JP2017116286A

JP2017116286A - Measurement device and measurement method

Info

Publication number: JP2017116286A
Application number: JP2015248758A
Authority: JP
Inventors: 佑樹近藤; Yuki Kondo; 伊藤　伸一; Shinichi Ito; 伸一伊藤; 小野　純; Jun Ono; 小野　　純; 淳大芝; Jun Oshiba
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 2015-12-21
Filing date: 2015-12-21
Publication date: 2017-06-29
Anticipated expiration: 2035-12-21
Also published as: JP6862621B2

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measurement device and a measurement method with which it is possible to easily set a parameter value.SOLUTION: A spectrum analyzer 1 comprises a local oscillator 11 in which a center frequency is set as a parameter value, a keyboard 20 having an arithmetic operation key 21 for inputting an arithmetic operator and a numeric key 22 for inputting a numeric value, a center frequency calculation unit 32 for calculating a center frequency on the basis of a combination of inputted arithmetic operator and numeric value, and a center frequency setting unit 33 for setting the center frequency calculated by the center frequency calculation unit 32 to the local oscillator 11.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、例えば、被測定信号の周波数スペクトラム波形を表示するスペクトラムアナライザや、所定の波形の信号を出力する信号出力装置等のような測定装置及び測定方法に関する。 The present invention relates to a measuring apparatus and a measuring method such as a spectrum analyzer that displays a frequency spectrum waveform of a signal under measurement, a signal output apparatus that outputs a signal having a predetermined waveform, and the like.

従来、この種の測定装置としては、波形データを収集して所望の波形解析を行う波形解析装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。 Conventionally, as this type of measurement apparatus, a waveform analysis apparatus that collects waveform data and performs a desired waveform analysis is known (for example, see Patent Document 1).

特許文献１に記載のものは、メニューに表示された項目を選択しつつ、所望の波長及び位相を有する正弦波を発生してメモリに記憶させ、記憶した正弦波のデータに対して所望の演算を選択して実行することにより、例えば２倍の振幅値の正弦波を生成するようになっている。ここで、振幅値は所望の正弦波を生成するための１つのパラメータ値である。 The one described in Patent Document 1 generates a sine wave having a desired wavelength and phase while selecting an item displayed on the menu, stores it in a memory, and performs a desired calculation on the stored sine wave data. Is selected and executed, for example, a sine wave having a double amplitude value is generated. Here, the amplitude value is one parameter value for generating a desired sine wave.

特開平３−２４５０５５号公報Japanese Patent Laid-Open No. 3-245055

しかしながら、特許文献１に記載のものでは、パラメータ値を変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択する必要があったので、パラメータ値の設定が煩雑になるという課題があった。 However, in the device described in Patent Document 1, it is necessary to display a number of menus sequentially in order to change parameter values and to select a desired item from each menu, so that setting of parameter values is complicated. There was a problem.

本発明は、従来の課題を解決するためになされたものであり、パラメータ値を容易に設定することができる測定装置及び測定方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the conventional problems, and an object of the present invention is to provide a measuring apparatus and a measuring method capable of easily setting parameter values.

本発明の請求項１に係る測定装置は、所定のパラメータ値が設定される被パラメータ値設定手段（１１、９２）を備えた測定装置（１、３）であって、四則演算子を入力する四則演算キー（２１）及び数値を入力する数値キー（２２）を有するキーボード（２０）と、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいて前記パラメータ値を算出するパラメータ値算出手段（３２、１０１）と、前記パラメータ値算出手段が算出したパラメータ値を前記被パラメータ値設定手段に設定するパラメータ値設定手段（３３、１０２）と、を備えた構成を有している。 A measuring apparatus according to claim 1 of the present invention is a measuring apparatus (1, 3) provided with parameterized value setting means (11, 92) in which a predetermined parameter value is set, and inputs four arithmetic operators. A keyboard (20) having an arithmetic operation key (21) and a numerical key (22) for inputting a numerical value, and a parameter value calculating means (32, 32) for calculating the parameter value based on the input combination of the arithmetic operator and the numerical value 101) and parameter value setting means (33, 102) for setting the parameter value calculated by the parameter value calculation means in the parameter value setting means.

この構成により本発明の請求項１に係る測定装置は、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいてパラメータ値を算出し、算出したパラメータ値を被パラメータ値設定手段に設定するので、従来のように、パラメータ値を変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択させる必要がない。したがって、本発明の請求項１に係る測定装置は、パラメータ値を容易に設定することができる。 With this configuration, the measuring apparatus according to claim 1 of the present invention calculates the parameter value based on the combination of the input four arithmetic operators and the numerical value, and sets the calculated parameter value in the parameter value setting unit. As described above, it is not necessary to display a number of menus in order to change the parameter value and to select a desired item from each menu. Therefore, the measuring apparatus according to claim 1 of the present invention can easily set the parameter value.

本発明の請求項２に係る測定装置は、所定のパラメータ値が設定される被パラメータ値設定手段（１１）を備えた測定装置（２）であって、四則演算子の入力操作を検出するとともに数値の入力操作を検出する入力操作検出手段（８１）を有するタッチパネル（８０）と、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいてパラメータ値を算出するパラメータ値算出手段（３２）と、前記パラメータ値算出手段が算出したパラメータ値を前記被パラメータ値設定手段に設定するパラメータ値設定手段（３３）と、を備えた構成を有している。 A measuring apparatus according to claim 2 of the present invention is a measuring apparatus (2) provided with a parameter value setting means (11) for setting a predetermined parameter value, and detects an input operation of an arithmetic operator. A touch panel (80) having an input operation detecting means (81) for detecting a numerical value input operation; a parameter value calculating means (32) for calculating a parameter value based on a combination of the input four arithmetic operators and the numerical value; And a parameter value setting means (33) for setting the parameter value calculated by the parameter value calculating means in the parameter value setting means.

この構成により本発明の請求項２に係る測定装置は、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいてパラメータ値を算出し、算出したパラメータ値を被パラメータ値設定手段に設定するので、従来のように、パラメータ値を変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択させる必要がない。したがって、本発明の請求項２に係る測定装置は、パラメータ値を容易に設定することができる。 With this configuration, the measuring apparatus according to claim 2 of the present invention calculates the parameter value based on the combination of the input four arithmetic operators and the numerical value, and sets the calculated parameter value in the parameter value setting unit. As described above, it is not necessary to display a number of menus in order to change the parameter value and to select a desired item from each menu. Therefore, the measuring apparatus according to claim 2 of the present invention can easily set the parameter value.

本発明の請求項３に係る測定装置は、前記パラメータ値設定手段が、前記パラメータ値を前記被パラメータ値設定手段にリアルタイムで設定するものである構成を有している。 The measuring apparatus according to claim 3 of the present invention has a configuration in which the parameter value setting means sets the parameter value in the parameter value setting means in real time.

この構成により本発明の請求項３に係る測定装置は、新たなパラメータ値が設定された状態を測定者にリアルタイムで提示することができる。 With this configuration, the measuring apparatus according to claim 3 of the present invention can present a state in which a new parameter value is set to the measurer in real time.

本発明の請求項４に係る測定装置は、前記測定装置が、被測定信号を入力し所定の周波数範囲を掃引するスペクトラムアナライザ（１、２）であって、前記パラメータ値が、前記周波数範囲の中心周波数、掃引する前記周波数範囲のスタート周波数及び前記周波数範囲のストップ周波数の少なくともいずれか１つに関する周波数パラメータ値であり、パラメータ値算出手段が、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいて前記周波数パラメータ値を算出する周波数パラメータ値算出手段（３２）であり、前記パラメータ値設定手段が、前記周波数パラメータ値算出手段が算出した周波数パラメータ値を前記被パラメータ値設定手段に設定する周波数パラメータ値設定手段（３３）である構成を有している。 A measuring apparatus according to claim 4 of the present invention is a spectrum analyzer (1, 2) in which the measuring apparatus inputs a signal under measurement and sweeps a predetermined frequency range, and the parameter value is within the frequency range. A frequency parameter value relating to at least one of a center frequency, a start frequency of the frequency range to be swept, and a stop frequency of the frequency range, and the parameter value calculation means is based on a combination of the input four arithmetic operators and numerical values Frequency parameter value calculating means (32) for calculating the frequency parameter value, wherein the parameter value setting means sets the frequency parameter value calculated by the frequency parameter value calculating means to the parameter value setting means. It has the structure which is a setting means (33).

この構成により本発明の請求項４に係る測定装置は、スペクトラムアナライザにおいて、パラメータ値を容易に設定することができる。 With this configuration, the measurement apparatus according to claim 4 of the present invention can easily set parameter values in the spectrum analyzer.

本発明の請求項５に係る測定装置は、前記測定装置が、所定のサンプリングレートでデジタル信号を出力する信号出力装置（３）であって、前記パラメータ値が、前記サンプリングレートであり、パラメータ値算出手段が、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいて前記サンプリングレートを算出するサンプリングレート算出手段（１０１）であり、前記パラメータ値設定手段が、前記サンプリングレート算出手段が算出したサンプリングレートを前記被パラメータ値設定手段に設定するサンプリングレート設定手段（１０２）である構成を有している。 The measuring device according to claim 5 of the present invention is a signal output device (3) in which the measuring device outputs a digital signal at a predetermined sampling rate, wherein the parameter value is the sampling rate, and the parameter value The calculation means is a sampling rate calculation means (101) for calculating the sampling rate based on a combination of the input four arithmetic operators and numerical values, and the parameter value setting means is the sampling rate calculated by the sampling rate calculation means. Is a sampling rate setting means (102) for setting the parameter value to the parameter value setting means.

この構成により本発明の請求項５に係る測定装置は、信号出力装置において、パラメータ値を容易に設定することができる。 With this configuration, the measurement apparatus according to claim 5 of the present invention can easily set the parameter value in the signal output apparatus.

