JP6818064B2 - Error rate measuring device and error rate measuring method - Google Patents

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Description

本発明は、誤り率測定装置及び誤り率測定方法に関し、特に、被試験対象(Device Under Test:DUT)から出力されるPAM4信号のビット誤り率(Bit Error Rate:BER)を測定する誤り率測定装置及び誤り率測定方法に関する。 The present invention relates to an error rate measuring device and an error rate measuring method, and more particularly, error rate measurement for measuring a bit error rate (BER) of a PAM4 signal output from a test object (Device Under Test: DUT). The present invention relates to an apparatus and an error rate measuring method.

次世代5Gモバイル通信やクラウド通信サービスの普及により、データ通信トラフィックの更なる増大が予想されている。これに伴い、そのインフラとなるデータセンタなどでは、高速化に加えて、PAM4信号などの多値変調信号を用いて伝送容量を拡張することが検討されている。 With the spread of next-generation 5G mobile communication and cloud communication services, further increase in data communication traffic is expected. Along with this, in data centers and the like, which are the infrastructures thereof, in addition to speeding up, it is considered to expand the transmission capacity by using a multi-value modulation signal such as a PAM4 signal.

上記のようなデータセンタを構成する機器の品質評価に際しては、DUTから送信されたパルスパターン信号と、DUTから送信されるべき既知のパルスパターン信号とを比較してビットの誤りを検出する誤り率測定装置が用いられる。 In the quality evaluation of the equipment constituting the data center as described above, the error rate for detecting a bit error by comparing the pulse pattern signal transmitted from the DUT with the known pulse pattern signal to be transmitted from the DUT. A measuring device is used.

PAM4信号は、図13(a)に示すように、"00","01","10","11"からなる4つのシンボルで構成されている。これらのシンボルの最上位ビットはMSB(Most Significant Bit)、最下位ビットはLSB(Least Significant Bit)と呼ばれる。図14は、PAM4信号をシンボル単位で重ね合わせることによって得られるアイパターンの一例を示している。3つのアイパターンの開口の電圧範囲は、電圧レベルの高い方からそれぞれ高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3に分けられる。なお、以降では、高電圧範囲H1のアイパターンの開口を「Upper Eye」、中電圧範囲H2のアイパターンの開口を「Middle Eye」、低電圧範囲H3のアイパターンの開口を「Lower Eye」とも称する。 As shown in FIG. 13A, the PAM4 signal is composed of four symbols consisting of "00", "01", "10", and "11". The most significant bit of these symbols is called the MSB (Most Significant Bit), and the least significant bit is called the LSB (Least Significant Bit). FIG. 14 shows an example of an eye pattern obtained by superimposing PAM4 signals on a symbol-by-symbol basis. The voltage range of the openings of the three eye patterns is divided into a high voltage range H1, a medium voltage range H2, and a low voltage range H3, respectively, from the one with the highest voltage level. In the following, the eye pattern opening in the high voltage range H1 will be referred to as "Upper Eye", the eye pattern opening in the medium voltage range H2 will be referred to as "Middle Eye", and the eye pattern opening in the low voltage range H3 will be referred to as "Lower Eye". Refer to.

PAM4信号のBERを測定するためには、まず、高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3に対して基準電圧Vth1,Vht2,Vth3をそれぞれ設定して、PAM4信号からMSB及びLSBのビット列信号を切り出すことになる。ここで、MSBのビット列信号は、基準電圧Vth2により図13(b)に示すように切り出される。具体的には、PAM4信号の電圧レベルが基準電圧Vth2以上である場合にはMSBのビット列信号の値として「1」が得られ、PAM4信号の電圧レベルが基準電圧Vth2未満である場合にはMSBのビット列信号の値として「0」が得られる。 In order to measure the BER of the PAM4 signal, first, the reference voltages Vth1, Vht2, and Vth3 are set for the high voltage range H1, the medium voltage range H2, and the low voltage range H3, respectively, and the MSB and LSB are set from the PAM4 signal. The bit string signal will be cut out. Here, the bit string signal of the MSB is cut out by the reference voltage Vth2 as shown in FIG. 13 (b). Specifically, when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the reference voltage Vth2, “1” is obtained as the value of the bit string signal of the MSB, and when the voltage level of the PAM4 signal is less than the reference voltage Vth2, the MSB "0" is obtained as the value of the bit string signal of.

また、LSBのビット列信号は、基準電圧Vth1,Vth3により図13(c)に示すように切り出される。具体的には、PAM4信号の電圧レベルが基準電圧Vth2未満かつ基準電圧Vth3以上である場合にはLSBのビット列信号の値として「1」が得られ、PAM4信号の電圧レベルが基準電圧Vth2未満かつ基準電圧Vth3未満の場合にはLSBのビット列信号の値として「0」が得られる。一方、PAM4信号の電圧レベルが基準電圧Vth2以上かつ基準電圧Vth1以上である場合にはLSBのビット列信号の値として「1」が得られ、PAM4信号の電圧レベルが基準電圧Vth2以上かつ基準電圧Vth1未満の場合にはLSBのビット列信号の値として「0」が得られる。 Further, the LSB bit string signal is cut out by the reference voltages Vth1 and Vth3 as shown in FIG. 13C. Specifically, when the voltage level of the PAM4 signal is less than the reference voltage Vth2 and the reference voltage Vth3 or more, "1" is obtained as the value of the bit string signal of the LSB, and the voltage level of the PAM4 signal is less than the reference voltage Vth2 and. When the reference voltage is less than Vth3, "0" is obtained as the value of the bit string signal of the LSB. On the other hand, when the voltage level of the PAM4 signal is the reference voltage Vth2 or more and the reference voltage Vth1 or more, "1" is obtained as the value of the bit string signal of the LSB, and the voltage level of the PAM4 signal is the reference voltage Vth2 or more and the reference voltage Vth1. If it is less than, "0" is obtained as the value of the bit string signal of the LSB.

図15に示すように、PAM4信号を被測定信号とする従来の誤り率測定装置は、PAM4デコーダ70と、クロック再生回路71と、誤り検出部72と、を主に備える。PAM4デコーダ70は、被測定信号のMSBのビット列信号をMSBチャンネル(MSB CH)から出力するとともに、被測定信号のLSBのビット列信号をLSBチャンネル(LSB CH)から出力するようになっている。クロック再生回路71は、PAM4デコーダ70のMSB CHから出力されたMSBのビット列信号からクロックを再生して再生クロックCLKとして出力するようになっている。誤り検出部72は、クロック再生回路71から出力された再生クロックCLKのタイミングで、MSB及びLSBのビット列信号のデータを取得し、取得したこれらのデータに基づいて被測定信号のBERを測定するようになっている。 As shown in FIG. 15, a conventional error rate measuring device using a PAM4 signal as a signal to be measured mainly includes a PAM4 decoder 70, a clock reproduction circuit 71, and an error detecting unit 72. The PAM4 decoder 70 outputs the MSB bit string signal of the measured signal from the MSB channel (MSB CH) and outputs the LSB bit string signal of the measured signal from the LSB channel (LSB CH). The clock regeneration circuit 71 reproduces the clock from the MSB bit string signal output from the MSB CH of the PAM4 decoder 70 and outputs it as the reproduction clock CLK. The error detection unit 72 acquires the data of the bit string signals of the MSB and LSB at the timing of the reproduction clock CLK output from the clock reproduction circuit 71, and measures the BER of the measured signal based on these acquired data. It has become.

ところで、上述したPAM4信号のBERを精度良く測定するためには、あらかじめ基準電圧Vth1〜Vth3を最適値に設定しておく必要がある。この最適値は、各基準電圧Vth1〜Vth3を掃引しながら図16に示すようなバスタブ曲線を測定し、BERが最小になる各基準電圧Vth1〜Vth3の値を探索することで決定することができる(例えば、特許文献1参照)。 By the way, in order to measure the BER of the PAM4 signal with high accuracy, it is necessary to set the reference voltages Vth1 to Vth3 to the optimum values in advance. This optimum value can be determined by measuring the bathtub curve as shown in FIG. 16 while sweeping each reference voltage Vth1 to Vth3 and searching for the value of each reference voltage Vth1 to Vth3 that minimizes the BER. (See, for example, Patent Document 1).

特表2017−512017号公報Special Table 2017-512017

しかしながら、MSBのビット列信号からクロックを再生する図15に示したような系において、Middle Eyeに関するバスタブ曲線の作成のために基準電圧Vth2が掃引されると、MSBのビット列信号からクロックを再生できなくなり、クロックロスが発生してMiddle Eyeを解析できなくなるという問題があった。 However, in the system shown in FIG. 15, which reproduces the clock from the bit string signal of the MSB, when the reference voltage Vth2 is swept to create the bathtub curve for the Middle Eye, the clock cannot be reproduced from the bit string signal of the MSB. , There was a problem that clock loss occurred and it became impossible to analyze the Middle Eye.

本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、クロックロスを発生させることなく、Middle Eyeに関するバスタブ曲線を作成することができる誤り率測定装置及び誤り率測定方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve such a conventional problem, and is an error rate measuring device and an error rate measuring method capable of creating a bathtub curve for a Middle Eye without causing a clock loss. The purpose is to provide.

上記課題を解決するために、本発明に係る誤り率測定装置は、3つのアイパターンの開口の電圧範囲が電圧レベルの高い方からそれぞれ高電圧範囲、中電圧範囲、低電圧範囲であるPAM4信号の誤りを検出する誤り率測定装置であって、前記PAM4信号の電圧レベルが第1の基準電圧以上である場合に判別信号として1を出力し、それ以外の場合に判別信号として0を出力する第1の0/1判別器と、前記PAM4信号の電圧レベルが第2の基準電圧以上である場合に判別信号として1を出力し、それ以外の場合に判別信号として0を出力する第2の0/1判別器と、前記PAM4信号の電圧レベルが第3の基準電圧以上である場合に判別信号として1を出力し、それ以外の場合に判別信号として0を出力する第3の0/1判別器と、前記第2の0/1判別器から出力された判別信号からクロックを再生して再生クロックとして出力するクロック再生回路と、前記第1〜前記第3の0/1判別器からそれぞれ出力された判別信号から前記PAM4信号のMSBのビット列信号を含む複数のビット列信号を生成するデコード回路と、前記デコード回路から出力された前記MSBのビット列信号の電圧レベルを前記再生クロックのタイミングで測定するレベル測定部と、前記レベル測定部により測定された電圧レベルに基づいて、前記MSBのビット列信号の誤り率を算出する誤り率算出部と、前記第1〜前記第3の基準電圧をそれぞれ前記第1〜前記第3の0/1判別器に設定する基準電圧設定部と、を備え、前記誤り率算出部は、前記基準電圧設定部により、前記第2の基準電圧が前記中電圧範囲において一定値に設定されるとともに、前記第1の基準電圧が前記中電圧範囲において可変に設定される場合に、前記第1の基準電圧の変化に応じた前記MSBのビット列信号の誤り率の変化を示すバスタブ曲線を作成する構成である。 In order to solve the above problems, the error rate measuring device according to the present invention has a PAM4 signal in which the voltage ranges of the openings of the three eye patterns are in the high voltage range, the medium voltage range, and the low voltage range from the highest voltage level, respectively. This is an error rate measuring device for detecting an error of, and outputs 1 as a discrimination signal when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the first reference voltage, and outputs 0 as a discrimination signal in other cases. A second 0/1 discriminator and a second that outputs 1 as a discrimination signal when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the second reference voltage, and outputs 0 as a discrimination signal in other cases. A third 0/1 that outputs 1 as a discrimination signal when the voltage level of the 0/1 discriminator and the PAM4 signal is equal to or higher than the third reference voltage, and outputs 0 as a discrimination signal in other cases. The discriminator, the clock reproduction circuit that reproduces the clock from the discrimination signal output from the second 0/1 discriminator and outputs it as a reproduction clock, and the first to third 0/1 discriminators, respectively. A decoding circuit that generates a plurality of bit string signals including the MSB bit string signal of the PAM4 signal from the output discrimination signal, and the voltage level of the MSB bit string signal output from the decoding circuit is measured at the timing of the reproduction clock. The error rate calculation unit that calculates the error rate of the bit string signal of the MSB based on the voltage level measured by the level measurement unit, and the first to third reference voltages, respectively. A reference voltage setting unit for setting the first to third 0/1 discriminators is provided, and the error rate calculation unit uses the reference voltage setting unit to set the second reference voltage in the medium voltage range. When the first reference voltage is set to a constant value and the first reference voltage is variably set in the medium voltage range, the change in the error rate of the bit string signal of the MSB according to the change in the first reference voltage is changed. It is a configuration to create the bathtub curve shown.

