JP6712630B2 - Abnormality monitoring device, abnormality monitoring method, and abnormality monitoring program - Google Patents

Abnormality monitoring device, abnormality monitoring method, and abnormality monitoring program Download PDF

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本発明は、異常監視装置、異常監視方法および異常監視プログラムに関する。 The present invention relates to an abnormality monitoring device, an abnormality monitoring method, and an abnormality monitoring program.

従来、工場、プラント、ビル、データセンタ等の様々な環境における機器(以下、検知対象機器という)の異常を検知する技術として、検知対象機器に設置されたセンサが取得したセンサデータを入力データとして、AIや機械学習の手法を用いて検知対象機器の異常を検知することが行われている。 Conventionally, sensor data acquired by a sensor installed in a detection target device is used as input data as a technique for detecting an abnormality in a device (hereinafter, detection target device) in various environments such as factories, plants, buildings, and data centers. , AI and machine learning methods are used to detect an abnormality in the detection target device.

例えば、時系列ディープランニングの手法において、学習フェーズでは正常時のセンサデータと異常時のセンサデータとが混在したデータのうち、異常時のセンサデータを教師データとして学習させ、検知フェーズでは異常データに近いデータが入力された場合に異常と判定する。 For example, in the time-series deep running method, in the learning phase, out of the data in which the sensor data at the time of normality and the sensor data at the time of abnormality are mixed, the sensor data at the time of abnormality is learned as teacher data, and the abnormal data is detected at the detection phase. If close data is input, it is determined as abnormal.

特開2017−142654号公報JP, 2017-142654, A

しかしながら、上記した従来の手法では、異常時のセンサデータを教師データとしているので、異常時におけるセンサデータを取得するのに時間と手間がかかるという課題があった。例えば、プラント等の設備においては、故障が起こらないように入念に設計されているため、異常時のデータを入手することが困難であった。 However, in the above-mentioned conventional method, since the sensor data at the time of abnormality is used as the teacher data, there is a problem that it takes time and effort to acquire the sensor data at the time of abnormality. For example, in equipment such as a plant, it is difficult to obtain data at the time of abnormality because it is carefully designed so that no failure occurs.

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の異常監視装置は、検知対象機器の異常度合いを出力するための複数のモデルであって、それぞれ異なる機械学習手法が適用された複数のモデルに対して、前記検知対象機器に設置されたセンサによって取得されたデータをそれぞれ入力し、各モデルの機械学習を行う学習部と、前記センサによって取得されたデータを入力として、前記各モデルを用いて前記検知対象機器の異常度合いをそれぞれ出力する出力部とを有することを特徴とする。 In order to solve the above problems and achieve the object, the abnormality monitoring device of the present invention is a plurality of models for outputting the abnormality degree of a detection target device, and a plurality of models to which different machine learning methods are applied. For each model, the data acquired by the sensor installed in the detection target device is input, and the learning unit that performs machine learning of each model and the data acquired by the sensor are input, and each model is input. Is used to output the degree of abnormality of each of the detection target devices.

また、本発明の異常監視方法は、異常監視装置によって実行される異常監視方法であって、検知対象機器の異常度合いを出力するための複数のモデルであって、それぞれ異なる機械学習手法が適用された複数のモデルに対して、前記検知対象機器に設置されたセンサによって取得されたデータをそれぞれ入力し、各モデルの機械学習を行う学習工程と、前記センサによって取得されたデータを入力として、前記各モデルを用いて前記検知対象機器の異常度合いをそれぞれ出力する出力工程とを含んだことを特徴とする。 Further, the abnormality monitoring method of the present invention is an abnormality monitoring method executed by an abnormality monitoring device, and is a plurality of models for outputting the abnormality degree of a detection target device, and different machine learning methods are applied to each model. For each of the plurality of models, the data acquired by the sensor installed in the detection target device is respectively input, and the learning step of performing machine learning of each model, and the data acquired by the sensor as input, And an output step of outputting the degree of abnormality of the detection target device by using each model.

また、本発明の異常監視プログラムは、検知対象機器の異常度合いを出力するための複数のモデルであって、それぞれ異なる機械学習手法が適用された複数のモデルに対して、前記検知対象機器に設置されたセンサによって取得されたデータをそれぞれ入力し、各モデルの機械学習を行う学習ステップと、前記センサによって取得されたデータを入力として、前記各モデルを用いて前記検知対象機器の異常度合いをそれぞれ出力する出力ステップとをコンピュータに実行させることを特徴とする。 Further, the abnormality monitoring program of the present invention is a plurality of models for outputting an abnormality degree of a detection target device, and is installed in the detection target device for a plurality of models to which different machine learning methods are applied. Each of the data acquired by the sensor is input, the learning step of performing machine learning of each model, and the data acquired by the sensor as an input, the abnormality degree of the detection target device using each of the models, respectively. And outputting the output step to the computer.

本発明によれば、教師データを用意しなかった場合でも、検知対象機器の異常を容易かつ精度よく監視することができるという効果を奏する。 According to the present invention, it is possible to easily and accurately monitor the abnormality of the detection target device even when the teacher data is not prepared.

図1は、第1の実施形態に係る異常監視システムの構成例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of an abnormality monitoring system according to the first embodiment. 図2は、第1の実施形態に係る異常監視装置の構成例を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a configuration example of the abnormality monitoring device according to the first embodiment. 図3は、センサデータ記憶部に記憶されるデータの一例を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating an example of data stored in the sensor data storage unit. 図4は、第1の実施形態に係る異常監視装置における画面表示例を説明する図である。FIG. 4 is a diagram illustrating a screen display example in the abnormality monitoring device according to the first embodiment. 図5は、第1の実施形態に係る異常監視装置における全体の処理の流れを説明する図である。FIG. 5 is a diagram illustrating an overall processing flow in the abnormality monitoring device according to the first embodiment. 図6は、第1の実施形態に係る異常監視装置における処理の流れの一例を示すフローチャートである。FIG. 6 is a flowchart showing an example of the flow of processing in the abnormality monitoring device according to the first embodiment. 図7は、第2の実施形態に係る異常監視装置の構成例を示すブロック図である。FIG. 7 is a block diagram showing a configuration example of the abnormality monitoring device according to the second embodiment. 図8は、第2の実施形態に係る異常監視装置における全体の処理の流れを説明する図である。FIG. 8 is a diagram illustrating an overall processing flow in the abnormality monitoring device according to the second embodiment. 図9は、第2の実施形態に係る異常監視装置における処理の流れの一例を示すフローチャートである。FIG. 9 is a flowchart showing an example of the flow of processing in the abnormality monitoring device according to the second embodiment. 図10は、異常監視プログラムを実行するコンピュータを示す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating a computer that executes an abnormality monitoring program.

以下に、本願に係る異常監視装置、異常監視方法および異常監視プログラムの実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態により本願に係る異常監視装置、異常監視方法および異常監視プログラムが限定されるものではない。 Hereinafter, embodiments of an abnormality monitoring device, an abnormality monitoring method, and an abnormality monitoring program according to the present application will be described in detail with reference to the drawings. It should be noted that the abnormality monitoring device, the abnormality monitoring method, and the abnormality monitoring program according to the present application are not limited by this embodiment.