本発明の請求項６に係る測定方法は、所定のパラメータ値が設定される被パラメータ値設定手段（１１、９２）と、四則演算子を入力する四則演算キー（２１）及び数値を入力する数値キー（２２）を有するキーボード（２０）と、を備えた測定装置（１、３）を用いた測定方法であって、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいて前記パラメータ値を算出するパラメータ値算出ステップ（Ｓ１６）と、前記パラメータ値算出ステップで算出したパラメータ値を前記被パラメータ値設定手段に設定するパラメータ値設定ステップ（Ｓ１２）と、を含む構成を有している。 The measurement method according to claim 6 of the present invention is a parameter value setting means (11, 92) for setting a predetermined parameter value, an arithmetic key (21) for inputting an arithmetic operator, and a numerical value for inputting a numerical value. A measurement method using a measurement device (1, 3) including a keyboard (20) having a key (22), and calculating the parameter value based on a combination of input four arithmetic operators and numerical values. The parameter value calculating step (S16) and the parameter value setting step (S12) for setting the parameter value calculated in the parameter value calculating step in the parameter value setting means are included.

この構成により本発明の請求項６に係る測定方法は、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいてパラメータ値を算出し、算出したパラメータ値を被パラメータ値設定手段に設定するので、従来のように、パラメータ値を変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択させる必要がない。したがって、本発明の請求項６に係る測定方法は、パラメータ値を容易に設定することができる。 With this configuration, the measurement method according to claim 6 of the present invention calculates the parameter value based on the combination of the input four arithmetic operators and the numerical value, and sets the calculated parameter value in the parameter value setting means. As described above, it is not necessary to display a number of menus in order to change the parameter value and to select a desired item from each menu. Therefore, the measurement method according to claim 6 of the present invention can easily set the parameter value.

本発明の請求項７に係る測定方法は、所定のパラメータ値が設定される被パラメータ値設定手段（１１）と、四則演算子の入力操作を検出するとともに数値の入力操作を検出する入力操作検出手段を有するタッチパネル（８０）と、を備えた測定装置（２）を用いた測定方法であって、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいて前記パラメータ値を算出するパラメータ値算出ステップ（Ｓ１６）と、前記パラメータ値算出ステップで算出したパラメータ値を前記被パラメータ値設定手段に設定するパラメータ値設定ステップ（Ｓ１２）と、を含む構成を有している。 According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a parameter value setting means (11) for setting a predetermined parameter value, and an input operation detection for detecting an input operation of an arithmetic operator and a numerical input operation. A measurement method using a measurement device (2) including a touch panel (80) having a means for calculating the parameter value based on a combination of input four arithmetic operators and numerical values ( S16) and a parameter value setting step (S12) for setting the parameter value calculated in the parameter value calculating step in the parameter value setting means.

この構成により本発明の請求項７に係る測定方法は、入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいてパラメータ値を算出し、算出したパラメータ値を被パラメータ値設定手段に設定するので、従来のように、パラメータ値を変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択させる必要がない。したがって、本発明の請求項７に係る測定方法は、パラメータ値を容易に設定することができる。 With this configuration, the measurement method according to claim 7 of the present invention calculates the parameter value based on the input combination of the four arithmetic operators and the numerical value, and sets the calculated parameter value in the parameter value setting means. As described above, it is not necessary to display a number of menus in order to change the parameter value and to select a desired item from each menu. Therefore, the measurement method according to claim 7 of the present invention can easily set the parameter value.

本発明の請求項８に係る測定方法は、前記パラメータ値設定ステップにおいて、前記パラメータ値を前記被パラメータ値設定手段にリアルタイムで設定する構成を有している。 The measurement method according to an eighth aspect of the present invention has a configuration in which the parameter value is set in the parameter value setting means in real time in the parameter value setting step.

この構成により本発明の請求項８に係る測定方法は、新たなパラメータ値が設定された状態を測定者にリアルタイムで提示することができる。 With this configuration, the measurement method according to claim 8 of the present invention can present a state in which a new parameter value is set to the measurer in real time.

本発明は、パラメータ値を容易に設定することができるという効果を有する測定装置及び測定方法を提供することができるものである。 The present invention can provide a measuring apparatus and a measuring method having an effect that parameter values can be easily set.

本発明の第１実施形態及び第２実施形態におけるスペクトラムアナライザのブロック構成図である。It is a block block diagram of the spectrum analyzer in 1st Embodiment and 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第１実施形態及び第２実施形態におけるスペクトラムアナライザの外観図である。It is an external view of the spectrum analyzer in 1st Embodiment and 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第１実施形態におけるスペクトラムアナライザの中心周波数の設定機能についての説明図である。It is explanatory drawing about the setting function of the center frequency of the spectrum analyzer in 1st Embodiment of this invention. 本発明の第１実施形態及び第２実施形態におけるスペクトラムアナライザのフローチャートである。It is a flowchart of the spectrum analyzer in 1st Embodiment and 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第２実施形態における測定システムのブロック構成図である。It is a block block diagram of the measurement system in 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第２実施形態における２信号３次相互変調歪みの説明図である。It is explanatory drawing of the 2 signal 3rd order intermodulation distortion in 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第２実施形態において、スペクトラムアナライザにおける中心周波数の設定機能についての説明図である。In 2nd Embodiment of this invention, it is explanatory drawing about the setting function of the center frequency in a spectrum analyzer. 本発明の第３実施形態におけるスペクトラムアナライザのブロック構成図である。It is a block block diagram of the spectrum analyzer in 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第３実施形態における操作検出部の機能についての説明図である。It is explanatory drawing about the function of the operation detection part in 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第３実施形態における中心周波数の変更例についての説明図である。It is explanatory drawing about the example of a change of the center frequency in 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第３実施形態におけるスペクトラムアナライザのフローチャートである。It is a flowchart of the spectrum analyzer in 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第４実施形態における信号発生装置のブロック構成図である。It is a block block diagram of the signal generator in 4th Embodiment of this invention. 本発明の第４実施形態におけるサンプリングレート算出部及びサンプリングレート設定部の機能についての説明図である。It is explanatory drawing about the function of the sampling rate calculation part and sampling rate setting part in 4th Embodiment of this invention. 本発明の第４実施形態における信号発生装置のフローチャートである。It is a flowchart of the signal generator in 4th Embodiment of this invention.

以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

（第１実施形態）
第１実施形態では、本発明に係る測定装置をスペクトラムアナライザに適用した例を挙げて説明する。 (First embodiment)
In the first embodiment, an example in which the measurement apparatus according to the present invention is applied to a spectrum analyzer will be described.

図１に示すように、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、局部発振器１１、信号混合器１２、ＲＢＷ（Resolution Band Width）フィルタ１３、対数変換部１４、ＶＢＷ（Video Band Width）フィルタ１５、検波器１６、ＡＤＣ（アナログデジタルコンバータ）１７、表示部１８、キーボード２０、制御部３０を備えている。 As shown in FIG. 1, the spectrum analyzer 1 in this embodiment includes a local oscillator 11, a signal mixer 12, an RBW (Resolution Band Width) filter 13, a logarithmic converter 14, a VBW (Video Band Width) filter 15, and a detector. 16, an ADC (analog / digital converter) 17, a display unit 18, a keyboard 20, and a control unit 30.

入力信号である高周波の被測定信号Ｓｉｎは、信号混合器１２により局部発振器１１からの局部発振信号Ｓｏｓｃと混合され、中間周波数を有する中間周波数信号Ｓｉｆに変換される。 The high-frequency signal under test Sin, which is an input signal, is mixed with the local oscillation signal Sosc from the local oscillator 11 by the signal mixer 12 and converted into an intermediate frequency signal Sif having an intermediate frequency.

局部発振器１１の発振周波数は、制御部３０により、所定の周波数範囲にわたって掃引される。これにより、信号混合器１２から出力される中間周波数信号Ｓｉｆの周波数も掃引動作に同期して変化する。 The oscillation frequency of the local oscillator 11 is swept by the control unit 30 over a predetermined frequency range. As a result, the frequency of the intermediate frequency signal Sif output from the signal mixer 12 also changes in synchronization with the sweep operation.

信号混合器１２から出力された中間周波数信号Ｓｉｆは次のＲＢＷフィルタ１３に入力される。このＲＢＷフィルタ１３は、アナログのバンドパスフィルタで構成されており、不要な周波数成分を除き、必要な中間周波数信号Ｓｉｆのみを選択する。 The intermediate frequency signal Sif output from the signal mixer 12 is input to the next RBW filter 13. The RBW filter 13 is composed of an analog band-pass filter, and selects only the necessary intermediate frequency signal Sif except for unnecessary frequency components.

中間周波数信号Ｓｉｆの周波数は、掃引動作に同期して変化するので、ＲＢＷフィルタ１３から１掃引時間（掃引期間）内において時間経過と共に出力される出力信号は、中間周波数信号Ｓｉｆに変換された被測定信号Ｓｉｎの各周波数成分における時系列波形となる。 Since the frequency of the intermediate frequency signal Sif changes in synchronization with the sweep operation, the output signal output as time elapses within one sweep time (sweep period) from the RBW filter 13 is converted to the intermediate frequency signal Sif. It becomes a time series waveform in each frequency component of the measurement signal Sin.

ＲＢＷフィルタ１３からの中間周波数信号は、対数変換部１４により信号レベルがデシベル単位に変換されて出力され、次のアナログのＶＢＷフィルタ１５に入力される。ＶＢＷフィルタ１５は、表示部１８に最終的に表示される周波数スペクトラム波形の高周波成分（雑音成分）を除去して信号を出力する。ＶＢＷフィルタ１５から出力された信号は次の検波器１６によって検波される。 The intermediate frequency signal from the RBW filter 13 is output after the signal level is converted into decibel units by the logarithmic conversion unit 14 and input to the next analog VBW filter 15. The VBW filter 15 removes a high frequency component (noise component) of the frequency spectrum waveform finally displayed on the display unit 18 and outputs a signal. The signal output from the VBW filter 15 is detected by the next detector 16.

