JP6651299B2 - 表面面一性を調査するシステム及び方法 - Google Patents

Description

本願開示は、概して品質制御システムに関し、より具体的には表面面一性（surface flushness）を調査するシステム及び方法に関する。

多くの例において、乗り物、機械類又は他の製品のコンポーネントは、特定の態様において共に適合するように設計されることがある。しばしば、乗り物、機械類又は他の製品の正確な動作又は使用を確保するために、正確に適合する一定のコンポーネントを得ることが必要になることがある。コンポーネントが必要とされるとおりに共に適合するのを確保することは、修理又は交換動作が行われた後、さらにより重要になることがある。コンポーネントが意図されたとおりに共に適合するかを判定することにおいて、コンポーネントの表面面一性を調査することが望ましいことがある。

コンポーネントが意図されたとおりに共に適合するかを判定することにおいて、コンポーネントの表面面一性を調査することが望ましいことがある。

本願開示の実施形態に従い、コンポーネントの表面面一性を調査するための従前の手法に関連する決定及び問題は、低減され、あるいは除去される。

特定の実施形態において、表面面一性を調査するシステムが、表面プロファイルデータを記憶するように動作可能な１又は複数のメモリ装置とロジックを実行するように動作可能なプロセッサとを含む。プロセッサは、第１のコンポーネントの第１の表面と第２のコンポーネントの第２の表面とのための表面プロファイルデータにアクセスし、第１の表面と第２の表面とのための表面プロファイルデータに少なくとも部分的に基づいて、第１の表面と第２の表面とにおける最良適合（best-fit）を決定する。プロセッサは、第１の表面上の第１の部分端（edge-of-part）ポイントから最良適合までの第１の距離と第２の表面上の第２の部分端ポイントから最良適合までの第２の距離とを決定する。プロセッサは、第１の距離と第２の距離とに少なくとも部分的に基づいて、第１の表面と第２の表面とにおける面一性を決定する。

本願開示の特定の実施形態は、１又は複数の技術的利点を提供することができる。例えば、各々の隣接する部分の適合を別個に調べ得る従来の方法とは違って、特定の実施形態において、最良適合は、第１の表面と第２の表面とのための表面プロファイルデータを使用して、第１のコンポーネントの第１の表面と第２のコンポーネントの第２の表面とにわたって決定される。したがって、特定の実施形態において、最良適合は、設計ごとの理論的な意図された表面の近似であってよく、双方のコンポーネントの表面を考慮する。さらに、特定の実施形態において、最良適合の正確度は、第１の表面と第２の表面との表面プロファイルデータを生成するために使用される表面データポイントの数を増加させることによって、有利に向上させることができる。特定の実施形態において、表面データポイントは、第１の表面と第２の表面とのより長い長さからとられる。第１の表面と第２の表面とのより長い長さにわたるより多くのデータポイントの使用は、特定の表面における複数のコーティングレイヤから生じ得る変動などのわずかな表面不完全性によって誘発される誤差を有利に低減することができる。

本願開示に係る特定の実施形態の別の利点は、再現性及び繰り返し性である。表面面一性を測定するための既存のシステムは、特に、距離を算出するための参照軸を設定することに関して、使用される計算（mathematics）における幅広い変動の影響を受けることがある。既存の測定システムと隙間ゲージ、ゲージブロック又はキャリパーなどの基本的な測定ツールとの間に結果的に生じる不一致は、一般的で、説明するのが困難であった。従来のアプローチとは違って、特定の実施形態における最良適合は、最良適合に関連して厳密な参照軸を確立するように使用される。このことは、不正確な面一性の読み（readings）が測定装置の組み込まれたソフトウェア計算の副産物（bi-product）でないという保証を提供する。さらに、いくつかの実施形態に係る計算は、基本的な測定プロセスに厳密に整合し、問題の現場状態を評価するための定義された相関性を有する。したがって、現場において使用される基本的な測定手法と比べて追加される測定システム値の予測性と相関性とは、修理又は交換プロセスが実施された後に製品がその最初の状態にどのように関連するかを決定するという問題を除去することができる。さらに、特定の実施形態により提供される繰り返し性と再現性とは、コンポーネントの互いに対する適合のための厳格な許容差が検証され得ることを確保する。

本願開示に係る特定の実施形態は、上記利点のうちいくつかを含んでもよく、すべてを含んでもよく、あるいはいずれも含まなくてもよい。本願に含まれる図面、説明及び特許請求の範囲から、１又は複数の他の技術的利点が当業者に容易に明らかになり得る。

本願発明のより完全な理解のため、並びにそのさらなる特徴及び利点のために、次に、下記の説明を添付の図面と合わせて参照する。
特定の実施形態に従って調査され得る表面面一性を有するコンポーネント部分の環境ビューを示す。 特定の実施形態に従う調査システムの適用を示す。 特定の実施形態に従う表面面一性を調査する方法のフローチャートを示す。 特定の実施形態に従う表面面一性を調査するために利用され得る一例示的なコンピュータシステムを示す。

本発明の実施形態とその利点とは、図１〜図４を参照することによって最も良く理解され、同様の番号は、様々な図面についての同様の及び対応する部分に使用される。

部分対部分の（Part-to-part）表面面一性は、航空機、自動車、機械類及び他の製品を含む多くの設計の重大な特徴である。ますます多くの製品が、機械加工、複合材及びプラスチック製造における進歩を生かす高度に彫刻された輪郭を用いて設計されている。はめあい部分間の表面面一性を調査することは、上記適用において非常に困難である。

歴史的に、表面面一性は、隙間ゲージ、ゲージブロック又はキャリパーなどの様々な基本的な測定ツールを用いて測定されてきた。表面面一性を測定するための一教示には、隣接する部分ごとに別個に曲線適合を作る（developing）こと、これらの表面を部分間の間隙にわたって推定すること、及び間隙の中心における曲線間の距離としてミスマッチを算出することを含む。こうしたアプローチに関連する多数の問題の中に、厳格な許容差を検証するために必要となり得る繰り返し性特性及び再現性特性をユーザコミュニティにわたって欠くという問題がある。例えば、上記のアプローチは、距離を算出するための参照軸を設定するために様々な計算を使用することができる。このことは、適用される形状及び計算に基づいてある測定から別の測定へ参照軸が変化するため、望まれない場合がある。この、ある測定から別の測定への参照軸における変化への傾向は、結果を複製することにおいて問題を生み出す。

多くの場合、測定システムソフトウェア内に組み込まれた参照軸算出は、測定装置の外部で複製可能ではない。したがって、他の基本的な測定手法（上記で言及された隙間ゲージ、ゲージブロック又はキャリパーなど）を使用して測定をクロスチェックするとき、製品と数学的解析との双方についての詳細な調査及び測定なしに種々の結果を説明するのは困難あるいは不可能である可能性がある。

本願開示の特定の実施形態において、表面面一性を調査するシステム及び方法が、間違った、誤解させる測定を大いに低減し、一貫性のある、有意義な測定をエンジニアリング及び生産に提供する。特定の実施形態において、上記方法は、隣接する部分の表面を表す表面プロファイルデータ（例えば、レーザ測定システムデータ）を使用して、双方の部分にわたる最良適合を設計ごとの理論的な意図された表面の近似として作り、第１のコンポーネント及び第２のコンポーネント上の部分端ポイントから最良適合へ面一性を測定する。特定の実施形態において、上記方法は、最良適合が部分表面のいずれとも良好な適合でない状況を調整する補正係数式を含んでもよい。

