することとする。この場合、検出装置30を過熱器管202に対して間隔を空けて固定しても、離間が抑制され、検出装置30と過熱器管202とを密着させることができる。それにより、温度測定精度を向上させることができる。
図10で例示するように、過熱器管202が直線状となるのは、複数の過熱器管202が集約されて天井203を貫通して鉛直上方に延びる集約区間A、および2組に互いに離れるように拡がった後に鉛直上方に延びる拡大区間Bである。
拡大区間Bにおいて、過熱器管202の直線区間の長さは大小様々である。例えば、外側の過熱器管202は、入口管寄せ205または出口管寄せ206の上方から接続されるため、直線区間が長くなる。したがって、最小加熱長以上の直線区間を確保することができる。しかしながら、内側の過熱器管202は、入口管寄せ205または出口管寄せ206の下方に接続されるため、直線区間が短くなる。したがって、最小加熱長以上の直線区間を確保することが困難となる。そこで、検出装置30を折り返して往復させることで過熱器管202に接触させる区間を長くすることが考えられる。しかしながら、光ファイバ40を許容曲げ半径(以下、最小曲げ半径)よりも小さい半径で曲げると、光ファイバ40の破断確率が増加する。温度差の大きい環境では検出装置30が敷設される周囲の膨張収縮量も大きくなるので、破断確率はより増加する。つまり、温度差の大きい環境では、最小曲げ半径の値は大きくなる。過熱器管202は、普段は±20℃程度のバラツキで運用されるが、運転の計画的な停止時等に常温になる。つまり、常温における最小曲げ半径の仕様値よりも大きな曲げ半径で敷設することが望まれる。したがって、検出装置30を折り返さないことが望まれる。
そこで、本実施形態においては、図10の集約区間Aで示すように、主に過熱器管202の直線区間に対して検出装置30を敷設することにする。この場合、検出装置30の光ファイバ40の破断を抑制しつつ、温度測定精度を向上させることができる。
次に、管寄せに対する過熱器管202の接続態様について説明する。図11は、出口管寄せ206に接続される過熱器管202の接続態様を例示する模式的な斜視図である。なお、入口管寄せ205に接続される過熱器管202の接続態様も、出口管寄せ206に接続される過熱器管202の接続態様と同様である。
上述したように、複数本の過熱器管202が同一平面を構成するように列をなし、互いに平行に近接して配置され、出口管寄せ206に接続されている。この1組の過熱器管202をパネル208と称する。各パネル208は、出口管寄せ206が延びる方向において所定の間隔を空けて配置されている。各パネル208が並ぶ方向(管寄せが延びる方向)は、パネル方向とも称する。パネル方向は、各パネルにおいて過熱器管202が列をなす方向と交差し、図11の例では直交している。
本実施形態においては、出口管寄せ206の一端のパネル208のいずれかの過熱器管202に沿って検出装置30を敷設し、次に、隣接するパネル208の同一位置の過熱器管202に沿って検出装置30を敷設する。この敷設を繰り返すことにより、出口管寄せ206の他端のパネル208の過熱器管202まで検出装置30を敷設する。
図12は、各パネルの同一位置の過熱器管202に対する検出装置30の敷設態様(比較形態)を例示する図である。図12で例示するように、検出装置30を過熱器管202に対して接触させつつ下方に向かって敷設する。過熱器管202に対する接触区間を1〜2mとする。例えば、ステンレスワイヤ207などの固定具で検出装置30を過熱器管202に固定する。次に、隣接する次のパネルの過熱器管202に向かって検出装置30を延ばす。パネル間では検出装置30は過熱器管202に接触しないため、当該区間を非接触区間と称する。次のパネルでは、過熱器管202に対して接触させつつ上方に向かって敷設する。次に、隣接する次のパネルの過熱器管202に向かって検出装置30を延ばし、過熱器管202に対して接触させつつ下方に向かって敷設する。このように検出装置30を敷設することで、光ファイバを急激に曲げずに、曲げ半径を大きくすることができる。それにより、光ファイバの破断を抑制することができる。
