JP6771417B2 - 成分濃度測定方法及び成分濃度測定装置 - Google Patents
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20…信号処理部
30…演算部
40…表示装置
Claims (4)
- 被測定試料の複素誘電率を測定して誘電緩和スペクトルを取得するステップと、
前記被測定試料の導電率を用いて前記誘電緩和スペクトルから導電損失の影響を補正した補正スペクトルを算出するステップと、
前記補正スペクトルを用いて多変量解析を行い前記被測定試料の検量モデルを作成し、当該検量モデルと測定対象成分の濃度が既知の検量モデルから前記被測定試料の測定対象成分の濃度を求めるステップと、を有し、
前記誘電緩和スペクトルを取得するステップは、MHz帯からGHz帯の複素誘電率を測定し、
MHz帯の前記誘電緩和スペクトルを用いて前記導電率を導出するステップを有する
ことを特徴とする成分濃度測定方法。 - 前記濃度を求めるステップは、前記測定対象成分の特徴的な周波数帯の前記補正スペクトルを用いて前記測定対象成分の濃度を求めることを特徴とする請求項1に記載の成分濃度測定方法。
- 被測定試料の複素誘電率を測定して誘電緩和スペクトルを取得する誘電分光手段と、
前記被測定試料の導電率を用いて前記誘電緩和スペクトルから導電損失の影響を補正した補正スペクトルを算出する信号処理手段と、
前記補正スペクトルを用いて多変量解析を行い前記被測定試料の検量モデルを作成し、当該検量モデルと測定対象成分の濃度が既知の検量モデルから前記被測定試料の測定対象成分の濃度を求める濃度定量手段と、を有し、
前記誘電分光手段は、MHz帯からGHz帯の複素誘電率を測定し、
前記信号処理手段は、MHz帯の前記誘電緩和スペクトルを用いて前記導電率を導出する
ことを特徴とする成分濃度測定装置。 - 前記濃度定量手段は、前記測定対象成分の特徴的な周波数帯の前記補正スペクトルを用いて前記測定対象成分の濃度を求めることを特徴とする請求項3に記載の成分濃度測定装置。
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