検波器１６では、ＶＢＷフィルタ１５から出力されたアナログの周波数スペクトラム波形における各時間軸位置のピーク値を検出し、包絡線検波された状態の最終的な周波数スペクトラム波形を得る。そして、掃引期間内に検波された信号は、掃引された周波数における時系列波形の大きさを示す。したがって、横軸を周波数、縦軸を振幅とすれば、周波数スペクトラム波形となる。 The detector 16 detects the peak value of each time axis position in the analog frequency spectrum waveform output from the VBW filter 15, and obtains the final frequency spectrum waveform in the state of envelope detection. The signal detected within the sweep period indicates the size of the time series waveform at the swept frequency. Therefore, if the horizontal axis is frequency and the vertical axis is amplitude, a frequency spectrum waveform is obtained.

この周波数スペクトラム波形を示す信号は、次のＡＤＣ１７でデジタルデータに変換され、制御部３０に入力される。制御部３０に入力されたデジタルデータは、所定の信号処理が行われ、この信号処理の結果得られる周波数スペクトラム波形は表示部１８に周波数ドメイン（横軸を周波数、縦軸を振幅）で表示される。 The signal indicating the frequency spectrum waveform is converted into digital data by the next ADC 17 and input to the control unit 30. The digital data input to the control unit 30 is subjected to predetermined signal processing, and the frequency spectrum waveform obtained as a result of this signal processing is displayed on the display unit 18 in the frequency domain (frequency is on the horizontal axis and amplitude is on the vertical axis). The

キーボード２０は、四則演算処理を行うための四則演算キー２１、数値を入力するための数値キー２２、四則演算や所定の処理を実行するための実行キー２３、等号を示す等号キー２４、マーカを設定するためのマーカ設定キー２５を備えている。 The keyboard 20 has four arithmetic operation keys 21 for performing arithmetic operation processing, a numerical key 22 for inputting numerical values, an execution key 23 for executing arithmetic operation and predetermined processing, an equal sign key 24 indicating an equal sign, A marker setting key 25 for setting a marker is provided.

このキーボード２０について、スペクトラムアナライザ１の外観図である図２を用いて説明する。 The keyboard 20 will be described with reference to FIG. 2 which is an external view of the spectrum analyzer 1.

図２に示すように、キーボード２０は、スペクトラムアナライザ１の表面パネルに設けられている。キーボード２０は、四則演算キー２１、数値キー２２、実行キー２３、等号キー２４、第１マーカキー「Ｍ１」及び第２マーカキー「Ｍ２」を含むマーカ設定キー２５、ジョグダイヤル２６、小数点キー「．」等を有する。 As shown in FIG. 2, the keyboard 20 is provided on the surface panel of the spectrum analyzer 1. The keyboard 20 includes an arithmetic operation key 21, a numerical key 22, an execution key 23, an equal sign key 24, a marker setting key 25 including a first marker key “M1” and a second marker key “M2”, a jog dial 26, and a decimal point key “.”. Etc.

四則演算キー２１は、加算キー「＋」、減算キー「−」、乗算キー「＊」、除算キー「／」を有し、四則演算子（＋、−、＊、／）を入力するためのキーである。数値キー２２は、０〜９の数値を入力するための数値キー「０」〜「９」を有する。実行キー２３は、「ＥＮＴ」で表示され、所定の処理を実行するためのキーである。等号キー２４は、「＝」で表示され、四則演算を行う際に使用される演算子である。 The arithmetic operation key 21 has an addition key “+”, a subtraction key “−”, a multiplication key “*”, and a division key “/”, and is used to input the arithmetic operators (+, −, *, /). Key. The numerical key 22 has numerical keys “0” to “9” for inputting numerical values of 0 to 9. The execution key 23 is displayed as “ENT” and is a key for executing a predetermined process. The equal sign key 24 is an operator that is displayed by “=” and is used when performing four arithmetic operations.

図２において、表示部１８には、周波数やレベルの読み取りや周波数の設定等を行うための２つのマーカｍ１及びｍ２が表示されている。マーカｍ１及びｍ２は、それぞれ、マーカ設定キー２５の「Ｍ１」及び「Ｍ２」キーによって選択されるようになっている。例えば、マーカｍ１が選択された状態で、ジョグダイヤル２６が回転操作されると、マーカｍ１はその操作に応じて低周波数の方向又は高周波数の方向に移動するようになっている。 In FIG. 2, the display unit 18 displays two markers m1 and m2 for reading the frequency and level, setting the frequency, and the like. The markers m1 and m2 are selected by the “M1” and “M2” keys of the marker setting key 25, respectively. For example, when the jog dial 26 is rotated with the marker m1 selected, the marker m1 moves in a low frequency direction or a high frequency direction according to the operation.

図１に戻り、制御部３０は、入力キー処理部３１、中心周波数算出部３２、中心周波数設定部３３、周波数範囲設定部３４、掃引信号発生部３５、信号測定部３６、マーカ値取得部３７、表示処理部３８を備えている。この制御部３０は、例えばマイクロコンピュータで構成され、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等を含む。 Returning to FIG. 1, the control unit 30 includes an input key processing unit 31, a center frequency calculation unit 32, a center frequency setting unit 33, a frequency range setting unit 34, a sweep signal generation unit 35, a signal measurement unit 36, and a marker value acquisition unit 37. The display processing unit 38 is provided. The control unit 30 is constituted by a microcomputer, for example, and includes a CPU, a ROM, a RAM, and the like.

入力キー処理部３１は、測定者がキーボード２０を操作して入力した入力キーの情報及びマーカ値取得部３７が取得した情報を取得するようになっている。例えば、入力キー処理部３１は、入力キーの情報として四則演算子、数値、その他の演算子、ジョグダイヤル２６の回転位置情報、その他のキーの情報を取得するものである。また、入力キー処理部３１は、後述するように、マーカｍ１又はｍ２が示す周波数値を取得するものである。 The input key processing unit 31 acquires information on input keys input by the measurer operating the keyboard 20 and information acquired by the marker value acquisition unit 37. For example, the input key processing unit 31 acquires four arithmetic operators, numerical values, other operators, rotational position information of the jog dial 26, and other key information as input key information. The input key processing unit 31 acquires a frequency value indicated by the marker m1 or m2, as will be described later.

中心周波数算出部３２は、入力キー処理部３１が取得した入力キーの情報に基づいて中心周波数を算出するようになっている。この中心周波数は、パラメータ値、周波数パラメータ値の一例である。また、中心周波数算出部３２は、パラメータ値算出手段、周波数パラメータ値算出手段の一例である。 The center frequency calculation unit 32 calculates the center frequency based on the input key information acquired by the input key processing unit 31. This center frequency is an example of a parameter value and a frequency parameter value. The center frequency calculation unit 32 is an example of a parameter value calculation unit and a frequency parameter value calculation unit.

中心周波数設定部３３は、中心周波数算出部３２が算出して求めた中心周波数を局部発振器１１に設定するようになっている。この中心周波数設定部３３は、パラメータ値設定手段、周波数パラメータ値設定手段の一例である。また、局部発振器１１は、被パラメータ値設定手段の一例である。 The center frequency setting unit 33 sets the center frequency calculated and obtained by the center frequency calculation unit 32 in the local oscillator 11. The center frequency setting unit 33 is an example of parameter value setting means and frequency parameter value setting means. The local oscillator 11 is an example of a parameter value setting unit.

周波数範囲設定部３４は、表示部１８に表示される周波数スペクトラム波形の周波数範囲を設定するようになっている。 The frequency range setting unit 34 is configured to set the frequency range of the frequency spectrum waveform displayed on the display unit 18.

掃引信号発生部３５は、所定の掃引信号を発生し、発生した掃引信号を局部発振器１１及び表示部１８に出力するようになっている。 The sweep signal generator 35 generates a predetermined sweep signal and outputs the generated sweep signal to the local oscillator 11 and the display unit 18.

信号測定部３６は、予め定められた測定条件に基づいて、ＡＤＣ１７の出力信号を測定するようになっている。 The signal measurement unit 36 measures the output signal of the ADC 17 based on a predetermined measurement condition.

マーカ値取得部３７は、マーカ設定キー２５の「Ｍ１」又は「Ｍ２」が押された場合に、それぞれ、マーカｍ１又はｍ２が示す周波数値を取得するようになっている。 When the marker setting key 25 “M1” or “M2” is pressed, the marker value acquisition unit 37 acquires the frequency value indicated by the marker m1 or m2, respectively.

表示処理部３８は、信号測定部３６の測定結果や測定条件等を表示部１８に表示するための表示制御を行うようになっている。 The display processing unit 38 performs display control for displaying the measurement results and measurement conditions of the signal measurement unit 36 on the display unit 18.

次に、スペクトラムアナライザ１における中心周波数の設定機能について図３を用いて説明する。この説明において、図１に示した被測定信号Ｓｉｎの周波数Ｆｉｎ＝１ＧＨｚ、信号混合器１２からの中間周波数信号Ｓｉｆの周波数Ｆｉｆ＝６ＧＨｚ、表示部１８の周波数範囲＝２ＧＨｚする。この条件で中心周波数ｆｃ＝１ＧＨｚとした場合には、局部発振器１１からの局部発振信号Ｓｏｓｃの周波数は６ＧＨｚ〜８ＧＨｚ（７ＧＨｚ中心）となる。また、中心周波数ｆｃ＝２ＧＨｚとした場合には、局部発振器１１からの局部発振信号Ｓｏｓｃの周波数は７ＧＨｚ〜９ＧＨｚ（８ＧＨｚ中心）となる。 Next, the center frequency setting function in the spectrum analyzer 1 will be described with reference to FIG. In this description, the frequency Fin of the signal under test Sin shown in FIG. 1 is set to 1 GHz, the frequency Fif of the intermediate frequency signal Sif from the signal mixer 12 is set to 6 GHz, and the frequency range of the display unit 18 is set to 2 GHz. When the center frequency fc = 1 GHz under this condition, the frequency of the local oscillation signal Sosc from the local oscillator 11 is 6 GHz to 8 GHz (7 GHz center). When the center frequency fc = 2 GHz, the frequency of the local oscillation signal Sosc from the local oscillator 11 is 7 GHz to 9 GHz (8 GHz center).

