DE102008010562B4 - Verfahren zum Instrumenten-Abgleich von Mehrwinkel-Farbmessgeräten - Google Patents
Verfahren zum Instrumenten-Abgleich von Mehrwinkel-Farbmessgeräten Download PDFInfo
- Publication number
- DE102008010562B4 DE102008010562B4 DE102008010562.7A DE102008010562A DE102008010562B4 DE 102008010562 B4 DE102008010562 B4 DE 102008010562B4 DE 102008010562 A DE102008010562 A DE 102008010562A DE 102008010562 B4 DE102008010562 B4 DE 102008010562B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- data
- remission
- wavelength
- angle
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 23
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 12
- 239000003973 paint Substances 0.000 claims abstract description 10
- 238000007619 statistical method Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 23
- 238000005286 illumination Methods 0.000 abstract description 5
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 6
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 2
- 238000012417 linear regression Methods 0.000 description 2
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 235000019646 color tone Nutrition 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/463—Colour matching
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
- G01J3/504—Goniometric colour measurements, for example measurements of metallic or flake based paints
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0242—Control or determination of height or angle information of sensors or receivers; Goniophotometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
Verfahren zum Instrumenten-Abgleich von Mehrwinkel-Farbmessgeräten (5, 15), bei dem ein Testgerät (5) mit einem Referenzgerät (15) profiliert wird, die jeweils ein Beleuchtungsmittel (7) aufweisen, das Licht zur Oberfläche eines zu prüfenden Lackes (1) emittiert, in welchem Abgleichverfahren ein erster Datensatz von, vom Referenzgerät (15) gemessenen ersten Remissionsdaten (RR(λ, γ)) und ein zweiter Datensatz von, vom Testgerät (5) gemessenen zweiten Remissionsdaten (RT(λ, γ)) erfasst wird, und über ein statistisches Analyseverfahren eine mathematische Beziehung zwischen beiden Datensätzen hergestellt wird, mittels der darauffolgend vom Testgerät (5) gemessene Remissionsdaten (RT(λ, γ)) korrigiert werden, dadurch gekennzeichnet, dass die von den Referenz- und Testgeräten (5, 15) erfassten Remissionsdaten (RT(λ, γ), RR(λ, γ)) der ersten und zweiten Datensätze jeweils bei unterschiedlichen Wellenlängen (λ) sowie für jede Wellenlänge (λ) in Abhängigkeit von unterschiedlichen Messwinkeln (γ) ausgehend von einer Hauptreflexionsrichtung (9) des emittierten Lichts erfasst werden, dass die Erfassung der ersten und zweiten Datensätze für jeden Farbton eines zur Profilierung verwendeten Farbdatensatzes erfolgt, und dass das statistische Analyseverfahren als eine multiple Regression mit folgender Gleichung (1) durchgeführt wird:wobei λ Wellenlänge γ Messwinkel β0 bis β5 Korrekturkoeffizienten RR(λ, γ) Remissionswert des Referenzgerätes 15 bei der Wellenlänge λ im Messwinkel γ RT(λ, γ) Remissionswert des zu profilierenden Farbmessgerätes des Testgerätes bei der Wellenlänge λ im Messwinkel γ
Description
- Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Instrumenten-Abgleich von Mehrwinkel-Farbmessgeräten nach dem Oberbegriff des Patentanspruches 1.
