JP6736460B2 - 眼科装置、眼科撮影方法、及びプログラム - Google Patents

Description

本発明は、眼科装置、眼科撮影方法及びプログラムに関する。

被検眼の断層画像を撮影する眼科装置として、光干渉断層撮像法（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）を用いる装置（以下、ＯＣＴ装置という。）が知られている。ＯＣＴ装置は、低コヒーレント光（測定光）を被検眼に照射し、その被検眼からの戻り光を参照光と合波させた干渉光を用いて、被検眼の断層に関する情報を得る装置である。ＯＣＴ装置では、低コヒーレント光を被検眼の眼底上に走査することで、断層画像の取得を行うことができる。そのため、ＯＣＴ装置は網膜の診断等において広く利用されている。

眼底の断層画像を取得する際には、ＯＣＴ装置において被検眼の網膜位置にフォーカス位置やコヒーレンスゲート位置を調整することが行われる。なお、コヒーレンスゲート位置とは、測定光と参照光の光路長が等しくなる位置をいい、ＯＣＴ装置においては、コヒーレンスゲート位置に応じて断層画像の深さ方向の撮影位置が定まる。当該撮影位置は、測定光の光路上において測定光の光路長と参照光の光路長が等しくなる位置であり、一般的にＯＣＴ装置で取得される断層画像の上端又は下端の撮影位置に対応する。コヒーレンスゲート位置は、測定光又は参照光の光路長を変更して、測定光及び参照光の光路長差を変更することで移動させることができる。

被検眼の網膜位置へのフォーカス位置やコヒーレンスゲート位置の調整について、特許文献１では、眼底の正面画像や断層画像を利用して、眼底の網膜位置にフォーカス位置やコヒーレンスゲート位置を調整することが開示されている。

特開２００９−２９１２５２号公報

近年では、ＯＣＴ技術の進歩により、所定の条件下においては被検眼の網膜だけではなく硝子体も撮像することができるようになってきた。ここで、硝子体は加齢に伴い変化して液化することが知られている。また、硝子体は疾病等によっても組織に変化が生じることが知られている。通常、硝子体は無色透明なゼリー状の物質であり、ＯＣＴによる断層画像には現れないが、上記のように組織に変化が生じている部分では測定光の散乱や反射が行われることで、ＯＣＴによって撮像することができる。なお、以下において、組織に変化が生じＯＣＴによって撮像することができる硝子体の部分を、硝子体構造という。

硝子体の組織が変化することで、網膜に障害を与えることや硝子体自体に障害が発生することがある。そのため、硝子体構造をより鮮明に撮影することが望まれている。

しかしながら、ＯＣＴの焦点深度は狭いため、眼底の網膜位置にフォーカス位置を調整した状態では、硝子体構造はぼけてしまい、あまり鮮明に撮像されない。また、後部硝子体剥離の程度等により、網膜に対する硝子体構造の位置は個人差が大きいため、眼底の網膜位置にコヒーレンスゲート位置を調整する通常の調整では、硝子体構造の必要な部位を撮影できない場合がある。

本発明は上記の問題に鑑みてなされたもので、被検眼の硝子体構造を適切に撮影することができる眼科装置、眼科撮影方法及びプログラムを提供する。

本発明の一実施態様に係る眼科装置は、測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光との干渉光に関する情報を用いて、前記被検眼の断層の情報を取得する取得部と、前記測定光と前記参照光との光路長差を制御する光路長差制御部と、前記測定光の合焦位置を制御する合焦位置制御部と、前記光路長差及び前記合焦位置のうちの少なくとも一方が制御された後に取得された前記被検眼の断層の情報を用いて、前記被検眼の硝子体構造を検出する、硝子体構造検出部とを備え、前記取得部は、前記検出された硝子体構造の位置情報に基づいて前記光路長差及び前記合焦位置が制御された後に、前記硝子体構造の断層の情報を取得する。

本発明の他の実施態様に係る眼科撮影方法は、測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光との干渉光に関する情報を用いて、前記被検眼の断層の情報を取得する工程と、前記測定光及び前記参照光の光路長差並びに前記測定光の合焦位置のうちの少なくとも一方が制御された後に取得された前記被検眼の断層の情報を用いて、前記被検眼の硝子体構造を検出する工程と、前記検出された硝子体構造の位置情報に基づいて前記光路長差及び前記合焦位置が制御された後に、前記硝子体構造の断層の情報を取得する工程とを含む。

本発明によれば、被検眼の硝子体構造を適切に撮影することができる。

実施例１によるＯＣＴ装置の概略的な構成を示す。 実施例１に係る撮影装置部の概略的な構成を示す。 実施例１に係る制御部の概略的な構成を示す。 実施例１に係る撮影シーケンスを示す。 実施例１に係る表示部の表示内容の一例を示す。 実施例１に係る取得した断層画像の一例を示す。 実施例１に係る硝子体構造検出処理のシーケンスを示す。 実施例１に係る硝子体の評価領域の設定例を示す。 硝子体構造が撮像されていない場合の評価値算出の一例を示す。 硝子体構造が撮像された場合の評価値算出の一例を示す。 硝子体構造を検出しやすくするための処理の一例を示す。 実施例２に係る入射角度調整を説明するための図である。 実施例２に係る撮影シーケンスを示す。 実施例２に係る入射角度調整処理のシーケンスを示す。 実施例３に係る撮影シーケンスを示す。 実施例３に係る硝子体構造検出処理のシーケンスを示す。 実施例３に係る硝子体構造検出処理を説明するための図である。 実施例４に係る撮影シーケンスを示す。 実施例４に係る硝子体構造検出処理のシーケンスを示す。 実施例４に係る硝子体構造検出処理を説明するための図である。

以下、本発明を実施するための例示的な実施例を、図面を参照して詳細に説明する。ただし、以下の実施例で説明する寸法、材料、形状、及び構成要素の相対的な位置等は任意であり、本発明が適用される装置の構成又は様々な条件に応じて変更できる。また、図面において、同一であるか又は機能的に類似している要素を示すために図面間で同じ参照符号を用いる。

（実施例１）
以下、図１乃至１１（ｃ）を参照して、本発明の実施例１による眼科撮影に用いられる眼科装置の一例として、ＯＣＴ装置１０について説明する。本実施例によるＯＣＴ装置１０は、ＯＣＴフォーカス位置とコヒーレンスゲート位置を順次動かすことにより硝子体構造を探索し、検出した硝子体構造に対して適切な撮影パラメータを調整する。

＜ＯＣＴ装置の概略構成＞
まず、図１乃至３を参照して、ＯＣＴ装置１０の概略的な構成について説明する。ＯＣＴ装置１０は、ＯＣＴ走査部を介して測定光が照射された被検眼からの戻り光と、測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて、被検眼の断層に関する情報を取得する。ＯＣＴ装置１０は、取得した断層に関する情報から被検眼の被撮像部位の断層画像を形成することができる。

本実施例によるＯＣＴ装置１０には、撮影装置部１００と、制御部３００（取得部）と、表示部４００とが設けられている。撮影装置部１００は、被検眼を撮影する光学系を構成する。制御部３００は撮影装置部１００及び表示部４００を制御する。表示部４００は、制御部３００によって出力される種々の画像や被検眼の情報等を表示する。以下、撮影装置部１００の構成、制御部３００の構成、及び表示部４００の構成を順に説明する。
＜撮影装置部１００の構成＞

図１には、ＯＣＴ装置１０の概略的な構成が示されている。図１に示すように、撮影装置部１００には、光学ヘッド２００、電動ステージ２８０、及びベース部２９０が設けられている。光学ヘッド２００には、被検眼Ｅの前眼部Ｅａや眼底Ｅｒの２次元画像及び断層画像を撮像するための測定光学系が設けられている。電動ステージ２８０は、光学ヘッド２００を上下左右前後方向へ移動させることができ、光学ヘッド２００の被検眼Ｅに対する位置合わせ（アライメント）を行うことができる。ベース部２９０は、電動ステージ２８０に接続されており、ベース部２９０の内部には、光学ヘッド２００で生じた干渉光を受光する分光器が設けられている。

次に、図２を参照して撮影装置部１００の構成について説明する。図２には撮影装置部１００内部の概略的な構成が示されている。撮影装置部１００の光学ヘッド２００においては、電動ステージ２８０を用いて被検眼Ｅに対して位置合わせが行われた場合に、その前側焦点位置が被検眼瞳に置かれるよう被検眼Ｅに対向して対物レンズ２０１−１が設けられている。

さらに対物レンズ２０１−１の光軸上の後方には第１ダイクロイックミラー２０２が設けられ、第１ダイクロイックミラー２０２の反射方向には第２ダイクロイックミラー２０３が設けられている。第１ダイクロイックミラー２０２及び第２ダイクロイックミラー２０３は、被検眼Ｅからの光の光路を所定の波長帯域で分岐させ、ＯＣＴ光学系の測定光の光路Ｌ１、眼底観察用及び固視灯用の光路Ｌ２、並びに前眼観察用の光路Ｌ３に分岐する。

光学ヘッド２００においては、第１ダイクロイックミラー２０２は、被検眼Ｅからの光を、第１ダイクロイックミラー２０２の透過方向に設けられた光路Ｌ３に向かう光と、反射方向に設けられた光路Ｌ１及びＬ２に向かう光に分割する。また、第２ダイクロイックミラー２０３は、第１ダイクロイックミラー２０２からの光を、第２ダイクロイックミラー２０３の透過方向に設けられた光路Ｌ１に向かう光と、反射方向に設けられた光路Ｌ２に向かう光に分割する。なお、各光路が設けられる位置は任意であってよく、例えば第１ダイクロイックミラー２０２の反射方向に光路Ｌ３が設けられ、透過方向に光路Ｌ１及びＬ２が設けられてもよい。また、第２ダイクロイックミラー２０３の反射方向に光路Ｌ１が設けられ、透過方向に光路Ｌ２が設けられてもよい。

光路Ｌ２には、第２ダイクロイックミラー２０３から順に、レンズ２０１−２、Ｘスキャナ２１７−１、Ｙスキャナ２１７−２、レンズ２１１，２１２、及び第３ダイクロイックミラー２１８が設けられている。また、第３ダイクロイックミラー２１８の透過方向にＡＰＤ（アバランシェフォトダイオード）２１５が設けられ、反射方向に固視灯２１６が設けられている。光路Ｌ２を通る光は第３ダイクロイックミラー２１８によって所定の波長帯域に分割され、ＡＰＤ２１５が設けられた眼底観察用の光路及び固視灯２１６が設けられた固視灯用の光路に向かう。なお、ＡＰＤ２１５が第３ダイクロイックミラー２１８の反射方向に設けられ、固視灯２１６が透過方向に設けられてもよい。

ＡＰＤ２１５は、不図示の眼底観察用照明光の波長、具体的には７８０ｎｍ付近に感度を持ち、当該波長の光による被検眼Ｅの観察に用いられる。一方、固視灯２１６は可視光を発生して被検眼Ｅの固視を促す固視灯を形成するために用いられる。

レンズ２１１は、制御部３００によって制御される不図示のモータ及び駆動機構によって光路Ｌ２の光軸方向に沿って図中矢印で示される方向に駆動されることができ、固視灯及び眼底観察用のフォーカス調整に使用される。

Ｘスキャナ２１７−１（主走査方向用）及びＹスキャナ２１７−２（主走査方向と交差する副走査方向用）は、制御部３００によって制御される。Ｘスキャナ２１７−１及びＹスキャナ２１７−２は、眼底観察用照明光及び固視灯光を被検眼Ｅの眼底Ｅｒにて任意の走査パターンで走査するために用いられる。このため、Ｘスキャナ２１７−１及びＹスキャナ２１７−２は、眼底観察用照明光の走査部を構成する。ここで、光路Ｌ２においてＡＰＤ２１５につながる光路上に配置される各光学部材は眼底観察系を構成する。なお、固視灯２１６は、制御部３００に接続されており、制御部３００によって制御される。制御部３００は、固視灯２１６をＸスキャナ２１７−１及びＹスキャナ２１７−２の走査に同期して適時点滅させることで、被検眼Ｅに所望の固視灯を提示することができる。