図１は、特定の実施形態に従って調査され得る表面面一性を有するコンポーネント部分の環境ビューを示す。特定の実施形態において、乗り物、機械又は他の製品が、特定の方法において共に適合しなければならない複数のコンポーネントを有してよい。一例として、図１に示されるとおり、航空機１１０が、特定の方法において共に適合しなければならない第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０とを有してよい。図１は航空機１１０を示すが、本願開示は、任意の適切な乗り物、機械又は他の製品の任意の適切なコンポーネントの表面面一性を測定するように調査システム１００の使用を考える。

航空機１１０は、複数のコンポーネントを含んでよい。例えば、航空機１１０は、第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０とを有してよい。特定の実施形態において、第１のコンポーネント１２０は第１の表面１２４を有してよく、第２のコンポーネント１３０は第２の表面１３４を有してよい。特定の実施形態において、第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０とは、特定の方法において共に適合するように設計されてよい。限定としてではなく一例として、第１のコンポーネント１２０の第１の表面１２４が、特定の方法において第２のコンポーネント１３０の第２の表面１３４と整合してよい。

概して、第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０とが意図されたとおりに共に適合することを判定するのが望ましいことがある。第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０とにおける正確な適合は、航空機１１０などの乗り物又は機械における安全性、正確な動作又は必要とされる許容差の達成などの様々な理由のために必要とされ、あるいは所望されることがある。結果として、多くの例において、第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０とが意図されたとおりに適合することを確認するのが望ましいことがある。例えば、航空機１１０が製造施設を出ることを許す前に、第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０とが意図されたとおりに適合することを確認するのが望ましいことがある。別の例として、修理の完了後、航空機１１０の動作を許す前に、第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０とが意図されたとおりに適合することを確認するのが望ましいことがある。こうした状況において、第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０との表面面一性が意図されたとおりであることを確認するのが望ましいことがある。

概して、調査システム１００は、第１の表面１２４と第２の表面１３４との表面プロファイルデータを使用して、第１のコンポーネント１２４と第２のコンポーネント１３０とにわたる最良適合を作る。特定の実施形態において、第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０とにわたる最良適合は、線（以下の図２に説明される最良適合線１５０など）であってよい。特定の実施形態において、第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０とにわたる最良適合は、二次曲線であってよい。以下に説明される特定の実施形態は最良適合線を示し得るが、本願開示は、最良適合曲線が使用されてもよいと考える。特定の実施形態において、第１の表面１２４と第２の表面１３４とのための表面プロファイルデータは、レーザ測定システムデータであってよい。特定の実施形態において、表面プロファイルデータは、光干渉法（light interferometry）を使用して生成されてよい。他の特定の実施形態において、表面プロファイルデータは、任意の適切な態様において生成されてもよい。特定の実施形態において、調査システム１００は、部分端ポイントから最良適合へ面一性を測定する。

概して、調査システム１００は、基本的な測定手法（隙間ゲージ、ゲージブロック又はキャリパーなど）の結果に厳密に整合する結果を生み出す。このことは、生産組み立て要員、調査者及びエンジニアが測定結果を容易に解釈することを有利に可能にすることができ、製品の現場状態が評価され得るための定義された相関性を提供する。さらに、調査システム１００の特定の実施形態は、表面１２４及び１３４におけるわずかな不完全性から生じる誤差を低減することができる。特定の実施形態において、小さい表面不完全性から生じる最良適合の偏りは、最良適合を定義することにおいて表面１２４と１３４とのより長い長さに沿ってより多くの表面ポイントを使用することによって低減することができる。

図２は、特定の実施形態に従う調査システム１００の適用を示す。上述されたとおり、図１に示される航空機１１０などの乗り物、機械又は他の製品の２つのコンポーネント部分が、特定の態様において共に適合するように構成されてよい。２つのコンポーネントが正確に共に適合するかを判定するために、２つのコンポーネントの表面面一性を測定するのが望ましいことがある。調査システム１００の特定の実施形態に従い、第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０との表面面一性は、信頼性のある再現可能な結果を生み出し、かつ複雑な表面を受け入れることができる態様において判定される。特定の実施形態において、調査システム１００は、測定装置のソフトウェアコンポーネントであってよい。限定としてではなく一例として、調査システム１００は、Ｔｈｉｒｄ ＤｉｍｅｎｓｉｏｎのＧａｐＧｕｎ Ｓｏｆｔｗａｒｅのソフトウェアコンポーネントであってよい。

図２に示されるとおり、第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０とは、特定の態様において共に適合するように設計されてよい。特定の実施形態において、第１のコンポーネント１２０は、第１の表面１２４を有してよい。特定の実施形態において、第１の表面１２４は、第１の部分端ポイント１２８を有してよい。特定の実施形態において、第１の表面１２４は、第１のポイント１４０と第２のポイント１４２とを有してもよい。

特定の実施形態において、第１の部分端ポイント１２８は、第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０とにおける間隙１１５に最も近い第１の表面１２４上のポイントとして定義されてよい。特定の実施形態において、調査システム１００は、第１の部分端ポイント１２８と最良適合線１５０とにおける距離を決定するように構成されてよい。特定の実施形態において、第１の部分端ポイント１２８は、第１の表面１２４上の第１のポイント１４０と第２のポイント１４２との場所を決定するための参照として使用されてよい。限定としてではなく一例として、第１のポイント１４０は、第１の部分端ポイント１２８から所定の距離に位置してよい。

特定の実施形態において、調査システム１００は、第１のポイント１４０と第２のポイント１４２とを使用して、表面プロファイルデータが生成され得るための第１の表面１２４の一部の境界を確立してよい。特定の実施形態において、第１のポイント１４０と第２のポイント１４２とにおける距離は、固定されてよい。例えば、第１のポイント１４０と第２のポイント１４２とにおける距離を固定することは、品質制御手順の一要素であってよい。他の特定の実施形態において、第１のポイント１４０と第２のポイント１４２とにおける距離は、調整されてよい。特定の実施形態において、第１のポイント１４０と第２のポイント１４２とにおける距離は、第２のコンポーネント１３０の第２の表面１３４上の第３のポイント１４６と第４のポイント１４８とにおける距離に実質的に等しくてよい。

特定の実施形態において、表面プロファイルデータは、第１のコンポーネント１２０の第１の表面１２４を表してよい。特定の実施形態において、表面プロファイルデータは、レーザ測定又は任意の他の適切な手段を使用して生成されてよい。特定の実施形態において、第１のポイント１４０は、第１の部分端ポイント１２８から第１の所定距離に位置してよい。特定の実施形態において、調査システム１００は、第１の表面１２４上の第１のポイント１４０と第２のポイント１４２との間に位置する第１の表面１２４の一部のための表面プロファイルデータを生成するように構成されてよい。特定の実施形態において、調査システム１００は、第１のポイント１４０と第２のポイント１４２との間に位置する第１の表面１２４の一部のために事前に生成された表面プロファイルデータにアクセスするように構成されてよい。特定の実施形態において、第１のポイント１４０と第２のポイント１４２との間の第１の表面１２４の一部のための表面プロファイルデータは、光干渉法を使用して生成されてよい。他の特定の実施形態において、第１のポイント１４０と第２のポイント１４２との間の第１の表面１２４の一部のための表面プロファイルデータは、任意の適切な手法を使用して生成されてよい。

