JP6741483B2 - Operation tool for electrical measurement of test probe - Google Patents
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Description
本発明は、2本のテストプローブを用いて電気測定を行う際に用いられるテストプローブの電気測定用操作具に関し、さらに詳しく言えば、片手で2本のテストプローブを操作して測定することができるようにしたテストプローブの電気測定用操作具に関するものである。 The present invention relates to a test probe electrical measurement operating tool used when performing electrical measurement using two test probes, and more specifically, it is possible to operate and measure two test probes with one hand. The present invention relates to a test probe electric measurement operation tool.
電気測定方法の1つとして、2本のテストプローブをテスター等の電気測定器に接続して、被測定対象の検査部位の2点間の電気的特性を測定する方法がある。この種のテストプローブには、特許文献1に記載されているように、ペン型のグリップ部の先端に金属製のコンタクト部(探針)を備え、他端から電気測定器に接続されるリード線が引き出されたプローブが多用されている。
As one of the electrical measurement methods, there is a method in which two test probes are connected to an electrical measurement device such as a tester to measure the electrical characteristics between two points of an inspection site to be measured. In this type of test probe, as described in
通常、この種のテストプローブを用いて電圧や電流等を測定するにあたっては、プラス側とマイナス側の2本のテストプローブをそれぞれ片手で把持して、例えば配電盤の端子台等の被測定部位に接触させるようにしている。 Usually, when measuring voltage, current, etc. using this type of test probe, hold the two test probes on the plus side and the minus side respectively with one hand, and place them on the part to be measured such as the terminal board of the switchboard. I try to contact them.
したがって、測定中は両手が塞がってしまうため、測定中に測定器の数値を読み取ったり、測定値を記録したりすることが困難となる場合がある。片手で2本のテストプローブを操作できると都合がよい。 Therefore, since both hands are blocked during the measurement, it may be difficult to read the numerical value of the measuring device or record the measured value during the measurement. It would be convenient to be able to operate two test probes with one hand.
したがって、本発明の課題は、2本のテストプローブを片手で同時に操作することができるようにしたテストプローブの電気測定用操作具を提供することにある。 Therefore, an object of the present invention is to provide an operation tool for electrical measurement of a test probe, which allows two test probes to be operated simultaneously with one hand.
上述した課題を解決するため、請求項1に係る発明は、各々の先端に被接触部位に当接されるコンタクト部を有する第1および第2の2本のテストプローブを用いて電気測定を行う際に用いられる電気測定用操作具であって、
上記第1テストプローブを保持する第1プローブ保持孔を有する第1プローブホルダと、上記第2テストプローブを保持する第2プローブ保持孔を有する第2プローブホルダとを含み、上記第1プローブホルダおよび上記第2プローブホルダは、連結手段を介して上記コンタクト部同士が離反もしくは接近する方向に回動可能に連結されており、
上記連結手段は、上記第1、第2プローブ保持孔の各軸線を含む仮想平面に沿って互いに重なり合うように上記第1、第2プローブホルダの対向する側部にそれぞれ連設された第1連結部と第2連結部とを備え、いずれか一方の上記連結部には、上記仮想平面に対して直交する回動軸線を中心とする円弧状のガイド凹部が形成されているとともに、いずれか他方の上記連結部には、上記ガイド凹部と同曲率でかつ周方向長さが上記ガイド凹部よりも短い円弧状で上記ガイド凹部内に嵌合するガイドリブが形成されており、
上記ガイド凹部と上記ガイドリブの組合せを第1回動ガイド手段として、上記第1連結部と上記第2連結部との間には、上記回動軸線を中心として同曲率で円弧状に形成され、上記第1プローブホルダと上記第2プローブホルダの回動に伴って相対的に摺動する凸曲面と凹曲面との組合せからなる第2回動ガイド手段がさらに設けられていることを特徴としている。
In order to solve the above-mentioned problems, the invention according to
A first probe holder having a first probe holding hole for holding the first test probe and a second probe holder having a second probe holding hole for holding the second test probe; The second probe holder is connected via a connecting means so as to be rotatable in a direction in which the contact portions are separated or approaching each other ,
The connection means is a first connection continuously provided on opposite side portions of the first and second probe holders so as to overlap each other along an imaginary plane including each axis of the first and second probe holding holes. And a second connecting portion, one of the connecting portions is formed with an arcuate guide recess centered on a rotation axis orthogonal to the virtual plane, and the other one of the connecting portions is formed. The connecting portion is formed with a guide rib that fits in the guide recess in an arc shape having the same curvature as the guide recess and a circumferential length shorter than that of the guide recess,
A combination of the guide recess and the guide rib is used as a first rotation guide means, and is formed between the first connection portion and the second connection portion in an arc shape with the same curvature centering on the rotation axis. It is characterized in that a second rotation guide means composed of a combination of a convex curved surface and a concave curved surface, which relatively slide with the rotation of the first probe holder and the second probe holder, is further provided . ..