また、Ｘスキャナ２１７−１及びＹスキャナ２１７−２を介した光学系は、眼底Ｅｒから散乱・反射され戻ってきた光をＡＰＤ２１５へと導く光学系としても機能する。ＡＰＤ２１５は、制御部３００に接続されており、制御部３００は、ＡＰＤ２１５の出力とＸスキャナ２１７−１及びＹスキャナ２１７−２の走査信号とから眼底観察画像を生成することができる。

光路Ｌ３には、レンズ２４１と、不図示の光源から発せられる前眼観察用の赤外線、具体的には９７０ｎｍ付近に感度を持つＣＣＤ２４２とが配置されている。不図示の光源、レンズ２４１及びＣＣＤ２４２は、光学ヘッド２００の被検眼Ｅに対する位置合わせを行うための前眼観察系を構成する。

光路Ｌ１は、ＯＣＴ光学系において測定光が通る光路であり、被検眼Ｅの眼底Ｅｒや硝子体構造の断層画像を形成するための干渉信号を得るために使用される。光路Ｌ１上には、第２ダイクロイックミラー２０３から順に、レンズ２０１−３、ミラー２２１、Ｘスキャナ２２２−１、Ｙスキャナ２２２−２、レンズ２２３，２２４、及び光ファイバー２２５−２の端部に設けられたロッドレンズ１２６が設けられている。

Ｘスキャナ２２２−１及びＹスキャナ２２２−２は、測定光を被検眼Ｅの眼底Ｅｒ上にて任意の走査パターンで走査するためのＯＣＴ走査部を構成する。Ｘスキャナ２２２−１及びＹスキャナ２２２−２は、その中間位置付近がレンズ２０１−３の焦点位置となるように配置される。そのため、光学ヘッド２００が被検眼Ｅに対して位置合わせされた場合には、両スキャナの中間位置付近と、被検眼Ｅの瞳位置とは光学的に共役となる。

なお、前述の光路Ｌ２上に配置されたＸスキャナ２１７−１及びＹスキャナ２１７−２の中間位置付近もレンズ２０１−２の焦点位置となるように配置されている。そのため、Ｘスキャナ２２２−１及びＹスキャナ２２２−２の中間位置付近が被検眼Ｅの瞳位置と光学的に共役となるのと同時に、Ｘスキャナ２１７−１及びＹスキャナ２１７−２の中間位置付近も同様の共役関係を持つことになる。この構成により、眼底観察系における走査部と、ＯＣＴ走査部とを物点とした光路が、対物レンズ２０１−１とレンズ２０１−２との間、及び対物レンズ２０１−１とレンズ２０１−３との間で略平行となる。このため、Ｘスキャナ２１７−１，２２２−１及びＹスキャナ２１７−２，２２２−２によってスキャンを行っても、第１ダイクロイックミラー２０２及び第２ダイクロイックミラー２０３に入射する角度はほぼ一定であり、適切な波長分離状態を維持できる。なお、図２において、Ｘスキャナ２１７−１及びＹスキャナ２１７−２の間の光路、並びにＸスキャナ２２２−１及びＹスキャナ２２２−２の間の光路は紙面内において構成されているが、実際は紙面垂直方向に構成されている。ただし、これらの構成は、任意のミラー等を用いて任意の方向に構成されることもできる。

レンズ２２３は、制御部３００によって制御されるモータ２７０及び駆動機構により駆動され、光路Ｌ１の光軸に沿って図中矢印で示される方向に移動することができ、測定光のＯＣＴフォーカス調整に使用される。このため、レンズ２２３は、測定光の合焦位置を調整するフォーカスレンズを構成する。

次に、ＯＣＴ光源２３０からの光路、参照光学系、及び分光器２６０の構成について説明する。ＯＣＴ光源２３０は、ＯＣＴに用いられる光を発する光源であり、光カプラー２２５に光ファイバー２２５−１を介して接続されている。本実施例では、ＯＣＴ光源２３０として、代表的な低コヒーレント光源であるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ Ｄｉｏｄｅ）であって、中心波長が８５５ｎｍ、波長バンド幅が約１００ｎｍである光源を用いている。ここで、波長バンド幅は、ＯＣＴ装置１０で得られる断層画像の光軸方向の分解能に影響するため、重要なパラメータである。また、中心波長は、ＯＣＴ装置１０で得られる断層画像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましい。このため、本実施例に係るＯＣＴ装置１０では、中心波長を８５５ｎｍの光源とした。なお、本明細書におけるＯＣＴ光源２３０の中心波長、波長バンド幅の具体的な数値は例示であり、他の数値としてもよい。また、光源の種類は、ＳＬＤに限られず、他の低コヒーレント光源も用いることもできる。

ＯＣＴ光源２３０から出射された光は光ファイバー２２５−１を通じて光カプラー２２５に入射し、光カプラー２２５を介して光ファイバー２２５−２側の測定光と、光ファイバー２２５−３側の参照光とに分割される。

測定光は、光カプラー２２５に接続された光ファイバー２２５−２に結合されたロッドレンズ１２６から出射される。このため、ロッドレンズ１２６の出射端は、測定光の光学系（測定光学系）の実質上の光源として作用し、被検眼Ｅの眼底Ｅｒ又は硝子体構造と光学的な共役関係が維持される。レンズ２２３による、測定光のフォーカス調整は、ＯＣＴ光源２３０から出射する光を眼底Ｅｒ又は硝子体構造上に結像するように行われる。測定光は前述のＯＣＴ光学系の光路を通じ、観察対象である被検眼Ｅの眼底Ｅｒ又は硝子体構造に照射され、網膜や硝子体構造によって反射又は散乱され、戻り光として同じ光路を通じて光カプラー２２５に到達する。

一方、参照光は、光カプラー２２５に接続された光ファイバー２２５−３を介して参照光学系に入射する。参照光学系には、光ファイバー２２５−３、レンズ２５１、分散補償用ガラス２５２、及びミラー２５３が設けられている。参照光は光ファイバー２２５−３から出射され、レンズ２５１を通り、測定光と参照光との分散を合わせるために挿入された分散補償用ガラス２５２を介してミラー２５３に到達し反射される。参照光は、その後、同じ光路を戻り、光カプラー２２５に到達する。

被検眼Ｅからの測定光の戻り光と、ミラー２５３から反射された参照光は、光カプラー２２５において、合波され干渉光となる。ここで、測定光の光路長と参照光の光路長とがほぼ同一となったときに干渉が生じる。ミラー２５３は、制御部３００によって制御されるモータ２７１及び駆動機構によって、参照光の光軸方向に沿って図中矢印で示される方向に位置を調整可能に保持される。ミラー２５３の位置を調整することで、測定光と参照光の光路長が等しくなる位置である、コヒーレンスゲート位置を調整することができる。なお、上述のように光カプラー２２５は、ＯＣＴ光源２３０からの光を測定光と参照光とに分割する光分割器を構成するとともに、測定光の戻り光と参照光とを合波して干渉光を生じさせる干渉部を構成することができる。

光カプラー２２５において生じた干渉光は、光ファイバー２２５−４を介して、ベース部２９０に設けられた分光器２６０（光検出部）に導かれる。分光器２６０には、レンズ２６１、回折格子２６２、レンズ２６３、及びラインセンサ２６４が設けられている。光ファイバー２２５−４から出射された干渉光は、レンズ２６１を介して略平行光となった後、回折格子２６２で波長ごとに分光され、レンズ２６３によってラインセンサ２６４に結像される。ラインセンサ２６４は、波長分離された干渉光を検出し、検出した干渉光に基づいて干渉信号を生成し、出力する。ラインセンサ２６４は、制御部３００に接続されており、制御部３００はラインセンサ２６４の出力に基づいて、被検眼Ｅの断層の情報を取得し、被検眼Ｅの断層画像を生成することができる。

なお、このようにして、撮影装置部１００では、ＯＣＴ光源２３０、光カプラー２２５、光ファイバー２２５−１〜４、レンズ２５１、分散補償用ガラス２５２、ミラー２５３、及び分光器２６０によってマイケルソン干渉系が構成される。なお、本実施例においては、光ファイバー２２５−１〜４として、光カプラー２２５に接続されて一体化しているシングルモードの光ファイバーを用いている。

また、撮影装置部１００には、制御部３００によって制御される不図示の３つのモータから構成される、電動ステージ２８０が設けられている。電動ステージ２８０は、光学ヘッド２００を被検眼Ｅに対して３次元（Ｘ、Ｙ、Ｚ）方向に移動させることができ、制御部３００によって電動ステージ２８０を制御することで、被検眼Ｅに対して光学ヘッド２００の位置合わせを行うことができる。

＜制御部３００の構成＞
次に、図３を参照して制御部３００について説明する。図３は、制御部３００のブロック図である。制御部３００には、前眼撮影部３１０、眼底撮影部３３０、固視灯制御部３１１、ＯＣＴ撮影部３２０、光学ヘッド駆動制御部３１２、記憶部３４０、及び表示制御部３５０が設けられている。

前眼撮影部３１０は、不図示の前眼用光源、及びＣＣＤ２４２と接続されており、これらを制御する。前眼撮影部３１０は、ＣＣＤ２４２の出力に基づいて、被検眼Ｅの前眼部Ｅａの観察画像を撮影することができる。

眼底撮影部３３０は、不図示の眼底観察用照明光源、不図示の眼底観察用のフォーカス調整用モータ、Ｘスキャナ２１７−１、Ｙスキャナ２１７−２、及びＡＰＤ２１５に接続されており、これらを制御する。眼底撮影部３３０は、ＡＰＤ２１５の出力に基づいて、被検眼Ｅの眼底Ｅｒの観察画像を撮影することができる。

固視灯制御部３１１は、固視灯２１６に接続されており、固視灯２１６を制御して可視光を発生させることができる。

ＯＣＴ撮影部３２０は、ＯＣＴ光源２３０、ＯＣＴフォーカス位置を調整するモータ２７０、コヒーレンスゲート位置を調整するモータ２７１、Ｘスキャナ２２２−１、Ｙスキャナ２２２−２、及び分光器２６０のラインセンサ２６４に接続されている。ＯＣＴ撮影部３２０は、これらを制御する。ＯＣＴ撮影部３２０には、断層画像生成部３２１、コヒーレンスゲート制御部３２２、ＯＣＴフォーカス制御部３２３、硝子体構造検出部３２４、及び入射角度調整部３２９が設けられている。

断層画像生成部３２１は、分光器２６０によって波長分解された干渉光に基づく干渉信号を取得し、干渉信号に基づいて被検眼Ｅの断層画像を生成することができる。なお、干渉信号に基づいて断層画像を生成する方法としては、従来知られている任意の方法を用いてよい。

コヒーレンスゲート制御部３２２（光路長差制御部）は、モータ２７１及び駆動機構に接続されており、モータ２７１及び駆動機構を制御してミラー２５３を移動させ、参照光の光路長を変更することで、測定光と参照光の光路長差を変更することができる。これにより、コヒーレンスゲート制御部３２２は、コヒーレンスゲート位置を移動させることができる。

ＯＣＴフォーカス制御部３２３（合焦位置制御部）は、モータ２７０及び駆動機構に接続されており、モータ２７１及び駆動機構を制御してレンズ２２３を移動させることで、測定光の合焦位置を変更することができる。

硝子体構造検出部３２４は、断層画像生成部３２１によって生成された断層画像から硝子体構造を検出する。硝子体構造検出部３２４には、評価領域設定部３２５、評価値算出部３２６（算出部）、評価値記憶部３２７、及び硝子体構造判定部３２８が設けられている。

評価領域設定部３２５は、取得された断層画像に基づいて硝子体領域に対応する評価領域を決定し、硝子体検出を行う際に評価値を算出する評価領域を設定する。評価値算出部３２６は、評価領域設定部３２５で設定された評価領域内の輝度値等に基づく評価値を算出する。評価値記憶部３２７は、評価値算出部３２６で算出した評価値を記憶する。硝子体構造判定部３２８は、評価値記憶部３２７に記憶された評価値を所定の閾値と比較し、評価値が閾値以上である場合に、硝子体構造を検出したと判定する。

入射角度調整部３２９は、光学ヘッド駆動制御部３１２によって電動ステージ２８０を制御し、光学ヘッド２００を被検眼Ｅに対して移動させて、測定光の被検眼Ｅの眼底Ｅｒへの入射角度を調整することができる。

光学ヘッド駆動制御部３１２は、光学ヘッド２００内の電動ステージ２８０と接続されており、電動ステージ２８０を制御して光学ヘッド２００を被検眼Ｅに対して３次元的に駆動することができる。

記憶部３４０は、被検者の情報、前眼撮影部３１０で生成された前眼観察画像、眼底撮影部３３０で生成された眼底観察画像、及びＯＣＴ撮影部３２０で生成された断層画像等を記憶する。

表示制御部３５０は、表示部４００に接続されており、記憶部３４０に記憶された被検者の情報や各種画像等を表示部４００に表示することができる。

なお、制御部３００は、一般的なコンピュータを用いて構成することができる。また、制御部３００は、ＯＣＴ装置１０の専用のコンピュータとして構成されてもよい。なお、本実施例においては、制御部３００は、撮影装置部１００や表示部４００と別体として構成されているが、これらと一体として構成されてもよい。さらに、上述の制御部３００の各構成要素は、制御部３００のＣＰＵやＭＰＵなどの演算装置によって実行されるモジュール等で構成されることでき、また、ＡＳＩＣなどの特定の機能を果たす回路によって構成されることもできる。

＜表示部４００＞
表示部４００は、制御部３００に接続されており、制御部３００の表示制御部３５０からの出力に基づいて、記憶部３４０に記憶された被検者（患者）の情報や各種画像等を表示することができる。表示部４００は、任意のモニターを用いて構成することができる。なお、本実施例においては、表示部４００は撮影装置部１００や制御部３００と別体として構成されているが、一体的に構成されてもよい。

＜硝子体撮影シーケンス＞
以下、図４乃至６（ｄ）を参照して硝子体（硝子体構造）の撮影シーケンスについて説明する。図４は、本実施例に係る硝子体構造の撮影シーケンスを示すフローチャートである。図５（ａ）乃至（ｄ）は、表示部４００の表示内容の例を示す。図６（ａ）乃至（ｄ）は、取得した断層画像の例を示す。

まず、図４のステップＳ４０１において、表示制御部３５０が、図５（ａ）に示す画面５００の開始ボタン５０３が押されたことを検出し、撮影を開始する。

ステップＳ４０２において、ＯＣＴ装置１０は、断層画像の撮影を行う際の初期動作を行う。初期動作では、前眼撮影部３１０が、ＣＣＤ２４２からの出力信号に基づいて前眼観察画像５１０を撮影する。そして、光学ヘッド駆動制御部３１２が、前眼観察画像５１０に基づいて光学ヘッド２００の被検眼Ｅに対するＸＹＺ方向のアライメント動作を行う。なお、光学ヘッド２００の被検眼Ｅに対するアライメントは、表示部４００に表示される前眼観察画像５１０に基づいて、検者が電動ステージ２８０を操作して行ってもよい。そして、眼底撮影部３３０が、ＡＰＤ２１５からの出力信号に基づいて眼底観察画像５２０を撮影し、眼底観察画像５２０のフォーカス調整を行う。

その後、ＯＣＴ撮影部３２０が、ラインセンサ２６４からの出力信号に基づいて断層画像を撮影する。また、それと同時に、表示制御部３５０が、図５（ａ）に示す画面５００に、前眼観察画像５１０、眼底観察画像５２０、及び断層画像５３０を表示する。ここで、断層画像５３０は、眼底観察画像５２０上に示す破線５２１の位置での断層画像である。

ステップＳ４０３では、ＯＣＴフォーカス制御部３２３が、眼底観察画像５２０に関するフォーカス情報を用いて、断層画像５３０に関するＯＣＴフォーカス位置を網膜近傍に調整する。また、コヒーレンスゲート制御部３２２が、断層画像５３０の情報を用いて、断層画像５３０上で網膜が観察できるようにコヒーレンスゲート位置を調整する。なお、ここでのコヒーレンスゲート位置の調整は、任意の方法によって行われてよい。例えば、断層画像５３０における網膜に対応する部分が断層画像５３０の特定の位置に表示されるように、コヒーレンスゲート位置を調整することができる。また、断層画像５３０の輝度値が最も高くなるコヒーレンスゲート位置から所定量だけコヒーレンスゲート位置を移動させて調整してもよい。

そして、断層画像生成部３２１は、図５（ｂ）と図６（ａ）の断層画像５３１−１に示されるように、ＯＣＴフォーカス位置が網膜近傍にあり、且つ、断層画像上で網膜が観察できるようにコヒーレンスゲートが調整された状態の断層画像を生成する。ここで、断層画像５３１−１上には網膜の断層像５４０が示されており、矢印５３２は断層画像上でＯＣＴフォーカスが合っている深さ方向の位置を示している。ここでは、ＯＣＴフォーカス制御部３２３が、眼底観察画像のフォーカス情報を用いてＯＣＴフォーカス位置を調整したが、断層画像の情報を用いて、ＯＣＴフォーカスが網膜に合うように調整してもよい。

ステップＳ４０４では、撮影モードによって動作を切り替える。表示制御部３５０が、画面５００上で網膜モード５０１が選択されていると判断すると、処理はステップＳ４０５に移行する。

ステップＳ４０５では、表示制御部３５０が、画面５００の撮影ボタン５０４が押されたことを検出し、網膜を撮影するようにコヒーレンスゲート位置及びＯＣＴフォーカス位置が調整された状態で断層画像を撮影する。そして、ステップＳ４０６で、記憶部３４０が断層画像を記憶し、網膜の断層画像（ＯＣＴ画像）の撮影処理を終了する。

一方、ステップＳ４０４において、表示制御部３５０が、画面５００上で硝子体モード５０２が選択されていると判断すると、処理はステップＳ４１０に移行する。

ステップＳ４１０では、ＯＣＴ撮影部３２０の硝子体構造検出部３２４が、硝子体構造検出処理を行う。硝子体構造検出処理では、ＯＣＴ撮影部３２０が瞳側（硝子体側）へＯＣＴフォーカス位置を移動させ、硝子体構造を探索する動作を開始する。詳細は後述の硝子体構造検出処理のシーケンスにて説明する。

ステップＳ４１１では、硝子体構造検出部３２４の硝子体構造判定部３２８が、ステップＳ４１０で硝子体構造が検出できたかどうかの判断を行う。網膜に対する硝子体構造が検出される位置は、後部硝子体剥離等により個人差があるため、眼底Ｅｒの網膜位置にコヒーレンスゲート位置を調整した状態では、硝子体構造を検出できない場合がある。ステップＳ４１１において、硝子体構造が検出できなかったと判断された場合には、処理はステップＳ４２０に移行する。

ステップＳ４２０では、コヒーレンスゲート制御部３２２が、コヒーレンスゲート位置が移動可能な位置の限界に達したか否かを判断し、達していない場合には、処理はステップＳ４３０に移行する。

ステップＳ４３０では、コヒーレンスゲート制御部３２２が、ミラー２５３を所定量移動させてコヒーレンスゲート位置を瞳側へ所定量移動させ、深さ方向においてより瞳側へ断層画像の撮影位置を移動させる。これにより、図６（ｂ）の断層画像５３１−２に示すように、網膜が画像の下方向に、言い換えると撮影位置がより浅い方向に移動した断層画像が撮影される。ここで、断層画像５３１−２においては硝子体構造５４１が示されている。ステップＳ４３０でコヒーレンスゲート位置が移動されると、処理はステップＳ４１０に戻る。ステップＳ４１０では、硝子体構造検出部３２４が、コヒーレンスゲート位置を移動させて取得した断層画像５３１−２を用いて、再び硝子体構造検出処理を開始する。

ステップＳ４１１で、硝子体構造検出部３２４が、硝子体構造を検出できたと判断された場合には、処理はステップＳ４１２に移行する。

ステップＳ４１２では、ＯＣＴフォーカス制御部３２３とコヒーレンスゲート制御部３２２が、検出した硝子体構造の位置情報に基づいて、硝子体構造の存在する位置の近傍を撮影するようにＯＣＴフォーカス位置とコヒーレンスゲート位置を調整する。このとき、コヒーレンスゲート位置は、硝子体構造が断層画像の深さ方向における略中央にくるように調整してもよいし、硝子体構造が網膜と同時に観察できる位置に調整してもよい。ステップＳ４１２の処理により、図５（ｃ）及び図６（ｃ）の断層画像５３１−３に示すように、ＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置が、硝子体構造を適切に撮影できる状態に調整される。また、調整が完了すると、表示制御部３５０が、図５（ｃ）のステータスメッセージ５５０を表示し、調整の完了をユーザーに報知する。

ステップＳ４１３では、表示制御部３５０が、画面５００の撮影ボタン５０４が押されたことを検出し、ＯＣＴ撮影部３２０が硝子体構造を適切に撮影できるように調整された状態で断層画像を撮影する。そして、ステップＳ４０６で、記憶部３４０が断層画像を記憶し、硝子体構造の断層画像の撮影処理を終了する。

なお、硝子体構造の信号は微弱なため、スペックルノイズ等のノイズに埋もれやすい。そのため、ステップＳ４１３では、制御部３００が、複数回連続して断層画像を撮影し、それらの断層画像を重ね合わせる処理をしてもよい。これにより、図６（ｄ）の断層画面５３１−４に示すように、より鮮明な硝子体構造５４２の断層画像が撮影でき、硝子体構造をより適切に観察できる。また、制御部３００は、ステップＳ４１３で撮影した断層画像について、断層画像上で硝子体構造がより見やすくなるように、コントラスト調整を行ってもよい。

また、ステップＳ４２０で、コヒーレンスゲート制御部３２２が、コヒーレンスゲート位置が移動可能な限界に達したと判断した場合は、処理はステップＳ４２１に移行する。ステップＳ４２１では、表示制御部３５０が、図５（ｄ）に示すエラーメッセージ５５１を表示し、硝子体構造が検出できなかった旨の警告をユーザーに報知する。そして、ステップＳ４０６で、記憶部３４０が断層画像を記憶せずに、断層画像の撮影処理を終了する。

＜硝子体構造検出処理のシーケンス＞
ＯＣＴの焦点深度は狭いため、眼底Ｅｒの網膜位置にフォーカス位置を調整した状態では、硝子体構造がぼけており、鮮明に撮影されない。ここでは、硝子体構造の探索方法として、瞳側へＯＣＴフォーカス位置を動かしながら、それぞれのＯＣＴフォーカス位置での断層画像を取得し、硝子体構造の評価値が一番高くなったＯＣＴフォーカス位置を硝子体構造が存在する位置として判断する。

以下、本実施例に係るステップＳ４１０での硝子体構造検出処理のシーケンスについて、図７乃至１０（ｄ）を用いて説明する。図７は、本実施例における硝子体構造検出処理のシーケンスを示すフローチャートである。図８（ａ）及び（ｂ）は、硝子体評価領域の設定を説明するための図である。図９（ａ）乃至（ｃ）は、硝子体構造が撮像されていない場合の評価値算出について説明するための図である。図１０（ａ）乃至（ｄ）は、硝子体構造が撮像された場合の評価値算出について説明するための図である。

図４のステップＳ４１０において硝子体構造検出処理が開始されると、処理は図７に示すステップＳ７０１に移行する。ステップＳ７０１では、硝子体構造検出部３２４が、断層画像生成部３２１で生成された断層画像を取得する。