図３（ａ）は、中心周波数ｆｃ＝１ＧＨｚとした場合に表示部１８に表示される周波数スペクトラム波形４１を示している。図示のように、横軸を周波数軸、縦軸をレベル軸とし、周波数範囲は０ＧＨｚ〜２ＧＨｚで中心周波数ｆｃ＝１ＧＨｚである。中心周波数ｆｃ＝１ＧＨｚの周波数位置には基本波４２が表示され、２ＧＨｚの周波数位置には第２高調波４３の一部が表示されている。 FIG. 3A shows a frequency spectrum waveform 41 displayed on the display unit 18 when the center frequency fc = 1 GHz. As shown in the figure, the horizontal axis is the frequency axis, the vertical axis is the level axis, the frequency range is 0 GHz to 2 GHz, and the center frequency fc = 1 GHz. A fundamental wave 42 is displayed at the frequency position of the center frequency fc = 1 GHz, and a part of the second harmonic 43 is displayed at the frequency position of 2 GHz.

図３（ｂ）は、図３（ａ）に示した表示状態において、測定者がキーボード２０を操作し、「＊」、「＝」、「２」、「ＥＮＴ」と順次入力したことを示している。このキー入力の情報は入力キー処理部３１によって取得される。 FIG. 3B shows that in the display state shown in FIG. 3A, the measurer operates the keyboard 20 and sequentially inputs “*”, “=”, “2”, and “ENT”. ing. This key input information is acquired by the input key processing unit 31.

中心周波数算出部３２は、入力キー処理部３１が取得した入力キーの情報に基づいて、予め定められた四則演算を行うようになっている。 The center frequency calculation unit 32 performs predetermined four arithmetic operations based on the input key information acquired by the input key processing unit 31.

具体的には、中心周波数算出部３２は、図３（ｂ）に示した入力キー「＊」「＝」「２」という四則演算子及び数値の組み合わせからは、現在の中心周波数を２倍する演算を行うようになっている。 Specifically, the center frequency calculation unit 32 doubles the current center frequency from the combination of the arithmetic operators and numerical values of the input keys “*”, “=”, and “2” shown in FIG. Arithmetic is performed.

図３（ｃ）は、図３（ｂ）に示した入力キーにより、中心周波数算出部３２が算出して求めた中心周波数ｆｃ＝２ＧＨｚを、中心周波数設定部３３がリアルタイムで局部発振器１１に設定し、表示位置が変化した周波数スペクトラム波形４１を表示部１８が表示した表示状態を示している。図示のように、中心周波数ｆｃが１ＧＨｚから２ＧＨｚにリアルタイムで変更され、周波数範囲は１ＧＨｚ〜３ＧＨｚとなっている。中心周波数ｆｃ＝２ＧＨｚの周波数位置には第２高調波４３が表示され、１ＧＨｚの周波数位置には基本波４２が表示されている。 In FIG. 3C, the center frequency fc = 2 GHz calculated by the center frequency calculation unit 32 by the input key shown in FIG. 3B is set in the local oscillator 11 by the center frequency setting unit 33 in real time. And the display state which the display part 18 displayed the frequency spectrum waveform 41 in which the display position changed is shown. As illustrated, the center frequency fc is changed from 1 GHz to 2 GHz in real time, and the frequency range is 1 GHz to 3 GHz. The second harmonic 43 is displayed at the frequency position of the center frequency fc = 2 GHz, and the fundamental wave 42 is displayed at the frequency position of 1 GHz.

その結果、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、新たな中心周波数ｆｃが設定された状態を測定者にリアルタイムで提示することができる。 As a result, the spectrum analyzer 1 in the present embodiment can present the state in which the new center frequency fc is set to the measurer in real time.

図３（ｃ）に示した表示状態において、例えば図３（ｄ）に示すように、測定者がキーボード２０を操作し、「／」、「＝」、「２」、「ＥＮＴ」と順次入力した場合には、中心周波数算出部３２が現在の中心周波数を１／２倍する演算を行い、中心周波数設定部３３がリアルタイムで局部発振器１１に設定することにより、リアルタイムで中心周波数ｆｃが２ＧＨｚから１ＧＨｚに変更され、周波数範囲は０ＧＨｚ〜２ＧＨｚとされた表示状態、すなわち図３（ａ）に示した表示状態に戻る。 In the display state shown in FIG. 3 (c), for example, as shown in FIG. 3 (d), the measurer operates the keyboard 20 and sequentially inputs “/”, “=”, “2”, “ENT”. In such a case, the center frequency calculation unit 32 performs an operation to halve the current center frequency, and the center frequency setting unit 33 sets the local oscillator 11 in real time, so that the center frequency fc is increased from 2 GHz in real time. The display state is changed to 1 GHz, and the frequency range is 0 GHz to 2 GHz, that is, the display state shown in FIG.

以上の説明では、中心周波数の設定機能を分かり易く説明するために、被測定信号Ｓｉｎの周波数Ｆｉｎを１ＧＨｚとした。この周波数Ｆｉｎのように、元の中心周波数が単純な整数であれば、その２倍や３倍等の値を求めるのは暗算により容易である。 In the above description, the frequency Fin of the signal under test Sin is set to 1 GHz in order to easily explain the setting function of the center frequency. If the original center frequency is a simple integer like the frequency Fin, it is easy to obtain a value such as twice or three times by mental arithmetic.

しかしながら、例えば、周波数Ｆｉｎが１．２３４５ＧＨｚである場合や、中心周波数ｆｃを現在値の２．７倍にしたい場合には、従来、測定者は新たな中心周波数ｆｃを暗算では求めることができず、電卓を用いて求めていた。 However, for example, when the frequency Fin is 1.2345 GHz or when it is desired to set the center frequency fc to 2.7 times the current value, conventionally, the measurer cannot obtain a new center frequency fc by mental calculation. Sought using a calculator.

これに対し、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１では、予め定められた四則演算子及び数値の組み合わせにより現在の中心周波数を所定倍する構成を有するので、どのような中心周波数に変更したい場合であっても容易に中心周波数の設定が可能となる。 On the other hand, the spectrum analyzer 1 according to the present embodiment has a configuration that multiplies the current center frequency by a predetermined combination of four arithmetic operators and numerical values, so that it can be changed to any center frequency. The center frequency can be easily set.

なお、前述の実施形態では、２倍を表すのに「＊」、「＝」、「２」、「ＥＮＴ」と順次入力する例を挙げて説明したが、本発明はこれに限定されず、例えば、「＊」、「２」、「＝」、「ＥＮＴ」でもよいし、「２」、「＊」、「＝」、「ＥＮＴ」でもよい。また、２．７倍ならば、例えば、「＊」、「＝」、「２」、「．」、「７」、「ＥＮＴ」と順次入力することとなる。 In the above-described embodiment, an example in which “*”, “=”, “2”, and “ENT” are sequentially input to represent 2 times has been described. However, the present invention is not limited to this, For example, “*”, “2”, “=”, “ENT” may be used, and “2”, “*”, “=”, “ENT” may be used. In the case of 2.7 times, for example, “*”, “=”, “2”, “.”, “7”, “ENT” are sequentially input.

次に、図４を用いて、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１の中心周波数に関わる動作を主に説明する。 Next, the operation related to the center frequency of the spectrum analyzer 1 in this embodiment will be mainly described with reference to FIG.

測定者がキーボード２０を操作することにより、入力キー処理部３１によって、中心周波数、周波数範囲等の測定条件が入力される（ステップＳ１１）。 When the measurer operates the keyboard 20, the input key processing unit 31 inputs measurement conditions such as the center frequency and the frequency range (step S11).

入力された測定条件に基づいて、中心周波数設定部３３は、中心周波数を設定し、周波数範囲設定部３４は周波数範囲を設定する（ステップＳ１２）。これらの設定情報は、制御部３０から局部発振器１１に出力される。 Based on the input measurement conditions, the center frequency setting unit 33 sets the center frequency, and the frequency range setting unit 34 sets the frequency range (step S12). Such setting information is output from the control unit 30 to the local oscillator 11.

局部発振器１１は被測定信号Ｓｉｎを入力し、ＲＢＷフィルタ１３からＡＤＣ１７までの各要素により、所定の信号処理が実施される（ステップＳ１３）。ＡＤＣ１７の出力信号は制御部３０の表示処理部３８に入力される。 The local oscillator 11 inputs the signal to be measured Sin, and predetermined signal processing is performed by each element from the RBW filter 13 to the ADC 17 (step S13). The output signal of the ADC 17 is input to the display processing unit 38 of the control unit 30.

表示部１８は、表示処理部３８の表示処理により、中心周波数を中心とした周波数特性のデータを表示する（ステップＳ１４）。 The display unit 18 displays frequency characteristic data centered on the center frequency by the display processing of the display processing unit 38 (step S14).

入力キー処理部３１は、キーボード２０を介して、中心周波数の指示が行われたか否かを判断する（ステップＳ１５）。 The input key processing unit 31 determines whether or not an instruction for the center frequency has been performed via the keyboard 20 (step S15).

ステップＳ１５において、入力キー処理部３１は、キーボード２０から例えば「＊」、「＝」、「２」、「ＥＮＴ」と順次入力された場合には、中心周波数の指示が行われたと判断し、中心周波数算出部３２は中心周波数を算出する（ステップＳ１６）。この場合、中心周波数算出部３２は、現在の中心周波数を２倍する演算を行って、その結果情報を中心周波数設定部３３及び周波数範囲設定部３４に出力する。そして、ステップＳ１３に戻り、中心周波数設定部３３は中心周波数を新たな値に設定し、周波数範囲設定部３４は新たな周波数範囲を設定する。 In step S15, the input key processing unit 31 determines that the instruction of the center frequency has been performed when, for example, “*”, “=”, “2”, and “ENT” are sequentially input from the keyboard 20; The center frequency calculation unit 32 calculates the center frequency (step S16). In this case, the center frequency calculation unit 32 performs an operation of doubling the current center frequency, and outputs the result information to the center frequency setting unit 33 and the frequency range setting unit 34. Then, returning to step S13, the center frequency setting unit 33 sets the center frequency to a new value, and the frequency range setting unit 34 sets a new frequency range.

