JP2015206791A - 表面面一性を調査するシステム及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】システム100が、表面プロファイルデータを記憶するように動作可能な1又は複数のメモリ装置とロジックを実行するように動作可能なプロセッサとを含む。プロセッサは、第1のコンポーネント120の第1の表面124と第2のコンポーネント130の第2の表面134とのための表面プロファイルデータにアクセスし、第1の表面と第2の表面とのための表面プロファイルデータに少なくとも部分的に基づいて、第1の表面と第2の表面とにおける最良適合を決定する。プロセッサは、第1の表面上の第1の部分端ポイントから最良適合までの第1の距離と第2の表面上の第2の部分端ポイントから最良適合までの第2の距離とを決定する。プロセッサは、第1の距離と第2の距離とに少なくとも部分的に基づいて、第1の表面と第2の表面とにおける面一性を決定する。
【選択図】図1
Description
本発明は、海軍省により与えられた契約第N00019‐02‐C‐3002号のもとで政府支援をもって行われた。政府は、本発明において一定の権利を有する。
110 航空機
115 間隙
120 第1のコンポーネント
124 第1の表面
128 第1の部分端ポイント
130 第2のコンポーネント
134 第2の表面
138 第2の部分端ポイント
140 第1のポイント
142 第2のポイント
146 第3のポイント
148 第4のポイント
150 最良適合線
160 第1の距離
170 第2の距離
180 補正係数
400 コンピュータシステム
402 プロセッサ
404 メモリ
406 記憶装置
408 I/Oインタフェース
410 通信インタフェース
412 バス
Claims (20)
- 第1のコンポーネントの第1の表面上の第1のポイントと前記第1の表面上の第2のポイントとの間の複数の第1の表面データポイントを決定するステップであり、前記第1のポイントは、前記第1のコンポーネント上の第1の部分端ポイントから第1の所定距離に位置する、ステップと、
第2のコンポーネントの第2の表面上の第3のポイントと前記第2の表面上の第4のポイントとの間の複数の第2の表面データポイントを決定するステップであり、前記第3のポイントは、前記第2のコンポーネント上の第2の部分端ポイントから第2の所定距離に位置する、ステップと、
前記複数の第1の表面データポイントと前記複数の第2の表面データポイントとに少なくとも部分的に基づいて、前記第1の表面と前記第2の表面とにおける最良適合を決定するステップと、
前記第1のコンポーネント上の前記第1の部分端ポイントから前記最良適合までの第1の距離を決定するステップと、
前記第2のコンポーネント上の前記第2の部分端ポイントから前記最良適合までの第2の距離を決定するステップと、
前記第1のコンポーネントと前記第2のコンポーネントとの間の間隙の幅、
前記第1のコンポーネント上の前記第1の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第1の距離、
前記第2のコンポーネント上の前記第2の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第2の距離、及び
交点コンポーネント
に少なくとも部分的に基づいて補正係数を算出するステップと、
前記第1の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第1の距離と前記第2の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第2の距離と前記補正係数とを合計することによって、前記第1の表面と前記第2の表面とにおける面一性を決定するステップと、
を含む方法。 - 前記第1のポイントと前記第2のポイントとにおける距離は、前記第3のポイントと前記第4のポイントとにおける距離に等しく、
前記第1の所定距離と前記第2の所定距離とは、実質的に等しい、
請求項1に記載の方法。 - 前記第1の表面データポイントと前記第2の表面データポイントとの数は、異常な表面測定の影響を最小化するために必要とされる表面データポイントの数に少なくとも部分的に基づく、請求項1に記載の方法。
- 前記最良適合は、最小二乗法を使用して算出される線又は二次曲線である、請求項1に記載の方法。
- 前記複数の第1の表面データポイントと前記複数の第2の表面データポイントとは、光干渉法を使用して決定される、請求項1に記載の方法。
- 前記第1の部分端ポイントは、前記第1のコンポーネントと前記第2のコンポーネントとの間の間隙に最も近い前記第1の表面上のポイントを含み、
前記第2の部分端ポイントは、前記第1のコンポーネントと前記第2のコンポーネントとの間の前記間隙に最も近い前記第2の表面上のポイントを含む、請求項1に記載の方法。 - ソフトウェアを具現化する1又は複数のコンピュータ可読非一時的記憶媒体であって、前記ソフトウェアは、1又は複数のコンピュータシステムにより実行されると、
第1のコンポーネントの第1の表面と第2のコンポーネントの第2の表面とのための表面プロファイルデータにアクセスし、
前記第1の表面と前記第2の表面とのための前記表面プロファイルデータに少なくとも部分的に基づいて、前記第1の表面と前記第2の表面とにおける最良適合を決定し、
前記第1のコンポーネント上の第1の部分端ポイントから前記最良適合までの第1の距離を決定し、
前記第2のコンポーネント上の第2の部分端ポイントから前記最良適合までの第2の距離を決定し、
前記の算出された第1の距離と第2の距離とに少なくとも部分的に基づいて、前記第1の表面と前記第2の表面とにおける面一性を決定する
ように動作可能である、媒体。 - 前記ソフトウェアは、
前記第1の表面上の第1のポイントと前記第1の表面上の第2のポイントとの間の複数の第1の表面データポイントを決定し、前記第1のポイントは前記第1の部分端ポイントから第1の所定距離に位置し、
前記第2の表面上の第3のポイントと前記第2の表面上の第4のポイントとの間の複数の第2の表面データポイントを決定し、前記第3のポイントは前記第2の部分端ポイントから第2の所定距離に位置する
ことによって前記第1の表面と前記第2の表面とのための前記表面プロファイルデータを生成するように動作可能であり、
前記第1のポイントと前記第2のポイントとにおける距離は、前記第3のポイントと前記第4のポイントとにおける距離に等しく、前記第1の所定距離と前記第2の所定距離とは、実質的に等しい、請求項7に記載の媒体。 - 前記第1の表面と前記第2の表面とにおいて決定される前記第1の表面データポイントと前記第2の表面データポイントとの数は、異常な表面測定の影響を最小化するために必要とされる表面データポイントの数に少なくとも部分的に基づく、請求項8に記載の媒体。
- 前記ソフトウェアは、
前記第1のコンポーネントと前記第2のコンポーネントとの間の間隙の幅、
前記第1のコンポーネント上の前記第1の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第1の距離、
前記第2のコンポーネント上の前記第2の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第2の距離、及び
交点コンポーネント
に少なくとも部分的に基づいて補正係数を算出するようにさらに動作可能であり、
前記第1の表面と前記第2の表面とにおける面一性の前記決定は、前記補正係数にさらに基づく、請求項7に記載の媒体。 - 前記最良適合は、最小二乗法を使用して算出される線又は二次曲線である、請求項7に記載の媒体。
- 前記表面プロファイルデータは、光干渉法を使用して生成される、請求項7に記載の媒体。
- 前記ソフトウェアは、前記第1の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第1の距離と前記第2の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第2の距離と前記補正係数とを合計することによって、前記第1の表面と前記第2の表面とにおける前記面一性を決定するように動作可能である、請求項7に記載の媒体。
- 表面プロファイルデータを記憶するように動作可能な1又は複数のメモリ装置と、
ロジックを実行するように動作可能なプロセッサであり、前記ロジックは、実行されると、
第1のコンポーネントの第1の表面と第2のコンポーネントの第2の表面とのための表面プロファイルデータにアクセスし、
前記第1の表面と前記第2の表面とのための前記表面プロファイルデータに少なくとも部分的に基づいて、前記第1の表面と前記第2の表面とにおける最良適合を決定し、
前記第1の表面上の第1の部分端ポイントから前記最良適合までの第1の距離を決定し、
前記第2の表面上の第2の部分端ポイントから前記最良適合までの第2の距離を決定し、
前記第1の距離と前記第2の距離とに少なくとも部分的に基づいて、前記第1の表面と前記第2の表面とにおける面一性を決定する
ように動作可能である、プロセッサと、
を含むシステム。 - 前記プロセッサは、
前記第1の表面上の第1のポイントと前記第1の表面上の第2のポイントとの間の複数の第1の表面データポイントを決定し、前記第1のポイントは前記第1の部分端ポイントから第1の所定距離に位置し、
前記第2の表面上の第3のポイントと前記第2の表面上の第4のポイントとの間の複数の第2の表面データポイントを決定し、前記第3のポイントは前記第2の部分端ポイントから第2の所定距離に位置する
ことによって前記第1の表面と前記第2の表面とのための前記表面プロファイルデータを生成するように動作可能であり、
前記第1のポイントと前記第2のポイントとにおける距離は、前記第3のポイントと前記第4のポイントとにおける距離に等しく、前記第1の所定距離と前記第2の所定距離とは、実質的に等しい、請求項14に記載のシステム。 - 前記第1の表面と前記第2の表面とにおいて決定される前記第1の表面データポイントと前記第2の表面データポイントとの数は、異常な表面測定の影響を最小化するために必要とされる表面データポイントの数に少なくとも部分的に基づく、請求項15に記載のシステム。
- 前記プロセッサは、
前記第1のコンポーネントと前記第2のコンポーネントとの間の間隙の幅、
前記第1のコンポーネント上の前記第1の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第1の距離、
前記第2のコンポーネント上の前記第2の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第2の距離、及び
交点コンポーネント
に少なくとも部分的に基づいて補正係数を算出するようにさらに動作可能であり、
前記第1の表面と前記第2の表面とにおける面一性の前記決定は、前記補正係数にさらに基づく、請求項14に記載のシステム。 - 前記最良適合は、最小二乗法を使用して算出される線又は二次曲線である、請求項14に記載のシステム。
- 前記表面プロファイルデータは、光干渉法を使用して生成される、請求項14に記載のシステム。
- 前記プロセッサは、前記第1の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第1の距離と前記第2の部分端ポイントから前記最良適合までの前記第2の距離と前記補正係数とを合計することによって、前記第1の表面と前記第2の表面とにおける前記面一性を決定するように動作可能である、請求項14に記載のシステム。
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