[第1の実施形態]
以下の実施の形態では、第1の実施形態に係る異常監視システム100の構成、異常監視装置10の構成、異常監視装置10の処理の流れを順に説明し、最後に第1の実施形態による効果を説明する。
[First Embodiment]
In the following embodiments, the configuration of the abnormality monitoring system 100 according to the first embodiment, the configuration of the abnormality monitoring device 10, and the processing flow of the abnormality monitoring device 10 will be sequentially described, and finally, the effect of the first embodiment. Will be explained.

[制御システムの構成]
図1は、第1の実施形態に係る異常監視システムの構成例を示すブロック図である。第1の実施形態に係る異常監視システム100は、異常監視装置10、検知対象機器20およびユーザ端末30を有し、インターネット等のネットワーク40を介して互いに接続されている。なお、図1に示す構成は一例にすぎず、具体的な構成や各装置の数は特に限定されない。
[Control system configuration]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of an abnormality monitoring system according to the first embodiment. The abnormality monitoring system 100 according to the first embodiment includes an abnormality monitoring device 10, a detection target device 20, and a user terminal 30, and is connected to each other via a network 40 such as the Internet. The configuration shown in FIG. 1 is merely an example, and the specific configuration and the number of each device are not particularly limited.

異常監視装置10は、検知対象機器20に設置されたセンサ21によって取得されたデータを収集する。そして、異常監視装置10は、検知対象機器20の異常度合いを出力するための複数のモデルであって、それぞれ異なる機械学習手法が適用された複数のモデルに対して、収集されたデータをそれぞれ入力し、各モデルの機械学習を行う。そして、異常監視装置10は、収集されたデータを入力として、各モデルから出力された検知対象機器20の異常度合いを示す時系列のグラフデータをユーザ端末30の表示部(図示せず)に出力する。 The abnormality monitoring device 10 collects the data acquired by the sensor 21 installed in the detection target device 20. Then, the abnormality monitoring device 10 inputs the collected data to a plurality of models for outputting the degree of abnormality of the detection target device 20 and a plurality of models to which different machine learning methods are applied, respectively. Then, machine learning of each model is performed. Then, the abnormality monitoring device 10 inputs the collected data and outputs the time-series graph data indicating the abnormality degree of the detection target device 20 output from each model to the display unit (not shown) of the user terminal 30. To do.

検知対象機器20は、異常検知の対象となるIoT(Internet of Things)機器であり、どのような機器であってもよく、例えば、プラント内装置、建物空調、データセンタ内ラック、コインランドリの洗濯機、店舗の業務用冷蔵庫、コンビニのカフェマシン、パーキングの精算機、工場の装置、ロボットアーム等である。 The detection target device 20 is an IoT (Internet of Things) device that is a target of abnormality detection, and may be any device, for example, a device in a plant, a building air conditioner, a rack in a data center, a coin laundry washing machine. , Store commercial refrigerators, convenience store cafe machines, parking adjustment machines, factory equipment, robot arms, etc.

また、検知対象機器20には、各種データを取得するセンサ21が設置されている。例えば、検知対象機器20には、センサ21として、薄型の貼り付けセンサが貼り付けられる。なお、検知対象機器20の複数の箇所にセンサ21を設けてもよいし、検知対象機器20の周辺にセンサ21を設けるようにしてもよい。なお、図1では省略しているが、検知対象機器20は、例えば、OT(Operational Technology)ネットワーク等に接続され、OTネットワークを介してインターネット等のネットワーク40に接続されているものとする。 Further, the detection target device 20 is provided with a sensor 21 that acquires various data. For example, a thin attachment sensor is attached as the sensor 21 to the detection target device 20. The sensors 21 may be provided at a plurality of locations on the detection target device 20, or the sensors 21 may be provided around the detection target device 20. Although omitted in FIG. 1, it is assumed that the detection target device 20 is connected to, for example, an OT (Operational Technology) network or the like, and is connected to a network 40 such as the Internet via the OT network.

センサ21は、検知対象機器20に関する各種センサデータを取得する。例えば、センサ21は、加速度(3軸)、光度、温度、湿度、磁力、圧力等のセンサデータを取得する。また、センサ21が、薄型の貼り付けセンサである場合には、例えば、温度について、接着面の温度(検知対象機器20の表面温度)のセンサデータと、接着面と反対側の温度(検知対象機器20の周囲の温度)のセンサデータを取得する。 The sensor 21 acquires various sensor data regarding the detection target device 20. For example, the sensor 21 acquires sensor data such as acceleration (3 axes), luminous intensity, temperature, humidity, magnetic force, and pressure. When the sensor 21 is a thin stick sensor, for example, regarding temperature, sensor data of the temperature of the adhesive surface (surface temperature of the detection target device 20) and the temperature on the opposite side of the adhesive surface (detection target) The sensor data of the ambient temperature of the device 20) is acquired.

ユーザ端末30は、例えば、デスクトップ型PC、タブレット型PC、ノート型PC、スマートフォン、携帯電話機、PDA(Personal Digital Assistant)等の情報処理装置である。ユーザ端末30では、例えば、検知対象機器20の管理者による操作を受け付けて、検知対象機器20の異常度合いを示す時系列のグラフデータを画面に表示する。 The user terminal 30 is, for example, an information processing device such as a desktop PC, a tablet PC, a notebook PC, a smartphone, a mobile phone, a PDA (Personal Digital Assistant), or the like. In the user terminal 30, for example, the operation of the administrator of the detection target device 20 is accepted, and time-series graph data indicating the abnormality degree of the detection target device 20 is displayed on the screen.

[異常監視装置の構成]
次に、図2を用いて、異常監視装置10の構成を説明する。図2は、第1の実施形態に係る異常監視装置の構成例を示すブロック図である。図2に示すように、この異常監視装置10は、通信処理部11、制御部12および記憶部13を有する。以下に異常監視装置10が有する各部の処理を説明する。
[Abnormality monitoring device configuration]
Next, the configuration of the abnormality monitoring device 10 will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a block diagram showing a configuration example of the abnormality monitoring device according to the first embodiment. As shown in FIG. 2, this abnormality monitoring device 10 has a communication processing unit 11, a control unit 12, and a storage unit 13. The processing of each unit of the abnormality monitoring device 10 will be described below.

通信処理部11は、各種情報に関する通信を制御する。例えば、通信処理部11は、検知対象機器20のセンサ21からセンサデータの受信をしたり、ユーザ端末30に学習結果を送信したりする。 The communication processing unit 11 controls communication regarding various types of information. For example, the communication processing unit 11 receives sensor data from the sensor 21 of the detection target device 20 and transmits the learning result to the user terminal 30.

記憶部13は、制御部12による各種処理に必要なデータおよびプログラムを格納するが、特に本発明に密接に関連するものとしては、センサデータ記憶部13aおよび異常データ記憶部13bを有する。例えば、記憶部13は、RAM(Random Access Memory)、フラッシュメモリ(Flash Memory)等の半導体メモリ素子、又は、ハードディスク、光ディスク等の記憶装置などである。 The storage unit 13 stores data and programs required for various processes by the control unit 12, and particularly, those closely related to the present invention include a sensor data storage unit 13a and an abnormal data storage unit 13b. For example, the storage unit 13 is a semiconductor memory device such as a RAM (Random Access Memory) or a flash memory (Flash Memory), or a storage device such as a hard disk or an optical disk.