しかしながら、図10で例示した集約区間Aにおいては、隣接する2本の過熱器管202間の距離が短いため、検出装置30が温度測定対象ではない他の過熱器管202の温度の影響を受けるおそれがある。この場合、温度測定精度が低下するおそれがある。また、検出装置30の自重によって検出装置30と過熱器管202とが離間する箇所が生じるおそれもある。この場合においても、温度測定精度が低下するおそれがある。
図13は、本実施形態に係る検出装置30の敷設構造を例示する図である。図13で例示するように、本実施形態においては、検出装置30は、各パネルの過熱器管202に対して、パネル方向の一端側(以下、手前側)、パネル方向の他端側(以下、奥側)、パネル方向の手前側、パネル方向の奥側、のように交互になるように敷設されている。したがって、隣接する2つのパネルのそれぞれの過熱器管202に敷設された検出装置30は、いずれも過熱器管202よりも対向するパネル側に位置するか、いずれも過熱器管202よりも対向するパネルと反対側に位置する。言い換えると、検出装置30の各部分のうち、複数のパネルのうち一のパネルにおいて集約区間Aの過熱器管202に沿って敷設された部分を第1部分(接触区間)とし、当該一のパネルに隣接する他のパネルに向かって延在する部分を第2部分(非接触区間)とし、当該他のパネルにおいて集約区間Aの過熱器管202に沿って敷設された部分を第3部分(接触区間)とする。この場合において、第1部分および第3部分がそれぞれが敷設された過熱器管202の間に位置するか、第1部分が敷設された過熱器管202において第1部分が当該他のパネルと反対側に位置しかつ第3部分が敷設された過熱器管において第3部分が当該一のパネルと反対側に位置するか、のいずれかとなっている。
図14(a)は、検出装置30の敷設構造の斜視図である。図14(b)は、検出装置30をパネル方向から見た図である。図14(a)および図14(b)で例示するように、検出装置30は、過熱器管202のベンド部では、過熱器管202の曲げ(ベンド)方向に対して外接するように敷設されている。すなわち、検出装置30は、過熱器管202の曲げ(ベンド)方向の曲率中心から見て、過熱器管202よりも外側(上側)に敷設されている。
図15(a)および図15(b)は、検出装置30がパネル方向の手前側と奥側とに交互に敷設される場合を例示する図である。図15(a)および図15(b)では、手前側のパネルでは検出装置30が過熱器管202の手前側に敷設され、奥側のパネルでは検出装置30が過熱器管202の奥側に敷設されている。図15(a)で例示するように、過熱器管202の手前側とは、パネル内において、各過熱器管202の中心軸を通る線よりも、検出装置30の中心軸が手前側に位置することを意味する。過熱器管202の奥側とは、パネル内において、各過熱器管202の中心軸を通る線よりも、検出装置30の中心軸が奥側に位置することを意味する。ただし、隣接過熱器管202の温度の影響を抑制するためには、図15(b)で例示するように、検出装置30は、過熱器管202のパネル方向の頂点に位置することが好ましい。
図16(a)および図16(b)は、検出装置30が過熱器管202のベンド部で曲げ(ベンド)方向に対して外接する場合を例示する図である。図16(a)で例示するように、検出装置30が過熱器管202の手前側に配置される場合には、検出装置30のベンド部の手前側において、過熱器管202の中心軸を通る線よりも、検出装置30の中心軸が上側に位置している。また、検出装置30が過熱器管202の奥側に配置される場合には、検出装置30のベンド部の奥側において、過熱器管202の中心軸を通る線よりも、検出装置30の中心軸が上側に位置している。ただし、検出装置30の自重による検出装置30と過熱器管202との離間を抑制する観点から、図16(b)で例示するように、検出装置30は、過熱器管202の上側頂点に位置することが好ましい。
次に、検出装置30がパネル方向の手前側と奥側とに交互に敷設される場合の効果について説明する。図17は、過熱器管202に対する検出装置30の敷設例を説明するための図である。図17で例示するように、第1パネルにおいて、第1過熱器管202a、第2過熱器管202b、第3過熱器管202c、および第4過熱器管202dがこの順に互いに近接しつつ列をなして配置されているものとする。