請求項2に係る発明は、請求項1において、上記第1連結部と上記第2連結部との間には、上記コンタクト部同士を互いに離反もしくは接近する方向にバネ付勢する付勢手段が設けられていることを特徴としている。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, an urging means is provided between the first connecting portion and the second connecting portion for urging the contact portions in a direction in which the contact portions are separated from each other or approach each other. It is characterized by being provided .
請求項3に係る発明は、請求項2において、上記連結手段は、上記回動軸線上で上記第1、第2連結部のいずれか一方に設けられたナットと、いずれか他方から上記ナットに螺合される雄ネジとの組合せからなり、上記雄ネジまたは上記ナットの締付により、上記第1連結部と上記第2連結部との間に上記バネ付勢力に抗して上記各プローブホルダを所定の開き角に保持し得る摩擦力を発生させる緊締手段を備えていることを特徴している。
According to a third aspect of the present invention, in the second aspect, the connecting means includes a nut provided on one of the first and second connecting portions on the rotation axis, and from the other of the connecting means to the nut. The probe holder comprises a combination with a male screw to be screwed, and by tightening the male screw or the nut against the spring biasing force between the first connecting portion and the second connecting portion. Is provided with a tightening means for generating a frictional force capable of maintaining the opening angle at a predetermined angle .
請求項4に係る発明は、各々の先端に被接触部位に当接されるコンタクト部を有する第1および第2の2本のテストプローブを用いて電気測定を行う際に用いられる電気測定用操作具であって、
上記第1テストプローブを保持する第1プローブ保持孔を有する第1プローブホルダと、上記第2テストプローブを保持する第2プローブ保持孔を有する第2プローブホルダとを含み、上記第1プローブホルダおよび上記第2プローブホルダは、連結手段を介して上記コンタクト部同士が離反もしくは接近する方向に回動可能に連結されており、
上記連結手段は、上記第1、第2プローブ保持孔の各軸線を含む仮想平面に沿って互いに重なり合うように上記第1、第2プローブホルダの対向する側部にそれぞれ連設された第1および第2連結部と、上記仮想平面に対して直交する軸線を有し上記第1、第2連結部を回動可能に連結する連結軸とを有するとともに、上記第1連結部と上記第2連結部との間には、上記コンタクト部同士を互いに離反もしくは接近する方向にバネ付勢する付勢手段が設けられており、
上記連結軸は、上記第1、第2連結部のいずれか一方に設けられたナットと、いずれか他方から上記ナットに螺合される雄ネジの組合せからなり、上記雄ネジまたは上記ナットの締付によって、上記第1連結部と上記第2連結部との間に上記バネ付勢力に抗して上記各プローブホルダを所定の開き角に保持し得る摩擦力が発生することを特徴としている。
The invention according to
A first probe holder having a first probe holding hole for holding the first test probe and a second probe holder having a second probe holding hole for holding the second test probe; The second probe holder is connected via a connecting means so as to be rotatable in a direction in which the contact portions are separated or approaching each other,
The connecting means is provided continuously with the first and second probe holders on opposite side portions thereof so as to overlap each other along an imaginary plane including each axis of the first and second probe holding holes. The first connecting portion and the second connecting portion have a second connecting portion and a connecting shaft that has an axis line orthogonal to the virtual plane and that rotatably connects the first and second connecting portions. An urging means is provided between the contact portion and the contact portion for urging the contact portions so as to separate or approach each other.