特定の実施形態において、調査システム１００により使用される表面プロファイルデータを生成するために使用される表面データポイントの数は、第１の表面１２４におけるわずかな不完全性によって誘発される誤差を低減するように、増加されてよい。限定としてではなく一例として、第１のコンポーネントなどのコンポーネントは、複数のコーティングレイヤから生じる変動又はわずかな不完全性を有することがある。別の例として、第１のコンポーネント１２０などのコンポーネントの短い長さだけが可視であり、測定入力に適する場合、こうした短い長さのデータは、製品状態についての誤った知見をしばしば生み出す可能性がある。既存の測定システムにおいて、上記のわずかな不完全性は、曲線適合を偏らせる可能性があり、コンポーネント１２０などの部分の端からはずれた曲線適合推定をもたらし、こうした推定は、設計ごとの理論的な意図された表面の合理的な近似ではない。本願開示に係る特定の実施形態において、この問題は、使用される表面データポイントの数を増加させることによって改善され、これにより、上記の不完全性によって引き起こされる表面うねり又は雑音の影響をあまり受けないような実施形態を有利に提供することができる。

同様にして、特定の実施形態において、第２のコンポーネント１３０は、第２の表面１３４を有してよい。特定の実施形態において、第２の表面１３４は、第２の部分端ポイント１３８を有してよい。特定の実施形態において、第２の表面１３４は、第３のポイント１４６と第４のポイント１４８とを有してもよい。

特定の実施形態において、第２の部分端ポイント１３８は、第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０との間の間隙１１５に最も近い第２の表面１３４上のポイントとして定義されてよい。特定の実施形態において、調査システム１００は、第２の部分端ポイント１３８と最良適合線１５０とにおける距離を決定するように構成されてよい。特定の実施形態において、第２の部分端ポイント１３８は、表面１３４上の第３のポイント１４６と第４のポイント１４８との場所を決定するための参照して使用されてよい。限定としてではなく一例として、第３のポイント１４６は、第２の部分端ポイント１３８から所定の距離に位置してよい。

特定の実施形態において、調査システム１００は、第３のポイント１４６と第４のポイント１４８とを使用して、表面プロファイルデータを生成することに使用され得る第２の表面１３４の一部の境界を確立してよい。特定の実施形態において、第３のポイント１４６と第４のポイント１４８とにおける距離は、固定されてよい。例えば、第３のポイント１４６と第４のポイント１４８とにおける距離を固定することは、品質制御手順の一要素であってよい。他の特定の実施形態において、第３のポイント１４６と第４のポイント１４８とにおける距離は、調整されてよい。特定の実施形態において、第３のポイント１４６と第４のポイント１４８とにおける距離は、第１のコンポーネント１２０の第１のポイント１４０と第２のポイント１４２とにおける距離に実質的に等しくてよい。

特定の実施形態において、表面プロファイルデータは、第２のコンポーネント１３０の第２の表面１３４を表してよい。特定の実施形態において、表面プロファイルデータは、レーザ測定又は任意の他の適切な手段を使用して生成されてよい。特定の実施形態において、第３のポイント１４６は、第２の部分端ポイント１３８から第２の所定距離に位置してよい。特定の実施形態において、第１の部分端ポイント１２８と第１のポイント１４０とにおける第１の所定距離が、第２の部分端ポイント１３８と第３のポイント１４６とにおける第２の所定距離に等しくてよい。特定の実施形態において、調査システム１００は、第２の表面１３４上の第３のポイント１４６と第４のポイント１４８との間に位置する第２の表面１３４の一部のための表面プロファイルデータを生成するように構成されてよい。特定の実施形態において、調査システム１００は、第３のポイント１４６と第４のポイント１４８との間に位置する第２の表面１３４の一部のために生成された表面プロファイルデータにアクセスするように構成されてよい。特定の実施形態において、第３のポイント１４６と第４のポイント１４８との間の第２の表面１３４の一部のための表面プロファイルデータは、光干渉法を使用して生成されてよい。他の特定の実施形態において、第３のポイント１４６と第４のポイント１４８との間の第２の表面１３４の一部のための表面プロファイルデータは、任意の適切な手法を使用して生成されてよい。

第１の表面１２４に関して上述されたとおり、第２の表面１３４のための表面プロファイルデータを作成するために使用される表面データポイントの数は、第２の表面１３４におけるわずかな不完全性によって誘発され得る最良適合線１５０における誤差を低減するように、増加されてよい。第２の表面１３４のための表面プロファイルデータを生成するために使用される表面データポイントの数を増加させることで、第１の表面１２４に関して上記で論じられた利点と同様の利点を提供することができる。

特定の実施形態において、最良適合線１５０を決定するために、第１の表面１２４上の第１のポイント１４０と第２のポイント１４２との間の表面データポイントを使用して生成された表面プロファイルデータが、第２の表面１３４上の第３のポイント１４６と第４のポイント１４８との間からの表面データポイントを使用して生成された表面プロファイルデータと組み合わせて使用されてよい。特定の実施形態において、最良適合線１５０は、設計ごとの理論的な意図された表面の近似であってよい。特定の実施形態において、最良適合線１５０は、最小二乗法を使用して決定されてよい。他の特定の実施形態において、最良適合線１５０は、任意の適切な方法を使用して決定されてよい。特定の実施形態において、最良適合線１５０は、最良適合線１５０を生成するために使用される表面データポイントの数のために、表面うねり又は雑音を有利に欠くことができる。図２は最良適合線１５０を示すが、特定の実施形態において、最良適合は二次曲線であってもよい。

特定の実施形態において、最良適合線１５０は、参照軸を設定することに使用されてよい。特定の実施形態において、調査システム１００は、参照軸の厳密な定義を有してよい。特定の実施形態において、参照軸は、第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０との間の間隙１１５の中心において最良適合線１５０に対して垂直に（as normal）設定されてよい。最良適合線１５０によって少なくとも部分的に決定された厳密な参照軸を使用することで、不正確な面一性の読みが測定装置の組み込まれたソフトウェア計算の副産物でないことを有利に確保することができる。

動作において、調査システム１００は、第１の距離１６０と第２の距離１７０と補正係数１８０とを合計することによって、第１の表面１２４と第２の表面１３４とにおける面一性を決定することができる。特定の実施形態において、第１の距離１６０は、第１の表面１２４上の第１の部分端ポイント１２８から最良適合線１５０までの距離であってよく、第２の距離１７０は、第２の表面１３４上の第２の部分端ポイント１３８から最良適合線１５０までの距離であってよい。

特定の実施形態において、補正係数１８０は、最良適合線１５０が第１の表面１２４又は第２の表面１３４のいずれとも良好な適合でない状況を調整することができる。補正係数１８０は、任意の適切な態様において算出されてよい。例えば、特定の実施形態において、補正係数１８０は、第１のコンポーネント１２０と第２のコンポーネント１３０との間の間隙１１５の距離、第１の距離１６０、第２の距離１７０及び交点コンポーネント（intersection component）に基づいて算出されてよい。特定の実施形態において、交点コンポーネントは、第１の交点距離と第２の交点距離との合計であってよい。第１の交点距離は、最良適合線１５０の第１の表面１２４との交点から第１の部分端ポイント１２８までの第１の表面１２４の輪郭に沿った距離であってよい。第２の交点距離は、最良適合線１５０の第２の表面１３４との交点から第２の部分端ポイント１３８までの第２の表面１３４の輪郭に沿った距離であってよい。特定の実施形態において、補正係数１８０は、下記の式によって決定されてよい。

