JP5707270B2 - Outlet measuring probe and voltage measuring instrument - Google Patents

Outlet measuring probe and voltage measuring instrument Download PDF

Info

Publication number
JP5707270B2
JP5707270B2 JP2011169212A JP2011169212A JP5707270B2 JP 5707270 B2 JP5707270 B2 JP 5707270B2 JP 2011169212 A JP2011169212 A JP 2011169212A JP 2011169212 A JP2011169212 A JP 2011169212A JP 5707270 B2 JP5707270 B2 JP 5707270B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
measurement
outlet
probes
measuring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2011169212A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2013032974A (en
Inventor
三木 昭彦
昭彦 三木
中村 哲也
哲也 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hioki EE Corp
Original Assignee
Hioki EE Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hioki EE Corp filed Critical Hioki EE Corp
Priority to JP2011169212A priority Critical patent/JP5707270B2/en
Publication of JP2013032974A publication Critical patent/JP2013032974A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5707270B2 publication Critical patent/JP5707270B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)

Description

本発明は、一般には、コンセントの電圧測定が可能な電圧測定器に関するものであり、特に、コンセントの穴の間隔が異なる種々の形状のコンセントに適用して電圧測定が可能なコンセント測定プローブ及び斯かるコンセント測定プローブを備えた電圧測定器である。   The present invention generally relates to a voltage measuring instrument capable of measuring the voltage of an outlet, and more particularly, to an outlet measuring probe capable of measuring voltage by applying it to outlets of various shapes having different intervals between outlet holes. It is a voltage measuring device provided with such a socket measuring probe.

従来、測定切替スイッチにより電圧、電流、電気抵抗等の測定が可能であり、測定結果をデジタル表示部により表示するデジタルマルチメータが広く使用されている。デジタルマルチメータの一例を、本願添付の図5に示す。   2. Description of the Related Art Conventionally, digital multimeters that can measure voltage, current, electrical resistance, and the like with a measurement changeover switch and display measurement results on a digital display unit have been widely used. An example of a digital multimeter is shown in FIG.

本例に示すように、通常、デジタルマルチメータ1Aは、メータ本体2と、メータ本体2に接続された一対の測定プローブ3(3A、3B)とにて構成される。メータ本体2には、測定切り替えスイッチ4及びデジタル表示部5等が設けられている。   As shown in this example, the digital multimeter 1 </ b> A is usually composed of a meter body 2 and a pair of measurement probes 3 (3 </ b> A, 3 </ b> B) connected to the meter body 2. The meter body 2 is provided with a measurement changeover switch 4 and a digital display unit 5.

例えば、コンセントの電圧を測定する場合は、ユーザは、電圧測定器として機能するDMM(デジタルマルチメータ)1Aなどを使用し、メータ本体2に設けられた、例えばロータリスイッチとされる測定切り替えスイッチ4を回して、測定対象を設定する。つまり、例えば、ロータリスイッチ4を「OFF」位置から「ACV」位置へと回し、ファンクションを電圧測定に設定する。   For example, when measuring the voltage of the outlet, the user uses a DMM (Digital Multimeter) 1A functioning as a voltage measuring instrument, and the measurement changeover switch 4 provided as a rotary switch, for example, provided in the meter body 2. Turn to set the measurement target. That is, for example, the rotary switch 4 is turned from the “OFF” position to the “ACV” position, and the function is set to voltage measurement.

次いで、ユーザは、一般には、片手にメータ本体2と測定プローブ1本を持ち、もう一本の手に他の1本の測定プローブを持って、コンセントの穴に挿入にてコンセント金属端子に接触させて測定する。   Next, the user generally holds the meter body 2 and one measurement probe in one hand and the other measurement probe in the other hand and contacts the outlet metal terminal by inserting it into the outlet hole. And measure.

このように、従来の、コンセントの電圧測定方法は、両手を使用して、コンセントの穴に対して両方の測定プローブ3(3A、3B)を確実に挿入して接触させることが必要とされた。しかも、その操作は容易とは言い難い。そのために、測定プローブをコンセントの穴に確実に挿入して接触させるために複数回操作を繰り返し行なうこともある。更なる測定方法の簡易化が望まれている。   As described above, the conventional method for measuring the voltage of the outlet requires that both the measurement probes 3 (3A, 3B) are securely inserted and brought into contact with the hole of the outlet using both hands. . Moreover, the operation is not easy. For this reason, the operation may be repeated a plurality of times in order to reliably insert the measurement probe into the hole of the outlet and contact it. Further simplification of measurement methods is desired.