ステップＳ７０２では、評価領域設定部３２５が、硝子体構造を探索するために用いる断層画像における評価領域を設定する。ここでは、図８（ａ）に示す断層画像８００−１の輝度情報を用いて、図８（ｂ）に示すように網膜・脈絡膜側の領域（斜線部分）を認識する。そして、図８（ｂ）に示す断層画像８００−２の斜線以外の領域（硝子体領域）を評価領域として設定する。なお、網膜・脈絡膜側の領域を認識する方法は任意の方法であってよい。例えば、断層画像のコントラストを強調して断層画像の輝度を２値化し、網膜・脈絡膜に対応する領域を認識し、当該領域から下の範囲を網膜・脈絡膜側の領域として認識することができる。また、断層画像中の深さ方向の輝度値を比較して網膜位置に対応する輝度値のピークを識別し、当該ピークの位置から更に他の輝度値のピークが多く現れている方向を網膜・脈絡膜に対応する領域として認識してもよい。なお、網膜に対応する位置と撮影位置に関連するコヒーレンスゲート位置の関係から、画像中の上下いずれの方向に脈絡膜側があるかを判断してもよい。また、断層画像中に網膜・脈絡膜側の領域が認識できない場合には、画像全体を評価領域とすることができる。

ステップＳ７０３では、評価値算出部３２６が、設定された評価領域から評価値（第１の評価値）を算出する。ここで、本実施例では評価値として、評価領域の合計輝度を用いるが、評価値はこれに限られない。例えば、評価領域の輝度分布の鮮鋭度、平均輝度、最大輝度、コントラスト及び特定の周波数成分の振幅等の他の評価値を用いてもよい。なお、評価値の算出に特定の周波数成分の振幅を用いる構成に関して、硝子体構造にフォーカス位置が合っている場合には、画像の特定の周波数成分（高周波成分）の振幅が大きくなる。そのため、当該振幅を評価値の算出に用いることで、硝子体構造を検出できたか否かの判断を行うことができる。

ステップＳ７０４では、評価値記憶部３２７が、算出した評価値をＯＣＴフォーカス位置と対応付けて記憶する。

ステップＳ７０５では、ＯＣＴフォーカス制御部３２３が、ＯＣＴフォーカス位置が瞳側（硝子体側）へ移動可能か否かを判断する。ここでは、一例として画面５００に表示されている断層画像の範囲内であれば、移動可能としている。移動可能と判断された場合には、処理はステップＳ７０６に移行する。

ステップＳ７０６では、ＯＣＴフォーカス制御部３２３が、瞳側へＯＣＴフォーカス位置を所定量移動させる。そして、ＯＣＴフォーカス位置を移動完了後、処理はステップＳ７０１に戻る。一例として、ＯＣＴフォーカス位置を深さ方向において位置ｚ０，ｚ３に設定したときの、断層画像９００−１，９００−２を図９(ａ)及び(ｂ)に、位置ｚ０〜ｚ３の範囲で移動した際の評価値のグラフを図９（ｃ）に示す。

ＯＣＴフォーカス位置が断層画像の上端に到達し、ステップＳ７０５で、ＯＣＴフォーカス制御部３２３が、ＯＣＴフォーカス位置を移動不可能と判断した場合は、処理はステップＳ７０７に移行する。

ステップＳ７０７では、硝子体構造判定部３２８が、硝子体構造を検出したか否かの判断をするために、記憶された評価値を予め取得した所定の閾値と比較する。断層画像上に硝子体構造が撮像されていない場合には、位置ｚ０〜ｚ３の範囲のフォーカス位置においては、図９（ｃ）に示すように評価値９１０が閾値Ｉｔ９２０より低い。そのため、硝子体構造判定部３２８は、硝子体構造未検出と判定し、ステップＳ７１０に移行する。

そして、ステップＳ７１０で、硝子体構造判定部３２８は、硝子体構造未検出として硝子体構造検出処理を終了し、図４のステップＳ４１１において、処理をステップＳ４２０に移行する。その後、ＯＣＴ撮影部３２０はステップＳ４２０での判断に従って処理を進め、コヒーレンスゲート位置を移動可能であれば、ステップＳ４３０でコヒーレンスゲート位置を瞳側へ所定量移動する。そして、ＯＣＴ撮影部３２０は、コヒーレンスゲート位置を瞳側へ移動完了後、処理を再びステップＳ４１０に戻す。

その後、ステップＳ７０１では、硝子体構造検出部３２４が、網膜が断層画像中の下側へ移動した断層画像を断層画像生成部３２１から取得する。ここで、断層画像生成部３２１から、図１０（ａ）の断層画像１０００−１のように、硝子体構造が観察できる断層画像を断層画像生成部３２１から取得した場合について述べる。この場合、硝子体構造検出部３２４はステップＳ７０１〜Ｓ７０６を再び繰り返し、ＯＣＴフォーカス位置を深さ方向に位置ｚ３〜ｚ５の範囲で移動する。このときの、断層画像１０００−１〜１０００−３を図１０（ａ）乃至（ｃ）に、評価値のグラフを図１０（ｄ）に示す。本例では、図１０（ｂ）に示す断層画像１０００−２において、ＯＣＴフォーカスが硝子体構造５４１に合うものとする。

ＯＣＴフォーカス位置が断層画像の上端に到達し、ステップＳ７０５で、ＯＣＴフォーカス制御部３２３が、ＯＣＴフォーカスを移動不可能と判断した場合に、処理はステップＳ７０７に移行する。

図１０（ｂ）の場合は、断層画像１０００−２上の硝子体構造にＯＣＴフォーカスが合っているため、位置ｚ４のＯＣＴフォーカス位置においては、図１０（ｄ）に示すように評価値１０１０が閾値Ｉｔ９２０以上となっている。そのため、ステップＳ７０７で、硝子体構造判定部３２８は、硝子体構造を検出したと判定し、処理をステップＳ７０８に移行する。

ステップＳ７０８では、硝子体構造判定部３２８が、評価値１０１０に対応する硝子体構造位置を位置ｚ４に設定する。次に、硝子体構造判定部３２８が、ステップＳ７０９で、硝子体構造検出完了として硝子体構造検出処理を終了し、図４のステップＳ４１１において、処理をステップＳ４１２に移行する。そして、ステップＳ４１２によって、硝子体構造の存在する位置に合わせたＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置の調整が行われる。

ここで、本シーケンスでは、画面５００に表示されている断層画像の撮像範囲の上端まで、ＯＣＴフォーカス位置を動かした後、記憶した評価値を閾値と比較し、閾値を超える最も高い評価値に基づいて硝子体構造があることを判定する。この場合、断層画像の撮像範囲内における硝子体構造の中で、硝子体構造からの測定光の戻り光に基づく信号が一番強い位置の検出が可能である。

一方で、ステップＳ７０３における評価値の算出後、逐次、評価値を閾値Ｉｔと比較し、硝子体構造の有無を判断してもよい。この場合、閾値Ｉｔを超えた段階で、硝子体構造があったと判断できるため、硝子体構造の端部分を検出する可能性はあるが、より短時間での硝子体構造の検出が可能である。

ステップＳ４３０において、コヒーレンスゲート制御部３２２が、コヒーレンスゲート位置を動かす移動量は任意であってよい。例えば、コヒーレンスゲート制御部３２２はコヒーレンスゲート位置を、ステップＳ４１０における硝子体構造検出処理においてＯＣＴフォーカス位置を移動させた量の合計と同等の量だけ動かしてもよい。また、網膜が撮影範囲外にならないように、コヒーレンスゲート位置の移動量を制限してもよい。

ステップＳ７０６において、ＯＣＴフォーカス制御部３２３が、ＯＣＴフォーカス位置を動かす移動量は任意であってよいが、小さければ小さいほど、調整精度があがる。しかしながら、移動量が小さい場合には画像の評価回数が多くなり、検出に時間がかかる。そのため、ＯＣＴフォーカス位置を動かす移動量は、検出にかかる時間と調整精度のバランスを考慮して決定することができる。

硝子体は、通常無色透明なゼリー状の組織であるため、散乱や反射が少なく、図１１（ａ）の断層画像１１００−１に示すように硝子体構造５４１の信号強度は微弱である。そのため、硝子体構造を検出しやすくするために以下の処理を追加してもよい。

＜断層画像のコントラスト調整＞
網膜信号と硝子体構造信号の強度差は大きいため、網膜がよく見えるようにコントラスト調整すると、硝子体は見えにくくなる。そのため、硝子体構造の検出時に、硝子体構造検出部３２４によって、図１１（ｂ）の断層画像１１００−２に示すように、網膜が飽和するくらいコントラストを上げる調整をした画像を評価値の算出に用いてもよい。これにより、硝子体構造の信号の強度も強くなり、硝子体構造を検出しやすくなる。この場合、硝子体構造検出部３２４は、コントラスト調整部としても機能する。

＜断層画像重ね合わせ＞
上述のように、硝子体構造信号は、微弱なため、スペックルノイズ等のノイズに埋もれてしまう。そのため、硝子体構造検出時に、硝子体構造検出部３２４が複数枚断層画像を取得し、図１１（ｃ）の断層画像１１００−３に示すように、それらの断層画像を加算平均した重ね合わせ画像を評価値の算出に用いてもよい。これにより、スペックルノイズ等のノイズを低減した断層画像から評価値を算出できるため、硝子体構造を検出しやすくなる。

上記のように、本実施例によるＯＣＴ装置１０は、ＯＣＴ光源２３０からの光を分割した測定光を被検眼Ｅへ照射した戻り光とＯＣＴ光源２３０からの光を分割した参照光との干渉光を発生させる光カプラー２２５と、干渉光を検出する分光器２６０とを備える。また、ＯＣＴ装置１０は、ミラー２５３を駆動するモータ２７１等を制御して参照光の光路長を制御することで、測定光及び参照光の光路長差を制御するコヒーレンスゲート制御部３２２を備える。さらに、ＯＣＴ装置１０は、レンズ２２３を駆動するモータ２７０等を制御することでＯＣＴフォーカス位置（測定光の合焦位置）を制御するＯＣＴフォーカス制御部３２３を備える。ＯＣＴ装置１０は、分光器２６０によって検出された干渉光に関する情報を用いて、被検眼Ｅの断層の情報を取得する制御部３００を備える。また、ＯＣＴ装置１０は、制御部３００によって取得した被検眼Ｅの断層の情報を用いて、被検眼Ｅの硝子体構造５４１を検出する、硝子体構造検出部３２４を備える。

硝子体構造検出部３２４は、ミラー２５３及びレンズ２２３のうちの少なくとも一方によって、光路長差及び合焦位置のうちの少なくとも一方を制御した後に取得した被検眼Ｅの断層の情報を用いて、被検眼Ｅの硝子体構造５４１を検出する。より具体的には、ＯＣＴフォーカス制御部３２３によってレンズ２２３を制御し、ＯＣＴフォーカス位置を移動して被検眼Ｅの断層の情報を取得する。その後、硝子体構造検出部３２４の評価領域設定部３２５が、取得した被検眼Ｅの断層の情報のうち、被検眼Ｅの硝子体領域に対応する情報を決定し、決定した情報に基づいて断層の情報から生成された断層画像中の評価領域を設定する。その後、硝子体構造検出部３２４の評価値算出部３２６が、評価領域の輝度値等の情報を用いて、評価領域における評価値を算出する。硝子体構造検出部３２４の硝子体構造判定部３２８は、算出された評価値を所定の閾値と比較し、評価値が閾値以上であるときに、硝子体構造を検出したと判定する。制御部３００のＯＣＴ撮影部３２０は、硝子体構造を検出した際の評価値に対応するＯＣＴフォーカス位置に合焦するようにレンズ２２３を移動させ、硝子体構造の断層の情報を取得する。

なお、硝子体構造検出部３２４は、ＯＣＴフォーカス位置を順次変更して、上述の硝子体構造の探索を行う。また、コヒーレンスゲート制御部３２２は、レンズ２２３によってＯＣＴフォーカス位置を所定量変更した際に、ミラー２５３を制御してコヒーレンスゲート位置を移動させる。この際、ミラー２５３は、被検眼Ｅの深さ方向においてＯＣＴフォーカス位置の変更方向と同一方向に移動した被検眼Ｅの断層の情報が得られるように、光路長差を変更するように制御される。また、硝子体構造検出部３２４は、算出した評価値が閾値を超えない場合に、コヒーレンスゲート制御部３２２によって、ＯＣＴフォーカス位置の変更方向に合わせて、ミラー２５３を制御してコヒーレンスゲート位置を移動させる。より具体的には、ミラー２５３は、被検眼Ｅの深さ方向においてＯＣＴフォーカス位置の変更方向と同一方向に移動した被検眼Ｅの断層の情報が得られるように光路長差を所定量変更するように制御される。その後、硝子体構造検出部３２４は、レンズ２２３によってＯＣＴフォーカス位置を更に所定量変更して、取得した被検眼Ｅの断層の情報を用いて、硝子体構造の探索を行う。硝子体構造検出部３２４は、硝子体構造を検出できるまで、硝子体構造の探索を繰り返し行う。