The connecting shaft is composed of a combination of a nut provided on either one of the first and second connecting portions and a male screw screwed onto the nut from the other one, and tightens the male screw or the nut. As a result, a frictional force capable of holding each of the probe holders at a predetermined opening angle is generated between the first connecting portion and the second connecting portion against the spring biasing force .
請求項5に係る発明は、請求項1ないし4のいずれか1項において、上記第1プローブホルダおよび上記第2プローブホルダの各先端側には、上記第1,第2テストプローブの各コンタクト部が接触して短絡しない最小間隔を規定するストッパー部が設けられていることを特徴としている。
According to a fifth aspect of the present invention, in any one of the first to fourth aspects, the contact portions of the first and second test probes are provided on the respective tip sides of the first probe holder and the second probe holder. It is characterized in that a stopper portion is provided which defines the minimum interval in which the contacts do not come into contact with each other to cause a short circuit .
請求項6に係る発明は、請求項1ないし5のいずれか1項において、上記第1プローブホルダと上記第2プローブホルダはともに、内部に上記プローブ保持孔を有する筒状体をその軸線に沿って2分割してなる一対の半割筒状メンバーを含み、上記各半割筒状メンバーの一辺側がヒンジ連結されているとともに、他辺側には解離可能な口金手段が設けられていることを特徴としている。
According to a sixth aspect of the present invention, in any one of the first to fifth aspects, the first probe holder and the second probe holder both have a cylindrical body having the probe holding hole inside along an axis thereof. And a pair of half-divided tubular members divided into two parts, wherein one side of each half-divided tubular member is hinge-connected and the other side is provided with a detachable cap means. It has a feature.
また、請求項7に係る発明は、請求項1ないし6のいずれか1項において、上記第1プローブホルダと上記第2プローブホルダの先端部には、それぞれ、上記テストプローブに設けられている鍔部を係止する係止部が設けられていることを特徴としている。
The invention according to claim 7, Oite to any one of
本発明によれば、連結手段を介して回動可能に連結された第1プローブホルダと第2プローブホルダに、それぞれ、テストプローブを取り付けることにより、2本のテストプローブを片手で簡単に操作することができる。 According to the present invention, two test probes can be easily operated with one hand by mounting the test probes on the first probe holder and the second probe holder that are rotatably connected via the connecting means. be able to.
次に、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。 Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings, but the present invention is not limited thereto.
図1(a)に示すように、本発明は、図示しないテスター等の測定器本体に接続される2本のテストプローブP1,P2を片手で保持するための電気測定用操作具1である。
As shown in FIG. 1A, the present invention is an electrical
この実施形態で使用するテストプローブP1,P2は、図1(b)に示すように、ともに先端側から後端側に向かうにつれて外径が漸次細くなるペンシル型のグリップ部G1,G2を有し、その先端にはコンタクト部(探針とも言う)C1,C2が設けられている。 As shown in FIG. 1(b), the test probes P1 and P2 used in this embodiment have pencil-type grip portions G1 and G2 whose outer diameters gradually decrease from the front end side toward the rear end side. Contact portions (also referred to as probe tips) C1 and C2 are provided at the tip thereof.
また、テストプローブP1,P2の後端からは、それぞれ、上記測定器本体に接続されるリード線L1,L2が引き出されている。リード線L1,L2には、コネクタ端子J1,J2(この実施形態ではバナナ型プラグ)が取り付けられている。 Further, lead wires L1 and L2 connected to the measuring instrument body are drawn out from the rear ends of the test probes P1 and P2, respectively. Connector terminals J1 and J2 (banana type plugs in this embodiment) are attached to the lead wires L1 and L2.
テストプローブP1,P2は、それぞれ先端側の所定部位に、測定作業時に指がコンタクト部C1,C2方向にずれないように注意を喚起するための鍔部(環状突起でバリアとも言う)F1,F2を備えている。 The test probes P1 and P2 are collar portions (annular protrusions also referred to as barriers) F1 and F2, respectively, at predetermined portions on the tip end side for alerting the user not to shift the finger toward the contact portions C1 and C2 during measurement work. Equipped with.
