JP6694099B1 - Method for producing photosensitive composition, photosensitive composition in paste form, method for producing electronic component and electronic component, device for determining blending ratio of organic components in photosensitive composition, computer program - Google Patents

Method for producing photosensitive composition, photosensitive composition in paste form, method for producing electronic component and electronic component, device for determining blending ratio of organic components in photosensitive composition, computer program Download PDF

Info

Publication number
JP6694099B1
JP6694099B1 JP2019128628A JP2019128628A JP6694099B1 JP 6694099 B1 JP6694099 B1 JP 6694099B1 JP 2019128628 A JP2019128628 A JP 2019128628A JP 2019128628 A JP2019128628 A JP 2019128628A JP 6694099 B1 JP6694099 B1 JP 6694099B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photosensitive composition
correlation
correlation equation
conductive powder
line width
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2019128628A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2021015155A (en
Inventor
佑一朗 佐合
佑一朗 佐合
省吾 長江
省吾 長江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Noritake Co Ltd
Original Assignee
Noritake Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Noritake Co Ltd filed Critical Noritake Co Ltd
Priority to JP2019128628A priority Critical patent/JP6694099B1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6694099B1 publication Critical patent/JP6694099B1/en
Priority to TW109116912A priority patent/TWI843853B/en
Priority to CN202080049490.8A priority patent/CN114096919A/en
Priority to PCT/JP2020/021134 priority patent/WO2021005910A1/en
Priority to KR1020227004215A priority patent/KR20220034178A/en
Publication of JP2021015155A publication Critical patent/JP2021015155A/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/0042Photosensitive materials with inorganic or organometallic light-sensitive compounds not otherwise provided for, e.g. inorganic resists
    • G03F7/0043Chalcogenides; Silicon, germanium, arsenic or derivatives thereof; Metals, oxides or alloys thereof
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
    • G03F7/38Treatment before imagewise removal, e.g. prebaking
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
    • G03F7/40Treatment after imagewise removal, e.g. baking
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/20Conductive material dispersed in non-conductive organic material
    • H01B1/22Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising metals or alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing conductors or cables
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing conductors or cables
    • H01B13/0026Apparatus for manufacturing conducting or semi-conducting layers, e.g. deposition of metal

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)
  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Manufacturing Of Electric Cables (AREA)

Abstract

【課題】所望の線幅で細線状の配線を再現性良く形成することができる感光性組成物を提供する。【解決手段】本発明により、予め定められた配合比で導電性粉末を含む感光性組成物を製造する方法が提供される。この製造方法は、使用する導電性粉末の粒径を測定して、実測値を得る工程(ステップS1);上記実測値を、上記使用する導電性粉末の種類に応じて予め用意された第1相関式と対比して、予め定められた目標レベルに対する予想ズレ値を確認する工程(ステップS2);上記使用する導電性粉末の種類に応じて予め用意された第2相関式に基づいて、上記予想ズレ値を打ち消すように有機成分の配合比を決定する工程(ステップS3);を包含する。【選択図】図2PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photosensitive composition capable of forming fine wiring with a desired line width with good reproducibility. According to the present invention, there is provided a method for producing a photosensitive composition containing a conductive powder in a predetermined blending ratio. In this manufacturing method, the particle size of the conductive powder used is measured to obtain an actual measurement value (step S1); the first actual measurement value is prepared in advance according to the type of the conductive powder used. A step of confirming an expected deviation value with respect to a predetermined target level in comparison with a correlation equation (step S2); based on a second correlation equation prepared in advance according to the type of the conductive powder to be used, The step of determining the compounding ratio of the organic components so as to cancel the expected deviation value (step S3); [Selection diagram] Figure 2

Description

本発明は、感光性組成物の製造方法、ペースト状の感光性組成物、電子部品の製造方法および電子部品、ならびに感光性組成物中の有機成分の配合比決定装置、コンピュータプログラムに関する。   The present invention relates to a method for producing a photosensitive composition, a paste-like photosensitive composition, a method for producing an electronic component and an electronic component, an apparatus for determining a mixing ratio of organic components in the photosensitive composition, and a computer program.

インダクタ等の電子部品の製造では、導電性粉末と光重合性樹脂と光重合開始剤とを含む感光性組成物を用いて、フォトリソグラフィ法により基材上に導電層を形成する手法が知られている(例えば特許文献1、2参照)。かかる方法では、まず、基材上に感光性組成物を付与し、乾燥させて、導電膜を成形する(導電膜の成形工程)。次に、上記成形した導電膜に所定の開口パターンを有するフォトマスクを被せ、フォトマスクを介して導電膜を露光する(露光工程)。これによって、導電膜の露光部分を光硬化させる。次に、フォトマスクで遮光されていた未露光部分を、現像液で腐食して除去する(現像工程)。そして、所望のパターンとなった導電膜を焼成することで基材に焼き付ける(焼成工程)。以上のような工程を含むフォトリソグラフィ法によれば、従来の各種印刷法に比べて精細な導電層を形成することができる。   In the manufacture of electronic components such as inductors, a method of forming a conductive layer on a substrate by photolithography using a photosensitive composition containing a conductive powder, a photopolymerizable resin, and a photopolymerization initiator is known. (See, for example, Patent Documents 1 and 2). In such a method, first, a photosensitive composition is applied onto a substrate and dried to form a conductive film (conductive film forming step). Next, the formed conductive film is covered with a photomask having a predetermined opening pattern, and the conductive film is exposed through the photomask (exposure step). As a result, the exposed portion of the conductive film is photo-cured. Next, the unexposed portion shielded from light by the photomask is corroded and removed by a developing solution (developing step). Then, the conductive film having a desired pattern is baked to be baked on the base material (baking step). According to the photolithography method including the steps as described above, a fine conductive layer can be formed as compared with the conventional various printing methods.

特許第5163687号Patent No. 5163687 国際公開2015/122345号International publication 2015/122345

ところで近年、各種電子機器の小型化や高性能化が急速に進み、電子機器に実装される電子部品に対しても一層の小型化や高密度化が求められている。これに伴い、積層チップインダクタ等の電子部品の製造にあたっては、導電層の低抵抗化と共に、細線化(狭小化)が求められている。より具体的には、導電層を構成する配線の線幅と隣り合う配線間のスペース(ラインアンドスペース:L/S)を、30μm/30μm以下、さらには20μm/20μm以下にまで微細化することが求められている。導電層のL/Sが小さいと、配線の線幅が僅かに太くなっただけで隣り合う配線同士がつながってショート不良を生じたり、逆に配線の線幅が僅かに細くなっただけで剥離や断線を生じたりしやすくなる。このため、例えば積層チップインダクタ等の電子部品では、線幅のバラつきが大きいと製品特性に悪影響が出たり、歩留まりが低くなったりしうる。したがって、量産化の観点からは、現像後の導電膜の線幅のバラつきを低く抑えることで、焼成後の導電層の線幅のバラつきを抑え、電子部品における細線状の配線を再現性良く形成することが必要となる。   By the way, in recent years, miniaturization and high performance of various electronic devices are rapidly progressing, and further miniaturization and high density of electronic components mounted on the electronic devices are required. Along with this, in the production of electronic components such as a multilayer chip inductor, it is required to reduce the resistance of the conductive layer and thin the wire (narrow). More specifically, the line width of the wirings forming the conductive layer and the space between adjacent wirings (line and space: L / S) are miniaturized to 30 μm / 30 μm or less, further 20 μm / 20 μm or less. Is required. If the L / S of the conductive layer is small, the line width of the wiring will be slightly thicker, and adjacent wires will be connected to each other to cause a short circuit defect. Conversely, if the line width of the wiring is slightly thin, peeling will occur. It is easy to cause wire breakage. For this reason, in an electronic component such as a multilayer chip inductor, a large variation in line width may adversely affect the product characteristics or reduce the yield. Therefore, from the viewpoint of mass production, by suppressing the variation in the line width of the conductive film after development to be low, the variation in the line width of the conductive layer after firing can be suppressed, and fine-line wiring in electronic components can be formed with good reproducibility. Will be required.

本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、その目的は、所望の線幅で細線状の配線を再現性良く形成することができる感光性組成物を提供することである。また、関連する他の目的は、電子部品の製造方法および電子部品を提供することである。また、関連する他の目的は、感光性組成物中の有機成分の配合比決定装置およびコンピュータプログラムを提供することである。   The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to provide a photosensitive composition capable of forming fine line-shaped wiring with a desired line width with good reproducibility. Another related object is to provide a method of manufacturing an electronic component and the electronic component. Another related object is to provide an apparatus and a computer program for determining a blending ratio of organic components in a photosensitive composition.

本発明者らが感光性組成物の各成分について鋭意検討を重ねたところ、新たに、導電性粉末の粒径が現像後の線幅を決定する1つの重要なファクターとなっていることが判明した。すなわち、図1(A)は、粒径が相対的に大きい導電性粉末1Aを用いた場合の露光工程の様子を表す模式的な側面図である。図1(A)に示すように、導電性粉末1Aの粒径が大きいと、フォトマスクの開口から導電膜の内部に侵入した光が導電性粉末1Aの表面で反射し、光散乱しやすい。このため、光が導電膜の水平方向に広がりやすくなる。その結果、フォトマスクの開口の周辺(フォトマスクで遮光した部分)にも光が届いてしまい、線幅がフォトマスクの開口の幅よりも太めになりやすい。これに対して、図1(B)は、粒径が相対的に小さい導電性粉末1Bを用いた場合の露光工程の様子を表す模式的な側面図である。図1(B)に示すように、導電性粉末1Bの粒径が小さいと、フォトマスクの開口から導電膜の内部に侵入した光が導電性粉末1Bの表面で反射されにくく、光の散乱が抑えられる。このため、光が導電膜の水平方向に広がりにくく、図1(A)に比べて線幅が相対的に細くなりやすい。このことから、線幅を安定させるためには、使用する導電性粉末の粒径を高度に管理することが望ましいといえる。   The inventors of the present invention have conducted extensive studies on each component of the photosensitive composition, and have found that the particle size of the conductive powder is newly an important factor for determining the line width after development. did. That is, FIG. 1A is a schematic side view showing the state of the exposure step when the conductive powder 1A having a relatively large particle size is used. As shown in FIG. 1A, when the particle size of the conductive powder 1A is large, light entering the inside of the conductive film through the opening of the photomask is reflected on the surface of the conductive powder 1A, and light is easily scattered. Therefore, light easily spreads in the horizontal direction of the conductive film. As a result, the light reaches the periphery of the opening of the photomask (the portion shielded by the photomask), and the line width tends to be thicker than the width of the opening of the photomask. On the other hand, FIG. 1B is a schematic side view showing the state of the exposure step when the conductive powder 1B having a relatively small particle size is used. As shown in FIG. 1B, when the particle size of the conductive powder 1B is small, the light entering the inside of the conductive film through the opening of the photomask is hardly reflected on the surface of the conductive powder 1B and the light is scattered. It can be suppressed. For this reason, light is unlikely to spread in the horizontal direction of the conductive film, and the line width tends to be relatively narrower than that in FIG. From this, in order to stabilize the line width, it can be said that it is desirable to highly control the particle size of the conductive powder used.

しかしながら、本発明者らの調査によれば、導電性粉末は、製造ロット(製品単位)が異なると多少なりとも粒径が変動する。例えば本発明者らが平均粒径(公称値)2.9μmのいくつかの製造ロットの導電性粉末を購入して実際に平均粒径を測定したところ、平均粒径(実測値)が公称値から±0.4μm程度変動していた。この変動は、製造工程でのバラつき等に起因するものと考えられる。したがって、このままでは導電性粉末の平均粒径(実測値)の変動により、線幅にバラつきが生じることが予想された。そこで本発明者らは、導電性粉末の製造ロット間の変動によって生じうる線幅のバラつきを、感光性組成物の製造時に緩衝できないかと考えた。そして、更なる検討を重ねた結果、本発明を創出するに至った。   However, according to the investigation by the present inventors, the particle size of the conductive powder varies more or less when the manufacturing lot (product unit) is different. For example, when the inventors purchased conductive powders of several manufacturing lots having an average particle size (nominal value) of 2.9 μm and actually measured the average particle size, the average particle size (actual measurement value) was found to be the nominal value. From ± 0.4 μm. This variation is considered to be caused by variations in the manufacturing process. Therefore, it was expected that the line width would vary due to fluctuations in the average particle size (actually measured value) of the conductive powder. Therefore, the present inventors wondered whether variations in the line width that could occur due to variations between conductive powder production lots could be buffered during the production of the photosensitive composition. As a result of further studies, the present invention was created.

本発明により、予め定められた配合比で導電性粉末を含む感光性組成物を製造する方法が提供される。この製造方法は、使用する導電性粉末の粒径を測定して、実測値を得る工程;上記実測値を、上記使用する導電性粉末の種類に応じて予め用意された第1相関式と対比して、予め定められた目標レベルに対する予想ズレ値を確認する工程;上記使用する導電性粉末の種類に応じて予め用意された第2相関式に基づいて、上記予想ズレ値を打ち消すように有機成分の配合比を決定する工程;を包含する。   According to the present invention, there is provided a method for producing a photosensitive composition containing a conductive powder in a predetermined compounding ratio. This manufacturing method is a step of measuring the particle size of the conductive powder to be used to obtain an actual measurement value; comparing the actual measurement value with a first correlation equation prepared in advance according to the type of the conductive powder used. Then, a step of confirming an expected shift value with respect to a predetermined target level; based on a second correlation formula prepared in advance according to the type of the conductive powder to be used, the above organic shift value is canceled so as to cancel Determining the blending ratio of the components;

上記製造方法では、感光性組成物の製造に使用する導電性粉末の粒径を事前に測定し、目標レベルに対する予想ズレ値をシミュレーションする。そして、シミュレーションの結果に基づいて予想ズレ値を打ち消すように有機成分の配合比を決定する。このことにより、導電性粉末の製造ロット間の変動による影響が小さくなり、導電性粉末の製造ロットの違いによって生じる線幅のバラつきを抑えることができる。したがって、導電性粉末の粒径をそれほど高度に管理する必要もなく、例えば購入する導電性粉末の生産ロットが途中で切り替わっても、所望の線幅を安定的に形成することが可能な感光性組成物を提供することができる。これにより、歩留まりを向上し量産性や生産性を向上することができる。   In the above-mentioned manufacturing method, the particle size of the conductive powder used for manufacturing the photosensitive composition is measured in advance, and an expected deviation value with respect to the target level is simulated. Then, based on the result of the simulation, the blending ratio of the organic components is determined so as to cancel the predicted deviation value. As a result, the influence of variations in the production lot of the conductive powder is reduced, and it is possible to suppress the variation in the line width caused by the difference in the production lot of the conductive powder. Therefore, it is not necessary to control the particle size of the conductive powder to a high degree, and for example, even if the production lot of the purchased conductive powder is switched in the middle, it is possible to stably form a desired line width. A composition can be provided. As a result, the yield can be improved and mass productivity and productivity can be improved.

ここで開示される好ましい一態様では、上記有機成分が、上記感光性組成物の光吸収性および光重合性のうちの少なくとも1つを調整する有機成分である。上記有機成分は、光重合開始剤系、光吸収剤、および重合禁止剤のうちの少なくとも1つであってもよい。上記有機成分は、光重合開始剤系であってもよい。このことにより、例えば感光性組成物中の光硬化成分(重合反応して硬化する成分。例えば光硬化性化合物。)の配合比を安定させることができ、導電膜の諸特性、例えば基材に対するタック性等を総じて高く維持したまま、ここに開示される技術の効果を奏することができる。   In a preferred embodiment disclosed herein, the organic component is an organic component that adjusts at least one of light absorption and photopolymerizability of the photosensitive composition. The organic component may be at least one of a photopolymerization initiator system, a light absorber, and a polymerization inhibitor. The organic component may be a photopolymerization initiator system. This makes it possible to stabilize the compounding ratio of, for example, a photocurable component (a component that is cured by a polymerization reaction, such as a photocurable compound) in the photosensitive composition, and various characteristics of the conductive film, for example, with respect to the substrate The effect of the technology disclosed herein can be achieved while maintaining high tackiness and the like as a whole.

上記第1相関式は、例えば、線幅と、上記導電性粉末の上記実測値との相関式で示される。上記第2相関式は、例えば、線幅と、上記有機成分の配合比との相関式で示される。上記第2相関式は、一次関数で示されるとよい。一次関数では2つの変数が比例関係にあるので、配合比の算出をシンプルかつ容易に行うことができる。   The first correlation equation is represented by, for example, a correlation equation between the line width and the actual measurement value of the conductive powder. The second correlation equation is represented by, for example, the correlation equation between the line width and the compounding ratio of the organic component. The second correlation equation may be represented by a linear function. Since the two variables have a proportional relationship in the linear function, the mixture ratio can be calculated simply and easily.

ここで開示される好ましい一態様では、上記導電性粉末が、銀系粒子を含む。このことにより、コストと低抵抗とのバランスに優れた導電層を実現することができる。   In a preferred embodiment disclosed herein, the conductive powder contains silver-based particles. This makes it possible to realize a conductive layer having an excellent balance between cost and low resistance.

ここで開示される好ましい一態様では、上記第1導電性粉末が、コアとなる金属材料と上記コアの表面の少なくとも一部を被覆するセラミック材料とを含んだコアシェル粒子である。このことにより、感光性組成物中での導電性粉末の安定性をより良く向上すると共に、高耐久性な導電層を実現することができる。また、例えばセラミック製の基材(セラミック基材)上に導電層を形成してセラミック電子部品を製造する用途では、セラミック基材との一体性を高めることができる。   In a preferred aspect disclosed herein, the first conductive powder is core-shell particles containing a metal material to be a core and a ceramic material coating at least a part of the surface of the core. This makes it possible to improve the stability of the conductive powder in the photosensitive composition better and to realize a highly durable conductive layer. In addition, for example, in the application of manufacturing a ceramic electronic component by forming a conductive layer on a ceramic base material (ceramic base material), the integrity with the ceramic base material can be improved.

また、本発明により、上記感光性組成物を基材上に付与して、光硬化およびエッチングを行った後、焼成して、上記感光性組成物の焼成体からなる導電層を形成する工程を含む、電子部品の製造方法が提供される。このような製造方法によれば、小型および/または高密度な導電層を備えた電子部品を好適に製造することができる。   Further, according to the present invention, a step of applying the photosensitive composition onto a substrate, performing photocuring and etching, and then firing to form a conductive layer formed of a fired body of the photosensitive composition. A method of manufacturing an electronic component is provided that includes: According to such a manufacturing method, it is possible to preferably manufacture an electronic component including a small-sized and / or high-density conductive layer.

また、本発明により、予め定められた配合比で導電性粉末を含む感光性組成物に対する有機成分の配合比を決定する配合比決定装置が提供される。この配合比決定装置は、利用者の入力を受け付けて、使用する導電性粉末の種類と粒径の実測値とが入力される入力部と、上記使用する導電性粉末の種類に応じて予め用意された第1相関式および第2相関式を記憶する記憶部と、上記第1相関式に基づいて、上記入力部に入力された上記実測値から、予め定められた目標レベルに対する予想ズレ値を算出する算出部と、上記第2相関式に基づいて、上記予想ズレ値を打ち消す有機成分の配合比を算出する第2算出部と、を包含する。また、本発明により、コンピュータを、上記配合比決定装置として動作させるように構成されている、コンピュータプログラムが提供される。これにより、計算ミスを防止して、例えば作業に習熟していない作業者であっても、容易に有機成分の配合比を決定することができる。   Further, according to the present invention, there is provided a compounding ratio determining device for determining a compounding ratio of an organic component to a photosensitive composition containing a conductive powder at a predetermined compounding ratio. This mixing ratio determination device is prepared in advance according to the type of conductive powder to be used, and an input section for receiving the user's input and inputting the type of conductive powder to be used and the measured value of the particle size. Based on the first correlation equation, a storage unit that stores the first correlation equation and the second correlation equation that have been calculated, and an expected deviation value with respect to a predetermined target level from the actual measurement value that is input to the input unit. It includes a calculating unit for calculating and a second calculating unit for calculating the blending ratio of the organic component that cancels the predicted deviation value based on the second correlation equation. Further, according to the present invention, there is provided a computer program configured to cause a computer to operate as the blending ratio determination device. As a result, calculation mistakes can be prevented, and even a worker who is not familiar with work can easily determine the blending ratio of organic components.

また、本発明により、上記感光性組成物の焼成体からなる導電層を備える、電子部品が提供される。上記感光性組成物によれば、細線状の配線を備えた導電層であっても安定して実現することができる。このため、上記感光性組成物によれば、小型および/または高密度な導電層を備えた電子部品を好適に実現することができる。   The present invention also provides an electronic component including a conductive layer made of a fired body of the above-mentioned photosensitive composition. According to the above-mentioned photosensitive composition, even a conductive layer provided with fine line-shaped wiring can be stably realized. Therefore, according to the photosensitive composition, it is possible to preferably realize an electronic component having a small-sized and / or high-density conductive layer.

また、本発明により、上記感光性組成物が有機系分散媒を含む、ペースト状の感光性組成物が提供される。ペースト状に調製することで、例えば塗布や印刷等の手段により、基材の所望の位置に所望の形態で上記感光性組成物を簡便に供給することができる。   The present invention also provides a paste-like photosensitive composition in which the photosensitive composition contains an organic dispersion medium. By preparing a paste, the photosensitive composition can be easily supplied to a desired position on the substrate in a desired form by means such as coating or printing.

導電膜の模式的な側面図であり、(A)は、平均粒径が大きい導電性粉末を用いた場合、(B)は、平均粒径が大きい導電性粉末を用いた場合の側面図である。It is a typical side view of a conductive film, (A) is a side view when using a conductive powder with a large average particle diameter, (B) is a side view when using a conductive powder with a large average particle diameter. is there. 本発明の一実施形態に係る製造方法のフローチャートである。6 is a flowchart of a manufacturing method according to an embodiment of the present invention. 積層チップインダクタの構造を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of a laminated chip inductor typically. 配合比決定装置の機能ブロック図である。It is a functional block diagram of a mixture ratio determination device. 実施例1に係る第1相関式の一例である。5 is an example of a first correlation expression according to the first embodiment. 光重合開始剤系に係る第2相関式の一例である。It is an example of the 2nd correlation type | formula which concerns on a photoinitiator system. 実線幅を比較したグラフである。It is a graph which compared the solid line width. 実施例2に係る第1相関式の一例である。9 is an example of a first correlation expression according to the second embodiment. 実施例2に係る第1相関式の一例である。9 is an example of a first correlation expression according to the second embodiment. 紫外線吸収剤に係る第2相関式の一例である。It is an example of the 2nd correlation type concerning an ultraviolet absorber. 光重合禁止剤に係る第2相関式の一例である。It is an example of the 2nd correlation type concerning a photopolymerization inhibitor.

以下、本発明の好適な実施形態を説明する。なお、本明細書において特に言及している事項以外の事柄であって本発明の実施に必要な事柄(例えば、導電膜や導電層の形成方法、電子部品の製造方法等)は、本明細書により教示されている技術内容と、当該分野における当業者の一般的な技術常識とに基づいて理解することができる。本発明は、本明細書に開示されている内容と当該分野における技術常識とに基づいて実施することができる。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described. Note that matters other than matters particularly referred to in the present specification and matters necessary for carrying out the present invention (for example, a method of forming a conductive film or a conductive layer, a method of manufacturing an electronic component, etc.) are described in the present specification. Can be understood on the basis of the technical contents taught by, and general common general knowledge of those skilled in the art. The present invention can be carried out based on the contents disclosed in this specification and the common general technical knowledge in the field.

なお、本明細書において「導電膜」とは、感光性組成物を有機成分の沸点以下の温度(概ね200℃以下、例えば100℃以下)で乾燥させた膜状体(乾燥物)をいう。導電膜は、未焼成(焼成前)の膜状体全般を包含する。導電膜は、光硬化前の未硬化物であってもよく、光硬化後の硬化物であってもよい。また、本明細書において「導電層」とは、感光性組成物を導電性粉末の焼結温度以上で焼成した焼結体(焼成物)をいう。導電層は、配線(線状体)、配線パターン、ベタパターン、を包含する。また、本明細書において範囲を示す「A〜B」の表記は、A以上B以下の意と共に、「好ましくはAより大きい」および「好ましくはBより小さい」の意を包含するものとする。   In the present specification, the "conductive film" refers to a film-like body (dried product) obtained by drying the photosensitive composition at a temperature not higher than the boiling point of the organic component (generally 200 ° C or lower, for example 100 ° C or lower). The conductive film includes all unbaked (before baking) film-like bodies. The conductive film may be an uncured product before photocuring or a cured product after photocuring. In addition, in the present specification, the “conductive layer” refers to a sintered body (baked product) obtained by baking the photosensitive composition at a sintering temperature of the conductive powder or higher. The conductive layer includes a wiring (linear body), a wiring pattern, and a solid pattern. Further, in the present specification, the notation of “A to B” indicating a range includes not only A or more and B or less but also “preferably larger than A” and “preferably smaller than B”.

≪感光性組成物の製造方法≫
本実施形態では、特に要求特性として線幅が重要であるという背景から、目標レベルの因子を線幅とした(線幅を対象とした)製造方法を説明する。すなわち、本実施形態において、予め定められた目標レベルは「目標線幅」で表され、予想ズレ値は「予想ズレ幅」で表される。ただし、後述するように、目標レベルの因子は、導電膜の光吸収度や光硬化度に起因するものであればよく、線幅に限定されるものではない。
<< Method for producing photosensitive composition >>
In the present embodiment, a manufacturing method in which the target level factor is the line width (targeting the line width) will be described from the background that the line width is particularly important as a required characteristic. That is, in the present embodiment, the predetermined target level is represented by "target line width", and the predicted deviation value is represented by "predicted deviation width". However, as will be described later, the factor of the target level is not limited to the line width as long as it is due to the light absorption degree or the light curing degree of the conductive film.

図2は、本実施形態に係る製造方法のフローチャートである。ここに開示される製造方法は、予め定められた配合比で導電性粉末を含む感光性組成物を製造する方法である。本実施形態において、かかる製造方法は、次のステップ:(ステップS1)平均粒径の測定工程;(ステップS2)予想ズレ幅の確認工程;(ステップS3)有機成分の配合比決定工程;(ステップS4)感光性組成物の調製工程;を包含する。以下、各工程について順に説明する。   FIG. 2 is a flowchart of the manufacturing method according to the present embodiment. The manufacturing method disclosed herein is a method for manufacturing a photosensitive composition containing a conductive powder in a predetermined compounding ratio. In this embodiment, the manufacturing method includes the following steps: (Step S1) average particle size measuring step; (Step S2) expected deviation width checking step; (Step S3) organic component blending ratio determining step; S4) preparing the photosensitive composition. Hereinafter, each step will be described in order.

<(ステップS1)平均粒径の測定工程>
本工程では、まず、感光性組成物の製造に使用する導電性粉末を用意する。導電性粉末は、導電層に電気伝導性を付与する成分である。導電性粉末は、市販品を購入してもよく、従来公知の方法で自ら作製してもよい。導電性粉末の種類は特に限定されず、従来公知のものの中から、例えば用途等に応じて、1種類を単独で、または2種類以上を適宜組み合わせて用いることができる。
<(Step S1) Average Particle Size Measuring Step>
In this step, first, a conductive powder used for producing the photosensitive composition is prepared. The conductive powder is a component that imparts electric conductivity to the conductive layer. As the conductive powder, a commercially available product may be purchased, or the conductive powder may be produced by a conventionally known method. The type of the conductive powder is not particularly limited, and from the conventionally known ones, one type can be used alone, or two or more types can be used in appropriate combination, depending on the application.

導電性粉末としては、例えば、金(Au)、銀(Ag)、銅(Cu)、白金(Pt)、パラジウム(Pd)、アルミニウム(Al)、ニッケル(Ni)、ルテニウム(Ru)、ロジウム(Rh)、タングステン(W)、イリジウム(Ir)、オスミウム(Os)等の金属の単体、およびこれらの混合物や合金等が挙げられる。合金としては、例えば、銀−パラジウム(Ag−Pd)、銀−白金(Ag−Pt)、銀−銅(Ag−Cu)等の銀合金が挙げられる。好適な一態様では、導電性粉末が銀系粒子を含んでいる。銀は比較的コストが安く、かつ電気伝導度が高い。このため、導電性粉末が銀系粒子を含むことでコストと低抵抗とのバランスに優れた導電層を実現することができる。なお、本明細書において「銀系粒子」とは、銀成分を含むもの全般を包含する。銀系粒子の一例として、銀の単体、上記した銀合金、銀系粒子をコアとするコアシェル粒子、例えば銀−セラミックのコアシェル粒子等が挙げられる。   Examples of the conductive powder include gold (Au), silver (Ag), copper (Cu), platinum (Pt), palladium (Pd), aluminum (Al), nickel (Ni), ruthenium (Ru), rhodium ( Rh), tungsten (W), iridium (Ir), osmium (Os), and other simple substances of metals, and mixtures and alloys thereof can be used. Examples of the alloy include silver alloys such as silver-palladium (Ag-Pd), silver-platinum (Ag-Pt), and silver-copper (Ag-Cu). In a preferred aspect, the conductive powder contains silver-based particles. Silver has relatively low cost and high electrical conductivity. Therefore, when the conductive powder contains silver particles, a conductive layer having an excellent balance between cost and low resistance can be realized. In addition, in this specification, "silver-based particles" include all particles including a silver component. Examples of silver-based particles include silver simple substance, the above-described silver alloy, core-shell particles having silver-based particles as a core, for example, silver-ceramic core-shell particles.

導電性粉末は、その表面に有機表面処理剤が付着していてもよい。有機表面処理剤は、例えば、感光性組成物中における導電性粉末の分散性を向上する、導電性粉末と他の含有成分との親和性を高める、導電性粉末を構成する金属の表面酸化を防止する、のうちの少なくとも1つの目的で使用されうる。有機表面処理剤としては、例えば、カルボン酸等の脂肪酸、ベンゾトリアゾール系化合物等が挙げられる。   An organic surface treatment agent may be attached to the surface of the conductive powder. The organic surface treatment agent, for example, improves the dispersibility of the conductive powder in the photosensitive composition, enhances the affinity between the conductive powder and other components, and oxidizes the surface of the metal forming the conductive powder. Can be used for at least one of: Examples of the organic surface treatment agent include fatty acids such as carboxylic acids and benzotriazole compounds.

好適な一態様では、導電性粉末が、金属−セラミックのコアシェル粒子を含んでいる。金属−セラミックのコアシェル粒子は、金属材料を含むコア部と、セラミック材料を含み、コア部の表面の少なくとも一部を被覆する被覆部と、を有する。被覆部は、典型的には複数の微細なセラミック粒子を含んで構成されている。被覆部を構成するセラミック粒子の平均粒径は、典型的にはコア部を構成する金属材料の平均粒径よりも小さく、例えば金属材料の平均粒径の1/1000〜1/2、さらには1/100〜1/10程度であってもよい。セラミック材料は、化学的安定性や耐熱性、耐久性に優れる。このため、金属−セラミックのコアシェル粒子の形態を採用することにより、感光性組成物中での導電性粉末の安定性をより良く向上すると共に、高耐久性な導電層を実現することができる。また、例えばセラミック製の基材上に導電層を形成してセラミック電子部品を製造する用途では、セラミック基材との一体性を高めることができ、焼成後の導電層の剥離や断線を好適に抑えることができる。   In a preferred embodiment, the electrically conductive powder comprises metal-ceramic core-shell particles. The metal-ceramic core-shell particle has a core portion containing a metal material, and a coating portion containing a ceramic material and coating at least a part of the surface of the core portion. The coating typically comprises a plurality of fine ceramic particles. The average particle diameter of the ceramic particles forming the coating portion is typically smaller than the average particle diameter of the metal material forming the core portion, for example, 1/1000 to 1/2 of the average particle diameter of the metal material, and further, It may be about 1/100 to 1/10. Ceramic materials have excellent chemical stability, heat resistance, and durability. Therefore, by adopting the morphology of the metal-ceramic core-shell particles, the stability of the conductive powder in the photosensitive composition can be better improved and a highly durable conductive layer can be realized. In addition, for example, in the application of manufacturing a ceramic electronic component by forming a conductive layer on a ceramic base material, it is possible to enhance the integrity with the ceramic base material, and it is preferable to remove or break the conductive layer after firing. Can be suppressed.

特に限定されるものではないが、コアシェル粒子の被覆部を構成するセラミック材料としては、例えば、酸化ジルコニウム(ジルコニア)、酸化マグネシウム(マグネシア)、酸化アルミニウム(アルミナ)、酸化ケイ素(シリカ)、酸化チタン(チタニア)、酸化セリウム(セリア)、酸化イットリウム(イットリア)、チタン酸バリウム等の酸化物系材料;コーディエライト、ムライト、フォルステライト、ステアタイト、サイアロン、ジルコン、フェライト等の複合酸化物系材料;窒化ケイ素(シリコンナイトライド)、窒化アルミニウム(アルミナイトライド)等の窒化物系材料;炭化ケイ素(シリコンカーバイド)等の炭化物系材料;ハイドロキシアパタイト等の水酸化物系材料;等が挙げられる。例えばセラミック製の基材上に導電層を形成して、セラミック電子部品を製造する用途では、セラミック基材と同じあるいは親和性に優れたセラミック材料が好ましい。特に限定されるものではないが、コアシェル粒子におけるセラミック材料の含有比率は、例えばコア部の金属材料100質量部に対して0.01〜5.0質量部であってもよい。   Although not particularly limited, examples of the ceramic material forming the coating portion of the core-shell particles include zirconium oxide (zirconia), magnesium oxide (magnesia), aluminum oxide (alumina), silicon oxide (silica), and titanium oxide. (Titania), cerium oxide (ceria), yttrium oxide (yttria), oxide materials such as barium titanate; composite oxide materials such as cordierite, mullite, forsterite, steatite, sialon, zircon, and ferrite. A nitride material such as silicon nitride (silicon nitride) and aluminum nitride (aluminum nitride); a carbide material such as silicon carbide (silicon carbide); a hydroxide material such as hydroxyapatite; For example, in the application for producing a ceramic electronic component by forming a conductive layer on a ceramic base material, a ceramic material having the same or excellent affinity as the ceramic base material is preferable. Although not particularly limited, the content ratio of the ceramic material in the core-shell particles may be 0.01 to 5.0 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the metal material of the core part.

特に限定されるものではないが、市販の導電性粉末を使用する場合は、露光性能(例えば光吸収度や光硬化度)との兼ね合いから、導電性粉末の平均粒径(公称値)が、概ね0.1〜10μmであってもよい。平均粒径(公称値)を上記範囲とすることで、細線状の配線を一層安定的に形成することができる。感光性組成物中での凝集を抑制して感光性組成物の保存安定性を向上する観点からは、導電性粉末の平均粒径(公称値、例えば、レーザー回折・散乱法の測定やSEM観察等に基づく値)が、例えば、0.5μm以上、1μm以上、1.5μm以上、2μm以上であってもよい。また、細線形成性を向上したり、導電層の緻密化や低抵抗化を進めたりする観点からは、導電性粉末の平均粒径(公称値)が、例えば、5μm以下、4.5μm以下、4μm以下であってもよい。   Although not particularly limited, when a commercially available conductive powder is used, the average particle size (nominal value) of the conductive powder is, in consideration of exposure performance (for example, light absorption or photocurability). It may be approximately 0.1 to 10 μm. By setting the average particle size (nominal value) within the above range, it is possible to more stably form the thin wire wiring. From the viewpoint of suppressing the aggregation in the photosensitive composition and improving the storage stability of the photosensitive composition, the average particle diameter of the conductive powder (nominal value, for example, measurement by laser diffraction / scattering method or SEM observation And the like) may be, for example, 0.5 μm or more, 1 μm or more, 1.5 μm or more, 2 μm or more. Further, from the viewpoint of improving the fine wire forming property and promoting the densification and low resistance of the conductive layer, the average particle diameter (nominal value) of the conductive powder is, for example, 5 μm or less, 4.5 μm or less, It may be 4 μm or less.

特に限定されるものではないが、導電性粉末は、典型的には、平均アスペクト比が概ね1〜2の略球状、好ましくは1〜1.5、例えば1〜1.3の球状である。このことにより、露光性能をより安定的に実現することができる。なお、本明細書において「平均アスペクト比」とは、導電性粉末を構成する複数の導電性粒子を電子顕微鏡で観察し、得られた観察画像から算出されるアスペクト比の算術平均値(長径/短径比)をいう。また、本明細書において「球状」とは、全体として概ね球体(ボール)と見なせる形態であることを示し、楕円状、多角体状、円盤球状等をも含みうる。   Although not particularly limited, the conductive powder typically has a spherical shape with an average aspect ratio of approximately 1 to 2, preferably 1 to 1.5, for example, 1 to 1.3. This makes it possible to more stably realize the exposure performance. In the present specification, the "average aspect ratio" means observing a plurality of conductive particles forming a conductive powder with an electron microscope, and calculating an arithmetic average value of the aspect ratio (long diameter / major axis). (Short diameter ratio). Further, in the present specification, the term “spherical” means that it can be regarded as a sphere (ball) as a whole, and may include an ellipse, a polygon, a disc sphere, and the like.

特に限定されるものではないが、導電性粉末は、JIS Z 8781:2013年に基づくL表色系において、明度Lが50以上であるとよい。このことにより、露光時に未硬化の導電膜の深部にまで安定して光が届くようになり、例えば、膜厚が5μm以上、さらには10μm以上のような厚めの導電層をも安定的に形成することができる。上記観点からは、導電性粉末の明度Lが、概ね55以上、例えば60以上であってもよい。なお、明度Lの測定は、例えばJIS Z 8722:2009年に準拠する分光測色計で行うことができる。 Although not particularly limited, the conductive powder preferably has a lightness L * of 50 or more in the L * a * b * color system based on JIS Z 8781: 2013. As a result, light can stably reach the deep portion of the uncured conductive film at the time of exposure, and for example, a thick conductive layer having a film thickness of 5 μm or more, and even 10 μm or more can be stably formed. can do. From the above viewpoint, the brightness L * of the conductive powder may be approximately 55 or more, for example, 60 or more. The lightness L * can be measured with a spectrocolorimeter conforming to JIS Z 8722: 2009, for example.

本工程では、次に、使用する導電性粉末の平均粒径を実測する。平均粒径の測定方法、測定装置および測定条件ならびに測定結果の解析条件は、後述する第1相関式の算出時と統一するとよい。これにより、後の予想ズレ幅の確認工程(ステップS2)における予想精度を向上することができる。一例では、レーザー回折・散乱法に基づく粒度分布測定装置を用いて粒度分布測定を行う。例えば、マイクロトラック・ベル株式会社製のマイクロトラックMT−3000IIシリーズを用いることにより、概ね0.02〜2800μmの粒径範囲を測定することができる。粒度分布測定により、導電性粉末の体積基準の粒度分布が得られる。そして、粒度分布において、粒径の小さい側から積算値50%に相当する粒径(D50粒径)を「平均粒径(実測値)」とする。以上のようにして、感光性組成物の製造に使用する導電性粉末の平均粒径(実測値)を取得する。   In this step, next, the average particle size of the conductive powder used is measured. The measuring method of the average particle diameter, the measuring device and the measuring conditions, and the analysis condition of the measurement result may be the same as those at the time of calculating the first correlation equation described later. As a result, it is possible to improve the prediction accuracy in the subsequent step of confirming the predicted deviation width (step S2). In one example, particle size distribution measurement is performed using a particle size distribution measuring device based on the laser diffraction / scattering method. For example, by using the Microtrac MT-3000II series manufactured by Microtrac Bell Co., Ltd., it is possible to measure a particle size range of approximately 0.02 to 2800 μm. The particle size distribution measurement gives a volume-based particle size distribution of the conductive powder. Then, in the particle size distribution, the particle size (D50 particle size) corresponding to the integrated value 50% from the smaller particle size side is defined as the “average particle size (actual measurement value)”. As described above, the average particle size (actual measurement value) of the conductive powder used for producing the photosensitive composition is obtained.

<(ステップS2)予想ズレ幅の確認工程>
本工程では、まず、第1相関式を用意する。第1相関式は、導電性粉末の種類ごと(例えば製品名ごと)に予め用意されている。第1相関式は、相関係数Rが概ね0.85以上、好ましくは0.9以上、例えば0.92以上であるとよい。第1相関式は、例えば次のようにして用意することができる。
<(Step S2) Step of confirming expected deviation>
In this step, first, the first correlation equation is prepared. The first correlation equation is prepared in advance for each type of conductive powder (for example, for each product name). In the first correlation equation, the correlation coefficient R 2 is generally 0.85 or more, preferably 0.9 or more, for example 0.92 or more. The first correlation equation can be prepared, for example, as follows.

すなわち、まず製造ロットおよび/または平均粒径(公称値)の異なる複数の導電性粉末を用意する。このとき、複数の導電性粉末の粒径以外の物性、例えば、露光性能(例えば光吸収度や光硬化度)に比較的な大きな影響を与えうる導電性粉末の金属種、平均アスペクト比、明度L等については条件を統一(略同じく)することで、粒径以外のバイアスを取り除いて、粒径そのものの影響をクリアに評価することができる。次に、用意した複数の導電性粉末の平均粒径をそれぞれ個別に実測する。平均粒径の測定は、従来公知の測定方法で行うことができる。例えば、レーザー回折・散乱法に基づく粒度分布測定装置を用いて行うことができる。 That is, first, a plurality of conductive powders having different manufacturing lots and / or average particle diameters (nominal values) are prepared. At this time, physical properties other than the particle diameters of the plurality of conductive powders, for example, the metal species of the conductive powder, the average aspect ratio, and the brightness that can have a comparatively large influence on the exposure performance (for example, light absorption or photocurability). By making the conditions for L * and the like uniform (substantially the same), bias other than the particle size can be removed, and the effect of the particle size itself can be evaluated clearly. Next, the average particle diameters of the prepared conductive powders are individually measured. The average particle diameter can be measured by a conventionally known measuring method. For example, it can be performed using a particle size distribution measuring device based on the laser diffraction / scattering method.

次に、平均粒径を実測した複数の導電性粉末を用いて、それぞれ感光性組成物を調製する。例えば、まず有機成分を含む所定のベヒクルを調製し、そこに導電性粉末を分散させて、感光性組成物を調製する。これにより、導電性粉末以外の成分とその配合比が統一され、導電性粉末の種類のみが異なる複数の感光性組成物を調製する。次に、調製した感光性組成物をそれぞれ基材上に付与して、光硬化およびエッチングを行う。これにより、細線状の配線を形成する。   Next, a photosensitive composition is prepared using a plurality of conductive powders whose average particle diameters have been measured. For example, first, a predetermined vehicle containing an organic component is prepared, and a conductive powder is dispersed therein to prepare a photosensitive composition. Thereby, a plurality of photosensitive compositions in which the components other than the conductive powder and the compounding ratio thereof are unified and only the kind of the conductive powder is different are prepared. Next, each of the prepared photosensitive compositions is applied onto a substrate and photocured and etched. As a result, fine line-shaped wiring is formed.

次に、基材上の配線を観察し、得られた観察画像から配線の線幅を計測する。配線の観察には、例えばレーザー顕微鏡を用いることができる。このとき、線幅の計測は複数視野について行い、その算術平均値を実線幅(実際の線幅)とする。そして、例えば、横軸Xに導電性粉末の平均粒径(実測値)をとり縦軸Yに実線幅をとった「平均粒径(実測値)X−実線幅Y」のグラフにデータをプロットする。このグラフから、平均粒径(実測値)と実線幅との相関式を算出する。このようにして、第1相関式を用意する。   Next, the wiring on the base material is observed, and the line width of the wiring is measured from the obtained observation image. A laser microscope, for example, can be used to observe the wiring. At this time, the line width is measured for a plurality of fields of view, and the arithmetic mean value thereof is taken as the real line width (actual line width). Then, for example, the data is plotted in a graph of "average particle size (measured value) X-solid line width Y" in which the horizontal axis X is the average particle size (measured value) of the conductive powder and the vertical axis Y is the solid line width. To do. From this graph, a correlation formula between the average particle diameter (actual measurement value) and the solid line width is calculated. In this way, the first correlation equation is prepared.

本工程では、次に、ステップS1で得られた実測値を、同じ種類の導電性粉末に係る第1相関式と対比する。そして、予め定められた目標線幅に対して想定されるズレ幅(予想ズレ幅)を確認する。例えばまず、ステップS1で得られた実測値を、平均粒径(実測値)と実線幅との相関式に内挿して、予想される線幅を算出する。そして、予想される線幅と所望の目標線幅との差分を予想ズレ幅として算出する。なお、目標線幅は任意に設定することができる。このようにして、予想ズレ幅を確認する。   In this step, next, the actual measurement value obtained in step S1 is compared with the first correlation equation relating to the same type of conductive powder. Then, the expected deviation width (predicted deviation width) with respect to the predetermined target line width is confirmed. For example, first, the actual measurement value obtained in step S1 is interpolated into the correlation formula between the average particle diameter (actual measurement value) and the solid line width to calculate the expected line width. Then, the difference between the expected line width and the desired target line width is calculated as the expected deviation width. The target line width can be set arbitrarily. In this way, the expected deviation width is confirmed.

<(ステップS3)有機成分の配合比決定工程>
本工程では、まず、第2相関式を用意する。第2相関式は、導電性粉末の種類ごと(例えば製品名ごと)に予め用意されている。第2相関式は、相関係数Rが概ね0.85以上、好ましくは0.9以上、例えば0.92以上であるとよい。第2相関式は、一次関数で示されているとよい。一次関数では2つの変数が比例関係にある。このため、配合比の算出をシンプルかつ容易に行うことができる。第2相関式は、例えば次のようにして用意することができる。すなわち、まず感光性組成物の製造に使用する有機成分のうちの少なくとも1つを用意する。例えば、第1相関式の算出時に用いたベヒクルに含まれる有機成分のうちの少なくとも1つを用意する。用意する有機成分は、1種類であってもよいし、例えば2種類以上であってもよい。
<(Step S3) Organic Component Mixing Ratio Determination Step>
In this step, first, the second correlation equation is prepared. The second correlation equation is prepared in advance for each type of conductive powder (for example, for each product name). In the second correlation equation, the correlation coefficient R 2 is generally 0.85 or more, preferably 0.9 or more, for example 0.92 or more. The second correlation equation may be represented by a linear function. In a linear function, two variables are in proportional relation. Therefore, the blending ratio can be calculated simply and easily. The second correlation equation can be prepared, for example, as follows. That is, first, at least one of the organic components used for producing the photosensitive composition is prepared. For example, at least one of the organic components contained in the vehicle used when calculating the first correlation formula is prepared. The organic component to be prepared may be of one type, or of two or more types, for example.

特に限定されるものではないが、このとき用意する有機成分は、感光性組成物の硬化速度に影響を与える成分、例えば有機バインダおよび光硬化性化合物以外の、感光性組成物の光吸収性および光重合性のうちの少なくとも1つを調整する有機成分(硬化速度調整剤)を含むとよい。用意する有機成分は、例えば、(A)光重合開始剤、(B)増感剤、(C)光吸収剤、および(D)重合禁止剤のうちの少なくとも1つを含むとよい。なかでも、重合開始剤系、すなわち(A)光重合開始剤および(B)増感剤のうちの少なくとも1つを含むとよい。用意する有機成分は、例えば(A)〜(D)の成分うち、ベヒクル中で最も配合比の高い第1成分であってもよく、2番目に配合比の高い第2成分をさらに含んでもよい。   Although not particularly limited, the organic component prepared at this time is a component that affects the curing rate of the photosensitive composition, such as an organic binder and a photocurable compound other than the light-absorbing property of the photosensitive composition and It is preferable to include an organic component (curing speed adjusting agent) that adjusts at least one of photopolymerizability. The organic component to be prepared may include at least one of (A) photopolymerization initiator, (B) sensitizer, (C) light absorber, and (D) polymerization inhibitor. Among them, it is preferable to include a polymerization initiator system, that is, at least one of (A) a photopolymerization initiator and (B) a sensitizer. The organic component to be prepared may be, for example, the first component having the highest compounding ratio in the vehicle among the components (A) to (D), or may further include the second component having the second highest compounding ratio. ..

(A)光重合開始剤は、光照射によって分解し、ラジカルや陽イオン等の活性種を発生させて光硬化成分の重合反応を進行させる成分である。光重合開始剤は、感光性組成物の光重合性を調整する(詳しくは重合反応を加速する)成分である。光重合開始剤としては、従来公知のものの中から、例えば光硬化成分の種類等に応じて、1種を単独で、または2種以上を適宜組み合わせて用いることができる。光重合開始剤は、光ラジカル重合開始剤であってもよく、光カチオン重合開始剤であってもよく、光アニオン重合開始剤であってもよい。特に、反応速度が速いことや熱による硬化が不要なことから、光ラジカル重合開始剤が好ましい。典型例として、ベンゾイン系光重合開始剤、α−ヒドロキシアセトフェノン系光重合開始剤、α−アミノアルキルフェノン系光重合開始剤、ベンジルケタール系光重合開始剤、α−ヒドロキシアセトフェノン系光重合開始剤、α−アミノアセトフェノン系光重合開始剤、アシルホスフィンオキシド系光重合開始剤、チタノセン系光重合開始剤、0−アシルオキシム系光重合開始剤、オキシムエステル系光重合開始剤、ベンゾフェノン系光重合開始剤、アクリジン系光重合開始剤等が挙げられる。   The photopolymerization initiator (A) is a component that decomposes upon irradiation with light to generate active species such as radicals and cations to promote the polymerization reaction of the photocurable component. The photopolymerization initiator is a component that adjusts the photopolymerizability of the photosensitive composition (specifically, accelerates the polymerization reaction). As the photopolymerization initiator, from among conventionally known photopolymerization initiators, one kind may be used alone, or two or more kinds may be appropriately combined and used depending on the kind of the photocuring component. The photopolymerization initiator may be a photoradical polymerization initiator, a photocationic polymerization initiator or a photoanionic polymerization initiator. In particular, a photoradical polymerization initiator is preferable because it has a high reaction rate and does not require heat curing. As a typical example, a benzoin-based photopolymerization initiator, an α-hydroxyacetophenone-based photopolymerization initiator, an α-aminoalkylphenone-based photopolymerization initiator, a benzyl ketal-based photopolymerization initiator, an α-hydroxyacetophenone-based photopolymerization initiator, α-aminoacetophenone photopolymerization initiator, acylphosphine oxide photopolymerization initiator, titanocene photopolymerization initiator, 0-acyl oxime photopolymerization initiator, oxime ester photopolymerization initiator, benzophenone photopolymerization initiator , And acridine-based photopolymerization initiators.

(B)増感剤(促進剤、反応促進剤等ともいう。)は、光を吸収して得たエネルギーを光硬化成分に伝えて、光硬化成分の重合反応を促進させる成分である。増感剤は、感光性組成物の光重合性を調整する(詳しくは重合反応を加速する)成分である。増感剤としては、従来公知のものの中から、例えば照射する光の波長等に応じて、1種を単独で、または2種以上を適宜組み合わせて用いることができる。典型例として、アントラセン系増感剤、芳香族ケトン系増感剤、ビフェニル系増感剤、アントラキノン系増感剤等が挙げられる。   The (B) sensitizer (also referred to as an accelerator or a reaction accelerator) is a component that transmits energy obtained by absorbing light to the photocuring component to accelerate the polymerization reaction of the photocuring component. The sensitizer is a component that adjusts the photopolymerizability of the photosensitive composition (specifically, accelerates the polymerization reaction). As the sensitizer, from among conventionally known sensitizers, one kind may be used alone, or two or more kinds may be appropriately combined and used, depending on the wavelength of light to be irradiated. Typical examples include anthracene sensitizers, aromatic ketone sensitizers, biphenyl sensitizers, anthraquinone sensitizers and the like.

(C)光吸収剤(着色剤、有機顔料等ともいう。)は、感光性組成物の光吸収性を調整する成分である。光吸収剤は、典型的には感光性組成物の色みを変化させて、光の侵入率を調整する成分である。光吸収剤は、紫外線の波長の光を一部または全部吸収する紫外線吸収剤であってもよく、赤外線の波長の光を一部または全部吸収する赤外線吸収剤であってもよく、可視光の波長の光を一部または全部吸収する可視光吸収剤(例えば黒色剤)であってもよい。光吸収剤としては、従来公知のものの中から、例えば照射する光の波長範囲等に応じて、1種を単独で、または2種以上を適宜組み合わせて用いることができる。典型例として、ベンゾトリアゾール系光吸収剤、トリアジン系光吸収剤、ベンゾフェノン系光吸収剤、ベンゾエート系光吸収剤、サリチル酸エステル系光吸収剤、シアノアクリレート系光吸収剤、レゾルシノール系光吸収剤、ヒンダードアミン系光吸収剤等が挙げられる。   The (C) light absorber (also referred to as a colorant or an organic pigment) is a component that adjusts the light absorbency of the photosensitive composition. The light absorber is a component that typically changes the color of the photosensitive composition to adjust the light penetration rate. The light absorbing agent may be an ultraviolet absorbing agent that partially or wholly absorbs light having a wavelength of ultraviolet rays, or may be an infrared absorbing agent that partially or completely absorbs light having an infrared wavelength. It may be a visible light absorbing agent (for example, a black colorant) that partially or wholly absorbs light having a wavelength. As the light absorber, one selected from conventionally known ones may be used alone or in combination of two or more, depending on the wavelength range of the light to be irradiated. Typical examples are benzotriazole-based light absorbers, triazine-based light absorbers, benzophenone-based light absorbers, benzoate-based light absorbers, salicylate-based light absorbers, cyanoacrylate-based light absorbers, resorcinol-based light absorbers, hindered amines. Examples include light absorbers.

特に紫外線吸収剤は、紫外線露光を行うに当たり、フォトマスクの開口から導電膜の内部に侵入した光が散乱し、フォトマスクの遮光部分を硬化させ、線幅がフォトマスクの開口幅より太めになる現象を低減させる効果がある。   In particular, when an ultraviolet absorber is exposed to ultraviolet light, the light that has penetrated into the inside of the conductive film from the opening of the photomask is scattered and the light-shielding portion of the photomask is cured, and the line width becomes thicker than the opening width of the photomask. It has the effect of reducing the phenomenon.

紫外線吸収剤としては250〜520nmの波長範囲で高い吸収係数を有するものが好ましく、なかでも350〜450nmの波長範囲で高い吸収係数を有する有機染料が好ましい。有機染料としてアゾ系、ベンゾフェノン系、アミノケトン系、キサンテン系、キノリン系、アミノケトン系、アントラキノン系、ジフェニルシアノアクリレート系、トリアジン系、p−アミノ安息香酸系等が挙げられる。なかでもアゾ系およびベンゾフェノン系の有機染料が好ましい。   As the ultraviolet absorber, those having a high absorption coefficient in the wavelength range of 250 to 520 nm are preferable, and among them, organic dyes having a high absorption coefficient in the wavelength range of 350 to 450 nm are preferable. Examples of the organic dye include azo type, benzophenone type, aminoketone type, xanthene type, quinoline type, aminoketone type, anthraquinone type, diphenyl cyanoacrylate type, triazine type and p-aminobenzoic acid type. Of these, azo-based and benzophenone-based organic dyes are preferable.

アゾ系有機染料としては、例えば、スダンブルー、スダンR、スダンII、スダンIII、スダンIV、オイルオレンジSS、オイルバイオレット、オイルイエローOB等が挙げられる。ベンゾフェノン系有機染料としては、例えば、BASF社製のユビナール(登録商標)D−50(2,2’,4,4’−テトラハイドロオキシベンゾフェノン)、ユビナール(登録商標)MS40(2−ヒドロキシ−4−メトキシベンゾフェノン5−スルフォン酸)、ユビナール(登録商標)DS49(2,2−ジヒドロキシ−4,4’−ジメトキシベンゾフェノン−5,5’−ジスルフォン酸ナトリウム)等が挙げられる。   Examples of the azo-based organic dye include Sudan Blue, Sudan R, Sudan II, Sudan III, Sudan IV, Oil Orange SS, Oil Violet, Oil Yellow OB and the like. Examples of the benzophenone-based organic dye include Ubinal (registered trademark) D-50 (2,2 ′, 4,4′-tetrahydroxybenzophenone) manufactured by BASF, and Ubinal (registered trademark) MS40 (2-hydroxy-4). -Methoxybenzophenone 5-sulfonic acid), Ubinal (registered trademark) DS49 (2,2-dihydroxy-4,4'-dimethoxybenzophenone-5,5'-disulphonic acid sodium salt) and the like.

(D)重合禁止剤(禁止剤、光安定剤、安定化剤、ラジカル捕捉剤、酸素捕捉剤等ともいう。)は、光硬化成分の重合反応を阻害して、感光性組成物の耐候性、耐熱性および保存安定性のうちの少なくとも1つを向上する成分である。重合禁止剤は、感光性組成物の光重合性を調整する(詳しくは重合反応を減速する)成分である。重合禁止剤としては、従来公知のものの中から、1種を単独で、または2種以上を適宜組み合わせて用いることができる。典型例として、ヒドロキノンおよびその誘導体や、フェノール誘導体が挙げられる。   The (D) polymerization inhibitor (also referred to as an inhibitor, a light stabilizer, a stabilizer, a radical scavenger, an oxygen scavenger, etc.) inhibits the polymerization reaction of the photocurable component to give the photosensitive composition weather resistance. , A component that improves at least one of heat resistance and storage stability. The polymerization inhibitor is a component that adjusts the photopolymerizability of the photosensitive composition (specifically, slows down the polymerization reaction). As the polymerization inhibitor, one kind may be used alone or two or more kinds may be appropriately combined and used from among conventionally known polymerization inhibitors. Typical examples include hydroquinone and its derivatives, and phenol derivatives.

次に、所定の導電性粉末を用いて、用意した有機成分の配合比を段階的に変更して、複数の感光性組成物を調製する。次に、第1相関式の算出時と同様に、調製した感光性組成物をそれぞれ基材上に付与して、光硬化およびエッチングを行う。これにより、細線状の配線を形成する。次に、基材上の配線をレーザー顕微鏡で観察し、得られた観察画像から配線の線幅を計測する。このとき、線幅の計測は複数視野について行い、その算術平均値を実線幅(実際の線幅)とする。そして、例えば、横軸Xに感光性組成物中の有機成分の配合比をとり縦軸Yに実線幅をとった「有機成分の配合比X−実線幅Y」のグラフにデータをプロットする。このグラフから、有機成分の配合比と実線幅との相関式を算出する。このようにして、第2相関式を用意する。   Next, a predetermined conductive powder is used to stepwise change the compounding ratio of the prepared organic components to prepare a plurality of photosensitive compositions. Next, similarly to the calculation of the first correlation equation, the prepared photosensitive compositions are applied onto the respective substrates, and photocuring and etching are performed. As a result, fine line-shaped wiring is formed. Next, the wiring on the base material is observed with a laser microscope, and the line width of the wiring is measured from the obtained observation image. At this time, the line width is measured for a plurality of fields of view, and the arithmetic mean value thereof is taken as the real line width (actual line width). Then, for example, data is plotted in a graph of "mixing ratio of organic components X-solid line width Y" in which the horizontal axis X represents the mixing ratio of organic components in the photosensitive composition and the vertical axis Y represents the solid line width. From this graph, the correlation equation between the blending ratio of the organic components and the solid line width is calculated. In this way, the second correlation equation is prepared.

本工程では、次に、第2相関式を用いて、ステップS2で確認された予想ズレ幅を打ち消すように感光性組成物における有機成分の配合比を決定する。言い換えれば、目標線幅に誘導するように、感光性組成物における有機成分の配合比を決定する。一例では、第1相関式の算出時に用いたベヒクルの配合をベースとする。そして、第2相関式を算出済みの有機成分のうちの少なくとも1つについて、ベースとなるベヒクルから配合比を変更する。このことにより、ステップS2で確認された予想ズレ幅がキャンセルされうる。なお、配合比を変更しない有機成分については、ベースとなるベヒクルと同じであってよい。配合比を変更する有機成分は、1種類であってもよいし、例えば予想ズレ幅が大きい場合等には、2種類以上の有機成分の配合比をそれぞれ少しずつ変更することにより、全体として予想ズレ幅を打ち消すようにしてもよい。   In this step, next, using the second correlation equation, the compounding ratio of the organic components in the photosensitive composition is determined so as to cancel the expected deviation width confirmed in step S2. In other words, the blending ratio of the organic components in the photosensitive composition is determined so as to induce the target line width. In one example, the vehicle formulation used when calculating the first correlation equation is used as the base. Then, the compounding ratio is changed from the base vehicle for at least one of the organic components for which the second correlation equation has been calculated. As a result, the expected deviation width confirmed in step S2 can be canceled. The organic component whose compounding ratio is not changed may be the same as that of the base vehicle. The organic component for which the blending ratio is changed may be one kind, or, for example, when the expected deviation width is large, by slightly changing the blending ratio of two or more kinds of organic components, it is possible to predict the total as a whole. The deviation width may be canceled.

例えば重合開始剤系を用いて予想ズレ幅を打ち消す場合は、まず第2相関式として、重合開始剤系の配合比と実線幅との相関式を用意する。例えば、光重合開始剤の配合比と実線幅との相関式、および、増感剤の配合比と実線幅との相関式の2つを用意する。この相関式において、重合開始剤系の配合比と実線幅とが正の相関を有すると仮定する。この場合、予想される線幅が目標線幅よりも大きければ、相関式に基づいて、ベースとなるベヒクルの配合から、予想ズレ幅を打ち消すように重合開始剤系の配合比を減らす。一方、予想される線幅が目標線幅よりも小さければ、相関式に基づいて、ベースとなるベヒクルの配合から、予想ズレ幅を打ち消すように重合開始剤系の配合比を増やす。   For example, in the case of canceling the expected deviation width using the polymerization initiator system, first, as the second correlation expression, a correlation expression between the compounding ratio of the polymerization initiator system and the solid line width is prepared. For example, two formulas are prepared: a correlation formula between the compounding ratio of the photopolymerization initiator and the solid line width, and a correlation formula between the compounding ratio of the sensitizer and the solid line width. In this correlation equation, it is assumed that the compounding ratio of the polymerization initiator system and the solid line width have a positive correlation. In this case, if the expected line width is larger than the target line width, the compounding ratio of the polymerization initiator system is reduced from the compounding of the base vehicle based on the correlation formula so as to cancel the expected deviation. On the other hand, when the expected line width is smaller than the target line width, the compounding ratio of the polymerization initiator system is increased based on the correlation formula so as to cancel the expected deviation width from the base vehicle compound.

また、例えば重合禁止剤を用いて予想ズレ幅を打ち消す場合は、まず第2相関式として、重合禁止剤の配合比と実線幅との相関式を用意する。この相関式において、重合禁止剤の配合比と実線幅とが負の相関を有すると仮定する。この場合、予想される線幅が目標線幅よりも大きければ、相関式に基づいて、ベースとなるベヒクルの配合から予想ズレ幅を打ち消すように重合禁止剤の配合比を増やす。また、予想される線幅が目標線幅よりも小さければ、相関式に基づいて、ベースとなるベヒクルの配合から予想ズレ幅を打ち消すように重合禁止剤の配合比を減らす。以上のようにして、感光性組成物における有機成分の配合比を決定する。   Further, for example, when canceling the expected deviation width by using the polymerization inhibitor, first, as the second correlation expression, a correlation expression between the compounding ratio of the polymerization inhibitor and the solid line width is prepared. In this correlation equation, it is assumed that the compounding ratio of the polymerization inhibitor and the solid line width have a negative correlation. In this case, if the expected line width is larger than the target line width, the compounding ratio of the polymerization inhibitor is increased based on the correlation formula so as to cancel the expected deviation width from the compounding of the base vehicle. Further, if the expected line width is smaller than the target line width, the compounding ratio of the polymerization inhibitor is reduced based on the correlation formula so as to cancel the expected deviation width from the compounding of the base vehicle. As described above, the compounding ratio of the organic component in the photosensitive composition is determined.

なお、本工程で配合比を調整する有機成分は、上記した(A)〜(D)の成分に限定されない。例えば、他の性能(例えば基材に対する導電膜のタック性等)が著しく低下しない限りにおいて、後述する光硬化性樹脂および光硬化性化合物のうちの少なくとも1つの配合比を調整してもよい。また、例えば後述するその他添加成分の配合比を調整してもよい。   The organic components for adjusting the blending ratio in this step are not limited to the components (A) to (D) described above. For example, the compounding ratio of at least one of a photocurable resin and a photocurable compound described below may be adjusted as long as other properties (for example, tackiness of the conductive film with respect to the base material) are not significantly deteriorated. Further, for example, the compounding ratio of other additive components described below may be adjusted.

<(ステップS4)感光性組成物の調製工程>
本工程では、ステップS1で平均粒径を実測した導電性粉末を用いて、感光性組成物を調製する。例えばまず、有機バインダと、光硬化性化合と、光重合開始剤と、増感剤と、光吸収剤と、重合禁止剤と、必要に応じて用いられるその他添加成分とを、有機系分散媒中で混合して、液状のベヒクルを調製する。このとき、感光性組成物がステップS3で決定された配合比となるように、各成分を添加する。次に、導電性粉末とベヒクルとを予め定められた配合比で混合する。これにより、感光性組成物を調製する。本実施形態では、有機系分散媒を含み、ペースト状(スラリー状、インク状を包含する。)に調製された感光性組成物(ペースト状の感光性組成物)を得ることができる。
<(Step S4) Step of Preparing Photosensitive Composition>
In this step, the photosensitive composition is prepared using the conductive powder whose average particle diameter was measured in step S1. For example, first, an organic dispersion medium, an organic binder, a photocurable compound, a photopolymerization initiator, a sensitizer, a light absorber, a polymerization inhibitor, and other additive components used as necessary. Mix in to prepare liquid vehicle. At this time, each component is added so that the photosensitive composition has the compounding ratio determined in step S3. Next, the conductive powder and the vehicle are mixed in a predetermined compounding ratio. Thereby, the photosensitive composition is prepared. In the present embodiment, a photosensitive composition (paste-like photosensitive composition) containing an organic dispersion medium and prepared in a paste form (including a slurry form and an ink form) can be obtained.

有機バインダ(ポリマー成分)は、基材と未硬化の導電膜との接着性を高める成分である。有機バインダは、感光性(光によって化学的または構造的な変化を生じる性質をいう。例えば光硬化性。)を有していてもよいし、有していなくてもよい。有機バインダは、重量平均分子量が2000以上5000未満の光重合性オリゴマー(プレポリマー)と、重量平均分子量が5000以上の光重合性ポリマーと、を包含する。有機バインダとしては、従来公知のものの中から、例えば基材や光重合性化合物、光重合開始剤の種類等に応じて、1種を単独で、または2種以上を適宜組み合わせて用いることができる。有機バインダとしては、現像工程において現像液で容易に除去可能なものが好ましい。例えば、現像工程においてアルカリ性の現像液を使用する場合には、ヒドロキシル基(−OH)、カルボキシル基(−C(=O)OH)、エステル結合(−C(=O)O−)、スルホ基(−SOH)等の、酸性を示す構造部分を有する化合物が好ましい。このことにより、未露光部分に残渣が残存し難くなり、例えばファインラインの間のスペースを安定して確保することができる。 The organic binder (polymer component) is a component that enhances the adhesiveness between the base material and the uncured conductive film. The organic binder may or may not have photosensitivity (refers to a property of chemically or structurally changing by light. For example, photocurability). The organic binder includes a photopolymerizable oligomer (prepolymer) having a weight average molecular weight of 2000 or more and less than 5000 and a photopolymerizable polymer having a weight average molecular weight of 5000 or more. As the organic binder, one can be used alone or two or more can be appropriately used from among conventionally known ones, depending on the type of the base material, the photopolymerizable compound, the photopolymerization initiator, and the like. .. The organic binder is preferably one that can be easily removed with a developing solution in the developing step. For example, when an alkaline developer is used in the developing step, a hydroxyl group (-OH), a carboxyl group (-C (= O) OH), an ester bond (-C (= O) O-), a sulfo group. of (-SO 3 H) or the like, a compound having a structural part showing acidity are preferable. This makes it difficult for the residue to remain in the unexposed portion, and for example, the space between the fine lines can be stably secured.

有機バインダの一好適例として、メチルセルロース、エチルセルロース、カルボキシメチルセルロース、ヒドロキシメチルセルロース等のセルロース系高分子、アクリル樹脂、フェノール樹脂、アルキド樹脂、ポリビニルアルコール、ポリビニルブチラール等が挙げられる。なかでも、現像工程において除去し易い観点から、親水性の有機バインダ、例えば、セルロース系高分子やアクリル樹脂等が好ましい。   Examples of suitable organic binders include cellulosic polymers such as methyl cellulose, ethyl cellulose, carboxymethyl cellulose, and hydroxymethyl cellulose, acrylic resins, phenol resins, alkyd resins, polyvinyl alcohol, polyvinyl butyral, and the like. Of these, hydrophilic organic binders such as cellulose-based polymers and acrylic resins are preferable from the viewpoint of easy removal in the developing step.

また、有機バインダとして光硬化性樹脂を用いても良い。光硬化性樹脂は、光重合開始剤から生じた活性種によって重合し、硬化する光硬化成分である。光硬化性樹脂は、典型的には不飽和結合および環状構造のうちの少なくとも一方を1つ以上有する。光硬化性樹脂としては、従来公知のものの中から、1種を単独で、または2種以上を適宜組み合わせて用いることができる。典型例として、(メタ)アクリロイル基、ビニル基、アリル基等のエチレン性二重結合を有する樹脂、例えば、アクリル樹脂、エポキシ樹脂等が挙げられる。なお、本明細書において、「(メタ)アクリロイル」とは、「メタクリロイル」および「アクリロイル」を包含する用語である。   A photo-curable resin may be used as the organic binder. The photocurable resin is a photocurable component that is polymerized and cured by the active species generated from the photopolymerization initiator. The photocurable resin typically has at least one of an unsaturated bond and a cyclic structure. As the photo-curable resin, one kind can be used alone or two or more kinds can be appropriately combined and used from the conventionally known ones. As a typical example, a resin having an ethylenic double bond such as a (meth) acryloyl group, a vinyl group or an allyl group, for example, an acrylic resin or an epoxy resin can be mentioned. In addition, in this specification, "(meth) acryloyl" is a term including "methacryloyl" and "acryloyl".

アクリル樹脂の具体例として、ポリメチル(メタ)アクリレート、ポリエチル(メタ)アクリレート、ポリブチル(メタ)アクリレート等のアルキル(メタ)アクリレートの単独重合体や、アルキル(メタ)アクリレートを主モノマー(最も大きな質量比を占めるモノマー)として、当該主モノマーに共重合性を有する副モノマーを含む共重合体が挙げられる。   Specific examples of the acrylic resin include homopolymers of alkyl (meth) acrylates such as polymethyl (meth) acrylate, polyethyl (meth) acrylate, and polybutyl (meth) acrylate, and alkyl (meth) acrylate as a main monomer (the largest mass ratio). As a monomer), a copolymer containing a sub-monomer having copolymerizability in the main monomer can be mentioned.

光硬化性化合物(モノマー成分)は、光重合開始剤から生じた活性種によって重合し、硬化する光硬化成分である。重合反応は、例えば付加重合であってもよいし開環重合であってもよい。光硬化性化合物は、ラジカル重合性であってもよく、カチオン重合性であってもよい。光硬化性化合物は、重量平均分子量が2000未満のモノマーである。光硬化性化合物としては、従来公知のものの中から、1種を単独で、または2種以上を適宜組み合わせて用いることができる。典型例として、(メタ)アクリロイル基を有する(メタ)アクリレートモノマーが挙げられる。(メタ)アクリレートモノマーは、1分子あたり1つの官能基を有する単官能(メタ)アクリレートと、1分子あたり2つ以上の官能基を有する多官能(メタ)アクリレートと、それらの変性物とを包含する。(メタ)アクリレートモノマーの具体例として、多官能(メタ)アクリレートや、ウレタン結合を有するウレタン変性(メタ)アクリレート、エポキシ変性(メタ)アクリレート、シリコーン変性(メタ)アクリレート等が挙げられる。なお、本明細書において、「(メタ)アクリレート」とは、「メタクリレート」および「アクリレート」を包含する用語である。   The photocurable compound (monomer component) is a photocurable component that is polymerized and cured by active species generated from a photopolymerization initiator. The polymerization reaction may be, for example, addition polymerization or ring-opening polymerization. The photocurable compound may be radically polymerizable or cationically polymerizable. The photocurable compound is a monomer having a weight average molecular weight of less than 2000. As the photocurable compound, one can be used alone, or two or more can be appropriately combined and used from the conventionally known compounds. A typical example is a (meth) acrylate monomer having a (meth) acryloyl group. The (meth) acrylate monomer includes a monofunctional (meth) acrylate having one functional group per molecule, a polyfunctional (meth) acrylate having two or more functional groups per molecule, and modified products thereof. To do. Specific examples of the (meth) acrylate monomer include polyfunctional (meth) acrylate, urethane-modified (meth) acrylate having a urethane bond, epoxy-modified (meth) acrylate, and silicone-modified (meth) acrylate. In addition, in this specification, "(meth) acrylate" is a term including "methacrylate" and "acrylate".

有機系分散媒は、感光性組成物に適度な粘性や流動性を付与して、感光性組成物の取扱性や導電膜を成形する際の作業性を向上する成分である。有機系分散媒としては、従来公知のものの中から、1種を単独で、または2種以上を適宜組み合わせて用いることができる。典型例として、アルコール系溶剤、グリコール系溶剤、エーテル系溶剤、エステル系溶剤、炭化水素系溶剤、ミネラルスピリット等の有機溶剤が挙げられる。なかでも、感光性組成物の保存安定性や導電膜成形時の取扱性を向上する観点からは、沸点が150℃以上の有機溶剤、さらには170℃以上の有機溶剤が好ましい。また、他の一好適例として、導電膜を印刷した後の乾燥温度を低く抑える観点からは、沸点が250℃以下の有機溶剤、さらには沸点が220℃以下の有機溶剤が好ましい。   The organic dispersion medium is a component that imparts appropriate viscosity and fluidity to the photosensitive composition to improve the handleability of the photosensitive composition and the workability when molding a conductive film. As the organic dispersion medium, one type may be used alone or two or more types may be appropriately combined and used from among conventionally known organic dispersion media. Typical examples include organic solvents such as alcohol solvents, glycol solvents, ether solvents, ester solvents, hydrocarbon solvents and mineral spirits. Among them, an organic solvent having a boiling point of 150 ° C. or higher, more preferably 170 ° C. or higher, is preferable from the viewpoint of improving the storage stability of the photosensitive composition and the handling property when forming a conductive film. Further, as another preferable example, an organic solvent having a boiling point of 250 ° C. or lower, and more preferably an organic solvent having a boiling point of 220 ° C. or lower are preferable from the viewpoint of suppressing the drying temperature after printing the conductive film to be low.

その他添加成分としては、従来公知のものの中から、1種を単独で、または2種以上を適宜組み合わせて用いることができる。一例として、酸化防止剤、可塑剤、界面活性剤、レベリング剤、増粘剤、湿潤剤、分散剤、消泡剤、帯電防止剤、ゲル化防止剤、防腐剤、充填剤(有機または無機フィラー)、ガラス粉末、セラミック粉末(Al、ZrO、SiO等)、有機金属化合物(金属レジネート)等が挙げられる。 As the other additive components, one type may be used alone or two or more types may be appropriately combined and used among conventionally known components. As an example, antioxidants, plasticizers, surfactants, leveling agents, thickeners, wetting agents, dispersants, defoamers, antistatic agents, anti-gelling agents, preservatives, fillers (organic or inorganic fillers ), Glass powder, ceramic powder (Al 2 O 3 , ZrO 2 , SiO 2 and the like), organometallic compounds (metal resinate), and the like.

本実施形態において、感光性組成物中の導電性粉末の配合比は予め定められている。特に限定されるものではないが、導電性粉末の配合比は、概ね50質量%以上、典型的には60〜95質量%、例えば70〜90質量%としてもよい。上記範囲を満たすことで、緻密性や電気伝導性の高い導電層を形成することができる。また、感光性組成物の取扱性や導電膜を成形する際の作業性を向上することができる。   In this embodiment, the compounding ratio of the conductive powder in the photosensitive composition is predetermined. Although not particularly limited, the compounding ratio of the conductive powder may be approximately 50% by mass or more, typically 60 to 95% by mass, for example 70 to 90% by mass. By satisfying the above range, a conductive layer having high density and high electrical conductivity can be formed. In addition, the handleability of the photosensitive composition and the workability when molding the conductive film can be improved.

特に限定されるものではないが、感光性組成物全体に占める重合開始剤系の割合は、概ね5質量%以下、典型的には0.01〜1質量%、例えば0.02〜0.5質量%、0.05〜0.2質量%としてもよい。また、光吸収剤の割合は、概ね0.5質量%以下、典型的には0.1質量%以下、例えば0.01質量%以下、さらには0.001質量%以下としてもよい。また、重合禁止剤の割合は、概ね0.5質量%以下、典型的には0.1質量%以下、例えば0.001質量%以下としてもよい。また、感光性組成物全体に占める光硬化性樹脂の割合は、概ね5質量%以下、典型的には0.01〜1質量%、例えば0.02〜0.5質量%、0.03〜0.2質量%としてもよい。また、感光性組成物全体に占める光硬化性化合物の割合は、概ね5質量%以下、典型的には0.01〜1質量%、例えば0.02〜0.5質量%、0.03〜0.2質量%としてもよい。また、光硬化性樹脂と光硬化性化合物との配合比は、概ね1:10〜10:1、例えば1:3〜3:1、さらには1:2〜2:1としてもよい。また、有機系分散媒の割合は、概ね1〜50質量%、典型的には3〜30質量%、例えば5〜20質量%としてもよい。また、その他添加成分の割合は、概ね5質量%以下、例えば3質量%以下としてもよい。   Although not particularly limited, the proportion of the polymerization initiator system in the entire photosensitive composition is generally 5% by mass or less, typically 0.01 to 1% by mass, for example 0.02 to 0.5. It may be mass%, 0.05 to 0.2 mass%. Further, the proportion of the light absorber may be approximately 0.5% by mass or less, typically 0.1% by mass or less, for example 0.01% by mass or less, and further 0.001% by mass or less. The proportion of the polymerization inhibitor may be about 0.5% by mass or less, typically 0.1% by mass or less, for example 0.001% by mass or less. Further, the proportion of the photocurable resin in the entire photosensitive composition is generally 5% by mass or less, typically 0.01 to 1% by mass, for example 0.02 to 0.5% by mass, 0.03 to. It may be 0.2% by mass. The proportion of the photocurable compound in the entire photosensitive composition is generally 5% by mass or less, typically 0.01 to 1% by mass, for example 0.02 to 0.5% by mass, 0.03 to. It may be 0.2% by mass. Moreover, the compounding ratio of the photocurable resin and the photocurable compound may be approximately 1:10 to 10: 1, for example, 1: 3 to 3: 1, and further 1: 2 to 2: 1. The proportion of the organic dispersion medium may be approximately 1 to 50% by mass, typically 3 to 30% by mass, for example 5 to 20% by mass. In addition, the ratio of other additive components may be approximately 5% by mass or less, for example, 3% by mass or less.

≪感光性組成物の用途≫
ここに開示される感光性組成物によれば、L/Sが30μm/30μmよりも微細な、さらにはL/Sが20μm/20μmよりも微細な導電層を安定して形成することができる。そのため、ここに開示される感光性組成物は、例えば、インダクタンス部品やコンデンサ部品、多層回路基板等の様々な電子部品における導電層の形成に好適に利用することができる。電子部品は、表面実装タイプやスルーホール実装タイプ等、各種の実装形態のものであってよい。電子部品は、積層型であってもよいし、巻線型であってもよいし、薄膜型であってもよい。インダクタンス部品の典型例としては、高周波フィルタ、コモンモードフィルタ、高周波回路用インダクタ(コイル)、一般回路用インダクタ(コイル)、高周波フィルタ、チョークコイル、トランス等が挙げられる。
<< Application of Photosensitive Composition >>
According to the photosensitive composition disclosed herein, a conductive layer having L / S finer than 30 μm / 30 μm and further finer L / S smaller than 20 μm / 20 μm can be stably formed. Therefore, the photosensitive composition disclosed herein can be suitably used for forming a conductive layer in various electronic components such as an inductance component, a capacitor component, and a multilayer circuit board. The electronic component may be of various mounting forms such as a surface mounting type and a through hole mounting type. The electronic component may be a laminated type, a wire wound type, or a thin film type. Typical examples of the inductance component include a high frequency filter, a common mode filter, a high frequency circuit inductor (coil), a general circuit inductor (coil), a high frequency filter, a choke coil, and a transformer.

また、導電性粉末が金属−セラミックのコアシェル粒子を含む感光性組成物は、セラミック電子部品の導電層の形成に好適に利用することができる。なお、本明細書において、「セラミック電子部品」とは、非晶質のセラミック基材(ガラスセラミック基材)あるいは結晶質(すなわち非ガラス)のセラミック基材を有する電子部品全般を包含する。典型例として、セラミック製の基材を有する高周波フィルタ、セラミックインダクタ(コイル)、セラミックコンデンサ、低温焼成積層セラミック基材(Low Temperature Co-fired Ceramics Substrate:LTCC基材)、高温焼成積層セラミック基材(High Temperature Co-fired Ceramics Substrate:HTCC基材)等が挙げられる。   Further, the photosensitive composition in which the conductive powder contains metal-ceramic core-shell particles can be suitably used for forming a conductive layer of a ceramic electronic component. In the present specification, the “ceramic electronic component” includes all electronic components having an amorphous ceramic base material (glass ceramic base material) or a crystalline (that is, non-glass) ceramic base material. As a typical example, a high frequency filter having a ceramic base material, a ceramic inductor (coil), a ceramic capacitor, a low temperature co-fired ceramics substrate (LTCC base material), a high temperature co-fired ceramic base material ( High Temperature Co-fired Ceramics Substrate: HTCC base material) and the like.

図3は、積層チップインダクタ10の構造を模式的に示す断面図である。なお、図3における寸法関係(長さ、幅、厚み等)は必ずしも実際の寸法関係を反映するものではない。また、図面中の符号X、Yは、それぞれ左右方向、上下方向を表す。ただし、これは説明の便宜上の方向に過ぎない。   FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing the structure of the laminated chip inductor 10. The dimensional relationship (length, width, thickness, etc.) in FIG. 3 does not necessarily reflect the actual dimensional relationship. In addition, reference numerals X and Y in the drawings represent a horizontal direction and a vertical direction, respectively. However, this is only a direction for convenience of description.

積層チップインダクタ10は、本体部11と、本体部11の左右方向Xの両側面部分に設けられた外部電極20とを備えている。積層チップインダクタ10の形状は、例えば、1608形状(1.6mm×0.8mm)、2520形状(2.5mm×2.0mm)等のサイズである。本体部11は、セラミック層(誘電体層)12と内部電極層14とが一体化された構造を有する。セラミック層12は、例えば、導電性粉末の被覆部を構成しうるものとして上述したようなセラミック材料で構成されている。上下方向Yにおいて、セラミック層12の間には、内部電極層14が配置されている。内部電極層14は、上述の感光性組成物を用いて形成されている。セラミック層12を挟んで上下方向Yに隣り合う内部電極層14は、セラミック層12に設けられたビア16を通じて導通されている。このことにより、内部電極層14は、3次元的な渦巻き形状(螺旋状)に構成されている。内部電極層14の両端はそれぞれ外部電極20と接続されている。   The multilayer chip inductor 10 includes a main body 11 and external electrodes 20 provided on both side surfaces of the main body 11 in the left-right direction X. The shape of the multilayer chip inductor 10 is, for example, 1608 shape (1.6 mm × 0.8 mm), 2520 shape (2.5 mm × 2.0 mm), or the like. The main body 11 has a structure in which a ceramic layer (dielectric layer) 12 and an internal electrode layer 14 are integrated. The ceramic layer 12 is made of, for example, a ceramic material as described above as a material that can form a coating portion of conductive powder. The internal electrode layers 14 are arranged between the ceramic layers 12 in the vertical direction Y. The internal electrode layer 14 is formed using the photosensitive composition described above. The internal electrode layers 14 that are adjacent to each other in the up-down direction Y with the ceramic layer 12 sandwiched therebetween are electrically connected via the vias 16 provided in the ceramic layer 12. As a result, the internal electrode layer 14 has a three-dimensional spiral shape (spiral shape). Both ends of the internal electrode layer 14 are connected to the external electrodes 20, respectively.

積層チップインダクタ10は、例えば、以下の手順で製造することができる。すなわち、まず、原料となるセラミック材料とバインダ樹脂と有機溶剤とを含むペーストを調製し、これをキャリアシート上に供給して、セラミックグリーンシートを形成する。次いで、このセラミックグリーンシートを圧延後、所望のサイズにカットして、複数のセラミック層形成用グリーンシートを得る。次いで、複数のセラミック層形成用グリーンシートの所定の位置に、穿孔機等を用いて適宜ビアホールを形成する。次いで、上述の感光性組成物を用いて、複数のセラミック層形成用グリーンシートの所定の位置に、所定のコイルパターンの導電膜を形成する。一例として、以下の工程:(ステップA)感光性組成物をセラミック層形成用グリーンシート上に付与して乾燥することにより、感光性組成物の乾燥体からなる導電膜を成形する工程;(ステップB)導電膜に所定の開口パターンのフォトマスクを被せ、フォトマスクを介して露光し、導電膜を部分的に光硬化させる工程:(ステップC)光硬化後の導電膜をエッチングしての未硬化の部分を除去する工程;を包含する製造方法によって、未焼成の状態の導電膜を形成することができる。   The multilayer chip inductor 10 can be manufactured, for example, by the following procedure. That is, first, a paste containing a ceramic material as a raw material, a binder resin, and an organic solvent is prepared, and this paste is supplied onto a carrier sheet to form a ceramic green sheet. Next, this ceramic green sheet is rolled and then cut into a desired size to obtain a plurality of ceramic layer forming green sheets. Then, via holes are appropriately formed at predetermined positions of the plurality of ceramic layer forming green sheets by using a punching machine or the like. Next, using the above-mentioned photosensitive composition, a conductive film having a predetermined coil pattern is formed at predetermined positions on the plurality of ceramic layer forming green sheets. As an example, the following steps: (Step A) a step of forming a conductive film composed of a dried body of the photosensitive composition by applying the photosensitive composition onto a ceramic layer-forming green sheet and drying it; B) A step of covering the conductive film with a photomask having a predetermined opening pattern, exposing through the photomask, and partially photo-curing the conductive film: (Step C) not etching the conductive film after photo-curing A conductive film in an unbaked state can be formed by a manufacturing method including a step of removing a cured portion.

なお、上記感光性組成物を用いて導電膜を形成するにあたっては、従来公知の手法を適宜用いることができる。例えば、(ステップA)において、感光性組成物の付与は、スクリーン印刷等の各種印刷法や、バーコータ等を用いて行うことができる。感光性組成物の乾燥は、典型的には50〜100℃で行うとよい。(ステップB)において、露光には、可視光線、紫外線、X線、電子線、α線、β線、γ線のような放射線を発する露光機を用いることができる。一例として、10〜400nmの波長範囲の光線を発する露光機、例えば高圧水銀灯、メタルハライドランプ、キセノンランプ等の紫外線照射灯を用いることができる。(ステップC)において、エッチングには、例えば水酸化ナトリウムや炭酸ナトリウム等のアルカリ成分を含む水溶液を用いることができる。   Incidentally, in forming a conductive film using the above-mentioned photosensitive composition, a conventionally known method can be appropriately used. For example, in (Step A), the application of the photosensitive composition can be performed using various printing methods such as screen printing or a bar coater. The photosensitive composition is typically dried at 50 to 100 ° C. In step (B), exposure can be performed using an exposure device that emits radiation such as visible light, ultraviolet light, X-rays, electron beams, α rays, β rays, and γ rays. As an example, an exposure device that emits light in the wavelength range of 10 to 400 nm, for example, an ultraviolet irradiation lamp such as a high pressure mercury lamp, a metal halide lamp, or a xenon lamp can be used. In (Step C), an aqueous solution containing an alkaline component such as sodium hydroxide or sodium carbonate can be used for etching.

次いで、未焼成の状態の導電膜が形成されているセラミック層形成用グリーンシートを複数枚積層し、圧着する。このことによって、未焼成のセラミックグリーンシートの積層体を作製する。次いで、セラミックグリーンシートの積層体を、例えば600〜1000℃で焼成する。これによって、セラミックグリーンシートが一体的に焼結され、セラミック層12と、感光性組成物の焼成体からなる内部電極層14とを備えた本体部11が形成される。そして、本体部11の両端部に適当な外部電極形成用ペーストを付与し、焼成することによって、外部電極20を形成する。このようにして、積層チップインダクタ10を製造することができる。   Next, a plurality of green sheets for forming a ceramic layer on which an unfired conductive film is formed are stacked and pressure-bonded. In this way, a laminate of unfired ceramic green sheets is produced. Next, the laminated body of ceramic green sheets is fired at, for example, 600 to 1000 ° C. As a result, the ceramic green sheet is integrally sintered to form the main body 11 including the ceramic layer 12 and the internal electrode layer 14 made of a fired body of the photosensitive composition. Then, an appropriate external electrode forming paste is applied to both ends of the main body 11 and baked to form the external electrodes 20. In this way, the laminated chip inductor 10 can be manufactured.

≪配合比決定装置≫
図4は、配合比決定装置30の機能ブロック図である。ここに開示される配合比決定装置30は、入力部31と、記憶部32と、第1算出部33と、第2算出部34と、表示部35と、を備えている。配合比決定装置30の各部は、相互に通信可能に構成されている。配合比決定装置30の各部は、ソフトウェアによって構成されていてもよいし、ハードウェアによって構成されていてもよい。配合比決定装置30の各部は、プロセッサによって行われるものであってもよいし、回路に組み込まれたものであってもよい。
≪Compounding ratio determination device≫
FIG. 4 is a functional block diagram of the mixture ratio determination device 30. The mixture ratio determination device 30 disclosed herein includes an input unit 31, a storage unit 32, a first calculation unit 33, a second calculation unit 34, and a display unit 35. Each unit of the mixture ratio determination device 30 is configured to be able to communicate with each other. Each part of the mixture ratio determination device 30 may be configured by software or hardware. Each part of the blending ratio determination device 30 may be implemented by a processor or may be incorporated in a circuit.

入力部31は、利用者(例えば感光性組成物を調製する作業者)の操作入力を受け付けて、使用する導電性粉末の種類および平均粒径(実測値)、ならびに目標線幅を入力可能なように構成されている。複数の導電性粉末を併用する場合には、さらにそれらの混合比率を入力可能なように構成されている。導電性粉末の種類は、例えば、購入先、品目名(製品名)、品番等で表される情報である。導電性粉末の種類は、例えば、導電性粉末の構造(コアシェル構造か否か)や、平均粒径(公称値)、平均アスペクト比、明度L等の物性値で表される情報であってもよい。入力部31は、例えば、カーソルキーや数字入力キー等を備えたキーボード、マウス等のポインティングデバイス、ボタン等の入力装置(図示せず)を備えている。入力部31は、例えば表示部35に表示されたプルダウンメニューのなかから、導電性粉末の種類を選択可能なように構成されていてもよい。入力部31は、例えば、ホストコンピュータ等の外部機器や有線または無線で接続されたネットワークから、上記したような情報を取り込み可能なように構成されていてもよい。なお、本実施形態において、「目標線幅」は、予め定められた目標レベルの一例である。 The input unit 31 accepts an operation input from a user (for example, an operator who prepares a photosensitive composition), and can input the type and average particle size (measured value) of the conductive powder to be used, and a target line width. Is configured. When a plurality of conductive powders are used in combination, the mixing ratio of them can be further input. The type of conductive powder is information represented by, for example, a purchaser, an item name (product name), a product number, and the like. The type of conductive powder is, for example, information represented by physical properties such as the structure of the conductive powder (whether or not it has a core-shell structure), the average particle size (nominal value), the average aspect ratio, and the brightness L *. Good. The input unit 31 includes, for example, a keyboard provided with cursor keys and numeral input keys, a pointing device such as a mouse, and an input device (not shown) such as a button. The input unit 31 may be configured so that the type of conductive powder can be selected from the pull-down menu displayed on the display unit 35, for example. The input unit 31 may be configured to be able to capture the above-described information from, for example, an external device such as a host computer or a network connected by wire or wirelessly. In the present embodiment, the "target line width" is an example of a predetermined target level.

記憶部32は、第1相関式および第2相関式を記憶している。第1相関式および第2相関式は、導電性粉末の種類ごと(例えば製品名ごと)に予め記憶部32に記憶されている。このため、記憶部32に記憶されている第1相関式および第2相関式は、典型的にはそれぞれ複数である。第1相関式は、一次関数で示されていてもよい。特に限定されるものではないが、第1相関式は、例えば上記した導電性粉末の平均粒径(実測値)と実線幅との相関式である。第2相関式は、所定の傾き(変化の割合)を有している。第2相関式は、一次関数で示されていてもよい。特に限定されるものではないが、第2相関式は、例えば、上記した有機成分(例えば重合開始剤系)の配合比と実線幅との相関式である。記憶部32は、さらにベースとなるベヒクルの組成、すなわちベヒクルに含まれる各有機成分の種類と配合比を記憶していてもよい。   The storage unit 32 stores the first correlation equation and the second correlation equation. The first correlation equation and the second correlation equation are stored in advance in the storage unit 32 for each type of conductive powder (for example, for each product name). Therefore, there are typically a plurality of first correlation equations and a plurality of second correlation equations stored in the storage unit 32. The first correlation equation may be represented by a linear function. Although not particularly limited, the first correlation equation is, for example, the above-described correlation equation between the average particle size (measured value) of the conductive powder and the solid line width. The second correlation equation has a predetermined slope (change rate). The second correlation equation may be represented by a linear function. Although not particularly limited, the second correlation equation is, for example, a correlation equation between the compounding ratio of the above-mentioned organic component (for example, a polymerization initiator system) and the solid line width. The storage unit 32 may further store the composition of the base vehicle, that is, the type and blending ratio of each organic component contained in the vehicle.

第1算出部33は、利用者によって、入力部31から、使用する導電性粉末の種類および平均粒径(実測値)の入力操作がなされると、記憶部32に記憶されている第1相関式のなかから、入力された導電性粉末と同じ種類の導電性粉末に係る第1相関式を参照する。そして、入力部31に入力された平均粒径(実測値)から、目標線幅に対する予想ズレ幅を算出する。例えば、第1相関式が導電性粉末の平均粒径(実測値)と実線幅との相関式で示されている場合は、まず入力部31に入力された平均粒径(実測値)を対応する第1相関式に内挿して、予想される線幅を算出する。そして、予想される線幅と、利用者によって入力部31から入力された目標線幅と、の差分を予想ズレ幅として算出する。なお、本実施形態において、「予想ズレ幅」は、予想ズレ値の一例である。   When the user inputs the type of the conductive powder to be used and the average particle size (measured value) from the input unit 31, the first calculation unit 33 stores the first correlation stored in the storage unit 32. Among the formulas, the first correlation formula relating to the conductive powder of the same kind as the input conductive powder is referred to. Then, the expected deviation width with respect to the target line width is calculated from the average particle diameter (measured value) input to the input unit 31. For example, when the first correlation equation is represented by the correlation equation between the average particle size (measured value) of the conductive powder and the solid line width, first the average particle size (measured value) input to the input unit 31 is used. The expected line width is calculated by interpolating into the first correlation equation. Then, the difference between the expected line width and the target line width input by the user from the input unit 31 is calculated as the expected deviation width. It should be noted that in the present embodiment, the “expected shift width” is an example of a predicted shift value.

第2算出部34は、第1算出部33で予想ズレ幅が算出されると、記憶部32に記憶されている第2相関式のなかから、入力された導電性粉末と同じ種類の導電性粉末に係る第2相関式を参照する。そして、第1算出部33で算出された予想ズレ幅に基づいて、有機成分の配合比を算出する。例えば、第2相関式が重合開始剤系の配合比と実線幅との相関式とで示されている場合は、予想ズレ幅を第2相関式の傾きで割り、予想ズレ幅を打ち消すための重合開始剤系の配合比を算出する。そして、ベヒクルに含まれる光重合開始剤系の配合比から、上記予想ズレ幅を打ち消すための配合比を増減して最終的な配合比とする。   When the expected shift width is calculated by the first calculation unit 33, the second calculation unit 34 calculates the conductivity of the same type as the input conductive powder from the second correlation equation stored in the storage unit 32. Refer to the second correlation equation relating to the powder. Then, the blending ratio of the organic components is calculated based on the expected deviation width calculated by the first calculating unit 33. For example, when the second correlation equation is represented by the correlation equation between the compounding ratio of the polymerization initiator system and the solid line width, the expected deviation width is divided by the slope of the second correlation expression to cancel the expected deviation width. The blending ratio of the polymerization initiator system is calculated. Then, the compounding ratio for canceling the expected deviation width is increased or decreased from the compounding ratio of the photopolymerization initiator system contained in the vehicle to obtain the final compounding ratio.

配合比決定装置30は、例えばコンピュータであり、利用者に対するインターフェイス(I/F)と、制御プログラムの命令を実行する中央演算処理装置(CPU:central processing unit)と、CPUが実行するプログラムを格納したROM(read only memory)と、プログラムを展開するワーキングエリアとして使用されるRAM(random access memory)と、上記プログラムや各種データを格納するメモリ等の記憶装置と、を備えている。配合比決定装置30は、コンピュータのCPUを、配合比決定装置30の各部として動作させるように構成されたコンピュータプログラムであってもよい。かかるコンピュータプログラムは、配合比決定装置30の動作が書き込まれ、コンピュータで読み取り可能な記録媒体であっていてもよい。   The mixture ratio determination device 30 is, for example, a computer, and stores an interface (I / F) for a user, a central processing unit (CPU) that executes a command of a control program, and a program that the CPU executes. A read only memory (ROM), a random access memory (RAM) used as a working area for developing a program, and a storage device such as a memory for storing the program and various data. The blending ratio determination device 30 may be a computer program configured to cause a CPU of a computer to operate as each unit of the blending ratio determination device 30. The computer program may be a computer-readable recording medium in which the operation of the blending ratio determination device 30 is written.

記録媒体としては、例えば、半導体記録媒体(例えば、ROM、不揮発性メモリーカード)、光記録媒体(例えば、DVD、MO、MD、CD、BD)、磁気記録媒体(例えば、磁気テープ、フレキシブルディスク)等が例示される。また、上記コンピュータプログラムは、上記記録媒体あるいはインターネットやイントラネット等のネットワークを介して、サーバーコンピュータに送信することができる。この場合、サーバーコンピュータもまた、配合比決定装置30の一形態である。   As the recording medium, for example, a semiconductor recording medium (for example, ROM, non-volatile memory card), an optical recording medium (for example, DVD, MO, MD, CD, BD), a magnetic recording medium (for example, magnetic tape, flexible disk). Etc. are illustrated. Further, the computer program can be transmitted to the server computer via the recording medium or a network such as the Internet or an intranet. In this case, the server computer is also one form of the mixing ratio determination device 30.

以下、本発明に関するいくつかの実施例を説明するが、本発明を係る実施例に示すものに限定することを意図したものではない。   Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described, but the present invention is not intended to be limited to those shown in the embodiments.

<実施例1:1種類の導電性粉末を単独で用いる場合>
以下、1種類の導電性粉末を単独で用いて感光性組成物を製造する場合を説明する。ここでは事前準備として、まず使用する導電性粉末に対応した第1相関式および第2相関式を用意した。具体的には、図5に示す第1相関式と、図6の第2相関式と、を用意した。図6は、光重合開始剤系の配合比を調整するための第2相関式である。
<Example 1: When using one kind of conductive powder alone>
Hereinafter, a case of producing a photosensitive composition by using one type of conductive powder alone will be described. Here, as a preliminary preparation, first, a first correlation equation and a second correlation equation corresponding to the conductive powder to be used were prepared. Specifically, the first correlation equation shown in FIG. 5 and the second correlation equation shown in FIG. 6 were prepared. FIG. 6 is a second correlation equation for adjusting the compounding ratio of the photopolymerization initiator system.

図5に示す第1相関式は、次のようにして用意されたものである。すなわち、まず導電性粉末として、平均粒径(公称値)が概ね3μm前後である市販の銀粉末を複数(ここでは15種類)用意した。次に、レーザー回折・散乱法に基づく粒度分布測定装置(マイクロトラック・ベル株式会社製の型式「MT−3000II」、測定範囲:0.02〜2800μm)を用いて、分散溶媒中での湿式測定によって15種類の銀粉末の平均粒径をそれぞれ実測した。分散溶媒としては、銀粉末の凝集を抑制して、個々の粒子を分散溶媒中に分散させる観点から、アルコール系溶媒(具体的には、エタノール)を用いた。そして、体積基準の粒度分布を得た。なお、粒度分布は、典型的にはモード径(最頻粒子径)が1つのみの単峰性であった。粒度分布から、15種類の銀粉末の平均粒径(実測値)をそれぞれ読みとった。   The first correlation equation shown in FIG. 5 is prepared as follows. That is, first, as the conductive powder, a plurality (15 kinds here) of commercially available silver powders having an average particle diameter (nominal value) of about 3 μm were prepared. Next, using a particle size distribution analyzer based on laser diffraction / scattering method (Model “MT-3000II” manufactured by Microtrac Bell Co., measurement range: 0.02 to 2800 μm), wet measurement in a dispersion solvent The average particle diameters of 15 kinds of silver powder were measured by. As the dispersion solvent, an alcohol solvent (specifically, ethanol) was used from the viewpoint of suppressing the aggregation of the silver powder and dispersing the individual particles in the dispersion solvent. And the volume-based particle size distribution was obtained. The particle size distribution was typically monomodal with only one mode diameter (modal particle diameter). From the particle size distribution, the average particle size (measured value) of each of the 15 types of silver powder was read.

次に、有機バインダと、光硬化性化合物と、光重合開始剤と、増感剤と、光吸収剤としての紫外線吸収剤と、重合禁止剤とを、表1の組成で有機系分散媒に溶解させて、ベヒクルを用意した。次に、上記用意した15種類の銀粉末と、ベヒクルとを、77:23の質量比で混合することにより、それぞれ感光性組成物を調製した。   Next, an organic binder, a photocurable compound, a photopolymerization initiator, a sensitizer, an ultraviolet absorber as a light absorber, and a polymerization inhibitor were added to the organic dispersion medium in the composition shown in Table 1. It was dissolved and a vehicle was prepared. Next, the above-prepared 15 kinds of silver powder and the vehicle were mixed in a mass ratio of 77:23 to prepare photosensitive compositions, respectively.

Figure 0006694099
Figure 0006694099

次に、スクリーン印刷により、上記調製した感光性組成物を市販のセラミックグリーンシート上にそれぞれ塗布した。次に、これを60℃で15分間乾燥させて、グリーンシート上に導電膜(ベタ膜)を成形した(導電膜の成形工程)。次に、導電膜の上からフォトマスクを被せた。フォトマスクとしては、L/S=25μm/25μmのものを使用した。このフォトマスクを導電膜の上に被せた状態で、紫外線露光機により、2500mJ/cmの強度で光を照射し、導電膜を部分的に硬化させた(露光工程)。露光後、セラミックグリーンシートに0.4質量%のNaCO水溶液を吹き付け、未硬化の導電膜部分をエッチング除去した後、純水で洗浄し、室温で乾燥させた(現像工程)。こうして、セラミックグリーンシート上に配線パターンを形成した。 Next, each of the prepared photosensitive compositions was applied onto a commercially available ceramic green sheet by screen printing. Next, this was dried at 60 ° C. for 15 minutes to form a conductive film (solid film) on the green sheet (conductive film forming step). Next, a photomask was covered over the conductive film. A photomask having L / S = 25 μm / 25 μm was used. With the photomask covering the conductive film, the conductive film was partially cured by irradiating it with light having an intensity of 2500 mJ / cm 2 by an ultraviolet exposure device (exposure step). After the exposure, a 0.4 mass% Na 2 CO 3 aqueous solution was sprayed on the ceramic green sheet to remove the uncured conductive film portion by etching, followed by washing with pure water and drying at room temperature (developing step). Thus, the wiring pattern was formed on the ceramic green sheet.

次に、配線パターンをレーザー顕微鏡で観察し、得られた観察画像から配線の線幅を計測した。なお、線幅の計測は複数視野について行い、その算術平均値を実線幅(実際の線幅)とした。そして、図5に示すように、15種類の銀粉末の平均粒径(実測値)と実線幅との相関をグラフに表すと共に、相関式(Y=5.593X+11.192)を算出した。図5に示す第1相関式では、銀粉末の平均粒径(実測値)と、当該銀粉末を含んだ感光性組成物を用いてなる実線幅とが比例(相関係数:0.92)している。図5に示す第1相関式は、一次関数で示されている。図5において、平均粒径(実測値)と実線幅とは正の相関を有している。すなわち、銀粉末の平均粒径(実測値)が大きくなるにつれて、線幅はリニアに太くなっている。   Next, the wiring pattern was observed with a laser microscope, and the line width of the wiring was measured from the obtained observation image. The line width was measured for a plurality of visual fields, and the arithmetic mean value thereof was taken as the real line width (actual line width). Then, as shown in FIG. 5, the correlation between the average particle diameter (actual measurement value) of 15 kinds of silver powder and the solid line width is shown in a graph, and the correlation equation (Y = 5.593X + 11.192) is calculated. In the first correlation equation shown in FIG. 5, the average particle diameter (measured value) of the silver powder is proportional to the solid line width using the photosensitive composition containing the silver powder (correlation coefficient: 0.92). is doing. The first correlation equation shown in FIG. 5 is represented by a linear function. In FIG. 5, the average particle diameter (measured value) and the solid line width have a positive correlation. That is, the line width linearly increases as the average particle size (measured value) of the silver powder increases.

図6の第2相関式は、次のようにして用意されたものである。すなわち、まず、導電性粉末として所定の銀粉末を用意した。また、有機バインダと、光硬化性化合物と、光重合開始剤と、増感剤と、紫外線吸収剤と、重合禁止剤と、有機系分散媒とを、上記した表1の配合比で混合して、ベースとなるベヒクルを用意した。次に、銀粉末とベヒクルとを77:23の質量比で混合することにより、ベースとなる感光性組成物を調製した。   The second correlation equation of FIG. 6 is prepared as follows. That is, first, a predetermined silver powder was prepared as the conductive powder. Further, the organic binder, the photocurable compound, the photopolymerization initiator, the sensitizer, the ultraviolet absorber, the polymerization inhibitor, and the organic dispersion medium are mixed in the mixing ratio shown in Table 1 above. I prepared a base vehicle. Next, the silver powder and the vehicle were mixed at a mass ratio of 77:23 to prepare a base photosensitive composition.

次に、ベースとなる感光性組成物の中から、表2のように光重合開始剤系(光重合開始剤および増感剤)の配合比を変化させた。このとき光重合開始剤系の配合比を増減した分は、有機系分散媒の量を増減することで調整した。例えば、光重合開始剤系の配合比を0.550から0.515に減らした場合は、その分(0.035)だけ有機系分散媒の量を増やした。このような感光性組成物を複数(ここでは5パターン)調製した。なお、光重合開始剤系の配合比を変化させた際に、光重合開始剤と増感剤との比率は一定とした。次に、上記調製した複数の感光性組成物を用いて、上述した第1相関式の算出時と同様に配線パターンを形成し、実線幅を求めた。そして、5パターンの感光性組成物中の光重合開始剤の配合比と実線幅との相関をグラフに表すと共に、相関式(Y=74.927X+19.762)を算出した。   Next, the compounding ratio of the photopolymerization initiator system (photopolymerization initiator and sensitizer) was changed as shown in Table 2 from the base photosensitive composition. At this time, the amount by which the compounding ratio of the photopolymerization initiator system was increased or decreased was adjusted by increasing or decreasing the amount of the organic dispersion medium. For example, when the compounding ratio of the photopolymerization initiator system was reduced from 0.550 to 0.515, the amount of the organic dispersion medium was increased by that amount (0.035). A plurality of such photosensitive compositions (here, 5 patterns) were prepared. Note that, when the compounding ratio of the photopolymerization initiator system was changed, the ratio of the photopolymerization initiator and the sensitizer was kept constant. Next, using the plurality of photosensitive compositions prepared above, a wiring pattern was formed in the same manner as in the calculation of the first correlation equation described above, and the solid line width was obtained. Then, the correlation between the compounding ratio of the photopolymerization initiator and the solid line width in the photosensitive composition having 5 patterns was shown in a graph, and the correlation equation (Y = 74.927X + 19.762) was calculated.

Figure 0006694099
Figure 0006694099

図6の第2相関式では、感光性組成物中の重合開始剤系の配合比と実線幅とが比例(相関係数:0.96)している。図6の第2相関式は、一次関数で示されている。図6において、重合開始剤系の配合比と実線幅とは、正の相関を有している。すなわち、重合開始剤系の配合比が大きくなるにつれて、線幅がリニアに太くなっていることがわかる。   In the second correlation formula of FIG. 6, the compounding ratio of the polymerization initiator system in the photosensitive composition and the solid line width are proportional (correlation coefficient: 0.96). The second correlation equation in FIG. 6 is represented by a linear function. In FIG. 6, the compounding ratio of the polymerization initiator system and the solid line width have a positive correlation. That is, it can be seen that the line width linearly increases as the blending ratio of the polymerization initiator system increases.

実施例1では、以上のように第1相関式と第2相関式とを揃えた後、ステップS1として、感光性組成物に使用する銀粉末(平均粒径(公称値):3μm)を用意した。次に、第1相関式の算出時と同じ粒度分布測定装置を用いて、同じ測定解析条件で、銀粉末の平均粒径を実測した。そして、体積基準の粒度分布から銀粉末の平均粒径(実測値)を読みとった。ここでは、実測値が3.17μmであった。   In Example 1, after aligning the first correlation equation and the second correlation equation as described above, a silver powder (average particle diameter (nominal value): 3 μm) used in the photosensitive composition is prepared in step S1. did. Next, the average particle size of the silver powder was measured under the same measurement and analysis conditions using the same particle size distribution measuring device as that used in the calculation of the first correlation equation. Then, the average particle size (measured value) of the silver powder was read from the volume-based particle size distribution. Here, the actually measured value was 3.17 μm.

次に、ステップS2として、ステップS1で得られた実測値を、図5の第1相関式と対比した。そして、予め定められた目標線幅に対する予想ズレ幅を確認した。ここでは、実測値が3.17μmを、図5の第1相関式(Y=5.593X+11.192)に内挿すると、予想される線幅が28.92μmと算出される。このため、目標線幅が27.3μmである場合、予想ズレ幅は、(予想される線幅28.92μm)−(目標線幅27.3μm)で、+1.62μmと算出される。すなわち、このままベース通りのベヒクルの組成で感光性組成物を調製すると、目標線幅から1.62μmの線幅の太りが生じる可能性が高いことがわかる。   Next, in step S2, the actually measured value obtained in step S1 was compared with the first correlation expression in FIG. Then, the expected deviation width with respect to the predetermined target line width was confirmed. Here, by interpolating the measured value of 3.17 μm into the first correlation equation (Y = 5.593X + 11.192) of FIG. 5, the expected line width is calculated as 28.92 μm. Therefore, when the target line width is 27.3 μm, the expected shift width is (expected line width 28.92 μm) − (target line width 27.3 μm), and is calculated to be +1.62 μm. That is, it can be seen that when the photosensitive composition is prepared with the composition of the vehicle as it is, the line width of 1.62 μm from the target line width is likely to be thickened.

そこで、次に、ステップS3として、予想ズレ幅を打ち消して目標線幅に近づけるように、有機成分の配合比を変更した。ここでは、図6の第2相関式(Y=74.927X+19.762)に基づいて、重合開始剤系の配合比を調整した。すなわち、予想ズレ幅+1.62μmを第2相関式の傾き74.927で割った値(=1.62/74.927)=+0.022が、予想ズレ幅+1.62μm分を調整する重合開始剤系の量となる。したがって、予想ズレ幅を打ち消すために、ベースの感光性組成物から重合開始剤系の割合を0.022質量%減少させた。表3は、予想ズレ幅を考慮して決定された重合開始剤系の配合比の一例である。   Therefore, next, in step S3, the blending ratio of the organic components is changed so as to cancel the expected deviation width and bring it closer to the target line width. Here, the compounding ratio of the polymerization initiator system was adjusted based on the second correlation formula (Y = 74.927X + 19.762) in FIG. That is, the value obtained by dividing the expected deviation width +1.62 μm by the slope 74.927 of the second correlation formula (= 1.62 / 74.927) = + 0.022 is the amount of the polymerization initiator system for adjusting the expected deviation width +1.62 μm. Becomes Therefore, the proportion of the polymerization initiator system was reduced from the base photosensitive composition by 0.022% by mass in order to cancel the expected deviation width. Table 3 is an example of the compounding ratio of the polymerization initiator system determined in consideration of the expected deviation width.

Figure 0006694099
Figure 0006694099

次に、ステップS4として、表3のように重合開始剤系の配合比を変更したベヒクルを調製した。なお、表3に記載の無い有機成分、例えば、有機バインダ、光硬化性化合物、紫外線吸収剤、重合禁止剤については、ベースとなる感光性組成物の配合と同じである。次に、ステップS1で平均粒径を実測した銀粉末とベヒクルとを混合して、感光性組成物を調製した。そして、配線パターンを形成し、実線幅を計測した。その結果、実線幅は、27.4μmであった。すなわち、ステップS2で予想された線幅(29.0μm)よりも、目標線幅(27.3μm)に大きく近づく結果となった。   Next, as step S4, a vehicle was prepared in which the compounding ratio of the polymerization initiator system was changed as shown in Table 3. The organic components not shown in Table 3, such as the organic binder, the photocurable compound, the ultraviolet absorber, and the polymerization inhibitor, are the same as those in the photosensitive composition as the base. Next, the silver powder whose average particle size was measured in step S1 and the vehicle were mixed to prepare a photosensitive composition. Then, a wiring pattern was formed and the solid line width was measured. As a result, the solid line width was 27.4 μm. That is, the result is that the target line width (27.3 μm) is much closer than the line width (29.0 μm) predicted in step S2.

さらに数種類の導電性粉末について、上記と同様に、ここで開示される技術を適用して、感光性組成物を調製し、実線幅を計測した。すなわち、ステップS1で銀粉末の平均粒径の実測値を取得し、ステップS2で予想ズレ幅を確認し、ステップS3で重合開始剤系の配合比を決定して、ベヒクルの配合を調整した後、感光性組成物を調製して、実線幅を計測した。結果を表4に示す。なお、表4の右端は、上記した実施例1の結果である。また、参考例として、ここで開示される技術を適用せず、ベースのベヒクルをそのまま使用した(すなわち、重合開始剤系の配合比を調整せずに一定とした)場合の実線幅(μm)を最下段に記載している。   Further, for several kinds of conductive powders, the technology disclosed herein was applied to prepare a photosensitive composition in the same manner as above, and the solid line width was measured. That is, the actual measurement value of the average particle size of the silver powder is obtained in step S1, the expected deviation width is confirmed in step S2, the mixture ratio of the polymerization initiator system is determined in step S3, and the mixture of the vehicle is adjusted. The photosensitive composition was prepared and the solid line width was measured. The results are shown in Table 4. The right end of Table 4 is the result of Example 1 described above. In addition, as a reference example, the solid line width (μm) in the case where the technology disclosed herein is not applied and the base vehicle is used as it is (that is, the mixing ratio of the polymerization initiator system is constant without adjustment) Is described at the bottom.

Figure 0006694099
Figure 0006694099

図7は、表4の結果を纏めて、ここで開示される技術の適用有無における実線幅を比較したグラフである。図7および表4から明らかなように、ここに開示される技術を適用することによって、ここに開示される技術を適用しない場合(参考例)と比べて、相対的に導電性粉末の製造ロット間の変動を緩衝して、線幅のバラつきを抑えることができた。ここでは、線幅の変動を±1μm以下、さらには±0.5μm以下に抑えることができた。言い換えれば、細線状の配線を目標線幅の付近で安定的に形成することができた。かかる結果は、ここに開示される技術の意義を示している。   FIG. 7 is a graph comparing the results of Table 4 and comparing the solid line widths with and without the application of the technology disclosed herein. As is clear from FIG. 7 and Table 4, by applying the technology disclosed herein, the production lot of the conductive powder is relatively larger than that in the case where the technology disclosed herein is not applied (reference example). The variation in the line width could be suppressed by buffering the variation between the lines. Here, the fluctuation of the line width could be suppressed to ± 1 μm or less, and further to ± 0.5 μm or less. In other words, the fine line-shaped wiring could be stably formed in the vicinity of the target line width. These results demonstrate the significance of the technology disclosed herein.

<実施例2:2種類の導電性粉末を混合して用いる場合>
以下、2種類の導電性粉末を混合した混合粉を用いて感光性組成物を製造する場合を説明する。ここでは事前準備として、まず使用する2つの導電性粉末に対応した2つの第1相関式を用意した。具体的には、図8、9に実線で示す第1相関式を用意した。また、あわせて第2相関式を用意した。なお、第2相関式については図6に示したものと同じものを用意した。
<Example 2: When two kinds of conductive powders are mixed and used>
Hereinafter, a case of producing a photosensitive composition using a mixed powder obtained by mixing two kinds of conductive powders will be described. Here, as a preliminary preparation, first, two first correlation expressions corresponding to the two conductive powders to be used were prepared. Specifically, the first correlation equation shown by the solid lines in FIGS. 8 and 9 was prepared. In addition, a second correlation formula was also prepared. The same second correlation equation as shown in FIG. 6 was prepared.

図8に実線で示す第1相関式は、次のようにして用意されたものである。すなわち、まず第1の導電性粉末として、平均粒径(公称値)が概ね2.9μm前後である第1銀粉末を複数(ここでは7種類)用意した。そして、上記した実施例1の図5の第1相関式の算出時と同様に、7種類の第1銀粉末の平均粒径(実測値)をそれぞれ実測した。また、第2の導電性粉末として、平均粒径(実測値)が2.56μmである第2銀粉末を用意した。次に、第1銀粉末と第2銀粉末とを、所定の比率(ここでは40:60)の質量比で混合することにより、混合粉を調整した。この混合粉と表1に示したベヒクルとを77:23の質量比で混合することにより、感光性組成物を調製した。次に、この感光性組成物を用いて、上記した実施例1と同様に配線パターンを形成し、平均粒径(実測値)と実線幅との相関式(Y=1.89X+24.85)を算出した。   The first correlation equation shown by the solid line in FIG. 8 is prepared as follows. That is, first, as the first conductive powder, a plurality (here, seven types) of first silver powders having an average particle diameter (nominal value) of about 2.9 μm were prepared. Then, as in the case of calculating the first correlation equation of FIG. 5 in Example 1 described above, the average particle diameters (measured values) of the seven types of first silver powders were measured, respectively. As the second conductive powder, a second silver powder having an average particle size (actual measurement value) of 2.56 μm was prepared. Next, the mixed powder was prepared by mixing the first silver powder and the second silver powder in a mass ratio of a predetermined ratio (here, 40:60). A photosensitive composition was prepared by mixing this mixed powder with the vehicle shown in Table 1 in a mass ratio of 77:23. Next, using this photosensitive composition, a wiring pattern was formed in the same manner as in Example 1 described above, and a correlation expression (Y = 1.89X + 24.85) between the average particle diameter (actual measurement value) and the solid line width was calculated. did.

図9に実線で示す第1相関式は、次のようにして用意されたものである。すなわち、まず第2の導電性粉末として、平均粒径(公称値)が概ね2.4μm前後である第2銀粉末を複数(ここでは5種類)用意した。そして、上記した実施例1の図5の第1相関式の算出時と同様に、5種類の第2銀粉末の平均粒径(実測値)をそれぞれ実測した。また、第1の導電性粉末として、平均粒径(実測値)が3.06μmである第1銀粉末を用意した。次に、第1銀粉末と第2銀粉末とを、40:60の質量比で混合することにより、混合粉を調整した。そして、上記した図8の第1相関式の算出時と同様に、平均粒径(実測値)と実線幅との相関式(Y=2.12X+24.72)を算出した。   The first correlation equation shown by the solid line in FIG. 9 is prepared as follows. That is, first, as the second conductive powder, a plurality (here, five types) of second silver powders having an average particle diameter (nominal value) of about 2.4 μm were prepared. Then, the average particle diameters (measured values) of the five types of the second silver powders were measured, respectively, in the same manner as in the calculation of the first correlation equation in FIG. 5 of Example 1 described above. Further, as the first conductive powder, a first silver powder having an average particle size (actual measurement value) of 3.06 μm was prepared. Next, the mixed powder was prepared by mixing the first silver powder and the second silver powder in a mass ratio of 40:60. Then, the correlation equation (Y = 2.12X + 24.72) between the average particle diameter (measured value) and the solid line width was calculated in the same manner as the above-described calculation of the first correlation equation in FIG.

図8、9に実線で示す第1相関式は、実施例1の図5の第1相関式と同様に、変化させた銀粉末の平均粒径(実測値)と、実線幅とが、比例(相関係数:0.92以上)している。図8、9に実線で示す第1相関式は、一次関数で示されている。図8、9において、平均粒径(実測値)と実線幅とは、正の相関を有している。   The first correlation equation shown by the solid line in FIGS. 8 and 9 is similar to the first correlation equation of FIG. 5 of Example 1 in that the average particle diameter (measured value) of the changed silver powder is proportional to the solid line width. (Correlation coefficient: 0.92 or more). The first correlation equation shown by the solid line in FIGS. 8 and 9 is represented by a linear function. In FIGS. 8 and 9, the average particle size (measured value) and the solid line width have a positive correlation.

実施例2では、以上のように2つの第1相関式を揃えた後、ステップS1として、感光性組成物に使用する第1銀粉末(平均粒径(公称値):2.9μm)と第2銀粉末(平均粒径(公称値):2.4μm)の2種類の導電性粉末を用意した。次に、図8、9の第1相関式の算出時と同様に、第1銀粉末および第2銀粉末の平均粒径をそれぞれ実測した。次に、ステップS2として、ステップS1で得られた第1銀粉末の実測値を、図8の第1相関式(Y=1.89X+24.85)と対比した。また、第2銀粉末の実測値を、図9の第1相関式(Y=2.12X+24.72)と対比した。次に、2種類の銀粉末のそれぞれについて、目標線幅(ここでは、30.0μmに設定した。)に対する予想ズレ幅α1、α2を算出した。すなわち、第1銀粉末および第2銀粉末の実測値をx1,x2とし、予想線幅をy1,y2とすると、予想ズレ幅α1、α2は、下記の式から求めた。
α1 = y1−30.0 = 1.89×x1+24.85−30.0
α2 = y2−30.0 = 2.12×x2+24.72−30.0
In Example 2, after aligning the two first correlation equations as described above, in step S1, the first silver powder (average particle size (nominal value): 2.9 μm) and the first silver powder used in the photosensitive composition were prepared. Two kinds of conductive powders of 2 silver powders (average particle diameter (nominal value): 2.4 μm) were prepared. Next, the average particle diameters of the first silver powder and the second silver powder were measured, respectively, as in the calculation of the first correlation equation in FIGS. Next, in step S2, the actually measured value of the first silver powder obtained in step S1 was compared with the first correlation equation (Y = 1.89X + 24.85) in FIG. Moreover, the measured value of the second silver powder was compared with the first correlation expression (Y = 2.12X + 24.72) in FIG. 9. Next, for each of the two types of silver powder, the expected deviation widths α1 and α2 with respect to the target line width (here, set to 30.0 μm) were calculated. That is, assuming that the actually measured values of the first silver powder and the second silver powder are x1 and x2 and the expected line widths are y1 and y2, the expected deviation widths α1 and α2 are obtained from the following equations.
α1 = y1-30.0 = 1.89 × x1 + 24.85-30.0
α2 = y2-30.0 = 2.12 × x2 + 24.72-30.0

そして、2種類の導電性粉末を混合して用いる場合の予想ズレ幅をβ(μm)は、上記の予想ズレ幅α1、α2を用いて、以下の式から求めた。
β = α1+α2
Then, the expected deviation width β (μm) when two kinds of conductive powders are mixed and used is obtained from the following equation using the above-mentioned expected deviation widths α1 and α2.
β = α1 + α2

次に、ステップS3として、上記した実施例1と同様に、ベヒクルに含まれる重合開始剤系の配合比を表5、6のように調整した。次に、ステップS4として、上記した実施例1と同様に、感光性組成物を調製した。そして、配線パターンを形成し、実線幅を計測した。   Next, in step S3, as in Example 1 described above, the compounding ratio of the polymerization initiator system contained in the vehicle was adjusted as shown in Tables 5 and 6. Next, as Step S4, a photosensitive composition was prepared in the same manner as in Example 1 described above. Then, a wiring pattern was formed and the solid line width was measured.

Figure 0006694099
Figure 0006694099

Figure 0006694099
Figure 0006694099

表5、6から明らかなように、ここに開示される技術を適用することによって、2種類の導電性粉末を混合して用いる場合においても、導電性粉末の製造ロット間の変動を緩衝して、線幅のバラつきを抑えることができた。ここでは、線幅の変動を±1μm以下、さらには±0.5μm以下に抑えることができた。   As is clear from Tables 5 and 6, by applying the technology disclosed herein, even when two kinds of conductive powders are mixed and used, the variation between the manufacturing lots of the conductive powders is buffered. It was possible to suppress variations in line width. Here, the fluctuation of the line width could be suppressed to ± 1 μm or less, and further to ± 0.5 μm or less.

なお、図8、9に破線で示す第1相関式は、それぞれ第1銀粉末と第2銀粉末とを70:30の質量比で混合した場合のものである。このように混合比を変化させた場合であっても、実線で示す第1相関式と同様に、変化させた銀粉末の平均粒径(実測値)と、実線幅とが、一次関数で比例(相関係数:0.95以上)している。平均粒径(実測値)と実線幅とは、正の相関を有している。このことから、混合比に依らず、種々の混合粉についてここに開示される技術が適用可能であると考えられる。   The first correlation equations shown by broken lines in FIGS. 8 and 9 are for the case where the first silver powder and the second silver powder are mixed at a mass ratio of 70:30, respectively. Even when the mixing ratio is changed in this way, the average particle size (measured value) of the changed silver powder and the solid line width are proportional to each other by a linear function, as in the first correlation equation shown by the solid line. (Correlation coefficient: 0.95 or more). The average particle size (measured value) and the solid line width have a positive correlation. From this, it is considered that the technology disclosed here is applicable to various mixed powders regardless of the mixing ratio.

以上、本発明の好適な実施形態について説明した。しかし、上述の実施形態は例示に過ぎず、本発明は他の種々の形態で実施することができる。本発明は、本明細書に開示されている内容と当該分野における技術常識とに基づいて実施することができる。請求の範囲に記載の技術には、上記に例示した実施形態を様々に変形、変更したものが含まれる。例えば、上記した実施形態の一部を組み合わせたり、他の変形態様に置き換えたりすることも可能である。また、その技術的特徴が必須なものとして説明されていなければ、適宜削除することも可能である。   The preferred embodiment of the present invention has been described above. However, the above-described embodiment is merely an example, and the present invention can be implemented in various other modes. The present invention can be carried out based on the contents disclosed in this specification and the common general technical knowledge in the field. The technology described in the claims includes various modifications and changes of the above-described embodiments. For example, it is possible to combine some of the above-described embodiments or replace them with other modified modes. In addition, if the technical features are not described as being indispensable, they can be appropriately deleted.

上記した実施形態では、目標レベルの因子が「線幅」で定められていたが、これには限定されない。目標レベルの因子は、導電膜の光吸収度や光硬化度に起因するものであればよく、例えば、導電膜の膜厚、電極断面積、硬化収縮率、抵抗値等であってもよい。すなわち、図1(A)、(B)から、導電性粉末の粒径の違いによって、光の散乱が変化し、その結果、導電膜の光吸収性が変化することで、光硬化度が変化することがわかる。この観点からすると、導電性粉末の粒径の違いによって、上記した線幅だけでなく、膜厚、断面積、硬化収縮率等も同様に変化しうることが、当業者には明らかである。また、それに伴い、抵抗値も同様に変化しうることが、当業者には明らかである。   In the above-described embodiment, the target level factor is defined by the “line width”, but the present invention is not limited to this. The target level factor may be derived from the light absorption or photocurability of the conductive film, and may be, for example, the film thickness of the conductive film, the electrode cross-sectional area, the curing shrinkage ratio, the resistance value, or the like. That is, from FIGS. 1A and 1B, the scattering of light changes due to the difference in the particle size of the conductive powder, and as a result, the light absorption of the conductive film changes, thereby changing the photocurability. I understand that From this point of view, it is apparent to those skilled in the art that not only the line width described above but also the film thickness, the cross-sectional area, the cure shrinkage, and the like can be changed due to the difference in the particle diameter of the conductive powder. Further, it is obvious to those skilled in the art that the resistance value may change accordingly.

このことは、例えば、以下のような参考文献1〜3:
・参考文献1:宇加治孝志著、CMCテクニカルライブラリー206、プラスチック表面処理技術と材料、P.67、塗膜の光透過率(%)と粒子径(μm)との相関図;
・参考文献2:山本貴金属地金 株式会社、高分子技術レポート、Vol.5(2011年)、P.20、図15(照射光の強度を変えた場合のヘキサンジオールジアクリレートの反応率と硬化時間の関係);
・参考文献3:情報技術協会発行、UV硬化樹脂の配合設計、特性評価と新しい応用、P.470、 図16(UVレジストの硬化収縮における膜厚の変化);
等からも裏づけられていると考えられる。
For example, the following references 1-3:
-Reference 1: Takashi Ukaji, CMC Technical Library 206, Plastic Surface Treatment Technology and Materials, P. 67, a correlation diagram between the light transmittance (%) of the coating film and the particle diameter (μm);
-Reference 2: Yamamoto Kikinzoku Kinkin Co., Ltd., Polymer Technology Report, Vol. 5 (2011), P. 20, FIG. 15 (relationship between the reaction rate of hexanediol diacrylate and the curing time when the intensity of irradiation light is changed);
-Reference 3: Published by Information Technology Association, UV curing resin compounding design, characteristic evaluation and new application, P.P. 470, FIG. 16 (change in film thickness due to curing shrinkage of UV resist);
It is considered to be supported by the above.

上記文献の記載を考慮すると、例えば0.1〜10μmの範囲では、導電性粉末の粒径の変化にしたがって、光吸収度や光硬化度の因子が単調増加または単調減少することは明らかであると推認される。つまり、粒径の変位に伴う線幅の変動とそれらの変位は、比例、または一定の関数で相関の高い推移となると考えられる。以上のことから、線幅のバラつきを緩衝することは、光吸収度や光硬化度に関する因子のバラつきを抑制することと同義であるといえる。つまり、ここに開示される技術において、「目標レベル」は、目標線幅としてもよく、目標膜厚としてもよく、目標断面積としてもよく、目標硬化収縮率としてもよく、目標抵抗値としてもよくと考えられる。また、「予想ズレ値」は、目標レベルに対応して、ズレ幅としても良く、ズレ厚としてもよく、ズレ断面積としてもよく、ズレ硬化収縮率としてもよく、ズレ抵抗値としてもよくと考えられる。   Considering the description of the above-mentioned documents, it is clear that, for example, in the range of 0.1 to 10 μm, the factors of the light absorption degree and the photocuring degree monotonically increase or decrease in accordance with the change of the particle diameter of the conductive powder. Presumed to be. In other words, it is considered that the fluctuations of the line width due to the displacement of the particle diameter and those displacements are in a proportional or constant function and highly correlated. From the above, it can be said that buffering variations in line width is synonymous with suppressing variations in factors relating to light absorption and photocurability. That is, in the technology disclosed herein, the “target level” may be a target line width, a target film thickness, a target cross-sectional area, a target curing shrinkage ratio, or a target resistance value. Well thought to be. In addition, the “expected shift value” may be a shift width, a shift thickness, a shift cross-sectional area, a shift curing shrinkage ratio, or a shift resistance value, depending on the target level. Conceivable.

上記した実施形態では、ステップS2の後に続けてステップS3を実施していたが、これには限定されない。例えば、ステップS2の後に、予想ズレ幅と、予め設定された閾値と、を対比する判定工程を含んでもよい。そして、判定工程において予想ズレ幅が閾値よりも小さいと判定されたときに、ステップS3を省略してステップS4を行ってもよい。   In the above-described embodiment, step S3 is performed after step S2, but the present invention is not limited to this. For example, after step S2, a determination step of comparing the expected deviation width with a preset threshold value may be included. Then, when it is determined in the determination step that the expected deviation width is smaller than the threshold value, step S3 may be omitted and step S4 may be performed.

なお、上記した実施形態では、第1相関式として、平均粒径(実測値)と実線幅との相関式を例示したが、これには限定されない。平均粒径(実測値)と対比する変数としては、例えば実線幅から目標線幅を差し引いた予想ズレ幅としてもよい。すなわち、第1相関式は、平均粒径(実測値)と予想ズレ幅との相関式で表してもよい。この場合、ステップS1で得られた実測値を、相関式に内挿して、予想ズレ幅を直接確認してもよい。   In addition, in the above-described embodiment, the correlation equation between the average particle diameter (actual measurement value) and the solid line width is exemplified as the first correlation equation, but the first correlation equation is not limited to this. The variable to be compared with the average particle size (actually measured value) may be, for example, an expected deviation width obtained by subtracting the target line width from the solid line width. That is, the first correlation equation may be represented by a correlation equation between the average particle diameter (actual measurement value) and the expected deviation width. In this case, the actual measurement value obtained in step S1 may be interpolated into the correlation equation to directly confirm the expected deviation width.

なお、上記した実施形態では、第2相関式として、感光性組成物中の有機成分の配合比と実線幅との相関式を例示したが、これには限定されない。有機成分の配合比と対比する変数としては、第1相関式の場合と同様に、例えば予想ズレ幅としてもよい。また、有機成分の配合比は、感光性組成物中のものではなく、例えばベヒクル中の配合比等で表してもよい。   In the above-described embodiment, the correlation equation between the compounding ratio of the organic component in the photosensitive composition and the solid line width is exemplified as the second correlation equation, but the second correlation equation is not limited to this. The variable to be compared with the mixing ratio of the organic components may be, for example, the expected deviation width, as in the case of the first correlation equation. Further, the compounding ratio of the organic component may be represented not by the compounding ratio in the photosensitive composition but by, for example, the compounding ratio in the vehicle.