- Farbmessgeräte, wie etwa Mehrwinkelspektralphotometer, werden im Fahrzeugbau zur Ermittlung der Lackqualität eines lackierten Fahrzeugkarosserieteils eingesetzt. Hierzu wird eine mit einem Lack versehene Karosserieoberfläche mit einem Farbmessgerät gemessen. Der jeweils erfasste Remissionswert gibt das Verhältnis der vom Farbmessgerät erfassten Lichtintensität zur Lichtintensität der Beleuchtungseinrichtung wieder. Das Farbmessgerät erfasst dabei die Abhängigkeit der Remissionswerte von unterschiedlichen Messwinkeln und Beleuchtungswinkeln bei unterschiedlichen Wellenlängen. Aus dem Verlauf der Remissionswerte werden Kennwerte ermittelt, anhand deren eine Aussage über die Farbe des Lackes gemacht werden kann. Ein derartiges Verfahren zur Ermittlung der Farbe mittels eines Farbmessgerätes ist aus der
DE 10 2004 046 461 B4 bekannt. - Werden mehrere Messgeräte parallel zur Erfassung von Farbdaten verwendet, so müssen diese aufeinander abgestimmt sein. Dieses nennt man Profilieren.
- So ist aus der
WO 2006/135834 A1 - In der
WO 2006/135834 A1 - λ
- Wellenlänge
- RR(λ), RT(λ)
- Remissionswerte in Abhängigkeit von der Wellenlänge λ
- β0, β1, β2, β3
- Korrekturkoeffizienten
- Durch Einsetzen der jeweiligen, bei gleicher Wellenlänge erfassten Remissionswerte vom Referenzgerät und vom Testgerät in die Regressionsgleichung können die obigen Korrekturkoeffizienten β0, β1, β2, β3 in einer Profilerzeugungseinrichtung ermittelt und kann so die mathematische Beziehung zwischen den beiden Spektraldatensätzen hergestellt werden. Die Regressionsgleichung wird dann zusammen mit den Korrekturkoeffizienten der verschiedenen Wellenlängen in einer Profilanwendungseinrichtung hinterlegt. Mit deren Hilfe werden die von dem Testgerät erfassten Spektraldaten so korrigiert, dass sie dem, vom Referenzgerät gemessenen Spektraldaten nahezu entsprechen.
- Mittels der obigen Regressionsgleichung werden insbesondere bei sogenannten Unifarben gute Instrumenten-Abgleiche erzielt. Da Unifarben nur bei einem Messwinkel charakterisiert werden, ist die aus dem Stand der Technik bekannte Regressionsgleichung mit ihren, nur wellenlängenabhängigen Termen ausreichend.
- Neben den Unifarben kommen zunehmend Effektfarben zur Anwendung. Diese enthalten Pigmente, die starke Abhängigkeiten vom Beleuchtungswinkel und Messwinkel aufweisen. Zum Beschreiben des Farbverhaltens solcher Farben werden Mehrwinkelspektrometer verwendet. Zur Profilierung solcher Geräte ist die oben genannte Regressionsgleichung ungeeignet, da sie winkelabhängige Messgeräteunterschiede nicht berücksichtigt.
- Aus der Veröffentlichung „Industrielle Farbprüfung” von Hans G. Völz, ist bekannt, zur Erfassung des gesamten Farbverhaltens von Metallic-Effektlackierungen – neben der Wellenlängenabhängigkeit – auch die Winkelabhängigkeit in Form einer begrenzten Anzahl von Winkeleinstellungen (Stützstellen) zu berücksichtigen.
- Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein Verfahren zum Instrumenten-Abgleich von Mehrwinkel-Farbmessgeräten bereitzustellen, bei dem ein genauer Abgleich eines zu profilierenden Testgerätes mit einem Referenzgerät oder einem Zentroid erfolgen kann.
- Die Aufgabe der Erfindung ist durch die Merkmale des Patentanspruches 1 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen offenbart.
- Erfindungsgemäß werden die von den Referenz- und Testgeräten erfassten Spektraldaten der ersten und zweiten Datensätze nicht nur wellenlängenabhängig, sondern in Abhängigkeit von unterschiedlichen Messwinkeln erfasst. Anhand dieser nun auch messwinkelabhängigen Spektraldaten der ersten und zweiten Datensätze erfolgt dann mittels eines statistischen Analyseverfahrens eine Profilierung des Testgerätes, bei der eine mathematische Beziehung zwischen dem Testgerät und dem Referenzgerät hergestellt wird. Mit der bei der Profilierung erhaltenen Koeffizienten können die darauf folgend von dem Testgerät erfassten Spektraldaten für beliebige Farbtöne korrigiert werden.