第2過熱器管202bにおいては、第1過熱器管202aと第2過熱器管202bとの間において第2過熱器管202bに沿って検出装置30が敷設されている。第3過熱器管202cにおいては、第3過熱器管202cに沿って第3過熱器管202cの奥側に検出装置30が敷設されている。
このような敷設構造において、垂直平板の自然対流熱伝達モデルを用いたシミュレーションによる温度測定を行った。各過熱器管の直径を50mmとした。検出装置30の直径(外装のステンレス管の直径)を4.6mmとした。同一パネルにおいて各過熱器管の隙間を5mmとした。第1過熱器管202aおよび第4過熱器管202dの温度を650℃とした。第2過熱器管202bおよび第3過熱器管202cの温度を550℃とした。この場合において、第2過熱器管202bおよび第3過熱器管202cにおいて、550℃に近い温度が測定されることが望まれる。
図18は、測定温度を例示する図である。図18において、縦軸は測定温度を示し、横軸は隣接する過熱器管表面からの距離を示す。左側のプロットは、第2過熱器管202bに敷設された検出装置30によって測定された温度を示す。右側のプロットは、第3過熱器管202cに敷設された検出装置30によって測定された温度を示す。図18で例示するように、第2過熱器管202bに敷設された検出装置30によって測定された温度は、606℃であった。これは、第2過熱器管202bに隣接する第1過熱器管202aの温度の影響を受けたからであると考えられる。これに対して、第3過熱器管202cに敷設された検出装置30によって測定された温度は、550℃であった。これは、検出装置30がパネル方向の奥側に敷設されたことで、隣接する過熱器管の温度の影響を受けなかったからであると考えられる。このように、各パネルの過熱器管202に対して、パネル方向の手前側とパネル方向の奥側とに交互になるように検出装置30を敷設することで、隣接する過熱器管の温度の影響を抑制することができる。したがって、温度測定精度を向上させることができる。
次に、検出装置30が過熱器管202のベンド部で過熱器管202の曲げ方向に対して外接するように敷設されている場合の効果について説明する。図19(a)は、検出装置30が過熱器管202のベンド部で過熱器管202の曲げ方向に対して内接するように敷設されている場合を例示する図である。これに対して、図19(b)は、検出装置30が過熱器管202のベンド部で過熱器管202の曲げ方向に対して外接するように敷設されている場合を例示する図である。
図19(a)の例では、過熱器管202が鉛直方向に延びる区間において検出装置30を1mにわたって密着させた。ベンド部では検出装置30が過熱器管202下に敷設されるため、検出装置30が自重によってたるむ。それにより、10cmにわたって過熱器管202から離間した。固定具において検出装置30を過熱器管202に固定した箇所では、5cmにわたって検出装置30を過熱器管202に密着させた。その後、20cmにわたって検出装置30が過熱器管202から離間し、固定箇所では5cmにわたって検出装置30を過熱器管202に密着させた。その後、隣接するパネルまでの非接触区間を50cmとした。図19(a)の例では、過熱器管202が鉛直方向に延びる区間において検出装置30を1mにわたって密着させた。ベンド部では検出装置30は過熱器管202上に敷設されるため、40cmにわたって密着させることができた。その後、隣接するパネルまでの非接触区間を50cmとした。
このような敷設構造において、図5および図6を用いた応答シミュレーションによる温度測定を行った。各過熱器管の直径を50mmとした。検出装置30の直径(外装のステンレス管の直径)を4.6mmとした。同一パネルにおいて各過熱器管の隙間を5mmとした。雰囲気の温度を550℃とした。過熱器管202の温度を600℃とした。この場合において、各過熱器管202において、600℃に近い温度が測定されることが望まれる。
