JP6840590B2 - Calibration system, calibration jig, calibration method, and calibration program - Google Patents

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本発明は、三次元測定機の校正を行うための校正用システム、校正治具、校正方法、及び校正用プログラムに関する。 The present invention relates to a calibration system, a calibration jig, a calibration method, and a calibration program for calibrating a coordinate measuring machine.

従来、非接触でワークの形状を測定するために光を照射する照射部と撮像部とを有する非接触プローブを備え、光切断法を用いて三次元形状測定を行う三次元測定機が知られている(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, a three-dimensional measuring machine has been known which includes a non-contact probe having an irradiation unit and an imaging unit that irradiate light to measure the shape of a work in a non-contact manner and performs three-dimensional shape measurement using a photocutting method. (See, for example, Patent Document 1).

特開2009−122066号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2009-12206

光切断法を用いた三次元形状測定では、照射部と撮像部との位置が異なるため、撮像画像に対応する座標系を、照射位置を基準とした座標系に変換する必要がある。このため、光切断法を用いた三次元形状測定では、座標系を正確に変換するために、撮像部が撮像した撮像画像における座標位置と、照射位置を基準とした座標位置とを対応付ける校正作業を行う必要がある。 In the three-dimensional shape measurement using the optical cutting method, since the positions of the irradiation unit and the imaging unit are different, it is necessary to convert the coordinate system corresponding to the captured image into a coordinate system based on the irradiation position. Therefore, in the three-dimensional shape measurement using the optical cutting method, in order to accurately convert the coordinate system, the calibration work of associating the coordinate position in the captured image captured by the imaging unit with the coordinate position based on the irradiation position. Need to be done.

従来の校正作業では、非接触プローブを複数の位置に移動させて、複数の位置のそれぞれで線状のレーザ光を照射して校正球を撮像し、複数の撮像画像のそれぞれに写る校正球の輝線に対応する座標と、照射位置を基準としたときの校正球におけるレーザ光の照射位置を示す座標との対応関係を特定する。そして、複数の撮像画像のそれぞれにおいて特定された対応関係に基づいて、複数の撮像画像のそれぞれの座標変換を行った場合に変換後の輝線が一つの球を構成するような変換行列のパラメータを特定する。 In the conventional calibration work, the non-contact probe is moved to a plurality of positions, a linear laser beam is irradiated at each of the plurality of positions to image the calibration ball, and the calibration ball reflected in each of the plurality of captured images. The correspondence between the coordinates corresponding to the emission line and the coordinates indicating the irradiation position of the laser beam on the calibration sphere when the irradiation position is used as a reference is specified. Then, based on the correspondence specified in each of the plurality of captured images, when the coordinates of the plurality of captured images are transformed, the parameters of the transformation matrix such that the converted emission line constitutes one sphere are set. Identify.

しかしながら、校正球を用いる従来の校正作業では、校正球を撮像することから、照射するレーザ光の進行方向に対する傾斜が大きい箇所において系統誤差が発生し、撮像画像から測定された校正球の位置が校正に無視できない量だけずれ、プローブで撮像した撮像画像の座標と、照射部を基準とした座標との対応関係を精度良く特定できなくなるという問題が発生する。 However, in the conventional calibration work using a calibration ball, since the calibration ball is imaged, a systematic error occurs at a place where the inclination of the irradiated laser beam with respect to the traveling direction is large, and the position of the calibration ball measured from the captured image is determined. There is a problem that the correspondence between the coordinates of the captured image captured by the probe and the coordinates with respect to the irradiation unit cannot be accurately specified due to a deviation of an amount that cannot be ignored in the calibration.

そこで、本発明はこれらの点に鑑みてなされたものであり、プローブで撮像した撮像画像の座標と、照射部を基準とした座標との対応関係を精度良く特定することができる校正用システム、校正治具、校正方法、及び校正用プログラムを提供することを目的とする。 Therefore, the present invention has been made in view of these points, and is a calibration system capable of accurately specifying the correspondence between the coordinates of the captured image captured by the probe and the coordinates with reference to the irradiation unit. It is an object of the present invention to provide a calibration jig, a calibration method, and a calibration program.

本発明の第1の態様に係る校正用システムは、三次元測定機と、校正治具と、コンピュータとを備えた校正用システムであって、前記三次元測定機は、第1撮像画像を生成する第1撮像部とレーザ光を照射する照射部とを備えるプローブを有し、前記校正治具は、第2撮像画像を生成する第2撮像部と、前記第2撮像部に重ねて設けられ、前記第2撮像部における位置を特定するための指標を有し、入射光の一部を反射するとともに他の一部を通過させる透過板とを有し、前記コンピュータは、前記照射部を制御して前記透過板にレーザ光を照射させる照射制御部と、前記透過板に前記レーザ光が照射された状態で前記第1撮像部が前記透過板を撮像して生成した前記第1撮像画像を取得する第1取得部と、前記透過板に前記レーザ光が照射された状態で前記第2撮像部が生成した前記第2撮像画像を取得する第2取得部と、前記第1撮像画像に写る前記レーザ光の位置及び前記指標の位置と、前記第2撮像画像に写る前記レーザ光の位置及び前記指標の位置とに基づいて、前記第1撮像画像に対応する座標と前記第2撮像画像に対応する座標との関係を特定する特定部とを有する。 The calibration system according to the first aspect of the present invention is a calibration system including a three-dimensional measuring machine, a calibration jig, and a computer, and the three-dimensional measuring machine generates a first captured image. It has a probe including a first imaging unit and an irradiation unit that irradiates a laser beam, and the calibration jig is provided so as to overlap the second imaging unit that generates a second imaging image and the second imaging unit. The computer has an index for specifying a position in the second imaging unit, a transmission plate that reflects a part of the incident light and allows the other part to pass through, and the computer controls the irradiation unit. The irradiation control unit that irradiates the transmission plate with the laser beam and the first imaging image generated by the first imaging unit imaging the transmission plate while the transmission plate is irradiated with the laser beam. The first acquisition unit to be acquired, the second acquisition unit that acquires the second captured image generated by the second imaging unit while the transmission plate is irradiated with the laser beam, and the first captured image are captured. Based on the position of the laser beam and the position of the index, the position of the laser beam reflected in the second captured image, and the position of the index, the coordinates corresponding to the first captured image and the second captured image It has a specific part that specifies the relationship with the corresponding coordinates.