本実施例によるＯＣＴ装置１０では、上記のような構成によって、ＯＣＴフォーカス位置やコヒーレンスゲート位置を移動させながら、硝子体構造の探索を行うことで、硝子体構造を適切に検出することができる。これにより、ＯＣＴ装置１０は、硝子体構造を適切に撮影することができる。なお、本実施例では、ＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置を変更して硝子体構造の探索を行ったが、硝子体構造の探索の手法はこれに限られない。例えば、ＯＣＴフォーカス位置のみを変更して硝子体構造を探索してもよいし、測定光と参照光の光路長差に対応するコヒーレンスゲート位置のみを変更して硝子体構造を探索してもよい。これらの場合であっても、硝子体構造を検出した位置に、ＯＣＴフォーカス位置やコヒーレンスゲート位置を調整し断層画像を取得することで、硝子体構造を適切に撮影することができる。

また、本実施例においては、硝子体構造検出部３２４は、制御部３００で取得した被検眼Ｅの断層の情報に基づいて生成された断層画像を用いて硝子体構造の探索を行った。しかしながら、硝子体構造検出部３２４が硝子体構造の探索に用いるものは断層画像に限られず、例えば、分光器２６０からの出力信号や該信号に任意の信号処理を施した信号などを含む、断層画像の元となる被検眼Ｅの断層の情報を用いることもできる。これらの情報から断層画像が生成されることから理解されるように、これらの情報は断層画像内での情報（輝度値等）に対応する。そのため、この場合には、評価領域設定部３２５は、被検眼Ｅの断層の情報のうち、断層画像における硝子体領域に対応する情報を決定し、評価値算出部３２６は決定された情報を用いて評価値を算出することができる。

さらに、本実施例によるＯＣＴ装置１０においては、ＯＣＴフォーカス位置やコヒーレンスゲート位置の初期位置として、網膜の断層の情報を取得する際の各位置を用いている。このため、本実施例では、網膜の断層画像を取得する際の位置から、より瞳側の位置にＯＣＴフォーカス位置やコヒーレンスゲート位置を順次移動させて硝子体構造の探索を行う。なお、本実施例では、ＯＣＴ装置１０は、眼底観察系を備え、ＯＣＴフォーカス制御部３２３が、眼底観察像に関するフォーカス情報（合焦情報）を用いて、ＯＣＴフォーカス位置を網膜近傍に調整することができる。

しかしながら、ＯＣＴフォーカス位置やコヒーレンスゲート位置の初期位置はこれに限られず、例えば、網膜の断層の情報を取得する際の各位置から、瞳側に所定量動かした後の位置や前回の硝子体構造の撮影時に用いた位置等の任意の位置であってよい。この場合、レンズ２２３やミラー２５３は、当該初期位置からより瞳側又はより網膜側の位置にＯＣＴフォーカス位置やコヒーレンスゲート位置を順次移動させ硝子体構造の探索を行うことができる。なお、硝子体構造検出処理が開始される際のＯＣＴフォーカス位置やコヒーレンスゲート位置の初期位置の設定は、ステップＳ４０４で硝子体モードが選択されていると判断された後において、処理がステップＳ４１０に移行する前に行うことができる。

さらに、上記では、ステップＳ７０７において、閾値以上となった評価値が１つである場合について述べたが、断層画像の撮像範囲内に硝子体構造が２つ以上存在する場合には、閾値以上となる評価値が複数個存在する場合がある。この場合には、ステップＳ７０８において、硝子体構造判定部３２８が、閾値以上となる評価値のうち最大の評価値に対応する領域を硝子体構造位置として設定することができる。これにより、最も鮮明に撮影可能な硝子体構造が撮影された断層画像を生成することができる。また、閾値以上となる複数ある評価値について、そのＯＣＴフォーカス位置を記憶し、任意の表示を画面に提供して検者に撮影を行うべきＯＣＴフォーカス位置を選択させてもよい。さらに、これに代えて、例えば、硝子体構造判定部３２８が、閾値以上となる複数ある評価値のうち、最も瞳側、又は最も網膜側のＯＣＴフォーカス位置に対応する評価値に基づいて、硝子体構造位置を設定してもよい。

（実施例２）
実施例２によるＯＣＴ装置では、被検眼Ｅの眼底Ｅｒに対する測定光の入射角度を調整し、硝子体構造をより適切に撮像する。

測定光の被検体による反射又は散乱光の光強度は、被検体に対する測定光の入射角度によって変化する。例えば、測定光が被検体に対して略垂直に入射することで、被検体による反射率が向上し、被検体からより光強度の強い戻り光が得られる。このため、硝子体構造に対して測定光を略垂直に入射させることで、硝子体構造からの戻り光の光強度を向上させることができる。しかしながら、硝子体構造は、硝子体の変異部分であるため、硝子体構造ごとにその向きが異なる。そのため、異なる被検眼に対して特定の入射角度の測定光を用いて測定を行っても、硝子体構造の検出精度を向上させることはできない可能性がある。

そこで、本実施例によるＯＣＴ装置では、硝子体構造からの測定光の戻り光の光強度が向上するように、被検眼Ｅの眼底Ｅｒに対する測定光の入射角度を調整し、硝子体構造をより適切に撮影する。

以下、図１２（ａ）乃至１４を参照して、本実施例によるＯＣＴ装置について説明する。なお、本実施例によるＯＣＴ装置の構成は、実施例１によるＯＣＴ装置１０の構成と同様であるため、各構成要素について同じ参照符号を用いて説明を省略する。以下、実施例１によるＯＣＴ装置１０との違いを中心に、本実施例によるＯＣＴ装置について説明する。図１２（ａ）乃至（ｆ）は、眼底Ｅｒに対する測定光の入射角度の調整を説明するための図である。

まず、以下において、被検眼Ｅの眼底Ｅｒに対する測定光の入射角度θを、図１２（ａ）に示すように、眼底Ｅｒでの眼軸中心１２０１に対する測定光１２０２の入射角度と定義する。硝子体構造からの測定光の戻り光は、上述のように、硝子体構造に対して垂直に近い角度で入射することで、より強い光強度を有する。そのため、本実施例では、制御部３００の入射角度調整部３２９によって、眼底Ｅｒに対し異なる入射角度で入射した測定光を用いて生成した断層画像に基づいて、硝子体構造からの測定光の戻り光が強くなるように、測定光の眼底Ｅｒへの入射角度を調整する。なお、本実施例では、光学ヘッド駆動制御部３１２によって、測定光の走査方向に応じて、被検眼Ｅへの測定光の光軸に対して垂直な方向に、光学ヘッド２００を動かすことで、眼底Ｅｒへの測定光の入射角度を変更する。

図１２（ｂ）乃至（ｄ）は、入射角度θを−α°から＋α°まで変更しながら、撮影した断層画像の例を示す。図１２（ｂ）は、入射角度θを−α°として撮影した断層画像１２００−１を示す。断層画像１２００−１では、網膜の断層像５４０のみが現れている。次に、図１２（ｃ）は、入射角度θを０°として撮影した断層画像１２００−２を示す。断層画像１２００−２では、網膜の断層像５４０の上方に硝子体構造５４１がやや不鮮明ながら現れている。図１２（ｄ）は、入射角度θをα／２°として撮影した断層画像１２００−３を示す。断層画像１２００−３では、網膜の断層像５４０の上方に硝子体構造５４１が鮮明に現れている。また、図１２（ｅ）は入射角度θをα°として撮影した断層画像１２００−４を示す。断層画像１２００−４では、断層画像１２００−２と同様に、網膜の断層像５４０の上方に硝子体構造５４１がやや不鮮明ながら現れている。

図１２（ｆ）は、入射角度θを−α°から＋α°まで変更しながら撮影した断層画像における評価値Ｂのグラフを示す。ここで、評価値Ｂは、入射角度を変更しながら撮影した各画像における評価値であり、実施例１での評価領域の設定と同様に、断層画像中の網膜像よりも瞳側の領域を評価領域として設定し、当該評価領域内の輝度の合計値によって算出されている。なお、評価値Ｂは、輝度の合計値の他に、輝度分布の鮮鋭度、輝度の平均値、輝度の最大値、コントラスト、又は特定の周波数成分の振幅等であってもよい。

図１２（ｆ）を参照すると、入射角度θが＋α／２°であるときに評価値Ｂが最も高くなっていることから、このときに測定光が硝子体構造に略垂直に入射し、硝子体構造からの測定光の戻り光の強度が最も高くなっているが分かる。このため、入射角度調整部３２９は、入射角度θを＋α／２°に調整し、硝子体構造検出部３２４によって硝子体構造検出処理を行わせる。これにより、硝子体構造からの戻り光の光強度が高い状態で、硝子体構造の検出処理を行うことができるため、硝子体構造の検出精度を向上させることができる。

なお、入射角度θを変更する際には、矢印１２０３で示すように、入射角度θを０°から＋方向に所定の角度まで変更して、各入射角度での評価値Ｂを算出する。次に、矢印１２０４で示すように、入射角度θを０°から−方向に所定の角度まで変更して、各入射角度での評価値Ｂを算出し、算出した全ての評価値から最大値を求めてもよい。なお、＋方向に入射角度θを変更していったときの評価値Ｂにおいて、ピークとなる値が現れた場合には、当該ピークが現れたときの入射角度θを最大値とし、−方向への入射角度の変更は省略することもできる。また、−方向への入射角度の変更を先に行ってもよい。なお、例えば、入射角度θを−方向の所定の角度から＋方向の所定の角度まで変更して、各入射角度での評価値Ｂを算出して、これを比較して最大値を求めてもよい。また、入射角度θを＋方向の所定の角度から−方向の所定の角度まで変更してもよい。

次に、図１３及び１４を参照して、本実施例による撮影シーケンス及び入射角度調整処理についてより詳細に説明する。図１３は、本実施例による撮影シーケンスのフローチャートを示す。なお、ステップＳ１３００の入射角度調整処理以外は、実施例１による撮影シーケンスと同様であるため、説明を省略する。

本実施例による撮影シーケンスでは、ステップＳ４０４において、表示制御部３５０が、硝子体モードが選択されていると判断すると、処理はステップＳ１３００の入射角度調整処理に移行する。

図１４は入射角度調整処理のシーケンスのフローチャートを示す。ステップＳ１３００で入射角度調整処理が開始されると、処理はステップＳ１４０１に移行する。

ステップＳ１４０１では、所定の入射角度において、ＯＣＴ撮影部３２０が被検眼Ｅを撮影し、入射角度調整部３２９が、断層画像生成部３２１によって生成された断層画像を取得する。ステップＳ１４０２では、入射角度調整部３２９が取得した断層画像から、ステップＳ７０２と同様に、評価値Ｂを算出するための評価領域を設定する。

ステップＳ１４０３では、入射角度調整部３２９が、ステップＳ７０３と同様に、ステップＳ１４０２で設定した評価領域の値から評価値Ｂ（第３の評価値）を算出する。ここで、評価値Ｂは評価領域における輝度値の合計値、輝度値の平均値、輝度値の最大値、輝度分布の鮮鋭度、コントラスト、又は特定周波数成分の振幅等であってよい。

ステップＳ１４０４では、入射角度調整部３２９が、断層画像を撮影したときの測定光の入射角度θと対応付けて、ステップＳ１４０３で算出した評価値Ｂを記憶する。ステップＳ１４０５では、入射角度調整部３２９が、測定光の入射角度θを所定の角度まで変更し終えたか否かを判断する。入射角度調整部３２９が、入射角度θを所定の角度まで変更し終えていないと判断した場合には、処理はステップＳ１４０６に移行する。

ステップＳ１４０６では、入射角度調整部３２９が、光学ヘッド駆動制御部３１２に電動ステージ２８０を制御させ、被検眼Ｅへの測定光の光軸に対して垂直な方向に、光学ヘッド２００を動かすことで、眼底Ｅｒへの測定光の入射角度θを所定量変更する。その後、処理はステップＳ１４０１に戻る。

ステップＳ１４０５において、入射角度調整部３２９が入射角度θを所定の角度まで変更し終えたと判断したら、処理はステップＳ１４０７に移行する。ステップＳ１４０７では、入射角度調整部３２９がステップＳ１４０４で記憶した、眼底Ｅｒに異なる入射角度θで入射した測定光に基づく複数の評価値Ｂを比較し、評価値Ｂが最も高くなったときの入射角度θを特定する。言い換えると、入射角度調整部３２９は、記憶した複数の評価値Ｂからピークとなる評価値Ｂを求め、求めた評価値Ｂに対応する入射角度θを特定する。入射角度調整部３２９は、特定した入射角度θを、硝子体構造検出処理を行う際の入射角度として設定し、処理をステップＳ４１０に進める。

ステップＳ４１０では、硝子体構造検出部３２４が、入射角度調整部３２９の入射角度調整処理によって調整された入射角度で測定光を眼底Ｅｒに入射させ、実施例１での硝子体構造検出処理と同様の処理を行う。以降の処理は、実施例１での撮影シーケンスと同様となる。

なお、実施例１による撮影シーケンスでは、ステップＳ４３０でコヒーレンスゲート位置を移動させた後、処理をステップＳ４１０に戻していたが、本実施例による撮影シーケンスでは、ステップＳ４３０の後に、処理をステップＳ１３００に戻す。これにより、コヒーレンスゲート位置を移動させて、断層画像の深さ方向の撮影位置を移動させた際に、新たに断層画像中に現れる硝子体構造について、硝子体構造からの測定光の戻り光の強度を高くするために、測定光の入射角度を適切な角度を調整できる。

上記のように、本実施例によるＯＣＴ装置は、被検眼Ｅの眼底Ｅｒに対する測定光の入射角度を調整する入射角度調整部３２９を備える。入射角度調整部３２９は、硝子体構造からの測定光の戻り光の光強度が、眼底Ｅｒに対して他の入射角度を有する測定光の硝子体構造からの戻り光の光強度よりも強くなるように、測定光の入射角度を調整する。より具体的には、入射角度調整部３２９は、異なる入射角度の測定光を用いて取得した被検眼Ｅの断層の情報から評価値Ｂを算出して、算出した評価値Ｂを比較し、比較された評価値Ｂのうち最も高い評価値Ｂに対応する入射角度に測定光の入射角度を調整する。また、硝子体構造検出部３２４は、入射角度が調整された測定光を用いて取得した被検眼Ｅの断層の情報を用いて硝子体構造を検出する。

本実施例によるＯＣＴ装置は、このような構成から、硝子体構造からの測定光の戻り光の強度をより高くすることができ、硝子体構造をより検出しやすくし、硝子体構造をより適切に撮像することができる。なお、眼底Ｅｒに対する測定光の入射角度は、同量の角度ごとに変更してもよいし、それぞれ異なる量の角度ごとに変更してもよく、変更量は任意であってよい。また、比較される評価値Ｂの数、すなわち、眼底Ｅｒに対する測定光の入射角度の変更回数も任意であってよい。

なお、本実施例によるＯＣＴ装置では、硝子体構造検出処理の前に入射角度調整処理を行うことで、硝子体構造を検出しやすくした。これに対し、硝子体構造検出処理により、硝子体構造位置を検出し、当該位置についてＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置を調整した後に、入射角度調整処理を行うことで、硝子体構造の断層画像をより鮮明なものとすることができる。また、双方の効果を得るために、入射角度調整処理を、硝子体構造検出処理の前及び後に行ってもよい。

上記のように、本実施例による入射角度調整処理によれば、硝子体構造からの測定光の戻り光の強度をより高くすることができる。そのため、硝子体構造検出処理を行わず、入射角度調整のみを行って、硝子体構造の断層画像を撮影した場合であっても、硝子体構造からの信号の強度を高めることができ、従来による硝子体構造の撮影に比べより適切に硝子体構造を撮影することができる。また、この場合には、入射角度調整処理の処理だけで済むため、例えば、硝子体構造の有無、すなわち硝子体の変異の有無だけを調べる場合に、少ない処理工程及び処理時間で変異の有無を調べることができる。また、硝子体構造が、硝子体構造の撮影におけるＯＣＴフォーカス位置やコヒーレンスゲート位置の初期位置付近にある場合にも、入射角度調整のみを行うことで、少ない処理工程及び処理時間でより適切に硝子体構造を撮影することができる。これは、例えば、同一被検者についての経過観察を行う際に、ＯＣＴフォーカス位置やコヒーレンスゲート位置の初期位置として、前回の撮影における位置を用いる場合等に特に有利である。

なお、本実施例においては、入射角度調整部３２９は、制御部３００で取得した被検眼Ｅの断層の情報に基づいて生成された断層画像を用いて測定光の入射角度の調整を行った。しかしながら、入射角度調整部３２９が入射角度の調整に用いるものは断層画像に限られず、例えば、分光器２６０からの出力信号や該信号に任意の信号処理を施した信号などを含む、断層画像の元となる被検眼の断層の情報を用いることもできる。

（実施例３）
実施例１に係る硝子体構造検出処理では、順次、ＯＣＴフォーカス位置を所定量移動させて、評価値を算出し、硝子体構造の探索を行う。これに対し、実施例３に係る硝子体構造検出処理では、ＯＣＴフォーカス位置を移動させる前に、取得した被検眼Ｅの断層の情報を用いて、硝子体構造が存在する位置を推定して、推定した位置にＯＣＴフォーカス位置を移動させて評価値を算出する。これにより、硝子体構造の探索のためにレンズ２２３を移動させてＯＣＴフォーカス位置を移動させる回数を低減することができ、より少ない処理時間で硝子体構造検出処理を行うことができるようになる。

以下、図１５乃至１７（ｄ）を参照して、実施例３によるＯＣＴ装置について説明する。なお、本実施例によるＯＣＴ装置の構成は、実施例１によるＯＣＴ装置１０の構成と同様であるため、各構成要素について同じ参照符号を用いて説明を省略する。以下、実施例１によるＯＣＴ装置１０との違いを中心に、本実施例によるＯＣＴ装置について説明する。図１５は、本実施例に係る撮影シーケンスのフローチャートを示す。図１６は、本実施例に係る硝子体構造検出処理のシーケンスのフローチャートを示す。図１７は、本実施例に係る硝子体構造検出処理を説明するための図である。

本実施例に係る撮影シーケンスは、実施例１に係るステップＳ４１０の硝子体構造検出処理に代えて、本実施例に係るステップＳ１５００の硝子体構造検出処理を行う以外は、実施例１に係る撮影シーケンスと同様である。そのため、ステップＳ１５００での硝子体構造検出処理以外の処理の説明を省略する。

本実施例に係る撮影シーケンスでは、ステップＳ４０４において、表示制御部３５０が、硝子体モードが選択されていると判断すると、処理はステップＳ１５００に移行し、本実施例に係る硝子体構造検出処理が開始される。

硝子体構造検出処理が開始されると、図１６に示すように、処理はステップＳ７０１に移行し、断層画像生成部３２１が図１７（ａ）に示される断層画像１７００−１を生成し、硝子体構造検出部３２４が断層画像１７００−１を取得する。また、ステップＳ７０２では、評価領域設定部３２５が、図１７（ｂ）に示される断層画像１７００−２における斜線部以外の領域を評価領域として設定する。なお、ステップＳ７０１，Ｓ７０２の処理は、実施例１における処理と同様であるため詳細については省略する。

ステップＳ１６０１では、評価領域設定部３２５が、ステップＳ７０２で設定した評価領域を、図１７（ｃ）に示す断層画像１７００−３のように深さ方向に所定の範囲の領域ごとに分割する。断層画像１７００−３では、分割された領域Ｒ１〜Ｒ４が示されている。なお、本実施例では、評価領域を４つの領域Ｒ１〜Ｒ４に分割しているが、領域の分割数はこれに限られず任意の数であってよい。また、領域を分割する際の各領域の深さ方向範囲も任意の範囲であってよい。当該深さ方向範囲は、後述する評価値の比較のため同等の範囲とすることができるが、網膜の断層像５４０に隣接する領域では、領域Ｒ４のように網膜の形状によって画定される領域を含めてもよい。

ステップＳ１６０２では、評価値算出部３２６が、分割された各領域Ｒ１〜Ｒ４についての評価値（第２の評価値）として領域内の輝度値の合計値を算出する。ここで、評価値は、領域内の輝度値の合計値の他に、輝度分布の鮮鋭度、輝度値の平均値、輝度値の最大値、コントラスト、又は特定周波数成分の振幅等であってよい。

ステップＳ１６０３では、硝子体構造検出部３２４が算出された各領域Ｒ１〜Ｒ４の評価値を比較し、最も高い評価値を求める。ステップＳ１６０４では、硝子体構造検出部３２４が、最も高い評価値に対応する領域を、硝子体構造が存在する位置として推定し、ＯＣＴフォーカス位置を移動させるＯＣＴフォーカス領域として設定する。その後、ＯＣＴフォーカス制御部３２３が、モータ２７０等を制御してレンズ２２３を移動させ、設定されたＯＣＴフォーカス領域にＯＣＴフォーカス位置を合わせる。断層画像１７００−３では、硝子体構造５４１が存在する領域Ｒ２の評価値が最も高くなるため、ＯＣＴフォーカス位置が領域Ｒ２に対応する位置に合わされる。

ステップＳ１６０５では、ＯＣＴフォーカス領域にＯＣＴフォーカス位置が合わされた状態で、断層画像生成部３２１によって生成された断層画像を硝子体構造検出部３２４が取得する。取得された断層画像１７００−４を図１７（ｄ）に示す。図１７（ｄ）に示される断層画像１７００−４では、矢印５３２で示されるように、ＯＣＴフォーカス位置が領域Ｒ２に対応する位置に移動され、硝子体構造５４１が鮮明に現れている。

ステップＳ１６０６では、硝子体構造検出部３２４が、ステップＳ１６０５で取得した断層画像に対して評価領域を設定する。そして、ステップＳ１６０７で、評価領域全体の評価値を算出する。なお、ステップＳ１６０２及びＳ１６０７での評価値の算出処理は、実施例１に係るステップＳ７０３での処理と同様であるため、詳細は省略する。また、本実施例による硝子体構造検出処理では、ステップＳ７０１からステップＳ１６０５の間にコヒーレンスゲート位置は移動されず撮影位置が変わらないため、ステップＳ１６０６で評価領域として、ステップＳ７０２で設定した評価領域を設定してもよい。

ステップＳ１６０８では、ステップＳ１６０７で算出された評価領域全体の評価値を所定の閾値と比較し、評価値が閾値以上であるか否かを判断する。その後、評価値が閾値以上であった場合には、処理はステップＳ７０８に移行し、硝子体構造判定部３２８が硝子体構造位置を設定する。ステップＳ７０９では、硝子体構造判定部３２８が硝子体構造検出完了として硝子体構造検出処理を終了し、図１５のステップＳ４１１において、処理をステップＳ４１２に移行する。一方、評価値が閾値未満であった場合には、処理はステップＳ７１０に移行し、硝子体構造判定部３２８が硝子体構造未検出として硝子体構造検出処理を終了し、ステップＳ４１１において、処理をステップＳ４２０に移行する。以降の処理は、実施例１による撮影シーケンスと同様であるため説明を省略する。