図20(a)は、図19(a)の例での温度測定結果を例示する図である。図20(a)で例示するように、各過熱器管202の温度として600℃に近い温度が検出されたものの、非接触区間でも600℃に近い温度が検出された。これは、検出装置30と過熱器管202との密着する箇所と離間する箇所とが混在することで、温度測定の分解能が低下したからであると考えられる。
これに対して、図20(b)は、図19(b)の例での温度測定結果を例示する図である。図20(b)で例示するように、各過熱器管202の温度として600℃に近い温度が検出された。さらに、非接触区間では、雰囲気温度に近い温度が検出された。これは、検出装置30を過熱器管202に沿って敷設した箇所では検出装置30と過熱器管202とを密着させることができたため、検出装置30と過熱器管202とが密着する箇所と離間する箇所とが混在せず、温度測定の分解能が向上したからであると考えられる。このように、検出装置30を上方の非接触区間で過熱器管202の曲げ方向に対して内接するように敷設することで、密着区間と離間区間とを正確に管理することができる。その結果、温度測定精度が向上し、正確な漏洩検知、寿命推定などが可能になる
ところで、高温において、光ファイバは伝送損失が増大していくことが知られている。図21は、約700℃での加熱実験結果を例示する図である。温度分布測定装置100に用いるGIマルチモードファイバは、時間の経過とともに確かに伝送損失が増大する傾向が得られている。他方、レーザパルスの尖塔値を誘導ラマン散乱に至らない線形領域にとどめる制約などから、図1(a)において、1ループあたりに許容される光ファイバの伝送損失は有限である。したがって、1ループあたりの伝送損失を比較的容易に調整・設定できることが好ましい。
また、温度分布測定装置100では、逐次増大していく伝送損失を補正しなければ、正確な温度を求めることはできない。これは、一般的に、ストークス成分とアンチストークス成分とでは波長が異なるために、生じる伝送損失の大きさに差分が生じるため、算出される温度に、当該差分に応じた差が生じてしまうためである。これを回避するためには、伝送損失が生じている箇所を挟むように、温度条件が既知の、伝送損失が生じていない箇所を有する必要があり、そのような敷設構成を有することが好ましい。
図5の例では、たとえば加熱長さ(図5では浸漬長)が5.5mであった場合に、90m〜95mの区間および110m〜115mの区間が常温(たとえば0℃〜40℃)で既知であれば、仮に5.5mの区間で伝送損失の発生により、100m近傍と105m近傍の温度が本来一定のはずが一定でなかったとしても、これら両端の区間により、正確な温度に補正することが可能となる、というものである。
ところで、本実施形態に係る敷設構造では、一旦、検出装置30の先頭を管寄せの長手方向に沿うように、端部のパネルから逆の端部のパネルまで通している。このような作業を速やかに行う場合、引っ張り側と送り側が1対1であることが好ましく、そのような敷設構成を有することが好ましい。
これらの敷設構造の要件を満たす構成として、隣接列との接続構成を図22(a)で例示する。図22(a)で例示するように、検出装置30は、ペントハウス204の壁の一部に設けられた取り出し口αからペントハウス204内に導入され、各パネルの過熱器管202に沿って敷設され、取り出し口αからペントハウス204外に引き出されている。この場合の検出装置30において、ペントハウス204の外部に位置しペントハウス204内部に導入される導入部と、各パ熱の過熱器管202に沿って敷設され取り出し口αからペントハウス204外部に引き出された引出部とが、ペントハウス204外部において互いに結束されている。
結束された区間では、最小加熱長以上の所定の長さが同一とみなせる経路を通過し、それらは同一温度を有するとみなすことができるため、伝送損失の影響を受けない測定器に近い(上流)側に接続された検出装置30の温度を基準として、逐次的に下流側に接続された検出装置30の温度を補正することが可能になる。図1(a)の補正部23は、結束された区間の温度が同一温度であると仮定して、温度測定部22が測定した温度を補正する。