- Die im statistischen Analyseverfahren gewonnene mathematische Beziehung enthält Terme mit einer n-ten Ableitung der erfassten Spektraldaten nach dem Messwinkel. Mit der Messwinkel-Ableitung wird der, insbesondere bei Effektfarben gegebenen Intensitätsänderung der Spektraldaten über die Messwinkel Rechnung getragen, was zu einer besseren Vergleichbarkeit der Messwerte verschiedener Mehrwinkel-Geräte führt.
-
- λ
- Wellenlänge
- γ
- Messwinkel
- β0 bis β5
- Korrekturkoeffizienten
- RR(λ, γ)
- Remissionswert des Referenzgerätes
15 bei der Wellenlänge λ im Messwinkel γ - RT(λ, γ)
- Remissionswert des zu profilierenden Farbmessgerätes des Testgerätes bei der Wellenlänge λ im Messwinkel γ
- Für einen zuverlässigen Instrumenten-Abgleich enthält die obige Regressionsgleichung sowohl Ableitungen des Remissionswertes nach dem Messwinkel als auch Ableitungen des Remissionswertes nach der Wellenlänge.
- Für einen zuverlässigen Instrumenten-Abgleich zwischen dem Referenzgerät und dem Testgerät erfassen diese daher nicht nur Spektraldaten in Abhängigkeit unterschiedlicher Messwinkel, sondern auch zusätzlich Spektraldaten in Abhängigkeit unterschiedlicher Wellenlängen, etwa von 380 nm bis 760 nm. Dem statistischen Analyseverfahren werden somit Spektraldaten zu Grunde gelegt, die bei unterschiedlichen Wellenlängen in unterschiedlichen Messwinkeln erfasst sind.
- Um die Probleme einer numerischen Differentiation zu umgehen, werden zur Berechnung der Ableitungen der vom Testgerät erfassten Spektraldaten nach dem Messwinkel die erfassten Kurvenverläufe der Spektraldaten mittels eines Polynoms bzw. mittels eines Splines mathematisch approximiert werden. Zur einfachen Anpassung eines solchen Kurvenverlaufes an die erfassten winkelabhängigen Spektraldaten ist die Anwendung eines Polynoms bevorzugt. Der maximal mögliche Grad des Polynoms ergibt sich aus der Messwinkel-Anzahl n – 1.
- Nachfolgend ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand der beigefügten Figuren gezeigt.
- Es zeigen:
-
1 eine schematische Darstellung, die die Ermittlung von messwinkelabhängigen Remissionswerten an einer mit einem Lack versehenen Oberfläche mittels eines Mehrwinkel-Farbmessgerätes veranschaulicht; -
2 in einem Blockschaltdiagramm eine Profilanwendungseinrichtung zur Anpassung der vom Testgerät erfassten Spektraldaten; -
3 in einem Blockschaltdiagramm das Verfahren zum Instrumenten-Abgleich des Testgerätes mit einem Referenzgerät; und -
4 ein Diagramm des Remissionsverlaufes des Testgerätes über die Messwinkel bei einer Wellenlänge. - In der
1 ist eine Messanordnung bestehend aus einem, mit einem Lack1 versehenen Blech3 und einem grobschematisch dargestellten Farbmessgerät5 gezeigt. Das hier gezeigte Farbmessgerät5 weist ein Beleuchtungsmittel7 und Erfassungseinrichtungen11 auf. Ausgehend vom Beleuchtungsmittel7 trifft Licht definiert unter einem Beleuchtungswinkel von z. B. 45° auf die Oberfläche des Lackes1 und wird überwiegend in einer Hauptreflektionsrichtung9 unter demselben Winkel an der Lack-Oberfläche reflektiert. Die Erfassungseinrichtungen11 sind in unterschiedlichen Messwinkeln γ1 bis γ5 ausgehend von der Hauptreflektionsrichtung9 angeordnet. Die Messwinkel liegen beispielhaft zwischen 15° und 110°. Die Erfassungseinrichtungen11 erfassen die Lichtintensitäten des aus dem Inneren der Pigmentschicht reflektierten Lichtes bei unterschiedlichen Wellenlängen λ, die etwa in einem Wellenlängenbereich zwischen 380 bis 760 nm liegen. Anhand der so ermittelten Remissionswerte RT(λ, γ) können Aussagen über den Farbton gemacht werden. - Das Farbmessgerät