この構成により、本発明に係る誤り率測定装置は、クロックロスを発生させることなく、Middle Eyeに関するバスタブ曲線を作成することができる。 With this configuration, the error rate measuring device according to the present invention can create a bathtub curve for the Middle Eye without causing a clock loss.

また、本発明に係る誤り率測定装置においては、前記デコード回路は、前記第2の0/1判別器からの判別信号と、前記第3の0/1判別器からの判別信号との排他的論理和を出力するEXOR回路と、前記第1の0/1判別器からの判別信号と、前記EXOR回路の出力との論理和を出力するOR回路と、を有し、前記OR回路は、前記基準電圧設定部により、前記第3の基準電圧が前記中電圧範囲において前記第2の基準電圧と等しい一定値に設定される場合に、前記第1の0/1判別器からの判別信号を前記MSBのビット列信号として前記レベル測定部に出力する構成であってもよい。 Further, in the error rate measuring device according to the present invention, the decoding circuit is exclusively exclusive with the discrimination signal from the second 0/1 discriminator and the discrimination signal from the third 0/1 discriminator. The OR circuit has an EXOR circuit that outputs a logical sum, an OR circuit that outputs a discriminant signal from the first 0/1 discriminator, and an OR circuit that outputs a logical sum of the output of the EXOR circuit. When the third reference voltage is set to a constant value equal to the second reference voltage in the medium voltage range by the reference voltage setting unit, the discrimination signal from the first 0/1 discriminator is transmitted. It may be configured to be output to the level measurement unit as a bit string signal of the MSB.

また、本発明に係る誤り率測定装置は、3つのアイパターンの開口の電圧範囲が電圧レベルの高い方からそれぞれ高電圧範囲、中電圧範囲、低電圧範囲であるPAM4信号の誤りを検出する誤り率測定装置であって、前記PAM4信号の電圧レベルが第1の基準電圧以上である場合に判別信号として1を出力し、それ以外の場合に判別信号として0を出力する第1の0/1判別器と、前記PAM4信号の電圧レベルが第2の基準電圧以上である場合に判別信号として1を出力し、それ以外の場合に判別信号として0を出力する第2の0/1判別器と、前記PAM4信号の電圧レベルが第3の基準電圧以上である場合に判別信号として1を出力し、それ以外の場合に判別信号として0を出力する第3の0/1判別器と、前記第2の0/1判別器から出力された判別信号からクロックを再生して再生クロックとして出力するクロック再生回路と、前記第1〜前記第3の0/1判別器からそれぞれ出力された判別信号から前記PAM4信号のMSBのビット列信号を含む複数のビット列信号を生成するデコード回路と、前記デコード回路から出力された前記MSBのビット列信号の電圧レベルを前記再生クロックのタイミングで測定するレベル測定部と、前記レベル測定部により測定された電圧レベルに基づいて、前記MSBのビット列信号の誤り率を算出する誤り率算出部と、前記第1〜前記第3の基準電圧をそれぞれ前記第1〜前記第3の0/1判別器に設定する基準電圧設定部と、を備え、前記誤り率算出部は、前記基準電圧設定部により、前記第2の基準電圧が前記中電圧範囲において一定値に設定されるとともに、前記第3の基準電圧が前記中電圧範囲において可変に設定される場合に、前記第3の基準電圧の変化に応じた前記MSBのビット列信号の誤り率の変化を示すバスタブ曲線を作成する構成である。 Further, the error rate measuring device according to the present invention detects errors in PAM4 signals in which the voltage ranges of the openings of the three eye patterns are in the high voltage range, the medium voltage range, and the low voltage range from the highest voltage level, respectively. A first 0/1 of a rate measuring device that outputs 1 as a discrimination signal when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the first reference voltage, and outputs 0 as a discrimination signal in other cases. A discriminator and a second 0/1 discriminator that outputs 1 as a discriminant signal when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the second reference voltage and outputs 0 as a discriminant signal in other cases. A third 0/1 discriminator that outputs 1 as a discrimination signal when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the third reference voltage, and outputs 0 as a discrimination signal in other cases. From the clock reproduction circuit that reproduces the clock from the discrimination signal output from the 2 0/1 discriminator and outputs it as the reproduction clock, and from the discrimination signals output from the 1st to 3rd 0/1 discriminators, respectively. A decoding circuit that generates a plurality of bit string signals including the MSB bit string signal of the PAM4 signal, a level measuring unit that measures the voltage level of the MSB bit string signal output from the decoding circuit at the timing of the reproduction clock, and a level measuring unit. The error rate calculation unit that calculates the error rate of the bit string signal of the MSB based on the voltage level measured by the level measurement unit, and the first to third reference voltages are set to the first to third reference voltages, respectively. The error rate calculation unit includes a reference voltage setting unit to be set in the 0/1 discriminator of the above, and the reference voltage setting unit sets the second reference voltage to a constant value in the medium voltage range. At the same time, when the third reference voltage is variably set in the medium voltage range, a bathtub curve showing a change in the error rate of the bit string signal of the MSB according to the change in the third reference voltage is created. It is a configuration.

この構成により、本発明に係る誤り率測定装置は、クロックロスを発生させることなく、Middle Eyeに関するバスタブ曲線を作成することができる。 With this configuration, the error rate measuring device according to the present invention can create a bathtub curve for the Middle Eye without causing a clock loss.

また、本発明に係る誤り率測定装置においては、前記デコード回路は、前記第1の0/1判別器からの判別信号と、前記第2の0/1判別器からの判別信号との否定排他的論理和を出力するEXNOR回路と、前記第3の0/1判別器からの判別信号と、前記EXNOR回路の出力との論理積を出力するAND回路と、を有し、前記AND回路は、前記基準電圧設定部により、前記第1の基準電圧が前記中電圧範囲において前記第2の基準電圧と等しい一定値に設定される場合に、前記第3の0/1判別器からの判別信号を前記MSBのビット列信号として前記レベル測定部に出力する構成であってもよい。 Further, in the error rate measuring device according to the present invention, the decoding circuit negates and excludes the discrimination signal from the first 0/1 discriminator and the discrimination signal from the second 0/1 discriminator. The AND circuit includes an EXNOR circuit that outputs a logical sum, an AND circuit that outputs a logical product of a discrimination signal from the third 0/1 discriminator, and the output of the EXNOR circuit. When the first reference voltage is set to a constant value equal to the second reference voltage in the medium voltage range by the reference voltage setting unit, the discrimination signal from the third 0/1 discriminator is transmitted. It may be configured to be output to the level measuring unit as the bit string signal of the MSB.

また、本発明に係る誤り率測定方法は、3つのアイパターンの開口の電圧範囲が電圧レベルの高い方からそれぞれ高電圧範囲、中電圧範囲、低電圧範囲であるPAM4信号の誤りを検出する誤り率測定方法であって、前記PAM4信号の電圧レベルが第1の基準電圧以上である場合に判別信号として1を第1の0/1判別器から出力し、それ以外の場合に判別信号として0を前記第1の0/1判別器から出力する第1の0/1判別ステップと、前記PAM4信号の電圧レベルが第2の基準電圧以上である場合に判別信号として1を第2の0/1判別器から出力し、それ以外の場合に判別信号として0を前記第2の0/1判別器から出力する第2の0/1判別ステップと、前記PAM4信号の電圧レベルが第3の基準電圧以上である場合に判別信号として1を第3の0/1判別器から出力し、それ以外の場合に判別信号として0を前記第3の0/1判別器から出力する第3の0/1判別ステップと、前記第2の0/1判別器から出力された判別信号からクロックを再生して再生クロックとして出力するクロック再生ステップと、前記第1〜前記第3の0/1判別器からそれぞれ出力された判別信号から前記PAM4信号のMSBのビット列信号を含む複数のビット列信号を生成するデコードステップと、前記デコードステップから出力された前記MSBのビット列信号の電圧レベルを前記再生クロックのタイミングで測定するレベル測定ステップと、前記レベル測定ステップにより測定された電圧レベルに基づいて、前記MSBのビット列信号の誤り率を算出する誤り率算出ステップと、前記第1〜前記第3の基準電圧をそれぞれ前記第1〜前記第3の0/1判別器に設定する基準電圧設定ステップと、を備え、前記誤り率算出ステップは、前記基準電圧設定ステップにより、前記第2の基準電圧が前記中電圧範囲において一定値に設定されるとともに、前記第1の基準電圧が前記中電圧範囲において可変に設定される場合に、前記第1の基準電圧の変化に応じた前記MSBのビット列信号の誤り率の変化を示すバスタブ曲線を作成する構成である。 Further, the error rate measuring method according to the present invention is an error of detecting an error of the PAM4 signal in which the voltage range of the openings of the three eye patterns is the high voltage range, the medium voltage range, and the low voltage range from the highest voltage level, respectively. In the rate measurement method, when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the first reference voltage, 1 is output from the first 0/1 discriminator, and in other cases, 0 is output as the discrimination signal. Is output from the first 0/1 discriminator, and 1 is set as the discriminant signal when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the second reference voltage. The second 0/1 discrimination step, which outputs from the 1 discriminator and outputs 0 as a discrimination signal in other cases from the second 0/1 discriminator, and the voltage level of the PAM4 signal is the third reference. When the voltage is equal to or higher than the voltage, 1 is output as a discrimination signal from the third 0/1 discriminator, and in other cases, 0 is output as a discrimination signal from the third 0/1 discriminator. From the 1 discrimination step, the clock reproduction step of reproducing the clock from the discrimination signal output from the 2nd 0/1 discriminator and outputting it as the reproduction clock, and the 1st to 3rd 0/1 discriminators. A decoding step that generates a plurality of bit string signals including the MSB bit string signal of the PAM4 signal from each output discrimination signal, and a voltage level of the MSB bit string signal output from the decoding step are set at the timing of the reproduction clock. The level measurement step to be measured, the error rate calculation step for calculating the error rate of the bit string signal of the MSB based on the voltage level measured by the level measurement step, and the first to third reference voltages, respectively. The reference voltage setting step set in the first to third 0/1 discriminators is provided, and in the error rate calculation step, the second reference voltage is in the medium voltage range by the reference voltage setting step. When the first reference voltage is variably set in the medium voltage range while being set to a constant value in, the error rate of the bit string signal of the MSB changes according to the change of the first reference voltage. It is a configuration to create a bathtub curve showing.

この構成により、本発明に係る誤り率測定方法は、クロックロスを発生させることなく、Middle Eyeに関するバスタブ曲線を作成することができる。 With this configuration, the error rate measuring method according to the present invention can create a bathtub curve for the Middle Eye without causing a clock loss.

また、本発明に係る誤り率測定方法においては、前記デコードステップは、前記第2の0/1判別器からの判別信号と、前記第3の0/1判別器からの判別信号との排他的論理和を出力するEXORステップと、前記第1の0/1判別器からの判別信号と、前記EXORステップの出力との論理和を出力するORステップと、を含み、前記ORステップは、前記基準電圧設定ステップにより、前記第3の基準電圧が前記中電圧範囲において前記第2の基準電圧と等しい一定値に設定される場合に、前記第1の0/1判別器からの判別信号を前記MSBのビット列信号として前記レベル測定ステップに出力する構成であってもよい。 Further, in the error rate measuring method according to the present invention, the decoding step is exclusive to the discrimination signal from the second 0/1 discriminator and the discrimination signal from the third 0/1 discriminator. The OR step includes an EXOR step that outputs a logical sum, an OR step that outputs a discriminant signal from the first 0/1 discriminator, and an OR step that outputs a logical sum of the output of the EXOR step, and the OR step is the reference. When the third reference voltage is set to a constant value equal to the second reference voltage in the medium voltage range by the voltage setting step, the discrimination signal from the first 0/1 discriminator is transmitted to the MSB. It may be configured to be output to the level measurement step as a bit string signal of.

