JP6862621B2 - Measuring device and measuring method - Google Patents
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Description
本発明は、例えば、被測定信号の周波数スペクトラム波形を表示するスペクトラムアナライザや、所定の波形の信号を出力する信号出力装置等のような測定装置及び測定方法に関する。 The present invention relates to a measuring device and a measuring method such as a spectrum analyzer for displaying a frequency spectrum waveform of a signal to be measured, a signal output device for outputting a signal having a predetermined waveform, and the like.
従来、この種の測定装置としては、波形データを収集して所望の波形解析を行う波形解析装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。 Conventionally, as a measuring device of this type, a waveform analysis device that collects waveform data and performs a desired waveform analysis is known (see, for example, Patent Document 1).
特許文献１に記載のものは、メニューに表示された項目を選択しつつ、所望の波長及び位相を有する正弦波を発生してメモリに記憶させ、記憶した正弦波のデータに対して所望の演算を選択して実行することにより、例えば２倍の振幅値の正弦波を生成するようになっている。ここで、振幅値は所望の正弦波を生成するための１つのパラメータ値である。
In
しかしながら、特許文献１に記載のものでは、パラメータ値を変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択する必要があったので、パラメータ値の設定が煩雑になるという課題があった。
However, in the case described in
本発明は、従来の課題を解決するためになされたものであり、パラメータ値を容易に設定することができる測定装置及び測定方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the conventional problems, and an object of the present invention is to provide a measuring device and a measuring method capable of easily setting parameter values.
本発明の請求項１に係る測定装置は、測定信号が所定の処理を経て測定波形として表示される表示部（８２）と、前記測定信号に設定するパラメータ値が設定される被パラメータ値設定手段（１１）と、を備えた測定装置（２）であって、前記表示部と、四則演算子の入力操作を検出するとともに数値の入力操作を検出する入力操作検出手段（８１）とでなるタッチパネル（８０）にして、任意の場所で行う上方向、下方向、左方向、および右方向の４方向へのスライド操作またはフリック操作によって、各方向別に割り当てられた前記四則演算子を入力可能な当該タッチパネル（８０）と、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいてパラメータ値を算出するパラメータ値算出手段（３２）と、前記パラメータ値算出手段が算出したパラメータ値を前記被パラメータ値設定手段に設定するパラメータ値設定手段（３３）と、前記表示部に表示されている測定波形を、前記パラメータ値設定手段が前記被パラメータ値設定手段に前記設定したことにより生成された別の測定波形に切り替える表示処理部（３８）と、を備えた構成を有している。
Measuring apparatus according to
この構成により本発明の請求項１に係る測定装置は、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいてパラメータ値を算出し、算出したパラメータ値を被パラメータ値設定手段に設定するので、従来のように、パラメータ値を変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択させる必要がない。したがって、本発明の請求項２に係る測定装置は、パラメータ値を容易に設定することができる。
Since the measurement device according to
本発明の請求項２に係る測定装置は、前記パラメータ値設定手段が、前記パラメータ値を前記被パラメータ値設定手段にリアルタイムで設定するものである構成を有している。
The measuring device according to
この構成により本発明の請求項２に係る測定装置は、新たなパラメータ値が設定された状態を測定者にリアルタイムで提示することができる。
With this configuration, the measuring device according to
本発明の請求項３に係る測定装置は、入力される測定信号に前記所定の処理を行って周波数スペクトラム波形として前記表示部に表示するスペクトラムアナライザ（１、２）であって、前記パラメータ値が、中心周波数、スタート周波数、及びストップ周波数の少なくともいずれか１つに関する周波数パラメータ値であり、パラメータ値算出手段が、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいて前記周波数パラメータ値を算出する周波数パラメータ値算出手段（３２）であり、前記パラメータ値設定手段が、前記周波数パラメータ値算出手段が算出した周波数パラメータ値を前記被パラメータ値設定手段に設定する周波数パラメータ値設定手段（３３）である構成を有している。
The measuring device according to
この構成により本発明の請求項３に係る測定装置は、スペクトラムアナライザにおいて、パラメータ値を容易に設定することができる。
With this configuration, the measuring device according to
本発明の請求項４に係る測定装置は、記憶する測定信号に前記所定の処理を行って所定のサンプリングレートでデジタル信号を出力して出力波形として前記表示部に表示する信号出力装置（３）であって、前記パラメータ値が、前記サンプリングレートであり、パラメータ値算出手段が、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいて前記サンプリングレートを算出するサンプリングレート算出手段（１０１）であり、前記パラメータ値設定手段が、前記サンプリングレート算出手段が算出したサンプリングレートを前記被パラメータ値設定手段に設定するサンプリングレート設定手段（１０２）である構成を有している。 The measuring device according to claim 4 of the present invention is a signal output device (3) that performs the predetermined processing on the stored measurement signal, outputs a digital signal at a predetermined sampling rate, and displays it as an output waveform on the display unit. The parameter value is the sampling rate, and the parameter value calculating means is the sampling rate calculating means (101) for calculating the sampling rate based on the combination of the input four rule operators and the numerical values. The parameter value setting means is a sampling rate setting means (102) that sets the sampling rate calculated by the sampling rate calculation means to the parameterized value setting means.
この構成により本発明の請求項４に係る測定装置は、信号出力装置において、パラメータ値を容易に設定することができる。 With this configuration, the measuring device according to claim 4 of the present invention can easily set the parameter value in the signal output device.
本発明の請求項５に係る測定方法は、測定信号が所定の処理を経て測定波形として表示される表示部（８２）と、前記測定信号に設定するパラメータ値が設定される被パラメータ値設定手段（１１）と、四則演算子の入力操作を検出するとともに数値の入力操作を検出する入力操作検出手段を有するタッチパネル（８０）にして、任意の場所で行う上方向、下方向、左方向、および右方向の４方向へのスライド操作またはフリック操作によって、各方向別に割り当てられた前記四則演算子を入力可能な当該タッチパネル（８０）と、を備えた測定装置（２）を用いた測定方法であって、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいて前記パラメータ値を算出するパラメータ値算出ステップ（Ｓ１６）と、前記パラメータ値算出ステップで算出したパラメータ値を前記被パラメータ値設定手段に設定するパラメータ値設定ステップ（Ｓ１２）と、前記表示部に表示されている測定波形を、前記パラメータ値設定手段が前記被パラメータ値設定手段に前記設定したことにより生成された別の測定波形に切り替える表示処理ステップ（Ｓ１４）と、を含む構成を有している。 The measurement method according to claim 5 of the present invention includes a display unit (82) in which the measurement signal is displayed as a measurement waveform after undergoing a predetermined process, and a parameter value setting means for setting a parameter value to be set in the measurement signal. (11) and the touch panel (80) having an input operation detecting means for detecting the input operation of the four rules operators and detecting the input operation of the numerical value, and performing upward, downward, left direction, and at any place. It is a measurement method using a measuring device (2) provided with the touch panel (80) capable of inputting the four rules operators assigned to each direction by sliding or flicking in four directions to the right. Then, the parameter value calculation step (S16) for calculating the parameter value based on the combination of the input four rules operators and the numerical values, and the parameter value calculated in the parameter value calculation step are set in the parameter value setting means. The parameter value setting step (S12) and the display process of switching the measurement waveform displayed on the display unit to another measurement waveform generated by the parameter value setting means setting the parameter value setting means in the parameter value setting means. It has a configuration including a step (S14).
