JP6646223B2 - 検査装置、検査方法及び検査プログラム - Google Patents

Description

本発明は、検査装置、検査方法及び検査プログラムに関する。

学校等でタブレット装置を利用した授業等が行われ、タブレット装置の活用が進んでいる。タブレット装置では、タッチパネルを搭載した画面へのタッチ操作により入力が可能である一方、画面の一部が故障すると、故障した領域においてタッチ入力ができなくなる。

タブレット装置の出荷時には、機械により画面のすべての箇所をタッチ操作することで、画面の全領域において故障が生じていないかが検査される。これに対して、タブレット装置の利用時には、手動による画面のタッチ操作により故障箇所がないかが確認される。画面への接触の判断は、タッチパネルが検出した接触位置情報に基づき、オペレーションシステム（以下、「ＯＳ」（Operation System）ともいう。）上で起動するアプリケーションソフトウェア（以下、「アプリケーション」ともいう。）を用いて実施される。

例えば、タッチ操作を行う指が検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで移動したかを確認し、指によるタッチ操作経路の移動を途切れずに検出できたかどうかでタッチパネルの異常の有無を判定する検査方法が知られている（例えば、特許文献１参照）。

特開２０１４−２１５８４３号公報

しかしながら、上記検査方法では、その検査精度は、画面にタッチした指がタッチ操作経路をなぞる際のタッチ操作の速度に左右される。例えば、図１に示すように、タッチパネル１４の検査用のタッチ操作経路Ｔに対して指をスライドさせるとき、ゆっくりスライドさせると、図１（ａ）に示すようにタッチ操作経路Ｔをガイドする複数のボックスのそれぞれにおいて指の接触が検出される。この場合、タッチ操作経路Ｔの始点から終点までの指の移動の結果、接触位置情報が得られなかったボックスのラインが故障箇所Ｃであると判定できる。

一方、指を素早くスライドさせると、図１（ｂ）に示すように、検出した接触位置の間隔が、検査されるべき接触位置の間隔（図１ではボックスで示す間隔、例えば指の幅等）よりも広くなり、未テストラインのボックスでは指が接触したか否かの検査ができない。この結果、未テストラインで示すボックスのラインにタッチセンサ１４の障害があっても見逃してしまう。よって、上記検査方法では、タッチパネル１４の異常が検査できていない画面上の箇所の有無の判定と、検査できていない箇所がある場合にその箇所の特定が困難になる。

そこで、一側面では、本発明は、タッチパネルの検査ができていない箇所を特定することを目的とする。

一つの案では、画面へのタッチ操作の位置を示す複数の接触位置情報のうち、隣接する２点の接触位置情報の間隔を算出する算出部と、前記間隔が予め定められたタッチの識別距離よりも長い場合、前記間隔により確定される画面上の領域は検査できていないと判定する判定部と、を有する検査装置が提供される。

一側面によれば、タッチパネルの検査ができていない箇所を特定することができる。

タッチパネルの検査方法の一例を示す図。 一実施形態に係る情報処理装置のハードウェア構成の一例を示す図。 接触位置の座標取得タイミングの一例を示す図。 ハードウェア層とソフトウェア層との分解能の違いの一例を示す図。 画面検査の一例を示す図。 画面検査漏れを説明するための図。 一実施形態に係る検査方法の概要と故障候補箇所の一例を示す図。 一実施形態に係る情報処理装置の機能構成の一例を示す図。 一実施形態に係る接触位置テーブルの一例を示す図。 一実施形態に係る故障候補判定テーブルの一例を示す図。 一実施形態に係る故障候補リストの一例を示す図。 一実施形態に係る試験パターンリストの一例を示す図。 一実施形態に係る検査処理の一例を示すフローチャート。 一実施形態に係る検査処理を説明するための図。 一実施形態に係る故障候補抽出処理の一例を示すフローチャート。 一実施形態に係る故障候補抽出処理を説明するための図。 一実施形態に係る試験パターン作成処理の一例を示すフローチャート。 一実施形態に係る試験パターンの一例を示す図。 一実施形態に係る検査用のタッチ操作経路の始点及び終点の一例を示す図。

以下、本発明の実施形態について添付の図面を参照しながら説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複した説明を省く。

［情報処理装置のハードウェア構成］
まず、本発明の一実施形態に係る情報処理装置１０のハードウェア構成の一例について、図２を参照しながら説明する。本実施形態に係る情報処理装置１０は、タッチパネルの故障候補箇所を検査可能な検査装置の一例である。タッチパネルの故障候補箇所は、画面上の検査できていないと判定された領域である。

本実施形態に係る情報処理装置１０は、タッチパネルを搭載した電子機器であればよく、一例としてはタブレット装置、スマートフォン、携帯電話、ビデオカメラ、デジタルカメラ、ＰＤＡ（Personal Digital Assistants）、携帯用音楽再生装置、携帯用映像処理装置、携帯用ゲーム機器、ナビゲーション装置が挙げられる。

本実施形態に係る情報処理装置１０は、ＣＰＵ１１、メモリ１２、入出力Ｉ／Ｆ１３、タッチパネル１４、ディスプレイ１５、通信Ｉ／Ｆ１６及びＨＤＤ（Hard Disk Drive）１７を有する。

情報処理装置１０は、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）等のディスプレイ１５にタッチパネル１４を積層させた構造を有する。タッチパネル１４は、ユーザのタッチ操作による接触位置の座標を検出するデバイスである。本実施形態では、投影型静電容量方式のタッチパネル１４を例に挙げて説明する。この場合、指と導電膜の間での静電容量の変化により接触位置を検出する。ただし、タッチパネル１４は静電容量方式に限らず、抵抗膜方式等を用いることができる。

