JP6646921B2 - 計算機式断層写真法(ct)方法及びctシステム - Google Patents
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Description
《実施形態1》
以下では、図1(B)及び図1(C)に示すような最大DFOV走査モードに関連して本開示による方法を説明する。
TruncateLabel=1
他の場合には、
TruncateLabel=0
式中、論理値「1」はトランケーションの発生を意味し、論理「0」はトランケーションがないことを意味する。
《実施形態2》
ここで、図1(D)及び図3を参照して、DFOVを小さくしたオフ・センタ再構成と関連して本開示の方法を説明する。
*Dsource-detector]/DetectorModuleSize (1)
式中、Dsource-detectorは放射線源と検出器との間の距離を表わし、maxDFOV/2は最大DFOV(すなわち走査FOV)に対応する円の半径を表わし、Dsource-centerは放射線源とアイソセンタ(すなわちガントリの幾何中心)との間の距離を表わし、DetectorModuleSizeは単一の検出器素子のサイズを表わす。上述の式(1)はNdfovを与える。
トランケーションが検出器の高側端部、例えば図1(B)に示すような右側又は図1(C)に示すようなシナリオにおいて起こっている場合には、影響範囲は次式に従って算出され得る。
当業者は、本書で参照される「高側端部(higher end)」及び「低側端部(lower end)」は説明を分かり易くするためのみのものであって、制限を意図しないことを認められよう。従って、異なる製造者が状況に従って異なる定義を選択し得る。例えば、図1(B)の右側を低側端部と表現し、左側を高側端部と表現してもよい。
[{CLRoff−(DFOVoff/2)}
/(Dsource-center−CAPoff)]
式中、DFOVoff/2はDFOVoff円の半径を表わし、Dsource-detectorは放射線源と検出器との間の距離を表わし、Dsource-centerは放射線源とアイソセンタとの間の距離を表わす。曲線OMの弧の長さはA*Dsource-detectorと決定される。
+[arctan
{(CLRoff−DFOVoff/2)/(Dsource-center−CAPoff)}
×Dsource-detector]/DetectorModuleSize
同様に、DFOVoffの高側マージン(例えば図3に示すような点N)は下記のように算出される(対応する検出器チャネルの数によって識別される)。
+[arctan{CLRoff/(Dsource-center−CAPoff)}
×Dsource-detector]/DetectorModuleSize
×2
ステップS3:ステップS2において決定されたDFOVoffと、ステップS1において決定された影響範囲とが重なっているか否かの決定が行なわれる。
《実施形態3》
本実施形態では、撮像されるべき被検体へ向けてDFOVの範囲内でビームを投射する放射線源と、投影データを収集するために、投射されたビームを受光する検出器と、コンピュータ放射線源及び検出器に結合されており、上述の各実施形態の任意のものの方法を実行するように構成されているコンピュータとを含むCTシステムが開示される。
Claims (10)
- 放射線源から撮像されるべき被検体へ向けて表示視野(DFOV)の範囲内にビームを投影するステップと、
検出器において、投影データを収集するために、前記投影されたビームを受光するステップと、
前記投影において前記被検体が前記DFOVを超えるトランケーションが生じているか否かを決定するステップであって、
前記DFOVのマージンに対応するチャネルにおいてビーム測定Vmarginを得るステップと、
Vmarginをk*Vairと比較し(Vairは前記被検体により減弱されていないビームの測定であり、kは0<k≦1と定義される)、Vmarginがk*Vairよりも小さい場合にはトランケーションの発生を示すステップと、
を有するステップと、
前記投影において示されたトランケーションの位置を記録するステップと、
前記投影データに基づいて画像を再構成するステップと、
前記再構成画像に前記トランケートされた位置をマークするステップと
を備え、
前記トランケートされた位置は、ファン形状投射範囲の境界線と走査FOVとの接点として記録される、計算機式断層写真法(CT)方法。 - トランケーションが示されている場合、オフ・センタ再構成に用いられる投影データが前記トランケーションの影響を受けているか否かを決定するステップと、
オフ・センタ再構成に用いられる投影データが前記トランケーションの影響を受けている場合、前記オフ・センタ再構成のために影響を受けた点を記録するステップと
を含んでいる請求項1に記載の方法。 - 一連の角度において投影するように前記放射線源及び前記検出器を回転させるステップと、
各々の角度において、オフ・センタ再構成に用いられる前記投影データが前記トランケーションの影響を受けているか否かを決定するステップと、
オフ・センタ再構成に用いられる投影データが前記トランケーションの影響を受けている場合、前記オフ・センタ再構成のために前記影響を受けた点を記録するステップと
をさらに含んでいる請求項1に記載の方法。 - 撮像されるべき被検体へ向けて表示視野(DFOV)の範囲内にビームを投影する放射線源と、
投影データを収集するために、前記投影されたビームを受光する検出器と、
前記放射線源及び前記検出器に結合されたプロセッサであって、
前記DFOVのマージンに対応するチャネルにおいてビーム測定Vmarginを得ること、
Vmarginをk*Vairと比較すること(Vairは前記被検体により減弱されていないビームの測定であり、kは0<k≦1と定義される)、
Vmarginがk*Vairよりも小さい場合には前記投影においてトランケーションの発生を示すこと、
前記投影において示されたトランケーションの位置を記録すること、
を実行するように構成されているプロセッサと
を備え、
前記プロセッサは、
前記投影データに基づいて画像を再構成し、
前記再構成画像に前記トランケートされた位置をマークするように構成されており、
前記プロセッサは、更に、前記トランケートされた位置を、ファン形状投射範囲の境界線と走査FOVとの接点として記録するように構成されている、計算機式断層写真法(CT)システム。 - 前記放射線源および前記検出器が一連の角度において投影するように前記被検体の周りを回転し、
前記プロセッサは、
前記一連の角度の各々の角度において、前記投影がトランケートされているか否かを決定すること、および
前記トランケーションが生じた場合、前記トランケートされた位置を記録すること、
を実行するように構成されている、請求項4に記載の計算機式断層写真法(CT)システム。 - 前記放射線源及び前記検出器は、一連の角度において投影するように前記被検体を中心として回転し、
前記プロセッサは、
一定の範囲内の各角度において、前記投影がトランケートされているか否かを決定すること、
トランケーションが生じた場合に、前記トランケートされた位置を記録することを実行するように構成されている、請求項4に記載の計算機式断層写真法(CT)システム。 - 前記プロセッサは、
トランケーションが示されている場合、オフ・センタ再構成に用いられる投影データが前記トランケーションによる影響を受けているか否かを決定し、
オフ・センタ再構成に用いられる前記投影データが前記トランケーションによる影響を受けている場合、前記オフ・センタ再構成の影響を受けた点を記録する
ように構成されている、請求項4に記載の計算機式断層写真法(CT)システム。 - 前記放射線源及び前記検出器は、一連の角度において投影するように前記被検体を中心として回転し、前記プロセッサは、前記一連の角度の各々の角度において、オフ・センタ再構成に用いられる前記投影データが前記トランケーションによる影響を受けているか否かを決定し、オフ・センタ再構成に用いられる前記投影データが前記トランケーションによる影響を受けている場合、前記オフ・センタ再構成の前記影響を受けた点を記録するように構成されている、請求項7に記載の計算機式断層写真法(CT)システム。
- 前記放射線源及び前記検出器は、一連の角度において投影するように前記被検体を中心として回転し、前記プロセッサは、一定の角度範囲内の各々の角度において、オフ・センタ再構成に用いられる前記投影データが前記トランケーションによる影響を受けているか否かを決定し、オフ・センタ再構成に用いられる前記投影データが前記トランケーションによる影響を受けている場合、前記オフ・センタ再構成の前記影響を受けた点を記録するように構成されている、請求項7に記載の計算機式断層写真法(CT)システム。
- 前記プロセッサは、
前記トランケーションによる影響を受ける影響範囲を算出し、
オフ・センタ再構成のためのDFOV範囲(DFOVoff)を算出し、
オフ・センタ再構成に用いられる前記投影データが前記トランケーションによる影響を受けているか否かを決定するために、前記DFOVoffと前記算出された影響範囲とが重なっているか否かを決定する
ように構成されている、請求項7に記載の計算機式断層写真法(CT)システム。
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