この構成により本発明の請求項５に係る測定方法は、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいてパラメータ値を算出し、算出したパラメータ値を被パラメータ値設定手段に設定するので、従来のように、パラメータ値を変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択させる必要がない。したがって、本発明の請求項７に係る測定方法は、パラメータ値を容易に設定することができる。
With this configuration, the measurement method according to claim 5 of the present invention calculates a parameter value based on a combination of input four rule operators and numerical values, and sets the calculated parameter value in the parameter value setting means. It is not necessary to display a number of menus in sequence and select a desired item from each menu in order to change the parameter value. Therefore, in the measurement method according to
本発明の請求項６に係る測定方法は、前記パラメータ値設定ステップにおいて、前記パラメータ値を前記被パラメータ値設定手段にリアルタイムで設定する構成を有している。
The measurement method according to
この構成により本発明の請求項６に係る測定方法は、新たなパラメータ値が設定された状態を測定者にリアルタイムで提示することができる。
With this configuration, the measuring method according to
本発明は、パラメータ値を容易に設定することができるという効果を有する測定装置及び測定方法を提供することができるものである。 The present invention can provide a measuring device and a measuring method having an effect that a parameter value can be easily set.
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
（第１実施形態）
第１実施形態では、本発明に係る測定装置をスペクトラムアナライザに適用した例を挙げて説明する。
(First Embodiment)
In the first embodiment, an example in which the measuring device according to the present invention is applied to a spectrum analyzer will be described.
図１に示すように、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、局部発振器１１、信号混合器１２、ＲＢＷ（Resolution Band Width）フィルタ１３、対数変換部１４、ＶＢＷ（Video Band Width）フィルタ１５、検波器１６、ＡＤＣ（アナログデジタルコンバータ）１７、表示部１８、キーボード２０、制御部３０を備えている。
As shown in FIG. 1, the
入力信号である高周波の被測定信号Ｓｉｎは、信号混合器１２により局部発振器１１からの局部発振信号Ｓｏｓｃと混合され、中間周波数を有する中間周波数信号Ｓｉｆに変換される。
The high-frequency measured signal Sin, which is an input signal, is mixed with the local oscillation signal Sosc from the
局部発振器１１の発振周波数は、制御部３０により、所定の周波数範囲にわたって掃引される。これにより、信号混合器１２から出力される中間周波数信号Ｓｉｆの周波数も掃引動作に同期して変化する。
The oscillation frequency of the
信号混合器１２から出力された中間周波数信号Ｓｉｆは次のＲＢＷフィルタ１３に入力される。このＲＢＷフィルタ１３は、アナログのバンドパスフィルタで構成されており、不要な周波数成分を除き、必要な中間周波数信号Ｓｉｆのみを選択する。
The intermediate frequency signal Sif output from the
中間周波数信号Ｓｉｆの周波数は、掃引動作に同期して変化するので、ＲＢＷフィルタ１３から１掃引時間（掃引期間）内において時間経過と共に出力される出力信号は、中間周波数信号Ｓｉｆに変換された被測定信号Ｓｉｎの各周波数成分における時系列波形となる。
Since the frequency of the intermediate frequency signal Sif changes in synchronization with the sweep operation, the output signal output from the
ＲＢＷフィルタ１３からの中間周波数信号は、対数変換部１４により信号レベルがデシベル単位に変換されて出力され、次のアナログのＶＢＷフィルタ１５に入力される。ＶＢＷフィルタ１５は、表示部１８に最終的に表示される周波数スペクトラム波形の高周波成分（雑音成分）を除去して信号を出力する。ＶＢＷフィルタ１５から出力された信号は次の検波器１６によって検波される。
The intermediate frequency signal from the RBW
検波器１６では、ＶＢＷフィルタ１５から出力されたアナログの周波数スペクトラム波形における各時間軸位置のピーク値を検出し、包絡線検波された状態の最終的な周波数スペクトラム波形を得る。そして、掃引期間内に検波された信号は、掃引された周波数における時系列波形の大きさを示す。したがって、横軸を周波数、縦軸を振幅とすれば、周波数スペクトラム波形となる。
The
この周波数スペクトラム波形を示す信号は、次のＡＤＣ１７でデジタルデータに変換され、制御部３０に入力される。制御部３０に入力されたデジタルデータは、所定の信号処理が行われ、この信号処理の結果得られる周波数スペクトラム波形は表示部１８に周波数ドメイン（横軸を周波数、縦軸を振幅）で表示される。
The signal showing the frequency spectrum waveform is converted into digital data by the
キーボード２０は、四則演算処理を行うための四則演算キー２１、数値を入力するための数値キー２２、四則演算や所定の処理を実行するための実行キー２３、等号を示す等号キー２４、マーカを設定するためのマーカ設定キー２５を備えている。
The
このキーボード２０について、スペクトラムアナライザ１の外観図である図２を用いて説明する。
The
図２に示すように、キーボード２０は、スペクトラムアナライザ１の表面パネルに設けられている。キーボード２０は、四則演算キー２１、数値キー２２、実行キー２３、等号キー２４、第１マーカキー「Ｍ１」及び第２マーカキー「Ｍ２」を含むマーカ設定キー２５、ジョグダイヤル２６、小数点キー「．」等を有する。
As shown in FIG. 2, the
四則演算キー２１は、加算キー「＋」、減算キー「−」、乗算キー「＊」、除算キー「／」を有し、四則演算子（＋、−、＊、／）を入力するためのキーである。数値キー２２は、０〜９の数値を入力するための数値キー「０」〜「９」を有する。実行キー２３は、「ＥＮＴ」で表示され、所定の処理を実行するためのキーである。等号キー２４は、「＝」で表示され、四則演算を行う際に使用される演算子である。