なお、テストプローブP1,P2を区別する必要がない場合には、総称としてテストプローブPと言い、また、鍔部F1,F2、コンタクト部C1,C2、グリップ部G1,G2についても、区別する必要がない場合には、同様に総称として鍔部F、コンタクト部C、グリップ部Gと言う。 In addition, when it is not necessary to distinguish between the test probes P1 and P2, the test probes P are generically referred to, and the collar portions F1 and F2, the contact portions C1 and C2, and the grip portions G1 and G2 also need to be distinguished. In the case where there is not, similarly, the collar portion F, the contact portion C, and the grip portion G are collectively referred to.
図2と図3、図5を併せて参照して、この電気測定用操作具1は、一方の第1テストプローブP1を保持する第1プローブホルダ2と、他方の第2テストプローブP2を保持する第2プローブホルダ3とを有し、それらが連結手段4を介して回動可能に連結されている。なお、電気測定用操作具1の筐体は絶縁性を有するプラスチック製である。
With reference to FIG. 2 and FIGS. 3 and 5 together, this electrical
第1プローブホルダ2は、筒状体をその軸線に沿ってほぼ半割(2分割)した形状の一対の半割筒状メンバーを含み、この実施形態では、説明の便宜上、一方の半割筒状メンバーをホルダ本体21とし、他方の半割筒状メンバーを蓋部材22とする。
The
ホルダ本体21と蓋部材22は、それらの一辺側(開閉の基端側)がヒンジ機構で開閉可能に連結されており、閉じた状態で内部にプローブ保持孔23が形成される。ホルダ本体21と蓋部材22の開閉される他辺側には、係合凸部24aと、その相手方としての係合孔241を有する係合受け部24bとの組合せからなる解離可能な口金手段(ロック手段)24が設けられている。
The holder
テストプローブP1は、蓋部材22を開いた状態で第1プローブホルダ2内に収納され、蓋部材22を閉じて係合突部24aを係合受け部24bの係合孔241に係合させて口金手段24で閉止することにより、プローブ保持孔23内に保持される。
The test probe P1 is housed in the
テストプローブP1をしっかりと保持することを意図して、プローブ保持孔23の先端側開口部231は、グリップ部G1の鍔部F1の付け根部付近の外径とほぼ合致するように形成されている。好ましくは、プローブ保持孔23の後端側開口部232も、グリップ部G1の後端の外径とほぼ合致するように形成されているとよい。
In order to firmly hold the test probe P1, the tip-
また、ホルダ本体21の先端には、テストプローブP1の鍔部F1の一部が係止される第1係止部26が設けられている。第1係止部26は、ホルダ本体21の先端底部から突設され、鍔部F1の一部が係止される第1係止凹部261を備えている。この第1係止凹部261により、テストプローブP1の軸方向のずれが封じられ、テストプローブP1が正確に位置決めされる。
In addition, the tip of the
蓋部材22は、その一辺側(開閉の基端側)がヒンジ機構を介してホルダ本体21の対応する一辺側に回動可能(開閉可能)に連結されている。口金手段24について、この実施形態とは異なり、係合凸部24aを蓋部材22側とし、係合受け部24bをホルダ本体21側としてもよい。
One side of the lid member 22 (base end side of opening/closing) is rotatably (openable/closable) connected to the corresponding one side of the
また、ヒンジ機構について、この実施形態では、図5と図7(a)を参照して、蓋部材22の一辺側の両端に、ホルダ本体21の同じく一辺側にあるリブ壁233の端部233a,233aと対向する円柱状の軸受部222,222を設け、その各々の軸受部222と端部233aとの対向面の一方に半球状突部、他方に半球状凹部(ともに図示しない)を同軸に設けてヒンジ機構としている。ヒンジ機構は、薄肉ヒンジであってもよい。
Regarding the hinge mechanism, in this embodiment, referring to FIG. 5 and FIG. 7A, at both ends on one side of the
第1プローブホルダ2の側面(図2(d)では正面)には、この操作具1を手で把持する際に、指(通常は親指もしくは人差し指)が掛けられる第1指掛け部25が設けられている。第1指掛け部25は、ホルダ本体21の側面と蓋部材22の側面の両方に跨がるように形成されており、表面に滑り止め用の凹凸が形成されている。
On the side surface (front surface in FIG. 2D) of the
次に、第2プローブホルダ3も、第1プローブホルダ2と同じく、筒状体をその軸線に沿ってほぼ半割(2分割)した形状の一対の半割筒状メンバーを含み、この実施形態では、説明の便宜上、一方の半割筒状メンバーをホルダ本体31とし、他方の半割筒状メンバーを蓋部材32とする。