概して、調査システム１００は、第１のコンポーネント１２０及び第２のコンポーネント１３０などの２つのコンポーネント間の表面面一性を測定するシステムを提供し、このシステムは、信頼性のある、再現可能な結果を生み出す。第１のポイント１４０と第２のポイント１４２との間、及び第３のポイント１４６と第４のポイント１４８との間の表面データポイントの数を最適化することによって、第１の表面１２４又は第２の表面１３４におけるわずかな表面不完全性から生じる望まれない変動の影響を受けずに設計ごとの理論的な意図された表面の近似を提供する最良適合線１５０が決定される。

特定の実施形態において、調査システム１００の、最良適合線１５０に関連して定義された参照軸の厳密な定義の使用は、不正確な面一性の読みが測定装置の組み込まれたソフトウェア計算の副産物でないことを有利に確保する。調査システム１００の表面面一性決定は、隙間ゲージ、ゲージブロック及びキャリパーなどの基本的な測定プロセスに厳密に整合し、製品の状態を評価するための定義された相関性を有する。調査システム１００は、予測性を提供し、工場状態の外部でしばしば使用される測定手法に相互に関連し、修理又は交換後のコンポーネントの正確な適合をその最初の状態に対して決定することを有利に可能にする。

図３は、特定の実施形態に従う表面面一性を調査する方法のフローチャートを示す。

上記方法は、ステップ３０４において、第１のコンポーネントの第１の表面上の第１のポイントと第１の表面上の第２のポイントとの間の複数の第１の表面データポイントが決定されたとき、始まる。特定の実施形態において、第１のポイントと第２のポイントとにおける距離は、固定されてよい。限定としてではなく一例として、第１のポイント１４０と第２のポイント１４２とにおける距離を固定することは、品質制御手順の一要素であってよい。特定の実施形態において、第１のポイントは、第１のコンポーネントの第１の部分端ポイントから第１の所定距離に位置する。特定の実施形態において、第１の表面上の第１のポイントと第２のポイントとにおける距離は、第２の表面上の第３のポイントと第４のポイントとにおける距離に等しくてよい。特定の実施形態において、表面データポイントの数は、第１の表面における不完全性によって誘発される誤差を低減するように、最適化されてよい。

ステップ３０８において、第２のコンポーネントの第２の表面上の第３のポイントと第２の表面上の第４のポイントとの間の複数の第２の表面データポイントが決定される。特定の実施形態において、第３のポイントは、第２のコンポーネント上の第２の部分端ポイントから第２の所定距離に位置してよい。特定の実施形態において、第１の部分端ポイントと第１のポイントとにおける第１の所定距離は、第２の部分端ポイントと第３のポイントとにおける第２の所定距離に実質的に等しくてよい。特定の実施形態において、第３のポイントと第４のポイントとにおける距離は、固定されてよい。特定の実施形態において、第１のポイント１４０と第２のポイント１４２とにおける距離を固定することで、品質制御測定を改良してもよい。特定の実施形態において、第３のポイントは、第２のコンポーネントの第２の部分端ポイントから所定の距離に位置してよい。特定の実施形態において、第２の表面上の第３のポイントと第４のポイントとにおける距離は、第１の表面上の第１のポイントと第２のポイントとにおける距離と同一である。特定の実施形態において、表面データポイントの数は、第２の表面における不完全性によって誘発される誤差を低減するように、最適化されてよい。

ステップ３１２において、第１の表面と第２の表面とにおける最良適合線が、複数の第１の表面データポイントと第２の表面データポイントとに少なくとも部分的に基づいて決定される。特定の実施形態において、最良適合線は、設計ごとの理論的な意図された表面の近似であってよい。最良適合線は、任意の適切な方法を使用して生成されてよい。限定としてではなく一例として、最良適合線は、最小二乗法を使用して決定されてよい。特定の実施形態において、最良適合線は、参照軸を定義するために使用されてよい。限定としてではなく一例として、参照軸は、第１のコンポーネントと第２のコンポーネントとの間の間隙の中心において最良適合線に対して垂直に定義されてよい。最良適合線を使用して厳密な参照軸を確立することで、不正確な面一性の読みが測定装置の組み込まれたソフトウェア計算の副産物ではないという保証を提供することができる。有利なことに、調査システムの計算は、隙間ゲージ、ゲージブロック及びキャリパーなどの基本的な測定手法に厳密に整合することができる。したがって、特定の実施形態において、修理又は交換手順後の製品の現在状態が、その最初の状態とより容易に比較されることができる。さらに、最良適合線を決定するために使用される表面データポイントの数が最適化され得るため、第１の表面及び第２の表面におけるわずかな不完全性から生じる最良適合線における誤差が、低減されることができる。図３に説明される方法は最良適合線の使用を示すが、特定の実施形態において、最良適合は二次曲線であってもよい。

ステップ３１６において、第１のコンポーネント上の第１の部分端ポイントから最良適合線までの第１の距離が決定される。同様にして、ステップ３２０において、第２のコンポーネント上の第２の部分端ポイントから最良適合線までの第２の距離が決定される。

ステップ３２４において、補正係数が算出される。特定の実施形態において、補正係数は、第１のコンポーネントと第２のコンポーネントとの間の間隙の幅、第１のコンポーネント上の第１の部分端ポイントから最良適合線までの距離、第２のコンポーネント上の第２の部分端ポイントから最良適合線までの距離、及び交点コンポーネントに基づいて算出されてよい。特定の実施形態において、補正係数は、最良適合線が部分表面のいずれとも良好な適合でない状況を調整する。

ステップ３２８において、第１の表面と第２の表面とにおける面一性が、第１の部分端ポイントから最良適合線までの第１の距離と第２の部分端ポイントから最良適合線までの第２の距離と補正係数とを合計することによって決定されてよい。

概して、本願開示の特定の実施形態に従う調査システムは、第１のコンポーネントの第１の表面と第２のコンポーネントの第２の表面とにわたる最良適合線を決定する。最良適合線は、第１及び第２の表面の一部を表す表面プロファイルデータを使用して決定されてよい。第１の部分端ポイントから最良適合線までの第１の距離と第２の部分端ポイントから最良適合線までの第２の距離とが決定される。第１のコンポーネント及び第２のコンポーネントのための表面面一性が、第１の距離及び第２の距離と補正係数とに少なくとも部分的に基づいて決定されてよい。

特定の実施形態に従い、調査システムは、コンポーネント間の面一性を決定することを有利に可能にすることができる。特定の実施形態において、決定される面一性は、隙間ゲージ、ゲージブロック、キャリパー及び他のツールなどの基本的な測定プロセスと厳密に相互に関連してよい。特定の実施形態において、最良適合線に基づいた厳密な参照軸が使用され、製品組み立て要員、調査者及びエンジニアによって調査結果を理解するのが容易でもあり、かつ該調査結果の改良された解釈にもつながる測定をもたらす。測定システムの信頼性及び繰り返し性は、修理又は交換が行われた後の航空機、機械又は他の乗り物若しくは製品の状態をその最初の状態に対して評価することを有利に可能にすることができる。

図４は、特定の実施形態に従う表面面一性を調査するために利用され得る一例示的なコンピュータシステム４００を示す。特定の実施形態において、１又は複数のコンピュータシステム４００が、本明細書に説明され又は例示される１又は複数の方法の１又は複数のステップを実行する。特定の実施形態において、１又は複数のコンピュータシステム４００は、本明細書に説明され又は例示される機能性を提供する。特定の実施形態において、１又は複数のコンピュータシステム４００上で実行されるソフトウェアが、本明細書に説明され又は例示される１又は複数の方法の１又は複数のステップを実行し、あるいは本明細書に説明され又は例示される機能性を提供する。特定の実施形態は、１又は複数のコンピュータシステム４００の１又は複数の部分を含む。本明細書において、コンピュータシステムという言葉は、適切な場合、コンピュータ装置を包含してもよく、逆もまた同様である。さらに、コンピュータシステムという言葉は、適切な場合、１又は複数のコンピュータシステムを包含してもよい。

本願開示は、任意の適切な数のコンピュータシステム４００を考える。本願開示は、任意の適切な物理的形態をとるコンピュータシステム４００を考える。限定としてではなく例として、コンピュータシステム４００は、組み込み型コンピュータシステム、システム・オン・チップ（ＳＯＣ）、シングルボードコンピュータシステム（ＳＢＣ）（例えば、コンピュータ・オン・モジュール（ＣＯＭ）又はシステム・オン・モジュール（ＳＯＭ）など）、デスクトップコンピュータシステム、ラップトップ若しくはノートブックコンピュータシステム、対話型キオスク、メインフレーム、コンピュータシステムのメッシュ、携帯電話、パーソナルデジタルアシスタント（ＰＤＡ）、サーバ、タブレットコンピュータシステム、又は上記のうち２以上の組み合わせであってよい。適切な場合、コンピュータシステム４００は、１又は複数のコンピュータシステム４００を含んでもよく、単一（unitary）又は分散型であってもよく、複数の場所に及んでもよく、複数の機械に及んでもよく、複数のデータセンターに及んでもよく、あるいは１又は複数のネットワークの中に１又は複数のクラウドコンポーネントを含み得るクラウドの中に存在してもよい。適切な場合、１又は複数のコンピュータシステム４００が、実質的に空間的又は時間的な制限なく、本明細書に説明され又は例示される１又は複数の方法の１又は複数のステップを実行してよい。限定としてではなく一例として、１又は複数のコンピュータシステム４００が、リアルタイムにおいて又はバッチモードにおいて、本明細書に説明され又は例示される１又は複数の方法の１又は複数のステップを実行してよい。１又は複数のコンピュータシステム４００が、適切な場合、種々の時間において又は種々の場所において、本明細書に説明され又は例示される１又は複数の方法の１又は複数のステップを実行してよい。

特定の実施形態において、コンピュータシステム４００は、プロセッサ４０２、メモリ４０４、記憶装置４０６、入力／出力（Ｉ／Ｏ）インタフェース４０８、通信インタフェース４１０及びバス４１２を含む。本願開示は、特定配置において特定数の特定コンポーネントを有する特定コンピュータシステムを説明し、例示するが、本願開示は、任意の適切な配置において任意の適切な数の任意の適切なコンポーネントを有する任意の適切なコンピュータシステムを考える。

特定の実施形態において、プロセッサ４０２は、コンピュータプログラムを構成する命令などの命令を実行するハードウェアを含む。限定としてではなく一例として、命令を実行するために、プロセッサ４０２は、内部レジスタ、内部キャッシュ、メモリ４０４又は記憶装置４０６から命令を読み出し（又はフェッチし）てもよく、命令をデコードし、実行してもよく、それから、１又は複数の結果を内部レジスタ、内部キャッシュ、メモリ４０４又は記憶装置４０６に書き込んでもよい。特定の実施形態において、プロセッサ４０２は、データ、命令又はアドレスのための１又は複数の内部キャッシュを含んでよい。本願開示は、適切な場合、任意の適切な数の任意の適切な内部キャッシュを含むプロセッサ４０２を考える。限定としてではなく一例として、プロセッサ４０２には、１又は複数の命令キャッシュ、１又は複数のデータキャッシュ、及び１又は複数のトランスレーションルックアサイドバッファ（ＴＬＢ）を含んでよい。命令キャッシュの中の命令は、メモリ４０４又は記憶装置４０６の中の命令のコピーであってよく、命令キャッシュは、プロセッサ４０２によるこうした命令の読み出しをスピードアップすることができる。データキャッシュの中のデータは、動作するプロセッサ４０２において実行する命令のための、メモリ４０４又は記憶装置４０６の中のデータのコピーであってもよく、プロセッサ４０２において実行する後続の命令によるアクセスのため、又はメモリ４０４若しくは記憶装置４０６に書き込むための、プロセッサ４０２において実行された事前の命令の結果であってもよく、あるいは他の適切なデータであってもよい。データキャッシュは、プロセッサ４０２による読み出し動作又は書き込み動作をスピードアップすることができる。ＴＬＢは、プロセッサ４０２のための仮想アドレス変換をスピードアップすることができる。特定の実施形態において、プロセッサ４０２には、データ、命令又はアドレスのための１又は複数の内部レジスタを含んでよい。本願開示は、適切な場合、任意の適切な数の任意の適切な内部レジスタを含むプロセッサ４０２を考える。適切な場合、プロセッサ４０２は、１又は複数の算術論理ユニット（ＡＬＵ）を含んでもよく、マルチコアプロセッサであってもよく、あるいは１又は複数のプロセッサ４０２を含んでもよい。本願開示は特定のプロセッサを説明し、例示するが、本願開示は任意の適切なプロセッサを考える。

特定の実施形態において、メモリ４０４は、プロセッサ４０２が実行する命令又はプロセッサ４０２が動作するためのデータを記憶するメインメモリを含む。限定としてではなく一例として、コンピュータシステム４００は、記憶装置４０６又は他のソース（例えば、別のコンピュータシステム４００など）からメモリ４０４に命令をロードしてよい。それから、プロセッサ４０２は、メモリ４０４から内部レジスタ又は内部キャッシュに命令をロードしてよい。命令を実行するために、プロセッサ４０２は、内部レジスタ又は内部キャッシュから命令を読み出し、これらをデコードしてよい。命令の実行中又は実行後、プロセッサ４０２は、１又は複数の結果（これは、中間結果又は最終結果であり得る）を内部レジスタ又は内部キャッシュに書き込んでよい。それから、プロセッサ４０２は、上記結果のうち１又は複数をメモリ４０４に書き込んでよい。特定の実施形態において、プロセッサ４０２は、（記憶装置４０６又は他の場所とは対照的に）１又は複数の内部レジスタ又は内部キャッシュの中あるいはメモリ４０４の中の命令だけを実行し、（記憶装置４０６又は他の場所とは対照的に）１又は複数の内部レジスタ又は内部キャッシュの中あるいはメモリ４０４の中のデータにおいてだけ動作する。１又は複数のメモリバス（これは、アドレスバスとデータバスとを各々含んでよい）が、プロセッサ４０２をメモリ４０４に結合してよい。バス４１２には、以下に説明されるとおり、１又は複数のメモリバスを含んでよい。特定の実施形態において、１又は複数のメモリ管理ユニット（ＭＭＵ）が、プロセッサ４０２とメモリ４０４との間に存在し、プロセッサ４０２により要求されるメモリ４０４へのアクセスを容易にする。特定の実施形態において、メモリ４０４は、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）を含む。このＲＡＭは、適切な場合、揮発性メモリであってよい。適切な場合、このＲＡＭは、ダイナミックＲＡＭ（ＤＲＡＭ）又はスタティックＲＡＭ（ＳＲＡＭ）であってよい。さらに、適切な場合、このＲＡＭは、シングルポート型又はマルチポート型のＲＡＭであってよい。本願開示は、任意の適切なＲＡＭを考える。メモリ４０４には、適切な場合、１又は複数のメモリ４０４を含んでよい。本願開示は特定のメモリを説明し、例示するが、本願開示は任意の適切なメモリを考える。

特定の実施形態において、記憶装置４０６には、データ又は命令のための大容量記憶装置を含む。限定としてではなく一例として、記憶装置４０６には、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）、フロッピー（登録商標）ディスクドライブ、フラッシュメモリ、光ディスク、光磁気ディスク、磁気テープ、若しくはユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）ドライブ、又は上記のうち複数から成る組み合わせを含んでよい。記憶装置４０６には、適切な場合、取外し可能又は取外し不能の（又は固定の）媒体を含んでよい。記憶装置４０６は、適切な場合、コンピュータシステム４００に対して内蔵又は外付けであってよい。特定の実施形態において、記憶装置４０６は、不揮発性のソリッドステートメモリである。特定の実施形態において、記憶装置４０６は、読取専用メモリ（ＲＯＭ）を含む。適切な場合、このＲＯＭは、マスクプログラム型ＲＯＭ、プログラマブルＲＯＭ（ＰＲＯＭ）、消去可能ＰＲＯＭ（ＥＰＲＯＭ）、電気的消去可能ＰＲＯＭ（ＥＥＰＲＯＭ）電気的書き換え可能ＲＯＭ（ＥＡＲＯＭ）、若しくはフラッシュメモリ、又は上記のうち複数から成る組み合わせを含む。本願開示は、任意の適切な物理的形態をとる大容量記憶装置４０６を考える。記憶装置４０６は、適切な場合、プロセッサ４０２と記憶装置４０６とにおける通信を容易にする１又は複数の記憶装置制御ユニットを含んでよい。適切な場合、記憶装置４０６は、１又は複数の記憶装置４０６を含んでよい。本願開示は特定の記憶装置を説明し、例示するが、本願開示は任意の適切な記憶装置を考える。

特定の実施形態において、Ｉ／Ｏインタフェース４０８は、ハードウェア、ソフトウェア又は双方を含み、コンピュータシステム４００と１又は複数のＩ／Ｏ装置とにおける通信のための１又は複数のインタフェースを提供する。コンピュータシステム４００は、適切な場合、上記Ｉ／Ｏ装置のうち１又は複数を含んでよい。上記Ｉ／Ｏ装置のうち１又は複数が、人とコンピュータシステム４００とにおけるやりとりを可能にしてよい。限定としてではなく一例として、Ｉ／Ｏ装置には、キーボード、キーパッド、マイクロフォン、モニター、マウス、プリンタ、スキャナ、スピーカ、スチルカメラ、スタイラス、タブレット、タッチスクリーン、トラックボール、ビデオカメラ、他の適切なＩ／Ｏ装置、又は上記のうち複数から成る組み合わせを含んでよい。Ｉ／Ｏ装置には、１又は複数のセンサを含んでよい。本願開示は、任意の適切なＩ／Ｏ装置とそのための任意の適切なＩ／Ｏインタフェース４０８とを考える。適切な場合、Ｉ／Ｏインタフェースには、プロセッサ４０２が上記Ｉ／Ｏ装置のうち１又は複数を駆動するのを可能にする１又は複数の装置又はソフトウェアドライバを含んでよい。Ｉ／Ｏインタフェース４０８は、適切な場合、１又は複数のＩ／Ｏインタフェース４０８を含んでよい。本願開示は特定のＩ／Ｏインタフェースを説明し、例示するが、本願開示は任意の適切なＩ／Ｏインタフェースを考える。

特定の実施形態において、通信インタフェース４１０は、コンピュータシステム４００と１若しくは複数の他のコンピュータシステム４００又は１若しくは複数のネットワークとにおける通信（例えば、パケットベースの通信）のための１又は複数のインタフェースを提供するハードウェア、ソフトウェア又は双方を含む。限定としてではなく一例として、通信インタフェース４１０には、イーサネット（登録商標）若しくは他の有線ベースのネットワークと通信するためのネットワークインタフェースコントローラ（ＮＩＣ）若しくはネットワークアダプタ、又はＷＩ‐ＦＩネットワークなどのワイヤレスネットワークと通信するためのワイヤレスＮＩＣ（ＷＮＩＣ）若しくはワイヤレスアダプタを含んでよい。本願開示は、任意の適切なネットワークとそのための任意の適切な通信インタフェース４１０とを考える。限定としてではなく一例として、コンピュータシステム４００は、アドホックネットワーク、パーソナルエリアネットワーク（ＰＡＮ）、ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）、ワイドエリアネットワーク（ＷＡＮ）、メトロポリタンエリアネットワーク（ＭＡＮ）、若しくはインターネットの一部分若しくは複数部分、又は上記のうち複数から成る組み合わせと通信してよい。上記ネットワークの１又は複数のうちの一部分又は複数部分が、有線であってよく、あるいはワイヤレスであってよい。一例として、コンピュータシステム４００は、ワイヤレスＰＡＮ（ＷＰＡＮ）（例えば、ＢＬＵＥＴＯＯＴＨ（登録商標） ＷＰＡＮ）、ＷＩ‐ＦＩネットワーク、ＷＩ‐ＭＡＸネットワーク、セルラー電話ネットワーク（例えば、ＧＳＭ（登録商標）（Global System for Mobile Communications）ネットワークなど）、若しくは他の適切なワイヤレスネットワーク、又は上記のうち複数から成る組み合わせと通信してよい。コンピュータシステム４００は、適切な場合、上記ネットワークのうち任意のもののための任意の適切な通信インタフェース４１０を含んでよい。通信インタフェース４１０は、適切な場合、１又は複数の通信インタフェース４１０を含んでよい。本願開示は特定の通信インタフェースを説明し、例示するが、本願開示は任意の適切な通信インタフェースを考える。

特定の実施形態において、バス４１２は、コンピュータシステム４００のコンポーネントを互いに結合するハードウェア、ソフトウェア又は双方を含む。限定としてではなく一例として、バス４１２には、アクセラレーテッドグラフィクスポート（ＡＧＰ）若しくは他のグラフィクスバス、エンハンストインダストリスタンダードアーキテクチャ（ＥＩＳＡ）バス、フロントサイドバス（ＦＳＢ）、ハイパートランスポート（ＨＴ）相互接続、インダストリスタンダードアーキテクチャ（ＩＳＡ）バス、ＩＮＦＩＮＩＢＡＮＤ相互接続、ロー・ピン・カウント（ＬＰＣ）バス、メモリバス、マイクロチャネルアーキテクチャ（ＭＣＡ）バス、ペリフェラルコンポーネントインターコネクト（ＰＣＩ）バス、ＰＣＩ‐エクスプレス（ＰＣＩｅ）バス、シリアルアドバンストテクノロジーアタッチメント（ＳＡＴＡ）バス、ＶＬＢ（Video Electronics Standards Association local）バス、若しくは他の適切なバス、又は上記のうち複数から成る組み合わせを含んでよい。バス４１２は、適切な場合、１又は複数のバス４１２を含んでよい。本願開示は特定のバスを説明し、例示するが、本願開示は任意の適切なバス又は相互接続を考える。

本明細書において、１又は複数のコンピュータ可読非一時的記憶媒体には、適切な場合、１若しくは複数の半導体ベース若しくは他の集積回路（ＩＣ）（例えば、フィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）又は特定用途向けＩＣ（ＡＳＩＣ）など）、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）、ハイブリッドハードドライブ（ＨＨＤ）、光ディスク、光ディスクドライブ（ＯＤＤ）、光磁気ディスク、光磁気ドライブ、フロッピーディスケット、フロッピーディスクドライブ（ＦＤＤ）、磁気テープ、ソリッドステートドライブ（ＳＳＤ）、ＲＡＭドライブ、セキュアデジタルカード若しくはドライブ、任意の他の適切なコンピュータ可読非一時的記憶媒体、又は上記のうち複数から成る任意の組み合わせを含んでよい。コンピュータ可読非一時的記憶媒体は、適切な場合、揮発性、不揮発性、又は揮発性と不揮発性との組み合わせであってよい。

本明細書において、「又は」は、明らかに他の方法で示されず、あるいは文脈により他の方法で示されない限り、包括的であり、排他的でない。ゆえに、本明細書において、「Ａ又はＢ」は、明らかに他の方法で示されず、あるいは文脈により他の方法で示されない限り、「Ａ、Ｂ、又は双方」を意味する。さらに、「及び」は、明らかに他の方法で示されず、あるいは文脈により他の方法で示されない限り、共同（joint）と別々（several）との双方である。ゆえに、本明細書において、「Ａ及びＢ」は、明らかに他の方法で示されず、あるいは文脈により他の方法で示されない限り、「Ａ及びＢ、共同して、あるいは別々に」を意味する。

本願開示の範囲は、本明細書に説明され又は例示される例示的な実施形態に対して当業者が理解するであろうすべての変更、代替、変形、改変及び修正を包含する。本願開示の範囲は、本明細書に説明され又は例示される例示的な実施形態に限定されない。さらに、本願開示は、それぞれの実施形態を特定のコンポーネント、要素、特徴、機能、動作又はステップを含むものとして本明細書において説明し、例示するが、こうした実施形態のうち任意のものが、本明細書においていずれかに説明され又は例示される上記コンポーネント、要素、特徴、関数、動作又はステップのうち任意のものの、当業者が理解するであろう任意の組み合わせ又は並べ替えを含んでよい。さらに、別記の請求項における、特定の機能を実行するように構成され、実行するように配置され、実行する能力があり、実行するように作られ、実行することを可能にされ、実行するように動作可能な又は実行するように動作する装置若しくはシステム又は装置若しくはシステムのコンポーネントという言葉は、上記装置、システム又はコンポーネントがそのように構成され、配置され、能力があり、作られ、可能にされ、動作可能であり又は動作する限り、それ自体又はその特定の機能がアクティブ化され、オンにされ又はロック解除されているか否かにかかわらず、上記装置、システム、コンポーネントを包含する。

本発明は、いくつかの実施形態を用いて説明されているが、無数の変更、変形、改変、変換及び修正が当業者に示唆される可能性があり、本発明は、別記の請求項の範囲内に入るとき、こうした変更、変形、改変、変換及び修正を包含することが意図される。

政府所有権
本発明は、海軍省により与えられた契約第Ｎ０００１９‐０２‐Ｃ‐３００２号のもとで政府支援をもって行われた。政府は、本発明において一定の権利を有する。

１００ 調査システム
１１０ 航空機
１１５ 間隙
１２０ 第１のコンポーネント
１２４ 第１の表面
１２８ 第１の部分端ポイント
１３０ 第２のコンポーネント
１３４ 第２の表面
１３８ 第２の部分端ポイント
１４０ 第１のポイント
１４２ 第２のポイント
１４６ 第３のポイント
１４８ 第４のポイント
１５０ 最良適合線
１６０ 第１の距離
１７０ 第２の距離
１８０ 補正係数
４００ コンピュータシステム
４０２ プロセッサ
４０４ メモリ
４０６ 記憶装置
４０８ Ｉ／Ｏインタフェース
４１０ 通信インタフェース
４１２ バス

Claims (17)

