JP6681290B2 - 光学的位置検出装置および光学的位置検出方法 - Google Patents
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Description
このような画面上の接触位置を検出する方法として、表示画面の枠部分に光再帰性反射体を配置して、表示画面と光再帰性反射体を臨むように配置された発光部から照射されたレーザ光線によって画面上を角度走査し、光再帰性反射体から戻る光を受光部によって検出して、角度を算出することで位置を検知する技術がある(特許文献1、2参照)。
この方法で三角測量するためには、異なる位置に備えられた少なくとも一対の発光部、一対の受光部、一対の偏向部、一対の走査部を必要としており部品点数的にも多く装置が大型化や複雑化する場合があった。
さらに、ポリゴンミラーの互いに角度を有する二つの反射面のそれぞれに光を照射する第1発光部および第2発光部と、第1発光部が発光し、ポリゴンミラーの一の反射面で反射された第1ビームを受ける第1受光部と、第2発光部が発光し、ポリゴンミラーの他の反射面で反射された第2ビームを受ける第2受光部と、を備えている。
そして、前記光走査部が、前記ポリゴンミラーを回転させて前記指示物を走査することにより前述した課題を解決するものである。
[全体構成の説明]
以下、本発明の第1実施形態である位置検出装置100について図1から図6に基づいて説明する。
ここで、図1は本発明の第1実施形態である位置検出装置の全体を示す平面図であり、図2は図1に示す位置検出装置をA矢視からみた斜視図であり、図3は図1に示す位置検出装置を図1のB矢視から見た側面図であり、図4は図1に示す位置検出装置の走査過程を説明する平面図であり、図5は図1に示す位置検出装置の走査過程を説明するグラフであり、図6は座標算出のための三角測量の要領を示す模式図である。
また、所定領域Sの指示物Mが配置される面は、完全な水平面である必要はなく、図1をB矢視から見た平面図である図3に示す所定領域Sと平行する第1走査面F1、第2走査面F2が指示物Mを走査できる範囲での凹凸は許容される。
なお、図1では、第1受光部140、第2受光部150が、光走査部110と走査面Sを挟んで対向する外縁S1のみに配置しているが、走査面Sの側面にも配置して、走査面Sを取り囲むようにしても良い。このように第1受光部140、第2受光部150の配設位置は本実施例に限定されず、スペース等の制約や指示物Mの位置等から配置箇所を選択することができる。
同様に第2ビームB2はポリゴンミラー111の下側に割り当てられた第2反射面111b内にある第2反射点156で反射されて、指示物Mの下側の始接点b153に接するように経由して、第2反射点156に応じるように配置された導光体154に入射される。
第2受光部150も第1受光部140と同様な構成であって、第2導光体154と、第2受光体155とからなる。
第1受光部140と第2受光部150とは、第1ビームB1と第2ビームB2の光線軌跡に合わせて上下関係に配されている。この構成によって、光線が交錯することを防止することができる。
第1受光体145,第2受光体155によって検出された光は光検出信号となり、光走査部110のポリゴンミラー111の回転R1から取得される角度信号とによって、角度走査が実行される。
MPUは、第1発光部120、第2発光部130の発光素子の駆動・制御、ポリゴンミラー111の回転R1の駆動・制御、第1受光部140、第2受光部150が検出した光検出信号の取得を行い、光検出信号と角度信号から角度走査結果を算出する。
次に主に図4、図5を参照して、本実施形態の1実施例に係る光角度走査方法について説明する。図4は光角度走査が時間の経過とともに(A)〜(D)の順で進められることを示しており、図5は第1受光部140、第2受光部150が検出した光検出信号である光量の時間的変化を示している。
図4,図5を参照すると、光走査部110は、走査開始時点t0で、第1受光部140、第2受光部150の右端に第1ビームB1、第2ビームB2が照射されるように制御する。そして、ポリゴンミラー111の回転R1によって順に第1受光部140、第2受光部150の左端へと第1ビームB1、第2ビームB2の照射位置を移動させる。
Mx=tanθ1/(tanθ2+tanθ1)×w (1)
My=(tanθ1×tanθ2)/(tanθ2+tanθ1)×w (2)
次に、本発明の第2実施形態である位置検出装置200について図7に基づいて説明する。第2実施形態は、第1実施形態とは光を受光する方法が異なる。
ここで、図7は、本発明の第2実施形態である位置検出装置200の全体を示す平面図である。
そして、第1受光部240は、第1受光体245と偏向部262を備え、第2受光部250は、第2受光体255と偏向部263を備えている。
ここで、第1発光部220と第2発光部230との配置関係、第1受光部240と第2受光部250との配置関係は、図2、図3にて示した第1実施形態と同様に走査面に対して垂直方向の異なる位置に配置することで、光線の交錯を防止することができる。
次に、本発明の第3実施形態である位置検出システム300について図8,図9に基づいて説明する。
ここで、図8は本発明の第3実施形態である位置検出装置の配置方法を示す平面図であり、図9は図8に示す位置検出装置の走査過程を説明するグラフである。
そこで、従来技術に係る位置検出装置によって、指示物MCを角度走査するには、指示物MCが視野として臨める位置に新たな位置検出装置を付加する必要がある。
110、210・・・光走査部
111、211・・・ポリゴンミラー
111a,211a・・・第1反射面
111b、211b・・・第2反射面
120、220・・・第1発光部
130、230・・・第2発光部
140、240・・・第1受光部
143、243・・・始接点a
144・・・第1導光体
145、245・・・第1受光体
146・・・第1反射点
147・・・終接点a
150、250・・・第2受光部
153、253・・・始接点b
154・・・第2導光体
155、255・・・第2受光体
156・・・第2反射点
157・・・終接点b
261・・・再帰性反射体
262,263・・・偏向部
310・・・第1位置検出ユニット
320・・・第2位置検出ユニット
340・・・第1受光装置
350・・・第2受光装置
F1,F2・・・走査面
S・・・所定領域
S1,S2,S3・・・外縁
M,MA,MB,MC・・・指示物
B1・・・第1ビーム
B2・・・第2ビーム
BA,BB,BC,BD・・・ビーム
P1・・・第1ピーク
P2・・・第2ピーク
R1,R2,R3,R4,R5・・・回転
Claims (7)
- 所定領域内にある指示物の位置を検出する光学的位置検出装置において、
前記所定領域を臨むように配置され、ポリゴンミラーを有し、前記所定領域と平行である走査面内で光を角度走査する光走査部と、
前記ポリゴンミラーの互いに角度を有する二つの反射面のそれぞれに光を照射する第1発光部および第2発光部と、
前記第1発光部が発光し、前記ポリゴンミラーの一の反射面で反射された第1ビームを受ける第1受光部と、
前記第2発光部が発光し、前記ポリゴンミラーの他の反射面で反射された第2ビームを受ける第2受光部と、を備え、
前記光走査部が、前記ポリゴンミラーを回転させて前記指示物を走査する、ことを特徴とする光学的位置検出装置。 - 前記第1受光部と前記第2受光部が、前記所定領域を臨む外縁に重なるように配置された導光体を有し、それぞれ該導光体に入射された前記第1ビームと前記第2ビームを受光する、ことを特徴とする請求項1に記載の光学的位置検出装置。
- 前記所定領域を臨む外縁に配置された再帰性反射体と、
該再帰性反射体から前記光走査部への反射光を偏向する偏向部と、を備え、
前記第1受光部と前記第2受光部が、それぞれ該偏向部にて偏向された前記第1ビームと前記第2ビームを受光する、ことを特徴とする請求項1に記載の光学的位置検出装置。 - 前記第1発光部が、前記第1ビームを前記第1受光部に受光させるように前記一の反射面での第1反射位置に前記光を照射し、
前記第2発光部が、前記第2ビームを前記第2受光部に受光させるように前記他の反射面での第2反射位置に前記光を照射する、ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の光学的位置検出装置。 - 前記第1反射位置と前記第2反射位置とが、前記走査面に対して垂直方向の異なる位置に配置され、
前記第1受光部と前記第2受光部が、前記第1反射位置と前記第2反射位置に応じて配置されている、ことを特徴とする請求項4に記載の光学的位置検出装置。 - 複数の請求項1から請求項5のいずれかの記載の光学的位置検出装置が、前記所定領域を臨む異なる位置にそれぞれ配置されている、ことを特徴とする光学的位置検出方法。
- 請求項1から請求項5のいずれかの記載の光学的位置検出装置を使用した光学的位置検出方法であって、
前記第1発光部および前記第2発光部が、前記第1ビームおよび前記第2ビームを同時に発光し、
前記光走査部が、前記ポリゴンミラーを回転させて前記指示物を走査し、
前記第1受光部および前記第2受光部が、前記第1ビームおよび前記第2ビームの光量を受光し、
受光した前記第1ビームおよび前記第2ビームの光量の時間的変化に基づいて、前記指示物の位置を算出する、ことを特徴とする光学的位置検出方法。
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