JP6579983B2 - 高エネルギービーム溶接品質判定方法、その判定方法を利用した品質判定装置、その判定方法を利用した溶接管理システム - Google Patents

高エネルギービーム溶接品質判定方法、その判定方法を利用した品質判定装置、その判定方法を利用した溶接管理システム Download PDF

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Description

本発明は高エネルギービーム溶接に関し、特に自動車部品の高エネルギービーム溶接方法に関するものである。
高エネルギービーム溶接は、溶け込みが深い溶接が可能であり、従来のアーク溶接と比較して、精密にかつ高速に溶接が可能であるため、近年、利用が拡大している。溶け込みが深い溶接ができる理由として、高エネルギービームがアーク溶接などと比べて、高いパワー密度を有していることが挙げられる。高いパワー密度を有する高エネルギービームが照射された金属は瞬時に、溶融、蒸発する。その蒸発による高い反力によって、溶融部は押し下げられ、キーホールと呼ばれる空間が形成される。高エネルギービームはキーホールを通じて、材料内部まで到達できるため、溶け込みが深い溶接が達成される。高エネルギービーム溶接においては、従来、製品全数の溶接条件の管理、あるいは抜き取り検査での溶接品質の評価にとどまり、製品全数において実際の溶接状態を監視することは困難であった。そのため、現状では、レンズの定期的清掃、溶接条件の定期的確認により、溶接品質を向上する対策が行われていた。しかし、高エネルギービーム溶接の信頼性を向上する根本対策としては、実際の溶接状態を監視することによって製品全数の品質を保証すること、または不良になりそうな場合に溶接条件にフィードバック制御することにより不良の発生を抑制することが望まれていた。
このような課題に対する対策として、特開2006−43741号公報(特許文献1)に記載されているように、カメラで溶融部を撮像し、撮像した画像に画像処理を行うことにより不良を判定する方法が提案されている。或いはその他の方法として、特開2005−14027(特許文献2)に記載されているように、イメージセンサの画像を処理、解析して溶接加工機の出力と送り速度にフィードバックする方法が提案されている。
特開2006−43741号公報 特開2005−14027号公報
特許文献1に記載の方法は、溶融池近傍の撮像を行い、画像処理により溶融池の幅と長さを演算し、その値が予め記憶したしきい値よりも大きい場合に不良と判定している。また、特許文献2に記載の方法は、画像処理により溶融池の大きさや形状を認識し、これを直ちに解析して溶接加工機の出力と送り速度にフィードバックしている。これらの発明をレーザ溶接に適用することで溶接不良を判定、および溶接品質を均一化することにより溶接欠陥を防止することが可能と推定される。しかしながら上記発明では、例えば突合せ継手において最も重要な溶け込み深さを高精度に予測することについて十分な配慮が成されていないため、品質判定の精度、あるいはフィードバックにより一定の品質に保つ精度を向上することに課題があった。この課題は、製造効率の向上、すなわち歩留まりの向上を阻害する要因となっている。
本発明の目的は、高エネルギービーム溶接において、溶接品質の判定精度、あるいはフィードバックにより一定の溶接品質に保つ精度を向上することができ、溶接品の製造効率、すなわち歩留まりを向上することにある。
上記目的を達成するために、本発明の高エネルギービーム溶接の品質判定方法は、
被溶接物に高エネルギービームを照射して溶接を行う高エネルギービーム溶接の品質判定方法であって、
カメラで撮像した溶融池の画像を画像処理することにより検出した溶融池の形状情報と、
溶接光センサで検出したプラズマ光を含む溶接光センサ情報と、
溶融池の溶け込み深さを目的変数とし前記形状情報及び前記溶接光センサ情報を説明変数とする重回帰分析を行うことにより求められる偏回帰分析係数と、
に基づいて、溶融池の溶け込み深さの予測値を求め、
前記予測値を基準値と比較することにより溶接の品質を判定する。
また上記目的を達成するために、本発明の高エネルギービーム溶接の品質判定装置は、
被溶接物に高エネルギービームを照射して溶接を行う高エネルギービーム溶接の品質判定装置であって、
カメラで撮像した溶融池の画像を画像処理することにより溶融池の形状情報を検出する溶融池形状情報検出部と、
プラズマ光を含む溶接光センサ情報を検出する溶接光センサと、
溶融池の溶け込み深さを目的変数とし前記形状情報及び前記溶接光センサ情報を説明変数とする重回帰分析を行うことにより求められる偏回帰分析係数を記憶する偏回帰分析係数記憶部と、
前記溶融池形状情報、前記溶接光センサ情報及び前記偏回帰分析係数に基づいて、溶融池の溶け込み深さの予測値を求める予測値算出部と、
前記予測値を基準値と比較することにより溶接の品質を判定する品質判定部と、
を備える。
また上記目的を達成するために、本発明の高エネルギービーム溶接の溶接管理システムは、
高エネルギービーム溶接の溶接管理システムであって、
被溶接物に高エネルギービームを照射して溶接を行う高エネルギービーム照射装置と、
溶融池の画像を撮像するカメラと、
前記カメラで撮像した溶融池の画像を画像処理することにより溶融池の形状情報を検出する溶融池形状情報検出部と、
プラズマ光を含む溶接光センサ情報を検出する溶接光センサと、
溶融池の溶け込み深さを目的変数とし前記形状情報及び前記溶接光センサ情報を説明変数とする重回帰分析を行うことにより求められる偏回帰分析係数を記憶する偏回帰分析係数記憶部と、
前記溶融池形状情報、前記溶接光センサ情報及び前記偏回帰分析係数に基づいて、溶融池の溶け込み深さの予測値を求める予測値算出部と、
前記予測値を基準値と比較することにより溶接の品質を判定する品質判定部と、
前記予測値と前記基準値との比較結果に基づいて高エネルギービームの照射条件を修正する修正値を出力し、前記高エネルギービーム照射装置が出力する高エネルギービームをフィードバック制御するフィードバック制御部と、
を備える。
本発明によれば、溶接品質の判定精度、あるいはフィードバックにより一定の溶接品質に保つ精度を向上することができ、溶接品の製造効率、すなわち歩留まりを向上することができる。
実施例1におけるレーザ溶接装置の模式図である。 実施例1における溶接部(溶融池)をレーザ照射方向から見た画像の模式図である。 実施例1におけるガルバノスキャナを通して見た溶融池の画像の模式図である。 実施例1における溶融池の画像と輝度分布、画像処理方法を示す図である。 実施例1における交互作用の改善効果を示す図である。 実施例1における交互作用の数と予測誤差の関係を示す図である。 実施例1における溶け込み深さの予測値と実測値とを示す図である。 実施例1における溶接品質判定結果を示す図である。 実施例1におけるフィードバック制御区間を示す図である。 実施例1におけるフィードバック制御のフローチャートである。 実施例1におけるフィードバック制御時の溶け込み深さの遷移例を示す図である。 実施例2におけるフィードバック制御のフローチャートである。 実施例3におけるレーザ溶接装置の模式図である。 本発明に係る燃料ポンプの一実施例を示す断面図である。 本発明に係る燃料噴射弁の一実施例を示す断面図である。
以下、本発明に係る実施例について、図面を用いて説明する。
図1は、実施例1におけるレーザ溶接装置の模式図である。
11はレーザ、16はカメラ、17は溶接光センサを示す。1はレーザ発振器、2はレーザ用の光ファイバ、3はガルバノスキャナ(加工ヘッド)、4はガルバノスキャナ内でビーム幅を広げるコリメータレンズ、5は溶接対象物、6は溶接対象物5から発せられた光をカメラ16や溶接光センサ17に送る一部波長透過ミラー、7はレーザ11のZ軸位置を制御するZ軸制御レンズ、8は広いビーム幅のレーザ11を溶接対象物5に集光させる対物レンズ、9はレーザ11のX軸位置を制御するX軸制御ガルバノミラー、10はレーザ11のY軸位置を制御するY軸制御ガルバノミラー、12はレーザの回転方向、13は溶接対象物5の回転方向、14はロータリースピンドル、15は加工ステージ、18は溶接対象物5から発せられた光をカメラ16と溶接光センサ17に分光する半透過ミラー、19はカメラ16用の対物レンズ、20は溶接光センサ17用の対物レンズ、21は制御装置を示している。なお制御装置は、カメラ16で得た画像を処理し、溶接光センサ17からの情報と合わせて溶け込み深さを予測し、予測した溶け込み深さに基づいてレーザ発振器1、ガルバノスキャナ3の制御を行う。
本実施例では、溶接対象物5は燃料ポンプ部品とし、素材は304ステンレス鋼とした。またレーザ11は波長が約1030nmのディスクレーザとした。レーザ11の走査軌道は円とした。図1では、レーザ11の走査軌道が円であることを示すため、溶接進行方向(溶接対象物5の回転方向とは反対方向)に垂直な方向に振られた2つのレーザビーム11a,11bの状態を示している。
レーザ発振器1で生成されたレーザ11はレーザ用の光ファイバ2を通じて、ガルバノスキャナ3に送られる。レーザ11はコリメータレンズ4でビーム幅が広げられ、一部波長透過ミラー6で反射され、Z軸制御レンズ7でZ軸位置を制御され、対物レンズ8で集光されつつ、X軸ガルバノミラー9、Y軸ガルバノミラー10でX、Y軸位置を制御されて、溶接対象物5に照射される。溶接対象物5はロータリースピンドル14に固定され、所定の速度で回転させる。溶接対象物5の溶融池から発せられた光は、Y軸ガルバノミラー10、X軸ガルバノミラー9、対物レンズ8、Z軸制御レンズ7、半透過ミラー18を通過し、さらにカメラ用対物レンズ19を通過してカメラ16に入る。同様に半透過ミラーで反射された光は溶接光センサ用対物レンズ20を通過して溶接光センサ17に入る。
本実施例では、溶接継ぎ手構造の一例として、突合せ継ぎ手の場合について説明する。
図2は、実施例1における溶接部(溶融池)をレーザ照射方向から見た画像の模式図である。図2では、溶接進行方向に移動する溶融池の状態(画像)が示されている。
27は溶接進行方向を示している。22は溶融池、23はレーザ照射点、24はレーザ照射点23の溶融池22内における移動軌跡、25はレーザ照射方向に垂直な平面(画像)上で溶接進行方向27に一致する画像のX軸、26はレーザ照射方向に垂直な平面(画像)上で溶接進行方向27に垂直な方向に一致する画像のY軸を示している。図2に示す画像(以下、溶接進行方向27に移動する視点から見た画像という)では、X,Y軸の原点位置を中心にレーザ照射点が円軌道を描いており、溶融池22の輪郭もXY座標の同じ位置にいる。
なお本実施例では、レーザ(高エネルギービーム)を回転させながら被溶接物に照射することにより、安定した溶け込み深さを得ることができる。
これに対し、図1に示すガルバノスキャナ3を通してカメラ16で撮像される画像は、レーザ照射点を原点とした画像になる。
