JP6766103B2 - 分析方法及び計算機 - Google Patents
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Description
20 分析者
100 計画装置
101 コントローラ
102 製造装置
103 品質管理装置
104 センサ
105 品質センサ
106 データ管理装置
107 分析装置
110 材料
111 製品
120、121 ネットワーク
201、301 CPU
202、302 メモリ
203、303 記憶装置
204、304 ネットワークインタフェース
305 入力装置
306 出力装置
210 制御データ管理情報
211 センサデータ管理情報
212 処理範囲データ管理情報
213 状態データ管理情報
214 品質データ管理情報
310 ラベル生成部
311 データ結合部
312 データ修正部
313 全射グラフ生成部
314 分析部
315 可視化部
316 ユーザインタフェース
320 分析データ管理情報
321 全射カラムペア情報
322 全射グラフ情報
400 散布図情報
401 分析結果
402 グラフ表示情報
500 出現頻度算出部
501 カラム対応抽出部
502 全単射判定部
503 全射判定部
504 グラフデータ生成部
505 ノイズ除去部
600 相関関係分析部
601 分類精度評価部
602 距離算出部
603 分析順序決定部
700 表示データ生成部
1500 カーディナリティ情報
1600 カラム対応情報
3500 グラフ表示画面
Claims (10)
- 製品を製造する複数の装置を有するシステムから取得された分析データを分析する計算機が実行する分析方法であって、
前記計算機は、演算装置、前記演算装置に接続される記憶装置、及び前記演算装置に接続されるネットワークインタフェースを備え、
前記分析データは、前記製品の製造に関するパラメータを格納する複数のフィールド、及び前記製品の品質を示す評価値を格納する少なくとも一つのフィールドから構成され、
前記分析方法は、
前記計算機が、前記分析データの各フィールドの値の集合をカラムとして管理する第1のステップと、
前記計算機が、第一ターゲットカラムに属する値から第二ターゲットカラムに属する値への対応を分析し、前記対応が全射となる前記第一ターゲットカラム及び前記第二ターゲットカラムの組合せである全射カラムペアを特定する第2のステップと、
前記計算機が、前記全射カラムペアの前記第一ターゲットカラム及び前記第二ターゲットカラムをノードとするグラフを接続することによって、前記カラムの接続関係を示す木構造の第一グラフを管理するためのグラフ情報を生成する第3のステップと、
前記計算機が、前記グラフ情報を用いて、前記評価値に影響を与える前記パラメータを特定するための歩留まり分析を実行する第4のステップと、を含み、
前記第2のステップは、
前記計算機が、前記カラムに属する値を分類することによって一つ以上のカテゴリを生成する第5のステップと、
前記計算機が、前記第一ターゲットカラムの前記カテゴリに属する値から前記第二ターゲットカラムの前記カテゴリに属する値への対応を分析する第6のステップと、を含み、
前記第3のステップは、
前記計算機が、第一ターゲット全射カラムペアを選択するステップと、
前記計算機が、前記第一ターゲット全射カラムペアの前記第一ターゲットカラム及び前記第二ターゲットカラムをノードとするグラフを生成するステップと、
前記計算機が、前記第一グラフの葉ノードに対応する末端カラムを選択するステップと、
前記計算機が、前記第一ターゲット全射カラムペアの前記第一ターゲットカラムが前記末端カラムと一致するか否かを判定するステップと、
前記計算機が、前記第一ターゲット全射カラムペアの前記第一ターゲットカラムが前記末端カラムと一致する場合、前記末端カラムに対応する葉ノードに前記第一ターゲット全射カラムペアの前記第二ターゲットカラムを接続するステップと、を含むことを特徴とする分析方法。 - 請求項1に記載の分析方法であって、
前記第2のステップは、
前記計算機が、前記対応が全単射となる前記第一ターゲットカラム及び前記第二ターゲットカラムの組合せである全単射カラムペアを特定するステップと、
前記計算機が、前記全単射カラムペアを除くカラムの組合せの中から前記全射カラムペアを特定するステップと、を含み、
前記第3のステップは、
前記計算機が、ターゲット全単射カラムペアを選択するステップと、
前記計算機が、前記ターゲット全単射カラムペアの前記第一ターゲットカラム及び前記第二ターゲットカラムをノードとするグラフを生成するステップと、
前記計算機が、前記末端カラムを選択するステップと、
前記計算機が、前記ターゲット全単射カラムペアの前記第一ターゲットカラムが前記末端カラムと一致し、かつ、前記ターゲット全単射カラムペアの前記第二ターゲットカラムが前記末端カラムに対応するノードと接続するノードに対応するカラムと異なるか否かを判定するステップと、
前記計算機が、前記ターゲット全単射カラムペアの前記第一ターゲットカラムが前記末端カラムと一致し、かつ、前記ターゲット全単射カラムペアの前記第二ターゲットカラムが前記末端カラムに対応するノードと接続するノードに対応するカラムと異なる場合、前記末端カラムに対応する葉ノードに前記ターゲット全単射カラムペアの前記第二ターゲットカラムに対応するノードを接続するステップと、を含むことを特徴とする分析方法。 - 請求項1に記載の分析方法であって、