1. 第１のコンポーネントの第１の表面上の第１のポイントと前記第１の表面上の第２のポイントとの間の複数の第１の表面データポイントを決定するステップであり、前記第１のポイントは、前記第１のコンポーネント上の第１の部分端ポイントから第１の所定距離に位置する、ステップと、
   第２のコンポーネントの第２の表面上の第３のポイントと前記第２の表面上の第４のポイントとの間の複数の第２の表面データポイントを決定するステップであり、前記第３のポイントは、前記第２のコンポーネント上の第２の部分端ポイントから第２の所定距離に位置し、前記第１のコンポーネントと前記第２のコンポーネントとは幅を有する間隙により分離される、ステップと、
   前記複数の第１の表面データポイントと前記複数の第２の表面データポイントとに少なくとも部分的に基づいて、前記第１の表面と前記第２の表面とにおける最良適合を決定するステップと、
   前記第１のコンポーネント上の前記第１の部分端ポイントから前記最良適合までの、前記間隙に対し垂直な線に沿った第１の距離を決定するステップと、
   前記第２のコンポーネント上の前記第２の部分端ポイントから前記最良適合までの、前記間隙に対し垂直な線に沿った第２の距離を決定するステップと、
   前記第１のコンポーネントと前記第２のコンポーネントとの間の前記間隙の前記幅、
   前記第１のコンポーネント上の前記第１の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第１の距離、
   前記第２のコンポーネント上の前記第２の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第２の距離、及び
   交点コンポーネント
   に少なくとも部分的に基づいて補正係数を算出するステップと、
   前記第１の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第１の距離と前記第２の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第２の距離と前記補正係数とを合計することによって、前記第１の表面と前記第２の表面とにおける面一性を決定するステップと、
   を含み、
   前記最良適合は、前記第１の表面及び前記第２の表面に基づいて理論的な意図された表面の近似を提供し、前記最良適合は、
   最小二乗法を使用して算出される最良適合線、及び
   最良適合二次曲線
   のうち１つであり、
   前記交点コンポーネントは、第１の交点距離と第２の交点距離との合計であり、前記第１の交点距離は、前記最良適合の前記第１の表面との交点から前記第１の部分端ポイントまでの前記第１の表面の輪郭に沿った距離であり、前記第２の交点距離は、前記最良適合の前記第２の表面との交点から前記第２の部分端ポイントまでの前記第２の表面の輪郭に沿った距離である、方法。
2. 前記第１のポイントと前記第２のポイントとにおける距離は、前記第３のポイントと前記第４のポイントとにおける距離に等しく、
   前記第１の所定距離と前記第２の所定距離とは、実質的に等しい、
   請求項１に記載の方法。
3. 前記第１の表面データポイントと前記第２の表面データポイントとの数は、異常な表面測定の影響を最小化するために必要とされる表面データポイントの数に少なくとも部分的に基づく、請求項１に記載の方法。
4. 前記複数の第１の表面データポイントと前記複数の第２の表面データポイントとは、光干渉法を使用して決定される、請求項１に記載の方法。
5. 前記第１の部分端ポイントは、前記第１のコンポーネントと前記第２のコンポーネントとの間の間隙に最も近い前記第１の表面上のポイントを含み、
   前記第２の部分端ポイントは、前記第１のコンポーネントと前記第２のコンポーネントとの間の前記間隙に最も近い前記第２の表面上のポイントを含む、請求項１に記載の方法。
6. １又は複数のコンピュータシステムに、
   第１のコンポーネントの第１の表面と第２のコンポーネントの第２の表面とのための表面プロファイルデータにアクセスし、前記第１のコンポーネントと前記第２のコンポーネントとは幅を有する間隙により分離され、
   前記第１の表面と前記第２の表面とのための前記表面プロファイルデータに少なくとも部分的に基づいて、前記第１の表面と前記第２の表面とにおける最良適合を決定し、
   前記第１のコンポーネント上の第１の部分端ポイントから前記最良適合までの、前記間隙に対し垂直な線に沿った第１の距離を決定し、
   前記第２のコンポーネント上の第２の部分端ポイントから前記最良適合までの、前記間隙に対し垂直な線に沿った第２の距離を決定し、
   前記の算出された第１の距離と第２の距離とに少なくとも部分的に基づいて、前記第１の表面と前記第２の表面とにおける面一性を決定する
   動作を実行させ、
   前記最良適合は、前記第１の表面及び前記第２の表面に基づいて理論的な意図された表面の近似を提供し、前記最良適合は、
   最小二乗法を使用して算出される最良適合線、及び
   最良適合二次曲線
   のうち１つである、コンピュータプログラム。
7. 前記第１の表面上の第１のポイントと前記第１の表面上の第２のポイントとの間の複数の第１の表面データポイントを決定し、前記第１のポイントは前記第１の部分端ポイントから第１の所定距離に位置し、
   前記第２の表面上の第３のポイントと前記第２の表面上の第４のポイントとの間の複数の第２の表面データポイントを決定し、前記第３のポイントは前記第２の部分端ポイントから第２の所定距離に位置する
   ことによって前記第１の表面と前記第２の表面とのための前記表面プロファイルデータを生成する動作をさらに実行させ、
   前記第１のポイントと前記第２のポイントとにおける距離は、前記第３のポイントと前記第４のポイントとにおける距離に等しく、前記第１の所定距離と前記第２の所定距離とは、実質的に等しい、請求項６に記載のコンピュータプログラム。
8. 前記第１の表面と前記第２の表面とにおいて決定される前記第１の表面データポイントと前記第２の表面データポイントとの数は、異常な表面測定の影響を最小化するために必要とされる表面データポイントの数に少なくとも部分的に基づく、請求項７に記載のコンピュータプログラム。
9. 前記第１のコンポーネントと前記第２のコンポーネントとの間の前記間隙の前記幅、
   前記第１のコンポーネント上の前記第１の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第１の距離、
   前記第２のコンポーネント上の前記第２の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第２の距離、及び
   交点コンポーネント
   に少なくとも部分的に基づいて補正係数を算出する動作をさらに実行させ、
   前記第１の表面と前記第２の表面とにおける面一性の前記決定は、前記補正係数にさらに基づき、
   前記交点コンポーネントは、第１の交点距離と第２の交点距離との合計であり、前記第１の交点距離は、前記最良適合の前記第１の表面との交点から前記第１の部分端ポイントまでの前記第１の表面の輪郭に沿った距離であり、前記第２の交点距離は、前記最良適合の前記第２の表面との交点から前記第２の部分端ポイントまでの前記第２の表面の輪郭に沿った距離である、請求項６に記載のコンピュータプログラム。
10. 前記表面プロファイルデータは、光干渉法を使用して生成される、請求項６に記載のコンピュータプログラム。
11. 前記第１の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第１の距離と前記第２の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第２の距離と補正係数とを合計することによって、前記第１の表面と前記第２の表面とにおける前記面一性を決定する動作をさらに実行させる、請求項６に記載のコンピュータプログラム。
12. 表面プロファイルデータを記憶するように動作可能な１又は複数のメモリ装置と、
    ロジックを実行するように動作可能なプロセッサであり、前記ロジックは、実行されると、
    第１のコンポーネントの第１の表面と第２のコンポーネントの第２の表面とのための表面プロファイルデータにアクセスし、前記第１のコンポーネントと前記第２のコンポーネントとは幅を有する間隙により分離され、
    前記第１の表面と前記第２の表面とのための前記表面プロファイルデータに少なくとも部分的に基づいて、前記第１の表面と前記第２の表面とにおける最良適合を決定し、
    前記第１の表面上の第１の部分端ポイントから前記最良適合までの、前記間隙に対し垂直な線に沿った第１の距離を決定し、
    前記第２の表面上の第２の部分端ポイントから前記最良適合までの、前記間隙に対し垂直な線に沿った第２の距離を決定し、
    前記第１の距離と前記第２の距離とに少なくとも部分的に基づいて、前記第１の表面と前記第２の表面とにおける面一性を決定する
    ように動作可能である、プロセッサと、
    を含み、
    前記最良適合は、前記第１の表面及び前記第２の表面に基づいて理論的な意図された表面の近似を提供し、前記最良適合は、
    最小二乗法を使用して算出される最良適合線、及び
    最良適合二次曲線
    のうち１つである、システム。
13. 前記プロセッサは、
    前記第１の表面上の第１のポイントと前記第１の表面上の第２のポイントとの間の複数の第１の表面データポイントを決定し、前記第１のポイントは前記第１の部分端ポイントから第１の所定距離に位置し、
    前記第２の表面上の第３のポイントと前記第２の表面上の第４のポイントとの間の複数の第２の表面データポイントを決定し、前記第３のポイントは前記第２の部分端ポイントから第２の所定距離に位置する
    ことによって前記第１の表面と前記第２の表面とのための前記表面プロファイルデータを生成するように動作可能であり、
    前記第１のポイントと前記第２のポイントとにおける距離は、前記第３のポイントと前記第４のポイントとにおける距離に等しく、前記第１の所定距離と前記第２の所定距離とは、実質的に等しい、請求項１２に記載のシステム。
14. 前記第１の表面と前記第２の表面とにおいて決定される前記第１の表面データポイントと前記第２の表面データポイントとの数は、異常な表面測定の影響を最小化するために必要とされる表面データポイントの数に少なくとも部分的に基づく、請求項１３に記載のシステム。
15. 前記プロセッサは、
    前記第１のコンポーネントと前記第２のコンポーネントとの間の前記間隙の前記幅、
    前記第１のコンポーネント上の前記第１の部分端ポイントから前記最良適合までの、前記間隙に対し垂直な線に沿った前記第１の距離、
    前記第２のコンポーネント上の前記第２の部分端ポイントから前記最良適合までの、前記間隙に対し垂直な線に沿った前記第２の距離、及び
    交点コンポーネント
    に少なくとも部分的に基づいて補正係数を算出するようにさらに動作可能であり、
    前記第１の表面と前記第２の表面とにおける面一性の前記決定は、前記補正係数にさらに基づき、
    前記交点コンポーネントは、第１の交点距離と第２の交点距離との合計であり、前記第１の交点距離は、前記最良適合の前記第１の表面との交点から前記第１の部分端ポイントまでの前記第１の表面の輪郭に沿った距離であり、前記第２の交点距離は、前記最良適合の前記第２の表面との交点から前記第２の部分端ポイントまでの前記第２の表面の輪郭に沿った距離である、請求項１２に記載のシステム。
16. 前記表面プロファイルデータは、光干渉法を使用して生成される、請求項１２に記載のシステム。
17. 前記プロセッサは、前記第１の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第１の距離と前記第２の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第２の距離と補正係数とを合計することによって、前記第１の表面と前記第２の表面とにおける前記面一性を決定するように動作可能である、請求項１２に記載のシステム。

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