なお、過熱器管への敷設箇所の端部から取り出し口に至る経路において、図22(b)で例示するように、複数の位置で直接もしくは同一の構造体を間接的に経由して結束されることが好ましい。この構成では、最小加熱長以上の所定の長さが同一とみなせる経路を通過し、それらは同一温度を有するとみなすことができる。外気温と、ペントハウス204内の温度(たとえば400℃)という2つの基準を設けることで、より好適な補正が可能になる。また、伝送損失が想定以上に増大した場合でも、発電所等の運転を停止することなく、ループ数を増加することで測定を継続できる。
本実施形態によれば、内部を蒸気が流動する複数本の過熱器管202が列をなして互いに平行に直線状に延びる集約区間A(第1区間)と、複数本の過熱器管202が集約区間Aから2組に離れるようにベンドして管寄せの側面に放射状に接続される拡大区間B(第2区間)とを備えるパネル208が、管寄せの延在方向に所定の間隔を空けて複数設けられ、各パネルにおいて複数本の過熱器管202が列をなす方向が管寄せの延在方向と交差している場合において、検出装置30が、複数のパネルのうち一のパネルにおいて集約区間Aの過熱器管202に沿って敷設された第1部分と、当該一のパネルに隣接する他のパネルに向かって延在する部分を第2部分と、当該他のパネルにおいて集約区間Aの過熱器管202に沿って敷設された部分を第3部分とを有している。この場合において、第1部分および第3部分がそれぞれが敷設された過熱器管202の間に位置するか、第1部分が敷設された過熱器管202において第1部分が当該他のパネルと反対側に位置しかつ第3部分が敷設された過熱器管において第3部分が当該一のパネルと反対側に位置するか、のいずれかとなっている。この場合、検出装置30を折り返さなくてもよいため、光ファイバ40の破断を抑制することができる。また、隣接する過熱器管202の温度の影響が抑制されるため、良好な温度測定精度が得られる。良好な温度測定精度が得られることで、過熱器管202の破断の有無や、寿命を推定することができるようになる。
第1部分が敷設された過熱器管202において第1部分が当該他のパネルと反対側に位置しかつ第3部分が敷設された過熱器管202において第3部分が当該一のパネルと反対側に位置する場合に、ベンド区間において、過熱器管202のベンド方向の曲率中心から見て外接するように敷設されていることが好ましい。この構成においては、検出装置30の自重による検出装置30と過熱器管202との離間を抑制することができる。それにより、良好な温度測定精度が得られる。
図23は、検出装置30の製造方法を表すフローチャートを例示する図である。図23で例示するように、いずれかのパネルにおいて、集約区間Aの過熱器管202の直線区間の手前側に対して検出装置30を敷設する(ステップS1)。次に、ベンド区間において、過熱器管202のベンド方向の曲率中心から見て外接するように検出装置30を敷設する(ステップS2)。次に、上方の非接触区間を設けて、隣接するパネルの同一過熱器管202のベンド区間において、過熱器管202のベンド方向の曲率中心から見て外接するように検出装置30を敷設する(ステップS3)。次に、集約区間Aの直線区間の奥側に対して検出装置30を敷設する(ステップS4)。次に、下方の非接触区間を設けて、隣接するパネルの同一過熱器管202の集約区間Aの直線区間の手前側に検出装置30を敷設する(ステップS5)。以下、ステップS2〜ステップS5を繰り返すことで、検出装置30を製造することができる。
以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明は係る特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
10 測定機
11 レーザ
12 ビームスプリッタ
13 光スイッチ
14 フィルタ
15a,15b 検出器
20 制御部
21 指示部
22 温度測定部
23 補正部
30 検出装置
40 光ファイバ
41 光ファイバガラス
41a コア
41b クラッド
42a カーボン層
42b ポリイミド層
42 被覆材
50 セラミックス編組
60 金属管
100 温度分布測定装置
200 発電用ボイラ
201 火炉
202 過熱器管
203 天井
204 ペントハウス
205 入口管寄せ
206 出口管寄せ
207 ステンレスワイヤ