図3は、実施例1におけるガルバノスキャナを通して見た溶融池の画像の模式図である。すなわち図3では、レーザ照射点を原点とした溶融池の画像を示す。
23はレーザ照射点、28はレーザ照射点を原点とした画像のX軸、29はレーザ照射点を原点とした画像のY軸である。X軸は、レーザ照射方向に垂直な平面(画像)上で溶接進行方向27に平行である。Y軸は、レーザ照射方向に垂直な平面(画像)上で溶接進行方向27に垂直である。
レーザ照射点を原点とした画像では、X,Y軸の原点の周りを溶融池が回転する画像が得られ、溶融池の輪郭は、XY座標の異なる位置にいることがわかる。そのため、ガルバノスキャナ3を通して見た画像では、XY座標を固定した領域で画像処理をするのでは、溶融池22の輪郭を正確に得ることができない。そこで、位置ではなく、輝度の変化のみの画像処理による溶融池形状検出を行う必要がある。
図4は、実施例1における溶融池の画像と輝度分布、画像処理方法を示す図である。図4では、輝度の変化のみの画像処理により溶融池形状検出を行う方法を示す。
30はスパッタ、31は輝度を計測する画像上の水平線、32は31の水平線上の輝度分布、33はY軸29上の輝度を合計した値(足し合わせた値)の分布(投影値)、34は投影値で溶融池22の始点、終点を検知するためのしきい値の線、35はこのしきい値を元に得た溶融池のX軸方向の始点及び終点と、Y軸方向の始点及び終点とを元に描画した溶融池22の外接四角形を示している。なお水平線31は、X軸28及び溶接進行方向27に平行である。
カメラ16で得られる画像には、溶融池22だけでなく、溶接の際に発生するスパッタ30も撮像される。この画像を単純に2値化するとスパッタと溶融池の分離ができずスパッタ30も溶融池22の一部と判断して溶融池22の長さにスパッタ30も含まれて、正確な溶融池22の長さを得ることができない。
溶融池22の輪郭が常に同じXY座標にいるのであれば、溶融池22の存在する領域を設定してそれより外にあるものをスパッタ30と判断してスパッタ30を排除することが可能である。しかし、ガルバノスキャナ3を通して見た画像では、溶融池22の輪郭のXY座標が変化するため、この方法は採用できない。
そこで、例えば水平線31上の輝度分布32に対して、しきい値を設定して溶融池22の始点及び終点を求める方法が考えられる。しかし、輝度分布32を見ると分かるように、溶融池22とスパッタ30の輝度レベルが同じぐらいであるため、スパッタ30を分離することができない。
そこで、まず、Y軸29上の輝度を合計した値の分布33を求める。スパッタ30は幅が細いため値が小さくなるが、溶融池22は幅が太いため値が大きくなる。そのため、閾値34を設定することで、スパッタ30の影響を排除して溶融池22の始点及び終点を求めることができる。このようにして、溶融池22に外接する四角形35のX軸28方向の位置を求める。Y軸29上の輝度分布33と同様に、X軸28上の輝度を合計した値の分布38を求め、しきい値39を設定することで溶融池22に外接する四角形35のY軸29方向の位置を求める。
求められた溶融池22に外接する四角形35のX軸28方向の長さを溶融池22の長さ、Y軸29方向の長さを溶融池22の幅とする。面積は、この四角形35内の画像を2値化し、2値化により白となった領域により求める。
このように画像上の位置を特定せずに、輝度の変化のみの画像処理によって、溶融池形状検出を行うことができる。これにより、図3に示したガルバノスキャナ3を通して見た画像でも溶融池22の形状を検出することが可能となる。さらに、投影値を使うことにより、スパッタ30を分離した溶融池形状(溶融池の形状情報、溶融池の形状データ)を検出することが可能となる。これにより本実施例では、溶融池長さ、溶融池幅、溶融池長さ/幅、溶融池面積を得ることができる。
一方、溶接光センサ17では、プラズマ光、温度(熱放射光)及び反射光等の情報(溶接光センサ情報)の検出が可能である。
次に、溶接対象物5に集光させる対物レンズ8の焦点位置から焦点をわざとZ軸方向にはずした距離である焦点はずし距離や、レーザ出力を振って溶接実験を行った際に得られる溶融池22の形状と、溶接光センサ17の情報とを用いて、その時の溶け込み深さのデータの重回帰分析を行い、これらの情報と溶け込み深さの偏回帰分析係数を求める。重回帰分析とは、1つの目的変数を複数の説明変数で予測する分析方法であり、式1で表される。
Y=b1×X1+b2×X2+・・・+C (式1)
Y:目的変数
X1、X2、…:説明変数
b1、b2、…:偏回帰係数
C:定数項
本実施例の場合、目的変数Yは溶け込み深さであり、説明変数X1、X2、…は溶融池長さなどの溶融池22の形状と溶接光センサ17の情報である。
従来の方法では、溶接光センサ信号としてプラズマ光のみを使用しているが、その場合の溶け込み深さの予測精度は、最大誤差0.34mmであった。本実施例では、溶接光センサ17の信号として温度(熱放射光)及び反射光等を追加しており、これによって最大誤差は0.23mmまで改善した。また、説明変数として二つの項目の掛け算である交互作用を追加することにより、最大誤差を0.13mmまで改善した。
本実施例では、制御装置21が、カメラ16で撮像した溶融池の画像を画像処理することにより溶融池22の形状情報を検出する溶融池形状情報検出部を構成する。また制御装置21は、重回帰分析を行って溶融池22の溶け込み深さの予測値を求める予測値算出部21Aを構成する。或いは制御装置21は、重回帰分析を行って溶融池22の溶け込み深さの予測値を求める予測値算出部21Aを有する。
このように本実施例では、溶接の品質判定制度が向上し、歩留まりが改善される効果が得られる。
図5は、実施例1における交互作用の改善効果を示す図である。
交互作用は掛け算する2項目の組み合わせにより、改善効果が異なる。図5では、幅×面積、長さ×面積、反射(反射光)×面積、温度×反射、温度×面積及び温度×幅の各交互作用における改善効果を示している。図5の場合、長さ×面積が最も改善効果が大きく、温度×反射は改善効果がマイナスとなり改悪することになる。
図6は、実施例1における交互作用の数と予測誤差の関係を示す図である。
交互作用の効果が大きいものが左側に来るように選んだ場合、交互作用の数が多くなると予測誤差が小さくなるが、その変化は直線的ではなく、初め急に減少するが、徐々に傾きが緩やかになる。一方、交互作用の数が増えると計算負荷が増加する。そのため、破線の丸で示すように、予測誤差が飽和し、かつ計算負荷が小さい点が存在する。この点が、計算負荷はそれほど大きくなく、予測誤差は小さい実用性の高い点となる。
そこで本実施例では、上述した説明変数として予測誤差が小さくなりかつ計算負荷が小さくなるものを選択して利用する。これにより、予測誤差を小さくできると共に、計算負荷を小さくすることができる。そして後述するフィードバック制御に当たっては、制御量の高速なフィードバックにより、溶接品質を高めることができる。
図7は、実施例1における溶け込み深さの予測値と実測値とを示す図である。
図7では、説明変数として、温度、プラズマ、反射光、溶融池長さ、溶融池幅、溶融池長さ/幅、溶融池面積、温度×プラズマ、温度×幅、プラズマ×幅、幅×面積を使用した場合のさまざまなレーザ出力、焦点はずし距離での溶け込み深さの実測値と上記方法により予測した値を示している。1〜20の20ケース(溶接数)について、溶け込み深さの実測及び予測を行った。その結果、本実施例では、最大誤差0.13mmで高精度に溶け込み深さを予測可能である。
36は実測値に対する溶接品質判定のしきい値で、本溶接部位では0.8mmに設定されている。37は最大誤差0.13mmを考慮した予測値での溶接判定のしきい値で、0.8+0.13=0.93mmである。このしきい値を用いて溶接品質判定を行う。しきい値以上であれば良品(OK品)、しきい値未満であれば不良品(NG品)と判定する。この判定は、制御装置21で実行される。すなわち制御装置21は、溶接品質判定を行う品質判定部21Bを構成する。或いは制御装置21は、溶接品質判定を行う品質判定部21Bを有する。また制御装置21は、上述した偏回帰分析係数を記憶する偏回帰分析係数記憶部21Cを有する。
図8は、実施例1における溶接品質判定結果を示す図である。
実測値では、しきい値0.8mm以上のOK品が18ケース、0.8mm未満のNG品が2ケースである。誤差0.13mmを考慮した予測値では、しきい値0.93mm以上のOK品が18ケース、0.93mm未満のNG品が2ケースである。またこの予測値では、良品を不良品と判定する虚報及び不良品を良品と判定する悪報は、ともに0ケースで、虚報率は0%である。
次に、予測した溶け込み深さが設定した上下限値からはずれようとする場合に、レーザ出力をフィードバック制御することにより、上下限値からはずれないようにする溶接方法について説明する。
図9は、実施例1におけるフィードバック制御区間を示す図である。
レーザ出力は、ほぼ0から本溶接のレーザ出力まで上げるスロープアップ区間91、本溶接区間92、1周回った後オーバーラップさせるラップ部93、ほぼ0まで下げるスロープダウン区間94からなる。この内、スロープアップ区間91とスロープダウン区間94では、信号強度の変化が大きく安定しないため、フィードバック制御は行わない。レーザ出力が一定となる本溶接区間92とラップ部93をフィードバック制御区間90とする。
図10は、実施例1におけるフィードバック制御のフローチャートである。
ステップ51で溶接時間がフィードバック制御区間90の開始時刻Ts90を超過するとフィードバック制御のフローチャートを開始する。ステップ52で溶け込み深さ予測値が上下限内か判定する。YESの場合はステップ53で溶接条件を維持し、ステップ54で溶接時間がフィードバック制御区間終了時刻を超過したかを判定する。NOの場合は、ステップ52に戻り続ける。ステップ52でNOの場合はステップ55で予測値がしきい値以上か判定する。NOの場合は、ステップ56でNGアラームを出し、不良品と判定する。ステップ55でYESの場合は、フィードバック制御を行う。レーザ出力の調整をPID制御(比例積分微分制御)で行うが、修正出力値は、次式により求める。
修正出力値=前回の出力値+Kp×偏差+Ki×偏差の累積値+Kd×今回偏差と前回偏差との差
ただし、Kp:比例制御係数、Ki:積分制御係数、Kd:微分制御係数である。
この時、予め求めておいたレーザ出力値と溶け込み深さの関係式により、溶け込み深さをレーザ出力値に変換して計算する。これにより、予測値が目標値より小さい場合はレーザ出力を増加させ、予測値が目標値より大きい場合は、レーザ出力を減少させる。その後ステップ54で溶接時間がフィードバック制御区間90の終了時刻Te90を超過したかを判定する。NOの場合は、ステップ52に戻り続ける。ステップ54での判定がYESの場合は、ステップ58でフィードバック制御を終了し、良品と判定する。
図11は、実施例1におけるフィードバック制御時の溶け込み深さの遷移例を示す図である。図11はフィードバック制御の具体例を示している。