センサデータ記憶部13aは、後述する収集部12aによって検知対象機器20のセンサ21から収集されたセンサデータを記憶する。例えば、センサデータ記憶部13aは、センサデータが取得された時刻に対応付けて、各種センサデータの値を記憶する。ここで、図3の例を用いて、センサデータ記憶部13aに記憶されるデータの一例について説明する。図3は、センサデータ記憶部に記憶されるデータの一例を示す図である。図3に例示するように、センサ21がセンサデータを取得した「時刻」に対応付けて、「加速度(X軸)、加速度(Y軸)、加速度(Z軸)、光度、気温等の各種センサデータの値を記憶する。 The sensor data storage unit 13a stores the sensor data collected from the sensor 21 of the detection target device 20 by the collecting unit 12a described later. For example, the sensor data storage unit 13a stores the values of various sensor data in association with the time when the sensor data was acquired. Here, an example of data stored in the sensor data storage unit 13a will be described using the example of FIG. FIG. 3 is a diagram illustrating an example of data stored in the sensor data storage unit. As illustrated in FIG. 3, various sensors such as “acceleration (X axis), acceleration (Y axis), acceleration (Z axis), luminous intensity, and air temperature are associated with “time” when the sensor 21 acquires the sensor data. Store the value of data.

異常データ記憶部13bは、後述する複数のモデルが算出した異常度合いを記憶する。例えば、異常データ記憶部13bは、機械学習手法がそれぞれ異なる各モデルの学習結果として、各モデルが算出した異常度合いを示す値を時刻に対応付けて記憶する。 The abnormality data storage unit 13b stores the degree of abnormality calculated by a plurality of models described below. For example, the abnormal data storage unit 13b stores a value indicating the degree of abnormality calculated by each model in association with time as a learning result of each model having different machine learning methods.

制御部12は、各種の処理手順などを規定したプログラムおよび所要データを格納するための内部メモリを有し、これらによって種々の処理を実行するが、特に本発明に密接に関連するものとしては、収集部12a、学習部12bおよび出力部12cを有する。ここで、制御部12は、CPU(Central Processing Unit)やMPU(Micro Processing Unit)などの電子回路やASIC(Application Specific Integrated Circuit)やFPGA(Field Programmable Gate Array)などの集積回路である。 The control unit 12 has an internal memory for storing a program that defines various processing procedures and the like and required data, and executes various processing by these, and particularly, as those closely related to the present invention, It has a collection unit 12a, a learning unit 12b, and an output unit 12c. Here, the control unit 12 is an electronic circuit such as a CPU (Central Processing Unit) or an MPU (Micro Processing Unit), or an integrated circuit such as an ASIC (Application Specific Integrated Circuit) or an FPGA (Field Programmable Gate Array).

収集部12aは、検知対象機器20に設置されたセンサ21によって取得されたセンサデータを収集する。具体的には、収集部12aは、検知対象機器20に設置されたセンサ21のセンサデータを収集し、時刻と紐付けてセンサデータをセンサデータ記憶部13aに格納する。 The collection unit 12a collects the sensor data acquired by the sensor 21 installed in the detection target device 20. Specifically, the collection unit 12a collects the sensor data of the sensor 21 installed in the detection target device 20, stores the sensor data in the sensor data storage unit 13a in association with the time.

例えば、収集部12aは、工場やオフィスなどの検知対象機器20に設置されたセンサ21からセンサデータを定期的(例えば、1秒ごと)に収集し、センサデータ記憶部13aに格納する。ここでセンサ21が取得するセンサデータとは、例えば、加速度(3軸)、光度、温度、湿度、磁力、圧力等の各種データである。なお、収集部12aがセンサデータを収集するタイミングは、どのようなタイミングであってもよく、所定の時間間隔で定期的に収集してもよいし、所定の条件を満たした際に収集するようにしてもよい。 For example, the collection unit 12a collects sensor data from the sensor 21 installed in the detection target device 20 such as a factory or office at regular intervals (for example, every one second), and stores the sensor data in the sensor data storage unit 13a. Here, the sensor data acquired by the sensor 21 is, for example, various data such as acceleration (three axes), luminous intensity, temperature, humidity, magnetic force, and pressure. Note that the collection unit 12a may collect the sensor data at any timing, such that the collection unit 12a may collect the sensor data at regular intervals, or may collect the sensor data when a predetermined condition is satisfied. You may

学習部12bは、検知対象機器20の異常度合いを出力するための複数のモデルであって、それぞれ異なる機械学習手法が適用された複数のモデルに対して、収集部12aによって収集されたセンサデータをそれぞれ入力し、各モデルの機械学習を行う。 The learning unit 12b outputs the sensor data collected by the collection unit 12a to a plurality of models for outputting the degree of abnormality of the detection target device 20 and a plurality of models to which different machine learning methods are applied. Input each and perform machine learning of each model.

例えば、学習部12bは、機械学習手法として、MT(Mahalanobis Taguchi Method)法、ARIMA(Autoregressive Integrated Moving Average Model)法、LOF(Local Outlier Factor)法、SST(Social Skills Training)法(特異スペクトル変換法)、オートエンコーダ法およびLSTM(Long Short-term Memory)法をそれぞれ適用した各モデルに対して、センサデータを入力し、教師なし機械学習を行う。なお、機械学習の手法は、上記の例に限定されるものではなく、どのような機械学習手法を適用してもよい。 For example, the learning unit 12b uses MT (Mahalanobis Taguchi Method) method, ARIMA (Autoregressive Integrated Moving Average Model) method, LOF (Local Outlier Factor) method, and SST (Social Skills Training) method (singular spectrum conversion method) as machine learning methods. ), the automatic encoder method and the LSTM (Long Short-term Memory) method are applied to each model, and sensor data is input to perform unsupervised machine learning. The machine learning method is not limited to the above example, and any machine learning method may be applied.

出力部12cは、収集部12aによって収集されたセンサデータを入力として、各モデルを用いて検知対象機器20の異常度合いをそれぞれ出力する。例えば、出力部12cは、ユーザ端末30から異常度合いの出力要求があった場合には、異常データ記憶部13bから各モデルがそれぞれ算出した異常度合いのデータを読み出し、各モデルがそれぞれ算出した異常度合いを示す時系列のグラフデータを作成し、該グラフデータをユーザ端末30に出力する。 The output unit 12c receives the sensor data collected by the collection unit 12a as an input, and outputs the abnormality degree of the detection target device 20 using each model. For example, when the output request of the abnormality degree is issued from the user terminal 30, the output unit 12c reads the abnormality degree data calculated by each model from the abnormality data storage unit 13b, and the abnormality degree calculated by each model. Is generated and the graph data is output to the user terminal 30.

ここで、図4の例を用いて、第1の実施形態に係る異常監視装置10における画面表示例を説明する。図4は、第1の実施形態に係る異常監視装置における画面表示例を説明する図である。図4の例では、複数のグラフデータを並べて表示している。図4に例示するように、画面左側にセンサ21によって計測された「計測データ」として、「加速度(3軸)」、「傾き(3軸)」、「磁力(3軸)」、「光度」、「気温」および「気圧」について、それぞれ時系列のグラフデータが表示されている。 Here, a screen display example in the abnormality monitoring device 10 according to the first embodiment will be described using the example of FIG. FIG. 4 is a diagram illustrating a screen display example in the abnormality monitoring device according to the first embodiment. In the example of FIG. 4, a plurality of graph data are displayed side by side. As illustrated in FIG. 4, as the “measurement data” measured by the sensor 21 on the left side of the screen, “acceleration (3 axes)”, “tilt (3 axes)”, “magnetic force (3 axes)”, “luminosity”. , "Temperature" and "atmospheric pressure" are displayed as time-series graph data.

また、画面右側に「AIが判定した異常度合い」として、「MT法」が適用されたモデル、「特異スペクトル変換法」が適用されたモデル、「LOF法」が適用されたモデル、「ARIMA法」が適用されたモデル、「LSTM」が適用されたモデルおよび、「オートエンコーダ」が適用されたモデルそれぞれが算出した異常度合いを示す時系列のグラフデータが表示されている。なお、「AIが判定した異常度合い」のグラフにおいて、閾値が太線で表示されており、異常度合いが太線を超えている場合に、異常と判定される。例えば、図4に例示する「MT法」が適用されたモデルでは、閾値が「50」と設定されている場合を例示している。この閾値は、手動で設定されてもよいし、学習等により自動で設定されてもよい。 Further, on the right side of the screen, as the "abnormality determined by AI", the model to which the "MT method" is applied, the model to which the "singular spectrum conversion method" is applied, the model to which the "LOF method" is applied, and the "ARIMA method" ”Is applied, the model to which “LSTM” is applied, and the time series graph data indicating the degree of abnormality calculated for each model to which the “auto encoder” is applied are displayed. In the graph of “abnormality degree determined by AI”, the threshold value is displayed with a thick line, and when the abnormality degree exceeds the thick line, it is determined to be abnormal. For example, in the model to which the “MT method” illustrated in FIG. 4 is applied, the threshold value is set to “50”. This threshold may be set manually, or may be automatically set by learning or the like.

このように、異常監視装置10では、複数のグラフデータを並べて表示することで、検知対象機器20の管理者が各モデルの学習結果を比較することを容易とし、いずれの学習手法が共通的に異常判定しているのか把握することができる。また、異常監視装置10では、管理者が実際に検知対象機器20に異常が発生した時刻を把握している場合には、該当する時刻において、適正に異常を検知できたモデルを特定し易い。また、異常監視装置10では、画面左側にセンサデータの値が表示されるので、センサデータと学習結果との因果関係を把握することでき、さらに、必要なセンサデータの項目と不要なセンサデータの項目の選別をし易くすることが可能である。 As described above, in the abnormality monitoring device 10, by displaying a plurality of graph data side by side, the administrator of the detection target device 20 can easily compare the learning results of the models, and any learning method can be commonly used. It is possible to understand whether or not an abnormality has been determined. Further, in the abnormality monitoring device 10, when the administrator knows the time when the abnormality has actually occurred in the detection target device 20, it is easy to specify the model in which the abnormality can be properly detected at the corresponding time. Further, in the abnormality monitoring device 10, since the value of the sensor data is displayed on the left side of the screen, the causal relationship between the sensor data and the learning result can be grasped, and further, the items of the necessary sensor data and the unnecessary sensor data can be displayed. It is possible to facilitate selection of items.

なお、図4の表示例はあくまで一例であり、これに限定されるものではなく、例えば、一つのグラフに、各モデルがそれぞれ算出した異常度合いの結果をそれぞれ色を分けして表示してもよい。これにより、異常監視装置10では、複数の学習手法で共通的に異常とされる箇所を見やすくすることが可能である。また、グラフの並びについても、図4の例に限定されるものではなく、予めグラフの並びが設定されていてもよし、ユーザが指定できるようにしてもよいし、異常検知の頻度や精度が高いものを左上に表示する等、動的に変更するようにしてもよい。また、異常監視装置10では、管理者が適正に異常を検知できるモデルを選択することで、選択されたモデルのグラフのみを表示するようにしてもよい。つまり、異常監視装置10では、検知対象機器20の監視に相性の良い学習方法のみを選択したり、優先表示したりすることが可能である。 Note that the display example of FIG. 4 is merely an example, and the present invention is not limited to this. For example, even if the results of the degree of abnormality calculated by each model are displayed in different colors in one graph, for example. Good. Thereby, in the abnormality monitoring device 10, it is possible to make it easy to see a portion commonly regarded as abnormal by a plurality of learning methods. Also, the arrangement of the graphs is not limited to the example of FIG. 4, and the arrangement of the graphs may be set in advance, may be designated by the user, or the frequency and accuracy of abnormality detection may be set. You may make it change dynamically, such as displaying a high thing on the upper left. Further, in the abnormality monitoring device 10, the administrator may select a model capable of properly detecting an abnormality so that only the graph of the selected model is displayed. That is, in the abnormality monitoring device 10, it is possible to select or preferentially display only the learning method that is compatible with the monitoring of the detection target device 20.

次に、図5の例を用いて、第1の実施形態に係る異常監視装置10における全体の処理の流れを説明する。図5は、第1の実施形態に係る異常監視装置における全体の処理の流れを説明する図である。図5に例示するように、異常監視装置10は、検知対象機器20のセンサ21からセンサデータを定期的に収集する(図5の(1)参照)。そして、異常監視装置10は、センサデータを収集するたびに、収集されたセンサデータを各モデルA〜モデルFにそれぞれ入力し、リアルタイムに並行して教師なし機械学習を行う(図5の(2)参照)。 Next, the flow of the overall processing in the abnormality monitoring device 10 according to the first embodiment will be described using the example of FIG. FIG. 5 is a diagram illustrating an overall processing flow in the abnormality monitoring device according to the first embodiment. As illustrated in FIG. 5, the abnormality monitoring device 10 periodically collects sensor data from the sensor 21 of the detection target device 20 (see (1) in FIG. 5). Then, the abnormality monitoring device 10 inputs the collected sensor data to each of the models A to F each time the sensor data is collected, and performs unsupervised machine learning in parallel in real time ((2 in FIG. 5). )reference).

そして、異常監視装置10は、ユーザ端末30から出力要求があった場合には、各モデルがそれぞれ算出した異常度合いを学習結果としてユーザ端末30に出力する(図5の(3)参照)。このように、異常監視装置10は、一度に複数のモデルでリアルタイムに学習させて、それぞれの学習結果をユーザ端末30に表示するので、異常時のデータを取得することが難しい環境にある検知対象機器20であっても、どのモデルが最適であるかの検討を管理者に同時に実施させることできるため、最適な学習手法を適用したモデルを用いて、検知対象機器20の異常を容易かつ精度よく監視することが可能である。 Then, when there is an output request from the user terminal 30, the abnormality monitoring device 10 outputs the abnormality degree calculated by each model to the user terminal 30 as a learning result (see (3) in FIG. 5). In this way, the abnormality monitoring device 10 makes a plurality of models learn at once in real time, and displays the learning results of the respective models on the user terminal 30. Therefore, it is difficult to acquire data at the time of an abnormality. Since even the device 20 can allow the administrator to simultaneously examine which model is the best, the abnormality of the detection target device 20 can be easily and accurately detected using the model to which the optimum learning method is applied. It is possible to monitor.

つまり、検知対象機器20の種類や個別的な特徴、環境等により、どの学習手法が優れているかで変わりえるが、異常監視装置10では、このように複数のモデルの学習結果を表示することで、検知対象機器20の監視に相性の良い学習方法を選択したり、優先表示したりすることが可能である。また、異常監視装置10では、教師データを準備することやセンサ21の種類を選択する手間を省くことができるため、センサ21と機械学習を用いた異常監視を早期に始めることが可能である。 That is, depending on the type of the detection target device 20, the individual characteristics, the environment, and the like, which learning method is superior may change, but the abnormality monitoring device 10 displays the learning results of a plurality of models in this way. It is possible to select a learning method having good compatibility with the monitoring of the detection target device 20 or to display the learning method with priority. Further, in the abnormality monitoring device 10, since it is possible to save the trouble of preparing the teacher data and selecting the type of the sensor 21, it is possible to start the abnormality monitoring using the sensor 21 and machine learning at an early stage.

[異常監視装置の処理手順]
次に、図6を用いて、第1の実施形態に係る異常監視装置10による処理手順の例を説明する。図6は、第1の実施形態に係る異常監視装置における処理の流れの一例を示すフローチャートである。
[Procedure for processing an abnormality monitoring device]
Next, an example of a processing procedure by the abnormality monitoring device 10 according to the first embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a flowchart showing an example of the flow of processing in the abnormality monitoring device according to the first embodiment.

図6に例示するように、異常監視装置10の収集部12aは、検知対象機器20におけるセンサ21のデータを収集すると(ステップS101肯定)、収集したデータをセンサデータ記憶部13aに格納する(ステップS102)。そして、学習部12bは、それぞれ異なる機械学習手法が適用された複数のモデルに対して、収集されたセンサデータをそれぞれ入力し(ステップS103)、各モデルの機械学習を行う(ステップS104)。 As illustrated in FIG. 6, when the collection unit 12a of the abnormality monitoring device 10 collects the data of the sensor 21 in the detection target device 20 (Yes in step S101), the collected data is stored in the sensor data storage unit 13a (step S101). S102). Then, the learning unit 12b inputs the collected sensor data to a plurality of models to which different machine learning methods are applied (step S103), and performs machine learning of each model (step S104).

そして、出力部12cは、ユーザ端末30から各モデルの学習結果である異常度合いの出力要求を受け付けたか判定し(ステップS105)、異常度合いの出力要求を受け付けた場合には(ステップS105肯定)、各モデルの学習結果をユーザ端末30に出力する(ステップS106)。また、異常度合いの出力要求を受け付けなかった場合には(ステップS105否定)、そのまま処理を終了する。なお、図6の例では、ステップS101〜S106の処理を一連の処理として記載したが、ステップS101〜S104の処理とステップS105〜S106の処理とは別個に行われる処理であってもよい。 Then, the output unit 12c determines whether the output request of the abnormality degree which is the learning result of each model is received from the user terminal 30 (step S105), and when the output request of the abnormality degree is received (step S105 affirmative), The learning result of each model is output to the user terminal 30 (step S106). If the output request of the abnormality degree is not accepted (No at Step S105), the process is ended as it is. In addition, in the example of FIG. 6, the processes of steps S101 to S106 are described as a series of processes, but the processes of steps S101 to S104 and the processes of steps S105 to S106 may be performed separately.

(第1の実施形態の効果)
第1の実施形態に係る異常監視装置10は、検知対象機器20に設置されたセンサ21によって取得されたセンサデータを収集し、検知対象機器20の異常度合いを出力するための複数のモデルであって、それぞれ異なる機械学習手法が適用された複数のモデルに対して、収集されたセンサデータをそれぞれ入力し、各モデルの機械学習を行う。そして、異常監視装置10は、収集されたデータを入力として、各モデルを用いて検知対象機器20の異常度合いをそれぞれ出力する。このため、異常監視装置10では、教師データを用意しなかった場合でも、検知対象機器20の異常を容易かつ精度よく監視することが可能である。
(Effect of the first embodiment)
The abnormality monitoring device 10 according to the first embodiment is a plurality of models for collecting sensor data acquired by the sensor 21 installed in the detection target device 20 and outputting the abnormality degree of the detection target device 20. Then, the collected sensor data is input to a plurality of models to which different machine learning methods are applied, and machine learning of each model is performed. Then, the abnormality monitoring device 10 receives the collected data as an input and outputs the abnormality degree of the detection target device 20 using each model. Therefore, the abnormality monitoring device 10 can easily and accurately monitor the abnormality of the detection target device 20 even if the teacher data is not prepared.

また、異常監視装置10では、各モデルがそれぞれ算出した異常度合いを示す時系列のグラフデータを表示部に出力することで、検知対象機器20の管理者が各モデルの学習結果を比較することを容易とし、例えば、適正に異常を検知できたモデルを特定し易くすることが可能である。 Further, in the abnormality monitoring device 10, the administrator of the detection target device 20 compares the learning results of the models by outputting the time-series graph data showing the degree of abnormality calculated by each model to the display unit. It is possible to make it easier, for example, to easily identify the model in which the abnormality has been properly detected.

(第2の実施形態)
上述した第1の実施形態では、異常監視装置10が、各モデルが算出した異常度合いをそれぞれ出力する場合を説明したが、これに限定されるものではない。例えば、各モデルがそれぞれ算出した異常度合いを用いて、検知対象機器20の異常を検知し、検知対象機器20の異常が検知された場合には、検知対象機器20の異常検知結果をユーザ端末30に出力するようにしてもよい。
(Second embodiment)
In the above-described first embodiment, the case where the abnormality monitoring device 10 outputs the abnormality degree calculated by each model has been described, but the present invention is not limited to this. For example, when the abnormality of the detection target device 20 is detected by using the abnormality degree calculated by each model and the abnormality of the detection target device 20 is detected, the abnormality detection result of the detection target device 20 is displayed as the user terminal 30. You may make it output to.

そこで、以下では、第2の実施形態に係る異常監視装置10Aが、各モデルがそれぞれ算出した異常度合いを入力データとして、異常を検知するためのモデルを用いて、検知対象機器20の異常を検知し、検知対象機器20の異常が検知された場合には、検知対象機器20の異常検知結果をユーザ端末30に出力する場合について説明する。なお、第1の実施形態に係る異常監視装置10と同様の構成や処理については説明を省略する。 Therefore, hereinafter, the abnormality monitoring device 10A according to the second embodiment detects an abnormality of the detection target device 20 by using a model for detecting an abnormality using the abnormality degree calculated by each model as input data. Then, a case where the abnormality detection result of the detection target device 20 is output to the user terminal 30 when the abnormality of the detection target device 20 is detected will be described. Note that description of the same configuration and processing as those of the abnormality monitoring device 10 according to the first embodiment will be omitted.

図7は、第2の実施形態に係る異常監視装置の構成例を示すブロック図である。図7に例示するように、第2の実施形態に係る異常監視装置10Aは、第1の実施形態に係る異常監視装置10と比較して、検知部12dを有する点が異なる。 FIG. 7 is a block diagram showing a configuration example of the abnormality monitoring device according to the second embodiment. As illustrated in FIG. 7, the abnormality monitoring device 10A according to the second embodiment is different from the abnormality monitoring device 10 according to the first embodiment in that a detection unit 12d is included.

検知部12dは、各モデルがそれぞれ算出した異常度合いを用いて、検知対象機器20の異常を検知する。具体的には、検知部12dは、各モデルがそれぞれ算出した異常度合いを入力データとして、異常を検知するためのモデルを用いて、検知対象機器20の異常を検知する。 The detection unit 12d detects the abnormality of the detection target device 20 using the abnormality degree calculated by each model. Specifically, the detection unit 12d detects the abnormality of the detection target device 20 by using the model for detecting the abnormality, with the abnormality degree calculated by each model as input data.

出力部12cは、検知部12dによって検知対象機器20の異常が検知された場合には、検知対象機器20の異常検知結果をユーザ端末30に出力する。例えば、出力部12cは、異常検知結果として、図4に例示した場合と同様に、グラフで表示してもよいし、異常を検知した旨のメッセージやアラートをユーザ端末30に出力するようにしてもよい。 When the detection unit 12d detects an abnormality in the detection target device 20, the output unit 12c outputs the abnormality detection result of the detection target device 20 to the user terminal 30. For example, the output unit 12c may display the abnormality detection result in a graph as in the case illustrated in FIG. 4, or output a message or alert indicating that the abnormality is detected to the user terminal 30. Good.

次に、図8の例を用いて、第2の実施形態に係る異常監視装置10Aにおける全体の処理の流れを説明する。図8は、第2の実施形態に係る異常監視装置における全体の処理の流れを説明する図である。図8に例示するように、異常監視装置10Aは、検知対象機器20のセンサ21からセンサデータを定期的に収集する(図8の(1)参照)。そして、異常監視装置10Aは、センサデータを収集するたびに、収集されたセンサデータを各モデルA〜モデルFにそれぞれ入力し、リアルタイムに並行して教師なし機械学習を行う(図8の(2)参照)。 Next, the flow of the overall processing in the abnormality monitoring device 10A according to the second embodiment will be described using the example of FIG. FIG. 8 is a diagram illustrating an overall processing flow in the abnormality monitoring device according to the second embodiment. As illustrated in FIG. 8, the abnormality monitoring device 10A periodically collects sensor data from the sensor 21 of the detection target device 20 (see (1) in FIG. 8). Then, the abnormality monitoring device 10A inputs the collected sensor data to each of the models A to F every time the sensor data is collected, and performs unsupervised machine learning in parallel in real time ((2 in FIG. 8). )reference).

そして、異常監視装置10Aは、異常を検知するためのモデルGに対して各モデルA〜モデルFの学習結果を入力し(図8の(3)参照)、モデルGによって検知対象機器20の異常が検知された場合には、検知対象機器20の異常検知結果をユーザ端末30に出力する(図8の(4)参照)。なお、ユーザ端末30から異常検知結果を確認した管理者が異常検知結果に対するフィードバックを入力してもよい。 Then, the abnormality monitoring device 10A inputs the learning result of each of the models A to F to the model G for detecting the abnormality (see (3) in FIG. 8), and the abnormality of the detection target device 20 is detected by the model G. If is detected, the abnormality detection result of the detection target device 20 is output to the user terminal 30 (see (4) in FIG. 8). An administrator who confirms the abnormality detection result from the user terminal 30 may input feedback on the abnormality detection result.

このように、異常監視装置10Aは、複数のモデルA〜モデルFでリアルタイムに学習させ、それぞれの学習結果を入力データとして利用して、さらにモデルGの機械学習を行うことで、教師データの準備を行わなくとも、検知対象機器20の異常を容易かつ精度よく検知することが可能である。なお、図8の例では、モデルA〜モデルF全ての学習結果を利用する場合を説明したが、これに限定されるものではなく、例えば、管理者が検知対象機器20と相性の良いモデルを選んだり、相性の良くないモデルを指定して除外したりすることで、検知対象機器20と相性の良いモデルのみの学習結果を利用するようにしてもよい。 As described above, the abnormality monitoring device 10A prepares the teacher data by performing the learning in real time with the plurality of models A to F, using the learning results of the respective models as the input data, and further performing the machine learning of the model G. Without performing the above, it is possible to detect the abnormality of the detection target device 20 easily and accurately. In the example of FIG. 8, the case where the learning results of all the models A to F are used has been described, but the present invention is not limited to this. For example, the administrator may select a model that is compatible with the detection target device 20. The learning result of only the model having a good compatibility with the detection target device 20 may be used by selecting or excluding the model having a bad compatibility.

また、上記の説明では、異常を検知するためのモデルGに対して各モデルA〜モデルFの学習結果を入力してモデルGの機械学習を行う場合を説明したが、これに限定されるものではなく、例えば、各モデルA〜モデルFが出力する異常検知の度合いから異常を検知したか否かをそれぞれ判定し、所定数以上(例えば、2つ以上)のモデルが異常を検知した場合には、異常検知結果をユーザ端末30に出力するようにしてもよい。 Further, in the above description, the case where the learning result of each of the models A to F is input to the model G for detecting an abnormality and the machine learning of the model G is performed has been described, but the invention is not limited to this. Instead, for example, it is determined whether or not an abnormality has been detected based on the degree of abnormality detection output from each of the models A to F, and when a predetermined number or more (for example, two or more) of the models have detected the abnormality. May output the abnormality detection result to the user terminal 30.

[異常監視装置の処理手順]
次に、図9を用いて、第2の実施形態に係る異常監視装置10Aによる処理手順の例を説明する。図9は、第2の実施形態に係る異常監視装置における処理の流れの一例を示すフローチャートである。
[Procedure for processing an abnormality monitoring device]
Next, an example of a processing procedure performed by the abnormality monitoring device 10A according to the second embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 9 is a flowchart showing an example of the flow of processing in the abnormality monitoring device according to the second embodiment.

図9に例示するように、異常監視装置10Aの収集部12aは、検知対象機器20におけるセンサ21のデータを収集すると(ステップS201肯定)、収集したデータをセンサデータ記憶部13aを格納する(ステップS202)。そして、学習部12bは、それぞれ異なる機械学習手法が適用された複数のモデルに対して、収集されたセンサデータをそれぞれ入力し(ステップS203)、各モデルの機械学習を行う(ステップS204)。 As illustrated in FIG. 9, when the collection unit 12a of the abnormality monitoring device 10A collects the data of the sensor 21 in the detection target device 20 (Yes in step S201), the collected data is stored in the sensor data storage unit 13a (step S201). S202). Then, the learning unit 12b inputs the collected sensor data to a plurality of models to which different machine learning methods are applied (step S203), and performs machine learning of each model (step S204).

そして、検知部12dは、各モデルがそれぞれ算出した異常度合いを用いて、検知対象機器20の異常を判定する(ステップS205)。この結果、検知部12dが検知対象機器20の異常を判定しなかった場合には(ステップS206否定)、そのまま処理を終了する。また、検知部12dが検知対象機器20の異常を判定した場合には(ステップS206肯定)、出力部12cは、検知部12dによって検知対象機器20の異常が検知された場合には、検知対象機器20の異常検知結果をユーザ端末30に出力する(ステップS207)。 Then, the detection unit 12d determines the abnormality of the detection target device 20 by using the abnormality degree calculated by each model (step S205). As a result, when the detection unit 12d does not determine the abnormality of the detection target device 20 (No at Step S206), the process is ended. Further, when the detection unit 12d determines that the detection target device 20 is abnormal (Yes at Step S206), the output unit 12c determines that the detection target device 20 is detected when the detection unit 12d detects an abnormality. The abnormality detection result of 20 is output to the user terminal 30 (step S207).

(第2の実施形態の効果)
第2の実施形態に係る異常監視装置10Aは、各モデルがそれぞれ算出した異常度合いを入力データとして、異常を検知するためのモデルを用いて、検知対象機器20の異常を検知し、検知対象機器20の異常が検知された場合には、検知対象機器20の異常検知結果をユーザ端末30に出力するので、教師データの準備をしなかった場合でも、検知対象機器20の異常を容易かつ精度よく検知することが可能である。
(Effects of the second embodiment)
The abnormality monitoring device 10A according to the second embodiment detects the abnormality of the detection target device 20 by using the model for detecting the abnormality with the abnormality degree calculated by each model as input data, and detects the abnormality. When the abnormality of the detection target device 20 is detected, the abnormality detection result of the detection target device 20 is output to the user terminal 30, so that the abnormality of the detection target device 20 can be detected easily and accurately even if the teacher data is not prepared. It is possible to detect.

つまり、異常監視装置10Aでは、例えば、検知対象機器20のセンサ21から日々のセンサデータを取得して各モデルの機械学習を行い、異常時におけるセンサデータの学習を行わずして異常を検知して管理者に通知することが可能である。 That is, in the abnormality monitoring device 10A, for example, daily sensor data is acquired from the sensor 21 of the detection target device 20, machine learning of each model is performed, and the abnormality is detected without learning the sensor data at the time of abnormality. It is possible to notify the administrator.

また、上記の第1の実施形態および第2の実施形態の説明では本発明が好適に効果を奏する教師なしデータの例で説明したが、本願発明はこれに限定されることなく、教師データが用意できるのであればもちろん教師あり機械学習にも適用可能であり、その際は通常の単一の学習済モデルによる教師あり機械学習に比べて高い精度が得られる。 Further, in the above description of the first embodiment and the second embodiment, the example of the unsupervised data in which the present invention is preferably effective is described, but the present invention is not limited to this, and the teaching data is not limited to this. Of course, if it can be prepared, it can be applied to supervised machine learning, and in that case, higher accuracy can be obtained as compared with ordinary supervised machine learning by a single learned model.

(システム構成等)
また、図示した各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。さらに、各装置にて行なわれる各処理機能は、その全部または任意の一部が、CPUおよび当該CPUにて解析実行されるプログラムにて実現され、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現され得る。
(System configuration, etc.)
Further, each component of each device shown in the drawings is functionally conceptual and does not necessarily have to be physically configured as shown. That is, the specific form of distribution/integration of each device is not limited to that shown in the figure, and all or part of the device may be functionally or physically distributed/arranged in arbitrary units according to various loads and usage conditions. It can be integrated and configured. Further, each processing function performed by each device may be implemented entirely or in part by a CPU and a program that is analyzed and executed by the CPU, or may be realized as hardware by a wired logic.

また、本実施の形態において説明した各処理のうち、自動的におこなわれるものとして説明した処理の全部または一部を手動的におこなうこともでき、あるいは、手動的におこなわれるものとして説明した処理の全部または一部を公知の方法で自動的におこなうこともできる。この他、上記文書中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種のデータやパラメータを含む情報については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。 Further, of the processes described in the present embodiment, all or part of the processes described as being automatically performed may be manually performed, or the processes described as being manually performed. Alternatively, all or part of the above can be automatically performed by a known method. In addition, the processing procedures, control procedures, specific names, and information including various data and parameters shown in the above-mentioned documents and drawings can be arbitrarily changed unless otherwise specified.

(プログラム)
また、上記実施形態において説明した異常監視装置が実行する処理をコンピュータが実行可能な言語で記述したプログラムを作成することもできる。例えば、実施形態に係る異常監視装置10が実行する処理をコンピュータが実行可能な言語で記述した異常監視プログラムを作成することもできる。この場合、コンピュータが異常監視プログラムを実行することにより、上記実施形態と同様の効果を得ることができる。さらに、かかる異常監視プログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録された異常監視プログラムをコンピュータに読み込ませて実行することにより上記実施形態と同様の処理を実現してもよい。
(program)
It is also possible to create a program in which the processing executed by the abnormality monitoring device described in the above embodiment is described in a computer-executable language. For example, it is possible to create an abnormality monitoring program in which the processing executed by the abnormality monitoring apparatus 10 according to the embodiment is described in a computer-executable language. In this case, the computer executes the abnormality monitoring program to obtain the same effect as that of the above embodiment. Further, even if the abnormality monitoring program is recorded in a computer-readable recording medium, and the abnormality monitoring program recorded in the recording medium is read by a computer and executed, the same processing as that of the above-described embodiment is realized. Good.

図10は、異常監視プログラムを実行するコンピュータを示す図である。図10に例示するように、コンピュータ1000は、例えば、メモリ1010と、CPU1020と、ハードディスクドライブインタフェース1030と、ディスクドライブインタフェース1040と、シリアルポートインタフェース1050と、ビデオアダプタ1060と、ネットワークインタフェース1070とを有し、これらの各部はバス1080によって接続される。 FIG. 10 is a diagram illustrating a computer that executes an abnormality monitoring program. As illustrated in FIG. 10, the computer 1000 has, for example, a memory 1010, a CPU 1020, a hard disk drive interface 1030, a disk drive interface 1040, a serial port interface 1050, a video adapter 1060, and a network interface 1070. However, these units are connected by a bus 1080.

メモリ1010は、図10に例示するように、ROM(Read Only Memory)1011及びRAM1012を含む。ROM1011は、例えば、BIOS(Basic Input Output System)等のブートプログラムを記憶する。ハードディスクドライブインタフェース1030は、図10に例示するように、ハードディスクドライブ1090に接続される。ディスクドライブインタフェース1040は、図10に例示するように、ディスクドライブ1100に接続される。例えば磁気ディスクや光ディスク等の着脱可能な記憶媒体が、ディスクドライブ1100に挿入される。シリアルポートインタフェース1050は、図10に例示するように、例えばマウス1110、キーボード1120に接続される。ビデオアダプタ1060は、図10に例示するように、例えばディスプレイ1130に接続される。 The memory 1010 includes a ROM (Read Only Memory) 1011 and a RAM 1012, as illustrated in FIG. The ROM 1011 stores, for example, a boot program such as a BIOS (Basic Input Output System). The hard disk drive interface 1030 is connected to the hard disk drive 1090, as illustrated in FIG. The disk drive interface 1040 is connected to the disk drive 1100, as illustrated in FIG. For example, a removable storage medium such as a magnetic disk or an optical disk is inserted into the disk drive 1100. The serial port interface 1050 is connected to, for example, a mouse 1110 and a keyboard 1120 as illustrated in FIG. The video adapter 1060 is connected to, for example, the display 1130, as illustrated in FIG.

ここで、図10に例示するように、ハードディスクドライブ1090は、例えば、OS1091、アプリケーションプログラム1092、プログラムモジュール1093、プログラムデータ1094を記憶する。すなわち、上記の、異常監視プログラムは、コンピュータ1000によって実行される指令が記述されたプログラムモジュールとして、例えばハードディスクドライブ1090に記憶される。 Here, as illustrated in FIG. 10, the hard disk drive 1090 stores, for example, an OS 1091, an application program 1092, a program module 1093, and program data 1094. That is, the above-mentioned abnormality monitoring program is stored in, for example, the hard disk drive 1090 as a program module in which a command executed by the computer 1000 is described.

また、上記実施形態で説明した各種データは、プログラムデータとして、例えばメモリ1010やハードディスクドライブ1090に記憶される。そして、CPU1020が、メモリ1010やハードディスクドライブ1090に記憶されたプログラムモジュール1093やプログラムデータ1094を必要に応じてRAM1012に読み出し、各種処理手順を実行する。 The various data described in the above embodiments are stored as program data in, for example, the memory 1010 or the hard disk drive 1090. Then, the CPU 1020 reads the program module 1093 and the program data 1094 stored in the memory 1010 or the hard disk drive 1090 into the RAM 1012 as necessary, and executes various processing procedures.

なお、異常監視プログラムに係るプログラムモジュール1093やプログラムデータ1094は、ハードディスクドライブ1090に記憶される場合に限られず、例えば着脱可能な記憶媒体に記憶され、ディスクドライブ等を介してCPU1020によって読み出されてもよい。あるいは、異常監視プログラムに係るプログラムモジュール1093やプログラムデータ1094は、ネットワーク(LAN(Local Area Network)、WAN(Wide Area Network)等)を介して接続された他のコンピュータに記憶され、ネットワークインタフェース1070を介してCPU1020によって読み出されてもよい。 The program module 1093 and the program data 1094 related to the abnormality monitoring program are not limited to being stored in the hard disk drive 1090, but may be stored in, for example, a removable storage medium and read by the CPU 1020 via the disk drive or the like. Good. Alternatively, the program module 1093 and the program data 1094 related to the abnormality monitoring program are stored in another computer connected via a network (LAN (Local Area Network), WAN (Wide Area Network), etc.), and the network interface 1070 is used. It may be read by the CPU 1020 via the.

上記の実施形態やその変形は、本願が開示する技術に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 The above-described embodiments and modifications thereof are included in the invention described in the claims and equivalents thereof, as well as included in the technology disclosed in the present application.

10、10A 異常監視装置
11 通信処理部
12 制御部
12a 収集部
12b 学習部
12c 出力部
12d 検知部
13 記憶部
13a センサデータ記憶部
13b 異常データ記憶部
20 検知対象機器
21 センサ
30 ユーザ端末
100 異常監視システム
10, 10A Abnormality monitoring device 11 Communication processing unit 12 Control unit 12a Collection unit 12b Learning unit 12c Output unit 12d Detection unit 13 Storage unit 13a Sensor data storage unit 13b Abnormal data storage unit 20 Detection target device 21 Sensor 30 User terminal 100 Abnormality monitoring system

Claims (3)

検知対象機器の異常度合いを出力するための複数のモデルであって、それぞれ異なる機械学習手法が適用された複数のモデルに対して、前記検知対象機器に設置されたセンサによって取得されたデータをそれぞれ入力し、各モデルの機械学習を行う学習部と、
前記センサによって取得されたデータを入力として、前記各モデルを用いて前記検知対象機器の異常度合いを示す時系列のグラフデータをそれぞれ作成し、複数のグラフデータを同一画面上に表示する出力部と
を有することを特徴とする異常監視装置。
A plurality of models for outputting the abnormality degree of the detection target device, for each of a plurality of models to which different machine learning method is applied, the data acquired by the sensor installed in the detection target device, respectively A learning unit that inputs and performs machine learning of each model,
With the data acquired by the sensor as input, time series graph data indicating the degree of abnormality of the detection target device is created by using each of the models, and an output unit that displays a plurality of graph data on the same screen. An abnormality monitoring device comprising:
異常監視装置によって実行される異常監視方法であって、
検知対象機器の異常度合いを出力するための複数のモデルであって、それぞれ異なる機械学習手法が適用された複数のモデルに対して、前記検知対象機器に設置されたセンサによって取得されたデータをそれぞれ入力し、各モデルの機械学習を行う学習工程と、
前記センサによって取得されたデータを入力として、前記各モデルを用いて前記検知対象機器の異常度合いを示す時系列のグラフデータをそれぞれ作成し、複数のグラフデータを同一画面上に表示する出力工程と
を含んだことを特徴とする異常監視方法。
An abnormality monitoring method executed by an abnormality monitoring device, comprising:
A plurality of models for outputting the abnormality degree of the detection target device, for each of a plurality of models to which different machine learning method is applied, the data acquired by the sensor installed in the detection target device, respectively A learning process of inputting and performing machine learning of each model,
With the data acquired by the sensor as input, time series graph data indicating the abnormality degree of the detection target device is created using each of the models, and an output step of displaying a plurality of graph data on the same screen , An abnormality monitoring method comprising:
検知対象機器の異常度合いを出力するための複数のモデルであって、それぞれ異なる機械学習手法が適用された複数のモデルに対して、前記検知対象機器に設置されたセンサによって取得されたデータをそれぞれ入力し、各モデルの機械学習を行う学習ステップと、
前記センサによって取得されたデータを入力として、前記各モデルを用いて前記検知対象機器の異常度合いを示す時系列のグラフデータをそれぞれ作成し、複数のグラフデータを同一画面上に表示する出力ステップと
をコンピュータに実行させることを特徴とする異常監視プログラム。
A plurality of models for outputting the abnormality degree of the detection target device, for each of a plurality of models to which different machine learning method is applied, the data acquired by the sensor installed in the detection target device, respectively A learning step of inputting and performing machine learning of each model,
With the data acquired by the sensor as input, time series graph data indicating the abnormality degree of the detection target device is created using each of the models, and an output step of displaying a plurality of graph data on the same screen , An abnormality monitoring program that causes a computer to execute.
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