The four arithmetic operations key 21 has an addition key "+", a subtraction key "-", a multiplication key "*", and a division key "/", and is used to input four arithmetic operators (+,-, *, /). The key. The
図２において、表示部１８には、周波数やレベルの読み取りや周波数の設定等を行うための２つのマーカｍ１及びｍ２が表示されている。マーカｍ１及びｍ２は、それぞれ、マーカ設定キー２５の「Ｍ１」及び「Ｍ２」キーによって選択されるようになっている。例えば、マーカｍ１が選択された状態で、ジョグダイヤル２６が回転操作されると、マーカｍ１はその操作に応じて低周波数の方向又は高周波数の方向に移動するようになっている。
In FIG. 2, two markers m1 and m2 for reading a frequency and a level, setting a frequency, and the like are displayed on the
図１に戻り、制御部３０は、入力キー処理部３１、中心周波数算出部３２、中心周波数設定部３３、周波数範囲設定部３４、掃引信号発生部３５、信号測定部３６、マーカ値取得部３７、表示処理部３８を備えている。この制御部３０は、例えばマイクロコンピュータで構成され、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等を含む。
Returning to FIG. 1, the
入力キー処理部３１は、測定者がキーボード２０を操作して入力した入力キーの情報及びマーカ値取得部３７が取得した情報を取得するようになっている。例えば、入力キー処理部３１は、入力キーの情報として四則演算子、数値、その他の演算子、ジョグダイヤル２６の回転位置情報、その他のキーの情報を取得するものである。また、入力キー処理部３１は、後述するように、マーカｍ１又はｍ２が示す周波数値を取得するものである。
The input
中心周波数算出部３２は、入力キー処理部３１が取得した入力キーの情報に基づいて中心周波数を算出するようになっている。この中心周波数は、パラメータ値、周波数パラメータ値の一例である。また、中心周波数算出部３２は、パラメータ値算出手段、周波数パラメータ値算出手段の一例である。
The center
中心周波数設定部３３は、中心周波数算出部３２が算出して求めた中心周波数を局部発振器１１に設定するようになっている。この中心周波数設定部３３は、パラメータ値設定手段、周波数パラメータ値設定手段の一例である。また、局部発振器１１は、被パラメータ値設定手段の一例である。
The center
周波数範囲設定部３４は、表示部１８に表示される周波数スペクトラム波形の周波数範囲を設定するようになっている。
The frequency
掃引信号発生部３５は、所定の掃引信号を発生し、発生した掃引信号を局部発振器１１及び表示部１８に出力するようになっている。
The sweep
信号測定部３６は、予め定められた測定条件に基づいて、ＡＤＣ１７の出力信号を測定するようになっている。
The
マーカ値取得部３７は、マーカ設定キー２５の「Ｍ１」又は「Ｍ２」が押された場合に、それぞれ、マーカｍ１又はｍ２が示す周波数値を取得するようになっている。
The marker
表示処理部３８は、信号測定部３６の測定結果や測定条件等を表示部１８に表示するための表示制御を行うようになっている。
The
次に、スペクトラムアナライザ１における中心周波数の設定機能について図３を用いて説明する。この説明において、図１に示した被測定信号Ｓｉｎの周波数Ｆｉｎ＝１ＧＨｚ、信号混合器１２からの中間周波数信号Ｓｉｆの周波数Ｆｉｆ＝６ＧＨｚ、表示部１８の周波数範囲＝２ＧＨｚする。この条件で中心周波数ｆｃ＝１ＧＨｚとした場合には、局部発振器１１からの局部発振信号Ｓｏｓｃの周波数は６ＧＨｚ〜８ＧＨｚ（７ＧＨｚ中心）となる。また、中心周波数ｆｃ＝２ＧＨｚとした場合には、局部発振器１１からの局部発振信号Ｓｏｓｃの周波数は７ＧＨｚ〜９ＧＨｚ（８ＧＨｚ中心）となる。
Next, the center frequency setting function of the
図３（ａ）は、中心周波数ｆｃ＝１ＧＨｚとした場合に表示部１８に表示される周波数スペクトラム波形４１を示している。図示のように、横軸を周波数軸、縦軸をレベル軸とし、周波数範囲は０ＧＨｚ〜２ＧＨｚで中心周波数ｆｃ＝１ＧＨｚである。中心周波数ｆｃ＝１ＧＨｚの周波数位置には基本波４２が表示され、２ＧＨｚの周波数位置には第２高調波４３の一部が表示されている。
FIG. 3A shows a
図３（ｂ）は、図３（ａ）に示した表示状態において、測定者がキーボード２０を操作し、「＊」、「＝」、「２」、「ＥＮＴ」と順次入力したことを示している。このキー入力の情報は入力キー処理部３１によって取得される。
FIG. 3B shows that in the display state shown in FIG. 3A, the measurer operates the
中心周波数算出部３２は、入力キー処理部３１が取得した入力キーの情報に基づいて、予め定められた四則演算を行うようになっている。
The center
具体的には、中心周波数算出部３２は、図３（ｂ）に示した入力キー「＊」「＝」「２」という四則演算子及び数値の組み合わせからは、現在の中心周波数を２倍する演算を行うようになっている。
Specifically, the center
図３（ｃ）は、図３（ｂ）に示した入力キーにより、中心周波数算出部３２が算出して求めた中心周波数ｆｃ＝２ＧＨｚを、中心周波数設定部３３がリアルタイムで局部発振器１１に設定し、表示位置が変化した周波数スペクトラム波形４１を表示部１８が表示した表示状態を示している。図示のように、中心周波数ｆｃが１ＧＨｚから２ＧＨｚにリアルタイムで変更され、周波数範囲は１ＧＨｚ〜３ＧＨｚとなっている。中心周波数ｆｃ＝２ＧＨｚの周波数位置には第２高調波４３が表示され、１ＧＨｚの周波数位置には基本波４２が表示されている。
In FIG. 3 (c), the center frequency fc = 2 GHz calculated and obtained by the center
その結果、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、新たな中心周波数ｆｃが設定された状態を測定者にリアルタイムで提示することができる。
As a result, the
図３（ｃ）に示した表示状態において、例えば図３（ｄ）に示すように、測定者がキーボード２０を操作し、「／」、「＝」、「２」、「ＥＮＴ」と順次入力した場合には、中心周波数算出部３２が現在の中心周波数を１／２倍する演算を行い、中心周波数設定部３３がリアルタイムで局部発振器１１に設定することにより、リアルタイムで中心周波数ｆｃが２ＧＨｚから１ＧＨｚに変更され、周波数範囲は０ＧＨｚ〜２ＧＨｚとされた表示状態、すなわち図３（ａ）に示した表示状態に戻る。
In the display state shown in FIG. 3 (c), for example, as shown in FIG. 3 (d), the measurer operates the
以上の説明では、中心周波数の設定機能を分かり易く説明するために、被測定信号Ｓｉｎの周波数Ｆｉｎを１ＧＨｚとした。この周波数Ｆｉｎのように、元の中心周波数が単純な整数であれば、その２倍や３倍等の値を求めるのは暗算により容易である。 In the above description, in order to explain the center frequency setting function in an easy-to-understand manner, the frequency Fin of the signal to be measured Sin is set to 1 GHz. If the original center frequency is a simple integer such as this frequency Fin, it is easy to obtain a value such as twice or three times that by mental arithmetic.
しかしながら、例えば、周波数Ｆｉｎが１．２３４５ＧＨｚである場合や、中心周波数ｆｃを現在値の２．７倍にしたい場合には、従来、測定者は新たな中心周波数ｆｃを暗算では求めることができず、電卓を用いて求めていた。 However, for example, when the frequency Fin is 1.2345 GHz or when the center frequency fc is desired to be 2.7 times the current value, the measurer cannot conventionally obtain a new center frequency fc by mental arithmetic. , I was looking for it using a calculator.
これに対し、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１では、予め定められた四則演算子及び数値の組み合わせにより現在の中心周波数を所定倍する構成を有するので、どのような中心周波数に変更したい場合であっても容易に中心周波数の設定が可能となる。
On the other hand, the
なお、前述の実施形態では、２倍を表すのに「＊」、「＝」、「２」、「ＥＮＴ」と順次入力する例を挙げて説明したが、本発明はこれに限定されず、例えば、「＊」、「２」、「＝」、「ＥＮＴ」でもよいし、「２」、「＊」、「＝」、「ＥＮＴ」でもよい。また、２．７倍ならば、例えば、「＊」、「＝」、「２」、「．」、「７」、「ＥＮＴ」と順次入力することとなる。 In the above-described embodiment, an example in which "*", "=", "2", and "ENT" are sequentially input to represent the doubling has been described, but the present invention is not limited to this. For example, it may be "*", "2", "=", "ENT", or "2", "*", "=", "ENT". If it is 2.7 times, for example, "*", "=", "2", ".", "7", and "ENT" are input in order.
次に、図４を用いて、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１の中心周波数に関わる動作を主に説明する。
Next, with reference to FIG. 4, the operation related to the center frequency of the
測定者がキーボード２０を操作することにより、入力キー処理部３１によって、中心周波数、周波数範囲等の測定条件が入力される（ステップＳ１１）。
When the measurer operates the
入力された測定条件に基づいて、中心周波数設定部３３は、中心周波数を設定し、周波数範囲設定部３４は周波数範囲を設定する（ステップＳ１２）。これらの設定情報は、制御部３０から局部発振器１１に出力される。
Based on the input measurement conditions, the center
局部発振器１１は被測定信号Ｓｉｎを入力し、ＲＢＷフィルタ１３からＡＤＣ１７までの各要素により、所定の信号処理が実施される（ステップＳ１３）。ＡＤＣ１７の出力信号は制御部３０の表示処理部３８に入力される。
The
表示部１８は、表示処理部３８の表示処理により、中心周波数を中心とした周波数特性のデータを表示する（ステップＳ１４）。
The
入力キー処理部３１は、キーボード２０を介して、中心周波数の指示が行われたか否かを判断する（ステップＳ１５）。
The input
ステップＳ１５において、入力キー処理部３１は、キーボード２０から例えば「＊」、「＝」、「２」、「ＥＮＴ」と順次入力された場合には、中心周波数の指示が行われたと判断し、中心周波数算出部３２は中心周波数を算出する（ステップＳ１６）。この場合、中心周波数算出部３２は、現在の中心周波数を２倍する演算を行って、その結果情報を中心周波数設定部３３及び周波数範囲設定部３４に出力する。そして、ステップＳ１３に戻り、中心周波数設定部３３は中心周波数を新たな値に設定し、周波数範囲設定部３４は新たな周波数範囲を設定する。
In step S15, the input
ステップＳ１５において、入力キー処理部３１が中心周波数の指示が行われたと判断しなかった場合には、制御部３０が入力キーに応じた所定の処理を行う（ステップＳ１７）。
If the input
以上のように、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、キーボード２０に入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいて中心周波数を算出し、算出した中心周波数を局部発振器１１に設定するので、従来のように、中心周波数を変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択させる必要がない。
As described above, the
したがって、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、中心周波数（パラメータ値）を容易に設定することができる。
Therefore, the
また、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、メモリに格納後のデータに対して所定の演算を行う従来のものとは異なり、例えば、新たな中心周波数ｆｃをリアルタイムで設定したり、新たな中心周波数ｆｃが設定された状態を測定者にリアルタイムで提示したりすることができるので、測定の効率化や簡易化を容易に図ることができる。
Further, the
なお、前述の実施形態では、スペクトラムアナライザ１の表面パネルに設けられたキーボード２０を用いる例を挙げたが、本発明はこれに限定されず、例えば、スペクトラムアナライザ１とケーブルを介して又は無線通信により接続される外付けのキーボードを用いても前述と同様の効果が得られる。
In the above-described embodiment, an example of using the
（変形例）
前述の実施形態では、パラメータ値、周波数パラメータ値の一例として中心周波数を例に挙げて説明した。本発明はこれに限定されず、例えば、掃引する周波数範囲のスタート周波数やストップ周波数等をパラメータ値、周波数パラメータ値とすることもでき、前述と同様の効果が得られる。
(Modification example)
In the above-described embodiment, the center frequency has been described as an example of the parameter value and the frequency parameter value. The present invention is not limited to this, and for example, the start frequency, stop frequency, and the like in the frequency range to be swept can be set as parameter values and frequency parameter values, and the same effects as described above can be obtained.