Claims (5)

  1. 内部を蒸気が流動する複数本の過熱器管が列をなして互いに平行に直線状に延びる第1区間と、前記複数本の過熱器管が前記第1区間から2組に分れるように湾曲して管寄せの側面に放射状に接続される第2区間とを備えるパネルが、前記管寄せの延在方向に複数設けられ、各パネルにおいて前記複数本の過熱器管が列をなす方向が前記管寄せの延在方向と交差している場合において、前記複数のパネルのうち一のパネルにおいて前記第1区間の前記過熱器管に沿って敷設された第1部分と、前記一のパネルに隣接する他のパネルに向かって延在する第2部分と、前記他のパネルにおいて前記第1区間の前記過熱器管に沿って敷設された第3部分とを有する光ファイバを備え、
    記第1部分が敷設された前記過熱器管において前記第1部分が前記他のパネルと反対側に位置しかつ前記第3部分が敷設された前記過熱器管において前記第3部分が前記一のパネルと反対側に位置し、
    湾曲している前記過熱器官の外壁面のうち、外側の湾曲面に接するように前記光ファイバが敷設されていることを特徴とする検出装置。
  2. 前記管寄せは、間仕切りされた空間の内部に配置されており、
    前記検出装置は、前記空間の外部に位置し前記空間の内部に導入される導入部と、いずれかの過熱器管に沿って敷設され前記空間から外部に引き出された引出部と、を備え、
    前記導入部と前記引出部とは、前記空間の外部において互いに結束されていることを特徴とする請求項1に記載の検出装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載の検出装置と、
    前記光ファイバに光を入射する光源と、
    前記光ファイバからの後方散乱光に基づいて前記光ファイバの各測定点の温度を測定する温度測定部と、を備えることを特徴とする温度分布測定装置。
  4. 内部を蒸気が流動する複数本の過熱器管が列をなして互いに平行に直線状に延びる第1区間と、前記複数本の過熱器管が前記第1区間から2組に分れるように湾曲して管寄せの側面に放射状に接続される第2区間とを備えるパネルが、前記管寄せの延在方向に複数設けられ、各パネルにおいて前記複数本の過熱器管が列をなす方向が前記管寄せの延在方向と交差している場合において、前記複数のパネルのうち一のパネルにおいて前記第1区間の前記過熱器管に沿って光ファイバの第1部分を敷設し、前記光ファイバの第2部分を前記一のパネルに隣接する他のパネルに向かって延在させ、前記光ファイバの第3部分を前記他のパネルにおいて前記第1区間の前記過熱器管に沿って敷設し、
    記第1部分が敷設された前記過熱器管において前記第1部分が前記他のパネルと反対側に位置しかつ前記第3部分が敷設された前記過熱器管において前記第3部分が前記一のパネルと反対側に位置し、湾曲している前記過熱器官の外壁面のうち、外側の湾曲面に接するように前記光ファイバが敷設された状態とすることを特徴とする検出装置の製造方法。
  5. 内部を蒸気が流動する複数本の過熱器管が列をなして互いに平行に直線状に延びる第1区間と、前記複数本の過熱器管が前記第1区間から2組に分れるように湾曲して管寄せの側面に放射状に接続される第2区間とを備えるパネルが、前記管寄せの延在方向に複数設けられ、各パネルにおいて前記複数本の過熱器管が列をなす方向が前記管寄せの延在方向と交差している場合において、前記複数のパネルのうち一のパネルにおいて前記第1区間の前記過熱器管に沿って敷設された第1部分と、前記一のパネルに隣接する他のパネルに向かって延在する第2部分と、前記他のパネルにおいて前記第1区間の前記過熱器管に沿って敷設された第3部分とを有する光ファイバを備え、
    前記第1部分および前記第3部分がそれぞれが敷設された前記過熱器管の間に位置するか、前記第1部分が敷設された前記過熱器管において前記第1部分が前記他のパネルと反対側に位置しかつ前記第3部分が敷設された前記過熱器管において前記第3部分が前記一のパネルと反対側に位置するか、のいずれかであり、
    前記管寄せは、間仕切りされた空間の内部に配置されており、
    前記検出装置は、前記空間の外部に位置し前記空間の内部に導入される導入部と、いずれかの過熱器管に沿って敷設され前記空間から外部に引き出された引出部と、を備え、
    前記導入部と前記引出部とは、前記空間の外部において互いに結束されていることを特徴とする検出装置。
JP2020506011A 2018-03-14 2018-03-14 検出装置、温度分布測定装置および検出装置の製造方法 Active JP6892007B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2018/009899 WO2019176000A1 (ja) 2018-03-14 2018-03-14 検出装置、温度分布測定装置および検出装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2019176000A1 JPWO2019176000A1 (ja) 2021-01-14
JP6892007B2 true JP6892007B2 (ja) 2021-06-18