前記第5のステップは、
前記計算機が、前記カラムに属する値がアナログな値である場合、値の範囲を設定するステップと、
前記計算機が、前記値の範囲に基づいて前記カテゴリを生成するステップと、を含むことを特徴とする分析方法。 - 請求項1に記載の分析方法であって、
前記第6のステップは、前記計算機が、前記第一ターゲットカラムの前記カテゴリ及び前記第二ターゲットカラムの前記カテゴリの数を削減した後に、前記第一ターゲットカラムの前記カテゴリに属する値から前記第二ターゲットカラムの前記カテゴリに属する値への対応を分析するステップを含むことを特徴とする分析方法。 - 請求項1に記載の分析方法であって、
前記第4のステップは、
前記計算機が、前記評価値を軸とする特徴空間における前記分析データの位置を示す第二グラフのデータを生成するステップと、
前記計算機が、前記各カラムに対して、特定のカラムに着目した前記特徴空間における前記分析データのクラスタリングを実行するステップと、
前記計算機が、前記クラスタリングの結果に基づいて、前記クラスタリングを評価する第一スコアを算出するステップと、
前記計算機が、第二ターゲット全射カラムペアを選択するステップと、
前記計算機が、前記第二グラフにおける、前記第二ターゲット全射カラムペアの前記第一ターゲットカラム及び前記第二ターゲットカラムの距離を算出するステップと、
前記計算機が、前記距離、並びに、前記第二ターゲット全射カラムペアの前記第一ターゲットカラム及び前記第二ターゲットカラムの各々の前記第一スコアに基づいて、前記歩留まり分析における前記全射カラムペアの分析順序を決定するための第二スコアを算出するステップと、
前記計算機が、前記第二スコアに基づいて、前記歩留まり分析における前記全射カラムペアの分析順序を決定するステップと、を含むことを特徴とする分析方法。 - 製品を製造する複数の装置を有するシステムから取得された分析データを分析する計算機であって、
前記分析データは、前記製品の製造に関するパラメータを格納する複数のフィールド、及び前記製品の品質を示す評価値を格納する少なくとも一つのフィールドから構成され、
前記計算機は、
演算装置、前記演算装置に接続される記憶装置、及び前記演算装置に接続されるネットワークインタフェースを備え、
前記分析データの各フィールドの値の集合であるカラム間の対応を分析し、分析の結果に基づいて、前記対応によって関連するカラムを接続したグラフを生成するグラフ生成部と、前記グラフ及び前記分析データに基づいて、前記評価値に影響を与える前記パラメータを特定するための歩留まり分析を実行する分析部と、を有し、
前記グラフ生成部は、
前記カラムに属する値を分類することによって一つ以上のカテゴリを生成して、第一ターゲットカラムの前記カテゴリに属する値から第二ターゲットカラムの前記カテゴリに属する値への対応を分析して、前記対応が全射となる前記第一ターゲットカラム及び前記第二ターゲットカラムの組合せである全射カラムペアを特定し、
前記全射カラムペアの前記第一ターゲットカラム及び前記第二ターゲットカラムをノードとするグラフを接続することによって、前記カラムの接続関係を示す木構造の第一グラフを管理するためのグラフ情報を生成し、
前記分析部は、前記グラフ情報を用いて、前記歩留まり分析を実行し、
前記グラフ情報を生成する処理において、前記グラフ生成部は、
第一ターゲット全射カラムペアを選択し、
前記第一ターゲット全射カラムペアの前記第一ターゲットカラム及び前記第二ターゲットカラムをノードとするグラフを生成し、
前記第一グラフの葉ノードに対応する末端カラムを選択し、
前記第一ターゲット全射カラムペアの前記第一ターゲットカラムが前記末端カラムと一致するか否かを判定し、
前記第一ターゲット全射カラムペアの前記第一ターゲットカラムが前記末端カラムと一致する場合、前記末端カラムに対応する葉ノードに前記第一ターゲット全射カラムペアの前記第二ターゲットカラムに対応するノードを接続することを特徴とする計算機。 - 請求項6に記載の計算機であって、
前記第一ターゲットカラムの前記カテゴリに属する値から前記第二ターゲットカラムの前記カテゴリに属する値への対応を分析する処理において、前記グラフ生成部は、前記対応が全単射となる前記第一ターゲットカラム及び前記第二ターゲットカラムの組合せである全単射カラムペアを特定し、前記全単射カラムペアを除くカラムの組合せの中から前記全射カラムペアを特定し、
前記グラフ情報を生成する処理において、前記グラフ生成部は、
ターゲット全単射カラムペアを選択し、
前記ターゲット全単射カラムペアの前記第一ターゲットカラム及び前記第二ターゲットカラムをノードとするグラフを生成し、
前記末端カラムを選択し、
前記ターゲット全単射カラムペアの前記第一ターゲットカラムが前記末端カラムと一致し、かつ、前記ターゲット全単射カラムペアの前記第二ターゲットカラムが前記末端カラムに対応するノードと接続するノードに対応するカラムと異なるか否かを判定し、
前記ターゲット全単射カラムペアの前記第一ターゲットカラムが前記末端カラムと一致し、かつ、前記ターゲット全単射カラムペアの前記第二ターゲットカラムが前記末端カラムに対応するノードと接続するノードに対応するカラムと異なる場合、前記末端カラムに対応するノードに前記ターゲット全単射カラムペアの前記第二ターゲットカラムに対応するノードを接続することを特徴とする計算機。 - 請求項6に記載の計算機であって、