上記した実施形態では、配合比決定装置30は、入力部31と、記憶部32と、第1算出部33と、第2算出部34と、を備えていたが、これには限定されない。配合比決定装置30は、上記した各部に加えて、以下の少なくとも1つ:所定の種類の導電性粉末に対して第1相関式を設定し、記憶部32に記憶させる第1設定部;所定の種類の導電性粉末に対して第2相関式を設定し、記憶部32に記憶させる第2設定部;入力された導電性粉末と同じ種類の第1相関式または第2相関式が記憶部32に記憶されていない場合に、利用者にエラーを通知する通知部;等を備えていてもよい。   In the above-described embodiment, the mixture ratio determination device 30 includes the input unit 31, the storage unit 32, the first calculation unit 33, and the second calculation unit 34, but is not limited to this. In addition to the above-mentioned parts, the compounding ratio determination device 30 has at least one of the following: a first setting part that sets a first correlation equation for a predetermined type of conductive powder and stores it in the storage part 32; Second setting unit for setting the second correlation expression for the conductive powder of the type and storing it in the storage unit 32; the storage unit stores the first correlation expression or the second correlation expression of the same type as the input conductive powder. If not stored in 32, a notification unit for notifying the user of an error; or the like may be provided.

上記した実施例1、2では、導電性粉末として銀粉末を用いていたが、これには限定されない。平均粒径の大きい導電性粉末を用いると、露光工程において導電膜の水平方向に照射光が広がりやすく配線の線幅が太くなりがちである、という機構は、他の金属種についても同様である。ここに開示される技術は、銀粉末のみならず、上述した各種金属、例えば、銅、白金、パラジウム、アルミニウム、ニッケル等を含んだ粉末に対しても勿論適用可能である。   In Examples 1 and 2 described above, the silver powder was used as the conductive powder, but it is not limited to this. The mechanism that the use of a conductive powder having a large average particle size tends to spread the irradiation light in the horizontal direction of the conductive film in the exposure step and tends to increase the line width of the wiring is the same for other metal species. .. The technique disclosed here is of course applicable not only to silver powder, but also to powders containing the above-mentioned various metals, for example, copper, platinum, palladium, aluminum, nickel and the like.

上記した実施例1、2では、ステップS1において、導電性粉末の平均粒径(D50粒径)、具体的には、体積基準の粒度分布において粒径の小さい側から積算値50%に相当する粒径を測定したが、これには限定されない。ステップS1では、体積基準の粒度分布にかえて個数基準の粒度分布等を用いてもよい。また、粒径ファクターは、平均粒径(D50粒径)にかえて、例えば、D40粒径(粒度分布において粒径の小さい側から積算値40%に相当する粒径)、D60粒径(粒度分布において粒径の小さい側から積算値60%に相当する粒径)等であってもよい。この場合、第1相関式は、「D40粒径(実測値)X−実線幅Y」、「D60粒径(実測値)X−実線幅Y」等で示されていてもよい。さらに、例えば導電性粉末の粒度分布が単峰性であるとき等に、粒径ファクターは、平均粒径からさらに離れた粒径、例えば、D5粒径(粒度分布において粒径の小さい側から積算値5%に相当する粒径)、D90粒径(粒度分布において粒径の小さい側から積算値90%に相当する粒径)、D95粒径(粒度分布において粒径の小さい側から積算値90%に相当する粒径)等であってもよい。   In Examples 1 and 2 described above, in step S1, the average particle diameter (D50 particle diameter) of the conductive powder, specifically, corresponds to the integrated value 50% from the smaller particle diameter side in the volume-based particle size distribution. Particle size was measured, but is not limited to this. In step S1, the particle size distribution based on the number may be used instead of the particle size distribution based on the volume. Further, the particle size factor may be, for example, D40 particle size (particle size corresponding to an integrated value of 40% from the smaller particle size distribution side), D60 particle size (particle size) instead of the average particle size (D50 particle size). The particle size corresponding to an integrated value of 60% from the smaller particle size in the distribution) or the like may be used. In this case, the first correlation formula may be represented by "D40 particle size (actual measurement value) X-solid line width Y", "D60 particle size (actual measurement value) X-solid line width Y", or the like. Furthermore, for example, when the particle size distribution of the conductive powder is unimodal, the particle size factor is a particle size further away from the average particle size, for example, D5 particle size (accumulated from the smaller particle size side in the particle size distribution. Value of 5%), D90 particle size (particle size distribution from smaller particle size to 90% integrated value), D95 particle size (particle size distribution from smaller particle to integrated value 90) %) And the like.

上記した実施例1、2では、ステップS3において、重合開始剤系に係る第2相関式を用意し、光重合開始剤系の配合比を調整することで、線幅のバラつきを抑えていたが、これには限定されない。配合比を調整する有機成分は、例えば光重合開始剤および増感剤のうちのいずれか一方であってもよい。   In Examples 1 and 2 described above, in step S3, the second correlation formula relating to the polymerization initiator system was prepared and the blending ratio of the photopolymerization initiator system was adjusted to suppress the line width variation. , But is not limited to this. The organic component for adjusting the blending ratio may be either one of a photopolymerization initiator and a sensitizer, for example.

また、上記した実施例1、2では、ステップS3において、重合開始剤系に係る第2相関式を用意したが、これにかえて、あるいはこれに加えて、例えば光吸収剤に係る第2相関式(図10参照)を用意し、光吸収剤の配合比を調整することで、線幅のバラつきを抑えることもできる。図10に示す第2相関式では、感光性組成物中の紫外線吸収剤の配合比と、実線幅とが、対数曲線で示されている。対数曲線は変化が急激なため、例えば予想ズレ幅が大きい場合には、配合比を僅かに変更するだけで済む利点がある。また、例えば重合禁止剤に係る第2相関式(図11参照)を用意し、重合禁止剤の配合比を調整することで、線幅のバラつきを抑えることもできる。図11に示す第2相関式では、感光性組成物中の光重合禁止剤の配合比と、実線幅とが、比例(相関係数:0.99)している。図11に示す第2相関式は、一次関数で示されている。重合禁止剤の配合比と実線幅とは、負の相関を有している。すなわち、重合禁止剤系の配合比が大きくなるにつれて、線幅がリニアに細くなっていることがわかる。このような第2相関式もまた、上記した図6、7の第2相関式と同様に、ここに開示される技術で好適に用いることができる。   In addition, in the above-mentioned Examples 1 and 2, the second correlation equation relating to the polymerization initiator system was prepared in step S3, but instead of this or in addition to this, for example, the second correlation equation relating to the light absorber. By preparing the formula (see FIG. 10) and adjusting the compounding ratio of the light absorber, it is possible to suppress the variation of the line width. In the second correlation formula shown in FIG. 10, the compounding ratio of the ultraviolet absorber in the photosensitive composition and the solid line width are shown by a logarithmic curve. Since the logarithmic curve changes drastically, for example, when the expected deviation width is large, there is an advantage that it is sufficient to slightly change the compounding ratio. Further, for example, by preparing a second correlation formula (see FIG. 11) relating to the polymerization inhibitor and adjusting the compounding ratio of the polymerization inhibitor, it is possible to suppress the line width variation. In the second correlation formula shown in FIG. 11, the compounding ratio of the photopolymerization inhibitor in the photosensitive composition and the solid line width are proportional (correlation coefficient: 0.99). The second correlation equation shown in FIG. 11 is represented by a linear function. The compounding ratio of the polymerization inhibitor and the solid line width have a negative correlation. That is, it can be seen that the line width linearly narrows as the compounding ratio of the polymerization inhibitor system increases. Such a second correlation equation can also be preferably used in the technique disclosed herein, like the second correlation equations of FIGS. 6 and 7 described above.

10 積層チップインダクタ
11 本体部
12 セラミック層
14 内部電極層
20 外部電極
30 配合比決定装置
31 入力部
32 記憶部
33 第1算出部
34 第2算出部
35 表示部
10 Multilayer Chip Inductor 11 Main Body 12 Ceramic Layer 14 Internal Electrode Layer 20 External Electrode 30 Mixing Ratio Determination Device 31 Input Section 32 Storage Section 33 First Calculation Section 34 Second Calculation Section 35 Display Section

Claims (14)

予め定められた配合比で導電性粉末を含む感光性組成物を製造する方法であって、
使用する導電性粉末の粒径を測定して、実測値を得る工程;
前記実測値を、予め用意された第1相関式であって、前記導電性粉末の粒径と、導電膜の光吸収または光硬化に起因して変動する因子であって前記粒径の変位に相関して変動する何れかの因子との第1相関式と対比して、予め定められた目標レベルに対する前記因子の予想ズレ値を確認する工程;
め用意された第2相関式であって、前記第1相関式における因子と、前記感光性組成物に含まれる有機成分であって配合比の変動が前記因子の変動に相関する何れかの有機成分との第2相関式に基づいて、前記予想ズレ値を打ち消すように前記有機成分の配合比を決定する工程;
を包含する、感光性組成物の製造方法。
A method for producing a photosensitive composition containing a conductive powder in a predetermined mixing ratio,
Measuring the particle size of the conductive powder to be used to obtain a measured value;
The measured values, a first correlation equation which is prepared Me pre, and the particle size of the conductive powder, the displacement of the particle size to a factor that fluctuates due to light absorption or light curing conductive film Confirming an expected deviation value of the factor with respect to a predetermined target level by comparing with a first correlation equation with any factor that varies in correlation with
A second correlation equation is prepared Me pre, and factor in the first correlation equation, the variation of the an organic component contained in the photosensitive composition blend ratio of any that correlates the variation of the factor based on the second correlation equation between the organic component, to determine the mixing ratio of the organic components so as to cancel the estimated offset value step;
A method for producing a photosensitive composition, comprising:
前記有機成分が、前記感光性組成物の光吸収性および光重合性のうちの少なくとも1つを調整する有機成分である、
請求項1に記載の感光性組成物の製造方法。
The organic component is an organic component that adjusts at least one of light absorption and photopolymerizability of the photosensitive composition,
The method for producing the photosensitive composition according to claim 1.
前記有機成分が、光重合開始剤系、光吸収剤、および重合禁止剤のうちの少なくとも1つである、
請求項2に記載の感光性組成物の製造方法。
The organic component is at least one of a photopolymerization initiator system, a light absorber, and a polymerization inhibitor,
The method for producing the photosensitive composition according to claim 2.
前記有機成分が、光重合開始剤系である、
請求項3に記載の感光性組成物の製造方法。
The organic component is a photopolymerization initiator system,
The method for producing the photosensitive composition according to claim 3.
前記第1相関式における因子が、導電膜の線幅、膜厚、電極断面積、硬化収縮率、または抵抗値である、The factor in the first correlation equation is the line width of the conductive film, the film thickness, the electrode cross-sectional area, the curing shrinkage rate, or the resistance value.
請求項1〜4の何れか一つに記載の感光性組成物の製造方法。The manufacturing method of the photosensitive composition as described in any one of Claims 1-4.
前記第1相関式における因子が、線幅である
請求項1〜5の何れか一つに記載の感光性組成物の製造方法。
Factor in the first correlation equation, the line width,
A method for producing the photosensitive composition according to claim 1.
前記第2相関式が、一次関数で示される、
請求項1〜6の何れか一つに記載の感光性組成物の製造方法。
The second correlation equation is represented by a linear function,
A method for producing the photosensitive composition according to claim 1.
前記導電性粉末が、銀系粒子を含む、
請求項1〜7の何れか一つに記載の感光性組成物の製造方法。
The conductive powder contains silver-based particles,
A method for producing the photosensitive composition according to claim 1.
前記導電性粉末が、コアとなる金属材料と前記コアの表面の少なくとも一部を被覆するセラミック材料とを含んだコアシェル粒子を含む、
請求項1〜8の何れか一つに記載の感光性組成物の製造方法。
The conductive powder includes core-shell particles including a core metal material and a ceramic material that covers at least a part of the surface of the core,
A method for producing the photosensitive composition according to claim 1.
前記感光性組成物は、電極を形成する用途に用いられる、
請求項1〜9の何れか一つに記載の感光性組成物の製造方法。
The photosensitive composition is used for forming an electrode,
A method for producing the photosensitive composition according to claim 1.
請求項1〜10の何れか一つに記載の製造方法によって得られた感光性組成物を基材上に付与して、光硬化およびエッチングを行った後、焼成して、前記感光性組成物の焼成体からなる導電層を形成する工程、をさらに含む、電子部品の製造方法。 The claim 1 photosensitive composition obtained by the production method according to any one of 10 to impart on the substrate, after photocuring and etching, by firing, the photosensitive composition And a step of forming a conductive layer made of the fired body, the method for manufacturing an electronic component. 予め定められた配合比で導電性粉末を含む感光性組成物に対する有機成分の配合比を決定する配合比決定装置であって、
利用者の入力を受け付けて、使用する導電性粉末の種類と粒径の実測値とが入力される入力部と、
め用意された第1相関式であって、前記導電性粉末の粒径と、導電膜の光吸収または光硬化に起因して変動する因子であって前記粒径の変位に相関して変動する何れかの因子との第1相関式、および、予め用意された第2相関式であって、前記第1相関式における因子と、前記感光性組成物に含まれる有機成分であって配合比の変動が前記因子の変動に相関する何れかの有機成分との第2相関式を記憶する記憶部と、
前記第1相関式に基づいて、前記入力部に入力された前記実測値から、予め定められた目標レベルに対する前記第1相関式における因子の予想ズレ値を算出する第1算出部と、
前記第2相関式に基づいて、前記予想ズレ値を打ち消す前記第2相関式における有機成分の配合比を算出する第2算出部と、
を包含する、配合比決定装置。
A compounding ratio determination device for determining a compounding ratio of an organic component to a photosensitive composition containing a conductive powder at a predetermined compounding ratio,
An input unit that receives the user's input and inputs the type of the conductive powder to be used and the measured value of the particle size,
A first correlation equation which is prepared Me pre, varies in correlation with the particle size of the conductive powder, the displacement of the particle size to a factor that fluctuates due to light absorption or light curing conductive film A first correlation equation with any of the factors described above, and a second correlation equation prepared in advance , wherein the factor in the first correlation equation and the organic component contained in the photosensitive composition A storage unit for storing a second correlation expression with any organic component in which the fluctuation of the correlation with the fluctuation of the factor ,
A first calculation unit that calculates an expected deviation value of a factor in the first correlation formula with respect to a predetermined target level from the actual measurement value input to the input unit based on the first correlation formula ;
A second calculation unit that calculates the blending ratio of the organic components in the second correlation equation that cancels the predicted deviation value based on the second correlation equation ;
A compounding ratio determination device including:
前記第1相関式における因子が、導電膜の線幅、膜厚、電極断面積、硬化収縮率、または抵抗値である、The factor in the first correlation equation is the line width of the conductive film, the film thickness, the electrode cross-sectional area, the curing shrinkage rate, or the resistance value.
請求項12に記載の配合比決定装置。The blending ratio determination device according to claim 12.
コンピュータを、請求項12または13に記載の配合比決定装置として動作させるように構成されている、コンピュータプログラム。
A computer program configured to operate a computer as the blending ratio determination device according to claim 12 or 13 .
JP2019128628A 2019-07-10 2019-07-10 Method for producing photosensitive composition, photosensitive composition in paste form, method for producing electronic component and electronic component, device for determining blending ratio of organic components in photosensitive composition, computer program Active JP6694099B1 (en)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019128628A JP6694099B1 (en) 2019-07-10 2019-07-10 Method for producing photosensitive composition, photosensitive composition in paste form, method for producing electronic component and electronic component, device for determining blending ratio of organic components in photosensitive composition, computer program
TW109116912A TWI843853B (en) 2019-07-10 2020-05-21 Method for producing photosensitive composition, paste-like photosensitive composition, method for producing electronic component and electronic component, device for determining mixing ratio of organic components in photosensitive composition, non-transient computer-readable recording medium
CN202080049490.8A CN114096919A (en) 2019-07-10 2020-05-28 Method for producing photosensitive composition, paste-like photosensitive composition, method for producing electronic component, and device for determining mixing ratio of organic component in photosensitive composition, and computer program
PCT/JP2020/021134 WO2021005910A1 (en) 2019-07-10 2020-05-28 Photosensitive composition production method, pasty photosensitive composition, electronic component production method, electronic component, device for determining mixing ratio for organic component in photosensitive composition, and computer program
KR1020227004215A KR20220034178A (en) 2019-07-10 2020-05-28 A method for producing a photosensitive composition, a paste-like photosensitive composition, a method for producing an electronic component and an electronic component, and an apparatus for determining the mixing ratio of organic components in the photosensitive composition, computer program

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019128628A JP6694099B1 (en) 2019-07-10 2019-07-10 Method for producing photosensitive composition, photosensitive composition in paste form, method for producing electronic component and electronic component, device for determining blending ratio of organic components in photosensitive composition, computer program

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP6694099B1 true JP6694099B1 (en) 2020-05-13
JP2021015155A JP2021015155A (en) 2021-02-12

Family

ID=70549804

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019128628A Active JP6694099B1 (en) 2019-07-10 2019-07-10 Method for producing photosensitive composition, photosensitive composition in paste form, method for producing electronic component and electronic component, device for determining blending ratio of organic components in photosensitive composition, computer program

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP6694099B1 (en)
KR (1) KR20220034178A (en)
CN (1) CN114096919A (en)
WO (1) WO2021005910A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220133808A (en) 2021-03-25 2022-10-05 가부시키가이샤 노리타케 캄파니 리미티드 Kit for manufacturing electronic components and use thereof

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5163687B2 (en) 2010-04-30 2013-03-13 株式会社村田製作所 Photosensitive conductive paste, method for manufacturing multilayer electronic component using the same, and multilayer electronic component
TWI578099B (en) * 2012-02-09 2017-04-11 大阪曹達股份有限公司 Photocurable resin composition containing metal particle and use thereof
JP5828851B2 (en) * 2013-03-01 2015-12-09 株式会社ノリタケカンパニーリミテド Photosensitive paste
KR20150122345A (en) 2014-04-23 2015-11-02 (주)라누베 Skin Moisturizer and penetration enhancer with the distilled mineral water from thermal seawater

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220133808A (en) 2021-03-25 2022-10-05 가부시키가이샤 노리타케 캄파니 리미티드 Kit for manufacturing electronic components and use thereof

Also Published As

Publication number Publication date
TW202104867A (en) 2021-02-01
CN114096919A (en) 2022-02-25
JP2021015155A (en) 2021-02-12
WO2021005910A1 (en) 2021-01-14
KR20220034178A (en) 2022-03-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10192650B2 (en) Photosensitive conductive paste, method of producing multilayer electronic component using the same, and multilayer electronic component
JP5163687B2 (en) Photosensitive conductive paste, method for manufacturing multilayer electronic component using the same, and multilayer electronic component
TWI812688B (en) Photosensitive composition, complex, electronic part, and method for producing electronic part
JP6694099B1 (en) Method for producing photosensitive composition, photosensitive composition in paste form, method for producing electronic component and electronic component, device for determining blending ratio of organic components in photosensitive composition, computer program
TWI796424B (en) Photosensitive composition, complex, electronic part and manufacturing method thereof
KR102643291B1 (en) Photosensitive composition, composite, electronic component and electronic component manufacturing method
JP7446355B2 (en) Photosensitive composition and its use
TWI843853B (en) Method for producing photosensitive composition, paste-like photosensitive composition, method for producing electronic component and electronic component, device for determining mixing ratio of organic components in photosensitive composition, non-transient computer-readable recording medium
JP2004054085A (en) Photosensitive conducttor paste
TWI780277B (en) Photosensitive composition, composite, electronic component, and method for producing electronic component
JP2002082449A (en) Method for forming thick-film pattern and photosensitive paste used for the same
JP7113779B2 (en) Photosensitive composition and its use
JP2001092118A (en) Photosensitive paste and electronic component
JP7108778B1 (en) Photosensitive composition and its use
JP2022154879A (en) Electronic part production kit and use thereof
JP2022186715A (en) Kit for manufacturing electronic component and use thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190729

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20190729

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20190927

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20191003

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20191129

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200127

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200319

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200416

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6694099

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250