そこで、特許文献1は、本願添付の図6、図7に示すように、コンセントの電圧測定をより確実に、且つ、簡単に実施し得る電圧測定器1Aを開示している。特許文献1に記載する電圧測定器1Aは、メータ本体2をユーザが片手で把持し得る形状とし、且つ、メータ本体2の両側部には、測定プローブ3(3A、3B)をそれぞれ着脱自在に支持し得る支持構造20(20A、20B)が設けられている。   Therefore, Patent Document 1 discloses a voltage measuring instrument 1A that can more reliably and easily perform voltage measurement of an outlet as shown in FIGS. 6 and 7 attached to the present application. The voltage measuring instrument 1A described in Patent Document 1 has a shape that allows the user to hold the meter body 2 with one hand, and the measurement probes 3 (3A, 3B) are detachable on both sides of the meter body 2 respectively. A support structure 20 (20A, 20B) that can be supported is provided.

従って、ユーザは、コンセントの電圧測定に際しては、測定プローブ3(3A、3B)をメータ本体2の両側部に支持構造20(20A、20B)により固定的に支持させる。これにより、測定プローブ3(3A、3B)の探針32、32は、コンセントの穴の間隔(W)にセットされる。従って、ユーザは、片手に持ったメータ本体2と共に、所定の間隔(W)に設定保持されている測定プローブ3(3A、3B)の探針32、32をコンセントの穴に挿入させ、金属部に確実に接触させることができる。   Therefore, when measuring the voltage of the outlet, the user supports the measurement probe 3 (3A, 3B) fixedly on both sides of the meter body 2 by the support structure 20 (20A, 20B). Thereby, the probes 32 and 32 of the measurement probe 3 (3A, 3B) are set to the space | interval (W) of a socket hole. Accordingly, the user inserts the probes 32, 32 of the measurement probe 3 (3A, 3B) set and held at a predetermined interval (W) together with the meter body 2 held in one hand into the hole of the outlet, Can be reliably contacted.

このように、特許文献1に記載の電圧測定器1Aは、測定プローブ3(3A、3B)をメータ本体2に固定することができ、且つ、固定した測定プローブ3(3A、3B)の間隔(W)がコンセントの穴の間隔とされるので、片手で、且つ、容易に、操作性良く、コンセントの電圧を確実に測定することができる、といった利点を有している。   As described above, the voltage measuring instrument 1A described in Patent Document 1 can fix the measurement probe 3 (3A, 3B) to the meter body 2, and the interval between the fixed measurement probes 3 (3A, 3B) ( Since W) is the interval between the holes of the outlet, there is an advantage that the voltage of the outlet can be reliably measured with one hand, easily and with good operability.

欧州特許出願公開第1164379号公報European Patent Application No. 1164379

しかしながら、上記特許文献1に記載の電圧測定器1Aは、コンセント穴間隔(W)が一定距離とされるコンセントの電圧測定に対しては有効であるが、例えば、コンセント穴の間隔が異なる各国のコンセントに対応させることは困難である。   However, the voltage measuring instrument 1A described in Patent Document 1 is effective for measuring the voltage of an outlet in which the outlet hole interval (W) is a constant distance. It is difficult to correspond to an outlet.

本発明の目的は、コンセント形状(穴の間隔)が異なる様々な国のコンセントに対して使用することのできるコンセント測定プローブ及び電圧測定器を提供することである。   An object of the present invention is to provide an outlet measuring probe and a voltage measuring device that can be used for outlets of various countries having different outlet shapes (hole intervals).

本発明の他の目的は、片手で、且つ、容易に、操作性良く、コンセントの電圧を確実に測定することのできるコンセント測定プローブ及び電圧測定器を提供することである。   Another object of the present invention is to provide an outlet measuring probe and a voltage measuring instrument that can measure the voltage of the outlet reliably with one hand, easily and with good operability.