図11において、SH0は溶接品がOK品かNG品かを判定するしきい値であり、上述した0.8mmに相当する。本実施例では、ステップ55における予測値のしきい値をSH0よりも大きな値を有するしきい値SH1に設定する。この場合、上述した誤差0.13mmを考慮し、予測値のしきい値SH1は0.93mm以上にすることが望ましい。
フィードバック制御開始の下限の値(下限値)SH2は、しきい値SH1よりも大きな値に設定される。しきい値SH1と下限値SH2との差は、溶け込み深さの予測値が下限を下回ってからフィードバック制御による効果が表れるまでの時間遅れを考慮して決めるとよい。
しきい値SH0、下限値SH2及び上限値SH3は、いずれも溶け込み深さの許容範囲内に設定される。また、上限の値(上限値)SH3よりも大きな数値範囲に、溶接品がOK品かNG品かを判定するしきい値を設けてもよい。
フィードバック制御区間90内で溶け込み深さの予測値が上下限内か判定し、上下限内の場合は溶接条件を維持する。溶け込み深さ予測値が下限を下回るとフィードバック制御を開始する。この場合、溶け込み深さ予測値が目標値より小さいので、レーザ出力を増加させることによって、溶け込み深さが増加するようにする。溶け込み深さ予測値が目標値より大きい場合は、レーザ出力を減少させることによって、溶け込み深さが減少するようにする。
本実施例では、突合せ溶接に適用したが、溶接部継ぎ手構造はこれに限らない。また本実施例で、使用されたレーザの種類、溶接対象物の素材、レーザ溶接条件もこれに限らない。特に突合せ溶接では、溶け込み深さが溶接品質に大きく影響する重要なファクタとなっており、突合せ溶接においては溶接品質を向上し、歩留まりを向上することができる。
図12は、実施例2におけるフィードバック制御のフローチャートである。なお、実施例1と同じ或いは実施例1と同様な構成要素には、実施例1と同じ符号を付して説明する。
本実施例は、実施例と同じレーザ溶接装置を用いて実施することができる。また、溶け込み深さの予測値は、実施例1で説明した方法により求める。すなわち、フィードバック制御のフローに実施例1と異なる構成を有する。
ステップ61で溶接時間がフィードバック制御区間90の開始時刻Ts90を超過するとフィードバック制御のフローチャートを開始する。ステップ62で溶け込み深さの予測値が上下限(SH3,SH2)内か判定する。YESの場合はステップ63で溶接条件を維持し、ステップ64で溶接時間がフィードバック制御区間90の終了時刻Te90を超過したかを判定する。NOの場合は、ステップ62に戻り続ける。ステップ62でNOの場合はステップ65で予測値がしきい値SH1以上か判定する。NOの場合は、ステップ66でNGアラームを出し、不良品と判定する。ステップ65でYESの場合は、フィードバック制御を行う。レーザ出力と焦点はずし距離を実施例1の溶け込み深さと同じく実験結果を元に重回帰分析により予測する。予測したレーザ出力及び焦点はずし距離と目標とするレーザ出力及び焦点はずし距離とを比較し、異なる場合は、目標の値となるようPID制御(比例積分微分制御)を行う。その後ステップ64で溶接時間がフィードバック制御区間90の終了時刻Te90を超過したかを判定する。NOの場合は、ステップ62に戻り続ける。ステップ64の判定でYESの場合は、ステップ68で終了し、良品と判定する。
実施例1では、ステップ57において、溶け込み深さの予測値をその目標値と比較し、フィードバック制御を行った。本実施例では、レーザ出力及び焦点はずし距離を予測し、これらの予測値を目標値と比較して、フィードバック制御を行う。このようなフィードバック制御によっても、実施例1と同様の効果が得られる。
なお、本実施例のステップ61〜66,68は実施例1のステップ51〜56,58と同じように実施することができる。
実施例1では、フィードバック制御によりレーザ11の出力(レーザ11の強度)を変化させる。また実施例2では、フィードバック制御によりレーザ出力及び焦点はずし距離(焦点距離)を変化させる。レーザ出力及び焦点はずし距離のほかに、レーザビーム11の溶接対象物(被溶接物)5,5Aに対する移動速度(レーザビーム11と被溶接物5,5Aとの相対速度)を変化させることにより、レーザ照射条件を変化させてもよい。レーザビーム11の被溶接物5,5Aに対する移動速度は、溶接対象物5,5Aの回転速度を変えることで実施できる。或いは、レーザビーム11の被溶接物5,5Aに対する移動速度は、レーザ11の円形を成す走査速度を変えることで実施できる。或いは、レーザビーム11の被溶接物5,5Aに対する移動速度は、溶接対象物5,5Aの回転速度とレーザ11の走査速度の両方を変えることで実施できる。
このように、本発明に係る各実施例1,2では、レーザ出力や焦点はずし距離、或いは被溶接物の移動速度等のレーザ照射条件(高エネルギービームの照射条件)を、フィードバック制御により変化させている。なおレーザ照射条件、又はその修正量(制御量)は制御装置21で演算される。すなわち制御装置21は、修正量を出力して高エネルギービーム照射装置を制御するフィードバック制御部21Dを構成する。或いは制御装置21は、修正量を出力して高エネルギービーム照射装置を制御するフィードバック制御部21Dを有する。
前記フィードバック制御部は、上記レーザ照射条件の中で、レーザ出力値(高エネルギービームの出力値)を優先的に制御するようにするとよい。レーザ出力値、すなわちレーザ強度は、他のレーザ照射条件の中で、簡単にかつ高速に制御することができる。フィードバック制御を容易にかつ高速に実施することができる。