ステップＳ１５において、入力キー処理部３１が中心周波数の指示が行われたと判断しなかった場合には、制御部３０が入力キーに応じた所定の処理を行う（ステップＳ１７）。 In step S15, when the input key processing unit 31 does not determine that the center frequency is instructed, the control unit 30 performs a predetermined process corresponding to the input key (step S17).

以上のように、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、キーボード２０に入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいて中心周波数を算出し、算出した中心周波数を局部発振器１１に設定するので、従来のように、中心周波数を変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択させる必要がない。 As described above, the spectrum analyzer 1 according to the present embodiment calculates the center frequency based on the combination of the four operators and the numerical values input to the keyboard 20 and sets the calculated center frequency in the local oscillator 11. In this way, it is not necessary to display a number of menus in order to change the center frequency and to select a desired item from each menu.

したがって、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、中心周波数（パラメータ値）を容易に設定することができる。 Therefore, the spectrum analyzer 1 in the present embodiment can easily set the center frequency (parameter value).

また、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、メモリに格納後のデータに対して所定の演算を行う従来のものとは異なり、例えば、新たな中心周波数ｆｃをリアルタイムで設定したり、新たな中心周波数ｆｃが設定された状態を測定者にリアルタイムで提示したりすることができるので、測定の効率化や簡易化を容易に図ることができる。 Further, the spectrum analyzer 1 in the present embodiment is different from the conventional one that performs a predetermined calculation on the data stored in the memory. For example, a new center frequency fc is set in real time, or a new center frequency is set. Since the state where fc is set can be presented to the measurer in real time, the efficiency and simplification of the measurement can be easily achieved.

なお、前述の実施形態では、スペクトラムアナライザ１の表面パネルに設けられたキーボード２０を用いる例を挙げたが、本発明はこれに限定されず、例えば、スペクトラムアナライザ１とケーブルを介して又は無線通信により接続される外付けのキーボードを用いても前述と同様の効果が得られる。 In the above-described embodiment, an example in which the keyboard 20 provided on the front panel of the spectrum analyzer 1 is used has been described. However, the present invention is not limited to this example. The same effect as described above can be obtained even by using an external keyboard connected by.

（変形例）
前述の実施形態では、パラメータ値、周波数パラメータ値の一例として中心周波数を例に挙げて説明した。本発明はこれに限定されず、例えば、掃引する周波数範囲のスタート周波数やストップ周波数等をパラメータ値、周波数パラメータ値とすることもでき、前述と同様の効果が得られる。 (Modification)
In the above-described embodiment, the center frequency has been described as an example of the parameter value and the frequency parameter value. The present invention is not limited to this. For example, the start frequency or stop frequency of the frequency range to be swept can be set as the parameter value and the frequency parameter value, and the same effect as described above can be obtained.

以下、現在の中心周波数を参照し、その中心周波数の２倍の周波数をスタート周波数に設定する構成例を挙げる。この場合には、測定者がキーボード２０を操作し、スタート周波数を設定するモードとした後に、例えば、「＝」、「ＣＦ」、「＊」、「２」、「ＥＮＴ」と順次入力することにより、現在の中心周波数の２倍の値がスタート周波数に設定される構成とすることができる。なお、「ＣＦ」は、現在の中心周波数を取得するためにキーボード２０に予め設けられたキーを意味している。 Hereinafter, a configuration example in which the current center frequency is referred to and a frequency that is twice the center frequency is set as the start frequency will be described. In this case, after the measurer operates the keyboard 20 to enter the mode for setting the start frequency, for example, “=”, “CF”, “*”, “2”, “ENT” are sequentially input. Thus, a value that is twice the current center frequency is set as the start frequency. “CF” means a key provided in advance on the keyboard 20 in order to acquire the current center frequency.

（第２実施形態）
本実施形態では、第１実施形態におけるスペクトラムアナライザ１を用いて、被測定装置（例えば増幅器）の２信号歪みを測定する例を挙げる。この場合の測定システムとしては、図５に示すように、２つの異なる周波数ｆ１及びｆ２の信号を出力する信号発生器５１と、被測定装置の一例である増幅器５２と、スペクトラムアナライザ１とで構成することができる。 (Second Embodiment)
In the present embodiment, an example in which the two-signal distortion of a device under measurement (for example, an amplifier) is measured using the spectrum analyzer 1 in the first embodiment will be described. As shown in FIG. 5, the measurement system in this case includes a signal generator 51 that outputs signals of two different frequencies f1 and f2, an amplifier 52 that is an example of a device under test, and a spectrum analyzer 1. can do.

増幅器５２の入力と出力の間に非直線性があると高調波が発生することが知られている。例えば、２つの異なる周波数ｆ１及びｆ２の２信号を増幅器５２に入力した場合、２次高調波として（２・ｆ１）及び（２・ｆ２）の周波数の信号が発生する。これらの高調波と基本波ｆ１及びｆ２とが相互に干渉することにより、（２・ｆ１−ｆ２）及び（２・ｆ２−ｆ１）の歪信号が発生する。これを相互変調歪といい、（２・ｆ１−ｆ２）及び（２・ｆ２−ｆ１）の歪信号を２信号３次相互変調歪みという。 It is known that harmonics are generated when there is nonlinearity between the input and output of the amplifier 52. For example, when two signals of two different frequencies f1 and f2 are input to the amplifier 52, signals of frequencies (2 · f1) and (2 · f2) are generated as second harmonics. These harmonics and the fundamental waves f1 and f2 interfere with each other, thereby generating (2 · f1-f2) and (2 · f2-f1) distortion signals. This is called intermodulation distortion, and the distortion signals of (2 · f1-f2) and (2 · f2-f1) are called two-signal third-order intermodulation distortion.

具体的には、図６に示すように、低周波側の基本波６１（周波数ｆ１）と、高周波側の基本波６２（周波数ｆ２）を入力した場合、周波数（２・ｆ１−ｆ２）の２信号３次相互変調歪み成分６３と、周波数（２・ｆ２−ｆ１）の２信号３次相互変調歪み成分６４とが発生する。基本波６１と６２との周波数間隔をΔｆとすると、基本波６１と２信号３次相互変調歪み成分６３との周波数間隔、及び、基本波６２と２信号３次相互変調歪み成分６４との周波数間隔はΔｆとなる。 Specifically, as shown in FIG. 6, when a fundamental wave 61 (frequency f1) on the low frequency side and a fundamental wave 62 (frequency f2) on the high frequency side are input, 2 of the frequency (2.multidot.f1-f2). A signal third-order intermodulation distortion component 63 and a two-signal third-order intermodulation distortion component 64 having a frequency (2 · f2-f1) are generated. Assuming that the frequency interval between the fundamental waves 61 and 62 is Δf, the frequency interval between the fundamental wave 61 and the two-signal third-order intermodulation distortion component 63 and the frequency between the fundamental wave 62 and the two-signal third-order intermodulation distortion component 64. The interval is Δf.

次に、スペクトラムアナライザ１における中心周波数の設定機能について図７を用いて説明する。 Next, the center frequency setting function in the spectrum analyzer 1 will be described with reference to FIG.

図７（ａ）は、スペクトラムアナライザ１の表示部１８に２信号歪みの測定結果を表示した一例を示している。図７においては、中心周波数ｆｃをｆ１としている。この表示状態では、２信号３次相互変調歪み成分６４は表示領域外にあり測定者は視認することはできない。 FIG. 7A shows an example in which the measurement result of the two-signal distortion is displayed on the display unit 18 of the spectrum analyzer 1. In FIG. 7, the center frequency fc is f1. In this display state, the two-signal third-order intermodulation distortion component 64 is outside the display area and cannot be visually recognized by the measurer.

図７（ｂ）は、図７（ａ）に示した表示状態において、測定者がキーボード２０を操作し、「２」、「＊」、「Ｍ２」、「−」、「Ｍ１」、「ＥＮＴ」と順次入力したことを示している。このキー入力の情報は入力キー処理部３１によって取得される。 FIG. 7B shows a state in which the measurer operates the keyboard 20 in the display state shown in FIG. 7A, and “2”, “*”, “M2”, “−”, “M1”, “ENT” "Is sequentially input. This key input information is acquired by the input key processing unit 31.

具体的には、中心周波数算出部３２は、図７（ｂ）に示した入力キー「２」「＊」「Ｍ２」「−」「Ｍ１」「ＥＮＴ」という四則演算子、数値及びマーカ設定キー２５の組み合わせからは、「Ｍ２」に対応するマーカｍ２が示す周波数値を２倍し、その値から「Ｍ１」に対応するマーカｍ１が示す周波数値を減算した周波数を求める演算を行うようになっている。ここで、マーカｍ１及びｍ２がそれぞれ示す周波数はｆ１及びｆ２であるから、中心周波数算出部３２は、（２・ｆ２−ｆ１）を求める。すなわち、中心周波数算出部３２は、２信号３次相互変調歪み成分６４の周波数を求めることとなる。 Specifically, the center frequency calculation unit 32 has four arithmetic operators, numerical values, and marker setting keys “2”, “*”, “M2”, “−”, “M1”, and “ENT” shown in FIG. From the combination of 25, the frequency value indicated by the marker m2 corresponding to “M2” is doubled, and an operation for obtaining the frequency obtained by subtracting the frequency value indicated by the marker m1 corresponding to “M1” is performed. ing. Here, since the frequencies indicated by the markers m1 and m2 are f1 and f2, respectively, the center frequency calculation unit 32 obtains (2 · f2-f1). That is, the center frequency calculation unit 32 obtains the frequency of the two-signal third-order intermodulation distortion component 64.

その結果、中心周波数設定部３３は、リアルタイムで中心周波数ｆｃを（２・ｆ２−ｆ１）に変更し、２信号３次相互変調歪み成分６４が表示部１８の中央に表示されることとなる。したがって、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、新たな中心周波数ｆｃが設定された状態を測定者にリアルタイムで提示することができる。 As a result, the center frequency setting unit 33 changes the center frequency fc to (2 · f2-f1) in real time, and the two-signal third-order intermodulation distortion component 64 is displayed at the center of the display unit 18. Therefore, the spectrum analyzer 1 in the present embodiment can present the state in which the new center frequency fc is set to the measurer in real time.