上記目的は本発明に係るコンセント測定プローブ及び電圧測定器にて達成される。要約すれば、本発明の一態様によれば、コンセントの電圧を測定するための測定プローブであって、略円柱状とされる絶縁性のグリップと、前記グリップの先端部に設けた探針と、前記探針から所定の距離の位置にて前記グリップに形成された環状鍔部とされるバリアと、を備えた一対の測定プローブにおいて、
前記グリップには、前記グリップの軸線方向において前記バリアの一側及び/又は他側に、且つ、前記バリアに隣接して保持溝が形成され、
前記対をなす測定プローブを互いに平行に配置して一体に組み合わせたとき、互いに一方の測定プローブの前記環状鍔部の外周の一部が、他方の測定プローブの前記保持溝に嵌合し、両測定プローブを一体的に固定し、前記対をなす両測定プローブの前記探針間の距離を所定値に設定することを特徴とする測定プローブが提供される。
The above object is achieved by an outlet measuring probe and a voltage measuring device according to the present invention. In summary, according to one aspect of the present invention, there is provided a measurement probe for measuring the voltage of an outlet, an insulating grip having a substantially cylindrical shape, and a probe provided at a tip portion of the grip. In a pair of measurement probes comprising a barrier that is an annular flange formed on the grip at a predetermined distance from the probe,
The grip is formed with a holding groove on one side and / or the other side of the barrier in the axial direction of the grip and adjacent to the barrier,
When the paired measurement probes are arranged in parallel with each other and are combined together, a part of the outer periphery of the annular flange of one measurement probe is fitted into the holding groove of the other measurement probe, A measurement probe is provided, in which a measurement probe is fixed integrally, and the distance between the probes of the two measurement probes in the pair is set to a predetermined value.

本発明の一実施態様によると、前記バリアは、前記グリップの中心軸線と中心が一致した楕円形状又は三角形以上の多角形状とされる。   According to an embodiment of the present invention, the barrier has an elliptical shape whose center coincides with the center axis of the grip or a polygonal shape of a triangle or more.

本発明の他の態様によると、測定器本体と、前記測定器本体に接続された一対の測定プローブとを備えた電圧測定器において、
前記測定プローブは、上記いずれかの構成の測定プローブであることを特徴とする電圧測定器が提供される。
According to another aspect of the present invention, in a voltage measuring instrument comprising a measuring instrument main body and a pair of measuring probes connected to the measuring instrument main body,
A voltage measuring instrument is provided in which the measuring probe is a measuring probe having any one of the above-described configurations.

本発明によれば、
(1)コンセント形状(穴の間隔)が異なる様々な国のコンセントに対して有効に使用することができる。
(2)片手で、且つ、容易に、操作性良く、コンセントの電圧を確実に測定することができる。
といった利点を有している。
According to the present invention,
(1) It can be used effectively for outlets of various countries with different outlet shapes (hole intervals).
(2) The outlet voltage can be reliably measured with one hand, easily and with good operability.
It has the following advantages.

図1は、本発明に従って構成される電圧測定器として機能するデジタルマルチメータの全体構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of a digital multimeter functioning as a voltage measuring device configured according to the present invention. 図2(a)は、本発明に係る測定プローブの正面図であり、図2(b)は、平面図である。FIG. 2A is a front view of the measurement probe according to the present invention, and FIG. 2B is a plan view. 図3(a)は、本発明に係る測定プローブの一実施例の斜視図であり、図3(b)は、本発明に係る測定プローブの他の実施例の斜視図であり、図3(c)は、保持溝の他の実施例を示す図3(b)の線III−IIIに取った断面図である。FIG. 3A is a perspective view of one embodiment of the measurement probe according to the present invention, and FIG. 3B is a perspective view of another embodiment of the measurement probe according to the present invention. c) is a sectional view taken along line III-III in FIG. 3B showing another embodiment of the holding groove. 図4(a)は、互いに平行に配置した対をなす測定プローブの正面図であり、図4(b)は、第一の形状のコンセントの電圧測定をするために二つの測定プローブを一体に組み合わせた使用態様を説明する図であり、図4(c)は、第二の形状のコンセントの電圧測定をするために二つの測定プローブを一体に組み合わせた使用態様を説明する図である。FIG. 4A is a front view of a pair of measurement probes arranged in parallel with each other, and FIG. 4B is a diagram illustrating two measurement probes integrated to measure the voltage of a first-shaped outlet. FIG. 4C is a diagram illustrating a usage mode in which two measurement probes are combined together to measure the voltage of the second-shaped outlet. 従来のデジタルマルチメータの一例を示す全体構成図である。It is a whole block diagram which shows an example of the conventional digital multimeter. 従来のデジタルマルチメータの一例を示す全体構成図である。It is a whole block diagram which shows an example of the conventional digital multimeter. 図6に示す従来のデジタルマルチメータの使用状態を説明するための全体構成図である。It is a whole block diagram for demonstrating the use condition of the conventional digital multimeter shown in FIG.