5 ist, wie auch das später beschriebene Referenzgerät15 , ein Mehrwinkelspektralphotometer, das bei unterschiedlichen Messwinkeln γ die Remissionswerte RT(λ, γ) erfassen kann. - Wie aus der
2 hervorgeht, ist das Farbmessgerät5 in Signalverbindung mit einer Profilanwendungseinrichtung13 . Mittels der Profilanwendungseinrichtung13 erfolgt eine Profilierung der vom Farbmessgerät5 erfassten Remissionswerte RT(λ, γ) mit einem in der3 angedeuteten Referenzgerät15 . Hierzu werden die vom Farbmessgerät5 erfassten Remissionswerte RT(λ, γ) von der Profilanwendungseinrichtung13 auf die Werte RTkorr(λ, γ) angepasst. Diese entsprechen in etwa den Werten, wie sie bei einer mit dem Referenzgerät durchgeführten Messung erfasst worden wären. -
- λ
- Wellenlänge
- γ
- Messwinkel
- β0 bis β5
- Korrekturkoeffizienten
- RR(λ, γ)
- Remissionswert des Referenzgerätes
15 bei der Wellenlänge λ im Messwinkel γ - RT(λ, γ)
- Remissionswert des zu profilierenden Farbmessgerätes des Testgerätes bei der Wellenlänge λ im Messwinkel γ
- Beispielhaft können sich für einen ersten Farbton sowie für die Wellenlänge λ = 490 nm im Messwinkel γ = 25° für das Farbmessgerät
5 die nachfolgenden Korrekturkoeffizienten β0 = 0, β2 = –1,487, β3 = –14,548, β1 = 0,989, β4 = 1,378, β5 = –44,662 ergeben. - Die beispielhaft angegebenen Korrekturkoeffizienten werden in einer Profilerzeugungseinrichtung
17 ermittelt und in der, in der Profilanwendungseinrichtung13 hinterlegten Regressionsgleichung (1) eingesetzt. - Für die Ermittlung der Korrekturkoeffizienten β0 bis β5 erfasst die Profilerzeugungseinrichtung
17 einen ersten Datensatz von Remissionswerten RR(λ, γ) des Referenzgerätes15 und einen zweiten Datensatz von Remissionswerten RT(λ, γ) des zu profilierenden Farbmessgerätes6 . Das Farbmessgerät5 ist hier das Testgerät im Sinne der3 , das mit dem Referenzgerät15 abzugleichen ist. Die beiden erfassten Datensätze werden für jeden Farbton des zur Profilierung verwendeten Farbdatensatzes bei unterschiedlichen Wellenlängen λ in unterschiedlichen Messwinkel γ erfasst. - Für den ersten Farbton ergeben sich beispielhaft bei λ = 490 nm und Messwinkeln γ zwischen 15° und 110° die vom Referenzgerät
15 gemessenen Werte (Tabelle 1) und die vom Testgerät5 gemessene Werte (Tabelle 2):γ RR(λ, γ) 15° 0.4879750 25° 0.2793000 45° 0.1526000 75° 0.1324500 110° 0.1227250 γ RT(λ, γ) 15° 0.4735828 25° 0.2542273 45° 0.1387700 75° 0.1216729 110° 0.1081711 - Der sich aus den erfassten Werten ergebende Verlauf von RT(λ, γ) über den Messwinkel γ sowie bei konstanter Wellenlänge λ = 490 nm ist in dem Diagramm der
4 mit durchgezogener Linie gezeigt. - Dieser tatsächliche Remissionsverlauf RT(λ, γ) wird hier beispielhaft mittels des folgenden Polynoms dritten Grades approximiert:
RT(λ, γ) = aγ3 + bγ2 + cγ + d (2) - a, b, c, d
- Koeffizienten
- Durch Einsetzen der in Tabelle (2) angegebenen, erfassten Testgerät-Remissionswerte in die Polynomgleichung (2) ergeben sich für die Koeffizienten die folgenden Werte:
a = –2,24·10–6
b = 4,99·10–4
c = –3,48·10–2