前記透過板は、所定の間隔で設けられた複数の前記指標を有していてもよい。
前記第2撮像部及び前記透過板は長方形状であり、前記透過板は、短手方向に延びるスリット状の複数の前記指標を有し、前記照射部は、線状のレーザ光を照射し、前記照射制御部は、前記照射部を制御して前記透過板の長手方向に前記線状のレーザ光を照射させ、前記特定部は、前記第1撮像画像に写る前記線状のレーザ光に対応する複数の位置の座標と、前記第2撮像画像に対応する複数の座標との関係を特定してもよい。
The transmission plate may have a plurality of the indexes provided at predetermined intervals.
The second imaging unit and the transmission plate have a rectangular shape, the transmission plate has a plurality of slit-shaped indexes extending in the lateral direction, and the irradiation unit irradiates a linear laser beam. The irradiation control unit controls the irradiation unit to irradiate the linear laser light in the longitudinal direction of the transmission plate, and the specific unit corresponds to the linear laser light reflected in the first captured image. The relationship between the coordinates of the plurality of positions to be used and the plurality of coordinates corresponding to the second captured image may be specified.

前記コンピュータは、前記校正治具の法線方向に前記プローブを移動させる移動制御部をさらに有し、前記移動制御部は、前記プローブを前記校正治具の法線方向の複数の位置のそれぞれに移動させ、前記照射制御部は、前記複数の位置のそれぞれにおいて前記照射部にレーザ光を照射させ、前記取得部は、前記複数の位置のそれぞれにおいて前記第1撮像画像及び前記第2撮像画像を取得し、前記特定部は、前記複数の位置のそれぞれにおいて前記第1撮像画像に対応する座標と前記第2撮像画像に対応する座標との関係を特定してもよい。 The computer further includes a movement control unit that moves the probe in the normal direction of the calibration jig, and the movement control unit moves the probe to each of a plurality of positions in the normal direction of the calibration jig. The irradiation control unit moves the irradiation control unit to irradiate the irradiation unit with a laser beam at each of the plurality of positions, and the acquisition unit emits the first captured image and the second captured image at each of the plurality of positions. The specific unit may specify the relationship between the coordinates corresponding to the first captured image and the coordinates corresponding to the second captured image at each of the plurality of positions.

前記指標における入射光の反射率及び透過率は、前記透過板の他の領域における入射光の反射率及び透過率と異なっていてもよい。
前記第2撮像部の画素数は、前記第1撮像部の画素数に比べて多くてもよい。
The reflectance and transmittance of the incident light in the index may be different from the reflectance and transmittance of the incident light in other regions of the transmission plate.
The number of pixels of the second imaging unit may be larger than the number of pixels of the first imaging unit.

本発明の第2の態様に係る校正治具は、第1撮像画像を生成する第1撮像部とレーザ光を照射する照射部とを備えるプローブを有する三次元測定機の校正に用いられる校正治具であって、第2撮像画像を生成する第2撮像部と、前記第2撮像部に重ねて設けられ、前記第2撮像部における位置を特定するための指標を有し、入射光の一部を反射するとともに他の一部を通過させる透過板とを有する。 The calibration jig according to the second aspect of the present invention is a calibration jig used for calibrating a three-dimensional measuring machine having a probe including a first imaging unit for generating a first image and an irradiation unit for irradiating a laser beam. It is a jig, which is provided so as to overlap the second imaging unit and the second imaging unit that generates the second image, and has an index for specifying the position in the second imaging unit, and is one of the incident light. It has a transmission plate that reflects the portion and allows the other portion to pass through.

本発明の第3の態様に係る校正方法は、コンピュータが実行する、校正治具を用いた三次元測定機の校正方法であって、前記三次元測定機は、第1撮像画像を生成する第1撮像部とレーザ光を照射する照射部とを備えるプローブを有し、前記校正治具は、第2撮像画像を生成する第2撮像部と、前記第2撮像部に重ねて設けられ、前記第2撮像部における位置を特定するための指標を有し、入射光の一部を反射するとともに他の一部を通過させる透過板とを有し、前記照射部を制御して前記透過板にレーザ光を照射させるステップと、前記透過板に前記レーザ光が照射された状態で前記第1撮像部が前記透過板を撮像して生成した前記第1撮像画像と、前記透過板に前記レーザ光が照射された状態で前記第2撮像部が生成した前記第2撮像画像とを取得するステップと、前記第1撮像画像に写る前記レーザ光の位置及び前記指標の位置と、前記第2撮像画像に写る前記レーザ光の位置及び前記指標の位置とに基づいて、前記第1撮像画像に対応する座標と前記第2撮像画像に対応する座標との関係を特定するステップと、を有する。 The calibration method according to the third aspect of the present invention is a method of calibrating a three-dimensional measuring machine using a calibration jig executed by a computer, and the three-dimensional measuring machine generates a first captured image. It has a probe including one imaging unit and an irradiation unit that irradiates a laser beam, and the calibration jig is provided so as to overlap the second imaging unit that generates a second imaging image and the second imaging unit. It has an index for specifying the position in the second imaging unit, has a transmission plate that reflects a part of the incident light and allows the other part to pass through, and controls the irradiation unit to the transmission plate. The step of irradiating the laser beam, the first image captured by the first imaging unit by imaging the transmission plate while the transmission plate is irradiated with the laser beam, and the laser beam on the transmission plate. The step of acquiring the second captured image generated by the second imaging unit in a state of being irradiated with, the position of the laser beam and the position of the index reflected in the first captured image, and the second captured image. It has a step of specifying the relationship between the coordinates corresponding to the first captured image and the coordinates corresponding to the second captured image based on the position of the laser beam and the position of the index reflected in the image.

本発明の第4の態様に係る校正用プログラムは、校正治具を用いた三次元測定機の校正用プログラムであって、前記三次元測定機は、第1撮像画像を生成する第1撮像部とレーザ光を照射する照射部とを備えるプローブを有し、前記校正治具は、第2撮像画像を生成する第2撮像部と、前記第2撮像部に重ねて設けられ、前記第2撮像部における位置を特定するための指標を有し、入射光の一部を反射するとともに他の一部を通過させる透過板とを有し、コンピュータを、前記照射部を制御して前記透過板にレーザ光を照射させる照射制御部、前記透過板に前記レーザ光が照射された状態で前記第1撮像部が前記透過板を撮像して生成した前記第1撮像画像と、前記透過板に前記レーザ光が照射された状態で前記第2撮像部が生成した前記第2撮像画像とを取得する取得部、及び前記第1撮像画像に写る前記レーザ光の位置及び前記指標の位置と、前記第2撮像画像に写る前記レーザ光の位置及び前記指標の位置とに基づいて、前記第1撮像画像に対応する座標と前記第2撮像画像に対応する座標との関係を特定する特定部、として機能させる。 The calibration program according to the fourth aspect of the present invention is a calibration program for a three-dimensional measuring machine using a calibration jig, and the three-dimensional measuring machine is a first imaging unit that generates a first captured image. The calibration jig has a probe including an irradiation unit for irradiating a laser beam and a second imaging unit, and the calibration jig is provided so as to overlap the second imaging unit and the second imaging unit. It has an index for specifying the position in the unit, has a transmission plate that reflects a part of the incident light and allows the other part to pass through, and controls the irradiation unit to the transmission plate. An irradiation control unit that irradiates a laser beam, the first image captured image generated by the first imaging unit imaging the transmission plate while the transmission plate is irradiated with the laser light, and the laser on the transmission plate. The acquisition unit that acquires the second captured image generated by the second imaging unit in a state of being irradiated with light, the position of the laser beam and the position of the index that appear in the first captured image, and the second image. It functions as a specific unit that specifies the relationship between the coordinates corresponding to the first captured image and the coordinates corresponding to the second captured image based on the position of the laser beam and the position of the index reflected in the captured image. ..

本発明によれば、プローブで撮像した撮像画像の座標と、照射部を基準とした座標との対応関係を精度良く特定することができるという効果を奏する。 According to the present invention, there is an effect that the correspondence between the coordinates of the captured image captured by the probe and the coordinates with respect to the irradiation unit can be accurately specified.

本実施形態に係る校正用システムの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the calibration system which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る校正治具の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the calibration jig which concerns on this embodiment. 本実施形態に係るコンピュータの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the computer which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る三次元測定機の校正に係る処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of the process which concerns on the calibration of the coordinate measuring machine which concerns on this embodiment. 本実施形態に係る第1撮像画像及び第2撮像画像の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the 1st captured image and the 2nd captured image which concerns on this embodiment. 本実施形態に係るu座標(ui)におけるシート光の輝線の強度の変化を示す図である。It is a figure which shows the change of the intensity of the emission line of the sheet light in the u coordinate (ui) which concerns on this embodiment.

[校正用システムSの構成]
図1は、本実施形態に係る校正用システムSの構成を示す図である。校正用システムSは、三次元測定機1と、校正治具2と、コンピュータ3とを備え、三次元測定機1の校正に用いられるシステムである。
[Configuration of calibration system S]
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a calibration system S according to the present embodiment. The calibration system S includes a three-dimensional measuring machine 1, a calibration jig 2, and a computer 3, and is a system used for calibrating the three-dimensional measuring machine 1.

三次元測定機1は、3軸方向に移動可能なプローブ11を備える。プローブ11は、線状のレーザ光(以下、シート光という。)を照射する照射部111と、第1撮像画像を生成する撮像部112とを備える。 The coordinate measuring machine 1 includes a probe 11 that can move in three axial directions. The probe 11 includes an irradiation unit 111 that irradiates a linear laser beam (hereinafter referred to as sheet light) and an imaging unit 112 that generates a first captured image.

校正治具2は、第2撮像画像を生成する第2撮像部としてのイメージセンサと、透過板とを有する。透過板は、イメージセンサが生成した第2画像に写るシート光LSの位置を特定するための指標を有し、シート光LSの一部を反射させるとともに、他の一部を通過させる。 The calibration jig 2 has an image sensor as a second imaging unit that generates a second captured image, and a transmission plate. The transmissive plate has an index for specifying the position of the sheet light LS reflected in the second image generated by the image sensor, reflects a part of the sheet light LS and allows the other part to pass through.

コンピュータ3は、三次元測定機1及び校正治具2と通信可能に接続されている。校正用システムSにおいて三次元測定機1の校正を行う場合には、校正治具2を三次元測定機1の測定盤に載置し、照射部111に、シート光LSを校正治具2の透過板に照射させる。コンピュータ3は、校正治具2の透過板にシート光LSが照射された状態で撮像部112が生成した第1撮像画像及びイメージセンサが生成した第2撮像画像を取得し、第1撮像画像に写るシート光LSの位置及び指標の位置と、第2撮像画像に写るシート光LSの位置及び指標の位置とに基づいて、第1撮像画像に対応する座標と第2撮像画像に対応する座標との関係を特定する。 The computer 3 is communicably connected to the coordinate measuring machine 1 and the calibration jig 2. When calibrating the coordinate measuring machine 1 in the calibration system S, the calibration jig 2 is placed on the measuring panel of the coordinate measuring machine 1, and the sheet light LS is placed on the irradiation unit 111 of the calibration jig 2. Irradiate the transmission plate. The computer 3 acquires the first captured image generated by the imaging unit 112 and the second captured image generated by the image sensor in a state where the transmission plate of the calibration jig 2 is irradiated with the sheet light LS, and uses the first captured image as the first captured image. Based on the position of the sheet light LS to be captured and the position of the index, and the position of the sheet light LS to be captured and the position of the index, the coordinates corresponding to the first captured image and the coordinates corresponding to the second captured image Identify the relationship.

イメージセンサが撮像する第2撮像画像に対応する座標を、照射部111を基準とした座標に対応させることにより、校正用システムSは、プローブ11の撮像部112で撮像した撮像画像の座標の位置と、照射部111を基準とした座標の位置との対応関係を特定することができる。また、第2撮像画像は、校正球を撮像した撮像画像のように系統誤差を含まないことから、プローブ11の撮像部112で撮像した第1撮像画像の座標の位置と、照射部111を基準とした座標の位置との対応関係を精度良く特定することができる。
以下、校正用システムSの詳細な構成を説明する。
By making the coordinates corresponding to the second captured image captured by the image sensor correspond to the coordinates with reference to the irradiation unit 111, the calibration system S can perform the position of the coordinates of the captured image captured by the imaging unit 112 of the probe 11. And the correspondence relationship with the position of the coordinates with respect to the irradiation unit 111 can be specified. Further, since the second captured image does not include a systematic error like the captured image obtained by capturing the calibration ball, the position of the coordinates of the first captured image captured by the imaging unit 112 of the probe 11 and the irradiation unit 111 are used as a reference. It is possible to accurately identify the correspondence with the position of the coordinates.
Hereinafter, the detailed configuration of the calibration system S will be described.

[校正治具2の構成]
図2は、本実施形態に係る校正治具2の構成を示す図である。図2(a)は、校正治具2の平面図であり、図2(b)は、校正治具2の側面図である。図2(a)、(b)に示すように、校正治具2は、イメージセンサ21と、透過板22とを有する。
[Construction of calibration jig 2]
FIG. 2 is a diagram showing a configuration of a calibration jig 2 according to the present embodiment. FIG. 2A is a plan view of the calibration jig 2, and FIG. 2B is a side view of the calibration jig 2. As shown in FIGS. 2A and 2B, the calibration jig 2 has an image sensor 21 and a transmission plate 22.

イメージセンサ21及び透過板22は、いずれも長方形状である。また、イメージセンサ21の受光面は平面であるものとする。イメージセンサ21は、複数の画素を有しており、入射光を検出して第2撮像画像を生成する。ここで、イメージセンサ21の画素数は、撮像部112の画素数に比べて多いものとする。イメージセンサ21は、生成した第2撮像画像をコンピュータ3に出力する。 Both the image sensor 21 and the transmission plate 22 have a rectangular shape. Further, it is assumed that the light receiving surface of the image sensor 21 is a flat surface. The image sensor 21 has a plurality of pixels, detects incident light, and generates a second captured image. Here, it is assumed that the number of pixels of the image sensor 21 is larger than the number of pixels of the imaging unit 112. The image sensor 21 outputs the generated second captured image to the computer 3.

透過板22は、例えば、ハーフミラーやすりガラスによって構成される。透過板22は、イメージセンサ21に重ねて設けられており、入射光の一部を反射するとともに他の一部を通過させる。また、透過板22は、入射光を散乱させて反射するとともに、入射光を散乱させて通過させる。透過板22は、イメージセンサ21における位置を特定するための指標221を有している。図2(a)に示すように、指標221は、短手方向に延びるスリット状であり、所定の間隔dで複数設けられている。 The transmission plate 22 is made of, for example, a half mirror or frosted glass. The transmission plate 22 is provided so as to be overlapped with the image sensor 21, and reflects a part of the incident light and passes the other part. Further, the transmission plate 22 scatters and reflects the incident light, and also scatters and passes the incident light. The transmission plate 22 has an index 221 for specifying a position on the image sensor 21. As shown in FIG. 2A, the index 221 has a slit shape extending in the lateral direction, and a plurality of indexes 221 are provided at a predetermined interval d.

指標221における入射光の反射率及び透過率は、透過板22の他の領域における入射光の反射率及び透過率と異なる。これにより、撮像部112によって生成された第1撮像画像及びイメージセンサ21によって生成された第2撮像画像では、指標221が、シート光が照射される他の領域と異なる態様で表示されるので、撮像画像から指標221の位置を特定することができる。 The reflectance and transmittance of the incident light in the index 221 are different from the reflectance and transmittance of the incident light in other regions of the transmission plate 22. As a result, in the first captured image generated by the imaging unit 112 and the second captured image generated by the image sensor 21, the index 221 is displayed in a manner different from that of the other regions irradiated with the sheet light. The position of the index 221 can be specified from the captured image.

[コンピュータ3の構成]
図3は、本実施形態に係るコンピュータ3の構成を示す図である。図3に示すように、コンピュータ3は、記憶部31と、制御部32とを備える。
[Computer 3 configuration]
FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a computer 3 according to the present embodiment. As shown in FIG. 3, the computer 3 includes a storage unit 31 and a control unit 32.

記憶部31は、例えばROM及びRAM等である。記憶部31は、コンピュータ3を機能させるための各種プログラムを記憶する。記憶部31は、制御部32を、後述する移動制御部321、照射制御部322、取得部323、及び特定部324として機能させる校正用プログラムを記憶する。また、記憶部31は、制御部32の制御に応じて、第1撮像画像に対応する座標と第2撮像画像に対応する座標との関係を示す情報を記憶する。 The storage unit 31 is, for example, a ROM, a RAM, or the like. The storage unit 31 stores various programs for operating the computer 3. The storage unit 31 stores a calibration program that causes the control unit 32 to function as the movement control unit 321, the irradiation control unit 322, the acquisition unit 323, and the specific unit 324, which will be described later. Further, the storage unit 31 stores information indicating the relationship between the coordinates corresponding to the first captured image and the coordinates corresponding to the second captured image according to the control of the control unit 32.

制御部32は、例えばCPUである。制御部32は、記憶部31に記憶されている各種プログラムを実行することにより、コンピュータ3に係る機能を制御する。制御部32は、移動制御部321と、照射制御部322と、取得部323と、特定部324とを備える。以下に、制御部32の各機能の詳細について、三次元測定機1の校正に係る処理の流れを示すフローチャートを参照しながら説明する。 The control unit 32 is, for example, a CPU. The control unit 32 controls the functions related to the computer 3 by executing various programs stored in the storage unit 31. The control unit 32 includes a movement control unit 321, an irradiation control unit 322, an acquisition unit 323, and a specific unit 324. The details of each function of the control unit 32 will be described below with reference to a flowchart showing a flow of processing related to calibration of the coordinate measuring machine 1.

[校正に係る処理の流れ]
図4は、本実施形態に係る三次元測定機1の校正に係る処理の流れを示すフローチャートである。
まず、三次元測定機1の校正を行う作業者は、校正治具2を三次元測定機1の測定盤に載置する(S10)。ここで、校正治具2は、イメージセンサ21の法線方向が、プローブのZ軸方向と一致するとともに、照射部111から照射されるシート光が透過板22の長手方向に照射されるように載置されるものとする。また、撮像部112の撮像位置が透過板22の真上から短手方向にずれた位置になるものとする。
[Flow of processing related to calibration]
FIG. 4 is a flowchart showing a processing flow related to calibration of the coordinate measuring machine 1 according to the present embodiment.
First, the operator who calibrates the coordinate measuring machine 1 places the calibration jig 2 on the measuring panel of the coordinate measuring machine 1 (S10). Here, in the calibration jig 2, the normal direction of the image sensor 21 coincides with the Z-axis direction of the probe, and the sheet light emitted from the irradiation unit 111 is irradiated in the longitudinal direction of the transmission plate 22. It shall be placed. Further, it is assumed that the imaging position of the imaging unit 112 is shifted from directly above the transmission plate 22 in the lateral direction.

続いて、移動制御部321は、予め設定されている測定開始位置にプローブ11を移動させる(S20)。なお、移動制御部321は、校正治具2の載置位置に基づいて測定開始位置を決定し、当該測定開始位置にプローブ11を移動させるようにしてもよい。 Subsequently, the movement control unit 321 moves the probe 11 to a preset measurement start position (S20). The movement control unit 321 may determine the measurement start position based on the mounting position of the calibration jig 2 and move the probe 11 to the measurement start position.

続いて、照射制御部322は、プローブ11の照射部111を制御して、校正治具2の透過板22にシート光を照射させる(S30)。具体的には、照射制御部322は、照射部111を制御して、透過板22の長手方向にシート光を照射させる。照射制御部322は、シート光が透過板22の長手方向の両端に照射されるように、シート光を照射させる。 Subsequently, the irradiation control unit 322 controls the irradiation unit 111 of the probe 11 to irradiate the transmission plate 22 of the calibration jig 2 with the sheet light (S30). Specifically, the irradiation control unit 322 controls the irradiation unit 111 to irradiate the sheet light in the longitudinal direction of the transmission plate 22. The irradiation control unit 322 irradiates the sheet light so that both ends of the transmission plate 22 in the longitudinal direction are irradiated with the sheet light.

続いて、取得部323は、校正治具2の透過板22にシート光が照射された状態で、プローブ11の撮像部112が透過板22を撮像して生成した第1撮像画像と、イメージセンサ21が生成した第2撮像画像とを取得する(S40)。例えば、取得部323は、照射部111がシート光を透過板22に照射したタイミングで、撮像部112に透過板22を含む領域を撮像させることによって第1撮像画像を生成させ、撮像部112から第1撮像画像を取得する。また、取得部323は、照射部111がシート光を透過板22に照射したタイミングでイメージセンサ21に第2撮像画像を生成させ、イメージセンサ21から第2撮像画像を取得する。 Subsequently, the acquisition unit 323 receives the first image captured by the imaging unit 112 of the probe 11 in a state where the transmission plate 22 of the calibration jig 2 is irradiated with the sheet light, and the image sensor. The second captured image generated by 21 is acquired (S40). For example, the acquisition unit 323 generates a first image to be captured by causing the image pickup unit 112 to image a region including the transmission plate 22 at the timing when the irradiation unit 111 irradiates the transmission plate 22 with the sheet light, and the image pickup unit 112 generates a first image. The first captured image is acquired. Further, the acquisition unit 323 causes the image sensor 21 to generate a second captured image at the timing when the irradiation unit 111 irradiates the transmission plate 22 with the sheet light, and acquires the second captured image from the image sensor 21.

続いて、特定部324は、第1撮像画像に写るシート光の位置及び指標221の位置と、第2撮像画像に写るシート光の位置及び指標221の位置とに基づいて、第1撮像画像に対応する座標と第2撮像画像に対応する座標との関係を特定する(S50)。 Subsequently, the specific unit 324 attaches to the first captured image based on the position of the sheet light and the position of the index 221 reflected in the first captured image and the position of the sheet light and the position of the index 221 reflected in the second captured image. The relationship between the corresponding coordinates and the coordinates corresponding to the second captured image is specified (S50).

図5は、本実施形態に係る第1撮像画像及び第2撮像画像の一例を示す図である。図5に示すように、第1撮像画像にはシート光の輝線BL1が表示されているとともに、第2撮像画像にはシート光の輝線BL2が表示されている。ここで、第1撮像画像における横方向をu軸、縦方向をv軸、第2撮像画像における横方向をX軸、縦方向をY軸とする。 FIG. 5 is a diagram showing an example of a first captured image and a second captured image according to the present embodiment. As shown in FIG. 5, the bright line BL1 of the sheet light is displayed in the first captured image, and the bright line BL2 of the sheet light is displayed in the second captured image. Here, the horizontal direction in the first captured image is the u-axis, the vertical direction is the v-axis, the horizontal direction in the second captured image is the X-axis, and the vertical direction is the Y-axis.

特定部324は、第1撮像画像において取りうるu座標のそれぞれにおける輝線BL1の中心位置を示すv座標を特定する。例えば、特定部324は、i=0とし、輝線BL1に基づいて、第1撮像画像における座標(ui,vi)を特定する。図6は、u座標(ui)に対応する輝線の強度を示す図である。特定部324は、u座標(ui)に対応するv座標を、輝線の強度が最も強い座標値viに特定する。これにより、第1撮像画像において一つの座標(ui,vi)が特定される。 The identification unit 324 specifies the v-coordinate indicating the center position of the emission line BL1 at each of the u-coordinates that can be taken in the first captured image. For example, the identification unit 324 sets i = 0 and specifies the coordinates (ui, vi) in the first captured image based on the emission line BL1. FIG. 6 is a diagram showing the intensity of the emission line corresponding to the u coordinate (ui). The identification unit 324 specifies the v coordinate corresponding to the u coordinate (ui) to the coordinate value vi having the strongest emission line intensity. As a result, one coordinate (ui, vi) is specified in the first captured image.

続いて、特定部324は、第1撮像画像に写る複数の指標221の位置と、第2撮像画像に写る複数の指標221の位置とに基づいて、第2撮像画像から、u座標(ui)に対応するX座標(Xi)を特定する。また、特定部324は、X座標(Xi)に対応するY座標を、輝線の強度が最も強い座標値Yiに特定する。また、特定部324は、プローブ11の位置に基づいて第2撮像画像に対応するZ座標を特定する。これにより、第1撮像画像における座標(ui,vi)に対応する第2撮像画像上の座標(Xi,Yi)及びZ座標が特定される。 Subsequently, the specific unit 324 refers to the u coordinate (ui) from the second captured image based on the positions of the plurality of indexes 221 captured in the first captured image and the positions of the plurality of indexes 221 captured in the second captured image. The X coordinate (Xi) corresponding to is specified. Further, the identification unit 324 specifies the Y coordinate corresponding to the X coordinate (Xi) to the coordinate value Yi having the strongest emission line intensity. Further, the identification unit 324 specifies the Z coordinate corresponding to the second captured image based on the position of the probe 11. Thereby, the coordinates (Xi, Yi) and the Z coordinates on the second captured image corresponding to the coordinates (ui, vi) in the first captured image are specified.

ここで、透過板22には所定の間隔で複数の指標221が設けられていることから、特定部324は、第1撮像画像における座標(ui,vi)に近い指標221に基づいて第2撮像画像上の座標(Xi,Yi)を精度良く特定することができる。また、イメージセンサ21の画素数は、撮像部112の画素数に比べて多いことから、第2撮像画像の解像度は第1撮像画像の解像度に比べて高くなる。これにより、第1撮像画像における座標(ui,vi)に対応する第2撮像画像上の座標(Xi,Yi)を高精度で特定することができる。 Here, since the transmission plate 22 is provided with a plurality of indexes 221 at predetermined intervals, the specific unit 324 receives the second image based on the index 221 close to the coordinates (ui, vi) in the first image. The coordinates (Xi, Yi) on the image can be specified with high accuracy. Further, since the number of pixels of the image sensor 21 is larger than the number of pixels of the imaging unit 112, the resolution of the second captured image is higher than the resolution of the first captured image. Thereby, the coordinates (Xi, Yi) on the second captured image corresponding to the coordinates (ui, vi) in the first captured image can be specified with high accuracy.

特定部324は、iを1ずつ増加させながら上述の処理を行うことにより、第1撮像画像に写るシート光に対応する複数の位置の座標と、第2撮像画像に対応する複数の座標との関係を特定する。 By performing the above processing while increasing i by 1, the specific unit 324 has the coordinates of a plurality of positions corresponding to the sheet light reflected in the first captured image and the coordinates of the plurality of positions corresponding to the second captured image. Identify the relationship.

続いて、移動制御部321は、プローブ11が規定位置まで移動したか否かを判定する。ここで、規定位置は、例えば、プローブ11がZ方向に移動したことにより、第1撮像画像に写るシート光の軌跡が、第1撮像画像に写らなくなる位置である。移動制御部321は、規定位置まで移動したと判定すると、本フローチャートに係る処理を終了し、規定位置まで移動していないと判定すると、S70に処理を移す。 Subsequently, the movement control unit 321 determines whether or not the probe 11 has moved to the specified position. Here, the defined position is, for example, a position where the locus of the sheet light captured in the first captured image is not captured in the first captured image due to the movement of the probe 11 in the Z direction. When it is determined that the movement control unit 321 has moved to the specified position, the process according to this flowchart is terminated, and when it is determined that the process has not moved to the specified position, the process is transferred to S70.

S70において、移動制御部321は、プローブ11をZ方向(イメージセンサ21の法線方向)に所定量移動させる。プローブ11をZ方向に移動させることにより、第1撮像画像に写るシート光の位置は、v軸方向(第1撮像画像における上下方向)に変化する。その後、制御部32は、S70の処理が終了すると、S30に処理を移す。 In S70, the movement control unit 321 moves the probe 11 in the Z direction (normal direction of the image sensor 21) by a predetermined amount. By moving the probe 11 in the Z direction, the position of the sheet light reflected in the first captured image changes in the v-axis direction (vertical direction in the first captured image). After that, when the processing of S70 is completed, the control unit 32 shifts the processing to S30.

その後、S30〜S70の処理を繰り返すことにより、校正用システムSにおいて、移動制御部321は、プローブ11を校正治具2の法線方向の複数の位置のそれぞれに移動させ、照射制御部322は、当該複数の位置のそれぞれにおいて照射部111にシート光を照射させ、取得部323は、当該複数の位置のそれぞれにおいて第1撮像画像及び前記第2撮像画像を取得し、特定部324は、当該複数の位置のそれぞれにおいて第1撮像画像に対応する座標と第2撮像画像に対応する座標との関係を特定する。 After that, by repeating the processes of S30 to S70, in the calibration system S, the movement control unit 321 moves the probe 11 to each of a plurality of positions in the normal direction of the calibration jig 2, and the irradiation control unit 322 The irradiation unit 111 is irradiated with sheet light at each of the plurality of positions, the acquisition unit 323 acquires the first captured image and the second captured image at each of the plurality of positions, and the specific unit 324 obtains the first captured image and the second captured image. The relationship between the coordinates corresponding to the first captured image and the coordinates corresponding to the second captured image is specified at each of the plurality of positions.

プローブ11をZ方向に移動すると、第1撮像画像に写るシート光の位置がv軸方向に変化することから、特定部324は、プローブ11がZ方向に移動するごとに、第2撮像画像上の座標との対応関係が特定されていない第1撮像画像上の新たな座標において、第2撮像画像上の座標との対応関係を特定することができる。 When the probe 11 is moved in the Z direction, the position of the sheet light reflected in the first captured image changes in the v-axis direction. Therefore, the specific unit 324 is on the second captured image each time the probe 11 is moved in the Z direction. In the new coordinates on the first captured image in which the correspondence with the coordinates of is not specified, the correspondence with the coordinates on the second captured image can be specified.

また、特定部324は、プローブ11をZ方向に移動させるだけで、第2撮像画像上の座標との対応関係が特定されていない第1撮像画像上の新たな座標において、第2撮像画像上の座標との対応関係を特定することができる。したがって、校正球を用いて第1撮像画像上の座標と第2撮像画像上の座標との対応関係を特定する場合に比べて、第1撮像画像上の座標と第2撮像画像上の座標との対応関係を高速に特定することができる。 Further, the specific unit 324 simply moves the probe 11 in the Z direction, and at new coordinates on the first captured image whose correspondence with the coordinates on the second captured image is not specified, on the second captured image. It is possible to specify the correspondence with the coordinates of. Therefore, as compared with the case of specifying the correspondence between the coordinates on the first captured image and the coordinates on the second captured image using the calibration sphere, the coordinates on the first captured image and the coordinates on the second captured image Correspondence can be identified at high speed.

[変形例]
なお、上述の実施形態では、照射部111は、シート光を透過板22に照射したが、これに限らない。例えば、照射部111は、透過板22の一点にレーザ光を照射するポイント光を搖動させる走査を行うようにしてもよい。そして、特定部324は、ポイント光が照射された状態の第1撮像画像及び第2撮像画像に基づいて、第1撮像画像に対応する座標と第2撮像画像に対応する座標との関係を特定してもよい。
[Modification example]
In the above-described embodiment, the irradiation unit 111 irradiates the transmission plate 22 with the sheet light, but the present invention is not limited to this. For example, the irradiation unit 111 may perform scanning by oscillating a point light that irradiates a point of the transmission plate 22 with a laser beam. Then, the specific unit 324 specifies the relationship between the coordinates corresponding to the first captured image and the coordinates corresponding to the second captured image based on the first captured image and the second captured image in the state of being irradiated with the point light. You may.

[本実施形態における効果]
以上説明したように、本実施形態に係る校正用システムSでは、コンピュータ3は、
照射部111を制御して透過板22にレーザ光を照射させる照射制御部322と、透過板22にレーザ光が照射された状態で撮像部112が透過板22を撮像して生成した第1撮像画像と、透過板22にレーザ光が照射された状態でイメージセンサ21が生成した第2撮像画像とを取得する取得部323と、第1撮像画像に写るレーザ光の位置及び指標の位置と、第2撮像画像に写るレーザ光の位置及び指標の位置とに基づいて、第1撮像画像に対応する座標と第2撮像画像に対応する座標との関係を特定する特定部324とを有する。
[Effect in this embodiment]
As described above, in the calibration system S according to the present embodiment, the computer 3 is
The irradiation control unit 322 that controls the irradiation unit 111 to irradiate the transmission plate 22 with the laser light, and the first imaging generated by the imaging unit 112 imaging the transmission plate 22 while the transmission plate 22 is irradiated with the laser light. The acquisition unit 323 that acquires the image and the second captured image generated by the image sensor 21 while the transmission plate 22 is irradiated with the laser beam, the position of the laser beam and the position of the index reflected in the first captured image, and the position of the index. It has a specific unit 324 that specifies the relationship between the coordinates corresponding to the first captured image and the coordinates corresponding to the second captured image based on the position of the laser beam and the position of the index captured in the second captured image.

第2撮像画像は、イメージセンサが生成した画像であり、系統誤差を含まないことから、校正用システムSは、プローブ11の撮像部112で撮像した撮像画像の座標の位置と、照射部111を基準とした座標の位置との対応関係を精度良く特定することができる。 Since the second captured image is an image generated by the image sensor and does not include a systematic error, the calibration system S sets the position of the coordinates of the captured image captured by the imaging unit 112 of the probe 11 and the irradiation unit 111. It is possible to accurately identify the correspondence with the position of the reference coordinates.

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更又は改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。そのような変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。 Although the present invention has been described above using the embodiments, the technical scope of the present invention is not limited to the scope described in the above embodiments. It will be apparent to those skilled in the art that various changes or improvements can be made to the above embodiments. It is clear from the description of the claims that such modified or improved forms may also be included in the technical scope of the present invention.

1 三次元測定機
11 プローブ
111 照射部
112 撮像部
2 校正治具
21 イメージセンサ
22 透過板
3 コンピュータ
31 記憶部
32 制御部
321 移動制御部
322 照射制御部
323 取得部
324 特定部
S 校正用システム
1 Coordinate-measuring machine 11 Probe 111 Irradiation unit 112 Imaging unit 2 Calibration jig 21 Image sensor 22 Transmission plate 3 Computer 31 Storage unit 32 Control unit 321 Movement control unit 322 Irradiation control unit 323 Acquisition unit 324 Specific unit S Calibration system

Claims (9)