以下、本発明に係るコンセント測定プローブ及び電圧測定器を図面に則して更に詳しく説明する。   Hereinafter, the outlet measuring probe and the voltage measuring device according to the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.

実施例1
(電圧測定器の全体構成)
図1に、本発明に従って構成されるコンセント測定プローブ及び電圧測定器の一実施例を示す。
Example 1
(Overall configuration of voltage measuring instrument)
FIG. 1 shows an embodiment of an outlet measuring probe and a voltage measuring device configured according to the present invention.

電圧測定器1の全体構成は、図5を参照して説明した従来の電圧測定器として使用されるデジタルマルチメータ1Aと同様である。ただ、測定プローブ3(3A、3B)の構成において異なる。   The overall configuration of the voltage measuring device 1 is the same as that of the digital multimeter 1A used as the conventional voltage measuring device described with reference to FIG. However, the configuration of the measurement probe 3 (3A, 3B) is different.

つまり、図1に示すように、電圧測定器(デジタルマルチメータ)1は、測定器本体(以下、「メータ本体」という。)2と、メータ本体2に接続された一対の測定プローブ3(3A、3B)とにて構成される。メータ本体2には、測定切替スイッチ4及びデジタル表示部5などが設けられている。   That is, as shown in FIG. 1, a voltage measuring device (digital multimeter) 1 includes a measuring device main body (hereinafter referred to as “meter main body”) 2 and a pair of measuring probes 3 (3A) connected to the meter main body 2. 3B). The meter body 2 is provided with a measurement changeover switch 4 and a digital display unit 5.

対をなす測定プローブ3A、3Bは、同じ形状、構造とされるので、以下の説明では、測定プローブ3A、3Bは、特に区別することを必要とする場合を除いては、測定プローブ3と総称して説明する。   Since the paired measurement probes 3A and 3B have the same shape and structure, in the following description, the measurement probes 3A and 3B are generically referred to as the measurement probe 3 unless particularly required to be distinguished. To explain.

図2(a)を参照して説明すれば、本実施例において、測定プローブ3は、細長の略円柱状とされる絶縁性のグリップ31を備えており、グリップ31の先端部31aには、探針32が端面31a1から突出して設けられている。探針32は金属製の細長棒とされ、絶縁性のグリップ31の内部にてリード線33と電気的に接続されている。グリップ31の後端部31bからはリード線33が引き出され、リード線33の端部は、メータ本体2に電気的に接続されている。   If it demonstrates with reference to Fig.2 (a), in the present Example, the measurement probe 3 is provided with the insulating grip 31 made into the elongate substantially cylindrical shape, A probe 32 is provided so as to protrude from the end face 31a1. The probe 32 is a metal elongated bar, and is electrically connected to the lead wire 33 inside the insulating grip 31. A lead wire 33 is drawn out from the rear end portion 31 b of the grip 31, and the end portion of the lead wire 33 is electrically connected to the meter body 2.

なお、従来、グリップ31には、使用時に使用者の指が滑り探針32に接触するのを防止する滑り止め機能をなすために、その先端の探針32に隣接する位置に、即ち、グリップ31の先端面31a1から距離(L)だけ、内方へと移動した位置に、環状に突出したリング状凸部、即ち、鍔部とされるバリア34がグリップ31と一体に形成されている。   Conventionally, the grip 31 has a non-slip function for preventing the user's finger from coming into contact with the sliding probe 32 during use. A ring-shaped protruding portion that protrudes in an annular shape, that is, a barrier 34 that is a collar portion, is formed integrally with the grip 31 at a position moved inward by a distance (L) from the distal end surface 31 a 1 of 31.

