JP6879774B2 - インピーダンス設定装置、成膜システム、制御方法及びプログラム - Google Patents
インピーダンス設定装置、成膜システム、制御方法及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP6879774B2 JP6879774B2 JP2017033179A JP2017033179A JP6879774B2 JP 6879774 B2 JP6879774 B2 JP 6879774B2 JP 2017033179 A JP2017033179 A JP 2017033179A JP 2017033179 A JP2017033179 A JP 2017033179A JP 6879774 B2 JP6879774 B2 JP 6879774B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- impedance
- film forming
- frequency power
- adjustment value
- forming chamber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Plasma Technology (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
特許文献1には、関連する技術として、1つの自動整合器の後段に各成膜チャンバに接続された固定整合器が接続される2段構成の整合器を用いてプラスチック容器の内表面にCVD膜を生成する技術が記載されている。
そのため、外乱が発生し異常状態で行われた成膜の次の成膜が、外乱が発生していない場合に正常状態で行うことのできる技術が求められていた。
以下、本発明の第一の実施形態による成膜システムの構成について説明する。
本発明の第一の実施形態による成膜システム1は、図1に示すように、成膜装置10と、高周波電源20と、自動整合器40aと、インピーダンス設定装置60と、を備える。
下部102abは、プラスチック容器Bを収納する。
下部102abは、下部102abにプラスチック容器Bが出し入れされるときに、下方に移動する。
上部102aaと下部102abは、外部電極102aの内側に形成された真空室103aでプラズマ放電を行うように構成されている。
原料ガス供給管106aは、内部電極104aを介してプラスチック容器Bの内部に原料ガスを拡散させるための管である。
このようにした場合、プラスチック容器Bの内表面に均一なCVD膜を形成することができる。
なお、本発明の実施形態におけるインピーダンスの調整値は、自動整合器40aがインピーダンスの整合を実施したときに所望のインピーダンスとするために自動整合器40aが内部で設定するパラメータ(例えば、調整範囲を0〜100パーセントとした場合、何パーセントに調整するかを示すパラメータ)であってもよい。また、本発明の実施形態におけるインピーダンスの調整値は、自動整合器40aがインピーダンスの整合を実施したときの自動整合器40a自身のインピーダンスであってもよい。
具体的には、代表値特定部602は、例えば、ログが示す各時刻におけるインピーダンスの調整値の平均値を代表値と特定する。または、代表値特定部602は、例えば、ログが示す最大のインピーダンスの調整値と最小のインピーダンスの調整値との平均値を代表値と特定する。または、代表値特定部602は、例えば、各時刻におけるインピーダンスの調整値の中央値を代表値と特定する。
ここでは、図4に示す本発明の第一の実施形態によるインピーダンス設定装置60の処理フローについて説明する。
なお、成膜装置10は、自動整合器40aに接続された成膜チャンバ100aの1つのみを備えるものとして説明する。
ここで、プラスチック容器Bの内表面に生成されたCVD膜が正常であるか否かを判定する。なお、この判定は、膜厚や膜質などを測定し、それらの測定値が所定の範囲内にあるか否かを判定する専用の装置が判定するものであってもよい。また、判定担当者が手動で測定し、判定してもよい。また、判定担当者が目視で判定するものであってもよい。
本発明の第一の実施形態による成膜システム1において、インピーダンス設定装置60は、ログ取得部601と、代表値特定部602と、設定部603と、を備える。ログ取得部601は、成膜装置10による成膜プロセスにおいて、インピーダンスの自動整合を実施したときのログを取得する。代表値特定部602は、ログ取得部601が取得したログに基づいて、インピーダンスの代表値を特定する。設定部603は、インピーダンスの代表値を自動整合器40aのインピーダンスの調整値として設定する。
このようにすれば、外乱が発生し異常状態で行われた成膜の次の成膜において、自動整合器40aが代表値に固定したインピーダンスの調整値で動作するため、外乱が発生していない場合に、自動整合器40aが高周波電源20と成膜チャンバ100aとの間のインピーダンスを整合させることができる。その結果、高い効率で安定した高周波電力PWが成膜チャンバ100aに送電される。これにより、外部電極に電力を均等に供給することができ、外乱が発生し異常状態で行われた成膜の次のコーティング膜を正常状態で生成することができ、ほぼ均一なCVD膜でコーティングされた正常なプラスチック容器を生成することができる。
本発明の第二の実施形態による成膜システムの構成について説明する。