三次元測定機と、校正治具と、コンピュータとを備えた校正用システムであって、
前記三次元測定機は、
第1撮像画像を生成する第1撮像部とレーザ光を照射する照射部とを備えるプローブを有し、
前記校正治具は、
第2撮像画像を生成する第2撮像部と、
前記第2撮像部に重ねて設けられ、前記第2撮像部における位置を特定するための指標を有し、入射光の一部を反射するとともに他の一部を通過させる透過板とを有し、
前記コンピュータは、
前記照射部を制御して前記透過板にレーザ光を照射させる照射制御部と、
前記透過板に前記レーザ光が照射された状態で前記第1撮像部が前記透過板を撮像して生成した前記第1撮像画像と、前記透過板に前記レーザ光が照射された状態で前記第2撮像部が生成した前記第2撮像画像とを取得する取得部と、
前記第1撮像画像に写る前記レーザ光の位置及び前記指標の位置と、前記第2撮像画像に写る前記レーザ光の位置及び前記指標の位置とに基づいて、前記第1撮像画像に対応する座標と前記第2撮像画像に対応する座標との関係を特定する特定部とを有する、
校正用システム。
A calibration system equipped with a coordinate measuring machine, a calibration jig, and a computer.
The three-dimensional measuring machine is
It has a probe including a first imaging unit that generates a first captured image and an irradiation unit that irradiates a laser beam.
The calibration jig
A second imaging unit that generates a second captured image,
It is provided so as to be superimposed on the second imaging unit, has an index for specifying a position in the second imaging unit, and has a transmission plate that reflects a part of the incident light and allows the other part to pass through. ,
The computer
An irradiation control unit that controls the irradiation unit to irradiate the transmission plate with laser light,
The first image captured by the first imaging unit by imaging the transmission plate in a state where the transmission plate is irradiated with the laser light, and the first image in a state where the transmission plate is irradiated with the laser light. 2. An acquisition unit that acquires the second captured image generated by the imaging unit, and
Coordinates corresponding to the first captured image based on the position of the laser beam and the position of the index reflected in the first captured image and the position of the laser beam and the position of the index reflected in the second captured image. It has a specific unit that specifies the relationship between the light and the coordinates corresponding to the second captured image.
Calibration system.
前記透過板は、所定の間隔で設けられた複数の前記指標を有する、
請求項1に記載の校正用システム。
The transmission plate has a plurality of the indexes provided at predetermined intervals.
The calibration system according to claim 1.
前記第2撮像部及び前記透過板は長方形状であり、
前記透過板は、短手方向に延びるスリット状の複数の前記指標を有し、
前記照射部は、線状のレーザ光を照射し、
前記照射制御部は、前記照射部を制御して前記透過板の長手方向に前記線状のレーザ光を照射させ、
前記特定部は、前記第1撮像画像に写る前記線状のレーザ光に対応する複数の位置の座標と、前記第2撮像画像に対応する複数の座標との関係を特定する、
請求項1又は2に記載の校正用システム。
The second imaging unit and the transmission plate have a rectangular shape.
The transmission plate has a plurality of slit-shaped indexes extending in the lateral direction.
The irradiation unit irradiates a linear laser beam and emits light.
The irradiation control unit controls the irradiation unit to irradiate the linear laser beam in the longitudinal direction of the transmission plate.
The specific unit specifies the relationship between the coordinates of the plurality of positions corresponding to the linear laser beam captured in the first captured image and the plurality of coordinates corresponding to the second captured image.
The calibration system according to claim 1 or 2.
前記コンピュータは、
前記校正治具の法線方向に前記プローブを移動させる移動制御部をさらに有し、
前記移動制御部は、前記プローブを前記校正治具の法線方向の複数の位置のそれぞれに移動させ、
前記照射制御部は、前記複数の位置のそれぞれにおいて前記照射部にレーザ光を照射させ、
前記取得部は、前記複数の位置のそれぞれにおいて前記第1撮像画像及び前記第2撮像画像を取得し、
前記特定部は、前記複数の位置のそれぞれにおいて前記第1撮像画像に対応する座標と前記第2撮像画像に対応する座標との関係を特定する、
請求項1から3のいずれか1項に記載の校正用システム。
The computer
Further, a movement control unit for moving the probe in the normal direction of the calibration jig is provided.
The movement control unit moves the probe to each of a plurality of positions in the normal direction of the calibration jig.
The irradiation control unit irradiates the irradiation unit with laser light at each of the plurality of positions.
The acquisition unit acquires the first captured image and the second captured image at each of the plurality of positions.
The specific unit specifies the relationship between the coordinates corresponding to the first captured image and the coordinates corresponding to the second captured image at each of the plurality of positions.
The calibration system according to any one of claims 1 to 3.
前記指標における入射光の反射率及び透過率は、前記透過板の他の領域における入射光の反射率及び透過率と異なる、
請求項1から4のいずれか1項に記載の校正用システム。
The reflectance and transmittance of the incident light in the index are different from the reflectance and transmittance of the incident light in other regions of the transmission plate.
The calibration system according to any one of claims 1 to 4.
前記第2撮像部の画素数は、前記第1撮像部の画素数に比べて多い、
請求項1から5のいずれか1項に記載の校正用システム。
The number of pixels of the second imaging unit is larger than the number of pixels of the first imaging unit.
The calibration system according to any one of claims 1 to 5.
第1撮像画像を生成する第1撮像部とレーザ光を照射する照射部とを備えるプローブを有する三次元測定機の校正に用いられる校正治具であって、
第2撮像画像を生成する第2撮像部と、
前記第2撮像部に重ねて設けられ、前記第2撮像部における位置を特定するための指標を有し、入射光の一部を反射するとともに他の一部を通過させる透過板と、
を有する校正治具。
A calibration jig used for calibrating a coordinate measuring machine having a probe including a first imaging unit that generates a first captured image and an irradiation unit that irradiates a laser beam.
A second imaging unit that generates a second captured image,
A transmission plate which is provided so as to be superimposed on the second imaging unit, has an index for specifying a position in the second imaging unit, and reflects a part of the incident light and passes the other part.
Calibration jig with.
コンピュータが実行する、校正治具を用いた三次元測定機の校正方法であって、
前記三次元測定機は、第1撮像画像を生成する第1撮像部とレーザ光を照射する照射部とを備えるプローブを有し、
前記校正治具は、第2撮像画像を生成する第2撮像部と、前記第2撮像部に重ねて設けられ、前記第2撮像部における位置を特定するための指標を有し、入射光の一部を反射するとともに他の一部を通過させる透過板とを有し、
前記照射部を制御して前記透過板にレーザ光を照射させるステップと、
前記透過板に前記レーザ光が照射された状態で前記第1撮像部が前記透過板を撮像して生成した前記第1撮像画像と、前記透過板に前記レーザ光が照射された状態で前記第2撮像部が生成した前記第2撮像画像とを取得するステップと、
前記第1撮像画像に写る前記レーザ光の位置及び前記指標の位置と、前記第2撮像画像に写る前記レーザ光の位置及び前記指標の位置とに基づいて、前記第1撮像画像に対応する座標と前記第2撮像画像に対応する座標との関係を特定するステップと、
を有する校正方法。
A computer-executed method for calibrating a coordinate measuring machine using a calibration jig.
The coordinate measuring machine has a probe including a first imaging unit that generates a first captured image and an irradiation unit that irradiates a laser beam.
The calibration jig is provided so as to overlap the second imaging unit that generates the second image and the second imaging unit, has an index for specifying the position in the second imaging unit, and has an index for specifying the position of the incident light. It has a transparent plate that reflects one part and allows another part to pass through.
A step of controlling the irradiation unit to irradiate the transmission plate with laser light,
The first image captured by the first imaging unit by imaging the transmission plate in a state where the transmission plate is irradiated with the laser light, and the first image in a state where the transmission plate is irradiated with the laser light. 2 The step of acquiring the second captured image generated by the imaging unit, and
Coordinates corresponding to the first captured image based on the position of the laser beam and the position of the index reflected in the first captured image and the position of the laser beam and the position of the index reflected in the second captured image. And the step of specifying the relationship between the second captured image and the coordinates corresponding to the second captured image,
Calibration method with.
校正治具を用いた三次元測定機の校正用プログラムであって、
前記三次元測定機は、第1撮像画像を生成する第1撮像部とレーザ光を照射する照射部とを備えるプローブを有し、
前記校正治具は、第2撮像画像を生成する第2撮像部と、前記第2撮像部に重ねて設けられ、前記第2撮像部における位置を特定するための指標を有し、入射光の一部を反射するとともに他の一部を通過させる透過板とを有し、
コンピュータを、
前記照射部を制御して前記透過板にレーザ光を照射させる照射制御部、
前記透過板に前記レーザ光が照射された状態で前記第1撮像部が前記透過板を撮像して生成した前記第1撮像画像と、前記透過板に前記レーザ光が照射された状態で前記第2撮像部が生成した前記第2撮像画像とを取得する取得部、及び
前記第1撮像画像に写る前記レーザ光の位置及び前記指標の位置と、前記第2撮像画像に写る前記レーザ光の位置及び前記指標の位置とに基づいて、前記第1撮像画像に対応する座標と前記第2撮像画像に対応する座標との関係を特定する特定部、
として機能させる校正用プログラム。
This is a calibration program for a coordinate measuring machine that uses a calibration jig.
The coordinate measuring machine has a probe including a first imaging unit that generates a first captured image and an irradiation unit that irradiates a laser beam.
The calibration jig is provided so as to overlap the second imaging unit that generates the second image and the second imaging unit, has an index for specifying the position in the second imaging unit, and has an index for specifying the position of the incident light. It has a transparent plate that reflects one part and allows another part to pass through.
Computer,
An irradiation control unit that controls the irradiation unit to irradiate the transmission plate with laser light.
The first image captured by the first imaging unit by imaging the transmission plate in a state where the transmission plate is irradiated with the laser light, and the first image in a state where the transmission plate is irradiated with the laser light. 2. The acquisition unit that acquires the second captured image generated by the imaging unit, the position of the laser beam and the index that appear in the first captured image, and the position of the laser beam that appears in the second captured image. And a specific unit that specifies the relationship between the coordinates corresponding to the first captured image and the coordinates corresponding to the second captured image based on the position of the index.
A calibration program that functions as.
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