本発明によれば、バリア34は、従来の「滑り止め機能」の他に、詳しくは後述するように、二つの測定プローブ3A、3Bを一体に組み合わせたときの両探針32、32間の距離(W)を所定値(W1、W2)に設定して固定する機能をもなす(図4参照)。   According to the present invention, in addition to the conventional “slip prevention function”, the barrier 34 is formed between the two probes 32 and 32 when the two measurement probes 3A and 3B are combined together, as will be described in detail later. The distance (W) is set to a predetermined value (W1, W2) and fixed (see FIG. 4).

更に説明すると、本実施例によれば、バリア34は、図2(b)及び図3(a)に示すように、測定プローブ3の軸線、即ち、グリップ31の中心軸線と中心(O)が一致した、短径(a)、長径(b)の楕円形状に形成される。   More specifically, according to the present embodiment, as shown in FIGS. 2B and 3A, the barrier 34 has an axis of the measurement probe 3, that is, a center axis and a center (O) of the grip 31. It is formed in an elliptical shape having a coincident minor axis (a) and major axis (b).

また、測定プローブ3には、バリア34を基準として測定プローブ3の軸線方向に、即ち、図2(a)にて、バリア34の上側(一側)及び下側(他側)に、且つ、バリア34に隣接して、第1及び第2の環状の保持溝35、36が形成される。勿論、溝は、一方の測定プローブ3Aに対してはバリア34の上側に、他方の測定プローブ3Bに対しては下側にのみ形成してもよい。当然、この逆でも構わない。   Further, the measurement probe 3 is arranged in the axial direction of the measurement probe 3 with respect to the barrier 34, that is, on the upper side (one side) and the lower side (other side) of the barrier 34 in FIG. Adjacent to the barrier 34, first and second annular holding grooves 35, 36 are formed. Of course, the groove may be formed only on the upper side of the barrier 34 for one measurement probe 3A and only on the lower side for the other measurement probe 3B. Of course, this may be reversed.

上記溝35、36は、二つの測定プローブ3(3A、3B)を一体に組み合わせたとき、相手方の測定プローブの所定の厚さ(T)とされるバリア(鍔部)34の外周の一部が着脱可能に嵌合し、両測定プローブ(3A、3B)を一体的に固定し、両探針32、32間の距離(W)を所定値(W1、W2)に設定する機能をなす。   The grooves 35 and 36 are part of the outer periphery of the barrier 34 that has a predetermined thickness (T) of the counterpart measurement probe when the two measurement probes 3 (3A and 3B) are combined together. Are detachably fitted, and both measurement probes (3A, 3B) are integrally fixed, and the distance (W) between the probes 32, 32 is set to a predetermined value (W1, W2).

次に、図4を参照して、上記構成の測定プローブ3(3A、3B)の使用態様について説明する。   Next, with reference to FIG. 4, the usage aspect of the measurement probe 3 (3A, 3B) of the said structure is demonstrated.

(測定プローブの使用態様)
本実施例の測定プローブ3(3A、3B)を備えた電圧測定器1によれば、図4(a)〜(c)に示すように、
(1)二つの、即ち、第1及び第2測定プローブ3A、3Bを、例えば、第1及び第2測定プローブ3A、3Bのバリア34の短径(a)が互いに対向するように、又は、第1及び第2測定プローブ3A、3Bのバリア34の長径(b)が互いに対向するように、第1及び第2測定プローブ3A、3Bを互いに平行に配置し(図4(a))、
(2)次に、図4(b)、(c)に示すように、第1測定プローブ3Aのバリア34の外周部を、第2測定プローブ3Bの溝部36に押入する。同時に、第2測定プローブ3Bのバリア34の外周部を、第1測定プローブ3Aの溝部35に押入する。
(Usage of measurement probe)
According to the voltage measuring instrument 1 provided with the measurement probe 3 (3A, 3B) of the present embodiment, as shown in FIGS.
(1) Two, ie, the first and second measurement probes 3A, 3B, for example, so that the short diameter (a) of the barrier 34 of the first and second measurement probes 3A, 3B is opposed to each other, or The first and second measurement probes 3A and 3B are arranged in parallel to each other so that the long diameters (b) of the barriers 34 of the first and second measurement probes 3A and 3B are opposed to each other (FIG. 4A).
(2) Next, as shown in FIGS. 4B and 4C, the outer peripheral portion of the barrier 34 of the first measurement probe 3A is pushed into the groove 36 of the second measurement probe 3B. At the same time, the outer peripheral portion of the barrier 34 of the second measurement probe 3B is pushed into the groove portion 35 of the first measurement probe 3A.

つまり、第1及び第2測定プローブ3A、3Bは、図4(b)に示すように、バリア34の短径(a)が互いに対向するようにして、又は、図4(c)に示すように、バリア34の長径(b)が互いに対向するようにして、一体的に固定される。   That is, as shown in FIG. 4B, the first and second measurement probes 3A and 3B have the short diameter (a) of the barrier 34 facing each other, or as shown in FIG. 4C. Further, the long diameter (b) of the barrier 34 is fixed integrally so as to face each other.

勿論、上記(2)は、次のようにしても良い。つまり、
(2)第1測定プローブ3Aのバリア34の外周部を、第2測定プローブ3Bの溝部35に押入する。同時に、第2測定プローブ3Bのバリア34の外周部を、第1測定プローブ3Aの溝部36に押入する。
Of course, the above (2) may be as follows. That means
(2) The outer periphery of the barrier 34 of the first measurement probe 3A is pushed into the groove 35 of the second measurement probe 3B. At the same time, the outer peripheral portion of the barrier 34 of the second measurement probe 3B is pushed into the groove 36 of the first measurement probe 3A.

本実施例によれば、図4(b)の場合は、第1及び第2測定プローブ3A、3Bの探針32、32間の間隔(W)は、第1の形状のコンセントS1の穴間隔W1と同じに設定され、図4(c)の場合は、第1及び第2測定プローブ3A、3Bの探針32、32間の間隔(W)は、第2の形状のコンセントS2の穴間隔W2と同じに設定される。   According to the present embodiment, in the case of FIG. 4B, the interval (W) between the probes 32 of the first and second measurement probes 3A, 3B is the hole interval of the outlet S1 having the first shape. In the case of FIG. 4C, the interval (W) between the probes 32, 32 of the first and second measurement probes 3A, 3B is the hole interval of the second-shaped outlet S2. Set to be the same as W2.

図示してはいないが、もし、上記コンセントS1、S2の穴間隔W1、W2の間である、第3の形状のコンセントの穴間隔W3の場合には、第1及び第2測定プローブ3A、3Bを軸線を中心としてに回転させて、短径(a)と長径(b)の間の適当な直径位置にて互いにバリア(鍔部)34、34が相手の溝35、36に嵌まり合うようにして固定する。   Although not shown, in the case of the hole interval W3 of the third shape outlet, which is between the hole intervals W1 and W2 of the outlets S1 and S2, the first and second measurement probes 3A and 3B are provided. Is rotated about the axis so that the barriers (grooves) 34 and 34 fit into the mating grooves 35 and 36 at an appropriate diameter position between the short diameter (a) and the long diameter (b). And fix it.

つまり、バリア34の形状を楕円形とすることにより、直径が異なる場所を使用することで2つ測定プローブ3A、3Bの固定する間隔(W)を連続的に変えることができる。これにより、コンセント形状(穴間隔)が異なる様々な国のコンセントの電圧測定に利用することができる。   That is, by making the shape of the barrier 34 elliptical, the interval (W) at which the two measurement probes 3A and 3B are fixed can be continuously changed by using a place having a different diameter. Thereby, it can utilize for the voltage measurement of the outlet of various countries from which an outlet shape (hole space | interval) differs.

上記にて理解されるように、本発明によれば、
(1)コンセント形状(穴の間隔)が異なる様々な国のコンセントに対して使用することができる。
(2)片手で、且つ、容易に、操作性良く、コンセントの電圧を確実に測定することができる。
といった利点を有している。
As understood above, according to the present invention,
(1) It can be used for outlets of various countries with different outlet shapes (hole intervals).
(2) The outlet voltage can be reliably measured with one hand, easily and with good operability.
It has the following advantages.

実施例2
上記実施例1では、各測定プローブ3A、3Bのバリア34は、短径(a)、長径(b)を有した楕円形状であるとして説明したが、バリア34の形状はこれに限定されるものではない。例えば、図3(b)に示すように、各測定プローブは、短辺(a)、長辺(b)の長方形とすることもできる。また、場合によっては、測定プローブ、即ち、グリップ31の軸中心(O)から各辺までの距離がそれぞれ異なる三角形以上の多角形状とすることも可能である。
Example 2
In the first embodiment, the barrier 34 of each measurement probe 3A, 3B has been described as an elliptical shape having a short diameter (a) and a long diameter (b), but the shape of the barrier 34 is limited to this. is not. For example, as shown in FIG. 3B, each measurement probe may be a rectangle having a short side (a) and a long side (b). In some cases, the measurement probe, that is, a polygonal shape of a triangle or more with different distances from the axial center (O) of the grip 31 to each side can be used.