本発明の第二の実施形態による成膜システム1は、図5に示すように、成膜装置10と、高周波電源20と、分配器30と、自動整合器40aと、固定整合器40b1、40b2と、制御装置50と、インピーダンス設定装置60と、を備える。
なお、本発明の第二の実施形態による固定整合器40b1、40b2は、外部から設定されたインピーダンスの調整値を用いてインピーダンスを整合させる整合器である。
本発明の第二の実施形態によるインピーダンス設定装置60は、図3で示した本発明の第一の実施形態によるインピーダンス設定装置60と同様に、ログ取得部601と、代表値特定部602と、設定部603と、を備える。
具体的には、代表値特定部602は、例えば、ログが示す各時刻におけるインピーダンスの調整値の平均値を代表値と特定する。または、代表値特定部602は、例えば、ログが示す最大のインピーダンスの調整値と最小のインピーダンスの調整値との平均値を代表値と特定する。または、代表値特定部602は、例えば、各時刻におけるインピーダンスの調整値の中央値を代表値と特定する。
ここでは、図6に示す本発明の第二の実施形態によるインピーダンス設定装置60の処理フローについて説明する。
なお、成膜装置10は、自動整合器40aに接続された成膜チャンバ100a1、固定整合器40b1に接続された成膜チャンバ100a2、固定整合器40b2に接続された成膜チャンバ100a3の3つを備えるものとして説明する。
また、本発明の第二の実施形態では、各成膜チャンバ100aは、符号の末尾が同一の数字である筐体101aと、外部電極102aと、真空室103aと、内部電極104aと、排気管105aと、原料ガス供給管106aと、を備えるものとし、以下では符号を対応付けて説明する。
ここで、プラスチック容器Bの内表面に生成されたCVD膜が正常であるか否かを判定する。
本発明の第二の実施形態による成膜システム1において、インピーダンス設定装置60は、ログ取得部601と、代表値特定部602と、設定部603と、を備える。ログ取得部601は、成膜装置10による成膜プロセスにおいて、インピーダンスの自動整合を実施したときのログを取得する。代表値特定部602は、ログ取得部601が取得したログに基づいて、インピーダンスの代表値を特定する。設定部603は、インピーダンスの代表値を自動整合器40aのインピーダンスの調整値として設定する。また、設定部603は、インピーダンスの代表値を固定整合器40b1、40b2のインピーダンスの調整値として設定する。
このようにすれば、外乱が発生し異常状態で行われた成膜の次の成膜において、自動整合器40aが代表値に固定したインピーダンスの調整値で動作するため、外乱が発生していない場合に、自動整合器40aが高周波電源20と成膜チャンバ100a1との間のインピーダンスを整合させることができる。また、外乱が発生し異常状態で行われた成膜の次の成膜において、固定整合器40b1が代表値に固定したインピーダンスの調整値で動作するため、外乱が発生していない場合に、固定整合器40b1が高周波電源20と成膜チャンバ100a2との間のインピーダンスを整合させることができる。また、外乱が発生し異常状態で行われた成膜の次の成膜において、固定整合器40b2が代表値に固定したインピーダンスの調整値で動作するため、外乱が発生していない場合に、固定整合器40b2が高周波電源20と成膜チャンバ100a3との間のインピーダンスを整合させることができる。その結果、高い効率で安定した高周波電力PWが成膜チャンバ100aに送電される。これにより、外部電極に電力を均等に供給することができ、外乱が発生し異常状態で行われた成膜の次のコーティング膜を正常状態で生成することができ、ほぼ均一なCVD膜でコーティングされた正常なプラスチック容器を生成することができる。また、成膜チャンバ100a2、100a3には、自動整合器よりも低機能で安価な固定整合器が用いられるため、成膜システム1を安価に製造することができる。
この場合、成膜システム1とは別に、成膜システム1が備える成膜チャンバ100aと同様のチャンバに自動整合器40aを接続して、ログ取得部601は、プラスチック容器Bの内表面が正常に成膜されたときに、高周波電力PWが成膜チャンバ100aに供給された間の自動整合器40aのログを取得する。代表値特定部602は、ログ取得部601が取得したログに基づいて、インピーダンスの代表値を特定する。そして、設定部603は、インピーダンスの代表値を固定整合器それぞれのインピーダンスの調整値として設定すればよい。
10・・・成膜装置
20・・・高周波電源
30・・・分配器
40a・・・自動整合器
40b1、40b2・・・固定整合器
50・・・制御装置
60・・・インピーダンス設定装置
100a、100a1、100a2、100a3・・・成膜チャンバ
101a・・・筐体
102a・・・外部電極
103a・・・真空室
104a・・・内部電極
105a・・・排気管
106a・・・原料ガス供給管
601・・・ログ取得部
602・・・代表値特定部
603・・・設定部
Claims (4)
- 高周波電源と成膜装置の第1成膜チャンバとの間のインピーダンスを整合させる第1整合器のインピーダンスの調整値、および前記高周波電源と前記成膜装置の第2成膜チャンバとの間のインピーダンスを整合させる第2整合器のインピーダンスの調整値を設定するインピーダンス設定装置であって、
前記成膜装置による成膜プロセスにおいて、前記高周波電源と前記第1成膜チャンバとの間のインピーダンスの自動整合を実施したときの前記第1整合器のインピーダンスの調整値を示すログを取得するログ取得部と、
前記ログ取得部が取得した前記ログに基づいて前記第1整合器のインピーダンスの調整値の代表値を特定する代表値特定部と、
前記代表値を前記第2整合器のインピーダンスの調整値として設定する設定部と、
を備えるインピーダンス設定装置。 - 高周波電源と成膜装置の第1成膜チャンバとの間のインピーダンスを整合させる第1整合器と、
前記高周波電源と前記成膜装置の第2成膜チャンバとの間のインピーダンスを整合させる第2整合器と、
請求項1に記載のインピーダンス設定装置と、
を備える成膜システム。 - 高周波電源と成膜装置の第1成膜チャンバとの間のインピーダンスを整合させる第1整合器のインピーダンスの調整値、および前記高周波電源と前記成膜装置の第2成膜チャンバとの間のインピーダンスを整合させる第2整合器のインピーダンスの調整値を設定するインピーダンス設定装置の制御方法であって、
前記成膜装置による成膜プロセスにおいて、前記高周波電源と前記第1成膜チャンバとの間のインピーダンスの自動整合を実施したときの前記第1整合器のインピーダンスの調整値を示すログを取得することと、
取得した前記ログに基づいて前記第1整合器のインピーダンスの調整値の代表値を特定することと、
前記代表値を前記第2整合器のインピーダンスの調整値として設定することと、
を含む制御方法。 - 高周波電源と成膜装置の第1成膜チャンバとの間のインピーダンスを整合させる第1整合器のインピーダンスの調整値、および前記高周波電源と前記成膜装置の第2成膜チャンバとの間のインピーダンスを整合させる第2整合器のインピーダンスの調整値を設定するインピーダンス設定装置のコンピュータに、
前記成膜装置による成膜プロセスにおいて、前記高周波電源と前記第1成膜チャンバとの間のインピーダンスの自動整合を実施したときの前記第1整合器のインピーダンスの調整値を示すログを取得することと、
取得した前記ログに基づいて前記第1整合器のインピーダンスの調整値の代表値を特定することと、
前記代表値を前記第2整合器のインピーダンスの調整値として設定することと、
を実行させるプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017033179A JP6879774B2 (ja) | 2017-02-24 | 2017-02-24 | インピーダンス設定装置、成膜システム、制御方法及びプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017033179A JP6879774B2 (ja) | 2017-02-24 | 2017-02-24 | インピーダンス設定装置、成膜システム、制御方法及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018138683A JP2018138683A (ja) | 2018-09-06 |
JP6879774B2 true JP6879774B2 (ja) | 2021-06-02 |
Family
ID=63450963
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017033179A Active JP6879774B2 (ja) | 2017-02-24 | 2017-02-24 | インピーダンス設定装置、成膜システム、制御方法及びプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6879774B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003073836A (ja) * | 2001-08-28 | 2003-03-12 | Canon Inc | 真空処理方法及び真空処理装置 |
JP2004096019A (ja) * | 2002-09-04 | 2004-03-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 高周波プラズマ発生方法と装置 |
JP4789234B2 (ja) * | 2005-02-03 | 2011-10-12 | 三菱重工食品包装機械株式会社 | 成膜装置,整合器,及びインピーダンス制御方法 |
-
2017
- 2017-02-24 JP JP2017033179A patent/JP6879774B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018138683A (ja) | 2018-09-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9124980B2 (en) | System and method for optimized playback of audio signals through headphones | |
TW201724920A (zh) | 用於處理基板之射頻功率傳輸調節 | |
CN202551345U (zh) | 麦克风测试工装和测试系统 | |
CN102031504B (zh) | 成膜装置,匹配器以及阻抗控制方法 | |
