JP6598194B2 - Sensing device - Google Patents
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Description
本発明は、被検体の物理量を検出するセンシング装置に関する。 The present invention relates to a sensing device that detects a physical quantity of a subject.
従来、圧電体による弾性表面波(SAW:Surface Acoustic Wave)の発生作用を利用して、被検体の物理量を検出するセンシング技術が存在し、その具体例が、例えば、特許文献1、2に記載されている。
特許文献1には、入力電極に電気信号を与えて圧電体に弾性表面波を発生させ、出力電極で生じた電気信号を基に、弾性表面波の速度を計測し、センシングを行う方法が記載されている。特許文献2には、入力電極に電気信号を与えて圧電体に弾性表面波を発生させ、出力電極で生じた電気信号を利用してセンシングを行う方法が記載されている。
Conventionally, there has been a sensing technique for detecting a physical quantity of an object by using a surface acoustic wave (SAW) generated by a piezoelectric body, and specific examples thereof are described in, for example,
しかしながら、入力電極に電気信号を入力した際、その電気信号のエネルギーの一部は、空間中に電磁波として出力され、出力電極は、空間中の電磁波を受信して電気信号に変換することがあり、出力電極で生じる電気信号を基に、被検体の物理量を検出する特許文献1、2に記載の方法は、安定的な検出を行えないという課題がある。
本発明は、かかる事情に鑑みてなされるもので、圧電体に生じる弾性表面波を利用して、被検体の物理量を安定的に計測するセンシング装置を提供することを目的とする。
However, when an electrical signal is input to the input electrode, part of the energy of the electrical signal is output as electromagnetic waves in the space, and the output electrode may receive electromagnetic waves in the space and convert them into electrical signals. The methods described in
The present invention has been made in view of such circumstances, and an object of the present invention is to provide a sensing device that stably measures a physical quantity of a subject by using a surface acoustic wave generated in a piezoelectric body.
前記目的に沿う本発明に係るセンシング装置は、圧電体に弾性表面波を発生させて、該圧電体に接触させた被検体の物理量を求めるセンシング装置において、前記被検体の接触位置を通過する前記弾性表面波を、前記圧電体に発生させる入力電極と、前記圧電体を進む前記弾性表面波の進行路の前記接触位置より下流側に設けられた光反射片と、前記光反射片に光を照射する照射手段と、前記圧電体に前記被検体が接触している状態で、前記光反射片で前記光が反射して生じるr次回折光及びs次回折光の各強度を計測する光検出手段と、計測された前記r次回折光及び前記s次回折光の各強度を基に前記弾性表面波の振幅を算出し、前記被検体の物理量を求める演算機とを備える。 The sensing device according to the present invention that meets the above-described object is a sensing device that generates a surface acoustic wave in a piezoelectric body to obtain a physical quantity of the subject that is in contact with the piezoelectric body, and that passes through the contact position of the subject. An input electrode for generating a surface acoustic wave in the piezoelectric body, a light reflecting piece provided on the downstream side of the contact position of the traveling path of the surface acoustic wave traveling through the piezoelectric body, and light on the light reflecting piece Irradiating means for irradiating ; and light detecting means for measuring the intensities of the r-th order diffracted light and the s-th order diffracted light generated when the light is reflected by the light reflecting piece in a state where the subject is in contact with the piezoelectric body. A calculator that calculates the amplitude of the surface acoustic wave based on the measured intensities of the r-order diffracted light and the s-order diffracted light, and obtains the physical quantity of the subject.
本発明に係るセンシング装置において、前記光反射片は、平行配置された複数の金属線部を備えるのが好ましい。 In the sensing device according to the present invention, it is preferable that the light reflecting piece includes a plurality of metal wire portions arranged in parallel.