尚、本実施例の場合においては、保持溝35、36は、必ずしもグリップ31に円形状に形成する必要はなく、例えば、図3(c)に示すように、直線状の溝35(36)とすることも可能である。   In the case of the present embodiment, the holding grooves 35 and 36 are not necessarily formed in the grip 31 in a circular shape. For example, as shown in FIG. 3C, the linear grooves 35 (36) are formed. It is also possible.

本実施例2のように、バリア34を三角形、四角形、或いは、その他の多角形とした場合には、楕円形状とした場合に比較し、探針32、32の距離の変更は段階的となり、連続的に変更調整することはできない。   When the barrier 34 is triangular, quadrangular, or other polygonal as in the second embodiment, the change in the distance between the probes 32 and 32 is gradual as compared to the case where the barrier 34 is elliptical. It cannot be changed and adjusted continuously.

しかしながら、本実施例においても、実施例1と同様の作用効果、つまり、
(1)コンセント形状(穴の間隔)が異なる様々な国のコンセントに対して使用することができる。
(2)片手で、且つ、容易に、操作性良く、コンセントの電圧を確実に測定することができる。
といった利点を有していることは明らかである。
However, also in this embodiment, the same function and effect as in Embodiment 1, that is,
(1) It can be used for outlets of various countries with different outlet shapes (hole intervals).
(2) The outlet voltage can be reliably measured with one hand, easily and with good operability.
It is clear that it has the following advantages.

1 デジタルマルチメータ(電圧測定器)
2 メータ本体(測定器本体)
3(3A、3B) 測定プローブ
4 スイッチ
5 表示部
31 グリップ
31a グリップ先端部
32 探針
33 リード線
34 バリア
35、36 保持溝
1 Digital multimeter (voltage measuring instrument)
2 Meter body (measuring instrument body)
3 (3A, 3B) Measuring probe 4 Switch 5 Display unit 31 Grip 31a Grip tip 32 Probe 33 Lead wire 34 Barrier 35, 36 Holding groove

Claims (3)

コンセントの電圧を測定するための測定プローブであって、略円柱状とされる絶縁性のグリップと、前記グリップの先端部に設けた探針と、前記探針から所定の距離の位置にて前記グリップに形成された環状鍔部とされるバリアと、を備えた一対の測定プローブにおいて、
前記グリップには、前記グリップの軸線方向において前記バリアの一側及び/又は他側に、且つ、前記バリアに隣接して保持溝が形成され、
前記対をなす測定プローブを互いに平行に配置して一体に組み合わせたとき、互いに一方の測定プローブの前記環状鍔部の外周の一部が、他方の測定プローブの前記保持溝に嵌合し、両測定プローブを一体的に固定し、前記対をなす両測定プローブの前記探針間の距離を所定値に設定することを特徴とする測定プローブ。
A measuring probe for measuring a voltage of an outlet, wherein the insulating grip is substantially cylindrical, a probe provided at a tip of the grip, and a position at a predetermined distance from the probe. In a pair of measurement probes provided with a barrier that is an annular flange formed on the grip,
The grip is formed with a holding groove on one side and / or the other side of the barrier in the axial direction of the grip and adjacent to the barrier,
When the paired measurement probes are arranged in parallel with each other and are combined together, a part of the outer periphery of the annular flange of one measurement probe is fitted into the holding groove of the other measurement probe, A measurement probe, wherein a measurement probe is fixed integrally, and a distance between the probes of both measurement probes forming a pair is set to a predetermined value.
前記バリアは、前記グリップの中心軸線と中心が一致した楕円形状又は三角形以上の多角形状とされることを特徴とする請求項1に記載の測定プローブ。   2. The measurement probe according to claim 1, wherein the barrier has an elliptical shape whose center coincides with a center axis of the grip or a polygonal shape of a triangle or more. 測定器本体と、前記測定器本体に接続された一対の測定プローブとを備えた電圧測定器において、
前記測定プローブは、請求項1又は2に記載の測定プローブであることを特徴とする電圧測定器。
In a voltage measuring instrument comprising a measuring instrument main body and a pair of measuring probes connected to the measuring instrument main body,
The voltage measuring instrument according to claim 1, wherein the measuring probe is the measuring probe according to claim 1.
JP2011169212A 2011-08-02 2011-08-02 Outlet measuring probe and voltage measuring instrument Expired - Fee Related JP5707270B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011169212A JP5707270B2 (en) 2011-08-02 2011-08-02 Outlet measuring probe and voltage measuring instrument