d = 8,76·10–1 - Der Kurvenverlauf der somit approximierten Polynom-Funktion für RT(λ, γ) = –2,24·10–6γ3 + 4,99·10–4γ2 – 3,48·10–2γ + 8,76·10–1 ist in der
4 in gestrichelter Linie gezeigt. -
-
- Mit den oben angegebenen Ableitungsfunktionen (3), (4) können somit die ersten und zweiten Ableitungen von RT(λ, γ) nach dem Messwinkel γ zahlenmäßig berechnet werden. Entsprechend können auch die ersten und zweiten Ableitungen von RT(λ, γ) nach der Wellenlänge zahlenmäßig berechnet werden. Durch Einsetzen dieser Ableitungswerte sowie der Datensätze aus der Tabelle (1) und (2) in die Regressionsgleichung (1) können dann die Korrekturkoeffizienten β0 bis β5 berechnet werden.
Claims (3)
- Verfahren zum Instrumenten-Abgleich von Mehrwinkel-Farbmessgeräten (
5 ,15 ), bei dem ein Testgerät (5 ) mit einem Referenzgerät (15 ) profiliert wird, die jeweils ein Beleuchtungsmittel (7 ) aufweisen, das Licht zur Oberfläche eines zu prüfenden Lackes (1 ) emittiert, in welchem Abgleichverfahren ein erster Datensatz von, vom Referenzgerät (15 ) gemessenen ersten Remissionsdaten (RR(λ, γ)) und ein zweiter Datensatz von, vom Testgerät (5 ) gemessenen zweiten Remissionsdaten (RT(λ, γ)) erfasst wird, und über ein statistisches Analyseverfahren eine mathematische Beziehung zwischen beiden Datensätzen hergestellt wird, mittels der darauffolgend vom Testgerät (5 ) gemessene Remissionsdaten (RT(λ, γ)) korrigiert werden, dadurch gekennzeichnet, dass die von den Referenz- und Testgeräten (5 ,15 ) erfassten Remissionsdaten (RT(λ, γ), RR(λ, γ)) der ersten und zweiten Datensätze jeweils bei unterschiedlichen Wellenlängen (λ) sowie für jede Wellenlänge (λ) in Abhängigkeit von unterschiedlichen Messwinkeln (γ) ausgehend von einer Hauptreflexionsrichtung (9 ) des emittierten Lichts erfasst werden, dass die Erfassung der ersten und zweiten Datensätze für jeden Farbton eines zur Profilierung verwendeten Farbdatensatzes erfolgt, und dass das statistische Analyseverfahren als eine multiple Regression mit folgender Gleichung (1) durchgeführt wird: wobei λ Wellenlänge γ Messwinkel β0 bis β5 Korrekturkoeffizienten RR(λ, γ) Remissionswert des Referenzgerätes15 bei der Wellenlänge λ im Messwinkel γ RT(λ, γ) Remissionswert des zu profilierenden Farbmessgerätes des Testgerätes bei der Wellenlänge λ im Messwinkel γ - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Korrekturwerte (β0, β1, β2, β3, β4, β5,) durch Einsetzen der erfassten Referenzgerät-Spektraldaten RR(λ, γ) und der erfassten Testgerät-Spektraldaten RT(λ, γ) in die Regressionsgleichung (1) ermittelt werden.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Verlauf RT(λ, γ) der vom Testgerät (
5 ) erfassten Spektraldaten, bevorzugt mittels eines Polynoms oder auch numerisch z. B. mittels eines Splines, mathematisch approximiert wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102008010562.7A DE102008010562B4 (de) | 2008-02-22 | 2008-02-22 | Verfahren zum Instrumenten-Abgleich von Mehrwinkel-Farbmessgeräten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102008010562.7A DE102008010562B4 (de) | 2008-02-22 | 2008-02-22 | Verfahren zum Instrumenten-Abgleich von Mehrwinkel-Farbmessgeräten |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102008010562A1 DE102008010562A1 (de) | 2009-09-10 |
DE102008010562B4 true DE102008010562B4 (de) | 2015-11-12 |
Family