Next, like the
ホルダ本体31と蓋部材32は、それらの一辺側(開閉の基端側)がヒンジ機構で開閉可能に連結されており、閉じた状態で内部にプローブ保持孔33が形成される。ヒンジ機構は、第1プローブホルダ2に適用されているヒンジ機構と同じであってよい。
One side of the
図2(c)を参照して、ホルダ本体31と蓋部材32の開閉される他辺側には、係合凸部33aと、その相手方としての係合孔341を有する係合受け部33bとの組合せからなる解離可能な口金手段34が設けられている。
With reference to FIG. 2C, on the other side of the
テストプローブP2は、蓋部材32を開いた状態で第2プローブホルダ3内に収納され、蓋部材32を閉じて係合突部33aを係合受け部33bの係合孔341に係合させて口金手段34で閉止することにより、プローブ保持孔33内に保持される。
The test probe P2 is housed in the
テストプローブP2をしっかりと保持することを意図して、プローブ保持孔33の先端側開口部331は、グリップ部G2の鍔部F2の付け根部付近の外径とほぼ合致するように形成されている。好ましくは、プローブ保持孔33の後端側開口部332も、グリップ部G2の後端の外径とほぼ合致するように形成されているとよい。
In order to firmly hold the test probe P2, the
また、ホルダ本体31の先端には、テストプローブP2の鍔部F2の一部が係止される第2係止部36が設けられている。第2係止部36は、ホルダ本体31の先端底部から突設され、鍔部F2の一部が係止される第2係止凹部361を備えている。この第2係止凹部361により、テストプローブP2の軸方向のずれが封じられ、テストプローブP2が正確に位置決めされる。
Further, the
蓋部材32は、第1プローブホルダ2側の蓋部材22と同じ構成であってよい。また、図2(c)に示すように、第2プローブホルダ3の側面にも、第1プローブホルダ2と同じく、この操作具1を手で把持する際に、指(通常は親指もしくは人差し指)が掛けられる第2指掛け部35が設けられている。第2指掛け部35は、ホルダ本体31の側面と蓋部材32の側面の両方に跨がるように形成されており、表面に滑り止め用の凹凸が形成されている。
The
次に、図4、図6および図7を併せて参照して、第1プローブホルダ2と第2プローブホルダ3とを連結する連結手段4の構成について説明する。
Next, with reference to FIG. 4, FIG. 6 and FIG. 7 together, the configuration of the connecting
連結手段4は、基本的な構成として、第1プローブホルダ2側の第2プローブホルダ3と対向する側面に設けられた第1連結部としての軸受ケース41と、第2プローブホルダ3側の第1プローブホルダ2と対向する側面に設けられた第2連結部としての連結板42とを備えている。
The connecting means 4 has, as a basic configuration, a bearing
軸受ケース41と連結板42との間には、第1および第2の2つの回動ガイド手段が設けられているとともに、軸受ケース41と連結板42には、それらの間に摩擦力を発生させて第1プローブホルダ2と第2プローブホルダ3を所定の開き角に保持するための緊締手段としての緊締ネジ43が設けられている。
Two first and second rotation guide means are provided between the bearing
この実施形態において、軸受ケース41は、第1プローブホルダ2のホルダ本体21に一体に形成された箱形フレームからなり、その内部の2箇所にケースカバー410をネジ止めするための雌ネジ孔を有するボス部411,411が設けられている。
In this embodiment, the bearing
軸受ケース41の側面(第2プローブホルダ3と対向する面)には、連結板42を軸受ケース41内に入れるための開口部44が設けられている。ケースカバー410には、緊締ネジ43が螺合される六角ナット451が設けられ、軸受ケース41には、緊締ネジ43が挿通されるネジ挿通孔412が設けられている。
An
連結板42は、第2プローブホルダ3のホルダ本体31に一体的に形成されており、その中央部分には、緊締ネジ43が挿通されるネジ挿通孔421が設けられている。ネジ挿通孔412,421および六角ナット451は、第1プローブホルダ2と第2プローブホルダ3の回動基点となる回動軸線Y(図4参照)上に配置されている。
The connecting
この実施形態において、連結板42側には、第1回動ガイド手段の一方の構成要素として、上記回動軸線Yを中心とする円弧状のガイド孔424が形成されているとともに、軸受ケース41側には、第1回動ガイド手段の他方の構成要素としてガイドリブ414が形成されている。
In this embodiment, an
ガイドリブ414は、ガイド孔424と同曲率でかつ周方向長さがガイド孔424よりも短い円弧状でガイド孔424内に嵌合する。第1プローブホルダ2と第2プローブホルダ3は、ガイド孔424内でガイドリブ414が動き得る範囲内で回動する。ガイド孔424は溝であってもよい。
The
また、連結板42の周端縁には、第2回動ガイド手段の一方の構成要素として、上記回動軸線Yを中心とする円弧状の凸曲面425が形成されている。これに対して、軸受ケース41側には、第2回動ガイド手段の他方の構成要素としての凹曲面416を有する衝立部415が設けられている。