TWM372533U (en) | Atomic layer deposition chamber and components | |
US11133759B2 (en) | Electrostatic chuck, substrate processing apparatus, and substrate holding method | |
US11041241B2 (en) | Plasma processing apparatus and temperature control method | |
US20150214016A1 (en) | Apparatus and method of treating a substrate | |
US20110080847A1 (en) | Self-Discovery of an RF Configuration for a Wireless System | |
US10692744B2 (en) | Method of inspecting gas supply system | |
JP6879774B2 (ja) | インピーダンス設定装置、成膜システム、制御方法及びプログラム | |
CN101800149A (zh) | 等离子体处理装置 | |
TW201203142A (en) | Methods for monitoring processing equipment | |
KR20190117378A (ko) | 플라즈마 처리 장치 및 플라즈마 처리 방법 | |
US20220384150A1 (en) | Plasma processing apparatus | |
WO2017077534A1 (en) | Method and system for measurement of ambience parameters using audio signals | |
US11062065B2 (en) | Method and apparatus for obtaining matching process results among multiple reaction chambers | |
US20160211123A1 (en) | Plasma Processing Apparatus and Method for Monitoring Plasma Processing Apparatus | |
JP7394601B2 (ja) | プラズマ処理装置及び測定方法 | |
US10424466B2 (en) | Method for inspecting shower plate of plasma processing apparatus | |
US10993058B2 (en) | Manufacturing method for diamond-like carbon vibrating diaphragm and loudspeaker | |
WO2023074816A1 (ja) | プラズマ処理装置、給電システム、制御方法、プログラム、及び記憶媒体 | |
US20240222078A1 (en) | Plasma processing apparatus, power supply system, control method, program, and storage medium | |
US20240212979A1 (en) | Method for determining amount of wear of edge ring, plasma processing apparatus, and substrate processing system | |
EP2900041A2 (en) | DALI Short Address Conflict Detection |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20170227 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20181102 |
|
A625 | Written request for application examination (by other person) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A625 Effective date: 20191108 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200930 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20201006 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20201207 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210413 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210430 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6879774 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |