JP6556492B2 - 散乱線推定方法、非一時的コンピュータ可読媒体及び散乱線推定装置 - Google Patents
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Description
(1)aおよびbは全て、三角形のように、前のベッドに位置する。
(2)aおよびbは全て、「x」のように、次のベッドに位置する。
(3)aおよびbは、四角形のように、それぞれ前のベッドおよび次のベッドに位置する。
ケース(3)のLORのみ、その隣に存在するLORから補間される。
(1)LORの2つの結晶は、正反対のt座標を持つ。すなわち、ta+tb=0である(2つの終点は、その中心点に関して対称である)。
(2)sとφは均一にサンプリングされるので、1組のLORの結晶は、軸方向視で線に沿って均一に分布している。
従って、点線で示す複写されたLORの割合は、図8に示すように、線分(2IL)を点線全体の長さで割ることにより計算される。
30 寝台
500 CPU
502 メモリ
504 ディスク
Claims (22)
- 複数の撮像位置でのポジトロン放射断層撮影(Positron Emission Tomography:PET)スキャンにおける散乱を推定する方法であって、
所定の撮像位置において収集されたスキャンデータに含まれる散乱成分を示す散乱サイノグラムを算出する算出ステップと、
前記所定の撮像位置と重複する撮像位置における散乱サイノグラムを、前記算出ステップによって算出された前記散乱サイノグラムから推定する推定ステップと、
を含む、散乱線推定方法。 - 前記算出ステップは、第1の撮像位置において収集されたスキャンデータに含まれる散乱成分を示す第1の散乱サイノグラムと、第2の撮像位置において収集されたスキャンデータに含まれる散乱成分を示す第2の散乱サイノグラムとをそれぞれ算出し、
前記推定ステップは、前記第1の撮像位置及び前記第2の撮像位置にそれぞれ重複する第3の撮像位置における第3の散乱サイノグラムを、前記第1の撮像位置に対する前記第3の撮像位置の重複割合を示す第1の重複割合と、前記第2の撮像位置に対する前記第3の撮像位置の重複割合を示す第2の重複割合とに基づいて、前記第1の散乱サイノグラム及び前記第2の散乱サイノグラムから推定する、請求項1に記載の散乱線推定方法。 - 前記推定ステップは、
前記第1の散乱サイノグラムにおいて、前記第3の撮像位置と重複する位置に対応し、前記第1の重複割合に等しい第1の部分と、前記第2の散乱サイノグラムにおいて、前記第3の撮像位置と重複する位置に対応し、前記第2の重複割合に等しい第2の部分とを決定する決定ステップと、
前記第3の散乱サイノグラムとして、前記第1の部分と前記第2の部分とを複写する複写ステップと、
を含む、請求項2に記載の散乱線推定方法。 - 前記第1の撮像位置におけるスキャン領域、前記第2の撮像位置におけるスキャン領域、および前記第3の撮像位置におけるスキャン領域が、互いにサイズが同じであり、前記第1の重複割合と前記第2の重複割合との合計が100%未満の場合、前記決定ステップは、前記第3の撮像位置におけるスキャン領域のうち、前記第1の部分及び前記第2の部分に対応するスキャン領域以外のスキャン領域に対応する前記第3の散乱サイノグラムの残りの部分を決定して、前記残りの部分を補間して補間部分を生成し、
前記複写ステップは、前記第3の散乱サイノグラムとして、前記第1の部分と、前記第2の部分と、前記補間部分とを複写する、請求項3に記載の散乱線推定方法。 - 前記第1の撮像位置におけるスキャン領域、前記第2の撮像位置におけるスキャン領域、および前記第3の撮像位置におけるスキャン領域が、互いにサイズが同じであり、前記第1の重複割合と前記第2の重複割合との合計が100%を越える場合、前記決定ステップは、前記第1の撮像位置におけるスキャン領域と前記第2の撮像位置におけるスキャン領域との重複部分を決定し、前記第1の部分において前記重複部分に対応する第1の部位と前記第2の部分において前記重複部分に対応する第2の部位とを平均して平均部分を生成し、