また、本発明に係る誤り率測定方法は、3つのアイパターンの開口の電圧範囲が電圧レベルの高い方からそれぞれ高電圧範囲、中電圧範囲、低電圧範囲であるPAM4信号の誤りを検出する誤り率測定方法であって、前記PAM4信号の電圧レベルが第1の基準電圧以上である場合に判別信号として1を第1の0/1判別器から出力し、それ以外の場合に判別信号として0を前記第1の0/1判別器から出力する第1の0/1判別ステップと、前記PAM4信号の電圧レベルが第2の基準電圧以上である場合に判別信号として1を第2の0/1判別器から出力し、それ以外の場合に判別信号として0を前記第2の0/1判別器から出力する第2の0/1判別ステップと、前記PAM4信号の電圧レベルが第3の基準電圧以上である場合に判別信号として1を第3の0/1判別器から出力し、それ以外の場合に判別信号として0を前記第3の0/1判別器から出力する第3の0/1判別ステップと、前記第2の0/1判別器から出力された判別信号からクロックを再生して再生クロックとして出力するクロック再生ステップと、前記第1〜前記第3の0/1判別器からそれぞれ出力された判別信号から前記PAM4信号のMSBのビット列信号を含む複数のビット列信号を生成するデコードステップと、前記デコードステップから出力された前記MSBのビット列信号の電圧レベルを前記再生クロックのタイミングで測定するレベル測定ステップと、前記レベル測定ステップにより測定された電圧レベルに基づいて、前記MSBのビット列信号の誤り率を算出する誤り率算出ステップと、前記第1〜前記第3の基準電圧をそれぞれ前記第1〜前記第3の0/1判別器に設定する基準電圧設定ステップと、を備え、前記誤り率算出ステップは、前記基準電圧設定ステップにより、前記第2の基準電圧が前記中電圧範囲において一定値に設定されるとともに、前記第3の基準電圧が前記中電圧範囲において可変に設定される場合に、前記第3の基準電圧の変化に応じた前記MSBのビット列信号の誤り率の変化を示すバスタブ曲線を作成する構成である。 Further, the error rate measuring method according to the present invention is an error of detecting an error of the PAM4 signal in which the voltage range of the openings of the three eye patterns is the high voltage range, the medium voltage range, and the low voltage range from the highest voltage level, respectively. In the rate measurement method, when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the first reference voltage, 1 is output from the first 0/1 discriminator, and in other cases, 0 is output as the discrimination signal. Is output from the first 0/1 discriminator, and 1 is set as the discriminant signal when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the second reference voltage. The second 0/1 discrimination step, which outputs from the 1 discriminator and outputs 0 as a discrimination signal in other cases from the second 0/1 discriminator, and the voltage level of the PAM4 signal is the third reference. When the voltage is equal to or higher than the voltage, 1 is output as a discrimination signal from the third 0/1 discriminator, and in other cases, 0 is output as a discrimination signal from the third 0/1 discriminator. From the 1 discrimination step, the clock reproduction step of reproducing the clock from the discrimination signal output from the 2nd 0/1 discriminator and outputting it as the reproduction clock, and the 1st to 3rd 0/1 discriminators. A decoding step that generates a plurality of bit string signals including the MSB bit string signal of the PAM4 signal from each output discrimination signal, and a voltage level of the MSB bit string signal output from the decoding step are set at the timing of the reproduction clock. The level measurement step to be measured, the error rate calculation step for calculating the error rate of the bit string signal of the MSB based on the voltage level measured by the level measurement step, and the first to third reference voltages, respectively. The reference voltage setting step set in the first to third 0/1 discriminators is provided, and in the error rate calculation step, the second reference voltage is in the medium voltage range by the reference voltage setting step. When the third reference voltage is set to a constant value and the third reference voltage is variably set in the medium voltage range, the error rate of the bit string signal of the MSB changes according to the change of the third reference voltage. It is a configuration to create a bathtub curve showing.

この構成により、本発明に係る誤り率測定方法は、クロックロスを発生させることなく、Middle Eyeに関するバスタブ曲線を作成することができる。 With this configuration, the error rate measuring method according to the present invention can create a bathtub curve for the Middle Eye without causing a clock loss.

また、本発明に係る誤り率測定方法においては、前記デコードステップは、前記第1の0/1判別器からの判別信号と、前記第2の0/1判別器からの判別信号との否定排他的論理和を出力するEXNORステップと、前記第3の0/1判別器からの判別信号と、前記EXNORステップの出力との論理積を出力するANDステップと、を含み、前記ANDステップは、前記基準電圧設定ステップにより、前記第1の基準電圧が前記中電圧範囲において前記第2の基準電圧と等しい一定値に設定される場合に、前記第3の0/1判別器からの判別信号を前記MSBのビット列信号として前記レベル測定ステップに出力する構成であってもよい。 Further, in the error rate measuring method according to the present invention, in the decoding step, the discrimination signal from the first 0/1 discriminator and the discrimination signal from the second 0/1 discriminator are negatively excluded. The AND step includes an EXNOR step that outputs a target logical sum, an AND step that outputs a logical product of the discrimination signal from the third 0/1 discriminator, and the output of the EXNOR step. When the first reference voltage is set to a constant value equal to the second reference voltage in the medium voltage range by the reference voltage setting step, the discrimination signal from the third 0/1 discriminator is transmitted. It may be configured to be output to the level measurement step as a bit string signal of MSB.

本発明は、クロックロスを発生させることなく、Middle Eyeに関するバスタブ曲線を作成することができる誤り率測定装置及び誤り率測定方法を提供するものである。 The present invention provides an error rate measuring device and an error rate measuring method capable of creating a bathtub curve for a Middle Eye without causing a clock loss.

本発明の第1の実施形態に係る誤り率測定装置の構成を示すブロック図(その1)である。It is a block diagram (the 1) which shows the structure of the error rate measuring apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態に係る誤り率測定装置が備えるPAM4デコーダにおけるPAM4信号と基準電圧と出力の関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the PAM4 signal, the reference voltage and the output in the PAM4 decoder provided in the error rate measuring apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態に係る誤り率測定装置が備えるPAM4デコーダの真理値表を示す図である。It is a figure which shows the truth table of the PAM4 decoder provided in the error rate measuring apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態に係る誤り率測定装置の構成を示すブロック図(その2)である。It is a block diagram (the 2) which shows the structure of the error rate measuring apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態に係る誤り率測定装置を用いる誤り率測定方法の処理を示すフローチャート(その1)である。It is a flowchart (the 1) which shows the process of the error rate measuring method using the error rate measuring apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態に係る誤り率測定装置を用いる誤り率測定方法の処理を示すフローチャート(その2)である。It is a flowchart (the 2) which shows the process of the error rate measuring method using the error rate measuring apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態に係る誤り率測定装置を用いる誤り率測定方法の処理を示すフローチャート(その3)である。It is a flowchart (3) which shows the process of the error rate measuring method using the error rate measuring apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態に係る誤り率測定装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the error rate measuring apparatus which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態に係る誤り率測定装置が備えるPAM4デコーダの真理値表を示す図である。It is a figure which shows the truth table of the PAM4 decoder provided in the error rate measuring apparatus which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態に係る誤り率測定装置を用いる誤り率測定方法の処理を示すフローチャート(その1)である。It is a flowchart (the 1) which shows the process of the error rate measuring method using the error rate measuring apparatus which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態に係る誤り率測定装置を用いる誤り率測定方法の処理を示すフローチャート(その2)である。It is a flowchart (No. 2) which shows the process of the error rate measuring method using the error rate measuring apparatus which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態に係る誤り率測定装置を用いる誤り率測定方法の処理を示すフローチャート(その3)である。It is a flowchart (the 3) which shows the process of the error rate measurement method using the error rate measuring apparatus which concerns on 2nd Embodiment of this invention. MSBのビット列信号とLSBのビット列信号の合成によって生成されるPAM4信号の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the PAM4 signal generated by the synthesis of the bit string signal of MSB and the bit string signal of LSB. PAM4信号のアイパターンを示す図である。It is a figure which shows the eye pattern of a PAM4 signal. 従来の誤り率測定装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the conventional error rate measuring apparatus. 基準電圧の変化に応じたPAM4信号のBERの変化を示すバスタブ曲線の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the bathtub curve which shows the change of the BER of a PAM4 signal according to the change of a reference voltage.

以下、本発明に係る誤り率測定装置及び誤り率測定方法の実施形態について、図面を用いて説明する。本発明は、図14に示すように、3つのアイパターンの開口の電圧範囲が電圧レベルの高い方からそれぞれ高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3であるPAM4信号の誤りを検出する誤り率測定装置及び誤り率測定方法に関するものである。 Hereinafter, embodiments of the error rate measuring device and the error rate measuring method according to the present invention will be described with reference to the drawings. As shown in FIG. 14, the present invention detects errors in PAM4 signals in which the voltage ranges of the openings of the three eye patterns are the high voltage range H1, the medium voltage range H2, and the low voltage range H3, respectively, from the one with the highest voltage level. It relates to an error rate measuring device and an error rate measuring method.

(第1の実施形態)
図1に示すように、本発明の第1の実施形態に係る誤り率測定装置100は、DUT200から出力されるPAM4信号の誤りを検出するものであって、PAM4デコーダ10と、クロック再生回路20と、誤り検出部30と、表示部40と、操作部50と、制御部60と、を備える。
(First Embodiment)
As shown in FIG. 1, the error rate measuring device 100 according to the first embodiment of the present invention detects an error in the PAM4 signal output from the DUT 200, and includes a PAM4 decoder 10 and a clock reproduction circuit 20. An error detection unit 30, a display unit 40, an operation unit 50, and a control unit 60 are provided.

DUT200は、誤り率測定装置100に被測定信号としてのPAM4信号を出力するようになっている。DUT200が対応する規格の例としては、PCI Express(登録商標)、USB(登録商標)(Universal Serial Bus)、CEI(Common Electrical Interface)、Ethernet(登録商標)、InfiniBandなどが挙げられる。 The DUT 200 is adapted to output a PAM4 signal as a signal to be measured to the error rate measuring device 100. Examples of standards supported by the DUT200 include PCI Express (registered trademark), USB (registered trademark) (Universal Serial Bus), CEI (Common Electrical Interface), Ethernet (registered trademark), and InfiniBand.

PAM4デコーダ10は、DUT200から出力されたPAM4信号から複数のビット列信号を生成するものであり、第1の0/1判別器11と、第2の0/1判別器12と、第3の0/1判別器13と、基準電圧設定部14と、デコード回路15と、を含む。第1〜第3の0/1判別器11〜13は、PAM4信号が伝送される伝送路に対して並列接続される。 The PAM4 decoder 10 generates a plurality of bit string signals from the PAM4 signal output from the DUT 200, and is a first 0/1 discriminator 11, a second 0/1 discriminator 12, and a third 0. It includes a / 1 discriminator 13, a reference voltage setting unit 14, and a decoding circuit 15. The first to third 0/1 discriminators 11 to 13 are connected in parallel to the transmission line through which the PAM4 signal is transmitted.

第1の0/1判別器11は、DUT200から入力されたPAM4信号の0/1を第1の基準電圧Vth1との比較によって判別するようになっている。すなわち、第1の0/1判別器11は、図14に示すように、PAM4信号の電圧レベルと第1の基準電圧Vth1とを比較し、PAM4信号の電圧レベルが第1の基準電圧Vth1以上である場合にD1=「1」を判別信号として出力し、PAM4信号の電圧レベルが第1の基準電圧Vth1未満である場合にD1=「0」を判別信号として出力する。 The first 0/1 discriminator 11 discriminates 0/1 of the PAM4 signal input from the DUT 200 by comparison with the first reference voltage Vth1. That is, as shown in FIG. 14, the first 0/1 discriminator 11 compares the voltage level of the PAM4 signal with the first reference voltage Vth1, and the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the first reference voltage Vth1. When is, D1 = "1" is output as a discrimination signal, and when the voltage level of the PAM4 signal is less than the first reference voltage Vth1, D1 = "0" is output as a discrimination signal.

第2の0/1判別器12は、DUT200から入力されたPAM4信号の0/1を第2の基準電圧Vth2との比較によって判別するようになっている。すなわち、第2の0/1判別器12は、図14に示すように、PAM4信号の電圧レベルと第2の基準電圧Vth2とを比較し、PAM4信号の電圧レベルが第2の基準電圧Vth2以上である場合にD2=「1」を判別信号として出力し、PAM4信号の電圧レベルが第2の基準電圧Vth2未満である場合にD2=「0」を判別信号として出力する。 The second 0/1 discriminator 12 discriminates 0/1 of the PAM4 signal input from the DUT 200 by comparison with the second reference voltage Vth2. That is, as shown in FIG. 14, the second 0/1 discriminator 12 compares the voltage level of the PAM4 signal with the second reference voltage Vth2, and the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the second reference voltage Vth2. When is, D2 = "1" is output as a discrimination signal, and when the voltage level of the PAM4 signal is less than the second reference voltage Vth2, D2 = "0" is output as a discrimination signal.

