JP6678029B2 - Support substrate with circuit formation layer, support substrate with double-sided circuit formation layer, multilayer laminate, method for manufacturing multilayer printed wiring board, and multilayer printed wiring board - Google Patents
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Description
本件発明は、回路形成層付支持基板、両面回路形成層付支持基板、多層プリント配線板の製造方法及び多層プリント配線板に関する。特に、ビルドアップ層形成時の支持体となるコア基板を残さない、ビルドアップ多層プリント配線板を製造する際に好適に用いることのできる回路形成層付支持基板、両面回路形成層付支持基板、及びこれらの回路形成層付支持基板を用いた多層プリント配線板の製造方法、及び、多層プリント配線板に関するものである。 The present invention relates to a support substrate with a circuit formation layer, a support substrate with a double-sided circuit formation layer, a method for manufacturing a multilayer printed wiring board, and a multilayer printed wiring board. In particular, it does not leave a core substrate serving as a support when forming a build-up layer, a support substrate with a circuit formation layer that can be preferably used when manufacturing a build-up multilayer printed wiring board, a support substrate with a double-sided circuit formation layer, The present invention also relates to a method for manufacturing a multilayer printed wiring board using such a support substrate with a circuit forming layer, and a multilayer printed wiring board.
従来より、ビルドアップ多層プリント配線板の薄型化に対する要求から、製造時に所謂ビルドアップ層形成時の支持体となるコア基板を残さないコアレスビルドアップ多層プリント配線板の製造方法(コアレスビルドアップ法)が採用されるようになっている。 2. Description of the Related Art Conventionally, due to a demand for thinning of a build-up multilayer printed wiring board, a method of manufacturing a coreless build-up multilayer printed wiring board that does not leave a core substrate serving as a support when forming a so-called build-up layer (coreless build-up method). Is being adopted.
近年、このコアレスビルドアップ法により多層プリント配線板を製造する際に、原材料コストの上昇を起こさず、安定した品質の配線層を備える多層プリント配線板製造用の多層銅張積層板の製造が可能で、且つ、発生する廃棄物量を少なくして、資源の無駄遣いを防止することが要求されている。 In recent years, when manufacturing multilayer printed wiring boards using this coreless build-up method, it is possible to manufacture multilayer copper-clad laminates for manufacturing multilayer printed wiring boards with stable quality wiring layers without increasing raw material costs In addition, it is required to prevent waste of resources by reducing the amount of generated waste.
例えば、特許文献1には、接着剤と金属箔の界面での剥離が可能なキャリア付き金属箔を用いて、コアレスビルドアップ法により多層プリント配線板を製造する方法が記載されている。具体的には、「合成樹脂製の板状キャリアと、該キャリアの少なくとも一方の面に、機械的に剥離可能に密着させた金属箔からなるキャリア付金属箔を用いて「合成樹脂板の両面に銅箔を接着させたキャリア付金属箔の両側にビルドアップ層を積層した後、キャリア付金属箔から両面の金属箔を剥離する方法。」が開示されている。
For example,
ここで、特許文献1には、上記合成樹脂性の板状キャリアとして樹脂やプリプレグを使用し、50〜900μmの厚さとすることで金属箔と合成樹脂との熱膨張差に起因する回路の位置ずれを防止するとともに、撓みを低減することが開示されている。
Here,
しかしながら、当該板状キャリアを支持基板として、コアレスビルドアップ法により多層プリント配線板を製造した場合、ビルドアップ層を積層する際に密着不良や回路平滑性の不良を引き起こすことがあった。 However, when a multilayer printed wiring board is manufactured by a coreless build-up method using the plate carrier as a support substrate, poor adhesion and poor circuit smoothness may be caused when the build-up layers are laminated.
そこで、本件発明者等は、鋭意研究の結果、以下に示す回路形成層付支持基板を用いて、コアレスビルドアップ法で多層プリント配線板を製造する方法に想到したのである。 Therefore, the present inventors have intensively studied and, as a result, have conceived of a method of manufacturing a multilayer printed wiring board by a coreless build-up method using a support substrate with a circuit formation layer described below.
1.回路形成層付支持基板
本件出願に係る回路形成層付支持基板は、銅箔層/剥離層/キャリア層/樹脂層の層構成を備え、当該キャリア層の当該樹脂層側の表面の凹凸の最大高低差(PV)が3μm〜12μmであり、当該樹脂層の厚さが、1.5μm〜15μmである前記銅箔層が回路形成層として用いられることを特徴とすることを特徴とするものである。1. The support substrate with a circuit forming layer according to the present application has a layer structure of a copper foil layer / a release layer / a carrier layer / a resin layer, and has a maximum unevenness of the surface of the carrier layer on the resin layer side. The copper foil layer having a height difference (PV) of 3 μm to 12 μm and a thickness of the resin layer of 1.5 μm to 15 μm is used as a circuit formation layer. is there.
2.多層プリント配線板の製造方法
2−1.基本製造方法
本件出願に係る多層プリント配線板の製造方法は、上記回路形成層付支持基板を用いて、コアレスビルドアップ法で多層プリント配線板を製造する方法であって、以下の工程を備えることを特徴とする。2. Manufacturing method of multilayer printed wiring board 2-1. Basic Manufacturing Method A method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present application is a method for manufacturing a multilayer printed wiring board by a coreless build-up method using the support substrate with a circuit forming layer, and includes the following steps. It is characterized by.
ビルドアップ配線層形成工程: 前記回路形成層付基板の前記銅箔層の表面に、ビルドアップ配線層を形成して、ビルドアップ配線層付支持基板を得る。
ビルドアップ配線層付支持基板分離工程: 当該ビルドアップ配線層付支持基板を、前記回路形成層付支持基板の前記剥離層で分離して、前記銅箔層上にビルドアップ層が形成された多層積層板を得る。
多層プリント配線板形成工程: 前記多層積層板に必要な加工を施し、多層プリント配線板を得る。Build-up wiring layer forming step: A build-up wiring layer is formed on the surface of the copper foil layer of the substrate with a circuit formation layer to obtain a support substrate with a build-up wiring layer.
Supporting substrate separating step with build-up wiring layer: The support substrate with build-up wiring layer is separated by the release layer of the supporting substrate with circuit forming layer, and a multilayer in which a build-up layer is formed on the copper foil layer Obtain a laminate.
Multilayer Printed Wiring Board Forming Step: The multilayer laminate is subjected to necessary processing to obtain a multilayer printed wiring board.
本件出願に係る多層プリント配線板の製造方法では、上記基本製造方法を応用することにより、以下の「第1製造方法」、「第2製造方法」、「第3製造方法」により多層プリント配線板を製造することも好ましい。 In the method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present application, by applying the above-described basic manufacturing method, a multilayer printed wiring board is formed by the following “first manufacturing method”, “second manufacturing method”, and “third manufacturing method”. It is also preferred to produce
2−2.第1製造方法
この第1製造方法は、以下の工程を備える。各工程に関しては、以下の発明の形態の説明において詳細に述べる。2-2. First Manufacturing Method This first manufacturing method includes the following steps. Each step will be described in detail in the following description of embodiments of the invention.
両面回路形成層付支持基板の製造工程: 樹脂層/キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を備えるキャリア付銅箔を2枚用いて、この樹脂層同士を直接張り合わせ、又は、コア材の両面に張り合わせて中央樹脂層とすることで、銅箔層/剥離層/キャリア層/中央樹脂層/キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を有する両面回路形成層付支持基板を得る。
ビルドアップ配線層形成工程: 当該両面回路形成層付基板の各銅箔層の表面に、ビルドアップ配線層を形成して、ビルドアップ配線層付支持基板を得る。
ビルドアップ配線層付支持基板分離工程: 当該両面回路形成層付支持基板の剥離層で分離して、銅箔層上にビルドアップ層が形成された多層積層板を得る。Manufacturing process of support substrate with double-sided circuit formation layer: Using two copper foils with a carrier having a layer structure of resin layer / carrier layer / peeling layer / copper foil layer, these resin layers are directly bonded to each other, or a core material is used. By bonding to both surfaces of the substrate to form a central resin layer, a support substrate with a double-sided circuit forming layer having a layer structure of copper foil layer / peeling layer / carrier layer / central resin layer / carrier layer / peeling layer / copper foil layer is obtained. .