Family

ID=67907535

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020506011A Active JP6892007B2 (ja) 2018-03-14 2018-03-14 検出装置、温度分布測定装置および検出装置の製造方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20200400511A1 (ja)
JP (1) JP6892007B2 (ja)
WO (1) WO2019176000A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11655737B2 (en) * 2020-07-30 2023-05-23 General Electric Company Heat exchanger with inner sensor grid and restraints for sensor wires and heat exchange tubes

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07293804A (ja) * 1994-04-20 1995-11-10 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 熱交換器
JP2009281789A (ja) * 2008-05-20 2009-12-03 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 温度計測装置および温度計測装置の取り付け方法
JP6251941B2 (ja) * 2014-08-19 2017-12-27 三菱日立パワーシステムズ株式会社 ボイラ
WO2016181540A1 (ja) * 2015-05-13 2016-11-17 富士通株式会社 温度測定装置、温度測定方法および温度測定プログラム
WO2016181541A1 (ja) * 2015-05-13 2016-11-17 富士通株式会社 温度測定装置、温度測定方法および温度測定プログラム
AU2015394728B2 (en) * 2015-05-13 2019-05-02 Fujitsu Limited Temperature measurement device, temperature measurement method, and temperature measurement program
WO2020054011A1 (ja) * 2018-09-13 2020-03-19 中国電力株式会社 蒸気管の温度測定装置、蒸気管の温度測定方法
JP6551621B1 (ja) * 2018-09-13 2019-07-31 中国電力株式会社 蒸気管の温度測定装置、蒸気管の温度測定方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20200400511A1 (en) 2020-12-24
WO2019176000A1 (ja) 2019-09-19
JPWO2019176000A1 (ja) 2021-01-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6251941B2 (ja) ボイラ
CN101886955B (zh) 用于燃气涡轮温度测量的纤维布拉格光栅感测设备及系统
JP5497085B2 (ja) チューブリーク検査装置、及びチューブリーク検査方法
US8687175B2 (en) Fluid flow velocity and temperature measurement
CN103267684B (zh) 一种电站锅炉承压元件寿命损耗获取方法及系统
JP6892007B2 (ja) 検出装置、温度分布測定装置および検出装置の製造方法
WO2013136472A1 (ja) チューブリーク検知装置、及びチューブリーク検知方法
JP5664658B2 (ja) 温度測定システム及び温度測定方法
JP2009281789A (ja) 温度計測装置および温度計測装置の取り付け方法
CN104101441B (zh) 火电机组高温受热面管真实壁温测试系统及制作工艺
JP2013190228A (ja) チューブリーク検査装置、及びチューブリーク検査方法
CN112629685A (zh) 一种锅炉受热面管炉内温度测量装置和方法
JP7098729B2 (ja) 光ファイバ温度検出システムを有する原子力装置用ヒートパイプアセンブリ
JP7114930B2 (ja) 装置、測定装置、および装置の製造方法
CA2799824C (en) System and method for monitoring steam generator tube operating conditions
JP2010014583A (ja) 蒸気発生装置
CN204758162U (zh) 用于区域供冷供热管道的测温系统
CN203965063U (zh) 火电机组高温受热面管真实壁温测试系统
JP2021169975A (ja) 光ファイバを用いた流れ方向の計測システムおよび流れ方向の計測方法
CN110848731A (zh) 一种超超临界塔式锅炉高温受热面管壁温度测量系统
JP5374344B2 (ja) 舶用ボイラ構造
JP6845063B2 (ja) 制御管の評価システム
KR101520759B1 (ko) 보일러 튜브의 온도분포를 측정하기 위한 시스템 및 방법
US11655737B2 (en) Heat exchanger with inner sensor grid and restraints for sensor wires and heat exchange tubes
JP2021032853A5 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200622

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200622

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210216

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210416

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20210427

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20210510

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6892007

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150