このように、本実施例によるＯＣＴ装置では、硝子体構造検出部３２４が、被検眼Ｅの断層の情報を被検眼Ｅの所定の深さ範囲に対応する情報ごとに分割し、分割された情報ごとに評価値を算出して、評価値をそれぞれ比較する。その後、硝子体構造検出部３２４は、ＯＣＴフォーカス制御部３２３によって、比較された評価値のうち最も高い評価値に対応する深さ範囲の位置に測定光のＯＣＴフォーカス位置を変更させる。ＯＣＴフォーカス位置を変更した後、硝子体構造検出部３２４は、制御部３００によって取得した被検眼Ｅの断層の情報を用いて、硝子体構造を検出する。ここでは、最も高い評価値に対応する領域を、硝子体構造が存在する位置としたが、その領域内で、さらにステップＳ７０１〜Ｓ７０７の動作を行い、ＯＣＴフォーカス位置を移動させて硝子体構造の探索を行ってもよい。

本実施例によるＯＣＴ装置では、硝子体構造検出処理において、レンズ２２３を移動させてＯＣＴフォーカス位置を移動させる回数を低減することができ、より少ない処理時間で硝子体構造検出処理を行うことができるようになる。

なお、本実施例においては、硝子体構造検出部３２４は、制御部３００で取得した被検眼Ｅの断層の情報に基づいて生成された断層画像を用いて硝子体構造の探索を行った。しかしながら、硝子体構造検出部３２４が硝子体構造の探索に用いるものは断層画像に限られず、例えば、分光器２６０からの出力信号や該信号に任意の信号処理を施した信号などを含む、断層画像の元となる被検眼の断層の情報を用いることもできる。

また、本実施例においても、実施例２に係る入射角度調整処理を行うことで、硝子体構造からの測定光の戻り光の強度を高めることができ、硝子体構造をより適切に撮影することができる。

（実施例４）
実施例１によるＯＣＴ装置では、ＯＣＴフォーカス位置とコヒーレンスゲート位置を別々に動かして硝子体を検出したが、実施例４によるＯＣＴ装置では、ＯＣＴフォーカス位置とコヒーレンスゲート位置を同時に動かして硝子体を検出する。

以下、図１８乃至２０（ｄ）を参照して、本実施例によるＯＣＴ装置について説明する。なお、本実施例によるＯＣＴ装置の構成は、実施例１によるＯＣＴ装置１０の構成と同様であるため、各構成要素について同じ参照符号を用いて説明を省略する。以下、実施例１によるＯＣＴ装置１０との違いを中心に、本実施例によるＯＣＴ装置について説明する。図１８は本実施例に係る撮影シーケンスのフローチャートを示す。図１９は本実施例に係る硝子体構造検出処理のシーケンスのフローチャートを示す。図２０は、本実施例による硝子体構造の撮影シーケンスについて説明する図である。

本実施例による撮影シーケンスが開始されると、実施例１による撮影シーケンスと同様に、ステップＳ４０２〜Ｓ４０４の処理が行われる。ステップＳ４０４において、表示制御部３５０が、画面５００において、硝子体モードが選択されていると判断すると、処理はステップＳ１８００に移行する。一方、網膜モードが選択されていると判断する場合には、実施例１による撮影シーケンスと同様にステップＳ４０５において網膜の断層画像が撮影される。

ステップＳ１８００では、瞳側（硝子体側）へＯＣＴフォーカス位置とコヒーレンスゲート位置を同時に動かして、硝子体構造を検出する動作を行う。ステップＳ１８００において硝子体構造検出処理が開始されると、図１９に示すように、実施例１に係る硝子体構造検出処理と同様に、処理はステップＳ７０１〜Ｓ７０３に移行する。

ステップＳ７０３において、評価値が算出されると、ステップＳ１９０１において、硝子体構造判定部３２８が評価値を所定の閾値と比較し、評価値が閾値未満である場合には、処理はステップＳ１９０２に移行する。

ステップＳ１９０２では、ＯＣＴフォーカス制御部３２３が、ＯＣＴフォーカス位置を移動させることができるか否かを判断する。また、コヒーレンスゲート制御部３２２が、コヒーレンスゲート位置を移動させることができるか否かを判断する。ここでは、レンズ２２３及びミラー２５３の各々の駆動系が駆動限界に達していなければ、それぞれの位置を移動可能としている。ここで、ＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置を移動可能でない場合には、硝子体構造判定部３２８が、ステップＳ７１０において硝子体構造未検出として硝子体構造検出処理を終了する。その後、図１８のステップＳ４１１において、処理はステップＳ４２１に移行する。これに対し、ステップＳ１９０２において、ＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置が移動可能であれば、処理はステップＳ１９０３に移行する。

ステップＳ１９０３では、ＯＣＴフォーカス制御部３２３とコヒーレンスゲート制御部３２２が、それぞれＯＣＴフォーカス位置とコヒーレンスゲート位置を同時に瞳側（瞳側）へ所定量移動する。そして、ＯＣＴフォーカス位置とコヒーレンスゲート位置の移動完了後、処理はステップＳ７０１に戻る。

一方、ステップＳ１９０１において、評価値が閾値以上である場合には、処理はステップＳ１９０４に移行し、硝子体構造判定部３２８が評価値に対応するＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置を硝子体構造位置として設定する。その後、硝子体構造検出部３２４は、ステップＳ７０９で、硝子体構造検出完了として硝子体構造検出処理を終了し、図１８のステップＳ４１１において、処理をステップＳ４１２に移行する。そして、ステップＳ４１２によって、硝子体構造の存在する位置に合わせたＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置の調整が行われる。

ここで、図２０（ａ）乃至（ｄ）に、硝子体構造が見つかるまでステップＳ７０１〜Ｓ１９０３を繰り返し、ＯＣＴフォーカス位置とコヒーレンスゲート位置間の距離Ｌを維持するように、両方の位置を同時に移動する場合の断層画像の一例を示す。図２０（ａ）乃至（ｄ）においては、矢印５３２はＯＣＴフォーカス位置を示し、断層画像の上端がコヒーレンスゲート位置を示す。まず、図２０（ａ）に示す断層画像２０００−１では、ＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置が網膜近傍に合わせられており、硝子体構造が断層画像２０００−１中に現れていない。そのため、評価値が閾値未満となり、ステップＳ１９０３でＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置が瞳側へ所定量移動される。

図２０（ｂ）に示される断層画像２０００−２は、断層画像２０００−１を取得した際の状態から、ステップＳ１９０３でＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置が瞳側へ所定量移動され、ＯＣＴ撮影部３２０によって取得された断層画像を示す。断層画像２０００−２では、硝子体構造５４１が断層画像中に現れてはいるものの、ＯＣＴフォーカスが合っていないため、評価値が閾値未満となる。このため、ステップＳ１９０３で、ＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置が再び瞳側へ所定量移動される。

その後、図２０（ｃ）に示される断層画像２０００−３が取得されるが、断層画像２０００−２と同様に、評価値が閾値未満となるため、ステップＳ１９０３で、ＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置が再び瞳側へ所定量移動される。

断層画像２０００−３を撮影した状態から更にＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置が瞳側へ所定量移動されたときに取得した断層画像２０００−４を図２０（ｄ）に示す。断層画像２０００−４では、硝子体構造５４１にＯＣＴフォーカスが合っているため、評価値が閾値以上となる。このため、硝子体構造判定部３２８が、断層画像２０００−４を撮影した際のＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置を硝子体構造位置として設定し、処理は硝子体構造の撮影処理に移行する。

上記のように、本実施例によるＯＣＴ装置では、コヒーレンスゲート制御部３２２が、ＯＣＴフォーカス制御部３２３によるＯＣＴフォーカス位置の変更に同期して、コヒーレンスゲート位置を移動させる。この際、コヒーレンスゲート制御部３２２は、ＯＣＴフォーカス位置の変更方向と同一方向に、コヒーレンスゲート位置を変更する。なお、その後算出された評価値が閾値を超えない場合には、コヒーレンスゲート制御部３２２によって、ＯＣＴフォーカス位置の更なる変更に再び同期して、コヒーレンスゲート位置を変更する。本実施例によるＯＣＴ装置のように、ＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置を同時に動かした場合であっても、硝子体構造を適切に検出することができるため、適切に硝子体構造を撮影できる。

なお、上述の例では、ＯＣＴフォーカス位置とコヒーレンスゲート位置間の距離Ｌを維持するように両方の位置を同時に動かしたが、これは、ＯＣＴフォーカス位置が断層画像上で常に同じ位置になるようにするためである。そのため、所望の構成によっては必ずしも距離Ｌを維持する必要はなく、個々のモータの速度に応じて、調整中に距離Ｌが変化してもよい。また、上述の例では、評価値が閾値以上となった段階で、硝子体構造検知を判定したが、評価値が閾値以上となっても、ＯＣＴフォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置を動かし続けて、評価値のピークを見つけて判定してもよい。

なお、本実施例においては、硝子体構造検出部３２４は、制御部３００で取得した被検眼Ｅの断層の情報に基づいて生成された断層画像を用いて硝子体構造の探索を行った。しかしながら、硝子体構造検出部３２４が硝子体構造の探索に用いるものは断層画像に限られず、例えば、分光器２６０からの出力信号や該信号に任意の信号処理を施した信号などを含む、断層画像の元となる被検眼の断層の情報を用いることもできる。

また、本実施例によるＯＣＴ装置１０においては、ＯＣＴフォーカス位置やコヒーレンスゲート位置の初期位置として、網膜の断層の情報を取得する際の各位置を用いている。しかしながら、ＯＣＴフォーカス位置やコヒーレンスゲート位置の初期位置はこれに限られず、例えば、網膜の断層の情報を取得する際の各位置から、瞳側に所定量動かした後の位置や前回の硝子体構造の撮影時に用いた位置等の任意の位置であってよい。この場合、レンズ２２３やミラー２５３は、当該初期位置からより瞳側又はより網膜側の位置にＯＣＴフォーカス位置やコヒーレンスゲート位置を順次移動させ硝子体構造の探索を行うことができる。

また、本実施例においても、実施例２に係る入射角度調整処理を行うことで、硝子体構造からの測定光の戻り光の強度を高めることができ、硝子体構造をより適切に撮影することができる。

実施例１乃至４では、ＯＣＴ装置による硝子体構造の撮影に関して説明した。これに関連し、被検者の経過観察のためにＯＣＴ装置による硝子体構造の撮影を行うことが考えられる。この場合、被検者の識別情報（患者ＩＤ）に対応付けて、硝子体構造の撮影パラメータを記憶させておくことで、次回の検査時（撮影時）に撮影パラメータを用いて素早く硝子体構造の撮影を行うことができる。より具体的には、被検者の識別情報（患者ＩＤ）に対応付けて、硝子体構造を撮影した際のＯＣＴフォーカス位置、コヒーレンスゲート位置、及び眼底Ｅｒへの測定光の入射角度等を記憶部３４０に記憶させる。そして、次回の検査時に、ＯＣＴ撮影部３２０が被検者の識別情報に対応付けたこれらの撮影パラメータを記憶部３４０から取得して用いることで、経過観察において比較しやすい画像を容易に撮影することができる。この場合には、ＯＣＴ撮影部３２０が撮影パラメータを取得するパラメータ取得部として機能する。

なお、これら記憶された撮影パラメータは、次回の検査時において、各撮影パラメータの初期値として用いてもよいし、被検体の経過観察に関する固定のパラメータとして用いてもよい。また、これら経過観察用の撮影パラメータは、記憶部３４０に記憶される構成に限られない。例えば、硝子体構造を撮影した際の撮影パラメータを、ＯＣＴ装置と有線又は無線で接続されるインターネット、ＷＡＮ又はＬＡＮ内のサーバに記憶させ、次回経過観察時にＯＣＴ撮影部３２０がサーバからこれらの撮影パラメータを取得する構成でもよい。

なお、実施例１乃至４では、コヒーレンスゲート位置を移動させるための部材として、ミラー２５３を移動させたが、当該部材の構成はこれに限られない。コヒーレンスゲート位置を移動させるための部材は、測定光の光路長及び参照光の光路長のうちの一方を変更し、測定光と参照光の光路長差を変更できればよい。そのため、当該部材は、測定光の光路長を変更する任意の光学部材等によって構成されてもよい。