以上のように、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、２信号歪みを測定する場合においても、キーボード２０に入力された四則演算子、数値及びマーカ設定キー２５の組み合わせに基づいて中心周波数を算出し、算出した中心周波数を局部発振器１１に設定するので、従来のように、中心周波数を変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択させる必要がない。 As described above, the spectrum analyzer 1 according to the present embodiment calculates the center frequency based on the combination of the four operators, the numerical value, and the marker setting key 25 input to the keyboard 20 even when measuring two-signal distortion. Since the calculated center frequency is set in the local oscillator 11, it is not necessary to sequentially display a number of menus and select a desired item from each menu in order to change the center frequency, as in the prior art.

したがって、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ１は、２信号歪みを測定する場合においても、中心周波数（パラメータ値）を容易に設定することができる。 Therefore, the spectrum analyzer 1 in this embodiment can easily set the center frequency (parameter value) even when measuring two-signal distortion.

（第３実施形態）
まず、第３実施形態におけるスペクトラムアナライザの構成について説明する。 (Third embodiment)
First, the configuration of the spectrum analyzer in the third embodiment will be described.

図８に示すように、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ２は、制御部７０、タッチパネル８０を備えている。このスペクトラムアナライザ２は、測定装置の一例である。なお、第１実施形態（図１参照）におけるスペクトラムアナライザ１と同様な構成には同一の符号を付して重複する説明は省略する。 As shown in FIG. 8, the spectrum analyzer 2 in this embodiment includes a control unit 70 and a touch panel 80. The spectrum analyzer 2 is an example of a measuring device. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the structure similar to the spectrum analyzer 1 in 1st Embodiment (refer FIG. 1), and the overlapping description is abbreviate | omitted.

制御部７０は、操作検出部７１を備えている。この操作検出部７１は、第１実施形態の入力キー処理部３１の機能に加えて、後述するタッチセンサ８１の検知結果に基づいてタッチパネル８０における測定者の操作を検出するようになっている。 The control unit 70 includes an operation detection unit 71. In addition to the function of the input key processing unit 31 of the first embodiment, the operation detection unit 71 detects a measurement person's operation on the touch panel 80 based on a detection result of a touch sensor 81 described later.

タッチパネル８０は、測定者によるタッチ操作を検知するタッチセンサ８１と、所定の情報を表示する表示部８２と、を備えている。タッチセンサ８１は、タッチパネル８０における測定者の操作を検出し、検出した操作を示す信号を操作検出部７１に出力するようになっている。このタッチセンサ８１は、入力操作検出手段の一例である。表示部８２は、表示処理部３８の表示制御に基づき、信号測定部３６の測定結果や測定条件等を表示するようになっている。 The touch panel 80 includes a touch sensor 81 that detects a touch operation by a measurer, and a display unit 82 that displays predetermined information. The touch sensor 81 detects a measurement person's operation on the touch panel 80 and outputs a signal indicating the detected operation to the operation detection unit 71. The touch sensor 81 is an example of an input operation detection unit. The display unit 82 displays the measurement results and measurement conditions of the signal measurement unit 36 based on the display control of the display processing unit 38.

なお、タッチパネル８０としては、例えば、人体の一部（指先等）や静電ペンなどの接触を検知して、その検知信号を制御部７０に出力する静電容量方式のものであってもよく、又はペン先等の堅い物質の接触を検知してその検知信号を制御部７０に出力する抵抗膜方式のものであってもよく、或いはその他の方式のものであってもよい。 The touch panel 80 may be, for example, a capacitive type that detects contact with a part of a human body (such as a fingertip) or an electrostatic pen and outputs a detection signal to the control unit 70. Alternatively, a resistive film type that detects the contact of a hard substance such as a nib and outputs the detection signal to the control unit 70 may be used, or another type may be used.

次に、本実施形態における操作検出部７１の機能について図９を用いて説明する。 Next, the function of the operation detection unit 71 in this embodiment will be described with reference to FIG.

まず、四則演算子の認識機能について説明する。図９（ａ）に示すように、操作検出部７１は、測定者の指のスライド操作を検出し、その操作に基づいて四則演算子を認識するようになっている。具体的には、操作検出部７１は、測定者がタッチパネル８０上で指を上方向にスライドさせた場合には、この操作を加算演算子「＋」として認識するようになっている。同様に、操作検出部７１は、測定者がタッチパネル８０上で指を下方向にスライドさせた場合には減算演算子「−」、左方向にスライドさせた場合には除算演算子「／」、右方向にスライドさせた場合には乗算演算子「＊」として認識するようになっている。 First, the recognition function of the four operators will be described. As shown in FIG. 9A, the operation detecting unit 71 detects a slide operation of the measurer's finger and recognizes the four operators based on the operation. Specifically, when the measurer slides a finger upward on the touch panel 80, the operation detection unit 71 recognizes this operation as an addition operator “+”. Similarly, the operation detection unit 71 displays a subtraction operator “−” when the measurer slides his / her finger downward on the touch panel 80, and a division operator “/” when the measurer slides the finger leftward. When it is slid rightward, it is recognized as a multiplication operator “*”.

なお、図９（ａ）に示した各スライド方向と各キーとの関係は一例であり、これに限定されない。また、スライド操作に代えて例えばフリック操作を用いてもよい。また、タッチパネル８０上に四則演算キーや数字キー等を表示し、タッチ操作により四則演算子や数値等を入力できる構成としてもよい。 The relationship between each slide direction and each key shown in FIG. 9A is an example, and the present invention is not limited to this. Further, for example, a flick operation may be used instead of the slide operation. Moreover, it is good also as a structure which can display an arithmetic operator, a numerical key, etc. on the touchscreen 80, and can input an arithmetic operator, a numerical value, etc. by touch operation.

次に、数値の入力機能について説明する。図９（ｂ）に示すように、操作検出部７１は、測定者の指のタップ操作を検出し、タップ操作の回数に基づいて数値入力を検出するようになっている。例えば、測定者がタッチパネル８０上で２回のタップ操作を行えば数値「２」、３回のタップ操作を行えば「３」が操作検出部７１によって検出される。 Next, a numerical value input function will be described. As shown in FIG. 9B, the operation detection unit 71 detects a tap operation of the measurer's finger and detects a numerical input based on the number of tap operations. For example, if the measurer performs two tap operations on the touch panel 80, the operation detection unit 71 detects a numerical value “2” and if the measurer performs three tap operations, “3”.

なお、前述のタップ操作に代えて、例えば、測定者がタッチパネル８０上に数字を書く操作を行って、操作検出部７１がその数値を検出する構成であってもよい。 Instead of the tap operation described above, for example, the measurement person may perform an operation of writing a number on the touch panel 80, and the operation detection unit 71 may detect the numerical value.

次に、本実施形態における中心周波数の変更例について図１０を用いて説明する。なお、図１０に示した周波数スペクトラム波形４１は、第１実施形態で説明したもの（図３参照）と同じである。 Next, an example of changing the center frequency in the present embodiment will be described with reference to FIG. The frequency spectrum waveform 41 shown in FIG. 10 is the same as that described in the first embodiment (see FIG. 3).

図１０（ａ）には、タッチパネル８０上に周波数スペクトラム波形４１が示されている。中心周波数ｆｃ＝１ＧＨｚの周波数位置には基本波４２が表示され、２ＧＨｚの周波数位置には第２高調波４３の一部が表示されている。 FIG. 10A shows a frequency spectrum waveform 41 on the touch panel 80. A fundamental wave 42 is displayed at the frequency position of the center frequency fc = 1 GHz, and a part of the second harmonic 43 is displayed at the frequency position of 2 GHz.

図１０（ａ）に示した表示状態において、測定者がタッチパネル８０上で指を右方向にスライドさせた場合には、操作検出部７１は乗算演算子「＊」を検出する。 In the display state shown in FIG. 10A, when the measurer slides his / her finger on the touch panel 80 in the right direction, the operation detection unit 71 detects the multiplication operator “*”.

続いて、図１０（ｂ）に示すように、測定者がタッチパネル８０上で２回タップした場合には、操作検出部７１は数値「２」を検出する。この後、操作検出部７１は、所定時間（例えば１秒間）経過した場合には、数値入力が終了したと判断する。なお、所定時間の経過を数値入力の終了と判断する代わりに、数値入力の終了を示す操作を測定者に行わせる構成としてもよい。 Subsequently, as illustrated in FIG. 10B, when the measurer taps twice on the touch panel 80, the operation detection unit 71 detects the numerical value “2”. Thereafter, when a predetermined time (for example, 1 second) has elapsed, the operation detection unit 71 determines that the numerical value input has ended. Instead of determining that the predetermined time has elapsed, it may be configured to cause the measurer to perform an operation indicating the end of numerical input.

中心周波数算出部３２は、操作検出部７１が、数値入力の終了を判断したことを条件に、現在の中心周波数を２倍する演算を行う。中心周波数設定部３３は、中心周波数ｆｃ＝２ＧＨｚを設定し、その結果、タッチパネル８０には中心周波数ｆｃ＝２ＧＨｚの周波数位置には第２高調波４３が表示され、１ＧＨｚの周波数位置には基本波４２が表示される。 The center frequency calculation unit 32 performs an operation of doubling the current center frequency on condition that the operation detection unit 71 determines the end of numerical input. The center frequency setting unit 33 sets the center frequency fc = 2 GHz, and as a result, the touch panel 80 displays the second harmonic 43 at the frequency position of the center frequency fc = 2 GHz, and the fundamental wave at the frequency position of 1 GHz. 42 is displayed.

次に、図１１を用いて、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ２の中心周波数に関わる動作を説明する。図１１に示すように、ステップＳ２１のみが第１実施形態（図４）と異なるので、ステップＳ２１のみ説明する。 Next, an operation related to the center frequency of the spectrum analyzer 2 in the present embodiment will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 11, only step S21 is different from the first embodiment (FIG. 4), so only step S21 will be described.