以下、現在の中心周波数を参照し、その中心周波数の２倍の周波数をスタート周波数に設定する構成例を挙げる。この場合には、測定者がキーボード２０を操作し、スタート周波数を設定するモードとした後に、例えば、「＝」、「ＣＦ」、「＊」、「２」、「ＥＮＴ」と順次入力することにより、現在の中心周波数の２倍の値がスタート周波数に設定される構成とすることができる。なお、「ＣＦ」は、現在の中心周波数を取得するためにキーボード２０に予め設けられたキーを意味している。
Hereinafter, a configuration example in which the current center frequency is referred to and a frequency twice the center frequency is set as the start frequency will be given. In this case, after the measurer operates the
（第２実施形態）
本実施形態では、第１実施形態におけるスペクトラムアナライザ１を用いて、被測定装置（例えば増幅器）の２信号歪みを測定する例を挙げる。この場合の測定システムとしては、図５に示すように、２つの異なる周波数ｆ１及びｆ２の信号を出力する信号発生器５１と、被測定装置の一例である増幅器５２と、スペクトラムアナライザ１とで構成することができる。
(Second Embodiment)
In this embodiment, an example of measuring the two-signal distortion of the device under test (for example, an amplifier) by using the
増幅器５２の入力と出力の間に非直線性があると高調波が発生することが知られている。例えば、２つの異なる周波数ｆ１及びｆ２の２信号を増幅器５２に入力した場合、２次高調波として（２・ｆ１）及び（２・ｆ２）の周波数の信号が発生する。これらの高調波と基本波ｆ１及びｆ２とが相互に干渉することにより、（２・ｆ１−ｆ２）及び（２・ｆ２−ｆ１）の歪信号が発生する。これを相互変調歪といい、（２・ｆ１−ｆ２）及び（２・ｆ２−ｆ１）の歪信号を２信号３次相互変調歪みという。
It is known that harmonics are generated when there is a non-linearity between the input and output of the
具体的には、図６に示すように、低周波側の基本波６１（周波数ｆ１）と、高周波側の基本波６２（周波数ｆ２）を入力した場合、周波数（２・ｆ１−ｆ２）の２信号３次相互変調歪み成分６３と、周波数（２・ｆ２−ｆ１）の２信号３次相互変調歪み成分６４とが発生する。基本波６１と６２との周波数間隔をΔｆとすると、基本波６１と２信号３次相互変調歪み成分６３との周波数間隔、及び、基本波６２と２信号３次相互変調歪み成分６４との周波数間隔はΔｆとなる。
Specifically, as shown in FIG. 6, when the fundamental wave 61 (frequency f1) on the low frequency side and the fundamental wave 62 (frequency f2) on the high frequency side are input, the frequency (2.f1-f2) is 2. A signal third-order
次に、スペクトラムアナライザ１における中心周波数の設定機能について図７を用いて説明する。
Next, the center frequency setting function of the
図７（ａ）は、スペクトラムアナライザ１の表示部１８に２信号歪みの測定結果を表示した一例を示している。図７においては、中心周波数ｆｃをｆ１としている。この表示状態では、２信号３次相互変調歪み成分６４は表示領域外にあり測定者は視認することはできない。
FIG. 7A shows an example in which the measurement result of the two signal distortion is displayed on the
図７（ｂ）は、図７（ａ）に示した表示状態において、測定者がキーボード２０を操作し、「２」、「＊」、「Ｍ２」、「−」、「Ｍ１」、「ＥＮＴ」と順次入力したことを示している。このキー入力の情報は入力キー処理部３１によって取得される。
In FIG. 7B, the measurer operates the
中心周波数算出部３２は、入力キー処理部３１が取得した入力キーの情報に基づいて、予め定められた四則演算を行うようになっている。
The center
具体的には、中心周波数算出部３２は、図７（ｂ）に示した入力キー「２」「＊」「Ｍ２」「−」「Ｍ１」「ＥＮＴ」という四則演算子、数値及びマーカ設定キー２５の組み合わせからは、「Ｍ２」に対応するマーカｍ２が示す周波数値を２倍し、その値から「Ｍ１」に対応するマーカｍ１が示す周波数値を減算した周波数を求める演算を行うようになっている。ここで、マーカｍ１及びｍ２がそれぞれ示す周波数はｆ１及びｆ２であるから、中心周波数算出部３２は、（２・ｆ２−ｆ１）を求める。すなわち、中心周波数算出部３２は、２信号３次相互変調歪み成分６４の周波数を求めることとなる。
Specifically, the center
その結果、中心周波数設定部３３は、リアルタイムで中心周波数ｆｃを（２・ｆ２−ｆ１）に変更し、２信号３次相互変調歪み成分６４が表示部１８の中央に表示されることとなる。したがって、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、新たな中心周波数ｆｃが設定された状態を測定者にリアルタイムで提示することができる。
As a result, the center
以上のように、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、２信号歪みを測定する場合においても、キーボード２０に入力された四則演算子、数値及びマーカ設定キー２５の組み合わせに基づいて中心周波数を算出し、算出した中心周波数を局部発振器１１に設定するので、従来のように、中心周波数を変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択させる必要がない。
As described above, the
したがって、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、２信号歪みを測定する場合においても、中心周波数（パラメータ値）を容易に設定することができる。
Therefore, the
（第３実施形態）
まず、第３実施形態におけるスペクトラムアナライザの構成について説明する。
(Third Embodiment)
First, the configuration of the spectrum analyzer in the third embodiment will be described.
図８に示すように、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ２は、制御部７０、タッチパネル８０を備えている。このスペクトラムアナライザ２は、測定装置の一例である。なお、第１実施形態（図１参照）におけるスペクトラムアナライザ１と同様な構成には同一の符号を付して重複する説明は省略する。
As shown in FIG. 8, the
制御部７０は、操作検出部７１を備えている。この操作検出部７１は、第１実施形態の入力キー処理部３１の機能に加えて、後述するタッチセンサ８１の検知結果に基づいてタッチパネル８０における測定者の操作を検出するようになっている。
The
タッチパネル８０は、測定者によるタッチ操作を検知するタッチセンサ８１と、所定の情報を表示する表示部８２と、を備えている。タッチセンサ８１は、タッチパネル８０における測定者の操作を検出し、検出した操作を示す信号を操作検出部７１に出力するようになっている。このタッチセンサ８１は、入力操作検出手段の一例である。表示部８２は、表示処理部３８の表示制御に基づき、信号測定部３６の測定結果や測定条件等を表示するようになっている。
The
なお、タッチパネル８０としては、例えば、人体の一部（指先等）や静電ペンなどの接触を検知して、その検知信号を制御部７０に出力する静電容量方式のものであってもよく、又はペン先等の堅い物質の接触を検知してその検知信号を制御部７０に出力する抵抗膜方式のものであってもよく、或いはその他の方式のものであってもよい。
The
次に、本実施形態における操作検出部７１の機能について図９を用いて説明する。
Next, the function of the
まず、四則演算子の認識機能について説明する。図９（ａ）に示すように、操作検出部７１は、測定者の指のスライド操作を検出し、その操作に基づいて四則演算子を認識するようになっている。具体的には、操作検出部７１は、測定者がタッチパネル８０上で指を上方向にスライドさせた場合には、この操作を加算演算子「＋」として認識するようになっている。同様に、操作検出部７１は、測定者がタッチパネル８０上で指を下方向にスライドさせた場合には減算演算子「−」、左方向にスライドさせた場合には除算演算子「／」、右方向にスライドさせた場合には乗算演算子「＊」として認識するようになっている。
First, the recognition function of the four arithmetic operators will be described. As shown in FIG. 9A, the
なお、図９（ａ）に示した各スライド方向と各キーとの関係は一例であり、これに限定されない。また、スライド操作に代えて例えばフリック操作を用いてもよい。また、タッチパネル８０上に四則演算キーや数字キー等を表示し、タッチ操作により四則演算子や数値等を入力できる構成としてもよい。
The relationship between each slide direction and each key shown in FIG. 9A is an example, and is not limited to this. Further, for example, a flick operation may be used instead of the slide operation. Further, the four arithmetic operations keys, the number keys, and the like may be displayed on the
次に、数値の入力機能について説明する。図９（ｂ）に示すように、操作検出部７１は、測定者の指のタップ操作を検出し、タップ操作の回数に基づいて数値入力を検出するようになっている。例えば、測定者がタッチパネル８０上で２回のタップ操作を行えば数値「２」、３回のタップ操作を行えば「３」が操作検出部７１によって検出される。
Next, the numerical value input function will be described. As shown in FIG. 9B, the
なお、前述のタップ操作に代えて、例えば、測定者がタッチパネル８０上に数字を書く操作を行って、操作検出部７１がその数値を検出する構成であってもよい。
Instead of the tap operation described above, for example, the measurer may perform an operation of writing a number on the
次に、本実施形態における中心周波数の変更例について図１０を用いて説明する。なお、図１０に示した周波数スペクトラム波形４１は、第１実施形態で説明したもの（図３参照）と同じである。
Next, an example of changing the center frequency in this embodiment will be described with reference to FIG. The
図１０（ａ）には、タッチパネル８０上に周波数スペクトラム波形４１が示されている。中心周波数ｆｃ＝１ＧＨｚの周波数位置には基本波４２が表示され、２ＧＨｚの周波数位置には第２高調波４３の一部が表示されている。
FIG. 10A shows the
図１０（ａ）に示した表示状態において、測定者がタッチパネル８０上で指を右方向にスライドさせた場合には、操作検出部７１は乗算演算子「＊」を検出する。
In the display state shown in FIG. 10A, when the measurer slides his / her finger to the right on the
続いて、図１０（ｂ）に示すように、測定者がタッチパネル８０上で２回タップした場合には、操作検出部７１は数値「２」を検出する。この後、操作検出部７１は、所定時間（例えば１秒間）経過した場合には、数値入力が終了したと判断する。なお、所定時間の経過を数値入力の終了と判断する代わりに、数値入力の終了を示す操作を測定者に行わせる構成としてもよい。
Subsequently, as shown in FIG. 10B, when the measurer taps twice on the
中心周波数算出部３２は、操作検出部７１が、数値入力の終了を判断したことを条件に、現在の中心周波数を２倍する演算を行う。中心周波数設定部３３は、中心周波数ｆｃ＝２ＧＨｚを設定し、その結果、タッチパネル８０には中心周波数ｆｃ＝２ＧＨｚの周波数位置には第２高調波４３が表示され、１ＧＨｚの周波数位置には基本波４２が表示される。
The center
次に、図１１を用いて、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ２の中心周波数に関わる動作を説明する。図１１に示すように、ステップＳ２１のみが第１実施形態（図４）と異なるので、ステップＳ２１のみ説明する。
Next, the operation related to the center frequency of the
ステップＳ２１において、操作検出部７１は、測定者によるタッチパネル８０のタッチ操作を検出し、そのタッチ操作が四則演算処理操作であるか否か、すなわち四則演算子及び数値の入力がなされたか否かを判断する。
In step S21, the
ステップＳ２１において、操作検出部７１が四則演算子及び数値の入力がなされたと検出した場合には、中心周波数の指示が行われたと判断し、中心周波数算出部３２は中心周波数を算出する（ステップＳ１６）。
When the
ステップＳ２１において、操作検出部７１が四則演算子及び数値の入力がなされたと検出しなかった場合には、制御部３０が入力キーに応じた所定の処理を行う（ステップＳ１７）。
If the
以上のように、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ２は、タッチパネル８０に入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいて中心周波数を算出し、算出した中心周波数を局部発振器１１に設定するので、従来のように、中心周波数を変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択させる必要がない。
As described above, the
したがって、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、中心周波数（パラメータ値）を容易に設定することができる。
Therefore, the
（第４実施形態）
第４実施形態では、本発明に係る測定装置を信号発生装置に適用した例を挙げて説明する。
(Fourth Embodiment)
In the fourth embodiment, an example in which the measuring device according to the present invention is applied to a signal generator will be described.
まず、第４実施形態における信号発生装置の構成について説明する。 First, the configuration of the signal generator according to the fourth embodiment will be described.
図１２に示すように、本実施形態における信号発生装置３は、波形データ記憶部９１、デジタルアナログコンバータ（ＤＡＣ）９２、直交変調器９３、自動レベル制御回路（ＡＬＣ）９４、ステップアッテネータ（ステップＡＴＴ）１７、表示制御部９６、表示部９７、キーボード２０、制御部１００を備えている。この信号発生装置３は、測定装置、信号出力装置の一例である。
As shown in FIG. 12, the
波形データ記憶部９１は、例えば携帯端末装置のような被試験装置を試験するための複数の試験信号データとして、デジタル値のベースバンドの波形データを記憶している。図示を省略したが、測定者は、操作部を操作し、波形データ記憶部９１に記憶された試験信号データを選択できるようになっている。試験信号データは、Ｉ相成分（同相成分）及びＱ相成分（直交成分）のベースバンドの波形データを含む。波形データは、例えばＤＳＰ（Digital Signal Processor）によって生成される。
The waveform
ＤＡＣ９２は、制御部１００から出力されるサンプリングレートの指示信号に基づいて、波形データ記憶部９１が出力するデジタル値のベースバンド信号波形データをアナログ値に変換して直交変調器９３に出力するようになっている。ここで、サンプリングレートは、パラメータ値の一例である。また、ＤＡＣ９２は、被パラメータ値設定手段の一例である。
Based on the sampling rate instruction signal output from the
直交変調器９３は、局部発振信号を生成する機能を有し、ＤＡＣ９２から出力されるベースバンド信号のＩ相成分及びＱ相成分と、局部発振信号とを乗算することにより直交変調及び周波数変換を行って無線周波数の試験信号（ＲＦ試験信号）を生成してＡＬＣ９４に出力するようになっている。
The
ＡＬＣ９４は、入力したＲＦ試験信号のレベルを所定の電力レベルに設定してステップＡＴＴ９５に出力するようになっている。 The ALC94 sets the level of the input RF test signal to a predetermined power level and outputs it to the step ATT95.
ステップＡＴＴ９５は、入力したＲＦ試験信号のレベルを所定の減衰量のステップで減衰することができるＡＴＴである。 Step ATT95 is an ATT capable of attenuating the level of the input RF test signal in a predetermined attenuation amount of steps.