図13は、実施例3におけるレーザ溶接装置の模式図である。
実施例1と同じ構成要素には実施例1と同じ符号を付している。実施例1と同じ構成要素については、説明を省略する。
本実施例では、溶接対象物5Aが実施例1と異なる。その他については、実施例1と同じである。溶接対象物5Aは燃料噴射部品とした。溶接対象物5Aの溶接継ぎ手は重ね溶接構造となっている。
本実施例では、重ね溶接に適用したが、溶接部継ぎ手構造はこれに限らない。また本実施例で、使用されたレーザの種類、溶接対象物の素材、レーザ溶接条件もこれに限らない。
また本実施例に、実施例2で説明したフィードバック制御を適用してもよい。
本実施例は、本発明に係る溶接方法を高圧燃料供給ポンプに適用した例である。図14は、本発明に係る燃料ポンプの一実施例を示す断面図である。
高圧燃料供給ポンプ100は、燃料タンクからフィードポンプ(図示せず)によって汲み上げられた燃料を高圧にして燃料噴射弁に供給するポンプである。高圧燃料供給ポンプ100は、車両の搭載される内燃機関(エンジン)に用いられる。以下、高圧燃料供給ポンプ100をポンプ100と呼んで説明する。
ポンプ本体101には、加圧室107が形成され、加圧室107の内部にプランジャ104の上端部(先端部)が挿入される。プランジャ104は、加圧室107内で往復運動し、燃料を加圧する。
ポンプ本体(ポンプハウジング)101は、エンジンに固定するための取付フランジ102を有する。取付フランジ102は、ポンプ本体101にレーザ溶接により全周を溶接結合されている。取付フランジ102とポンプ本体101との溶接箇所301を第一溶接部という。
ポンプ本体101には、吸入弁機構114と吐出弁機構115が設けられる。吸入弁機構114のボディ114cは、ポンプ本体101にレーザ溶接により固定される。この溶接箇所302を第二溶接部という。第二溶接部302では、吸入弁機構114のボディ114cの外周が全周に亘って溶接されている。
吐出弁機構115の下流側には吐出ジョイント116が設けられる。吐出ジョイント116は、ポンプ本体101にレーザ溶接により固定される。この溶接箇所303を第三溶接部という。第三溶接部303では、吐出ジョイント116の外周が全周に亘って溶接されている。
ポンプ本体101の上部には、ダンパカバー111が取り付けられる。ダンパカバー111は、ポンプ本体101にレーザ溶接により固定されている。この溶接箇所304を第四溶接部という。第四溶接部304は全周に亘って溶接されている。
ダンパカバー111には、吸入ジョイント112がレーザ溶接により固定されている。この溶接箇所305を第五溶接部という。第五溶接部305は、吸入ジョイント112の外周が全周に亘って溶接されている。
第一溶接部301、第二溶接部302及び第三溶接部303の溶接継ぎ手は、突合せ溶接構造であり、第一溶接301、第二溶接部302及び第三溶接303は、実施例1の溶接プロセスで溶接される。第一溶接部301では、レーザ11を溶接対象物表面に垂直に照射する。第二溶接302及び第三溶接303では、溶接対象物表面に垂直な方向からθ°傾斜させて、レーザ11を照射する。
第四溶接部304及び第五溶接部305の溶接継ぎ手は重ね溶接構造であり、第四溶接304及び第五溶接部305は実施例3の溶接プロセスで溶接される。第四溶接部304及び第五溶接部305では、レーザ11を溶接対象物表面に垂直に照射する。
ポンプ100では燃料漏れは許されない。ポンプ本体101、吸入弁機構114のボディ114c、吐出ジョイント116、ダンパカバー111及び吸入ジョイント112は、燃料が流れる燃料通路を構成する部品である。そして第二溶接302〜第五溶接部305は燃料のシールを兼ねる。このため、燃料流路が形成される部品の溶接には、溶け込み深さを十分に確保することが望ましい。また、ポンプ100は、厳しい環境下で使用されることが想定される。ロバスト性に優れた溶接プロセスを用いることにより、ポンプ100の信頼性を高めることができる。
図15に、本発明を燃料噴射弁200に適用した例を示す。図15は、本発明に係る燃料噴射弁の一実施例を示す断面図である。
燃料噴射弁200には、上端部から下端部まで延設された金属材製の筒状体201が設けられている。筒状体201の先端部には、弁座部材204が設けられている。弁座部材204には、円錐面が形成されており、この円錐面に弁座204bが構成される。
弁座部材204は、筒状体201の先端型内側に挿入され、レーザ溶接により筒状体201に固定されている。この溶接箇所306を第六溶接部という。第六溶接306は、筒状体201の外周側から全周に亘って溶接されている。
弁座部材204の下端面(先端面)には、ノズルプレート206が取り付けられている。ノズルプレート206には、複数の燃料噴射孔207が設けられている。ノズルプレート206は、弁座部材204に対してレーザ溶接により、固定されている。この溶接箇所307を第七溶接部という。第七溶接部307は、燃料噴射孔207が形成された噴射孔形成領域を取り囲むようにして、この噴射孔形成領域の周囲を一周している。
筒状体201には可動子208が収容されている。可動子208の先端には弁体205が固定されている。弁体205は、球状を成すボール弁で構成される。弁体205は、可動子208にレーザ溶接により固定されている。この溶接箇所308を第八溶接部という。第八溶接部308では、可動子208の先端部外周の全周に亘って溶接されている。