本発明に係るセンシング装置において、前記演算機は、前記接触位置に前記被検体が接触した状態で計測された前記r次回折光及び前記s次回折光の各強度を基に算出した前記弾性表面波の振幅と、前記圧電体に前記被検体が非接触な状態で計測された前記r次回折光及び前記s次回折光の各強度を基に算出した前記弾性表面波の振幅との差異から、前記被検体の物理量を求めるのが好ましい。 In the sensing device according to the present invention, the computing unit may calculate the surface acoustic wave calculated based on the intensities of the r-order diffracted light and the s-order diffracted light measured in a state where the subject is in contact with the contact position. From the difference between the amplitude and the amplitude of the surface acoustic wave calculated based on the intensities of the r-th order diffracted light and the s-th order diffracted light measured in a state where the subject is not in contact with the piezoelectric body, It is preferable to determine the physical quantity of
本発明に係るセンシング装置において、前記r次回折光は0次回折光であり、前記s次回折光は1次回折光であるのが好ましい。 In the sensing device according to the present invention, it is preferable that the r-order diffracted light is zero-order diffracted light, and the s-order diffracted light is first-order diffracted light.
本発明に係るセンシング装置は、圧電体の弾性表面波の進行路の接触位置より下流側で光が反射して生じるr次回折光及びs次回折光の各強度を計測する光検出手段と、計測されたr次回折光及びs次回折光の各強度を基に弾性表面波の振幅を算出し、被検体の物理量を求める演算機とを備えるので、被検体の物理量の導出に、空間中の電磁波を受信して生成され得る電気信号を用いる必要がなく、被検体の物理量を安定的に計測することが可能である。 The sensing device according to the present invention is measured by light detecting means for measuring the intensities of the r-th order diffracted light and the s-th order diffracted light generated by reflecting light downstream from the contact position of the surface acoustic wave traveling path of the piezoelectric body. And an arithmetic unit for calculating the physical quantity of the subject based on the intensities of the r-th order diffracted light and the s-order diffracted light and receiving the electromagnetic wave in the space to derive the physical quantity of the subject. Thus, it is not necessary to use an electrical signal that can be generated in this manner, and the physical quantity of the subject can be stably measured.
続いて、添付した図面を参照しつつ、本発明を具体化した実施の形態につき説明し、本発明の理解に供する。
図1、図2に示すように、本発明の一実施の形態に係るセンシング装置10は、圧電体11に弾性表面波Wを発生させて、圧電体11に接触させた被検体Tの物理量を求める装置である。以下、これらについて詳細に説明する。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings for understanding of the present invention.
As shown in FIG. 1 and FIG. 2, the
センシング装置10は、図1に示すように、表面に被検体Tが載せられる圧電体11、圧電体11に弾性表面波Wを発生させる入力電極12、圧電体11の表面に向かって光を照射する照射手段13、光の強度を計測する光検出手段14、及び、被検体Tの物理量を求める演算機15を備えている。
圧電体11は、図1、図2に示すように、外部から電界を与えられて歪が生じる素材を用いて、矩形の板状に形成されている。本実施の形態の圧電体11の素材は、ニオブ酸リチウムであるが、これに限定されず、例えば、チタン酸ジルコン酸鉛やタングステン酸ナトリウムであってもよい。
As shown in FIG. 1, the
As shown in FIGS. 1 and 2, the
圧電体11の表面には、長手方向両側に、それぞれ入力電極12及び光反射片16が取り付けられ、入力電極12と光を反射する光反射片16の間に、被検体Tが配置される。以下、圧電体11の表面において、被検体Tが接触する位置を接触位置Pとする。なお、本実施の形態においては、被検体Tに液体を用いているが、被検体Tは、固体やゲルであってもよく、固体やゲルの場合も、被検体Tを圧電体11に接触させることに変わりはない。
The
入力電極12は、対となる金属製の櫛歯部材17、18を有し、櫛歯部材17、18は、平行配置された複数の金属線部19及び同じく平行配置された複数の金属線部20をそれぞれ具備している。櫛歯部材17、18は、金属線部19、20が、圧電体11の長手方向に沿って、交互に配されるように設けられ、櫛歯部材17、18に、電気信号を出力する信号生成器21が接続されている。
信号生成器21は、演算機15に信号接続され、演算機15から送信される指令信号に応じて、電気信号を出力する。演算機15は、信号生成器21の動作の制御も担う電子コンピュータによって構成されている。
The
The
信号生成器21から櫛歯部材17、18に電気信号を出力することで、櫛歯部材17、18間を中心に電界が発生して、圧電体11に歪が生じ、圧電体11の表面には、入力電極12から接触位置Pを通過して光反射片16に向かう弾性表面波Wが発生する。即ち、入力電極12は、電気信号を与えられて、接触位置Pを通過する弾性表面波Wを圧電体11に生じさせる。
弾性表面波Wは、接触位置Pを通過の際に、接触位置Pに設けられた被検体Tにエネルギーの一部が吸収され、振幅が小さくなる。
By outputting an electrical signal from the
When the surface acoustic wave W passes through the contact position P, part of the energy is absorbed by the subject T provided at the contact position P, and the amplitude is reduced.
光反射片16は、図2に示すように、入力電極12と同様に、対となる金属製の櫛歯部材22、23を有し、櫛歯部材22、23は、平行配置された複数の金属線部24及び平行配置された複数の金属線部25をそれぞれ具備し、金属線部24、25は、圧電体11の長手方向に沿って、交互に配されている。櫛歯部材22、23には、図1に示すように、弾性表面波Wの波形を検知する波形測定器26が接続されている。光反射片16に圧電体11を伝わる弾性表面波Wが達することによって、光反射片16において電気信号が発生する。波形測定器26は、光反射片16で発生する電気信号を計測することによって光反射片16に到達した弾性表面波Wの発生を検出することができる。
As shown in FIG. 2, the
照射手段13は、圧電体11から離れた位置から圧電体11の表面に対して斜め方向に光(本実施の形態では、レーザー光)を照射するように配置されている。照射手段13には、演算機15から与えられる指令信号に応じて照射手段13を制御する制御機27、及び、照射手段13に電気エネルギーを供給する電源28が接続されている。
照射手段13は、図示しない支持部材によって支持されて、レーザー光が光反射片16に照射されるように、照射方向が調整されている。従って、照射手段13は、圧電体11上を伝わる弾性表面波Wの進行路の接触位置Pより下流側にレーザー光を照射することになる。
The irradiation means 13 is arranged so as to irradiate light (in this embodiment, laser light) in an oblique direction with respect to the surface of the
The
光反射片16は、レーザー光の径より大きく、櫛歯部材22、23に到達したレーザー光を全反射する。圧電体11は、透光性を有するため、櫛歯部材22、23の間(例えば、隣り合う金属線部24、25の間)の圧電体11の表面に到達したレーザー光は、一部が反射され、残りが圧電体11内に進入する。
櫛歯部材22、23及び圧電体11表面のレーザー光が当たる領域においては、弾性表面波Wによって周期的な歪が発生するため、当該領域でレーザー光が反射することで、光の回折が生じる。以下、光の回折と弾性表面波の関係について説明する。
The
In the region where the comb-
レーザー光を、図3に示すように、圧電体の表面の0≦x≦Lの範囲に、入射角φ(歪が生じていない圧電体の表面に対する角度)で進む複数の光線として扱うと、弾性表面波により歪が発生している圧電体表面に対しては、各光線の反射光に、図4(A)、(B)にそれぞれ示すように、圧電体表面の変位による光路差△l1と圧電体表面の傾きによる光路差△l2が生じる。
△l1及び△l2は、aを弾性表面波の振幅、ω1を弾性表面波の角周波数、θを圧電体11表面の傾きによる反射光の反射角の変位、λを光の波長、kをk=2πcosφ/λの値として、それぞれ以下の式1、式2で表わされる。
As shown in FIG. 3, when the laser light is treated as a plurality of light beams traveling at an incident angle φ (an angle with respect to the surface of the piezoelectric body having no distortion) in a range of 0 ≦ x ≦ L of the surface of the piezoelectric body, With respect to the piezoelectric body surface that is distorted by the surface acoustic wave, as shown in FIGS. 4A and 4B, the optical path difference Δl due to the displacement of the piezoelectric body surface is reflected in the reflected light of each light beam. 1 and an optical path difference Δl 2 due to the inclination of the piezoelectric surface.
Δl 1 and Δl 2 are: a is the amplitude of the surface acoustic wave, ω 1 is the angular frequency of the surface acoustic wave, θ is the displacement of the reflection angle of the reflected light due to the tilt of the surface of the
従って、反射光の振幅A(θ)は、jnをn次のベッセル関数、Kを弾性表面波の波数、Λを弾性表面波の波長、K=2π/Λ、ω=(4πa/λ)cosφとして、以下の式3で表わされる。
Therefore, the amplitude A (θ) of the reflected light is such that j n is an nth-order Bessel function, K is the wave number of the surface acoustic wave, Λ is the wavelength of the surface acoustic wave, K = 2π / Λ, ω = (4πa / λ) Cosφ is expressed by the following
そして、βnを以下の式4で定義した値とすると、A(θ)は、以下の式5で表わされる。
If β n is a value defined by the following
また、反射光によるn次回折光(n次回折波)の強度In(θ)は、以下の式6で表わされ、n=0の0次回折光(0次回折波)は、θ=0で強度が最大となり、n=1の1次回折光(1次回折波)は、θ=±K/kで強度が最大となる。
Further, the intensity I n (θ) of the nth- order diffracted light (nth-order diffracted wave) due to the reflected light is expressed by the following
0次回折光の強度の最大値に対する1次回折光の強度の最大値の関係は、以下の式7で表わされるから、レーザー光の入射角、レーザー光の波長、0次回折光の強度及び1次回折光の強度を基にして、弾性表面波の振幅を算出可能であることが解る。 Since the relationship between the maximum value of the first-order diffracted light and the maximum value of the zero-order diffracted light is expressed by the following Equation 7, the incident angle of the laser light, the wavelength of the laser light, the intensity of the zero-order diffracted light, and the first-order diffracted light It can be seen that the amplitude of the surface acoustic wave can be calculated based on the intensity of the.
本実施の形態では、図1に示すように、光検出手段14が、光反射片16(即ち、圧電体11の弾性表面波Wの進行路上で、接触位置Pの下流側に設けられている光反射片16)でレーザー光が反射して生じる0次回折光及び1次回折光を検出する受光部29、及び、受光部29で検出された0次回折光及び1次回折光の各強度を計測する測定部30を備えている。測定部30は、デジタルマルチメータ31を介して接続された演算機15に対し、0次回折光及び1次回折光の各強度の計測値を送る。なお、受光部29は、1つである必要がなく、例えば、2つであってもよい。
In the present embodiment, as shown in FIG. 1, the light detection means 14 is provided on the downstream side of the contact position P on the light reflection piece 16 (that is, on the traveling path of the surface acoustic wave W of the piezoelectric body 11). A
ここで、入力電極12に与える電気信号の大きさを基にして、圧電体11の材質や形状等から、被検体Tが非接触な状態の圧電体11に生じる弾性表面波Wの振幅の大きさを算出することは、理論上、可能である。そして、圧電体11を伝わる弾性表面波Wが被検体Tに吸収されるエネルギー量は、被検体Tの物理量(例えば、濃度、粘度、分子量)に応じて決まり、被検体Tにエネルギーを吸収されたことによる弾性表面波Wの振幅の変化量は、被検体Tによって吸収されたエネルギー量の大きさに応じて決まる。
従って、被検体Tのエネルギーの吸収によって小さくなった弾性表面波Wの振幅の変化量が導出できれば、被検体Tの物理量を検知可能である。
Here, based on the magnitude of the electrical signal applied to the
Therefore, the physical quantity of the subject T can be detected if the amount of change in the amplitude of the surface acoustic wave W that has become smaller due to the absorption of the energy of the subject T can be derived.