表示制御部９６は、ステップＡＴＴ９５の出力信号の波形を表示部９７でモニタするための表示制御を行うようになっている。
The
表示部９７は、表示制御部９６の表示制御に基づき、ステップＡＴＴ９５の出力信号の波形を表示するようになっている。
The
制御部１００は、サンプリングレート算出部１０１、サンプリングレート設定部１０２を備えている。
The
サンプリングレート算出部１０１は、入力キー処理部３１が取得した入力キーの情報に基づいて、ＤＡＣ９２のサンプリングレートを算出するようになっている。このサンプリングレート算出部１０１は、パラメータ値算出手段、サンプリングレート算出手段の一例である。
The sampling
サンプリングレート設定部１０２は、サンプリングレート算出部１０１が算出により求めたサンプリングレートをＤＡＣ９２に設定するようになっている。このサンプリングレート設定部１０２は、パラメータ値設定手段、サンプリングレート設定手段の一例である。
The sampling
次に、サンプリングレート算出部１０１及びサンプリングレート設定部１０２の機能について図１３を用いて説明する。
Next, the functions of the sampling
図１３（ａ）は、サンプリングレートを１０ＭＨｚとした場合に表示部９７に表示される出力波形１０３を示している。
FIG. 13A shows the
図１３（ｂ）は、図１３（ａ）に示した表示状態において、測定者がキーボード２０を操作し、「＊」、「＝」、「２」、「ＥＮＴ」と順次入力したことを示している。このキー入力の情報は入力キー処理部３１によって取得される。
FIG. 13B shows that in the display state shown in FIG. 13A, the measurer operates the
サンプリングレート算出部１０１は、入力キー処理部３１が取得した入力キーの情報に基づいて、予め定められた四則演算を行うようになっている。
The sampling
具体的には、サンプリングレート算出部１０１は、図１３（ｂ）に示した入力キー「＊」「＝」「２」の組み合わせからは、現在のサンプリングレートを２倍する演算を行うようになっている。
Specifically, the sampling
図１３（ｃ）は、図１３（ｂ）に示した入力キーにより、サンプリングレート算出部１０１が算出して求めたサンプリングレート＝２０ＭＨｚをサンプリングレート設定部１０２がリアルタイムでＤＡＣ９２に設定し、波形形状が変化した出力波形１０４を表示部９７が表示した表示状態を示している。図示のように、サンプリングレートが１０ＭＨｚから２０ＭＨｚにリアルタイムで変更され、測定者はサンプリングレートの変更により波形がどのように変化するかを容易に把握することができる。
In FIG. 13 (c), the sampling rate = 20 MHz calculated and obtained by the sampling
図１３（ｃ）に示した表示状態において、例えば図１３（ｄ）に示すように、測定者がキーボード２０を操作し、「／」、「＝」、「２」、「ＥＮＴ」と順次入力した場合には、サンプリングレート算出部１０１が現在のサンプリングレートを１／２倍する演算を行い、サンプリングレート設定部１０２がリアルタイムでＤＡＣ９２に設定することにより、リアルタイムでサンプリングレートが２０ＭＨｚから１０ＭＨｚに変更された表示状態、すなわち図１３（ａ）に示した表示状態に戻る。
In the display state shown in FIG. 13 (c), for example, as shown in FIG. 13 (d), the measurer operates the
次に、図１４を用いて、本実施形態における信号発生装置３のサンプリングレートに関わる動作を説明する。
Next, the operation related to the sampling rate of the
測定者がキーボード２０を操作することにより、入力キー処理部３１によって、サンプリングレートが入力される（ステップＳ３１）。
When the measurer operates the
サンプリングレート設定部１０２はサンプリングレートをＤＡＣ９２に設定する（ステップＳ３２）。
The sampling
信号発生装置３は、信号発生処理を行う（ステップＳ３３）。すなわち、波形データ記憶部９１は、所定のベースバンドの波形データをＤＡＣ９２に出力し、ＤＡＣ９２は、設定されたサンプリングレートに基づいてＤＡ変換を行って直交変調器９３に出力する。直交変調器９３は、ＤＡＣ９２から出力されるベースバンド信号に対して直交変調及び周波数変換を行ってＲＦ試験信号を生成してＡＬＣ９４に出力する。ＡＬＣ９４は、入力したＲＦ試験信号のレベルを所定の電力レベルに設定してステップＡＴＴ９５に出力する。ステップＡＴＴ９５は、入力したＲＦ試験信号のレベルを所定の減衰量のステップで減衰して表示制御部９６に出力する。
The
表示部９７は、表示制御部９６の表示処理により、サンプリングレート設定部１０２によって設定されたサンプリングレートでアナログ変換された信号を表示する（ステップＳ３４）。
The
入力キー処理部３１は、キーボード２０を介して、サンプリングレートを変更する指示が行われたか否かを判断する（ステップＳ３５）。
The input
ステップＳ３５において、入力キー処理部３１は、サンプリングレートを変更する指示が行われたと判断した場合には、サンプリングレート算出部１０１はサンプリングレートを算出する（ステップＳ３６）。
In step S35, when the input
ステップＳ３５において、入力キー処理部３１は、サンプリングレートを変更する指示が行われたと判断しなかった場合には、制御部１００は、入力キーに応じた所定の処理を行う（ステップＳ３７）。
If the input
以上のように、本実施形態における信号発生装置３は、キーボード２０に入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいてサンプリングレートを算出し、算出したサンプリングレートをＤＡＣ９２に設定するので、従来のように、サンプリングレートを変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択させる必要がない。
As described above, the
したがって、本実施形態における信号発生装置３は、サンプリングレート（パラメータ値）を容易に設定することができる。
Therefore, the
以上のように、本発明に係る測定装置及び測定方法は、パラメータ値を容易に設定することができるという効果を有し、被測定信号の周波数スペクトラム波形を表示するスペクトラムアナライザや、所定の波形の信号を出力する信号出力装置等のような測定装置及び測定方法として有用である。 As described above, the measuring device and the measuring method according to the present invention have an effect that the parameter value can be easily set, and have a spectrum analyzer for displaying the frequency spectrum waveform of the signal to be measured and a predetermined waveform. It is useful as a measuring device and a measuring method such as a signal output device that outputs a signal.
１、２ スペクトラムアナライザ（測定装置）
３ 信号発生装置（測定装置、信号出力装置）
１１ 局部発振器（被パラメータ値設定手段）
２０ キーボード
２１ 四則演算キー
２２ 数値キー
３２ 中心周波数算出部（パラメータ値算出手段、周波数パラメータ値算出手段）
３３ 中心周波数設定部（パラメータ値設定手段、周波数パラメータ値設定手段）
８０ タッチパネル
８１ タッチセンサ（入力操作検出手段）
９２ ＤＡＣ（被パラメータ値設定手段）
１０１ サンプリングレート算出部（パラメータ値算出手段、サンプリングレート算出手段）
１０２ サンプリングレート設定部（パラメータ値設定手段、サンプリングレート設定手段）
1, 2 Spectrum analyzer (measuring device)
3 Signal generator (measuring device, signal output device)
11 Local oscillator (parameter value setting means)
20
33 Center frequency setting unit (parameter value setting means, frequency parameter value setting means)
80
92 DAC (Parameter value setting means)
101 Sampling rate calculation unit (parameter value calculation means, sampling rate calculation means)
102 Sampling rate setting unit (parameter value setting means, sampling rate setting means)
Claims (6)
前記測定信号に設定するパラメータ値が設定される被パラメータ値設定手段（１１）と、を備えた測定装置（２）であって、
前記表示部と、四則演算子の入力操作を検出するとともに数値の入力操作を検出する入力操作検出手段（８１）とでなるタッチパネル（８０）にして、任意の場所で行う上方向、下方向、左方向、および右方向の４方向へのスライド操作またはフリック操作によって、各方向別に割り当てられた前記四則演算子を入力可能な当該タッチパネル（８０）と、
入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいてパラメータ値を算出するパラメータ値算出手段（３２）と、
前記パラメータ値算出手段が算出したパラメータ値を前記被パラメータ値設定手段に設定するパラメータ値設定手段（３３）と、
前記表示部に表示されている測定波形を、前記パラメータ値設定手段が前記被パラメータ値設定手段に前記設定したことにより生成された別の測定波形に切り替える表示処理部（３８）と、
を備えたことを特徴とする測定装置。 A display unit (82) in which the measurement signal is displayed as a measurement waveform after undergoing a predetermined process,
A measuring device (2) including a parameter value setting means (11) for setting a parameter value to be set in the measurement signal.
A touch panel (80) consisting of the display unit and an input operation detecting means (81) for detecting the input operation of the four arithmetic operators and detecting the input operation of the numerical value is used, and the upward and downward directions are performed at any place. The touch panel (80) capable of inputting the four arithmetic operators assigned to each direction by sliding or flicking in four directions of left and right.
Parameter value calculation means (32) that calculates parameter values based on the combination of input four arithmetic operators and numerical values, and
Parameter value setting means (33) for setting the parameter value calculated by the parameter value calculating means in the parameter value setting means, and
A display processing unit (38) that switches the measurement waveform displayed on the display unit to another measurement waveform generated by the parameter value setting means setting the parameter value setting means on the parameter value setting means.
A measuring device characterized by being equipped with.
前記パラメータ値が、中心周波数、スタート周波数、及びストップ周波数の少なくともいずれか１つに関する周波数パラメータ値であり、
パラメータ値算出手段が、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいて前記周波数パラメータ値を算出する周波数パラメータ値算出手段（３２）であり、
前記パラメータ値設定手段が、前記周波数パラメータ値算出手段が算出した周波数パラメータ値を前記被パラメータ値設定手段に設定する周波数パラメータ値設定手段（３３）であることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の測定装置。 The measuring device is a spectrum analyzer (1, 2) that performs the predetermined processing on an input measurement signal and displays it as a frequency spectrum waveform on the display unit.
The parameter value is a frequency parameter value relating to at least one of a center frequency, a start frequency, and a stop frequency.
The parameter value calculation means is the frequency parameter value calculation means (32) that calculates the frequency parameter value based on the combination of the input four arithmetic operators and numerical values.
1 or claim 1 , wherein the parameter value setting means is a frequency parameter value setting means (33) that sets a frequency parameter value calculated by the frequency parameter value calculating means to the parameterized value setting means. 2. The measuring device according to 2.
前記パラメータ値が、前記サンプリングレートであり、
前記パラメータ値算出手段が、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいて前記サンプリングレートを算出するサンプリングレート算出手段（１０１）であり、
前記パラメータ値設定手段が、前記サンプリングレート算出手段が算出したサンプリングレートを前記被パラメータ値設定手段に設定するサンプリングレート設定手段（１０２）であることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の測定装置。 The measuring device is a signal output device (3) that performs the predetermined processing on the stored measurement signal, outputs a digital signal at a predetermined sampling rate, and displays it as an output waveform on the display unit.
The parameter value is the sampling rate,
The parameter value calculating means is a sampling rate calculating means (101) that calculates the sampling rate based on a combination of input four arithmetic operators and numerical values.
The first or second aspect of the present invention, wherein the parameter value setting means is a sampling rate setting means (102) that sets the sampling rate calculated by the sampling rate calculating means to the parameterized value setting means. Measuring device.
前記測定信号に設定するパラメータ値が設定される被パラメータ値設定手段（１１）と、四則演算子の入力操作を検出するとともに数値の入力操作を検出する入力操作検出手段を有するタッチパネル（８０）にして、任意の場所で行う上方向、下方向、左方向、および右方向の４方向へのスライド操作またはフリック操作によって、各方向別に割り当てられた前記四則演算子を入力可能な当該タッチパネル（８０）と、を備えた測定装置（２）を用いた測定方法であって、
入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいて前記パラメータ値を算出するパラメータ値算出ステップ（Ｓ１６）と、
前記パラメータ値算出ステップで算出したパラメータ値を前記被パラメータ値設定手段に設定するパラメータ値設定ステップ（Ｓ１２）と、
前記表示部に表示されている測定波形を、前記パラメータ値設定手段が前記被パラメータ値設定手段に前記設定したことにより生成された別の測定波形に切り替える表示処理ステップ（Ｓ１４）と、
を含むことを特徴とする測定方法。 A display unit (82) in which the measurement signal is displayed as a measurement waveform after undergoing a predetermined process,
A touch panel (80) having a parameter value setting means (11) for setting a parameter value to be set in the measurement signal and an input operation detecting means for detecting an input operation of a four-rule operator and detecting a numerical value input operation. The touch panel (80) capable of inputting the four rule operators assigned to each direction by sliding or flicking in four directions of up, down, left, and right at any place. It is a measurement method using the measuring device (2) provided with and.
The parameter value calculation step (S16) for calculating the parameter value based on the combination of the input four arithmetic operators and numerical values, and
A parameter value setting step (S12) for setting the parameter value calculated in the parameter value calculation step in the parameter value setting means, and a parameter value setting step (S12).
A display processing step (S14) of switching the measurement waveform displayed on the display unit to another measurement waveform generated by the parameter value setting means setting the parameter value setting means in the parameter value setting means.
A measurement method comprising.
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