ID=40936015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102008010562.7A Expired - Fee Related DE102008010562B4 (de) | 2008-02-22 | 2008-02-22 | Verfahren zum Instrumenten-Abgleich von Mehrwinkel-Farbmessgeräten |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102008010562B4 (de) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102010011577A1 (de) | 2009-03-25 | 2010-10-14 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Winkelabhängige Farbwertkorrektur |
WO2011071708A1 (en) * | 2009-12-11 | 2011-06-16 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Method for generating calibrated colour data |
EP2536509B1 (de) | 2010-02-15 | 2018-04-11 | Coatings Foreign IP Co. LLC | Zwei-komponenten-sprayvorrichtung und ihre verwendung |
EP2536508B1 (de) | 2010-02-15 | 2017-12-06 | Coatings Foreign IP Co. LLC | Verfahren zum aufsprühen von zwei-komponenten-zusammensetzungen |
US8973522B2 (en) | 2011-03-14 | 2015-03-10 | Axalta Coating Systems Ip Co., Llc | Dual feeding spray device and use thereof |
DE102011079001B4 (de) | 2011-07-12 | 2024-06-27 | Robert Bosch Gmbh | Farbmesssystem zum Ermitteln wenigstens einer Farbeigenschaft eines Objekts |
DE102014117595A1 (de) * | 2014-12-01 | 2016-06-02 | Instrument Systems Optische Messtechnik Gmbh | Verfahren zur Kalibrierung eines Spektralradiometers |
CN105841818B (zh) * | 2016-06-07 | 2018-01-26 | 北京印刷学院 | 一种光柱镭射纸张及印刷品的颜色测量装置和方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6043894A (en) * | 1998-07-10 | 2000-03-28 | Gretamacbeth Llc | Method for maintaining uniformity among color measuring instruments |
US6108095A (en) * | 1999-08-27 | 2000-08-22 | General Electric Company | Method and system for determining a color formula to enable reproduction of a color standard on one or more production lines |
EP1353156A2 (de) * | 2002-04-12 | 2003-10-15 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Verfahren zur Reflectanzerfassung |
DE102004046461A1 (de) * | 2004-09-24 | 2006-03-30 | Audi Ag | Verfahren zur Ermittlung der Lackqualität einer lackierten Oberfläche, insbesondere eines lackierten Fahrzeugkarosserieteils, und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
US7116336B2 (en) * | 2002-12-06 | 2006-10-03 | Gretagmacbeth, Llc | System and method for transforming color measurement data |
WO2006135834A1 (en) * | 2005-06-10 | 2006-12-21 | X-Rite, Incorporated | Systems and methods for profiling and synchronizing a fleet of color measurement instruments |
-
2008
- 2008-02-22 DE DE102008010562.7A patent/DE102008010562B4/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6043894A (en) * | 1998-07-10 | 2000-03-28 | Gretamacbeth Llc | Method for maintaining uniformity among color measuring instruments |
US6108095A (en) * | 1999-08-27 | 2000-08-22 | General Electric Company | Method and system for determining a color formula to enable reproduction of a color standard on one or more production lines |
EP1353156A2 (de) * | 2002-04-12 | 2003-10-15 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Verfahren zur Reflectanzerfassung |
US7116336B2 (en) * | 2002-12-06 | 2006-10-03 | Gretagmacbeth, Llc | System and method for transforming color measurement data |
DE102004046461A1 (de) * | 2004-09-24 | 2006-03-30 | Audi Ag | Verfahren zur Ermittlung der Lackqualität einer lackierten Oberfläche, insbesondere eines lackierten Fahrzeugkarosserieteils, und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
WO2006135834A1 (en) * | 2005-06-10 | 2006-12-21 | X-Rite, Incorporated | Systems and methods for profiling and synchronizing a fleet of color measurement instruments |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
VÖLZ, Hans G.: Industrielle Farbprüfung : Grundlagen und Methoden / Hans G. Völz. - 2., vollst. überarb. Aufl. . - Weinheim [u.a.] : Wiley-VCH. - 2001, S. 264-267. - ISBN 3-527-30418-5 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102008010562A1 (de) | 2009-09-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102008010562B4 (de) | Verfahren zum Instrumenten-Abgleich von Mehrwinkel-Farbmessgeräten | |
DE19636774C2 (de) | Verfahren zur Anpassung einer Farbrezeptur | |
EP1744884B1 (de) | Verfahren zur ermittlung von farb- und/oder dichtewerten und für das verfahren ausgebildete druckeinrichtung | |
EP1775565B1 (de) | Verfahren zur Farbmessung von gedruckten Proben mit Aufhellern | |
DE2638398A1 (de) | Verfahren zum eichen von spektralphotometern | |
EP1213569B1 (de) | Vorrichtung zur bildelementweisen Ausmessung eines flächigen Messobjekts | |
EP2270451A1 (de) | Farbmessgerät | |
DE4434168A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Messung und Auswertung von spektralen Strahlungen und insbesondere zur Messung und Auswertung von Farbeigenschaften | |
EP0360738A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Erstellung von Farbrezepten | |
DE112012004954T5 (de) | Verfahren zum Bestimmen des Oberflächenglanzes von einem Farbstandard | |
DE102009050075B4 (de) | Verfahren zur Messung der Wolkigkeit von Lackierungen auf Prüftafeln | |
DE202014010613U1 (de) | Messanordnung zur Reflexionsmessung | |
EP3928079B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum identifizieren von interferenzpigmenten in einer beschichtung | |
EP3078950B1 (de) | Farbmessverfahren und farbmessgerät | |
DE102005002267B4 (de) | Verfahren zum Wellenlängenkalibrieren eines optischen Messsystems | |
WO2022263131A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum inspizieren von lackierten oberflächen mit effektpigmenten | |
DE102004046461B4 (de) | Verfahren zur Ermittlung der Lackqualität einer lackierten Oberfläche, insbesondere eines lackierten Fahrzeugkarosserieteils | |
EP3692348B1 (de) | Verfahren und system zum bestimmen einer mehrzahl von farbgüte-indikatoren für eine farbkontrolle eines lacks | |
EP2695146B9 (de) | Verfahren zur prüfung von wertdokumenten | |
DE102004027448A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur farbmetrischen Messung von Effekt- und Uni-Lacken | |
DE102007061899B4 (de) | Verfahren zur messtechnischen Erfassung von einer auf einen Bedruckstoff aufgetragenen Farbschicht | |
DE102004059186A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur ortsauflösenden Bewertung von Oberflächeneigenschaften | |
DE19833859C1 (de) | Verfahren zur Ermittlung der Farbtonstabilität von Lacken | |
DE102007041390A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung für die messtechnische Erfassung von einer auf einen Bedruckstoff aufgebrachten Farbschicht | |
WO2021122964A1 (de) | Verfahren zum ermitteln eines spektrums von einer probe und optische analysevorrichtung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |