JP6624563B2 - Dimension measurement method - Google Patents
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Description
本発明は、寸法測定方法に関する。 The present invention relates to a dimension measuring method.
従来、宅配物等の被測定物を収容する直方体の収容室と、収容室の上面の一頂点に固定される撮像部と、撮像部で撮像された被測定物の画像に対して画像処理を行う画像処理部と、を備えた寸法測定装置が知られている(例えば特許文献1参照)。 Conventionally, a rectangular parallelepiped accommodation room for accommodating an object to be measured such as a home delivery object, an imaging unit fixed to one vertex of an upper surface of the accommodation room, and image processing on the image of the object measured by the imaging unit. 2. Description of the Related Art A dimension measurement device including an image processing unit for performing the measurement is known (for example, see Patent Document 1).
特許文献1に記載の寸法測定装置では、撮像部で撮像した画像に歪みが発生すると、精度良く被測定物のサイズを得ることが困難であった。
In the dimension measurement device described in
上記従来の問題点に鑑みて発明された本発明の目的は、精度良く被測定物のサイズが得られる、寸法測定方法を提供することである。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention, which has been invented in view of the above-mentioned conventional problems, is to provide a dimension measuring method capable of accurately obtaining the size of an object to be measured.
上記目的を達成するために、本発明に係る一態様の寸法測定方法は、以下のような構成を備える。 In order to achieve the above object, a dimension measuring method according to one embodiment of the present invention has the following configuration.
寸法測定装置は、被測定物を出し入れ自在に収容する収容室と、前記収容室に設けられ、前記収容室に収容される前記被測定物を撮像する撮像部と、を備える。前記寸法測定装置は、前記撮像部で撮像された画像の情報に基づいて画像処理を行ない前記被測定物のサイズを測定する画像処理部を備える。 The dimension measuring device includes a storage chamber that accommodates an object to be measured in a removable manner, and an imaging unit that is provided in the accommodation chamber and captures an image of the object to be measured that is accommodated in the accommodation chamber. The dimension measuring device includes an image processing unit that performs image processing based on information on an image captured by the imaging unit and measures the size of the device under test.
前記収容室は、前記被測定物が置かれる矩形状の下面部と、前記下面部から上方に延出される矩形状の第1側面部と、前記下面部から上方に延出され、前記第1側面部に隣接する矩形状の第2側面部と、を有する。前記収容室は、前記下面部および前記第1側面部で形成される第1入隅と、前記下面部および前記第2側面部で形成される第2入隅と、前記第1側面部および前記第2側面部で形成される第3入隅と、を有する。前記収容室は、前記第1入隅、前記第2入隅および前記第3入隅が交差した部分に形成され、前記被測定物を所定位置に配置する基準点となる基準隅部を有する。前記収容室は、前記第1側面部、前記第2側面部および前記下面部の辺の位置を表示するマーカーを有する。前記収容室は、前記マーカーとして、第1マーカーと、第2マーカーと、第3マーカーと、を有する。前記第1マーカーは、前記第1側面部において前記第3入隅に沿うライン及び前記第1入隅に平行なラインを有する矩形枠状をしている。前記第2マーカーは、前記第2側面部において前記第3入隅に沿うライン及び前記第2入隅に平行なラインを有する矩形枠状をしている。前記第3マーカーは、前記下面部において前記第1入隅に沿うライン及び前記第2入隅に平行なラインを有する矩形枠状をしている。
The storage chamber has a rectangular lower surface on which the object to be measured is placed, a rectangular first side surface extending upward from the lower surface, and an upper extending from the lower surface, and A second side portion having a rectangular shape adjacent to the side portion. The accommodation room is provided with a first corner formed by the lower surface and the first side surface, a second corner formed by the lower surface and the second side surface, And a third corner formed by the second side surface. The accommodation room has a reference corner formed at a portion where the first entry corner, the second entry corner, and the third entry corner intersect, and serves as a reference point for arranging the device under test at a predetermined position. The storage chamber has a marker that indicates a position of a side of the first side surface, the second side surface, and the lower surface. The accommodation room has a first marker, a second marker, and a third marker as the markers. The first marker has a rectangular frame shape having a line along the third corner and a line parallel to the first corner on the first side surface portion. The second marker has a rectangular frame shape having a line along the third corner and a line parallel to the second corner on the second side surface. The third marker has a rectangular frame shape having a line along the first corner and a line parallel to the second corner on the lower surface.
前記画像処理部は、前記収容室に前記被測定物が配置される前の状態で、前記撮像部で撮像した前記画像に対して二値化を行なうことで二値画像を作成し、前記二値画像内の前記マーカーを識別する。前記画像処理部は、前記マーカーから前記二値画像内の前記第1側面部、前記第2側面部および前記下面部の辺に対応するエッジを識別して、前記エッジの歪みを基に歪み補正用データを作成する。前記画像処理部は、前記収容室に前記被測定物が配置された状態で、前記撮像部で撮像した前記画像に対して二値化を行なうことで二値画像を作成する。前記画像処理部は、前記二値画像内で識別された前記被測定物のエッジの歪みを前記歪み補正用データを基に補正することで補正画像を取得する。前記画像処理部は、前記補正画像の前記第1側面部、前記第2側面部および前記下面部に対応する面内を走査することで前記被測定物のサイズを測定することを特徴とする。 The image processing unit creates a binary image by performing binarization on the image captured by the imaging unit in a state before the object to be measured is arranged in the storage room. Identify the marker in the value image. The image processing unit identifies edges corresponding to the sides of the first side surface, the second side surface, and the bottom surface in the binary image from the marker, and corrects distortion based on the distortion of the edge. Create data for use. The image processing unit creates a binary image by performing binarization on the image captured by the imaging unit in a state where the object to be measured is arranged in the accommodation room. The image processing unit acquires a corrected image by correcting distortion of an edge of the device under test identified in the binary image based on the distortion correction data. The image processing unit may measure a size of the device under test by scanning an area corresponding to the first side surface, the second side surface, and the lower surface of the corrected image.
本発明の寸法測定方法では、撮像部で撮像した画像の歪みを除去し易いので、精度良く被測定物のサイズを測定できる。 According to the dimension measuring method of the present invention, since the distortion of the image captured by the imaging unit can be easily removed, the size of the measured object can be accurately measured.
<実施形態>
以下に示す本発明の一実施形態は、特に、収容室内にマーカーを設けた寸法測定方法に関する。
<Embodiment>
One embodiment of the present invention described below particularly relates to a dimension measuring method in which a marker is provided in an accommodation room.
(構成の説明)
以下、添付した図1〜図8に基づき本実施形態の寸法測定方法について説明する。
(Description of configuration)
Hereinafter, the dimension measuring method according to the present embodiment will be described with reference to FIGS.
寸法測定装置1は、宅配物等の被測定物50のサイズを測定する。ここで、被測定物50のサイズとは、被測定物50の縦、横および高さの寸法となっている。被測定物50の形状は、立方体または直方体となっている。
The dimension measuring
寸法測定装置1は、図1に示すように、収容室11を備える。
As shown in FIG. 1, the
収容室11は、寸法測定装置1の外郭を構成する外郭体111と、外郭体111の内側に形成される内部空間112と、を有する。外郭体111の形状は、直方体である。外郭体111は、下壁部20、側壁部21および上壁部25を有する。ここで、外郭体111の側壁部21には、被測定物50を内部空間112に出し入れさせるための開口である出入口261が形成される。
The
本実施形態の寸法測定装置1では、出入口261が設けられる側を前方F、その反対側を後方Bとする。そして、ユーザーが寸法測定装置1の出入口261に向かって立ったときを基準として、右方R、左方Lを定義する。ここで、被測定物50の縦の寸法は、被測定物50の前後方向の寸法とする。被測定物50の横の寸法は、被測定物50の左右方向の寸法とする。被測定物50の高さの寸法は、被測定物50の上下方向の寸法とする。
In the
下壁部20は、その形状が下方から視て矩形状に形成される。下壁部20の内部空間112側(上側)の面は、下面部201である。下面部201には、被測定物50が置かれる。
The
側壁部21は、右壁部22、左壁部23および後壁部24を有する。右壁部22は下壁部20の右側端部から上方に延出される。左壁部23は下壁部20の左側端部から上方に延出される。後壁部24は下壁部20の後側端部から上方に延出される。
The
右壁部22は、右方から視て矩形状に形成される。右壁部22において、その内部空間112側(左側)の面を右面部221とする。左壁部23は、左方から視て矩形状に形成される。左壁部23において、その内部空間112側(右側)の面を左面部231とする。後壁部24は、後方から視て矩形状に形成される。後壁部24において、その内部空間112側(前側)の面を後面部241とする。
The
上壁部25は、右壁部22の上縁部、左壁部23の上縁部および後壁部24の上縁部に接続される。上壁部25は、上方から視て矩形状に形成される。上壁部25において、その内部空間112側(下側)の面を上面部251とする。
The
外郭体111は、前方Fに開口した直方体状であり、その前方Fへの開口を出入口261とする。外郭体111には、出入口261を開閉する扉が設けられる。扉は、右壁部22の前側端部に取り付けられ、右壁部22の前側端部を軸262として回転する。扉は、閉じた状態において、前方から視て矩形状に形成される。また、扉は、閉じた状態において、外郭体111の前壁部26を構成する。扉において、その内部空間112側(後側)の面を前面部263とする。
The
収容室11の内部空間112は、下面部201、右面部221、左面部231、後面部241、上面部251および前面部263で囲まれて形成される。内部空間112は、直方体状に形成される。以下の記載において、後面部241を第1側面部242と記載し、左面部231を第2側面部232と記載する。
The
外郭体111は、下面部201と第1側面部242とが交差した部分に形成される第1入隅12を有する。外郭体111は、下面部201と第2側面部232とが交差した部分に形成される第2入隅13を有する。外郭体111は、第1側面部242と第2側面部232とが交差した部分に形成される第3入隅14を有する。外郭体111において、第1入隅12、第2入隅13および第3入隅14が交差した部分を基準隅部15とする。
The
収容室11では、被測定物50を所定位置に配置するための基準となる基準点が基準隅部15に設定される。
In the
収容室11では、基準隅部15に合わせて置かれた被測定物50は、下面部201、第1側面部242および第2側面部232に接触することで、縦位置、横位置および高さ位置の位置決めが行われる。この位置決めされた被測定物50の位置が、被測定物50の所定位置となる。
In the
収容室11の内面には、図1に示すように、マーカー16が設けられる。マーカー16は、第1側面部242、第2側面部232および下面部201に設けられる。第1側面部242に設けられるマーカー16を第1マーカー161とし、第2側面部232に設けられるマーカー16を第2マーカー162とし、下面部201に設けられるマーカー16を第3マーカー163とする。
As shown in FIG. 1, a
マーカー16は、矩形枠状となっている。第1側面部242において、第1マーカー161は第3入隅14に沿うラインが引かれ、その上端部および下端部のそれぞれから第1入隅12に平行なラインが引かれ、それぞれのラインの右端部を繋ぐラインが引かれる。
The
第2側面部232において、第2マーカー162は第3入隅14に沿うラインが引かれ、その上端部および下端部のそれぞれから第2入隅13に平行なラインが引かれ、それぞれのラインの前端部を繋ぐラインが引かれる。
In the second
下面部201において、第3マーカー163は第1入隅12に沿うラインが引かれ、その左端部および右端部のそれぞれから第2入隅13に平行なラインが引かれ、それぞれのラインの前端部を繋ぐラインが引かれる。
In the
本実施形態の第1マーカー161、第2マーカー162および第3マーカー163は、同じ色調であるが、それぞれの色調は異なった色調である方が好ましい。ここで、色調とは、色の明度と彩度などの色の調子のことを意味する。
Although the
寸法測定装置1には、図1に示すように、収容室11に撮像部3が設置される。撮像部3は、収容室11の内部を全体的に撮像できる位置に配置される。本実施形態の寸法測定装置1では、撮像部3が基準隅部15の対角となる上面部251、右面部221および前面部263で形成される隅部に設置される。
As shown in FIG. 1, the
撮像部3は、カメラ本体31と、照明具32と、を有する。
The