Further, on the peripheral edge of the connecting
凹曲面416は凸曲面425と同曲率の円弧状として形成されており、凹曲面416と凸曲面425は、第1プローブホルダ2と第2プローブホルダ3の回動に伴って相対的に摺動する。
The concave
連結板42の一方の面(図4で下面、図7(b)では上面)には、円筒状のスリーブ部422がネジ挿通孔421の周りに同軸的に形成されており、その外周には、トーションばね46のコイル部分460が嵌装されている。
A
また、連結板42の一方の面には、トーションばね46の一方の端部461が係止される係止片423が設けられている。トーションばね46の他方の端部462は、軸受ケース41の内壁に係止され、これにより、プローブホルダ2,3を介してテストプローブP1,P2のコンタクト部C1,C2が互いに離反する方向にバネ付勢される。なお、プローブホルダ2,3は、互いに接近する方向にバネ付勢されてもよい。
Further, on one surface of the connecting
緊締ネジ43は、ねじ頭にツマミ部431を備えた雄ネジ軸432からなり、軸受ケース41のネジ挿通孔412および連結板42のネジ挿通孔421を通ってケースカバー410に設けられている六角ナット451に螺合する。
The tightening
この実施形態において、緊締ネジ43はもう一つの六角ナット452を備えているとともに、図7(b)に示すように、ツマミ部431の裏側には六角ナット452が嵌合される六角穴433が設けられている。
In this embodiment, the tightening
これによれば、雄ネジ軸432の基端側に六角ナット452を取り付けて、六角ナット452を六角穴433に嵌合することにより、ツマミ部431と雄ネジ軸432とを一体として回転させることができる。なお、六角ナット451,452に代えて、例えば四角ナットやDカット部を有するナット等が用いられてもよい。
According to this, by mounting the
第1プローブホルダ2と第2プローブホルダ3は、緊締ネジ43の軸線を中心として回動可能であるが、緊締ネジ43を締め付ける方向に回すことにより、トーションばね46の付勢力に抗して第1プローブホルダ2と第2プローブホルダ3を所定の開き角に保持することができる。
The
すなわち、図4に示すように、ツマミ部431を回して緊締ネジ43を締め付けることにより、軸受ケース41の底面に対して連結板42が引き寄せられ、回動力に抗する摩擦力が発生する。
That is, as shown in FIG. 4, by turning the
したがって、その摩擦力がトーションばね46によるバネ付勢力に打ち勝つように緊締ネジ43を締め付けることにより、第1プローブホルダ2と第2プローブホルダ3を任意の開き角を保った状態で固定することができる。
Therefore, by tightening the tightening
なお変形例として、図4において、雄ネジ軸432を逆様としてケースカバー410側に一体的に固定し、ツマミ部431には六角ナット452を六角穴433に嵌合させた状態で残し、六角ナット452を雄ネジ軸432の端部に螺合させれば、ツマミ部431とともに六角ナット452を回して緊締ネジ43を締め付けて、第1プローブホルダ2と第2プローブホルダ3を任意の開き角を保った状態で固定することができる。
As a modified example, in FIG. 4, the
上記実施形態では、少なくとも第1回動ガイド手段(円弧状のガイド孔424と同曲率の円弧状のガイドリブ414とからなる回動ガイド手段)により、プローブホルダ2,3を回動可能としているが、これとは別に、緊締ネジ43を回動用の連結ネジとしてプローブホルダ2,3を回動可能に連結するようにしてもよい。
In the above embodiment, the
次に、図8(a),(b)をさらに参照して、第1プローブホルダ2と第2プローブホルダ3との間には、最小ピッチとした場合、テストプローブP1のコンタクト部C1とテストプローブP2のコンタクト部C2同士が接触して短絡しないようにするためのストッパー部5が設けられている。
Next, further referring to FIGS. 8A and 8B, when the minimum pitch is provided between the
ストッパー部5は、第1プローブホルダ2の先端側の側面(第2プローブホルダ3と対向する内側の側面)に設けられた第1凸部51と、第2プローブホルダ3の先端側の側面(第1プローブホルダ2と対向する内側の側面)に設けられた第2凸部52とを備えている。
The
これによれば、図7(b)に示すように、第1プローブホルダ2の先端と第2プローブホルダ3の先端とが最も近接した状態で第1凸部51と第2凸部52とが当接することにより、テストプローブP1のコンタクト部C1とテストプローブP2のコンタクト部C2が所定のピッチを持って保持され、その結果、先端同士が接触して短絡することが防止される。第1凸部51と第2凸部52とが当接したとき、コンタクト部C1,C2が最小ピッチとなる。
According to this, as shown in FIG. 7B, the first
なお、ストッパー部5の変形例として、いずれか一方のプローブホルダ側のみに、第1凸部51と第2凸部52を合わせた高さを有する凸部を設けてもよい。
As a modification of the
本発明によれば、連結手段4を介して回動可能に連結された第1プローブホルダ2と第2プローブホルダ3に、それぞれ、テストプローブP1,P2を取り付けることにより、2本のテストプローブを片手で簡単に操作することができる。