演算機15は、記憶していたレーザー光の入射角及びレーザー光の波長と、光検出手段14によって計測された0次回折光及び1次回折光の各強度を基に、式7を用いて、被検体Tにエネルギーを吸収された(即ち、被検体Tが接触位置Pに接触した状態の)弾性表面波Wの振幅を算出し、エネルギーを吸収されていない(即ち、被検体Tが非接触な状態の)弾性表面波Wの振幅と被検体Tにエネルギーを吸収された弾性表面波Wの振幅の差異から被検体Tの物理量を求める。
この被検体Tの物理量の算出には、弾性表面波を出力電極によって電気信号に変換した値が用いられていないため、出力電極が空間中の電磁波を受信する点について影響を受けることはない。
Based on the stored incident angle of the laser beam, the wavelength of the laser beam, and the intensities of the 0th-order diffracted light and the 1st-order diffracted light measured by the
In calculating the physical quantity of the subject T, a value obtained by converting a surface acoustic wave into an electrical signal by the output electrode is not used, so that the output electrode is not affected by the point of receiving electromagnetic waves in the space.
また、本実施の形態では、入力電極12に与える電気信号の大きさを基に、被検体Tが非接触な状態の圧電体11に生じる弾性表面波Wの振幅の大きさを算出する代わりに、圧電体11に被検体Tが非接触な状態で、0次回折光の強度及び1次回折光の強度を計測して、被検体Tが非接触な状態の圧電体11に生じる弾性表面波Wの振幅の大きさを求めるようにしている。そのようにすることで、被検体Tが非接触な状態の圧電体11に生じる弾性表面波Wの振幅の大きさについて、入力電極12に与える電気信号の大きさから算出した値と実際の値の間に生じ得る差異を検討する必要がなくなる。
In the present embodiment, instead of calculating the magnitude of the amplitude of the surface acoustic wave W generated in the
以下、本実施の形態における被検体Tの物理量を求める手順について説明する。
まず、光検出手段14が、圧電体11に被検体Tが非接触な状態で、0次回折光の強度及び1次回折光の強度を計測し、演算機15が、計測された0次回折光の強度及び1次回折光の強度を基に、式7を用いて、弾性表面波Wの振幅(以下、「第1の振幅」とも言う)を算出する。次に、光検出手段14が、圧電体11の接触位置Pに被検体Tが接触した状態で、0次回折光の強度及び1次回折光の強度を計測し、演算機15が、計測された0次回折光の強度及び1次回折光の強度を基に、式7を用いて、弾性表面波Wの振幅(以下、「第2の振幅」とも言う)を算出する。そして、演算機15は、第1の振幅と第2の振幅の差異から、被検体Tの物理量を求める。
Hereinafter, a procedure for obtaining the physical quantity of the subject T in the present embodiment will be described.
First, the light detection means 14 measures the intensity of the 0th-order diffracted light and the intensity of the 1st-order diffracted light in a state where the subject T is not in contact with the
なお、弾性表面波の振幅は、0次回折光の強度及び1次回折光の強度以外の回折光の組み合わせによっても算出できることから、演算機15は、r次回折光及びs次回折光の各強度を基に、被検体Tの物理量を求めることが可能である。但し、r、sは、0もしくは自然数で、r≠sである。
n次回折光は、nの値が大きくなると、強度が弱まる傾向があることから、0次回折光及び1次回折光の各強度を採用することは、被検体Tの物理量を安定的に求める点において、好適である。
Since the amplitude of the surface acoustic wave can be calculated by a combination of diffracted light other than the intensity of the 0th-order diffracted light and the intensity of the 1st-order diffracted light, the
Since the n-th order diffracted light tends to decrease in intensity as the value of n increases, adopting the respective intensities of the 0th-order diffracted light and the first-order diffracted light is to obtain the physical quantity of the subject T stably. Is preferred.
また、照射手段13によるレーザー光の照射は、図5に示すように、圧電体11を進む弾性表面波Wの進行路の接触位置Pより下流側に対してなされればよく、光反射片16に対してなされる必要はない。これは、圧電体11表面にレーザー光を照射した際にも、r次回折光及びs次回折光が生じるためである。従って、弾性表面波の振幅を基に被検体の物理量を算出する点において、光反射片16は必ずしも必要ではない。
Further, as shown in FIG. 5, the irradiation of the laser beam by the
ここまで、被検体が液体、固体及びゲルの場合について説明したが、被検体は気体であってもよい。
被検体として気体を採用する場合は、圧電体11に被検体である気体が触れていない状態で、0次回折光及び1次回折光の各強度を基に算出した弾性表面波Wの振幅と、被検体である気体の雰囲気内に圧電体11の接触位置Pを配した状態(即ち、圧電体11の接触位置Pに被検体が接触した状態)で、0次回折光及び1次回折光の各強度を基に算出した弾性表面波Wの振幅とから、被検体の物理量が求められる。
なお、液体が被検体であるセンシング装置として、例えば、バイオセンサーが挙げられ、気体が被検体であるセンシング装置として、例えば、ガスセンサーが挙げられる。また、固体の被検体の一例として、半導体が考えられる。
So far, the case where the subject is a liquid, a solid, and a gel has been described, but the subject may be a gas.
When a gas is adopted as the subject, the amplitude of the surface acoustic wave W calculated based on the intensities of the 0th-order diffracted light and the first-order diffracted light in a state where the subject gas is not touching the
In addition, as a sensing apparatus whose liquid is a test object, a biosensor is mentioned, for example, As a sensing apparatus whose gas is a test object, a gas sensor is mentioned, for example. Further, a semiconductor is considered as an example of a solid object.
次に、本発明の作用効果を確認するために行った実験について説明する。
本実験においては、試料を載せた圧電体に、入力電極に与える電気信号の大きさを変えて弾性表面波を発生させ、1次回折光の強度を計測した。
試料は、濃度が7.3wt%、19.3wt%、28.9wt%のグルコースであり、試料ごとに1次回折光の強度を計測した結果を図6のグラフに示す。
Next, an experiment conducted for confirming the effect of the present invention will be described.
In this experiment, a surface acoustic wave was generated by changing the magnitude of an electric signal applied to the input electrode on the piezoelectric body on which the sample was placed, and the intensity of the first-order diffracted light was measured.
The sample is glucose having a concentration of 7.3 wt%, 19.3 wt%, and 28.9 wt%. The graph of FIG. 6 shows the result of measuring the intensity of the first-order diffracted light for each sample.
図6のグラフにおいて、縦軸は、1次回折光の強度を示している。同グラフの横軸は、入力電極に与えた電気信号の大きさを意味するが、これは、弾性表面波の振幅に換算できるため、「表面波振幅」として記載している。
実験結果より、1次回折光の強度が、試料の濃度(物理量の一つ)に依存していること(即ち、異なる弾性表面波の振幅において、各試料の1次回折光の強度の関係が一様であること)が解り、回折光の強度から、試料の濃度が求められることが明らかとなった。
In the graph of FIG. 6, the vertical axis represents the intensity of the first-order diffracted light. The horizontal axis of the graph represents the magnitude of the electric signal applied to the input electrode, but this is described as “surface wave amplitude” because it can be converted into the surface acoustic wave amplitude.
From the experimental results, the intensity of the first-order diffracted light depends on the concentration of the sample (one of the physical quantities) (that is, the relationship of the intensity of the first-order diffracted light of each sample is uniform at different surface acoustic wave amplitudes). It was revealed that the concentration of the sample was obtained from the intensity of the diffracted light.
以上、本発明の実施の形態を説明したが、本発明は、上記した形態に限定されるものでなく、要旨を逸脱しない条件の変更等は全て本発明の適用範囲である。
例えば、圧電体は、矩形の板状である必要はない。
また、光反射片を用いる場合、光反射片は、複数の金属線部を備えたものである必要はなく、例えば、光反射片に金属製のシートを採用してもよい。
更に、圧電体に照射する光はレーダー光でなくてもよく、例えは、アーク放電を利用した高輝度放電ランプを用いてもよい。但し、レーザー光を用いた場合、センシング装置のコンパクト化及び設計の簡素化を図ることが可能である。
Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and all changes in conditions and the like that do not depart from the gist are within the scope of the present invention.
For example, the piezoelectric body does not need to have a rectangular plate shape.
Moreover, when using a light reflection piece, the light reflection piece does not need to be provided with the some metal wire part, For example, you may employ | adopt a metal sheet | seat for a light reflection piece.
Further, the light applied to the piezoelectric body may not be radar light. For example, a high-intensity discharge lamp using arc discharge may be used. However, when a laser beam is used, the sensing device can be made compact and the design can be simplified.
10:センシング装置、11:圧電体、12:入力電極、13:照射手段、14:光検出手段、15:演算機、16:光反射片、17、18:櫛歯部材、19、20:金属線部、21:信号生成器、22、23:櫛歯部材、24、25:金属線部、26:波形測定器、27:制御機、28:電源、29:受光部、30:測定部、31:デジタルマルチメータ、P:接触位置、T:被検体、W:弾性表面波 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10: Sensing apparatus, 11: Piezoelectric body, 12: Input electrode, 13: Irradiation means, 14: Light detection means, 15: Calculator, 16: Light reflection piece, 17, 18: Comb member, 19, 20: Metal Line part, 21: Signal generator, 22, 23: Comb member, 24, 25: Metal line part, 26: Waveform measuring instrument, 27: Controller, 28: Power supply, 29: Light receiving part, 30: Measuring part, 31: Digital multimeter, P: Contact position, T: Subject, W: Surface acoustic wave
Claims (4)
前記被検体の接触位置を通過する前記弾性表面波を、前記圧電体に発生させる入力電極と、
前記圧電体を進む前記弾性表面波の進行路の前記接触位置より下流側に設けられた光反射片と、
前記光反射片に光を照射する照射手段と、
前記圧電体に前記被検体が接触している状態で、前記光反射片で前記光が反射して生じるr次回折光及びs次回折光の各強度を計測する光検出手段と、
計測された前記r次回折光及び前記s次回折光の各強度を基に前記弾性表面波の振幅を算出し、前記被検体の物理量を求める演算機とを備えることを特徴とするセンシング装置。 In a sensing device for generating a surface acoustic wave in a piezoelectric body and obtaining a physical quantity of an object in contact with the piezoelectric body,
An input electrode that causes the piezoelectric body to generate the surface acoustic wave that passes through the contact position of the subject;
A light reflecting piece provided on the downstream side of the contact position of the traveling path of the surface acoustic wave traveling through the piezoelectric body ;
Irradiating means for irradiating the light reflecting piece with light;
A light detection means for measuring the intensities of the r-th order diffracted light and the s-th order diffracted light generated by reflecting the light on the light reflecting piece in a state where the subject is in contact with the piezoelectric body ;
A sensing device comprising: a computing unit that calculates an amplitude of the surface acoustic wave based on the measured intensities of the r-order diffracted light and the s-order diffracted light, and obtains a physical quantity of the subject.
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