カメラ本体31には、収容室11内の全体を撮像可能なカメラが用いられる。特に、カメラ本体31には、被測定物50、下面部201、第1側面部242および第2側面部232のそれぞれの全体を撮像可能なカメラが用いられる。カメラ本体31には、CCD(Charge-Coupled Device)カメラが用いられる。カメラ本体31では、収容室11内の全体を撮影し易いように広角レンズが用いられる。
As the
照明具32は、カメラ本体31の制御部と電気的に接続される。照明具32は、収容室11内を明るくする。特に、照明具32は、被測定物50、第1入隅12、第2入隅13、第3入隅14、第1マーカー161、第2マーカー162および第3マーカー163を、カメラ本体31に明瞭に撮像させるために用いられる。照明具32には、白色LED(Light Emitting Diode)が用いられる。
The
寸法測定装置1は、図2に示すように、画像処理部4を有する。画像処理部4は、マイクロコンピューターを備える。マイクロコンピューターは、CPU(Central Processing Unit)、メモリ等を有する。マイクロコンピューターは、メモリに格納されたプログラムをCPUが実行することにより制御を行なう。
The
画像処理部4では、撮像部3で撮像された画像に対して画像処理が行われる。また、画像処理部4は、メモリに格納された被測定物50の画像の補正を行うプログラムを有する補正モード41を有する。
The image processing unit 4 performs image processing on the image captured by the
画像処理部4は、収容室11に被測定物が配置される前の状態で、下面部201、第1側面部242、第2側面部232およびマーカー16を撮像部3で撮像させることで原画像を取得する。この原画像に基づいて図3に示す補正モード41がステップS1で開始される。
The image processing unit 4 causes the
補正モード41は、ステップS2において、原画像(グレースケール画像)に対しノイズ除去を行なう。そして、ノイズ除去をした画像の情報の一つである輝度値に基づいてフィルター処理が行われる。
In the
補正モード41は、ステップS3において、フィルター処理が行われた画像に対して二値化が行なわれることで、エッジを検出する。このような処理を行なった画像を二値画像42(図4参照)とする。二値画像42は、二次元画像である。二値画像42のデータは、画像処理部4のメモリに格納される。
In the
補正モード41は、ステップS4において、事前に取得していたマーカー16の形状や輝度値の情報により、二値画像42内のマーカー16をパターンマッチングにより識別する。
In the
補正モード41は、ステップS5において、識別された第1マーカー161、第2マーカー162および第3マーカー163から、二値画像42内の第1側面部242、第2側面部232および下面部201の辺を識別する。ここで、補正モード41では、二値画像42内のエッジA1〜A9が識別される。
In the
補正モード41は、ステップ6において、歪み補正前の二値画像42と歪み補正後の二値画像42の座標を関連付ける、光軸中心座標、焦点距離、レンズ歪み係数などで構成される内部パラメーターを調整する。内部パラメーターは、例えば、マス目サイズが既知のチェッカーボードの撮影画像における、チェッカーボードのパターンの交点の位置を検出し、交点の間隔が均等になるように内部パラメーターを算出する。補正モードでは、ステップ6において、この事前に求めた内部パラメーターをサイズが既知の収容室11に用いてさらに収容室11に対して最適になるように調整する。この場合、内部パラメータが歪み補正用データとなる。
In the
補正モード41は、ステップS7において、内部パラメーターを用いてエッジA1〜A9の歪みを補正し、エッジA1〜A9を直線状とすることで、図5に示す補正した二値画像42を取得する。なお、本実施形態では補正モード41の方法として内部パラメーターを用いる公知の方法(例えば特開2015−35685号公報)を用いたが、他の公知の方法(例えば後述する特開2011−25428号公報)を用いてもよい。
In the
次に、補正モード41は、ステップ8において、収容室11の所定位置に被測定物50が配置された状態で、下面部201、第1側面部242、第2側面部232、マーカー16および被測定物50を撮像部3で撮像させることで測定用画像を取得する。そして、補正モード41は、測定用画像に対してノイズ除去、フィルター処理および二値化を行なうことで、図6Aに示すような二値画像42を取得する。
Next, in the
補正モード41は、ステップ9において、図6Bに示すように、内部パラメーター(歪み補正用データ)を用いてエッジA1〜A9、被測定物50のエッジT1〜T8の歪みを補正する。
6B, in the
このようにして、補正モード41は、測定用画像内のエッジA1〜A9,エッジT1〜T8を補正した図6Bに示す補正画像44を取得する。
In this manner, the
次に、画像処理部4では、補正モード41で補正された二値画像42に対して画像処理が行われ、図7に示す被測定物50のサイズを測定するサイズ測定モード43が行なわれる。
Next, the image processing unit 4 performs image processing on the
サイズ測定モード43は、ステップS8において、同次座標を用いた射影変換処理を行うことで、図6Bに示す、被測定物50が配置された補正した二値画像42の第1側面部242を右斜め前方から視た側面図(図8A参照)を得る。さらに、サイズ測定モード43は、補正した二値画像42の下面部201を上方から視た第1平面図(図8B参照)、補正した二値画像42の下面部201を上方から視た第2平面図(図8C参照)を得る。
The
サイズ測定モード43は、ステップS13において、側面図のエッジA3の長さ方向に沿って並ぶピクセルを走査する。このとき、図8Aに示すように、エッジA9からエッジT8までのピクセル数に基づく長さとエッジA9からエッジA2までのピクセル数に基づく長さとの差である第1変化量H1を求める。
In the
サイズ測定モード43は、また、第1平面図のエッジA2の長さ方向に沿って並ぶピクセルを走査する。このとき、図8Bに示すように、エッジA5からエッジT5までのピクセル数に基づく長さとエッジA5からエッジA1までのピクセル数に基づく長さとの差である第2変化量H2を求める。
The
サイズ測定モード43は、第2平面図のエッジA1の長さ方向に沿って並ぶピクセルを走査する。このとき、図8Cに示すように、エッジA4からエッジT4までのピクセル数に基づく長さとエッジA4からエッジA2までのピクセル数に基づく長さとの差である第3変化量H3を求める。
The
サイズ測定モード43では、図7に示すステップS14において、図6Bに示す補正した二値画像42内のエッジA3のピクセル数に基づく長さと実際の第3入隅14の長さとの比から、第1変化量H1に基づいて被測定物50の高さが求まる。また、同様に第2変化量H2に基づいて被測定物50の縦の長さ、第3変化量H3に基づいて被測定物50の横の長さが求まる。
In the
なお、補正モード41の他例として、図9に示す歪みの補正方法がある。
As another example of the
この補正モード41では、ステップS16〜ステップS20が上記したステップS1〜ステップS5と同様であるので、説明を省略する。
In the
補正モード41は、ステップS21において、エッジA1〜A9とエッジA1〜A9に対応する直線とを比較しその直線に対する歪み量Yを求める。例えば、エッジA6に対して直線である仮想線Cを重ね合わせる(図10参照)ことで歪み量Yが求められる。そして、補正モード41は、ステップS22において、この歪み量Yに基づいてエッジA6を直線とする補正係数Kを求める。補正モード41は、他のエッジに対しても同様のことを行ない、それぞれの補正係数Kを求める。
In the
補正モード41は、ステップS23において、それぞれの補正係数KからエッジA1〜A9の歪みを補正し、エッジA1〜A9を直線状とすることで、図6Bに示す補正した二値画像42を取得する。この場合、補正係数Kが歪み補正用データとなる。
In the
なお、画像処理部4で識別されたエッジのうちエッジA1,エッジA2,エッジA3は、撮像部3が広角レンズを用いて撮像したとしても歪み難く直線となっているため、エッジA1〜A3を用いて歪み量Yを求めてもよい。
The edges A1, A2, and A3 among the edges identified by the image processing unit 4 are straight lines that are hardly distorted even when the
次に、補正モード41は、ステップ24において、収容室11の所定位置に被測定物50が配置された状態で、下面部201、第1側面部242、第2側面部232、マーカー16および被測定物50を撮像部3で撮像させることで図6Aに示す測定用画像を取得する。
Next, in the
補正モード41は、ステップ25において、補正係数K(歪み補正用データ)を用いることで、図6Bに示すように、エッジA1〜A9、被測定物50のエッジT1〜T8の歪みを補正する。
The
エッジA1〜A9は、それぞれに対応する補正係数Kで補正する。エッジT1の補正係数Kは、例えば、エッジA3とエッジA6に対するエッジT1の位置関係と、エッジA3の補正係数KおよびエッジA6の補正係数Kと、を比例関係とみて求める。そして、他のエッジT2〜T8に関しても同様に、エッジA1〜A9のうちの二つのエッジに対する位置関係に基づいて、補正係数Kを決定する。 The edges A1 to A9 are corrected by the corresponding correction coefficients K. The correction coefficient K of the edge T1 is determined, for example, as a proportional relation between the positional relationship of the edge T1 with respect to the edges A3 and A6, and the correction coefficient K of the edge A3 and the correction coefficient K of the edge A6. Then, for the other edges T2 to T8, similarly, the correction coefficient K is determined based on the positional relationship with respect to two of the edges A1 to A9.
なお、エッジT1〜T8の補正係数の決定の方法は上記した方法に限定されない。 Note that the method of determining the correction coefficients of the edges T1 to T8 is not limited to the method described above.
本実施形態の寸法測定装置1の構成は、上記した一態様に限定されず、以下に示す態様であってもよい。
The configuration of the
補正モード41では、撮像部3で撮像した画像のノイズ除去が移動平均フィルターやメディアンフィルターで行われてもよい。
In the
補正モード41のフィルター処理では、例えば一次差分オペレータとして、SobelフィルターやPrewittフィルターが用いられる。また、フィルター処理では、二次差分オペレータが用いられてもよい。
In the filter processing in the
補正モード41では、フィルター処理が行われた画像の二値化が、移動平均法による二値化や、閾値を二つ用いた二値化であってもよい。
In the
マーカー16の形状は、円状や矩形状に限定されず、他の多角形であってもよい。
The shape of the
被測定物50の形状は、立方体または直方体に限定されず、撮像部3で撮像される三面の形状が略矩形状であればよい。
The shape of the device under
外郭体111の形状は、直方体となっているが立方体でもよく、その形状は限定されない。また、部分的に突起を有するような形状でもよい。
The shape of the
内部空間112の形状は、直方体状となっているが立方体状であってもよく、その形状は限定されない。
The shape of the
基準隅部15は、下面部201、右面部221、左面部231、後面部241および前面部263で形成される4つの隅部の内のいずれか1つの隅部であればよい。
The
カメラ本体31は、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)カメラでもよい。
The
撮像部3では、撮像する画像はグレースケールでもよいし、カラーでもよい。ここで、撮像部3で撮像する画像がカラーの場合、画像処理を行う際にグレースケール画像への変換をすることが好ましい。
In the
撮像部3では、カメラ本体31の制御部と照明具32とが接続され、照明具32のON・OFFは、カメラ本体31の制御部で操作されているが、照明具32と画像処理部4とが接続され、画像処理部4で照明具32を操作してもよい。
In the
撮像部3では、カメラ本体31の制御部と照明具3262とが無線で接続されてもよい。
In the
撮像部3では、カメラ本体31と照明具32とは別体で設けられてもよい。
In the
照明具32には、蛍光灯や電球や他の色のLEDが用いられてもよい。なお、照明具32は、画像処理部4において、カメラ本体31で撮像した画像のエッジが検出され易い色や明るさであることが好ましい。
As the
画像処理部4のCPUには、公知の様々なマイクロコンピューターが適宜利用可能される。 Various known microcomputers can be used as appropriate for the CPU of the image processing unit 4.
(効果)
上記した寸法測定装置1で用いられる寸法測定方法では、マーカー16を用いることで容易に二値画像42内の下面部201、第1側面部242および第2側面部232の辺に対応するエッジA1〜A9を識別し易い。そのため、二値画像42内のエッジA1〜A9,エッジT1〜T8の歪みを補正するための処理が容易になるので、被測定物50のサイズの測定を早めることができる。
(effect)
In the dimension measuring method used in the above-described
また、第1マーカー161、第2マーカー162および第3マーカー163の色調を変えることで、下面部201、第1側面部242および第2側面部232の辺に対応するエッジA1〜A9をより識別し易くなる。
Further, by changing the color tone of the
以上説明したように、本実施形態の寸法測定方法は以下に示す構成を備える。 As described above, the dimension measuring method of the present embodiment has the following configuration.
本実施形態の寸法測定方法は、次の第1の特徴を備える。第1の特徴では、被測定物50を出し入れ自在に収容する収容室11と、収容室11に設けられ、収容室11に収容される被測定物50を撮像する撮像部3と、を備える。撮像部3で撮像された画像の情報に基づいて画像処理を行ない被測定物50のサイズを測定する画像処理部4と、を備える。
The dimension measuring method according to the present embodiment has the following first feature. The first feature is provided with a
収容室11は、被測定物50が置かれる矩形状の下面部201と、下面部201から上方に延出される矩形状の第1側面部242と、下面部201から上方に延出され、第1側面部242に隣接する矩形状の第2側面部232と、を有する。収容室11は、下面部201および第1側面部242で形成される第1入隅12と、下面部201および第2側面部232で形成される第2入隅13と、第1側面部242および第2側面部232で形成される第3入隅14と、を有する。収容室11は、第1入隅12、第2入隅13および第3入隅14が交差した部分に形成され、被測定物50を所定位置に配置する基準点となる基準隅部15を有する。収容室11は、第1側面部242、第2側面部232および下面部201の辺の位置を表示するマーカー16を有する。
The
画像処理部4は、収容室11に被測定物50が配置される前の状態で、撮像部3で撮像した画像に対して二値化を行なうことで二値画像42を作成する。画像処理部4は、二値画像42内のマーカー16を識別し、マーカー16から二値画像42内の第1側面部242、第2側面部232および下面部201の辺に対応するエッジA1〜A9を識別して、エッジA1〜A9の歪みを基に歪み補正用データを作成する。画像処理部4は、収容室11に被測定物50が配置された状態で、撮像部3で撮像した画像に対して二値化を行なうことで二値画像42を作成する。画像処理部4は、二値画像42内で識別された被測定物50のエッジT1〜T8の歪みを歪み補正用データを基に補正することで補正画像44を取得する。画像処理部4は、補正画像44の第1側面部242、第2側面部232および下面部201に対応する面内を走査することで被測定物50のサイズを測定する。
The image processing unit 4 creates a
第1の特徴を有する寸法測定方法では、マーカー16を用いることで、容易に二値画像42内の歪みを補正することができる。
In the dimension measuring method having the first feature, the distortion in the
第1の特徴を有する寸法測定方法は、以下の付加的な第2の特徴を有する。第2の特徴では、収容室11は、第1側面部242および第2側面部232の上縁から延出される矩形状の上面部251と、第1側面部242に対向し、被測定物50を出し入れするための出入口261と、を有する。
The dimension measuring method having the first characteristic has the following additional second characteristic. In the second feature, the
撮像部3は、上面部251の出入口261側の端部における基準隅部15とは反対側の端部に設けられる。
The
第2の特徴を有する寸法測定方法では、下面部201、第1側面部242、第2側面部232、被測定物50およびマーカー16の全体を撮像部3が撮像し易くなる。
(マーカーの他例)
上記した実施形態の寸法測定装置1の設けられるマーカー16は、例えば図11に示すような態様であってもよい(これを他例とする)。本他例の寸法測定装置1は、特に、マーカー16の形状に関する。
In the dimension measuring method having the second feature, the
(Other examples of markers)
The
収容室11の内面には、図11Aに示すように、複数のマーカー16が設けられてもよい。ここで、マーカー16は、円状となっている。第1マーカー161は、第1側面部242に複数設けられる。第1マーカー161は、第1側面部242の四隅に設けられる。第2マーカー162は、第2側面部232の四隅に設けられる。第3マーカー163は、下面部201の四隅に設けられる。
As shown in FIG. 11A, a plurality of
また、収容室11の内面には、図11Bに示すように、複数のマーカー16が設けられてもよい。ここで、マーカー16は、円状となっているが、図9Aとは異なり下面部201の四隅に設けられる第3マーカー163が円の内部に色が塗られていない。
Further, a plurality of
また、収容室11の内面には、図11Cに示すように、複数のマーカー16が設けられてもよい。ここで、マーカー16は、円状となっている。第1マーカー161は、第1側面部242の第3入隅14とは反対側の両端部に設けられる。第2マーカー162は、第2側面部232の第3入隅14とは反対側の端部の両端部に設けられる。第3マーカー163は、下面部201に設けられていない。
Further, a plurality of
1 寸法測定装置
11 収容室
12 第1入隅
13 第2入隅
14 第3入隅
15 基準隅部
16 マーカー
201 下面部
232 第2側面部
242 第1側面部
3 撮像部
4 画像処理部
42 二値画像
44 補正画像
50 被測定物
A1〜A9 エッジ
T1〜T8 エッジ
DESCRIPTION OF
Claims (2)
前記収容室は、前記被測定物が置かれる矩形状の下面部と、前記下面部から上方に延出される矩形状の第1側面部と、前記下面部から上方に延出され、前記第1側面部に隣接する矩形状の第2側面部と、前記下面部および前記第1側面部で形成される第1入隅と、前記下面部および前記第2側面部で形成される第2入隅と、前記第1側面部および前記第2側面部で形成される第3入隅と、前記第1入隅、前記第2入隅および前記第3入隅が交差した部分に形成され、前記被測定物を所定位置に配置する基準点となる基準隅部と、前記第1側面部、前記第2側面部および前記下面部の辺の位置を表示するマーカーと、を有し、
前記マーカーとして、前記第1側面部において前記第3入隅に沿うライン及び前記第1入隅に平行なラインを有する矩形枠状をした第1マーカーと、前記第2側面部において前記第3入隅に沿うライン及び前記第2入隅に平行なラインを有する矩形枠状をした第2マーカーと、前記下面部において前記第1入隅に沿うライン及び前記第2入隅に平行なラインを有する矩形枠状をした第3マーカーと、を有し、
前記画像処理部は、前記収容室に前記被測定物が配置される前の状態で、前記撮像部で撮像した前記画像に対して二値化を行なうことで二値画像を作成し、前記二値画像内の前記マーカーを識別し、前記マーカーから前記二値画像内の前記第1側面部、前記第2側面部および前記下面部の辺に対応するエッジを識別して、前記エッジの歪みを基に歪み補正用データを作成し、前記収容室に前記被測定物が配置された状態で、前記撮像部で撮像した前記画像に対して二値化を行なうことで二値画像を作成し、前記二値画像内で識別された前記被測定物のエッジの歪みを前記歪み補正用データを基に補正することで補正画像を取得し、前記補正画像の前記第1側面部、前記第2側面部および前記下面部に対応する面内を走査することで前記被測定物のサイズを測定することを特徴とする寸法測定方法。 A storage chamber that accommodates the object to be measured in and out, an imaging unit that is provided in the accommodation room and captures an image of the object to be measured that is accommodated in the accommodation room, and based on information of an image captured by the imaging unit. An image processing unit that performs image processing to measure the size of the device under test,
The storage chamber has a rectangular lower surface on which the object to be measured is placed, a rectangular first side surface extending upward from the lower surface, and an upper extending from the lower surface, and A rectangular second side surface portion adjacent to the side surface portion, a first corner formed by the lower surface portion and the first side surface portion, and a second corner formed by the lower surface portion and the second side surface portion A third corner formed by the first side surface and the second side surface and a portion where the first corner, the second corner and the third corner intersect, and A reference corner that serves as a reference point for arranging the measurement object at a predetermined position, and a marker that displays a position of a side of the first side surface, the second side surface, and the lower surface,
The marker includes a first marker having a rectangular frame shape having a line along the third corner and a line parallel to the first corner in the first side surface, and a third marker in the second side surface. A rectangular frame-shaped second marker having a line along a corner and a line parallel to the second corner; and a line along the first corner and a line parallel to the second corner on the lower surface. A third marker having a rectangular frame shape,
The image processing unit creates a binary image by performing binarization on the image captured by the imaging unit in a state before the object to be measured is arranged in the storage room. Identifying the marker in the value image, identifying the edges corresponding to the sides of the first side surface, the second side surface, and the lower surface in the binary image from the marker, and correcting the distortion of the edge. Create distortion correction data based on, in a state where the object to be measured is arranged in the storage room, to create a binary image by performing binarization on the image captured by the imaging unit, A corrected image is obtained by correcting distortion of the edge of the device under test identified in the binary image based on the distortion correction data, and the first side surface portion and the second side surface of the corrected image are obtained. The object to be measured is scanned by scanning in a plane corresponding to the part and the lower part. Dimension measuring method characterized by measuring the size.
前記撮像部は、前記上面部の出入口側の端部における前記基準隅部とは反対側の端部に設けられることを特徴とする請求項1に記載の寸法測定方法。 The storage chamber has a rectangular upper surface portion extending from upper edges of the first side surface portion and the second side surface portion, and an entrance facing the first side surface portion for taking in and out the object to be measured. , And
2. The method according to claim 1, wherein the imaging unit is provided at an end of the upper surface on the entrance side opposite to the reference corner. 3.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016032502A JP6624563B2 (en) | 2016-02-23 | 2016-02-23 | Dimension measurement method |
CN201680076223.3A CN108474647B (en) | 2015-12-25 | 2016-12-16 | Dimension measuring device, parcel cabinet system and dimension measuring method |
PCT/JP2016/005154 WO2017110071A1 (en) | 2015-12-25 | 2016-12-16 | Size measurement device, delivery box apparatus, and size measurement method |
EP16877976.7A EP3396310B1 (en) | 2015-12-25 | 2016-12-16 | Dimension measurement device, parcel locker system and dimension measurement method |
US16/062,714 US10748297B2 (en) | 2015-12-25 | 2016-12-16 | Dimension measurement device, parcel locker system, and dimension measurement method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016032502A JP6624563B2 (en) | 2016-02-23 | 2016-02-23 | Dimension measurement method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017150908A JP2017150908A (en) | 2017-08-31 |
JP6624563B2 true JP6624563B2 (en) | 2019-12-25 |
Family
ID=59741633
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016032502A Active JP6624563B2 (en) | 2015-12-25 | 2016-02-23 | Dimension measurement method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6624563B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7037250B2 (en) * | 2018-09-20 | 2022-03-16 | 株式会社 日立産業制御ソリューションズ | Object measuring equipment, object measuring method and object measuring system |
JPWO2020217651A1 (en) * | 2019-04-25 | 2020-10-29 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01141307A (en) * | 1987-11-27 | 1989-06-02 | Nishiyama:Kk | Method and device for measuring volume |
JP3661073B2 (en) * | 1996-11-27 | 2005-06-15 | 富士通株式会社 | Imaging parameter measuring method and apparatus, and recording medium |
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-
2016
- 2016-02-23 JP JP2016032502A patent/JP6624563B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017150908A (en) | 2017-08-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20170124 |
|
A621 | Written request for application examination |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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