JP6714317B2 - プローブ及びその使用方法 - Google Patents
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Description
アナログ・デジタル・コンバータを有し、被試験デバイスから信号を受けて、該信号からデジタル測定値を定めるデジタル・マルチメータ又はデジタル・ボルトメータと、
上記デジタル・マルチメータ又は上記デジタル・ボルトメータに接続され、上記デジタル・マルチメータ又は上記デジタル・ボルトメータからの上記デジタル測定値を受けるコントローラと、
上記コントローラに接続されて上記コントローラと通信を行うデジタル・コミュニケーション・インタフェースと、
上記デジタル・コミュニケーション・インタフェースに接続され、上記試験測定装置と通信するためのコミュニケーション・リンクと
を具えている。
上記被試験デバイスに接続され、上記被試験デバイスからの上記信号を受けて処理する高帯域幅回路と、
上記高帯域幅回路及び上記コミュニケーション・リンクに接続されるアナログ信号インタフェースと
を更に具えている。
上記概念1〜6のいずれかに記載のプローブと、
上記コミュニケーション・リンクに接続された第2コントローラとを具え、
上記試験測定装置(例えば、オシロスコープ)が上記コミュニケーション・リンクを通して上記第2コントローラに接続されている。
上記第2コントローラは、上記デジタル・コミュニケーション・インタフェースと通信して上記デジタル測定値を受けると共に、上記アナログ信号インタフェースと通信して上記高帯域幅回路からのアナログ信号を受けることを特徴としている。
上記プローブ内に配置されたアナログ・デジタル・コンバータを有するデジタル・マルチメータ又はデジタル・ボルトメータを用いて被試験デバイスからの信号のデジタル測定値を定める処理と、
上記プローブ内の第1コントローラで上記デジタル測定値を受ける処理と、
上記第1コントローラから上記プローブ内のデジタル・コミュニケーション・インタフェースへ上記デジタル測定値を送る処理と、
上記デジタル・コミュニケーション・インタフェースからコミュニケーション・リンクを介して第2コントローラへ上記デジタル測定値を送る処理と
を具えている。
上記プローブ内の高帯域幅回路により、被試験デバイスからの信号を処理する処理と、
処理された上記信号を上記プローブ内のアナログ信号インタフェースで受ける処理と
を更に具えている。
上記デジタル測定値又は処理された上記信号をコミュニケーション・リンク及び上記第2コントローラを介して上記試験測定装置に送る処理と、
上記デジタル測定値又は処理された上記信号を上記試験測定装置の表示装置上で表示する処理と
を更に具えている。
102 被測定デバイス(DUT)
104 DMM又はDVM
106 コントローラ
108 オシロスコープ
110 コミュニケーション・リンク
200 プローブ
202 高帯域幅回路
204 DUTからの信号
206 ADC
208 コントローラ
210 デジタル・コミュニケーション・インタフェース
214 デジタル出力端子
216 アナログ出力端子
300 プローブ
302 DUTからの信号
Claims (2)
- 試験測定装置と共に用いるプローブであって、
アナログ・デジタル・コンバータを有し、被試験デバイスから信号を受けて、該信号のデジタル測定値を定めるデジタル・マルチメータ又はデジタル・ボルトメータと、
上記デジタル・マルチメータ又は上記デジタル・ボルトメータに接続され、上記デジタル・マルチメータ又は上記デジタル・ボルトメータからの上記デジタル測定値を受ける第1コントローラと、
上記第1コントローラに接続されて上記第1コントローラと通信を行うデジタル・コミュニケーション・インタフェースと、
上記デジタル・コミュニケーション・インタフェースに接続され、上記試験測定装置と通信すると共に、上記試験測定装置のグラウンドから上記プローブをアイソレーションするためのアイソレーション・コミュニケーション・リンクと、
上記被試験デバイスに接続され、上記被試験デバイスからの上記信号を受け、該信号を処理してアナログ出力信号を生成する高帯域幅回路と、
上記高帯域幅回路及び上記アイソレーション・コミュニケーション・リンクに接続されるアナログ信号インタフェースと、
上記アイソレーション・コミュニケーション・リンクに接続され、上記プローブを上記試験測定装置に接続する第2コントローラと
を具え、
上記第2コントローラは、上記デジタル・コミュニケーション・インタフェースと通信して上記デジタル測定値を受けると共に上記アナログ信号インタフェースと通信して上記高帯域幅回路からの上記アナログ出力信号を受けるプローブ。 - プローブを試験測定装置と共に使用する方法であって、
被試験デバイスからの信号をプローブで受ける処理と、
上記プローブ内に配置されたアナログ・デジタル・コンバータを有するデジタル・マルチメータ又はデジタル・ボルトメータを用いて上記信号のデジタル測定値を定める処理と、
上記プローブ内の第1コントローラで上記デジタル測定値を受ける処理と、
上記第1コントローラから上記プローブ内のデジタル・コミュニケーション・インタフェースへ上記デジタル測定値を送る処理と、
上記デジタル・コミュニケーション・インタフェースからアイソレーション・コミュニケーション・リンクを介して第2コントローラへ上記デジタル測定値を送る処理と、
上記プローブ内の高帯域幅回路で上記被試験デバイスからの上記信号を受け、該信号を処理してアナログ出力信号を生成する処理と、
上記アナログ出力信号を上記プローブ内のアナログ信号インタフェースで受ける処理と、
上記デジタル測定値又は上記アナログ出力信号を上記アイソレーション・コミュニケーション・リンク及び上記第2コントローラを介して上記試験測定装置に送る処理と、
上記デジタル測定値又は上記アナログ出力信号を上記試験測定装置の表示装置上で表示する処理と
を具え、
上記アイソレーション・コミュニケーション・リンクは、上記試験測定装置のグラウンドから上記プローブをアイソレーションし、
上記第2コントローラは、上記デジタル・コミュニケーション・インタフェースと通信して上記デジタル測定値を受けると共に上記アナログ信号インタフェースと通信して上記高帯域幅回路からの上記アナログ出力信号を受けるプローブの使用方法。
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