ステップＳ２１において、操作検出部７１は、測定者によるタッチパネル８０のタッチ操作を検出し、そのタッチ操作が四則演算処理操作であるか否か、すなわち四則演算子及び数値の入力がなされたか否かを判断する。 In step S21, the operation detection unit 71 detects a touch operation of the touch panel 80 by the measurer, and determines whether or not the touch operation is an arithmetic operation processing operation, that is, whether or not an arithmetic operator and a numerical value are input. to decide.

ステップＳ２１において、操作検出部７１が四則演算子及び数値の入力がなされたと検出した場合には、中心周波数の指示が行われたと判断し、中心周波数算出部３２は中心周波数を算出する（ステップＳ１６）。 In step S21, when the operation detection unit 71 detects that an arithmetic operator and a numerical value are input, it is determined that the center frequency is instructed, and the center frequency calculation unit 32 calculates the center frequency (step S16). ).

ステップＳ２１において、操作検出部７１が四則演算子及び数値の入力がなされたと検出しなかった場合には、制御部３０が入力キーに応じた所定の処理を行う（ステップＳ１７）。 In step S21, when the operation detection unit 71 does not detect that an arithmetic operator and a numerical value have been input, the control unit 30 performs a predetermined process corresponding to the input key (step S17).

以上のように、本実施形態におけるスペクトラムアナライザ２は、タッチパネル８０に入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいて中心周波数を算出し、算出した中心周波数を局部発振器１１に設定するので、従来のように、中心周波数を変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択させる必要がない。 As described above, the spectrum analyzer 2 in the present embodiment calculates the center frequency based on the combination of the four operators and the numerical values input to the touch panel 80, and sets the calculated center frequency in the local oscillator 11, so that In this way, it is not necessary to display a number of menus in order to change the center frequency and to select a desired item from each menu.

（第４実施形態）
第４実施形態では、本発明に係る測定装置を信号発生装置に適用した例を挙げて説明する。 (Fourth embodiment)
In the fourth embodiment, an example in which the measurement apparatus according to the present invention is applied to a signal generator will be described.

まず、第４実施形態における信号発生装置の構成について説明する。 First, the structure of the signal generator in 4th Embodiment is demonstrated.

図１２に示すように、本実施形態における信号発生装置３は、波形データ記憶部９１、デジタルアナログコンバータ（ＤＡＣ）９２、直交変調器９３、自動レベル制御回路（ＡＬＣ）９４、ステップアッテネータ（ステップＡＴＴ）１７、表示制御部９６、表示部９７、キーボード２０、制御部１００を備えている。この信号発生装置３は、測定装置、信号出力装置の一例である。 As shown in FIG. 12, the signal generator 3 in this embodiment includes a waveform data storage unit 91, a digital analog converter (DAC) 92, a quadrature modulator 93, an automatic level control circuit (ALC) 94, a step attenuator (step ATT). ) 17, a display control unit 96, a display unit 97, a keyboard 20, and a control unit 100. This signal generator 3 is an example of a measuring device and a signal output device.

波形データ記憶部９１は、例えば携帯端末装置のような被試験装置を試験するための複数の試験信号データとして、デジタル値のベースバンドの波形データを記憶している。図示を省略したが、測定者は、操作部を操作し、波形データ記憶部９１に記憶された試験信号データを選択できるようになっている。試験信号データは、Ｉ相成分（同相成分）及びＱ相成分（直交成分）のベースバンドの波形データを含む。波形データは、例えばＤＳＰ（Digital Signal Processor）によって生成される。 The waveform data storage unit 91 stores digital value baseband waveform data as a plurality of test signal data for testing a device under test such as a portable terminal device. Although not shown, the measurer can select the test signal data stored in the waveform data storage unit 91 by operating the operation unit. The test signal data includes baseband waveform data of an I-phase component (in-phase component) and a Q-phase component (orthogonal component). The waveform data is generated by, for example, a DSP (Digital Signal Processor).

ＤＡＣ９２は、制御部１００から出力されるサンプリングレートの指示信号に基づいて、波形データ記憶部９１が出力するデジタル値のベースバンド信号波形データをアナログ値に変換して直交変調器９３に出力するようになっている。ここで、サンプリングレートは、パラメータ値の一例である。また、ＤＡＣ９２は、被パラメータ値設定手段の一例である。 Based on the sampling rate instruction signal output from the control unit 100, the DAC 92 converts the digital baseband signal waveform data output from the waveform data storage unit 91 into an analog value and outputs the analog value to the quadrature modulator 93. It has become. Here, the sampling rate is an example of a parameter value. The DAC 92 is an example of a parameter value setting unit.

直交変調器９３は、局部発振信号を生成する機能を有し、ＤＡＣ９２から出力されるベースバンド信号のＩ相成分及びＱ相成分と、局部発振信号とを乗算することにより直交変調及び周波数変換を行って無線周波数の試験信号（ＲＦ試験信号）を生成してＡＬＣ９４に出力するようになっている。 The quadrature modulator 93 has a function of generating a local oscillation signal, and performs quadrature modulation and frequency conversion by multiplying the I-phase component and Q-phase component of the baseband signal output from the DAC 92 by the local oscillation signal. A radio frequency test signal (RF test signal) is generated and output to the ALC 94.

ＡＬＣ９４は、入力したＲＦ試験信号のレベルを所定の電力レベルに設定してステップＡＴＴ９５に出力するようになっている。 The ALC 94 sets the level of the input RF test signal to a predetermined power level and outputs it to the step ATT95.

ステップＡＴＴ９５は、入力したＲＦ試験信号のレベルを所定の減衰量のステップで減衰することができるＡＴＴである。 Step ATT95 is an ATT that can attenuate the level of the input RF test signal by a predetermined attenuation step.

表示制御部９６は、ステップＡＴＴ９５の出力信号の波形を表示部９７でモニタするための表示制御を行うようになっている。 The display control unit 96 performs display control for monitoring the waveform of the output signal of step ATT 95 by the display unit 97.

表示部９７は、表示制御部９６の表示制御に基づき、ステップＡＴＴ９５の出力信号の波形を表示するようになっている。 The display unit 97 displays the waveform of the output signal of step ATT95 based on the display control of the display control unit 96.

制御部１００は、サンプリングレート算出部１０１、サンプリングレート設定部１０２を備えている。 The control unit 100 includes a sampling rate calculation unit 101 and a sampling rate setting unit 102.

サンプリングレート算出部１０１は、入力キー処理部３１が取得した入力キーの情報に基づいて、ＤＡＣ９２のサンプリングレートを算出するようになっている。このサンプリングレート算出部１０１は、パラメータ値算出手段、サンプリングレート算出手段の一例である。 The sampling rate calculation unit 101 is configured to calculate the sampling rate of the DAC 92 based on the input key information acquired by the input key processing unit 31. The sampling rate calculation unit 101 is an example of a parameter value calculation unit and a sampling rate calculation unit.

サンプリングレート設定部１０２は、サンプリングレート算出部１０１が算出により求めたサンプリングレートをＤＡＣ９２に設定するようになっている。このサンプリングレート設定部１０２は、パラメータ値設定手段、サンプリングレート設定手段の一例である。 The sampling rate setting unit 102 sets the sampling rate calculated by the sampling rate calculation unit 101 in the DAC 92. The sampling rate setting unit 102 is an example of parameter value setting means and sampling rate setting means.

次に、サンプリングレート算出部１０１及びサンプリングレート設定部１０２の機能について図１３を用いて説明する。 Next, functions of the sampling rate calculation unit 101 and the sampling rate setting unit 102 will be described with reference to FIG.

図１３（ａ）は、サンプリングレートを１０ＭＨｚとした場合に表示部９７に表示される出力波形１０３を示している。 FIG. 13A shows an output waveform 103 displayed on the display unit 97 when the sampling rate is 10 MHz.

図１３（ｂ）は、図１３（ａ）に示した表示状態において、測定者がキーボード２０を操作し、「＊」、「＝」、「２」、「ＥＮＴ」と順次入力したことを示している。このキー入力の情報は入力キー処理部３１によって取得される。 FIG. 13B shows that in the display state shown in FIG. 13A, the measurer operates the keyboard 20 and sequentially inputs “*”, “=”, “2”, and “ENT”. ing. This key input information is acquired by the input key processing unit 31.

サンプリングレート算出部１０１は、入力キー処理部３１が取得した入力キーの情報に基づいて、予め定められた四則演算を行うようになっている。 The sampling rate calculation unit 101 performs predetermined four arithmetic operations based on the input key information acquired by the input key processing unit 31.

具体的には、サンプリングレート算出部１０１は、図１３（ｂ）に示した入力キー「＊」「＝」「２」の組み合わせからは、現在のサンプリングレートを２倍する演算を行うようになっている。 Specifically, the sampling rate calculation unit 101 performs an operation of doubling the current sampling rate from the combination of the input keys “*”, “=”, and “2” shown in FIG. ing.

図１３（ｃ）は、図１３（ｂ）に示した入力キーにより、サンプリングレート算出部１０１が算出して求めたサンプリングレート＝２０ＭＨｚをサンプリングレート設定部１０２がリアルタイムでＤＡＣ９２に設定し、波形形状が変化した出力波形１０４を表示部９７が表示した表示状態を示している。図示のように、サンプリングレートが１０ＭＨｚから２０ＭＨｚにリアルタイムで変更され、測定者はサンプリングレートの変更により波形がどのように変化するかを容易に把握することができる。 In FIG. 13C, the sampling rate = 20 MHz calculated by the sampling rate calculation unit 101 using the input keys shown in FIG. 13B is set in the DAC 92 in real time by the sampling rate setting unit 102, and the waveform shape is set. A display state is shown in which the display unit 97 displays the output waveform 104 in which is changed. As shown in the figure, the sampling rate is changed in real time from 10 MHz to 20 MHz, and the measurer can easily grasp how the waveform changes due to the change in the sampling rate.