According to the present invention, by attaching the test probes P1 and P2 to the
1 テストプローブの電気測定用操作具
2 第1プローブホルダ
3 第2プローブホルダ
21,31 ホルダ本体
22,32 蓋部材
23,33 プローブ保持孔
24,34 口金手段
26,36 係止部
4 連結手段
41 軸受ケース(第1連結部)
42 連結板(第2連結部)
43 緊締ネジ
5 ストッパー部
P テストプローブ
C コンタクト部
F 鍔部
1 Operation Tool for Electrical Measurement of
42 Connection plate (second connection part)
43
Claims (7)
上記第1テストプローブを保持する第1プローブ保持孔を有する第1プローブホルダと、上記第2テストプローブを保持する第2プローブ保持孔を有する第2プローブホルダとを含み、上記第1プローブホルダおよび上記第2プローブホルダは、連結手段を介して上記コンタクト部同士が離反もしくは接近する方向に回動可能に連結されており、
上記連結手段は、上記第1、第2プローブ保持孔の各軸線を含む仮想平面に沿って互いに重なり合うように上記第1、第2プローブホルダの対向する側部にそれぞれ連設された第1連結部と第2連結部とを備え、いずれか一方の上記連結部には、上記仮想平面に対して直交する回動軸線を中心とする円弧状のガイド凹部が形成されているとともに、いずれか他方の上記連結部には、上記ガイド凹部と同曲率でかつ周方向長さが上記ガイド凹部よりも短い円弧状で上記ガイド凹部内に嵌合するガイドリブが形成されており、
上記ガイド凹部と上記ガイドリブの組合せを第1回動ガイド手段として、上記第1連結部と上記第2連結部との間には、上記回動軸線を中心として同曲率で円弧状に形成され、上記第1プローブホルダと上記第2プローブホルダの回動に伴って相対的に摺動する凸曲面と凹曲面との組合せからなる第2回動ガイド手段がさらに設けられていることを特徴とするテストプローブの電気測定用操作具。 An electrical measurement operation tool used when performing electrical measurement using first and second test probes each having a contact portion that abuts on a contacted portion at each tip,
A first probe holder having a first probe holding hole for holding the first test probe and a second probe holder having a second probe holding hole for holding the second test probe; The second probe holder is connected via a connecting means so as to be rotatable in a direction in which the contact portions are separated or approaching each other ,
The connection means is a first connection continuously provided on opposite side portions of the first and second probe holders so as to overlap each other along an imaginary plane including the axes of the first and second probe holding holes. And a second connecting portion, one of the connecting portions is formed with an arcuate guide recess centered on a rotation axis orthogonal to the virtual plane, and the other one of the connecting portions is formed. The connecting portion is formed with a guide rib that fits in the guide recess in an arc shape having the same curvature as the guide recess and a circumferential length shorter than that of the guide recess,
A combination of the guide recess and the guide rib is used as a first rotation guide means, and is formed between the first connection portion and the second connection portion in an arc shape with the same curvature centering on the rotation axis. It is characterized in that a second rotation guide means composed of a combination of a convex curved surface and a concave curved surface, which relatively slide with the rotation of the first probe holder and the second probe holder, is further provided. Operation tool for electrical measurement of test probe.
