JP6756709B2 - 分光放射計を校正するための方法 - Google Patents
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Description
−校正すべき分光放射計を用いて少なくとも1つの標準光源の放射を測定することによって、光測定データを記録するステップと、
−記録された光測定データを、標準光源の既知のデータと比較することによって、光測定データから校正データを導出するステップと、
−校正データにしたがって、分光放射計を校正するステップと、
を備えている、分光放射計を校正するための方法に関する。
−標準光源の光測定データが、同種の1つまたは複数の別の標準光源の光測定データと比較され、その際に、標準光源の光測定データの偏差が所定の限界値を下回る場合には、標準光源の有効性が確認される、および/または、
−標準光源が、同種のまたは異種の2つ以上の標準分光放射計を用いて測定され、その際に、異なる標準分光放射計を用いて記録された光測定データの相互の偏差が所定の限界値を下回る場合には、標準光源の有効性が確認される、
ことによって、標準光源の有効性が、すなわち校正のために標準光源を使用できるかが検査されることによって解決される。
Claims (7)
- 分光放射計(1)を校正するための方法であって、
−校正すべき前記分光放射計(1)を用いて少なくとも1つの標準光源(4)の放射を測定することによって、光測定データを記録するステップと、
−記録された前記光測定データを、前記標準光源(4)の既知のデータと比較することによって、前記光測定データから校正データを導出するステップと、
−前記校正データにしたがって、前記分光放射計(1)を校正するステップと、
を有し、
前記標準光源(4)を、遅くとも所定の期間の経過後に、1つまたは複数の規格光源(12)に基づいて校正する
方法において、
前記標準光源(4)の有効性を、すなわち前記校正のために前記標準光源(4)を使用できるかを、
−前記標準光源(4)の前記光測定データを、同種の1つまたは複数の別の標準光源(4)の光測定データと比較し、その際に、前記標準光源(4)の光測定データの相互の偏差が所定の限界値を下回る場合には、前記標準光源(4)の有効性を確認し、そうでない場合には、前記標準光源(4)の校正が早く、すなわち前記所定の期間の経過よりも前に行われる、
方法。 - 1つの位置(9、10、11)に設けられている複数の分光放射計(1)を、同じやり方で、すなわち同一の標準光源(4)を使用して校正する、請求項1記載の方法。
- 種々の位置(9、10、11)に設けられている複数の標準光源(4)を、同じやり方で、すなわち同一の規格光源(12)に基づいて校正する、請求項1および2記載の方法。
- 請求項1から3までのいずれか1項記載の分光放射計(1)を校正するための方法であって、前記標準光源(4)は、白色光を放出する発光ダイオード(5)を含んでおり、前記発光ダイオード(5)は、第1の波長領域の放射を放出する半導体素子と、前記第1の波長領域の前記放射の一部を第2の波長領域の放射に変換する少なくとも1種の蛍光体と、を有していることを特徴とする方法。
- 前記校正には、測定されたスペクトルのスペクトル的な極大値の位置が、前記標準光源(4)の既知のスペクトルのスペクトル的な極大値の位置と実質的に一致するように、前記分光放射計(1)の波長スケールの修正を行うことが含まれる、請求項4記載の方法。
- 前記校正には、測定されて修正されたスペクトルの波長に依存する強度経過が、前記標準光源(4)の既知のスペクトルの強度経過と実質的に一致するように、スペクトル感度の波長に依存する修正を行うことが含まれる、請求項4または5記載の方法。
- 前記標準光源(4)は、前記発光ダイオード(5)の動作パラメータを、閉ループ制御する閉ループ制御装置(6)を含んでいる、請求項4から6までのいずれか1項記載の方法。
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