第3の0/1判別器13は、DUT200から入力されたPAM4信号の0/1を第3の基準電圧Vth3との比較によって判別するようになっている。すなわち、第3の0/1判別器13は、図14に示すように、PAM4信号の電圧レベルと第3の基準電圧Vth3とを比較し、PAM4信号の電圧レベルが第3の基準電圧Vth3以上である場合にD3=「1」を判別信号として出力し、PAM4信号の電圧レベルが第3の基準電圧Vth3未満である場合にD3=「0」を判別信号として出力する。 The third 0/1 discriminator 13 discriminates 0/1 of the PAM4 signal input from the DUT 200 by comparison with the third reference voltage Vth3. That is, as shown in FIG. 14, the third 0/1 discriminator 13 compares the voltage level of the PAM4 signal with the third reference voltage Vth3, and the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the third reference voltage Vth3. When is, D3 = "1" is output as a discrimination signal, and when the voltage level of the PAM4 signal is less than the third reference voltage Vth3, D3 = "0" is output as a discrimination signal.

基準電圧設定部14は、第1〜第3の基準電圧Vth1〜Vth3をそれぞれ第1〜第3の0/1判別器11〜13に設定するようになっている。 The reference voltage setting unit 14 sets the first to third reference voltages Vth1 to Vth3 in the first to third 0/1 discriminators 11 to 13, respectively.

デコード回路15は、論理回路で構成されるものであって、第1〜第3の0/1判別器11〜13からそれぞれ出力された判別信号D1〜D3から複数のビット列信号を生成するようになっている。例えば、デコード回路15は、第2の0/1判別器12からの判別信号D2と、第3の0/1判別器13からの判別信号D3との排他的論理和を出力するEXOR回路15aと、第1の0/1判別器11からの判別信号D1と、EXOR回路15aの出力との論理和を出力するOR回路15bと、を有する。 The decoding circuit 15 is composed of a logic circuit, and generates a plurality of bit string signals from the discrimination signals D1 to D3 output from the first to third 0/1 discriminators 11 to 13, respectively. It has become. For example, the decoding circuit 15 has an EXOR circuit 15a that outputs an exclusive OR of the discrimination signal D2 from the second 0/1 discriminator 12 and the discrimination signal D3 from the third 0/1 discriminator 13. , The OR circuit 15b that outputs the logical sum of the discrimination signal D1 from the first 0/1 discriminator 11 and the output of the EXOR circuit 15a.

OR回路15bは、図14に示すように、基準電圧設定部14により、第1〜第3の基準電圧Vth1〜Vth3がそれぞれ高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3の例えば中心電圧付近に設定される場合には、PAM4信号のLSBのビット列信号をLSBチャンネル(LSB CH)から出力する。 In the OR circuit 15b, as shown in FIG. 14, the reference voltage setting unit 14 causes the first to third reference voltages Vth1 to Vth3 to have high voltage ranges H1, medium voltage range H2, and low voltage range H3, for example, center voltages. When set in the vicinity, the LSB bit string signal of the PAM4 signal is output from the LSB channel (LSB CH).

また、デコード回路15は、図14に示すように、基準電圧設定部14により、第2の基準電圧Vth2が中電圧範囲H2の例えば中心電圧付近に設定される場合には、PAM4信号のMSBのビット列信号(判別信号D2)をMSBチャンネル(MSB CH)から出力する。 Further, as shown in FIG. 14, when the reference voltage setting unit 14 sets the second reference voltage Vth2 in the medium voltage range H2, for example, near the center voltage, the decoding circuit 15 determines the MSB of the PAM4 signal. The bit string signal (discrimination signal D2) is output from the MSB channel (MSB CH).

クロック再生回路20は、第2の0/1判別器12から出力された判別信号D2からクロックを再生して再生クロックCLKとして出力するようになっている。 The clock regeneration circuit 20 reproduces the clock from the discrimination signal D2 output from the second 0/1 discriminator 12 and outputs it as the reproduction clock CLK.

誤り検出部30は、デコード回路15のMSB CH及びLSB CHから出力されるビット列信号の誤りを検出するものであり、レベル測定部31と、比較用パターン発生部32と、誤り率算出部33と、を含む。 The error detection unit 30 detects an error in the bit string signal output from the MSB CH and the LSB CH of the decoding circuit 15, and includes a level measurement unit 31, a comparison pattern generation unit 32, and an error rate calculation unit 33. ,including.

レベル測定部31は、デコード回路15のMSB CHから出力されたビット列信号の電圧レベルを、クロック再生回路20から出力された再生クロックCLKのタイミングで測定するようになっている。また、レベル測定部31は、デコード回路15のLSB CHから出力されたビット列信号の電圧レベルを、クロック再生回路20から出力された再生クロックCLKのタイミングで測定するようになっている。 The level measuring unit 31 measures the voltage level of the bit string signal output from the MSB CH of the decoding circuit 15 at the timing of the reproduction clock CLK output from the clock reproduction circuit 20. Further, the level measuring unit 31 measures the voltage level of the bit string signal output from the LSB CH of the decoding circuit 15 at the timing of the reproduction clock CLK output from the clock reproduction circuit 20.

比較用パターン発生部32は、DUT200から出力されるPAM4信号に応じて、デコード回路15のMSB CH及びLSB CHから出力されるべき既知のビット列信号(以下、「比較用パルスパターン信号」とも称する)をそれぞれ発生させるようになっている。図1は、比較用パターン発生部32が、誤り率算出部33のMSB CHにMSBのビット列信号を出力するとともに、誤り率算出部33のLSB CHにLSBのビット列信号を出力する例を示している。 The comparison pattern generation unit 32 is a known bit string signal to be output from the MSB CH and LSB CH of the decoding circuit 15 according to the PAM4 signal output from the DUT 200 (hereinafter, also referred to as “comparison pulse pattern signal”). Are to be generated respectively. FIG. 1 shows an example in which the comparison pattern generation unit 32 outputs the MSB bit string signal to the MSB CH of the error rate calculation unit 33 and outputs the LSB bit string signal to the LSB CH of the error rate calculation unit 33. There is.

誤り率算出部33は、レベル測定部31により測定された電圧レベルと、比較用パターン発生部32から出力された比較用パルスパターン信号との比較に基づいて、デコード回路15のMSB CH及びLSB CHから出力されたビット列信号に含まれる誤りビットの数をカウントして、それらのビット列信号のBERをそれぞれ算出するようになっている。 The error rate calculation unit 33 compares the voltage level measured by the level measurement unit 31 with the comparison pulse pattern signal output from the comparison pattern generation unit 32, and the MSB CH and LSB CH of the decoding circuit 15 are compared. The number of erroneous bits included in the bit string signals output from is counted, and the BER of each of those bit string signals is calculated.

以下、本実施形態に係る誤り率測定装置100が、デコード回路15のLSB CHから出力されるビット列信号に関してバスタブ曲線を作成する場合の動作例について、図2〜図4等を参照しながら説明する。この場合、図2に示すように、基準電圧設定部14は、第2の基準電圧Vth2と第3の基準電圧Vth3とを中電圧範囲H2の例えば中心電圧付近の互いに等しい一定値に設定し、第1の基準電圧Vth1を中電圧範囲H2において可変に設定(掃引)する。 Hereinafter, an operation example in which the error rate measuring device 100 according to the present embodiment creates a bathtub curve with respect to the bit string signal output from the LSB CH of the decoding circuit 15 will be described with reference to FIGS. 2 to 4 and the like. .. In this case, as shown in FIG. 2, the reference voltage setting unit 14 sets the second reference voltage Vth2 and the third reference voltage Vth3 to constant values equal to each other in the medium voltage range H2, for example, near the center voltage. The first reference voltage Vth1 is variably set (swept) in the medium voltage range H2.

図3の真理値表に示すように、EXOR回路15aは、第2の基準電圧Vth2と第3の基準電圧Vth3とが等しい場合(すなわち、D2=D3)、OR回路15bの一方の入力Aに常に「0」を出力する。また、OR回路15bは、入力Aに常に「0」が入力されるため、常に判別信号D1の値をそのまま出力する。つまり、OR回路15bは、図4に示すように、基準電圧設定部14により、第3の基準電圧Vth3が中電圧範囲H2において第2の基準電圧Vth2と等しい一定値に設定されるとともに、第1の基準電圧Vth1が中電圧範囲H2において可変に設定される場合に、第1の0/1判別器11からの判別信号D1をMiddle Eye測定信号(MSBのビット列信号)として、LSB CHからレベル測定部31に出力するようになっている。このとき、比較用パターン発生部32は、誤り率算出部33のLSB CHに、比較用パルスパターン信号としてMSBのビット列信号を出力する。 As shown in the truth table of FIG. 3, when the second reference voltage Vth2 and the third reference voltage Vth3 are equal (that is, D2 = D3), the EXOR circuit 15a is input to one input A of the OR circuit 15b. Always outputs "0". Further, since the OR circuit 15b always inputs "0" to the input A, the value of the discrimination signal D1 is always output as it is. That is, as shown in FIG. 4, in the OR circuit 15b, the reference voltage setting unit 14 sets the third reference voltage Vth3 to a constant value equal to the second reference voltage Vth2 in the medium voltage range H2. When the reference voltage Vth1 of 1 is variably set in the medium voltage range H2, the discrimination signal D1 from the first 0/1 discriminator 11 is used as the Middle Eye measurement signal (MSB bit string signal) and is leveled from the LSB CH. It is designed to output to the measuring unit 31. At this time, the comparison pattern generation unit 32 outputs the MSB bit string signal as the comparison pulse pattern signal to the LSB CH of the error rate calculation unit 33.

また、第2の基準電圧Vth2が中電圧範囲H2の例えば中心電圧付近で固定されていることにより、デコード回路15は、クロック再生用の判別信号D2をMSB CHからクロック再生回路20に出力する。 Further, since the second reference voltage Vth2 is fixed in the middle voltage range H2, for example, near the center voltage, the decoding circuit 15 outputs the discrimination signal D2 for clock reproduction from the MSB CH to the clock reproduction circuit 20.

誤り率算出部33は、レベル測定部31のLSB CHから出力されたMiddle Eye測定信号の電圧レベルと、比較用パターン発生部32のLSB CHから出力された比較用パルスパターン信号としてのMSBのビット列信号との比較に基づいて、第1の基準電圧Vth1の変化に応じたMiddle Eye測定信号のBERの変化を示す図16のようなバスタブ曲線を作成する。なお、図16におけるエラーフリー区間とは、あらかじめ設定される測定時間内に誤り率算出部33において誤りビットが検出できない区間を示すものである。 The error rate calculation unit 33 includes the voltage level of the Middle Eye measurement signal output from the LSB CH of the level measurement unit 31 and the bit string of the MSB as the comparison pulse pattern signal output from the LSB CH of the comparison pattern generation unit 32. Based on the comparison with the signal, a bathtub curve as shown in FIG. 16 showing the change in BER of the Middle Eye measurement signal according to the change in the first reference voltage Vth1 is created. The error-free section in FIG. 16 indicates a section in which the error bit cannot be detected by the error rate calculation unit 33 within the preset measurement time.

表示部40は、例えばLCDやCRTなどの表示機器で構成され、制御部60から出力される制御信号に応じて、誤り率算出部33により作成されたバスタブ曲線などの各種表示内容を表示するようになっている。さらに、表示部40は、各種条件を設定するためのボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象の表示を行うようになっている。 The display unit 40 is composed of display devices such as an LCD and a CRT, and displays various display contents such as a bathtub curve created by the error rate calculation unit 33 according to a control signal output from the control unit 60. It has become. Further, the display unit 40 displays operation targets such as buttons, soft keys, pull-down menus, and text boxes for setting various conditions.

操作部50は、ユーザによる操作入力を受け付けるためのものであり、例えば表示部40に設けられたタッチパネルで構成される。あるいは、操作部50は、キーボード又はマウスのような入力デバイスを含んで構成されてもよい。また、操作部50は、リモートコマンドなどによる遠隔制御を行う外部制御装置で構成されてもよい。操作部50への操作入力は、制御部60により検知されるようになっている。例えば、操作部50により、第1〜第3の0/1判別器11〜13の第1〜第3の基準電圧Vth1〜Vth3をユーザが任意に設定することなどが可能である。 The operation unit 50 is for receiving an operation input by the user, and is composed of, for example, a touch panel provided on the display unit 40. Alternatively, the operating unit 50 may be configured to include an input device such as a keyboard or mouse. Further, the operation unit 50 may be configured by an external control device that performs remote control by a remote command or the like. The operation input to the operation unit 50 is detected by the control unit 60. For example, the operation unit 50 can arbitrarily set the first to third reference voltages Vth1 to Vth3 of the first to third 0/1 discriminators 11 to 13.

制御部60は、例えばCPU、ROM、RAM、HDDなどを含むマイクロコンピュータ又はパーソナルコンピュータ等で構成され、誤り率測定装置100を構成する上記各部の動作を制御する。また、制御部60は、ROM等に記憶された所定のプログラムをRAMに移して実行することにより、誤り率算出部33をソフトウェア的に構成することが可能である。なお、誤り率算出部33は、FPGA(Field Programmable Gate Array)やASIC(Application Specific Integrated Circuit)などのディジタル回路で構成することも可能である。あるいは、誤り率算出部33は、ディジタル回路によるハードウェア処理と所定のプログラムによるソフトウェア処理とを適宜組み合わせて構成することも可能である。 The control unit 60 is composed of, for example, a microcomputer including a CPU, ROM, RAM, HDD, etc., a personal computer, or the like, and controls the operation of each of the above units constituting the error rate measuring device 100. Further, the control unit 60 can configure the error rate calculation unit 33 by software by transferring a predetermined program stored in the ROM or the like to the RAM and executing the program. The error rate calculation unit 33 can also be configured by a digital circuit such as an FPGA (Field Programmable Gate Array) or an ASIC (Application Specific Integrated Circuit). Alternatively, the error rate calculation unit 33 can be configured by appropriately combining hardware processing by a digital circuit and software processing by a predetermined program.

以下、本実施形態の誤り率測定装置100を用いる誤り率測定方法について、図5及び図6のフローチャートを参照しながらその処理の一例を説明する。 Hereinafter, an example of the processing of the error rate measuring method using the error rate measuring device 100 of the present embodiment will be described with reference to the flowcharts of FIGS. 5 and 6.

まず、基準電圧設定部14は、第2の基準電圧Vth2と第3の基準電圧Vth3とを中電圧範囲H2の例えば中心電圧付近の互いに等しい一定値として、それぞれ第2及び第3の0/1判別器12,13に設定する(基準電圧設定ステップS1)。 First, the reference voltage setting unit 14 sets the second reference voltage Vth2 and the third reference voltage Vth3 as constant values equal to each other in the medium voltage range H2, for example, near the center voltage, and sets the second and third 0/1, respectively. Set in the discriminators 12 and 13 (reference voltage setting step S1).

次に、基準電圧設定部14は、中電圧範囲H2における第1の基準電圧Vth1の初期値を第1の0/1判別器11に設定する(基準電圧設定ステップS2)。 Next, the reference voltage setting unit 14 sets the initial value of the first reference voltage Vth1 in the medium voltage range H2 in the first 0/1 discriminator 11 (reference voltage setting step S2).

次に、DUT200は、被測定信号としてのPAM4信号を誤り率測定装置100に送信する(ステップS3)。 Next, the DUT 200 transmits a PAM4 signal as a signal to be measured to the error rate measuring device 100 (step S3).

次に、第1の0/1判別器11は、判別信号D1としてMiddle Eye測定信号を出力する(第1の0/1判別ステップS4)。また、第2の0/1判別器12は、判別信号D2を出力する(第2の0/1判別ステップS5)。また、第3の0/1判別器13は、判別信号D3を出力する(第3の0/1判別ステップS6)。 Next, the first 0/1 discriminator 11 outputs the Middle Eye measurement signal as the discriminant signal D1 (first 0/1 discriminant step S4). Further, the second 0/1 discriminator 12 outputs the discrimination signal D2 (second 0/1 discrimination step S5). Further, the third 0/1 discriminator 13 outputs the discrimination signal D3 (third 0/1 discrimination step S6).

次に、クロック再生回路20は、第2の0/1判別器12から出力された判別信号D2からクロックを再生して再生クロックCLKとして出力する(クロック再生ステップS7)。 Next, the clock regeneration circuit 20 reproduces the clock from the discrimination signal D2 output from the second 0/1 discriminator 12 and outputs it as the reproduction clock CLK (clock reproduction step S7).

次に、デコード回路15は、第1〜第3の0/1判別器11〜13からそれぞれ出力された判別信号D1〜D3から被測定信号のMSBのビット列信号を含む複数のビット列信号を生成する。すなわち、デコード回路15は、第2の基準電圧Vth2により得られた被測定信号のMSBのビット列信号をMSB CHから出力するとともに、第1の基準電圧Vth1により得られたMiddle Eye測定信号(MSBのビット列信号)をLSB CHから出力する(デコードステップS8)。 Next, the decoding circuit 15 generates a plurality of bit string signals including the MSB bit string signal of the measured signal from the discrimination signals D1 to D3 output from the first to third 0/1 discriminators 11 to 13, respectively. .. That is, the decoding circuit 15 outputs the MSB bit string signal of the signal to be measured obtained by the second reference voltage Vth2 from the MSB CH, and also outputs the Middle Eye measurement signal (MSB) obtained by the first reference voltage Vth1. The bit string signal) is output from the LSB CH (decoding step S8).

次に、レベル測定部31は、デコードステップS8でMSB CHから出力されたMSBのビット列信号の電圧レベルと、デコードステップS8でLSB CHから出力されたMiddle Eye測定信号の電圧レベルを、クロック再生ステップS7から出力された再生クロックCLKのタイミングで測定する(レベル測定ステップS9)。 Next, the level measuring unit 31 clocks the voltage level of the MSB bit string signal output from the MSB CH in the decoding step S8 and the voltage level of the Middle Eye measurement signal output from the LSB CH in the decoding step S8. The measurement is performed at the timing of the reproduction clock CLK output from S7 (level measurement step S9).

次に、比較用パターン発生部32は、誤り率算出部33のMSB CH及びLSB CHに比較用パルスパターン信号としてMSBのビット列信号を出力する(ステップS10)。 Next, the comparison pattern generation unit 32 outputs the MSB bit string signal as the comparison pulse pattern signal to the MSB CH and the LSB CH of the error rate calculation unit 33 (step S10).

次に、誤り率算出部33は、レベル測定ステップS9により測定された電圧レベルと、ステップS10から出力された比較用パルスパターン信号との比較に基づいて、デコード回路15のMSB CHから出力されたMSBのビット列信号のBERと、LSB CHから出力されたMiddle Eye測定信号のBERをそれぞれ算出する(誤り率算出ステップS11)。 Next, the error rate calculation unit 33 was output from the MSB CH of the decoding circuit 15 based on the comparison between the voltage level measured in the level measurement step S9 and the comparison pulse pattern signal output from step S10. The BER of the bit string signal of the MSB and the BER of the Middle Eye measurement signal output from the LSB CH are calculated respectively (error rate calculation step S11).

次に、制御部60は、全ての第1の基準電圧Vth1についてステップS11までの処理が実行されたか否かを判断する(ステップS12)。全ての第1の基準電圧Vth1についてステップS11までの処理が実行されていない場合には、制御部60は、ステップS13の処理を実行する。一方、全ての第1の基準電圧Vth1についてステップS11までの処理が実行された場合には、制御部60は、ステップS14の処理を実行する。 Next, the control unit 60 determines whether or not the processes up to step S11 have been executed for all the first reference voltages Vth1 (step S12). If the processes up to step S11 have not been executed for all the first reference voltages Vth1, the control unit 60 executes the processes of step S13. On the other hand, when the processes up to step S11 are executed for all the first reference voltages Vth1, the control unit 60 executes the processes of step S14.

ステップS13において基準電圧設定部14は、中電圧範囲H2における新たな第1の基準電圧Vth1を第1の0/1判別器11に設定する(基準電圧設定ステップS13)。次に、制御部60は、再びステップS4以降の処理を実行する。 In step S13, the reference voltage setting unit 14 sets a new first reference voltage Vth1 in the medium voltage range H2 in the first 0/1 discriminator 11 (reference voltage setting step S13). Next, the control unit 60 executes the processes after step S4 again.

ステップS14において誤り率算出部33は、ステップS11で得られた全ての第1の基準電圧Vth1についてのMiddle Eye測定信号のBERに基づいて、第1の基準電圧Vth1の変化に応じたMiddle Eye測定信号のBERの変化を示すバスタブ曲線を作成する(誤り率算出ステップS14)。 In step S14, the error rate calculation unit 33 measures the Middle Eye according to the change in the first reference voltage Vth1 based on the BER of the Middle Eye measurement signal for all the first reference voltage Vth1 obtained in step S11. A bathtub curve showing a change in the BER of the signal is created (error rate calculation step S14).

次に、表示部40は、誤り率算出ステップS14で作成されたバスタブ曲線を表示する(ステップS15)。 Next, the display unit 40 displays the bathtub curve created in the error rate calculation step S14 (step S15).

以下、図7のフローチャートを参照しながら、図5のデコードステップS8の処理の一例を説明する。 Hereinafter, an example of the processing of the decoding step S8 of FIG. 5 will be described with reference to the flowchart of FIG. 7.

まず、EXOR回路15aは、第2の0/1判別器12からの判別信号D2と、第3の0/1判別器13からの判別信号D3との排他的論理和として「0」を出力する(EXORステップS41)。 First, the EXOR circuit 15a outputs "0" as the exclusive OR of the discrimination signal D2 from the second 0/1 discriminator 12 and the discrimination signal D3 from the third 0/1 discriminator 13. (EXOR step S41).

次に、OR回路15bは、第1の0/1判別器11からの判別信号D1と、EXORステップS41の出力との論理和として判別信号D1を出力する(ORステップS42)。つまり、ORステップS42は、基準電圧設定ステップS1により、第2の基準電圧Vth2と第3の基準電圧Vth3とが中電圧範囲H2において互いに等しい一定値に設定されることにより、Middle Eye測定信号(判別信号D1)をレベル測定ステップS9に出力する。 Next, the OR circuit 15b outputs the discrimination signal D1 as the logical sum of the discrimination signal D1 from the first 0/1 discriminator 11 and the output of the EXOR step S41 (OR step S42). That is, in the OR step S42, the reference voltage setting step S1 sets the second reference voltage Vth2 and the third reference voltage Vth3 to constant values equal to each other in the medium voltage range H2, so that the Middle Eye measurement signal ( The discrimination signal D1) is output to the level measurement step S9.

以上説明したように、本実施形態に係る誤り率測定装置100は、クロック再生に関わる第2の基準電圧Vth2を中電圧範囲H2において一定値に固定した状態で、第1の基準電圧Vth1を中電圧範囲H2において可変に設定できるため、クロックロスを発生させることなく、Middle Eyeに関するバスタブ曲線を作成することができる。 As described above, the error rate measuring device 100 according to the present embodiment sets the first reference voltage Vth1 to a medium value in a state where the second reference voltage Vth2 related to clock reproduction is fixed to a constant value in the medium voltage range H2. Since it can be set variably in the voltage range H2, it is possible to create a bathtub curve for the Middle Eye without causing clock loss.

より詳細には、本実施形態に係る誤り率測定装置100は、中電圧範囲H2において第3の基準電圧Vth3が第2の基準電圧Vth2と等しい一定値に設定されることにより、クロック再生用の判別信号D2をMSB CHに供給しつつ、LSB CHでMiddle Eye測定信号を解析することができる。 More specifically, the error rate measuring device 100 according to the present embodiment is used for clock reproduction by setting the third reference voltage Vth3 to a constant value equal to the second reference voltage Vth2 in the medium voltage range H2. While supplying the discrimination signal D2 to the MSB CH, the Middle Eye measurement signal can be analyzed by the LSB CH.

(第2の実施形態)
続いて、本発明の第2の実施形態に係る誤り率測定装置110について図面を参照しながら説明する。なお、第1の実施形態と同様の構成については適宜説明を省略する。また、第1の実施形態と同様の動作についても適宜説明を省略する。図8に示すように、本実施形態においては、PAM4デコーダ10の構成が第1の実施形態と異なっている。
(Second Embodiment)
Subsequently, the error rate measuring device 110 according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The description of the same configuration as that of the first embodiment will be omitted as appropriate. Further, description of the same operation as that of the first embodiment will be omitted as appropriate. As shown in FIG. 8, in this embodiment, the configuration of the PAM4 decoder 10 is different from that in the first embodiment.

本実施形態のPAM4デコーダ10が備えるデコード回路16は、論理回路で構成されるものであって、第1〜第3の0/1判別器11〜13からそれぞれ出力された判別信号D1〜D3から複数のビット列信号を生成するようになっている。例えば、デコード回路16は、第1の0/1判別器11からの判別信号D1と、第2の0/1判別器12からの判別信号D2との否定排他的論理和を出力するEXNOR回路16aと、第3の0/1判別器13からの判別信号D3と、EXNOR回路16aの出力との論理積を出力するAND回路16bと、を有する。 The decoding circuit 16 included in the PAM4 decoder 10 of the present embodiment is composed of a logic circuit, and is derived from the discrimination signals D1 to D3 output from the first to third 0/1 discriminators 11 to 13, respectively. It is designed to generate multiple bit string signals. For example, the decoding circuit 16 outputs the negative and exclusive logical sum of the discrimination signal D1 from the first 0/1 discriminator 11 and the discrimination signal D2 from the second 0/1 discriminator 12a. And an AND circuit 16b that outputs a logical product of the discrimination signal D3 from the third 0/1 discriminator 13 and the output of the EXNOR circuit 16a.

AND回路16bは、基準電圧設定部14により、第1〜第3の基準電圧Vth1〜Vth3がそれぞれ高電圧範囲H1、中電圧範囲H2、低電圧範囲H3の例えば中心電圧付近に設定される場合には、PAM4信号のLSBのビット列信号をLSBチャンネル(LSB CH)から出力する。 In the AND circuit 16b, when the first to third reference voltages Vth1 to Vth3 are set by the reference voltage setting unit 14 in the high voltage range H1, the medium voltage range H2, and the low voltage range H3, for example, near the center voltage, respectively. Outputs the LSB bit string signal of the PAM4 signal from the LSB channel (LSB CH).

また、デコード回路16は、基準電圧設定部14により、第2の基準電圧Vth2が中電圧範囲H2の例えば中心電圧付近に設定される場合には、PAM4信号のMSBのビット列信号(判別信号D2)をMSBチャンネル(MSB CH)から出力する。 Further, in the decoding circuit 16, when the second reference voltage Vth2 is set in the medium voltage range H2, for example, near the center voltage by the reference voltage setting unit 14, the MSB bit string signal (discrimination signal D2) of the PAM4 signal. Is output from the MSB channel (MSB CH).

一方、本実施形態に係る誤り率測定装置110が、デコード回路16のLSB CHから出力されるビット列信号に関してバスタブ曲線を作成する場合の動作例は以下のようになる。すなわち、図8に示すように、基準電圧設定部14は、第1の基準電圧Vth1と第2の基準電圧Vth2とを中電圧範囲H2の例えば中心電圧付近の互いに等しい一定値に設定し、第3の基準電圧Vth3を中電圧範囲H2において可変に設定(掃引)する。 On the other hand, an operation example when the error rate measuring device 110 according to the present embodiment creates a bathtub curve with respect to the bit string signal output from the LSB CH of the decoding circuit 16 is as follows. That is, as shown in FIG. 8, the reference voltage setting unit 14 sets the first reference voltage Vth1 and the second reference voltage Vth2 to constant values equal to each other in the medium voltage range H2, for example, near the center voltage. The reference voltage Vth3 of 3 is variably set (swept) in the medium voltage range H2.

図9の真理値表に示すように、EXNOR回路16aは、第1の基準電圧Vth1と第2の基準電圧Vth2とが等しい場合(すなわち、D1=D2)、AND回路16bの一方の入力Bに常に「1」を出力する。また、AND回路16bは、入力Bに常に「1」が入力されるため、常に判別信号D3の値をそのまま出力する。つまり、AND回路16bは、図8に示すように、基準電圧設定部14により、第1の基準電圧Vth1が中電圧範囲H2において第2の基準電圧Vth2と等しい一定値に設定されるとともに、第3の基準電圧Vth3が中電圧範囲H2において可変に設定される場合に、第3の0/1判別器13からの判別信号D3をMiddle Eye測定信号(MSBのビット列信号)として、LSB CHからレベル測定部31に出力するようになっている。このとき、比較用パターン発生部32は、誤り率算出部33のLSB CHに、比較用パルスパターン信号としてMSBのビット列信号を出力する。 As shown in the truth table of FIG. 9, the EXNOR circuit 16a is connected to one input B of the AND circuit 16b when the first reference voltage Vth1 and the second reference voltage Vth2 are equal (that is, D1 = D2). Always outputs "1". Further, since the AND circuit 16b always inputs "1" to the input B, the value of the discrimination signal D3 is always output as it is. That is, as shown in FIG. 8, in the AND circuit 16b, the reference voltage setting unit 14 sets the first reference voltage Vth1 to a constant value equal to the second reference voltage Vth2 in the medium voltage range H2, and at the same time, When the reference voltage Vth3 of 3 is variably set in the medium voltage range H2, the discrimination signal D3 from the third 0/1 discriminator 13 is used as the Middle Eye measurement signal (MSB bit string signal) and is leveled from the LSB CH. It is designed to output to the measuring unit 31. At this time, the comparison pattern generation unit 32 outputs the MSB bit string signal as the comparison pulse pattern signal to the LSB CH of the error rate calculation unit 33.

また、第2の基準電圧Vth2が中電圧範囲H2の例えば中心電圧付近で固定されていることにより、デコード回路16は、クロック再生用の判別信号D2をMSB CHからクロック再生回路20に出力する。 Further, since the second reference voltage Vth2 is fixed in the middle voltage range H2, for example, near the center voltage, the decoding circuit 16 outputs the discrimination signal D2 for clock reproduction from the MSB CH to the clock reproduction circuit 20.

以下、本実施形態の誤り率測定装置110を用いる誤り率測定方法について、図10及び図11のフローチャートを参照しながらその処理の一例を説明する。 Hereinafter, an example of the processing of the error rate measuring method using the error rate measuring device 110 of the present embodiment will be described with reference to the flowcharts of FIGS. 10 and 11.

まず、基準電圧設定部14は、第1の基準電圧Vth1と第2の基準電圧Vth2とを中電圧範囲H2の例えば中心電圧付近の互いに等しい一定値として、それぞれ第1及び第2の0/1判別器11,12に設定する(基準電圧設定ステップS21)。 First, the reference voltage setting unit 14 sets the first reference voltage Vth1 and the second reference voltage Vth2 as constant values equal to each other in the medium voltage range H2, for example, near the center voltage, and sets the first and second 0/1, respectively. It is set in the discriminators 11 and 12 (reference voltage setting step S21).

次に、基準電圧設定部14は、中電圧範囲H2における第3の基準電圧Vth3の初期値を第3の0/1判別器13に設定する(基準電圧設定ステップS22)。 Next, the reference voltage setting unit 14 sets the initial value of the third reference voltage Vth3 in the medium voltage range H2 in the third 0/1 discriminator 13 (reference voltage setting step S22).

次に、DUT200は、被測定信号としてのPAM4信号を誤り率測定装置110に送信する(ステップS23)。 Next, the DUT 200 transmits a PAM4 signal as a signal to be measured to the error rate measuring device 110 (step S23).

次に、第1の0/1判別器11は、判別信号D1を出力する(第1の0/1判別ステップS24)。また、第2の0/1判別器12は、判別信号D2を出力する(第2の0/1判別ステップS25)。また、第3の0/1判別器13は、判別信号D3としてMiddle Eye測定信号を出力する(第3の0/1判別ステップS26)。 Next, the first 0/1 discriminator 11 outputs the discrimination signal D1 (first 0/1 discrimination step S24). Further, the second 0/1 discriminator 12 outputs the discriminant signal D2 (second 0/1 discriminant step S25). Further, the third 0/1 discriminator 13 outputs the Middle Eye measurement signal as the discriminant signal D3 (third 0/1 discriminant step S26).

次に、クロック再生回路20は、第2の0/1判別器12から出力された判別信号D2からクロックを再生して再生クロックCLKとして出力する(クロック再生ステップS27)。 Next, the clock regeneration circuit 20 reproduces the clock from the discrimination signal D2 output from the second 0/1 discriminator 12 and outputs it as the reproduction clock CLK (clock reproduction step S27).

次に、デコード回路16は、第1〜第3の0/1判別器11〜13からそれぞれ出力された判別信号D1〜D3から被測定信号のMSBのビット列信号を含む複数のビット列信号を生成する。すなわち、デコード回路16は、第2の基準電圧Vth2により得られた被測定信号のMSBのビット列信号をMSB CHから出力するとともに、第3の基準電圧Vth3により得られたMiddle Eye測定信号(MSBのビット列信号)をLSB CHから出力する(デコードステップS28)。 Next, the decoding circuit 16 generates a plurality of bit string signals including the MSB bit string signal of the measured signal from the discrimination signals D1 to D3 output from the first to third 0/1 discriminators 11 to 13, respectively. .. That is, the decoding circuit 16 outputs the MSB bit string signal of the signal to be measured obtained by the second reference voltage Vth2 from the MSB CH, and also outputs the Middle Eye measurement signal (MSB) obtained by the third reference voltage Vth3. The bit string signal) is output from the LSB CH (decoding step S28).

次に、レベル測定部31は、デコードステップS28でMSB CHから出力されたMSBのビット列信号の電圧レベルと、デコードステップS28でLSB CHから出力されたMiddle Eye測定信号の電圧レベルを、クロック再生ステップS27から出力された再生クロックCLKのタイミングで測定する(レベル測定ステップS29)。 Next, the level measuring unit 31 clocks the voltage level of the MSB bit string signal output from the MSB CH in the decoding step S28 and the voltage level of the Middle Eye measurement signal output from the LSB CH in the decoding step S28. The measurement is performed at the timing of the reproduction clock CLK output from S27 (level measurement step S29).

次に、比較用パターン発生部32は、誤り率算出部33のMSB CH及びLSB CHに比較用パルスパターン信号としてMSBのビット列信号を出力する(ステップS30)。 Next, the comparison pattern generation unit 32 outputs the MSB bit string signal as the comparison pulse pattern signal to the MSB CH and the LSB CH of the error rate calculation unit 33 (step S30).

次に、誤り率算出部33は、レベル測定ステップS29により測定された電圧レベルと、ステップS30から出力された比較用パルスパターン信号との比較に基づいて、デコード回路16のMSB CHから出力されたMSBのビット列信号のBERと、LSB CHから出力されたMiddle Eye測定信号のBERをそれぞれ算出する(誤り率算出ステップS31)。 Next, the error rate calculation unit 33 was output from the MSB CH of the decoding circuit 16 based on the comparison between the voltage level measured in the level measurement step S29 and the comparison pulse pattern signal output from step S30. The BER of the bit string signal of the MSB and the BER of the Middle Eye measurement signal output from the LSB CH are calculated respectively (error rate calculation step S31).

次に、制御部60は、全ての第3の基準電圧Vth3についてステップS31までの処理が実行されたか否かを判断する(ステップS32)。全ての第3の基準電圧Vth3についてステップS31までの処理が実行されていない場合には、制御部60は、ステップS33の処理を実行する。一方、全ての第3の基準電圧Vth3についてステップS31までの処理が実行された場合には、制御部60は、ステップS34の処理を実行する。 Next, the control unit 60 determines whether or not the processes up to step S31 have been executed for all the third reference voltages Vth3 (step S32). If the processes up to step S31 have not been executed for all the third reference voltages Vth3, the control unit 60 executes the processes of step S33. On the other hand, when the processes up to step S31 are executed for all the third reference voltages Vth3, the control unit 60 executes the processes of step S34.

ステップS33において基準電圧設定部14は、中電圧範囲H2における新たな第3の基準電圧Vth3を第3の0/1判別器13に設定する(基準電圧設定ステップS33)。次に、制御部60は、再びステップS24以降の処理を実行する。 In step S33, the reference voltage setting unit 14 sets a new third reference voltage Vth3 in the medium voltage range H2 in the third 0/1 discriminator 13 (reference voltage setting step S33). Next, the control unit 60 executes the processes after step S24 again.

ステップS34において誤り率算出部33は、ステップS31で得られた全ての第3の基準電圧Vth3についてのMiddle Eye測定信号のBERに基づいて、第3の基準電圧Vth3の変化に応じたMiddle Eye測定信号のBERの変化を示すバスタブ曲線を作成する(誤り率算出ステップS34)。 In step S34, the error rate calculation unit 33 measures the Middle Eye according to the change in the third reference voltage Vth3 based on the BER of the Middle Eye measurement signal for all the third reference voltage Vth3 obtained in step S31. A bathtub curve showing a change in the BER of the signal is created (error rate calculation step S34).

次に、表示部40は、誤り率算出ステップS34で作成されたバスタブ曲線を表示する(ステップS35)。 Next, the display unit 40 displays the bathtub curve created in the error rate calculation step S34 (step S35).

以下、図12のフローチャートを参照しながら、図10のデコードステップS28の処理の一例を説明する。 Hereinafter, an example of the processing of the decoding step S28 of FIG. 10 will be described with reference to the flowchart of FIG.

まず、EXNOR回路16aは、第1の0/1判別器11からの判別信号D1と、第2の0/1判別器12からの判別信号D2との否定排他的論理和として「1」を出力する(EXNORステップS43)。 First, the EXNOR circuit 16a outputs "1" as a negative exclusive OR of the discrimination signal D1 from the first 0/1 discriminator 11 and the discrimination signal D2 from the second 0/1 discriminator 12. (EXNOR step S43).

次に、AND回路16bは、第3の0/1判別器13からの判別信号D3と、EXNORステップS43の出力との論理積として判別信号D3を出力する(ANDステップS44)。つまり、ANDステップS44は、基準電圧設定ステップS21により、第1の基準電圧Vth1と第2の基準電圧Vth2とが中電圧範囲H2において互いに等しい一定値に設定されることにより、Middle Eye測定信号(判別信号D3)をレベル測定ステップS29に出力する。 Next, the AND circuit 16b outputs the discrimination signal D3 as a logical product of the discriminant signal D3 from the third 0/1 discriminator 13 and the output of the EXNOR step S43 (AND step S44). That is, in the AND step S44, the reference voltage setting step S21 sets the first reference voltage Vth1 and the second reference voltage Vth2 to constant values equal to each other in the medium voltage range H2, so that the Middle Eye measurement signal ( The discrimination signal D3) is output to the level measurement step S29.

以上説明したように、本実施形態に係る誤り率測定装置110は、クロック再生に関わる第2の基準電圧Vth2を中電圧範囲H2において一定値に固定した状態で、第3の基準電圧Vth3を中電圧範囲H2において可変に設定できるため、クロックロスを発生させることなく、Middle Eyeに関するバスタブ曲線を作成することができる。 As described above, the error rate measuring device 110 according to the present embodiment sets the third reference voltage Vth3 to medium in a state where the second reference voltage Vth2 related to clock reproduction is fixed to a constant value in the medium voltage range H2. Since it can be set variably in the voltage range H2, it is possible to create a bathtub curve for the Middle Eye without causing clock loss.

より詳細には、本実施形態に係る誤り率測定装置110は、中電圧範囲H2において第1の基準電圧Vth1が第2の基準電圧Vth2と等しい一定値に設定されることにより、クロック再生用の判別信号D2をMSB CHに供給しつつ、LSB CHでMiddle Eye測定信号を解析することができる。 More specifically, the error rate measuring device 110 according to the present embodiment is used for clock reproduction by setting the first reference voltage Vth1 to a constant value equal to the second reference voltage Vth2 in the medium voltage range H2. While supplying the discrimination signal D2 to the MSB CH, the Middle Eye measurement signal can be analyzed by the LSB CH.

10 PAM4デコーダ
11 第1の0/1判別器
12 第2の0/1判別器
13 第3の0/1判別器
14 基準電圧設定部
15,16 デコード回路
15a EXOR回路
15b OR回路
20 クロック再生回路
30 誤り検出部
31 レベル測定部
33 誤り率算出部
100,110 誤り率測定装置
200 DUT
10 PAM4 decoder 11 1st 0/1 discriminator 12 2nd 0/1 discriminator 13 3rd 0/1 discriminator 14 Reference voltage setting unit 15, 16 Decoding circuit 15a EXOR circuit 15b OR circuit 20 Clock playback circuit 30 Error detection unit 31 Level measurement unit 33 Error rate calculation unit 100, 110 Error rate measurement device 200 DUT

Claims (8)

3つのアイパターンの開口の電圧範囲が電圧レベルの高い方からそれぞれ高電圧範囲(H1)、中電圧範囲(H2)、低電圧範囲(H3)であるPAM4信号の誤りを検出する誤り率測定装置(100)であって、
前記PAM4信号の電圧レベルが第1の基準電圧以上である場合に判別信号として1を出力し、それ以外の場合に判別信号として0を出力する第1の0/1判別器(11)と、
前記PAM4信号の電圧レベルが第2の基準電圧以上である場合に判別信号として1を出力し、それ以外の場合に判別信号として0を出力する第2の0/1判別器(12)と、
前記PAM4信号の電圧レベルが第3の基準電圧以上である場合に判別信号として1を出力し、それ以外の場合に判別信号として0を出力する第3の0/1判別器(13)と、
前記第2の0/1判別器から出力された判別信号からクロックを再生して再生クロックとして出力するクロック再生回路(20)と、
前記第1〜前記第3の0/1判別器からそれぞれ出力された判別信号から前記PAM4信号のMSBのビット列信号を含む複数のビット列信号を生成するデコード回路(15)と、
前記デコード回路から出力された前記MSBのビット列信号の電圧レベルを前記再生クロックのタイミングで測定するレベル測定部(31)と、
前記レベル測定部により測定された電圧レベルに基づいて、前記MSBのビット列信号の誤り率を算出する誤り率算出部(33)と、
前記第1〜前記第3の基準電圧をそれぞれ前記第1〜前記第3の0/1判別器に設定する基準電圧設定部(14)と、を備え、
前記誤り率算出部は、前記基準電圧設定部により、前記第2の基準電圧が前記中電圧範囲において一定値に設定されるとともに、前記第1の基準電圧が前記中電圧範囲において可変に設定される場合に、前記第1の基準電圧の変化に応じた前記MSBのビット列信号の誤り率の変化を示すバスタブ曲線を作成することを特徴とする誤り率測定装置。
Error rate measuring device that detects errors in PAM4 signals in which the voltage range of the openings of the three eye patterns is the high voltage range (H1), medium voltage range (H2), and low voltage range (H3) from the highest voltage level, respectively. (100)
A first 0/1 discriminator (11) that outputs 1 as a discrimination signal when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the first reference voltage and outputs 0 as a discrimination signal in other cases.
A second 0/1 discriminator (12) that outputs 1 as a discrimination signal when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the second reference voltage and outputs 0 as a discrimination signal in other cases.
A third 0/1 discriminator (13) that outputs 1 as a discrimination signal when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the third reference voltage and outputs 0 as a discrimination signal in other cases.
A clock reproduction circuit (20) that reproduces a clock from the discrimination signal output from the second 0/1 discriminator and outputs it as a reproduction clock.
A decoding circuit (15) that generates a plurality of bit string signals including the MSB bit string signal of the PAM4 signal from the discrimination signals output from the first to third 0/1 discriminators, respectively.
A level measuring unit (31) that measures the voltage level of the MSB bit string signal output from the decoding circuit at the timing of the reproduction clock, and
An error rate calculation unit (33) that calculates the error rate of the bit string signal of the MSB based on the voltage level measured by the level measurement unit, and
A reference voltage setting unit (14) for setting the first to third reference voltages in the first to third 0/1 discriminators, respectively, is provided.
In the error rate calculation unit, the second reference voltage is set to a constant value in the medium voltage range by the reference voltage setting unit, and the first reference voltage is variably set in the medium voltage range. In this case, the error rate measuring device is characterized by creating a bathtub curve showing a change in the error rate of the bit string signal of the MSB in response to a change in the first reference voltage.
前記デコード回路は、
前記第2の0/1判別器からの判別信号と、前記第3の0/1判別器からの判別信号との排他的論理和を出力するEXOR回路(15a)と、
前記第1の0/1判別器からの判別信号と、前記EXOR回路の出力との論理和を出力するOR回路(15b)と、を有し、
前記OR回路は、前記基準電圧設定部により、前記第3の基準電圧が前記中電圧範囲において前記第2の基準電圧と等しい一定値に設定される場合に、前記第1の0/1判別器からの判別信号を前記MSBのビット列信号として前記レベル測定部に出力することを特徴とする請求項1に記載の誤り率測定装置。
The decoding circuit
An EXOR circuit (15a) that outputs an exclusive OR of the discrimination signal from the second 0/1 discriminator and the discrimination signal from the third 0/1 discriminator.
It has an OR circuit (15b) that outputs a logical sum of the discrimination signal from the first 0/1 discriminator and the output of the EXOR circuit.
The OR circuit is the first 0/1 discriminator when the third reference voltage is set to a constant value equal to the second reference voltage in the medium voltage range by the reference voltage setting unit. The error rate measuring apparatus according to claim 1, wherein the discrimination signal from the above is output to the level measuring unit as a bit string signal of the MSB.
3つのアイパターンの開口の電圧範囲が電圧レベルの高い方からそれぞれ高電圧範囲(H1)、中電圧範囲(H2)、低電圧範囲(H3)であるPAM4信号の誤りを検出する誤り率測定装置(110)であって、
前記PAM4信号の電圧レベルが第1の基準電圧以上である場合に判別信号として1を出力し、それ以外の場合に判別信号として0を出力する第1の0/1判別器(11)と、
前記PAM4信号の電圧レベルが第2の基準電圧以上である場合に判別信号として1を出力し、それ以外の場合に判別信号として0を出力する第2の0/1判別器(12)と、
前記PAM4信号の電圧レベルが第3の基準電圧以上である場合に判別信号として1を出力し、それ以外の場合に判別信号として0を出力する第3の0/1判別器(13)と、
前記第2の0/1判別器から出力された判別信号からクロックを再生して再生クロックとして出力するクロック再生回路(20)と、
前記第1〜前記第3の0/1判別器からそれぞれ出力された判別信号から前記PAM4信号のMSBのビット列信号を含む複数のビット列信号を生成するデコード回路(16)と、
前記デコード回路から出力された前記MSBのビット列信号の電圧レベルを前記再生クロックのタイミングで測定するレベル測定部(31)と、
前記レベル測定部により測定された電圧レベルに基づいて、前記MSBのビット列信号の誤り率を算出する誤り率算出部(33)と、
前記第1〜前記第3の基準電圧をそれぞれ前記第1〜前記第3の0/1判別器に設定する基準電圧設定部(14)と、を備え、
前記誤り率算出部は、前記基準電圧設定部により、前記第2の基準電圧が前記中電圧範囲において一定値に設定されるとともに、前記第3の基準電圧が前記中電圧範囲において可変に設定される場合に、前記第3の基準電圧の変化に応じた前記MSBのビット列信号の誤り率の変化を示すバスタブ曲線を作成することを特徴とする誤り率測定装置。
Error rate measuring device that detects errors in PAM4 signals in which the voltage range of the openings of the three eye patterns is the high voltage range (H1), medium voltage range (H2), and low voltage range (H3) from the highest voltage level, respectively. (110)
A first 0/1 discriminator (11) that outputs 1 as a discrimination signal when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the first reference voltage and outputs 0 as a discrimination signal in other cases.
A second 0/1 discriminator (12) that outputs 1 as a discrimination signal when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the second reference voltage and outputs 0 as a discrimination signal in other cases.
A third 0/1 discriminator (13) that outputs 1 as a discrimination signal when the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the third reference voltage and outputs 0 as a discrimination signal in other cases.
A clock reproduction circuit (20) that reproduces a clock from the discrimination signal output from the second 0/1 discriminator and outputs it as a reproduction clock.
A decoding circuit (16) that generates a plurality of bit string signals including the MSB bit string signal of the PAM4 signal from the discrimination signals output from the first to third 0/1 discriminators, respectively.
A level measuring unit (31) that measures the voltage level of the MSB bit string signal output from the decoding circuit at the timing of the reproduction clock, and
An error rate calculation unit (33) that calculates the error rate of the bit string signal of the MSB based on the voltage level measured by the level measurement unit, and
A reference voltage setting unit (14) for setting the first to third reference voltages in the first to third 0/1 discriminators, respectively, is provided.
In the error rate calculation unit, the second reference voltage is set to a constant value in the medium voltage range by the reference voltage setting unit, and the third reference voltage is variably set in the medium voltage range. In this case, the error rate measuring device is characterized by creating a bathtub curve showing a change in the error rate of the bit string signal of the MSB in response to a change in the third reference voltage.
前記デコード回路は、
前記第1の0/1判別器からの判別信号と、前記第2の0/1判別器からの判別信号との否定排他的論理和を出力するEXNOR回路(16a)と、
前記第3の0/1判別器からの判別信号と、前記EXNOR回路の出力との論理積を出力するAND回路(16b)と、を有し、
前記AND回路は、前記基準電圧設定部により、前記第1の基準電圧が前記中電圧範囲において前記第2の基準電圧と等しい一定値に設定される場合に、前記第3の0/1判別器からの判別信号を前記MSBのビット列信号として前記レベル測定部に出力することを特徴とする請求項3に記載の誤り率測定装置。
The decoding circuit
An EXNOR circuit (16a) that outputs a negative exclusive OR of the discrimination signal from the first 0/1 discriminator and the discrimination signal from the second 0/1 discriminator.
It has an AND circuit (16b) that outputs a logical product of the discrimination signal from the third 0/1 discriminator and the output of the EXNOR circuit.
The AND circuit is a third 0/1 discriminator when the first reference voltage is set to a constant value equal to the second reference voltage in the medium voltage range by the reference voltage setting unit. The error rate measuring apparatus according to claim 3, wherein the discrimination signal from the above is output to the level measuring unit as a bit string signal of the MSB.
3つのアイパターンの開口の電圧範囲が電圧レベルの高い方からそれぞれ高電圧範囲(H1)、中電圧範囲(H2)、低電圧範囲(H3)であるPAM4信号の誤りを検出する誤り率測定方法であって、
前記PAM4信号の電圧レベルが第1の基準電圧以上である場合に判別信号として1を第1の0/1判別器(11)から出力し、それ以外の場合に判別信号として0を前記第1の0/1判別器から出力する第1の0/1判別ステップ(S4)と、
前記PAM4信号の電圧レベルが第2の基準電圧以上である場合に判別信号として1を第2の0/1判別器(12)から出力し、それ以外の場合に判別信号として0を前記第2の0/1判別器から出力する第2の0/1判別ステップ(S5)と、
前記PAM4信号の電圧レベルが第3の基準電圧以上である場合に判別信号として1を第3の0/1判別器(13)から出力し、それ以外の場合に判別信号として0を前記第3の0/1判別器から出力する第3の0/1判別ステップ(S6)と、
前記第2の0/1判別器から出力された判別信号からクロックを再生して再生クロックとして出力するクロック再生ステップ(S7)と、
前記第1〜前記第3の0/1判別器からそれぞれ出力された判別信号から前記PAM4信号のMSBのビット列信号を含む複数のビット列信号を生成するデコードステップ(S8)と、
前記デコードステップから出力された前記MSBのビット列信号の電圧レベルを前記再生クロックのタイミングで測定するレベル測定ステップ(S9)と、
前記レベル測定ステップにより測定された電圧レベルに基づいて、前記MSBのビット列信号の誤り率を算出する誤り率算出ステップ(S11)と、
前記第1〜前記第3の基準電圧をそれぞれ前記第1〜前記第3の0/1判別器に設定する基準電圧設定ステップ(S1,S2,S13)と、を備え、
前記誤り率算出ステップは、前記基準電圧設定ステップにより、前記第2の基準電圧が前記中電圧範囲において一定値に設定されるとともに、前記第1の基準電圧が前記中電圧範囲において可変に設定される場合に、前記第1の基準電圧の変化に応じた前記MSBのビット列信号の誤り率の変化を示すバスタブ曲線を作成することを特徴とする誤り率測定方法。
Error rate measuring method for detecting errors in PAM4 signals in which the voltage ranges of the openings of the three eye patterns are the high voltage range (H1), the medium voltage range (H2), and the low voltage range (H3) from the highest voltage level, respectively. And
When the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the first reference voltage, 1 is output from the first 0/1 discriminator (11) as a discrimination signal, and 0 is output as the discrimination signal in other cases. The first 0/1 discrimination step (S4) output from the 0/1 discriminator of
When the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the second reference voltage, 1 is output from the second 0/1 discriminator (12) as a discrimination signal, and 0 is output as the discrimination signal in other cases. The second 0/1 discrimination step (S5) output from the 0/1 discriminator of
When the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the third reference voltage, 1 is output from the third 0/1 discriminator (13) as a discrimination signal, and 0 is output as the discrimination signal in other cases. The third 0/1 discrimination step (S6) output from the 0/1 discriminator of
A clock reproduction step (S7) of reproducing a clock from the discrimination signal output from the second 0/1 discriminator and outputting it as a reproduction clock.
A decoding step (S8) for generating a plurality of bit string signals including the MSB bit string signal of the PAM4 signal from the discrimination signals output from the first to third 0/1 discriminators, respectively.
A level measurement step (S9) for measuring the voltage level of the MSB bit string signal output from the decoding step at the timing of the reproduction clock, and
An error rate calculation step (S11) for calculating the error rate of the bit string signal of the MSB based on the voltage level measured by the level measurement step, and
A reference voltage setting step (S1, S2, S13) for setting the first to third reference voltages in the first to third 0/1 discriminators, respectively, is provided.
In the error rate calculation step, the second reference voltage is set to a constant value in the medium voltage range and the first reference voltage is variably set in the medium voltage range by the reference voltage setting step. In this case, the error rate measuring method is characterized in that a bathtub curve showing a change in the error rate of the bit string signal of the MSB in response to a change in the first reference voltage is created.
前記デコードステップは、
前記第2の0/1判別器からの判別信号と、前記第3の0/1判別器からの判別信号との排他的論理和を出力するEXORステップ(S41)と、
前記第1の0/1判別器からの判別信号と、前記EXORステップの出力との論理和を出力するORステップ(S42)と、を含み、
前記ORステップは、前記基準電圧設定ステップにより、前記第3の基準電圧が前記中電圧範囲において前記第2の基準電圧と等しい一定値に設定される場合に、前記第1の0/1判別器からの判別信号を前記MSBのビット列信号として前記レベル測定ステップに出力することを特徴とする請求項5に記載の誤り率測定方法。
The decoding step
The EXOR step (S41) that outputs the exclusive OR of the discriminant signal from the second 0/1 discriminator and the discriminant signal from the third 0/1 discriminator.
It includes an OR step (S42) that outputs a logical sum of the discrimination signal from the first 0/1 discriminator and the output of the EXOR step.
The OR step is the first 0/1 discriminator when the third reference voltage is set to a constant value equal to the second reference voltage in the medium voltage range by the reference voltage setting step. The error rate measuring method according to claim 5, wherein the discrimination signal from the above is output as a bit string signal of the MSB to the level measurement step.
3つのアイパターンの開口の電圧範囲が電圧レベルの高い方からそれぞれ高電圧範囲(H1)、中電圧範囲(H2)、低電圧範囲(H3)であるPAM4信号の誤りを検出する誤り率測定方法であって、
前記PAM4信号の電圧レベルが第1の基準電圧以上である場合に判別信号として1を第1の0/1判別器(11)から出力し、それ以外の場合に判別信号として0を前記第1の0/1判別器から出力する第1の0/1判別ステップ(S24)と、
前記PAM4信号の電圧レベルが第2の基準電圧以上である場合に判別信号として1を第2の0/1判別器(12)から出力し、それ以外の場合に判別信号として0を前記第2の0/1判別器から出力する第2の0/1判別ステップ(S25)と、
前記PAM4信号の電圧レベルが第3の基準電圧以上である場合に判別信号として1を第3の0/1判別器(13)から出力し、それ以外の場合に判別信号として0を前記第3の0/1判別器から出力する第3の0/1判別ステップ(S26)と、
前記第2の0/1判別器から出力された判別信号からクロックを再生して再生クロックとして出力するクロック再生ステップ(S27)と、
前記第1〜前記第3の0/1判別器からそれぞれ出力された判別信号から前記PAM4信号のMSBのビット列信号を含む複数のビット列信号を生成するデコードステップ(S28)と、
前記デコードステップから出力された前記MSBのビット列信号の電圧レベルを前記再生クロックのタイミングで測定するレベル測定ステップ(S29)と、
前記レベル測定ステップにより測定された電圧レベルに基づいて、前記MSBのビット列信号の誤り率を算出する誤り率算出ステップ(S31)と、
前記第1〜前記第3の基準電圧をそれぞれ前記第1〜前記第3の0/1判別器に設定する基準電圧設定ステップ(S21,S22,S33)と、を備え、
前記誤り率算出ステップは、前記基準電圧設定ステップにより、前記第2の基準電圧が前記中電圧範囲において一定値に設定されるとともに、前記第3の基準電圧が前記中電圧範囲において可変に設定される場合に、前記第3の基準電圧の変化に応じた前記MSBのビット列信号の誤り率の変化を示すバスタブ曲線を作成することを特徴とする誤り率測定方法。
Error rate measuring method for detecting errors in PAM4 signals in which the voltage ranges of the openings of the three eye patterns are the high voltage range (H1), the medium voltage range (H2), and the low voltage range (H3) from the highest voltage level, respectively. And
When the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the first reference voltage, 1 is output from the first 0/1 discriminator (11) as a discrimination signal, and 0 is output as the discrimination signal in other cases. The first 0/1 discrimination step (S24) output from the 0/1 discriminator of
When the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the second reference voltage, 1 is output from the second 0/1 discriminator (12) as a discrimination signal, and 0 is output as the discrimination signal in other cases. The second 0/1 discrimination step (S25) output from the 0/1 discriminator of
When the voltage level of the PAM4 signal is equal to or higher than the third reference voltage, 1 is output from the third 0/1 discriminator (13) as a discrimination signal, and 0 is output as the discrimination signal in other cases. The third 0/1 discrimination step (S26) output from the 0/1 discriminator of
A clock reproduction step (S27) of reproducing a clock from the discrimination signal output from the second 0/1 discriminator and outputting it as a reproduction clock.
A decoding step (S28) for generating a plurality of bit string signals including the MSB bit string signal of the PAM4 signal from the discrimination signals output from the first to third 0/1 discriminators, respectively.
A level measurement step (S29) for measuring the voltage level of the MSB bit string signal output from the decoding step at the timing of the reproduction clock, and
An error rate calculation step (S31) for calculating the error rate of the bit string signal of the MSB based on the voltage level measured by the level measurement step, and
A reference voltage setting step (S21, S22, S33) for setting the first to third reference voltages in the first to third 0/1 discriminators, respectively, is provided.
In the error rate calculation step, the second reference voltage is set to a constant value in the medium voltage range and the third reference voltage is variably set in the medium voltage range by the reference voltage setting step. A method for measuring an error rate, which comprises creating a bathtub curve showing a change in the error rate of the bit string signal of the MSB in response to a change in the third reference voltage.
前記デコードステップは、
前記第1の0/1判別器からの判別信号と、前記第2の0/1判別器からの判別信号との否定排他的論理和を出力するEXNORステップ(S43)と、
前記第3の0/1判別器からの判別信号と、前記EXNORステップの出力との論理積を出力するANDステップ(S44)と、を含み、
前記ANDステップは、前記基準電圧設定ステップにより、前記第1の基準電圧が前記中電圧範囲において前記第2の基準電圧と等しい一定値に設定される場合に、前記第3の0/1判別器からの判別信号を前記MSBのビット列信号として前記レベル測定ステップに出力することを特徴とする請求項7に記載の誤り率測定方法。
The decoding step
An EXNOR step (S43) that outputs a negative exclusive OR of the discrimination signal from the first 0/1 discriminator and the discrimination signal from the second 0/1 discriminator.
It includes an AND step (S44) that outputs a logical product of the discrimination signal from the third 0/1 discriminator and the output of the EXNOR step.
The AND step is the third 0/1 discriminator when the first reference voltage is set to a constant value equal to the second reference voltage in the medium voltage range by the reference voltage setting step. The error rate measuring method according to claim 7, wherein the discrimination signal from the above is output as a bit string signal of the MSB to the level measurement step.
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