弁体205と弁座204bとは協働して、燃料通路の開閉を行う。弁体205が弁座204bに当接することにより、燃料通路は閉じられる。また、弁体205が弁座204bから離間することにより燃料通路は開かれる。弁体205と弁座204bとの間の燃料通路を通過した燃料は、燃料噴射孔207から噴射される。
第六溶接部306及び第七溶接部307の溶接継ぎ手は、重ね溶接構造であり、第六溶接部306及び第七溶接307は実施例3の溶接プロセスで溶接される。第六溶接部306及び第七溶接部307では、レーザ11を溶接対象物表面に垂直に照射する。第七溶接307では、レーザ11を溶接対象物表面に垂直な方向から傾斜させて照射しても良い。
第八溶接308の溶接継ぎ手は、突合せ構造であり、第八溶接部308は実勢例1の溶接プロセスで溶接される。第八溶接308では、レーザ11を溶接対象物表面に垂直に照射する。あるいは、レーザ11を溶接対象物表面に垂直な方向から傾斜させて照射しても良い。
燃料噴射弁200では燃料漏れは許されない。筒状体201、弁座部材204及びノズルプレート206は、燃料が流れる燃料通路を構成する部材である。そして第六溶接306及び第七溶接部307は燃料のシールを兼ねる。このため、溶け込み深さを十分に確保することが望ましい。また、燃料噴射弁200は、厳しい環境下で使用されることが想定される。ロバスト性に優れた溶接プロセスを用いることにより、燃料噴射弁200の信頼性を高めることができる。
また、弁体205は弁座204bに長期間にわたって繰返し衝突する。このため、第八溶接部308における弁体205と可動子208との溶接は、長期間にわたって溶接部が安定した状態を維持することができる信頼性が必要とされる。本発明にかかる溶接プロセスを適用することにより、溶接部の信頼性が確保される。
なお、本発明は上記した各実施例に限定されるものではなく、さまざまな変形例が含まれる。たとえば、上記した実施例は本発明をわかりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、あるい実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
1…レーザ発振器、2…レーザ用の光ファイバ、3…ガルバノスキャナ、4…コリメーションレンズ、5…溶接対象物、5A…溶接対象物、6…一部波長透過ミラー、7…Z軸制御レンズ、8…対物レンズ、9…X軸制御ガルバノミラー、10…Y軸制御ガルバノミラー、11…レーザ、12…レーザの回転方向、13…溶接対象物の回転方向、14…ロータリースピンドル、15…加工ステージ、16…カメラ、17…溶接光センサ、18…半透過ミラー、19…カメラ用対物レンズ、20…溶接光センサ用対物レンズ、21…制御装置、22…溶融池、23…レーザ照射点、24…レーザ照射点の溶融池内の移動軌跡、25…溶接進行方向に移動する視点から見た画像のX軸、26…溶接進行方向に移動する視点から見た画像のY軸、27…溶接進行方向、28…レーザ照射点を原点とした画像のX軸、29…レーザ照射点を原点とした画像のY軸、30…スパッタ、31…輝度を計測する画像上の水平線、32…水平線31上の輝度分布、33…Y軸上の輝度を合計した値の分布(投影値)、34…投影値で溶融池の始点及び終点を検知するためのしきい値の線、35…溶融池の外接四角形、36…実測値に対する溶接品質判定のしきい値、37…誤差を考慮した予測値に対する溶接品質判定のしきい値、38…X軸上の輝度を合計した値の分布(投影値)、39…投影値で溶融池のY軸方向の位置を検知するためのしきい値の線、90…溶接のフィードバック制御区間、91…レーザ出力のスロープアップ区間、92…本溶接区間、93…溶接のラップ部、94…レーザ出力のスロープダウン区間、100…高圧燃料供給ポンプ、101…ポンプ本体、102…取付フランジ、111…ダンパカバー、112…吸入ジョイント、114…吸入弁機構、114c…吸入弁機構114のボディ、116…吐出ジョイント、200…燃料噴射弁、201…筒状体、204…弁座部材、206…ノズルプレート、301…第一溶接部、302…第二溶接部、303…第三溶接部、304…第四溶接部、305…第五溶接部、306…第六溶接部、307…第七溶接部、308…第八溶接部。

Claims (17)

  1. 被溶接物に高エネルギービームを照射して溶接を行う高エネルギービーム溶接の品質判定方法であって、
    カメラで撮像した溶融池の画像を画像処理することにより検出した溶融池の形状情報と、
    溶接光センサで検出したプラズマ光を含む溶接光センサ情報と、
    溶融池の溶け込み深さを目的変数とし前記形状情報及び前記溶接光センサ情報を説明変数とする重回帰分析を行うことにより求められる偏回帰分析係数と、
    に基づいて、溶融池の溶け込み深さの予測値を求め、
    前記予測値を基準値と比較することにより溶接の品質を判定する高エネルギービーム溶接の品質判定方法。
  2. 請求項1に記載の高エネルギービーム溶接の品質判定方法において、
    前記溶接光センサ情報は、反射光と熱放射光とを含むことを特徴とする高エネルギービーム溶接の品質判定方法。
  3. 請求項2に記載の高エネルギービーム溶接の品質判定方法において、
    前記形状情報に含まれる一つの情報と前記溶接光センサ情報に含まれる一つの情報との掛け算により得られる交互作用を、前記説明変数に加えたことを特徴とする高エネルギービーム溶接の品質判定方法。
  4. 請求項1に記載の高エネルギービーム溶接の品質判定方法において、
    前記偏回帰分析係数は、予め実験を行うことにより求めることを特徴とする高エネルギービーム溶接の品質判定方法。
  5. 請求項1に記載の高エネルギービーム溶接の品質判定方法において、
    溶接継ぎ手が突合せ構造の被溶接物を対象とすることを特徴とする高エネルギービーム溶接の品質判定方法。
  6. 請求項1に記載の高エネルギービーム溶接の品質判定方法において、
    高エネルギービームを回転させながら被溶接物に照射することを特徴とする高エネルギービーム溶接の品質判定方法。
  7. 被溶接物に高エネルギービームを照射して溶接を行う高エネルギービーム溶接の品質判定装置であって、
    カメラで撮像した溶融池の画像を画像処理することにより溶融池の形状情報を検出する溶融池形状情報検出部と、
    プラズマ光を含む溶接光センサ情報を検出する溶接光センサと、
    溶融池の溶け込み深さを目的変数とし前記形状情報及び前記溶接光センサ情報を説明変数とする重回帰分析を行うことにより求められる偏回帰分析係数を記憶する偏回帰分析係数記憶部と、
    前記溶融池形状情報、前記溶接光センサ情報及び前記偏回帰分析係数に基づいて、溶融池の溶け込み深さの予測値を求める予測値算出部と、
    前記予測値を基準値と比較することにより溶接の品質を判定する品質判定部と、
    を備えた高エネルギービーム溶接の品質判定装置。
  8. 請求項7に記載の高エネルギービーム溶接の品質判定装置において、
    前記溶接光センサ情報は、反射光と熱放射光とを含むことを特徴とする高エネルギービーム溶接の品質判定装置。
  9. 請求項8に記載の高エネルギービーム溶接の品質判定装置において、
    前記予測値算出部は、前記溶融池形状情報及び前記溶接光センサ情報と、溶融池の溶け込み深さを目的変数とし前記形状情報及び前記溶接光センサ情報を説明変数とする重回帰分析を行うことにより前記偏回帰分析係数を求める重回帰分析部を備え、
    前記形状情報に含まれる一つの情報と前記溶接光センサ情報に含まれる一つの情報との掛け算により得られる交互作用を、前記説明変数に加えたことを特徴とする高エネルギービーム溶接の品質判定装置。
  10. 請求項9に記載の高エネルギービーム溶接の品質判定装置において、
    溶接継ぎ手が突合せ構造の被溶接物を対象とすることを特徴とする高エネルギービーム溶接の品質判定装置。
  11. 請求項7に記載の高エネルギービーム溶接の品質判定装置において、
    前記溶融池は、高エネルギービームを回転させながら被溶接物に照射されることにより形成されることを特徴とする高エネルギービーム溶接の品質判定装置。
  12. 高エネルギービーム溶接の溶接管理システムであって、
    被溶接物に高エネルギービームを照射して溶接を行う高エネルギービーム照射装置と、
    溶融池の画像を撮像するカメラと、
    前記カメラで撮像した溶融池の画像を画像処理することにより溶融池の形状情報を検出する溶融池形状情報検出部と、
    プラズマ光を含む溶接光センサ情報を検出する溶接光センサと、
    溶融池の溶け込み深さを目的変数とし前記形状情報及び前記溶接光センサ情報を説明変数とする重回帰分析を行うことにより求められる偏回帰分析係数を記憶する偏回帰分析係数記憶部と、
    前記溶融池形状情報、前記溶接光センサ情報及び前記偏回帰分析係数に基づいて、溶融池の溶け込み深さの予測値を求める予測値算出部と、
    前記予測値を基準値と比較することにより溶接の品質を判定する品質判定部と、
    前記予測値と前記基準値との比較結果に基づいて高エネルギービームの照射条件を修正する修正値を出力し、前記高エネルギービーム照射装置が出力する高エネルギービームをフィードバック制御するフィードバック制御部と、
    を備えた高エネルギービーム溶接の溶接管理システム。
  13. 請求項12に記載の高エネルギービーム溶接の溶接管理システムにおいて、
    前記修正値は、比例制御係数をKp、積分制御係数をKi、微分制御係数をKdとする場合、(修正値)=(前回の出力値)+Kp×(偏差)+Ki×(偏差の累積値)+Kd×(今回偏差と前回偏差との差)の関係式から求めることを特徴とする高エネルギービーム溶接の溶接管理システム。
  14. 請求項13に記載の高エネルギービーム溶接の溶接管理システムにおいて、
    前記フィードバック制御部は、前記高エネルギービームの出力値を優先的に制御することを特徴とする高エネルギービーム溶接の溶接管理システム。
  15. 請求項12に記載の高エネルギービーム溶接の溶接管理システムにおいて、
    前記フィードバック制御部は、前記高エネルギービームの強度を制御することを特徴とする高エネルギービーム溶接の溶接管理システム。
  16. 請求項12に記載の高エネルギービーム溶接の溶接管理システムにおいて、
    前記フィードバック制御部は、前記高エネルギービームの焦点距離を制御することを特徴とする高エネルギービーム溶接の溶接管理システム。
  17. 請求項12に記載の高エネルギービーム溶接の溶接管理システムにおいて、
    前記フィードバック制御部は、前記高エネルギービームの被溶接部に対する移動速度を制御することを特徴とする高エネルギービーム溶接の溶接管理システム。
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