上記第1テストプローブを保持する第1プローブ保持孔を有する第1プローブホルダと、上記第2テストプローブを保持する第2プローブ保持孔を有する第2プローブホルダとを含み、上記第1プローブホルダおよび上記第2プローブホルダは、連結手段を介して上記コンタクト部同士が離反もしくは接近する方向に回動可能に連結されており、
上記連結手段は、上記第1、第2プローブ保持孔の各軸線を含む仮想平面に沿って互いに重なり合うように上記第1、第2プローブホルダの対向する側部にそれぞれ連設された第1および第2連結部と、上記仮想平面に対して直交する軸線を有し上記第1、第2連結部を回動可能に連結する連結軸とを有するとともに、上記第1連結部と上記第2連結部との間には、上記コンタクト部同士を互いに離反もしくは接近する方向にバネ付勢する付勢手段が設けられており、
上記連結軸は、上記第1、第2連結部のいずれか一方に設けられたナットと、いずれか他方から上記ナットに螺合される雄ネジの組合せからなり、上記雄ネジまたは上記ナットの締付によって、上記第1連結部と上記第2連結部との間に上記バネ付勢力に抗して上記各プローブホルダを所定の開き角に保持し得る摩擦力が発生することを特徴とするテストプローブの電気測定用操作具。 An electrical measurement operation tool used when performing electrical measurement using first and second test probes each having a contact portion that abuts on a contacted portion at each tip,
A first probe holder having a first probe holding hole for holding the first test probe and a second probe holder having a second probe holding hole for holding the second test probe; The second probe holder is connected via a connecting means so as to be rotatable in a direction in which the contact portions are separated or approaching each other,
The connecting means is provided continuously with the first and second probe holders on opposite side portions thereof so as to overlap each other along an imaginary plane including each axis of the first and second probe holding holes. The first connecting portion and the second connecting portion have a second connecting portion and a connecting shaft that has an axis line orthogonal to the virtual plane and that rotatably connects the first and second connecting portions. An urging means is provided between the contact portion and the contact portion for urging the contact portions so as to separate or approach each other .
The connecting shaft is composed of a combination of a nut provided on either one of the first and second connecting portions and a male screw screwed onto the nut from the other one, and tightens the male screw or the nut. the biasing, characterized in that the frictional force capable of retaining a predetermined opening angle each probe holder against the biasing force the spring between the first connecting portion and the second connecting portion is generated electrical measurement for operation tool of the test probe.
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