前記グラフ生成部は、
前記カテゴリの生成対象の前記カラムに属する値がアナログな値である場合、値の範囲を設定し、
前記値の範囲に基づいて前記カテゴリを生成することを特徴とする計算機。 - 請求項6に記載の計算機であって、
前記グラフ生成部は、
前記第一ターゲットカラムの前記カテゴリ及び前記第二ターゲットカラムの前記カテゴリの数を削減し、
前記第一ターゲットカラムの前記カテゴリに属する値から前記第二ターゲットカラムの前記カテゴリに属する値への対応を分析することを特徴とする計算機。 - 請求項6に記載の計算機であって、
前記分析部は、
前記評価値を軸とする特徴空間における前記分析データの位置を示す第二グラフのデータを生成し、
前記各カラムに対して、特定のカラムに着目した前記特徴空間における前記分析データのクラスタリングを実行し、
前記クラスタリングの結果に基づいて、前記クラスタリングを評価する第一スコアを算出し、
第二ターゲット全射カラムペアを選択し、
前記第二グラフにおける、前記第二ターゲット全射カラムペアの前記第一ターゲットカラム及び前記第二ターゲットカラムの距離を算出し、
前記距離、並びに、前記第二ターゲット全射カラムペアの前記第一ターゲットカラム及び前記第二ターゲットカラムの各々の前記第一スコアに基づいて、前記歩留まり分析における前記全射カラムペアの分析順序を決定するための第二スコアを算出し、
前記第二スコアに基づいて、前記歩留まり分析における前記全射カラムペアの分析順序を決定することを特徴とする計算機。
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JPH0934721A (ja) * | 1995-07-21 | 1997-02-07 | Hitachi Ltd | データ分析装置 |
JP3489279B2 (ja) * | 1995-07-21 | 2004-01-19 | 株式会社日立製作所 | データ分析装置 |
JP3739201B2 (ja) * | 1998-03-06 | 2006-01-25 | 富士通株式会社 | 半導体チップの相関解析方法及び装置、半導体チップ歩留まり調整方法並びに記憶媒体 |
US6766283B1 (en) * | 2000-10-13 | 2004-07-20 | Insyst Ltd. | System and method for monitoring process quality control |
JP2005235041A (ja) * | 2004-02-23 | 2005-09-02 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 検索画像表示方法および検索画像表示プログラム |
US7363195B2 (en) * | 2004-07-07 | 2008-04-22 | Sensarray Corporation | Methods of configuring a sensor network |
DE102006001257A1 (de) * | 2005-12-30 | 2007-07-12 | Advanced Micro Devices, Inc., Sunnyvale | Automatisiertes Zustandabschätzungssystem für Cluster-Anlagen und Verfahren zum Betreiben des Systems |
US7494893B1 (en) * | 2007-01-17 | 2009-02-24 | Pdf Solutions, Inc. | Identifying yield-relevant process parameters in integrated circuit device fabrication processes |
US8271103B2 (en) * | 2007-05-02 | 2012-09-18 | Mks Instruments, Inc. | Automated model building and model updating |
WO2012127572A1 (ja) * | 2011-03-18 | 2012-09-27 | 富士通株式会社 | 秘匿データ処理方法、プログラム及び装置 |
US9396443B2 (en) * | 2013-12-05 | 2016-07-19 | Tokyo Electron Limited | System and method for learning and/or optimizing manufacturing processes |
US10698390B2 (en) * | 2015-05-05 | 2020-06-30 | The Lake Companies, Inc. | System and method for monitoring and controlling a manufacturing environment |
EP3594749A1 (en) * | 2018-07-10 | 2020-01-15 | ASML Netherlands B.V. | Method to label substrates based on process parameters |
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