さらに、分割手段としてカプラーを使用したファイバー光学系を用いているが、コリメータとビームスプリッタを使用した空間光学系を用いてもよい。また、撮影装置部１００の構成は、上記の構成に限られず、撮影装置部１００に含まれる構成の一部を撮影装置部１００と別体の構成としてもよい。さらに、上記実施例では、被検眼の眼底への測定光の入射角度を変更する手段として、電動ステージ２８０によって光学ヘッド２００を被検眼Ｅに対して移動させたが、測定光の入射角度を変更する構成はこれに限られない。例えば、測定光の光路に測定光の光軸を移動させる光学部材、例えば平行平面板等を設け、当該光学部材を制御部３００によって制御することで測定光の眼底Ｅｒに対する入射角度を制御してもよい。

また、ＯＣＴ装置１０の干渉光学系としてマイケルソン型干渉計の構成を用いているが、干渉光学系の構成はこれに限られない。例えば、ＯＣＴ装置１０の干渉光学系はマッハツェンダー干渉計の構成を有していてもよい。

さらに、ＯＣＴ装置として、ＳＬＤを光源として用いたスペクトラルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）装置について述べたが、本発明によるＯＣＴ装置の構成はこれに限られない。例えば、出射光の波長を掃引することができる波長掃引光源を用いた波長掃引型ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ）装置等の他の任意の種類のＯＣＴ装置にも本発明を適用することができる。

（その他の実施例）
本発明は、上述の実施例の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。

以上、実施例を参照して本発明について説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではない。本発明の趣旨に反しない範囲で変更された発明、及び本発明と均等な発明も本発明に含まれる。また、上述の各実施例及び変形例は、本発明の趣旨に反しない範囲で適宜組み合わせることができる。

１０：ＯＣＴ装置（眼科装置）、２２５：光カプラー（干渉部）、２３０：ＯＣＴ光源（光源）、２６０：分光器（光検出部）、３００：制御部（取得部）、３２２：コヒーレンスゲート制御部（光路長差制御部）、３２３：ＯＣＴフォーカス制御部（合焦位置制御部）、３２４：硝子体構造検出部、Ｅ：被検眼

Claims (25)

1. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光との干渉光に関する情報を用いて、前記被検眼の断層の情報を取得する取得部と、
   前記測定光と前記参照光との光路長差を制御する光路長差制御部と、
   前記測定光の合焦位置を制御する合焦位置制御部と、
   前記光路長差及び前記合焦位置のうちの少なくとも一方が制御された後に取得された前記被検眼の断層の情報を用いて、前記被検眼の硝子体構造を検出する、硝子体構造検出部と、
   を備え、
   前記取得部は、前記検出された硝子体構造の位置情報に基づいて前記光路長差及び前記合焦位置が制御された後に、前記硝子体構造の断層の情報を取得する、眼科装置。
2. 前記硝子体構造検出部は、前記合焦位置が順次変更される毎に取得された前記被検眼の断層の情報を用いて、前記硝子体構造を検出する、請求項１に記載の眼科装置。
3. 前記光路長差制御部は、前記合焦位置制御部による前記合焦位置の変更に同期して、前記光路長差を変更する、請求項１又は２に記載の眼科装置。
4. 前記光路長差制御部は、前記合焦位置が所定量変更された際に、前記被検眼の深さ方向において前記合焦位置の変更方向と同一方向に移動した前記被検眼の断層の情報が得られるように、前記光路長差を変更する、請求項１乃至３のいずれか一項に記載の眼科装置。
5. 前記硝子体構造検出部は、
   前記被検眼の断層の情報のうち前記被検眼の硝子体領域に対応する情報を用いて第１の評価値を算出し、
   前記第１の評価値が閾値以上であるときに、前記硝子体構造を検出したと判定する、請求項１乃至４のいずれか一項に記載の眼科装置。
6. 前記硝子体構造検出部は、
   前記被検眼の断層の情報を前記被検眼の所定の深さ範囲に対応する情報ごとに分割し、
   分割された前記情報ごとに第２の評価値を算出して、該第２の評価値をそれぞれ比較し、
   前記合焦位置制御部によって、比較された前記第２の評価値のうち最も高い評価値に対応する前記深さ範囲の位置に前記測定光の合焦位置を変更させ、
   前記取得部によって取得した前記被検眼の断層の情報を用いて、前記硝子体構造を検出する、請求項５に記載の眼科装置。
7. 前記硝子体構造検出部は、前記第１の評価値が前記閾値を超えない場合に、
   前記合焦位置制御部によって前記合焦位置を所定量変更させ、
   前記光路長差制御部によって、前記被検眼の深さ方向において前記合焦位置の変更方向と同一方向に移動した前記被検眼の断層の情報が得られるように前記光路長差を所定量変更させ、
   前記取得部によって取得した前記被検眼の断層の情報を用いて、前記硝子体構造を検出する、請求項５又は６に記載の眼科装置。
8. 前記光路長差制御部は、前記合焦位置制御部による前記合焦位置の変更に同期して、前記光路長差を変更し、
   前記硝子体構造検出部は、前記第１の評価値が前記閾値を超えない場合に、
   前記合焦位置制御部によって前記合焦位置を変更させ、
   前記光路長差制御部によって、前記合焦位置の変更に再び同期して、前記光路長差を変更させ、
   前記取得部によって取得した前記被検眼の断層の情報を用いて、前記硝子体構造を検出する、請求項５又は６に記載の眼科装置。
9. 前記第１の評価値は、前記被検眼の断層の情報から生成された重ね合わせ画像、前記被検眼の断層の情報から生成される断層画像の合計輝度、平均輝度、最大輝度、コントラスト、及び、所定の周波数成分の振幅のうちの少なくともいずれか一つを用いて算出される、請求項５乃至８のいずれか一項に記載の眼科装置。
10. 異なる合焦位置及び異なる光路長差のうちの少なくとも一方に対応する前記被検眼の複数の断層の情報を用いて得られた複数の評価値のうちのいずれかの評価値に対応する合焦位置及び光路長差のうちの少なくとも一方が、前記硝子体構造の前記位置情報として用いられる、請求項１乃至４のいずれか一項に記載の眼科装置。
11. 前記複数の評価値のうち閾値よりも高い評価値に対応する合焦位置及び光路長差のうちの少なくとも一方が、前記硝子体構造の前記位置情報として用いられる、請求項１０に記載の眼科装置。
12. 前記被検眼の眼底に対する前記測定光の入射角度を調整する入射角度調整部を更に備え、
    前記入射角度調整部は、前記硝子体構造からの前記測定光の戻り光の光強度が、前記眼底に対して他の入射角度を有する測定光の前記硝子体構造からの戻り光の光強度よりも強くなるように、前記測定光の入射角度を調整し、
    前記硝子体構造検出部は、前記入射角度を調整した測定光を用いて取得した前記被検眼の断層の情報を用いて前記硝子体構造を検出する、請求項１乃至１１のいずれか一項に記載の眼科装置。
13. 前記光路長差制御部は、より瞳側の前記被検眼の断層の情報が取得されるように、前記光路長差を変更し、
    前記合焦位置制御部は、前記合焦位置がより瞳側に移動するように、前記合焦位置を変更する、請求項１乃至１２のいずれか一項に記載の眼科装置。
14. 前記取得部によって前記硝子体構造の断層の情報を取得した際の、被検者の情報、並びに、前記光路長差、前記合焦位置、及び入射角度のうちの少なくとも一つを含むパラメータを取得するパラメータ取得部を更に備え、
    同一被検者の前記硝子体構造の情報を再び取得する際に、取得した前記パラメータを用いる、請求項１乃至１３のいずれか一項に記載の眼科装置。
15. 前記被検眼の断層の情報から生成された断層画像のコントラストを調整するコントラスト調整部を更に備え、
    前記硝子体構造検出部は、前記コントラストが調整された前記断層画像を用いて前記硝子体構造を検出する、請求項１乃至１４のいずれか一項に記載の眼科装置。
16. 前記硝子体構造検出部は、前記硝子体構造を検出できないときに警告を発する、請求項１乃至１５のいずれか一項に記載の眼科装置。
17. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光との干渉光に関する情報を用いて、前記被検眼の断層の情報を取得する取得部と、
    前記測定光と前記参照光との光路長差を制御する光路長差制御部と、
    前記測定光の合焦位置を制御する合焦位置制御部と、
    前記光路長差及び前記合焦位置のうちの少なくとも一方が制御された後に取得された前記被検眼の断層の情報を用いて、評価値を算出する算出部と、
    を備え、
    前記取得部は、前記評価値が閾値以上である場合において前記被検眼の断層の情報を用いて算出された評価値に基づいて前記光路長差及び前記合焦位置が制御された後に、前記被検眼の硝子体構造の断層の情報を取得する、眼科装置。
18. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光との干渉光に関する情報を用いて、前記被検眼の断層の情報を取得する取得部と、
    前記被検眼の眼底に対する前記測定光の入射角度を調整する入射角度調整部と、
    前記入射角度を調整した測定光を用いて取得した前記被検眼の断層の情報を用いて、前記被検眼の硝子体構造を検出する、硝子体構造検出部と、
    を備え、
    前記入射角度調整部は、前記硝子体構造からの前記測定光の戻り光の光強度が、前記眼底に対して他の入射角度を有する測定光の前記硝子体構造からの戻り光の光強度よりも強くなるように、前記測定光の入射角度を調整し、
    前記取得部は、前記入射角度を調整した測定光を用いて、前記硝子体構造の断層の情報を取得する、眼科装置。
19. 前記取得部は、硝子体構造の複数の断層の情報を取得し、
    前記硝子体構造の複数の断層の情報に基づいて生成された複数の断層画像を用いて１つの断層画像が生成される、請求項１乃至１８のいずれか一項に記載の眼科装置。
20. 前記生成された複数の断層画像を加算平均することにより前記１つの断層画像が生成される、請求項１９に記載の眼科装置。
21. 前記硝子体構造の断層の情報から生成された断層画像は、前記硝子体構造がより明確になるようにコントラスト調整される、請求項１乃至２０のいずれか一項に記載の眼科装置。
22. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光との干渉光に関する情報を用いて、前記被検眼の断層の情報を取得する工程と、
    前記測定光と前記参照光との光路長差及び前記測定光の合焦位置のうちの少なくとも一方が制御された後に取得された前記被検眼の断層の情報を用いて、前記被検眼の硝子体構造を検出する工程と、
    前記検出された硝子体構造の位置情報に基づいて前記光路長差及び前記合焦位置が制御された後に、前記硝子体構造の断層の情報を取得する工程と、
    を含む、眼科撮影方法。
23. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光との干渉光に関する情報を用いて、前記被検眼の断層の情報を取得する工程と、
    前記測定光と前記参照光との光路長差及び前記測定光の合焦位置のうちの少なくとも一方が制御された後に取得された前記被検眼の断層の情報を用いて、評価値を算出する工程と、
    前記評価値が閾値以上である場合において前記被検眼の断層の情報を用いて算出された評価値に基づいて前記光路長差及び前記合焦位置が制御された後に、前記被検眼の硝子体構造の断層の情報を取得する工程と、
    を含む、眼科撮影方法。
24. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と参照光との干渉光に関する情報を用いて、前記被検眼の断層の情報を取得する工程と、
    前記被検眼の硝子体構造からの前記測定光の戻り光の光強度が、前記被検眼の眼底に対して他の入射角度を有する測定光の前記硝子体構造からの戻り光の光強度よりも強くなるように、前記被検眼の眼底に対する前記測定光の入射角度を調整する工程と、
    前記入射角度を調整した測定光を用いて取得した前記被検眼の断層の情報を用いて、前記被検眼の硝子体構造を検出する工程と、
    前記入射角度を調整した測定光を用いて、前記硝子体構造の断層の情報を取得する工程と、
    を含む、眼科撮影方法。
25. コンピュータによって実行されると、前記コンピュータに対して請求項２２乃至２４のいずれか一項に記載の眼科撮影方法の各工程を実行させる、プログラム。

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