ＣＰＵ１１は、入出力Ｉ／Ｆ１３を介してユーザのタッチ操作による接触位置の座標を取得する。なお、入出力Ｉ／Ｆ１３は、タッチパネル１４だけでなく、キーボード、ボタン又はポインティングデバイス等の入力装置から情報の入力を受け付けるインターフェースとして機能してもよい。また、入出力Ｉ／Ｆ１３は、検査のためのタッチ操作経路やその他の情報をディスプレイ１５に表示するインターフェースとして機能する。

ＨＤＤ１７は、ＯＳ１７ａ及びアプリケーションプログラム１７ｂを有する。ＣＰＵ１１は、アプリケーションプログラム１７ｂを適宜メモリ１２に読み出し、ＯＳ１７ａ上で動作させる。

アプリケーションプログラム１７ｂは、画面へのタッチ位置である接触位置情報に基づき、タッチパネル１４の部分故障等により画面上の検査できていない領域（ライン）を判定する検査プログラムを含む。アプリケーションプログラム１７ｂが実行されることで、タッチパネル１４の検査ができていない箇所を特定することができる。

メモリ１２は、例えば半導体メモリであり、ＣＰＵ１１によって実行されるプログラム、ＣＰＵ１１によって参照されるデータ、及び、ＣＰＵ１１が実行する処理の結果として取得されたデータ等を格納することができる。通信Ｉ／Ｆ１６は、ネットワークに接続され、他の装置と通信するインターフェースである。

［タッチパネルからの接触位置情報取得と画面検査］
タッチパネル１４の断線等の故障を検査する際には、図３に示すように、指が画面上を連続してタッチ操作し、そのタッチ位置をタッチパネル１４が断続的に検出した情報が使用される。ＣＰＵ１１は、得られた情報から、タッチされた座標（接触位置情報）、指の状態（接触又は非接触）を認識する。

タッチされた座標(Ｘ軸、Ｙ軸)の分解能は、静電容量センサが配置されたハードウェア層と、タッチパネル１４のタッチされた座標(Ｘ軸、Ｙ軸)の分解能は、ソフトウェア層とで異なる。例えば、ハードウェア層における分解能は４０９６×４０９６ラインで、ディスプレイ１５の画面解像度は１２８０×１０２４ピクセルの場合などの環境が存在する。この場合、ハードウェア層が検出した接触位置の座標はソフトウェアでは解像度(ピクセル)のレベルに粒度を下げて通知される。この結果、図３に模式的に示すように、ハードウェア層による接触位置の座標の取得タイミングは、ソフトウェアによる座標の取得タイミングよりも多くなる。

タッチパネル１４における部分故障のひとつにライン故障がある。この故障は投影型静電容量方式などのタッチパネル１４に発生する現象で、タッチパネル１４内に縦横に張り巡らされたＸ軸用およびＹ軸用の静電容量センサの一部が断線等の理由により１〜ｎライン分タッチ認識できないというものである。

図４に、タッチパネル１４の中央の１本のラインＣが故障している例が示されている。この場合、ハードウェア層の分解能単位では、ライン毎の検査が可能であるため、「ラインＣが故障である」と判定される。しかし、ソフトウェアの分解能単位では、「ラインＣは故障ではない」と判定されることがある。これは、ソフトウェアでは粒度を下げたため、ソフトウェアの分解能単位では、図４の例では４つのラインのうち故障しているラインＣ以外のラインで補完してタッチ操作を検出することができるためである。ラインＣが故障していてもソフトウェアの分解能単位で使用感的に問題が無いものは良品と判定することで、タッチパネル１４の過剰な故障検出を排除することができる。このため、タッチパネル１４の故障の有無を検査する画面検査では、ソフトウェア層による検査が行われる。

図５に、画面検査の一例を示す。情報処理装置１０の修理の際に行われるタッチパネル１４の検査は、ＣＰＵ１１の制御によりＯＳ１７ａ上で検査プログラムのアプリケーションプログラム１７ｂが動作することにより実施されるソフトウェア層による検査である。ユーザＵは、画面に表示された検査用のタッチ操作経路の始点から終点まで指を離さずにタッチ操作（以下、「ドラッグ操作」ともいう。）する。ＣＰＵ１１（ソフトウェア層）は、ドラッグ操作に応じて検出された接触位置の座標を取得し、正しいタッチ操作経路の軌跡Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３・・・が描けているか否かを判定する。タッチパネル１４の一部にライン故障があれば、故障の領域で非接触となり（つまり、接触位置の座標が取得されず）、軌跡に途切れが発生する。ＣＰＵ１１は、描いている軌跡に途切れる箇所があれば故障と判断し、全ての軌跡Ｐに途切れがなければ正常と判断する。

具体的には、タッチパネル１４が故障している場合に軌跡が途切れる理由は以下の通りである。つまり、（１）タッチパネル１４に指が接している場合、タッチパネル１４のハードウェア層の静電容量センサにより「タッチあり」が検知され、その座標がアプリケーションに送られる。（２）故障箇所をタッチしている場合、タッチパネル１４に指が接しているにもかかわらずハードウェア層は接触を検知しないため、「タッチなし」と判定される。この結果、ソフトウェア層は指を離したと判断する。（３）故障箇所を過ぎると再びハードウェア層により「タッチあり」と検知され、ソフトウェア層は新たなタッチが始まったと解釈する。このため、（２）と（３）の間で、描いている軌跡が途切れることになる。

従って、タッチパネル１４の故障を検知するためには、故障箇所をタッチし、「タッチなし」と判定されることが必要となる。しかし、タッチパネル１４のハードウェア層は定期的にタッチ情報を送信するため、故障箇所を指が移動している時間とハードウェア層が接触位置を検出するタイミングとが合わないと、「タッチなし」状態を検知できない。

例えば、ユーザＵが図６（ａ）の始点から図６（ｃ）の終点まで指でドラッグ操作する際、図６（ｂ）の故障箇所で、ハードウェア層が接触位置を検出するタイミングがある場合、図６（ｄ）に示す故障箇所のラインＣにて接触位置が検出されず、描いている軌跡Ｐ１が途切れる。これにより、故障箇所のラインＣが検出できる。

これに対して、図６（ｂ）の故障箇所で、ハードウェア層が接触位置を検出するタイミングがない場合、図６（ｅ）に示す故障箇所のラインＣにて接触位置の検出自体が行われないために、描いている軌跡Ｐ１は途切れない。この場合、ラインＣを故障箇所として検出できず、タッチパネル１４のタッチ機能は正常であると誤判断される。以上から、ユーザはタッチ操作が効きにくいと感じ、修理に出しても、修理センターで故障を見逃してしまう場合がある。

そのため、故障箇所をタッチしているタイミングで確実に接触位置情報を取得するため、ゆっくり指をスライドさせたり、正常だと判断されても複数回同じ箇所に指をスライドさせて診断をしたりという操作側での俗人的な対応が必要になる。

［本実施形態に係る検査方法の概要と故障候補箇所］
そこで、本実施形態に係る情報処理装置１０では、タッチパネル１４の検査方法において、接触位置情報から故障候補箇所を抽出し、検査用のタッチ操作経路の始点から終点のガイドを表示することで、本検査に係る設備や時間を増加させず、効率的にタッチパネル１４のライン故障を見つけ出す検査方法を実行する。

本実施形態に係る検査方法の概要を説明する。本実施形態に係る検査方法では、情報処理装置１０は、画面上にて指定された始点から終点までを指でドラッグ操作する際、断続的に得られる接触位置の座標のうち、隣接する２点間のＸ座標の間隔及びＹ座標の間隔を算出する。

そして、情報処理装置１０は、その２点間の座標の間隔が、タッチの有効範囲指定値（例えば、指の幅等）よりも長い場合、その間隔の幅の領域（ライン）を故障候補箇所と判定する。これにより、情報処理装置１０は、画面上の故障候補箇所を「検査できていない」と判定し、故障候補箇所に次に描く軌跡の始点ないしは終点に設定し、故障候補箇所を含めたタッチ操作を促し、故障候補箇所を含めた検査を実行する。このようにして、本実施形態に係る情報処理装置１０が実行する検査方法では、本検査に係る設備や時間を増加させず、効率的にタッチパネル１４のライン故障を見つけ出す。

図７（ａ）に示す例では、ディスプレイ１５のサイズが横１６ｃｍ、縦１０ｃｍ、ディスプレイ１５の解像度が８００×５００であり、タッチパネル１４のＵＳＢバストレースの分解能は１６００×１０００である。

タッチの有効範囲指定値は、タッチが有効とされる距離（タッチの識別距離）を示す。情報処理装置１０のＯＳ上での指の幅は、横５０ピクセル、縦５０ピクセルであり、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）バストレース上での指の幅は、横１００、縦１６０であると算出できる。よって、本実施形態では、タッチの有効範囲指定値を横１ｃｍ、縦１ｃｍと予め定義する。

ドラッグ操作時に取得した接触位置の座標のうち、隣接する２点間の座標の距離が、算出した有効範囲指定値よりも大きい場合、部分故障候補と判定できる。例えば、図７（ｃ）では、タッチ操作経路の軌跡Ｐの接触位置のＸ座標を中心とするタッチの有効範囲の円Ｔ（直径１ｃｍ）が重なっていない箇所が抽出される。図７（ｂ）では、重なっていない箇所の隣接する２点の接触位置ＴのＸ座標の間隔のラインが故障候補箇所となる。故障候補箇所のラインＣは、ＯＳ上でのＸ座標の距離が５０ピクセルよりも大きく、ＵＳＢバストレース上でのＸ座標の距離が１００ピクセルよりも大きい領域である。

タッチの有効範囲指定値は、対象装置に合わせて任意に設定される。タッチの有効範囲指定値は、例えば、ＵＩ（User Interface）の観点から７ｍｍ以下とすることが好適である。ただし、タッチの有効範囲指定値は、これに限らず、その他の値であってもよい。例えば、タッチの有効範囲指定値は、性別、身長、体重等によって変えてもよい。

タッチの有効範囲指定値には、物理的なサイズを指定し、取得データの単位（ピクセル単位等）に変換する必要がある。タッチの有効範囲指定値の変換後の値は、ディスプレイサイズ、ピクセル数、解像度等から算出される（https://msdn.microsoft.com/ja-jp/library/windows/apps/hh465326.aspxを参照）。ここでは、ハードウェア層（ＵＳＢバストレース等）のデータを使用する。これにより、接触位置の座標をより多く取得でき、より効率的に部分故障候補を絞り込むことができる。

［情報処理装置の機能構成］
次に、一実施形態に係る情報処理装置１０の機能構成について、図８を参照しながら説明する。情報処理装置１０は、受付部２１、記憶部２２、算出部２３、判定部２４、作成部２５及び表示制御部２６の各機能を有する。

受付部２１は、画面へのタッチ操作に対応する接触位置の座標を受け付ける。

記憶部２２は、接触位置テーブル１２１、故障候補判定テーブル１２２、故障候補リスト１２３及び試験パターンリスト１２４の各データを記憶する。また、記憶部２２は、本実施形態に係る検査処理をＣＰＵ１１に実行させるための検査プログラム１２５のアプリケーションプログラムを記憶する。

図９は、本実施形態に係る接触位置テーブル１２１の一例を示す。図９（ａ）に示す接触位置テーブル１２１は、Ｘ軸方向にタッチ操作経路を有する試験パターンの初期パターン（Ｎｏ．１）に対する指の接触位置の座標（Ｘ座標、Ｙ座標）を記憶した例である。また、図９（ｂ）に示す接触位置テーブル１２１は、Ｙ軸方向にタッチ操作経路を有する初期パターン（Ｎｏ．２）に対する接触位置の座標（Ｘ座標、Ｙ座標）を記憶した例である。図９（ｃ）に示す接触位置テーブル１２１は、追加された試験パターン（Ｎｏ．３）に対する接触位置の座標（Ｘ座標、Ｙ座標）を記憶した例である。

図１０は、本実施形態に係る故障候補判定テーブル１２２の一例を示す。本実施形態に係る故障候補判定テーブル１２２は、故障候補判定テーブル１２２は、ピクセル数分のデータ格納領域を有する。故障候補判定テーブル１２２には、ドラッグ操作においてタッチされた座標にパターンの有効範囲指定値が入力される。

例えば、本実施形態では、検査対象のタッチパネル１４を８０×５０ピクセル、タッチの有効範囲指定値を３ピクセルと仮定する。この場合、図１０（ａ）に示すように、故障候補判定テーブル１２２は、ピクセル数分（Ｘ軸方向の検査の場合には８０個、Ｙ軸方向の検査の場合には５０個）のデータ格納領域を有する。また、故障候補判定テーブル１２２には、ドラッグ操作においてタッチされた座標にパターンの有効範囲指定値である「３」が入力される。また、図１０（ｂ）に示すように、タッチ操作経路の接触位置のＸ座標を中心とするタッチの有効範囲内か否かを示すために、故障候補判定テーブル１２２の値「３」に隣接する座標の値が「１」又は「０」の場合、「２」に変更する。また、故障候補判定テーブル１２２の変更した値「２」に隣接する「０」を「１」に変更する。

図１１は、本実施形態に係る故障候補リスト１２３の一例を示す。本実施形態に係る故障候補リスト１２３は、タッチパネル１４の一部が検査できていない場合、検査できていない領域を故障候補箇所として記憶する。図１１（ａ）は、Ｘ軸の故障候補リスト１２３ａの一例であり、図１１（ｂ）は、Ｙ軸故障候補リスト１２３ｂの一例である。Ｘ軸の故障候補リスト１２３ａ及びＹ軸の故障候補リスト１２３ｂを、総称して故障候補リスト１２３という。

図１２は、本実施形態に係る試験パターンリスト１２４の一例を示す。本実施形態に係る試験パターンリスト１２４は、試験パターンの初期パターン及び追加される試験パターンのリストを記憶する。例えば、図１２の試験パターンリスト１２４には、２つの初期パターンが記憶されている。試験パターン（Ｎｏ．１）は、始点座標（１，１）及び終点座標（７８，１）で示されるＸ軸方向のタッチ操作経路の初期パターンである。試験パターン（Ｎｏ．２）は、始点座標（７８，１）及び終点座標（７８，４８）で示されるＹ軸方向のタッチ操作経路の初期パターンである。

図８に戻り、算出部２３は、隣接する２点の接触位置のＸ座標の間隔及びＹ座標の間隔を算出する。判定部２４は、間隔が予め定められたタッチの識別距離よりも長い場合、その間隔により確定される画面上の領域は検査できていないと判定し、その間隔により確定される画面上の領域を「故障候補箇所」と判定する。

作成部２５は、検査できていないと判定された領域に基づき、試験パターンを作成する。表示制御部２６は、検査できていないと判定された領域に、次のタッチ操作経路をガイドする始点及び終点を表示させる。

かかる構成により、本実施形態に係る情報処理装置１０では、ＣＰＵ１１が、メモリ１２に読み込まれた検査プログラム１２５等の各種プログラム及び各種データを用いて検査処理及び各種処理を実行する。これにより、受付部２２、算出部２３、判定部２４、作成部２５及び表示制御部２６の機能が実現される。

また、記憶部２２に記憶された接触位置テーブル１２１、故障候補判定テーブル１２２、故障候補リスト１２３、試験パターンリスト１２４の各データは、ＨＤＤ１７、メモリ１２又はネットワーク３０を介して情報処理装置１０に接続されるクラウド上のサーバ等に格納され得る。

なお、図８は機能に着目したブロック図を描いており、これらの機能ブロックで示した各部は、ハードウェアのみ、ソフトウェアのみ、またはハードウェアとソフトウェアとの組合せによって実現することができる。

［検査処理］
次に、本実施形態に係る検査処理の一例について図１３を参照して説明する。図１３は、一実施形態に係る検査処理の一例を示すフローチャートである。なお、本実施形態では、一例として、検査対象のタッチパネル１４を８０×５０ピクセル、タッチの有効範囲指定値を３ピクセルと仮定し、各フローチャートを説明する。

本処理が開始されると、表示制御部２６は、試験パターンリスト１２４を参照して試験パターン（Ｎｏ．１）の始点及び終点位置にタッチの有効範囲指定値と同サイズの始点及び終点を表示させる（ステップＳ１０）。これにより、図１４（ａ）に示すように、始点として座標（１、１）を左上の頂点とし、サイズ３の四角形が表示され、終点として座標（７８、１）を左上の頂点とし、サイズ３の四角形が表示される。なお、本実施形態に係る試験パターンリスト１２４には、初期パターンとしてＸ軸方向にタッチ操作経路を有する試験パターン（Ｎｏ．１）及びＹ軸方向にタッチ操作経路を有する試験パターン（Ｎｏ．２）の２パターンが記憶されている。しかしながら、試験パターンの初期パターンは、これに限らず、例えば、斜め方向にタッチ操作経路を有する始点座標（１，１）から終点座標（７８，４８）の１パターンでも良い。この場合、タッチパネル１４の左上から右下に向かって斜め方向へドラッグ操作が行われる。

図１３に戻り、次に、受付部２１は、ユーザＵのドラッグ操作を受け付ける（ステップＳ１２）。これにより、図１４（ｂ）に示すように、始点から終点に向かうタッチ操作経路に基づきドラッグ操作が行われる。図１４（ｂ）にその軌跡Ｐ１を示す。なお、ドラッグ操作は、必ずしも直線でなくてもよい。また、タッチ操作経路に対する始点及び終点以外のタッチ位置のガイドを表示してもよい。この場合、始点から終点に向かうよう、ガイドをずらしながら表示する方法等がある。

図１３に戻り、次に、記憶部２２は、ドラッグ操作時に取得した接触位置の座標を接触位置テーブル１２１に記憶する（ステップＳ１３）。例えば、図９（ａ）には、試験パターン（Ｎｏ．１）のドラッグ操作時に取得した接触位置の座標の一例が記憶されている。接触位置の座標を取得する間隔は、アプリケーションで所定時間毎（たとえば、１秒）に取得してもよいし、ＯＳが発行するイベントに合わせ、たとえば、１秒、１．３秒、０．５秒・・・のように不規則でもよい。

図１３に戻り、次に、判定部２４は、始点から終点まで正常にドラッグ操作が行われたか否かを判定する（ステップＳ１４）。判定部２４は、終点以外のエリアで非接触が検出される、あるいは、始点以外のエリアから接触が始まる場合、始点から終点までドラッグ操作ができなかったと判定（エラー判定）し、本処理を終了する。（ステップＳ１６）。ただし、ステップＳ１４のエラー判定時、操作ミスを考慮して、ステップＳ１６にて本処理を終了する替わりに再度ドラッグ処理を促してもよい。また、故障候補箇所を検出したい場合、本処理を終了せずに次の検査処理を継続してもよい。継続する場合は、故障候補箇所として、非接触が検出された箇所を記憶部２２の故障候補リスト１２３に記憶する。

判定部２４は、始点から終点まで正常にドラッグ操作が行われたと判定した場合、他の試験パターンの初期パターンがあるか否かを判定する（ステップＳ１８）。判定部２４は、図１２に示す試験パターンリスト１２４を参照して、他の初期パターン、つまり試験パターン（Ｎｏ．２）があると判定し、ステップＳ１０に戻る。

表示制御部２６は、試験パターン（Ｎｏ．２）の始点及び終点にタッチの有効範囲指定値と同サイズの始点及び終点を表示させる（ステップＳ１０）。これにより、図１４（ｃ）に示すように、始点として座標（７８、１）を頂点とし、サイズ３の四角形が表示され、終点として座標（７８、４８）を頂点とし、サイズ３の四角形が表示される。

その後、図１３のステップＳ１２〜Ｓ１８の処理が実行されると、図１４（ｃ）に示すように、始点から終点に向かう軌跡Ｐ２のドラッグ操作が行われ、ドラッグ操作時に取得した接触位置の座標が接触位置テーブル１２１に記憶される。例えば、図９（ｂ）には、試験パターン（Ｎｏ．２）のドラッグ操作時に取得した接触位置の座標の一例が記憶されている。

図１３のステップＳ１８において、判定部２４は、試験パターンリスト１２４を参照して他の初期パターンはないと判定し、ステップＳ２０に進む。次に、判定部２４は、Ｘ軸（縦ライン）の故障候補抽出処理を実行する（ステップＳ２０）。次に、判定部２４は、Ｙ軸（横ライン）の故障候補抽出処理を実行する（ステップＳ２２）。各故障候補抽出処理については後述される。

次に、判定部２４は、故障候補リスト１２３に基づき故障候補箇所があるか否かを判定する（ステップＳ２４）。判定部２４は、故障候補箇所がないと判定した場合、タッチパネル１４は正常であると判定し、本処理を終了する（ステップＳ２６）。他方、判定部２４は、故障候補箇所があると判定した場合、故障候補リスト１２３から試験パターンを作成し、試験パターンリスト１２４に記憶し、ステップＳ１０に戻る（ステップＳ２８）。

試験パターンリスト１２４に記憶された、追加された試験パターンに基づき、ステップＳ１０〜Ｓ１８の処理が実行されると、図１４（ｄ）に示すように、始点から終点に向かう軌跡Ｐ３のドラッグ操作が行われ、ドラッグ操作時に取得した接触位置の座標が接触位置テーブル１２１に記憶される。例えば、図９（ｃ）には、試験パターン（Ｎｏ．３）のドラッグ操作時に取得した接触位置の座標の一例が記憶されている。図１３に戻り、その後、ステップＳ２０〜Ｓ２４の処理が実行され、ステップＳ２４において、故障候補箇所がないと判定されると、ステップＳ２６にて正常終了する。ステップＳ２４において、故障候補箇所があると判定されると、サイド追加の試験パターンを作成し、ステップＳ１０〜２８の処理を繰り返す。

［故障候補抽出処理］
次に、本実施形態に係る故障候補抽出処理の一例について図１５を参照して説明する。図１５は、一実施形態に係る検査処理の一例を示すフローチャートである。本処理は、図１３の検査処理のステップＳ２０及びステップＳ２２において呼び出される。

本処理が開始されると、作成部２４は、接触位置テーブル１２１を読み込む（ステップＳ３０）。次に、記憶部２２は、接触位置テーブル１２１に記憶された接触位置の座標に基づき、故障候補判定テーブル１２２を更新する（ステップＳ３２）、次に、作成部２５は、故障候補リスト１２３を作成し（ステップＳ３４）、本処理を終了する。

例えば、試験パターン（Ｎｏ．１）及び試験パターン（Ｎｏ．２）の各初期パターンにおいて検出された接触位置の座標に基づき、故障候補判定テーブル１２２が更新される。故障候補判定テーブル１２２は、ピクセル数分（本実施形態では、Ｘ軸方向の検査の場合には８０個、Ｙ軸方向の検査の場合には５０個）のデータ格納領域を有する。作成部２５は、ドラッグ操作においてタッチされた位置（座標）に、有効範囲指定値である「３」を設定する（図１０（ａ）参照）。また、作成部２５は、図１６（ａ）に示すように、軌跡Ｐ１で示す指のドラッグ操作に対して検出した接触位置の座標を中心とするタッチの有効範囲の円Ｔに対応する領域を示すために、故障候補判定テーブル１２２の値「３」に隣接する「１」又は「０」の値を「２」に変更し、値「２」に隣接する「０」の値を「１」に変更する（図１０（ｂ）参照）。これにより、故障候補判定テーブル１２２が、図１６（ｂ）に示すように更新される。

故障候補判定テーブル１２２が示す値が「０」の場合、タッチの有効範囲の円Ｔは離れている。この場合、判定部２４は、隣接する２点の接触位置の座標の間隔（図１６（ａ）ではＸ座標の間隔）が、識別すべきタッチの識別距離よりも長い箇所であり、その間隔により確定される画面上のラインを検査できていない箇所であると判定する。つまり、判定部２４は、図１６（ａ）では、円Ｔが離れている領域Ｃ１及び領域Ｃ２を、検査できていない領域と判定し、故障候補リスト１２３を作成する。この結果、図１１（ａ）のＸ軸の故障候補リスト１２３ａの「Ｎｏ．１」には、図１６（ａ）に示すタッチパネル１４の横１５〜２１ピクセルの幅をもつ縦ラインの故障候補箇所Ｃ１が記憶される。また、Ｘ軸の故障候補リスト１２３ａの「Ｎｏ．２」には、図１６（ａ）の横４２〜５０ピクセル幅をもつ縦ラインの故障候補箇所Ｃ２が記憶される。また、図１１（ｂ）のＹ軸の故障候補リスト１２３ｂの「Ｎｏ．１」には、図１６（ｂ）の縦３４〜３７ピクセルの幅をもつ横ラインの故障候補箇所Ｃ３が記憶される。

なお、故障候補箇所Ｃ１、Ｃ２は、試験パターン（Ｎｏ．１）の始点座標（１，１）及び終点座標（７８，１）のタッチ操作経路の検査において判定された、検査できていない領域である。また、故障候補箇所Ｃ３は、試験パターン（Ｎｏ．２）の始点座標（７８，１）及び終点座標（７８，４８）のタッチ操作経路の検査において判定された、検査できていない領域である。

［試験パターン作成処理］
次に、本実施形態に係る試験パターン作成処理の一例について図１７を参照して説明する。図１７は、一実施形態に係る試験パターン作成処理の一例を示すフローチャートである。本処理は、図１３の検査処理のステップＳ２４において故障候補箇所があると判定された場合にステップＳ２８において呼び出される。

本処理が開始されると、作成部２５は、故障候補リスト１２３を読み込む（ステップＳ４０）。次に、作成部２５は、試験パターンリスト１２４を作成（更新）し（ステップＳ４２）、本処理を終了する。

作成部２５は、Ｘ軸の故障候補箇所とＹ軸の故障候補箇所との交点からタッチ操作経路の始点及び終点を算出し、試験パターンリスト１２４に書き込む。例えば、図１１に示すように、Ｘ軸の故障候補リスト１２３ａの最も数値の低いＸ座標「１５」と、Ｙ軸の故障候補リスト１２３ａの最も数値の低いＹ座標「３４」とから成る座標（１５，３４）を始点とし、Ｘ軸の故障候補リスト１２３ａの最も数値の高いＸ座標「５０」と、Ｙ軸の故障候補リスト１２３ａの最も数値の高いＹ座標「３７」とから成る座標（５０，３７）からタッチの識別距離を減算した座標（４８，３５）を終点とする。これにより、図１８の試験パターンリスト１２４に、「Ｎｏ．３」の試験パターンが追加される。

［タッチパネルからの位置情報取得と画面検査］
最後に、上記のようにして試験パターンリスト１２４に追加された試験パターン「Ｎｏ．３」に基づき行われる、図１３の検査処理について説明する。図１３のステップＳ２８において、試験パターンリスト１２４に試験パターン「Ｎｏ．３」が追加されると、ステップＳ１０に戻り、表示制御部２６は、試験パターンリスト１２４を参照して試験パターン（Ｎｏ．３）の始点及び終点にタッチの有効範囲指定値と同サイズの始点、終点を表示させる。これにより、図１６（ｃ）に示すように、座標（１５、３４）及び座標（４８、３５）を左上の頂点とし、始点及び終点を示すサイズ３の四角形が表示される。

図１３に戻り、次に、受付部２１は、ユーザＵのドラッグ操作を受け付ける（ステップＳ１２）。これにより、図１６（ｄ）に示すように、始点から終点に向かう軌跡Ｐ３のドラッグ操作が行われる。

次に、記憶部２２は、ドラッグ操作時に取得した接触位置の座標を接触位置テーブル１２１に記憶する（ステップＳ１３）。これにより、図９（ｃ）に示すように、試験パターンリスト１２４の試験パターン（Ｎｏ．３）のドラッグ操作時に取得した接触位置の座標が接触位置テーブル１２１に記憶される。

次に、判定部２４は、ステップＳ１４〜Ｓ２２の処理を実行する。ステップＳ２４において、故障候補がないと判定された場合、タッチパネル１４は正常であると判断して、ステップＳ２６にて正常終了する。

ステップＳ２４において、故障候補があると判定された場合、タッチパネル１４に検査できていない箇所があると判定し、次の試験パターンを作成して、ステップＳ１０に戻り、ステップＳ１０以降の処理を繰り返す。ステップＳ２８にて次の試験パターンが作成される間、本処理が繰り返される。

以上に説明したように、一実施形態に係る情報処理装置１０が行う検査方法によれば、タッチ操作された箇所の位置（接触位置）のうち、隣接する２点の接触位置の間隔が、識別すべき距離であるタッチの識別距離よりも長い場合、その間隔により確定されるラインを「検査できていない箇所」と特定することができる。これにより、次の検査において、検査できていない箇所を優先して試験することができる。その結果、本検査に係る設備や時間を増加させず、効率的にタッチパネル１４のライン故障を見つけ出すことができる。

また、例えば、図４に示すように、タッチパネル１４の１本のラインＣが故障している場合、ハードウェアの分解能単位では、ライン毎の検査により「ラインＣは故障である」と判定される。しかしながら、ハードウェアとしては壊れているが運用上は問題のない場合がある。この場合、本実施形態に係る検査方法によれば、ラインＣが故障していてもハードウェアの分解能単位より低いソフトウェアの分解能単位で使用感的に問題が無いものは良品と判定される。これにより、過剰な故障検出を排除することができ、ハードウェア及びソフトウェアに合わせた適切な評価ができる。

以上、検査装置、検査方法及び検査プログラムを上記実施形態により説明したが、本発明にかかる検査装置、検査方法及び検査プログラムは上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変形及び改良が可能である。また、上記実施形態及び変形例が複数存在する場合、矛盾しない範囲で組み合わせることができる。

例えば、本発明に係る検査方法では、故障候補箇所（図１６の場合、故障候補箇所Ｃ１、Ｃ２、Ｃ３の領域）にて次の検査時にタッチイベントが検出できるかが判定できれば良く、必ずしも複数の故障候補箇所の交点に始点及び終点を表示しなくても良い。

図１９に、一実施形態に係る検査用のタッチ操作経路の始点及び終点の一例を示す。図１９（ａ）の垂直ラインの故障候補箇所Ｃが３箇所及び水平ラインの故障候補箇所Ｃが２箇所の場合、複数の故障候補箇所Ｃのうち最も距離が離れた故障候補箇所Ｃのいずれか一方の交点に始点を表示し、いずれか他方の交点に終点を表示することが好ましい。終点から最も遠い交点に始点を表示することで、次の検査時に故障候補箇所においてタッチイベントを取得できる。

また、図１９（ｂ）の垂直ラインの故障候補箇所Ｃが３箇所及び水平ラインの故障候補箇所Ｃが１箇所の場合、２つの交点に始点及び終点を表示することで、次の検査時に故障候補箇所においてタッチイベントを取得できる。この場合、始点及び終点の表示位置は、同一直線上でなくてもよい。

また、図１９（ｃ）の垂直ラインの故障候補箇所Ｃが３箇所の場合には交点がない。この場合、複数の故障候補箇所Ｃのうち最も距離が離れた故障候補箇所Ｃのいずれか一方の領域中に始点を表示し、いずれか他方の領域中に終点を表示することが好ましい。このとき、図１９（ｃ）に示すように、始点及び終点が最も離れるように、一方の故障候補箇所Ｃの右下端部と、他方の故障候補箇所Ｃの左上端部とに始点又は終点のいずれかを表示することが好ましい。

また、図１９（ｄ）の垂直ラインの故障候補箇所Ｃが１箇所及び水平ラインの故障候補箇所Ｃが１箇所の場合、１つの交点にずらして始点及び終点を表示してもよい。この場合、始点及び終点の表示位置は、同一直線上でなくてもよい。

また、始点と終点の位置関係（例えば、始点が左上、終点が右下など）は、試験パターンが変わる度に変更するようにしても良い。試験パターンのＮｏ．１（１回目）は始点が故障候補箇所Ｃの左上、終点が右下になるように表示し、２回目は始点が右下や左下、終点が左上や右上になるように可変にしても良い。

以上の説明に関し、更に以下の項を開示する。
（付記１）
画面へのタッチ操作の位置を示す複数の接触位置情報のうち、隣接する２点の接触位置情報の間隔を算出する算出部と、
前記間隔が予め定められたタッチの識別距離よりも長い場合、前記間隔により確定される画面上の領域は検査できていないと判定する判定部と、
を有する検査装置。
（付記２）
前記検査できていないと判定した領域内に、次のタッチ操作を促すためのタッチ操作経路の始点及び終点を表示させる表示制御部を有する、
付記１に記載の検査装置。
（付記３）
前記表示制御部は、前記間隔により確定される領域が交点を有する場合、前記交点に始点及び終点の少なくともいずれかを表示させる、
２に記載の検査装置。
（付記４）
前記判定部は、前記検査できていないと判定した領域がない場合、前記画面は正常であると判定する、
付記１〜３のいずれか一項に記載の検査装置。
（付記５）
画面へのタッチ操作の位置を示す複数の接触位置情報のうち、隣接する２点の接触位置情報の間隔を算出し、
前記間隔が予め定められたタッチの識別距離よりも長い場合、前記間隔により確定される画面上の領域は検査できていないと判定する、
処理をコンピュータが実行する検査方法。
（付記６）
前記検査できていないと判定した領域内に、次のタッチ操作を促すためのタッチ操作経路の始点及び終点を表示させる、
付記５に記載の検査方法。
（付記７）
前記間隔により確定される領域が交点を有する場合、前記交点に始点及び終点の少なくともいずれかを表示させる、
付記６に記載の検査方法。
（付記８）
前記検査できていないと判定した領域がない場合、前記画面は正常であると判定する、
付記５〜７のいずれか一項に記載の検査装置。
（付記９）
画面へのタッチ操作の位置を示す複数の接触位置情報のうち、隣接する２点の接触位置情報の間隔を算出し、
前記間隔が予め定められたタッチの識別距離よりも長い場合、前記間隔により確定される画面上の領域は検査できていないと判定する、
処理をコンピュータに実行させるための検査プログラム。
（付記１０）
前記検査できていないと判定した領域内に、次のタッチ操作を促すためのタッチ操作経路の始点及び終点を表示させる、
付記９に記載の検査プログラム。
（付記１１）
前記間隔により確定される領域が交点を有する場合、前記交点に始点及び終点の少なくともいずれかを表示させる、
付記１０に記載の検査プログラム。
（付記１２）
前記検査できていないと判定した領域がない場合、前記画面は正常であると判定する、
付記９〜１１のいずれか一項に記載の検査装置。

１０ タブレット装置
１１ ＣＰＵ
１２ メモリ
１３ 入出力Ｉ／Ｆ
１４ タッチパネル
１５ ディスプレイ
１６ 通信Ｉ／Ｆ
１７ ＨＤＤ
２１ 受付部
２２ 記憶部
２３ 算出部
２４ 判定部
２５ 作成部
２６ 表示制御部
１２１ 接触位置テーブル
１２２ 故障候補判定テーブル
１２３ 故障候補リスト
１２４ 試験パターンリスト
１２５ 検査プログラム

Claims (6)

1. 画面へのタッチ操作の位置を示す複数の接触位置情報のうち、隣接する２点の接触位置情報の間隔を算出する算出部と、
   前記間隔が予め定められたタッチの識別距離よりも長い場合、前記間隔により確定される画面上の領域は検査できていないと判定する判定部と、
   を有する検査装置。
2. 前記検査できていないと判定した領域内に、次のタッチ操作を促すためのタッチ操作経路の始点及び終点を表示させる表示制御部を有する、
   請求項１に記載の検査装置。
3. 前記算出部は、前記隣接する２点の接触位置情報の縦方向の間隔及び横方向の間隔を算出し、
   前記判定部は、前記縦方向の間隔が予め定められたタッチの識別距離よりも長い場合、前記縦方向の間隔を幅とする横のラインを、検査できていない領域と判定し、前記横方向の間隔が予め定められたタッチの識別距離よりも長い場合、前記横方向の間隔を幅とする縦のラインを、検査できていない領域と判定し、
   前記表示制御部は、検査できていない領域として前記縦のラインと前記横のラインとが判定された場合、前記縦のラインと前記横のラインとが重なった領域内に始点及び終点の少なくともいずれかを表示させる、
   請求項２に記載の検査装置。
4. 前記判定部は、前記検査できていないと判定した領域がない場合、前記画面は正常であると判定する、
   請求項１〜３のいずれか一項に記載の検査装置。
5. 画面へのタッチ操作の位置を示す複数の接触位置情報のうち、隣接する２点の接触位置情報の間隔を算出し、
   前記間隔が予め定められたタッチの識別距離よりも長い場合、前記間隔により確定される画面上の領域は検査できていないと判定する、
   処理をコンピュータが実行する検査方法。
6. 画面へのタッチ操作の位置を示す複数の接触位置情報のうち、隣接する２点の接触位置情報の間隔を算出し、
   前記間隔が予め定められたタッチの識別距離よりも長い場合、前記間隔により確定される画面上の領域は検査できていないと判定する、
   処理をコンピュータに実行させるための検査プログラム。

Images