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011169212A JP5707270B2 (en) 2011-08-02 2011-08-02 Outlet measuring probe and voltage measuring instrument

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013032974A JP2013032974A (en) 2013-02-14
JP5707270B2 true JP5707270B2 (en) 2015-04-22

Family

ID=47788971

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011169212A Expired - Fee Related JP5707270B2 (en) 2011-08-02 2011-08-02 Outlet measuring probe and voltage measuring instrument

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5707270B2 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6522459B2 (en) * 2015-07-30 2019-05-29 河村電器産業株式会社 Jig for voltage measurement
JP6700098B2 (en) * 2016-05-02 2020-05-27 日置電機株式会社 Operation tool for electrical measurement of test probe
JP6926114B2 (en) * 2016-11-28 2021-08-25 シャープ株式会社 Ion generator
JP7342365B2 (en) * 2019-01-22 2023-09-12 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 Connector inspection equipment, connector set
KR102223026B1 (en) * 2019-02-01 2021-03-08 와이테크 주식회사 Digital melti-meter capable of multifarious measurement

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4259635A (en) * 1979-06-08 1981-03-31 Triplett William R Electrical continuity and voltage testing device having a pair of probes spaced for insertion into an electrical socket
JPS62201070U (en) * 1986-06-11 1987-12-22
JPH06249887A (en) * 1992-09-30 1994-09-09 Seiko Epson Corp Digital tester
JPH08313555A (en) * 1995-05-16 1996-11-29 Mitsubishi Denki Bill Techno Service Kk Tester probe
JPH11281675A (en) * 1998-03-31 1999-10-15 Hewlett Packard Japan Ltd Signal measuring probe
US6404215B1 (en) * 2000-08-21 2002-06-11 Tektronix, Inc. Variable spacing probe tip adapter for a measurement probe
US6828768B2 (en) * 2002-04-16 2004-12-07 Agilent Technologies, Inc. Systems and methods for wideband differential probing of variably spaced probe points
JP2009198226A (en) * 2008-02-19 2009-09-03 Chugoku Electric Power Co Inc:The Measuring instrument equipped with test probes

Also Published As

Publication number Publication date
JP2013032974A (en) 2013-02-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5707270B2 (en) Outlet measuring probe and voltage measuring instrument
US9664708B2 (en) Test and measurement device including grooves for receiving probes in a use position
JP2012185176A (en) Electricity measuring instrument including detachable current clamp
US20130249533A1 (en) Multifunction Test Instrument Probe
US11215643B2 (en) Clamp sensor and measuring device
JP6630551B2 (en) connector
US9274144B2 (en) Multifunction test instrument probe
JP2012068258A (en) Probe with changing device
JP2011191281A (en) Measuring probe
JP2020076706A (en) Flexible sensor and measurement apparatus
US8368415B2 (en) Multi-position probe circuit tester
US9188604B2 (en) Measuring instrument for testing voltage
US20160061888A1 (en) Test Instrument Probe with a Pointed Tip That Is Also Capable of Gripping
KR102433911B1 (en) Portable multi-tester probe
JP6741483B2 (en) Operation tool for electrical measurement of test probe
JP5362329B2 (en) measuring device
JP3943372B2 (en) Multi-terminal structure for impedance measurement
JP2008058255A (en) Electroscope
US11307224B2 (en) Measuring rod for electric meter and electric meter assembly using the same
JP5497236B1 (en) Shunt for current measurement
JP2011179866A (en) Adapter for measurement
JP5855468B2 (en) Probe device and measuring device
JP6700099B2 (en) Operation tool for electrical measurement of test probe
KR20100060509A (en) A prove device for tester
JP2009198226A (en) Measuring instrument equipped with test probes

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140605

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150204

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150210

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150302

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5707270

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees