JP6639209B2 - Socket for electrical components - Google Patents

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Description

この発明は、半導体装置(以下「ICパッケージ」)等の電気部品を収容して配線基板に電気的に接続する電気部品用ソケットに関する。   The present invention relates to a socket for an electrical component that accommodates an electrical component such as a semiconductor device (hereinafter referred to as an “IC package”) and electrically connects to a wiring board.

従来、この種の電気部品用ソケットとしては、例えば、下記特許文献1に記載されたものが知られている。   DESCRIPTION OF RELATED ART Conventionally, as this kind of socket for electric components, what was described in the following patent document 1 is known, for example.

特許文献1の電気部品用ソケットでは、配線基板上に電気部品用ソケットを配設し、その電気部品用ソケットのソケット本体に設けられた収容面に、ICパッケージを収容する。そして、このソケット本体内に配設された複数のコンタクトピンを用いて、その配線基板の電極とそのICパッケージの端子とを電気的に接続する。   In the electrical component socket of Patent Literature 1, an electrical component socket is provided on a wiring board, and an IC package is accommodated in an accommodation surface provided on a socket body of the electrical component socket. Then, by using a plurality of contact pins provided in the socket body, the electrodes of the wiring board and the terminals of the IC package are electrically connected.

これらのコンタクトピンは、それぞれ、コイルスプリングと、その両端に設けられた第1、第2プランジャとを備えている。そして、ICパッケージの端子を第1プランジャに押圧すると、コイルスプリングの付勢力によって、第1及び第2プランジャと配線基板の電極及びICパッケージの端子とを適切な接圧で接触し、これにより、ICパッケージを配線基板に電気的に接続している。   Each of these contact pins includes a coil spring and first and second plungers provided at both ends thereof. When the terminal of the IC package is pressed against the first plunger, the first and second plungers contact the electrode of the wiring board and the terminal of the IC package with an appropriate contact pressure due to the urging force of the coil spring. The IC package is electrically connected to the wiring board.

特開2008−14704号公報JP 2008-14704 A

上記特許文献1に示したような電気部品用ソケットでは、コンタクトピン同士がショートしないように、通常、ソケット本体を絶縁体で形成している。   In a socket for an electric component as disclosed in Patent Document 1, the socket body is usually formed of an insulator so that the contact pins do not short-circuit.

しかし、絶縁体には、帯電し易く、そのために、その表面に静電気が発生し易いという特性がある。このため、従来の電気部品用ソケットには、ICパッケージを収容して動作させている時(例えばバーンインテストを行っている時)に、そのソケット本体の収容面に発生した静電気でICパッケージが破損するおそれがあるという不都合や、そのソケット本体の表面に塵埃が付着し易くなる等の不都合があった。   However, the insulator has a characteristic that it is easily charged and, therefore, static electricity is easily generated on its surface. For this reason, the IC package is damaged by static electricity generated on the housing surface of the socket body when the IC package is housed and operated (for example, during a burn-in test) in the conventional electrical component socket. There are inconveniences that dust may easily adhere to the surface of the socket body.

これに対して、帯電防止性のある材料でソケット本体を形成することによって、このような不都合を防止・抑制することも考えられる。   On the other hand, it is conceivable to prevent and suppress such inconvenience by forming the socket body with an antistatic material.

しかし、ソケット本体の形成材料としては、そのソケット本体に挿通されたコンタクトピン同士をショートさせないために、十分に耐電圧特性が高いものを使用する必要があり、更には、強度が十分に高く、加工性に優れたものを使用する必要がある。   However, as a material for forming the socket body, it is necessary to use a material having sufficiently high withstand voltage characteristics in order not to short-circuit the contact pins inserted into the socket body, and further, the strength is sufficiently high, It is necessary to use a material excellent in workability.

これらの条件を全て満たすと共に、十分な帯電防止性を有する材料を得ることは、現状では困難である。   It is currently difficult to obtain a material that satisfies all of these conditions and has sufficient antistatic properties.

そこで、この発明の課題は、優れた帯電防止性能を有すると共に、耐電圧特性や加工性等にも優れたソケット本体を備える電気部品用ソケットを提供することにある。   SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a socket for an electric component having a socket body having excellent antistatic performance and also excellent in withstand voltage characteristics and workability.

かかる課題を達成するために、請求項1に記載の発明は、配線基板上に配置され、電気部品が収容されるソケット本体を有し、該ソケット本体には、伸縮自在のコンタクトピンが配設され、該コンタクトピンを介して、該ソケット本体に収容された該電気部品の端子を、該配線基板の電極に電気的に接続する電気部品用ソケットであって、前記ソケット本体は、板状の絶縁性部材と、帯電防止材料で形成されて該絶縁性部材の表面に設けられた表面帯電防止層とを備え、該ソケット本体の該絶縁性部材及び該表面帯電防止層には、それぞれ、前記コンタクトピンを配設する挿通孔が、略同径に連通形成され、前記ソケット本体の前記挿通孔を、前記電気部品の前記端子よりも大径に形成すると共に、前記コンタクトピンの、該電気部品の該端子に当接される接触部を、該挿通孔よりも小径に形成することにより、該電気部品を前記ソケット本体に収容し、前記電気部品が前記表面帯電防止層に接触した状態において、前記電気部品の前記端子と前記表面帯電防止層とが電気的に接触しないように構成すると共に、前記コンタクトピンの前記接触部と前記表面帯電防止層とが電気的に接触しないように構成した電気部品用ソケットとしたことを特徴とする。 In order to achieve the object, the invention according to claim 1 has a socket body arranged on a wiring board and accommodating an electric component, and a telescopic contact pin is arranged on the socket body. An electrical component socket for electrically connecting a terminal of the electrical component housed in the socket body to an electrode of the wiring board via the contact pin, wherein the socket body has a plate shape. An insulating member, comprising a surface antistatic layer formed of an antistatic material and provided on the surface of the insulating member, wherein the insulating member and the surface antistatic layer of the socket body each include: An insertion hole for arranging a contact pin is formed so as to communicate with substantially the same diameter, the insertion hole of the socket body is formed to have a diameter larger than that of the terminal of the electric component, and The end of The electric part is accommodated in the socket body by forming a contact portion which is in contact with the electric part with a smaller diameter than the insertion hole, and the electric part is in a state where the electric part is in contact with the surface antistatic layer. And an electrical component socket configured so that the terminal does not make electrical contact with the surface antistatic layer and the contact portion of the contact pin does not make electrical contact with the surface antistatic layer. It is characterized by having.

請求項の発明は、請求項に記載の構成に加えて、前記ソケット本体の、前記配線基板と対向する面に、帯電防止材料で形成された裏面帯電防止層が設けられたことを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, in addition to the configuration of the first aspect, a back surface antistatic layer formed of an antistatic material is provided on a surface of the socket body facing the wiring board. And

請求項の発明は、請求項1又は2に記載の構成に加えて、前記ソケット本体は、上側プレートと下側プレートとを少なくとも備え、該上側プレートの表面に前記表面帯電防止層が設けられると共に、該上側プレートの裏面又は該下側プレートの表面の少なくとも一方に、帯電防止材料で形成された中間面帯電防止層が設けられた0ことを特徴とする。 According to a third aspect of the present invention, in addition to the configuration of the first or second aspect , the socket body includes at least an upper plate and a lower plate, and the surface antistatic layer is provided on a surface of the upper plate. In addition, an intermediate surface antistatic layer formed of an antistatic material is provided on at least one of the back surface of the upper plate and the surface of the lower plate.

請求項1の発明によれば、ソケット本体に、板状の絶縁性部材を設けると共に、その絶縁性部材の表面に表面帯電防止層を設け、その表面帯電防止層上に電気部品を収容することにした。このため、請求項1の発明によれば、絶縁性部材を絶縁性や加工性等に十分に
優れたものにすれば、表面帯電防止層がこれらの特性に優れていることは必須では無い。このため、請求項1の発明によれば、帯電防止性に優れた表面帯電防止材料を選択し易くなり、その結果、優れた帯電防止性能を有すると共に耐電圧特性や加工性等にも優れたソ
ケット本体を得ることが容易になる。
また、請求項1の発明によれば、コンタクトピンとソケット本体の表面帯電防止層とが電気的に接触しないので、絶縁性が低い表面帯電防止層を使用することが可能になり、従って、優れた帯電防止性能を有すると共に耐電圧特性や加工性等にも優れたソケット本体を得ることが、更に容易になる。
さらに、請求項1の発明によれば、電気部品が表面帯電防止層に接触した状態において、電気部品の端子と表面帯電防止層とが電気的に接触しないように構成したので、表面帯電防止層を耐電圧特性が低い材料で形成することが可能となり、これによって、表面帯電防止層を形成する材料の選択の自由度を高めることができる。
According to the invention of claim 1, a plate-shaped insulating member is provided on the socket body, a surface antistatic layer is provided on the surface of the insulating member, and an electric component is accommodated on the surface antistatic layer. I made it. For this reason, according to the first aspect of the present invention, if the insulating member is made sufficiently excellent in insulation properties, workability, and the like, it is not essential that the surface antistatic layer has these properties. For this reason, according to the first aspect of the invention, it is easy to select a surface antistatic material having excellent antistatic properties, and as a result, it has excellent antistatic performance and also has excellent withstand voltage characteristics, workability, and the like. It becomes easy to obtain a socket body.
Further, according to the first aspect of the present invention, since the contact pins and the surface antistatic layer of the socket body do not make electrical contact with each other, it is possible to use a surface antistatic layer having a low insulating property, and therefore, it is possible to use an excellent surface antistatic layer. It becomes even easier to obtain a socket body that has antistatic performance and is also excellent in withstand voltage characteristics and workability.
Further, according to the first aspect of the present invention, when the electric component is in contact with the surface antistatic layer, the terminal of the electric component and the surface antistatic layer are configured not to make electrical contact. Can be formed from a material having a low withstand voltage characteristic, whereby the degree of freedom in selecting a material for forming the surface antistatic layer can be increased.

請求項の発明によれば、裏面帯電防止層を設けたので、ソケット本体の裏面の帯電をも抑えることができる。 According to the second aspect of the present invention, since the back surface antistatic layer is provided, the back surface of the socket body can be prevented from being charged.

請求項の発明によれば、中間面帯電防止層を設けたので、ソケット本体の中間面の帯電をも抑えることができる。 According to the third aspect of the present invention, the intermediate surface antistatic layer is provided, so that the intermediate surface of the socket body can be prevented from being charged.

この発明の実施の形態1に係る電気部品用ソケットの全体構成を概念的に示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view conceptually showing an overall configuration of an electrical component socket according to Embodiment 1 of the present invention. この発明の実施の形態1に係るソケット本体の要部構成を概念的に示す断面図であり、(a)は電気部品を収容していない状態、(b)は電気部品を収容している状態である。3A and 3B are cross-sectional views conceptually showing a configuration of a main part of the socket body according to Embodiment 1 of the present invention, wherein FIG. 3A is a state in which no electric component is accommodated, and FIG. It is. この発明の実施の形態2に係るソケット本体の要部構成を概念的に示す断面図であり、(a)は電気部品を収容していない状態、(b)は電気部品を収容している状態である。It is sectional drawing which shows notionally the principal part structure of the socket main body which concerns on Embodiment 2 of this invention, (a) is the state which does not accommodate an electric component, (b) is the state which accommodates an electric component. It is. この発明の実施の形態3に係るソケット本体の要部構成を概念的に示す断面図であり、(a)は電気部品を収容していない状態、(b)は電気部品を収容している状態である。It is sectional drawing which shows notionally the principal part structure of the socket main body which concerns on Embodiment 3 of this invention, (a) is the state which does not accommodate an electric component, (b) is the state which accommodates an electric component. It is. この発明の実施の形態4に係るソケット本体の要部構成を概念的に示す断面図であり、(a)は電気部品を収容していない状態、(b)は電気部品を収容している状態である。It is sectional drawing which shows notionally the principal part structure of the socket main body which concerns on Embodiment 4 of this invention, (a) is the state which does not accommodate an electric component, (b) is the state which accommodates an electric component. It is.

[発明の実施の形態1]
図1及び図2に、この発明の実施の形態1を示す。
[First Embodiment of the Invention]
1 and 2 show a first embodiment of the present invention.

この実施の形態1の「電気部品用ソケット」としてのICソケット10は、図2に示すように、配線基板20上に配置されると共に、上面に「電気部品」としてのICパッケージ30が収容される。このICソケット10は、例えばICパッケージ30に対するバーンイン試験の試験装置等に用いられる。   As shown in FIG. 2, the IC socket 10 as the “electric component socket” according to the first embodiment is arranged on the wiring board 20, and the IC package 30 as the “electric component” is housed on the upper surface. You. The IC socket 10 is used, for example, as a test device for a burn-in test on the IC package 30.

この実施の形態1のICパッケージ30は、略方形状のパッケージ本体31の下面の略方形の所定領域に、複数の端子32が、マトリックス状に配置されている。なお、図2では、端子32を1個のみ示している。   In the IC package 30 according to the first embodiment, a plurality of terminals 32 are arranged in a matrix in a substantially rectangular predetermined area on the lower surface of a substantially rectangular package body 31. In FIG. 2, only one terminal 32 is shown.

ICソケット10は、図1に示すように、配線基板20上に配置されたソケット本体11を備えている。このソケット本体11は、平面視において略四角形の外枠部材12と、コンタクトモジュール13とを備えている。このコンタクトモジュール13には、複数のコンタクトピン40がマトリックス状に配設され、その上面側が、ICパッケージ30を収容する収容面13aになっている。   As shown in FIG. 1, the IC socket 10 includes a socket main body 11 arranged on a wiring board 20. The socket body 11 includes a substantially square outer frame member 12 and a contact module 13 in plan view. A plurality of contact pins 40 are arranged in a matrix in the contact module 13, and the upper surface thereof is a housing surface 13 a for housing the IC package 30.

コンタクトモジュール13は、図2(a)及び(b)に示すように、上側固定プレート14と下側固定プレート15とを備えている。これら上側固定プレート14及び下側固定プレート15は、外枠部材12に固定保持されている。   The contact module 13 includes an upper fixing plate 14 and a lower fixing plate 15, as shown in FIGS. The upper fixed plate 14 and the lower fixed plate 15 are fixed and held by the outer frame member 12.

ここで、上側固定プレート14は、板状の絶縁性部材16と、表面帯電防止層17とを備えている。   Here, the upper fixed plate 14 includes a plate-shaped insulating member 16 and a surface antistatic layer 17.

絶縁性部材16は、例えばガラスエポキシ樹脂等で形成される。ガラスエポキシ樹脂を使用することにより、耐電圧特性が非常に高く(従って、隣接するコンタクトピン40間のショートが非常に発生し難く)、強度や加工性、耐熱性等にも優れた絶縁性部材16を得ることができる。   The insulating member 16 is formed of, for example, glass epoxy resin. By using a glass epoxy resin, an insulating member having very high withstand voltage characteristics (thus, it is very unlikely that a short circuit occurs between adjacent contact pins 40) and having excellent strength, workability, heat resistance, and the like. 16 can be obtained.

表面帯電防止層17は、例えば、炭素や金属等の導電性フィラーを、ガラスエポキシ樹脂に充填することで作製できる。この表面帯電防止層17の形成材料は、十分な帯電防止性を有するものであれば良いが、その帯電防止性能を損なわない範囲内で絶縁性や強度等を備えたものを使用してもよい。   The surface antistatic layer 17 can be produced, for example, by filling a glass epoxy resin with a conductive filler such as carbon or metal. The material for forming the surface antistatic layer 17 may be a material having a sufficient antistatic property, but may be a material having an insulating property, a strength and the like within a range not impairing the antistatic performance. .

この実施の形態1の上側固定プレート14は、例えば、ガラスエポキシ樹脂の層を積層することによって絶縁性部材16を形成した後、最後の層(表面に露出する層)に導電性フィラーを充填して表面帯電防止層17を形成することで、作製できる。但し、表面帯電防止層17は、絶縁性部材16の表面への塗布やメッキ等で形成してもよく、表面帯電防止層17用の板材を形成した後で絶縁性部材16に貼り付けることとしてもよく、他の方法で形成しても良い。   In the upper fixing plate 14 of the first embodiment, for example, after forming an insulating member 16 by laminating a layer of glass epoxy resin, the last layer (layer exposed on the surface) is filled with a conductive filler. It can be manufactured by forming the surface antistatic layer 17. However, the surface antistatic layer 17 may be formed by coating or plating on the surface of the insulating member 16, and may be attached to the insulating member 16 after forming a plate material for the surface antistatic layer 17. Alternatively, it may be formed by another method.

一方、下側固定プレート15は、例えば、上側固定プレート14の絶縁性部材16と同じ材料で形成できるが、他の材料で形成してもよい。但し、十分な耐電圧特性、強度、加工性、耐熱性等を備える形成材料を使用することが望ましい。   On the other hand, the lower fixed plate 15 can be formed of, for example, the same material as the insulating member 16 of the upper fixed plate 14, but may be formed of another material. However, it is desirable to use a forming material having sufficient withstand voltage characteristics, strength, workability, heat resistance, and the like.

これら上側固定プレート14及び下側固定プレート15には、挿通孔14a及び15aが設けられている。図2(a)に示すように、上側固定プレート14の挿通孔14aは、小径の上部挿通孔14bと大径の下部挿通孔14cとを備えている。この実施の形態1では、上部挿通孔14bを、その周縁部にICパッケージ30の端子32が接触することの無いよう、この端子32よりも十分大きい径に形成する(後述)。一方、下側固定プレート15の挿通孔15aは、上側固定プレート14の下部挿通孔14cよりもやや小径の上部挿通孔15bと、その上部挿通孔15bよりも更に小径の下部挿通孔15cとを備えている。   The upper fixing plate 14 and the lower fixing plate 15 are provided with insertion holes 14a and 15a. As shown in FIG. 2A, the insertion hole 14a of the upper fixed plate 14 has a small-diameter upper insertion hole 14b and a large-diameter lower insertion hole 14c. In the first embodiment, the upper insertion hole 14b is formed to have a diameter sufficiently larger than the terminal 32 so that the terminal 32 of the IC package 30 does not come into contact with the peripheral edge thereof (described later). On the other hand, the insertion hole 15a of the lower fixed plate 15 includes an upper insertion hole 15b slightly smaller in diameter than the lower insertion hole 14c of the upper fixed plate 14, and a lower insertion hole 15c smaller in diameter than the upper insertion hole 15b. ing.

ここで、上側固定プレート14の挿通孔14aは、絶縁性部材16上に表面帯電防止層17を形成(或いは貼り付け等)した後で、これら絶縁性部材16及び表面帯電防止層17に貫通孔を形成することで、得られる。このため、挿通孔14aは、絶縁性部材16に形成された部分と表面帯電防止層17に形成された部分とで、略同径となる。絶縁性部材16と表面帯電防止層17とで同時に挿通孔14aを形成することで、その製造工程を簡略化して製造コストを抑えることができる。また、上部挿通孔14bの周縁部にICパッケージ30の端子32が接触しないように、この上部挿通孔14bの表面側の開口端部分を面取して拡径させてもよい(図示せず)。   Here, after the surface antistatic layer 17 is formed (or pasted) on the insulating member 16, the through hole 14 a of the upper fixing plate 14 is formed with a through hole in the insulating member 16 and the surface antistatic layer 17. Are obtained by forming Therefore, the insertion hole 14a has substantially the same diameter at the portion formed on the insulating member 16 and the portion formed on the surface antistatic layer 17. By forming the insertion hole 14a simultaneously with the insulating member 16 and the surface antistatic layer 17, the manufacturing process can be simplified and the manufacturing cost can be reduced. The upper end of the upper through-hole 14b may be chamfered to increase the diameter so that the terminal 32 of the IC package 30 does not come into contact with the peripheral edge of the upper through-hole 14b (not shown). .

コンタクトピン40は、図2(a)及び(b)に示すように、導電性の段付き円筒状の第1プランジャ41と、導電性の丸棒状の第2プランジャ42とを備えている。このコンタクトピン40の内部には、これら第1プランジャ41と第2プランジャ42とを相互に離間する方向に付勢するコイルスプリング(図示せず)が設けられている。   As shown in FIGS. 2A and 2B, the contact pin 40 includes a conductive stepped cylindrical first plunger 41 and a conductive round bar-shaped second plunger 42. Inside the contact pin 40, a coil spring (not shown) is provided for urging the first plunger 41 and the second plunger 42 in a direction away from each other.

第1プランジャ41は、外筒部41aと、該外筒部41aよりも小径の上側接触部41bとを有している。また、外筒部41aには突設部41cが設けられている。この突設部41cが、上側固定プレート14の上部挿通孔14bと下部挿通孔14cとの段差部14dに当接することで、コンタクトピン40の上方向への移動が規制される。更には、この突設部41cが、上側固定プレート14の下部挿通孔14cと下側固定プレート15の上部挿通孔15bとの段差部15dに当接することで、コンタクトピン40の下方向への移動が規制される。   The first plunger 41 has an outer cylindrical portion 41a and an upper contact portion 41b having a smaller diameter than the outer cylindrical portion 41a. The outer cylinder 41a is provided with a protruding part 41c. The upward movement of the contact pin 40 is regulated by the contact of the projecting portion 41c with the step 14d between the upper insertion hole 14b and the lower insertion hole 14c of the upper fixed plate 14. Further, the projecting portion 41c abuts on a step 15d between the lower insertion hole 14c of the upper fixed plate 14 and the upper insertion hole 15b of the lower fixed plate 15, whereby the contact pin 40 moves downward. Is regulated.

なお、この実施の形態1では、第1プランジャ41の外筒部41aを、挿通孔14aの上部挿通孔14bと略同径に形成したので、第1プランジャ41の下降時に(後述)、この第1プランジャ41の外筒部41aが上部挿通孔14bにガイドされ、そのため、この第1プランジャ41が鉛直方向から傾いてしまうことが無い。   In the first embodiment, the outer cylindrical portion 41a of the first plunger 41 is formed to have substantially the same diameter as the upper insertion hole 14b of the insertion hole 14a. The outer cylindrical portion 41a of the one plunger 41 is guided by the upper insertion hole 14b, so that the first plunger 41 does not tilt from the vertical direction.

また、この実施の形態1では、上側接触部41bを、この上部挿通孔14bよりも十分小さい径に形成した。これにより、第1プランジャ41の下降した際に、上側接触部41bが上側固定プレート14の上部挿通孔14bの周縁部に接触することを防止できる(後述)。   In the first embodiment, the upper contact portion 41b is formed to have a diameter sufficiently smaller than the upper insertion hole 14b. Thus, when the first plunger 41 is lowered, it is possible to prevent the upper contact portion 41b from contacting the peripheral portion of the upper insertion hole 14b of the upper fixing plate 14 (described later).

第2プランジャ42は、第1プランジャ41の外筒部41aに挿入され、その先端に下側接触部42aが設けられている。   The second plunger 42 is inserted into the outer cylindrical portion 41a of the first plunger 41, and a lower contact portion 42a is provided at a tip thereof.

次に、この実施の形態1に係るICソケット10の作用について、図2(a)及び(b)を用いて説明する。   Next, the operation of the IC socket 10 according to the first embodiment will be described with reference to FIGS.

このICソケット10にICパッケージ30を収容する際には、まず、ソケット本体11の収容面13aに、ICパッケージ30を収容し(図2(a)参照)、続いて、このICパッケージ30を上から押圧する。すると、コンタクトピン40のコイルスプリング(図示せず)が収縮して、このICパッケージ30が下降する。これにより、コンタクトピン40の第1プランジャ41の上側接触部41bがICパッケージ30の端子32に適切な接圧で圧接されるようになると共に、第2プランジャ42の下側接触部42aが配線基板20の電極21に適切な接圧で圧接されるようになる(図2(b)参照)。その結果、ICパッケージ30と配線基板20とを、十分に低く且つ安定した電気抵抗で、電気的に接続できるようになる。   When accommodating the IC package 30 in the IC socket 10, first, the IC package 30 is accommodated in the accommodating surface 13a of the socket body 11 (see FIG. 2A). Press from Then, the coil spring (not shown) of the contact pin 40 contracts, and the IC package 30 descends. Thus, the upper contact portion 41b of the first plunger 41 of the contact pin 40 is pressed against the terminal 32 of the IC package 30 with an appropriate contact pressure, and the lower contact portion 42a of the second plunger 42 is connected to the wiring board. The electrodes 20 are brought into pressure contact with an appropriate contact pressure (see FIG. 2B). As a result, the IC package 30 and the wiring board 20 can be electrically connected with a sufficiently low and stable electric resistance.

ここで、この実施の形態1では、ICパッケージ30の端子32及び第1プランジャ41の上側接触部41bを、上側固定プレート14の上部挿通孔14bよりも小径に形成した(上述)。このため、ICソケット10にICパッケージ30が収容された際に、これら端子32及び上側接触部41bが上部挿通孔14bの外縁部付近に接触することは無く、従って、これら端子32及び上側接触部41bが表面帯電防止層17と導通して、隣接するコンタクトピン40同士がショートすることも無い。   Here, in the first embodiment, the terminal 32 of the IC package 30 and the upper contact portion 41b of the first plunger 41 are formed to have a smaller diameter than the upper insertion hole 14b of the upper fixing plate 14 (described above). Therefore, when the IC package 30 is accommodated in the IC socket 10, the terminal 32 and the upper contact portion 41b do not come into contact with the vicinity of the outer edge of the upper insertion hole 14b. 41b is electrically connected to the surface antistatic layer 17, so that adjacent contact pins 40 are not short-circuited.

なお、表面帯電防止層17の形成材料として耐電圧特性が十分に高いものを使用する場合には、この表面帯電防止層17にICパッケージ30の端子32及び第1プランジャ41の上側接触部41bが接触しても、隣接するコンタクトピン40同士がショートすることは無い。但し、これら端子32及び上側接触部41bが表面帯電防止層17に接触しない構造を採用することで、耐電圧特性が低い材料で表面帯電防止層17を形成することが可能となり、これによって、表面帯電防止層17を形成する材料の選択の自由度を高めることができる。   When a material having a sufficiently high withstand voltage property is used as the material for forming the surface antistatic layer 17, the terminal 32 of the IC package 30 and the upper contact portion 41b of the first plunger 41 are attached to the surface antistatic layer 17. Even if they make contact, the adjacent contact pins 40 do not short-circuit. However, by adopting a structure in which the terminal 32 and the upper contact portion 41b do not contact the surface antistatic layer 17, it is possible to form the surface antistatic layer 17 with a material having a low withstand voltage characteristic. The degree of freedom in selecting a material for forming the antistatic layer 17 can be increased.

以上説明したように、この実施の形態1によれば、ソケット本体11に、板状の絶縁性部材16と表面帯電防止層17とを設けたので、表面帯電防止層17として耐電圧特性や強度、加工性等が不十分なものを使用しても、これらの特性が十分に優れたソケット本体11を得ることができる。このため、表面帯電防止層17を形成する材料の選択の自由度が増大して、帯電防止性、強度、加工性等の様々な特性に優れたソケット本体11を得ることが容易になる。   As described above, according to the first embodiment, the plate-shaped insulating member 16 and the surface antistatic layer 17 are provided on the socket body 11, so that the surface antistatic layer 17 has a withstand voltage characteristic and strength. Even if a material having insufficient workability or the like is used, a socket body 11 having sufficiently excellent properties can be obtained. For this reason, the degree of freedom in selecting a material for forming the surface antistatic layer 17 is increased, and it becomes easy to obtain the socket body 11 having various characteristics such as antistatic properties, strength, and workability.

加えて、ICパッケージ30の端子32やコンタクトピン40の上側接触部41bが表面帯電防止層17に接触しないように構成することにより、耐電圧特性が低い表面帯電防止層の使用を一層容易にでき、これにより、優れた帯電防止性能を有すると共に耐電圧特性や加工性等にも優れたソケット本体11を得ることをますます容易にできる。   In addition, by configuring the terminal 32 of the IC package 30 and the upper contact portion 41b of the contact pin 40 so as not to contact the surface antistatic layer 17, the use of the surface antistatic layer having low withstand voltage characteristics can be further facilitated. Thereby, it is possible to more easily obtain the socket body 11 having excellent antistatic performance and also excellent in withstand voltage characteristics and workability.

[発明の実施の形態2]
図3に、この発明の実施の形態2を示す。
[Embodiment 2]
FIG. 3 shows a second embodiment of the present invention.

この実施の形態2は、下側固定プレートに裏面帯電防止層を設けた点で、上述の実施の形態1と異なる。なお、図3において、図1及び図2と同じ符号を附した構成部分は、これらの図と同じものを示している。   The second embodiment is different from the first embodiment in that the lower stationary plate is provided with a back surface antistatic layer. Note that, in FIG. 3, components denoted by the same reference numerals as those in FIGS. 1 and 2 indicate the same components as those in these drawings.

すなわち、この実施の形態2に係る下側固定プレート50は、絶縁性部材51と裏面帯電防止層52とを備えている。   That is, the lower fixed plate 50 according to the second embodiment includes the insulating member 51 and the back surface antistatic layer 52.

絶縁性部材51の構造や形成材料は、例えば、上述の実施の形態1に係る絶縁性部材16と同じでよい。   The structure and material of the insulating member 51 may be the same as, for example, the insulating member 16 according to the first embodiment.

裏面帯電防止層52は、上述の実施の形態1における表面帯電防止層17と同様、例えば、炭素や金属等の導電性フィラーを、ガラスエポキシ樹脂に充填することで作製できる。また、裏面帯電防止層52の形成材料は、表面帯電防止層17と同様、その帯電防止性能を損なわない範囲内で絶縁性や強度等を備えたものを使用してもよい。   The back surface antistatic layer 52 can be produced, for example, by filling a glass epoxy resin with a conductive filler such as carbon or metal, similarly to the surface antistatic layer 17 in the first embodiment. Further, as the material for forming the back surface antistatic layer 52, as with the front surface antistatic layer 17, a material having insulation properties, strength, and the like may be used as long as the antistatic performance is not impaired.

この実施の形態2の下側固定プレート50は、例えば、ガラスエポキシ樹脂の層を積層することによって絶縁性部材51を形成した後、最後の層(裏面に露出する層)に導電性フィラーを充填して裏面帯電防止層52を形成することで、作製できる。但し、裏面帯電防止層52は、絶縁性部材51の裏面への塗布やメッキ等で形成してもよく、裏面帯電防止層52用の板材を形成した後で絶縁性部材51に貼り付けることとしてもよく、他の方法で形成しても良い。   In the lower fixing plate 50 of the second embodiment, for example, after the insulating member 51 is formed by laminating layers of glass epoxy resin, the last layer (layer exposed on the back surface) is filled with a conductive filler. By forming the back surface antistatic layer 52 in this way, it can be manufactured. However, the back surface antistatic layer 52 may be formed by coating or plating on the back surface of the insulating member 51, and may be attached to the insulating member 51 after forming a plate material for the back surface antistatic layer 52. Alternatively, it may be formed by another method.

下側固定プレート50の挿通孔50aは、絶縁性部材51上に裏面帯電防止層52を形成(或いは貼り付け等)した後で、これら絶縁性部材51及び裏面帯電防止層52に貫通孔を形成することで、得られる。   The through holes 50a of the lower fixing plate 50 are formed by forming (or attaching) the back surface antistatic layer 52 on the insulating member 51 and then forming through holes in the insulating member 51 and the back surface antistatic layer 52. By doing, it is obtained.

なお、裏面帯電防止層52の形成材料として耐電圧特性が十分に高いものを使用する場合には、この裏面帯電防止層52に、コンタクトピン40の第2プランジャ42に設けられた下側接触部42aが接触しても、隣接するコンタクトピン40同士がショートすることは無い。しかし、裏面帯電防止層52を形成する材料の選択の自由度を高めるためには、これらが接触しない構造を採用することが望ましい。   When a material having a sufficiently high withstand voltage characteristic is used as a material for forming the back surface antistatic layer 52, the lower contact portion provided on the second plunger 42 of the contact pin 40 is attached to the back surface antistatic layer 52. Even if 42a comes into contact, there is no short circuit between adjacent contact pins 40. However, in order to increase the degree of freedom in selecting a material for forming the back surface antistatic layer 52, it is desirable to adopt a structure in which these materials do not contact each other.

このように、この実施の形態2によれば、上述の実施の形態1と同様の効果に加え、裏面帯電防止層52を設けたので、ソケット本体11の裏面の帯電をも抑えることができる。例えば、ソケット本体11の裏面において、静電気が発生したために塵埃が付着し、この塵埃によって配線基板20の電極21が汚染されるといった不都合を回避できる。   As described above, according to the second embodiment, in addition to the effect similar to that of the first embodiment, since the back surface antistatic layer 52 is provided, the back surface of the socket body 11 can be suppressed from being charged. For example, it is possible to avoid the problem that dust adheres to the rear surface of the socket body 11 due to the generation of static electricity, and the dust contaminates the electrodes 21 of the wiring board 20.

[発明の実施の形態3]
図4に、この発明の実施の形態3を示す。
Third Embodiment of the Invention
FIG. 4 shows a third embodiment of the present invention.

この実施の形態3は、下側固定プレートの表面に中間面帯電防止層を設けた点で、上述の実施の形態1、2と異なる。なお、この中間面帯電防止層は、上側固定プレートの裏面に設けてもよく、更には、下側固定プレートの表面及び上側固定プレートの裏面の両方に設けても良い。図4において、図1乃至図3と同じ符号を附した構成部分は、これらの図と同じものを示している。   The third embodiment differs from the first and second embodiments in that an intermediate surface antistatic layer is provided on the surface of the lower fixed plate. The intermediate surface antistatic layer may be provided on the back surface of the upper fixed plate, or may be provided on both the front surface of the lower fixed plate and the back surface of the upper fixed plate. In FIG. 4, components denoted by the same reference numerals as those in FIGS. 1 to 3 indicate the same components as those in these drawings.

図4に示すように、この実施の形態3に係る下側固定プレート60は、絶縁性部材61と、中間面帯電防止層62と、裏面帯電防止層63とを備えている。   As shown in FIG. 4, the lower fixed plate 60 according to the third embodiment includes an insulating member 61, an intermediate surface antistatic layer 62, and a back surface antistatic layer 63.

絶縁性部材61の構造や形成材料は、例えば、上述の実施の形態1、2に係る絶縁性部材16,51と同じで良い。   The structure and forming material of the insulating member 61 may be the same as, for example, the insulating members 16 and 51 according to the first and second embodiments.

中間面帯電防止層62及び裏面帯電防止層63は、上述の実施の形態1における表面帯電防止層17と同様、例えば、炭素や金属等の導電性フィラーを、ガラスエポキシ樹脂に充填することで作製できる。また、中間面帯電防止層62及び裏面帯電防止層63の形成材料は、表面帯電防止層17と同様、その帯電防止性能を損なわない範囲内で絶縁性や強度等を備えたものを使用してもよい。   The intermediate surface antistatic layer 62 and the back surface antistatic layer 63 are produced by filling a glass epoxy resin with a conductive filler such as carbon or a metal, similarly to the surface antistatic layer 17 in the first embodiment. it can. As the material for forming the intermediate surface antistatic layer 62 and the back surface antistatic layer 63, a material having insulating properties and strength within a range that does not impair the antistatic performance, like the surface antistatic layer 17, is used. Is also good.

この実施の形態3の下側固定プレート60は、例えば、まず、導電性フィラーを充填したガラスエポキシ樹脂を用いて裏面帯電防止層63を形成し、続いて、導電性フィラーを充填しないガラスエポキシ樹脂の層を積層することによって絶縁性部材61を形成し、その後、導電性フィラーを充填したガラスエポキシ樹脂て中間面帯電防止層62を形成することで、作製できる。但し、中間面帯電防止層62及び裏面帯電防止層63は、絶縁性部材61の表裏両面への塗布やメッキ等で形成してもよく、中間面帯電防止層62及び裏面帯電防止層63用の板材を形成した後で絶縁性部材61に貼り付けることとしてもよく、他の方法で形成しても良い。   The lower fixing plate 60 according to the third embodiment is formed, for example, by first forming the back surface antistatic layer 63 using a glass epoxy resin filled with a conductive filler, and then using a glass epoxy resin not filled with a conductive filler. The insulating member 61 is formed by stacking the above layers, and then the intermediate surface antistatic layer 62 is formed by using a glass epoxy resin filled with a conductive filler. However, the intermediate surface antistatic layer 62 and the back surface antistatic layer 63 may be formed by coating or plating on both the front and back surfaces of the insulating member 61, and may be used for the intermediate surface antistatic layer 62 and the back surface antistatic layer 63. After the plate material is formed, it may be attached to the insulating member 61, or may be formed by another method.

下側固定プレート60の挿通孔60aは、絶縁性部材61の表裏両面に中間面帯電防止層62及び裏面帯電防止層63を形成(或いは貼り付け等)した後で、その下側固定プレート60に貫通孔を形成することで、得られる。   The insertion holes 60a of the lower fixing plate 60 are formed in the lower fixing plate 60 after the intermediate antistatic layer 62 and the back antistatic layer 63 are formed (or attached) on both front and back surfaces of the insulating member 61. It is obtained by forming a through hole.

なお、中間面帯電防止層62及び裏面帯電防止層63の形成材料として耐電圧特性が十分に高いものを使用する場合には、これら中間面帯電防止層62及び裏面帯電防止層63に、コンタクトピン40の第2プランジャ42に設けられた下側接触部42aが接触しても、隣接するコンタクトピン40同士がショートすることは無い。しかし、裏面帯電防止層52を形成する材料の選択の自由度を高めるためには、これらが接触しない構造を採用することが望ましい。   When a material having a sufficiently high withstand voltage characteristic is used as a material for forming the intermediate surface antistatic layer 62 and the back surface antistatic layer 63, the contact pin Even if the lower contact portion 42a provided on the second plunger 42 of the 40 contacts, the adjacent contact pins 40 do not short-circuit. However, in order to increase the degree of freedom in selecting a material for forming the back surface antistatic layer 52, it is desirable to adopt a structure in which these materials do not contact each other.

このように、この実施の形態3によれば、上述の実施の形態1と同様の効果に加え、中間面帯電防止層62及び裏面帯電防止層63を設けたので、ソケット本体11の中間面及び裏面の帯電をも抑えることができる。例えば、ソケット本体11の中間面や裏面において、静電気が発生したために塵埃が付着し、この塵埃によって配線基板20の電極21等が汚染されるといった不都合を回避できる。   As described above, according to the third embodiment, in addition to the same effects as those of the first embodiment, the intermediate surface antistatic layer 62 and the back surface antistatic layer 63 are provided. The charging on the back surface can also be suppressed. For example, it is possible to avoid inconvenience that dust adheres to the intermediate surface and the back surface of the socket body 11 due to generation of static electricity, and the dust contaminates the electrodes 21 of the wiring board 20.

なお、この実施の形態3では、下側固定プレート60に中間面帯電防止層62及び裏面帯電防止層63の両方を設ける場合を説明したが、中間面帯電防止層62のみを設け、裏面帯電防止層63は設けない構成としても良い。また、上述したように、上側固定プレート14の裏面に、中間面帯電防止層62を設けることとしてもよい。   In the third embodiment, the case where both the intermediate surface antistatic layer 62 and the back surface antistatic layer 63 are provided on the lower fixed plate 60 has been described. However, only the intermediate surface antistatic layer 62 is provided and the back surface antistatic layer is provided. A structure without the layer 63 may be employed. Further, as described above, the intermediate surface antistatic layer 62 may be provided on the back surface of the upper fixed plate 14.

[発明の実施の形態4]
図5に、この発明の実施の形態4を示す。
[Embodiment 4]
FIG. 5 shows a fourth embodiment of the present invention.

この実施の形態4は、ソケット本体11にフローティングプレートを設けると共に、このフローティングプレートに表面帯電防止層を設けた点で、上述の実施の形態1と異なる。なお、図5において、図1乃至図4と同じ符号を附した構成部分は、これらの図と同じものを示している。   The fourth embodiment differs from the first embodiment in that a floating plate is provided on the socket body 11 and a surface antistatic layer is provided on the floating plate. Note that, in FIG. 5, components denoted by the same reference numerals as those in FIGS. 1 to 4 indicate the same components as those in these drawings.

この実施の形態4において、上側固定プレート70は、絶縁性部材で構成されている。この絶縁性部材の形成材料は、例えば、上述の実施の形態1に係る上側固定プレート14の絶縁性部材16と同じで良い。   In the fourth embodiment, the upper fixing plate 70 is formed of an insulating member. The material for forming the insulating member may be the same as, for example, the insulating member 16 of the upper fixed plate 14 according to the first embodiment.

フローティングプレート80は、この上側固定プレート70上に配置され、板状の絶縁性部材81と、表面帯電防止層82とを備えている。   The floating plate 80 is disposed on the upper fixed plate 70 and includes a plate-shaped insulating member 81 and a surface antistatic layer 82.

絶縁性部材81は、例えば、上述の実施の形態1における絶縁性部材16と同様、ガラスエポキシ樹脂等で形成される。   The insulating member 81 is formed of, for example, a glass epoxy resin or the like, like the insulating member 16 in the first embodiment.

表面帯電防止層82は、上述の実施の形態1における表面帯電防止層17と同様、例えば、炭素や金属等の導電性フィラーを、ガラスエポキシ樹脂に充填することで作製できる。また、表面帯電防止層82の形成材料は、表面帯電防止層17と同様、その帯電防止性能を損なわない範囲内で絶縁性や強度等を備えたものを使用してもよい。   The surface antistatic layer 82 can be produced by filling a glass epoxy resin with a conductive filler such as carbon or metal, similarly to the surface antistatic layer 17 in the first embodiment. Further, as the material for forming the surface antistatic layer 82, similarly to the surface antistatic layer 17, a material having insulation properties, strength, and the like may be used as long as the antistatic performance is not impaired.

この実施の形態4のフローティングプレート80は、例えば、ガラスエポキシ樹脂の層を積層することによって絶縁性部材81を形成した後、最後の層(表面に露出する層)に導電性フィラーを充填して表面帯電防止層82を形成することで、作製できる。但し、表面帯電防止層82は、絶縁性部材81の表面への塗布やメッキ等で形成してもよく、表面帯電防止層82用の板材を形成した後で絶縁性部材81に貼り付けることとしてもよく、他の方法で形成しても良い。   In the floating plate 80 of the fourth embodiment, for example, after forming an insulating member 81 by laminating a layer of glass epoxy resin, the last layer (layer exposed on the surface) is filled with a conductive filler. It can be manufactured by forming the surface antistatic layer 82. However, the surface antistatic layer 82 may be formed by coating or plating on the surface of the insulating member 81, and may be attached to the insulating member 81 after forming a plate material for the surface antistatic layer 82. Alternatively, it may be formed by another method.

フローティングプレート80の挿通孔80aは、絶縁性部材81上に表面帯電防止層82を形成(或いは貼り付け等)した後で、これら絶縁性部材51及び表面帯電防止層82に貫通孔を形成することで、得られる。   The insertion hole 80a of the floating plate 80 is formed by forming (or attaching) a surface antistatic layer 82 on the insulating member 81 and then forming a through hole in the insulating member 51 and the surface antistatic layer 82. And is obtained.

この実施の形態4では、上述の実施の形態1と同様、ICパッケージ30の端子(この実施の形態4では、半田ボール33を使用した)及び第1プランジャ41の上側接触部41bを、フローティングプレート80の挿通孔80aよりも小径に形成した(後述)。このため、ICソケット10にICパッケージ30が収容されてフローティングプレート80が下降された際に、これら端子33及び上側接触部41bが挿通孔80aの外縁部付近に接触することは無く(図5(b)参照)、従って、これら端子32及び上側接触部41bが表面帯電防止層82と導通して、隣接するコンタクトピン40同士がショートすることも無い。   In the fourth embodiment, similarly to the first embodiment, the terminals of the IC package 30 (the solder balls 33 are used in the fourth embodiment) and the upper contact portion 41b of the first plunger 41 are connected to a floating plate. The hole 80 was formed to have a smaller diameter than the insertion hole 80a (described later). Therefore, when the IC package 30 is accommodated in the IC socket 10 and the floating plate 80 is lowered, the terminals 33 and the upper contact portion 41b do not come into contact with the vicinity of the outer edge of the insertion hole 80a (see FIG. Therefore, the terminal 32 and the upper contact portion 41b are electrically connected to the surface antistatic layer 82, and the adjacent contact pins 40 are not short-circuited.

なお、表面帯電防止層82の形成材料として耐電圧特性が十分に高いものを使用する場合には、この表面帯電防止層82に、コンタクトピン40の第1プランジャ41に設けられた上側接触部41bが接触しても、隣接するコンタクトピン40同士がショートすることは無い。しかし、表面帯電防止層82を形成する材料の選択の自由度を高めるためには、これらが接触しない構造を採用することが望ましい。   When a material having a sufficiently high withstand voltage characteristic is used as a material for forming the surface antistatic layer 82, the upper contact portion 41 b provided on the first plunger 41 of the contact pin 40 is attached to the surface antistatic layer 82. Contact, there is no short circuit between adjacent contact pins 40. However, in order to increase the degree of freedom in selecting a material for forming the surface antistatic layer 82, it is desirable to adopt a structure in which these are not in contact.

このように、この実施の形態4によれば、フローティングプレート80に表面帯電防止層82を設けたので、上述の実施の形態1と同様、表面帯電防止層82として耐電圧特性や強度、加工性等が不十分なものを使用しても、これらの特性が十分に優れたソケット本体11を得ることができる。このため、表面帯電防止層82を形成する材料の選択の自由度が増大して、帯電防止性、強度、加工性等の様々な特性に優れたソケット本体11を得ることが容易になる。   As described above, according to the fourth embodiment, since the surface antistatic layer 82 is provided on the floating plate 80, as in the first embodiment, the surface antistatic layer 82 has the withstand voltage characteristics, strength, and workability. Even if a material having insufficient properties is used, it is possible to obtain a socket body 11 having sufficiently excellent properties. For this reason, the degree of freedom in selecting a material for forming the surface antistatic layer 82 is increased, and it becomes easy to obtain the socket body 11 having various characteristics such as antistatic properties, strength, and workability.

加えて、ICパッケージ30の端子32やコンタクトピン40の上側接触部41bが表面帯電防止層82に接触しないように構成することにより、耐電圧特性が低い表面帯電防止層の使用をいっそう容易にし、これにより、優れた帯電防止性能を有すると共に耐電圧特性や加工性等にも優れたソケット本体11を得ることをますます容易にできる。   In addition, by configuring the terminal 32 of the IC package 30 and the upper contact portion 41b of the contact pin 40 so as not to contact the surface antistatic layer 82, the use of the surface antistatic layer having low withstand voltage characteristics is further facilitated, As a result, it is possible to more easily obtain the socket body 11 having excellent antistatic performance and also excellent in withstand voltage characteristics and workability.

なお、上記各実施の形態において、ソケット本体11における外枠部材12に、形成材料として各帯電防止層17、52、62、63、82に用いた帯電防止材料を配合したものを使用し、この外枠部材12を配線基板20上に配置することにより、ソケット本体11の収容面13aに発生した静電気を各帯電防止層17、52、62、63、82を通して、外枠部材12から配線基板20のグランド部へ逃がすようにしてもよい。   In each of the above embodiments, the outer frame member 12 of the socket body 11 is formed by mixing the antistatic materials used for the antistatic layers 17, 52, 62, 63, and 82 as the forming material. By disposing the outer frame member 12 on the wiring board 20, the static electricity generated on the housing surface 13 a of the socket body 11 passes through the respective antistatic layers 17, 52, 62, 63, 82 from the outer frame member 12 to the wiring board 20. May be allowed to escape to the ground portion.

10 ソケット
11 ソケット本体
12 外枠部材
13 コンタクトモジュール
13a 収容面
14,70 上側固定プレート
14a,15a,50a,60a,80a 挿通孔
14b 上部挿通孔
14c 下部挿通孔
15,50,60 下側固定プレート
15b 上部挿通孔
15c 下部挿通孔
16,51,61,71,81 絶縁性部材
17,82 表面帯電防止層
20 配線基板
21 電極
30 パッケージ
31 パッケージ本体
32 端子
40 コンタクトピン
41 第1プランジャ
41a 外筒部
41b 上側接触部
41c 突設部
42 第2プランジャ
42a 下側接触部
52,63 裏面帯電防止層
62 中間面帯電防止層
80 フローティングプレート
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Socket 11 Socket main body 12 Outer frame member 13 Contact module 13a Housing surface 14, 70 Upper fixed plate 14a, 15a, 50a, 60a, 80a Insertion hole 14b Upper insertion hole 14c Lower insertion hole 15, 50, 60 Lower fixed plate 15b Upper insertion hole 15c Lower insertion hole 16, 51, 61, 71, 81 Insulating member 17, 82 Surface antistatic layer 20 Wiring board 21 Electrode 30 Package 31 Package body 32 Terminal 40 Contact pin 41 First plunger 41a Outer cylinder 41b Upper contact portion 41c Projecting portion 42 Second plunger 42a Lower contact portion 52, 63 Back antistatic layer 62 Intermediate surface antistatic layer 80 Floating plate

Claims (3)

配線基板上に配置され、
電気部品が収容されるソケット本体を有し、
該ソケット本体には、伸縮自在のコンタクトピンが配設され、
該コンタクトピンを介して、該ソケット本体に収容された該電気部品の端子を、該配線基板の電極に電気的に接続する電気部品用ソケットであって、
前記ソケット本体は、板状の絶縁性部材と、帯電防止材料で形成されて該絶縁性部材の表面に設けられた表面帯電防止層とを備え、
該ソケット本体の該絶縁性部材及び該表面帯電防止層には、それぞれ、前記コンタクトピンを配設する挿通孔が、略同径に連通形成され、
前記ソケット本体の前記挿通孔を、前記電気部品の前記端子よりも大径に形成すると共に、
前記コンタクトピンの、該電気部品の該端子に当接される接触部を、該挿通孔よりも小径に形成することにより、
該電気部品を前記ソケット本体に収容し、前記電気部品が前記表面帯電防止層に接触した状態において、前記電気部品の前記端子と前記表面帯電防止層とが電気的に接触しないように構成すると共に、
前記コンタクトピンの前記接触部と前記表面帯電防止層とが電気的に接触しないように構成した、
ことを特徴とする電気部品用ソケット。
Placed on the wiring board,
Having a socket body in which electrical components are housed,
An extendable contact pin is disposed on the socket body,
An electrical component socket for electrically connecting a terminal of the electrical component housed in the socket body to an electrode of the wiring board via the contact pin,
The socket body includes a plate-shaped insulating member, and a surface antistatic layer formed of an antistatic material and provided on a surface of the insulating member,
In each of the insulating member and the surface antistatic layer of the socket body, an insertion hole for disposing the contact pin is formed so as to communicate with substantially the same diameter,
The insertion hole of the socket body is formed with a larger diameter than the terminal of the electric component,
By forming the contact portion of the contact pin, which is in contact with the terminal of the electric component, with a smaller diameter than the insertion hole,
The electric component is housed in the socket body, and in a state where the electric component is in contact with the surface antistatic layer, the terminal of the electric component and the surface antistatic layer are configured not to make electrical contact with each other. ,
The contact portion of the contact pin and the surface antistatic layer were configured not to make electrical contact,
A socket for an electrical component, characterized in that:
前記ソケット本体の、前記配線基板と対向する面に、帯電防止材料で形成された裏面帯電防止層が設けられたことを特徴とする請求項1に記載の電気部品用ソケット。 The electrical component socket according to claim 1 , wherein a back surface antistatic layer made of an antistatic material is provided on a surface of the socket body facing the wiring board . 前記ソケット本体は、上側プレートと下側プレートとを少なくとも備え、
該上側プレートの表面に前記表面帯電防止層が設けられると共に、該上側プレートの裏面又は該下側プレートの表面の少なくとも一方に、帯電防止材料で形成された中間面帯電防止層が設けられた、
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の電気部品用ソケット。
The socket body includes at least an upper plate and a lower plate,
The surface antistatic layer is provided on the surface of the upper plate, and an intermediate surface antistatic layer formed of an antistatic material is provided on at least one of the back surface of the upper plate or the surface of the lower plate,
The electrical component socket according to claim 1 or 2, wherein
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