Build-up wiring layer forming step: A build-up wiring layer is formed on the surface of each copper foil layer of the substrate with a double-sided circuit formation layer to obtain a support substrate with a build-up wiring layer.
Supporting substrate separating step with build-up wiring layer: Separation is performed at a release layer of the supporting substrate with a double-sided circuit forming layer to obtain a multilayer laminate in which a build-up layer is formed on a copper foil layer.
2−3.第2製造方法
この第2製造方法は、以下の工程を備える。2-3. Second manufacturing method This second manufacturing method includes the following steps.
両面回路形成層付支持基板の製造工程: キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を備える第1キャリア付銅箔と、樹脂層/キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を備える第2キャリア付銅箔とを用いて、第1キャリア付銅箔のキャリアと、第2キャリア付銅箔の樹脂層とを直接張り合わせ、又は、コア材の両面に張り合わせることで、銅箔層/剥離層/キャリア層/中央樹脂層/キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を有する両面回路形成層付支持基板を得る。
ビルドアップ配線層形成工程: 当該両面回路形成層付支持基板の各銅箔層の表面に、ビルドアップ配線層を形成して、ビルドアップ配線層付支持基板を得る。
ビルドアップ配線層付支持基板分離工程: 当該両面回路形成層付支持基板の剥離層で分離して、銅箔層上にビルドアップ層が形成された多層積層板を得る。Manufacturing process of a support substrate with a double-sided circuit formation layer: a first copper foil with a carrier having a layer configuration of a carrier layer / release layer / copper foil layer, and a layer configuration of a resin layer / carrier layer / release layer / copper foil layer By using the copper foil with the second carrier and directly bonding the carrier of the copper foil with the first carrier and the resin layer of the copper foil with the second carrier, or laminating both sides of the core material, the copper foil layer is formed. A support substrate with a double-sided circuit formation layer having a layer configuration of / release layer / carrier layer / central resin layer / carrier layer / release layer / copper foil layer is obtained.
Build-up wiring layer forming step: A build-up wiring layer is formed on the surface of each copper foil layer of the support substrate with a double-sided circuit formation layer to obtain a support substrate with a build-up wiring layer.
Supporting substrate separating step with build-up wiring layer: Separation is performed at a release layer of the supporting substrate with a double-sided circuit forming layer to obtain a multilayer laminate in which a build-up layer is formed on a copper foil layer.
2−4.第3製造方法
この第3製造方法は、以下の工程を備える。2-4. Third Manufacturing Method The third manufacturing method includes the following steps.
両面回路形成層付支持基板の製造工程: キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を備えるキャリア付銅箔を2枚用いて、各キャリア付銅箔のキャリア層をそれぞれ樹脂製のコア材と張り合わせることで、銅箔層/剥離層/キャリア層/中央樹脂層/キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を有する両面回路形成層付支持基板を得る。
ビルドアップ配線層形成工程: 当該両面回路形成層付支持基板の各銅箔層の表面に、ビルドアップ配線層を形成して、ビルドアップ配線層付支持基板を得る。
ビルドアップ配線層付支持基板分離工程: 当該両面回路形成層付支持基板の剥離層で分離して、銅箔層上にビルドアップ層が形成された多層積層板を得る。Manufacturing process of a support substrate with a double-sided circuit formation layer: Using two copper foils with a carrier having a layer structure of a carrier layer / a peeling layer / a copper foil layer, the carrier layer of each copper foil with a carrier is made of a resin core material. Then, a support substrate with a double-sided circuit forming layer having a layer structure of copper foil layer / release layer / carrier layer / central resin layer / carrier layer / release layer / copper foil layer is obtained.
Build-up wiring layer forming step: A build-up wiring layer is formed on the surface of each copper foil layer of the support substrate with a double-sided circuit formation layer to obtain a support substrate with a build-up wiring layer.
Supporting substrate separating step with build-up wiring layer: Separation is performed at a release layer of the supporting substrate with a double-sided circuit forming layer to obtain a multilayer laminate in which a build-up layer is formed on a copper foil layer.
本件発明に係る回路形成層付支持基板は、コアレスビルドアップ法で多層プリント配線板を製造する際に用いることができ、銅箔層/剥離層/キャリア層/樹脂層の層構成を基本構成として備える。この回路形成層付支持基板は、樹脂層とキャリアの密着性に優れ、銅箔層に形成する回路の平滑性に優れるものとすることが可能である。 The support substrate with a circuit formation layer according to the present invention can be used when a multilayer printed wiring board is manufactured by a coreless build-up method, and has a basic structure of a copper foil layer / peeling layer / carrier layer / resin layer. Prepare. This support substrate with a circuit forming layer can have excellent adhesion between the resin layer and the carrier, and can have excellent smoothness of a circuit formed on the copper foil layer.
1.回路形成層付支持基板の形態
本件出願に係る回路形成層付支持基板は、コアレスビルドアップ法で多層プリント配線板を製造する際に用いることのできる支持基板であって、銅箔層/剥離層/キャリア層/樹脂層の層構成を備え、銅箔層が回路形成層として用いられることを基本構成とする回路形成層付支持基板である。また、基本構成を応用して、例えば、図1に示すように、樹脂層(中央樹脂層8)の両面に、当該樹脂層側から順に、キャリア層2/剥離層3/銅箔層4の層構成を備えた両面回路形成層付支持基板1として、銅箔層上にビルドアップ層を積層した後、当該支持基板の剥離層においてキャリア層/樹脂層側を分離することにより、コアレスビルドアップ多層プリント配線板を得ることも好ましい。以下、当該回路形成層付支持基板を構成する各層について順に説明する。1. 1. Form of Support Substrate with Circuit Formation Layer The support substrate with a circuit formation layer according to the present application is a support substrate that can be used when manufacturing a multilayer printed wiring board by a coreless build-up method, and includes a copper foil layer / a release layer. This is a support substrate having a circuit forming layer, which has a layer structure of / carrier layer / resin layer, and has a basic structure in which a copper foil layer is used as a circuit forming layer. Further, by applying the basic configuration, for example, as shown in FIG. 1, on both sides of the resin layer (central resin layer 8), the
樹脂層: 本件出願に係る回路形成層付支持基板の樹脂層は、厚さ1.5μm〜15μmであることが好ましい。後述する両面回路形成層付支持基板1の製造工程において、上記回路形成層付支持基板を形成し、ビルドアップ層を形成する際に、基板端面からの剥離を防ぐ点から、樹脂層の厚さが1.5μm以上であることが好ましい。また、銅箔層上に回路を形成する際の表面平滑性を確保することができるという点から樹脂層の厚さは15μm以下であることが好ましい。より一層の当該効果を得るために樹脂層の厚さは2μm〜10μmであることがより好ましく、厚さ2μm〜8μmであることが更に好ましい。両面回路層付支持基板においては、上記と同様の理由から、両面回路層付支持基板の中央樹脂層の厚さが3μm〜30μmであることが好ましく、当該中央樹脂層の厚さは、4μm〜20μmであることがより好ましく、4μm〜16μmであることが更に好ましい。
Resin layer: The resin layer of the support substrate with a circuit forming layer according to the present application preferably has a thickness of 1.5 μm to 15 μm. In the manufacturing process of the
樹脂層(中央樹脂層を含む)を構成する樹脂に特段の限定はないが、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、フェノール樹脂等のプリント配線板製造に一般に用いられる樹脂であることが好ましい。また、当該樹脂層は、これらの樹脂がガラスクロス・ガラス不織布等の骨格材に含浸されたプリプレグ等により構成されることも好ましい。 The resin constituting the resin layer (including the central resin layer) is not particularly limited, but is a resin generally used for manufacturing printed wiring boards, such as an epoxy resin, a polyimide resin, a polyamide resin, a polyamideimide resin, and a phenol resin. Is preferred. It is also preferable that the resin layer is formed of a prepreg or the like in which these resins are impregnated in a skeleton material such as a glass cloth or a glass nonwoven fabric.
キャリア層: ここで、キャリア層(キャリア)と称している理由に関して述べる。本件出願に係る回路形成層付支持基板は上記基本構成の層構成(銅箔層4/剥離層3/キャリア層2/樹脂層)を備えるものとし、両面回路形成層付支持基板1は、結果として、銅箔層4/剥離層3/キャリア層2/中央樹脂層8/キャリア層2/剥離層3/銅箔層4の層構成を備えていれば、その製造方法に関して特段の限定はないが、例えば、図2(A)に示すように銅箔層4/剥離層3/キャリア層2の層構成を備えるキャリア付銅箔10を用いて製造することが好ましい。なお、図2(A)に示すとおり、キャリア付銅箔10は、銅箔層4及びキャリア層2の外層に、それぞれ粗化処理層5、粗化処理層6を備えてもよいが、それに限定されるものではない。
Carrier layer: Here, the reason for being referred to as a carrier layer (carrier) will be described. The support substrate with a circuit-forming layer according to the present application is provided with the above-described basic configuration (
回路形成層付支持基板を構成するキャリア層は、一般的には12μm〜70μmの厚さの樹脂フィルム、又は、電解銅箔若しくは圧延銅箔を用いるが、廃棄物の削減とハンドリング性の観点からみると、12μm〜35μmのものが好ましい。また、当該回路形成層付支持基板へのビルドアップ層形成時の高温熱負荷に対して剛性を保持する観点から、当該キャリア層は、250℃×60分の加熱処理を行った後に、40kgf/mm2以上の引張強さを備える銅箔から構成されることがより好ましい。The carrier layer constituting the support substrate with a circuit forming layer is generally a resin film having a thickness of 12 μm to 70 μm, or an electrolytic copper foil or a rolled copper foil, but from the viewpoint of reducing waste and handling. In view of this, those having a size of 12 μm to 35 μm are preferable. In addition, from the viewpoint of maintaining rigidity against a high-temperature heat load when the build-up layer is formed on the support substrate with a circuit formation layer, the carrier layer is subjected to a heat treatment at 250 ° C. × 60 minutes, and then subjected to 40 kgf / More preferably, it is composed of a copper foil having a tensile strength of at least 2 mm.
そして、このキャリア層の樹脂層との接合表面は、樹脂層との接着強度が適度に維持できる粗面であることが好ましい。この粗面を定義するために、三次元表面構造解析顕微鏡を用いて直接計測された試料表面の最大ピーク高さと最大バレー深さの和である「凹凸の最大高低差(PV)」を指標として用いる。このキャリア層の表面の「凹凸の最大高低差(PV)」の値は、キャリア層と樹脂層の密着性を確保することができる点、銅箔層上に形成される回路の平滑性を保つ点(換言すれば、キャリア層の凹凸形状に基づくプレス後の銅箔層表面の凹凸助長を低減する点)から、3μm〜12μmであることが好ましく、より好ましくは4μm〜10μmである。 The bonding surface of the carrier layer with the resin layer is preferably a rough surface capable of appropriately maintaining the adhesive strength with the resin layer. In order to define this rough surface, the "maximum height difference (PV) of unevenness," which is the sum of the maximum peak height and the maximum valley depth of the sample surface directly measured using a three-dimensional surface structure analysis microscope, is used as an index. Used. The value of the “maximum height difference (PV)” of the surface of the carrier layer is such that the adhesion between the carrier layer and the resin layer can be ensured, and the smoothness of the circuit formed on the copper foil layer is maintained. From the viewpoint of the point (in other words, the point of reducing the promotion of unevenness of the copper foil layer surface after pressing based on the uneven shape of the carrier layer), the thickness is preferably 3 μm to 12 μm, more preferably 4 μm to 10 μm.
この「凹凸の最大高低差(PV)」の測定は、測定機器としてZygo New View 5032(Zygo社製)、解析ソフトとして「Metro Pro Ver.8.0.2」を用い、低周波フィルタは11μmに設定して測定した。なお、具体的には次に示すa)〜c)の手順により測定した。 The measurement of the “maximum height difference (PV) of unevenness” is performed by using a Zygo New View 5032 (manufactured by Zygo) as a measuring device, “Metro Pro Ver. 8.0.2” as analysis software, and a low-frequency filter of 11 μm. Was set and measured. In addition, it measured specifically by the procedure of the following a) -c).
a)キャリア付銅箔の試料片の樹脂層と当接することとなる表面を測定面として試料台に密着させて固定する。
b)当該試料片の1cm角の範囲内において108μm×144μmの視野を6点選択して測定する。
c)6箇所の測定点から得られた最大高低差(PV)値の平均値を、「凹凸の最大高低差(PV)」として採用した。a) The surface of the copper foil with carrier that comes into contact with the resin layer of the sample piece is fixed as a measurement surface by closely adhering to the sample table.
b) Within a 1 cm square area of the sample piece, six visual fields of 108 μm × 144 μm are selected and measured.
c) The average value of the maximum height difference (PV) values obtained from the six measurement points was adopted as the “maximum height difference (PV) of unevenness”.
剥離層: 当該剥離層を有機剥離層とする場合は、窒素含有化合物、硫黄含有化合物及びカルボン酸からなる群から選択される化合物の少なくとも一つ以上を含むものとすることが好ましい。ここで言う窒素含有有機化合物には、置換基を有する窒素含有有機化合物を含んでいる。具体的には、窒素含有有機化合物としては、置換基を有するトリアゾール化合物である1,2,3−ベンゾトリアゾール、カルボキシベンゾトリアゾール、N’,N’−ビス(ベンゾトリアゾリルメチル)ユリア、1H−1,2,4−トリアゾール及び3−アミノ−1H−1,2,4−トリアゾール等を用いることが好ましい。そして、硫黄含有有機化合物としては、メルカプトベンゾチアゾール、チオシアヌル酸及び2−ベンズイミダゾールチオール等を用いることが好ましい。また、カルボン酸としては、特にモノカルボン酸を用いることが好ましく、中でもオレイン酸、リノール酸及びリノレン酸等を用いることが好ましい。これらの有機成分は、高温耐熱性に優れ、キャリアの表面に厚さ5nm〜60nmの接合界面層の形成が容易だからである。 Release Layer: When the release layer is an organic release layer, the release layer preferably contains at least one compound selected from the group consisting of a nitrogen-containing compound, a sulfur-containing compound, and a carboxylic acid. The nitrogen-containing organic compound referred to here includes a nitrogen-containing organic compound having a substituent. Specifically, examples of the nitrogen-containing organic compound include 1,2,3-benzotriazole, carboxybenzotriazole, N ′, N′-bis (benzotriazolylmethyl) urea, and 1H, which are triazole compounds having a substituent. It is preferable to use -1,2,4-triazole, 3-amino-1H-1,2,4-triazole and the like. And as a sulfur-containing organic compound, it is preferable to use mercaptobenzothiazole, thiocyanuric acid, 2-benzimidazole thiol, and the like. Further, as the carboxylic acid, it is particularly preferable to use a monocarboxylic acid, and it is particularly preferable to use oleic acid, linoleic acid, linolenic acid, and the like. This is because these organic components have excellent high-temperature heat resistance and can easily form a bonding interface layer having a thickness of 5 nm to 60 nm on the surface of the carrier.
そして、当該剥離層を無機剥離層とする場合は、無機成分としてNi、Mo、Co、Cr、Fe、Ti、W、P、カーボン又は、これらを主成分とする合金或いは化合物からなる群から選択される少なくとも一種以上を用いることが好ましい。これらの無機系接合界面層の場合、電着法、無電解法、物理蒸着法等の公知の手法を用いて形成することが可能である。 When the release layer is an inorganic release layer, the release layer is selected from the group consisting of Ni, Mo, Co, Cr, Fe, Ti, W, P, carbon, and alloys or compounds containing these as main components. It is preferable to use at least one of the above. In the case of these inorganic bonding interface layers, it is possible to form them using a known method such as an electrodeposition method, an electroless method, or a physical vapor deposition method.
銅箔層: 当該銅箔層は、スパッタリング等による物理的蒸着法、化学気相反応法、無電解めっき法、電解めっき法、無電解めっきと電解めっきとを併用する複合めっき法等を用いて形成することが可能であり、その形成方法に特段の限定は無い。しかしながら、製造コストと銅箔層の膜厚の均一性を考慮すると電解法で形成することが経済的観点から好ましい。また、この銅箔層の厚さに関しても、特段の限定はない。ピンホール欠陥の発生を防ぐ点、ファイン回路形成時のエッチングファクター確保する点から銅箔厚さは1μm〜10μmであることが好ましい。 Copper foil layer: The copper foil layer is formed by a physical vapor deposition method such as sputtering, a chemical vapor reaction method, an electroless plating method, an electrolytic plating method, or a composite plating method using a combination of electroless plating and electrolytic plating. It can be formed, and there is no particular limitation on the forming method. However, in consideration of the manufacturing cost and the uniformity of the thickness of the copper foil layer, it is preferable from the economical viewpoint to form the copper foil layer by the electrolytic method. There is no particular limitation on the thickness of the copper foil layer. The thickness of the copper foil is preferably 1 μm to 10 μm from the viewpoint of preventing occurrence of pinhole defects and securing an etching factor when forming a fine circuit.
本件出願において、当該銅箔層が多層プリント配線板の回路形成層としても用いられるとは、具体的には多層プリント配線板を製造する際に、埋込回路形成層、或いは、外層回路形成層として用いられることを意味する。銅箔層に対して回路形成が行われるタイミングは特に限定されるものではない。銅箔層上にビルドアップ層が積層される前に、当該銅箔層を埋込回路形成層として、回路形成が行われてもよい。また、当該銅箔層上にビルドアップ層が積層され、後述するビルドアップ配線層付支持基板分離工程において多層積層板を得た後、当該銅箔層を外層回路形成層として、回路形成が行われてもよい。 In the present application, the fact that the copper foil layer is also used as a circuit forming layer of a multilayer printed wiring board means that, when a multilayer printed wiring board is manufactured, specifically, an embedded circuit forming layer or an outer circuit forming layer. It means that it is used as. The timing at which a circuit is formed on the copper foil layer is not particularly limited. Before the build-up layer is laminated on the copper foil layer, a circuit may be formed using the copper foil layer as an embedded circuit formation layer. Further, a build-up layer is laminated on the copper foil layer, and after a multilayer laminate is obtained in a support substrate separation step with a build-up wiring layer described later, circuit formation is performed using the copper foil layer as an outer circuit formation layer. May be.
銅箔層に回路形成を行う際には、従来公知の回路形成工法を適宜採用することができる。例えば、当該銅箔層をシード層として用い、フォトレジストと電気めっきによりパターン形成を行うMSAP(Modified Semi−Additive Process)法、当該銅箔層から不要箇所を除去してパターン形成を行うサブトラクティブ法等を採用することが好ましい。 When a circuit is formed on the copper foil layer, a conventionally known circuit forming method can be appropriately employed. For example, an MSAP (Modified Semi-Additive Process) method in which a pattern is formed by photoresist and electroplating using the copper foil layer as a seed layer, and a subtractive method in which an unnecessary portion is removed from the copper foil layer to form a pattern It is preferable to employ the following.
2.多層プリント配線板の製造方法
以上に述べてきた本件出願に係る回路形成層付支持基板を用いて、以下のようなコアレスビルドアップ法で多層プリント配線板を製造することが出来る。本件出願に係る多層プリント配線板の製造方法は、下記基本製造方法を基本として、以下の3つの製造方法に応用することができる。以下、「基本製造方法」、「第1製造方法」、「第2製造方法」、「第3製造方法」に分けて説明する。なお、基本製造方法にいうビルドアップ配線層形成工程、ビルドアップ配線層付支持基板分離工程、多層プリント配線板形成工程は、どの製造方法においても共通する。以下、各製造方法について説明する。2. Manufacturing Method of Multilayer Printed Wiring Board A multilayer printed wiring board can be manufactured by the following coreless build-up method using the support substrate with a circuit forming layer according to the present application described above. The method for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present application can be applied to the following three manufacturing methods based on the following basic manufacturing method. Hereinafter, the basic manufacturing method, the first manufacturing method, the second manufacturing method, and the third manufacturing method will be described separately. Note that the build-up wiring layer forming step, the support substrate separation step with a build-up wiring layer, and the multilayer printed wiring board forming step referred to in the basic manufacturing method are common to all manufacturing methods. Hereinafter, each manufacturing method will be described.
2−1.基本製造方法
当該基本製造方法は、上記基本構成の回路形成層付支持基板を用いて、コアレスビルドアップ法で多層プリント配線板を製造する方法であって、以下の工程を備える。2-1. Basic Manufacturing Method The basic manufacturing method is a method of manufacturing a multilayer printed wiring board by a coreless build-up method using the support substrate with a circuit formation layer having the above-described basic configuration, and includes the following steps.
ビルドアップ配線層形成工程: 前記回路形成層付基板の前記銅箔層の表面に、ビルドアップ配線層を形成して、ビルドアップ配線層付支持基板を得る。
ビルドアップ配線層付支持基板分離工程: 当該ビルドアップ配線層付支持基板を、前記回路形成層付支持基板の前記剥離層で分離して、前記銅箔層上にビルドアップ層が形成された多層積層板を得る。
多層プリント配線板形成工程: 前記多層積層板に必要な加工を施し、多層プリント配線板を得る。Build-up wiring layer forming step: A build-up wiring layer is formed on the surface of the copper foil layer of the substrate with a circuit formation layer to obtain a support substrate with a build-up wiring layer.
Supporting substrate separating step with build-up wiring layer: The support substrate with build-up wiring layer is separated by the release layer of the supporting substrate with circuit forming layer, and a multilayer in which a build-up layer is formed on the copper foil layer Obtain a laminate.
Multilayer Printed Wiring Board Forming Step: The multilayer laminate is subjected to necessary processing to obtain a multilayer printed wiring board.
2−2.第1製造方法
この第1製造方法は、以下の工程を備えることを特徴とする。以下、工程毎に説明する。2-2. First Manufacturing Method This first manufacturing method is characterized by comprising the following steps. Hereinafter, each step will be described.
回路形成層付支持基板の製造工程: 図3を参照して説明する。この工程では、図3(C−1)に示すように、樹脂層7/キャリア層2/剥離層3/銅箔層4の層構成を備える樹脂層7を備えたキャリア付銅箔20を2枚用いて、この樹脂層7同士を直接張り合わせる。このときの張り合わせには、150℃以上の温度での熱間プレス成形等を適用することが好ましい。その結果、図3(D)に示すように、回路形成層としての銅箔層4を両面に含む「銅箔層4/剥離層3/キャリア層2/中央樹脂層8/キャリア層2/剥離層3/銅箔層4」の層構成を備える両面回路形成層付支持基板1を得ることができる。なお、図面の中で、キャリア付銅箔20の銅箔層と、両面回路形成層付支持基板1の回路形成層(外層回路形成層)としての銅箔層は、同一の箇所を意味するため、同一の符号4として示している。
Manufacturing Process of Support Substrate with Circuit Forming Layer: This will be described with reference to FIG. In this step, as shown in FIG. 3 (C-1), the copper foil with
ビルドアップ配線層形成工程: この工程では、当該両面回路形成層付支持基板1の両面にある銅箔層4の表面に、ビルドアップ配線層Buを形成する。このビルドアップ配線層Buが形成された両面回路形成層付支持基板1を、上述のとおり、ビルドアップ配線層付支持基板40と称する。当該工程において、ビルドアップ配線層Buを形成する具体的な方法は特に限定されるものではない。いわゆるビルドアップ法と称される方法に含まれる方法であれば、どのような方法により、所望の多層化と内層回路の形成を行っても良い。一例として、本件出願における図4(E)において、ビルドアップ配線層Buは、「ビアホール28と、めっき層24を備える第1回路23を含む第1回路層31を備える第1ビルドアップ配線層30」、「ビアホール28と、めっき層24を備える第2回路25を含む第2回路層33を備える第2ビルドアップ配線層32」「銅箔等から構成される配線層34と層間絶縁樹脂層35とからなる第3ビルドアップ層36」などを備えている。
Build-up wiring layer forming step: In this step, a build-up wiring layer Bu is formed on the surfaces of the copper foil layers 4 on both surfaces of the
ビルドアップ配線層付支持基板分離工程: この工程では、図5(F)に示すように、当該ビルドアップ配線層付支持基板40を、前記回路形成層付支持基板1の剥離層3で分離して銅箔層4上にビルドアップ層Buが形成された2枚の多層積層板50を得る。このとき、当該ビルドアップ配線層付支持基板40を、両面回路形成層付支持基板1の剥離層3で同時にそれぞれ分離することで、2枚の当該多層積層板50を同時に得ることも出来る。
Step of separating support substrate with build-up wiring layer: In this step, as shown in FIG. 5F, the support substrate with build-up
多層プリント配線板形成工程: この工程では、前記多層積層板50に必要な加工を施し、多層プリント配線板を得ることができる。この工程に関しては、特段の限定がないため、図示を省略している。このときの必要な工程とは、ビアホール等の形成、めっき等の層間導通処理、銅箔層4及び/又は配線層34に対するエッチングによる外層回路の形成等であり、必要に応じた外層回路の形成方法を採用すれば足りる。
Multilayer Printed Wiring Board Forming Step: In this step, the multilayer laminated
上記両面回路形成層付支持基板の製造工程では、樹脂層7同士を張り合わせるものとしたが、樹脂層7の間にコア材を介在させてもよい。例えば、樹脂製のコア材を用いることができ、半硬化状態(Bステージ)の樹脂フィルム又は半硬化状態の樹脂層を有する樹脂フィルムをコア材として用いることが好ましい。コア材を介在させることにより、上記キャリア付銅箔20の樹脂層の厚みが薄い場合であっても、当該支持基板の剛性を担保することができる。但し、コア材を介在させた場合も中央樹脂層8の厚みは上述した範囲内とすることが好ましい。なお、当該樹脂フィルムを樹脂層7と張り合わせる際には、樹脂層7同士を張り合わせる場合と同様に、熱間プレス成形等により行うことができる。
In the manufacturing process of the support substrate with a double-sided circuit formation layer, the resin layers 7 are bonded to each other, but a core material may be interposed between the resin layers 7. For example, a resin core material can be used, and a resin film in a semi-cured state (B stage) or a resin film having a resin layer in a semi-cured state is preferably used as the core material. By interposing the core material, the rigidity of the supporting substrate can be ensured even when the thickness of the resin layer of the copper foil with
2−3.第2製造方法
この第2製造方法は、以下の工程を備える。第1製造方法との差異は、回路形成層付支持基板の製造工程のみであるから、以下の発明の形態の説明において、第1製造方法との重複記載を省略するため、両面回路形成層付支持基板の製造工程に関してのみ詳細に述べる。2-3. Second manufacturing method This second manufacturing method includes the following steps. The difference from the first manufacturing method is only the manufacturing process of the support substrate with a circuit forming layer. Therefore, in the following description of the embodiments of the present invention, in order to omit redundant description with the first manufacturing method, a double-sided circuit forming layer is provided. Only the manufacturing process of the supporting substrate will be described in detail.
両面回路形成層付支持基板の製造工程:第2製造方法の両面回路形成層付支持基板の製造に関しては、図7を参照して説明する。この工程では、図7(C−2)に示すように、キャリア層2/剥離層3/銅箔層4の層構成を備えるキャリア付銅箔10と、樹脂層7/キャリア層2/剥離層3/銅箔層4の層構成を備える樹脂層を備えたキャリア付電解銅箔20とを用いて、第1キャリア付銅箔10のキャリア表面と第2キャリア付銅箔20の樹脂層7の表面とを張り合わせることで、図7(D)に示すように、銅箔層4を両面に含む「銅箔層4/剥離層3/キャリア層2/中央樹脂層8/キャリア層2/剥離層3/銅箔層4」の層構成を備える回路形成層付支持基板1を得る。
Manufacturing process of support substrate with double-sided circuit formation layer: The manufacture of the support substrate with double-sided circuit formation layer in the second manufacturing method will be described with reference to FIG. In this step, as shown in FIG. 7 (C-2), a
このとき、図7(D)と、第1製造方法の図3(D)とが同様の形態となる。従って、第2製造方法の以下の工程である「ビルドアップ配線層形成工程」、「ビルドアップ配線層付支持基板分離工程」、「多層プリント配線板形成工程」も、第1製造方法と同様である。よって、ここでの重複した説明は省略する。 At this time, FIG. 7D and FIG. 3D of the first manufacturing method have the same form. Therefore, the following steps of the second manufacturing method, ie, the “build-up wiring layer forming step”, the “support substrate separating step with build-up wiring layer”, and the “multi-layer printed wiring board forming step” are the same as in the first manufacturing method. is there. Therefore, the duplicate description here is omitted.
なお、上記両面回路形成層付支持基板の製造工程では、第1キャリア付銅箔10のキャリア箔表面と第2キャリア付銅箔20の樹脂層7の表面とを直接張り合わせるものとしたが、キャリア表面と樹脂層7との間にコア材を介在させてもよい。コア材としては、上記第1製造方法で述べたものと同じものを用いることができ、張り合わせの方法等についても上記と同様の方法を採用することができる。
In the manufacturing process of the support substrate with a double-sided circuit formation layer, the carrier foil surface of the first carrier-attached
2−4.第3製造方法 2-4. Third manufacturing method
この第3製造方法は、以下の工程を備える。第1製造方法との差異は、両面回路形成層付支持基板の製造工程のみであるから、以下の発明の形態の説明において、第1製造方法との重複記載を省略するため、両面回路形成層付支持基板の製造工程に関してのみ説明する。 This third manufacturing method includes the following steps. The difference from the first manufacturing method is only the manufacturing process of the support substrate with a double-sided circuit formation layer. Therefore, in the following description of the embodiments of the invention, the duplicated description of the first manufacturing method will be omitted. Only the manufacturing process of the attached support substrate will be described.
両面回路形成層付支持基板の製造工程: 第3製造方法の両面回路形成層付支持基板の製造工程に関しては、図7を参照して説明する。この工程では、図7(C−3)に示すように、キャリア層2/剥離層3/銅箔層4の層構成を備えるキャリア付電解銅箔10を2枚用いて、当該キャリア付電解銅箔10のキャリア同士を対向させ、当該キャリア層2とキャリア層2との間にフィルム状樹脂Fを挟んで、各キャリア層をフィルム状樹脂Fと張り合わせることで、図7(D)に示すように、両面回路形成用銅箔層としての銅箔層4を両面に含む銅箔層4/剥離層3/キャリア層2/中央樹脂層8/キャリア層2/剥離層3/銅箔層4の層構成を備える両面回路形成層付支持基板1を得る。
Manufacturing process of support substrate with double-sided circuit formation layer: The manufacturing process of the support substrate with double-sided circuit formation layer in the third manufacturing method will be described with reference to FIG. In this step, as shown in FIG. 7 (C-3), two electrolytic copper foils with a
このとき、図7(D)と、第1製造方法の図3(D)とが同様の形態となる。従って、第3製造方法の以下の工程である「ビルドアップ配線層形成工程」、「ビルドアップ配線層付支持基板分離工程」、「多層プリント配線板形成工程」も、第1製造工程と同様である。よって、ここでの重複した説明は省略する。 At this time, FIG. 7D and FIG. 3D of the first manufacturing method have the same form. Accordingly, the following steps of the third manufacturing method, ie, the “build-up wiring layer forming step”, the “support substrate separating step with build-up wiring layer”, and the “multi-layer printed wiring board forming step” are the same as the first manufacturing step. is there. Therefore, the duplicate description here is omitted.
上記フィルム状樹脂Fは、第1製造方法又は第2製造方法において述べたコア材に該当する。 The film-shaped resin F corresponds to the core material described in the first manufacturing method or the second manufacturing method.
なお、銅箔層に対して回路形成を行うタイミング、回路形成の方法は上述したとおりであるため、ここでは説明を省略する。 Note that the timing for forming a circuit on the copper foil layer and the method for forming the circuit are as described above, and a description thereof will be omitted.
次に、実施例および比較例を示して本件発明を具体的に説明する。但し、本件発明は以下の実施例に限定されるものではない。 Next, the present invention will be specifically described with reference to Examples and Comparative Examples. However, the present invention is not limited to the following embodiments.
1.実施例1
実施例1では、上述した第1製造方法により多層プリント配線板を製造した。具体的には下記の工程により、多層プリント配線板を製造した。1. Example 1
In Example 1, a multilayer printed wiring board was manufactured by the above-described first manufacturing method. Specifically, a multilayer printed wiring board was manufactured by the following steps.
キャリア付銅箔として樹脂層(厚さ2.5μm)、キャリア層(厚さ18μm)の樹脂層側の表面の凹凸の最大高低差(PV)を3.8μmとした樹脂層/キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を備えるキャリア付銅箔を2枚用いて、樹脂層同士を直接張り合わせて厚さが5.0μmの中央樹脂層を有する両面回路形成層付支持基板(以下、支持基板アと称する。)を得た(図2、図3参照)。 Resin layer (carrier thickness: 2.5 μm) as a copper foil with a carrier, resin layer / carrier layer / peeling with 3.8 μm maximum height difference (PV) of unevenness on the resin layer side of carrier layer (18 μm) Using two copper foils with a carrier having a layer structure of copper layer / copper foil layer, a resin substrate is directly adhered to each other, and a support substrate with a double-sided circuit formation layer (hereinafter referred to as a support) having a central resin layer having a thickness of 5.0 μm. (Referred to as substrate A) (see FIGS. 2 and 3).
ここで、樹脂層成分は下記配合とし、全体の固形分が20重量%となるように調整したワニスをアプリケータを用いてキャリア層上に塗工することにより形成した。 Here, the resin layer component was formed as follows, and a varnish adjusted so that the total solid content was 20% by weight was applied to the carrier layer using an applicator.
〔エポキシ樹脂〕
DIC株式会社製 エピクロン850S:43重量部
新日鉄住金化学株式会社製 YD−907:25重量部
〔硬化剤〕
日本カーバイド工業株式会社製 D25F:固形分として5重量部
〔混合樹脂〕
ポリビニルアセタール樹脂(積水化学工業株式会社製KS−5):25重量部
イソシアネート樹脂(東ソー株式会社製 コロネートAPステーブル):2重量部
〔イミダゾール系硬化触媒〕
四国化成工業株式会社製 2MZ−H:0.1重量部
〔混合溶媒〕
メチルエチルケトン:プロピレングリコールモノメチルエーテル=4:1混合液〔Epoxy resin〕
Epicron 850S manufactured by DIC Corporation: 43 parts by weight YD-907 manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd .: 25 parts by weight [curing agent]
D25F manufactured by Nippon Carbide Industrial Co., Ltd .: 5 parts by weight as solid content [mixed resin]
Polyvinyl acetal resin (KS-5 manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd.): 25 parts by weight Isocyanate resin (Coronate AP Stable manufactured by Tosoh Corporation): 2 parts by weight [imidazole-based curing catalyst]
2MZ-H manufactured by Shikoku Chemical Industry Co., Ltd .: 0.1 parts by weight [mixed solvent]
Methyl ethyl ketone: propylene glycol monomethyl ether = 4: 1 mixture
その後、図4(E)に示すようなビルドアップ配線層付支持基板を得た。 Thereafter, a support substrate with a build-up wiring layer as shown in FIG.
次いで、ビルドアップ配線層付支持基板分離工程により、図5(F)に示すように、当該ビルドアップ配線層付支持基板を、当該両面回路形成層付支持基板の各剥離層でそれぞれ分離して、銅箔層上にビルドアップ層が形成された多層積層板(以下、積層板イと称する。)を2枚得た Next, in a support substrate separating step with a build-up wiring layer, as shown in FIG. 5F, the support substrate with a build-up wiring layer is separated at each release layer of the support substrate with a double-sided circuit formation layer. Then, two multilayer laminates having a build-up layer formed on a copper foil layer (hereinafter, referred to as laminate A) were obtained.
2.実施例2〜実施例4
実施例2〜実施例4は、キャリア層の樹脂層側の表面の凹凸の最大高低差(PV)及び樹脂層厚さをそれぞれ表1に示すとおりとした以外は、実施例1と同じ方法で支持基板ア及び積層板イを製造した。2. Example 2 to Example 4
Examples 2 to 4 were performed in the same manner as in Example 1 except that the maximum height difference (PV) of the unevenness of the surface of the carrier layer on the resin layer side and the resin layer thickness were as shown in Table 1, respectively. A supporting substrate A and a laminate A were manufactured.
比較例1〜比較例5においても、キャリア層の樹脂層側の表面の凹凸の最大高低差(PV)及び樹脂層厚さをそれぞれ表1に示すとおりとした以外は、実施例1と同じ方法で支持基板ア及び積層板イを製造した。 Also in Comparative Examples 1 to 5, the same method as in Example 1 except that the maximum height difference (PV) of the unevenness on the surface of the carrier layer on the resin layer side and the resin layer thickness were as shown in Table 1, respectively. To produce a supporting substrate and a laminate.
〈評価〉
上記実施例及び比較例において、多層プリント配線板を製造する際に、支持基板を構成する中央樹脂層とキャリア層との密着性と、ビルドアップ層を形成する際の回路形成性(基板平滑性)について評価した。<Evaluation>
In the above Examples and Comparative Examples, when manufacturing a multilayer printed wiring board, the adhesion between the central resin layer and the carrier layer constituting the support substrate and the circuit formability (substrate smoothness) when forming the build-up layer are formed. ) Was evaluated.
1.評価方法
1−1.中央樹脂層とキャリア層との密着性
中央樹脂層とキャリア層との密着性は次のようにして評価した。上述の支持基板アを幅1cmに切断した後、樹脂層の両面に配置されたキャリア層のうち、片面側のキャリア層を角度90°、速度50mm/minで引き上げて、ピール強度を測定した。その際、下記の判定基準に基づき合否判定を行った。1. Evaluation method 1-1. Adhesion between center resin layer and carrier layer The adhesion between the center resin layer and the carrier layer was evaluated as follows. After the above-mentioned support substrate was cut into a width of 1 cm, of the carrier layers arranged on both sides of the resin layer, the carrier layer on one side was pulled up at an angle of 90 ° and a speed of 50 mm / min, and the peel strength was measured. At that time, a pass / fail decision was made based on the following criteria.
○:キャリアが破断し強度測定不可能(ピール強度2.5kgf/cm以上とみなす)
×:強度測定可能(ピール強度 2.5kgf/cm未満):: Carrier breaks and strength cannot be measured (assuming peel strength of 2.5 kgf / cm or more)
×: Strength measurement possible (peel strength less than 2.5 kgf / cm)
1−2.回路形成性(基板平滑性)
上記の密着性評価で評価結果が「○」であった実施例1〜3と、比較例2につき、次の方法で基板平滑性を評価した。まず、キャリア付銅箔の初期状態における剥離層側の銅箔層表面の10点平均粗さRz(以下、「Rz0」と称する。)をRz0測定用サンプルを用いて測定した。Rz0測定用サンプルは、樹脂層/キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を備えるキャリア付銅箔を平滑ガラス板に張り合わせた後、キャリアを剥離し銅箔層表面を露出させたものとした。そして、上述の積層板イの銅箔層表面に対し、接触式表面粗さ計を用いて、JIS B 0601(2001)に準拠して求められる10点平均粗さRz(以下、「Rz1」と称する。)を測定した。その結果得られる銅箔層表面の10点平均粗さRzの変化量(以下、「ΔRz」と称する。但し、ΔRz=Rz1−Rz0である。)に基づき、回路平滑性を評価した。また、その際、下記の判定基準に基づき合否判定を行った。1-2. Circuit formability (substrate smoothness)
The substrate smoothness was evaluated by the following method for Examples 1 to 3 in which the evaluation result was “O” in the above-mentioned adhesion evaluation and Comparative Example 2. First, the 10-point average roughness Rz (hereinafter, referred to as “Rz 0 ”) of the surface of the copper foil layer on the release layer side in the initial state of the copper foil with a carrier was measured using a sample for Rz 0 measurement. The sample for Rz 0 measurement is obtained by laminating a copper foil with a carrier having a layer structure of resin layer / carrier layer / peeling layer / copper foil layer on a smooth glass plate, and then peeling off the carrier to expose the surface of the copper foil layer. And Then, a 10-point average roughness Rz (hereinafter, “Rz 1 ”) determined on the surface of the copper foil layer of the above-mentioned laminated board A using a contact surface roughness meter in accordance with JIS B 0601 (2001). ) Was measured. The circuit smoothness was evaluated based on the resulting change in the 10-point average roughness Rz of the copper foil layer surface (hereinafter referred to as “ΔRz”, where ΔRz = Rz 1 −Rz 0 ). At that time, a pass / fail judgment was made based on the following judgment criteria.
○: ΔRz≦0.3μm
×: ΔRz>0.3μm:: ΔRz ≦ 0.3 μm
×: ΔRz> 0.3 μm
1−3.総合評価
上記の密着性及び回路形成性の評価結果に基づき、以下の判定基準に基づき下記の総合判定を行った。1-3. Comprehensive evaluation Based on the evaluation results of the above-mentioned adhesion and circuit formation, the following comprehensive judgment was performed based on the following judgment criteria.
○: 密着性評価が○、及び回路形成性が○
×: 密着性評価が×、または回路形成性が×:: Adhesion evaluation was ○ and circuit formability was ○
×: × evaluation of adhesion, or × circuit formation
2.評価結果
2−1.中央樹脂層とキャリア層との密着性
実施例及び比較例における中央樹脂層とキャリア層との密着性に関する評価結果を表1に示す。表1に示すように、実施例1〜実施例4で製造した両面回路形成層付支持基板では、いずれも中央樹脂層とキャリア層との密着性が良好であることが確認された。実施例については、中央樹脂層の厚さによらず、キャリア層の樹脂層側の表面の凹凸の最大高低差(PV)の値が低い方がより良好な密着が得られることが確認された。2. Evaluation result 2-1. Adhesion between Central Resin Layer and Carrier Layer Table 1 shows the evaluation results regarding the adhesion between the central resin layer and the carrier layer in Examples and Comparative Examples. As shown in Table 1, it was confirmed that the adhesion between the central resin layer and the carrier layer was good in any of the support substrates with double-sided circuit formation layers manufactured in Examples 1 to 4. Regarding the examples, it was confirmed that regardless of the thickness of the central resin layer, a lower value of the maximum height difference (PV) of the unevenness of the surface of the carrier layer on the resin layer side could obtain better adhesion. .
一方、比較例についてみると、樹脂層の厚さが20μm(中央樹脂層の厚さ40μm)、キャリア層の樹脂層側の表面の凹凸の最大高低差(PV)が本件発明の範囲内である比較例2については、中央樹脂層とキャリア層との密着性が良好であったものの、他の比較例についてはいずれも中央樹脂層とキャリア層との密着性が良好ではなく、ビルドアップ層形成工程において、基板の端部から剥離し積層板イの基板平滑性を評価することができなかった。また、各比較例についてみると、キャリア層の樹脂層側の表面の凹凸の最大高低差(PV)が本件発明の範囲外となる場合、PVの値が低くとも高くとも中央樹脂層とキャリア層との密着性が低下することが確認された。また、例えば、比較例1の場合のように中央樹脂層の厚みが薄いと、PV値が本件発明の範囲内であっても中央樹脂層とキャリア層との良好な密着性を得ることができないことが確認された。 On the other hand, as for the comparative example, the thickness of the resin layer is 20 μm (the thickness of the central resin layer is 40 μm), and the maximum height difference (PV) of the unevenness of the surface of the carrier layer on the resin layer side is within the scope of the present invention. In Comparative Example 2, the adhesion between the center resin layer and the carrier layer was good, but in the other Comparative Examples, the adhesion between the center resin layer and the carrier layer was not good, and the build-up layer was formed. In the process, the substrate was peeled off from the edge of the substrate, and the substrate smoothness of the laminate A could not be evaluated. Regarding each comparative example, when the maximum height difference (PV) of the unevenness of the surface of the carrier layer on the resin layer side is out of the range of the present invention, even if the value of PV is low or high, the central resin layer and the carrier layer are not affected. It was confirmed that the adhesiveness with the adhesive decreased. Further, for example, when the thickness of the central resin layer is thin as in Comparative Example 1, even when the PV value is within the range of the present invention, good adhesion between the central resin layer and the carrier layer cannot be obtained. It was confirmed that.
2−2.回路形成性(基板平滑性)
実施例及び比較例における回路形成性に関する評価結果を表1に示す。表1に示すように、実施例1〜実施例4で製造した両面回路形成層付支持基板では、いずれも良好な回路形成性を有することが確認された。特に、樹脂層の厚さが上述した好ましい範囲内(1.5μm〜15μm)である場合、より良好な回路形成性を示すことが確認された。2-2. Circuit formability (substrate smoothness)
Table 1 shows the results of evaluating the circuit formability in Examples and Comparative Examples. As shown in Table 1, it was confirmed that all of the support substrates with double-sided circuit formation layers manufactured in Examples 1 to 4 had good circuit formability. In particular, it was confirmed that when the thickness of the resin layer was within the above-described preferred range (1.5 μm to 15 μm), more favorable circuit formability was exhibited.
一方、PV値又は樹脂層厚さの少なくともいずれか一方が本件発明の範囲外となる比較例1〜比較例5については、キャリアの密着性が悪いものとなり、その結果ビルドアップ層形成段階で剥がれを生じたため回路形成性の評価ができなかった。 On the other hand, for Comparative Examples 1 to 5 in which at least one of the PV value and the resin layer thickness is out of the range of the present invention, the adhesion of the carrier is poor, and as a result, the carrier is peeled off at the build-up layer formation stage. , The circuit formability could not be evaluated.
コアレスビルトアップ法で多層銅張積層板を製造する際に、密着性と回路平滑性に優れた支持基板等を提供することで、ビルドアップ層形成工程で回路形成の安定性に優れた多層プリント配線板を得ることができる。 When manufacturing multilayer copper-clad laminates by the coreless build-up method, by providing a support substrate etc. with excellent adhesion and circuit smoothness, multilayer prints with excellent circuit formation stability in the build-up layer forming process A wiring board can be obtained.
1 回路形成層付支持基板
2 キャリア層(キャリア)
3 剥離層
4 銅箔層
7 樹脂層
8 中央樹脂層
10 キャリア付銅箔
20 樹脂層を備えたキャリア付電解銅箔
23 第1回路
25 第2回路
24 めっき層
28 ビアホール
30 第1ビルドアップ配線層30
31 第1回路層
32 第2ビルドアップ配線層
33 第2回路層
34 配線層
35 層間絶縁樹脂層
36 第3ビルドアップ層
40 ビルドアップ配線層付支持基板
50 多層積層板
Bu ビルドアップ配線層
F フィルム状樹脂1 support substrate with
3
31
Claims (14)
当該キャリア層の当該樹脂層側の表面の凹凸の最大高低差(PV)が3μm〜12μmであり、
前記樹脂層の厚さが、1.5μm〜15μmである、
ことを特徴とする回路形成層付支持基板。 It has a layer structure of copper foil layer / release layer / carrier layer / resin layer,
A maximum height difference (PV) of irregularities on the surface of the carrier layer on the resin layer side is 3 μm to 12 μm;
The thickness of the resin layer is 1.5 μm to 15 μm,
A support substrate with a circuit formation layer, characterized in that:
当該キャリア層の当該樹脂層側の表面の凹凸の最大高低差(PV)が3μm〜12μmであり、
前記樹脂層の厚さが1.5μm〜30μmである、
ことを特徴とする両面回路形成層付支持基板。 On both sides of the resin layer, a carrier layer / release layer / copper foil layer is provided in order from the resin layer side,
A maximum height difference (PV) of irregularities on the surface of the carrier layer on the resin layer side is 3 μm to 12 μm;
The resin layer has a thickness of 1.5 μm to 30 μm,
A support substrate with a double-sided circuit formation layer, characterized in that:
前記銅箔層上に、少なくとも一層の絶縁層及び配線層を含むビルドアップ層が積層された後に、前記剥離層において分離され、前記銅箔層上に当該ビルドアップ層が積層された積層体であることを特徴とする多層積層板。 A multilayer laminate manufactured using the support substrate with a circuit formation layer according to any one of claims 1 to 3,
On the copper foil layer, after a build-up layer including at least one insulating layer and a wiring layer is laminated, separated in the release layer, a laminate in which the build-up layer is laminated on the copper foil layer A multilayer laminate characterized by the following.
ビルドアップ配線層形成工程: 前記回路形成層付基板の前記銅箔層の表面に、ビルドアップ配線層を形成して、ビルドアップ配線層付支持基板を得る。
ビルドアップ配線層付支持基板分離工程: 当該ビルドアップ配線層付支持基板を、前記回路形成層付支持基板の前記剥離層で分離して、前記銅箔層上にビルドアップ層が形成された多層積層板を得る。 A method for producing a multilayer printed wiring board by a build-up method using the support substrate with a circuit layer according to any one of claims 1 to 3, comprising the following steps: A method for manufacturing a multilayer printed wiring board.
Build-up wiring layer forming step: A build-up wiring layer is formed on the surface of the copper foil layer of the substrate with a circuit formation layer to obtain a support substrate with a build-up wiring layer.
Supporting substrate separating step with build-up wiring layer: The support substrate with build-up wiring layer is separated by the release layer of the supporting substrate with circuit forming layer, and a multilayer in which a build-up layer is formed on the copper foil layer Obtain a laminate.
両面回路形成層付支持基板の製造工程: 樹脂層/キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を備えるキャリア付銅箔を2枚用いて、この樹脂層同士を直接張り合わせ、又は、コア材の両面に張り合わせて中央樹脂層とすることで、銅箔層/剥離層/キャリア層/中央樹脂層/キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を有する両面回路形成層付支持基板を得る。
ビルドアップ配線層形成工程: 当該両面回路形成層付基板の各銅箔層の表面に、ビルドアップ配線層を形成して、ビルドアップ配線層付支持基板を得る。
ビルドアップ配線層付支持基板分離工程: 当該両面回路形成層付支持基板の剥離層で分離して、銅箔層上にビルドアップ層が形成された多層積層板を得る。 A method for manufacturing a multilayer printed wiring board by a build-up method using the support substrate with a double-sided circuit formation layer according to claim 4, comprising the following steps: .
Manufacturing process of support substrate with double-sided circuit formation layer: Using two copper foils with a carrier having a layer structure of resin layer / carrier layer / peeling layer / copper foil layer, these resin layers are directly bonded to each other, or a core material is used. By bonding to both surfaces of the substrate to form a central resin layer, a support substrate with a double-sided circuit forming layer having a layer structure of copper foil layer / peeling layer / carrier layer / central resin layer / carrier layer / peeling layer / copper foil layer is obtained. .
Build-up wiring layer forming step: A build-up wiring layer is formed on the surface of each copper foil layer of the substrate with a double-sided circuit formation layer to obtain a support substrate with a build-up wiring layer.
Supporting substrate separating step with build-up wiring layer: Separation is performed at a release layer of the supporting substrate with a double-sided circuit forming layer to obtain a multilayer laminate in which a build-up layer is formed on a copper foil layer.
両面回路形成層付支持基板の製造工程: キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を備える第1キャリア付銅箔と、樹脂層/キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を備える第2キャリア付銅箔とを用いて、第1キャリア付銅箔のキャリアと、第2キャリア付銅箔の樹脂層とを直接張り合わせ、又はコア材の両面に張り合わせることで、銅箔層/剥離層/キャリア層/中央樹脂層/キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を有する前記両面回路形成層付支持基板を得る。
ビルドアップ配線層形成工程: 当該両面回路形成層付支持基板の各銅箔層の表面に、ビルドアップ配線層を形成して、ビルドアップ配線層付支持基板を得る。
ビルドアップ配線層付支持基板分離工程: 当該両面回路形成層付支持基板の剥離層で分離して、銅箔層上にビルドアップ層が形成された多層積層板を得る。 A method for manufacturing a multilayer printed wiring board by a build-up method using the support substrate with a double-sided circuit formation layer according to claim 4, comprising the following steps: Method.
Manufacturing process of a support substrate with a double-sided circuit formation layer: a first copper foil with a carrier having a layer configuration of a carrier layer / release layer / copper foil layer, and a layer configuration of a resin layer / carrier layer / release layer / copper foil layer Using the copper foil with the second carrier, the carrier of the copper foil with the first carrier and the resin layer of the copper foil with the second carrier are directly bonded to each other, or are bonded to both surfaces of the core material. The support substrate with a double-sided circuit formation layer having the layer configuration of release layer / carrier layer / central resin layer / carrier layer / release layer / copper foil layer is obtained.
Build-up wiring layer forming step: A build-up wiring layer is formed on the surface of each copper foil layer of the support substrate with a double-sided circuit formation layer to obtain a support substrate with a build-up wiring layer.
Supporting substrate separating step with build-up wiring layer: Separation is performed at a release layer of the supporting substrate with a double-sided circuit forming layer to obtain a multilayer laminate in which a build-up layer is formed on a copper foil layer.
両面回路形成層付支持基板の製造工程: キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を備えるキャリア付銅箔を2枚用いて、各キャリア付銅箔のキャリア層をコア材の両面に張り合わせることで、銅箔層/剥離層/キャリア層/中央樹脂層/キャリア層/剥離層/銅箔層の層構成を有する前記両面回路形成層付支持基板を得る。
ビルドアップ配線層形成工程: 当該両面回路形成層付支持基板の各銅箔層の表面に、ビルドアップ配線層を形成して、ビルドアップ配線層付支持基板を得る。
ビルドアップ配線層付支持基板分離工程: 当該両面回路形成層付支持基板の剥離層で離して、銅箔層上にビルドアップ層が形成された多層積層板を得る。 A method for manufacturing a multilayer printed wiring board by a build-up method using the support substrate with a double-sided circuit formation layer according to claim 4, comprising the following steps: .
Manufacturing process of a support substrate with a double-sided circuit forming layer: Using two copper foils with a carrier having a layer structure of a carrier layer / a release layer / a copper foil layer, the carrier layers of the copper foils with a carrier are bonded to both surfaces of the core material. Thereby, the support substrate with a double-sided circuit formation layer having a layer structure of copper foil layer / peeling layer / carrier layer / central resin layer / carrier layer / peeling layer / copper foil layer is obtained.
Build-up wiring layer forming step: A build-up wiring layer is formed on the surface of each copper foil layer of the support substrate with a double-sided circuit formation layer to obtain a support substrate with a build-up wiring layer.
Separation step of support substrate with build-up wiring layer: Separated at the release layer of the support substrate with a double-sided circuit formation layer to obtain a multilayer laminate having a build-up layer formed on a copper foil layer.
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