前記複写ステップは、前記第3の散乱サイノグラムとして、前記平均部分と、前記第1の部位を含まない前記第1の部分の第1の残余部位と、前記第2の部位を含まない前記第2の部分の第2の残余部位とを複写する、請求項3に記載の散乱線推定方法。 - 前記複写ステップは、前記第3の散乱サイノグラムにおいて前記第1の部分に対応する第1の位置と、前記第3の散乱サイノグラムにおいて前記第2の部分に対応する第2の位置とを決定して、前記第1の位置に前記第1の部分を複写し、前記第2の位置に前記第2の部分を複写し、
前記第3の撮像位置におけるスキャン領域のサイズは、前記第1の撮像位置におけるスキャン領域及び前記第2の撮像位置におけるスキャン領域のサイズに等しい、請求項3に記載の散乱線推定方法。 - 前記複写ステップは、前記第3の撮像位置におけるスキャン領域における前記第1の部分に対応する位置と前記第2の部分に対応する位置とに基づいて、前記第3の散乱サイノグラムにおける前記補間部分の位置を決定して、前記第3の散乱サイノグラムにおける前記補間部分の位置に前記補間部分を複写する、請求項4に記載の散乱線推定方法。
- 前記複写ステップは、前記第3の撮像位置におけるスキャン領域における前記第1の部分に対応する位置と前記第2の部分に対応する位置とに基づいて、前記第3の散乱サイノグラムにおける前記平均部分の位置を決定して、前記第3の散乱サイノグラムにおける前記平均部分の位置に前記平均部分を複写する、請求項5に記載の散乱線推定方法。
- 前記散乱サイノグラムは、モデルベース散乱推定(Model-Based Scatter Estimation:MBSE)、バックグラウンド除去法、または畳み込み除去法を用いて算出される、請求項1〜8のいずれか一項に記載の散乱線推定方法。
- 前記散乱サイノグラムは、モンテカルロ法による散乱推定を用いて計算される、請求項1〜8のいずれか一項に記載の散乱線推定方法。
- 前記推定ステップは、前記第3の撮像位置に前記第1の撮像位置におけるスキャン領域と前記第2の撮像位置におけるスキャン領域とが重複する重複領域が含まれる場合、前記第1の部分及び前記第2の部分における前記重複領域に対応する重複部分を平均することで、前記第3の散乱サイノグラムのサイズを変更し、前記第3の撮像位置に前記第1の撮像位置におけるスキャン領域及び前記第2の撮像位置におけるスキャン領域以外の非重複領域が含まれる場合、前記非重複領域に対して補間することで、前記第3の散乱サイノグラムのサイズを変更する、請求項3に記載の散乱線推定方法。
- 前記PETスキャンは、連続的に寝台を移動させながら実行される、請求項1〜11のいずれか一項に記載の散乱線推定方法。
- 前記PETスキャンは、ステップアンドシュート方式で寝台を移動させながら実行される、請求項1〜11のいずれか一項に記載の散乱線推定方法。
- 前記PETスキャンの前記複数の撮像位置中の各撮像位置を決定する位置決定ステップをさらに含む、請求項1〜13のいずれか一項に記載の散乱線推定方法。
- 前記第1の重複割合と前記第2の重複割合を決定する割合決定ステップをさらに含む、請求項2〜8のいずれか一項に記載の散乱線推定方法。
- プロセッサによって実行されると、複数の撮像位置でのポジトロン放射断層撮影(Positron Emission Tomography:PET)スキャンにおける散乱を推定する方法を前記プロセッサに実行させる、コンピュータ実行可能命令を格納する非一時的コンピュータ可読媒体であって、前記方法は、
所定の撮像位置において収集されたスキャンデータに含まれる散乱成分を示す散乱サイノグラムを算出する算出ステップと、
前記所定の撮像位置と重複する撮像位置における散乱サイノグラムを、前記算出ステップによって算出された前記散乱サイノグラムから推定する推定ステップと、
を含む、非一時的コンピュータ可読媒体。 - 複数の撮影位置でのポジトロン放射断層撮影(Positron Emission Tomography:PET)スキャンにおける散乱を推定する散乱線推定装置であって、
所定の撮像位置において収集されたスキャンデータに含まれる散乱成分を示す散乱サイノグラムを算出する算出部と、
前記所定の撮像位置と重複する撮像位置における散乱サイノグラムを、前記算出部によって算出された前記散乱サイノグラムから推定する推定部と、
を備える、散乱線推定装置。 - 前記算出部は、第1の撮像位置において収集されたスキャンデータに含まれる散乱成分を示す第1の散乱サイノグラムと、第2の撮像位置において収集されたスキャンデータに含まれる散乱成分を示す第2の散乱サイノグラムとをそれぞれ算出し、
前記推定部は、前記第1の撮像位置及び前記第2の撮像位置にそれぞれ重複する第3の撮像位置における第3の散乱サイノグラムを、前記第1の撮像位置に対する前記第3の撮像位置の重複割合を示す第1の重複割合と、前記第2の撮像位置に対する前記第3の撮像位置の重複割合を示す第2の重複割合とに基づいて、前記第1の散乱サイノグラム及び前記第2の散乱サイノグラムから推定する、請求項17に記載の散乱線推定装置。 - 前記推定部は、前記第1の散乱サイノグラムにおいて、前記第3の撮像位置と重複する位置に対応する第1の部分と、前記第2の散乱サイノグラムにおいて、前記第3の撮像位置と重複する位置に対応する第2の部分とを決定し、前記第3の散乱サイノグラムとして、前記第1の部分と前記第2の部分とを複写する、請求項18に記載の散乱線推定装置。
- 前記第1の撮像位置におけるスキャン領域、前記第2の撮像位置におけるスキャン領域、および前記第3の撮像位置におけるスキャン領域は、互いにサイズが同じであり、前記第1の重複割合と前記第2の重複割合との合計が100%未満の場合、前記推定部は、前記第3の撮像位置におけるスキャン領域のうち、前記第1の部分及び前記第2の部分に対応するスキャン領域以外のスキャン領域に対応する前記第3の散乱サイノグラムの残りの部分を決定して、前記残りの部分を補間して補間部分を生成し、前記第3の散乱サイノグラムとして、前記第1の部分と、前記第2の部分と、前記補間部分とを複写する、請求項19に記載の散乱線推定装置。
- 前記第1の撮像位置におけるスキャン領域、前記第2の撮像位置におけるスキャン領域、および前記第3の撮像位置におけるスキャン領域は、互いにサイズが同じであり、前記第1の重複割合と前記第2の重複割合との合計が100%を越える場合、前記推定部は、前記第1の撮像位置におけるスキャン領域と前記第2の撮像位置におけるスキャン領域との重複部分を決定し、前記第1の部分において前記重複部分に対応する第1の部位と前記第2の部分において前記重複部分に対応する第2の部位とを平均して平均部分を生成し、前記第3の散乱サイノグラムとして、前記平均部分と、前記第1の部位を含まない前記第1の部分の第1の残余部位と、前記第2の部位を含まない前記第2の部分の第2の残余部位とを複写する、請求項19に記載の散乱線推定装置。
- 前記推定部は、前記第3の散乱サイノグラムにおける前記第1の部分に対応する第1の位置と、前記第3の散乱サイノグラムにおける前記第2の部分に対応する第2の位置とを決定して、前記第1の位置に前記第1の部分を複写し、前記第2の位置に前記第2の部分を複写し、
前記第3の撮像位置におけるスキャン領域のサイズは、前記第1の撮像位置におけるスキャン領域及び前記第2の撮像位置におけるスキャン領域のサイズに等しい、請求項19に記載の散乱線推定装置。
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