図１３（ｃ）に示した表示状態において、例えば図１３（ｄ）に示すように、測定者がキーボード２０を操作し、「／」、「＝」、「２」、「ＥＮＴ」と順次入力した場合には、サンプリングレート算出部１０１が現在のサンプリングレートを１／２倍する演算を行い、サンプリングレート設定部１０２がリアルタイムでＤＡＣ９２に設定することにより、リアルタイムでサンプリングレートが２０ＭＨｚから１０ＭＨｚに変更された表示状態、すなわち図１３（ａ）に示した表示状態に戻る。 In the display state shown in FIG. 13 (c), for example, as shown in FIG. 13 (d), the measurer operates the keyboard 20 and sequentially inputs “/”, “=”, “2”, “ENT”. In this case, the sampling rate calculation unit 101 performs an operation to halve the current sampling rate, and the sampling rate setting unit 102 sets the DAC 92 in real time, so that the sampling rate is changed from 20 MHz to 10 MHz in real time. It returns to the displayed state, that is, the display state shown in FIG.

次に、図１４を用いて、本実施形態における信号発生装置３のサンプリングレートに関わる動作を説明する。 Next, operations related to the sampling rate of the signal generator 3 in the present embodiment will be described with reference to FIG.

測定者がキーボード２０を操作することにより、入力キー処理部３１によって、サンプリングレートが入力される（ステップＳ３１）。 When the measurer operates the keyboard 20, the sampling rate is input by the input key processing unit 31 (step S31).

サンプリングレート設定部１０２はサンプリングレートをＤＡＣ９２に設定する（ステップＳ３２）。 The sampling rate setting unit 102 sets the sampling rate to the DAC 92 (step S32).

信号発生装置３は、信号発生処理を行う（ステップＳ３３）。すなわち、波形データ記憶部９１は、所定のベースバンドの波形データをＤＡＣ９２に出力し、ＤＡＣ９２は、設定されたサンプリングレートに基づいてＤＡ変換を行って直交変調器９３に出力する。直交変調器９３は、ＤＡＣ９２から出力されるベースバンド信号に対して直交変調及び周波数変換を行ってＲＦ試験信号を生成してＡＬＣ９４に出力する。ＡＬＣ９４は、入力したＲＦ試験信号のレベルを所定の電力レベルに設定してステップＡＴＴ９５に出力する。ステップＡＴＴ９５は、入力したＲＦ試験信号のレベルを所定の減衰量のステップで減衰して表示制御部９６に出力する。 The signal generator 3 performs signal generation processing (step S33). That is, the waveform data storage unit 91 outputs predetermined baseband waveform data to the DAC 92, and the DAC 92 performs DA conversion based on the set sampling rate and outputs it to the quadrature modulator 93. The quadrature modulator 93 performs quadrature modulation and frequency conversion on the baseband signal output from the DAC 92, generates an RF test signal, and outputs the RF test signal to the ALC 94. The ALC 94 sets the level of the input RF test signal to a predetermined power level and outputs it to the step ATT95. Step ATT 95 attenuates the level of the input RF test signal by a predetermined attenuation step and outputs the attenuated signal to display control unit 96.

表示部９７は、表示制御部９６の表示処理により、サンプリングレート設定部１０２によって設定されたサンプリングレートでアナログ変換された信号を表示する（ステップＳ３４）。 The display unit 97 displays a signal analog-converted at the sampling rate set by the sampling rate setting unit 102 by the display processing of the display control unit 96 (step S34).

入力キー処理部３１は、キーボード２０を介して、サンプリングレートを変更する指示が行われたか否かを判断する（ステップＳ３５）。 The input key processing unit 31 determines whether or not an instruction to change the sampling rate is given via the keyboard 20 (step S35).

ステップＳ３５において、入力キー処理部３１は、サンプリングレートを変更する指示が行われたと判断した場合には、サンプリングレート算出部１０１はサンプリングレートを算出する（ステップＳ３６）。 If the input key processing unit 31 determines in step S35 that an instruction to change the sampling rate has been given, the sampling rate calculation unit 101 calculates the sampling rate (step S36).

ステップＳ３５において、入力キー処理部３１は、サンプリングレートを変更する指示が行われたと判断しなかった場合には、制御部１００は、入力キーに応じた所定の処理を行う（ステップＳ３７）。 In step S35, if the input key processing unit 31 does not determine that an instruction to change the sampling rate has been given, the control unit 100 performs a predetermined process corresponding to the input key (step S37).

以上のように、本実施形態における信号発生装置３は、キーボード２０に入力された四則演算子及び数値の組み合わせに基づいてサンプリングレートを算出し、算出したサンプリングレートをＤＡＣ９２に設定するので、従来のように、サンプリングレートを変更するためにいくつものメニューを順次表示し、各メニューから所望の項目を選択させる必要がない。 As described above, the signal generation device 3 in the present embodiment calculates the sampling rate based on the combination of the four operators and the numerical values input to the keyboard 20, and sets the calculated sampling rate in the DAC 92. Thus, it is not necessary to display a number of menus in order to change the sampling rate and to select a desired item from each menu.

したがって、本実施形態における信号発生装置３は、サンプリングレート（パラメータ値）を容易に設定することができる。 Therefore, the signal generator 3 in the present embodiment can easily set the sampling rate (parameter value).

以上のように、本発明に係る測定装置及び測定方法は、パラメータ値を容易に設定することができるという効果を有し、被測定信号の周波数スペクトラム波形を表示するスペクトラムアナライザや、所定の波形の信号を出力する信号出力装置等のような測定装置及び測定方法として有用である。 As described above, the measurement apparatus and the measurement method according to the present invention have an effect that parameter values can be easily set, and a spectrum analyzer that displays a frequency spectrum waveform of a signal under measurement, a predetermined waveform It is useful as a measuring apparatus and measuring method such as a signal output apparatus that outputs a signal.

１、２スペクトラムアナライザ（測定装置）
３信号発生装置（測定装置、信号出力装置）
１１局部発振器（被パラメータ値設定手段）
２０キーボード
２１四則演算キー
２２数値キー
３２中心周波数算出部（パラメータ値算出手段、周波数パラメータ値算出手段）
３３中心周波数設定部（パラメータ値設定手段、周波数パラメータ値設定手段）
８０タッチパネル
８１タッチセンサ（入力操作検出手段）
９２ＤＡＣ（被パラメータ値設定手段）
１０１サンプリングレート算出部（パラメータ値算出手段、サンプリングレート算出手段）
１０２サンプリングレート設定部（パラメータ値設定手段、サンプリングレート設定手段） 1, 2 Spectrum analyzer (measuring device)
3. Signal generator (measuring device, signal output device)
11 Local oscillator (parameter value setting means)
20 Keyboard 21 Four Arithmetic Operation Keys 22 Numeric Keys 32 Center Frequency Calculation Unit (Parameter Value Calculation Unit, Frequency Parameter Value Calculation Unit)
33 Center frequency setting unit (parameter value setting means, frequency parameter value setting means)
80 touch panel 81 touch sensor (input operation detection means)
92 DAC (parameter value setting means)
101 Sampling rate calculator (parameter value calculator, sampling rate calculator)
102 Sampling rate setting section (parameter value setting means, sampling rate setting means)

Claims

A measuring device (1, 3) comprising parameter value setting means (11, 92) for setting a predetermined parameter value,
A keyboard (20) having an arithmetic operation key (21) for inputting an arithmetic operator and a numerical key (22) for inputting a numerical value;
Parameter value calculation means (32, 101) for calculating the parameter value based on a combination of the input four arithmetic operators and numerical values;
Parameter value setting means (33, 102) for setting the parameter value calculated by the parameter value calculation means in the parameter value setting means;
A measuring apparatus comprising:

A measuring apparatus (2) comprising parameter value setting means (11) for setting a predetermined parameter value,
A touch panel (80) having input operation detecting means (81) for detecting an input operation of an arithmetic operator and detecting a numerical input operation;
A parameter value calculating means (32) for calculating a parameter value based on a combination of the input four arithmetic operators and a numerical value;
Parameter value setting means (33) for setting the parameter value calculated by the parameter value calculation means in the parameter value setting means;
A measuring apparatus comprising:

The measuring apparatus according to claim 1 or 2, wherein the parameter value setting means sets the parameter value in the parameter value setting means in real time.

The measurement device is a spectrum analyzer (1, 2) for inputting a signal under measurement and sweeping a predetermined frequency range,
The parameter value is a frequency parameter value related to at least one of a center frequency of the frequency range, a start frequency of the frequency range to be swept, and a stop frequency of the frequency range;
Parameter value calculation means is frequency parameter value calculation means (32) for calculating the frequency parameter value based on a combination of the input four arithmetic operators and numerical values,
The parameter value setting means is frequency parameter value setting means (33) for setting the frequency parameter value calculated by the frequency parameter value calculation means to the parameter value setting means. 4. The measuring apparatus according to any one of up to 3.

The measurement device is a signal output device (3) that outputs a digital signal at a predetermined sampling rate,
The parameter value is the sampling rate;
The parameter value calculating means is a sampling rate calculating means (101) for calculating the sampling rate based on a combination of the inputted four arithmetic operators and numerical values,
The parameter value setting means is sampling rate setting means (102) for setting the sampling rate calculated by the sampling rate calculation means in the parameter value setting means. The measuring apparatus of any one of Claims.

A parameterized value setting means (11, 92) for setting a predetermined parameter value; a keyboard (20) having an arithmetic operation key (21) for inputting an arithmetic operator and a numerical key (22) for inputting a numerical value; A measuring method using a measuring device (1, 3) comprising:
A parameter value calculating step (S16) for calculating the parameter value based on a combination of the input four arithmetic operators and numerical values;
A parameter value setting step (S12) for setting the parameter value calculated in the parameter value calculating step in the parameter value setting means;
A measurement method comprising:

A parameterized value setting means (11) for setting a predetermined parameter value, and a touch panel (80) having an input operation detecting means for detecting an input operation of the four arithmetic operators and detecting a numerical value input operation. A measuring method using the measuring device (2),
A parameter value calculating step (S16) for calculating the parameter value based on a combination of the input four arithmetic operators and numerical values;
A parameter value setting step (S12) for setting the parameter value calculated in the parameter value calculating step in the parameter value setting means;
A measurement method comprising:

The measurement method according to claim 6 or 7, wherein, in the parameter value setting step, the parameter value is set in the parameter value setting means in real time.